JPH11120362A - 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 - Google Patents

画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体

Info

Publication number
JPH11120362A
JPH11120362A JP9305050A JP30505097A JPH11120362A JP H11120362 A JPH11120362 A JP H11120362A JP 9305050 A JP9305050 A JP 9305050A JP 30505097 A JP30505097 A JP 30505097A JP H11120362 A JPH11120362 A JP H11120362A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
setting
criterion
image processing
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9305050A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Suzuki
孝司 鈴木
Yukihiro Komatsu
幸広 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co filed Critical Omron Corp
Priority to JP9305050A priority Critical patent/JPH11120362A/ja
Publication of JPH11120362A publication Critical patent/JPH11120362A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Image Analysis (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 処理対称物の画像から処理対称物の良否を判
定する画像処理装置に関し、良否の判定基準を自動的に
作成することを目的とする。 【解決手段】 複数の処理対称物の画像をサンプル画像
として記憶する記憶手段11と、複数のサンプル画像に
評価値を付与する評価値付与手段13と、サンプル画像
および評価値に基づいて処理対象物を判定するための判
定基準を設定する判定基準設定手段8とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、複数の処理対称物
の画像から処理対称物の良否等の判定を行うための判定
基準を設定する画像処理装置及び方法並びに判定基準設
定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、検査対象となる処理対称物をカメ
ラで撮像し、得られた撮像画像と予めメモリに登録した
モデル画像等の判定基準とを比較し、その比較結果に基
づいて処理対称物の良否を決定する画像処理装置が知ら
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような画像処理装
置では、判定基準を作成するために予め良品サンプルの
画像をモデル画像メモリに記憶し、この画像から処理対
称物の回転角度を検出するための回転モデル画像を作成
したり、処理対象となる領域を設定したり、特徴量を抽
出するための特徴量抽出アルゴリズムを選定したり、特
徴量の判定値を設定したりするなどの準備作業が必要で
あった。
【0004】しかも、これらの準備作業は作業者がマニ
ュアル操作にて行うため、判定基準の作成に工数がかか
るうえ、作業者の経験と判断力とに基づいて作成される
ために、作業者によって異なる判定基準が作成されると
いう不都合が生じていた。
【0005】本発明は、このような従来の課題を解決す
るためになされたもので、判定基準を自動的に作成する
ことができる画像処理装置及び方法並びに判定基準設定
プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
画像処理装置は、複数の処理対称物の画像をサンプル画
像として記憶する記憶手段と、複数のサンプル画像に評
価値を付与する評価値付与手段と、サンプル画像および
評価値に基づいて処理対象物を判定するための判定基準
を設定する判定基準設定手段とを備えるものである。
【0007】本発明の請求項2記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、判定基準設定手段は画像
の回転範囲を設定する手段である。
