JPH11133641A - 電子写真感光体 - Google Patents
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- JPH11133641A JPH11133641A JP31259897A JP31259897A JPH11133641A JP H11133641 A JPH11133641 A JP H11133641A JP 31259897 A JP31259897 A JP 31259897A JP 31259897 A JP31259897 A JP 31259897A JP H11133641 A JPH11133641 A JP H11133641A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【課題】どのような環境または電子写真装置本体の装置
構成であっても、トナーの融着の発生しない優れた電子
写真感光体を提供し、また、省エネルギーで地球環境に
優しい、消費電力の少ない電子写真装置に最適な電子写
真感光体を提供する。また、低融点トナーなどのいかな
るトナーを用いた電子写真装置においても、トナーの融
着が発生せず、常に良好な画像を維持出来る電子写真感
光体を提供する。 【解決手段】電子写真感光体において、先端の半径0.
1μm以下である稜間角度115°の三角錐ダイヤモン
ドスタイラスを用いた場合のダイナミック硬度が、30
0kgf/mm2以上、1300kgf/mm2以下であ
る、水素を含有した非単結晶炭素膜で、その最表面を構
成したことを特徴とする。
構成であっても、トナーの融着の発生しない優れた電子
写真感光体を提供し、また、省エネルギーで地球環境に
優しい、消費電力の少ない電子写真装置に最適な電子写
真感光体を提供する。また、低融点トナーなどのいかな
るトナーを用いた電子写真装置においても、トナーの融
着が発生せず、常に良好な画像を維持出来る電子写真感
光体を提供する。 【解決手段】電子写真感光体において、先端の半径0.
1μm以下である稜間角度115°の三角錐ダイヤモン
ドスタイラスを用いた場合のダイナミック硬度が、30
0kgf/mm2以上、1300kgf/mm2以下であ
る、水素を含有した非単結晶炭素膜で、その最表面を構
成したことを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、最表面の層が水素
を含有した非単結晶炭素膜(以下「a−C:H」と記
す)からなる、電子写真プロセスに供せられる電子写真
感光体に関する。
を含有した非単結晶炭素膜(以下「a−C:H」と記
す)からなる、電子写真プロセスに供せられる電子写真
感光体に関する。
【0002】
【従来の技術】電子写真感光体に用いる素子部材の技術
としては、セレン、硫化カドミニウム、酸化亜鉛、フタ
ロシアニン、アモルファスシリコン(以下「a−Si」
と記す)等、各種の材料が提案されている。中でもa−
Siに代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶
質堆積膜、例えば水素及び/又はハロゲン(例えばフッ
素、塩素等)で補償されたa−Si等のアモルファス堆
積膜は高性能、高耐久、無公害な感光体として提案さ
れ、その幾つかは実用化されている。こうした堆積膜の
形成法として従来、スパッタリング法、熱により原料ガ
スを分解する方法(熱CVD法)、光により原料ガスを
分解する方法(光CVD法)、プラズマにより原料ガス
を分解する方法(プラズマCVD法)等、多数知られて
いる。中でもプラズマCVD法、即ち原料ガスを直流又
は高周波(RF,VHF)、マイクロ波、などのグロー
放電等によって分解し、ガラス、石英、耐熱性合成樹脂
フィルム、ステンレス、アルミニュウム等の基体上に薄
膜状の堆積膜を形成する方法は、電子写真用a−Si堆
積膜の形成方法等において現在、実用化が非常に進んで
おり、そのための装置も各種提案されている。
としては、セレン、硫化カドミニウム、酸化亜鉛、フタ
ロシアニン、アモルファスシリコン(以下「a−Si」
と記す)等、各種の材料が提案されている。中でもa−
Siに代表される珪素原子を主成分として含む非単結晶
質堆積膜、例えば水素及び/又はハロゲン(例えばフッ
素、塩素等)で補償されたa−Si等のアモルファス堆
積膜は高性能、高耐久、無公害な感光体として提案さ
れ、その幾つかは実用化されている。こうした堆積膜の
形成法として従来、スパッタリング法、熱により原料ガ
スを分解する方法(熱CVD法)、光により原料ガスを
分解する方法(光CVD法)、プラズマにより原料ガス
を分解する方法(プラズマCVD法)等、多数知られて
いる。中でもプラズマCVD法、即ち原料ガスを直流又
は高周波(RF,VHF)、マイクロ波、などのグロー
放電等によって分解し、ガラス、石英、耐熱性合成樹脂
フィルム、ステンレス、アルミニュウム等の基体上に薄
膜状の堆積膜を形成する方法は、電子写真用a−Si堆
積膜の形成方法等において現在、実用化が非常に進んで
おり、そのための装置も各種提案されている。
【0003】例えば特開昭57−115551号公報に
は、シリコン原子を主体とし、水素原子またはハロゲン
原子の少なくともいずれか一方を含むアモルファス材料
で構成されている光導電層の上にシリコン原子及び炭素
原子を母体とし、水素原子を含む非光導電性のアモルフ
ァス材料で構成された表面障壁層を設けた光導電部材の
例が開示されている。また、特開昭61−219961
号公報には、a−Si系の感光層の上に形成された表面
保護層として、10〜40原子%の水素原子を含有する
a−C:Hで構成された電子写真感光体の例が開示され
ている。特開平6−317920号公報では20MHz
以上の周波数の高周波を用い、シリコン原子を母体とす
る非単結晶シリコン系材料からなる光導電層と、水素原
子含有量8〜45原子%のa−C:H表面保護層から構
成される電子写真感光体の製造方法が開示されている。
また、特開昭60−186849号公報には、原料ガス
の分解源として、マイクロ波(例えば周波数2.45G
Hz)を用いたマイクロ波プラズマCVD法による頂部
阻止層を持った電子写真デバイスの形成方法及び装置が
開示されている。これらの技術により、電気的、光学
的、光導電率的特性及び使用環境特性、耐久性が向上
し、更に、画像品位の向上も可能になっている。
は、シリコン原子を主体とし、水素原子またはハロゲン
原子の少なくともいずれか一方を含むアモルファス材料
で構成されている光導電層の上にシリコン原子及び炭素
原子を母体とし、水素原子を含む非光導電性のアモルフ
ァス材料で構成された表面障壁層を設けた光導電部材の
例が開示されている。また、特開昭61−219961
号公報には、a−Si系の感光層の上に形成された表面
保護層として、10〜40原子%の水素原子を含有する
a−C:Hで構成された電子写真感光体の例が開示され
ている。特開平6−317920号公報では20MHz
以上の周波数の高周波を用い、シリコン原子を母体とす
る非単結晶シリコン系材料からなる光導電層と、水素原
子含有量8〜45原子%のa−C:H表面保護層から構
成される電子写真感光体の製造方法が開示されている。
また、特開昭60−186849号公報には、原料ガス
の分解源として、マイクロ波(例えば周波数2.45G
Hz)を用いたマイクロ波プラズマCVD法による頂部
阻止層を持った電子写真デバイスの形成方法及び装置が
開示されている。これらの技術により、電気的、光学
的、光導電率的特性及び使用環境特性、耐久性が向上
し、更に、画像品位の向上も可能になっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
電子写真装置は更に高速化、高寿命化してきている。こ
のような環境のもと、これまで充分な性能を発揮してき
た電子写真感光体といえども使用環境、電子写真装置本
体の構成如何によっては、例えば融着が発生する場合が
あった。融着とは、長期間の使用の間に電子写真感光体
表面にトナーが溶けて付着するもので、付着の程度によ
ってはベタ白画像やハーフトーン画像で融着跡が現れる
ため、実用上、支障を来すことになる。このように融着
が発生し、画像上に現れるとサービスマンが客先に出向
いてメンテナンスを行なわなければならず、コストがか
かる。また、電子写真装置本体から感光体を取り外して
メンテナンスを行なうため、その作業中に打痕傷を付
け、感光体を使用不能にしてしまう危険性もあった。
電子写真装置は更に高速化、高寿命化してきている。こ
のような環境のもと、これまで充分な性能を発揮してき
た電子写真感光体といえども使用環境、電子写真装置本
体の構成如何によっては、例えば融着が発生する場合が
あった。融着とは、長期間の使用の間に電子写真感光体
表面にトナーが溶けて付着するもので、付着の程度によ
ってはベタ白画像やハーフトーン画像で融着跡が現れる
ため、実用上、支障を来すことになる。このように融着
が発生し、画像上に現れるとサービスマンが客先に出向
