JP2786780B2 - テスト仕様生成装置および方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、テスト対象となる装置
の機能仕様からテスト仕様を正常系テスト仕様と異常系
テスト仕様に分けて、網羅的に生成する方法および装置
に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年の電子技術の発展により各種の装置
が多機能化するにつれて、装置のテスト仕様も複雑化し
てきている。各種の装置について動作確認するために
は、どういうテスト項目をテストすればよいのかが予め
用意されていなければならない。このため、テスト項目
・テスト結果を網羅し各テスト手順を記載したテスト仕
様書が作成されている。

【０００３】従来、各種の装置のテスト仕様は、人手に
よって作成されていた。すなわちテスト作成者は、装置
の機能・その機能が得られる操作等を記載した機能仕様
書を参照しながらテスト結果に対するテスト項目を挙
げ、テスト手順を決定し、テスト仕様を作成していた。
また、すべての機能間の関係を機能路として表現し、す
べての経路を網羅してテスト路を作成する方式が考えら
れる。その構成例を図３に示す。３００はターゲット装
置の機能仕様を記憶する機能仕様格納部、３０１は機能
仕様から機能間の関係を機能路として、すべての経路
（テスト路）を網羅的に生成するテスト路生成部、３０
２はテスト路を格納するテスト仕様格納部である。例え
ば、ターゲット装置の機能仕様としてＡ、Ｂ２つの操作
ボタンに基づく各種の動作が規定されているとする。テ
スト路生成部３０１は、(A),(B),(A,A),(A,B),(B,A),
(B,B),(A,A,A),(A,A,B),・・・というように全てのテス
ト路を網羅的に生成する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来技術
によれば、人手で作成する場合、装置が複雑であればあ
るほど、テスト項目の全てを網羅することは困難である
という問題がある。つまり一般に、機能仕様書からテス
ト結果を決定することは容易でない。また、テスト路を
網羅的に生成する場合、生成されるテスト路はそのテス
トにより得られる結果である動作とは無関係に生成され
るので、正常な動作なのか異常な動作なのかを区別でき
ないという問題がある。

【０００５】本発明は、上記問題点に鑑み、対象システ
ムの機能からテスト項目とテスト結果を正常系テスト手
順と異常系テスト手順とに分類して生成することが可能
なテスト仕様生成装置および方法を提供することを目的
とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明のテスト仕様生成装置は、テスト対象となる
装置の機能仕様からテスト仕様を生成するテスト仕様生
成装置であって、対象システムの機能仕様を記憶する機
能仕様記憶手段と、機能仕様記憶手段から全ての機能要
素を抽出するシステム機能要素抽出手段と、抽出された
機能要素の組合せであるテスト手順候補を生成するテス
ト手順候補生成手段と、各テスト手順候補について、部
分テスト手順を生成する部分テスト手順群生成手段と、
対象システムの機能仕様に則った結果とそれが得られる
機能要素の組合せとを対にして記憶するテスト結果記憶
手段と、前記テスト手順候補の部分テスト手順ごとに、
テスト結果記憶手段を参照して、部分テスト手順が対象
システムの機能仕様に則った結果が得られる（以下有意
な動作とよぶ）か否かを判定するテスト結果判定手段
と、前記テスト結果判定手段により有意な動作を行なう
と判定された部分テスト手順を有するテスト手順候補に
ついて、そのテスト手順候補とテスト結果の対を正常系
テスト仕様として記憶する正常系テスト仕様格納手段
と、前記テスト結果判定部により有意な動作を行なうと
判定された部分テスト手順を有しないテスト手順候補を
異常系テスト仕様として記憶する異常系テスト仕様格納
手段とを備えている。

【０００７】また、本発明のテスト仕様生成方法は、テ
スト対象となる装置の機能仕様からテスト仕様を生成す
るテスト仕様生成方法であって、対象システムの機能仕
様を記憶する機能仕様記憶部から全ての機能要素を抽出
するシステム機能要素抽出ステップと、抽出された機能
要素の組合せであるテスト手順候補を生成するテスト手
順候補生成ステップと、各テスト手順候補について、部
分テスト手順を生成する部分テスト手順群生成ステップ
と、対象システムの機能仕様に則った結果とそれが得ら
れる機能要素の組合せとを対にして記憶するテスト結果
記憶部を参照して、前記テスト手順候補の部分テスト手
順ごとに、部分テスト手順が対象システムの機能仕様に
則った結果が得られる（以下有意な動作とよぶ）か否か
を判定するテスト結果判定ステップと、前記テスト結果
判定ステップにより有意な動作を行なうと判定された部
分テスト手順を有するテスト手順候補について、そのテ
スト手順候補とテスト結果の対を正常系テスト仕様とし
て記憶しておく正常系テスト仕様格納ステップと、前記
テスト結果判定ステップにより有意な動作を行なうと判
定された部分テスト手順を有しないテスト手順候補につ
いて、そのテスト手順候補を異常系テスト仕様として記
憶しておく異常系テスト仕様格納ステップとからなる。

【０００８】

【作用】上記の手段により本発明のテスト仕様生成装置
（方法）は、システム機能抽出手段（ステップ）の抽出
した機能要素を基にして、テスト手順候補生成手段（ス
テップ）が、機能要素の全ての組合せをテスト手順候補
として生成する。各テスト手順候補について部分テスト
手順候補生成部（ステップ）が部分テスト手順群を生成
する。テスト結果判定手段（ステップ）は、テスト手順
候補の部分テスト手順ごとに、テスト結果記憶手段を参
照して、部分テスト手順が対象システムの機能仕様に則
った結果が得られる（以下有意な動作とよぶ）か否かを
判定する。判定の結果、正常系テスト仕様格納部（ステ
ップ）が、有意な動作を行なう部分テスト手順を有する
テスト手順候補に対してその部分テスト手順とテスト結
果とを正常系テスト仕様として格納し、異常系テスト仕
様格納部（ステップ）が、有意な動作を行なう部分テス
ト手順を有しないテスト手順候補に対してそのテスト手
順候補を異常系テスト仕様として格納する。このよう
に、正常系テスト手順と異常系テスト手順とを分離して
生成することを可能とするものである。

【０００９】

【実施例】以下、本発明のテスト仕様生成装置の一実施
例を図面を用いて説明する。第１図は本発明の一実施例
におけるテスト項目、テスト結果を網羅し各テスト手順
を表すテスト仕様を生成するテスト仕様生成装置の構成
図である。１００は機能仕様記憶部で、テスト対象にな
る装置・システムの機能やその機能が得られる操作等を
記載した機能仕様書の内容を記憶する。

【００１０】１０１はシステム機能要素抽出部で、機能
仕様記憶部１００が記憶する機能仕様から機能要素を抽
出する。１０２はテスト手順候補生成部で、システム機
能要素抽出部１０１で抽出された機能要素の組み合わせ
（数学的には順列）をテスト手順候補として生成する。
１０３は部分テスト手順群生成部で、テスト手順候補生
成部１０２で生成されたテスト手順候補の各々につい
て、それに含まれる機能要素より部分テスト手順群を生
成する。

【００１１】１０４はテスト結果判定部で、個々のテス
ト結果とそれが得られるテスト手順との対を記述するテ
スト結果判定表を記憶し、部分テスト手順群生成部１０
３で生成された部分テスト手順それぞれについてテスト
結果判定表にテスト結果があれば有為な動作をおこなう
と判定し、なければ有為な動作を行わないと判定する。
これにより、各テスト手順により得られるテスト結果の
組を作成する。

【００１２】１０５は正常系テスト仕様格納部で、テス
ト結果判定部１０４で有意な動作を行なうと判定された
部分テスト手順群を有するテスト手順候補に対して、テ
スト手順とテスト結果とを対にして格納する。１０６は
異常系テスト仕様格納部で、テスト結果判定部１０４で
有意な動作を行なうと判断された部分テスト手順群を有
しないテスト手順候補を格納する。

【００１３】１０７はテスト仕様生成制御部で、システ
ム機能生成要求部１０１を起動した後に前記テスト手順
候補生成部１０２を起動し、前記テスト結果出力判定部
１０４を起動し、最後に前記正常系テスト仕様格納部１
０５と前記異常系テスト仕様格納部１０６とを起動す
る。実際にはこれ以外にも、機能の組合せの生成や結果
判定を検索する機能などを実現するための構成要素を必
要とするが、本発明の主眼ではないので省略する。

【００１４】以上のように構成されたテスト仕様生成装
置について、その動作をテスト仕様を生成する過程の一
例を示す摸式図である第２図を参照しながら説明する。
ここでは機能仕様記憶部は対象システムの機能仕様を記
憶しており、テスト結果判定表も作成されているとす
る。 （１）テスト仕様生成制御部１０７はシステム機能生成
要求部１０１を起動し、以後システム全体を制御する。

【００１５】（２）起動されたシステム機能生成要求部
１０１は、機能仕様記憶部１００から対象となるシステ
ムが持つ機能要素を抽出する。抽出結果の例を、図２の
対象システム機能要素２１０に示す。この対象システム
は５つの機能要素ａ〜ｅを有している。例えば、制御機
器の場合であれば、システムの機能要素は入力部品やタ
イマー等の内部のイベントに対応し、結果は出力部品に
対応する。すなわち、あるボタンの組合せを押すことで
何らかの動作が得られる場合、ボタンの一つがシステム
の機能の一要素、動作がそのボタンやイベントの組合せ
に対する結果となる。

【００１６】（３）テスト手順候補生成部１０２は対象
システムが持つ機能要素の全ての組合せを求めることに
より、手順として考えられるすべてのテスト手順候補を
生成する。生成結果を図２のテスト手順候補２２０に示
す。このテスト手順候補は、単機能のテスト手順候補２
２１、テスト手順候補２２２、３機能のテスト手順候補
２２３から最大５機能のテスト手順候補が生成されてい
る。

【００１７】（４）部分テスト手順群生成部１０３はテ
スト手順候補生成部１０２で生成された全てのテスト手
順候補に対して、テスト手順候補に含まれる全ての機能
要素の組合せにより部分テスト手順群を生成する。図２
の部分テスト手順２３０はテスト手順候補２２３の部分
テスト手順群を示す。その内容は部分テスト手順２３
２、部分テスト手順２３３、部分テスト手順２３４、部
分テスト手順２３５、部分テスト手順２３６等を含む。

【００１８】（５）テスト結果出力判定部１０４は部分
テスト手順群生成部１０３によって生成された全ての部
分テスト手順群に対して、テスト結果と部分テスト手順
とを対にして多数記憶しているテスト結果判定表２４０
を参照して、生成された部分テスト手順が含まれるかど
うかを判定する。図２のテスト結果判定表２４０は、テ
スト結果出力判定部１０４内部に記憶されているテスト
結果α、β、・・・と、そのテスト結果を得るテスト手
順の対を示す。テスト手順２３４は、テスト結果出力判
定部１０４によりテスト結果判定表２４０内に同じテス
ト手順のテスト結果２４１（α）が記憶されているので
有意な動作を行うと判定される。同様にテスト手順２３
５、２３６は、テスト結果２４２、２４３（β、γ）が
記憶されているので、有意な動作を行うと判定される。
この結果、テスト手順２２３によればテスト結果として
テスト結果２３７〜２３９の集合〔α、β、γ〕が得ら
れることになるので、テスト手順とテスト結果との組２
３１を作成する。このようにしてテスト結果出力判定部
１０４は、全てのテスト手順候補について有意な動作を
行うかどうかを判定していく。

【００１９】（６）このテスト手順とテスト結果との組
２３１等は、正常系テスト仕様格納部１０５に格納され
る。すなわち、テスト仕様生成制御部１０７は正常系テ
スト仕様格納部１０５を起動し、テスト結果出力判定部
１０４で有意な動作を行なうと判定された部分テスト手
順群を有するテスト手順候補に対して、有意な動作を行
なうと判定された部分テスト手順群のテスト結果の組を
格納する。

【００２０】（７） これに対して、異常系テスト手順
２６０にはテスト結果を有する部分テスト手順群を有し
ないテスト手順候補２６１、テスト手順候補２６２、テ
スト手順候補２６３が格納される。以上のようにテスト
手順候補２３０の全てのテスト手順候補は正常系テスト
２５０か異常系テスト手順２６０に格納されることにな
る。

【００２１】上述のように本実施例のテスト仕様生成装
置においては、対象システムの機能要素を選択するだけ
でテスト手順候補が生成され、且つ、正常系テスト手順
と異常系テスト手順に分類される。例えば、プロトタイ
プ機などのように基本動作の確認さえすれば十分な場合
には正常系テスト手順をテスト仕様とすれば不要なテス
トをする手間が省ける。また、最終仕様の場合には正常
系テスト手順と異常系テスト手順とを合わせてテスト仕
様とすることで網羅的にテストを実行することが可能と
なる。

【００２２】さらに、正常系テスト手順の場合には予想
されるテスト結果が与えられるので、テスト仕様作成者
が手動でテスト結果を生成する手間が省けることテスト
仕様作成者のミスによる誤ったテスト仕様を生成しない
ことを保証することが可能となる。なお、本実施例にお
いてはテスト結果判定表２４０はテスト結果が得られる
条件のみを有しているが、テスト結果を出力しない条件
や、条件の組合せに関する条件を有する判定法を採用し
ても良い。

【００２３】また、テスト手順候補２２０と部分テスト
手順群２３０とを生成する場合に、順列や組合せを用い
る方法を採用しても良い。

【００２４】

【発明の効果】以上説明してきた本発明のテスト仕様作
成装置及び方法によれば、テスト手順候補を網羅し、個
々のテスト手順の部分テスト手順について有意か否かを
判定していくことによって、正常系テスト手順と異常系
テスト手順とに分類してテスト仕様を作成できるという
効果がある。その結果、正常系テスト手順のみ使用する
場合、正常系テスト手順と異常系テスト手順とを合わせ
て使用する場合など、状況に応じてテストを行うことが
可能になりテスト工程の効率を上げることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のテスト仕様生成装置の構成
例を示すブロック図

【図２】本発明の一実施例のテスト仕様生成装置により
テスト仕様を生成する過程の一例を示す摸式図

【図３】従来技術におけるテスト仕様生成装置の構成例
を示すブロック図

【符合の説明】

１０１ システム機能生成要求部 １０２ テスト手順候補生成部 １０３ 部分テスト手順群生成部 １０４ テスト結果出力判定部 １０５ 正常系テスト仕様格納部 １０６ 異常系テスト仕様格納部 １０７ テスト仕様生成制御部

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 テスト対象となる装置の機能仕様から
   テスト仕様を生成するテスト仕様生成装置であって、 対象システムの機能仕様を記憶する機能仕様記憶手段
   と、 機能仕様記憶手段から全ての機能要素を抽出するシステ
   ム機能要素抽出手段と、 抽出された機能要素の組合せであるテスト手順候補を生
   成するテスト手順候補生成手段と、 各テスト手順候補について、部分テスト手順を生成する
   部分テスト手順群生成手段と、 対象システムの機能仕様に則った結果とそれが得られる
   機能要素の組合せとを対にして記憶するテスト結果記憶
   手段と、 テスト手順候補の部分テスト手順ごとに、テスト結果記
   憶手段を参照して、部分テスト手順が対象システムの機
   能仕様に則った結果が得られる（以下有意な動作とよ
   ぶ）か否かを判定するテスト結果判定手段と、 前記テスト結果判定手段により有意な動作を行なうと判
   定された部分テスト手順を有するテスト手順候補につい
   て、そのテスト手順候補とテスト結果の対を正常系テス
   ト仕様として記憶する正常系テスト仕様格納手段と、 前記テスト結果判定部により有意な動作を行なうと判定
   された部分テスト手順を有しないテスト手順候補を異常
   系テスト仕様として記憶する異常系テスト仕様格納手段
   と、を備えたことを特徴とするテスト仕様生成装置。
2. 【請求項２】 テスト対象となる装置の機能仕様から
   テスト仕様を生成するテスト仕様生成方法であって、 対象システムの機能仕様を記憶する機能仕様記憶部から
   全ての機能要素を抽出するシステム機能要素抽出ステッ
   プと、 抽出された機能要素の組合せであるテスト手順候補を生
   成するテスト手順候補生成ステップと、 各テスト手順候補について、部分テスト手順を生成する
   部分テスト手順群生成ステップと、 対象システムの機能仕様に則った結果とそれが得られる
   機能要素の組合せとを対にして記憶するテスト結果記憶
   部を参照して、前記テスト手順候補の部分テスト手順ご
   とに、部分テスト手順が対象システムの機能仕様に則っ
   た結果が得られる（以下有意な動作とよぶ）か否かを判
   定するテスト結果判定ステップと、 前記テスト結果判定ステップにより有意な動作を行なう
   と判定された部分テスト手順を有するテスト手順候補に
   ついて、そのテスト手順候補とテスト結果の対を正常系
   テスト仕様として記憶しておく正常系テスト仕様格納ス
   テップと、 前記テスト結果判定ステップにより有意な動作を行なう
   と判定された部分テスト手順を有しないテスト手順候補
   について、そのテスト手順候補を異常系テスト仕様とし
   て記憶しておく異常系テスト仕様格納ステップからなる
   ことを特徴とするテスト仕様生成方法。