JPH11160400A - 順序回路の故障箇所推定方法及び故障箇所推定における候補抽出並びにその重み付け方法更にはその装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 大規模化，多層配線化するＬＳＩ内部の故障
を、実際のテスタパス／フェイル情報と回路接続情報、
及びＬＳＩ内部の全フリップフロップの全ベクタに対す
る期待値情報を用いて推定処理により実現する。 【解決手段】 実際のフェイルピンから入出力双方向に
回路抽出を行い、フリップフロップと複数の入出力ピン
を持つ組合せ回路を抽出し、組合せ回路の入力境界での
多重故障伝搬仮定によるシミュレーションと実際のフェ
イルとの比較で故障伝搬値を推定し、各フェイルベクタ
に対する推定値を求め、上記手順を繰り返して順次ＬＳ
Ｉ内部へと溯る。同時に各フリップフロップの故障推定
値を用いて全フェイルベクタに対する組合せ回路内の故
障伝搬経路を抽出しかつ重複領域を抽出して優先順位付
けをする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は順序回路の故障箇所
推定方法及び故障箇所推定における候補抽出並びにその
重み付け方法更にはその装置に関し、特にＬＳＩの故障
診断をなすための順序回路の故障箇所推定方法及び故障
箇所推定における候補抽出並びにその重み付け方法更に
はその装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来順序回路の故障診断手法としては、
故障辞書を予め作成して実際のフェイル結果と照合して
故障箇所を絞り込む方法やスキャンパスによりフリップ
フロップの状態設定／読み出しを行って故障個所を推定
する方法がある。

【０００３】故障辞書を用いる方法では、特開平３−１
２０４８５号公報等に示される様に、実際のテストベク
タを用いてＬＳＩ内部に故障を挿入したシミュレーショ
ンを行い、仮定した故障位置とその時にフェイルする出
力ピンの情報を対応させた故障辞書なるデータファイル
を予め作成し、実際にフェイルした出力ピンの故障状態
から逆に故障辞書を索引し故障箇所の候補点を求め、か
つ複数得られた候補点に対しては全ベクタのフェイル出
力から得られた故障推定箇所用い最も可能性が高いと思
われるものから順に優先順位を付けて故障箇所を推定す
るものである。

【０００４】スキャンパスを用いる方法では、特開平６
−１９４４１６号公報等に示される様に、予め回路内に
状態の読み出し／書き込みを行うことができるチェック
用回路を準備しておく必要があり、このチェック用の試
験用回路を用いフリップフロップの状態設定を行い、そ
の状態の基での回路動作後同様に試験用回路を用いてフ
リップフロップ等の状態を読み出す。その読み出された
状態と期待値とを比較し前からの伝搬か否かを判定し順
次故障個所の絞り込みを行っていく手法である。

【０００５】また、本願発明出願人により提案された特
開平８−１４６０９３号公報や特開平８−９４７１４号
公報の順序回路の故障箇所推定手法では、本発明と同様
に故障の伝搬していると想定される組合せ回路を順次抽
出し、組合せ回路内の故障伝搬を想定し出力状態を満た
す入力状態値を求めることにより、組合せ回路入力端子
状態推定のみ行っていく手法である。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の故障辞
書を用いる故障診断手法は実際の故障出力に合致する事
象を故障辞書から検索し故障個所を絞り込む方法である
が、この方法の第１の問題点は故障シミュレーションに
より故障出力に対する故障辞書を用意する必要があり、
故障辞書を作成するための演算時間が大きくなることで
ある。その理由は予想される全てのノードに対して故障
仮定をするため、故障シミュレーションが増大し、また
故障仮定箇所と故障出力端子との検索辞書作成にも時間
がかかるためである。この辞書作成に要する演算時間の
増大は、ＬＳＩの大規模化に伴い顕著になる。

【０００７】第２の問題点は、故障シミュレーションで
扱う故障モデルは単一縮退故障が一般的であるため、シ
ョート故障等の多重故障では実際の故障と一致しない場
合があることである。その理由は故障シミュレーション
を多重故障に拡張すると、複数の組合せで故障仮定を行
う必要があり、２重故障を仮定してもその組合せ数が爆
発的に増大し、故障シミュレーションの処理時間の点で
現実的ではないからである。

【０００８】スキャンパスを用いる方法についてみれ
ば、この方法の第１の問題点は内部状態の設定／読み出
しを可能にする検査回路を持つフリップフロップ即ちス
キャンパスを回路設計時に組み込む必要があり、スキャ
ンパスを用いていないＬＳＩについては適用できないこ
とである。

【０００９】また第２の問題点はパーシャルスキャンの
場合には組合せ回路としての故障推定手法ではなく、順
序回路としての故障推定手法が必要となることである。
その理由はパーシャルスキャンの場合、スキャン用フリ
ップフロップ間の回路が必ずしも組合せ回路にならない
ためである。またその時に用いる故障推定手法が故障辞
書法であると前述の問題がある。

【００１０】また、特開平８−１４６０９３号公報や特
開平８−９４７１４号公報等の順序回路の故障箇所推定
手法での問題点は、単一縮退故障を想定して出現頻度で
重み付けを行っているため、推定精度を下げてしまうこ
とがあった。その理由はopen（解放）故障、short （短
絡）故障時状態が時刻により変化する場合や、固定故障
の場合でも、出力端子近くのノードの重みが高くなるか
らである。

【００１１】更に、組合わせ回路入力端子の故障伝搬状
態推定値でも推定で得られた全てのベクタを推定値テー
ブルに登録して順次組合わせ回路を溯るため、その抽出
される組合わせ回路が非常に多くなり、推定するＬＳＩ
規模が大きくなると計算時間が非常に大きくなるという
欠点がある。

【００１２】本発明の目的は、ＬＳＩ内部の故障を実際
のテスタパス／フェイル情報と回路接続情報及びＬＳＩ
内部の全フリップフロップの全テストベクタに対する期
待値情報とを用いて、推定処理可能とした順序回路の故
障推定方法を提供することである。

【００１３】本発明の他の目的は、ＬＳＩの故障箇所推
定において、単一縮退故障の故障推定候補の精度向上を
図る方法およびその装置を提供することである。

【００１４】本発明の更に他の目的は、ＬＳＩの故障箇
所推定において、open故障の故障推定候補の精度向上を
図る方法およびその装置を提供することである。

【００１５】本発明の別の目的は、ＬＳＩの故障箇所推
定において、short 故障等２重故障の故障推定候補の精
度向上を図る方法およびその装置を提供することであ
る。

【００１６】

【課題を解決するための手段】本発明の順序回路の故障
診断手法は、予め用意したＬＳＩ内の全フリップフロッ
プの全ベクタに対する全期待値情報と実際のテスタでの
パス／フェイル出力情報，全回路の接続情報を用いて、
フリップフロップと組合せ回路に分割して故障推定する
ことを基本とし、フェイルベクタ毎に組合せ回路の入力
境界での故障伝搬推定値を求めるシーケンスとして、実
際のフェイル出力ピンもしくはフェイルと推定されるフ
リップフロップ入力線を含んだ組合せ回路を抽出する手
順と、前記組合せ回路入力端子での故障伝搬値推定では
組合せ回路内に故障が存在することを想定し、故障が存
在すると仮定できる場合にはその推定故障箇所並びに組
合せ回路入力端子の推定状態値もしくは推定故障伝搬経
路を求め、故障が存在しないと仮定できる場合には組合
せ回路入力端子の推定状態値もしくは推定故障伝搬経路
のみを求め、更に組合せ回路内に故障が存在しなければ
ならない場合にはその推定故障箇所のみを求める手順
と、また得られた推定故障箇所のうち、故障の種類毎に
想定できる故障箇所数を決めその故障箇所数をもとに得
られた推定状態を削減する手順と、前記削減し得られた
組合せ回路入力端子の推定状態値から故障伝搬端子を抽
出し、ブール代数の簡略化や故障伝搬経路を有効にまと
めるいくつかの経路選択手順と、上記手順を繰り返し行
い、全てのベクタでの推定を行った後、前記得られた全
ての推定故障箇所並びに推定故障伝搬経路を用い、時刻
毎に分類し全ての時刻で場所的な一致を判定する手順も
しくは推定故障箇所，推定故障伝搬経路として得られた
ノードの頻度をとり、優先順位付けを行う手順と、前記
得られた優先順位を付けられた故障推定箇所に対し、個
々の推定結果を調べ、故障の種類毎に分類する手順と、
更に推定精度を上げるために前記得られた推定故障箇所
とその種類，状態値をもとに再度全ベクタに対し故障シ
ミュレーションを行い、一致判定を行う手順とを備える
ことを特徴とする。

【００１７】また、実際のＬＳＩでの故障推定適用時
に、上記手順に加えフリップフロップのクロックライン
について各ベクタ毎に期待値を調べ、その時刻にクロッ
クが入りデータ更新されたか否かを判定し、更新された
場合には上記手順により順次前段の出力端子へと推定状
態値を伝搬させ、データ更新が行われない場合にはデー
タ更新がそれ以前で最後に更新された時刻まで保持する
手順と、クロックライン，スキャンパスラインに故障が
含まれているか否かを判定し、含まれない場合にはフリ
ップフロップの通常のデータラインのみ組合せ回路とし
て抽出し推定を行い、含まれる場合にはクロックライ
ン，スキャンパスラインについても推定し、データライ
ンの推定と併せて全体の故障箇所推定を行う手順と、組
合せ回路入力端子としてＬＳＩの入力端子，フリップフ
ロップ出力だけでなくＲＯＭ，ＲＡＭの出力端子も想定
し、ＲＯＭ，ＲＡＭの場合は書込みビット故障伝搬，供
給アドレス故障伝搬を想定し判定を行い、夫々ＲＯＭ，
ＲＡＭの入力端子から前段へと溯る手順とを備え、最終
的な故障推定リストを作成することを特徴とする。

【００１８】本発明による順序回路の故障箇所推定にお
ける候補抽出並びにその重み付け方法は、予め用意した
ＬＳＩ内の全フリップフロップの全ベクタに対する全期
待値情報と、実際のテスタでのパス／フェイル出力情報
と、全回路の接続情報とを用いてテスト結果で得られた
各ベクタの各故障出力端子から順次組合せ回路を動的に
抽出する手順と、この抽出された組合せ回路の出力状態
値もしくは推定値から組合せ回路入力状態値を推定する
ことによりＬＳＩ内の各フリップフロップの状態値を推
定し、期待値との差より故障伝搬していると推定される
端子、素子およびその状態値を抽出する手順と、こうし
て得られた故障伝搬推定端子からテストベクタを溯り、
入力方向に組合せ回路を抽出するといったように順次上
記操作を繰り返し行う手順と、すべてのテストベクタに
対して同様の操作を行い抽出組合せ回路毎に故障伝搬推
定素子およびその状態値を求める手順とを含む故障箇所
推定における候補抽出及びその重み付け方法であって、
前記各組合せ回路内の故障伝搬推定素子および状態値を
用いて、回路接続情報を検索し出力端子までの故障伝搬
経路として接続関係を再構成する手順と、故障伝搬推定
経路上の各推定故障伝搬点の状態値を調べて、 （１）常に同一の状態値を持つノードを推定故障候補点
として選択する； （２）時刻により推定状態値が変化するノードを推定故
障候補点として選択する； （３）同時に２箇所の故障推定箇所を必須とするノード
を推定故障候補点として選択する；手順を備え、前記選
択された各推定故障候補点毎に到達するＬＳＩの故障出
力端子数を頻度として計数する手順と、前記計数した頻
度数の大きい順に故障候補点の出現順位を並べ替え、重
み付けを行う手順とを備えたことを特徴とする。

【００１９】また、本発明による順序回路の故障箇所推
定における候補抽出並びにその重み付け装置は、推定の
対象となるＬＳＩのネットリストを記憶し、また部分回
路に分割されたネットリストも併せて登録を可能とし、
検索、削除要求に対して処理を行い、ネットリストの一
元管理を行うネットリスト管理部と、入出力端子および
フリップフロップの期待値を管理する入出力端子／フリ
ップフロップ期待値管理部と、推定値、実測値を記憶し
ている推定値／実測値管理部と、各故障箇所推定機能か
ら得られた故障候補点、推定故障状態値ならびに故障モ
ード等推定結果を記憶する故障候補管理部と、故障出力
端子もしくは故障推定出力端子から組合せ回路をダイナ
ミックに抽出する組合せ回路抽出部と組合せ回路内部の
状態値を推定する組合せ回路状態推定部と、前記組合せ
回路内部の状態推定結果から推定故障伝搬経路を抽出す
る故障伝搬経路抽出部と、この得られた組合せ回路入力
端子の故障伝搬端子および状態値を用いて故障伝搬経路
選択する経路選択部と、この得られた故障伝搬経路の再
構成を行って故障箇所から故障出力端子までの関連付け
を行う故障伝搬経路再構成部とこの得られた故障候補毎
の推定状態を全ベクタに対して調査して状態値が一定で
あるか変化しているかを判定する推定状態値判定部と、
前記状態値判定で得られた結果をもとに故障箇所数を加
味し故障モード分類を行う故障モード分類部と、個々の
故障候補点に対する故障出力端子数もしくは故障伝搬経
路数頻度を計数して各故障モード毎に重み付けを行う頻
度重み付け部と、前記各故障推定機能の処理順位の制御
や各故障推定機能間の待ち合わせ制御等の全体の推定シ
ーケンスを制御するシーケンス制御部とを含むことを特
徴とする。

【００２０】本発明の作用を述べる。上記故障推定手順
は検出された各フェイルベクタに対して分割した組合せ
回路毎に内部を想定して故障推定箇所並びに故障伝搬値
推定を行い、その故障伝搬推定値を更に前段の組合せ回
路の出力と見なし入力部の故障伝搬推定を行う。この様
に順次ＬＳＩの出力側から組合せ回路を抽出し、その組
合せ回路毎に独立に推定を行い、全てのフェイルに対し
て組合せ回路の入力境界での故障伝搬値を推定していく
ため、故障状態が複数の組合せ回路を伝搬し、伝搬故障
箇所の存在する組合せ回路にフィードバックされても推
定誤りを起こすことなく、状態推定を行うことができ
る。

【００２１】また組合せ回路入力端子状態推定後、効率
的に故障伝搬経路を選択できるため、従来の様に全ての
故障伝搬推定状態毎に推定を繰り返すことがなくなり、
故障推定の演算量が大幅に減少でき、時間も大幅に短縮
できるという効果がある。それと同時に大規模回路に対
しても実時間の処理が可能となる。また、ショート故障
等の多重故障やタイミング故障に対してもその故障の種
類毎に想定を行い、推定するため推定誤りを起こしにく
い。

【００２２】上記手順をフリップフロップのクロックラ
イン，スキャンパスライン，メモリブロックの推定手法
を加えることにより、実際の大規模なＬＳＩに対する故
障推定が可能となり、かつ効率良く行うことができる。

【００２３】単一故障，open故障、short 故障どの場合
でも各組合せ回路内の故障伝搬推定素子から出力端子ま
での故障伝搬経路としての接続関係を再構成する手順を
持っているため、効率的に故障候補点を選択することが
できる。なぜなら、ＬＳＩの故障出力端子から組合せ回
路毎に故障伝搬経路を順次推定し入力方向へと溯ってい
るため、実際の故障は必ず推定された伝搬経路上にある
からである。

【００２４】逆に故障伝搬経路として抽出されない素子
には故障が存在しえないからである。これは単一故障、
open故障に限らず、short 故障も同様であり、実際にsh
ort故障している部分からＬＳＩ故障出力端子までの経
路は、同時に複数の経路を故障伝搬していることを想定
しているため、推定された故障伝搬経路の中には真の故
障伝搬経路が含まれるからである。

【００２５】ここでの推定伝搬経路とは、組合せ回路出
力端子から組合せ回路入力端子に到達しているものと到
達せずに組合せ回路内で止まった伝搬経路の２種類があ
り、その両方を指す。この伝搬経路上のノードを故障候
補とする方法の故障候補数は、ＬＳＩ自体の論理深度す
なわちＬＳＩ出力端子から入力端子までの伝搬素子数に
依存し、故障候補数が直接ＬＳＩ全体の規模に依存する
わけではないため、大規模化に対しても演算が爆発的に
増えることを抑制できる長所がある。

【００２６】また、故障の単一故障、open故障、short
故障を問わず各推定故障候補点とＬＳＩの故障出力端子
との間に存在する経路数もしくは到達するＬＳＩの故障
出力端子数を頻度として計数し、その頻度により重み付
けを行う手順を持っているため、故障候補点の重み付け
精度が従来に比較し向上する。なぜなら、経路数もしく
は到達するＬＳＩの故障出力端子を計数するため、ＬＳ
Ｉ出力端子からの論理深度が深くても、より多くの故障
伝搬経路もしくは故障出力端子を満たすノードが頻度の
大きいノードとして抽出され、ＬＳＩ出力端子に近い伝
搬経路上のノードよりも高くなる可能性が大きいからで
ある。