【0008】本発明の請求項3記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、判定基準設定手段はサン
プル画像上の所定領域を設定する手段である。
【0009】本発明の請求項4記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、判定基準設定手段は画像
の特徴量を抽出する特徴量抽出アルゴリズムを設定する
手段である。
【0010】本発明の請求項5記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、判定基準設定手段は評価
値が所定値を満たすサンプル画像に基づいて判定基準を
設定する手段である。
【0011】本発明の請求項6記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、評価値付与手段は処理対
称物の良・不良を示す評価値を付与する手段である。
【0012】本発明の請求項7記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、評価値付与手段はサンプ
ル画像の所定位置または所定文字を指定する手段であ
る。
【0013】本発明の請求項8記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、評価値付与手段で付与し
た評価値および判定基準設定手段で設定した判定基準を
表示する表示手段および調整手段を備えるものである。
【0014】本発明の請求項9記載の画像処理装置は、
請求項1記載の発明において、サンプル画像に修正を加
える画像修正手段を備えるものである。
【0015】本発明の請求項10記載の画像処理方法
は、複数の処理対称物の画像を記憶し、複数のサンプル
画像に評価値を付与し、サンプル画像および評価値に基
づいて処理対象物を判定するための判定基準を設定する
ものである。
【0016】本発明の請求項11記載の判定基準設定プ
ログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体は、複
数の処理対称物の画像を記憶する手順と、複数のサンプ
ル画像に評価値を付与する手順と、サンプル画像および
評価値に基づいて処理対象物を判定するための判定基準
を設定する手順とからなるものである。
【0017】本発明による画像処理装置及び方法によれ
ば、複数のサンプル画像とその評価値、例えば良品また
は不良品の評価値から、判定領域、回転角度、特徴量抽
出アルゴリズム、判定値等の判定基準を短時間に自動的
に設定することができる。
【0018】また、本発明による判定基準設定プログラ
ムを記録した機械読み取り可能な記録媒体を用いて判定
基準を設定すれば、複数のサンプル画像とその評価値、
例えば良品または不良品の評価値から、判定領域、回転
角度、特徴量抽出アルゴリズム、特徴量判定値等の判定
基準を短時間に自動的に設定することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】図1は、本発明による画像処理装
置の一実施の形態を示すブロック図である。本実施の形
態による画像処理装置は、検査の対象となる処理対象物
(以下、ワーク、という)を撮像してその映像信号を出
力するビデオカメラ等のカメラ1、映像信号を画像デー
タに変換するA/D変換器を含む画像入力部2、画像入
力部2からの画像データを記憶する画像メモリ3を備え
る。
【0020】また、画像メモリ3から出力される画像デ
ータを映像信号に変換するD/A変換器を含む画像出力
部4、この映像信号を表示制御部5の制御のもとに表示
するモニタ6を備える。
【0021】また、画像メモリ3はバス7を介して中央
処理装置(CPU)8、プログラムメモリ(ROM)
9、一時記憶メモリ(RAM)10に接続されている。
また、バス7には複数の良品および不良品サンプルの画
像を記憶するファイリングメモリ11、処理対象物の良
否を判定するための判定基準を記憶する判定基準メモリ
12、インターフェイスを介して接続されるキーボード
などの操作部13が接続されている。
【0022】CPU8はROM9に記憶したプログラム
データに従って判定基準の作成および判定基準に基づく
ワークの良否判定等の処理を行う。なお、CPU8を制
御する判定基準設定プログラムなどのプログラムデータ
はROM9に予め記憶されているが、フロッピーディス
ク等の外部記録媒体に記録し、読取装置によってRAM
10内にロードするようにしてもよい。
【0023】CPU8で行う判定基準の設定処理として
は、前処理設定、回転範囲設定、判定領域設定、特徴量
抽出アルゴリズム設定、判定値設定などがある。特徴量
抽出アルゴリズムとしては、パターンマッチングによる
相関値抽出、2値化画像処理による2値面積抽出があ
る。
【0024】次に、図2に示すフローチャート図を参照
