JPH11129082A - レーザ溶接欠陥検出装置 - Google Patents
レーザ溶接欠陥検出装置Info
- Publication number
- JPH11129082A JPH11129082A JP9298121A JP29812197A JPH11129082A JP H11129082 A JPH11129082 A JP H11129082A JP 9298121 A JP9298121 A JP 9298121A JP 29812197 A JP29812197 A JP 29812197A JP H11129082 A JPH11129082 A JP H11129082A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- laser
- welding
- yag
- torch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Laser Beam Processing (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザトーチの位置や姿勢の影響を受けるこ
となく溶接箇所からの光を検出して欠陥検出を行うレー
ザ溶接欠陥検出装置を提供すること。 【解決手段】 レーザトーチ１２の筺体内に、ワーク１
４に照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして
溶接部から発する溶接光を集光する集光レンズ１５を設
け、この集光レンズで集光された光の強度に基づいて溶
接箇所の欠陥検出を行うようにした。
となく溶接箇所からの光を検出して欠陥検出を行うレー
ザ溶接欠陥検出装置を提供すること。 【解決手段】 レーザトーチ１２の筺体内に、ワーク１
４に照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして
溶接部から発する溶接光を集光する集光レンズ１５を設
け、この集光レンズで集光された光の強度に基づいて溶
接箇所の欠陥検出を行うようにした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はレーザ溶接機に関
し、特に溶接箇所からの光を検出してその強度に基づい
て溶接の欠陥検出を行うためのレーザ溶接欠陥検出装置
に関する。
し、特に溶接箇所からの光を検出してその強度に基づい
て溶接の欠陥検出を行うためのレーザ溶接欠陥検出装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】レーザ溶接は、レーザ発振器から出力さ
れたパルス状のレーザ光を対象ワークに照射して溶接を
行うものである。レーザ溶接における溶接欠陥検査は、
検査員がオフラインにて目視や検査機器の使用により行
うことが多い。この場合、自動車製造のような大量生産
ラインでは多量箇所の検査が必要となり、検査員の負担
は大きい。また、生産ラインの生産性の観点から検査時
間は短い必要があり、溶接と並行して欠陥検査を行うこ
とが最も望ましい。
れたパルス状のレーザ光を対象ワークに照射して溶接を
行うものである。レーザ溶接における溶接欠陥検査は、
検査員がオフラインにて目視や検査機器の使用により行
うことが多い。この場合、自動車製造のような大量生産
ラインでは多量箇所の検査が必要となり、検査員の負担
は大きい。また、生産ラインの生産性の観点から検査時
間は短い必要があり、溶接と並行して欠陥検査を行うこ
とが最も望ましい。
【０００３】レーザ溶接における溶接状態のオンライン
計測技術として、以下の手法が提案されている。この手
法は、溶接箇所から溶接の過程において発生されるプラ
ズマ光あるいは音を検出器で検出し、その検出レベルに
基づいて溶接状態の正常、不良を判定するものでり、特
開平５−６６２０２に開示されている。
計測技術として、以下の手法が提案されている。この手
法は、溶接箇所から溶接の過程において発生されるプラ
ズマ光あるいは音を検出器で検出し、その検出レベルに
基づいて溶接状態の正常、不良を判定するものでり、特
開平５−６６２０２に開示されている。
【０００４】ところで、このような装置では、図３に示
すように、検出器３１は、レーザ光を対象ワーク３２に
照射するためのレーザトーチ３０に外付けされるのが普
通である。レーザトーチ３０は、レーザ光の焦点位置合
わせのためにレーザ光の光軸方向に上下動可能であり、
対象ワーク３２が特別な形状をしている場合には斜め方
向のレーザ照射が可能なように傾動可能にされている。
すように、検出器３１は、レーザ光を対象ワーク３２に
照射するためのレーザトーチ３０に外付けされるのが普
通である。レーザトーチ３０は、レーザ光の焦点位置合
わせのためにレーザ光の光軸方向に上下動可能であり、