【００２７】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して詳細に説明する。図１は本発明の一実施例
を示すフローチャートである。本発明の順序回路の故障
診断手法は、予め用意したＬＳＩ内の全フリップフロッ
プの全ベクタに対する全期待値情報と実際のテスタでの
パス／フェイル出力情報，全回路の接続情報を用い、か
つフリップフロップと組合せ回路とに分割して故障推定
することを基本としている。

【００２８】ここで、ＬＳＩ全体の回路構成を考える
と、フリップフロップやメモリ等の一時的にデータを蓄
えるラッチ機能を有する回路を含む順序回路であるが、
フリップフロップやメモリ等のデータを記憶する素子を
含まない回路部分を組合せ回路と、通常定義している。
順序回路はフリップフロップ等を含むものであり、与え
る入力状態は同じでも、クロックの与え方で出力状態は
異なる。組合せ回路はフリップフロップ等を含まないの
で、与える入力状態が決まれば一意に出力状態が決まる
ものである。

【００２９】先ず組合せ回路抽出の手順１では、ＬＳＩ
の故障出力もしくは既に故障であると推定された出力端
子から入力方向へと回路トレース（もしくは回路抽出）
を行い、ＬＳＩの入力端子もしくはフリップフロップの
出力端子に到達したら、回路トレース（もしくは回路抽
出）を終了する。次のその時得られたＬＳＩの入力端子
もしくはフリップフロップの出力端子を用いて出力方向
へ回路トレース（もしくは回路抽出）を行い、ＬＳＩの
出力端子もしくはフリップフロップの入力端子を得る。
更にこの得られた出力端子もしくはフリップフロップの
入力端子から入力方向にＬＳＩの入力端子もしくはフリ
ップフロップの出力端子に到達するまで回路抽出を行
い、組合せ回路を得る。

【００３０】ここで回路トレースとは回路を抽出せず
に、接続関係を追跡することのみを表しており、回路抽
出とは回路トレースを行いながら追跡された部分を抜き
出して、部分回路とすることを表している。従って上記
の回路トレース及び回路抽出はＬＳＩの入出力端子もし
くはフリップフロップの入出力端子に到達するまで、ト
レース（もしくは抽出）を行う。

【００３１】これにより得られた組合せ回路の状態推定
は組合せ回路入力端子状態推定＃１〜＃３（手順２〜
４）があり、夫々求める条件が異なる。組合せ回路入力
端子状態推定＃１（手順２）は図２（ａ）に示す様に組
合せ回路１００内に故障が存在せず、故障信号が前段の
組合せ回路から伝搬していると仮定した時の入力端子推
定手順である。尚、１０１は入力ラッチ、１０２は出力
ラッチである。

【００３２】組合せ回路入力端子状態推定＃２，＃３
（手順３，４）は、組合せ回路内に故障が存在すると仮
定した場合で、更にその故障推定数により２つに別れ
る。１つは組合せ回路入力端子状態推定＃２であり、図
２（ｂ）に示す様に組合せ回路内に故障が１箇所存在す
ると仮定した場合の推定故障箇所並びに組合せ回路入力
状態推定値を求める手順である。もう１つは組合せ回路
入力端子状態推定＃３（手順４）であり、図２（ｃ）に
示す様に組合せ回路内に故障が２箇所存在すると仮定し
た時の推定故障箇所並びに組合せ回路入力端子状態推定
値を求める手順である。

【００３３】手順２，手順３，手順４は探索木やＢＤＤ
(Binary Dicision Diagram) ，Transitive Closure Alg
orithm等の組合せ回路出力状態を満たす入力状態値を求
める手順である。探索木を例にとれば、仮定と含意操作
を繰り返すことにより出力状態値から入力の状態値を求
める。すなわち、故障出力端子から開始しゲートの入出
力端子毎にその故障状態値を満たす様な状態を仮定し、
その仮定に基づいて関連するゲートやパスの状態値を決
定するという操作を繰り返し、全体として矛盾が起こら
ない様に状態値を順次入力方向へと決定していき、組合
せ回路入力状態を求める。

【００３４】手順２，３，４夫々で求める条件の違いは
図２（ａ）〜（ｃ）に示している。手順２では、仮定と
含意操作を繰り返す段階で全ての経路が矛盾なく仮定が
おけて組合せ回路入力端子に到達できる場合のみを抽出
し組合せ回路内故障伝搬経路を求め、１つの経路でも矛
盾を生じて仮定がおけず入力端子まで到達できない状態
値は破棄する。

【００３５】手順３では、仮定をおく段階で矛盾を生じ
て仮定がおけず入力端子まで到達できない経路が１つの
みの場合を抽出し、その組合せ回路内故障伝搬経路と仮
定がおけなくなった経路（図２（ｂ）の×から他の経路
に合流するまで）を求める。他の場合は破棄する。手順
４では、仮定をおく段階で矛盾が生じて仮定がおけず入
力端子まで到達できない経路が２つのみの場合を抽出
し、その組合せ回路内故障伝搬経路と仮定がおけなくな
った２つの経路（図２（ｃ）の×から他の経路に合流す
るまで）を求める。他の場合は破棄する。

【００３６】上記手順２，３，４夫々は、結果として経
路が１つも求まらなかった場合、手順７の全故障候補点
抽出判定に移行する。従ってより分かりやすく書くと図
３に示すようなフローになる。この場合手順２〜４で求
まった全ての経路に対して手順６の新規故障候補点登録
を行い、経路が求まらなかった場合は新規故障候補点登
録もできず、そのまま後述する手順７の全故障候補点抽
出判定に移行することになる。

【００３７】経路が求まれば組合せ回路の入力側から故
障が伝搬してきているため、全候補点抽出は完了してい
ないと判断でき、後述する手順８の組合せ回路入力推定
ベクタ簡略化の手順を行い、フリップフロップを介して
接続されている更に前段の組合せ回路抽出を行う（ｓｔ
ａｒｔ）。また、経路が求まらなかった場合その経路の
追跡は終わるが、まだＬＳＩの故障出力全てに対して推
定が完了していなければ、完了していないＬＳＩ故障出
力端子から新たに組合せ回路抽出を行う。

【００３８】組合せ回路入力端子状態推定＃１〜＃３の
各手順２〜４において特殊な例としては、組合せ回路入
力端子状態推定値が得られず、１箇所ないしは２箇所の
故障推定箇所のみ得られる場合がある。この場合は組合
せ回路出力端子状態を満たす入力状態があり得ず、前段
の組合せ回路から故障が伝搬してきていないことを表し
ている。

【００３９】組合せ回路入力端子状態推定＃１で得られ
た入力推定ベクタを用いて簡略化の手順５でブール代数
の簡略化を行い、推定ベクタ数を削減する。この簡略化
の手順は図４に示す様に、先ず組合せ回路出力を満たす
入力状態推定値を調べることにより、その端子の状態値
が０でも１でもどちらでもいい値、すなわち組合せ回路
出力での故障に直接関与しない端子及び状態値を抽出し
ている。

【００４０】図４中破線で囲まれた各ベクタは、破線で
囲まれた端子を除き状態値は一致している。この様に値
の異なる端子を抽出し、１端子であれば０／１，２端子
であれば、００／０１／１０／１１の４つの全ての状態
値を含んでいる場合にはそれらの端子状態値を“Ｘ”に
置き換える。図３では破線で囲まれた部分が簡略化で
“Ｘ”になる部分であり、各々４つの入力推定ベクタが
１つの“Ｘ”を含んだベクタにまとめられていることを
表している。

【００４１】更に詳述すると、図４中の右の４つのベク
タ(0100101001,0100100001,0100101101,0100100101)
は、破線で囲まれた端子を除き状態値は一致している。
この様に値の異なる端子を抽出し、１端子であれば０／
１，２端子であれば、００／０１／１０／１１の４つの
全ての状態値を含んでいる場合にはそれらの端子状態値
を“Ｘ”に置き換える。従って、この４つのベクタの場
合簡略化を行うと、(010010XX01)となる。

【００４２】同様に左の４つのベクタ(0100100001,0100
100000,0100100010,0100100011) の場合も簡略化により
01001000XXとなる。図４では破線で囲まれた部分が簡略
化で“Ｘ”になる部分であり、各々４つの入力推定ベク
タが１つの“Ｘ”を含んだベクタにまとめられているこ
とを表している。

【００４３】簡略化の手順は図４に示す様に、先ず組合
せ回路出力を満たす入力状態推定値を調べることによ
り、その端子の状態値が０でも１でもどちらでもいい
値、すなわち組合せ回路出力での故障に直接関与しない
端子及び状態値を抽出している。“Ｘ”に置き換えたと
ころがその部分であり、他の共通なところは状態が０も
しくは１に決定されていることを示している。この簡略
化操作で入力推定ベクタ数は大幅に削減できる。また、
組合せ回路入力端子推定＃２，＃３で得られた故障推定
箇所を新規抽出故障候補点登録の手順６で登録する。手
順７では前記故障候補点抽出が全てのベクタに対して行
われたかどうかを判定し、かつ前記特殊な例としてあげ
た様にそれ以上前段からの推定故障伝搬入力端子が得ら
れず、かつ全てのテストベクタに対して手順１〜６，８
の推定が完了していれば手順９の故障候補点場所一致判
定に移行する。

【００４４】もし、前段からの推定故障伝搬入力端子が
得られないが、全てのテストベクタに対しての推定が完
了していなければ、推定の行われていないテストベクタ
に対して手順１からの操作を繰り返す。

【００４５】前段からの推定故障伝搬端子が得られた場
合には、手順８の組合せ回路入力推定入力ベクタ簡略化
の手順で当該推定入力ベクタを削減し、前段からの故障
伝搬端子を抽出して、更に手順１の組合せ回路抽出手順
で前段の組合せ回路へと溯る。手順７で故障候補点抽出
が完了した場合には、手順９の故障候補点場所一致判定
で手順６で得られた全ての推定故障候補の場所的な一致
判定を行う。この一致判定は、手順６で登録された故障
候補点リストの中に何回か出現しているかどうかを場所
毎（ゲート毎またはパス毎）に比較検出する操作を行
う。

【００４６】手順１０の重み付けと抽出により、故障候
補点毎にその出現頻度を求めその重み付けを行い、その
重みの大きい順に抽出を行うことにより故障推定リスト
を作成する。この手順１０では、手順９で比較検出され
た同一箇所の出現頻度をとり、出現頻度の大きいものか
ら順にソートする。すなわち、各組合せ回路毎の推定に
おいて抽出された推定故障伝搬経路並びに推定故障箇所
の中で、真の故障もしくは伝搬経路はその出現頻度が多
くなることを用いている。なぜなら、単一の縮退故障，
オープン故障，short 故障を想定した場合、どの故障出
力の推定結果の中にも真の故障はその中の１結果として
必ず含まれるだろうからである。

【００４７】組合せ回路入力端子状態推定ベクタ＃１〜
＃３の各手順２〜４で、組合せ回路入力端子状態推定を
行い、最終的に故障推定箇所抽出を行う手順の代わり
に、各組合せ回路内での故障推定箇所並びに故障伝搬経
路を推定する手段として、図５〜図７の各フローに従っ
て行うことも可能である。

【００４８】図５は組合せ回路内に故障が存在しないと
仮定した場合の故障伝搬経路並びに組合せ回路入力端子
状態推定を行う手順を示したフローである。組合せ回路
全出力状態を用い（手順１１）、ノード状態推定手順１
２によりゲート毎に状態推定を行う。手順１１では、組
合せ回路の全出力端子に対して状態値を設定する。故障
出力もしくは故障が伝搬していると推定された端子に対
してはその故障状態値を設定し、正常端子もしくは正常
な状態が伝搬してきていると推定された端子には期待値
を設定する。また、故障状態が伝搬してきているか正常
な値が伝搬してきているか不明な端子（すなわちＬＳＩ
出力端子への故障伝搬に直接寄与していない“０”，
“１”どちらでもいい端子）に対しては不定の“Ｘ”を
設定する。この操作が初期設定１１である。

【００４９】そして、手順１３にて期待値との状態比較
を行い、期待値との差があるかどうかを判定し、期待値
と差がある場合には、手順１４で推定伝搬経路としての
そのノードを登録する。推定状態が期待値と一致してい
る場合には、他のノードを期待値と比較し期待値と異な
っているノードを検索する。

【００５０】更に期待値と異なっているノードを溯り、
組合せ回路入力端子からの伝搬経路並びに組合せ回路故
障伝搬端子を抽出する。図６はこの伝搬経路を推定する
操作を各ノード毎に期待値との比較で求めるのではな
く、先に組合せ回路入力端子状態値の推定（手順１７）
を行う。当該得られた組合せ回路入力端子の状態推定値
を用いて論理シミュレーション（手順１８）を行い、各
ノード状態値を求める。更に手順１９で、ノード毎に期
待値との差を求め、期待値と異なっている場合は手順２
０にて推定伝搬経路として登録する。

【００５１】図７，８は組合せ回路内部に故障が存在す
ることを想定した場合の故障箇所並びに故障伝搬経路の
推定手順である。図７は、図５と同様に、組合せ回路内
の状態推定時に同時に故障箇所推定並びに故障伝搬経路
推定を行う手法である。図８は、図６と同様に、組合せ
回路入力状態推定を行った後、論理シミュレーションに
より求める手法である。

【００５２】図７において、先ず手順２１で組合せ回路
の出力端子で状態が推定されている端子並びに確定され
ている端子を初期設定し、この手順２１で設定された状
態値をもとに、手順２２で図１の手順２〜４と同様に各
ノード状態値の推定を行う。尚、図７の手順２１も上記
手順１１，手順１６と同様に組合せ回路の出力端子で状
態が推定されている端子並びに確定されている端子にそ
の状態値を初期設定する。すなわち正常状態／故障状態
のいかんに関わらず、状態が定まっているところにその
状態値を設定し、状態値が不定な端子は不定として扱
う。

【００５３】手順２３では、このノード状態推定手順２
２で推定値が得られたかを判定し、得られた場合には手
順２５を、推定値が得られない場合には手順２４を実行
する。推定値が得られない場合はそれ以上前のノードに
溯ることができないことを意味しており、入力状態の推
定をしようとしているゲートの入力端子が既に他のネッ
トからの推定で決定されており、出力を満たす状態が得
られない場合等がある。この様な時は故障伝搬経路の推
定は組合せ回路入力端子に到達できず、組合せ回路内部
の故障となる。この様子を示したのが図９（ａ）であ
る。

【００５４】出力の故障端子からノード状態の推定を行
い、組合せ回路入力端子まで推定ができるものは推定故
障伝搬経路であり、入力端子に達し得ず、組合せ回路内
で推定が止まる場合が推定故障箇所となる。推定故障箇
所としては図９（ａ）中推定故障伝搬経路から分岐し、
推定が不可能となり止まった点までの経路を指す。手順
２３でノード状態が推定できた場合は、手順２５で期待
値との状態比較を行い、期待値と異なっていた場合は手
順２６で一時的に故障で伝搬経路として経路蓄積をして
おく。これはこの時点では推定された経路が前段の組合
せ回路からの故障伝搬経路か組合せ回路内の故障箇所な
のかを判定できず、次のノード推定を行った時に推定状
態値があるかどうかでどちらか決定できるため、一時的
に貯えておく必要があるからである。

【００５５】また、手順２３でノード状態が推定できな
い場合は組合せ回路内に故障箇所が存在する場合であ
り、手順２４で組合せ回路内に既に推定された故障箇所
の数と手順２３で新規に得られた推定故障箇所とを調べ
て故障想定数が１もしくは２であることを確認する。も
しここで、組合せ回路内の推定故障箇所数が２を超えて
いた場合には、前記の得られた推定が現実に合わないた
め手順２６で蓄積した経路を削除し、同条件下で既に得
られている組合せ回路入力端子状態推定値も同理由で削
除する。手順２４で故障想定数が２以下の場合には推定
が現実にあり得るため、手順２６で蓄積された経路を推
定故障箇所として登録する（手順２７）。組合せ回路内
各ノード状態推定が行われ、出力端子の故障状態が組合
せ回路入力端子に達するか、またその時の組合せ回路内
の故障想定数として２以下かどうかを判定し、条件を満
足していれば推定が正しいとして、手順２６で蓄積した
経路を手順３０で推定故障伝搬経路として登録を行う。

