JPH1081952A - 反応性物理蒸着装置および反応性物理蒸着方法 - Google Patents
反応性物理蒸着装置および反応性物理蒸着方法Info
- Publication number
- JPH1081952A JPH1081952A JP9164797A JP16479797A JPH1081952A JP H1081952 A JPH1081952 A JP H1081952A JP 9164797 A JP9164797 A JP 9164797A JP 16479797 A JP16479797 A JP 16479797A JP H1081952 A JPH1081952 A JP H1081952A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum chamber
- pump
- physical vapor
- metal
- reactive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/32—Gas-filled discharge tubes
- H01J37/32431—Constructional details of the reactor
- H01J37/32798—Further details of plasma apparatus not provided for in groups H01J37/3244 - H01J37/32788; special provisions for cleaning or maintenance of the apparatus
- H01J37/32816—Pressure
- H01J37/32834—Exhausting
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/06—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
- C23C14/0641—Nitrides
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
- C23C14/22—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
- C23C14/56—Apparatus specially adapted for continuous coating; Arrangements for maintaining the vacuum, e.g. vacuum locks
- C23C14/564—Means for minimising impurities in the coating chamber such as dust, moisture, residual gases
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/02—Details
- H01J37/18—Vacuum locks ; Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J7/00—Details not provided for in the preceding groups and common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J7/14—Means for obtaining or maintaining the desired pressure within the vessel
- H01J7/18—Means for absorbing or adsorbing gas, e.g. by gettering
- H01J7/183—Composition or manufacture of getters
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S417/00—Pumps
- Y10S417/901—Cryogenic pumps
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Compressors, Vaccum Pumps And Other Relevant Systems (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
ことができる方法および装置を提供することである。 【解決手段】 真空チャンバ34と、該真空チャンバ3
4内に配置された基板支持部20と、耐火金属および貴
金属からなる群から選択される金属製で前記基板支持部
20の上方に配置されたターゲット22と、前記真空チ
ャンバ34に窒素ガスを導入するためのガス吸入口と、
基板上における前記金属の窒化物の反応性物理蒸着中に
前記真空チャンバ34の第一ポンプ手段として供される
非蒸発型ゲッターポンプ25とを備える。ゲッターポン
プ25は、実質的にジルコニウムおよび鉄の合金からな
る合金製であり、好ましくは15〜30重量%の鉄、お
よび70〜85重量%のジルコニウムからなる。
Description
cal vapor deposition;PVD)をより特別には反応性
ガス(反応性PVD)すなわち窒素の存在下で実施する
ための方法および装置に関する。
る種類の層(レイヤ)を生産するために実行される。二
つの一般的なこのような層は、バリヤー層ないしは反射
防止膜として用いられるTiN(窒化2チタン)および
集積回路内で抵抗体として用いられる窒化タンタル(T
a2 N)である。しかしながら、タングステンなどの他
の貴金属の無反応性がバリヤー層を形成するために用い