しながら、判定基準の作成処理について説明する。ま
ず、複数のワークの中から任意のサンプルを複数個選び
出し、カメラ1によって順次撮像し、得られたサンプル
画像をファイリングメモリ11に記憶する(ステップS
1〜S2)。なお、ワークの個数が少ない場合は、全て
のワークを記憶するようにしてもよい。
【0025】次いで、ファイリングメモリ11に記憶し
たサンプル画像の中から任意の画像をモニタ6に表示
し、操作部13によって検査対象とする判定領域を指定
し、その位置を登録する(ステップS3)。
【0026】次いで、ファイリングメモリ11に記憶し
た全てのサンプル画像をモニタ6に表示し(ステップS
4)、その画像を見ながらユーザが操作部13から各ワ
ークに対する評価値を良品(OK)または不良品(N
G)として入力する(ステップS5〜S6)。
【0027】次いで、判定基準となる各基準データの設
定処理を行う(ステップS7)。この設定処理では、前
述した前処理設定、回転範囲設定、判定領域設定、特徴
量抽出アルゴリズム設定、判定値設定などを行う。設定
した各基準データは判定基準メモリ12に格納する。
【0028】<前処理設定>次に、図3に示すフローチ
ャート図を参照しながら、基準データ設定処理(ステッ
プS7)における前処理設定について説明する。前処理
には平滑化、エッジ強調、エッジ抽出など各種の方法が
ある。画像の計測を行うには、それぞれに適した前処理
を選択することが必要となる。従来はユーザが知識と経
験とに基づいて最適と思う前処理を選択しているが、本
発明では蓄積したサンプル画像およびそのOK/NG情
報に基づいて前処理を自動的に選択する。
【0029】まず、この画像処理装置で使用できる前処
理(平滑化、エッジ強調、エッジ抽出など)から一つを
選択する(ステップS11)。次いで、ファイリングメ
モリ11に蓄積した全サンプル画像に対し、選択した前
処理を実行し、ファイリングメモリ11の他の領域に格
納する(ステップS12)。
【0030】次いで、良品(OK)の前処理画像の全て
に対し互いのパターンマッチングを取り、相関値の分布
範囲Aを調べる(ステップS13)。また、不良品(N
G)の前処理画像に対して良品の前処理画像の一つとパ
ターンマッチングを取り、相関値の分布範囲Bを調べる
(ステップS14)。
【0031】こうして得た良品同士の相関値の分布範囲
Aと、良品および不良品間の相関値の分布範囲Bとが重
なっているか否かを調べ(ステップS15)、重なる場
合は良品と不良品との区別がつかないことになるので、
この前処理は不適として他の前処理を選択し(ステップ
S16〜S17)、前述したステップS12〜S15の
処理を繰り返す。
【0032】ここで、分布範囲Aと分布範囲Bとが重な
っているか否かを調べる具体的な方法について説明す
る。ワーク画像の有限個の集合をWとし、その中の良品
の集合をO、不良品の集合をNとする。また、画像同士
の相関値を、
【0033】
【数1】 とする。Rは実数の集合である。
【0034】良品同士の相関値分布範囲Aと、良品と不
良品の相関値分布範囲Bとは、
【0035】
【数2】 で表される。ここで、相関値分布範囲AとBとが重なっ
ているかどうかを判定する方法は次のように行う。
【0036】集合O,Nともに要素は有限個であるか
ら、分布範囲A,Bはそれぞれ実数値の有限な集合であ
る。従って、分布範囲A,Bはそれぞれ値が最大の要素
max(A),max(B)と、値が最小の要素min(A),min
(B)とが存在する。ここで、 max(A)<min(B)であれば、ある判定値kが存在
し、全ての良品同士の相関値aと、全ての良品と不良品
の相関値bは、
【0037】
【数3】 である。
【0038】 min(A)>max(B)であれば、ある判
定値kが存在し、全ての良品同士の相関値aと、全ての
良品と不良品の相関値bは、
【0039】
【数4】 である。
【0040】前記またはの場合、相関値分布範囲A
と相関値分布範囲Bとが重なっていないといえる。両分
布範囲A,Bが重ならない場合は(ステップS15)、
その前処理を選択し、その結果をモニタ6に表示し(ス
テップS18)、処理を終了する。全ての前処理を試み
たが駄目だった場合は(ステップS16)、前処理「O
FF」として処理を終了し、その結果をモニタ6に表示
する(ステップS18)。ユーザはこの画面を見ながら
操作部13によって微調整を行う。微調整の対象は画像
前処理方法における前処理アルゴリズムの選択や前処理
パラメータである。
【0041】図4は、モニタ6に表示された前処理結果
の一覧表で、ワーク0とのパターンマッチングによる相
関値を示している。横軸に前処理の種類(OFF、平滑
化弱、平滑化強、エッジ強調1、エッジ強調2、エッジ
強調3、エッジ抽出等)、縦軸にワーク0からワーク5
のOK/NGを示す。
【0042】ワーク毎に前処理「OFF」の場合は相関
値がいくらになるか、「平滑化弱」の場合は相関値がい
くらになるかを、ワーク0を基準(100)に表してい
る。自動設定した前処理は太枠で表し、この例では「平
滑化強」が設定されていることを表している。
【0043】また、前処理設定時における「OK結果最
大値」、「OK結果最小値」、「NG結果最大値」、
「NG結果最小値」を表示する。判定値を決める場合、
良品の分布する数値および範囲が重ならない前処理を選
ぶ必要がある。
【0044】どの前処理が適しているかは自動的に設定
されるので、設定された前処理と他の前処理とはどのよ
うになっているかを知ることができる。この例では、自
動的に設定した「平滑化強」が好ましいことを表してい
る。前処理の変更は操作部13で太枠を移動させること
で行うことができる。
【0045】<回転範囲設定>次に、図5に示すフロー
チャート図を参照しながら、回転範囲設定処理の手順に
ついて説明する。一般にワークは回転方向が不揃いの状
態で搬送されてくるので、撮像画像から回転角度を検出
し、回転補正を行った後に判定処理を実行するようにし
ている。
【0046】このため、従来は一定の角度刻みで1回転
分のモデル画像(例えば5度刻みであれば72個のモデ
ル画像)を生成し、ワークの画像と全モデル画像とを比
較して回転角度を検出していた。しかし、これでは処理
速度が遅くなるので、本発明ではサンプル画像およびそ
のOK/NG情報に基づいて最適な回転範囲を自動的に
設定する。
【0047】まず、ファイリングメモリ11に蓄積した
良品画像の一つを選択し、一定の角度刻み、例えば5度
刻みで360度分のモデル画像を生成する(ステップS
21)。次いで、ファイリングメモリ11に蓄積した全
ての良品画像をモデル画像でサーチし回転角度を検出す
る(ステップS22)。
【0048】次いで、全良品画像の角度分布から最適な
回転範囲を求め、その範囲内のモデル画像のみを回転角
度の検出に用いるように設定する(ステップS23)。
設定結果はモニタ6に表示される(ステップS24)。
【0049】図6は、モニタ6に表示される回転範囲の
設定結果の一覧表である。良品であるワーク0を基準に
他の良品ワーク2,3,5がどの程度回転するかを求
め、またその相関値を求めている。そして、回転角度の
下限(ここでは−2度)と上限(ここでは+12度)と
から若干多めに回転範囲を求め、ここでは−5度〜+1
5度に設定している。
【0050】回転刻みについては自動的に設定される
が、大きくすると相関値が低くなってしまい、小さくす
ると相関値は上がるが処理速度が遅くなる。この例では
3度に設定されているが、ユーザは画面を見ながら操作
部13によって回転刻みをマニュアルで変更することが
できる。CPU8は変更後の回転刻みに基づいて計測を
再実行し、回転角度、相関値、回転範囲を更新する。
【0051】<特徴量抽出アルゴリズム・判定値設定>
次に、図7および図8に示すフローチャート図を参照し
ながら、特徴量抽出アルゴリズムおよび判定値の設定手
順について説明する。
【0052】計測に用いる特徴量は良品の形状が定形か
不定形かによって定める。良品の形状が定形であればパ
ターンマッチングにより形の異なる不良品を検査するこ
とが可能である。しかし、良品の形状が不定形であれば
パターンマッチングにより形状検査を行っても意味がな
いため、2値化画像処理によって大きさ・重心位置など
をもとに検査を行う。
【0053】まず、サンプル画像には良品画像と不良品
画像とが存在するので、特徴量抽出アルゴリズムとして
パターンマッチングを仮に選択する(ステップS3
1)。そして、ファイリングメモリ11に蓄積した良品
画像において各サンプル画像に対して相関値を求める
(ステップS32)。
【0054】その結果、良品同士の相関値の分布範囲が
予め決められた範囲kよりも小さければ安定しているの
で(ステップS33)、良品と不良品の相関値の分布範
囲を計測する(ステップS34)。
【0055】そして、良品同士の相関値の最小値が所定
値J以上で(ステップS35)、良品と不良品の相関値
の最大値が所定値J未満ならば(ステップS36)、ア
ルゴリズムとしてパターンマッチングを選択し、値Jを
判定値とする(ステップS37)。
【0056】次いで、判定値Jで良品画像を計測し(ス
テップS38)、計測結果がOKにならなければ、良品
画像同士の相関値の最小値より低い値に判定値を調整し
(ステップS39〜S40)、計測を繰り返す。
【0057】OKになれば(ステップS39)、調整し
た判定値で不良品画像を計測し(ステップS41)、そ
の結果がNGであれば(ステップS42)、特徴量抽出
アルゴリズムとしてパターンマッチングによる相関値抽
出方法に決定し、調整した判定値を設定する。
【0058】ステップS33で相関値が安定していない
場合、すなわち良品同士の相関値分布範囲が予め決めら
れた範囲kよりも広い場合、あるいはステップS35〜
S36で条件を満たす所定値Jを求めることができない
場合、またはステップS42で不良品画像がNGになら
ない場合は、特徴量抽出アルゴリズムとして2値化画像
処理を選択する(ステップS51)。
【0059】そして、ファイリングメモリ11に蓄積し
た全サンプル画像に対して特徴量である2値面積を抽出
する(ステップS52)。2値面積が安定していれば
(ステップS53)、不良品画像を計測して良品画像の
面積値と比較し、次式から面積判定値を求める(ステッ
プS54)。
【0060】(面積判定値)={(良品の面積)+(不良
品の面積)}/2 この面積判定値で良品画像を計測し(ステップS5
5)、安定していれば(ステップS56)、この面積判
定値を判定値として設定し、特徴量抽出アルゴリズムと
して2値化画像処理を選択する。
【0061】ステップS53で2値面積が安定しない場
合、またはステップS56で計測値が安定しない場合
は、この画像処理装置による判定基準の作成処理はでき
ないと判断し(ステップS57)、全ての処理を終了す
る。2値面積を求めるためには2値化レベルを決める必
要があるが、微少な2値化レベルの変化に対して2値面
積が大きく変動するようでは2値面積は不安定であると
いえる。
【0062】図9は、モニタ6に表示される各検査領域
における特徴量抽出アルゴリズムおよびそれによる特徴
量を表す一覧表である。良品であるワーク0を基準に他
のワーク1〜4が判定領域毎にどの特徴量抽出アルゴリ
ズムでどのような特徴量を取るか、ユーザがどのように
OK/NG判定をしたかを示している。領域0および領
域2はパターンマッチングの相関値を示し、領域1は2
値化画像処理の面積値を示している。
【0063】縦軸上の2つの欄である「判定値上限」お
よび「判定値下限」は自動設定された判定値の上限・下
限を示している。この項目はユーザがマニュアルで変更
することができ、他の項目は計測値を表している。計測
結果とユーザが設定した判定値の上下限値とを見比べ
て、一致しない場合は反転表示され(ワーク2の領域2
における相関値)、判定値を厳しくしたり、緩くしたり
する微調整を行う。
【0064】図10は、ワーク0〜5の判定領域mにお
ける2値面積の計測値と判定結果を示す一覧表で、判定
値が2000〜3000のときのOK/NGを示してい
る。ユーザが判定値を変更すると、ワーク毎の判定も対
応して変化する。
【0065】<計測時間・誤判定度・計測精度の変更>
図11は、モニタ6に表示される計測時間・計測精度・
誤判定度等の検査設定表示の画面である。この例では、
計測時間520ms、計測精度±300pix 、誤判定度0
となっている。これらの数値はユーザが操作部13から
変更することができる。
【0066】誤判定度は良品と不良品とを間違える度合
いで、良品・不良品の分布範囲の間隔が計測精度の2倍
より大きければゼロとし、計測精度の2倍より小さけれ
ばこの差の絶対値を誤判定度とする。
【0067】計測精度は計測した相関値や2値面積がど
の程度安定しているかを数値で保証するもので、各画像
について、 (全画素計測結果)−(一定間隔おいた画素の計測結
果)×(間隔)2 の絶対値を求め、その最大値とする。
【0068】計測時間は計測値の精度と引き換えに短く
することができる。例えば2値面積で計測するのであれ
ば、領域内の全ての画素を計測するのではなく、1画素
または2画素おきに代表点を抽出し、その画素のみを計
測する。1画素おきであれば計測時間は4分の一となる
が、精度は落ちる。また、相関値で計測するのであれ
ば、パターンマッチングを1画素または2画素おきに飛
び越して行う。この場合も精度は落ちるが計測時間は速
くなる。
【0069】良品の計測値と不良品の計測値とに大きな
開きがある検査の場合は、精度を落しても良品と不良品
との判定を誤ることは少ない。通常、サンプルとして登
録された画像を計測し、その計測値の分布範囲からサン
プル画像の誤判定度がゼロになる範囲で処理速度が最大
になるように間引き間隔を自動的に設定する。
【0070】2値面積では、次の方式に従い、現在設定
されている間隔から計測時間、計測精度、誤判定度を求
めて画面に表示し、また、ユーザが調整した計測時間、
計測精度、誤判定度から間隔を逆算して設定する。
【0071】(計測時間)={(計測領域面積)×(1画
素当りの処理時間)}÷(計測間引き間隔)2 その式を上記する。
【0072】<設定した判定基準によるチェック>以上
の手順により、サンプル画像を用いて判定基準を設定す
ると、設定内容を確認するために複数のサンプル画像に
ついてチェックする。図12はその様子を示す図面で、
ワーク0〜2の各4つの検査領域について、OK/NG
の箇所を視覚的に区別しやすい表現を用いることで、多
くのサンプル画像の検査箇所について確実に素早くチェ
ックすることができる。
【0073】この例では、ワーク0は4つの検査箇所の
全てがOKであるので、OKと判定される。ワーク1は
4つの検査箇所のうち1つがNG(抜け)であるので、
NGと判定される。ワーク2は4つの検査箇所のうち1
つがNG(異種混入)であるので、NGと判定される。
【0074】<他の実施の形態>また、前述の実施の形
態では、複数のワークの中から良品および不良品を選び
出し、それらのサンプル画像から判定基準を設定するよ
うにしたが、ラインの立ち上げ段階では、不良品を入手
できない場合が多い。そこで、このような場合には、図
13に示すように、良品画像に将来生じると推定される
欠陥を付加し、不良品のサンプル画像として用いるよう
にしてもよい。この例では、良品画像(a)にOKとみ
なす欠陥を追加した画像(b)、NG欠陥を追加した画
像(c,d)を示している。
【0075】また、前述の実施の形態では、判定領域の
設定をユーザがマニュアルにて行うようにしたが(ステ
ップS3)、図14に示すように、良品画像同士の類似
点、良品画像および不良品画像間の相違点から判定領域
を自動的に設定するようにしてもよい。
【0076】また、前述の実施の形態では、ユーザがサ
ンプル画像の良否(OK/NG)を入力するようにした
が(ステップS5)、NG入力に代えて、図15に示す
ように、サンプル画像の欠陥位置をカーソルで指定する
ようにしてもよい。これをもとに内部の処理手順および
パラメータなどを自動設定し、ユーザが思う通りの検査
を行えるようにしてもよい。
【0077】また、図16に示すように、ユーザがサン
プル画像の中から読み取りたい文字列を指定すると、こ
れをもとに画像から文字部分を切り出し、同じ文字と指
定された画像のばらつきを考慮し、アルゴリズム、読取
領域、パラメータを自動設定するようにしてもよい。こ
れにより、従来の文字読取装置の「文字切り出し→辞書
登録→検査領域登録」という面倒な設定手順を簡略化で
きる。
【0078】また、前述の実施の形態では、ワークの回
転範囲を自動的に設定するようにしたが、良品ワークに
ついて位置をマニュアル登録し、例えば、図17(a)
に示す例では、破線枠で示すように良品ワークの対向す
る2隅をモデル登録し、図(b)〜(d)に示す他のワ
ークをサーチして位置修正するようにしてもよい。
【0079】
【発明の効果】本発明による画像処理装置及び方法によ
れば、複数のサンプル画像とその評価値、例えば良品ま
たは不良品の評価値から、判定領域、回転角度、特徴量
抽出アルゴリズム、判定値等の判定基準を短時間に自動
的に設定することができる。
【0080】また、本発明による判定基準設定プログラ
ムを記録した機械読み取り可能な記録媒体を用いて判定
基準を設定すれば、複数のサンプル画像とその評価値、
例えば良品または不良品の評価値から、判定領域、回転
角度、特徴量抽出アルゴリズム、特徴量判定値等の判定
基準を短時間に自動的に設定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による画像処理装置の一実施の形態を示
すブロック図である。
【図2】判定基準の作成手順を示すフローチャート図で
ある。
【図3】前処理設定の手順を示すフローチャート図であ
る。
【図4】モニタに表示される前処理結果の一覧表であ
る。
【図5】回転範囲設定の手順を示すフローチャート図で
ある。
【図6】モニタに表示される回転範囲の設定結果の一覧
表である。
【図7】特徴量抽出アルゴリズムおよび判定値の設定手
順を示すフローチャート図(その1)である。
【図8】特徴量抽出アルゴリズムおよび判定値の設定手
順を示すフローチャート図(その2)である。
【図9】モニタに表示された領域毎の特徴量抽出アルゴ
リズムおよび特徴量を表す一覧表である。
【図10】領域mにおけるワーク0〜5の2値面積の計
測値と判定結果を示す一覧表である。
【図11】モニタに表示される計測時間・計測精度・誤
判定度の設定表示画面である。
【図12】モニタに表示される設定内容確認のためのチ
ェック結果を示す画面である。
【図13】良品画像の一部を編集して欠陥を追加した画
像である。
【図14】判定領域を自動的に設定するときの説明図で
ある。
【図15】モニタに表示されるサンプル画像の欠陥位置
を指定する画面である。
【図16】モニタに表示されるサンプル画像から読取り
文字列を指定する画面である。
【図17】ワークの回転修正をマニュアル設定するとき
の説明図である。
【符号の説明】
1 カメラ 2 画像入力部 3 画像メモリ 4 画像出力部 5 表示制御部 6 モニタ 7 バス 8 CPU 9 ROM 10 RAM 11 ファイリングメモリ 12 判定基準メモリ 13 操作部

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の処理対称物の画像をサンプル画像
    として記憶する記憶手段と、 前記複数のサンプル画像に評価値を付与する評価値付与
    手段と、 前記サンプル画像および前記評価値に基づいて前記処理
    対象物を判定するための判定基準を設定する判定基準設
    定手段と、を備えることを特徴とする画像処理装置。
  2. 【請求項2】 前記判定基準設定手段は、画像の回転範
    囲を設定する手段であることを特徴とする請求項1記載
    の画像処理装置。
  3. 【請求項3】 前記判定基準設定手段は、サンプル画像
    上の所定領域を設定する手段であることを特徴とする請
    求項1記載の画像処理装置。
  4. 【請求項4】 前記判定基準設定手段は、画像の特徴量
    を抽出する特徴量抽出アルゴリズムを設定する手段であ
    ることを特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  5. 【請求項5】 前記判定基準設定手段は、前記評価値が
    所定値を満たすサンプル画像に基づいて判定基準を設定
    する手段であることを特徴とする請求項1記載の画像処
    理装置。
  6. 【請求項6】 前記評価値付与手段は、前記処理対称物
    の良・不良を示す評価値を付与する手段であることを特
    徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  7. 【請求項7】 前記評価値付与手段は、前記サンプル画
    像の所定位置または所定文字を指定する手段であること
    を特徴とする請求項1記載の画像処理装置。
  8. 【請求項8】 前記評価値付与手段で付与した評価値お
    よび前記判定基準設定手段で設定した判定基準を表示す
    る表示手段および調整手段を備えることを特徴とする請
    求項1記載の画像処理装置。
  9. 【請求項9】 前記サンプル画像に修正を加える画像修
    正手段を備えることを特徴とする請求項1記載の画像処
    理装置。
  10. 【請求項10】 複数の処理対称物の画像を記憶し、 前記複数のサンプル画像に評価値を付与し、 前記サンプル画像および前記評価値に基づいて前記処理
    対象物を判定するための判定基準を設定することを特徴
    とする画像処理方法。
  11. 【請求項11】 複数の処理対称物の画像を記憶する手
    順と、 前記複数のサンプル画像に評価値を付与する手順と、 前記サンプル画像および前記評価値に基づいて処理対象
    物を判定するための判定基準を設定する手順と、からな
    る判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能
    な記録媒体。
JP9305050A 1997-10-21 1997-10-21 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体 Pending JPH11120362A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9305050A JPH11120362A (ja) 1997-10-21 1997-10-21 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9305050A JPH11120362A (ja) 1997-10-21 1997-10-21 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11120362A true JPH11120362A (ja) 1999-04-30

Family

ID=17940519

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9305050A Pending JPH11120362A (ja) 1997-10-21 1997-10-21 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11120362A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6970588B1 (en) 1999-09-30 2005-11-29 Omron Corporation Image processing apparatus, image processing method and visual inspection system
JP2006260410A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Sharp Corp 画像処理アルゴリズムの評価装置、生成装置、評価方法、生成方法、コンピュータをその評価装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータをその生成装置として機能させるためのプログラム
JP2010081228A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Omron Corp 画像処理装置およびそれにおける画像処理方法
JP2020067308A (ja) * 2018-10-22 2020-04-30 キヤノン株式会社 画像処理方法および画像処理装置
JP2020190861A (ja) * 2019-05-21 2020-11-26 株式会社日立製作所 画像検索装置、画像検索方法
CN112088395A (zh) * 2018-06-07 2020-12-15 欧姆龙株式会社 图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6970588B1 (en) 1999-09-30 2005-11-29 Omron Corporation Image processing apparatus, image processing method and visual inspection system
JP2006260410A (ja) * 2005-03-18 2006-09-28 Sharp Corp 画像処理アルゴリズムの評価装置、生成装置、評価方法、生成方法、コンピュータをその評価装置として機能させるためのプログラム、およびコンピュータをその生成装置として機能させるためのプログラム
JP2010081228A (ja) * 2008-09-25 2010-04-08 Omron Corp 画像処理装置およびそれにおける画像処理方法
CN112088395A (zh) * 2018-06-07 2020-12-15 欧姆龙株式会社 图像处理装置、图像处理方法以及图像处理程序
CN112088395B (zh) * 2018-06-07 2024-01-16 欧姆龙株式会社 图像处理装置、图像处理方法以及计算机可读存储介质
JP2020067308A (ja) * 2018-10-22 2020-04-30 キヤノン株式会社 画像処理方法および画像処理装置
JP2020190861A (ja) * 2019-05-21 2020-11-26 株式会社日立製作所 画像検索装置、画像検索方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100361244B1 (ko) 화상 처리 장치 및 방법, 화상 처리를 위한 프로그램을기억한 매체 및 검사장치
JP2002008013A (ja) 外観検査プログラム作成装置およびその方法
JP2005250556A (ja) トリミング処理方法および装置並びにプログラム
CN113167742B (zh) 混凝土构造物的点检辅助装置、点检辅助方法及记录介质
JPWO2016174926A1 (ja) 画像処理装置及び画像処理方法及びプログラム
JP2760250B2 (ja) ピンホール検査装置
JP2010071951A (ja) 視覚検査装置および視覚検査方法
JP3533722B2 (ja) 不良検査方法およびその装置
JP2010133744A (ja) 欠陥検出方法およびその方法を用いた視覚検査装置
JPH11120362A (ja) 画像処理装置及び方法並びに判定基準設定プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体
JP2002140693A (ja) 画像処理パラメータ決定装置、画像処理パラメータ決定方法および画像処理パラメータ決定プログラムを記録した記録媒体
CN114092542B (zh) 一种基于二维视觉的螺栓测量方法以及系统
JP3788586B2 (ja) パターン検査装置および方法
JP2000003436A (ja) Isar画像識別装置およびisar画像識別方法
JP2001314374A (ja) 角膜内皮細胞測定装置
JPH064669A (ja) 濃淡画像のパターンマッチング装置
JP3127598B2 (ja) 画像中の濃度変動構成画素抽出方法および濃度変動塊判定方法
JP3427230B2 (ja) 画像処理装置
JPH0310107A (ja) 濃淡パターンマッチングによる検査方法
JP2000329594A (ja) データ収集処理装置およびデータ収集処理用プログラムが記録された記録媒体
JPH10143673A (ja) 画像処理装置
JP2004070949A (ja) 画像処理装置および方法,画像処理のためのプログラムを記憶した媒体,ならびに検査装置
JP3041056B2 (ja) 半導体ペレットの検出方法
JPH1153564A (ja) 画像処理装置および回転角度検出プログラムを記録した機械読み取り可能な記録媒体
JPH08193959A (ja) 検査対象物の表面傷検出装置及び方法