【００５６】図８は論理シミュレーションを用いる手法
であり、図９（ｂ）に示す様に故障となる出力端子の状
態を満たす入力状態値を求め、論理シミュレーションに
より故障伝搬経路を求めておき、故障とならない出力端
子に故障出力が伝搬する経路を削除することにより推定
故障箇所並びに推定故障伝搬経路を抽出するものであ
る。図９（ｂ）中、斜線の部分が削除された経路であ
る。実際の処理としては、先ず手順３１で、組合せ回路
の出力端子で状態が推定されている端子並びに確定され
ている端子のうち故障であると推定されている端子並び
にその状態値のみを初期設定する。

【００５７】更に手順３２で、この初期設定された状態
値を基に組合せ回路入力端子の状態値推定を行い、手順
３３で、手順３２にて得られた組合せ回路入力端子の状
態値を用い組合せ回路の論理シミュレーションを行う。
手順３４では、この得られた組合せ回路内ノード状態値
と期待値とを比較し、手順３５で、組合せ回路入力端子
から出力端子へ伝搬する故障伝搬経路を全て抽出する。

【００５８】手順３６では、得られた推定故障伝搬経路
のうち手順３１で設定した故障出力端子以外に故障が伝
搬している不正出力端子を抽出する。手順３７で、組合
せ回路入力端子から不正出力端子への伝搬経路だけでな
く、故障出力端子への伝搬経路と不正出力端子への伝搬
経路の交差するノードから入力方向への全ての伝搬経路
を抽出し、手順３８で、この経路を削除する。これは交
差ノードを含めてそのノードに故障状態が現れると出力
の正常と推定されるノードも必ず故障が現れる、すなわ
ちそのノードから出力端子への活性化経路が存在してい
るためで、初期設定した出力端子を満足できなくなるか
らである。

【００５９】手順３９で、手順３８にて得られた伝搬経
路を組合せ回路入力端子まで達している経路を推定故障
伝搬経路とし、また入力端子まで達し得ない経路を推定
故障箇所として登録を行う。この図５，７もしくは図
６，８の各処理により求められた故障推定箇所並びに故
障伝搬経路を用いて順序回路全体の故障推定を行う。

【００６０】第２の実施例としては図１０に示す故障推
定手法のフローチャートについて説明する。手順４０〜
４３は図１の手順１〜４と同様であり、故障出力端子か
ら組合せ回路抽出後、組合せ回路内に故障が存在する場
合と存在しない場合とで故障推定を行う手順である。組
合せ回路入力端子状態推定＃１〜＃３（手順４１〜４
３）は図５〜図８で示した手法を用いて組合せ回路内故
障伝搬経路並びに故障箇所の推定を行うものとする。

【００６１】手順４４では、組合せ回路入力推定ベクタ
の簡略化を行い、更に手順４５で、経路選択を行う。こ
の経路選択手順４５は組合せ回路入力端子状態推定毎に
得られた状態値を大幅に削減することが可能な手段であ
る。

【００６２】この手順４５は手順４４の簡略化の後、更
に推定追跡経路を削減するために行う。簡略化手順では
ブール代数の簡略化を行っているため、簡略化できない
推定ベクタはそのまま残ってしまい、結果として追跡す
る推定ベクタが多くなってしまう可能性がある。しかし
ながら、故障を単一の縮退故障，オープン故障，short
故障と想定した場合、どの故障伝搬経路を追跡しても真
の故障に到達するはずであるから、故障伝搬端子（及び
状態）の共通しているベクタをまとめて経路選択するこ
とにより、より追跡する推定ベクタ数を削減することが
可能となる（推定ベクタ毎に夫々追跡する必要があるた
め）。

【００６３】また、本手順４５は故障伝搬経路は真の故
障箇所に必ずつながっており、どの故障伝搬経路を追跡
しても真の故障箇所に辿り着くことを用いており、その
伝搬経路を溯る上での選択手法は、図１１〜図１４に示
す様に４つの方法がある。図１１に示す経路推定手法で
は、組合せ回路入力端子での推定結果である入力状態推
定値から各ベクタ毎にｆａｉｌの端子を抽出し、ｆａｉ
ｌが含まれる端子毎に簡略化で得られた推定入力ベクタ
を分類し、分類された推定ベクタ毎に０／１／Ｙ／Ｑ／
Ｄの状態で表している。

【００６４】“０”は期待値“０”、推定値“０”でか
つ分類された推定ベクタ全てで同一の値“０”である状
態を示し、同様に“１”は期待値“１”、推定値“１”
でかつ分類された推定ベクタ全てで同一の値“１”であ
る状態を示している。また“Ｙ”は期待値“０”、推定
値“１”でかつ分類された推定ベクタ全てで同一の値
“１”であることを示し、“Ｑ”は期待値“１”、推定
値“０”でかつ分類された推定ベクタ全てで同一の値
“０”であることを示している。“Ｄ”は期待値
“０“、“１”どちらもいいが、推定値も推定ベクタで
共通しておらず、ベクタにより“０”、“１”双方が存
在する状態を示している。

【００６５】図１１中Fail１〜６は破線で囲まれた夫々
のfail端子毎に推定入力ベクタを分類し、その分類され
たベクタから前記手順で推定値をまとめたものである。
この図１１の経路選択手法では、故障伝搬経路全てを網
羅するために故障の現れた端子全てについて経路の選
択、まとめる操作を行ったもので、同一ベクタがいくつ
かの経路選択後のベクタに含まれることになる。本経路
選択手法により、簡略化で得られた推定ベクタが最大で
も組合せ回路入力端子数のベクタ数に削減できる。

【００６６】図１２は図１１と同様に、組合せ回路入力
端子での推定結果である入力状態推定値から各ベクタ毎
にfailの端子を抽出し、failが含まれる端子毎に簡略化
で得られた推定入力ベクタを分類し、０／１／Ｙ／Ｑ／
Ｄの状態で推定ベクタをまとめ、経路選択する手法であ
る。この場合、全てのfail端子で分類するのではなく、
全ての簡略された推定ベクタを順次分類する上で全ての
ベクタを網羅するまで、分類を繰り返すものである。

【００６７】図１２では、先ずFail１の端子で分類を行
い、次にFail２の端子で分類している様子を示してい
る。Fail２の分類を行った時点で入力推定ベクタは全て
網羅され、選択された経路を追跡することにより故障箇
所に到達することが可能なため、これ以上の分類は行わ
ない。この時Fail１で分類されたベクタはFail３，Fail
４，Fail５，Fail６を含み、またFail２はFail３，Fail
６のベクタを含むことになる。まとめるFail端子の順は
特に規定せず、任意の順番とする。この手法では推定ベ
クタ数が必ず組合せ回路入力端子数以下になるため、推
定入力ベクタも大幅に削減できる。

【００６８】図１３の経路選択手法も図１４と同様であ
り、入力状態推定ベクタ毎にfailの端子を抽出し、fail
が含まれる端子毎に簡略化で得られた推定入力ベクタを
分類し、０／１／Ｙ／Ｑ／Ｄの状態で推定ベクタをまと
めて経路選択するが、図１２ではＦａｉｌ端子をまとめ
る順番は任意であった。この経路選択手法では、各Fail
端子毎に全ての推定入力ベクタを通じて、Failの出現頻
度を求め、出現頻度の多いFail端子から順にベクタを分
類しまとめ、全ての推定入力ベクタが網羅されるまで分
類を行うものである。

【００６９】図１３では、Fail１〜６各々のFail端子の
出現頻度は８，３，３，２，２，５となっており、分類
する順番はFail１，Fail６，Fail２もしくはFail３，Fa
il４もしくはFail５となる。この図の例では、先ずFail
１の端子による分類を行い、次にFail６の端子で分類を
行った段階で全ての入力推定ベクタを網羅するため、こ
れ以上の分類は行っていない。この時Fail１で分類され
たベクタはFail２，Fail３，Fail４，Fail５を含み、ま
たFail６はFail２，Fail３，Fail５のベクタを含むこと
になる。この経路選択手法では、各Fail端子毎に出力頻
度を計算し出力頻度の多いFail端子から順に分類するた
めに、簡略化で得られた推定ベクタの状態値がまとまり
やすく、分類後の推定ベクタ数がより削減できる可能性
が大きい。

【００７０】この各Fail毎の出現頻度は始めに求めた出
現頻度を各分類毎に用いる場合と、各分類毎にまだ分類
されていないFail端子の出現頻度を再度求め直して用い
る場合とが挙げられる。前者は手順として簡単であり、
後者はより少ないベクタ数でまとめやすくなるというメ
リットがある。

【００７１】図１４は図１１〜１３の経路選択手法の様
にFail端子選択数を１に固定するのではなく、出現頻度
を計算した後、頻度の多いFail端子から順に複数端子ず
つ抽出しまとめていく手順である。図１４では、２端子
ずつ抽出し全ての推定入力ベクタを網羅するまでまとめ
ている場合を示している。

【００７２】この手法では複数端子で共通な推定入力ベ
クタをまとめているため、図にも示す様に、Fail１＆
６，Fail１＆４，Fail１＆５，Fail２＆６，Fail１＆３
の５ベクタになり、結果的には推定ベクタ数は図１２，
１３の各手法より多くなるが、各Fail端子毎にまとめら
れた推定ベクタは故障を含む端子“Ｄ”が少なく、値が
確定する端子がより多くなる。

【００７３】この図１４の経路選択手法の他の手法とし
ては、出現頻度から予め決めた閾値を基にFail端子を抽
出し分類する手法，予め決めた閾値以上の出現頻度を持
つ複数のFail端子を抽出し分類し、この分類により閾値
以下になった場合には決められた端子数でFail端子を抽
出し分類することにより、組合せ回路入力端子の状態推
定ベクタをまとめて経路選択する手法等がある。

【００７４】上記した図１１〜図１４の経路選択手法に
おいて、０／１／Ｙ／Ｑ／Ｄの状態値を用いて説明を行
ったが、請求項の中で述べた様に、故障を含む端子状態
を更に詳しく分類した状態値（例えばＭ／Ｎ）を用いて
表すことにより同等の機能を実現できる。

【００７５】この場合は“Ｍ”を期待値“０”、推定値
は推定ベクタで共通しておらず、ベクタにより“０”、
“１”双方が存在する状態とし、“Ｎ”は期待値
“１”、推定値は推定ベクタで共通しておらず、ベクタ
により“０”、“１”双方が存在する状態を示すものと
する。状態値“Ｄ”を用いる場合と比較し、Ｍ／Ｎを用
いる場合は期待値の０／１が判定できるメリットがあ
る。但し、期待値を調べることによりＤでもfail状態は
判定できるため、同様の効果がある。

【００７６】また簡略化によりdon't care“Ｘ”が含ま
れる結果を用いて経路選択する場合も同様であるが、組
合せ回路入力端子状態値が“０”でも“１”でもいい
“Ｘ”状態と、他の０／１／Ｙ／Ｑ／Ｄ状態とが、同一
端子で存在する場合は、“Ｄ”に置き換える。これは
“Ｘ”が０／１どちらでもいい状態を表しているのに対
し、他の状態は０／１どちらかの状態を示しているの
で、結果としては“Ｄ”にする必要があるためである。

【００７７】図１１〜図１４の経路選択手法を含む組合
せ回路入力端子状態推定＃１〜＃３で得られた組合せ回
路毎の推定故障箇所を手順４６で調べ（図１０参照）、
当該組合せ回路出力端子の推定状態を得たそれまでの条
件下での故障推定箇所数と新規得られた推定故障箇所と
の和が２を超えているかどうかを判定し、２を超えてい
る場合には手順４７で当該組合せ回路の推定で得られた
新規故障候補点並びに同条件での推定故障伝搬経路を削
減する。

【００７８】この操作は図１５で示す様に、故障が１箇
所存在すると仮定した場合、その故障の種別は０／１縮
退，open，short が挙げられる。当該組合せ回路の直前
までの推定結果は、（１）伝搬経路のみが推定されてい
る場合、（２）伝搬経路＋推定故障箇所１箇所が得られ
ている場合、（３）伝搬経路＋推定故障箇所２箇所が得
られている場合の３種類ある。

【００７９】更にその推定結果を基に当該組合せ回路の
推定を行った場合も、同様に、前記（１）〜（３）の伝
搬経路，推定故障箇所が得られる。しかしながら単一の
故障を想定した場合、物理的位置が０／１縮退故障，op
en故障の場合は１箇所、short 故障の場合は２箇所でし
かあり得ないため、推定故障箇所が２以下でなければな
らない。従って、直前までの推定結果が伝搬経路のみの
場合には当該組合せ回路の推定において（１）伝搬経路
のみ、（２）伝搬経路＋推定故障箇所１箇所、（３）伝
搬経路＋推定故障箇所２箇所のどれであっても問題な
く、夫々によって故障の種類が分類できる。

【００８０】故障推定箇所が１箇所２箇所共にshort の
場合があるが、これはshort により２箇所のノードのう
ち１箇所が同一時刻で誤りを起こし、結果としてその時
刻としては１箇所しか推定故障箇所が得られない場合で
ある。故障推定箇所が２箇所あるshort の場合は、shor
t により両方のノードが同一時刻で誤りを起こし、故障
箇所が２箇所見える場合がある。実際に競合した場合に
はどちらかのノードの状態値が強いため、単一箇所の故
障が多いが、ここではその特殊なshort 例も考慮してお
り、図１５の図表中では“＊”で表している。

【００８１】直前までの推定結果が伝搬経路＋推定故障
箇所１箇所，伝搬経路＋推定故障箇所２箇所のどちらの
場合も、判定基準は、前期直前の推定結果が伝搬経路の
みの場合と同様であるが、故障推定箇所が３箇所になっ
た時は、場所の一致判定を行う。推定故障箇所として得
られた箇所が３箇所以上であっても、物理的な推定故障
箇所が２箇所以下である場合には故障候補点として残
す。図１５中（）内に記述されている部分がその場合で
ある。その場合には手順４８で新規抽出故障候補点とし
て登録する。この時既に推定故障箇所が２箇所以上得ら
れている場合は、図１７に示す様に各々の組合せ回路で
求めた推定故障箇所のうち物理的位置が一致している箇
所のみを故障候補点として扱い、登録を行う。図１７は
２箇所のうちの１つを示しており、かつ図中太線は各々
の組合せ回路での推定故障箇所であり、重ね合わせた時
に一致する太線部分が登録する推定故障箇所となる。

【００８２】次に、組合せ回路入力端子状態推定＃１〜
＃３で得られた組合せ回路入力端子の推定ベクタを用い
て手順４９で簡略化を行い、更に簡略化した結果を基に
手順５０で経路選択を行う。手順５１は実施例１（図
１）の手順７と同様、まだ推定を行っていない経路選択
結果があるかどうかを調べることにより、故障推定が完
了したか否かを判定する手順で、完了していない場合は
更に前段の組合せ回路抽出推定を繰り返す。この前段の
組合せ回路に溯る時、故障が伝搬していると推定される
フリップフロップのクロック線の期待値からクロックが
フリップフロップに印加され状態が更新されたか否かを
調べる。もしクロック線が活性化されていれば１つ前の
時間に溯り、活性化されていないならば活性化された時
間に溯り、前段の回路抽出，推定を繰り返す。

【００８３】手順５２は図１８に模式的に示す様に、図
１０の新規故障候補点登録手順４８で得られた全ての時
間で得られた全ての推定故障候補点を用いて、各候補点
毎に出現頻度を計算する手順である。図１８中棒の高さ
が出現頻度を表し、高さが高いほど故障の可能性が高い
ことを表す。

【００８４】この手順５２は前述の様に新規故障候補点
登録手順４８で得られた推定候補点のみを用いる手順
と、新規故障候補点登録手順４８で得られた推定候補点
だけでなく、各組合せ回路の推定で得られた故障伝搬経
路を用いる手順とがある。後者の場合は組合せ回路での
推定で故障伝搬経路として得られた経路上に故障が存在
する場合の頻度計算で有利となる。

【００８５】手順５３はこの得られた故障候補点毎の出
現頻度を用いて頻度の多い順に優先順位付けを行い、か
つ図１６に示す様な推定故障箇所の物理的位置並びに推
定故障状態値の判定により、故障の種別を求める。図１
６の判定基準は、（１）物理的位置及び推定故障状態値
が常に固定している場合は０／１縮退故障が起こってい
る可能性が高い、（２）推定故障箇所が１箇所でかつ物
理的位置が同一、更に推定状態がその時により異なる場
合はopen故障もしくはshort 故障である可能性が高い、
（３）推定故障箇所が２箇所でかつ物理的位置が同一、
更に推定状態がその時により異なる場合はshort 故障で
ある可能性が高い、である。