いてメンテナンスを行なわなければならず、コストがか
かる。また、電子写真装置本体から感光体を取り外して
メンテナンスを行なうため、その作業中に打痕傷を付
け、感光体を使用不能にしてしまう危険性もあった。
【0005】更に近年、地球環境に優しいOA機器の開
発が国や政府主導で推進される中、電子写真装置におい
ても従来にも増して、省エネルギー、省資源が叫ばれる
ようになった。電子写真装置における省エネルギー、省
資源は、各方面から努力が続けられているが、その中の
一つとして、トナーを紙に定着させる定着器の省電力化
の試みがある。従来、定着器には内部にヒーターが内蔵
されており、定着ローラーを150℃〜200℃に常時
維持し、トナーを溶融させることによって紙に定着して
いる。定着器の消費電力を低くするためには、定着ロー
ラーの維持温度を下げれば低減出来る。この場合、トナ
ーの定着不良が発生するために、同時にトナーとしても
低い温度で溶融/定着する低融点トナーが使われる。こ
の場合、画質、定着性に関しては実用上何ら問題はな
い。しかし、このような低融点トナーを使用する場合、
電子写真装置を使用する環境、トナーに含まれる成分、
電子写真感光体の表面性、クリーナーの押し当て圧、プ
ロセススピード等の組み合わせによっては、先に述べた
融着が発生しやすくなる場合があった。
発が国や政府主導で推進される中、電子写真装置におい
ても従来にも増して、省エネルギー、省資源が叫ばれる
ようになった。電子写真装置における省エネルギー、省
資源は、各方面から努力が続けられているが、その中の
一つとして、トナーを紙に定着させる定着器の省電力化
の試みがある。従来、定着器には内部にヒーターが内蔵
されており、定着ローラーを150℃〜200℃に常時
維持し、トナーを溶融させることによって紙に定着して
いる。定着器の消費電力を低くするためには、定着ロー
ラーの維持温度を下げれば低減出来る。この場合、トナ
ーの定着不良が発生するために、同時にトナーとしても
低い温度で溶融/定着する低融点トナーが使われる。こ
の場合、画質、定着性に関しては実用上何ら問題はな
い。しかし、このような低融点トナーを使用する場合、
電子写真装置を使用する環境、トナーに含まれる成分、
電子写真感光体の表面性、クリーナーの押し当て圧、プ
ロセススピード等の組み合わせによっては、先に述べた
融着が発生しやすくなる場合があった。
【0006】更に、フルカラー電子写真装置において使
用されるカラートナーは元々低融点トナーを用いている
ため、従来より融着が発生し易い環境にあった。この融
着を防止する方法として、電子写真感光体の表面を研磨
し、膜表面と共に融着源を削り取ってしまうことで防止
する方法が考えられる。しかし、a−Si系の硬度の高
い電子写真感光体においては表面が滑らかには削れずに
筋状のムラ削れが発生してしまい、この筋状のムラ削れ
が画像上に現れてしまうため、a−Si系の電子写真感
光体では表面の削れが発生しない条件で使用することが
これまで常識であった。また、融着を防止する他の方法
として、トナー自体に研磨材として、シリカなどを添加
したり、成分を変えたり、分量を増したりする場合もあ
る。トナー自体に研磨材を含ませると、ドラム表面を擦
る能力が高まるため、溶けたトナーが付着しにくくな
る。しかし、このことは融着を防止する反面、副作用と
して、やはり感光体表面を擦る力が強まるため、感光体
表面を削ることなく、融着のみ改善する範囲でバランス
を取ることが難しかった。更に、融着を防ぐためにクリ
ーナーの押し当て圧を高め、トナーを全てスクレープク
リーニングし、表面に付着させないという方法が用いら
れることもある。しかし、融着を防止しながら感光体表
面を研磨しないためにはやはり微妙なバランスが必要で
あり、大量生産される電子写真装置全てにおいて安定し
て防止することは困難であった。
用されるカラートナーは元々低融点トナーを用いている
ため、従来より融着が発生し易い環境にあった。この融
着を防止する方法として、電子写真感光体の表面を研磨
し、膜表面と共に融着源を削り取ってしまうことで防止
する方法が考えられる。しかし、a−Si系の硬度の高
い電子写真感光体においては表面が滑らかには削れずに
筋状のムラ削れが発生してしまい、この筋状のムラ削れ
が画像上に現れてしまうため、a−Si系の電子写真感
光体では表面の削れが発生しない条件で使用することが
これまで常識であった。また、融着を防止する他の方法
として、トナー自体に研磨材として、シリカなどを添加
したり、成分を変えたり、分量を増したりする場合もあ
る。トナー自体に研磨材を含ませると、ドラム表面を擦
る能力が高まるため、溶けたトナーが付着しにくくな
る。しかし、このことは融着を防止する反面、副作用と
して、やはり感光体表面を擦る力が強まるため、感光体
表面を削ることなく、融着のみ改善する範囲でバランス
を取ることが難しかった。更に、融着を防ぐためにクリ
ーナーの押し当て圧を高め、トナーを全てスクレープク
リーニングし、表面に付着させないという方法が用いら
れることもある。しかし、融着を防止しながら感光体表
面を研磨しないためにはやはり微妙なバランスが必要で
あり、大量生産される電子写真装置全てにおいて安定し
て防止することは困難であった。
【0007】そこで、本発明は、上記従来のものにおけ
る課題を解決し、高速化、長寿命化された近年の電子写
真装置において、どのような環境または電子写真装置本
体の装置構成であっても、トナーの融着の発生しない優
れた電子写真感光体を提供することを目的とする。ま
た、本発明は、省エネルギーで地球環境に優しい、消費
電力の少ない電子写真装置に最適な電子写真感光体を提
供することを目的とする。また、本発明は、低融点トナ
ーなどのいかなるトナーを用いた電子写真装置において
も、トナーの融着が発生せず、常に良好な画像を維持出
来る電子写真感光体を提供することを目的とする。ま
た、本発明は、フルカラー電子写真装置にも好適に用い
られ、融着等の問題を起こさない電子写真感光体を提供
することを目的とする。また、本発明は、いかなる環
境、電子写真感光体の表面性、クリーナーの押し当て
圧、プロセススピード、トナーに含まれる成分、等の組
み合わせによってもトナーの融着が発生せず、常に良好
な画像を維持できる電子写真感光体を提供することを目
的とする。さらに、本発明は、いかなるクリーニングシ
ステムまたはトナーに対しても、ムラ削れが発生せず、
常に高解像度で、均一な濃度で、良好な画像を維持出来
る電子写真感光体を提供することを目的とする。
る課題を解決し、高速化、長寿命化された近年の電子写
真装置において、どのような環境または電子写真装置本
体の装置構成であっても、トナーの融着の発生しない優
れた電子写真感光体を提供することを目的とする。ま
た、本発明は、省エネルギーで地球環境に優しい、消費
電力の少ない電子写真装置に最適な電子写真感光体を提
供することを目的とする。また、本発明は、低融点トナ
ーなどのいかなるトナーを用いた電子写真装置において
も、トナーの融着が発生せず、常に良好な画像を維持出
来る電子写真感光体を提供することを目的とする。ま
た、本発明は、フルカラー電子写真装置にも好適に用い
られ、融着等の問題を起こさない電子写真感光体を提供
することを目的とする。また、本発明は、いかなる環
境、電子写真感光体の表面性、クリーナーの押し当て
圧、プロセススピード、トナーに含まれる成分、等の組
み合わせによってもトナーの融着が発生せず、常に良好
な画像を維持できる電子写真感光体を提供することを目
的とする。さらに、本発明は、いかなるクリーニングシ
ステムまたはトナーに対しても、ムラ削れが発生せず、
常に高解像度で、均一な濃度で、良好な画像を維持出来
る電子写真感光体を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するため電子写真感光体をつぎのように構成したこと
を特徴とするものである。すなわち、本発明の電子写真
感光体は、先端の半径0.1μm以下である稜間角度1
15°の三角錐ダイヤモンドスタイラスを用いた場合の
ダイナミック硬度が、300以上、1000以下であ
る、水素を含有した非単結晶炭素膜で最表面が構成され
ていることを特徴としている。また、本発明の電子写真
感光体は、前記非単結晶炭素膜の含有水素量が10%〜
60%であることを特徴としている。また、本発明の電
子写真感光体は、前記非単結晶炭素膜の光学的バンドギ
ャップが1.2〜2.2eVであることを特徴としてい
る。また、本発明の電子写真感光体は、前記非単結晶炭
素膜の屈折率が1.8〜2.8であることを特徴として
いる。また、本発明の電子写真感光体は、前記非単結晶
炭素膜の膜厚が50Å〜10000Åまたは100Å〜
2000Åであることを特徴としている。また、本発明
の電子写真感光体は、感光層がシリコンを主体とする非
単結晶質からなることを特徴としている。また、本発明
の電子写真感光体は、下部阻止層、感光層、上部阻止層
の3層構成で構成されていることを特徴としている。ま
た、本発明の電子写真感光体は、電荷輸送層、電荷発生
層、表面保護層の3層構成で構成されていることを特徴
としている。また、本発明の電子写真感光体は、前記非
単結晶炭素膜のダイナミック硬度が、400kgf/m
m2以上、1000kgf/mm2以下であることを特徴
としている。
決するため電子写真感光体をつぎのように構成したこと
を特徴とするものである。すなわち、本発明の電子写真
感光体は、先端の半径0.1μm以下である稜間角度1
15°の三角錐ダイヤモンドスタイラスを用いた場合の
ダイナミック硬度が、300以上、1000以下であ
る、水素を含有した非単結晶炭素膜で最表面が構成され
ていることを特徴としている。また、本発明の電子写真
感光体は、前記非単結晶炭素膜の含有水素量が10%〜
60%であることを特徴としている。また、本発明の電
子写真感光体は、前記非単結晶炭素膜の光学的バンドギ
ャップが1.2〜2.2eVであることを特徴としてい
る。また、本発明の電子写真感光体は、前記非単結晶炭
素膜の屈折率が1.8〜2.8であることを特徴として
いる。また、本発明の電子写真感光体は、前記非単結晶
炭素膜の膜厚が50Å〜10000Åまたは100Å〜
2000Åであることを特徴としている。また、本発明
の電子写真感光体は、感光層がシリコンを主体とする非
単結晶質からなることを特徴としている。また、本発明
の電子写真感光体は、下部阻止層、感光層、上部阻止層
の3層構成で構成されていることを特徴としている。ま
た、本発明の電子写真感光体は、電荷輸送層、電荷発生
層、表面保護層の3層構成で構成されていることを特徴
としている。また、本発明の電子写真感光体は、前記非
単結晶炭素膜のダイナミック硬度が、400kgf/m
m2以上、1000kgf/mm2以下であることを特徴
としている。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の電子写真感光体は、上記
構成によりトナーの融着の発生しない優れた電子写真感
光体を実現したものであるが、それは本発明者らのつぎ
のような検討結果に基づくものである。本発明者らは、
これまで電子写真感光体の表面にトナーが溶融して付着
してしまう、いわゆる融着という現象に対して検討を行
ってきた。このトナーの融着は特に低融点トナーの場合
によく見られる現象である。低融点トナーは近年の省エ
ネルギーの要請で消費電力を低減するために定着器の温
度設定を下げた際にも定着不良を起こさないために多く
用いられる。これまでの検討経過の中で、融着を防止す
るにはクリーニングブレードの押し当て圧を高くした
り、トナーの外添材として含まれるシリカ成分を多くす
る等の、いわゆる研磨力をアップすることが効果が高い
ことを見いだしてきた。しかし、この研磨力アップは従
来、逆に電子写真感光体自身をも研磨してしまい、筋状
のムラ削れを引き起こし、このためハーフトーン画像や
ベタ黒画像を荒らし、画像品質を極端に低下させてしま
うという弊害を併発してしまっていた。
構成によりトナーの融着の発生しない優れた電子写真感
光体を実現したものであるが、それは本発明者らのつぎ
のような検討結果に基づくものである。本発明者らは、
これまで電子写真感光体の表面にトナーが溶融して付着
してしまう、いわゆる融着という現象に対して検討を行
ってきた。このトナーの融着は特に低融点トナーの場合
によく見られる現象である。低融点トナーは近年の省エ
ネルギーの要請で消費電力を低減するために定着器の温
度設定を下げた際にも定着不良を起こさないために多く
用いられる。これまでの検討経過の中で、融着を防止す
るにはクリーニングブレードの押し当て圧を高くした
り、トナーの外添材として含まれるシリカ成分を多くす
る等の、いわゆる研磨力をアップすることが効果が高い
ことを見いだしてきた。しかし、この研磨力アップは従
来、逆に電子写真感光体自身をも研磨してしまい、筋状
のムラ削れを引き起こし、このためハーフトーン画像や
ベタ黒画像を荒らし、画像品質を極端に低下させてしま
うという弊害を併発してしまっていた。
【0010】このため、表面の特性として融着を起こし
にくい表面特性を持った材料の開発、或いはブレード圧
をアップしたり、トナーに外添材を添加して研磨力をア
ップし、例え感光体表面に削れが発生しても滑らかに削
れて筋状のムラ削れをおこさない電子写真感光体の最表
面を構成する材料を検討する必要があった。これまでの
検討では、かかる材料は、従来から用いられているアモ
ルファス炭化珪素膜やアモルファス炭化窒素膜、アモル
ファス酸化珪素膜等では見いだすことが出来なかった。
しかし、本発明者らは鋭意研究してきた結果、a−C:
Hという材料は、硬度も高く、材料自体に潤滑性があ
り、これらの問題に比較的適していることを見いだし
た。そしてさまざまな環境においてトナーの融着現象を
調べていったところ、同じa−C:H膜であっても製造
条件によっては融着が発生してしまったり、或いはクリ
ーニングブレード圧等の関係で筋状のムラ削れが発生し
てしまったりする場合があることを見いだした。
にくい表面特性を持った材料の開発、或いはブレード圧
をアップしたり、トナーに外添材を添加して研磨力をア
ップし、例え感光体表面に削れが発生しても滑らかに削
れて筋状のムラ削れをおこさない電子写真感光体の最表
面を構成する材料を検討する必要があった。これまでの
検討では、かかる材料は、従来から用いられているアモ
ルファス炭化珪素膜やアモルファス炭化窒素膜、アモル
ファス酸化珪素膜等では見いだすことが出来なかった。
しかし、本発明者らは鋭意研究してきた結果、a−C:
Hという材料は、硬度も高く、材料自体に潤滑性があ
り、これらの問題に比較的適していることを見いだし
た。そしてさまざまな環境においてトナーの融着現象を
調べていったところ、同じa−C:H膜であっても製造
条件によっては融着が発生してしまったり、或いはクリ
ーニングブレード圧等の関係で筋状のムラ削れが発生し
てしまったりする場合があることを見いだした。
【0011】これらの現象を更に整理していった結果、
先端の半径0.1μm以下である稜間角度115°の三
角錐ダイヤモンドスタイラスを用いた場合のダイナミッ
ク硬度が300kgf/mm2以上、1000kgf/
mm2以下を満たすように成膜条件を設定したa−C:
H膜の場合、トナーの融着が発生せず、かつ、筋状のム
ラ削れも発生しない、本発明の目的に最適な堆積膜が得
られることを発見した。この特定の条件を満たすa−
C:H膜を更に詳細に検討したところ、適度な硬度を持
った堆積膜は電子写真装置で使用される際に、僅かでは
あるが、表面が研磨されていることが判明した。この僅
かな研磨作用によってトナーの付着を防止し、融着が発
生しなかったと想像している。また、この条件を満たす
a−C:Hの最大の特徴は、このような膜の摩耗がある
にも関わらず、筋削れやムラ削れが全く発生せず、長期
間に渡る使用においても表面は常に滑らかで画像ムラな
どを引き起こさないことである。これはこの特定の条件
下でのみ得られる特異的な潤滑作用が関係しているので
はないかと推測している。
先端の半径0.1μm以下である稜間角度115°の三
角錐ダイヤモンドスタイラスを用いた場合のダイナミッ
ク硬度が300kgf/mm2以上、1000kgf/
mm2以下を満たすように成膜条件を設定したa−C:
H膜の場合、トナーの融着が発生せず、かつ、筋状のム
ラ削れも発生しない、本発明の目的に最適な堆積膜が得
られることを発見した。この特定の条件を満たすa−
C:H膜を更に詳細に検討したところ、適度な硬度を持
った堆積膜は電子写真装置で使用される際に、僅かでは
あるが、表面が研磨されていることが判明した。この僅
かな研磨作用によってトナーの付着を防止し、融着が発
生しなかったと想像している。また、この条件を満たす
a−C:Hの最大の特徴は、このような膜の摩耗がある
にも関わらず、筋削れやムラ削れが全く発生せず、長期
間に渡る使用においても表面は常に滑らかで画像ムラな
どを引き起こさないことである。これはこの特定の条件
下でのみ得られる特異的な潤滑作用が関係しているので
はないかと推測している。
【0012】このような、特定の条件を決めたダイナミ
ック硬度試験によって電子写真感光体の特性がよく反映
される理由については、現在のところ本発明者らも明確
には理解出来ていないが、このような押し込み試験は、
単に堆積膜の硬さのみを測定しているのではなく、スタ
イラスの材質によって決まる堆積膜との摩擦係数、堆積
膜の弾性、堆積膜の微視的な表面形状などを含めて測定
している。このためスタイラスの材料や曲率を限定した
場合、a−C:H膜との接触部分の相互作用や摩擦や弾
性のメカニズムが電子写真装置内で発生するクリーニン
グブレードやトナーとの摩擦メカニズムをよく反映し、
その条件下である範囲内に入るように成膜条件をコント
ロールすることにより本発明の目的は達成されるのであ
ろうと考えている。
ック硬度試験によって電子写真感光体の特性がよく反映
される理由については、現在のところ本発明者らも明確
には理解出来ていないが、このような押し込み試験は、
単に堆積膜の硬さのみを測定しているのではなく、スタ
イラスの材質によって決まる堆積膜との摩擦係数、堆積
膜の弾性、堆積膜の微視的な表面形状などを含めて測定
している。このためスタイラスの材料や曲率を限定した
場合、a−C:H膜との接触部分の相互作用や摩擦や弾
性のメカニズムが電子写真装置内で発生するクリーニン
グブレードやトナーとの摩擦メカニズムをよく反映し、
その条件下である範囲内に入るように成膜条件をコント
ロールすることにより本発明の目的は達成されるのであ
ろうと考えている。
【0013】本発明によるa−C:H膜を最表面に持っ
た電子写真感光体は、一例としては通常のプラズマCV
D法によって調製することが出来る。一般にプラズマC
VD法は装置依存性が大きいため、一律に本発明による
ところのa−C:H膜が得られる成膜条件を規定するこ
とは出来ないが、一般的には、原料ガス種、キャリアガ
ス種、ガス混合方法、ガス導入方法、排気形態の調整、
圧力調整、電力調整、周波数調整、電力波形調整、直流
バイアス調整、基板温度調整、成膜時間の調整、などを
行なうことによって作成される堆積膜の特性は大きく変
わる。従って、本発明によるところの、特定の条件下で
のダイナミック硬度試験における押し込み硬さのコント
ロールも、これらのパラメーターを適宜調整することに
よって、いかなる成膜装置においても容易に条件設定す
ることが可能である。尚、前記計算式の値が300kg
f/mm2以下の場合には、耐久試験を行なっていくう
ちに筋状のムラ削れが発生し、実用上の耐久性に問題が
あった。また、1300kgf/mm2以上になるとム
ラ削れ等の弊害はなかったが、環境条件によってはトナ
ーの融着が発生する場合があった。このため、前記式の
値は300kgf/mm2〜1300kgf/mm2の範
囲内に、さらに好ましくは400kgf/mm2〜10
00kgf/mm2の範囲内に入れることが肝要であ
る。
た電子写真感光体は、一例としては通常のプラズマCV
D法によって調製することが出来る。一般にプラズマC
VD法は装置依存性が大きいため、一律に本発明による
ところのa−C:H膜が得られる成膜条件を規定するこ
とは出来ないが、一般的には、原料ガス種、キャリアガ
ス種、ガス混合方法、ガス導入方法、排気形態の調整、
圧力調整、電力調整、周波数調整、電力波形調整、直流
バイアス調整、基板温度調整、成膜時間の調整、などを
行なうことによって作成される堆積膜の特性は大きく変
わる。従って、本発明によるところの、特定の条件下で
のダイナミック硬度試験における押し込み硬さのコント
ロールも、これらのパラメーターを適宜調整することに
よって、いかなる成膜装置においても容易に条件設定す
ることが可能である。尚、前記計算式の値が300kg
f/mm2以下の場合には、耐久試験を行なっていくう
ちに筋状のムラ削れが発生し、実用上の耐久性に問題が
あった。また、1300kgf/mm2以上になるとム
ラ削れ等の弊害はなかったが、環境条件によってはトナ
ーの融着が発生する場合があった。このため、前記式の
値は300kgf/mm2〜1300kgf/mm2の範
囲内に、さらに好ましくは400kgf/mm2〜10
00kgf/mm2の範囲内に入れることが肝要であ
る。
【0014】以下に、図面を用いて本発明の実施の形態
の一例について説明する。図1は本発明による電子写真
感光体の模式的な断面図であり、101は電子写真感光
体の最表面の層であり、本発明によるところのa−C:
H膜で出来ている。102はシリコン原子を主体とする
光導電層、103は基体である。本発明によるところの
表面層101はa−C:Hから成り、原料ガスとしては
炭化水素を用い、代表的にはプラズマCVD法により作
成される。a−C:H膜の膜中に含まれる水素原子の含
有量はH/(C+H)で10%〜60%、更に好適には
20%〜40%が適している。水素量が10%を切ると
光学的バンドギャップが狭くなり、感度の面で適さなく
なる。また、60%を越えると硬度が低下し、削れが発
生し易くなる。光学的バンドギャップは一般には1.2
eV−2.2eV程度の値であれば好適に用いることが
出来、感度の点からは1.6eV以上とすることが更に
望ましい。屈折率は1.8〜2.8程度であれば好適に
用いられる。膜厚は50Åから10000Å、好ましく
は100Åから2000Åである。50Åより薄くなる
と機械的強度に問題が出る。10000Å以上になると
光感度の点で問題が発生する。いずれにしても、ダイナ
ミック硬度試験における値は300〜1000の範囲内
であることが硬度、潤滑性の点で肝要である。
の一例について説明する。図1は本発明による電子写真
感光体の模式的な断面図であり、101は電子写真感光
体の最表面の層であり、本発明によるところのa−C:
H膜で出来ている。102はシリコン原子を主体とする
光導電層、103は基体である。本発明によるところの
表面層101はa−C:Hから成り、原料ガスとしては
炭化水素を用い、代表的にはプラズマCVD法により作
成される。a−C:H膜の膜中に含まれる水素原子の含
有量はH/(C+H)で10%〜60%、更に好適には
20%〜40%が適している。水素量が10%を切ると
光学的バンドギャップが狭くなり、感度の面で適さなく
なる。また、60%を越えると硬度が低下し、削れが発
生し易くなる。光学的バンドギャップは一般には1.2
eV−2.2eV程度の値であれば好適に用いることが
出来、感度の点からは1.6eV以上とすることが更に
望ましい。屈折率は1.8〜2.8程度であれば好適に
用いられる。膜厚は50Åから10000Å、好ましく
は100Åから2000Åである。50Åより薄くなる
と機械的強度に問題が出る。10000Å以上になると
光感度の点で問題が発生する。いずれにしても、ダイナ
ミック硬度試験における値は300〜1000の範囲内
であることが硬度、潤滑性の点で肝要である。
【0015】炭素供給用ガスとなり得る物質としては、
CH4、C2H6、C3H8、C4H10等のガス状態の、また
はガス化し得る炭化水素が有効に使用されるものとして
挙げられ、更に層作成時の取り扱い易さ、炭素供給効率
の良さ等の点でCH4、C2H6が好ましいものとして挙
げられる。また、これらの炭素供給用の原料ガスを必要
に応じてH2、He、Ar、Ne等のガスにより希釈し
て使用してもよい。また、本発明のa−C:Hからなる
表面層には、必要に応じてハロゲン原子が含まれていて
も良い。ハロゲン原子供給用ガスとなり得る物質として
は、たとえばF2、BrF、ClF、ClF3、Br
F3、BrF5、IF3、IF7等のハロゲン間化合物を挙
げることができる。更にCF4、CHF3、C2F6、Cl
F3、CHClF2、F2、C3F8、C4F10等のフッ素含
有ガスが好適に用いられる。また、基板温度は室温から
350℃までに調整されるが、あまり基板温度が高過ぎ
るとバンドギャップが低下して透明度が低下するため低
めの温度設定が好ましい。高周波電力については、出来
るだけ高い方が炭化水素の分解が充分に進むため好まし
く、具体的には炭化水素の原料ガスに対して5W/cc
以上が好ましいが、あまり高くなると異常放電が発生し
てしまい、電子写真感光体の特性を劣化させるので、異
常放電が発生しない程度の電力に抑える必要がある。放
電空間の圧力については通常のRF(代表的には13.
56MHz)電力を用いる場合には0.1Torr〜1
0Torr、VHF帯(代表的には50〜450MH
z)を用いる場合には0.1mTorr〜100mTo
rr程度に保たれる。
CH4、C2H6、C3H8、C4H10等のガス状態の、また
はガス化し得る炭化水素が有効に使用されるものとして
挙げられ、更に層作成時の取り扱い易さ、炭素供給効率
の良さ等の点でCH4、C2H6が好ましいものとして挙
げられる。また、これらの炭素供給用の原料ガスを必要
に応じてH2、He、Ar、Ne等のガスにより希釈し
て使用してもよい。また、本発明のa−C:Hからなる
表面層には、必要に応じてハロゲン原子が含まれていて
も良い。ハロゲン原子供給用ガスとなり得る物質として
は、たとえばF2、BrF、ClF、ClF3、Br
F3、BrF5、IF3、IF7等のハロゲン間化合物を挙
げることができる。更にCF4、CHF3、C2F6、Cl
F3、CHClF2、F2、C3F8、C4F10等のフッ素含
有ガスが好適に用いられる。また、基板温度は室温から
350℃までに調整されるが、あまり基板温度が高過ぎ
るとバンドギャップが低下して透明度が低下するため低
めの温度設定が好ましい。高周波電力については、出来
るだけ高い方が炭化水素の分解が充分に進むため好まし
く、具体的には炭化水素の原料ガスに対して5W/cc
以上が好ましいが、あまり高くなると異常放電が発生し
てしまい、電子写真感光体の特性を劣化させるので、異
常放電が発生しない程度の電力に抑える必要がある。放
電空間の圧力については通常のRF(代表的には13.
56MHz)電力を用いる場合には0.1Torr〜1
0Torr、VHF帯(代表的には50〜450MH
z)を用いる場合には0.1mTorr〜100mTo
rr程度に保たれる。
【0016】本発明による光導電層102の作成方法は
シリコン原子を主体とした非単結晶質の膜であれば元よ
り、有機感光体、Se感光体、CdS感光体等何でも好
適に用いられる。シリコン原子を主体とした非単結晶質
の光導電層の作成条件としてはいかなる周波数の高周波
電力、或いはマイクロ波によるグロー放電プラズマでも
好適に使用出来、このグロー放電プラズマによりシリコ
ン原子を含んだ原料ガスを分解して作成する。この模式
図においては光導電層は機能分離されていない単一の層
により出来ており、少なくともシリコン原子を含む非晶
質材料で構成され光導電性を示すものである。また、図
2に示したように、表面層が、本発明によるところのa
−C:H膜1層のみではなく、必要に応じてアモルファ
ス炭化シリコン、アモルファスチッ化シリコン、アモル
ファス酸化シリコンなどの第1の表面層204を設け、
その上に本発明によるところのa−C:H膜201を積
層してもよい。本発明の効果は最表面の層が、ダイナミ
ック硬度300kgf/mm2〜1300kgf/mm2
の範囲内であるa−C:H膜で構成されていれば得るこ
とができる。また、図3に示したように光導電層202
が少なくともシリコン原子を含む非晶質材料で構成され
光導電性を示す層304と、基体303からのキャリア
の注入を阻止する、下部阻止層305との2層に分かれ
ているものであってもよい。更に図4のように光導電層
402が少なくともシリコン原子と炭素原子を含む非晶
質材料で構成された電荷輸送層405と少なくともシリ
コン原子を含む非晶質材料で構成された電荷発生層40
4が順次積層された構成の機能分離型としたものであっ
てもよい。この電子写真感光体に光照射すると主として
電荷発生層404で生成されたキャリアーが電荷輸送層
405を通って導電性基体403に至る。光導電層の膜
厚に関しては1μm〜50μmまで、複写機本体が要求
する帯電能、感度に応じて適宜設定されるが、通常は帯
電能、感度の点から10μm以上、工業的生産性の観点
からは50μm以下が望ましい。
シリコン原子を主体とした非単結晶質の膜であれば元よ
り、有機感光体、Se感光体、CdS感光体等何でも好
適に用いられる。シリコン原子を主体とした非単結晶質
の光導電層の作成条件としてはいかなる周波数の高周波
電力、或いはマイクロ波によるグロー放電プラズマでも
好適に使用出来、このグロー放電プラズマによりシリコ
ン原子を含んだ原料ガスを分解して作成する。この模式
図においては光導電層は機能分離されていない単一の層
により出来ており、少なくともシリコン原子を含む非晶
質材料で構成され光導電性を示すものである。また、図
2に示したように、表面層が、本発明によるところのa
−C:H膜1層のみではなく、必要に応じてアモルファ
ス炭化シリコン、アモルファスチッ化シリコン、アモル
ファス酸化シリコンなどの第1の表面層204を設け、
その上に本発明によるところのa−C:H膜201を積
層してもよい。本発明の効果は最表面の層が、ダイナミ
ック硬度300kgf/mm2〜1300kgf/mm2
の範囲内であるa−C:H膜で構成されていれば得るこ
とができる。また、図3に示したように光導電層202
が少なくともシリコン原子を含む非晶質材料で構成され
光導電性を示す層304と、基体303からのキャリア
の注入を阻止する、下部阻止層305との2層に分かれ
ているものであってもよい。更に図4のように光導電層
402が少なくともシリコン原子と炭素原子を含む非晶
質材料で構成された電荷輸送層405と少なくともシリ
コン原子を含む非晶質材料で構成された電荷発生層40
4が順次積層された構成の機能分離型としたものであっ
てもよい。この電子写真感光体に光照射すると主として
電荷発生層404で生成されたキャリアーが電荷輸送層
405を通って導電性基体403に至る。光導電層の膜
厚に関しては1μm〜50μmまで、複写機本体が要求
する帯電能、感度に応じて適宜設定されるが、通常は帯
電能、感度の点から10μm以上、工業的生産性の観点
からは50μm以下が望ましい。
【0017】図5は、本発明の電子写真感光体を作成す
るために供される、13.56MHzの高周波電源を用
いたプラズマCVD法による堆積装置の一例を模式的に
示した図である。この装置は大別すると、堆積装置、反
応容器内を減圧する為の排気装置(図示せず)から構成
されている。反応容器501内にはアースに接続された
導電性受け台507の上に円筒状被成膜基体502が設
置され、更に円筒状被成膜基体の加熱用ヒーター50
3、原料ガス導入管505が設置されている。又、カソ
ード電極506は導電性材料からなり、絶縁材料513
によって絶縁されている。カソード電極は高周波マッチ
ングボックス511を介して13.56MHzの高周波
電源512が接続されている。不図示の原料ガス供給装
置の各構成ガスのボンベはバルブ509を介して反応容
器501内のガス導入管505に接続されている。
るために供される、13.56MHzの高周波電源を用
いたプラズマCVD法による堆積装置の一例を模式的に
示した図である。この装置は大別すると、堆積装置、反
応容器内を減圧する為の排気装置(図示せず)から構成
されている。反応容器501内にはアースに接続された
導電性受け台507の上に円筒状被成膜基体502が設
置され、更に円筒状被成膜基体の加熱用ヒーター50
3、原料ガス導入管505が設置されている。又、カソ
ード電極506は導電性材料からなり、絶縁材料513
によって絶縁されている。カソード電極は高周波マッチ
ングボックス511を介して13.56MHzの高周波
電源512が接続されている。不図示の原料ガス供給装
置の各構成ガスのボンベはバルブ509を介して反応容
器501内のガス導入管505に接続されている。
【0018】以下、図5の装置を用いた、電子写真感光
体の形成方法の一例について説明する。例えば表面を旋
盤を用いて鏡面加工を施した基体502を補助基体50
7に取りつけ、反応容器501内の基体加熱用ヒーター
503を包含するように取りつける。次に、原料ガス導
入バルブ509を閉とし、排気口515を介して排気装
置508により反応容器501を一旦排気した後、原料
ガス導入バルブ509を開として加熱用の不活性ガス、
一例としてアルゴンをガス供給配管505より反応容器
501に導入し、反応容器501内が所望の圧力になる
ように排気装置508の排気速度及び加熱用ガスの流量
を調整する。その後、不図示の温度コントローラーを作
動させて基体502を基体加熱用ヒーター503により
加熱し、円筒状被成膜基体502の温度を20℃〜50
0℃の所定の温度に制御する。基体502が所望の温度
に加熱されたところで原料ガス導入バルブ509を閉
じ、反応容器501内へのガス流入を止める。
体の形成方法の一例について説明する。例えば表面を旋
盤を用いて鏡面加工を施した基体502を補助基体50
7に取りつけ、反応容器501内の基体加熱用ヒーター
503を包含するように取りつける。次に、原料ガス導
入バルブ509を閉とし、排気口515を介して排気装
置508により反応容器501を一旦排気した後、原料
ガス導入バルブ509を開として加熱用の不活性ガス、
一例としてアルゴンをガス供給配管505より反応容器
501に導入し、反応容器501内が所望の圧力になる
ように排気装置508の排気速度及び加熱用ガスの流量
を調整する。その後、不図示の温度コントローラーを作
動させて基体502を基体加熱用ヒーター503により
加熱し、円筒状被成膜基体502の温度を20℃〜50
0℃の所定の温度に制御する。基体502が所望の温度
に加熱されたところで原料ガス導入バルブ509を閉
じ、反応容器501内へのガス流入を止める。
【0019】次に、ガス供給装置内の排気を兼ねて、流
入バルブ509を開き、メインバルブ504を開いて反
応容器501及びガス供給配管505を排気する。次に
真空計510の読みが5×10-6Torrになった時点
で流入バルブ509を閉じる。堆積膜の形成は原料ガス
導入バルブ509を開し、原料ガス導入口505から所
定の原料ガス、例えばシランガス、ジシランガス、メタ
ンガス、エタンガスなどの材料ガスを、またジボランガ
ス、ホスフィンガスなどのドーピングガスを不図示のミ
キシングパネルにより混合した後に反応容器501内に
導入する。次に、不図示のマスフローコントローラーに
よって、各原料ガスが所定の流量になる様に調整する。
その際、反応容器501内が1Torr以下の所定の圧
力になる様に、真空計510を見ながらメインバルブ5
04の開口を調整する。次に数mTorrから数Tor
rの圧力に維持するよう真空計510を見ながらメイン
バルブ504の開口を調整する。
入バルブ509を開き、メインバルブ504を開いて反
応容器501及びガス供給配管505を排気する。次に
真空計510の読みが5×10-6Torrになった時点
で流入バルブ509を閉じる。堆積膜の形成は原料ガス
導入バルブ509を開し、原料ガス導入口505から所
定の原料ガス、例えばシランガス、ジシランガス、メタ
ンガス、エタンガスなどの材料ガスを、またジボランガ
ス、ホスフィンガスなどのドーピングガスを不図示のミ
キシングパネルにより混合した後に反応容器501内に
導入する。次に、不図示のマスフローコントローラーに
よって、各原料ガスが所定の流量になる様に調整する。
その際、反応容器501内が1Torr以下の所定の圧
力になる様に、真空計510を見ながらメインバルブ5
04の開口を調整する。次に数mTorrから数Tor
rの圧力に維持するよう真空計510を見ながらメイン
バルブ504の開口を調整する。
【0020】以上の手順によって成膜準備を完了した
後、円筒状被成膜基体502上に光導電層の形成を行な
う。内圧が安定したのを確認後、高周波電源512を所
望の電力に設定して高周波電力をマッチングボックス5
11を通じてカソード電極506に供給し高周波グロー
放電を生起させる。このとき整合回路509を調整し、
反射波が最小となるように調整する。高周波の入射電力
から反射電力を差し引いた値を所望の値に調整する。こ
の放電エネルギーによって反応容器501内に導入させ
た各原料ガスが分解され、円筒状被成膜基体502上に
所定の堆積膜が形成される。所望の膜厚の形成が行われ
た後、高周波電力の供給を止め、反応容器501への各
原料ガスの流入を止めて堆積室内を一旦高真空に引き上
げた後に層の形成を終える。上記のような操作を繰り返
し行うことによって、下部阻止層、光導電層は形成され
る。
後、円筒状被成膜基体502上に光導電層の形成を行な
う。内圧が安定したのを確認後、高周波電源512を所
望の電力に設定して高周波電力をマッチングボックス5
11を通じてカソード電極506に供給し高周波グロー
放電を生起させる。このとき整合回路509を調整し、
反射波が最小となるように調整する。高周波の入射電力
から反射電力を差し引いた値を所望の値に調整する。こ
の放電エネルギーによって反応容器501内に導入させ
た各原料ガスが分解され、円筒状被成膜基体502上に
所定の堆積膜が形成される。所望の膜厚の形成が行われ
た後、高周波電力の供給を止め、反応容器501への各
原料ガスの流入を止めて堆積室内を一旦高真空に引き上
げた後に層の形成を終える。上記のような操作を繰り返
し行うことによって、下部阻止層、光導電層は形成され
る。
【0021】次に、本発明のa−C:Hからなる表面層
を形成する。一旦、反応容器501内を高真空に引きあ
げた後、原料ガス導入口505から所定の原料ガス、例
えばCH4、C2H6、C3H8、C4H10などの炭化水素ガ
ス、必要に応じて水素ガス、ヘリウムガス、アルゴンガ
スなどの材料ガスを不図示のミキシングパネルにより混
合した後に反応容器501内に導入する。次に、不図示
のマスフローコントローラーによって、各原料ガスが所
定の流量になる様に調整する。その際、反応容器501
内が1Torr以下の所定の圧力になる様に、真空計5
10を見ながらメインバルブ504の開口を調整する。
内圧が安定したのを確認後、高周波電源512を所望の
電力に設定し、電力をカソード電極506に供給し、高
周波グロー放電を生起させる。このとき整合回路509
を調整し、反射波が最小となるように調整する。高周波
の入射電力から反射電力を差し引いた値を所望の値に調
整する。この放電エネルギーによって反応容器501内
に導入させた各原料ガスが分解され、光導電層上に所定
のa−C:H堆積膜が形成される。所望の膜厚の形成が
行われた後、高周波電力の供給を止め、反応容器501
への各原料ガスの流入を止めて堆積室内を一旦高真空に
引き上げた後に層の形成を終える。このとき、a−C:
H膜が、先端の半径0.1μm以下である稜間角度11
5°の三角錐ダイヤモンドスタイラスを用いたダイナミ
ック硬度の値が300kgf/mm2以上、1300k
gf/mm2以下を満たすようにa−C:H膜を形成す
ることが肝要である。膜形成を行っている間は円筒状被
成膜基体502を駆動装置(不図示)によって所定の速
度で回転させても良い。
を形成する。一旦、反応容器501内を高真空に引きあ
げた後、原料ガス導入口505から所定の原料ガス、例
えばCH4、C2H6、C3H8、C4H10などの炭化水素ガ
ス、必要に応じて水素ガス、ヘリウムガス、アルゴンガ
スなどの材料ガスを不図示のミキシングパネルにより混
合した後に反応容器501内に導入する。次に、不図示
のマスフローコントローラーによって、各原料ガスが所
定の流量になる様に調整する。その際、反応容器501
内が1Torr以下の所定の圧力になる様に、真空計5
10を見ながらメインバルブ504の開口を調整する。
内圧が安定したのを確認後、高周波電源512を所望の
電力に設定し、電力をカソード電極506に供給し、高
周波グロー放電を生起させる。このとき整合回路509
を調整し、反射波が最小となるように調整する。高周波
の入射電力から反射電力を差し引いた値を所望の値に調
整する。この放電エネルギーによって反応容器501内
に導入させた各原料ガスが分解され、光導電層上に所定
のa−C:H堆積膜が形成される。所望の膜厚の形成が
行われた後、高周波電力の供給を止め、反応容器501
への各原料ガスの流入を止めて堆積室内を一旦高真空に
引き上げた後に層の形成を終える。このとき、a−C:
H膜が、先端の半径0.1μm以下である稜間角度11
5°の三角錐ダイヤモンドスタイラスを用いたダイナミ
ック硬度の値が300kgf/mm2以上、1300k
gf/mm2以下を満たすようにa−C:H膜を形成す
ることが肝要である。膜形成を行っている間は円筒状被
成膜基体502を駆動装置(不図示)によって所定の速
度で回転させても良い。
【0022】図6は、前記図5とは別形態のプラズマC
VD法による電子写真感光体の形成装置(量産型)の一
例の模式図であり、高周波電源として50〜450MH
zのVHF帯の電源を用いる。図6において601は反
応容器であり、真空気密化構造を成している。又、61
5は一端が反応容器601内に開口し、他端が排気装置
(図示せず)に連通している排気管である。616は円
筒状被成膜基体602によって囲まれた放電空間を示
す。高周波電源612は、高周波マッチングボックス6
11を介してカソード電極606に電気的に接続されて
いる。円筒状被成膜基体602はホルダー607にセッ
トした状態で回転軸603に設置される。図6の装置を
用いた、電子写真感光体の形成方法の手順はカソードと
基体の配置が異なることと、常に基体が回転モーター6
14によって駆動されていることを除いて、基本的に図
5の装置の方法と同様である。
VD法による電子写真感光体の形成装置(量産型)の一
例の模式図であり、高周波電源として50〜450MH
zのVHF帯の電源を用いる。図6において601は反
応容器であり、真空気密化構造を成している。又、61
5は一端が反応容器601内に開口し、他端が排気装置
(図示せず)に連通している排気管である。616は円
筒状被成膜基体602によって囲まれた放電空間を示
す。高周波電源612は、高周波マッチングボックス6
11を介してカソード電極606に電気的に接続されて
いる。円筒状被成膜基体602はホルダー607にセッ
トした状態で回転軸603に設置される。図6の装置を
用いた、電子写真感光体の形成方法の手順はカソードと
基体の配置が異なることと、常に基体が回転モーター6
14によって駆動されていることを除いて、基本的に図
5の装置の方法と同様である。
【0023】
【実施例】以下に、本発明の実施例について説明する
が、本発明はこれにより何ら限定されるものではない。 [実施例1]図5に記載のプラズマCVD装置を用いて
表1に示した条件により円筒状AL基体上に下部阻止
層、光導電層を順次積層した。成膜の手順は前述した方
法に従った。続いて表2に示した手順に従い、a−C:
Hからなる表面層A〜Eを積層し、合計5本の電子写真
感光体を作成した。同時に同じ製造条件で鏡面研磨した
7059ガラス(コーニング社製)にも表面層A〜Eを
堆積し、押し込み試験用サンプルを作成した。
が、本発明はこれにより何ら限定されるものではない。 [実施例1]図5に記載のプラズマCVD装置を用いて
表1に示した条件により円筒状AL基体上に下部阻止
層、光導電層を順次積層した。成膜の手順は前述した方
法に従った。続いて表2に示した手順に従い、a−C:
Hからなる表面層A〜Eを積層し、合計5本の電子写真
感光体を作成した。同時に同じ製造条件で鏡面研磨した
7059ガラス(コーニング社製)にも表面層A〜Eを
堆積し、押し込み試験用サンプルを作成した。
【0024】
【表1】
【0025】
【表2】 この様にして作製した電子写真感光体、及び表面層サン
プルは次の様に評価した。 バンドギャップ、屈折率 紫外〜近赤外分光器を用いてバンドギャップ、及び屈折
率を求めた。 水素量 赤外吸収スペクトルと膜厚から膜中水素量を求めた。 ダイナミック硬度試験 7059ガラス上に堆積した表面層サンプルの表面を、
先端の半径0.1μm以下である稜線の角度115°の
三角錐ダイヤモンドスタイラスに垂直に荷重を掛けた際
の荷重と押し込み深さの関係をDH=α×p/d2の式
に当てはめてダイナミック硬度DHを計算した。ここで
α:37.8、p:荷重(gf)、d:押し込み深さ
(μm)である。押し込み深さは下地の影響を防ぐため
に最表面のa−C:H膜の膜厚の約1/5とした。 融着の評価 電子写真装置(キヤノン社製NP6060)のクリーニ
ングブレードの押し当て圧を1/2倍にし、かつ、ドラ
ムの表面温度を60℃に設定することにより、融着が発
生し易い環境を作りだした。このように改造した加速試
験機に電子写真感光体を設置し、10万枚の耐久を行な
った。耐久後のハーフトーン画像、及び電子写真感光体
表面を顕微鏡観察し、融着の有無を観察した。融着の評
価について、 ○ 感光体全面に渡って融着は全く観察されず、非常
に良好 △ 僅かに融着が観察されるが画像には出ないレベル
で支障なし × 画像に現れる融着が発生し、実用上問題有り を表わしている。 ムラ削れの評価 で耐久を行なった電子写真用電子写真感光体の表面層
の膜厚を耐久前後で反射式干渉計で測定した。また、ハ
ーフトン画像、及び電子写真感光体表面を目視観察し、
筋削れや表面層の摩耗が発生していないかを観察した。
ムラ削れの評価について、 ○ 感光体表面、画像共、ムラ削れや筋削れは観察さ
れず、非常に良好 △ 感光体表面に僅かにムラ削れが観察されるが画像
に出ない × 画像に現れる傷が入り、実用上問題有り を表わしている。 帯電能 電子写真感光体を実験用に改造した電子写真装置(キヤ
ノン製NP−6060)に設置し、暗状態で、帯電器に
+6kVの高電圧を印加しコロナ帯電を行なう。この時
の表面電位を表面電位計で測定し、評価した。 感度 電子写真感光体を、一定の暗部表面電位に帯電させる。
そして直ちにフィルターを用いて600nm以上の波長
域の光を除いたハロゲンランプ光を照射し、電子写真感
光体の明部表面電位が所定の値(例えば50V)になる
ように光量を調整する。このときに必要な光量をハロゲ
ンランプ光源の点灯電圧から換算する。この手順で電子
写真感光体の感度を測定し、評価する。 残留電位 電子写真感光体を、一定の暗部表面電位に帯電させる。
そして直ちに一定光量の比較的強い光(例えば2lux
・sec)を照射する。光源はキセノンランプを用い、
フィルターを用いて600nm以上の波長域の光を除い
た光を照射した。この時表面電位計により電子写真感光
体の明部表面電位を測定し、残留電位を評価した。帯電
能、感度、残電の各評価項目について、 ○ 良好 △ 従来と同等レベル × 実用上問題有り を表わしている。
プルは次の様に評価した。 バンドギャップ、屈折率 紫外〜近赤外分光器を用いてバンドギャップ、及び屈折
率を求めた。 水素量 赤外吸収スペクトルと膜厚から膜中水素量を求めた。 ダイナミック硬度試験 7059ガラス上に堆積した表面層サンプルの表面を、
先端の半径0.1μm以下である稜線の角度115°の
三角錐ダイヤモンドスタイラスに垂直に荷重を掛けた際
の荷重と押し込み深さの関係をDH=α×p/d2の式
に当てはめてダイナミック硬度DHを計算した。ここで
α:37.8、p:荷重(gf)、d:押し込み深さ
(μm)である。押し込み深さは下地の影響を防ぐため
に最表面のa−C:H膜の膜厚の約1/5とした。 融着の評価 電子写真装置(キヤノン社製NP6060)のクリーニ
ングブレードの押し当て圧を1/2倍にし、かつ、ドラ
ムの表面温度を60℃に設定することにより、融着が発
生し易い環境を作りだした。このように改造した加速試
験機に電子写真感光体を設置し、10万枚の耐久を行な
った。耐久後のハーフトーン画像、及び電子写真感光体
表面を顕微鏡観察し、融着の有無を観察した。融着の評
価について、 ○ 感光体全面に渡って融着は全く観察されず、非常
に良好 △ 僅かに融着が観察されるが画像には出ないレベル
で支障なし × 画像に現れる融着が発生し、実用上問題有り を表わしている。 ムラ削れの評価 で耐久を行なった電子写真用電子写真感光体の表面層
の膜厚を耐久前後で反射式干渉計で測定した。また、ハ
ーフトン画像、及び電子写真感光体表面を目視観察し、
筋削れや表面層の摩耗が発生していないかを観察した。
ムラ削れの評価について、 ○ 感光体表面、画像共、ムラ削れや筋削れは観察さ
れず、非常に良好 △ 感光体表面に僅かにムラ削れが観察されるが画像
に出ない × 画像に現れる傷が入り、実用上問題有り を表わしている。 帯電能 電子写真感光体を実験用に改造した電子写真装置(キヤ
ノン製NP−6060)に設置し、暗状態で、帯電器に
+6kVの高電圧を印加しコロナ帯電を行なう。この時
の表面電位を表面電位計で測定し、評価した。 感度 電子写真感光体を、一定の暗部表面電位に帯電させる。
そして直ちにフィルターを用いて600nm以上の波長
域の光を除いたハロゲンランプ光を照射し、電子写真感
光体の明部表面電位が所定の値(例えば50V)になる
ように光量を調整する。このときに必要な光量をハロゲ
ンランプ光源の点灯電圧から換算する。この手順で電子
写真感光体の感度を測定し、評価する。 残留電位 電子写真感光体を、一定の暗部表面電位に帯電させる。
そして直ちに一定光量の比較的強い光(例えば2lux
・sec)を照射する。光源はキセノンランプを用い、
フィルターを用いて600nm以上の波長域の光を除い
た光を照射した。この時表面電位計により電子写真感光
体の明部表面電位を測定し、残留電位を評価した。帯電
能、感度、残電の各評価項目について、 ○ 良好 △ 従来と同等レベル × 実用上問題有り を表わしている。
【0026】(比較例1)図5に記載のプラズマCVD
装置を用いて表1に示した条件によりAL基体上に下部
阻止層、光導電層を順次積層した。成膜の手順は前述し
た方法に従った。続いて表3に示した手順に従い、a−
C:Hからなる表面層F〜Hを積層し、合計3本の電子
写真感光体を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガ
ラス(コーニング社製)にも表面層F〜Hを堆積し、押
し込み深さ試験用サンプルを作成した。
装置を用いて表1に示した条件によりAL基体上に下部
阻止層、光導電層を順次積層した。成膜の手順は前述し
た方法に従った。続いて表3に示した手順に従い、a−
C:Hからなる表面層F〜Hを積層し、合計3本の電子
写真感光体を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガ
ラス(コーニング社製)にも表面層F〜Hを堆積し、押
し込み深さ試験用サンプルを作成した。
【0027】
【表3】 この様にして作製した電子写真感光体、及び表面層サン
プルは実施例1と同様に評価した。実施例1、比較例1
の結果をまとめて表4に示す。厳密に押し込み試験の条
件を決めた時の押し込み硬さが300kgf/mm2〜
1300kgf/mm2のときに融着、ムラ削れが発生
せず、非常に良好な結果が得られた。また、いずれの感
光体については、電子写真としての電気的特性は良好で
あり、本発明のa−C:H膜を表面に設けても何ら弊害
は発生しないことが判明した。特に押し込み硬さが40
0kgf/mm2〜1000kgf/mm2のときに、帯
電能が良好であった。
プルは実施例1と同様に評価した。実施例1、比較例1
の結果をまとめて表4に示す。厳密に押し込み試験の条
件を決めた時の押し込み硬さが300kgf/mm2〜
1300kgf/mm2のときに融着、ムラ削れが発生
せず、非常に良好な結果が得られた。また、いずれの感
光体については、電子写真としての電気的特性は良好で
あり、本発明のa−C:H膜を表面に設けても何ら弊害
は発生しないことが判明した。特に押し込み硬さが40
0kgf/mm2〜1000kgf/mm2のときに、帯
電能が良好であった。
【0028】
【表4】 [実施例2]図6に記載のプラズマCVD装置を用いて
表5に示した条件によりAL基体上に電荷輸送層、電荷
発生層を順次積層した。成膜の手順は前述した方法に従
った。続いて表6に示した手順に従い、a−C:Hから
なる表面層A〜Eを積層し、合計5本の電子写真感光体
を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガラス(コー
ニング社製)にも表面層A〜Eを堆積し、押し込み試験
用サンプルを作成した。この様にして作製した電子写真
感光体、及び表面層サンプルは実施例1と同様に評価し
た。
表5に示した条件によりAL基体上に電荷輸送層、電荷
発生層を順次積層した。成膜の手順は前述した方法に従
った。続いて表6に示した手順に従い、a−C:Hから
なる表面層A〜Eを積層し、合計5本の電子写真感光体
を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガラス(コー
ニング社製)にも表面層A〜Eを堆積し、押し込み試験
用サンプルを作成した。この様にして作製した電子写真
感光体、及び表面層サンプルは実施例1と同様に評価し
た。
【0029】
【表5】
【0030】
【表6】 (比較例2)図6に記載のプラズマCVD装置を用いて
表4に示した条件によりAL基体上に電荷輸送層、電荷
発生層を順次積層した。成膜の手順は前述した方法に従
った。続いて表7に示した手順に従い、a−C:Hから
なる表面層F〜Hを積層し、合計3本の電子写真感光体
を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガラス(コー
ニング社製)にも表面層F〜Hを堆積し、押し込み試験
用サンプルを作成した。この様にして作製した電子写真
感光体、及び表面層サンプルは実施例1と同様に評価し
た。
表4に示した条件によりAL基体上に電荷輸送層、電荷
発生層を順次積層した。成膜の手順は前述した方法に従
った。続いて表7に示した手順に従い、a−C:Hから
なる表面層F〜Hを積層し、合計3本の電子写真感光体
を作成した。同時に鏡面研磨した7059ガラス(コー
ニング社製)にも表面層F〜Hを堆積し、押し込み試験
用サンプルを作成した。この様にして作製した電子写真
感光体、及び表面層サンプルは実施例1と同様に評価し
た。
【0031】
【表7】 実施例2、比較例2の結果をまとめて表8に示す。感光
層の層構成が電荷輸送層、電荷発生層の機能分離型であ
っても何ら問題なく本発明の効果が得られることが判明
した。また、本発明のa−C:H膜を成膜する際に、希
釈ガスとして、H2、He、Arなどを用いてもなんら
本発明の効果に悪影響はないことが判明した。
層の層構成が電荷輸送層、電荷発生層の機能分離型であ
っても何ら問題なく本発明の効果が得られることが判明
した。また、本発明のa−C:H膜を成膜する際に、希
釈ガスとして、H2、He、Arなどを用いてもなんら
本発明の効果に悪影響はないことが判明した。
【0032】
【表8】 [実施例3]図5に記載のプラズマCVD装置を用いて
表9に示した条件によりAL基体上に本発明の電子写真
感光体を作成した。成膜の手順は前述した方法に従っ
た。本実施例においては、最表面の表面層中にCF4ガ
スによりフッ素を含有させた。同時に同じ製造条件で鏡
面研磨した7059ガラス(コーニング社製)にも第2
の表面層を堆積し、ダイナミック硬度試験用サンプルを
作成した。
表9に示した条件によりAL基体上に本発明の電子写真
感光体を作成した。成膜の手順は前述した方法に従っ
た。本実施例においては、最表面の表面層中にCF4ガ
スによりフッ素を含有させた。同時に同じ製造条件で鏡
面研磨した7059ガラス(コーニング社製)にも第2
の表面層を堆積し、ダイナミック硬度試験用サンプルを
作成した。
【0033】
【表9】 この様にして作製したダイナミック硬度試験用サンプル
の硬度は430kgf/mm2であった。更に電子写真
感光体を実施例1と同様の複写機に設置し、10万枚の
耐久を行なったところ、融着も発生せず、また、筋削れ
も発生せず、非常に良好な画像が長期に渡って安定に得
ることが出来た。
の硬度は430kgf/mm2であった。更に電子写真
感光体を実施例1と同様の複写機に設置し、10万枚の
耐久を行なったところ、融着も発生せず、また、筋削れ
も発生せず、非常に良好な画像が長期に渡って安定に得
ることが出来た。
【0034】
【発明の効果】本発明によれば先端の半径0.1μm以
下である稜間角度115°の三角錐ダイヤモンドスタイ
ラスを用いた場合のダイナミック硬度が300kgf/
mm2以上、1300kgf/mm2以下である、水素を
含有した非単結晶炭素膜で電子写真感光体の最表面を構
成することにより、環境、電子写真装置、低融点トナー
などのトナーの種類、電子写真感光体の表面性、クリー
ナーの押し当て圧、プロセススピード、トナーに含まれ
る成分、等のいかなる条件によってもトナーの融着が発
生せず、また、ムラ削れせず、常に高解像度で、均一な
濃度、良好な画像の維持が可能な電子写真感光体を実現
することができる。
下である稜間角度115°の三角錐ダイヤモンドスタイ
ラスを用いた場合のダイナミック硬度が300kgf/
mm2以上、1300kgf/mm2以下である、水素を
含有した非単結晶炭素膜で電子写真感光体の最表面を構
成することにより、環境、電子写真装置、低融点トナー
などのトナーの種類、電子写真感光体の表面性、クリー
ナーの押し当て圧、プロセススピード、トナーに含まれ
る成分、等のいかなる条件によってもトナーの融着が発
生せず、また、ムラ削れせず、常に高解像度で、均一な
濃度、良好な画像の維持が可能な電子写真感光体を実現
することができる。
【図1】本発明によるところの電子写真感光体の模式的
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明によるところの電子写真感光体の模式的
断面図である。
断面図である。
【図3】本発明によるところの電子写真感光体の模式的
断面図である。
断面図である。
