JPH1063532A - 検査項目生成装置 - Google Patents

検査項目生成装置

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JPH1063532A
JPH1063532A JP8218767A JP21876796A JPH1063532A JP H1063532 A JPH1063532 A JP H1063532A JP 8218767 A JP8218767 A JP 8218767A JP 21876796 A JP21876796 A JP 21876796A JP H1063532 A JPH1063532 A JP H1063532A
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action
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JP8218767A
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Inventor
Hiroshi Ishikawa
洋 石川
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 制御機器の実際の仕様とプログラムの設計仕
様との間に不整合があっても、マイクロコンピュータを
制御機器に組込んだ際に行なうべき検査項目を実際の仕
様に合わせて生成する。 【解決手段】 状態遷移表T1には、状態遷移毎にイベ
ント情報とアクション情報とが対応して記述され、イベ
ント操作対応表T2には制御機器1が発生すべきイベン
ト情報と制御機器1の操作内容とが対応して記述され、
アクション動作対応表T3にはマイクロコンピュータが
発生すべきアクション情報と制御機器1の動作内容とが
対応して記述されている。このため、遷移抽出部32が
状態遷移表T1からイベント情報とアクション情報とを
抽出すると、変換部33,34が対応表T2,T3に基
づいて制御機器の操作内容および動作内容に変換し、出
力部35がその変換結果を検査項目として出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータによって動作内容が制御される制御機器の検査項目
を生成する検査項目生成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】現在、家電や自動車、産業用制御機器等
の様々な制御機器の動作は、その制御機器の中に組込ま
れたマイクロコンピュータによって制御されることが一
般的になっている。この様なマイクロコンピュータのプ
ログラムが正しく作成され、制御機器が正常に動作する
ことを検証するには、マイクロコンピュータを実際に制
御機器に組込み、またはそれと等価の条件を備えた検証
用の環境の上で、所定の検査項目に基づき検査作業を行
なって、制御機器の動作を確認する必要がある。
【0003】そのため、このような検査項目を自動的に
作成する従来の検査項目生成装置では、例えば特開平4-
271440号公報や特開昭59ー151248号公報等に示すよう
に、マイクロコンピュータのプログラム自体の構造や、
プログラムの設計情報等に基づいて検査項目を作成して
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記公報等に
示す従来の検査項目生成装置では、検査作業で行なうべ
き検査項目をプログラム自体の構造や、プログラムの設
計情報等からのみ作成していたため、プログラムによっ
て動作させようとする制御機器の実際の仕様とプログラ
ムの設計仕様との間に不整合があった場合には、その不
整合による不具合等を検出することができない、という
問題があった。そこで、本発明は、このような問題を解
決するためになされたもので、制御機器の実際の仕様と
プログラムの設計仕様との間に不整合があっても、マイ
クロコンピュータを制御機器に組込んだ際に行なうべき
検査項目を実際の仕様に合わせて生成することができる
検査項目生成装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明では、マイクロコンピュータによって動作内
容が制御される制御機器の検査項目を生成する検査項目
生成装置において、前記制御機器の操作内容とその操作
内容が実行された場合に前記制御機器が前記マイクロコ
ンピュータヘ送るべきイベント情報とが対応して記述さ
れたイベント操作対応表と、前記マイクロコンピュータ
が前記制御機器へ送るべきアクション情報とそのアクシ
ョン情報により動作する前記制御機器の動作内容とが対
応して記述されたアクション動作対応表と、前記制御機
器が特定の状態で特定のイベント情報を前記マイクロコ
ンピュータへ送った場合に前記制御機器が移行する次の
状態と前記マイクロコンピュータが前記制御機器へ送る
べき特定のアクション情報とが対応して記述された状態
遷移表と、前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状
態が遷移する際の前記イベント情報と当該イベント情報
に対応するアクション情報との組を状態遷移毎に抽出す
る遷移抽出部と、前記遷移抽出部によって抽出された前
記イベント情報を前記イベント操作対応表に基づいて前
記制御機器の操作内容に変換するイベント操作変換部
と、前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション
情報を前記アクション動作対応表に基づいて前記制御機
器の動作内容に変換するアクション動作変換部と、前記
イベント操作変換部によって変換された前記制御機器の
操作内容と前記アクション動作変換部によって変換され
た前記制御機器の動作内容とを前記遷移抽出部が抽出し
た組毎に並べ検査項目として出力する検査項目出力部と
を具備するものである。
【0006】また、本発明では、マイクロコンピュータ
によって動作内容が制御される制御機器の検査項目を生
成する検査項目生成装置において、イベント情報とその
イベント情報が前記制御機器からマイクロコンピュータ
へ送られた場合に前記マイクロコンピュータの特定のメ
モリアドレスに入るべき特定の入力値とその特定のメモ
リアドレスとが対応して記述されたイベントアドレス対
応表と、アクション情報とそのアクション情報が前記マ
イクロコンピュータから前記制御機器へ送られた場合に
前記マイクロコンピュータの特定のメモリアドレスに格
納されるべき特定の期待値とその特定のメモリアドレス
とが対応して記述されたアクションアドレス対応表と、
前記制御機器が特定の状態で特定のイベント情報を前記
マイクロコンピュータへ送った場合に前記制御機器が移
行する次の状態と前記マイクロコンピュータが前記制御
機器へ送るべき特定のアクション情報とが対応して記述
された状態遷移表と、前記状態遷移表に基づいて前記制
御機器の状態が遷移する際の前記イベント情報と当該イ
ベント情報に対応するアクション情報との組を状態遷移
毎に抽出する遷移抽出部と、前記遷移抽出部によって抽
出された前記イベント情報を前記イベントアドレス対応
表に基づいて前記制御機器のメモリアドレスとそのメモ
リアドレスに格納される入力値とに変換するイベントア
ドレス変換部と、前記遷移抽出部によって抽出された前
記アクション情報を前記アクションアドレス対応表に基
づいて前記制御機器のメモリアドレスとそのメモリアド
レスに格納される期待値とに変換するアクションアドレ
ス変換部と、前記イベントアドレス変換部によって変換
された前記メモリアドレスおよび入力値と前記アクショ
ンアドレス変換部によって変換された前記メモリアドレ
スおよび期待値とを前記遷移抽出部が抽出した組毎に並
べ検査項目として出力する検査項目出力部と、を具備す
るものである。
【0007】また、本発明では、マイクロコンピュータ
によって動作内容が制御される制御機器の検査項目を生
成する検査項目生成装置において、前記制御機器の操作
内容とその操作内容が実行された場合に前記制御機器が
前記マイクロコンピュータヘ送るべきイベント情報とが
対応して記述されたイベント操作対応表と、前記マイク
ロコンピュータが前記制御機器へ送るべきアクション情
報とそのアクション情報により動作する前記制御機器の
動作内容とが対応して記述されたアクション動作対応表
と、前記制御機器の特定のメモリアドレスに特定の入力
値が入った場合に前記制御機器が前記マイクロコンピュ
ータヘ送るべきイベント情報が記述されたイベントアド
レス対応表と、前記マイクロコンピュータが特定のアク
ション情報を前記制御機器へ送った場合前記制御機器の
特定のメモリアドレスに格納されるべき特定の期待値が
記述されたアクションアドレス対応表と、前記制御機器
が特定の状態で特定のイベント情報を前記マイクロコン
ピュータへ送った場合に前記制御機器が移行する次の状
態と前記マイクロコンピュータが前記制御機器へ送るべ
き特定のアクション情報とが対応して記述された状態遷
移表と、前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状態
が遷移する際の前記イベント情報と当該イベント情報に
対応するアクション情報との組を状態遷移毎に抽出する
遷移抽出部と、前記遷移抽出部によって抽出された前記
イベント情報を前記イベント操作対応表に基づいて前記
制御機器の操作内容に変換するイベント操作変換部と、
前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション情報
を前記アクション動作対応表に基づいて前記制御機器の
動作内容に変換するアクション動作変換部と、記遷移抽
出部によって抽出された前記イベント情報を前記イベン
トアドレス対応表に基づいて前記制御機器のメモリアド
レスとそのメモリアドレスに格納される入力値とに変換
するイベントアドレス変換部と、前記遷移抽出部によっ
て抽出された前記アクション情報を前記アクションアド
レス対応表に基づいて前記制御機器のメモリアドレスと
そのメモリアドレスに格納される期待値とに変換するア
クションアドレス変換部と、前記イベント操作変換部に
よって変換された前記制御機器の操作内容と前記アクシ
ョン動作変換部によって変換された前記制御機器の動作
内容と前記イベントアドレス変換部によって変換された
前記メモリアドレスおよび入力値と前記アクションアド
レス変換部によって変換された前記メモリアドレスおよ
び期待値とを前記遷移抽出部が抽出した組毎に並べ検査
項目として出力する検査項目出力部と、を具備するもの
である。
【0008】また、本発明では、状態遷移表の各状態遷
移には遷移回数が指定されており、遷移抽出部は、前記
状態遷移表の各状態遷移に指定された前記遷移回数に基
づいてその遷移回数だけイベント情報と当該イベント情
報に対応するアクション情報との組を抽出するものであ
る。
【0009】また、本発明では、検査項目の書式を指定
する書式指定部と、前記書式指定部の指定にした書式に
基づいて検査項目出力部が出力した検査項目を整形する
書式整形部とをさらに具備するものである。
【0010】また、本発明では、イベント情報およびア
クション情報の論理名とメモリアドレスとの対応を示す
論理名アドレス対応表をさらに具備し、イベントアドレ
ス対応表には、メモリアドレスの代わりにイベント情報
の論理名が記述可能であり、イベントアドレス変換部
は、イベント情報を前記イベントアドレス対応表に基づ
いて前記制御機器のメモリアドレスとそのメモリアドレ
スに格納される入力値とに変換する際、イベント情報の
論理名とその入力値とに変換した場合には、前記論理名
アドレス対応表に基づきその論理名をメモリアドレスに
変換する一方、アクションアドレス対応表には、メモリ
アドレスの代わりにアクション情報の論理名が記述可能
であり、アクションアドレス変換部は、アクション情報
を前記アクションアドレス対応表に基づいて前記制御機
器のメモリアドレスとそのメモリアドレスに格納される
期待値とに変換する際、アクション情報の論理名とその
期待値とに変換した場合には、前記論理名アドレス対応
表に基づきその論理名をメモリアドレスに変換するもの
である。
【0011】また、本発明では、引数を決定する引数決
定部をさらに具備し、状態遷移表には、特定のイベント
情報とその特定のイベント情報に対応した特定のアクシ
ョン情報とには引数が設定可能であり、遷移抽出部は、
前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状態が遷移す
る際の前記イベント情報と当該イベント情報に対応する
アクション情報との組を状態遷移毎に抽出した際、引数
の設定されたイベント情報とアクション情報とを抽出し
た場合には、前記引数決定部により引数を決定して出力
するものである。
【0012】
【発明の実施の形態】
実施の形態1.以下、本発明に係る検査項目生成装置の
実施の形態1を説明する。
【0013】図1に、本発明により検査項目を生成する
対象となる制御機械の概略構成を示す。図1において、
1は制御機器、2は制御機器に組み込まれ当該制御機器
を制御するデータメモリ21を有するマイクロコンピュ
ータである。制御機器1とマイクロコンピュータ2との
間では様々な信号がやりとりされ、これによりマイクロ
コンピュータ2は制御機器1を制御する。ここで、制御
機器1からマイクロコンピュータ2に送られる信号やデ
ータ等をイベント情報e、マイクロコンピュータ2から
制御機器1に送られる信号やデータ等をアクション情報
aと定義することにする。
【0014】図2に、この発明に係る実施の形態1の検
査項目生成装置の構成を示す。図2において、31は後
述する状態遷移表T1、イベント操作対応表T2および
アクション動作対応表T3が予め格納されたテーブルメ
モリ、32は状態遷移表T1に基づいて制御機器1の状
態が遷移する際のイベント情報と当該イベント情報に対
応するアクション情報との組を状態遷移毎に抽出する遷
移抽出部、33は遷移抽出部32によって抽出されたイ
ベント情報をイベント操作対応表T2に基づいて制御機
器1の操作内容に変換するイベント操作変換部、34は
遷移抽出部32によって抽出されたアクション情報をア
クション動作対応表T3に基づいて制御機器1の動作内
容に変換するアクション動作変換部、35はイベント操
作変換部33によって変換された制御機器1の操作内容
とアクション動作変換部34によって変換された制御機
器1の動作内容とを遷移抽出部32が抽出した組毎に並
べ検査項目として出力する検査項目出力部である。
【0015】図3に、状態遷移表T1の例を示す。この
状態遷移表T1は、この図に示すように、予め制御機器
1が特定の状態で特定のイベント情報e1,e2,e
3,・・・をマイクロコンピュータ2へ送った場合に制
御機器1が移行する次の状態S1,S2,S3,・・・
と、マイクロコンピュータ2が制御機器1へ送るべき特
定のアクション情報a11,a12,a13,・・・と
が対応して記述されたものである。具体的には、この状
態遷移表T1には、例えば、“状態S1において制御機
器1がイベント情報e1をマイクロコンピュータ2へ送
信した場合には、状態S2へ移行すると共に、アクショ
ンa11がマイクロコンピュータ2から送られてきて、
アクションa11に対応した動作を実行する。”という
状態遷移が表現されている。
【0016】図4(a),(b)に、イベント操作対応
表T2の例とその具体例を示す。図4(a)は、このイ
ベント操作対応表T2には、操作1、操作2、操作3、
・・・等からなる制御機器1の操作内容と、その操作内
容を制御機器1が実行した場合に当該制御機器1がマイ
クロコンピュータ2ヘ送るべきイベント情報e1,e
2,e3,・・・とが対応して記述されていることを示
している。図4(b)は、図4(a)に示すイベント操
作対応表T2における操作内容の具体例を示しておリ、
例えば、操作1であれば、“電源スイッチを押す”等の
操作内容を示している。なお、以下、具体例は、制御機
械としてテレビを想定して、テレビの操作内容および動
作内容について説明するものとする。
【0017】図5(a),(b)に、アクション動作対
応表T3の例とその具体例を示す。図5(a)は、この
アクション動作対応表T3には、マイクロコンピュータ
2が制御0機器1へ送るべきa11,a12,a13,
・・・等からなるアクション情報と、そのアクション情
報を制御機器1が受けると実行すべき動作1、動作2、
動作3、・・・等からなる制御機器1の動作内容とが対
応して記述されていることを示している。
【0018】図5(b)は、図5(a)に示すアクショ
ン動作対応表T3における動作内容の具体例を示してお
り、例えば、動作1であれば、“各部を初期状態にセッ
トする。”、動作2であれば“チャンネルを1chに切
り替える。”等の動作内容を示しているものである。
【0019】次に、この実施の形態1の動作を図面を参
照して説明する。図6に、この実施の形態1の動作手順
を示す。この検査項目生成装置では、検査項目生成処理
を開始すると、まず、遷移抽出部32がテーブルメモリ
31から状態遷移表T1を読み出して(ステップ10
0)、その状態遷移表T1を順に辿り、例えばS1−S
2−S7−・・・というように一連の状態遷移の組を1
つ抽出して、その一連の状態遷移にしたがったイベント
eとアクションaの組をシーケンスで出力する(ステッ
プ110)。状態の遷移は、状態遷移表T1(図3参
照)に示すようにイベント情報eの発生により起きるた
め、状態の遷移にイベントeとアクションaとの組が特
定できるからである。
【0020】次いで、全ての遷移パターンを状態遷移表
T1から読み出せた否かを判断して(ステップ12
0)、全ての遷移パターンを読み出していない場合には
(ステップ120“NO”)、遷移パターンの抽出を再
度行なう一方(ステップ110)、全ての遷移パターン
を読み出した場合には(ステップ120“YES”)、
続いて、イベント操作変換部33がテーブルメモリ31
からイベント操作対応表T2を読み込み(ステップ13
0)、そのイベント操作対応表T2に基づいて各遷移パ
ターン毎に遷移抽出部32が抽出したイベント情報を、
それに対応する制御機器1の操作内容に変換する(ステ
ップ140)。
【0021】次に、アクション動作変換部34は、テー
ブルメモリ31からアクション動作対応表T3を読込み
(ステップ150)、そのアクション動作対応表T3に
基づいて各遷移パターン毎に遷移抽出部32が抽出した
アクション情報を、それに対応する制御機器1の動作内
容に変換する(ステップ160)。そして、最後に、検
査項目出力部35が、イベント操作変換部33によって
変換された制御機器1の操作内容と、アクション動作変
換部34によって変換された制御機器1の動作内容とを
検査項目として遷移抽出部32が抽出したシーケンスな
組毎に並べて、検査項目書35a上に記述して出力する
ようにする(ステップ170)。つまり、これら一連の
作業によって制御機器1の操作内容と、その操作結果と
して現れる制御機器1の動作内容とのシーケンスな組を
得ることができ、これが制御機器1に組込まれたマイク
ロコンピュータ2が正常に制御機器1を制御しているか
を検査するための検査項目の集合となる。なお、これで
検査項目生成動作は終了したが、前記ステップ130,
140とステップ150,160とは同時に行なうよう
にしても良いし、またステップ150,160をステッ
プ130,140より先に行なうようにしてもよい。
【0022】図7に、図6のステップ170に示す処理
によって出力される検査項目書の一例を示す。具体的に
は、この検査項目には、遷移抽出部32が抽出したシー
ケンスな組、すなわち項目毎に“1-1”や“1-2”等の項
目No.が付されて、“電源スイッチを押す。”等のイ
ベント情報e1に対応した操作内容と、“各部を初期状
態にセットする。”等のアクション情報a11に対応し
た動作内容との組が記述されて出力されることになる。
【0023】よって、この図7に示すような検査項目に
基づいて制御機器1の検査を行なう場合には、その検査
項目に含まれる操作内容を制御機器1に対し操作して、
その結果としてその操作内容に対応した検査項目に含ま
れる動作が行われるかどうかを調べれば、制御機械の実
際の仕様に応じた検査項目を検査できることになる。
【0024】従って、この実施の形態1による検査項目
自動生成装置によれば、イベント情報と制御機器1の操
作内容との対応を示すイベント操作対応表T2や、アク
ション情報と制御機器1の動作内容との対応を示すアク
ション動作対応表T3とを予め記憶しておき、プログラ
ム自体やプログラムの構造情報を必要とせずに、その制
御機器1の操作や動作に基づいてマイクロコンピュータ
2を制御機器に組み込んだ際の検査項目を出力できるの
で、制御機器1の実際の仕様とプログラムの設計仕様と
の間に不整合があっても、制御機器1の実際の仕様に応
じて検査項目を自動的に作成することが可能になる。
【0025】実施の形態2.図8に、この発明の実施の
形態2に係る検査項目生成装置の構成を示す。なお、前
記実施の形態1のものと同一部材には同一符号を付して
その説明は省略する。図8において、41は状態遷移表
T1、後述するイベントアドレス対応表T4およびアク
ションアドレス対応表T5が予め格納されたテーブルメ
モリ、32は遷移抽出部、43は遷移抽出部32によっ
て抽出されたイベント情報を、イベントアドレス対応表
T2に基づいて制御機器1のデータメモリ21のアドレ
ス(以下、「メモリアドレス」という。)とそのメモリ
アドレスに格納される入力値とに変換するイベントアド
レス変換部、44は遷移抽出部32によって抽出された
アクション情報をアクションアドレス対応表T3に基づ
いてデータメモリ21のメモリアドレスとそのメモリア
ドレスに格納される期待値とに変換するアクションアド
レス変換部、45はイベントアドレス変換部43によっ
て変換されたメモリアドレスおよび入力値とアクション
アドレス変換部44によって変換されたメモリアドレス
および期待値とを遷移抽出部32が抽出した組毎に並べ
検査項目として出力する検査項目出力部である。
【0026】図9に、イベントアドレス対応表T4を示
す。このイベントアドレス対応表T4は、この図に示す
ように、制御機器1のデータメモリ21の特定のメモリ
アドレスに、特定の入力値が入った場合に、制御機器1
がマイクロコンピュータ2ヘ送るべきイベント情報e
1,e2,e3,・・・が予め記述されたものである。
【0027】図10に、アクションアドレス対応表T5
を示す。このアクションアドレス対応表T5は、この図
に示すように、マイクロコンピュータ2がa11,a1
2,a13,・・・等の特定のアクション情報を制御機
器1へ送った場合、当該制御機器1の特定のメモリアド
レスに格納されるべき特定の期待値が予め記述されたも
のである。
【0028】次に、この実施の形態2の動作を図面を参
照して説明する。図11に、この実施の形態2の動作手
順を示す。なお、この実施の形態2の動作手順も、基本
的には、前記実施の形態1の動作手順と同じなので、相
違点を中心に説明するものとすると、ステップ230以
降の処理で、イベントアドレス変換部33がテーブルメ
モリ41からイベント操作対応表T4を読み込み、続い
て次のステップ240でそのイベントアドレス対応表T
4に基づいて各遷移パターン毎に遷移抽出部32が抽出
したイベント情報を、それに対応する入力値とその入力
値が格納されるメモリアドレスとに変換する。
【0029】また、ステップ250では、アクション期
待値変換部34は、テーブルメモリ41からアクション
アドレス対応表T5を読込み、続いて次のステップ26
0でそのアクションアドレス対応表T5に基づいて各遷
移パターン毎に遷移抽出部32が抽出したアクション情
報を、それに対応する出力値とその出力値が格納される
メモリアドレスに変換する。
【0030】そして、最後に、ステップ270で検査項
目出力部35が、イベントアドレス変換部43によって
変換されたメモリアドレスおよび入力値とアクションア
ドレス変換部44によって変換されたメモリアドレスお
よび期待値とを検査項目として遷移抽出部32が抽出し
たシーケンスな組毎に並べ、それを検査項目書45aに
記述して出力する。なお、上記動作手順では、ステップ
230,240の処理をステップ250,260の処理
より前に行っているが、本発明では同時に行なうように
しても良いし、またステップ250,260の処理をス
テップ230,240の処理より先に行なうようにして
もよい。
【0031】図12に、図11のステップ270に示す
処理によって出力される検査項目書の一例を示す。具体
的には、この検査項目書45aには、この図11に示す
ように、遷移抽出部32が抽出したシーケンスな組、す
なわち項目(Subtest)毎に“1-1”等のNo.が付され
て、“set 0071H,00H”等のイベント情報e1に対応
したメモリアドレスおよびそのメモリアドレスに格納さ
れる入力値と、“test 007EH eq01H”等のアクション
情報に対応したメモリアドレスとそのメモリアドレスに
格納される期待値との組が検査項目として記述されてい
る。
【0032】このため、この実施の形態2では、出力し
た検査項目に基づいて制御機器1の検査を行なう場合に
は、図12に示す検査項目上に記述されたメモリアドレ
スとそのメモリアドレスに格納される入力値や期待値と
によりマイクロコンピュータ2を検査することが可能に
なる。
【0033】従って、この実施の形態2によれば、前記
実施の形態1の場合と同様にプログラム自体やプログラ
ムの構造情報を必要とせずに、マイクロコンピュータ2
を制御機器に組み込んだ際の検査項目を出力でき、制御
機器1の実際の仕様とプログラムの設計仕様との間に不
整合があっても、制御機器1の実際の仕様に応じて検査
項目を自動的に作成することが可能になると共に、特
に、イベント情報およびアクション情報をマイクロコン
ピュータ2中のデータメモリ21の値の変化として捉
え、それぞれ対応するメモリアドレスとそのメモリアド
レスに格納される入力値または期待値とに変換するよう
にしたので、この検査項目上のメモリアドレスやそのメ
モリアドレスに格納される入力値や期待値を使用するよ
うにすれば、実際に制御機器1にマイクロコンピュータ
2を組み込まなくても、マイクロコンピュータ1を制御
機器2に組込んだ場合と等価な検査を実施することが可
能となる。
【0034】実施の形態3.この実施の形態3は、前記
実施の形態1と実施の形態2とを組み合わせたことを特
徴とするものである。図13に、この実施の形態3の検
査項目生成装置を示す。図中、51は状態遷移表T1、
イベント操作対応表T2、アクション動作対応表T3、
イベントアドレス対応表T4およびアクションアドレス
対応表T5が格納されたテーブルメモリ、55はイベン
ト操作変換部33からの操作内容、アクション動作変換
部34からの動作内容、イベント操作変換部43からの
メモリアドレス及び入力値、アクション期待値変換部4
4からのメモリアドレスおよび期待値を検査項目として
出力する検査項目出力部である。なお、前記実施の形態
1,2のものと同一部材には同一符号を付してその説明
は省略する。
【0035】次に、この実施の形態3の動作を説明する
が、この実施の形態3は、前記実施の形態1,2を組み
合わせたものであるので、図6および図11に示す実施
の形態1,2の場合と同様に動作するので、その動作の
説明は省略する。なお、この実施の形態3では、実施の
形態1,2の動作を、直列あるいは並列に実行するよう
にしてもよい。
【0036】図14に、この実施の形態3によって出力
される検査項目書の一例を示す。この実施の形態3によ
る検査項目書55aは、基本的には、前記実施の形態1
の検査項目書35aと実施の形態2の検査項目書45a
とを合成したものであり、具体的には、遷移抽出部32
が抽出したシーケンスな組、すなわち検査項目(Subtes
t)毎に“1-1”等の項目No.が付されて、テキストア
イテムとしての“電源スイッチを押す。”等のイベント
情報e1に対応した操作内容と、“各部を初期状態にセ
ットする。”等のアクション情報a11に対応した動作
内容との組が記述されると共に、“set 0071H,00H”
等のイベント情報e1に対応したメモリアドレスおよび
そのメモリアドレスに格納される入力値と、“test 00
7EHeq 01H”等のアクション情報に対応したメモリアド
レスとそのメモリアドレスに格納される期待値との組が
記述されることになる。
【0037】従って、この実施の形態3の検査項目生成
装置によれば、上記実施の形態1の構成と上記実施の形
態2の構成とを併せ持つので、前記実施の形態1および
実施の形態2の場合と同様に、プログラム自体やプログ
ラムの構造情報を必要とせずに、マイクロコンピュータ
2を制御機器に組み込んだ際の検査項目を出力でき、制
御機器1の実際の仕様とプログラムの設計仕様との間に
不整合があっても、制御機器1の実際の仕様に応じて検
査項目を自動的に作成することが可能になると共に、検
査項目上のメモリアドレスやそのメモリアドレスに格納
される入力値や期待値を使用することにより、実際に制
御機器1にマイクロコンピュータ2を組み込まなくて
も、マイクロコンピュータ2を制御機器2に組込んだ場
合と等価な検査を実施することが可能となる。
【0038】実施の形態4.この実施の形態4は、前記
実施の形態1において特定の状態の遷移回数を指定でき
るようにしたことを特徴とするものである。図15に、
この発明の実施の形態4に係る検査項目生成装置の構成
を示す図である。なお、この実施の形態4は、前記実施
の形態1を改良したものであるので、前記実施の形態1
のものと同一部材には同一符号を付してその説明は省略
するものとする。図中、T6は制御機器1の状態遷移の
組み毎に遷移回数が設定された状態遷移表、61はその
状態遷移表T1等を予め記憶したテーブルメモリ、62
は状態遷移表T6に基づいて制御機器1の状態が遷移す
る際のイベント情報と当該イベント情報に対応するアク
ション情報との組を、設定された遷移回数だけ抽出する
遷移抽出部である。
【0039】図16に、この実施の形態4の状態遷移表
T6を示す。この状態遷移表T6は、この図に示すよう
に、基本的には図3に示す実施の形態1の状態遷移表T
1と同じで、さらに各状態遷移毎に遷移回数が設定され
るもので、図中、{}の中に記述された数値が各状態遷移
の遷移回数を示している。具体的には、状態S2でイベ
ント情報e3が発生した場合、状態S15ヘ移行しかつ
アクション情報a23が発生するという状態遷移は、2
回行なうように遷移回数が設定されている。
【0040】次に、この実施の形態4の動作を説明する
と、基本的には前記実施の形態1の場合と同じで、異な
るのは、遷移抽出部62はテーブルメモリ61の状態遷
移表T6から状態遷移の組み毎に遷移状態を抽出する
際、各状態遷移に設定された遷移回数だけ遷移を行なっ
て、その指定された遷移回数を満たすように一連の遷移
を抽出するだけである。
【0041】図17に、この実施の形態4によって出力
される検査項目書35bの一例を示すこの実施の形態4
による検査項目書35bは、基本的には、前記実施の形
態1の検査項目35aと同様で、異なるのは、状態遷移
に遷移回数が設定されているので、検査項目No.2−
2の状態遷移が3回指定されているものとすると、この
図に示すように、検査項目No.2−2の状態遷移が3
回行われて、検査項目として記述されることになる。
【0042】従って、この実施の形態4によれば、状態
遷移表で特定の状態遷移に複数回の遷移回数を指定でき
るので、その特定の状態遷移をその遷移回数だけ何度も
抽出することができる。このため、通常の検査では、状
態遷移表における遷移を1度通れば十分であるが、制御
機器の信頼性を確認するため、特定の状態遷移を何回か
通って制御機器が正常に動作することを確認する場合に
は、状態遷移表の特定の状態遷移に遷移回数を指定する
ことにより、その遷移回数だけその遷移を通過するよう
な状態遷移を抽出でき、制御機器が正常に動作するか否
かを確実に確認することが可能になる。
【0043】実施の形態5.検査を実施するためだけの
目的であれば、検査項目書の出力書式は単一のものでか
まわないが、検査仕様書等としても活用しようとする場
合には、仕様書として適当な書式に変換して出力するの
が望ましい。そこで、この実施の形態5では、予め求め
ようとする検査仕様書等の書式を記述した書式指定情報
を用意し、前記実施の形態1等により出力される検査項
目の書式整形を行なうようにしたことを特徴とするもの
である。なお、この実施の形態4は、前記実施の形態1
を改良したものであるので、前記実施の形態1のものと
同一部材には同一符号を付してその説明は省略するもの
とする。図18に、この発明の実施の形態5に係る検査
項目生成装置の構成を示す。図中、71は書式指定情報
にしたがって検査項目出力部35から出力された検査項
目を整形する書式整形部である。なお、その他の構成
は、前記実施の形態1と同様である。
【0044】図19に、書式整形部71が検査項目を整
形する際に使用する書式指定情報の例を示す。この書式
指定情報は、検査項目出力部35から出力された検査項
目書に“TVセット検査項目”等の検査項目書の表題
(タイトル)や、日付、頁付け、A4等の紙のサイズ、
最大項目数等の書式を指定するためのものである。
【0045】次に、この実施の形態5の動作を説明する
と、検査項目出力部35が検査項目書を出力するまで前
記実施の形態1と同様であり、検査項目出力部35が検
査項目書を出力すると、書式性警部71が図19等に示
す書式指定情報に従って検査項目書の書式を整形し、所
定の形式に整形された検査項目書が出力される。
【0046】図20に、この実施の形態5により得られ
る検査項目書71aを示す。この図に示すように、この
検査項目書71aには、図7に示す検査項目書35aと
は異なり、表題や、日付や、頁番号等が付されて整形さ
れて出力される。
【0047】従って、この実施の形態5によれば、前記
実施の形態1と同様の効果が得られると共に、書式が整
形された所定の検査項目書が得られる。なお、この実施
の形態5は、前記実施の形態1に適用して説明したが、
他の実施形態にも適用可能である。
【0048】実施の形態6.この実施の形態6は、前記
実施の形態2を改良したもので、イベントアドレス対応
表やアクションアドレス対応表にメモリアドレスが格納
されてなく、代わりに論理名が格納されている場合で
も、その論理名をメモリアドレスに変換できるようにし
たことを特徴とするものである。図21に、この実施の
形態6に係る検査項目生成装置の構成を示す。なお、前
記実施の形態2のものと同一部材には同一符号を付して
その説明は省略するものとする。図において、T7は入
力値のメモリアドレスの代わりに各イベント情報の論理
名が設定可能なイベントアドレス対応表、T8は期待値
のメモリアドレスの代わりに各アクション情報の論理名
が設定可能なアクションアドレス対応表、T9は各種論
理名とその論理名の命令が実行された場合その入力値や
期待値が格納されるメモリアドレスとの対応を示した論
理名アドレス対応表、81はこれらの対応表等を記憶し
たテーブルメモリ81、82はイベント操作変換部33
やアクション動作変換部34がイベントアドレス対応表
T7やアクションアドレス対応表T8から入力値や期待
値のメモリアドレスの代わりに論理名を読み出した場
合、その論理名を受けて対応するメモリアドレスに変換
する論理名アドレス変換部である。なお、その他の構成
は、前記実施の形態2と同じである。
【0049】図22(a)〜(c)に、それぞれ、本実
施の形態6の対応表を示す。図22(a)は、イベント
アドレス対応表T7を示しており、メモリアドレスの代
わりに、“MAINMODE”や“KEY BUFF”
等の論理名が設定されている。図22(b)は、アクシ
ョンアドレス対応表T8を示しており、メモリアドレス
の代わりに、“STATE FLG”や“CH BUF
F”等の論理名が設定されている。図22(c)は、論
理名アドレス対応表T9を示しており、“MAINMO
DE”や“KEY BUFF”等の論理名に対応するア
ドレス“0071H”や、“00AFH”が予め記述さ
れているものである。
【0050】次にこの実施の形態6の動作を説明する
と、基本的には前記実施の形態2と同様であり、相違点
を説明すると、イベントアドレス対応表T7およびアク
ションアドレス対応表T8にはメモリアドレスの代わり
に論理名が設定されている場合があるので、イベントア
ドレス変換部43がイベントアドレス対応表T7に基づ
いてイベント情報に対応した入力値およびそのメモリア
ドレスに変換した際、メモリアドレスの代わりに論理名
に変換した場合には、論理名アドレス変換部82にその
論理名を送る。また、これと同様に、アクションアドレ
ス変換部44がアクション情報を入力値と論理名とに変
換した場合には、その論理名を論理名アドレス変換部8
2に送る。
【0051】すると、論理名アドレス変換部82は、論
理名アドレス対応表T9に基づいてその論理名を対応す
るメモリアドレスに変換して、そのメモリアドレスをイ
ベントアドレス変換部42またはアクションアドレス変
換部44に送るようにする。
【0052】このため、イベントアドレス変換部42ま
たはアクションアドレス変換部44は、論理名に対応し
たメモリアドレスを得ることができるので、検査項目出
力部35に対し入力値若しくは期待値と、それに対応す
るメモリアドレスとを送ることができる。
【0053】従って、この実施の形態6によれば、イベ
ントアドレス対応表T7やアクションアドレス対応表T
8にメモリアドレスの代わりに論理名が設定可能で、論
理名を設定した場合でも、前記実施の形態2と同様の効
果を得ることができる。
【0054】実施の形態7.実施の形態7は、前記実施
の形態1を改良したもので、イベント情報およびアクシ
ョン情報が引数(パラメータ)を持つようにしたことを
特徴とするものである。図23に、この発明の実施の形
態7に係る検査項目生成装置の構成を示す。なお、前記
実施の形態2のものと同一部材には同一符号を付してそ
の説明は省略するものとする。図中、T8は引数を有す
るイベント情報からなる状態遷移表、91は遷移抽出部
32が抽出したイベント情報を受けて、そのイベント情
報が引数を有する場合には所定の条件にしたがってその
引数を設定する引数決定部である。ここで、引数決定部
91が引数を設定する際の所定の条件とは、例えば、引
数のとり得る値の範囲の中央値を取るとか、引数のとり
得る範囲の中央値を取るとか、さらにはとり得る範囲の
中からランダムに選択する、最大値を取る、最小値を取
る、等が考えられ、これらが1つだけ用意されていて
も、あるいは複数用意されていて、検査項目毎に選択し
たり、すべての項目に対して一括して選択するようにし
て良い。なお、その他の構成は、前記実施の形態1と同
様である。
【0055】図24に、この実施の形態7の状態遷移表
T10を示す。この実施の形態7の状態遷移表T10
は、基本的には、図3に示す実施の形態1の状態遷移表
T1と同じであるが、イベント情報に引数nが設定可能
であることが異なる。具体的には、この状態遷移表T1
0では、イベント情報e3に引数n(0≦n≦15)が
設けられており、そのイベント情報e3に対応したアク
ション情報a11,a23等にも引数nが設定されてい
る。
【0056】次に、この実施の形態7の動作を説明する
と、遷移抽出部32が状態遷移表T10から状態遷移毎
にイベント情報とアクション情報との一連の各組を抽出
して、引数決定部91へ送る。引数決定部91では、遷
移抽出部から入力したイベント情報及びアクション情報
が引数nを有するか否かを判断して、引数nを有する場
合には、その引数nをとり得る値の範囲の中央値を取る
等の前記所定の条件に基づき設定して、それぞれ、イベ
ント操作変換部33およびアクション動作変換部34へ
送る。図24に示す状態遷移表T10であれば、イベン
ト情報e3およびアクション情報a11,a23の場合
である。すると、イベント操作変換部33およびアクシ
ョン動作変換部34は、イベント操作対応表T2および
アクション動作対応表T3に基づいてそれぞれ引数nの
確定したイベント情報およびアクション情報を操作内容
および動作内容に変換し、検査項目出力部35が前記実
施の形態1の場合と同様に、検査項目を出力する。
【0057】従って、この実施の形態7によれば、イベ
ント情報およびアクション情報に引数が設定可能であ
り、この場合でも、その引数を所定の方法により決定し
て、その決定したイベント情報およびアクション情報と
に基づいて操作内容および動作内容に変換できるので、
上記実施の形態1と同様の効果が得られる。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
イベント情報と制御機器の操作内容との対応を示すイベ
ント操作対応表や、アクション情報と制御機器の動作内
容との対応を示すアクション動作対応表とを予め記憶し
ておき、プログラム自体やプログラムの構造情報を必要
とせずに、その制御機器の操作や動作に基づいてマイク
ロコンピュータを制御機器に組み込んだ際の検査項目を
出力できるようにしたので、制御機器の実際の仕様とプ
ログラムの設計仕様との間に不整合があっても、制御機
器の実際の仕様に応じて検査項目を自動的に作成するこ
とが可能になる。このため、その検査項目に基づき、制
御機械やマイクロコンピュータを検査する場合には、そ
の検査項目に含まれる操作内容を実施し、その結果とし
て検査項目に含まれるその動作内容が行われるかどうか
を調べればよい。
【0059】また、本発明によれば、イベント情報およ
びアクション情報をマイクロコンピュータ中のデータメ
モリの値の変化として捉え、それぞれ対応するメモリア
ドレスとそのメモリアドレスに格納される入力値または
期待値とに変換するようにしたので、プログラム自体や
プログラムの構造情報を必要とせずに、マイクロコンピ
ュータを制御機器に組み込んだ際の検査項目を出力で
き、制御機器の実際の仕様とプログラムの設計仕様との
間に不整合があっても、制御機器の実際の仕様に応じて
検査項目を自動的に作成することができると共に、この
検査項目上のメモリアドレスやそのメモリアドレスに格
納される入力値や期待値を使用するようにすれば、実際
に制御機器にマイクロコンピュータを組み込まなくて
も、マイクロコンピュータを制御機器に組込んだ場合と
等価な検査を実施することが可能となる。
【0060】また、本発明によれば、状態遷移表の各状
態遷移には遷移回数が設定可能で、その状態遷移表の各
状態遷移に指定された前記遷移回数に基づいて遷移回数
だけイベント情報と当該イベント情報に対応するアクシ
ョン情報との組を抽出するようにしたので、その特定の
状態遷移をその遷移回数だけ何度も抽出することができ
る。このため、通常の検査では、状態遷移表における遷
移を1度通れば十分であるが、制御機器の信頼性を確認
するため、特定の状態遷移を何回か通って制御機器が正
常に動作することを確認する場合には、状態遷移表の特
定の状態遷移に遷移回数を指定することにより、その遷
移回数だけその遷移を通過するような状態遷移を抽出で
き、制御機器が正常に動作するか否かを確実に確認する
ことが可能になる。
【0061】また、本発明によれば、検査項目の書式指
定情報に基づいて検査項目の書式を整形するようにした
ので、必要な書式にしたがった検査仕様書を作成するこ
とができる。
【0062】また、本発明によれば、イベント情報およ
びアクション情報の論理名とメモリアドレスとの対応を
示す論理名アドレス対応表をさらに具備し、イベントア
ドレス対応表にはメモリアドレスの代わりにイベント情
報の論理名が記述可能で、イベント情報をそのイベント
アドレス対応表に基づいてメモリアドレスとそのメモリ
アドレスに格納される入力値とに変換する際、イベント
情報の論理名とその入力値とに変換した場合には、前記
論理名アドレス対応表に基づきその論理名をメモリアド
レスに変換する一方、アクションアドレス対応表にはメ
モリアドレスの代わりにアクション情報の論理名が記述
可能で、アクション情報をそのアクションアドレス対応
表に基づいてメモリアドレスとそのメモリアドレスに格
納される期待値とに変換する際、アクション情報の論理
名とその期待値とに変換した場合には、前記論理名アド
レス対応表に基づきその論理名をメモリアドレスに変換
するようにしたので、イベントアドレス対応表やアクシ
ョンアドレス対応表にメモリアドレスの代わりに論理名
が設定されている場合があっても、その論理名をメモリ
アドレスに変換することが可能になる。
【0063】また、本発明によれば、状態遷移表には、
特定のイベント情報とその特定のイベント情報に対応し
た特定のアクション情報とには引数が設定可能であり、
その状態遷移表に基づいて制御機器の状態が遷移する際
のイベント情報と当該イベント情報に対応するアクショ
ン情報との組を状態遷移毎に抽出した際、引数の設定さ
れたイベント情報とアクション情報とを抽出した場合に
は、その引数を決定して出力するようにしたので、イベ
ント情報およびアクション情報に引数が設定可能であ
り、この場合でも、その引数を所定の方法により決定し
て、その決定したイベント情報およびアクション情報と
に基づいて操作内容および動作内容に変換できるので、
上記実施の形態1と同様の効果が得られる。
【0064】このため、イベント情報を規定する際に、
引数を持つイベント情報を使用できるので、複数のイベ
ント情報を一つのイベント情報にまとめることにより状
態遷移表をより簡単に記述することができる。また、引
数を任意の値に設定可能あり、その引数の決定方法も任
意に選択可能なので、制御機器の種類が変わっても状態
遷移表を変更することなく、引数の設定を変えるだけで
対処することが可能になると共に、検査の要求にしたが
って引数選択の条件を変えることにより、例えば限界値
試験向きの検査項目を生成するなどが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明において検査項目を生成する対象とな
る制御機器の構成を示す図である。
【図2】 この発明の実施の形態1に係る検査項目生成
装置の構成を示す図である。
【図3】 実施の形態1の状態遷移表T1を示す図であ
る。
【図4】 (a),(b)それぞれ、イベント操作対応
表T2の内容とその具体例を示す図である。
【図5】 (a),(b)それぞれ、アクション動作対
応表T3の内容とその具体例を示す図である。
【図6】 この実施の形態1による検査項目生成装置の
動作手順を示すフローチャート。
【図7】 この実施の形態1による検査項目書35aの
一例を示す図である。
【図8】 この発明の実施の形態2に係る検査項目生成
装置の構成を示す図である。
【図9】 イベントアドレス対応表T4の内容を示す図
である。
【図10】 アクションアドレス対応表T5の内容を示
す図である。
【図11】 実施の形態2に係る検査項目生成装置の動
作を示すフローチャートである。
【図12】 実施の形態2による検査項目書45aの一
例を示す図である。
【図13】 この発明の実施の形態3に係る検査項目生
成装置の構成を示す図である。
【図14】 実施の形態3による検査項目書55aの一
例を示す図である。
【図15】 この発明の実施の形態4に係る検査項目生
成装置の構成を示す図である。
【図16】 実施の形態4の状態遷移表T6を示す図で
ある。
【図17】 実施の形態4による検査項目書の一例を示
す図である。
【図18】 この発明の実施の形態5に係る検査項目生
成装置の構成を示す図である。
【図19】 実施の形態5における書式指定情報の例を
示す図である。
【図20】 実施の形態5による検査項目書の一例を示
す図である。
【図21】 この発明の実施の形態6に係る検査項目生
成装置の構成を示す図である。
【図22】 (a)〜(c)それぞれ、実施の形態6に
おけるイベントアドレス対応表T4、アクションアドレ
ス対応表T5、論理名アドレス対応表T7を示す図であ
る。
【図23】 この発明の実施の形態7に係る検査項目生
成装置の構成を示す図である。
【図24】 実施の形態7の状態遷移表T10を示す図
である。
【符号の説明】
1 制御機器、2 マイクロコンピュータ、21 デー
タメモリ、32 遷移抽出部、33 イベント操作変換
部、34 アクション動作変換部、35,45,55
検査項目出力部、43 イベントアドレス変換部、44
アクション期待値変換部、62 遷移抽出部、71
書式整形部、81 論理名アドレス変換部、91 引数
決定部、T1,T6,T10 状態遷移表、T2 イベ
ント操作対応表、T3 アクション動作対応表、T4,
T7 イベントアドレス対応表、T5,T8 アクショ
ンアドレス対応表、T9 論理名アドレス対応表

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロコンピュータによって動作内容
    が制御される制御機器の検査項目を生成する検査項目生
    成装置において、 前記制御機器の操作内容とその操作内容が実行された場
    合に前記制御機器が前記マイクロコンピュータヘ送るべ
    きイベント情報とが対応して記述されたイベント操作対
    応表と、 前記マイクロコンピュータが前記制御機器へ送るべきア
    クション情報とそのアクション情報により動作する前記
    制御機器の動作内容とが対応して記述されたアクション
    動作対応表と、 前記制御機器が特定の状態で特定のイベント情報を前記
    マイクロコンピュータへ送った場合に前記制御機器が移
    行する次の状態と前記マイクロコンピュータが前記制御
    機器へ送るべき特定のアクション情報とが対応して記述
    された状態遷移表と、 前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状態が遷移す
    る際の前記イベント情報と当該イベント情報に対応する
    アクション情報との組を状態遷移毎に抽出する遷移抽出
    部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記イベント情報を
    前記イベント操作対応表に基づいて前記制御機器の操作
    内容に変換するイベント操作変換部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション情報
    を前記アクション動作対応表に基づいて前記制御機器の
    動作内容に変換するアクション動作変換部と、 前記イベント操作変換部によって変換された前記制御機
    器の操作内容と前記アクション動作変換部によって変換
    された前記制御機器の動作内容とを前記遷移抽出部が抽
    出した組毎に並べ検査項目として出力する検査項目出力
    部と、 を具備することを特徴とする検査項目生成装置。
  2. 【請求項2】 マイクロコンピュータによって動作内容
    が制御される制御機器の検査項目を生成する検査項目生
    成装置において、 イベント情報とそのイベント情報が前記制御機器からマ
    イクロコンピュータへ送られた場合に前記マイクロコン
    ピュータの特定のメモリアドレスに入るべき特定の入力
    値とその特定のメモリアドレスとが対応して記述された
    イベントアドレス対応表と、 アクション情報とそのアクション情報が前記マイクロコ
    ンピュータから前記制御機器へ送られた場合に前記マイ
    クロコンピュータの特定のメモリアドレスに格納される
    べき特定の期待値とその特定のメモリアドレスとが対応
    して記述されたアクションアドレス対応表と、 前記制御機器が特定の状態で特定のイベント情報を前記
    マイクロコンピュータへ送った場合に前記制御機器が移
    行する次の状態と前記マイクロコンピュータが前記制御
    機器へ送るべき特定のアクション情報とが対応して記述
    された状態遷移表と、 前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状態が遷移す
    る際の前記イベント情報と当該イベント情報に対応する
    アクション情報との組を状態遷移毎に抽出する遷移抽出
    部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記イベント情報を
    前記イベントアドレス対応表に基づいて前記制御機器の
    メモリアドレスとそのメモリアドレスに格納される入力
    値とに変換するイベントアドレス変換部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション情報
    を前記アクションアドレス対応表に基づいて前記制御機
    器のメモリアドレスとそのメモリアドレスに格納される
    期待値とに変換するアクションアドレス変換部と、 前記イベントアドレス変換部によって変換された前記メ
    モリアドレスおよび入力値と前記アクションアドレス変
    換部によって変換された前記メモリアドレスおよび期待
    値とを前記遷移抽出部が抽出した組毎に並べ検査項目と
    して出力する検査項目出力部と、 を具備することを特徴とする検査項目生成装置。
  3. 【請求項3】 マイクロコンピュータによって動作内容
    が制御される制御機器の検査項目を生成する検査項目生
    成装置において、 前記制御機器の操作内容とその操作内容が実行された場
    合に前記制御機器が前記マイクロコンピュータヘ送るべ
    きイベント情報とが対応して記述されたイベント操作対
    応表と、 前記マイクロコンピュータが前記制御機器へ送るべきア
    クション情報とそのアクション情報により動作する前記
    制御機器の動作内容とが対応して記述されたアクション
    動作対応表と、 前記制御機器の特定のメモリアドレスに特定の入力値が
    入った場合に前記制御機器が前記マイクロコンピュータ
    ヘ送るべきイベント情報が記述されたイベントアドレス
    対応表と、 前記マイクロコンピュータが特定のアクション情報を前
    記制御機器へ送った場合前記制御機器の特定のメモリア
    ドレスに格納されるべき特定の期待値が記述されたアク
    ションアドレス対応表と、 前記制御機器が特定の状態で特定のイベント情報を前記
    マイクロコンピュータへ送った場合に前記制御機器が移
    行する次の状態と前記マイクロコンピュータが前記制御
    機器へ送るべき特定のアクション情報とが対応して記述
    された状態遷移表と、 前記状態遷移表に基づいて前記制御機器の状態が遷移す
    る際の前記イベント情報と当該イベント情報に対応する
    アクション情報との組を状態遷移毎に抽出する遷移抽出
    部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記イベント情報を
    前記イベント操作対応表に基づいて前記制御機器の操作
    内容に変換するイベント操作変換部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション情報
    を前記アクション動作対応表に基づいて前記制御機器の
    動作内容に変換するアクション動作変換部と、前記遷移
    抽出部によって抽出された前記イベント情報を前記イベ
    ントアドレス対応表に基づいて前記制御機器のメモリア
    ドレスとそのメモリアドレスに格納される入力値とに変
    換するイベントアドレス変換部と、 前記遷移抽出部によって抽出された前記アクション情報
    を前記アクションアドレス対応表に基づいて前記制御機
    器のメモリアドレスとそのメモリアドレスに格納される
    期待値とに変換するアクションアドレス変換部と、 前記イベント操作変換部によって変換された前記制御機
    器の操作内容と前記アクション動作変換部によって変換
    された前記制御機器の動作内容と前記イベントアドレス
    変換部によって変換された前記メモリアドレスおよび入
    力値と前記アクションアドレス変換部によって変換され
    た前記メモリアドレスおよび期待値とを前記遷移抽出部
    が抽出した組毎に並べ検査項目として出力する検査項目
    出力部と、 を具備することを特徴とする検査項目生成装置。
  4. 【請求項4】 状態遷移表の各状態遷移には遷移回数が
    指定されており、遷移抽出部は、前記状態遷移表の各状
    態遷移に指定された前記遷移回数に基づいてその遷移回
    数だけイベント情報と当該イベント情報に対応するアク
    ション情報との組を抽出することを特徴とする請求項
    1、請求項2または請求項3記載の検査項目生成装置。
  5. 【請求項5】 検査項目の書式を指定する書式指定部
    と、 前記書式指定部の指定にした書式に基づいて検査項目出
    力部が出力した検査項目を整形する書式整形部と、をさ
    らに具備することを特徴とする請求項1記載の検査項目
    生成装置。
  6. 【請求項6】 イベント情報およびアクション情報の論
    理名とメモリアドレスとの対応を示す論理名アドレス対
    応表をさらに具備し、 イベントアドレス対応表には、メモリアドレスの代わり
    にイベント情報の論理名が記述可能であり、 イベントアドレス変換部は、イベント情報を前記イベン
    トアドレス対応表に基づいて前記制御機器のメモリアド
    レスとそのメモリアドレスに格納される入力値とに変換
    する際、イベント情報の論理名とその入力値とに変換し
    た場合には、前記論理名アドレス対応表に基づきその論
    理名をメモリアドレスに変換する一方、 アクションアドレス対応表には、メモリアドレスの代わ
    りにアクション情報の論理名が記述可能であり、 アクションアドレス変換部は、アクション情報を前記ア
    クションアドレス対応表に基づいて前記制御機器のメモ
    リアドレスとそのメモリアドレスに格納される期待値と
    に変換する際、アクション情報の論理名とその期待値と
    に変換した場合には、前記論理名アドレス対応表に基づ
    きその論理名をメモリアドレスに変換する、ことを特徴
    とする請求項2記載の検査項目生成装置。
  7. 【請求項7】 引数を決定する引数決定部をさらに具備
    し、 状態遷移表には、特定のイベント情報とその特定のイベ
    ント情報に対応した特定のアクション情報とには引数が
    設定可能であり、 遷移抽出部は、前記状態遷移表に基づいて前記制御機器
    の状態が遷移する際の前記イベント情報と当該イベント
    情報に対応するアクション情報との組を状態遷移毎に抽
    出した際、引数の設定されたイベント情報とアクション
    情報とを抽出した場合には、前記引数決定部により引数
    を決定して出力する、ことを特徴とする検査項目生成装
    置。
JP8218767A 1996-08-20 1996-08-20 検査項目生成装置 Abandoned JPH1063532A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7158906B2 (en) 2003-07-16 2007-01-02 Nec Electronics Corporation Test method, test system, and program therefor

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