【００８６】また、手順５３において得られた故障推定
箇所並びに故障種別に対し、図２０で示す様なタイミン
グ故障判定を行う手順を更に加えることにより、故障種
別にタイミング不良も扱える。図２０のタイミング不良
判定フローでは、先ず手順５４で推定故障箇所にフリッ
プフロップが含まれるか否かを調べる。これは抽出され
た故障候補が、図１９の太線で示す様に、フリップフロ
ップの端子を含んで故障候補が存在するか否かで判定す
る。図１９の様な場合、太線の経路上に故障が存在する
か、若しくはハッチング部分のフリップフロップでタイ
ミング不良が生じ、フリップフロップの出力が誤ってい
ることも想定できるからである。そこで、手順５５によ
り、故障箇所と推定されるフリップフロップに到達する
組合せ回路内の全ての経路を抽出する。

【００８７】手順５６では、手順５５で得られた全ての
経路に対して経路遅延量を計算し、手順５７ではこの得
られた経路毎の遅延量を基にしてクリティカルパスを求
める。更にそのクリティカルパスと組合せ回路入力端子
の期待値とを比較し、クリティカルパス上の各ノード状
態が変化していることを確認し、タイミング不良か否か
を判定する手順により行う。手順５４にて推定故障箇所
にフリップフロップが含まれない場合には、タイミング
不良検出は行わない。

【００８８】更に図２１で示した様に回路中のスキャン
用のフリップフロップを含む場合には、通常組合せ回路
抽出時に図中太線で示したスキャン経路も含んで抽出
し、経路追跡，故障推定を行う。この時はスキャン用の
フリップフロップの故障か否かの判定を行う手段とし
て、予め全回路中にスキャン用のフリップフロップが含
まれるか否かを判定しておき、更に抽出された組合せ回
路の推定においては、図中太線のスキャン経路を含まな
い組合せ回路を抽出し、経路の追跡、並びに故障推定を
行う。

【００８９】このスキャン経路を含む場合の故障推定結
果とスキャン経路を含まない故障推定結果を比較し、ス
キャンフリップフロップを含むスキャン経路自体に故障
が存在するか否かを判定する。これにより、スキャン経
路故障を検出する。

【００９０】組合せ回路抽出時にメモリセルの端子に到
達した場合には、図２２に示す様に条件によりメモリセ
ルのデータライン，アドレスライン，制御ラインと経路
追跡，推定する手順を変える。先ず、メモリセルの端子
に到達した場合、メモリセルのアドレスライン，データ
ライン，制御ラインかを認識し、アドレスライン，デー
タラインの場合はアドレスライン，データラインの全て
を抽出する様に組合せ回路を抽出し、デーラライン若し
くはアドレスラインの推定を行う。

【００９１】アドレスラインの場合は内部の格納データ
を用いデータラインの追跡を行い、データラインの場合
はデータラインの推定結果を基に、図２３に示す様に、
手順５９でメモリセル内部のデータ照合を行う。メモリ
セル内データ照合の結果他のアドレスに同一データが含
まれるか否かを手順６０にて判定した後、含まれる場合
には同一データを保持するアドレスを読出した可能性が
大きいため、手順６１でこのアドレスデータをもとにア
ドレスライン若しくは制御ラインを溯る。

【００９２】また、メモリセル内に同一データが存在し
ない場合には、書込み時のデータが間違っていることが
考えられるため、手順６２でデータ書込み時までベクタ
を溯り、かつ推定結果をもとにデータラインを溯る。以
上の手順で故障箇所の推定を行うことにより通常のＬＳ
Ｉの故障診断が可能となる。尚、図１０のフローチャー
トにおいても、図１のフローを図３に書換えた様に、図
２４の様に書換えることができる。

【００９３】次に、本発明の別の実施の形態について図
面を参照して詳細に説明する。図２５はこの実施例の概
略フローチャートである。本実施例の手順は組合せ回路
抽出７１、組合せ回路入力端子状態推定７２、推定故障
伝搬経路登録７３、回路溯り判定制御７４、経路分岐、
結合認識７５、故障モード分類７６、故障候補頻度重み
総合判定７７の各手順を持っている。

【００９４】図２５の手順７１は組合せ回路抽出であ
り、手順７２は手順７１で得られた組合せ回路毎に出力
端子状態から入力端子状態を求める手順である。また、
手順７３は組合せ回路の入力端子状態を求める際、推定
故障伝搬経路を登録し、手順７１から７３を推定状態が
得られなくなるまで溯るため、回路溯り完了判定手順７
４で組合せ回路毎の推定続行か否かを制御する。

【００９５】全ベクタで組合せ回路毎の故障推定が完了
した場合、手順７５では、手順７３で得られた組合せ回
路毎の推定故障伝搬経路をもとに経路の分岐、結合認識
を行い、故障推定箇所から故障出力端子までの故障伝搬
経路を再構成する。この操作により故障伝搬経路上の故
障候補点に対して単一故障点か多重故障点、もしくは故
障候補ではなく故障伝搬経路であるのか分類が可能とな
る。

【００９６】手順７６では手順７５で得られた結果を用
い、さらにその時点での推定状態値並びに全ベクタの状
態値を用いて故障モードの分類を行う。手順７７では故
障候補を故障出力端子数や故障伝搬経路等の頻度を用
い、より故障状態を満たす故障候補箇所ならびに状態
値、故障モードを総合的に判定し順位付けし、故障候補
の確度として重み付けを行う。

【００９７】特に、手順７５から手順７７に示す推定故
障伝搬経路から故障モードを分類し、かつ故障候補毎の
頻度およびその状態値を調べて、総合的に故障の確から
しさを求めることにより故障候補の重み付けを行うこと
を特徴としている。

【００９８】図２６，２７は本実施例の詳細を示すフロ
ーチャートである。図２６は組合せ回路毎の経路推定並
びに故障推定箇所の重み付けの全体を表したものであ
り、図２７は組合せ回路毎に推定された経路重み付け方
法を示したものである。

【００９９】本発明の順序回路の故障診断手法は、予め
用意したＬＳＩ内の全フリップフロップの全ベクタに対
する全期待値情報と実際のテスタでのパス／フェイル出
力情報、全回路の接続情報を用い、かつフリップフロッ
プと組合せ回路に分割して故障推定を行い組合せ回路毎
に故障伝搬推定経路および故障候補点を求めることを基
本としており、得られた故障伝搬推定経路間の接続関係
を求め、故障出力端子数もしくは故障伝搬端子との間に
存在する故障伝搬経路数から故障候補の重み付けを行う
ものである。

【０１００】まず組合せ回路抽出４０の手順では、ＬＳ
Ｉの故障出力もしくは既に故障であると推定された出力
端子から入力方向へとトレースを行い、得られた入力端
子もしくはフリップフロップ出力端子から出力方向へト
レースを行い、出力端子もしくはフリップフロップ入力
端子を得る。さらに、この得られた出力端子もしくはフ
リップフロップ入力端子から入力方向に回路抽出を行い
組合せ回路を得る。

【０１０１】当該得られた組合せ回路の状態推定は、組
合せ回路入力端子状態推定４１〜４３があり、それぞれ
求める条件が異なる。組合せ回路入力端子状態推定４１
は図２８（ａ）に示すように組合せ回路内に故障が存在
せず、故障信号が前段の組合せ回路から伝搬していると
仮定したときの入力端子推定手順である。

【０１０２】組合せ回路入力端子状態推定４２，４３
は、組合せ回路内に故障が存在すると仮定した場合で、
さらにその故障想定数により２つに別れる。１つは組合
せ回路入力端子状態推定４２であり、図２８（ｂ）に示
すように組合せ回路内に故障が１箇所存在すると仮定し
た場合の推定故障箇所並びに組合せ回路入力状態推定値
を求める手順である。もう１つは組合せ回路入力端子状
態推定４３であり、図２８（ｃ）に示すように組合せ回
路内に故障が２箇所存在すると仮定した時の推定故障箇
所並びに組合せ回路入力端子状態推定値を求める手順で
ある。

【０１０３】組合せ回路入力端子状態推定４１〜４３の
各手順において、特殊な例としては、組合せ回路入力端
子状態推定値が得られず、１箇所ないしは２箇所の故障
推定箇所のみ得られる場合である。この場合は組合せ回
路出力端子状態を満たす入力状態がありえず、前段の組
合せ回路から故障が伝搬してきていないことを表わして
いる。

【０１０４】組合せ回路入力端子推定４１で得られた入
力推定ベクタを用い簡略化、経路選択４４（４５）の手
順でブール代数の簡略化や状態値が同じ端子のみをまと
める操作を行い、推定ベクタ数を削減する。簡略化とし
ては、まず組合せ回路出力を満たす入力状態推定値を調
べることにより、その端子の状態値が０でも１でもどち
らでもいい値、すなわち組合せ回路出力での故障に直接
関与しない端子および状態値を抽出し、故障状態か否か
に関係なく状態値が同じ端子をまとめている。

【０１０５】すなわち値の異なる端子を抽出し、１端子
であれば０／１、２端子であれば、００／０１／１０／
１１の４つの全ての状態値を含んでいる場合にそれらの
端子状態値を“Ｘ”に置き換えるのが簡略化である。ま
た、経路選択手順も図２９に示すように、各々得られた
組合せ回路推定入力ベクタの故障伝搬端子および状態値
が同一であるベクタをまとめることにより、推定ベクタ
数の削減を行う。手順７２で組合せ回路入力部の状態推
定を行った後は、さらに前段の組合せ回路へ溯る必要か
ら、前記組合せ回路抽出７１の手順に戻る。

【０１０６】組合せ回路入力端子状態推定４２，４３で
得られた新規の推定故障候補点故障候補点については、
判定手順４６にてそれまでに同一条件の下で得られた故
障候補点と新規で得られた故障候補点の総数が２以下で
あるか否かを判定し、２よりも多い場合には新規故障候
補点、伝搬経路削除４７の手順で削除する。２以下の場
合には新規抽出故障候補点登録４８の手順で新規登録す
る。組合せ回路入力推定ベクタ簡略化、経路選択４９
（５０）では手順４４（４５）と同様に得られた推定ベ
クタ数の削減を行う。

【０１０７】手順５１では故障候補点抽出が全てのベク
タに対して行われたかどうかを判定し、かつ前記特殊な
例としてあげたようにそれ以上前段からの推定故障伝搬
入力端子が得られないか否かを判定し、推定を完了をす
るか否かを決定する。推定が完了していない場合には、
組合せ回路入力推定ベクタから故障伝搬端子を抽出し、
さらに組合せ回路抽出４０の手順に戻り前段の組合せ回
路へと溯る。手順５１で全ての推定が完了し故障候補点
抽出し尽くされた場合には、故障候補点頻度計算５２に
て各候補点毎の出現頻度を求め、重み付け６３で場所的
な一致重み付けを行う。

【０１０８】さらに状態値判定＆シミュレーション６４
により故障モードの推定並びにその精度向上を図り、故
障推定リストを作成する。本操作はシミュレーションを
行うことにより故障箇所とその状態値が正常端子出力と
の整合を保証し、また個々の故障推定候補箇所の状態値
を調べることにより、０／１縮退、オープン、ブリッジ
故障等の故障モードを判定することを可能とする。

【０１０９】上記手順５２，６３の詳細手順は図２７に
示す。手順７８の組合せ回路毎の経路推定は手順４０〜
５１を意味しており、出力端子までの経路再構成手順７
９では手順４８の新規抽出故障候補点、故障伝搬経路登
録で得られた経路を用い、図３０に示すように、各組合
せ回路毎の推定伝搬経路間の接続関係を検索し、故障出
力端子までの経路として再構成する。

【０１１０】さらに、候補点毎の故障出力端子数頻度計
算８０の手順で、図３０の丸数字に示すように頻度を求
める。図３０の故障出力頻度とは、手順７９で再構成さ
れた故障伝搬推定経路を故障出力端子から順にトレース
し、経路の分岐、結合毎に経路細分化を行い、細分化さ
れた経路毎にどの故障出力端子から開始されたかを順次
記憶しておく。

【０１１１】図中の丸数字が開始された故障出力端子番
号であり、、となっているのは、故障出力頻
度数としてはそれぞれ２、３を表わす。すなわちと
なっている経路上の候補では故障出力端子を満たすこ
とはできず、となっている故障伝搬経路上の故障
候補が故障出力〜すべてを同時に満たすことを表わ
している。本操作により各時点での各故障出力端子と故
障伝搬経路、故障推定箇所との関連付けが可能となる。

【０１１２】手順８１では手順８０を全ベクタで繰り返
し、全ての故障出力から故障伝搬経路毎の故障候補箇所
の故障出力端子頻度を求め、手順８０のどの故障出力端
子から開始されたかを記憶した結果をもとにベクタ全体
の故障出力端子数頻度を求める。手順８２では全てのベ
クタでの故障出力端子頻度を求めたかを判定する。手順
８３では手順８１で求めた故障出力端子数頻度の大きい
順に並べ替えを行い、故障候補箇所の重み付けを行う。
すなわち全ての故障候補の中でより多くの実故障出力を
満足する故障候補箇所が真である可能性が高く、本操作
によりその故障箇所が選択的に抽出される。

【０１１３】更に別の実施例としては、図３１に示す重
み付けの方法があげられる。図３１に示す手順は図２６
の手順５２，６３を実現する別の方法である。手順７８
の組合せ回路毎の経路推定は図２６の手順４０〜５１を
意味しており、出力端子までの経路再構成手順７９では
手順４８の新規抽出故障候補点、故障伝搬経路登録で得
られた経路を用い、図３０に示すように各組合せ回路毎
の推定伝搬経路間の接続関係を検索し、故障出力端子ま
での経路として再構成する。

【０１１４】さらに候補点毎の故障伝搬経路数頻度計算
８４の手順で、図３２の丸数字に示すように頻度を求め
る。図３２の故障出力頻度とは、手順７９で再構成され
た故障伝搬推定経路を故障出力端子から順にトレース
し、経路の分岐、結合毎に経路細分化を行い、細分化さ
れた経路毎にどの故障出力端子から開始されたかを順次
記憶しておく。図中の丸数字が開始された故障出力端子
番号であり、、となっているのは故障出力頻
度数としてはそれぞれ２，３を表わす。この時、出力端
子側からトレースした時に分岐している場合´を付け、
出力側の伝搬経路成立たせるための必要条件を表わして
いる。

【０１１５】すなわち、図３２のの故障伝搬は´と
”同時に故障が伝搬してきているときにのみ成り立す
る場合を示している。同様に、出力端子側からトレース
した場合に経路が結合する場合には、異なる故障出力端
子であればそのまま加えるが、同じ故障出力端子の場合
にはその´の状態も併せて記憶する。従って、故障発生
箇所付近を例にとると、´”と（”＋´”）
の経路結合から´”＋””＝´であるため、´
＋”＝となり、結果としてとなっている。図
３２の場合図からも明らかなようにの故障伝搬経路は
”、´”、””のすべてが同時に成立つ必要があ
ることから、の条件がこの故障出力を満足し、´
のついた経路は故障候補とはなり得ないことになる。

【０１１６】本操作により、各時点での故障推定箇所毎
の故障伝搬経路と故障出力の必要条件を詳細に関連付け
ることが可能となり、故障箇所の絞り込みを精度良く行
うことが可能である。

【０１１７】手順８５では手順８４を全ベクタで繰り返
し、全ての故障出力から故障伝搬経路毎の故障候補箇所
の故障伝搬経路数を求め、手順８４のどの出力端子から
開始され、どの経路を経由したかを記憶した結果をもと
にベクタ全体の故障伝搬経路数頻度を求める。手順８６
では全てのベクタでの故障伝搬経路数頻度を求めたかを
判定する。手順８７では手順８５で求めた故障伝搬経路
数頻度の大きい順に並べ替えを行い、故障候補箇所の重
み付けを行う。本操作により故障出力を満足する故障候
補箇所が選択的に抽出される。

【０１１８】候補点毎の故障伝搬経路数頻度計算手順の
更に他の実施例として、図３３で示す方法もあげられ
る。図３３で示す方法の組合せ回路毎の経路推定手順７
８は図２６の手順４０〜４９を意味しており、手順７９
では故障伝搬経路を出力端子側から入力端子側へ再構成
し、さらに経路の分岐、結合点を認識して細分化する。
図３４は図３３の手順をブロックイメージで表わしたも
のであり、図３４中Ａ〜Ｅは細分化された経路である。

【０１１９】図３４では経路の結合点はＤとＥの合流
点、ＡとＣの合流点の２点があり、各結合点での経路間
条件に対する故障モードと故障候補の対応を示す。図３
４中の表の意味を（ＡorＣ）、（ＤorＥ）を例にとって
説明する。本手法の故障推定は図２６に示すように組合
せ回路を故障出力から順次入力方向に溯るが、組合せ回
路内の故障伝搬推定においても故障伝搬経路毎に出力側
の論理を満たすように経路の溯りを行う。故障伝搬経路
毎の成立条件計算手順８８はこの後段の経路上の故障伝
搬を満たす条件を求める手順であり、成立条件ＤorＥ、
ＡorＣはの故障伝搬を満たす条件ＤorＥを、また、故
障伝搬Ｅを満たす条件ＡorＣを求めるものである。

