JPH10123047A

JPH10123047A - 分光分析装置

Info

Publication number: JPH10123047A
Application number: JP28195096A
Authority: JP
Inventors: Seiichi Takizawa; 精一瀧澤; Chiaki Sakai; 千明酒井; Keisuke Igarashi; 慶介五十嵐; Masayuki Kashiyuu; 政幸加洲; Ryogo Yamauchi; 良吾山内; Nobuya Morimoto; 信矢森本; Susumu Uenaka; 進上中
Original assignee: Kubota Corp
Current assignee: Kubota Corp
Priority date: 1996-10-24
Filing date: 1996-10-24
Publication date: 1998-05-15

Abstract

(57)【要約】【課題】成分の分析開始指令を与えるための人為的な
操作が不要な分光分析装置を提供する。【解決手段】測定対象の試料を支持する支持手段Ｈ
と、その支持手段Ｈに支持されている試料に測定用光線
を照射する光源１と、試料からの反射光又は透過光の分
光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに基づい
て、試料に含まれる成分を分析する分光分析手段Ｅが設
けられた分光分析装置において、支持手段Ｈに支持され
ている試料の有無を検出する試料検出手段Ｓが設けら
れ、分光分析手段Ｅは、試料検出手段Ｓが試料の有る状
態を検出することに基づいて、成分の分析を開始するよ
うに構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、測定対象の試料を
支持する支持手段と、その支持手段に支持されている試
料に測定用光線を照射する光源と、試料からの反射光又
は透過光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペク
トルに基づいて、試料に含まれる成分を分析する分光分
析手段が設けられた分光分析装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】かかる分光分析装置において、従来は、
分光分析手段に対して成分の分析の開始を指令するため
の人為的な指令手段を設け、その指令手段を人為的に操
作するように構成していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来で
は、前記指令手段の操作が面倒であり、改善が望まれて
いた。本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであ
り、その目的は、成分の分析開始指令を与えるための人
為的な操作が不要な分光分析装置を提供することにあ
る。

【０００４】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の特徴構
成によれば、支持手段に試料を支持させると、試料検出
手段により、試料の有る状態が検出され、それに基づい
て、分光分析手段により、自動的に成分の分析が開始さ
れる。従って、成分の分析開始指令を与えるための人為
的な操作が不要な分光分析装置を提供することができる
ようになった。

【０００５】請求項２に記載の特徴構成によれば、試料
検出手段により、試料の有る状態が検出されると、自動
的に、照射切り換え手段が前記照射状態に切り換えられ
て、試料に測定用光線が照射される。続いて、分光分析
手段による成分の分析が終了すると、自動的に、照射切
り換え手段が前記非照射状態に切り換えられて、試料に
対する測定用光線の照射が停止する。従って、支持手段
に試料が支持されて、分光分析手段によって成分の分析
が行われている間だけ、試料に測定用光線が照射され、
支持手段に試料が支持されていないときは、測定用光線
は照射されないので、試料を支持手段に支持していない
にもかかわらず、測定用光線が照射されるといった不具
合を防止することができるようになった。

【０００６】請求項３に記載の特徴構成によれば、試料
を支持手段に載置すると、試料の荷重が試料検出手段に
印加され、それに基づいて、試料検出手段により試料の
有る状態が検出される。従って、試料を支持手段に支持
するための操作としては、試料の形状や大きさにかかわ
らず、単に、試料を載置するだけの操作でよいので、操
作を一層簡略にすることができるようになった。又、試
料検出手段は、試料の荷重が印加されることに基づいて
試料のある状態を検出するように構成してあるので、試
料検出手段を例えば光センサにて構成するような場合と
比較して、試料の形状や大きさにかかわらず、確実に試
料の有る状態を検出することができる。

【０００７】請求項４に記載の特徴構成によれば、支持
手段として機能する載置部、その載置部に支持されてい
る試料に光源からの測定用光線を照射する照射部、試料
からの反射光を受光する受光部及び試料検出手段を、検
出部として一体的に構成してある。従って、試料の成分
の分析を行うための操作としては、試料の形状や大きさ
にかかわらず、単に載置部に試料を載置するだけでよ
く、分析開始指令を与えるための人為的な操作に加え
て、測定用光線を試料に対して適正に照射するととも
に、試料からの反射光を適正に受光するための照射部及
び受光部の調整操作も不要となるので、操作を一層簡略
にすることができるようになった。

【０００８】請求項５に記載の特徴構成によれば、支持
手段に試料を載置すると、重量検出手段によって試料の
重量が検出されるとともに、重量検出手段の検出値が設
定値以上になることに基づいて、試料の有る状態が検出
されて、分光分析手段によって、自動的に成分の分析が
行われる。つまり、支持手段に載置されている試料の重
量を検出する重量検出手段を設けるだけで、支持手段に
載置されている試料の有無を検出する機能、及び、成分
の分析対象の試料の重量を計測する機能を備えさせるこ
とができる。従って、低価格で、分析開始指令を与える
ための人為的な操作が不要なため操作性に優れ、しか
も、重量の計測もできて多機能の分光分析装置を提供す
ることができるようになった。

【０００９】

【発明の実施の形態】

〔第１実施形態〕以下、図１及び図２に基づいて、本発
明の第１の実施の形態を説明する。図１に示すように、
分光分析装置は、別体に構成され、且つ、可撓性を有す
る測定用プローブ２にて接続される本体部Ａと検出部Ｂ
とを備えて構成してある。検出部Ｂは、試料Ｆを載置支
持するように構成されて、支持手段Ｈとして機能する載
置部３ｈ、その載置部３ｈに載置支持されている試料に
測定用光線を照射する照射部Ｏ、及び、試料からの拡散
反射光を受光する受光部Ｉ等を一体的に備えさせて構成
してある。本体部Ａは、光源部１、試料からの拡散反射
光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペクトルに
基づいて試料に含まれる成分を分析する分光分析手段と
しての分光分析部Ｅ、光源部１からの測定用光線が試料
に照射される照射状態と照射されない非照射状態とに切
り換え自在な照射切り換え手段Ｄ、測定対象の試料の品
種等、各種の制御指令を指令する設定部１０、及び、分
光分析部Ｅの分析結果を出力する出力部１１等を一体的
に備えさせて構成してある。そして、本体部Ａと検出部
Ｂとは、光ファイバにて構成されて可撓性を備え、且
つ、光源部１からの測定用光線を照射部Ｏに導くととも
に、受光部Ｉにて受光した拡散反射光を分光分析部Ｅに
導くように構成された測定用プローブ２にて接続してあ
る。

【００１０】更に、検出部Ｂには、載置部３ｈに載置さ
れている試料の有無を検出する試料検出手段Ｓを設けて
あり、その試料検出手段Ｓは、載置部３ｈに載置される
試料の荷重が印加されるように配置し、且つ、試料の荷
重が印加されることに基づいて試料の有る状態を検出す
るように構成してある。

【００１１】図１に示すように、光源部１は、赤外線光
を測定用光線として放射するタングステン−ハロゲンラ
ンプ１ａと、そのタングステン−ハロゲンランプ１ａか
らの測定用光線を平行光線束に成形するレンズ１ｂによ
り構成してある。

【００１２】図１に示すように、測定用プローブ２は、
照射用光ファイバ２ａと、受光用光ファイバ２ｂとを備
えて構成してある。照射用光ファイバ２ａと受光用光フ
ァイバ２ｂとは、照射用光ファイバ２ａにおける測定用
光線の入射端部側及び受光用光ファイバ２ｂにおける拡
散反射光の出射端部側を除いた部分を、環状の照射用光
ファイバ２ａの内部に受光用光ファイバ２ｂが位置する
同軸状に形成してあり、同軸状の先端面では、照射用光
ファイバ２ａの環状の先端面とその内部の受光用光ファ
イバ２ｂの円状の先端面が面一になっている。

【００１３】検出部Ｂは、図１及び図２に示すように、
上面部に環状の照射部Ｏと円状の受光部Ｉとを同心状に
備えた投受光アダプタ３と、その投受光アダプタ３をそ
の上面部分を突出させる状態で内装するケーシング７
と、そのケーシング７の上面部に環状の照射部Ｏの外周
に沿わせて設けた試料検出手段Ｓとしての環状の圧電素
子８と、その圧電素子８の上部に重ねる状態で設けた環
状の柔軟性部材９とを備えて構成してある。

【００１４】投受光アダプタ３は、測定用プローブ２の
先端に接続され、外筒体３ａと、その外筒体３ａの内部
にその外筒体３ａと間隔を隔てて同軸状に位置する内筒
体３ｂと、外筒体３ａと内筒体３ｂとを連結する連結部
材３ｃと、外筒体３ａの一端部に外嵌状に固着した取り
付け筒体３ｄと、その取り付け筒体３ｄに螺挿したネジ
３ｅを備えて構成してある。そして、取り付け筒体３ｄ
を測定用プローブ２に外嵌してネジ３ｅを締め付けるこ
とにより、投受光アダプタ３を測定用プローブ２に接続
する。

【００１５】内筒体３ｂは、筒内径及び筒外径が基端側
のファイバ接続部に近づくほど小径となる截頭円錐形状
に形成するとともに、周壁の厚みが基端側に近づくほど
小となるように形成してある。更に、内筒体３ｂは、そ
の基端側のファイバ接続部においては、内径を受光用光
ファイバ２ｂの円状の先端面の直径と略同一とし、周壁
の厚みを受光用光ファイバ２ｂの先端面と照射用光ファ
イバ２ａの先端面との間隔と略同一としてある。又、内
筒体３ｂの内周面及び外周面は光の反射が可能な鏡面に
仕上げてある。外筒体３ａは、筒内径及び筒外径が基端
側のファイバ接続部に近づくほど小径となる截頭円錐形
状に形成してある。更に、外筒体３ａは、その基端側の
ファイバ接続部においては、内径を受光用光ファイバ２
ａの環状の先端面の外径と略同一としてある。又、外筒
体３ａの内周面は、光の反射が可能な鏡面に仕上げてあ
る。

【００１６】つまり、内筒体３ｂにおける基端側のファ
イバ接続部の開口部の形状が受光用光ファイバ２ｂの先
端面の形状と略同一となるとともに、内筒体３ｂの基端
部と外筒体３ａの基端部により形成される環状の開口部
の形状が、照射用光ファイバ２ａの環状の先端面の形状
と略同一となるようにしてある。又、投受光アダプタ３
を測定用プローブ２の先端に接続すると、内筒体３ｂの
開口部が受光用光ファイバ２ｂの先端面と対向した状態
で位置し、且つ、内筒体３ｂと外筒体３ａとにより形成
される開口部が照射用光ファイバ２ａの先端面と対向し
た状態で位置するように構成してある。更に、投受光ア
ダプタ３の先端部は、中央部が最も深くなる凹曲面状に
形成してある。

【００１７】そして、上述のように構成した投受光アダ
プタ３を、その先端部を上向きにして、ケーシング７の
上面部に形成した開口部に臨ませた状態で、ケーシング
７に内装することにより、投受光アダプタ３の先端面部
（即ち、上面部）に、測定対象の試料を載置支持できる
ようにしてある。従って、投受光アダプタ３の上面部
が、載置部３ｈとして機能する。

【００１８】そして、内筒体３ｂの先端部と外筒体３ａ
の先端部とにより形成される環状の開口部を照射部Ｏと
して、内筒体３ｂの先端開口部を受光部Ｉとして、夫々
機能させるようにしてある。

【００１９】環状の圧電素子８を、環状の照射部Ｏの外
周に沿わせた状態で、ケーシング７の上面部に付設して
ある。更に、上面視における形状が、圧電素子８と略同
一形状の環状の柔軟性部材９を、圧電素子８の上面部に
重ねて付設してある。柔軟性部材９の上面部は、投受光
アダプタ３の上面部よりも高くなるようにしてある。そ
して、試料を載置部３ｈに載置すると、柔軟性部材９が
試料の形状に沿って収縮して、試料が載置部３ｈ上に載
置保持されるとともに、試料の荷重が圧電素子８に印加
されて、圧電素子８にて試料の有る状態が検出されるよ
うになっている。

【００２０】従って、下記のように、投受光アダプタ３
によって、載置部３ｈ上に載置された試料Ｆに対して、
測定用光線が照射されるとともに、試料Ｆからの拡散反
射光が受光される。即ち、照射用光ファイバ２ａにて導
かれた光源部１からの測定用光線は、照射用光ファイバ
２ａの先端面から内筒体３ｂと外筒体３ａの間の空間内
に入射して、前記空間内を通過し、内筒体３ｂの先端部
と外筒体３ａの先端部とにより形成される環状の照射部
Ｏから出射して、試料Ｆに対して照射される。そして、
試料Ｆからの拡散反射光は、内筒体３ｂの先端開口部に
て機能させる受光部Ｉから、内筒体３ｂ内に入射して、
内筒体３ｂ内を通過し、受光用光ファイバ２ｂの先端面
に対して出射して、受光用光ファイバ２ｂにて、分光分
析部Ｅへと導かれる。

【００２１】上述のように、測定用プローブ２の先端に
投受光アダプタ３を接続することにより、試料Ｆに対す
る測定用光線の照射部Ｏと、試料Ｆからの反射光の受光
部Ｉとの間隔を広くすることができるので、試料Ｆから
の拡散反射光を受光することができるのである。

【００２２】図１に示すように、照射状態切り換え手段
Ｄは、レンズ１ｂと測定用プローブ２における測定用光
線の入射端部との間において、測定用光線を遮光する遮
光状態と遮光しない非遮光状態とに移動自在に支持され
たシャッタ板６ａと、そのシャッタ板６ａを移動駆動す
る電磁ソレノイド６ｂとを備えたシャッタ部６にて構成
してある。シャッタ部６を非遮光状態に切り換えること
により、前記照射状態になり、遮光状態に切り換えるこ
とにより、前記非照射状態になる。

【００２３】図１に示すように、分光分析部Ｅは、拡散
反射光の分光スペクトルを得る分光部４と、その分光部
４にて得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含ま
れる成分を分析する処理部５から構成してある。処理部
５は、マイクロコンピュータを利用して構成してある。
更に、その処理部５は、圧電素子８の検出情報が入力さ
れるとともに、その検出情報に基づいて、後述するよう
に、成分分析処理の開始制御、及び、電磁ソレノイド６
ｂの作動の制御も実行するように構成してある。

【００２４】分光部４は、受光用光ファイバ２ｂにて導
かれた拡散反射光を反射する反射鏡４ａと、反射鏡４ａ
により反射された拡散反射光を分光反射する凹面回折格
子４ｂと、凹面回折格子４ｂにより分光反射された各波
長毎の光線束強度を検出するアレイ型受光素子４ｃとを
備えている。アレイ型受光素子４ｃは、凹面回折格子４
ｂにて分光反射された拡散反射光を、同時に波長毎に受
光するとともに波長毎の信号に変換して出力する。又、
アレイ型受光素子４ｃは、波長が０．７〜２．５μｍの
範囲の近赤外線光を検出するように構成にしてある。反
射鏡４ａ、凹面回折格子４ｂ及びアレイ型受光素子４ｃ
は、外部からの光を遮光するアルミニウム製の暗箱４ｄ
内に配置してあり、受光用光ファイバ２ｂにて導かれた
拡散反射光は、暗箱４ｄに形成した入射孔４ｅを通じて
暗箱４ｄ内に導くように構成してある。

【００２５】処理部５について説明を加える。尚、以下
の説明では、試料として青果物を適用し、その青果物に
含まれる成分に基づく品質情報を求める場合を対象にし
て、説明する。設定部１０にて、測定対象の青果物Ｆの
品種を設定して、測定対象の青果物Ｆを載置部３ｈに載
置する。すると、青果物Ｆの荷重が圧電素子８に印加さ
れて、圧電素子８により、青果物Ｆの有る状態が検出さ
れ、その検出情報が処理部５に入力される。処理部５
は、圧電素子８から青果物Ｆの有る状態に対応する検出
情報が入力されると、シャッタ板６ａを非遮光状態に移
動させるように、電磁ソレノイド６ｂを作動させるとと
もに、後述するように、設定部１０にて設定された品種
に応じて、青果物Ｆの品質情報を求める。続いて、処理
部５は、品質情報を求め終わると、シャッタ板６ａを遮
光状態に移動させるように、電磁ソレノイド６ｂを作動
させるとともに、求めた品質情報を出力部１１に出力さ
せる。

【００２６】更に、載置部３ｈに青果物Ｆが載置され
て、処理部５により品質情報が求められている途中であ
るにもかかわらず、青果物Ｆが載置部３ｈから取り除か
れて、、圧電素子８から青果物Ｆの無い状態に対応する
検出情報が入力されると、処理部５は、シャッタ板６ａ
を遮光状態に移動させるように、電磁ソレノイド６ｂを
作動させる。

【００２７】処理部５は、下記のようにして、青果物に
含まれる成分に基づく品質情報を求める。即ち、アレイ
型受光素子４ｃからの出力信号を処理して、吸光度スペ
クトル、及び、吸光度スペクトルの波長領域での二次微
分値を得るとともに、その二次微分値に基づいて、青果
物に含まれる成分に基づく品質情報を算出する。処理部
５は、下記の演算式（以下、検量式と称する）による重
回帰分析に基づいて、青果物Ｆに含まれる成分に基づく
品質情報を算出する。Ｙ＝Ｋ₀＋Ｋ₁×Ａ（λ₁）＋Ｋ₂×Ａ（λ₂）＋Ｋ₃
×Ａ（λ₃）…… 但し、Ｙ；成分量Ｋ₀，Ｋ₁，Ｋ₂，Ｋ₃…… ；係数Ａ（λ₁），Ａ（λ₂），Ａ（λ₃）……；特定波長λ
における吸光度スペクトルの二次微分値

【００２８】処理部５には、青果物の品種夫々につい
て、品質情報の項目毎に、特定の検量式を設定してあ
る。つまり、上記検量式において、青果物の品種夫々に
ついて、品質情報の項目毎に特定の係数Ｋ₀，Ｋ₁，Ｋ
₂，Ｋ₃……、波長λ₁，λ₂，λ₃……を設定してあ
る。そして、処理部５は、設定部１０にて指令された品
種情報に対応するように、上記検量式を設定して、その
設定した検量式に基づいて品質情報を求める。

【００２９】青果物に含まれる成分に基づく品質情報の
項目として、糖度、酸度、硬度、着色度、デンプン量、
水分量等が含まれる。尚、例えば、品質情報の測定対象
の青果物がトマトの場合、品質情報の項目としては、糖
度、酸度を用いる。酸度はクエン酸の含有量にて示され
る。糖度を測定する場合の、上記検量式における特定波
長λは、例えば、７５０ｎｍ，８３０ｎｍ，９１５ｎ
ｍ，１０３０ｎｍ，１０８０ｎｍ，１２０５ｎｍ，１２
６０ｎｍ，１３８０ｎｍに設定する。クエン酸の含有量
を測定する場合の、上記検量式における特定波長λは、
例えば、７７５ｎｍ，１００５ｎｍ，１０６０ｎｍ，１
１７０ｎｍ，１２４０ｎｍ，１３７５ｎｍに設定する。

【００３０】〔第２実施形態〕以下、図３及び図４に基
づいて、本発明の第２の実施の形態を説明する。図３に
示すように、分光分析装置は、試料Ｆを載置支持するよ
うに構成されて、支持手段Ｈとして機能する載置板１２
を上面に備えたケーシング１３を利用して、下記の各構
成要素を一体的に組み付けて構成してある。即ち、光源
部１と、載置板１２に載置されている試料に測定用光線
を照射する照射部Ｏ及び試料からの拡散反射光を受光す
る受光部Ｉを備えた投受光アダプタ３と、試料からの拡
散反射光の分光スペクトルを得て、得られた分光スペク
トルに基づいて試料に含まれる成分を分析する分光分析
手段としての分光分析部Ｅと、光源部１からの測定用光
線が試料に照射される照射状態と照射されない非照射状
態とに切り換え自在な照射切り換え手段Ｄと、載置板１
２に載置されている試料の重量を計測する重量計測部Ｍ
と、測定対象の試料の品種等、各種の制御指令を指令す
る設定部１０と、分光分析部Ｅの分析結果及び重量計測
部Ｍの計測結果を出力する出力部１１等を、ケーシング
１３に一体的に組み付けてある。

【００３１】ケーシング１３内には、その４隅に夫々位
置させて４本の支柱１４を立設してある。４本の支柱１
４夫々の上端部には、ロードセル１５を取り付けてあ
る。そして、載置板１２を、４個のロードセル１５に支
持させて設けて、載置板１２上に載置した試料の荷重が
４個のロードセル１５に印加されるように構成してあ
る。従って、４個のロードセル１５が、載置板１２上に
載置されている試料の重量を検出する重量検出手段とし
て機能する。

【００３２】載置板１２の中央部には、試料を載置する
ために曲面状に凹部１２ａを形成し、更に、その凹部１
２ａの中央部には、測定用開口部１２ｂを形成してあ
る。そして、上述の第１実施形態と同様に構成した投受
光アダプタ３を、その先端部を測定用開口部１２ｂに臨
ませた状態で、且つ、載置板１２と非接触状態で、載置
板１２の下方に配置してある。

【００３３】光源部１は、上述の第１実施形態と同様に
構成してある。分光分析部Ｅは、上述の第１実施形態と
同様に、拡散反射光の分光スペクトルを得る分光部４
と、その分光部４にて得られた分光スペクトルに基づい
て、試料に含まれる成分を分析する処理部５とから構成
してある。更に、光源部１、投受光アダプタ３及び分光
部４は、上述の第１実施形態と同様に、測定用プローブ
２にて接続してある。

【００３４】照射状態切り換え手段Ｄは、上述の第１実
施形態と同様のシャッタ部６にて構成してあり、そのシ
ャッタ部６を、載置板１２の裏面に、測定用開口部１２
ｂを開閉自在なように設けてある。つまり、シャッタ部
６を測定用開口部１２ｂを開く状態に切り換えることに
より、前記非遮光状態になり、測定用開口部１２ｂを閉
じる状態に切り換えることにより、前記遮光状態にな
る。

【００３５】処理部５は、上述の第１実施形態と同様
に、試料に含まれる成分を分析するように構成してある
のに加えて、下記のように構成してある。即ち、図４に
示すように、処理部５は、４個のロードセル１５夫々の
検出情報が入力され、並びに、４個のロードセル１５夫
々の検出情報を合計することに基づいて、試料の重量を
求めるとともに、求めた重量が設定値以上になることに
基づいて、試料の有る状態を検出して、上述の第１実施
形態と同様に、成分分析処理の開始制御、及び、電磁ソ
レノイド６ｂの作動の制御を実行するように構成してあ
る。更に、処理部５は、品質情報を求め終わると、シャ
ッタ板６ａを遮光状態に移動させるように、電磁ソレノ
イド６ｂを作動させるとともに、求めた品質情報及び重
量を出力部１１に出力させる。更に、処理部５は、品質
情報を求めている途中において、４個のロードセル１５
夫々の検出情報に基づいて求めた重量が前記設定値以下
になると、シャッタ板６ａを遮光状態に移動させるよう
に、電磁ソレノイド６ｂを作動させる。

【００３６】尚、前記設定値は、種々の測定対象の試料
の重量において、最も軽いと見込まれる重量よりも小さ
い値に設定すればよい。

【００３７】従って、重量計測部Ｍを、４個のロードセ
ル１５と処理部５にて構成してある。又、４個のロード
セル１５を、試料検出手段Ｓとして兼用するように構成
してある。〔別実施形態〕次に別実施形態を説明する。（イ）試料検出手段Ｓを、支持手段Ｈに載置される試
料の荷重が印加されるように配置し、且つ、試料の荷重
が印加されることに基づいて試料の有る状態を検出する
ように構成する場合の具体構成は、上記の第１実施形態
において例示した圧電素子８、及び、上記の第２実施形
態において例示したロードセル１５以外にも種々の構成
が可能である。例えば、可撓性を有する基材にカーボン
等の導電性の粒子を散在状態で含有させて、印加される
荷重に応じて抵抗値が変化するように構成した圧力セン
サにて構成してもよい。又、リミットスイッチやシート
スイッチ等を、試料の荷重が印加されることに基づい
て、オン状態とオフ状態との相互間での切り換えが可能
なように配置して構成してもよい。

【００３８】（ロ）試料検出手段Ｓは、ビーム光を照
射する受光部と、そのビーム光を受光する受光部とから
構成される光センサにて構成してもよい。

【００３９】（ハ）支持手段Ｓにおける試料を支持す
る構成としては、上記の各実施形態において例示した如
き、載置支持する構成に限定されるものではない。例え
ば、挟持支持する構成でもよい。

【００４０】（ニ）照射状態切り換え手段Ｄの具体構
成として、上記の各実施形態においては、シャッタ部６
を適用する場合について例示したが、これに代えて、タ
ングステン−ハロゲンランプ１ａを点灯する点灯状態と
消灯する消灯状態とに切り換える構成を適用してもよ
い。又、上記の各実施形態のようにシャッタ部６を機械
式シャッタにて構成するのに代えて、液晶シャッタにて
構成してもよい。

【００４１】（ホ）上記の各実施形態では、本発明
を、試料からの拡散反射光を得るように構成した分光分
析装置に適用する場合について例示したが、これに代え
て、本発明は、試料からの透過光を得るように構成した
分光分析装置にも適用することができる。

【００４２】（ヘ）上記の各実施形態においては、試
料として青果物を適用する場合について例示したが、試
料としては、青果物に限定されるものではなく、穀物等
種々のものを適用することができる。

【００４３】尚、特許請求の範囲の項に図面との対照を
便利にするために符号を記すが、該記入により本発明は
添付図面の構成に限定されるものではない。

【図面の簡単な説明】

【図１】第１実施形態にかかる分光分析装置の全体構成
を示すブロック図

【図２】第１実施形態にかかる検出部における測定用光
線の光路に沿った断面図

【図３】第２実施形態にかかる分光分析装置の縦断面図

【図４】第２実施形態にかかる分光分析装置における制
御構成のブロック図

【符号の説明】

１光源３ｈ載置部１５重量検出手段Ｂ検出部Ｄ照射切り換え手段Ｅ分光分析手段Ｈ支持手段Ｉ受光部Ｏ照射部Ｓ試料検出手段

フロントページの続き (72)発明者加洲政幸兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内 (72)発明者山内良吾兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内 (72)発明者森本信矢兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内 (72)発明者上中進兵庫県尼崎市浜１丁目１番１号株式会社クボタ技術開発研究所内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定対象の試料を支持する支持手段
（Ｈ）と、その支持手段（Ｈ）に支持されている試料に測定用光線
を照射する光源（１）と、試料からの反射光又は透過光の分光スペクトルを得て、
得られた分光スペクトルに基づいて、試料に含まれる成
分を分析する分光分析手段（Ｅ）が設けられた分光分析
装置であって、前記支持手段（Ｈ）に支持されている試料の有無を検出
する試料検出手段（Ｓ）が設けられ、前記分光分析手段（Ｅ）は、前記試料検出手段（Ｓ）が
試料の有る状態を検出することに基づいて、成分の分析
を開始するように構成されている分光分析装置。
【請求項２】前記光源（１）からの測定用光線が試料
に照射される照射状態と照射されない非照射状態とに切
り換え自在な照射切り換え手段（Ｄ）が設けられ、その照射状態切り換え手段（Ｄ）は、前記試料検出手段
（Ｓ）が試料の有る状態を検出することに基づいて前記
照射状態に切り換えられ、且つ、前記分光分析手段
（Ｅ）による成分の分析が終了することに基づいて前記
非照射状態に切り換えられるように構成されている請求
項１記載の分光分析装置。
【請求項３】前記支持手段（Ｈ）が、試料を載置状態
で支持するように構成され、前記試料検出手段（Ｓ）は、前記支持手段（Ｈ）に載置
される試料の荷重が印加されるように配置され、且つ、
試料の荷重が印加されることに基づいて試料の有る状態
を検出するように構成されている請求項１又は２記載の
分光分析装置。
【請求項４】試料を載置する載置部（３ｈ）と、その
載置部（３ｈ）に載置されている試料に前記光源（１）
からの測定用光線を照射する照射部（Ｏ）と、試料から
の反射光を受光する受光部（Ｉ）とを一体的に備えた検
出部（Ｂ）が設けられ、前記載置部（３ｈ）が、前記支持手段（Ｈ）として機能
するように構成されている請求項３記載の分光分析装
置。
【請求項５】前記支持手段（Ｈ）が、試料を載置状態
で支持するように構成され、前記支持手段（Ｈ）に載置されている試料の重量を検出
する重量検出手段（１５）が設けられ、その重量検出手段（１５）が、前記試料検出手段（Ｓ）
に兼用されるように構成され、且つ、その重量計測手段
（１５）の検出値が設定値以上になることに基づいて、
試料の有る状態を検出するように構成されている請求項
１又は２記載の分光分析装置。