られることもある。
圧の反応性窒素ガスおよびアルゴンの存在のもと、アル
ゴンの場合、典型的に3mTorrの分圧のオーダー、およ
び窒素の場合、一般的に0.5から5mTorrの分圧の範
囲のもと、真空蒸着ツール内で、上例中のチタンまたは
タンタルといった金属製ターゲットの下方に配置され
る。水蒸気のような不純物の分圧は10-9Torrである。
出願人は、PVD処理をとりわけ実行するクラスタツー
ルを記述してきた。このクラスタツールは、イタリア
ミラノに所在するSAESゲッター ソシエタ ペル
アチオニが製造可能な真空チャンバから不純物を除去す
る第一ポンプとしてNEG(Non-Evaporable Getter;非
蒸発型ゲッター)物質を用いる。これと関連する共通の
係属出願中に記述されたこのツールは、反応性PVDの
ために用いられることはない。その理由は、ポンプとし
て用いられるNEG物質がアルゴンを吸収せず、窒素を
吸収するからである。
VD処理を実施することができる方法および装置を提供
することである。
(蒸着)チャンバと、該真空チャンバ内に配置された基
板支持部と、耐火金属および貴金属からなる群から選択
される金属製で前記基板支持部の上方に配置されたター
ゲットと、前記真空チャンバに窒素ガスを導入するため
のガス吸入口と、前記基板上における前記耐火金属また
は貴金属の窒化物の反応性物理蒸着中に前記真空チャン
バ内で第一ポンプ手段として供される非蒸発型ゲッター
ポンプと、窒素と非反応性で実質的にジルコニウムおよ
び鉄からなる合金のような物質からなる前記非蒸発型ゲ
ッターポンプとを備え、基板上に窒化物層を形成する反
応性物理蒸着を施すための装置が提供される。
る金属または貴金属は、タングステンのようなバリヤー
層を形成するため、例えば、チタン若しくはタンタルま
たは他の適当な金属とできる。
が、窒素と反応せず、高効率なターボ分子ポンプおよび
低温ポンプなしで真空チャンバ内で反応性PVDを実行
することができて好適だからである。これらのポンプ
は、他の点では、10-9Torrおよびそれ以下のオーダー
で不純物に要求される低圧を達成するために必要とされ
る。
5〜30重量%の鉄および70〜85重量%のジルコニ
ウムからなる合金を含む。このようなNEG物質は、例
えばアメリカ特許第5,238,469号に記述されて
いる。
空チャンバ内に基板を載置し、NEGポンプを十分活性
化させる圧力に減圧し、真空チャンバ内に内に窒素ガス
を導入し、前記基板上に耐火金属または貴金属の窒素物
層を蒸着するステップを含み、および非蒸発型ゲッター
ポンプを備えた真空チャンバから不純物を継続的に除去
し、前記非蒸発型ゲッターポンプが窒素と非反応性で実
質的にジルコニウムおよび鉄からなる合金のような物質
からなり、基板上に反応性物理蒸着を施すための方法を
提供する。
態につき、添付図面を参照して詳細に説明する。
て、背部ヒータとして供される支持部20の上に配置さ
れたウエーハ21を含む。ターゲット(極板)22は、
チタンまたはタンタルで形成され、蒸着チャンバ内でウ
エーハ21の上方に設置される。ターゲットは反応性P
VD処理中にカソードとして供され、ウエーハはアノー
ドとして供される。
上方に配置され、チャンバ34がアクセス、例えばター
ゲット22が除去されることを可能にするために開放さ
れるのを許容する。
ーボ分子ポンプ50,51の直列連結は、NEGポンプ
25への導入前に約10-5Torrの初期減圧をするために
供される。ポンプ50はV550ターボポンプであり、
ポンプ51はV70LPターボポンプである。
25は、ほぼ、ウエーハ21とウエーハヒータを具備す
る支持部20とを囲繞している。ポンプ25は、主蒸着
チャンバ34の下方に位置する液密な円筒状副チャンバ
32内に延びるラチェット機構31の上に配置されてい
る。ラチェット機構は爪35を含み、NEGポンプが図
示された作動位置内に上昇しおよび副チャンバ32内の
後退位置内に待避することを可能にする。爪35は、人
手によりまたは小型電気モータにより回転されるものと
できる。好ましくは、いくつかの好適な上昇および下降
手段を用いることもできる。
のゲッターポンプ25と適応する環状の開口37を備え
ている。リング状ポンプ35は、上部リップ25cおよ
び下部リップ25dを形づくる僅かに凹んだ本体部分2
5aを有している。
a,39bが、NEGポンプ25の各内外表面で下部リ
ップ25dの上方および上部リップ25cの下方のそれ
ぞれに設けられている。
bはチャンバ34の底壁の下面をシールする。後退位置
(図示しない)において、Oリング39a,39bはチ
ャンバ34の底壁の上面をシールする。
支持部20を完全に遮蔽するため底壁36に向けてわた
る多数の遮蔽板29aを含んでいる。ウエーハがそこを
通して分離弁23に向けていくようにパスする(逆もま
た同様)ことを許容するため、スリット40が遮蔽板2
9aに形成され、スリット41はNEGポンプ25に形
成されている。
けるアルゴンおよび窒素の蒸着チャンバ34への継続的
な給気のためのガス導入弁42を備えている。窒素の総
合的な圧力は、弁42を通過する流れ量およびポンプ5
0,57の排気速度を制御することによって容易に制御
することができる。一般的に、窒素の分圧は0.5〜1
0mTorrの範囲内、典型的には3mTorrであり、アルゴ
ンの分圧は0.5〜5mTorr、典型的には3mTorrであ
る。
たは再生の目的でゲッター物質25を加熱するため赤外
ランプ43の積み重ねによって囲繞されている。赤外ラ
ンプは先の実施形態を参照して述べられた堅固な支持で
あることが好ましい。
れたように上昇位置にある。赤外ランプ43がNEG物
質25の活性化または再生の目的で動作される。それら