【０１２０】すなわち、故障伝搬経路の各分岐点での故
障伝搬の成立条件を括弧で括って表わし、かつそれ
を“，”で区切って併記したものである。従って、（Ａ
orＣ），（ＤorＥ）の（ＡorＣ）の持つ意味は経路Ｅに
故障が伝搬している場合、経路Ｅの故障を満たす条件は
経路Ａもしくは経路Ｃに故障伝搬していることを示して
いる。もし、経路Ｅ上に故障が存在しているならば、経
路Ａもしくは経路Ｃ上に故障が存在する必要はない。こ
の条件を満たす故障候補としては、図３４に示すよう
に、Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅ，Ａ＆Ｂ，Ａ＆Ｃ，Ａ＆Ｄ，Ａ
＆Ｅ，Ｂ＆Ｃ，Ｂ＆Ｄ，Ｂ＆Ｅ，Ｃ＆Ｄ，Ｃ＆Ｅ，Ｄ＆
Ｅがあげられる。

【０１２１】同様にして、手順８８で経路間条件（Ａor
Ｃ），（Ｄ＆Ｅ）の成立条件を求めると、 ＝Ｄ＆Ｅ ＝Ｄ＆（ＡorＣ） ＝（Ａ＆Ｄ）or（Ｃ＆Ｄ） ここで、経路Ｂに故障が存在するならば経路Ｃ，Ｄにも
故障伝搬するので、Ｄ＆Ｅ＝Ｂ＆Ｅ、Ｃ＆Ｄ＝Ｃ＆Ｂ＝
Ｂ＆Ｄとなり、さらに ＝（Ａ＆Ｂ）or（Ｃ＆Ｂ） ＝（Ａ＆Ｂ）orＢ ＝Ｂ となる。

【０１２２】よって、前式より経路Ｂ、経路Ａ＆経路
Ｂ、経路Ａ＆経路Ｄ、経路Ｂ＆経路Ｃ、経路Ｂ＆経路
Ｄ、経路Ｂ＆経路Ｅ、経路Ｃ＆経路Ｄ、経路Ｄ＆経路Ｅ
が故障候補となり、図３４の表中で１となっている。反
対に表中の０は故障候補として成立たないことを示して
いる。

【０１２３】故障モードによる故障候補分類手順８９で
は、得られた故障候補に対して単一故障、２重故障の分
類を行う。図３４の例で言えば、経路Ａ〜経路Ｅに１が
表示されている場合が単一故障候補であり、経路Ａ＆経
路Ｂ〜経路Ｄ＆経路Ｅが２重故障候補となる。（Ａor
Ｃ）、（ＤorＥ）について見れば、経路Ａ〜Ｅのどこに
故障が存在しても故障伝搬を満たすことになるので、
経路Ａ〜Ｅは本手順で単一故障候補に分類される。ま
た、経路Ａ＆経路Ｂ〜経路Ｄ＆経路Ｅ全てが１になって
おり、経路Ａ〜経路Ｅのどの経路との組合せでも２重故
障が起こる可能性があることを示している。

【０１２４】手順９０では、全ベクタの全候補点の頻度
計算を終了したか否かを判定し、終了していないようで
あれば手順７９に戻り、頻度計算を行っていない別の組
合せ回路に対して前記と同様の処理を行う。終了してい
れば手順９１へと進む。手順９１では手順８９で得られ
た故障モード毎の故障候補をもとにして、全ベクタでの
故障モードを計算する。手順８９では故障を単一故障と
２重故障に分類したが、単一故障には単一縮退故障とオ
ープン故障があるため全ベクタからの故障候補点とその
状態値をもとに単一縮退故障とオープン故障を分類す
る。

【０１２５】分類方法は全ベクタの故障状態値と正常状
態値を併せて常に一定の状態値になるか否かで判断す
る。常に一定の状態値になれば０／１縮退故障とし、状
態値が時刻により０／１両方の値をとるようであればオ
ープン故障とする。２重故障についてはブリッジ故障と
して分類する。手順９１で求めた各故障モード毎の故障
候補点をもとに、手順９２で全ベクタの各故障候補点毎
の経路頻度を計算し、頻度の大きい順に重み付けを行
う。

【０１２６】さらに他の実施例を図３５に示す。図３５
の手順７８〜９０は図３３の手順７８〜９０と同等であ
り、手順７９では故障伝搬経路を出力端子側から入力端
子側へ再構成し、さらに経路の分岐、結合点を認識して
細分化する。手順８８はこの分岐点、結合点での経路上
の故障伝搬を満たす条件を求める手順である。

【０１２７】さらに、故障箇所数による故障候補分類手
順８９では、得られた故障候補に対して単一故障、２重
故障の分類を行う。手順９０では全ベクタの全候補点の
頻度計算を終了したか否かを判定し、終了していないよ
うであれば手順７９に戻り、頻度計算を行っていない別
の組合せ回路に対して前記と同様の処理を行う。終了し
ていれば手順９３へと進む。

【０１２８】手順９３では、手順８９で得られた全ベク
タの故障箇所数毎の故障候補分類を用いて故障候補毎の
頻度を計算し、頻度の大きいものから順に並べ替えを行
う。さらに手順９４では、全ベクタで故障モードの検査
を行い、故障モード毎に各故障候補の頻度計算を行う。
この手順９３，９４の操作は故障モードをより精細に求
めるための手順である．手順８９で得られた故障箇所数
毎の分類で単一故障として得られたものの中にはオープ
ン故障のみならず、２重故障が含まれる場合もあるた
め、さらに精度に分類する必要がある場合には本操作を
行う。

【０１２９】手順９３で述べたように、単一故障であっ
ても故障推定状態値および正常推定状態値が常に一定で
なければオープン故障の可能性が高い。しかしながら、
図３６に示すように全ベクタを通して推定状態値一定で
ない状態は単一故障の等価故障箇所として得られた故障
候補点間のブリッジ故障であることもある。図３６中×
のついているところが同一時刻同一状態を持つと推定さ
れる故障箇所を示している。

【０１３０】従って、単一故障箇所からブリッジ故障を
抽出する手段として全ベクタを通して状態値が一定でな
い故障箇所を抽出し、さらにその故障箇所毎に頻度計算
を行い、頻度の大きいものから順に故障箇所同士の推定
状態値を比較して同一時刻同一状態の故障箇所を抽出す
る。そして、抽出された故障箇所の中からある閾値以上
の頻度を持つ任意の２箇所を選択して、同時に故障が存
在した場合の頻度を求める。本操作によりオープン故障
と想定されるものの中からさらに出力の故障状態をより
多く満たすブリッジ故障の抽出、選別が可能となる。

【０１３１】手順９２では図３３の手順９２と同様に、
単一０／１縮退故障、オープン故障、ブリッジ故障のモ
ード毎に分類された故障候補点に対し頻度数の並べ替え
を行い、推定故障箇所の重み付けを行う。この時ブリッ
ジ故障については、手順８９で２重故障と分類された推
定ブリッジ故障箇所と手順９４で得られた推定ブリッジ
故障箇所両方同じ扱いとし、頻度による重み付けを行
う。

【０１３２】別の実施例を図３７に示す。本実施例は図
２５の重み付けシーケンスに対して故障推定完了判定手
順９５を加えたものであり、本機能により頻度による重
み付け精度が得られた段階で故障推定を停止できるた
め、演算処理時間の短縮化を最適に図ることが可能とな
る。

【０１３３】まず、テスタの故障出力結果から故障出力
端子を抽出し、その端子を起点として組合せ回路抽出手
順７１でダイナミックに組合せ回路抽出を行う。手順７
２は手順７１で得られた組合せ回路毎に出力端子状態か
ら入力端子状態を求める手順であり、手順７３は組合せ
回路の入力端子状態を求める際に得られる組合せ回路内
部の推定故障伝搬経路を登録する。手順７１〜７３を推
定状態が得られなくなるまで回路を溯るため、回路溯り
完了判定手順７４で組合せ回路毎の推定続行か否かを制
御する。この時、同一テストベクタで他の未推定故障出
力端子が存在する場合には、同様に前記手順を繰り返
す。

【０１３４】手順７３でベクタ毎の故障推定が完了した
場合、手順７２で得られた組合せ回路毎の推定故障伝搬
経路をもとに経路の分岐、結合認識を行い、故障推定箇
所から故障出力端子までの故障伝搬経路を再構成する。
この操作により故障伝搬経路上の故障候補点に対して単
一故障点、多重故障点、もしくは故障候補ではなく故障
伝搬経路であるのか分類が可能となる。手順７６では手
順７５で得られた結果を用い、さらにその時点での推定
状態値並びにそれまでに推定で用いた全ベクタの状態値
を用いて故障モードの分類を行う。手順７７では故障候
補を故障出力端子数や故障伝搬経路等の頻度を用い、よ
り故障状態を満たす故障候補箇所ならびに状態値、故障
モードを総合的に判定し順位付けし、故障候補の確度と
して重み付けを行う。

【０１３５】さらに、手順９５では手順７７で重み付け
として用いた故障出力端子数や故障伝搬経路数の頻度分
布を調べ、ある設定された閾値と比較して、 （１）閾値に満たない場合には、テスト結果の新たなベ
クタを用いて手順７１に戻り、組合せ回路毎の回路溯り
を行う； （２）閾値以上の場合は故障候補の推定精度が得られた
として、故障推定を完了する； という頻度判定による故障推定終了判定を備える。

【０１３６】図３８〜４０は先の各実施例に対して故障
推定終了判定手順９５を夫々挿入したものである。具体
的には、図３８は図３１頻度計算手順に手順９５の故障
推定終了判定手順を、また図３９は図３３の経路間条件
を用いた重み付けシーケンスに手順９５の故障推定終了
判定手順を、図４０は図３５のブリッジ故障詳細判定シ
ーケンスに手順９５の故障推定終了判定手順を加え、演
算処理時間の短縮化を最適に図ることが可能としてい
る。図４１は図２５の機能を持つ装置のブロック図であ
る。

【０１３７】本装置では、最初に故障推定の対象となる
ネットリストをネットリスト管理部２０６に入力し記憶
させ、同時に故障推定を行うテストベクタを用いて求め
たＬＳＩの入出力端子ならびにフリップフロップの期待
値を予め入出力端子、フリップフロップ期待値管理部２
０７に入力し記憶させておく。また推定値、実測値管理
部２０９にはテスト結果の出力端子状態値を記録してお
く。

【０１３８】シーケンス制御部２０５は２０１〜２０
４，２１０〜２１３の各推定動作機能の動作制御を行
い、特にブロック相互間の待ち合わせ制御や動作順序制
御を行う。また、２０６〜２０９の各管理部は前記各推
定動作機能部からの情報検索や情報登録、削除を行いデ
ータの一元管理を行う。

【０１３９】ネットリスト管理部２０６は先に述べたよ
うに対象となるＬＳＩ全回路のネット接続情報や、全回
路から部分回路に分割された回路の接続情報を記憶し管
理する。そして素子や経路の接続情報検索、部分回路登
録／削除を各ブロックの要求に応じて行う。

【０１４０】同様に入出力端子、フリップフロップ期待
値管理部２０７も前記述べたように、対象となるＬＳＩ
の入出力端子および内部フリップフロップの期待値を記
憶し管理する。本ブロックは各ブロックからの経路や素
子の端子の期待値検索要求に対して期待値を検索して出
力し、状態値の登録／削除／修正、またフリップフロッ
プ以外の内部素子の期待値追加登録／削除の機能を持っ
ている。

【０１４１】故障候補管理部２０８は故障箇所推定で得
られた候補点の素子名、経路名とその推定状態値ならび
にその時刻を記憶し管理する。本ブロックは各ブロック
からの経路や素子の端子の登録要求に対してそれらの情
報を登録し、また検索／削除／修正要求に対してそれぞ
れ検索結果出力、データ削除、データ修正等の動作を行
う機能を持っている。

【０１４２】故障候補管理部２０８では故障候補を管理
するが、推定値管理部２０９では推定時刻とその状態値
を管理する。したがって故障状態に関しては故障候補管
理部と推定値管理部とが連携してその情報を管理し、故
障状態以外の推定状態管理は本ブロックで行う。このブ
ロックでは故障／正常の状態に関わらず、推定時刻、状
態値の結果を管理し、各推定ブロックからの時刻、状態
値の登録／検索／削除／修正要求に対し、既登録結果を
もとに情報の管理、出力を行う。

【０１４３】次に各故障推定機能ブロックであるが、組
合せ回路抽出部２０１はネットリスト管理部２０６に対
し接続情報検索を行いながら、かつ故障候補管理部２０
８ならびに推定値管理部２０９に状態値検索行って、故
障伝搬経路を含むと考えられる組合せ回路を抽出し、ネ
ットリスト管理部にその部分回路を登録する。

【０１４４】組合せ回路状態推定部２０２は前記得られ
た部分回路である組合せ回路に対して、推定値、実測値
管理部２０９から当該組合せ回路の既に求まっている入
出力状態値を得、かつネットリスト管理部に対し回路接
続情報検索を行いながら、内部状態推定を行い、順次入
力方向へと状態推定を溯り、組合せ回路入力端子の状態
値を推定する。そして推定値、実測値管理部２０９に対
して組合せ回路入力状態の推定値を登録する。

【０１４５】同時に故障伝搬経路抽出部２０３では前記
組合せ回路内部状態推定部で得られた結果をもとに、ネ
ットリスト管理部に対し回路接続情報を検索して組合せ
回路内部の伝搬経路を抽出する。この時入出力端子、フ
リップフロップ期待値管理部２０７より組合せ回路入出
力端子の期待値を得、内部回路の期待値を求めることに
より、推定故障伝搬経路を求める。この推定故障伝搬経
路は故障候補でもありえるため故障候補管理部２０８と
推定時刻、推定状態値を推定値、実測値管理部２０９に
対して登録する。

【０１４６】経路選択部２０４は前記組合せ回路状態推
定部２０２で得られた複数の組合せ回路入力状態推定値
を用いて端子、状態値共に共通な故障伝搬端子をまと
め、故障伝搬経路選択を行う。この経路選択部２０４で
まとめられた共通な端子および状態値は、共通グループ
として状態値の故障／正常に関わらず、推定値、実測値
管理部２０９に登録する。

【０１４７】故障伝搬経路再構成部２１０は組合せ回路
毎に故障候補管理部２０８に登録された故障候補点なら
びに推定状態値をもとに、ネットリスト管理部２０６に
対し回路接続情報検索を行いながら、各故障候補点とＬ
ＳＩの故障出力端子までの故障伝搬経路を再構成し、各
故障候補間の経路や故障出力端子との関係を故障候補管
理部２０８に登録する。

【０１４８】推定状態値判定部２１１は前記得られた故
障候補点ならびに時刻、推定故障状態値を故障候補管理
部２０８から得、さらに入出力端子、フリップフロップ
期待値管理部２０７、推定値、実測値管理部２０９から
全ベクタの故障候補点の状態値を検索して推定状態値が
常に一定か否かを判定する。

【０１４９】故障モード分類部２１２は前記推定状態判
定部で得られた状態判定をもとに単一０／１縮退故障、
オープン故障、ブリッジ故障の分類を行う。この時前記
故障伝搬経路再構成部２１０で故障管理部２０８に登録
した各故障候補間の経路や故障出力端子との関係を検索
し、オープン故障、故障伝搬経路上の２点間のブリッジ
故障の可能性があるか否かを判定し詳細な分類を行う。
この分類した故障候補点ごとの故障モードは故障候補管
理部２０８に再度検索した状態値とともに登録を行う。

【０１５０】頻度重み付け部２１３は故障管理部２０８
に登録された各故障候補毎の状態値、故障モード分類、
各故障候補間の経路や故障出力端子との関係を検索し、
故障出力端子数もしくは推定故障伝搬経路数の頻度をも
とに総合的に各故障候補点の推定の確からしさを求め、
各故障モードごとに順位付けを行う。

【０１５１】図４２は別の装置のブロック図であり、図
４１と同等部分は同等符号にて示す。基本的に図４１の
例と機能は同等であるが、先の実施例でのネットリスト
を記憶させておくネットリスト管理部、入出力端子なら
びにフリップフロップの期待値を予め貯えておく入出力
端子、フリップフロップ期待値管理部、またテスト結果
の出力端子状態値を記録しておく推定値、実測値管理
部、さらに推定結果の故障候補を記憶しておく故障管理
部をそれぞれサーバとしてネットワーク上に備えてい
る。

【０１５２】３１０〜３１３の各管理サーバは２０１〜
２０，２１０〜２１３の各推定動作機能部のクライアン
トからの情報検索や情報登録、削除要求をネットワーク
を介して受付け、要求に基づいて処理を行い、処理完了
通知を各要求元のクライアントに対して返し、データの
一元管理を行う。

【０１５３】シーケンス制御部２０５は２０１〜２０
４、２１０〜２１３の各推定動作機能の動作制御を行
い、特にブロック相互間の待ち合わせ制御や動作順序制
御を行う。各状態推定機能部である組合せ回路抽出部２
０１、組合せ回路状態推定部２０２、故障伝搬経路抽出
部２０３、経路選択部２０４、故障伝搬経路再構成部２
１０、推定状態値判定部２１１、故障モード分類部２１
２、頻度重み付け部２１３は先の各状態推定機能部と同
等である。

【０１５４】

【発明の効果】本発明によれば、ＬＳＩの出力側から組
合せ回路を抽出し、全てのフェイルに対して抽出された
組合せ回路入力境界での故障伝搬値を順次推定して溯っ
ていく様にしたので、全回路全信号線に対して故障を仮
定し、全ベクタを用いて故障シミュレーションを行う場
合に比べ、必要な回路のみの推定演算で済み、演算量が
大幅に削減できるという効果がある。

【０１５５】かつ個々の組合せ回路内故障伝搬経路推定
は抽出された組合せ回路に限定されるので、回路全体の
シミュレーションに比較し回路規模が大幅に小さくなり
計算量が大幅に減少できる。組合せ回路内の故障伝搬経
路抽出に関しても故障推定のための組合せ回路入力部故
障シミュレーション結果と正常な場合のシミュレーショ
ン結果の比較のみで行えるので、計算量も少なく抑えら
れ、かつ組合せ回路内の再収れん回路に対しても故障伝
搬経路が抽出できる。

【０１５６】本手法の組合せ回路内の伝搬経路推定で
は、内部に故障が存在する場合、１若しくは２個の故障
が存在する場合と夫々仮定して推定するため、伝搬経路
の推定誤りを起こしにくい。

【０１５７】また、全てのフェイルベクタに対して組合
せ回路の入力境界の故障伝搬値推定を行い、その故障伝
搬推定経路を追って更に前段の組合せ回路へと絞り込ん
でいく様にしたので、ブリッジ故障等の多重故障の場合
でも独立な故障伝搬と相互に影響し合った伝搬と両方を
想定できることになり、推定誤りを起こしにくい。タイ
ミング故障についてみても、結果として状態故障として
得られる情報からクリティカルパスを抽出し、タイミン
グ故障か否かを推定するので、推定誤りを起こしにく
い。

【０１５８】更に個々の組合せ回路の入力状態推定につ
いても簡略化と故障伝搬経路選択を行いまとめることに
より、溯る経路並びに抽出する組合せ回路を大幅に削減
でき、演算量を削減できる。

【０１５９】また、本手法によりスキャンパスが組込ま
れているものやＲＯＭ，ＲＡＭが組込まれているものに
ついても最適なシーケンスで推定を行うことができるの
で、故障にかかる時間が大幅に短縮できるという効果が
ある。

【０１６０】また実際の故障出力端子からダイナミック
に故障伝搬経路を含むと推定される組合せ回路を順次抽
出し、状態推定を行いかつ経路選択を行ってＬＳＩの故
障箇所を推定していくため、故障推定に要する時間が他
の故障辞書を用いる方法と比較し大幅に短縮することが
できることである。これはＬＳＩの大規模化が進むにつ
れ顕著になることが十分予想される。

【０１６１】その理由は、故障辞書を用いる従来方法の
場合予想される全てのノードに対して故障仮定をし故障
シミュレーションを行って故障辞書を作成するため、Ｌ
ＳＩが大規模化するとその演算時間が大幅に増大するの
に対し、本方法は故障伝搬していると推定される経路を
含む組合せ回路に対して推定演算を行うため、シミュレ
ーションの演算対象がＳＩ全体でなく部分的な組合せ回
路になり、ＬＳＩの大規模化に対しても故障辞書法のよ
うに大幅に演算時間増大することはないと考えられる。

【０１６２】さらに、回路構成と故障箇所の出力端子か
らの論理深度に依存するため比較的論理深度の浅い場所
の故障は推定時間が大幅に短縮できることである。第１
の効果で推定シーケンスによる演算時間短縮を述べた
が、さらに大幅短縮が可能となる。加えて故障精度をあ
げたければ推定に用いるテストベクタを増やすことで対
応でき演算時間との推定精度とのトレードオフを制御で
きるという利点も挙げられる。

【０１６３】その理由は、故障辞書の場合全ての故障仮
定点とその出力との関係を検索辞書として用意しないと
故障箇所の絞り込みができないが、本手法は故障出力端
子からダイナミックに回路抽出を行い入力方向へと溯る
ため、故障箇所の場所が出力端子から浅いと溯りの到達
が早いため、ＬＳＩの規模に関係なく比較的短時間で故
障箇所の絞り込みが可能となる。

【０１６４】さらにはまた、故障精度をあげたければ推
定に用いるテストベクタを増やすことで対応できるた
め、演算時間との推定精度とのトレードオフを制御でき
るという利点も挙げられる。

【０１６５】その理由は故障推定をテスト結果逐次読み
込んでいくことで行い、かつ得られた故障推定結果のみ
を用いて頻度数の順位付けを行い重み付けをするため、
推定精度をよりあげたければ要求するレベルに達するま
でテスト結果を読み込み、満足する結果に達した時点で
推定を打ち切ることが容易に可能であるからである。

【０１６６】また，故障辞書法と異なりブリッジ故障で
ある２重故障まで故障を想定しているため、単一縮退故
障、オープン故障、ブリッジ故障が比較的精度良く推定
できることである。

【０１６７】その理由は、２重故障を想定して推定故障
伝搬経路を求め、得られた経路上で２重故障を仮定する
ため、より絞られた範囲で故障仮定でき、精度も良くな
るからである。また、組合せ回路毎に得られた推定故障
伝搬経路を再構成し、故障候補点から故障出力端子まで
細分化しながら関連付けるため、出力端子近くのノード
の重みが高くなることを回避でき各故障モードの精度が
あげられるためである。それに対し故障辞書の場合に
は、故障シミュレーションを２重故障に拡張すると、ネ
ット数の２乗に近い数の組合せで故障仮定を行う必要が
あり、その組合せ数が爆発的に増大し、故障シミュレー
ションの処理時間の点で現実的ではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施例を示すフローチャートで
ある。

【図２】組合せ回路内部の故障伝搬経路を推定した図で
あり、（ａ）は組合せ回路内部に故障が存在しない場
合、（ｂ）は組合せ回路内部に１箇所故障が存在する場
合、（ｃ）は組合せ回路内部に２箇所故障が存在する場
合の図である。

【図３】図１のフローチャートの変形例である。

【図４】組合せ回路入力端子状態推定時の簡略化操作を
示した図である。

【図５】組合せ回路内に故障箇所がないと想定した場合
の故障伝搬経路出力シーケンス（各ノード状態推定毎の
比較）を示すフローチャートである。

【図６】組合せ回路内に故障箇所がないと想定した場合
の故障伝搬経路出力シーケンス（組合せ回路入力端子状
態推定後の比較）を示すフローチャートである。

【図７】組合せ回路内に故障箇所が存在すると仮定した
場合の故障伝搬経路出力シーケンス（各ノード状態推定
毎の比較）を示すフローチャートである。

【図８】組合せ回路内に故障箇所が存在すると仮定した
場合の故障伝搬経路出力シーケンス（組合せ回路入力端
子状態推定後シミュレーション結果との比較）を示すフ
ローチャートである。

【図９】組合せ回路内故障伝搬経路抽出を示す図であ
り、（ａ）組合せ回路内に故障箇所が存在すると仮定し
た場合の故障伝搬経路を求める図（各ノード状態推定毎
の比較）、（ｂ）は組合せ回路内に故障箇所が存在する
と仮定した場合の故障伝搬経路を求める図（組合せ回路
入力端子状態推定後シミュレーション結果との比較）で
ある。

【図１０】本発明の第２の実施例を示すフローチャート
である。

【図１１】組合せ回路入力端子状態推定での経路選択手
法を示すもので、フェイル端子毎に全てのベクタをまと
める場合の図である。

【図１２】同じくフェイル端子毎に全てのベクタをまと
め、フェイルの出現順に選択する場合の図である。

【図１３】同じくフェイル端子毎に全てのベクタをまと
め、フェイルとなっているベクタが多いものから順に選
択する場合の図である。

【図１４】同じくフェイル端子毎に全てのベクタをまと
め、フェイルとなっているベクタが多いものから順に複
数端子を選択する場合の図である。

【図１５】各組合せ回路毎の推定結果における組合せ回
路内推定故障箇所数と故障種別との関係を示す図表であ
る。

【図１６】故障モードと故障箇所並びに状態の関係を示
す図表である。

【図１７】重ね合わせにより故障候補点を抽出する図で
ある。

【図１８】故障候補点出現頻度計算を示す図である。

【図１９】推定故障候補箇所にラッチが含まれる場合の
説明図である。

【図２０】タイミング不良の判定フローチャートであ
る。

【図２１】回路中にスキャンＦＦを含む場合の説明図で
ある。

【図２２】メモリセルに到達した場合の溯り方向を示す
図である。

【図２３】メモリセルの溯りのフローチャートである。

【図２４】図１０のフローチャートの変形例である。

【図２５】本発明の別の実施例の重み付け概略フローチ
ャートである。

【図２６】本発明の実施例における故障箇所推定手法の
詳細フローチャートである。

【図２７】図２５の故障出力端子数頻度の重み付けシー
ケンス詳細フローチャート

【図２８】（ａ）は組合せ回路内に故障がない場合の故
障伝搬の様子、（ｂ）は組合せ回路内に単一故障がある
場合の故障伝搬の様子、（ｃ）は組合せ回路内にブリッ
ジ故障がある場合の故障伝搬様子を夫々示す図である。

【図２９】経路選択を説明図する図である。

【図３０】故障出力端子数頻度の重み付け説明図であ
る。

【図３１】故障伝搬経路数頻度の重み付けシーケンス詳
細フローチャートである。

【図３２】故障伝搬経路数頻度の重み付け説明図であ
る。

【図３３】経路間条件を用いた重み付けシーケンス詳細
フローチャートである。

【図３４】経路間条件を用いた重み付け説明図である。

【図３５】ブリッジ故障の詳細判定重み付けシーケンス
の詳細フローチャートである。

【図３６】ブリッジ故障の詳細判定重み付けの故障候補
説明図である。

【図３７】頻度判定による故障推定完了判定の重み付け
フローチャートである。

【図３８】頻度判定による重み付けシーケンス詳細フロ
ーチャートである。

【図３９】頻度判定による経路間条件を用いた重み付け
シーケンス詳細フローチャートである。

【図４０】頻度判定によるブリッジ故障の詳細判定重み
付けシーケンスの詳細フローチャートである。

【図４１】本重み付け手法を用いた故障箇所推定装置の
実施例を示す機能ブロック図である。

【図４２】本重み付け手法を用いたクライアント／サー
バ型の故障箇所推定装置実施例を示す機能ブロック図で
ある。

【符号の説明】

１００ 組合せ回路 １０１ 入力ラッチ １０２ 出力ラッチ ２０１ 組合せ回路抽出部 ２０２ 組合せ回路状態推定部 ２０３ 故障伝搬経路抽出部 ２０４ 経路選択部 ２０５ シーケンス制御部 ２０６ ネットリスト管理部 ２０７ 入出力端子、フリップフロップ期待値管理部 ２０８ 故障候補管理部 ２０９ 推定値、実測値管理部 ２１０ 故障伝搬経路再構成部 ２１１ 推定状態値判定部 ２１２ 故障モード分類部 ２１３ 頻度重み付け部 ３１０ ネットリスト管理サーバ ３１１ 入出力端子，フリップフロップ期待値管理サー
バ ３１２ 故障候補管理サーバ ３１３ 推定値、実測値管理サーバ

Claims (31)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 予め用意したＬＳＩ内の全フリップフロ
   ップの全テストべクタに対する全期待値情報と、実際の
   テスタでのパス／フェイル出力情報と、全回路の接続情
   報とを用い、前記ＬＳＩ内の回路を前記フリップフロッ
   プと組合せ回路とに分割して故障推定するようにした順
   序回路の故障箇所推定方法であって、 フェイルベクタ毎に組合せ回路の入力境界での故障伝搬
   推定値を求めるシーケンスとして、 実際のフェイル出力ピンもしくはフェイルと推定される
   フリップフロップ入力線からＬＳＩの入力ピン若しくは
   フリップフロップ出力に到達するまで入力方向に組合せ
   回路を抽出し、さらに抽出された組合せ回路の入力から
   出力方向にＬＳＩの出力ピン若しくはフリップフロップ
   入力まで回路を抽出して、再度得られた出力ピン若しく
   はフリップフロップの入力端子から入力方向に前記組合
   せ回路を抽出する手順と、 当該組合せ回路の出力部での推定故障出力並びに推定正
   常出力の状態値とを用いて、 （１）組合せ回路内に故障が存在しないと仮定する場
   合、 （２）組合せ回路内に故障が存在すると仮定する場合、
   の推定を行い、組合せ回路内に故障が存在しないと推定
   される場合については組合せ回路入力端子に前段から伝
   搬している信号の状態値を推定し、また、組合せ回路内
   部に故障が存在すると推定される場合については、組合
   せ回路内推定故障箇所並びに同状態で前記抽出された組
   合せ回路入力端子に前段から伝搬していると推定できる
   場合には組合せ回路入力端子信号の状態値もあわせて推
   定する手順と、 出力状態を満たす故障推定箇所及び推定入力ベクタを求
   める手順と、 前記得られた組合せ回路入力端子での複数の推定入力ベ
   クタ全てを用いブール代数の簡略化を行う手順と、 さらにこの簡略化後の推定入力ベクタを期待値との比較
   により故障伝搬端子、正常端子、出力状態決定に関与し
   ない端子に分類し、かつその時の状態を端子毎に求める
   手順と、 前記得られた推定結果に故障伝搬推定端子が存在する場
   合には、最初の組合せ回路抽出手順から再度実行させる
   手順と、 前記組合せ回路毎の推定で得られた全ての組合せ回路内
   推定故障箇所の一致判定を行い全ての状態を満たす同一
   箇所を抽出する手順とを含み、最終的な故障推定リスト
   を作成するようにしたことを特徴とする順序回路の故障
   箇所推定方法。
2. 【請求項２】 請求項１の組合せ回路入力端子の故障推
   定箇所及び推定入力べクタを求める手順に代えて、 組合せ回路内に故障が存在しないと仮定する場合には、
   前記組合せ回路の出力部での推定故障出力並びに推定正
   常出力の状態値を用いて、請求項１と同様の手順を行
   い、組合せ回路内に故障が存在すると仮定する場合に
   は、組合せ回路出力部での推定故障端子の状態値のみを
   用いて組合せ回路入力端子の状態推定を行う手順と、 この得られた各々の推定べクタを用いて推定べクタ毎に
   論理シミュレーシヨンを行うことにより各ノード毎の状
   態値を求める手順と、 前記組合せ回路入力端子に期待値を与え論理シミュレー
   シヨンを行い、この得られた各ベクタ毎の各ノード状態
   値とを比較することにより各推定べクタ毎に故障伝搬経
   路を抽出する手順と、 この得られた故障伝搬経路のうち最初に用いた組合せ回
   路出力部の推定故障出力端子以外に故障が伝搬している
   経路並びに当該経路と推定故障出力端子と交差している
   場合にはその交差点から前記組合せ回路入力端子に到達
   するまでの全ての故障伝搬経路を抽出して、この得られ
   た故障伝搬経路から削除して故障箇所並びに推定入力ベ
   クタが存在する場合にはその推定入力ベクタを求める手
   順とを含むことを特徴とする請求項１記載の順序回路の
   故障箇所推定方法。
3. 【請求項３】 請求項１の組合せ回路入力端子での推定
   入力ベクタを求める手順において、請求項１の前記
   （１），（２）による組合せ回路内部の故障箇所を推定
   する操作の後に、当該組合せ回路出力状態を得るべく同
   様な組合せ回路内部の故障推定操作により既に得られて
   いる故障推定箇所の数と新たに当該組合せ回路内の故障
   箇所推定で得られた数を合算する手順と、 この合算して得られた故障推定箇所数から縮退故障、オ
   ープン故障、ショート故障、タイミング故障等想定する
   故障種別毎に分類し、かつ故障種別毎に規定された故障
   推定箇所数と照合することにより規定された故障推定数
   を超える新たな故障推定箇所に対しては削除し、同時に
   同状態で得られた組合せ回路入力端子の入力推定べクタ
   も削除する手順とを含み、 各組合せ回路の入力端子状態推定毎に得られる組合せ回
   路入力推定ベクタ数を削減するようにしたことを特徴と
   する請求項１記載の順序回路の故障箇所推定方法。
4. 【請求項４】 請求項１の組合せ回路入力端子の状態推
   定により得られた推定べクタから組合せ回路入力端子を
   故障伝搬端子、正常端子、出力状態決定に関与しない端
   子に分類する手順に代えて、前記組合せ回路入力端子で
   の複数の推定入力ベクタ全てを用いて各推定べクタ毎に
   組合せ回路入力端子の期待値と比較し故障伝搬入力端子
   を抽出する手順と、 前記推定された組合せ回路入力端子の全ベクタを前記抽
   出された故障伝搬端子毎に分類する手順と、 前記故障伝搬端子毎に分類された組合せ回路入力端子の
   全推定べクタを調べ分類された全ての推定べクタでー致
   している端子の状態を、 （１）期待値とー致している状態を表わしかつその状態
   値、 （２）期待値と異なっている状態を表わしかつその状態
   値、で夫々表わし、また分類された推定べクタの中に状
   態が期待値と一致しているべクタと−致していないべク
   タがある場合には、 （３）故障が伝搬してきている可能性を表わしかつその
   状態値で表わし組合せ回路入力端子の推定ベクタ数を削
   減し、組合せ回路入力端子を故障伝搬端子、正常端子、
   出力状態決定に関与しない端子に分類する手順とを含む
   ことを特徴とする請求項１記載の順序回路の故障箇所推
   定方法。
5. 【請求項５】 請求項４の組合せ回路入力端子の状態推
   定により得られた推定ベクタから組合せ回路入力端子を
   故障伝搬端子、正常端子、出力状態決定に関与しない端
   子に分類する手順において、 前記組合せ回路入力端子での複数の推定入力ベクタ全て
   を用いて各推定べクタ毎に組合せ回路入力端子の期待値
   と比較し故障伝搬入力端子を抽出する手順の後に、請求
   項１で得られた推定入力ベクタ全てを用い、請求項１で
   得られた故障伝搬入力端子毎に故障の出現頻度を計数す
   る手順と、 出現頻度の多い端子から順にその端子が故障であるべク
   タのみを抽出し、その抽出された全ての推定べクタから
   一致している端子の状態を、 （１）期待値と−致している状態を表わしかつその状態
   値、 （２）期待値と異なっている状態を表わしかつその状態
   値、で夫々表わし、また分類された推定べクタの中に状
   態が期待値と−致しているベクタと一致していないベク
   タがある場合には、 （３）故障が伝搬してきている可能性を表わしかつその
   状態値で表し、組合せ回路入力端子の推定ベクタ数を削
   減し、組合せ回路入力端子を故障伝搬端子と正常端子、
   出力状態決定に関与しない端子に分類する手順と、 この手順を請求項１で得られた推定入力ベクタ全てを網
   羅するまで繰り返す手順とを含み、各組合せ回路の入力
   端子状態推定毎に得られる組合せ回路入力推定べクタ数
   を削減するようにしたことを特徴とする請求項４記載の
   順序回路の故障箇所推定方法。
6. 【請求項６】 前記組合せ回路入力端子を故障伝搬端
   子、正常端子、出力状態決定に関与しない端子に分類す
   る手順において、請求項１で得られた推定入力ベクタ全
   てを用いて得られた故障伝搬入力端子毎に故障の出現頻
   度を計数する手順の後に、前記得られた出現頻度からあ
   る決まった閾値をもとに故障伝搬端子を抽出し、その抽
   出された複数の故障伝搬推定端子が全て故障であると推
   定されたべクタを抽出する手順と、 前記抽出されたべクタからー致している端子の状態を、 （１）期待値と−致している状態を表わしかつその状態
   値、 （２）期待値と異なっている状態を表わしかつその状態
   値、で表わし、また分類された推定べクタの中に状態が
   期待値と−致しているべクタと−致していないべクタが
   ある場合には、 （３）故障が伝搬してきている可能性を表わしかつその
   状態値で表わし組合せ回路入力端子の推定ベクタ数を削
   減し、組合せ回路入力端子を故障伝搬端子、正常端子、
   出力状態決定に関与しない端子に分類する手順と、 前記手順を請求項１で得られた推定入力ベクタ全てを網
   羅するまで繰り返す手順とを含み、 各組合せ回路の入力端子状態推定毎に得られる組合せ回
   路入力推定べクタ数を削減するようにしたことを特徴と
   する請求項５記載の順序回路の故障箇所推定方法。
7. 【請求項７】 前記組合せ回路入力端子を故障伝搬端子
   と正常端子、出力状態決定に関与しない端子に分類する
   手順において、請求項１で得られた推定入力ベクタ全て
   を用い、得られた故障伝搬入力端子毎に故障の出現頻度
   を計数する手順の後に、ある決まった端子数を閾値とし
   て前記得られた出現頻度を多い順に故障伝搬端子を抽出
   し、その抽出された複数の故障伝搬推定端子が全て故障
   であると推定されたべクタを抽出する手順と、 前記抽出されたべクタからー致している端子の状態を、 （１）期待値とー致している状態を表わしかつその状態
   値、 （２）期待値と異なっている状態を表わしかつその状態
   値、で表わし、また分類された推定ベクタの中に状態が
   期待値とー致しているべクタとー致していないベクタが
   ある場合には、 （３）故障が伝搬してきている可能性を表わしかつその
   状態値で表わし組合せ回路入力端子の推定べクタ数を削
   減し、組合せ回路入力端子を故障伝搬端子、正常端子、
   出力状態決定に関与しない端子に分類する手順と、 前記手順を請求項１で得られた推定入力ベクタ全てを網
   羅するまで繰り返す手順とを含み、 各組合せ回路の入力端子状態推定毎に得られる組合せ回
   路入力推定ベクタ数を削減するようにしたことを特徴と
   する請求項５記載の順序回路の故障箇所推定方法。
8. 【請求項８】 請求項６の出現頻度からある決まった閾
   値をもとに故障伝搬端子を抽出し、その抽出された複数
   の故障伝搬推定端子が全て故障であると推定されたべク
   タを抽出する手順と、ある決まった端子数を閾値として
   前記得られた出現頻度を多い順に故障伝搬端子を抽出
   し、その抽出された複数の故障伝搬推定端子が全て故障
   であると推定されたべクタを抽出する手順とを組合せ、 故障伝搬推定端子毎の出現頻度がある決められた閾値以
   上の端子については請求項６の手順と同様の手順で推定
   べクタ抽出、推定べクタ削減を繰り返し、前記推定べク
   タの抽出により故障伝搬推定端子毎の出現頻度が前記閾
   値より小さくなった場合には、前記ある決まった端子数
   を閾値として前記得られた出現頻度を多い順に故障伝搬
   端子を抽出し、その抽出された複数の故障伝搬推定端子
   が全て故障であると推定されたべクタを抽出、削減し、
   全ての推定ベクタを網羅するまで繰り返す手順を含むこ
   とを特徴とする請求項請求項６記載の順序回路の故障箇
   所推定方法。
9. 【請求項９】 請求項１の故障伝搬端子と正常端子、出
   力状態決定に関与しない端子に分類し、かつその時の状
   態を端子毎に求める手順において、請求項１で得られた
   組合せ回路入力端子での複数の推定入力ベクタ全てを用
   いブール代数の簡略化を行う手順の後に、さらに請求項
   ４から８のいずれかの手順を含むことを特徴とする請求
   項４〜８いずれか記載の順序回路の故障箇所推定方法。
10. 【請求項１０】 請求項１の抽出された組合せ回路の出
    力状態を満たす故障推定箇所および推定入力ベクタを求
    める手順において組合せ回路が抽出される毎に、得られ
    た組合せ回路入力端子に対して期待値を用い、予め組合
    せ回路内部の論理シミュレーシヨンを行い、組合せ回路
    内の各ノードの期待値を求める手順と、 組合せ回路の出力部での推定故障出力並びに推定正常出
    力の状態値を用いて、 （１）組合せ回路内に故障が存在しないと仮定する場
    合、（２）組合せ回路内に故障が存在すると仮定する場
    合、各々において出力端子から入力方向へと順次ノード
    毎に推定を行い、組合せ回路内の故障並びに入力端子状
    態を推定する際、推定値が得られる毎に前記得られた組
    合せ回路内部の各ノードの期待値との照合を行うことに
    より、（１）の場合は推定故障出力端子から得られた入
    力推定状態値までの故障伝搬経路を抽出し、（２）の場
    合は推定故障出力端子から得られた推定故障推定箇所並
    びに入力推定状態値までの推定故障伝搬経路を抽出する
    手順とを含み、 論理和として得られる推定故障推定箇所並びに推定故障
    伝搬経路と、論理積として得られる推定故障推定箇所並
    びに推定故障伝搬経路とを管理する手順と、請求項１と
    同様簡略化を行う手順を繰り返し行った後、前記組合せ
    回路毎の推定で得られた全ての組合せ回路内推定故障箇
    所並びに全ての推定故障伝搬経路を同一時間単位に分類
    する手順と、 前記得られた同一時間単位の推定故障箇所並びに推定故
    障伝搬経路を用いての場所的な一致を判定し全ての状態
    を満たす同一箇所を抽出する手順とを含むことを特徴と
    する請求１項記載の順序回路の故障箇所推定方法。
11. 【請求項１１】 請求項１の抽出された組合せ回路の出
    力状態を満たす故障推定箇所および推定入力ベクタを求
    める手順において組合せ回路が抽出される毎に、得られ
    た組合せ回路入力端子に対して期待値を用い、予め組合
    せ回路内部の論理シミュレーシヨンを行い、組合せ回路
    内の各ノードの期待値を求める手順と、 組合せ回路の出力部での推定故障出力並びに推定正常出
    力の状態値を用いて、 （１）組合せ回路内に故障が存在しないと仮定する場
    合、 （２）組合せ回路内に故障が存在すると仮定する場合、
    各々において出力端子から入力方向へと順次ノード毎に
    推定を行い、組合せ回路内の故障並びに入力端子状態を
    推定する際、０，１に固定される固定値と、１，０のど
    ちらの状態でも良い状態Ｘとを用いて状態推定を行い簡
    略化も同時に行う手順と、 前記得られた組合せ回路内部の各ノードの期待値との照
    合を行う時に固定値０，１は期待値との照合判定を、ま
    たは推定故障伝搬経路としては扱わず、入力端子状態Ｘ
    のみ故障伝搬許容端子として扱うことにより、 （１）の場合は推定故障出力端子から得られた入力推定
    状態値までの推定故障伝搬経路を抽出し、 （２）の場合は推定故障出力端子から得られた故障推定
    箇所並びに入力推定状態値までの推定故障伝搬経路を抽
    出する手順とを含み、 論理和として得られる故障推定箇所並びに推定故障伝搬
    経路と論理積として得られる故障推定箇所並びに推定故
    障伝搬経路とを管理する手順と、 請求項１と同様上記手順を繰り返し行った後、上記組合
    せ回路毎の推定で得られた全ての組合せ回路内推定故障
    箇所並びに全ての故障伝搬経路を同一時間単位に分類す
    る手順と、前記組合せ回路毎の推定で得られた全ての組
    合せ回路内推定故障箇所並びに全ての推定故障伝搬経路
    を用いての場所的な一致を判定し全ての状態を満たす同
    一箇所抽出手順とを含むことを特徴とする請求項１記載
    の順序回路の故障箇所推定方法。
12. 【請求項１２】 請求項１の抽出された組合せ回路の出
    力状態を満たす故障推定箇所および推定入力ベクタを求
    め、さらに得られた推定入力ベクタを簡略化し推定入力
    ベクタを削減する手順の後で、得られた故障推定箇所の
    状態値と削減された入力推定べクタを用いて前記組合せ
    回路の論理シミュレーションを行い、組合せ回路内の各
    ノード状態を求める手順と、 組合せ回路入力端子の正常な状態を用いかつ組合せ回路
    内に故障が存在しないと仮定した時の論理シミュレーシ
    ョンにより組合せ回路内各ノードの期待値を求める手順
    と、 前記得られた推定された状態を元にした各ノード状態
    と、前記得られた期待値との照合により期待値と異なっ
    たノードを抽出し推定故障伝搬経路を抽出する手順とを
    含み、 論理和として得られる故障推定箇所並びに推定故障伝搬
    経路と論理積として得られる故障推定箇所並びに推定故
    障伝搬経路を管理する手順と、 請求項１と同様上記手順を繰り返し行った後、上記組合
    せ回路毎の推定で得られた全ての組合せ回路内推定故障
    箇所並びに全ての故障伝搬経路を同一時間単位に分類す
    る手順と、 前記同一時間毎に分類された推定故障箇所と推定故障伝
    搬経路とのー致照合を行い全ての状態を満たす同一箇所
    を抽出する手順とを含むことを特徴とする請求項１記載
    の順序回路の故障箇所推定方法。
13. 【請求項１３】 請求項１０若しくは請求項１１、請求
    項１２において抽出された組合せ回路毎に組合せ回路内
    の推定故障箇所並びに組合せ回路入力端子での推定故障
    伝搬経路を求める手順の後で、上記組合せ回路毎の推定
    で得られた全ての組合せ回路内推定故障箇所並びに全て
    の故障伝搬経路を論理和として得られる故障推定箇所並
    びに推定故障伝搬経路を同一グループとして分類し、論
    理積として得られる故障推定箇所並びに推定故障伝搬経
    路を管理して、上記組合せ回路毎の推定で得られた全て
    の組合せ回路内推定故障箇所並びに全ての故障伝搬経路
    を重ねあわせることにより各回路のノード毎に推定結果
    の出現頻度をとり、頻度の大きいものから順に故障推定
    箇所の重み付けを行う手順を含むことを特徴とする請求
    項１０，１１，１２いずれか記載の順序回路の故障箇所
    推定方法。
14. 【請求項１４】 請求項１において抽出された組合せ回
    路毎に組合せ回路内の推定故障箇所並びに組合せ回路入
    力端子での推定故障伝搬経路を求める手順の後で、組合
    せ回路毎に縮退故障、オープン故障、ショート故障等に
    分類され、得られた推定故障箇所と組合せ回路入力推定
    ベクタから請求項１０若しくは請求項１１の手順にて故
    障伝搬経路を求める手順と、 前記組合せ回路毎の推定を繰り返して全ての組合せ回路
    内推定故障箇所並びに全ての故障伝搬経路を求めた後、
    論理和として得られる故障推定箇所並びに推定故障伝搬
    経路を同一同ーグループとして分類し、論理積として得
    られる故障推定箇所並びに推定故障伝搬経路を管理し
    て、上記組合せ回路毎の推定で得られた全ての組合せ回
    路内推定故障箇所並びに全ての故障伝搬経路を重ねあわ
    せることにより各回路のノード毎に推定結果の出現頻度
    をとり、頻度の大きいものから順に故障推定箇所の重み
    付けを行う手順とを含むことを特徴とする請求項１０ま
    たは１１記載の順序回路の故障箇所推定方法。
15. 【請求項１５】 請求項１３，１４のいずれかにおい
    て、各組合せ回路毎の推定故障箇所並びに推定故障伝搬
    経路を全て求める手順の後に、縮退故障、オープン故
    障、シヨート故障、タイミング故障等の各々の想定に対
    する故障数で故障の分類を行う手順と、 それぞれの想定故障毎に、分類され得られた推定故障箇
    所と前記得られた推定故障伝搬経路を用い、請求項１３
    若しくは請求項１４の手順でノード毎に推定結果の出現
    頻度をとる手順、前記得られた出現頻度から重み付けを
    行い故障の確からしさの優先順位をつける手順と、 前記得られた優先順位のついた各ノードの故障推定状態
    値から （１）全て同一の故障状態値ならば縮退故障、 （２）単一の故障箇所でかつそれぞれの故障推定状態値
    が異なる場合はオープン故障若しくは常に正常状態のノ
    ードとのショート故障、 （３）推定故障箇所が２箇所存在し、状態推定値の−方
    が正常で他方が故障状態であり、両方の状態値が一致し
    ている場合はショート故障、 （４）推定故障箇所がフリップフロッブ若しくは等価故
    障箇所にフリップフロップを含む場合で、その推定状態
    値が正常な状態を持つ場合と故障状態を持つ場合にはタ
    イミング故障等の詳細分類を行う手順とを含むことを特
    徴とする請求項１３または１４記載の順序回路の故障箇
    所推定方法。
16. 【請求項１６】 請求項１５の優先順位のついた各ノー
    ドの故障推定状態値から詳細分類を行う手順において、 （４）のタイミング故障判定基準に加えて、故障と推定
    される状態を用いてフリップフロップ入力に接続される
    ネットから推定故障伝搬経路を求めることによりタイミ
    ング不良となるクリティカルパスを求める手順と、 前記タイミング不良として抽出されるクリティカルパス
    が同一経路であるかどうかの一致判定する手順とを含む
    ことを特徴とする請求項１５記載の順序回路の故障箇所
    推定方法。
17. 【請求項１７】 請求項１５の優先順位のついた各ノー
    ドの故障推定状態値から詳細分類を行う手順において、 （４）のタイミング故障判定基準に加えて、故障と推定
    される状態での推定故障伝搬経路を求めることによりタ
    イミング不良となるクリティカルパスを求める手順と、 前記タイミング不良として抽出されるクリティカルパス
    に対して論理シミュレーションを行い、クリティカルパ
    スの伝搬遅延時間を計算する手順と、 前記得られたクリティカルパスの伝搬遅延時間にデバイ
    ス特性の振れ幅を持たせた遅延時間を計算する手順と、 前記得られたタイミング故障前記得られた伝搬遅延時間
    以上の全てのクリティカルパスの伝搬が故障になってい
    るかどうかを判定する手順とを含むことを特徴とする請
    求項１５記載の順序回路の故障箇所推定方法。
18. 【請求項１８】 請求項１〜１７のいずれかの全ての手
    順の後に、得られた推定故障箇所に対し、推定された故
    障状態を元に与えられたテストベクタ全てを用いて故障
    シミュレーシヨンを行い、推定した故障箇所並びに故障
    原因が全て適合するか判定する手順を含むことを特徴と
    する請求項１〜１７いずれか記載の順序回路の故障箇所
    推定方法。
19. 【請求項１９】 請求項１〜１８いずれかの全ての手順
    の各組合せ回路抽出、組合せ回路内の故障箇所推定並び
    に組合せ回路入力端子の状態値推定若しくは故障伝搬経
    路推定の手順の繰り返しにおいて、組合せ回路抽出、組
    合せ回路内推定の手順の後で、その時刻でのフリップフ
    ロップのクロック入力の期待値を調べ、その時刻でフリ
    ップフロツプの出力状態が更新されたか否かを判定する
    手順と、 前記フリップフロップの更新判定結果をもとに、 （１）更新されている場合は時間（テストベクタ）を溯
    り、推定された組合せ回路入力端子状態値を用いてさら
    に前段の組合せ回路抽出へと制御する手順と、 （２）更新されていない場合はその時刻以前に最後に更
    新された時刻を求めてその最後の更新時刻まで得られた
    推定結果を保ちかつ同推定結果とＡＮＤ状態にある推定
    結果が同推定結果と矛盾するときはその推定の時刻が後
    の推定結果を削除する手順（ここで推定時刻とはフリッ
    プフロップの場合最後に更新された時刻をいう）と、を
    含むことを特徴とする請求項１〜１８いずれか記載の順
    序回路の故障箇所推定方法。
20. 【請求項２０】 予めスキャンパスが全回路の中に含ま
    れるか否かを回路接続情報若しくはテストベクタから検
    索する手順と前記スキャンパス存在判定結果を元にスキ
    ャン経路自体の故障か否かを判定する手順として、 （１）組合せ回路抽出時にクロックライン、スキャンパ
    スラインを除いて組合せ回路抽出を行い、抽出された組
    合せ回路内経路追跡、故障推定を行う手順と、 （２）組合せ回路抽出時にクロックライン、スキャンパ
    スラインも含めて組合せ回路の抽出を行い、クロックラ
    イン、スキャンパスラインに対しても追跡、故障推定す
    る手順と、 （３）前記（１），（２）の両方の推定結果を比較して
    スキャンパス自体に故障が存在するか否かを判定する手
    順とを含み、不必要にクロックラインやスキャンパスラ
    イン追跡を行うことを回避するようにしたことを特徴と
    する請求項１〜１９いずれか記載の順序回路の故障箇所
    推定方法。
21. 【請求項２１】 請求項１〜２０いずれかの組合せ回路
    を抽出する手順において、組合せ回路入力端子としてＲ
    ＯＭ，ＲＡＭ等のメモリブロックの出力端子が抽出され
    た場合には、 （１）抽出されたメモリの出力端子がデータラインであ
    るときには同一メモリブロックの全てのデータラインを
    網羅するように組合せ回路を１つ若しくは複数に分割し
    て抽出する手順と、 （２）抽出されたメモリの出力端子がデータラインでな
    いときには、請求項１〜２０いずれかの通常の組合せ回
    路抽出を行う手順と、 前記（１）でメモリブロックのデータラインを抽出した
    組合せ回路で入力端子状態推定を行いデータラインの推
    定を行う手順と、 前記得られたメモリプロックのデー多出力ラインの推定
    結果から同一時刻で当該メモリヘ供給されるアドレスラ
    インの状態値が間違っているか否かを判定する手順と、 前記判定結果から、 （１）アドレスラインが正しいと推定できる場合には、
    そのアドレス書き込み時のビット不良と判定する手順
    と、 （２）アドレスラインが間違っていると推定できる場合
    には、そのデータラインの推定結果から供給アドレスを
    推定する手順と、 （３）前記（１），（２）の不良が共に存在し得ると判
    定されれば（１）の手順と（２）の手順両方を行う手順
    とを含むことを特徴とする請求項１〜２０いずれか記載
    の順序回路の故障箇所推定方法。
22. 【請求項２２】 予め用意したＬＳＩ内の全フリップフ
    ロップの全ベクタに対する全期待値情報と、実際のテス
    タでのパス／フェイル出力情報と、全回路の接続情報と
    を用いてテスト結果で得られた各ベクタの各故障出力端
    子から順次組合せ回路を動的に抽出する手順と、この抽
    出された組合せ回路の出力状態値もしくは推定値から組
    合せ回路入力状態値を推定することによりＬＳＩ内の各
    フリップフロップの状態値を推定し、期待値との差より
    故障伝搬していると推定される端子、素子およびその状
    態値を抽出する手順と、こうして得られた故障伝搬推定
    端子からテストベクタを溯り、入力方向に組合せ回路を
    抽出するといったように順次上記操作を繰り返し行う手
    順と、すべてのテストベクタに対して同様の操作を行い
    抽出組合せ回路毎に故障伝搬推定素子およびその状態値
    を求める手順とを含む故障箇所推定における候補抽出及
    びその重み付け方法であって、前記各組合せ回路内の故
    障伝搬推定素子および状態値を用いて、回路接続情報を
    検索し出力端子までの故障伝搬経路として接続関係を再
    構成する手順と、 故障伝搬推定経路上の各推定故障伝搬点の状態値を調べ
    て、 （１）常に同一の状態値を持つノードを推定故障候補点
    として選択する； （２）時刻により推定状態値が変化するノードを推定故
    障候補点として選択する； （３）同時に２箇所の故障推定箇所を必須とするノード
    を推定故障候補点として選択する；手順を備え、前記選
    択された各推定故障候補点毎に到達するＬＳＩの故障出
    力端子数を頻度として計数する手順と、 前記計数した頻度数の大きい順に故障候補点の出現順位
    を並べ替え、重み付けを行う手順とを備えたことを特徴
    とする故障モード毎に故障推定箇所の重み付けを行う方
    法。
23. 【請求項２３】 前記選択された各推定故障候補点毎に
    到達するＬＳＩの故障出力端子数を頻度として計数する
    手順の代わりに、選択された各推定故障候補点とＬＳＩ
    の故障出力端子との間に存在する経路数を頻度として計
    数する手順を含み、この計数した頻度数の大きい順に故
    障候補点の出現順位を並べ替え、重み付けを行う手順を
    備えた請求項２２記載の故障推定箇所の重み付けを行う
    方法。
24. 【請求項２４】 前記得られた各組合せ回路内の故障伝
    搬推定素子および状態値を用いて、回路接続情報を検索
    し出力端子までの故障伝搬経路として接続関係を再構成
    する手順の後、経路の分岐点−結合点間を１経路として
    経路細分化し、細分化された経路同士の関係を調べ、短
    絡故障の仮定をおくか否かを、 （１）同一時刻での期待値が異なりかつ異なる細分化経
    路上の２点間に短絡故障候補として選択する； （２）２経路に分岐しまた１経路に結合するような経路
    上の各故障候補点に対して異なる細分化経路上の任意の
    ２点間に短絡故障候補として選択する； （３）３以上複数の経路に同時に分岐し、１つの経路に
    結合するような各故障伝搬推定経路上の候補点には短絡
    故障として選択しない；という故障伝搬経路毎に故障伝
    搬が成立する条件を求める計算手順を有し、前記推定さ
    れた故障箇所数毎に故障モードを大きく分類する手順
    と、 前記仮定した２点間の短絡故障箇所に対して全ベクタの
    推定状態値および故障状態推定値が常に一致しているか
    を調べ、故障モードを詳細に再計算する手順と、 前記計数した故障出力端子頻度数の大きい順に故障候補
    点の出現順位を並べ替え、重み付けを行う手順をと備え
    た請求項２２記載の故障推定箇所の重み付けを行う方
    法。
25. 【請求項２５】 前記得られた各組合せ回路内の故障伝
    搬推定素子および状態値を用いて、回路接続情報を検索
    し出力端子までの故障伝搬経路として接続関係を再構成
    する手順の後、経路の分岐点−結合点間を１経路として
    経路細分化し、細分化された経路同士の関係を調べ、短
    絡故障の仮定をおくか否かを、 （１）同一時刻での期待値が異なりかつ異なる細分化経
    路上の２点間に短絡故障候補として選択する； （２）２経路に分岐しまた１経路に結合するような経路
    上の各故障候補点に対し、異なる細分化経路上の任意の
    ２点間に短絡故障候補として選択する； （３）３以上複数の経路に同時に分岐し、１つの経路に
    結合するような各故障伝搬推定経路上の候補点には短絡
    故障として選択しない；という故障伝搬経路毎に故障伝
    搬が成立する条件を求める計算手順を持ち、前記推定さ
    れた故障箇所数毎に故障モードを大きく分類する手順
    と、 前記仮定した２点間の短絡故障箇所に対して全ベクタの
    推定状態値および故障状態推定値が常に一致しているか
    を調べ、故障モードを詳細に再計算する手順と、 前記計数した故障伝搬経路頻度数の大きい順に故障候補
    点の出現順位を並べ替え、重み付けを行う手順とを備え
    た請求項２４記載の故障推定箇所の重み付けを行う方
    法。
26. 【請求項２６】 経路の分岐点−結合点間を１経路とし
    て経路細分化し、細分化された経路同士の関係を調べ、
    短絡故障の仮定をおくか否かを判定する３種の条件から
    故障伝搬経路毎に故障伝搬が成立する条件を求める計算
    手順を持ち、前記推定された故障箇所数毎に故障モード
    を大きく分類する手順と、 前記仮定した２点間の短絡故障箇所に対して故障推定を
    行うのに要した全ベクタの推定状態値および故障状態推
    定値が常に一致しているかを調べ、故障モードを詳細に
    再計算する手順と、 前記計数した故障出力端子頻度数もしくは故障伝搬経路
    頻度数の大きい順に故障候補点の出現順位を並べ替え、
    重み付けを行う手順と、 前記重み付けを行った頻度分布を調べ、ある設定した閾
    値と比較し、 （１）閾値に満たない場合には、新たなベクタの故障出
    力端子からの組合せ回路抽出手順に戻る； （２）閾値以上の場合には、推定精度が得られたとし故
    障推定を終了する；頻度判定による故障推定終了判定手
    順とを備えた請求項２４または２５記載の故障推定箇所
    の重み付けを行う方法。
27. 【請求項２７】 前記推定された故障箇所数毎に故障モ
    ードを大きく分類する手順の後、全ベクタで故障候補毎
    に故障出力端子数頻度計算を行う手順と、 全ベクタで同一推定故障伝搬経路上での２点間に対して
    も故障モードの検査、度再計算を行い、ブリッジ故障を
    詳細に判定する手順と、 前記計数した故障出力端子数の大きい順に故障候補点の
    出現順位を並べ替え、重み付けを行う手順とを備えた請
    求項２４記載の故障推定箇所の重み付けを行う方法。
28. 【請求項２８】 前記推定された故障箇所数毎に故障モ
    ードを大きく分類する手順の後、全ベクタで故障候補毎
    に故障出力端子数頻度計算を行う手順と、 全ベクタで同一推定故障伝搬経路上での２点間に対して
    も故障モードの検査、頻度再計算を行い、ブリッジ故障
    を詳細に判定する手順と、 前記計数した故障伝搬経路数の大きい順に故障候補点の
    出現順位を並べ替え、重み付けを行う手順とを備えた請
    求項２４記載の故障推定箇所の重み付けを行う方法。
29. 【請求項２９】 前記推定された故障箇所数毎に故障モ
    ードを大きく分類する手順と、 故障推定を行うのに要した全ベクタで故障候補毎に故障
    出力端子数もしくは故障伝搬経路数で頻度計算を行う手
    順と、 故障推定を行うのに要した全ベクタで同一推定故障伝搬
    経路上での２点間に対しても故障モードの検査、頻度再
    計算を行い、ブリッジ故障を詳細に判定する手順と、 前記計数した故障出力端子数もしくは故障伝搬経路数の
    大きい順に故障候補点の出現順位を並べ替え、重み付け
    を行う手順と、 前記重み付けを行った頻度分布を調べてある設定した閾
    値と比較し、 （１）閾値に満たない場合には、新たなベクタの故障出
    力端子からの組合せ回路抽出手順に戻る； （２）閾値以上の場合には、推定精度が得られたとし故
    障推定を終了する；頻度判定による故障推定終了判定手
    順とを備えた請求項２７または２８記載の故障推定箇所
    の重み付けを行う方法を備えた故障モード毎に故障推定
    箇所の重み付けを行う方法。
30. 【請求項３０】 推定の対象となるＬＳＩのネットリス
    トを記憶し、また部分回路に分割されたネットリストも
    併せて登録を可能とし、検索、削除要求に対して処理を
    行い、ネットリストの一元管理を行うネットリスト管理
    部と、 入出力端子およびフリップフロップの期待値を管理する
    入出力端子／フリップフロップ期待値管理部と、 推定値、実測値を記憶している推定値／実測値管理部
    と、 各故障箇所推定機能から得られた故障候補点、推定故障
    状態値ならびに故障モード等推定結果を記憶する故障候
    補管理部と、 故障出力端子もしくは故障推定出力端子から組合せ回路
    をダイナミックに抽出する組合せ回路抽出部と、 組合せ回路内部の状態値を推定する組合せ回路状態推定
    部と、 前記組合せ回路内部の状態推定結果から推定故障伝搬経
    路を抽出する故障伝搬経路抽出部と、 この得られた組合せ回路入力端子の故障伝搬端子および
    状態値を用いて故障伝搬経路選択する経路選択部と、 この得られた故障伝搬経路の再構成を行って故障箇所か
    ら故障出力端子までの関連付けを行う故障伝搬経路再構
    成部と この得られた故障候補毎の推定状態を全ベクタに対して
    調査して状態値が一定であるか変化しているかを判定す
    る推定状態値判定部と、 前記状態値判定で得られた結果をもとに故障箇所数を加
    味し故障モード分類を行う故障モード分類部と、 個々の故障候補点に対する故障出力端子数もしくは故障
    伝搬経路数頻度を計数して各故障モード毎に重み付けを
    行う頻度重み付け部と、 前記各故障推定機能の処理順位の制御や各故障推定機能
    間の待ち合わせ制御等の全体の推定シーケンスを制御す
    るシーケンス制御部とを含むことを特徴とする故障モー
    ド毎に故障推定箇所の重み付けを行う装置。
31. 【請求項３１】 前記ネットリスト管理部、入出力端
    子、フリップフロップ期待値管理部、推定値／実測値管
    理部、故障候補管理部をネットワーク上のサーバとして
    備え、前記組合せ回路状態推定部、故障伝搬経路抽出
    部、故障伝搬経路抽出部、経路選択部、故障伝搬経路再
    構成部、推定状態値判定部、故障モード分類部、頻度重
    み付け部、ならびに全推定シーケンスを制御するシーケ
    ンス制御部のクライアントからの登録、検索、削除、追
    加、修正等要求に対し、処理を行い処理完了通知をクラ
    イアントに返す構成からなる請求項３０記載の故障推定
    箇所の重み付けを行う装置。