【図4】本発明の電子写真感光体を形成するための堆積
装置の模式図である。
装置の模式図である。
【図5】本発明の電子写真感光体を形成するための量産
型堆積装置の模式図である。
型堆積装置の模式図である。
【図6】図5とは別形態の電子写真感光体を形成するた
めの量産型堆積装置の模式図である。
めの量産型堆積装置の模式図である。
101、201、301:本発明のa−C:H表面層 102、202、302:シリコン原子を主体とする光
導電層 103、203、303:導電性基体 204:第1の表面層 304:光導電層 305:下部阻止層 404:電荷発生層 405:電荷輸送層 501、601:反応容器 502、602:基体 503、603:基体加熱用ヒーター 504:メインバルブ 505、605:ガス導入管 506、606:カソード電極 507、607:補助基体 508:排気系 509、609:ガス供給バルブ 510、610:真空計 511、611:高周波マッチングボックス 512、612:高周波電源 513:絶縁材料 614:基体回転モーター 515、615:排気管 516:リークバルブ 616:放電空間
導電層 103、203、303:導電性基体 204:第1の表面層 304:光導電層 305:下部阻止層 404:電荷発生層 405:電荷輸送層 501、601:反応容器 502、602:基体 503、603:基体加熱用ヒーター 504:メインバルブ 505、605:ガス導入管 506、606:カソード電極 507、607:補助基体 508:排気系 509、609:ガス供給バルブ 510、610:真空計 511、611:高周波マッチングボックス 512、612:高周波電源 513:絶縁材料 614:基体回転モーター 515、615:排気管 516:リークバルブ 616:放電空間
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI // H01L 21/205 H01L 21/205
Claims (9)
- 【請求項1】先端の半径0.1μm以下である稜間角度
115°の三角錐ダイヤモンドスタイラスを用いた場合
のダイナミック硬度が、300kgf/mm2以上、1
300kgf/mm2以下である、水素を含有した非単
結晶炭素膜で最表面が構成されていることを特徴とする
電子写真感光体。 - 【請求項2】前記非単結晶炭素膜は、含有水素量が10
%〜60%であることを特徴とする請求項1に記載の電
子写真感光体。 - 【請求項3】前記非単結晶炭素膜は、光学的バンドギャ
ップが1.2〜2.2eVであることを特徴とする請求
項1または請求項2に記載の電子写真感光体。 - 【請求項4】前記非単結晶炭素膜は、屈折率が1.8〜
2.8であることを特徴とする請求項1乃至3に記載の
電子写真感光体。 - 【請求項5】前記非単結晶炭素膜は、膜厚が50Å〜1
0000Åまたは100Å〜2000Åであることを特
徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載の電
子写真感光体。 - 【請求項6】前記電子写真感光体は、感光層がシリコン
を主体とする非単結晶質からなることを特徴とする請求
項1〜請求項5のいずれか1項に記載の電子写真感光
体。 - 【請求項7】前記電子写真感光体は、下部阻止層、感光
層、上部阻止層の3層構成で構成されていることを特徴
とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載の電子
写真感光体。 - 【請求項8】前記電子写真感光体は、電荷輸送層、電荷
発生層、表面保護層の3層構成で構成されていることを
特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載の
電子写真感光体。 - 【請求項9】前記非単結晶炭素膜のダイナミック硬度
が、400kgf/mm2以上、1000kgf/mm2
以下であることを特徴とする請求項1〜請求項8のいず
れか1項に記載の電子写真感光体。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31259897A JPH11133641A (ja) | 1997-10-29 | 1997-10-29 | 電子写真感光体 |
US09/178,884 US6001521A (en) | 1997-10-29 | 1998-10-27 | Electrophotographic photosensitive member |
EP98120483A EP0913733B1 (en) | 1997-10-29 | 1998-10-28 | Electrophotographic photosensitive member |
DE69829450T DE69829450T2 (de) | 1997-10-29 | 1998-10-28 | Elektrophotographisches lichtempfindliches Element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31259897A JPH11133641A (ja) | 1997-10-29 | 1997-10-29 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11133641A true JPH11133641A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=18031138
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31259897A Pending JPH11133641A (ja) | 1997-10-29 | 1997-10-29 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11133641A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6753123B2 (en) | 2001-06-28 | 2004-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Process and apparatus for manufacturing electrophotographic photosensitive member |
US6846600B2 (en) | 2001-01-31 | 2005-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member, process for its production, and electrophotographic apparatus |
US7033721B2 (en) | 2002-08-02 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for producing electrophotographic photosensitive member, electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus using the same |
US7033717B2 (en) | 2002-08-02 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for producing electrophotographic photosensitive member, and electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus making use of the same |
JP2007057862A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Canon Inc | 画像形成方法 |
-
1997
- 1997-10-29 JP JP31259897A patent/JPH11133641A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6846600B2 (en) | 2001-01-31 | 2005-01-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Electrophotographic photosensitive member, process for its production, and electrophotographic apparatus |
US6753123B2 (en) | 2001-06-28 | 2004-06-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Process and apparatus for manufacturing electrophotographic photosensitive member |
US7033721B2 (en) | 2002-08-02 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for producing electrophotographic photosensitive member, electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus using the same |
US7033717B2 (en) | 2002-08-02 | 2006-04-25 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for producing electrophotographic photosensitive member, and electrophotographic photosensitive member and electrophotographic apparatus making use of the same |
JP2007057862A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Canon Inc | 画像形成方法 |
JP4630762B2 (ja) * | 2005-08-25 | 2011-02-09 | キヤノン株式会社 | 画像形成方法 |
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