JPH1092009A - 光学ピックアップ及び光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 位置決め部材の光学ベースに対する固定位置
がずれないようにして、正確な信号検出を行うことがで
きる光学ピックアップとこれを利用した光ディスク装置
を提供すること。 【解決手段】 光源，光分離手段及び光検出器３２を支
持する光学ベース３１と、光集束手段１５を二軸方向に
駆動調整する駆動手段３６と、この駆動手段の固定部を
前記光学ベースに対して固定保持する位置決め部材３８
とを備えており、前記光学ベースが、前記位置決め部材
３８による位置調整の際に使用される調整用基準孔３１
ｂを、位置決め部材３８の固定位置のほぼ中心に備えて
いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスク，光磁
気ディスク，相変化型ディスク等の光学式ディスク（以
下、「光ディスク」という）の信号を記録及び／又は再
生するための光学ピックアップ、及びこの光学ピックア
ップを備えた光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスク用の光学ピックアップ
は、例えば図４に示すように構成されている。図４にお
いて、光学ピックアップ１は、光源としての半導体レー
ザ素子２から出射された光ビームの光路中に順次に配設
された、グレーティング３，ビームスプリッタ４，コリ
メータレンズ５及び対物レンズ６と、ビームスプリッタ
４を透過した光ディスクＤからの戻り光の分離光路中に
配設された光検出器７とから構成されている。

【０００３】このような構成の光学ピックアップ１にお
いては、半導体レーザ素子２からの光ビームは、グレー
ティング３により複数の光ビームに分割され、ビームス
プリッタ４にて反射された後、グレーティング５によっ
て平行光に変換されて、対物レンズ６により光ディスク
Ｄの信号記録面に照射される。そして、この信号記録面
で反射された戻り光ビームは、対物レンズ６，コリメー
タレンズ５から、ビームスプリッタ４を透過して、光検
出器７の受光面で受光され、記録信号が検出されるよう
になっている。

【０００４】ここで、対物レンズ６は、二軸方向即ちフ
ォーカス方向及びトラッキング方向に移動可能に、例え
ば図５に示す構成の二軸アクチュエータ１０によって支
持されている。図５において、二軸アクチュエータ１０
は、対物レンズ１１が取り付けられるレンズホルダー１
２と、このレンズホルダー１２に対して、接着等により
取り付けられたコイルボビン１３と、このレンズホルダ
ー１２を一端で支持する弾性材料から成るサスペンショ
ン１４と、このサスペンション１４の他端をベース部１
５等の固定側に固定保持する取付部材１６とから構成さ
れている。

【０００５】上記レンズホルダー１２の両側には、それ
ぞれ二本の互いに平行なサスペンション１４の一端が取
り付けられている。さらに、このサスペンション１４の
他端は、取付部材１６に対して固定保持されている。こ
れにより、このレンズホルダー１２は、ベース部１５に
対して垂直な二方向、即ち符号Ｔｒｋで示すトラッキン
グ方向及び、符号Ｆｃｓで示すフォーカシング方向に移
動可能に支持されることになる。

【０００６】上記コイルボビン１３には、フォーカス用
コイル１３ａ及びトラッキング用コイル１３ｂが巻回さ
れている。他方、ベース部１５に取り付けられたヨーク
１７の端部１７ａ，１７ｂは、各コイル１３ａ，１３ｂ
に対して対向すると共に、このヨーク１７の固定部側の
一端１７ａの内側面には、マグネット１８が取り付けら
れている。尚、上記コイルボビン１３は、その上部の一
側（図示の場合、対物レンズ１１側）が、カバー１９に
より覆われている。このカバー１９は、ヨークの端部１
７ａ，１７ｂの上端を連結して、閉磁路を画成するよう
になっている。

【０００７】このような構成の二軸アクチュエータ１０
によれば、各コイル１３ａ，１３ｂにそれぞれ駆動電流
を流すことにより、各コイル１３ａまたは１３ｂに発生
する磁界が、ヨーク１７及びマグネット１８による磁界
と相互作用することにより、レンズホルダー１２及び対
物レンズ１１が、二軸方向に移動調整されることにな
る。

【０００８】かくして、正確な再生信号の検出のため
に、半導体レーザ素子２からの光ビームが光ディスクＤ
の信号記録面の正しい位置にスポットを形成して、正確
な記録信号の再生が行われることにより、上記対物レン
ズ６が、所定のサーボ信号に基づいて、二軸アクチュエ
ータ１０により、二軸方向に微動調整されるようになっ
ている。この対物レンズ６のサーボとしては、光ディス
クＤの記録トラックに対して、光ディスクＤの径方向に
沿って対物レンズ６を微動させるトラッキングサーボ
と、光軸に沿って光ディスクＤの信号記録面に接近，離
間させる方向に対物レンズ６を微動させるフォーカシン
グサーボとが行われている。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】ところで、このような
構成の二軸アクチュエータ１０は、そのベース部１５
が、図６に示すように、光学ピックアップ１の光学ベー
ス８に対して、位置調整された状態で、例えばハンダ付
けにより固定保持されている。ベース部１５は位置決め
用の部材を兼ねており、このベース部１５は、光学ベー
ス８に対して、適切な空間上の位置，即ち３次元におけ
る位置決め調整をされて、この調整後の位置を保持する
ためにハンダを充填固化することにより固定される。こ
れを二軸アクチュエータの空間調整ともいう。光学ベー
ス８は、鉄製の板金により形成された光学ベースであっ
て、その上面に、光源としての半導体レーザ素子２及び
光検出器７が一体化された受発光装置８ａや、チップコ
ンデンサ８ｂ及びボリューム８ｃそしてピンコネクタ８
ｄが実装されたガラスエポキシ基板９が載置されてい
る。さらに、光学ベース８は、その上面に、上記受発光
装置８ａの光路を折曲げるためのミラー組立体８ｅが載
置され、上方からカバー８ｆが載置されることにより、
全体が覆われると共に、その下面には、ガイドバネ８ｇ
が取り付けられる。

【００１０】ここで、上記光学ベース８ａは、二軸アク
チュエータ１０の位置調整の際に、図７に示すように、
治具１９の基準軸１９ａが嵌挿されるべき調整用基準孔
８ｈを備えている。従来は、この調整用基準孔８ｈは、
図６に示すように、位置決め用部材である調整プレート
１５ａが、固定のためにハンダ付けされる位置に対し
て、光学ベース８の長手方向反対側に配設されている。
そして、この基準孔８ｈは、通常上記ハンダ付け位置か
ら約３０ｍｍ程度の距離に位置している。従って、図７
の上段に示すように、治具１９を使用して、治具１９の
基準軸１９ａが光学ベース８の基準孔８ｈに挿入された
状態にて、調整プレート１５ａの光学ベース８に対する
位置決めが行なわれた後、調整プレート１５ａが光学ベ
ース８に対してハンダ付けされると、このハンダ付けの
熱が板金製の光学ベース８に伝達され、光学ベース８が
熱膨張することになる。

【００１１】この熱膨張は、鉄の線膨張率が１×１０-5
／℃であるから、光学ベース８が例えば常温である２５
℃から２００℃まで温度上昇すると、光学ベース８のハ
ンダ付け位置から基準孔８ｈまでの距離は、１×１０-5
×３０ｍｍ×１７５℃により求められ、５２．５×１０
-3ｍｍ即ち約５０μｍだけ伸長することになる。ここ
で、光学ベース８は、その基準孔８ｈが治具１９の基準
軸１９ａにより固定保持されていることから、図７の中
段に示すように、本来のハンダ付け位置が、基準孔８ｈ
から反対側に約５０μｍだけずれることになる。その
後、光学ベース８は、温度の下降により元の長さに戻る
と、二軸アクチュエータ１０により支持された対物レン
ズ１１の位置が、約５０μｍだけ基準孔８ｈの方向に移
動することになる。

【００１２】従って、受発光装置８ａの半導体レーザ素
子２及び光検出器７と対物レンズ１１そして光ディスク
Ｄとの光路長が短くなるので、光ディスクに記録された
情報信号の正確な再生が行なわれなくなってしまうとい
う問題があった。

【００１３】本発明は、以上の点に鑑み、位置決め用の
部材の光学ベースに対する固定位置がずれないようにし
た、光学ピックアップ及びこれを利用した光ディスク装
置を提供することを目的としている。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、この光源から出射さ
れた光ビームを光ディスクの信号記録面上に集束させる
光集束手段と、前記光源と光集束手段との間に配設され
た光分離手段と、この光分離手段で分離された光ディス
クの信号記録面からの戻り光ビームを受光する受光部を
有する光検出器と、前記光源，光分離手段及び光検出器
を支持する光学ベースと、前記光集束手段を二軸方向に
駆動調整する駆動手段と、この駆動手段の固定部を前記
光学ベースに対して固定保持する位置決め部材とを備え
ており、前記光学ベースが、前記位置決め部材による位
置調整の際に使用される調整用基準部を、位置決め部材
の固定位置のほぼ中心に備えている、光学ピックアップ
により、達成される。

【００１５】上記構成によれば、光学ベースは、二軸ア
クチュエータの位置決め部材の固定位置のほぼ中心に、
位置調整用の基準部を備えている。従って、位置調整の
際に、光学ベースは、上記位置決め部材の固定位置の中
心にて、その調整用基準部内に、治具の基準軸が通され
ることにより、位置ずれしないように保持されることに
なる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、この発明の好適な実施形態
を図１乃至図５を参照しながら、詳細に説明する。尚、
以下に述べる実施形態は、本発明の好適な具体例である
から、技術的に好ましい種々の限定が付されているが、
本発明の範囲は、以下の説明において特に本発明を限定
する旨の記載がない限り、これらの態様に限られるもの
ではない。

【００１７】図１は、本発明による光学ピックアップを
組み込んだ光ディスク装置の一実施形態を示している。
図１において、光ディスク装置２０は、光ディスク２１
を回転駆動する駆動手段としてのスピンドルモータ２２
と、回転する光ディスク２１の信号記録面に対して光ビ
ームを照射して信号を記録し、この信号記録面からの戻
り光ビームにより記録信号を再生する光学ピックアップ
３０及びこれらを制御する制御部２３を備えている。こ
こで、制御部２３は、光ディスクコントローラ２４，信
号復調器２５，誤り訂正回路２６，インターフェイス２
７，ヘッドアクセス制御部２８及びサーボ回路２９を備
えている。

【００１８】光ディスクコントローラ２４は、スピンド
ルモータ２２を所定の回転数で駆動制御する。信号復調
器２５は、光学ピックアップ３０からの記録信号を復調
して誤り訂正し、インターフェイス２７を介して外部コ
ンピュータ等に送出する。これにより、外部コンピュー
タ等は、光ディスク２１に記録された信号を再生信号と
して受け取ることができるようになっている。

【００１９】ヘッドアクセス制御部２８は、光学ピック
アップ３０を例えば光ディスク２１上の所定の記録トラ
ックまでトラックジャンプ等により移動させる。サーボ
手段としてのサーボ回路２９は、この移動された所定位
置において、光学ピックアップ３０の駆動手段である二
軸アクチュエータに保持されている光集束手段としての
対物レンズをフォーカシング方向及びトラッキング方向
に移動させる。

【００２０】図２は、上記光ディスク装置２０に組み込
まれた光学ピックアップを示している。図２において、
光学ピックアップ３０は、それぞれ光学ベース３１上に
配設された、レーザ光源としての半導体レーザ素子及び
光検出器が一体に組み込まれた受発光装置３２と、光路
折曲げミラーとしての反射面３３ａ及び立ち上げミラー
としてのプリズムミラー３４を備えたミラー組立体３３
と、光集束手段としての対物レンズ３５と、対物レンズ
３５を二軸方向に移動させるための二軸アクチュエータ
３６と、カバー３７と、から構成されている。

【００２１】ここで、上記対物レンズ３５を除く各光学
素子、即ち受発光装置３２，ミラー組立体３３，プリズ
ムミラー３４は、光学ベース３１上に、それぞれ固定保
持されている。

【００２２】ミラー組立体３３は、受発光装置３２の半
導体レーザ素子（図示せず）から上方に向かうレーザ光
ビームが、ミラー組立体３３内に入射した後、その表面
に形成された反射面３３ａによって内面反射されて、再
び発光部カバー３３内をほぼ水平方向に進んで、ミラー
組立体３３から出射するように、所謂内面反射式光路折
曲げミラーとして構成されている。ここで、ミラー組立
体３３は、受発光装置３２の半導体レーザ素子からのレ
ーザ光ビームを透過させ得るような透明樹脂によって成
形されており、光学ベース３１上の所定位置に載置され
ることにより、反射面３３ａが所定位置に位置決めされ
るようになっている。

【００２３】プリズムミラー３４は、ミラー組立体３３
上にて、斜め４５度に配設されたミラーであって、ミラ
ー組立体３３の反射面３３ａからのほぼ水平方向に進む
光ビームを垂直方向上方に向かって反射させるようにな
っている。

【００２４】上記対物レンズ３５は、凸レンズであっ
て、プリズムミラー３４からの光を、回転駆動される光
ディスク２１の信号記録面の所望のトラック上に集束さ
せる。上述のように対物レンズ３５は光集束手段である
が、本実施形態のように対物レンズを用いる外、光集束
手段としては、例えばホログラム素子等を利用すること
もできる。

【００２５】ここで、対物レンズ３５は、図５に示す二
軸アクチュエータ１０と同様に構成された二軸アクチュ
エータ３６により、二軸方向即ちフォーカシング方向及
びトラッキング方向に移動可能に支持されている。そし
て、二軸アクチュエータ３６は、固定保持されるべき固
定部３６ａと、固定部３６ａに対して互いに平行な左右
二対の弾性支持部材３６ｂにより二軸方向に移動可能に
支持された可動部３６ｃと、可動部３６ｃに取り付けら
れたフォーカス用コイル及びトラッキング用コイルと、
を備えており、上記固定部３６ａは、ベース部３６ｆに
取り付けられている。

【００２６】これに対して、上記ベース部３６ｆ上に
は、上記フォーカス用コイル及びトラッキング用コイル
を挟んで、互いに対向するように配設されたヨーク３６
ｇと、その内側に取り付けられたマグネット３６ｈが備
えられている。

【００２７】これにより、フォーカス用コイルに対して
駆動電流が流れると、フォーカス用コイルに発生する磁
界と、マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇを流れる磁束
との相互作用によって、可動部３６ｃがフォーカス方向
に駆動される。また、トラッキング用コイルに対して駆
動電流が流れると、トラッキング用コイルに発生する磁
界が、マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇを流れる磁束
との相互作用によって、可動部３６ｃがトラッキング方
向に駆動される。かくして、可動部３６ｃに保持された
対物レンズ３５が二軸方向に関して駆動制御されること
になる。さらに、二軸アクチュエータ３６は、そのベー
ス部３６ｆが、位置決め部材としての調整プレート３８
を介して、位置調整された状態にて光学ベース３１上に
ハンダ付けにより固定保持されるようになっている。

【００２８】また、上記カバー３７は、上述した光学ベ
ース３１及びその上に取り付けられた二軸アクチュエー
タ３６を含む各種要素を包囲するように光学ベース３１
に対して取り付けられると共に、光学ベース３１そして
二軸アクチュエータ３６を、光ディスク２１の半径方向
に向かって移動させるためのガイド孔３７ａを備えてい
る。

【００２９】このガイド孔３７ａに、光ディスク装置２
０のケース内にて光ディスク２１の半径方向に向かって
延びるように配設されたガイドロッド（図示せず）が挿
通されることにより、図示しない駆動手段によって、光
学ピックアップ３０全体が、光ディスク装置２０内にて
光ディスク２１の半径方向に移動され、光ディスク２１
に対してアクセスするようになっている。

【００３０】ここで、上記光学ベース３１は、板金ベー
スから成り、その上面には、ガラスエポキシ基板３９が
載置固定されている。上記光学ベース３１は、図３に示
すように、図面にて長手方向手前側に、上述した調整プ
レート３８がハンダ付けされるべき二つのランド３１ａ
を備えている。さらに、光学ベース３１は、これら二つ
のランド３１ａの間のほぼ中心付近である真ん中に、調
整用基準部とての基準孔３１ｂを備えていると共に、光
学ベース３１の長手方向反対側の領域に、位置決め用の
長手方向に延びる長孔３１ｃを備えている。

【００３１】上記ガラスエポキシ基板３９上には、受発
光装置３２，ミラー組立体３３が取り付けられていると
共に、受発光装置３２の半導体レーザ素子のための駆動
制御回路や光検出器の出力信号を処理するための回路
（図示せず）等が構成されており、これらの回路素子と
してのチップコンデンサ３９ａ，ボリューム３９ｂさら
にはピンコネクタ３９ｃが実装されている。

【００３２】さらに、光学ベース３１の下面には、ガイ
ドバネ４０がネジ４１により取り付けられている。

【００３３】本実施形態による光学ピックアップ３０を
組み込んだ光ディスク装置２０は、以上のように構成さ
れており、組立の際には、光学ベース３１は、図３に示
すように、治具４２上に移動される。そして、治具４２
の基準軸４２ａが、光学ベース３１の基準孔３１ｂに挿
入されると共に、位置決めピン４２ｂが、光学ベース３
１の位置決め用長孔３１ｃに嵌入することにより、光学
ベース３１は、治具４２に対して固定保持されることに
なる。

【００３４】この状態から、光学ベース３１に対して、
二軸アクチュエータ３６が位置調整された後、そのベー
ス部３６ｆが、調整プレート３８を介して、光学ベース
３１に対してハンダ付けされる。ここで、調整プレート
３８は、その両側の端部がそれぞれ光学ベース３１のラ
ンド３１ａに対してハンダ付けされることになる。その
際、光学ベース３１のランド３１ａは、それぞれ治具４
２に設けられた支持ピン４２ｃにより下方から支持され
ることにより、安定したハンダ付けが行われるようにな
っている。

【００３５】このハンダ付けの際に、光学ベース３１
は、そのハンダ付け用のランド３１ａの中間に位置する
基準孔３１ｂが、治具４２の基準軸４２ａにより固定保
持されている。従って、ハンダ付けによる熱が光学ベー
ス３１に伝達されて、光学ベース３１が熱膨張により伸
長したとしても、光学ベース３１のハンダ付け位置であ
るランド３１ａは、熱膨張によりずれてしまうことがな
い。これにより、ハンダ付けの後、温度が下降して、光
学ベース３１が元の長さに戻ったとき、上述したハンダ
付けにより光学ベース３１に対して固定保持された二軸
アクチュエータ３６は、その可動部３６ｃに支持された
対物レンズ３５の光軸が光学ベース３１に対してずれて
しまうようなことがない。従って、光学ピックアップ３
１は、ハンダ付けによる光学ベース３１の伸長によっ
て、二軸アクチュエータ３６により支持された対物レン
ズ３５の光軸位置がずれることがない。かくして、光デ
ィスク２１の正確な記録及び／または再生が行われるこ
とになる。

【００３６】尚、上述したハンダ付けの際に、光学ベー
ス３１がハンダ付けの熱による熱膨張によって伸長した
とき、光学ベース３１は、基準孔３１ｂと反対側の領域
にて、長孔３１ｃが治具４２の位置決めピン４２ｂに係
合していることにより、この位置決めピン４２ｂが相対
的に上記長孔３１ｃ内を移動することにより、光学ベー
ス３１に対して無用な応力が加えられないようになって
いる。

【００３７】このようにして組み立てられた光ディスク
装置２０は、次のように動作する。先づ、光ディスク装
置２０のスピンドルモータ２２が回転することにより、
光ディスク２１が回転駆動される。そして、光学ピック
アップ３０が、光ディスク２１の半径方向に移動される
ことにより、対物レンズ３５の光軸が、光ディスク２１
の所望のトラック位置まで移動されることにより、アク
セスが行なわれる。

【００３８】この状態にて、光学ピックアップ３０に
て、受発光装置３２の半導体レーザ素子からの光ビーム
は、ミラー組立体３３内に入射し、その反射面３３ａに
て内面反射することにより、光路が折曲げられて、ミラ
ー組立体３３から出射した後、プリズムミラー３４で光
ディスク２１に向かって反射され、対物レンズ３５を介
して、光ディスク２１の信号記録面に集束される。光デ
ィスク２１からの戻り光は、再び対物レンズ３５，プリ
ズムミラー３４及びミラー組立体３３を介して、受発光
装置３２に入射する。そして、受発光装置３２の光検出
器（図示せず）に集束する。これにより、光検出器の検
出信号に基づいて、光ディスク２１の信号が再生され
る。

【００３９】その際、信号復調器２５は、光検出器から
の検出信号により、トラッキングエラー信号及びフォー
カシングエラー信号を検出する。そして、サーボ回路２
９は、光ディスクドライブコントローラ２４を介して、
フォーカス用コイル及びトラッキング用コイルへの駆動
電流をサーボ制御する。即ち、フォーカス用コイルに発
生する磁界が、マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇによ
る磁界と作用することにより、可動部３６ｃが、フォー
カシング方向に移動調整され、フォーカシングが行なわ
れる。また、トラッキング用コイルに発生する磁界が、
マグネット３６ｈ及びヨーク３６ｇによる磁界と作用す
ることにより、可動部３６ｃが、トラッキング方向に移
動調整されて、トラッキングが行なわれる。

【００４０】上記実施形態による光ディスク装置２０及
び光学ピックアップ３０においては、レーザ光源とし
て、半導体レーザ素子及び光検出器が一体に構成された
受発光装置３２が使用されているが、これに限らず、レ
ーザ光源と光検出器が別体に構成されていてもよいこと
は明らかである。

【００４１】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、位
置決め部材の光学ベースに対する固定位置がずれないよ
うにして、正確な信号検出を行うことができる光学ピッ
クアップとこれを利用した光ディスク装置を提供するこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による光学ピックアップを組み込んだ光
ディスク装置の一実施形態の全体構成を示すブロック図
である。

【図２】図１の光ディスク装置における光学ピックアッ
プの構成を示す分解斜視図である。

【図３】図２の光学ピックアップにおける光学ベースと
治具との関係を示す概略斜視図である。

【図４】従来の光学ピックアップの一例における光学系
を示す側面図である。

【図５】図４の光学ピックアップにおける二軸アクチュ
エータの構成を示す分解斜視図である。

【図６】図４の光学ピックアップの構成を示す分解斜視
図である。

【図７】図６の光学ベースと二軸アクチュエータとの位
置調整及びハンダ付けによる固定保持を示す概略側面図
である。

【符号の簡単な説明】

２０・・・光ディスク装置、２１・・・光ディスク、２
２・・・スピンドルモータ、２３・・・制御部、２４・
・・光ディスクトライブコントローラ、２５・・・信号
復調器、２６・・・誤り訂正回路、２７・・・インター
フェイス、２８・・・ヘッドアクセス制御部、３０・・
・光学ピックアップ、３１・・・光学ベース、３２・・
・受発光装置、３３・・・ミラー組立体、３４・・・プ
リズムミラー、３５・・・対物レンズ、３６・・・二軸
アクチュエータ、３７・・・カバー、３８・・・調整プ
レート、３９・・・エポキシ樹脂基板、４０・・・ガイ
ドバネ、４１・・・ネジ、４２・・・治具、４２ａ・・
・基準軸、４２ｂ・・・位置決めピン、４２ｃ・・・支
持ピン。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ビームを出射する光源と、 この光源から出射された光ビームを光ディスクの信号記
   録面上に集束させる光集束手段と、 前記光源と光集束手段との間に配設された光分離手段
   と、 この光分離手段で分離された光ディスクの信号記録面か
   らの戻り光ビームを受光する受光部を有する光検出器
   と、 前記光源，光分離手段及び光検出器を支持する光学ベー
   スと、 前記光集束手段を二軸方向に駆動調整する駆動手段と、 この駆動手段の固定部を前記光学ベースに対して固定保
   持する位置決め部材とを備えており、 前記光学ベースが、前記位置決め部材による位置調整の
   際に使用される調整用基準部を、位置決め部材の固定位
   置のほぼ中心に備えていることを特徴とする光学ピック
   アップ。
2. 【請求項２】 前記調整用基準部は、ハンダ付けによる
   固定の際に利用される基準孔であることを特徴とする請
   求項１に記載の光学ピックアップ。
3. 【請求項３】 前記光学ベースが、前記基準孔から長手
   方向に離れた位置に、長手方向に延びる位置決め用長孔
   を備えていることを特徴とする請求項２に記載の光学ピ
   ックアップ。
4. 【請求項４】 光源から出射した光ビームを光ディスク
   の信号記録面上に集束する光集束手段と、 光ディスクの信号記録面からの戻り光ビームを受光する
   受光部を有する光検出手段と、 前記光集束手段を二軸方向に駆動調整する駆動手段と、 前記光検出手段の受光部からの信号に基づいて、サーボ
   信号を得る演算部と、 前記サーボ信号に基づいて、前記駆動手段に駆動電流を
   供給するサーボ手段と、 前記光源，光検出手段，演算部を支持する光学ベース
   と、 この駆動手段の固定部を前記光学ベースに対して固定保
   持する位置決め部材とを備えており、 前記光学ベースが、前記位置決め部材による位置調整の
   際に使用される調整用基準部を、位置決め部材の固定位
   置のほぼ中心に備えていることを特徴とする光ディスク
   装置。