JPH1065209A - 半導体電磁波発生装置 - Google Patents

半導体電磁波発生装置

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JPH1065209A
JPH1065209A JP21823996A JP21823996A JPH1065209A JP H1065209 A JPH1065209 A JP H1065209A JP 21823996 A JP21823996 A JP 21823996A JP 21823996 A JP21823996 A JP 21823996A JP H1065209 A JPH1065209 A JP H1065209A
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JP
Japan
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semiconductor
quantum well
electromagnetic wave
resonator
layer
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JP21823996A
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Mitsuru Sugawara
充 菅原
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体電磁波発生装置に関し、外部から電界
を印加することなく電磁波を発生させる。 【解決手段】 半導体共振器4の内部に半導体量子井戸
3を配置すると共に、半導体量子井戸3の内部にピエゾ
電界が発生する様に構成したことを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体電磁波発生装
置に関するものであり、特に、半導体量子井戸内に閉じ
込められた励起子と共振器内に閉じ込められた光との相
互作用を利用して〜100μmの波長の電磁波を発生さ
せる半導体電磁波発生装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、GaAs等の化合物半導体
は、光通信、光情報処理用光デバイスの材料として広く
用いられており、この様な化合物半導体の持つ物性の中
で、励起子による光学遷移は極めて重要であり、特に、
励起子を利用した光デバイスとしては、数GHzの動作
速度を持つ光変調器が既に実用化している。
【0003】この励起子とは、光によって生成した電子
と正孔とがクーロン相互作用によって引き合い、結合状
態を作ったものであり、光との相互作用が極めて強く
(高い振動子強度や強い非線形性)、光との波数を保存
して相互作用する(コヒーレント相互作用)など、ユニ
ークな性質を有する。
【0004】近年、この様な励起子の性質を利用して新
しい光素子を生み出そうとする研究が盛んに行われてお
り、その様な新しい試みの一つとして、半導体量子井戸
を半導体微小共振器の中に置き、半導体量子井戸に閉じ
込められた励起子と半導体微小共振器に閉じ込められた
光を強く相互作用させて新しい機能を引き出そうとする
ものがある。
【0005】この様な励起子は、特に、共振器励起子ポ
ラリトンと呼ばれ、半導体量子井戸に外部から電界を印
加した場合、この共振器励起子ポラリトンからTHzの
周波数の電磁波、即ち、100μmオーダーの電磁波が
発生することが指摘されて注目を集めているので、この
様な従来の半導体電磁波発生装置を図3乃至図5を参照
して説明する。
【0006】図3参照 図3は従来の半導体電磁波発生装置の概略的構成を示す
もので、半導体量子井戸21を微小共振器23の中に配
置することによって構成され、微小共振器23を構成す
る一対の反射鏡22の間隔は励起用入射光24により励
起される励起子の共鳴波長程度に設定する。
【0007】その結果、自由空間中では光子モード密度
が連続的であるのに対して、共振器内では共振器モード
に応じた離散的な波長に光子モードが集中するので、励
起子の遷移波長と共振器モードの波長とを等しくして共
鳴させると、励起子の光の自然放射による発光が著しく
増強され、励起子の寿命(ライフタイム)が1ps(ピ
コ秒)以下までに短くなる。
【0008】そして、微小共振器23からの光の脱出時
間が励起子の発光時間よりも十分長ければ、発生した光
は再び半導体量子井戸21の内部で吸収されて励起子を
生み出すようになる。
【0009】図4参照 図4は、量子井戸内の励起子の存在確率の時間変化を、
自由空間中と共振器中とで計算したものであり、自由空
間中では、実線で示す様に一定の割合で減衰していくの
に対して、共振器中では、破線で示す様に励起子の発光
と再吸収とが繰り返される結果、振動的な振る舞いを示
し、共振器励起ポラリトンと呼ばれる(なお、この計算
の詳細な内容は、本発明者により、Physical
Review Bに発表予定)。
【0010】ここで、量子井戸に電界を印加すると、励
起子を構成する電子と正孔は分極して電気双極子を形成
するが、この電気双極子が図4に示す様に振動的な振る
舞いを示すので、図3に示すように電磁波25が発生す
ることになる。
【0011】この振動の周期は、半導体量子井戸を構成
する半導体の種類に依存するが、例えば、GaAs/A
lGaAs量子井戸では500fs(フェムト秒)〜1
ps(ピコ秒)程度であるため、電磁波25の周波数は
約1〜2THz程度となる(必要ならば、Y.Kado
ya,K.Kameda,M.Yamanishi,
T.Nishikawa,S.Nishizawa,
T.Kannari,T.Ishihara,and
I.Ogura,Applied PhysicsLe
tters,Vol.68,No.3,1996,p
p.281〜283参照)。
【0012】図5参照 この場合の実際の電圧の印加方法としては、例えば、G
aAsからなる量子井戸層26を、n型AlGaAsバ
リア層27とp型AlGaAsバリア層28との間に挟
み、それらの間に逆バイアスを印加すれば良く、逆バイ
アスの印加によって量子井戸層26の面に垂直方向のバ
ンドは斜めに傾いて、電子の波動関数29と正孔の波動
関数30が分極を起こすことになる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】しかし、逆バイアスを
印加して電子の波動関数と正孔の波動関数とを分離する
場合には、バリア層をドーピングすることが必要になる
と共に、バイアスのための外部回路が必要になり、半導
体電磁波発生装置の構成が複雑化するという問題点があ
る。
【0014】したがって、本発明は、ドーピング層や外
部回路を必要とすることなく、即ち、外部から電界を印
加することなく電磁波を発生させることを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理的構
成の説明図であり、この図1を参照して本発明の課題を
解決するための手段を説明する。 図1参照 (1)本発明は、半導体電磁波発生装置において、半導
体共振器4の内部に半導体量子井戸3を配置すると共
に、半導体量子井戸3の内にピエゾ電界が発生する様に
構成したことを特徴とする。
【0016】半導体量子井戸3を、歪み量子井戸構造と
して、〈111〉方向や〈112〉方向に結晶成長させ
ることによって、半導体量子井戸3の内に105 V/c
m程度の大きなピエゾ電界を発生させることができ(必
要ならば、D.L.Smith and C.Mail
hoit,Rev.Mod.Phys.,Vol.6
2,1990,p.173参照)、このピエゾ電界によ
って外部から電界を印加することなく、励起子を構成す
る電子の波動関数と正孔の波動関数を分極して双極子を
形成することができる。
【0017】(2)また、本発明は、上記(1)におい
て、半導体量子井戸3の内に励起子を生成するための励
起源としてパルスレーザを用いたことを特徴とする。
【0018】この様に、半導体量子井戸3の内に励起子
を効率よく生成するための励起源としては、励起子の吸
収波長に一致する波長のパルスレーザが最も適してい
る。
【0019】(3)また、本発明は、上記(1)または
(2)において、半導体共振器4が半導体多層構造によ
る分布ブラッグ反射器であることを特徴とする。
【0020】この様に、半導体共振器4として、半導体
多層構造による分布ブラッグ反射器(DBR)を用いる
ことによって、装置全体の構成を小型化することができ
ると共に、半導体量子井戸層1とバリア層2とからなる
半導体量子井戸3と、分布ブラッグ反射器からなる半導
体共振器4を一連の結晶成長工程によって簡単に製造す
ることができる。
【0021】(4)また、本発明は、上記(3)におい
て、分布ブラッグ反射器を構成する半導体層の一部が半
導体量子井戸3のバリア層2を兼ねることを特徴とす
る。
【0022】この様に、半導体量子井戸3のバリア層2
として、分布ブラッグ反射器を構成する半導体層の一部
を用いることにより、装置全体の構成をさらに簡素化す
ることができる。
【0023】
【発明の実施の形態】ここで、図2を参照して本発明の
実施の形態を説明する。 図2(a)参照 (111)面を主面とするGaAs基板11上に、MO
VPE法(有機金属気相成長法)を用いて、GaAs層
12及びAlGaAs層13を交互に積層させてDBR
(分布ブラッグ反射器)共振器15,16を形成すると
ともに、DBR共振器15,16を構成するGaAs層
12の間に厚さ1〜20nm、例えば、7nmのInG
aAs量子井戸層14を挿入する。
【0024】この場合、InGaAs量子井戸層14は
両側に隣接するGaAs層12と共に量子井戸構造を構
成し、また、InGaAs量子井戸層14の組成比は、
例えば、In組成比が0.1のIn0.1 Ga0.9 Asで
あり、その場合の励起子の発光波長は、温度にもよる
が、λ≒0.9μmである。
【0025】そして、DBR共振器15,16を構成す
るGaAs層12及びAlGaAs層13の厚さは、I
nGaAs量子井戸層14内の励起子の発光波長の各層
内における波長(媒質内波長)の1/4とする必要があ
る。
【0026】この様な半導体電磁波発生装置用試料を、
光学窓のついたクライオスタット(図示せず)の中に収
納し、外部から励起子の遷移エネルギーに共鳴する波長
が0.9μmで、パルス幅が100fsの励起用入射レ
ーザ光17を試料に角度10°〜30°、例えば、角度
20°で照射し、温度を10°K近傍に下げて、その近
傍で温度を微調整することによって、励起子遷移エネル
ギーと共振器モードとを共鳴させ、共鳴したところで、
角度20°の方向に1THz近傍の周波数の電磁波18
が放出されることになる。
【0027】これは、InGaAs/GaAs系半導体
歪み量子井戸を、〈111〉方向に結晶成長させている
ので、量子井戸内で105 V/cm程度のピエゾ電界が
発生し、このピエゾ電界によってInGaAs量子井戸
層14の内部において、励起用入射レーザ光17の吸収
により発生した励起子を構成する電子の波動関数と正孔
の波動関数とが分極されて電気的双極子を構成する。
【0028】この電気的双極子は、図4に関して説明し
たように、励起子の発光と再吸収とを繰り返して振動的
な振る舞いを示すので、古典電磁気学における双極子と
同様に電磁波18を放射することになる。
【0029】また、励起用入射レーザ光17を20°等
の所定の入射角で試料表面に入射させた場合、InGa
As量子井戸層14の内部で発生した複数の双極子から
放出される電磁波が相互に干渉して、入射角θが保存さ
れる様な出射角で電磁波18が放出されることになる。
【0030】この様に、本発明においては、バリア層を
ドープして形成したp型層とn型層との間に逆バイアス
を外部から印加することなく、双極子を形成することが
できるので、外部回路が不要になり、半導体電磁波発生
装置を大幅に簡素化することが可能になる。
【0031】なお、この場合の励起用光源としては、I
nGaAs量子井戸層14内の励起子の遷移エネルギー
に共鳴する光で発振することが可能なTiサファイア
(Ti−Al2 3 )レーザを用いる。
【0032】また、本発明の実施の形態においては、量
子井戸層はIn組成比が0.1のIn0.1 Ga0.9 As
であるが、必要に応じて他の組成比のInGaAsを用
いても良いものであり、さらに、量子井戸層を2層以上
挿入してMQW(多重量子井戸)構造とし、電磁波の出
射強度を高めるようにしても良い。
【0033】また、量子井戸層は、InGaAsに限ら
れるものではなく、任意の組成の半導体を用いても良い
ものであり、それに応じてバリア層及びDBR共振器を
構成する半導体層の組成を適宜変更しても良いものであ
る。
【0034】また、上記の実施の形態においては、半導
体量子井戸を構成するバリア層は、DBR共振器の一部
を兼ねているが、このバリア層はDBR共振器とは別個
に形成しても良いものである。
【0035】また、上記の実施の形態においては、基板
として、(111)面を主面とするGaAs基板を用い
ているが、(111)面に限られるものではなく、(1
11)面と同様に大きなピエゾ電界が得られる(11
2)面を主面とするGaAs基板等を用いても良いもの
である。
【0036】
【発明の効果】本発明によれば、半導体量子井戸内部に
発生するピエゾ電界を用いることによって、外部から電
圧を加えなくとも電磁波の発生が可能になり、半導体電
磁波発生装置を大幅に簡素化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理的構成の説明図である。
【図2】本発明の実施の形態の説明図である。
【図3】従来の半導体電磁波発生装置の説明図である。
【図4】量子井戸内の励起子の存在確率の時間変化を示
す図である。
【図5】従来の半導体電磁波発生装置における電圧印加
方法の説明図である。
【符号の説明】
1 半導体量子井戸層 2 バリア層 3 半導体量子井戸 4 半導体共振器 11 GaAs基板 12 GaAs層 13 AlGaAs層 14 InGaAs量子井戸層 15 DBR共振器 16 DBR共振器 17 励起用入射レーザ光 18 電磁波 21 半導体量子井戸 22 反射鏡 23 微小共振器 24 励起用入射光 25 電磁波 26 量子井戸層 27 n型AlGaAsバリア層 28 p型AlGaAsバリア層 29 電子の波動関数 30 正孔の波動関数

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体共振器内部に半導体量子井戸を配
    置すると共に、前記半導体量子井戸の内にピエゾ電界が
    発生する様に構成したことを特徴とする半導体電磁波発
    生装置。
  2. 【請求項2】 上記半導体量子井戸内に励起子を生成す
    るための励起源として、パルスレーザを用いたことを特
    徴とする請求項1記載の半導体電磁波発生装置。
  3. 【請求項3】 上記半導体共振器が、半導体多層構造に
    よる分布ブラッグ反射器であることを特徴とする請求項
    1または2に記載の半導体電磁波発生装置。
  4. 【請求項4】 上記分布ブラッグ反射器を構成する半導
    体層の一部が、上記半導体量子井戸のバリア層を兼ねる
    ことを特徴とする請求項3記載の半導体電磁波発生装
    置。
JP21823996A 1996-08-20 1996-08-20 半導体電磁波発生装置 Withdrawn JPH1065209A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013115435A (ja) * 2011-11-25 2013-06-10 Lg Innotek Co Ltd 紫外線半導体発光素子
US20140075726A1 (en) * 2009-10-01 2014-03-20 Stmicroelectronics (Crolles 2) Sas Method for manufacturing baw resonators on a semiconductor wafer

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