JPH1096689A

JPH1096689A - 分光分析装置

Info

Publication number: JPH1096689A
Application number: JP25107296A
Authority: JP
Inventors: Seiichi Takizawa; 精一瀧澤; Chiaki Sakai; 千明酒井; Keisuke Igarashi; 慶介五十嵐; Ryogo Yamauchi; 良吾山内; Nobuya Morimoto; 信矢森本
Original assignee: Kubota Corp
Current assignee: Kubota Corp
Priority date: 1996-09-24
Filing date: 1996-09-24
Publication date: 1998-04-14

Abstract

(57)【要約】【課題】試料の形状にかかわらず、試料に含まれる成
分を簡単且つ精度良く分析することができる分光分析装
置を提供する。【解決手段】測定用光線を試料に照射する光源１と、
試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成
分を分析する分光分析手段Ｅが設けられた分光分析装置
であって、光源１からの測定用光線が試料に照射される
照射状態と照射されない非照射状態とに切り換え自在な
照射切り換え手段Ｄが設けられ、分光分析手段Ｅは、非
照射状態のときに得た情報を、光源１からの測定用光線
に基づく試料からの反射光又は透過光以外の外乱光に対
応する情報として処理して、試料に含まれる成分を分析
するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測定用光線を試料
に照射する光源と、試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成
分を分析する分光分析手段が設けられた分光分析装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】かかる分光分析装置においては、従来で
は、光源からの測定用光線に基づく試料からの反射光又
は透過光（以下、検出光と記載する場合がある）を、そ
れ以外の光（以下、外乱光と記載する場合がある）が含
まれた状態で受光すると、分析の精度が低下するので、
外乱光を受光しないようにする必要があった。そこで、
従来は、図５に示すように、試料Ｆからの反射光又は透
過光を受光する受光部２１に、外乱光が受光部２１に入
射しないように外乱光を遮るためのフード２２を設けて
いた。尚、図５中、１は測定用光線を試料に照射する光
源であり、Ｅは、試料Ｆからの反射光又は透過光の分光
スペクトルを得る分光部４と、分光部４にて得られた分
光スペクトルに基づいて試料Ｆに含まれる成分を分析す
る処理部４を備えた分光分析手段である。又、図５中、
２は、光源１からの測定用光線を試料Ｆに照射するよう
に導く照射用光ファイバ２ａと、受光部２１にて受光し
た試料Ｆからの反射光又は透過光を分光部４に導く受光
用光ファイバ２ｂを備えた測定用プローブである。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、試料には種
々の形状のものがあるので、従来の装置においては、種
々の形状の試料Ｆに対応できるようにするために、試料
Ｆの形状に合わせて複数のフード２２を用意したり、あ
るいは、試料Ｆの形状に合わせるようにフード２２を調
節する必要があり、その作業が煩雑なものとなってい
た。又、外乱光を確実に遮るためには、フード２２を試
料Ｆの全周にわたって密着させる必要があるが、フード
２２を種々の形状の試料Ｆに対して、その全周に密着さ
せるようにすることは、複雑な調節作業が必要になって
実用的ではない。従って、従来では、種々の形状の試料
について、外乱光を確実に遮った状態で分析できるには
至っておらず、改善が望まれていた。

【０００４】本発明は、かかる実情に鑑みてなされたも
のであり、その目的は、試料の形状にかかわらず、試料
に含まれる成分を簡単且つ精度良く分析することができ
る分光分析装置を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の特徴構
成によれば、照射切り換え手段によって、前記照射状態
と前記非照射状態とに切り換え、分光分析手段によっ
て、前記照射状態及び前記非照射状態のいずれのときに
も、光を受光するとともに、受光した光に基づいて情報
を得るようになっている。そして、分光分析手段によっ
て、非照射状態のときに得られた情報を、外乱光に対応
する情報として処理して、試料に含まれる成分を分析す
るようになっている。つまり、前記照射状態のときに受
光した光は、検出光と外乱光とが合わさったものであ
り、前記非照射状態のときに受光した光は、外乱光だけ
であると考えられるので、非照射状態のときに得られた
情報を外乱光に対応する情報として処理して、外乱光が
分析値に与える影響を除去するようにしてある。従っ
て、従来必要とした外乱光を遮るためのフード等を設け
ることなく、外乱光が分析値に与える影響を除去した状
態で、試料に含まれる成分を分析することができるの
で、試料の形状にかかわらず、試料に含まれる成分を簡
単且つ精度良く分析することができるようになった。

【０００６】請求項２に記載の特徴構成によれば、分光
分析手段は、前記非照射状態のときの情報を複数回にわ
たって得て、その平均値を前記外乱光に対応する情報と
して処理する。つまり、外乱光の光量はばらついている
ので、前記非照射状態のときの情報を複数回にわたって
得て、その平均値を前記外乱光に対応する情報として処
理することにより、外乱光の光量のバラツキによる誤差
を小さくしているのである。従って、試料に含まれる成
分を一層精度良く分析することができるようになった。

【０００７】請求項３に記載の特徴構成によれば、前記
照射状態のときの情報から前記非照射状態のときの情報
を減算した情報に基づいて、試料に含まれる成分を分析
する。つまり、前記照射状態のときの情報は検出光と外
乱光とが合わさったものの情報であり、前記非照射状態
のときの情報は外乱光のみの情報であるので、前記照射
状態のときの情報から前記非照射状態のときの情報を減
算することにより、検出光のみによる情報を得ることが
できるのである。そして、得られた情報に基づいて試料
に含まれる成分を分析することにより、外乱光が分析値
に与える影響を除去することができる。

【０００８】請求項４に記載の特徴構成によれば、シャ
ッタ手段が前記非遮光状態に切り換えられることによ
り、前記照射状態が現出され、シャッタ手段が前記遮光
状態に切り換えられることにより、前記非照射状態が現
出される。ちなみに、照射切り換え手段は、光源を作動
状態と停止状態とに切り換えることにより、前記照射状
態と前記非照射状態とを現出するように構成することが
できる。しかしながら、この場合は、光源は、頻繁に作
動状態と停止状態とに切り換えられることになるので、
劣化が早くなるという欠点がある。これに対して、請求
項４に記載の特徴構成によれば、光源は常時作動状態に
することができるので、上述のような光源の劣化が早く
なるといった欠点を解消することができる。

【０００９】請求項５に記載の特徴構成によれば、駆動
手段によって、回転体を回転させることにより、照射状
態と非照射状態とに切り換えられる。従って、簡単な構
成にて、照射状態と非照射状態とに高速で切り換えるこ
とができるので、本発明を実施するためのコストを低減
でき、しかも、成分の分析を迅速に行うことができるよ
うになった。ちなみに、非照射状態のときの情報を複数
回にわたって得て、その平均値を前記外乱光に対応する
情報として処理するように構成する場合は、短時間で多
数回の非照射状態のときの情報を得ることができるの
で、一層好適である。

【００１０】請求項６に記載の特徴構成によれば、試料
を光源から離れた位置に設置することができるので、試
料に対する光源からの熱の影響を防止することができ
る。又、シャッタ手段が光源と光通路における前記測定
用光線の入射部との間に配置されている構成であるた
め、シャッタ手段を装置内部に組み込むことができるの
で、装置をコンパクトに構成することができる。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明の
実施の形態を説明する。図１に示すように、分光分析装
置は、光源部１と、光源部１からの測定用光線を試料Ｆ
に照射するとともに、試料Ｆからの拡散反射光を受光す
る投受光アダプタ３と、その投受光アダプタ３にて受光
された拡散反射光の分光スペクトルを得て、得られた分
光スペクトルに基づいて、試料Ｆに含まれる成分を分析
する分光分析手段としての分光分析部Ｅと、光源部１か
らの測定用光線が試料Ｆに照射される照射状態と照射さ
れない非照射状態とに切り換え自在な照射切り換え手段
Ｄと、測定開始指令、測定対象の試料Ｆの品種等、各種
の制御指令を指令する設定部７と、分光分析部Ｅの分析
結果を出力する出力部８とを備えて構成してある。

【００１２】光源部１、投受光アダプタ３及び分光分析
部Ｅは、光源部１からの測定用光線を投受光アダプタ３
に導くとともに、投受光アダプタ３にて受光された拡散
反射光を分光分析部Ｅに導く測定用プローブ２にて接続
してある。

【００１３】光源部１は、赤外線光を測定用光線として
放射するタングステン−ハロゲンランプ１ａと、そのタ
ングステン−ハロゲンランプ１ａからの測定用光線を平
行光線束に成形するレンズ１ｂにより構成してある。

【００１４】測定用プローブ２は、照射用光ファイバ２
ａと、受光用光ファイバ２ｂとを備えて構成してある。
照射用光ファイバ２ａと受光用光ファイバ２ｂとは、照
射用光ファイバ２ａにおける測定用光線の入射端部側及
び受光用光ファイバ２ｂにおける拡散反射光の出射端部
側を除いた部分を、環状の照射用光ファイバ２ａの内部
に受光用光ファイバ２ｂが位置する同軸状に形成してあ
り、同軸状の先端面では、照射用光ファイバ２ａの環状
の先端面とその内部の受光用光ファイバ２ｂの円状の先
端面が面一になっている。

【００１５】図２にも示すように、投受光アダプタ３
は、測定用プローブ２の先端に取り付けられ、外筒体３
ａと、その外筒体３ａの内部にその外筒体３ａと間隔を
隔てて同軸状に位置する内筒体３ｂと、外筒体３ａと内
筒体３ｂとを連結する連結部材３ｃと、外筒体３ａの一
端部に外嵌状に固着した取り付け筒体３ｄと、その取り
付け筒体３ｄに螺挿したネジ３ｅを備えて構成してあ
る。そして、取り付け筒体３ｄを測定用プローブ２に外
嵌してネジ３ｅを締め付けることにより、投受光アダプ
タ３を測定用プローブ２に接続する。尚、図中の３ｆ
は、投受光アダプタ３を、その先端部を露出させた状態
で内装するプローブケーシングである。

【００１６】内筒体３ｂは、筒内径及び筒外径が基端側
のファイバ接続部に近づくほど小径となる截頭円錐形状
に形成するとともに、周壁の厚みが測定用プローブ２に
近づくほど小となるように形成してある。更に、内筒体
３ｂは、その基端側のファイバ接続部においては、内径
を受光用光ファイバ２ｂの円状の先端面の直径と略同一
とし、周壁の厚みを受光用光ファイバ２ｂの先端面と照
射用光ファイバ２ａの先端面との間隔と略同一としてあ
る。又、内筒体３ｂの先端部の周壁の厚みｄは、２０ｍ
ｍ程度にしてある。又、内筒体３ｂの内周面及び外周面
は光の反射が可能な鏡面に仕上げてある。外筒体３ａ
は、筒内径及び筒外径が基端側のファイバ接続部に近づ
くほど小径となる截頭円錐形状に形成してある。更に、
外筒体３ａは、その基端側のファイバ接続部において
は、内径を受光用光ファイバ２ａの環状の先端面の外径
と略同一としてある。又、外筒体３ａの内周面は、光の
反射が可能な鏡面に仕上げてある。

【００１７】つまり、内筒体３ｂにおける基端側のファ
イバ接続部の開口部の形状が受光用光ファイバ２ｂの先
端面の形状と略同一となるとともに、内筒体３ｂの基端
部と外筒体３ａの基端部により形成される環状の開口部
の形状が、照射用光ファイバ２ａの環状の先端面の形状
と略同一となるようにしてある。又、投受光アダプタ３
を測定用プローブ２の先端に接続すると、内筒体３ｂの
開口部が受光用光ファイバ２ｂの先端面と対向した状態
で位置し、且つ、内筒体３ｂと外筒体３ａとにより形成
される開口部が照射用光ファイバ２ａの先端面と対向し
た状態で位置するように構成してある。更に、投受光ア
ダプタ３の先端部は、中央部が最も深くなる凹曲面状に
形成してある。

【００１８】上述のように構成した投受光アダプタ３
を、その先端を試料Ｆを載置支持する支持手段としての
測定台９の測定用開口部に臨ませた状態で、測定台９の
直下に設けてある。従って、照射用光ファイバ２ａに
て、光源部１からの測定用光線を、測定台９上に載置さ
れている試料Ｆに照射するように導く光通路を構成して
ある。

【００１９】照射切り換え手段Ｄは、測定用光線を遮光
する遮光状態と遮光しない非遮光状態とに切り換え自在
なシャッタ手段としてのシャッタ部６にて構成してあ
る。そのシャッタ部６は、図３にも示すように、回転軸
芯Ｐを中心とする仮想円周Ｒに沿って複数個の透光部６
ｔと複数個の遮光部６ｓが交互に並設され、且つ、仮想
円周Ｒが測定用光線の光路Ｌと直交する状態で、回転軸
芯Ｐ周りに回転自在に支持された回転体としての円板６
ａと、その円板６ａを回転駆動する駆動手段としての電
動モータ６ｂとから構成してある。

【００２０】尚、円板６ａは、光を透過させない材料で
形成してあり、透光部６ｔとして機能させる窓を仮想円
周Ｒに沿って等間隔に形成することにより、窓同士の間
を遮光部６ｓとして機能させるように構成してある。更
に、透光部６ｔ部分に相当する仮想円周Ｒの円弧と、遮
光部６ｓ部分に相当する仮想円周Ｒの円弧とが同一長さ
になるようにしてあり、電動モータ６ｂを一定速度で駆
動することにより、遮光状態となる時間と、非遮光状態
となる時間が同一になるように構成してある。

【００２１】シャッタ部６は、光源部１と照射用光ファ
イバ２ａにおける測定用光線の入射部との間に配置し
て、光源部１に一体的に組み付けてある。

【００２２】そして、測定台９上に試料Ｆを載置して、
電動モータ６ｂを作動させると、遮光状態と非遮光状態
とに交互に切り換えられる。非遮光状態のときには、光
源部１からの測定用光線が照射用光ファイバ２ａに入射
して、照射用光ファイバ２ａにより投受光アダプタ３ま
で導かれ、照射用光ファイバ２ａの先端面から内筒体３
ｂと外筒体３ａの間の空間内に入射して、前記空間内を
通過し、内筒体３ｂの先端部と外筒体３ａの先端部とに
より形成される環状の開口部から試料Ｆに対して出射す
る。そして、試料Ｆからの拡散反射光及び外乱光は、内
筒体３ｂの先端開口部から、内筒体３ｂ内に入射して、
内筒体３ｂ内を通過し、受光用光ファイバ２ｂの先端面
に入射して、受光用光ファイバ２ｂにて、分光分析部Ｅ
へと導かれる。

【００２３】遮光状態のときには、光源部１からの測定
用光線は、円板６ａの遮光部６ｓにて遮光されるので、
試料Ｆには測定用光線は照射されない。従って、外乱光
のみが、内筒体３ｂの先端開口部から、内筒体３ｂ内に
入射して、内筒体３ｂ内を通過し、受光用光ファイバ２
ｂの先端面に入射して、受光用光ファイバ２ｂにて、分
光部４へと導かれる。

【００２４】上述のように、測定用プローブ２の先端に
投受光アダプタ３を接続することにより、試料Ｆに対す
る測定用光線の出射部と、試料Ｆからの反射光の入射部
との間隔を広くすることができるので、試料Ｆからの拡
散反射光を受光することができるのである。

【００２５】分光分析部Ｅは、拡散反射光の分光スペク
トルを得る分光部４と、その分光部４にて得られた分光
スペクトルに基づいて、試料Ｆに含まれる成分を分析す
る処理部５から構成してある。尚、処理部５は、電動モ
ータ６ｂの作動の制御も実行するように構成してある。

【００２６】分光部４は、受光用光ファイバ２ｂにて導
かれた拡散反射光を反射する反射鏡４ａと、反射鏡４ａ
により反射された拡散反射光を分光反射する凹面回折格
子４ｂと、凹面回折格子４ｂにより分光反射された各波
長毎の光線束強度を検出するアレイ型受光素子４ｃとを
備えている。アレイ型受光素子４ｃは、凹面回折格子４
ｂにて分光反射された拡散反射光を、同時に波長毎に受
光するとともに波長毎の信号に変換して出力する。又、
アレイ型受光素子４ｃは、波長が０．７〜２．５μｍの
範囲の近赤外線光を検出するように構成にしてある。反
射鏡４ａ、凹面回折格子４ｂ及びアレイ型受光素子４ｃ
は、外部からの光を遮光するアルミニウム製の暗箱４ｄ
内に配置してあり、受光用光ファイバ２ｂにて導かれた
拡散反射光は、暗箱４ｄに形成した入射孔４ｅを通じて
暗箱４ｄ内に導くように構成してある。

【００２７】処理部５について説明を加える。尚、以下
の説明では、試料Ｆとして青果物を適用し、その青果物
に含まれる成分に基づく品質情報を求める場合を対象に
して、説明する。処理部５は、マイクロコンピュータを
利用して構成してあり、設定部７から測定開始指令が発
せられると、予め設定された測定用設定時間の間、電動
モータ６ｂを作動させる。前記測定用設定時間が経過す
ると、円板６ａの遮光部６ｓが光路Ｌ上に位置する状態
で、電動モータ６ｂを停止させる。従って、設定部７か
ら測定開始指令が発せられていないときには、遮光部６
ｓにて光源部１からの測定用光線が遮光されているの
で、測定台９上に青果物Ｆが載置されていなかっても、
測定用光線が外部に照射されることがない。

【００２８】処理部５は、電動モータ６ｂが作動してい
る間において、予め設定された受光用設定時間Ｔの期間
中、継続してアレイ型受光素子４ｃからの出力信号を受
け取る。

【００２９】図４は、電動モータ６ｂが作動している間
に、アレイ型受光素子４ｃが受光する光量の変化を示し
ている。つまり、シャッタ部６が非遮光状態に切り換え
られている非遮光期間Ｔａの間に受光する光量は、光源
部１からの測定用光線に基づく青果物Ｆからの拡散反射
光（即ち、検出光）と、外乱光が合わさったものの光量
であり、シャッタ部６が遮光状態に切り換えられている
遮光期間Ｔｂの間に受光する光量は、外乱光のみの光量
である。尚、非遮光期間Ｔａ及び遮光期間Ｔｂは夫々、
例えば、１／１０〜１／６０（ｓｅｃ）程度に設定す
る。

【００３０】従って、処理部５は、受光用設定時間Ｔの
間に、複数回の非遮光期間Ｔａのときの出力信号と、複
数回の遮光期間Ｔｂのときの出力信号を受け取ることに
なる。そして、受け取った複数回の非遮光期間Ｔａのと
きの出力信号の平均値と、受け取った複数回の遮光期間
Ｔｂのときの出力信号の平均値を求めるとともに、両者
の差を求める。即ち、この差が、前記検出光に対応する
出力信号に相当する。

【００３１】そして、処理部５は、前記検出光に対応す
る出力信号を処理して、吸光度スペクトル、及び、吸光
度スペクトルの波長領域での二次微分値を得るととも
に、その二次微分値に基づいて、青果物に含まれる成分
に基づく品質情報を算出する。処理部５は、下記の演算
式（以下、検量式と称する）による重回帰分析に基づい
て、青果物Ｆに含まれる成分に基づく品質情報を算出す
る。Ｙ＝Ｋ₀＋Ｋ₁×Ａ（λ₁）＋Ｋ₂×Ａ（λ₂）＋Ｋ₃
×Ａ（λ₃）…… 但し、Ｙ；成分量Ｋ₀，Ｋ₁，Ｋ₂，Ｋ₃…… ；係数Ａ（λ₁），Ａ（λ₂），Ａ（λ₃）……；特定波長λ
における吸光度スペクトルの二次微分値

【００３２】処理部５には、青果物の品種夫々につい
て、品質情報の項目毎に、特定の検量式を設定してあ
る。つまり、上記検量式において、青果物の品種夫々に
ついて、品質情報の項目毎に特定の係数Ｋ₀，Ｋ₁，Ｋ
₂，Ｋ₃……、波長λ₁，λ₂，λ₃……を設定してあ
る。そして、処理部５は、設定部７にて指令された品種
情報に対応するように、上記検量式を設定して、その設
定した検量式に基づいて品質情報を求めるとともに、求
めた品質情報を出力部８に出力するように構成してあ
る。

【００３３】青果物に含まれる成分に基づく品質情報の
項目として、糖度、酸度、硬度、着色度、デンプン量、
水分量等が含まれる。尚、例えば、品質情報の測定対象
の青果物がトマトの場合、品質情報の項目としては、糖
度、酸度を用いる。酸度はクエン酸の含有量にて示され
る。糖度を測定する場合の、上記検量式における特定波
長λは、例えば、７５０ｎｍ，８３０ｎｍ，９１５ｎ
ｍ，１０３０ｎｍ，１０８０ｎｍ，１２０５ｎｍ，１２
６０ｎｍ，１３８０ｎｍに設定する。クエン酸の含有量
を測定する場合の、上記検量式における特定波長λは、
例えば、７７５ｎｍ，１００５ｎｍ，１０６０ｎｍ，１
１７０ｎｍ，１２４０ｎｍ，１３７５ｎｍに設定する。

【００３４】〔別実施形態〕次に別実施形態を説明す
る。（イ）上記の実施形態では、受け取った複数回の非遮
光期間Ｔａのときの出力信号の平均値と、受け取った複
数回の遮光期間Ｔｂのときの出力信号の平均値との差
を、前記検出光に対応する出力信号として求める場合に
ついて例示したが、前記検出光に対応する出力信号を求
める方法は、これ以外に種々の方法が可能である。例え
ば、受光用設定時間Ｔの期間中に、非遮光期間Ｔａのと
きの出力信号と、遮光期間Ｔｂのときの出力信号を夫々
同一回数受け取る。そして、受け取った同一回数の、非
遮光期間Ｔａのときの出力信号及び遮光期間Ｔｂのとき
の出力信号を夫々積算し、それら積算値の差を、前記検
出光に対応する出力信号として求めてもよい。尚、この
場合、非遮光期間Ｔａのときの出力信号、及び、遮光期
間Ｔｂのときの出力信号夫々を受け取る回数は、複数回
に限定されるものではなく、１回ずつでもよい。

【００３５】あるいは、遮光期間Ｔｂのときの出力信号
に基づいて、係数を設定し、その設定した係数を非遮光
期間Ｔａのときの出力信号に乗じた値を、前記検出光に
対応する出力信号として求めてもよい。

【００３６】（ロ）照射状態切り換え手段Ｄの具体構
成として、上記の実施形態においては、シャッタ手段６
を適用する場合について例示したが、これに代えて、タ
ングステン−ハロゲンランプ１ａを点灯する点灯状態と
消灯する消灯状態とに切り換える構成を適用してもよ
い。又、上記の実施形態のようにシャッタ手段６を機械
式シャッタにて構成するのに代えて、液晶シャッタにて
構成してもよい。

【００３７】（ハ）上記の実施形態においては、シャ
ッタ部６を、光源部１と照射用光ファイバ２ａにおける
前記測定用光線の入射部との間に配置する場合について
例示したが、これに代えて、投受光アダプタ３の先端部
と測定台９との間に配置してもよい。

【００３８】（ニ）上記の実施形態では、本発明を、
試料からの拡散反射光を得るように構成した分光分析装
置に適用する場合について例示したが、これに代えて、
本発明は、試料からの透過光を得るように構成した分光
分析装置にも適用することができる。

【００３９】（ホ）上記の実施形態においては、試料
として青果物を適用する場合について例示したが、試料
としては、青果物に限定されるものではなく、種々のも
のを適用することができる。

【００４０】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】分光分析装置の全体構成を示すブロック図

【図２】投受光アダプタにおける測定用光線の光路に沿
った断面図

【図３】シャッタ手段の構成を示す図

【図４】非遮光状態及び遮光状態に切り換えられること
に伴う、分光分析部が受光する光量の変化を示す図

【図５】従来の分光分析装置の全体構成を示すブロック
図

【符号の説明】

１光源２ａ光通路６シャッタ手段６ａ回転体６ｂ駆動手段６ｓ遮光部６ｔ透光部９支持手段Ｄ照射切り換え手段Ｅ分光分析手段Ｐ回転軸芯

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者山内良吾兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内 (72)発明者森本信矢兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定用光線を試料に照射する光源（１）
と、試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成
分を分析する分光分析手段（Ｅ）が設けられた分光分析
装置であって、前記光源（１）からの測定用光線が試料に照射される照
射状態と照射されない非照射状態とに切り換え自在な照
射切り換え手段（Ｄ）が設けられ、前記分光分析手段（Ｅ）は、前記非照射状態のときに得
た情報を、前記光源（１）からの測定用光線に基づく試
料からの反射光又は透過光以外の外乱光に対応する情報
として処理して、試料に含まれる成分を分析するように
構成されている分光分析装置。
【請求項２】前記分光分析手段（Ｅ）は、前記非照射
状態のときの情報を複数回にわたって得て、その平均値
を前記外乱光に対応する情報として処理するように構成
されている請求項１記載の分光分析装置。
【請求項３】前記分光分析手段（Ｅ）は、前記照射状
態のときの情報から前記非照射状態のときの情報を減算
した情報に基づいて、試料に含まれる成分を分析するよ
うに構成されている請求項１又は２記載の分光分析装
置。
【請求項４】前記照射切り換え手段（Ｄ）は、前記測
定用光線を遮光する遮光状態と遮光しない非遮光状態と
に切り換え自在なシャッタ手段（６）にて構成されてい
る請求項１〜３のいずれか１項に記載の分光分析装置。
【請求項５】前記シャッタ手段（Ｄ）は、回転軸芯
（Ｐ）を中心とする仮想円周に沿って複数個の透光部
（６ｔ）と複数個の遮光部（６ｓ）が交互に並設され、
且つ、前記仮想円周が前記測定用光線の光路と交差する
状態で、前記回転軸芯（Ｐ）周りに回転自在に支持され
た回転体（６ａ）と、その回転体（６ａ）を回転駆動す
る駆動手段（６ｂ）とから構成されている請求項４記載
の分光分析装置。
【請求項６】試料を支持する支持手段（９）と、前記光源（１）からの測定用光線を、前記支持手段
（９）に支持されている試料に照射するように導く光通
路（２ａ）が設けられ、前記シャッタ手段（６）が、前記光源（１）と前記光通
路（２ａ）における前記測定用光線の入射部との間に、
配置されている請求項４又は５記載の分光分析装置。