対象ワーク３２が特別な形状をしている場合には斜め方
向のレーザ照射が可能なように傾動可能にされている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図３の
ような構成では、以下のような問題点があり、これを図
４を参照して説明する。
ような構成では、以下のような問題点があり、これを図
４を参照して説明する。
【０００６】１．レーザトーチ３０が上下変動や傾き変
動をしたとき、検出器３１の検出方向が図４中に矢印で
示すように溶接箇所からずれる場合がある。
動をしたとき、検出器３１の検出方向が図４中に矢印で
示すように溶接箇所からずれる場合がある。
【０００７】２．レーザトーチ３０が上下変動や傾き変
動をしたとき、レーザトーチ３０のヘッド部分による溶
接光の遮蔽量の変化（言い換えれば、検出器３１に届く
光量の変化）により、計測結果が多大の影響を受ける場
合がある。
動をしたとき、レーザトーチ３０のヘッド部分による溶
接光の遮蔽量の変化（言い換えれば、検出器３１に届く
光量の変化）により、計測結果が多大の影響を受ける場
合がある。
【０００８】３．対象ワーク３２が複雑な形状を持つ場
合、検出器３１の設置が困難な場合がある。
合、検出器３１の設置が困難な場合がある。
【０００９】そこで、本発明の課題は、レーザトーチの
位置や姿勢の影響を受けることなく溶接箇所からの光を
検出して欠陥検出を行うレーザ溶接欠陥検出装置を提供
することにある。
位置や姿勢の影響を受けることなく溶接箇所からの光を
検出して欠陥検出を行うレーザ溶接欠陥検出装置を提供
することにある。
【００１０】本発明は検査員の省人・省力化を図ると共
に、オンライン検査を実現できるレーザ溶接欠陥検出装
置を提供することにある。
に、オンライン検査を実現できるレーザ溶接欠陥検出装
置を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明によるレーザ溶接
欠陥検出装置は、レーザ光をレーザトーチでワークに照
射して溶接を行うレーザ溶接機において、前記レーザト
ーチの筺体内に、前記ワークに照射される前記レーザ光
の光軸と同軸になるようにして溶接部から発する溶接光
を集光する集光レンズを設け、前記集光レンズで集光さ
れた光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うよう
にしたことを特徴とする。
欠陥検出装置は、レーザ光をレーザトーチでワークに照
射して溶接を行うレーザ溶接機において、前記レーザト
ーチの筺体内に、前記ワークに照射される前記レーザ光
の光軸と同軸になるようにして溶接部から発する溶接光
を集光する集光レンズを設け、前記集光レンズで集光さ
れた光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うよう
にしたことを特徴とする。
【００１２】なお、前記集光レンズの後には、前記レー
ザ光の反射光のみを反射し、残りの光は透過する第１の
レーザ反射ミラーを設けると共に、該第１のレーザ反射
ミラーの透過光から溶接の過程で発生されるプラズマ光
のみを抽出するための第１のフィルタと、前記反射ミラ
ーの反射光から前記レーザ光の反射光のみを抽出するた
めの第２のフィルタとを設けることが好ましい。
ザ光の反射光のみを反射し、残りの光は透過する第１の
レーザ反射ミラーを設けると共に、該第１のレーザ反射
ミラーの透過光から溶接の過程で発生されるプラズマ光
のみを抽出するための第１のフィルタと、前記反射ミラ
ーの反射光から前記レーザ光の反射光のみを抽出するた
めの第２のフィルタとを設けることが好ましい。
【００１３】また、前記レーザトーチ内には、レーザ発
振源と接続したレーザ伝送ファイバからのレーザ光を反
射させて前記ワークに向けて照射する第２のレーザ反射
ミラーが設けられており、前記集光レンズは前記第２の
レーザ反射ミラーを通して前記溶接部から発する溶接光
を集光する。
振源と接続したレーザ伝送ファイバからのレーザ光を反
射させて前記ワークに向けて照射する第２のレーザ反射
ミラーが設けられており、前記集光レンズは前記第２の
レーザ反射ミラーを通して前記溶接部から発する溶接光
を集光する。
【００１４】更に、前記レーザ光は、ＹＡＧレーザ光で
あることが好ましい。
あることが好ましい。
【００１５】
【発明の実施の形態】図１、図２を参照して本発明の好
ましい実施の形態について説明する。図１において、Ｙ
ＡＧレーザ発振器１１で発生されたパルス状のレーザ光
を伝送ファイバでレーザトーチ１２へ導き、レーザトー
チ１２内のＹＡＧレーザ反射ミラー１３（第２のレーザ
反射ミラー）や図示しない光学レンズを通してワーク１
４に照射して溶接を行う。
ましい実施の形態について説明する。図１において、Ｙ
ＡＧレーザ発振器１１で発生されたパルス状のレーザ光
を伝送ファイバでレーザトーチ１２へ導き、レーザトー
チ１２内のＹＡＧレーザ反射ミラー１３（第２のレーザ
反射ミラー）や図示しない光学レンズを通してワーク１
４に照射して溶接を行う。
【００１６】本形態では、レーザトーチ１２の筺体内
に、ワーク１４に照射されるレーザ光（以下、照射レー
ザ光と呼ぶ）の光軸と同軸になるようにして溶接部から
発する光（以下、これを溶接光と呼ぶ）を集光する集光
レンズ１５を設け、この集光レンズで集光された光の強
度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うようにしたこと
を特徴とする。溶接光には、溶接の過程で発生されるプ
ラズマ光や、照射レーザ光の反射光や、周囲の光が含ま
れる。
に、ワーク１４に照射されるレーザ光（以下、照射レー
ザ光と呼ぶ）の光軸と同軸になるようにして溶接部から
発する光（以下、これを溶接光と呼ぶ）を集光する集光
レンズ１５を設け、この集光レンズで集光された光の強
度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うようにしたこと
を特徴とする。溶接光には、溶接の過程で発生されるプ
ラズマ光や、照射レーザ光の反射光や、周囲の光が含ま
れる。
【００１７】このため、集光レンズ１５の後には、溶接
部から発する溶接光のうち照射レーザ光の反射光のみを
反射し、残りの光は透過するＹＡＧ光反射ミラー１６
（第１のレーザ反射ミラー）を設けると共に、ＹＡＧ光
反射ミラー１６の透過光から溶接の過程で発生されるプ
ラズマ光のみを抽出するためのＹＡＧ光カットフィルタ
（第１のフィルタ）１７と、ＹＡＧ光反射ミラー１６の
反射光から照射レーザ光の反射光のみを抽出するための
ＹＡＧ光透過帯域フィルタ（第２のフィルタ）１８とを
設ける。
部から発する溶接光のうち照射レーザ光の反射光のみを
反射し、残りの光は透過するＹＡＧ光反射ミラー１６
（第１のレーザ反射ミラー）を設けると共に、ＹＡＧ光
反射ミラー１６の透過光から溶接の過程で発生されるプ
ラズマ光のみを抽出するためのＹＡＧ光カットフィルタ
（第１のフィルタ）１７と、ＹＡＧ光反射ミラー１６の
反射光から照射レーザ光の反射光のみを抽出するための
ＹＡＧ光透過帯域フィルタ（第２のフィルタ）１８とを
設ける。
【００１８】なお、前述したように、レーザトーチ１２
内には、ＹＡＧレーザ発振器１１からのレーザ光を反射
させてワーク１４に向けて照射するＹＡＧレーザ反射ミ
ラー１３が設けられている。このため、照射レーザ光の
反射光はＹＡＧレーザ反射ミラー１３で反射され、その
一部が漏れ反射光として集光レンズ１５で集光されるこ
とになる。言い換えれば、溶接光に含まれる照射レーザ
光の反射光は、その一部が集光レンズ１５に到達する。
内には、ＹＡＧレーザ発振器１１からのレーザ光を反射
させてワーク１４に向けて照射するＹＡＧレーザ反射ミ
ラー１３が設けられている。このため、照射レーザ光の
反射光はＹＡＧレーザ反射ミラー１３で反射され、その
一部が漏れ反射光として集光レンズ１５で集光されるこ
とになる。言い換えれば、溶接光に含まれる照射レーザ
光の反射光は、その一部が集光レンズ１５に到達する。
【００１９】以上のような構成により、ワーク１４の溶
接部から発する溶接光を照射レーザ光と同軸に設置した
集光レンズ１５で集光し、ＹＡＧ光反射ミラー１６でＹ
ＡＧ光のみを反射することでプラズマ光と反射光とに分
離する。分離後、プラズマ光はＹＡＧ光カットフィルタ
１７を通してプラズマ光以外の波長域の光がカットされ
る。ＹＡＧ光カットフィルタ１７を出た光は、フォトダ
イオード２０とアンプ２１で光強度に応じた電圧信号に
変換されて溶接状態判定処理装置２３に出力される。一
方、ＹＡＧ光反射ミラー１６からの反射光は、ＹＡＧ光
透過帯域フィルタ１８を通してＹＡＧ光以外の波長域の
光がカットされる。ＹＡＧ光透過帯域フィルタ１８を出
た光は、フォトダイオード２４とアンプ２５で光強度に
応じた電圧信号に変換されて溶接状態判定処理装置２３
に出力される。
接部から発する溶接光を照射レーザ光と同軸に設置した
集光レンズ１５で集光し、ＹＡＧ光反射ミラー１６でＹ
ＡＧ光のみを反射することでプラズマ光と反射光とに分
離する。分離後、プラズマ光はＹＡＧ光カットフィルタ
１７を通してプラズマ光以外の波長域の光がカットされ
る。ＹＡＧ光カットフィルタ１７を出た光は、フォトダ
イオード２０とアンプ２１で光強度に応じた電圧信号に
変換されて溶接状態判定処理装置２３に出力される。一
方、ＹＡＧ光反射ミラー１６からの反射光は、ＹＡＧ光
透過帯域フィルタ１８を通してＹＡＧ光以外の波長域の
光がカットされる。ＹＡＧ光透過帯域フィルタ１８を出
た光は、フォトダイオード２４とアンプ２５で光強度に
応じた電圧信号に変換されて溶接状態判定処理装置２３