はまた、ポンプ速度が温度を伴って顕著に増加するた
め、ウエーハ処理の過程でNEG物質を加熱するために
用いられる。約280℃の温度でNEGポンプ25が動
作されることが望ましい。
着チャンバ34を開放したい場合には、NEGポンプは
副チャンバ32内に待避され、シール38a,38bの
作用によりシール性が保持される。減圧は副チャンバ3
2内で継続され、副チャンバはNEGポンプ25の過渡
位置において主蒸着チャンバ34と一時的に連通され
る。したがって、NEG物質は蒸着チャンバ34が開放
されている間、大気に曝されない。
されたガスを除去するため蒸着チャンバの壁を焼き付け
る二つの目的をも供する。
からなり、25cmの高さと45cmの外径を有し合計表面
積が60000cm2 である円筒の外面に240(25cm
×5cm)のフィンが分散配置されて形づくられている。
るために450℃で45分間にわたり10-5Torrで用い
られ、通常動作のためにはNEGポンプを200℃に保
持する。
造が、乾式ポンプからガスが還流することを阻止するた
め、およびH2 ,H2 O ,O2 のような不純物の分圧
を10-10 Torrより低く維持するために用いられる方が
よい。
的にジルコニウムおよび鉄の合金からなる合金製であ
り、好ましくは15〜30重量%の鉄、および70〜8
5重量%のジルコニウムからなるのがよい。好適な合金
は、イタリアのミラノに所在するSAESゲッター ソ
シエタ ペル アチオニにより商品名St101ゲッタ
ーアロイとして売買される。このような合金は上述した
アメリカ特許第5,238,469号に記述されてい
る。
的な進歩をもたらす。これと関連する前述の係属中の出
願は、かねてからクラスタ装置に付随してきた嵩ばって
高価なターボ分子ポンプおよびクライオポンプを必要と
しない非常に重要な進歩である。しかしながら、前述の
この発明は、NEGゲッターが窒素のような反応に寄与
することを可能にするガスを一般に吸収するため、反応
性PVDに好適でないことが理解されよう。NEGゲッ
ターが窒素と反応しないで適用される現実は、反応性P
VDが前述の方法すなわち大きなクライオポンプなしで
実行することが可能になるため、非常に重要である。チ
タンおよびタンタル窒化物層の組成は、半導体ウエーハ
製造の局面で非常に重要であり、かつこのような処理に
この発明を拡張する技術としてとても重要である。
ものではなく、本発明の精神および範囲から離れること
なく当該技術分野の当業者が容易に想到し得る変更並び
に変形も本発明の範囲に含まれるものであることは勿論
である。
を示す概略的な断面図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 真空チャンバと、該真空チャンバ内に配
置された基板支持部と、耐火金属および貴金属からなる
群から選択される金属製で前記基板支持部の上方に配置
されたターゲットと、前記真空チャンバに窒素ガスを導
入するためのガス吸入口と、前記基板上における前記金
属の窒化物の反応性物理蒸着中に前記真空チャンバの第
一ポンプ手段として供される非蒸発型ゲッターポンプ
と、窒素に対して非反応性で合金などの物質によって構
成される前記非蒸発型ゲッターポンプとを備えたことを
特徴とする基板上に窒化物層を形成する反応性物理蒸着
装置。 - 【請求項2】 前記物質はジルコニウムおよび鉄の合金
であることを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 前記合金は、15〜30重量%の鉄、お
よび70〜85重量%のジルコニウムからなることを特
徴とする請求項2に記載の装置。 - 【請求項4】 前記金属が、チタニウム、タンタルおよ
びタングステンの群から選択されることを特徴とする請
求項1に記載の装置。 - 【請求項5】 NEGポンプの存在下で真空チャンバ内
に基板を載置し、NEGポンプを稼働させるのに十分な
圧力に減圧し、真空チャンバ内に窒素ガスを導入し、前
記基板上に金属窒化物層を蒸着するステップを含み、前
記金属は耐火金属および貴金属からなる群から選択され
るものであり、および非蒸発型ゲッターポンプを備えた
真空チャンバから不純物を継続的に除去し、前記非蒸発
型ゲッターポンプが窒素と反応しない物質からなること
を特徴とする反応性物理蒸着方法。 - 【請求項6】 前記物質が、実質的にジルコニウムおよ
び鉄の合金からなることを特徴とする請求項5に記載の
方法。 - 【請求項7】 前記合金は、鉄が重量で15から30
%、およびジルコニウムが重量で70〜85%からなる
ことを特徴とする請求項6に記載の方法。 - 【請求項8】 前記金属が、チタニウム、タンタルおよ
びタングステンの群から選択されることを特徴とする請
求項5に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/666,257 US5778682A (en) | 1996-06-20 | 1996-06-20 | Reactive PVD with NEG pump |
US08/666,257 | 1996-06-20 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1081952A true JPH1081952A (ja) | 1998-03-31 |
Family
ID=24673455
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9164797A Pending JPH1081952A (ja) | 1996-06-20 | 1997-06-20 | 反応性物理蒸着装置および反応性物理蒸着方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5778682A (ja) |
