JPH11142191A

JPH11142191A - 測定装置

Info

Publication number: JPH11142191A
Application number: JP31205597A
Authority: JP
Inventors: Yoshiyuki Kuwabara; 美幸桑原
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1997-11-13
Filing date: 1997-11-13
Publication date: 1999-05-28

Abstract

(57)【要約】【課題】測定条件が異なる測定データを記憶すること
ができる測定装置を実現することを目的にする。【解決手段】本装置は、測定データをブロックごとに
格納する測定データ格納メモリと、ブロックごとの測定
条件を記憶するブロック記憶部と、測定データをブロッ
クごとに測定データ格納メモリに格納させると共に、ブ
ロックごとに測定条件をブロック記憶部に記憶させる制
御部と、この制御部に測定データを格納する測定データ
格納メモリのブロックを指示すると共に、測定条件の設
定を行う操作部とを有することを特徴とする装置であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被測定対象を測定
する測定装置に関し、測定条件が異なる測定データを格
納することができる測定装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の測定装置を図４に示し説明する。
図において、測定部１は、被測定対象（図示せず）を測
定し、デジタル値（測定データ）に変換する。制御部２
は、測定部１からデジタル値の測定データを入力し、測
定データ格納メモリ３にブロックごとに格納させる。ま
た、制御部２は、測定データ格納メモリ３に格納した測
定データを表示（印字）部４により波形表示（印字）す
ると共に、外部出力部５に出力する。操作部６は、制御
部２に測定条件の設定と共に、測定データ格納メモリ３
の格納ブロック数を制御部２に指示する。

【０００３】制御部２は、測定データ記憶部２１、測定
条件管理部２２、再生部２３からなり、操作部６により
操作される。測定データ記憶部２１は、測定部１からデ
ジタル値の測定データを入力し、測定データ格納メモリ
３に格納させる。測定条件管理部２２は、操作部６によ
り、測定条件（例えば、温度、ＤＣ入力等の入力種別、
測定レンジ、スケーリング情報）と測定データ格納メモ
リ３のブロック数が設定され、現在、測定データ格納メ
モリ３に格納されている測定条件と異なる測定条件が設
定された場合、測定データ記憶部２１に測定データ格納
メモリ３のデータを消去させる。そして、測定条件管理
部２２は、新たに測定データを格納するブロック数を測
定データ記憶部２１に指示する。再生部２３は、測定デ
ータ格納メモリ３に格納されている測定データを読み出
すと共に、測定条件管理部２２から測定条件を受け取
り、表示（印字）部４、外部出力部５に出力する。

【０００４】表示（印字）部４は、測定データを用いて
波形表示あるいは印字を行うと共に、測定条件の表示あ
るいは印字を行う。外部出力部５は、通信出力あるいは
メディア（ＦＤ等）出力を行う。

【０００５】このような装置の動作を以下に説明する。
操作部６は、制御部２に測定条件の設定と測定データを
格納するブロック数の指示を行う。そして、測定条件管
理部２２は、測定条件が変更されたことにより、測定デ
ータ記憶部２１に測定データ格納メモリ３のデータをク
リアさせ、測定データを格納するブロック数を測定デー
タ記憶部２１に指示する。

【０００６】測定データ記憶部２１は、測定部１が測定
した測定データを、指定されたブロック数分の測定デー
タ格納メモリ３に格納させる。

【０００７】そして、操作部６を操作して、ブロックを
指示し、再生部２３を動作させる。再生部２３は、測定
データ格納メモリ３から指示されたブロックの測定デー
タと測定条件格納部２２から測定条件とを表示（印字）
部４または外部出力部５に出力する。

【０００８】表示（印字）部４は、測定データを波形表
示（印字）すると共に、測定条件を表示（印字）する。
外部出力部５は、測定データと測定条件とを通信出力あ
るいはメディアに出力する。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】このように、測定装置
は、測定条件が異なるごとに測定データ格納メモリ３の
データをクリアしていた。このため、測定データ格納メ
モリ３の記憶容量に余裕があっても、外部出力部５から
通信出力あるいはメディア出力をしなければならなかっ
た。

【００１０】そこで、本発明の目的は、測定条件が異な
る測定データを記憶することができる測定装置を実現す
ることにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、被測定対象を
測定する測定装置において、測定データをブロックごと
に格納する測定データ格納メモリと、前記ブロックごと
の測定条件を記憶するブロック記憶部と、前記測定デー
タをブロックごとに前記測定データ格納メモリに格納さ
せると共に、ブロックごとに前記測定条件をブロック記
憶部に記憶させる制御部と、この制御部に前記測定デー
タを格納する前記測定データ格納メモリのブロックを指
示すると共に、前記測定条件の設定を行う操作部とを有
することを特徴とするものである。

【００１２】このような本発明では、操作部により、測
定データ格納メモリのブロックの指示と測定条件の設定
が行われる。制御部は、指示された測定データ格納メモ
リのブロックに測定データを格納させ、このブロックに
対応する測定条件をブロック記憶部に格納させる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下図面を用いて本発明を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示した構成図である。以
下図４と同一のものは同一符号を付して説明を省略す
る。図において、制御部７は、測定データをブロックご
とに測定データ格納メモリ３に格納させると共に、ブロ
ックごとに測定条件をブロック記憶部８に記憶させる。
そして、制御部７は、測定データ記憶部７１、測定条件
管理部７２、再生部７３からなる。

【００１４】測定データ記憶部７１は、測定部１からの
測定データを測定データ格納メモリ３にブロックごとに
格納させ、ブロックごとに終了を通知する。

【００１５】測定条件管理部７２は、操作部６により測
定条件と測定データ格納メモリ３に格納するブロックの
個所とが指示され、測定データ記憶部７１に格納ブロッ
クを指示し、測定データ記憶部７１からブロックごとの
終了通知を受けて、ブロック記憶部８に測定データ格納
メモリ３のブロックごとの測定条件を記憶させる。

【００１６】再生部７３は、測定データ格納メモリ３に
格納されている測定データを読み出すと共に、測定条件
管理部７２から測定条件を受け取り、表示（印字）部
４、外部出力部５を出力する。

【００１７】このような装置の動作を以下で説明する。
始めに測定動作について説明する。図２は図１の装置の
測定動作を示したフローチャートである。操作部６は、
制御部７に測定条件の設定と測定データを格納するブロ
ックの指示を制御部７に行う。そして、測定条件管理部
７２は、測定データを格納するブロックを測定データ記
憶部７１に指示する。

【００１８】測定部１は、被測定対象を測定し、デジタ
ル値に変換する（Ｓ１）。測定データ記憶部７１は、測
定部１が測定した測定データを、測定データ格納メモリ
３の指定されたブロックに格納する（Ｓ２）。

【００１９】ブロック内のすべてに測定データの格納が
終了したら、測定データ記憶部７１は、格納終了を測定
条件管理部７２に通知する。そして、測定条件管理部７
２は、格納したブロックの測定条件をブロック記憶部８
に記憶する（Ｓ３）。

【００２０】操作部６に指示されたブロックに対して、
すべて終了していなかったら、再び、測定データ記憶部
７１は、測定部１が測定した測定データを、測定データ
格納メモリ３の指定されたブロックに格納する。指定さ
れたブロックが終了したら、処理を終了する（Ｓ４）。

【００２１】次に再生動作について説明する。図３は図
１の装置の再生動作を示したフローチャートである。操
作部６を操作して、測定データメモリ３のブロックを指
示し、再生部７３を動作させる。再生部７３は、測定デ
ータ格納メモリ３から指示されたブロックの測定データ
を読み出す（Ｓ１）。そして、再生部７３は、測定条件
管理部７２に指示し、ブロック記憶部８から測定条件を
読み出す（Ｓ２）。

【００２２】表示（印字）を行うときは、再生部７３は
測定データより波形を作成し（Ｓ３）、表示（印字）部
４に出力する。そして、表示（印字）部４は、波形と共
に、測定条件を表示あるいは印字を行う（Ｓ４）。

【００２３】外部出力を行うときは、再生部７３は、測
定データと測定条件を外部出力部５に出力する。外部出
力部５は、ＦＤ等に測定条件と測定データとを出力する
（Ｓ５）。

【００２４】このように、測定データ格納メモリ３のブ
ロックごとに、測定条件をブロック記憶部８に記憶する
ので、メモリを有効に利用することができる。

【００２５】また、同様な現象を様々な測定条件で測定
して測定データ格納メモリ３に順次格納し、表示（印
字）部４により再生が可能となるので、異常現象の解析
に有効である。

【００２６】なお、本発明は、これに限定されるもので
はなく、ブロック記憶部８に測定条件を記憶させるだけ
でなく、波形表示の表示条件（表示フォーマット（ゾー
ン，Ｘ−Ｙ）、表示位置）を記憶させる。この表示条件
に基づいて、再生部７３が波形を作成し、表示（印字）
部４に出力する。

【００２７】これによれば、波形条件を測定データ格納
メモリのブロックごとにブロック記憶部８に記憶させる
ので、測定時と同状態で、波形の再生が可能となる。つ
まり、再生時に種々の設定を再度する必要がなく、操作
性の向上及び工数の削減を図ることができる。

【００２８】また、測定データ格納メモリ３は、始めか
らブロック分割されているものを示したが、格納するメ
モリ領域（ブロック）を任意に指示する構成でもよい。

【００２９】

【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。請求項１，２によれば、測定データ格納メモリのブ
ロックごとに、測定条件をブロック記憶部に記憶するの
で、メモリを有効に利用することができる。

【００３０】請求項３によれば、同様な現象を様々な測
定条件で測定して測定データ格納メモリに順次格納し、
表示部により再生が可能となるので、異常現象の解析に
有効である。

【００３１】請求項４によれば、波形条件を測定データ
格納メモリのブロックごとにブロック記憶部に記憶させ
るので、測定時と同状態で、波形の再生が可能となる。
つまり、再生時に種々の設定を再度する必要がなく、操
作性の向上及び工数の削減を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。

【図２】図１の装置の測定動作を示したフローチャート
である。

【図３】図１の装置の再生動作を示したフローチャート
である。

【図４】従来の測定装置を示した構成図である。

【符号の説明】

３測定データ格納メモリ４表示（印字）部６操作部７制御部８ブロック記憶部７１測定データ記憶部７２測定条件管理部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】被測定対象を測定する測定装置におい
て、測定データをブロックごとに格納する測定データ格納メ
モリと、前記ブロックごとの測定条件を記憶するブロック記憶部
と、前記測定データをブロックごとに前記測定データ格納メ
モリに格納させると共に、ブロックごとに前記測定条件
をブロック記憶部に記憶させる制御部と、この制御部に前記測定データを格納する前記測定データ
格納メモリのブロックを指示すると共に、前記測定条件
の設定を行う操作部とを有することを特徴とする測定装
置。
【請求項２】制御部は、測定データを測定データ格納メモリに記憶させる測定デ
ータ記憶部と、この測定データ記憶部の動作に連動して、ブロック記憶
部に測定条件を格納する測定条件管理部とからなること
を特徴とする請求項１記載の測定装置。
【請求項３】測定データ格納メモリの測定データを波
形表示あるいは印字を行うと共に、測定条件に対応した
ブロック記憶部の測定条件を表示あるいは印字を行う表
示部を有することを特徴とする請求項１または２記載の
測定装置。
【請求項４】測定条件と共に、波形条件をブロック記
憶部に格納し、波形条件により、波形部は波形表示ある
いは印字を行うことを特徴とする請求項３記載の測定装
置。