に出力される。
【００２０】溶接状態判定処理装置２３は、アンプ２
１、２５からの電圧信号に基づいて欠陥検出などの判定
処理を行い、その結果を必要に応じて表示装置２６や記
憶装置２７で表示、記録する。
１、２５からの電圧信号に基づいて欠陥検出などの判定
処理を行い、その結果を必要に応じて表示装置２６や記
憶装置２７で表示、記録する。
【００２１】図２は溶接状態判定処理装置２３の構成で
ある。アンプ２１、２５からの電圧信号をＡ／Ｄコンバ
ータ２３−１でデジタル信号に変換し、ＣＰＵ２３−
２、高速信号処理プロセッサ２３−３にて予め定められ
た処理アルゴリズムに従って欠陥検出などの溶接状態の
判定を行う。このような溶接状態判定処理装置２３の構
成自体は信号処理装置として一般的であり、パソコンを
利用して容易に実現できる。
ある。アンプ２１、２５からの電圧信号をＡ／Ｄコンバ
ータ２３−１でデジタル信号に変換し、ＣＰＵ２３−
２、高速信号処理プロセッサ２３−３にて予め定められ
た処理アルゴリズムに従って欠陥検出などの溶接状態の
判定を行う。このような溶接状態判定処理装置２３の構
成自体は信号処理装置として一般的であり、パソコンを
利用して容易に実現できる。
【００２２】本形態では、溶接光を照射レーザ光とレー
ザトーチ１２の同軸上で検出する構成にして前述した問
題点を解決した。すなわち、レーザトーチ１２は、ワー
ク１４の溶接部を覆うように設置されるため、照射レー
ザ光及びレーザトーチ１２の同軸上に設置した集光レン
ズ１５は常に溶接部方向からの光を集光し、その範囲は
集光レンズ１５とレーザトーチ１２のヘッド部の開口径
により決まり、一定である。集光レンズ１５で集光した
溶接光はＹＡＧ反射ミラー１６でプラズマ光と照射レー
ザ光の反射光とに分離され、それぞれフォトダイオード
２０、２４で電気信号に変換される。しかも、２つのフ
ォトダイオード２０、２４の前面にそれぞれＹＡＧ光カ
ットフィルタ１７、ＹＡＧ光透過帯域フィルタ１８を設
置し、ＹＡＧ光反射ミラー１６の漏れ光や筐体内を回り
込んだ光などのノイズといえる光に対処することで、プ
ラズマ光と照射レーザ光の反射光をより明確に分離す
る。光電変換されプラズマ光と反射光の２種の電圧信号
を溶接状態判定処理装置２３にて処理し、欠陥検出など
の溶接状態の判定を行う。なお、欠陥検出のための処理
アルゴリズムは、例えば本願出願人によりすでに出願済
みの「レーザ溶接欠陥検出装置（特願平９−２１３２２
３号）」に開示されている。
ザトーチ１２の同軸上で検出する構成にして前述した問
題点を解決した。すなわち、レーザトーチ１２は、ワー
ク１４の溶接部を覆うように設置されるため、照射レー
ザ光及びレーザトーチ１２の同軸上に設置した集光レン
ズ１５は常に溶接部方向からの光を集光し、その範囲は
集光レンズ１５とレーザトーチ１２のヘッド部の開口径
により決まり、一定である。集光レンズ１５で集光した
溶接光はＹＡＧ反射ミラー１６でプラズマ光と照射レー
ザ光の反射光とに分離され、それぞれフォトダイオード
２０、２４で電気信号に変換される。しかも、２つのフ
ォトダイオード２０、２４の前面にそれぞれＹＡＧ光カ
ットフィルタ１７、ＹＡＧ光透過帯域フィルタ１８を設
置し、ＹＡＧ光反射ミラー１６の漏れ光や筐体内を回り
込んだ光などのノイズといえる光に対処することで、プ
ラズマ光と照射レーザ光の反射光をより明確に分離す
る。光電変換されプラズマ光と反射光の２種の電圧信号
を溶接状態判定処理装置２３にて処理し、欠陥検出など
の溶接状態の判定を行う。なお、欠陥検出のための処理
アルゴリズムは、例えば本願出願人によりすでに出願済
みの「レーザ溶接欠陥検出装置（特願平９−２１３２２
３号）」に開示されている。
【００２３】簡単に説明すると、欠陥検出のための処理
アルゴリズムは、ディジタル電圧信号からあらかじめ定
められた高周波成分を除去するためのローパスフィルタ
と、このローパスフィルタの出力を微分して微分信号を
出力するための微分処理部と、前記ディジタル電圧信号
の値が第１のしきい値Ｌ１を越えているかどうかで第１
の欠陥を検出し、前記ディジタル電圧信号の値が第１の
しきい値Ｌ１よりも低い第２のしきい値Ｌ２よりも低い
かどうかで第２の欠陥を検出するための第１の処理手段
と、前記微分信号の値が変化量０の場合を基準としてこ
の値を間にした第３のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ
４（但しＬ３＞Ｌ４）の範囲を越えているかどうかを検
出する第２の処理手段と、該第２の処理手段の検出結果
と前記第１の処理手段の検出結果とを受けて前記第２の
処理手段のみから出力がある時にこれを第３の欠陥とし
て検出する欠陥種類判別処理部とで実現される。
アルゴリズムは、ディジタル電圧信号からあらかじめ定
められた高周波成分を除去するためのローパスフィルタ
と、このローパスフィルタの出力を微分して微分信号を
出力するための微分処理部と、前記ディジタル電圧信号
の値が第１のしきい値Ｌ１を越えているかどうかで第１
の欠陥を検出し、前記ディジタル電圧信号の値が第１の
しきい値Ｌ１よりも低い第２のしきい値Ｌ２よりも低い
かどうかで第２の欠陥を検出するための第１の処理手段
と、前記微分信号の値が変化量０の場合を基準としてこ
の値を間にした第３のしきい値Ｌ３と第４のしきい値Ｌ
４（但しＬ３＞Ｌ４）の範囲を越えているかどうかを検
出する第２の処理手段と、該第２の処理手段の検出結果
と前記第１の処理手段の検出結果とを受けて前記第２の
処理手段のみから出力がある時にこれを第３の欠陥とし
て検出する欠陥種類判別処理部とで実現される。
【００２４】このような構成で、欠陥検出のための処理
アルゴリズムを、アンプ２１、２５からの２つの電圧信
号について実行することにより、より確実に欠陥検出を
行うことができる。
アルゴリズムを、アンプ２１、２５からの２つの電圧信
号について実行することにより、より確実に欠陥検出を
行うことができる。
【００２５】なお、上記の説明では、レーザ発振器とし
てＹＡＧレーザ発振器を用いているが、これに限らず、
他の例えばＣＯ2 レーザ発振器、エキシマレーザ発振器
を用いても良い。この場合、照射レーザ光の反射光の検
出が可能なように、光学系の構成や光電変換素子の選定
を行う。
てＹＡＧレーザ発振器を用いているが、これに限らず、
他の例えばＣＯ2 レーザ発振器、エキシマレーザ発振器
を用いても良い。この場合、照射レーザ光の反射光の検
出が可能なように、光学系の構成や光電変換素子の選定
を行う。
【００２６】
【発明の効果】本発明によれば次のような効果が得られ
る。
る。
【００２７】１．照射レーザ光と同軸で溶接光を集光す
るため、レーザトーチが上下変動や傾き変動をした場合
でも、常に溶接部の溶接光を検出できる。
るため、レーザトーチが上下変動や傾き変動をした場合
でも、常に溶接部の溶接光を検出できる。
【００２８】２．レーザトーチと同軸で溶接光を集光す
るため、その集光範囲は集光レンズとレーザトーチのヘ
ッド部の開口径により決まり、一定である。よって、従
来のようにレーザトーチの位置や姿勢変動時に生じる溶
接光の遮蔽量の変化（言い換えれば、集光レンズに届く
光量の変化）による計測結果への影響がない。
るため、その集光範囲は集光レンズとレーザトーチのヘ
ッド部の開口径により決まり、一定である。よって、従
来のようにレーザトーチの位置や姿勢変動時に生じる溶
接光の遮蔽量の変化（言い換えれば、集光レンズに届く
光量の変化）による計測結果への影響がない。
【００２９】３．レーザトーチ上部から照射レーザ光と
同軸で溶接光の計測ができるため、ワークの形状が複雑
でも良い。
同軸で溶接光の計測ができるため、ワークの形状が複雑
でも良い。
【００３０】４．上記の１、２、３より平面加工のみな
らず３次元加工にも適用可能である。
らず３次元加工にも適用可能である。
【００３１】５．プラズマ光と照射レーザ光の反射光と
を利用することで多角的に溶接状態が判定でき、欠陥検
出の精度が向上する。
を利用することで多角的に溶接状態が判定でき、欠陥検
出の精度が向上する。
【００３２】６．検査員の省人・省力化を実現でき、オ
ンライン計測による検査時間短縮化を図れるので、欠陥
検出自動化による生産ライン自動化（無人化）へ大きく
寄与する。
ンライン計測による検査時間短縮化を図れるので、欠陥
検出自動化による生産ライン自動化（無人化）へ大きく
寄与する。
【図１】本発明の実施の形態による溶接欠陥検出装置の
構成を示した図である。
構成を示した図である。
【図２】図１に示された溶接状態判定処理装置の構成を
示したブロック図である。
示したブロック図である。
【図３】従来装置の問題点を説明するためにレーザトー
チとそれに設けられる検出器の位置関係を示した図であ
る。
チとそれに設けられる検出器の位置関係を示した図であ
る。
【図４】図３に示された装置においてレーザトーチが移
動した場合の問題点を説明するための図である。
動した場合の問題点を説明するための図である。
１１ ＹＡＧレーザ発振器 １２、３０ レーザトーチ １３ ＹＡＧレーザ反射ミラー １４、３２ ワーク １５ 集光レンズ １６ ＹＡＧ光反射ミラー １７ ＹＡＧ光カットフィルタ １８ ＹＡＧ光透過帯域フィルタ ２０、２４ フォトダイオード ２１、２５ アンプ ３１ 検出器
Claims (4)
- 【請求項１】 レーザ光をレーザトーチでワークに照射
して溶接を行うレーザ溶接機において、 前記レーザトーチの筺体内に、前記ワークに照射される
前記レーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接部から
発する溶接光を集光する集光レンズを設け、前記集光レ
ンズで集光された光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検
出を行うようにしたことを特徴とするレーザ溶接欠陥検
出装置。 - 【請求項２】 請求項１記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記集光レンズの後に、前記レーザ光の反射
光のみを反射し、残りの光は透過する第１のレーザ反射
ミラーを設けると共に、該第１のレーザ反射ミラーの透
過光から溶接の過程で発生されるプラズマ光のみを抽出
するための第１のフィルタと、前記反射ミラーの反射光
から前記レーザ光の反射光のみを抽出するための第２の
フィルタとを設けたことを特徴とするレーザ溶接欠陥検
出装置。 - 【請求項３】 請求項２記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記レーザトーチ内には、レーザ発振源と接
続したレーザ伝送ファイバからのレーザ光を反射させて
前記ワークに向けて照射する第２のレーザ反射ミラーが
設けられており、前記集光レンズは前記第２のレーザ反
射ミラーを通して前記溶接部から発する溶接光を集光す
ることを特徴とするレーザ溶接欠陥検出装置。 - 【請求項４】 請求項３記載のレーザ溶接欠陥検出装置
において、前記レーザ光は、ＹＡＧレーザ光であること
を特徴とするレーザ溶接欠陥検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09298121A JP3136556B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | レーザ溶接機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09298121A JP3136556B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | レーザ溶接機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11129082A true JPH11129082A (ja) | 1999-05-18 |
| JP3136556B2 JP3136556B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=17855453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09298121A Expired - Lifetime JP3136556B2 (ja) | 1997-10-30 | 1997-10-30 | レーザ溶接機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3136556B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005246434A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Osaka Industrial Promotion Organization | レーザスポット溶接における穴欠陥の防止または修復方法および装置 |
| CN106583961A (zh) * | 2017-03-01 | 2017-04-26 | 湖南泰嘉新材料科技股份有限公司 | 连续焊接焊缝监测探头、焊缝监测系统及方法 |
-
1997
- 1997-10-30 JP JP09298121A patent/JP3136556B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005246434A (ja) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Osaka Industrial Promotion Organization | レーザスポット溶接における穴欠陥の防止または修復方法および装置 |
| CN106583961A (zh) * | 2017-03-01 | 2017-04-26 | 湖南泰嘉新材料科技股份有限公司 | 连续焊接焊缝监测探头、焊缝监测系统及方法 |
| CN106583961B (zh) * | 2017-03-01 | 2023-10-24 | 湖南泰嘉新材料科技股份有限公司 | 连续焊接焊缝监测探头、焊缝监测系统及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3136556B2 (ja) | 2001-02-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3227650B2 (ja) | レーザ溶接機及びレーザ溶接状態監視方法 | |