JP (1) | JPH1081952A (ja) |
CA (1) | CA2208162C (ja) |
GB (1) | GB2314347B (ja) |
TW (1) | TW367543B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6361618B1 (en) | 1994-07-20 | 2002-03-26 | Applied Materials, Inc. | Methods and apparatus for forming and maintaining high vacuum environments |
IT1297013B1 (it) | 1997-12-23 | 1999-08-03 | Getters Spa | Sistema getter per la purificazione dell'atmosfera di lavoro nei processi di deposizione fisica da vapore |
US6077404A (en) | 1998-02-17 | 2000-06-20 | Applied Material, Inc. | Reflow chamber and process |
IT1312248B1 (it) * | 1999-04-12 | 2002-04-09 | Getters Spa | Metodo per aumentare la produttivita' di processi di deposizione distrati sottili su un substrato e dispositivi getter per la |
US6257001B1 (en) * | 1999-08-24 | 2001-07-10 | Lucent Technologies, Inc. | Cryogenic vacuum pump temperature sensor |
US20070020115A1 (en) * | 2005-07-01 | 2007-01-25 | The Boc Group, Inc. | Integrated pump apparatus for semiconductor processing |
CN104532192B (zh) * | 2014-12-19 | 2018-01-30 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 蒸镀装置 |
US10661223B2 (en) | 2017-06-02 | 2020-05-26 | Applied Materials, Inc. | Anneal chamber with getter |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3536418A (en) * | 1969-02-13 | 1970-10-27 | Onezime P Breaux | Cryogenic turbo-molecular vacuum pump |
IT1115156B (it) * | 1979-04-06 | 1986-02-03 | Getters Spa | Leghe zr-fe per l'assorbimento di idrogeno a basse temperature |
US4488506A (en) * | 1981-06-18 | 1984-12-18 | Itt Industries, Inc. | Metallization plant |
US4599869A (en) * | 1984-03-12 | 1986-07-15 | Ozin Geoffrey A | Cryogenic deposition of catalysts |
EP0201877A3 (de) * | 1985-05-09 | 1987-11-19 | Nokia Graetz Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Direkt geheizter Sorptions-Getterkörper |
US4874339A (en) * | 1985-08-09 | 1989-10-17 | Saes Getters S.P.A. | Pumping tubulation getter |
JPH0624629B2 (ja) * | 1990-02-09 | 1994-04-06 | 科学技術庁金属材料技術研究所長 | 内部拡散薄膜型ゲッター材料 |
US5238469A (en) * | 1992-04-02 | 1993-08-24 | Saes Pure Gas, Inc. | Method and apparatus for removing residual hydrogen from a purified gas |
JPH08203830A (ja) * | 1994-07-20 | 1996-08-09 | Applied Materials Inc | 高温超高真空用真空処理チャンバ |
US5685963A (en) * | 1994-10-31 | 1997-11-11 | Saes Pure Gas, Inc. | In situ getter pump system and method |
US5935395A (en) * | 1995-11-08 | 1999-08-10 | Mitel Corporation | Substrate processing apparatus with non-evaporable getter pump |
-
1996
- 1996-06-20 US US08/666,257 patent/US5778682A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-06-18 GB GB9712674A patent/GB2314347B/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-06-19 CA CA002208162A patent/CA2208162C/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-06-20 JP JP9164797A patent/JPH1081952A/ja active Pending
- 1997-06-20 TW TW086108643A patent/TW367543B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CA2208162C (en) | 2000-08-22 |
GB2314347B (en) | 1999-12-29 |
US5778682A (en) | 1998-07-14 |
GB2314347A (en) | 1997-12-24 |
GB9712674D0 (en) | 1997-08-20 |
CA2208162A1 (en) | 1997-12-20 |
TW367543B (en) | 1999-08-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5935395A (en) | Substrate processing apparatus with non-evaporable getter pump | |
JP3677211B2 (ja) | 物理蒸着室および化学蒸着室を共に処理システムに統合するためのバッファ室および統合方法 | |
CN1177079C (zh) | 现场吸气泵系统和方法 | |
JP2001501693A (ja) | クライオポンプ/ゲッターポンプの組み合わせポンプとその再生方法 | |
US5154582A (en) | Rough vacuum pump using bulk getter material | |
US6589599B1 (en) | Easily loaded and unloaded getter device for reducing evacuation time and contamination in a vacuum chamber and method for use of same | |
JPH1081952A (ja) | 反応性物理蒸着装置および反応性物理蒸着方法 | |
EP0693626B1 (en) | Vacuum chamber for ultra high vacuum processing at high temperatures | |
JP6916537B2 (ja) | 非蒸発型ゲッタコーティング部品、容器、製法、装置 | |
US6241477B1 (en) | In-situ getter in process cavity of processing chamber | |
JP4451498B2 (ja) | 非常に高真空の系において真空を改善するための装置と方法 | |
JPH0529448A (ja) | 排気方法 | |
US6361618B1 (en) | Methods and apparatus for forming and maintaining high vacuum environments | |
JP4056829B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2006307274A (ja) | 真空装置 | |
JPH06346848A (ja) | クライオポンプの再生方法及び真空排気系 | |
EP1076729A1 (en) | Low pressure purging method | |
JP4364380B2 (ja) | 薄膜作製装置及び薄膜作製方法 | |
JPH05299364A (ja) | トラップ装置 | |
JPS63290269A (ja) | スパッタリング装置 | |
JP7445408B2 (ja) | 基板処理装置及び基板処理装置の立ち上げまたはメンテナンス方法 | |
RU2240377C2 (ru) | Способ увеличения производительности процессов осаждения тонких пленок на подложку | |
JP7011384B2 (ja) | 真空処理装置及び希ガス回収装置 | |
JPH06251744A (ja) | 蒸発型ゲッタポンプ | |
JPH0528943A (ja) | 真空装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040225 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20061219 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070223 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20070320 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20070403 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |