JPH11153423A - 基板自動測定装置 - Google Patents

基板自動測定装置

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JPH11153423A
JPH11153423A JP32114197A JP32114197A JPH11153423A JP H11153423 A JPH11153423 A JP H11153423A JP 32114197 A JP32114197 A JP 32114197A JP 32114197 A JP32114197 A JP 32114197A JP H11153423 A JPH11153423 A JP H11153423A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
frame
air spring
vibration
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP32114197A
Other languages
English (en)
Inventor
Kiyoshi Iyori
潔 伊従
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Denshi KK
Original Assignee
Hitachi Denshi KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Denshi KK filed Critical Hitachi Denshi KK
Priority to JP32114197A priority Critical patent/JPH11153423A/ja
Publication of JPH11153423A publication Critical patent/JPH11153423A/ja
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  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板自動測定装置における測定再現性向上の
ためには、床からの振動の影響を減衰する除振機能が必
要である。一方除振機構の性質上除振機構上に設置され
る機器は、床面に対し揺動状態となるため、外部から除
振機構上部に基板を取置きする場合、その信頼性を低下
させる問題がある。 【解決手段】 除振機能に水平状態及び浮上量状態を検
出する電気的センサを複数設置し、この電気的センサの
状態を監視しながら前記基板を取置きする機能を新設し
基板の取置きの信頼性を向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばLCD等基
板のパターン幅等のような微細な寸法の測定を行なう基
板の自動測定装置の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】基板自動測定装置の一例としてLCD測
定装置について説明する。従来のLCD基板自動線幅測
定装置は、図3に示すようLCD基板の線幅を測定する
検出部1とLCD基板を測定する位置に位置決めするス
テージ機構2、これらの物を搭載する架台3から構成さ
れる。一方、LCD基板は、大型化、製造プロセスのク
リーン化に伴い、LCD基板を自動搬送するローダ装置
4を付加する場合が増加している。この場合、ローダ装
置4は、LCD基板を収納しているカセット6からロボ
ット5によりLCD基板を取り出しLCD基板自動線幅
測定装置のステージ2上にセットする。同様に測定の終
了したLCD基板を取出し、カセット6内に収納する。
【0003】LCD基板自動線幅測定装置では、ローダ
装置4から受け取ったLCD基板をステージ2上でクラ
ンプし、ステージ2で各測定位置への位置決めを行い、
検出部1により測定を行う。
【0004】ところで、検出部1による測定は、測定再
現性が3σで0.05μm以内と高精度な測定が要求さ
れている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従って前述の構成によ
る従来技術では、設置床条件が悪いと、床から振動が、
ステージ2や検出部1に伝わり、前述の高精度測定に、
悪影響を及ぼすことがあった。一般的にLCD基板自動
線幅測定装置は、床補強を行いにくいクリーンルーム内
のグレーチング床上に設置され、さらに、周囲に大型の
他設備や自動搬送車が稼動しているため、これらの振動
が測定に悪影響を及ぼす場合が多い。この問題を解決す
るため、架台3とステージ2の間に除振台を付加するこ
とが考えられるが、この場合は、ステージ2が除振台に
より浮上するため、ステージの移動に伴い水平状態が変
化し、ロボットからの受渡し不良によりLCD基板を破
損する等の問題がある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、これらの問題
を除去し、床からの振動の影響を受けずなおかつロボッ
トとのLCD基板受渡しの信頼性を向上することを目的
とする。
【0007】本発明は、上記の目的を達成するため、架
台3とステージ2の間に空気バネ方式の除振台を設置し
たものである。
【0008】また、ステージ2の水平状態を検出するた
め、除振台に複数のセンサを水平状態を検出するのに適
した位置に設置したものである。
【0009】
【発明の実施の形態】以下この発明の一実施例を図1に
より説明する。
【0010】1は測定のための画像を撮像する検出部、
2はLCD基板をクランプし、測定位置に位置決めする
ステージ機構、3はステージ機構及び検出部を搭載する
架台、4はローダ装置、5はローダ装置4に設置されて
いる搬送ロボット、6はLCD基板が収納されているカ
セット、7は除振台、8は空気バネ、9は水平レベル調
整を空気バネが自動調整するための機械式レベルセン
サ、10は水平レベル状態を電気的に検出する電気式レ
ベルセンサ、11はセンサ10の信号を取込み処理する
処理装置である。
【0011】除振台7は、架台3とステージ2の間に設
置しており、架台3上に設置された空気バネ9の上にス
テージ2が搭載されている。
【0012】従ってステージ2は、架台3に対し、空気
バネ8を介して揺動可能な状態となっておりこれによ
り、架台3から伝わる振動を減衰させている。一方、機
械式レベルセンサ9は、架台3に3カ所設置され各々の
機械式レベルセンサ9の検出アームがステージ2の下部
に接触している。この機械式レベルセンサ9は、一次側
エア源と空気バネ8に接続されており、検出アームが下
がると内部の絞りが開き空気バネ8にエアが供給される
様に作用し、各々の空気バネ8と機械式レベルセンサ9
の作用により、ステージ2の移動、すなわち重心移動に
伴うステージ2の水平レベル変化を矯正し、自動的にス
テージ2が水平になる様に作用する。ところでこの水平
に自動レベル調整する時間は、ステージ2の移動速度、
移動量によって変化し、必ずしも一定時間とはならな
い。また一次側のエア圧が増減すると水平状態は保てて
も、浮上量が変化する。この様な条件下でローダ装置4
の搬送ロボット5がステージ2に対し、LCD基板を取
置きすると、水平状態又は浮上量によっては、取置不良
を発生し、LCD基板の破損につながるため架台3に、
電気的にレベル状態を検出するレベルセンサ10を3カ
所設置し、各レベルセンサ10から出力された信号を処
理装置11に入力し、各々のセンサがすべてオンになっ
た状態すなわち水平レベル状態になった時にのみ、搬送
ロボット5がLCD基板の取置き動作を行う様に制御す
る。
【0013】なお、一定時間以上たっても3ケのセンサ
9がオン状態にならない、除振台が水平状態にない時に
インターロック機能が作動する。すなわち、ステージ2
が水平状態にならない場合は、処理装置11が、異常状
態と判断し、作業者に異常状態を知らせる様に作用す
る。
【0014】図2、図4にレベルセンサ10の一実施例
を示す。
【0015】図2は、ステージ2下部に遮光板12を設
置し、架台3上部に光電センサ13を設置したものであ
る。ステージ2が水平状態なおかつ、所定の浮上量位置
に有る時は、遮光板12の切欠き部分を光が通るため、
光電センサ13は、オフ状態となる。ステージ2の水平
状態又は浮上量が変化すると光電センサ13の光路は、
遮光板12により遮光されオン状態となる。
【0016】図4は、レベルセンサとして測距離式セン
サ14を使用した実施例を示す。この場合は、レベルセ
ンサ14が下方向からステージ2の下面を検出し、レベ
ルセンサ14とステージ2が一定距離になった時のみ、
オン状態となる。尚本実施例においては、前記機械式レ
ベルセンサ9と電気式レベルセンサ10が、別々に設置
されているが、機械式レベルセンサ9と電気式レベルセ
ンサ10の機能を一体化したレベルセンサを使用するこ
とも可能である。
【0017】
【発明の効果】本発明により、床からステージ2及び検
出部1に伝わる振動を減衰させるとともに、ステージ2
の水平状態及び浮上状態を監視する機能を設けることに
より、搬送ロボット5とステージ2間の基板の取置動作
の信頼性を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す構造図
【図2】本発明の実施例におけるセンサ部の詳細図
【図3】従来の構造図
【図4】本発明の実施例におけるセンサ部の詳細図
【符号の説明】
1:検出部、2:ステージ機構、3:架台、4:ローダ
装置、5:搬送ロボット、6:カセット、7:除振台、
8:空気バネ、9:機械式レベルセンサ、10:電気式
レベルセンサ、11:処理装置。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板のパターン幅等を自動で測定する基
    板自動線幅測定装置において、 設置床からの振動を減衰させる除振台と該除振台の水平
    状態を電気的に検出する複数のセンサを具備したことを
    特徴とする基板自動測定装置。
  2. 【請求項2】 前記請求項1記載の基板自動測定装置に
    おいて、 前記複数のセンサから得られる情報を処理し、除振台が
    水平状態にない時にインターロック機能が作動すること
    を特徴とする基板自動測定装置。
JP32114197A 1997-11-21 1997-11-21 基板自動測定装置 Pending JPH11153423A (ja)

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JP32114197A JPH11153423A (ja) 1997-11-21 1997-11-21 基板自動測定装置

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JPH11153423A true JPH11153423A (ja) 1999-06-08

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100662252B1 (ko) 2005-04-26 2007-01-02 주식회사 인텍아이엠에스 진동흡수판을 갖는 석정반 결합구조에 의한 3차원 측정기
CN105783723A (zh) * 2016-04-26 2016-07-20 广东技术师范学院 基于机器视觉的精密模具表面加工精度检测装置及方法
JP2017221094A (ja) * 2016-06-03 2017-12-14 勝方光電科技股▲分▼有限公司 移動機充電システム

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