| JP5043881B2 (ja) | レーザ溶接モニタ装置及びレーザ溶接モニタ方法 | |
| JP2001509889A (ja) | レーザー機械加工に関連する保護ガラスの状態を検査するための方法及び装置 | |
| US11975410B2 (en) | Laser welding quality inspection method and laser welding quality inspection apparatus | |
| US4933541A (en) | Method and apparatus for active vision image enhancement with wavelength matching | |
| CN117729983A (zh) | 用于监控激光焊接工艺的方法及相关激光焊接系统 | |
| JP3368427B2 (ja) | レーザ加工状態計測装置 | |
| JPS626789A (ja) | レ−ザ溶接機 | |
| JP3184966B2 (ja) | レーザ溶接状態計測装置 | |
| JP3136556B2 (ja) | レーザ溶接機 | |
| JP2021186848A (ja) | レーザ加工装置 | |
| JP3184962B2 (ja) | レーザ溶接の溶接状態検出方法 | |
| JP3385502B2 (ja) | レーザ溶接欠陥検出装置及び検出方法 | |
| JPH07185855A (ja) | レーザ溶接の溶接品質管理方法 | |
| JP4026404B2 (ja) | レーザー溶接部の品質モニタリング方法およびその装置 | |
| JP3355546B2 (ja) | レーザ溶接欠陥検出装置及び欠陥検出方法 | |
| JP2010094693A (ja) | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 | |
| JP2004066266A (ja) | レーザ溶接品質検査方法及び装置 | |
| KR20220145181A (ko) | 통합형 레이저 용접 품질 검사 장치 | |
| JP4441129B2 (ja) | レーザスポット重ね溶接における溶接状態判定方法および装置 | |
| KR20170133202A (ko) | 레이저 용접 품질 검사 방법 및 장치 | |
| JP7296769B2 (ja) | スパッタ検出装置、レーザ加工装置およびスパッタの検出方法 | |
| JPH11216583A (ja) | レーザ溶接欠陥検出装置およびレーザ溶接欠陥検出方法 | |
| JP2007024638A (ja) | レーザートーチの検査システムおよび検査方法 | |
| JP2001219287A (ja) | レーザ溶接の監視方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20001108 |
|
| S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071208 Year of fee payment: 7 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081208 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081208 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091208 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101208 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101208 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111208 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111208 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121208 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121208 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131208 Year of fee payment: 13 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |