JPH1062996A - ポジ型感光性組成物 - Google Patents

ポジ型感光性組成物

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JPH1062996A
JPH1062996A JP8217524A JP21752496A JPH1062996A JP H1062996 A JPH1062996 A JP H1062996A JP 8217524 A JP8217524 A JP 8217524A JP 21752496 A JP21752496 A JP 21752496A JP H1062996 A JPH1062996 A JP H1062996A
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亨 藤森
Toshiaki Aoso
利明 青合
Tsukasa Yamanaka
司 山中
Kazuya Uenishi
一也 上西
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 溶解阻止性能、現像性が優れ、良好なプロ
ファイルと高解像力を有するポジ型感光性組成物、及び
アセタール基又はケタール基による所望の保護率が、容
易に得られるアセタール又はケタール保護基を有するフ
ェノール性化合物又はフェノール性樹脂の製造方法をを
提供する。 【解決手段】 アルカリ可溶性樹脂、光酸発生剤並びに
1個以上のフェノール性OH基及び1個以上のベンゼン
環を有するフェノール化合物のOH基がアセタール基又
はケタール基で保護された化合物であって、254nm
の紫外線を用いて測定した高速液体クロマトグラフィー
において該化合物の全てのOH基が該保護基で保護され
ている化合物成分のパターン面積が全パターン面積の8
0%〜98%であり且つ該化合物の一部のOH基が該保
護基で保護されている化合物成分のパターン面積が全パ
ターン面積の2%〜20%であるような混合物を含有す
るポジ型感光性組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平版印刷板やIC
等の半導体製造工程、液晶、サーマルヘッド等の回路基
板の製造、更にその他のフォトファブリケーション工程
に使用されるポジ型感光性組成物に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3,666,473号、米
国特許第4,115,128号及び米国特許第4,173,470号等に、
また最も典型的な組成物として「クレゾール−ホルムア
ルデヒドより成るノボラック樹脂/トリヒドロキシベン
ゾフェノン−1,2−ナフトキノンジアジドスルホン酸
エステル」の例がトンプソン「イントロダクション・ト
ゥー・マイクロリソグラフィー」(L.F.Thompson「Intr
oduction to Microlithography」)(ACS出版、N
o.2,19号、p112〜121)に記載されてい
る。このような基本的にノボラック樹脂とキノンジアジ
ド化合物から成るポジ型フォトレジストは、ノボラック
樹脂がプラズマエッチングに対して高い耐性を与え、ナ
フトキノンジアジド化合物は溶解阻止剤として作用す
る。そして、ナフトキノンジアジドは光照射を受けると
カルボン酸を生じることにより溶解阻止能を失い、ノボ
ラック樹脂のアルカリ溶解度を高めるという特性を持
つ。
【0003】これまで、かかる観点からノボラック樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、0.8μm〜
2μm程度までの線幅加工に於いては十分な成果をおさ
めてきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めて
おり、超LSIなどの半導体基板の製造に於いてはハー
フミクロン以下の線幅から成る超微細パターンの加工が
必要とされるようになってきた。この必要な解像力を達
成するためにフォトリソグラフィーに用いられる露光装
置の使用波長は益々短波化し、今では、遠紫外光やエキ
シマレーザー光(XeCl、KrF、ArFなど)が検
討されるまでになってきている。従来のノボラックとナ
フトキノンジアジド化合物から成るレジストを遠紫外光
やエキシマレーザー光を用いたリソグラフィーのパター
ン形成に用いると、ノボラック及びナフトキノンジアジ
ドの遠紫外領域に於ける吸収が強いために光がレジスト
底部まで到達しにくくなり、低感度でテーパーのついた
パターンしか得られない。
【0004】このような問題を解決する手段の一つが、
米国特許第4,491,628号、欧州特許第249,139号等に記載
されている化学増幅系レジスト組成物である。化学増幅
系ポジ型レジスト組成物は、遠紫外光などの放射線の照
射により露光部に酸を生成させ、この酸を触媒とする反
応によって、活性放射線の照射部と非照射部の現像液に
対する溶解性を変化させパターンを基板上に形成させる
パターン形成材料である。
【0005】このような例として、光分解により酸を発
生する化合物と、アセタールまたはO,N−アセタール
化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、オル
トエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ(特
開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又はケ
タール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53−1
33429号)、エノールエーテル化合物との組合せ
(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭酸
化合物化合物との組合せ(特開昭55−126236
号)、主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組
合せ(特開昭56−17345号)、第3級アルキルエ
ステル化合物との組合せ(特開昭60−3625号)、
シリルエステル化合物との組合せ(特開昭60−102
47号)、及びシリルエーテル化合物との組合せ(特開
昭60−37549号、特開昭60−121446号)
等を挙げることができる。これらは原理的に量子収率が
1を越えるため、高い感光性を示す。
【0006】同様に、室温経時下では安定であるが、酸
存在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する
系として、例えば、特開昭59−45439号、特開昭
60−3625号、特開昭62−229242号、特開
昭63−27829号、特開昭63−36240号、特
開昭63−250642号、Polym.Eng.Sce.,23巻、101
2頁(1983);ACS.Sym.242巻、11頁(1984);Semicond
uctor World 1987年、11月号、91頁;Macromolecules,2
1巻、1475頁(1988);SPIE,920巻、42頁(1988)等に
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt-ブチル、2-シクロヘキセニ
ル)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合せ系が
挙げられる。これらの系も高感度を有し、且つ、ナフト
キノンジアジド/ノボラツク樹脂系と比べて、Deep-UV
領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波長化に
有効な系となり得る。
【0007】上記ポジ型化学増幅レジストは、アルカリ
可溶性樹脂、放射線等の露光によつて酸を発生する化合
物(光酸発生剤)、及び酸分解性基を有するアルカリ可
溶性樹脂に対する溶解阻止化合物から成る3成分系と、
酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基(酸分解
性基)を有する樹脂と光酸発生剤からなる2成分系、あ
るいは酸との反応により分解しアルカリ可溶となる基を
有する樹脂と溶解阻止化合物と光酸発生剤からなる2.
5成分系に大別できる。これら2成分系、2.5成分系
あるいは3成分系のポジ型化学増幅レジストにおいて
は、露光により光酸発生剤からの酸を介在させて、熱処
理後現像してレジストパターンを得るものである。
【0008】化学増幅レジストにおける溶解阻止化合物
あるいは酸分解性基を有する樹脂において酸分解性基を
導入する方法としては、フェノール性OH基を有するポ
リヒドロキシ化合物あるいは重合体を用意し、それに酸
分解性基を導入する。それら化合物にアセタール基、ケ
タール基等の酸分解性基を導入する場合、目的とするす
べてのフェノール性OH基にアセタール基、ケタール基
等の酸分解性基を保護することは極めて困難で、目標の
保護率とは異なるかなり低いものが得られる。このよう
な目標の保護率より低い溶解阻止化合物あるいは酸分解
性基を有する樹脂を用いると、ある程度の溶解阻止性能
は発揮するものの、いまだ不十分で、ディスクリミネー
ションが十分でなく解像度の低い画像となってしまっ
た。また、保護率の異なる溶解阻止化合物の混合物とし
て得られたものを精製する方法も考えられるが、これは
製造工程が増加することとなり、製造コスト、製造操作
が煩雑となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の目的
は、溶解阻止性能、現像性が優れ、良好なプロファイル
と高解像力を有するポジ型感光性組成物を提供すること
である。本発明の他の目的は、アセタール基又はケター
ル基による所望の保護率が、容易に得られるアセタール
又はケタール保護基を有するフェノール性化合物又はフ
ェノール性樹脂の製造方法を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し鋭意検討した結果、本発明の目的が、ポジ型
化学増幅系において、下記特定の保護率を含む溶解阻止
化合物を用いることで達成されることを見いだし、本発
明に到達した。即ち、本発明の目的は下記構成により達
成することが見出された。 (1) (a)水不溶でアルカリ水溶液に可溶な樹脂、
(b)活性光線または放射線の照射により酸を発生する
化合物、及び(c)1個以上のフェノール性OH基、及
び1個以上のベンゼン環を有するフェノール化合物のO
H基がアセタール基又はケタール基で保護された化合物
であって、254nmの紫外線を用いて測定した高速液
体クロマトグラフィーにおいて、該化合物の全てのOH
基がアセタール基又はケタール基で保護されている化合
物成分のパターン面積が全パターン面積の80%〜98
%であり、且つ該化合物の一部のOH基がアセタール基
又はケタール基で保護されている化合物成分のパターン
面積が全パターン面積の2%〜20%であるような混合
物を含有することを特徴とするポジ型感光性組成物。
【0011】(2) OH基の全量に対して15〜35
モル%のOH基がアセタール基又はケタール基で保護さ
れているフェノール樹脂を含有することを特徴とする上
記(1)に記載のポジ型感光性組成物。
【0012】(3) (c)の化合物が、254nmの
紫外線を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーに
おいて、下記一般式(1)で示される化合物においてn
が0である化合物成分のパターン面積が全パターン面積
の80〜98%であり、nが0以外の化合物成分のパタ
ーン面積が全パターン面積の2〜20%であるような混
合物であることを特徴とする上記(1)又は(2)に記
載のポジ型感光性組成物。
【0013】一般式(1)
【化2】
【0014】式(1)中、Phはベンゼン環を1個以上
有する化合物骨格を表し、Rはアルキル基、アリル基、
アラルキル基又はシクロアルキル基を表し、R1 、R2
は同じでも異なってもよく、水素原子、アルキル基、ア
リル基、アラルキル基又はシクロアルキル基を表す。ま
た、Rと、R1 又はR2 とが、炭素原子とともに5〜1
0員環あるいは−O−、−S−、−SO2 −又は−NR
3 −(ここでR3 はアルキル基、アリル基、アラルキル
基を表す)とともに複素環を形成してもよい。nはm>
n≧1あるいはn=0を表し、mはm≧2である。
【0015】(4) フェノール性化合物又はフェノー
ル性樹脂を酸触媒存在下でエノールエーテルによって置
換反応を行う際に、その反応系中に脱水剤を共存させる
ことを特徴とする、アセタール又はケタール保護基を有
するフェノール性化合物又はフェノール性樹脂の製造方
法。
【0016】上記のように、化学増幅型レジストにおい
て、低分子酸分解性溶解阻止化合物として、OH基の部
分がアセタール基又はケタール基により完全に保護され
たものを特定の含有率を有する混合物として用いること
により、溶解阻止性が向上し、解像力が優れるようにな
り、更に現像性も両立し、優れたプロファイルが得られ
るようになる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明に使用する化合物に
ついて詳細に説明する。 〔(c)の化合物〕(c)の化合物は、フェノール性O
H基を少なくとも1個及びベンゼン環を少なくとも1個
有するフェノール化合物のOH基がアセタール基または
ケタール基(以下、酸分解性基ともいう)で保護された
化合物であり、且つ254nmの紫外線を用いて測定し
た高速液体クロマトグラフィーにおいて、該化合物の全
てのOH基がアセタール基又はケタール基で保護されて
いる化合物成分のパターン面積が全パターン面積の80
%〜98%であり、且つ該化合物の一部のOH基のみが
アセタール基又はケタール基で保護されている化合物成
分のパターン面積が全パターン面積の2%〜20%であ
るような混合物であり、アルカリ現像液中での溶解度が
酸の作用により増大する酸分解性溶解阻止化合物(以
下、溶解阻止化合物ともいう)である。
【0018】フェノール化合物において、フェノール性
OH基は好ましくは1〜12個、より好ましくは2〜9
個有し、またベンゼン環は1〜13個、より好ましくは
2〜13個有する。
【0019】上記のようなフェノール化合物のOH基が
アセタール基またはケタール基で保護された化合物とし
ては、上記のような一般式(1)で示される化合物が好
ましい。一般式(1)中、R、R1 、R2 、R3 におけ
るアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル
基、n−ブチル基、sec−ブチル基、t−ブチル基の
様な炭素数1〜4個のものが好ましく、アリル基として
は、ビニル基が好ましく、アラルキル基としては、ベン
ジル基、フエネチル基、クミル基の様な炭素数7〜10
個のアラルキル基が好ましく、シクロアルキル基として
は、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロヘキシ
ル基、アダマンチル基の様な炭素数3〜10個のものが
好ましい。
【0020】Rと、R1 又はR2 とが、炭素原子ととも
に形成する5〜10員環としては、テトラヒドロピラニ
ル基、テトラヒドロフラニル基等が挙げられる。
【0021】Rと、R1 又はR2 とが、炭素原子及び−
O−、−S−、−SO2 −又は−NR3 −とともに形成
する複素環としては、
【0022】
【化3】
【0023】等の構造が挙げられ、これら複素環は更に
置換基を有していてもよい。但し、上記構造において、
一般式(1)と結合する場所は、各構造の炭素原子の部
分である。一般式(1)において、−O−C(R1
(R2 )−ORで表される基の好ましいものとしては、
−O−C(H)(CH3 )−O−(t)Bu、−O−C
(H)(C2 5 )−O−(t)Bu、−O−C(H)
(CH3 )−(n)Bu、−O−C(H)(CH3 )−
2 5 、−O−C(H)(CH3 )−(i)Pr等が
挙げられる((t)Buはt−ブチル基、(n)Buは
n−ブチル基、(i)Prはi−プロピル基を示す)。
【0024】本発明の溶解阻止化合物においては、25
4nmの紫外線を用いて測定した高速液体クロマトグラ
フィーにおいて、一般式(1)におけるnが0である化
合物のパターン面積が全パターン面積の80%〜98
%、好ましくは90%〜98%であることが好ましい。
また、254nmの紫外線を用いて測定した高速液体ク
ロマトグラフィーにおいて、一般式(1)におけるnが
0ではない場合(m>n≧1)の化合物のパターン面積
が全パターン面積の2%〜20%、好ましくは2%〜1
0%であることが好ましい。一般式(1)におけるnが
0である化合物のパターン面積が80%未満であると、
解像度が低下し、本発明の効果十分得られず、98%を
越えると現像性が悪化し、レジスト形状が劣化してしま
う。
【0025】一般式(1)におけるmは2以上の整数を
表し、好ましくは2〜12、より好ましくは2〜9であ
る。
【0026】一般式(1)におけるPhは、ベンゼン環
を少なくとも1個有する化合物骨格を表し、好ましくは
ベンゼン環を1〜13個、より好ましくは2〜10個有
する。また、このような化合物骨格Ph上の酸分解性基
の位置は、該酸分解性基間の距離が最も離れた位置にお
いて、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも8個経由
することが好ましい。本発明において、より好ましくは
溶解阻止化合物は、その構造中に酸で分解し得る基を少
なくとも2個有し、該酸分解性基間の距離が最も離れた
位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも
10個、好ましくは少なくとも11個、更に好ましくは
少なくとも12個経由する化合物、又は酸分解性基を少
なくとも3個有し、該酸分解性基間の距離が最も離れた
位置において、酸分解性基を除く結合原子を少なくとも
9個、好ましくは少なくとも10個、更に好ましくは少
なくとも11個経由する化合物である。又、上記結合原
子の好ましい上限は50個、更に好ましくは30個であ
る。本発明において、溶解阻止化合物が、酸分解性基を
3個以上、好ましくは4個以上有する場合、又酸分解性
基を2個有するものにおいても、該酸分解性基が互いに
ある一定の距離以上離れている場合、アルカリ可溶性樹
脂に対する溶解阻止性が著しく向上する。なお、本発明
における酸分解性基間の距離は、酸分解性基を除く、経
由結合原子数で示される。例えば、以下の化合物
(1)、(2)の場合、酸分解性基間の距離は、各々結
合原子4個であり、化合物(3)では結合原子12個で
ある。
【0027】
【化4】
【0028】本発明の溶解阻止化合物は、1つのベンゼ
ン環上に複数個の酸分解性基を有していても良いが、好
ましくは、1つのベンゼン環上に各々1個の酸分解性基
を有する骨格から構成される化合物である。
【0029】本発明の一般式(1)で示される溶解阻止
化合物のPhとしては、下記で示されるようなポリヒド
ロキシ化合物に相当するものが挙げられる。本発明の一
般式(1)で示される溶解阻止化合物は、下記ポリヒド
ロキシ化合物に、本発明の特定の酸分解性基を導入した
ものが好ましい。そのような、ポリヒドロキシ化合物と
しては、好ましくは、特開平1−289946号、特開
平1−289947号、特開平2−2560号、特開平
3−128959号、特開平3−158855号、特開
平3−179353号、特開平3−191351号、特
開平3−200251号、特開平3−200252号、
特開平3−200253号、特開平3−200254
号、特開平3−200255号、特開平3−25914
9号、特開平3−279958号、特開平3−2799
59号、特開平4−1650号、特開平4−1651
号、特開平4−11260号、特開平4−12356
号、特開平4−12357号、特願平3−33229
号、特願平3−230790号、特願平3−32043
8号、特願平4−25157号、特願平4−52732
号、特願平4−103215号、特願平4−10454
2号、特願平4−107885号、特願平4−1078
89号、同4−152195号等の明細書に記載された
ポリヒドロキシ化合物が挙げられる。
【0030】上記ポリヒドロキシ化合物として、更に好
ましくは、特開平1−289946号、特開平3−12
8959号、特開平3−158855号、特開平3−1
79353号、特開平3−200251号、特開平3−
200252号、特開平3−200255号、特開平3
−259149号、特開平3−279958号、特開平
4−1650号、特開平4−11260号、特開平4−
12356号、特開平4−12357号、特願平4−2
5157号、特願平4−103215号、特願平4−1
04542号、特願平4−107885号、特願平4−
107889号、同4−152195号の明細書に記載
されたポリヒドロキシ化合物を用いたものが挙げられ
る。
【0031】より具体的には、本発明の一般式(1)で
示される溶解阻止化合物のPhは、好ましくは下記一般
式[I]〜[XVI]で表される化合物及び下記好まし
い化合物骨格(1)〜(63)が挙げられる。
【0032】
【化5】
【0033】
【化6】
【0034】
【化7】
【0035】
【化8】
【0036】R101 、R102 、R108 、R130 :同一で
も異なっていても良く、水素原子、又は水酸基を表す。
【0037】R100 :−CO−,−COO−,−NHC
ONH−,−NHCOO−,−O−、−S−,−SO
−,−SO2−,−SO3−,もしくは
【0038】
【化9】
【0039】ここで、G=2〜6 但し、G=2の時は
150 、R151 のうち少なくとも一方はアルキル基、 R150 、R151 :同一でも異なっていても良く、水素原
子,アルキル基,アルコキシ基、−OH,−COOH,
−CN,ハロゲン原子,−R152 −COOR15 3 もしく
は−R154 −OH、 R152 、R154 :アルキレン基、 R153 :水素原子,アルキル基,アリール基,もしくは
アラルキル基、 R99、R103 〜R107 、R109 、R111 〜R118 、R
121 〜R123 、R128 〜R129 、R131 〜R134 、R
138 〜R141 及びR143 :同一でも異なっても良く、水
素原子,水酸基,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,アリールオキシ基,ア
ラルキル基,アラルキルオキシ基,ハロゲン原子,ニト
ロ基,カルボキシル基,シアノ基,もしくは −N(R155)(R156)(R155、R156:H,アルキル基もしくは
アリール基) R110 :単結合,アルキレン基,もしくは
【0040】
【化10】
【0041】R157 、R159 :同一でも異なっても良
く、単結合,アルキレン基,−O−,−S−,−CO
−,もしくはカルボキシル基、 R158 :水素原子,アルキル基,アルコキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アリール基,ニトロ基,水酸基,シ
アノ基,もしくはカルボキシル基、
【0042】R119 、R120 :同一でも異なっても良
く、メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、但し本願において
低級アルキル基とは炭素数1〜4のアルキル基を指す、 R124 〜R127 :同一でも異なっても良く、水素原子も
しくはアルキル基、 R135 〜R137 :同一でも異なっても良く、水素原子,
アルキル基,アルコキシ基,アシル基,もしくはアシロ
キシ基、 R142 :水素原子、もしくは
【0043】
【化11】
【0044】R144 、R145 :同一でも異なっても良
く、水素原子,低級アルキル基,低級ハロアルキル基,
もしくはアリール基、 R146 〜R149 :同一でも異なっていても良く、水素原
子,水酸基,ハロゲン原子,ニトロ基,シアノ基,カル
ボニル基,アルキル基,アルコキシ基,アルコキシカル
ボニル基,アラルキル基,アラルキルオキシ基,アシル
基,アシロキシ基,アルケニル基,アルケニルオキシ
基,アリール基,アリールオキシ基,もしくはアリール
オキシカルボニル基、但し、各4個の同一記号の置換基
は同一の基でなくても良い、 Y:−CO−,もしくは−SO2−、 Z,B:単結合,もしくは−O−、 A:メチレン基,低級アルキル置換メチレン基,ハロメ
チレン基,もしくはハロアルキル基、 E:単結合,もしくはオキシメチレン基、 a〜z,a1〜y1:複数の時、()内の基は同一または異な
っていてもよい、 a〜q、s,t,v,g1〜i1,k1〜m1,o1,q1,s1,u1:0もしくは
1〜5の整数、 r,u,w,x,y,z,a1〜f1,p1,r1,t1,v1〜x1:0もしくは1〜
4の整数、 j1,n1,z1,a2,b2,c2,d2:0もしくは1〜3の整数、 z1,a2,c2,d2のうち少なくとも1つは1以上、 y1:3〜8の整数、 (a+b),(e+f+g),(k+l+m),(q+r+s),(w+x+y),(c1+d1),(g1+
h1+i1+j1),(o1+p1),(s1+t1)≧2、 (j1+n1)≦3、 (r+u),(w+z),(x+a1),(y+b1),(c1+e1),(d1+f1),(p1+r1),
(t1+v1),(x1+w1)≦4、但し一般式[V]の場合は(w+
z),(x+a1)≦5、 (a+c),(b+d),(e+h),(f+i),(g+j),(k+n),(l+o),(m+p),(q
+t),(s+v),(g1+k1),(h1+l1),(i1+m1),(o1+q1),(s1+u1)
≦5、 を表す。
【0045】
【化12】
【0046】
【化13】
【0047】
【化14】
【0048】
【化15】
【0049】好ましい化合物骨格の具体例を以下に示
す。
【0050】
【化16】
【0051】
【化17】
【0052】
【化18】
【0053】
【化19】
【0054】
【化20】
【0055】
【化21】
【0056】
【化22】
【0057】
【化23】
【0058】
【化24】
【0059】
【化25】
【0060】
【化26】
【0061】
【化27】
【0062】
【化28】
【0063】
【化29】
【0064】
【化30】
【0065】
【化31】
【0066】
【化32】
【0067】
【化33】
【0068】
【化34】
【0069】化合物(1)〜(63)中のRは、水素原
子、
【0070】
【化35】
【0071】を表す(ここで、tBuは(t)ブチル
基、iBuはイソブチル基、iPrはイソプロピル基を
表す)。但し、一般式(1)におけるn=0の時、1つ
の化合物中全てのRは水素原子以外の基を表し、nが0
以外を表す場合、少なくとも1つの水素原子と水素原子
以外の基を含み、各置換基Rは同一の基でなくても良
い。
【0072】本発明の溶解阻止化合物の分子量は3,0
00以下であり、好ましくは500〜3,000、更に
好ましくは500〜2,500である。
【0073】本発明に用いられる溶解阻止化合物の合成
法としては、例えば、上記のようなフェノール性化合物
のフェノール性水酸基をアセタール基又はケタール基の
酸分解性保護基で保護することにより得られる。具体的
には、上記のようなフェノール性化合物を酸触媒存在下
でエノールエーテルによって置換反応を行う際に、その
反応系に脱水剤を共存させる方法が好ましい。また、こ
の好ましい方法は、フェノール性樹脂を上記酸分解性保
護基で保護する場合にも好ましく用いることができる。
即ち、フェノール性樹脂を酸触媒存在下でエノールエー
テルによって置換反応を行う際に、その反応系に脱水剤
を共存させる方法である。これにより、アセタール基又
はケタール基による所望の保護率を有するフェノール性
化合物、又はフェノール性樹脂を容易に得ることができ
る。
【0074】ここで、エノールエーテルとしては、下記
一般式(2)で示される化合物が好ましい。
【0075】一般式(2)
【化36】
【0076】式(2)中、R11〜R13は、同じでも異な
ってもよく、水素原子、アルキル基、アリル基、アラル
キル基、シクロアルキル基を表す。R14はアルキル基、
アリル基、アラルキル基、シクロアルキル基を表す。R
11とR13、又はR11とR12は炭素原子の5〜10員環、
あるいは−O−、−S−、−SO2 −、−N(R15)−
のヘテロ原子を含む環を形成してもよい。R15は、アル
キル基、アリル基、アラルキル基を表す。R12とR14
酸素原子と炭素原子を含む5〜8員環を含む環を形成し
てもよい。
【0077】式(2)中のR11〜R15のアルキル基、ア
リル基、アラルキル基、シクロアルキル基としては一般
式(1)のところで説明したものと同義である。R11
13、又はR11とR12が形成する炭素原子の5〜10員
環としては、シクロヘキシル基、シクロペンチル基、シ
クロブチル基等が挙げられる。R11とR13、又はR11
12が形成する、−O−、−S−、−SO2 −、−N
(R15)−のヘテロ原子を含む環としては、上記の一般
式(1)のRとR1 又はR2 が形成するものと同義であ
る。R12とR14が形成する酸素原子と炭素原子を含む5
〜8員環を含む環としては、テトラヒドロピラニル基、
テトラヒドロフラニル基等が挙げられる。
【0078】酸触媒としては、塩酸、硫酸、パラトルエ
ンスルホン酸一水和物、無水パラトルエンスルホン酸、
ピリジウムパラトルエンスルホネート、活性白土などが
挙げげられる。脱水剤としては、シリカゲル、モレキュ
ラーシーブ、イオン交換樹脂、活性白土などが挙げられ
る。脱水した有機溶剤は、例えば無水塩化メチレン、無
水テトラヒドロフラン、無水1,4−ジオキサンなどが
挙げられる。反応温度は室温から加熱還流までその化合
物の反応の様子によって適宜選択することができる。ま
た、酸触媒は微量でよく、脱水剤はその反応系が十分乾
燥できるのに必要な量適宜添加する。反応させるエノー
ルエーテルの量は、必要な置換度によって異なるが、添
加量に応じて置換度が向上する。本方法を用いること
で、ほぼ仕込みと同程度の置換基を導入することができ
る。
【0079】〔(a)水不溶でアルカリ水溶液に可溶な
樹脂(以下、アルカリ可溶性樹脂ともいう)〕本発明に
用いられるアルカリ可溶性樹脂としては、例えばノボラ
ック樹脂、水素化ノボラツク樹脂、アセトン−ピロガロ
ール樹脂、o−ポリヒドロキシスチレン、m−ポリヒド
ロキシスチレン、p−ポリヒドロキシスチレン、水素化
ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ヒドロキシスチレン−N−
置換マレイミド共重合体、o/p−及びm/p−ヒドロ
キシスチレン共重合体、ポリヒドロキシスチレンの水酸
基に対する一部O−アルキル化物(例えば、5〜30モ
ル%のO−メチル化物、O−(1−メトキシ)エチル化
物、O−(1−エトキシ)エチル化物、O−2−テトラ
ヒドロピラニル化物、O−(t−ブトキシカルボニル)
メチル化物等)もしくはO−アシル化物(例えば、5〜
30モル%のo−アセチル化物、O−(t−ブトキシ)
カルボニル化物等)、スチレン−無水マレイン酸共重合
体、スチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチ
ルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、カルボキシ
ル基含有メタクリル系樹脂及びその誘導体を挙げること
ができるが、これらに限定されるものではない。特に好
ましいアルカリ可溶性樹脂はノボラック樹脂及びo−ポ
リヒドロキシスチレン、m−ポリヒドロキシスチレン、
p−ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、ア
ルキル置換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシス
チレンの一部O−アルキル化、もしくはO−アシル化
物、スチレン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチ
ルスチレン−ヒドロキシスチレン共重合体である。該ノ
ボラック樹脂は所定のモノマーを主成分として、酸性触
媒の存在下、アルデヒド類と付加縮合させることにより
得られる。
【0080】所定のモノマーとしては、フェノール、m
−クレゾール、p−クレゾール、o−クレゾール等のク
レゾール類、2,5−キシレノール、3,5−キシレノ
ール、3,4−キシレノール、2,3−キシレノール等
のキシレノール類、m−エチルフェノール、p−エチル
フェノール、o−エチルフェノール、p−t−ブチルフ
ェノール、p−オクチルフエノール、2,3,5−トリ
メチルフェノール等のアルキルフェノール類、p−メト
キシフェノール、m−メトキシフェノール、3,5−ジ
メトキシフェノール、2−メトキシ−4−メチルフェノ
ール、m−エトキシフェノール、p−エトキシフェノー
ル、m−プロポキシフェノール、p−プロポキシフェノ
ール、m−ブトキシフェノール、p−ブトキシフェノー
ル等のアルコキシフェノール類、2−メチル−4−イソ
プロピルフェノール等のビスアルキルフェノール類、m
−クロロフェノール、p−クロロフェノール、o−クロ
ロフェノール、ジヒドロキシビフェニル、ビスフェノー
ルA、フェニルフェノール、レゾルシノール、ナフトー
ル等のヒドロキシ芳香化合物を単独もしくは2種類以上
混合して使用することができるが、これらに限定される
ものではない。
【0081】アルデヒド類としては、例えばホルムアル
デヒド、パラホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、プ
ロピオンアルデヒド、ベンズアルデヒド、フェニルアセ
トアルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−
フェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズア
ルデヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒド
ロキシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒ
ド、m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズア
ルデヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベ
ンズアルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メ
チルベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、
p−メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデ
ヒド、p−n−ブチルベンズアルデヒド、フルフラー
ル、クロロアセトアルデヒド及びこれらのアセタール
体、例えばクロロアセトアルデヒドジエチルアセタール
等を使用することができるが、これらの中で、ホルムア
ルデヒドを使用するのが好ましい。これらのアルデヒド
類は、単独でもしくは2種類以上組み合わせて用いられ
る。酸性触媒としては塩酸、硫酸、ギ酸、酢酸、シュウ
酸等を使用することができる。
【0082】こうして得られたノボラック樹脂の重量平
均分子量は、1,000〜30,000の範囲であるこ
とが好ましい。1,000未満では未露光部の現像後の
膜減りが大きく、30,000を越えると現像速度が小
さくなってしまう。特に好適なのは2,000〜20,
000の範囲である。また、ノボラック樹脂以外の前記
ポリヒドロキシスチレン、及びその誘導体、共重合体の
重量平均分子量は、2000以上、好ましくは5000
〜200000、より好ましくは10000〜1000
00である。また、レジスト膜の耐熱性を向上させると
いう観点からは、25000以上が好ましい。ここで、
重量平均分子量はゲルパーミエーションクロマトグラフ
ィーのポリスチレン換算値をもって定義される。本発明
に於けるこれらのアルカリ可溶性樹脂は2種類以上混合
して使用しても良い。アルカリ可溶性樹脂の使用量は、
感光性組成物の全重量(溶媒を除く)を基準として、5
0〜97重量%、好ましくは60〜90重量%である。
【0083】〔(b)活性光線又は放射線の照射により
酸を発生する化合物〕本発明で使用される活性光線また
は放射線の照射により分解して酸を発生する化合物とし
ては、光カチオン重合の光開始剤、光ラジカル重合の光
開始剤、色素類の光消色剤、光変色剤、あるいはマイク
ロレジスト等に使用されている公知の光により酸を発生
する化合物およびそれらの混合物を適宜に選択して使用
することができる。
【0084】たとえば S.I.Schlesinger,Photogr.Sci.E
ng.,18,387(1974)、T.S.Bal etal,Polymer,21,423(198
0)等に記載のジアゾニウム塩、米国特許第4,069,055
号、同4,069,056号、同 Re 27,992号、特願平3-140,140
号等に記載のアンモニウム塩、D.C.Necker etal,Macrom
olecules,17,2468(1984)、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Con
f.Rad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)、米国特許第
4,069,055号、同4,069,056号等に記載のホスホニウム
塩、J.V.Crivello etal,Macromorecules,10(6),1307(19
77)、Chem.&Eng.News,Nov.28,p31(1988)、欧州特許第10
4,143号、米国特許第339,049 号、同第410,201号、特開
平2-150,848号、特開平2-296,514号等に記載のヨードニ
ウム塩、J.V.Crivello etal,Polymer J.17,73(1985)、
J.V.Crivello etal.J.Org.Chem.,43,3055(1978)、W.R.W
att etal,J.Polymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,22,1789(1
984) 、J.V.Crivello etal,Polymer Bull.,14,279(198
5)、J.V.Crivello etal,Macromorecules,14(5),1141(19
81)、J.V.Crivello etal,J.PolymerSci.,Polymer Chem.
Ed.,17,2877(1979)、欧州特許第370,693 号、同3,902,1
14号、同233,567号、同297,443号、同297,442号、米国
特許第4,933,377号、同161,811号、同410,201号、同33
9,049号、同4,760,013号、同4,734,444号、同2,833,827
号、獨国特許第2,904,626号、同3,604,580号、同3,604,
581号等に記載のスルホニウム塩、J.V.Crivello etal,M
acromorecules,10(6),1307(1977)、J.V.Crivello etal,
J.PolymerSci.,Polymer Chem.Ed., 17,1047(1979) 等に
記載のセレノニウム塩、C.S.Wen etal,Teh,Proc.Conf.R
ad.Curing ASIA,p478 Tokyo,Oct(1988)等に記載のアル
ソニウム塩等のオニウム塩、米国特許第3,905,815号、
特公昭46-4605 号、特開昭48-36281号、特開昭55-32070
号、特開昭60-239736号、特開昭61-169835 号、特開昭6
1-169837号、特開昭62-58241号、特開昭62-212401号、
特開昭63-70243号、特開昭63-298339号等に記載の有機
ハロゲン化合物、K.Meier etal,J.Rad.Curing,13(4),26
(1986) 、T.P.Gill etal,Inorg.Chem.,19,3007(198
0)、D.Astruc,Acc.Chem.Res.,19(12),377(1896)、特開
平2-161445号等に記載の有機金属/有機ハロゲン化物、
S.Hayase etal,J.Polymer Sci.,25,753(1987)、E.Reich
manis etal,J.Pholymer Sci.,Polymer Chem.Ed.,23,1(1
985)、Q.Q.Zhu etal,J.Photochem.,36,85,39,317(1987)、
B.Amit etal,Tetrahedron Lett.,(24)2205(1973)、D.H.
R.Barton etal,J.Chem Soc.,3571(1965)、 P.M.Collins
etal,J.Chem.SoC.,Perkin I,1695(1975)、M.Rudinstein
etal,Tetrahedron Lett.,(17),1445(1975)、J.W.Walker
etalJ.Am.Chem.Soc.,110,7170(1988)、S.C.Busman etal,
J.Imaging Technol.,11(4),191(1985)、H.M.Houlihan et
al,Macormolecules,21,2001(1988)、P.M.Collins etal,
J.Chem.Soc.,Chem.Commun.,532(1972)、S.Hayase etal,M
acromolecules,18,1799(1985)、E.Reichmanis etal,J.El
ectrochem.Soc.,Solid State Sci.Technol.,130(6)、 F.
M.Houlihan etal,Macromolcules,21,2001(1988)、欧州特
許第0290,750号、同046,083号、同156,535号、同271,85
1号、同0,388,343号、 米国特許第3,901,710号、同4,18
1,531号、特開昭60-198538号、特開昭53-133022号等に
記載のo−ニトロベンジル型保護基を有する光酸発生
剤、M.TUNOOKAetal,Polymer Preprints Japan,35(8)、G.
Berner etal,J.Rad.Curing,13(4)、W.J.Mijs etal,Coati
ng Technol.,55(697),45(1983),Akzo、H.Adachi etal,P
olymer Preprints,Japan,37(3)、欧州特許第0199,672
号、同84515号、同199,672号、同044,115号、同0101,12
2号、米国特許第618,564号、同4,371,605号、同4,431,7
74号、特開昭64-18143 号、特開平2-245756号、特願平3
-140109号等に記載のイミノスルフォネ−ト等に代表さ
れる光分解してスルホン酸を発生する化合物、特開昭61
-166544号等に記載のジスルホン化合物を挙げることが
できる。
【0085】また、これらの光により酸を発生する基、
あるいは化合物をポリマーの主鎖または側鎖に導入した
化合物、たとえば、M.E.Woodhouse etal,J.Am.Chem.So
c.,104,5586(1982)、S.P.Pappas etal,J.Imaging Sc
i.,30(5),218(1986)、S.Kondoetal,Makromol.Chem.,Rap
id Commun.,9,625(1988)、Y.Yamadaetal,Makromol.Che
m.,152,153,163(1972) 、J.V.Crivello etal,J.Polymer
Sci.,Polymer Chem.Ed.,17,3845(1979)、米国特許第3,8
49,137号、獨国特許第3914407号、特開昭63-26653号、
特開昭55-164824号、特開昭62-69263号、特開昭63-1460
38 号、特開昭63-163452号、特開昭62-153853号、特開
昭63-146029号等に記載の化合物を用いることができ
る。
【0086】さらにV.N.R.Pillai,Synthesis,(1),1(198
0)、A.Abad etal,Tetrahedron Lett.,(47)4555(1971)、
D.H.R.Barton etal,J.Chem.Soc.,(C),329(1970)、米国
特許第3,779,778号、欧州特許第126,712号等に記載の光
により酸を発生する化合物も使用することができる。
【0087】上記活性光線または放射線の照射により分
解して酸を発生する化合物の中で、特に有効に用いられ
るものについて以下に説明する。 (1)トリハロメチル基が置換した下記一般式(PAG
1)で表されるオキサゾール誘導体または一般式(PA
G2)で表されるS−トリアジン誘導体。
【0088】
【化37】
【0089】式中、R201 は置換もしくは未置換のアリ
ール基、アルケニル基、R202 は置換もしくは未置換の
アリール基、アルケニル基、アルキル基、−C(Y)3
をしめす。Yは塩素原子または臭素原子を示す。具体的
には以下の化合物を挙げることができるがこれらに限定
されるものではない。
【0090】
【化38】
【0091】
【化39】
【0092】
【化40】
【0093】(2)下記の一般式(PAG3)で表され
るヨードニウム塩、または一般式(PAG4)で表され
るスルホニウム塩。
【0094】
【化41】
【0095】ここで式Ar1、Ar2は各々独立に置換も
しくは未置換のアリール基を示す。好ましい置換基とし
ては、アルキル基、ハロアルキル基、シクロアルキル
基、アリール基、アルコキシ基、ニトロ基、カルボキシ
ル基、アルコキシカルボニル基、ヒロドキシ基、メルカ
プト基およびハロゲン原子が挙げられる。
【0096】R203 、R204 、R205 は各々独立に、置
換もしくは未置換のアルキル基、アリール基を示す。好
ましくは、炭素数6〜14のアリール基、炭素数1〜8
のアルキル基およびそれらの置換誘導体である。好まし
い置換基としては、アリール基に対しては炭素数1〜8
のアルコキシ基、炭素数1〜8のアルキル基、ニトロ
基、カルボキシル基、ヒロドキシ基およびハロゲン原子
であり、アルキル基に対しては炭素数1〜8のアルコキ
シ基、カルボキシル基、アルコシキカルボニル基であ
る。
【0097】Z-は対アニオンを示し、例えばBF4 -
AsF6 -、PF6 -、SbF6-、SiF6 2-、ClO4 -
CF3SO3 -等のパーフルオロアルカンスルホン酸アニ
オン、ペンタフルオロベンゼンスルホン酸アニオン、ナ
フタレン−1−スルホン酸アニオン等の縮合多核芳香族
スルホン酸アニオン、アントラキノンスルホン酸アニオ
ン、スルホン酸基含有染料等を挙げることができるがこ
れらに限定されるものではない。
【0098】またR203 、R204 、R205 のうちの2つ
およびAr1、Ar2はそれぞれの単結合または置換基を
介して結合してもよい。
【0099】具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0100】
【化42】
【0101】
【化43】
【0102】
【化44】
【0103】
【化45】
【0104】
【化46】
【0105】
【化47】
【0106】
【化48】
【0107】
【化49】
【0108】
【化50】
【0109】
【化51】
【0110】
【化52】
【0111】一般式 (PAG3)、(PAG4)で示
される上記オニウム塩は公知であり、たとえばJ.W.Knap
czyk etal,J.Am.Chem.Soc.,91,145(1969)、A.L.Maycok
etal, J.Org.Chem.,35,2532,(1970)、E.Goethas etal ,
Bull.Soc.Chem.Belg.,73,546,(1964) 、H.M.Leicester、
J.Ame.Chem.Soc.,51,3587(1929)、J.V.Crivello etal,
J.Polym.Chem.Ed.,18,2677(1980)、米国特許第2,807,64
8 号および同4,247,473号、特開昭53-101,331号等に記
載の方法により合成することができる。
【0112】(3)下記一般式(PAG5)で表される
ジスルホン誘導体または一般式(PAG6)で表される
イミノスルホネート誘導体。
【0113】
【化53】
【0114】式中、Ar3、Ar4は各々独立に置換もし
くは未置換のアリール基を示す。R 206 は置換もしくは
未置換のアルキル基、アリール基を示す。Aは置換もし
くは未置換のアルキレン基、アルケニレン基、アリーレ
ン基を示す。具体例としては以下に示す化合物が挙げら
れるが、これらに限定されるものではない。
【0115】
【化54】
【0116】
【化55】
【0117】
【化56】
【0118】
【化57】
【0119】
【化58】
【0120】これらの活性光線または放射線の照射によ
り分解して酸を発生する化合物の添加量は、感光性組成
物の全重量(塗布溶媒を除く)を基準として通常0.0
01〜40重量%の範囲で用いられ、好ましくは0.0
1〜20重量%、更に好ましくは0.1〜5重量%の範
囲で使用される。
【0121】本発明において、酸により分解し、アルカ
リ現像液中での溶解性を増大させる基を有する樹脂を用
いることができる。そのような樹脂としては、樹脂の主
鎖または側鎖、あるいは、主鎖及び側鎖の両方に、酸で
分解し得る基を有する樹脂である。この内、酸で分解し
得る基を側鎖に有する樹脂がより好ましい。
【0122】ここで、好ましい酸分解性基としては、酸
により分解し得る基、即ち−COO−A0 、−O−B0
基を含む基としては、−R0−COO−A0、又は−Ar
−O−B0で示される基が挙げられる。ここでA0は、−
C(R01)(R02)(R03)、−Si(R01)(R02
(R0 3)もしくは−C(R04)(R05)−O−R06基を
示す。B0は、A0又は−CO−O−A0基を示す。
01、R02、R03、R04及びR05は、それぞれ同一でも
相異していても良く、水素原子、アルキル基、シクロア
ルキル基、アルケニル基もしくはアリール基を示し、R
06はアルキル基もしくはアリール基を示す。但し、R01
〜R03の内少なくとも2つは水素原子以外の基であり、
又、R01〜R03、及びR04〜R06の内の2つの基が結合
して環を形成してもよい。R0は置換基を有していても
良い2価以上の脂肪族もしくは芳香族炭化水素基を示
し、−Ar−は単環もしくは多環の置換基を有していて
も良い2価以上の芳香族基を示す。2価以上の脂肪族基
としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、イ
ソプロピレン基、ブチレン基、イソブチレン基、t−ブ
チレン基などのような2価、メチン基やエチン基のよう
な3価及び4価で炭素数1〜4個のものが好ましく、こ
れらはさらに置換基によって置換されていてもよい。ま
た、2価以上の芳香族基としては、1,4−フェニレ
ン、1,3−フェニレン、1,2−フェニレンのような
単環のもの、1,2−ナフチレン、1,3−ナフチレ
ン、1,4−ナフチレン、1,5−ナフチレン、1,6
−ナフチレン、1,7−ナフチレン、1,8−ナフチレ
ン、2,3−ナフチレン、2,4−ナフチレン、2,5
−ナフチレン、2,6−ナフチレン、2,7−ナフチレ
ン、2,8−ナフチレンなどのような2環のもの、アン
トラセンのような3環のものなどが挙げられ、更に多く
の環を縮環していても良く、置換基を有していてもよ
い。
【0123】ここで、アルキル基としてはメチル基、エ
チル基、プロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル
基、t−ブチル基の様な炭素数1〜4個のものが好まし
く、シクロアルキル基としてはシクロプロピル基、シク
ロブチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基の様な
炭素数3〜10個のものが好ましく、アルケニル基とし
てはビニル基、プロペニル基、アリル基、ブテニル基の
様な炭素数2〜4個のものが好ましく、アリール基とし
てはフエニル基、キシリル基、トルイル基、クメニル
基、ナフチル基、アントラセニル基の様な炭素数6〜1
4個のものが好ましい。また、置換基としては水酸基、
ハロゲン原子(フツ素、塩素、臭素、ヨウ素)、ニトロ
基、シアノ基、上記のアルキル基、メトキシ基・エトキ
シ基・ヒドロキシエトキシ基・プロポキシ基・ヒドロキ
シプロポキシ基・n−ブトキシ基・イソブトキシ基・s
ec−ブトキシ基・t−ブトキシ基等のアルコキシ基、
メトキシカルボニル基・エトキシカルボニル基等のアル
コキシカルボニル基、ベンジル基・フエネチル基・クミ
ル基等のアラルキル基、アラルキルオキシ基、ホルミル
基・アセチル基・ブチリル基・ベンゾイル基・シアナミ
ル基・バレリル基等のアシル基、ブチリルオキシ基等の
アシロキシ基、上記のアルケニル基、ビニルオキシ基・
プロペニルオキシ基・アリルオキシ基・ブテニルオキシ
基等のアルケニルオキシ基、上記のアリール基、フエノ
キシ基等のアリールオキシ基、ベンゾイルオキシ基等の
アリールオキシカルボニル基を挙げることができる。
【0124】酸分解性基としては好ましくは、シリルエ
ーテル基、クミルエステル基、アセタール基、ケタール
基、テトラヒドロピラニルエーテル基、エノールエーテ
ル基、エノールエステル基、第3級のアルキルエーテル
基、第3級のアルキルエステル基、第3級のアルキルカ
ーボネート基等である。更に好ましくは、第3級アルキ
ルエステル基、第3級アルキルカーボネート基、クミル
エステル基、テトラヒドロピラニルエーテル基、アセタ
ール基である。この中で、アセタール基又はケタール基
が特に好ましい。
【0125】次に、これら酸で分解し得る基が側鎖とし
て結合する場合の母体樹脂としては、側鎖に−OHもし
くは−COOH、好ましくは−R0−COOHもしくは
−Ar−OH基を有するアルカリ可溶性樹脂である。例
えば、前記アルカリ可溶性樹脂を挙げることができる。
【0126】これらアルカリ可溶性樹脂のアルカリ溶解
速度は、0.261Nテトラメチルアンモニウムハイド
ロオキサイド(TMAH)で測定(23℃)して170
A/秒以上のものが好ましい。特に好ましくは330A
/秒以上のものである(Aはオングストローム)。ま
た、矩形プロファイルを達成する点から遠紫外光やエキ
シマレーザー光に対する透過率が高いアルカリ可溶性樹
脂が好ましい。好ましくは、1μm膜厚の248nmで
の透過率が20〜80%である。このような観点から、
特に好ましいアルカリ可溶性樹脂は、o−,m−,p−
ポリヒドロキシスチレン及びこれらの共重合体、水素化
ポリヒドロキシスチレン、ハロゲンもしくはアルキル置
換ポリヒドロキシスチレン、ポリヒドロキシスチレンの
一部、O−アルキル化もしくはO−アシル化物、スチレ
ン−ヒドロキシスチレン共重合体、α−メチルスチレン
−ヒドロキシスチレン共重合体及び水素化ノボラック樹
脂である。
【0127】本発明に用いられる酸で分解し得る基を有
する樹脂は、欧州特許254853号、特開平2−25
850号、同3−223860号、同4−251259
号等に開示されているように、アルカリ可溶性樹脂に酸
で分解し得る基の前駆体を反応させる、もしくは、酸で
分解し得る基の結合したアルカリ可溶性樹脂モノマーを
種々のモノマーと共重合して得ることができる。
【0128】本発明において、酸で分解し得る基を有す
る樹脂として好ましいものとしては、母体樹脂のOH基
の全量に対して、15〜35モル%のOH基がアセター
ル基又はケタール基で保護されているものが好ましい。
これにより、本発明の(c)成分との相溶性が良好とな
る。本発明に使用される酸により分解し得る基を有する
樹脂の具体例を以下に示すが、本発明がこれらに限定さ
れるものではない。
【0129】
【化59】
【0130】
【化60】
【0131】
【化61】
【0132】酸で分解し得る基の含有率は、樹脂中の酸
で分解し得る基の数(B)と酸で分解し得る基で保護さ
れていないアルカリ可溶性基の数(S)をもって、B/
(B+S)で表される。含有率は好ましくは0.01〜
0.5、より好ましくは0.05〜0.40、更に好ま
しくは0.05〜0.30である。B/(B+S)>
0.5ではPEB後の膜収縮、基板への密着不良やスカ
ムの原因となり好ましくない。一方、B/(B+S)<
0.01では、パターン側壁に顕著に定在波が残ること
があるので好ましくない。
【0133】酸で分解し得る基を有する樹脂の重量平均
分子量(Mw)は、2,000〜200,000の範囲
であることが好ましい。2,000未満では未露光部の
現像により膜減りが大きく、200,000を越えると
アルカリ可溶性樹脂自体のアルカリに対する溶解速度が
遅くなり感度が低下してしまう。より好ましくは、5,
000〜100,000の範囲であり、更に好ましくは
8,000〜50,000の範囲である。ここで、重量
平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィ
ーのポリスチレン換算値をもって定義される。
【0134】また、本発明における酸で分解し得る基を
有する樹脂は2種類以上混合して使用しても良い。本発
明におけるこれら樹脂の使用量は、感光性組成物の全重
量(溶媒を除く)を基準として40〜99重量%、好ま
しくは60〜95重量%である。
【0135】本発明の組成物に有機塩基性化合物を用い
ることのできる。これにより、保存時の安定性向上及び
PEDによる線巾変化が少なくなるため好ましい。本発
明で用いることのできる好ましい有機塩基性化合物と
は、フェノールよりも塩基性の強い化合物である。中で
も含窒素塩基性化合物が好ましい。好ましい化学的環境
として、下記式(A)〜(E)構造を挙げることができ
る。
【0136】
【化62】
【0137】更に好ましい化合物は、一分子中に異なる
化学的環境の窒素原子を2個以上有する含窒素塩基性化
合物であり、特に好ましくは、置換もしくは未置換のア
ミノ基と窒素原子を含む環構造の両方を含む化合物もし
くはアルキルアミノ基を有する化合物である。好ましい
具体例としては、置換もしくは未置換のグアニジン、置
換もしくは未置換のアミノピリジン、置換もしくは未置
換のアミノアルキルピリジン、置換もしくは未置換のア
ミノピロリジン、置換もしくは未置換のインダーゾル、
置換もしくは未置換のピラゾール、置換もしくは未置換
のピラジン、置換もしくは未置換のピリミジン、置換も
しくは未置換のプリン、置換もしくは未置換のイミダゾ
リン、置換もしくは未置換のピラゾリン、置換もしくは
未置換のピペラジン、置換もしくは未置換のアミノモル
フォリン、置換もしくは未置換のアミノアルキルモルフ
ォリン等が挙げられる。好ましい置換基は、アミノ基、
アミノアルキル基、アルキルアミノ基、アミノアリール
基、アリールアミノ基、アルキル基、アルコキシ基、ア
シル基、アシロキシ基、アリール基、アリールオキシ
基、ニトロ基、水酸基、シアノ基である。特に好ましい
化合物として、グアニジン、1,1−ジメチルグアニジ
ン、1,1,3,3,−テトラメチルグアニジン、2−
アミノピリジン、3−アミノピリジン、4−アミノピリ
ジン、2−ジメチルアミノピリジン、4−ジメチルアミ
ノピリジン、2−ジエチルアミノピリジン、2−(アミ
ノメチル)ピリジン、2−アミノ−3−メチルピリジ
ン、2−アミノ−4−メチルピリジン、2−アミノ−5
−メチルピリジン、2−アミノ−6−メチルピリジン、
3−アミノエチルピリジン、4−アミノエチルピリジ
ン、3−アミノピロリジン、ピペラジン、N−(2−ア
ミノエチル)ピペラジン、N−(2−アミノエチル)ピ
ペリジン、4−アミノ−2,2,6,6−テトラメチル
ピペリジン、4−ピペリジノピペリジン、2−イミノピ
ペリジン、1−(2−アミノエチル)ピロリジン、ピラ
ゾール、3−アミノ−5−メチルピラゾール、5−アミ
ノ−3−メチル−1−p−トリルピラゾール、ピラジ
ン、2−(アミノメチル)−5−メチルピラジン、ピリ
ミジン、2,4−ジアミノピリミジン、4,6−ジヒド
ロキシピリミジン、2−ピラゾリン、3−ピラゾリン、
N−アミノモルフォリン、N−(2−アミノエチル)モ
ルフォリンなどが挙げられるがこれに限定されるもので
はない。
【0138】これらの含窒素塩基性化合物は、単独であ
るいは2種以上一緒に用いられる。含窒素塩基性化合物
の使用量は、感光性樹脂組成物(溶媒を除く)100重
量部に対し、通常、0.001〜10重量部、好ましく
は0.01〜5重量部である。0.001重量部未満で
は上記効果が得られない。一方、10重量部を超えると
感度の低下や非露光部の現像性が悪化する傾向がある。
【0139】本発明の化学増幅型ポジレジスト組成物に
は必要に応じて、更に界面活性剤、染料、顔料、可塑
剤、光増感剤及び現像液に対する溶解性を促進させるフ
エノール性OH基を2個以上有する化合物などを含有さ
せることができる。
【0140】好適な界面活性剤は、具体的にはポリオキ
シエチレンラウリルエーテル、ポリオキシエチレンステ
アリルエーテル、ポリオキシエチレンセチルエーテル、
ポリオキシエチレンオレイルエーテル等のポリオキシエ
チレンアルキルエーテル類、ポリオキシエチレンオクチ
ルフェノールエーテル、ポリオキシエチレンノニルフェ
ノールエーテル等のポリオキシエチレンアルキルアリル
エーテル類、ポリオキシエチレン・ポリオキシプロピレ
ンブロックコポリマー類、ソルビタンモノラウレート、
ソルビタンモノパルミテート、ソルビタンモノステアレ
ート、ソルビタンモノオレエート、ソルビタントリオレ
エート、ソルビタントリステアレート等のソルビタン脂
肪酸エステル類、ポリオキシエチレンソルビタンモノラ
ウレート、ポリオキシエチレンソルビタンモノパルミテ
−ト、ポリオキシエチレンソルビタンモノステアレー
ト、ポリオキシエチレンソルビタントリオレエート、ポ
リオキシエチレンソルビタントリステアレート等のポリ
オキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル類等のノニオ
ン系界面活性剤、エフトップEF301,EF303,
EF352(新秋田化成(株)製)、メガファックF1
71,F173 (大日本インキ(株)製)、フロラ−
ドFC430,FC431(住友スリーエム(株)
製)、アサヒガードAG710,サーフロンS−38
2,SC101,SC102,SC103,SC10
4,SC105,SC106(旭硝子(株)製)等のフ
ッ素系界面活性剤、オルガノシロキサンポリマーKP3
41(信越化学工業(株)製)やアクリル酸系もしくは
メタクリル酸系(共)重合ポリフローNo.75,N
o.95(共栄社油脂化学工業(株)製)などを挙げる
ことができる。
【0141】これらの界面活性剤は単独で添加してもよ
いし、また、いくつかの組み合わせで添加することもで
きる。好ましい添加量は、組成物(溶媒を除く)100
重量部に対して、0.0005〜0.01重量部であ
る。好適な染料としては油性染料及び塩基性染料があ
る。具体的にはオイルイエロー#101、オイルイエロ
ー#103、オイルピンク#312、オイルグリーンB
G、オイルブルーBOS,オイルブルー#603、オイ
ルブラックBY、オイルブラックBS、オイルブラック
T−505(以上オリエント化学工業株式会社製)、ク
リスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイ
オレット(CI42535)、ローダミンB(CI45
170B)、マラカイトグリーン(CI42000)、
メチレンブルー(CI52015)等を挙げることがで
きる。
【0142】さらに、下記に挙げるような分光増感剤を
添加し、使用する光酸発生剤が吸収を持たない遠紫外よ
り長波長領域に増感させることで、本発明の化学増幅型
ポジレジストをiまたはg線に感度を持たせることがで
きる。好適な分光増感剤としては、具体的にはベンゾフ
ェノン、p,p’−テトラメチルジアミノベンゾフェノ
ン、p,p’−テトラエチルエチルアミノベンゾフェノ
ン、2−クロロチオキサントン、アントロン、9−エト
キシアントラセン、アントラセン、ピレン、ペリレン、
フェノチアジン、ベンジル、アクリジンオレンジ、ベン
ゾフラビン、セトフラビン−T、9,10−ジフェニル
アントラセン、9−フルオレノン、アセトフェノン、フ
ェナントレン、2−ニトロフルオレン、5−ニトロアセ
ナフテン、ベンゾキノン、2−クロロ−4−ニトロアニ
リン、N−アセチル−p−ニトロアニリン、p−ニトロ
アニリン、、N−アセチル−4−ニトロ−1−ナフチル
アミン、ピクラミド、アントラキノン、2−エチルアン
トラキノン、2−tert−ブチルアントラキノン1,2−
ベンズアンスラキノン、3−メチル−1,3−ジアザ−
1,9−ベンズアンスロン、ジベンザルアセトン、1,
2−ナフトキノン、3,3’−カルボニル−ビス(5,
7−ジメトキシカルボニルクマリン)及びコロネン等で
あるがこれらに限定されるものではない。
【0143】現像液に対する溶解性を促進させるフェノ
ール性OH基を2個以上有する化合物としては、ポリヒ
ドロキシ化合物が挙げられ、好ましくはポリヒドロキシ
化合物には、フェノール類、レゾルシン、フロログルシ
ン、フロログルシド、2,3,4−トリヒドロキシベン
ゾフェノン、2,3,4,4’−テトラヒドロキシベン
ゾフェノン、α,α' ,α''−トリス(4−ヒドロキシ
フェニル)−1,3,5−トリイソプロピルベンゼン、
トリス(4−ヒドロキシフェニル)メタン、トリス(4
−ヒドロキシフェニル)エタン、1,1’−ビス(4−
ヒドロキシフェニル)シクロヘキサンがある。
【0144】上記化学増幅型ポジレジスト組成物は精密
集積回路素子の製造に使用されるような基板(例:シリ
コン/二酸化シリコン被覆)上にスピナー、コーター等
の適当な塗布方法により塗布後、所定のマスクを通して
露光し、ベークを行い現像することにより良好なレジス
トパターンを得ることができる。
【0145】本発明の感光性組成物の現像液としては、
水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリウム、
ケイ酸ナトリウム、メタケイ酸ナトリウム、アンモニア
水等の無機アルカリ類、エチルアミン、n−プロピルア
ミン等の第一アミン類、ジエチルアミン、ジ−n−ブチ
ルアミン等の第二アミン類、トリエチルアミン、メチル
ジエチルアミン等の第三アミン類、ジメチルエタノール
アミン、トリエタノールアミン等のアルコールアミン
類、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラエ
チルアンモニウムヒドロキシド等の第四級アンモニウム
塩、ピロール、ピヘリジン等の環状アミン類等のアルカ
リ性水溶液を使用することができる。更に、上記アルカ
リ性水溶液にアルコール類、界面活性剤を適当量添加し
て使用することもできる。
【0146】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。
【0147】合成例1:本発明の溶解阻止化合物 44g(0.1mol)の下記化合物(1)を1000
mlの三つ口フラスコに入れ、無水塩化メチレン300
mlおよび無水1,4−ジオキサン300mlの混合溶
媒に溶解し、系内を窒素雰囲気とした。44g(0.4
4mol)のt−ブチルビニルエーテルと2.5gのピ
リジニウムパラトルエンスルホネートを添加し、さらに
脱水剤としてモレキュラーシーブ4Aを5g添加し、5
0℃で4時間攪拌した。反応液を室温まで冷却し、水を
加え塩化メチレンにて抽出、50mlの水で3回洗浄し
硫酸マグネシウムにて乾燥した。硫酸マグネシウムをろ
過にて除去後、減圧下溶媒を留去し、化合物(2)を白
色粘稠物として210g得た。得られた化合物(2)の
HPLCによる純度は4置換体が95%、その他低置換
体が合わせて4.5%であった。
【0148】
【化63】
【0149】合成例2:酸分解性基含有樹脂 21gのパラヒドロキシスチレン(下記化合物(3))
と4.5gのt−ブチルビニルエーテルを100mlの
THFに溶解し、そこへ脱水パラトルエンスルホン酸
0.1gを加え、さらに脱水剤としてモレキュラーシー
ブ3Aを3g添加し室温にて4時間攪拌した。反応液を
濾過した後、そのろ液を水3リットルに投入し、析出し
た粉体をろ取、乾燥し、化合物(4)を得た。保護率は
25%であった。
【0150】
【化64】
【0151】〔溶解阻止剤化合物の合成例−1〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をテトラヒドロフラ
ン400mlに溶解した。この溶液に窒素雰囲気下でtert
-ブトキシカリウム14g を加え、室温にて10分間攪拌
後、ジ−tert−ブチルジカーボネート29.2g を加え
た。室温下、3時間反応させ、反応液を氷水に注ぎ、生
成物を酢酸エチルで抽出した。酢酸エチル層を更に水洗
浄し、乾燥させた後溶媒を留去した。得られた結晶性の
固体を再結晶後(ジエチルエーテル)、乾燥させ、化合
物例(31:Rは全てt−BOC基)25.6g を得た。
【0152】〔溶解阻止剤化合物の合成例−2〕α,
α',α''−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン20g をジエチルエーテル
400ml に溶解した。この溶液に窒素雰囲気下で3,4−
ジヒドロ−2H−ピラン31.6g、触媒量 の塩酸を
加え、リフラツクス下24時間反応させた。反応終了
後、少量の水酸化ナトリウムを加え濾過した。濾液の溶
媒を留去し、得られた生成物をカラムクロマトグラフイ
ーで精製し、乾燥させ、化合物例(31:Rは総てTH
P基)を得た。
【0153】〔溶解阻止剤化合物の合成例−3〕α,
α',α"−トリス(4−ヒドロキシフエニル)−1,3,
5−トリイソプロピルベンゼン19.2g(0.040
モル)のN,N−ジメチルアセトアミド120ml溶液
に、炭酸カリウム21.2g(0.15モル)、更にブ
ロモ酢酸t−ブチル27.1g(0.14モル)を添加
し、120℃にて7時間撹拌した。その後反応混合物を
水1.5lに投入し、酢酸エチルにて抽出した。硫酸マ
グネシウムにて乾燥後、抽出液を濃縮し、カラムクロマ
トグラフイー(担体:シリカゲル,展開溶媒:酢酸エチ
ル/n−ヘキサン=3/7(体積比))にて精製した結
果淡黄色粘稠固体30gを得た。NMRにより、これが
化合物例(31:Rは総て−CH2COOC49 t基)で
あることを確認した。
【0154】〔ノボラック樹脂の合成例〕 m−クレゾール 40g、 p−クレゾール 60g、 37%ホルマリン水溶液 49g及び シュウ酸 0.13g を3つ口フラスコに仕込み、攪拌しながら100℃まで
昇温し15時間反応させた。その後温度を200℃まで
上げ、徐々に5mmHgまで減圧して、水、未反応のモ
ノマー、ホルムアルデヒド、シュウ酸等を除去した。次
いで溶融したアルカリ可溶ノボラック樹脂(NOV.
3)を室温に戻して回収した。得られたノボラック樹脂
(NOV.3)は重量平均分子量7100(ポリスチレ
ン換算)であった。
【0155】同様にして、モノマー組成を変えた以下の
ノボラック樹脂を合成した。 NOV.1 m−クレゾール/p−クレゾール=60/40, Mw=12,000 NOV.2 m−クレゾール/p−クレゾール=50/50, Mw=8,700 NOV.4 m−クレゾール/p−クレゾール/3,5−キシレノール =25/50/28, Mw=5,200 NOV.5 m−クレゾール/2,3,5−トリメチルフェノール =55/57, Mw=5,800
【0156】上記で得られたノボラック樹脂(NOV.
3)20gをメタノール60gに完全に溶解した後、こ
れに水30gを攪拌しながら徐々に加えて樹脂分を沈澱
させた。上層をデカンテーションにより除去して沈澱し
た樹脂分を回収し、40℃に加熱して減圧下で24時間
乾燥させてアルカリ可溶性ノボラック樹脂(NOV.
6)を得た。重量平均分子量は8000(ポリスチレン
換算)であった。
【0157】 m−クレゾール 85g、 p−クレゾール 15g、 37%ホルマリン水溶液 53g を3つ口フラスコに仕込み、110℃の油浴で加熱しな
がら良く攪拌し、酢酸亜鉛二水和物を2.4g加えて5
時間加熱攪拌を行った。次いで、同じクレゾール混合物
100gとホルマリン水溶液47gを続けて同じフラス
コに仕込み更に加熱攪拌を1時間継続した後、温度を8
0℃に下げシュウ酸0.2gを添加した。再び、油浴の
温度を110℃に保ち、還流状態で15時間反応させ
た。その後内容物を1%の塩酸を含む水にあけエチルセ
ルソルブアセテートで反応生成物を抽出した。次いでこ
れを真空蒸留器に移し、温度を200℃に上げ脱水し、
更に2〜3mmHgの減圧下で2時間蒸留を行って残留
モノマーを除いた。フラスコから溶融ポリマーを回収
し、目的のノボラック樹脂(NOV.7,Mw=7,5
00)を得た。
【0158】実施例1〜22、及び比較例1〜5 上記合成例で示した本発明の化合物を用いレジストを調
製した。そのときの処方を表1に示す。
【0159】
【表1】
【0160】表1において使用した略号は下記の内容を
表す。 <ポリマー>( )内はモル比 NOV.1-7 ノボラック樹脂 PHS/St p-ヒドロキシスチレン/スチレン共重合体
(85/15)(重量平均分子量25,000) PHS/TBOCS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボ
ニルオキシスチレン共重合体(70/30) (重
量平均分子量21,000) PHS/TBOMS p-ヒドロキシスチレン/t-ブトキシカルボ
ニルメチルオキシスチレン共重合体(80/20)(重
量平均分子量35,000) PHS/TBA p-ヒドロキシスチレン/t-ブチルオキシ−
2−エチルオキシスチレン共重合体(75/25)(重
量平均分子量10,000) PHS/AcST p-ヒドロキシスチレン/p−アセトキシス
チレン(80/20)(重量平均分子量12,000) PHS/OHS p-ヒドロキシスチレン/o−ヒドロキシス
チレン(80/20)(重量平均分子量32,000) PHS/NBA p-ヒドロキシスチレン/n-ブチルオキシ−
2−エチルオキシスチレン共重合体(75/25)(重
量平均分子量10,000)
【0161】<溶解阻止剤> BTBPP 2,2−ビス(t-ブトキシカルボニルオキシフ
ェニル)プロパン
【0162】<溶解阻止剤中酸分解性基>
【0163】
【化65】
【0164】[感光性組成物の調製と評価]表1に示す
各素材をプロピレングリコールモノメチルエーテルアセ
テート9.5gに溶解し、0.2μmのフィルターで濾
過してレジスト溶液を作成した。このレジスト溶液を、
スピンコーターを利用して、シリコンウエハー上に塗布
し、120℃60秒間真空吸着型のホットプレートで乾
燥して、膜厚1.0μmのレジスト膜を得た。このレジ
スト膜に、248nmKrFエキシマレーザーステツパ
ー(NA=0.45)を用いて露光を行った。露光直
後、及び露光1時間後にそれぞれ100℃の真空吸着型
ホットプレートで60秒間加熱を行い、ただちに2.3
8%テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(T
MAH)水溶液で60秒間浸漬し、30秒間水でリンス
して乾燥した。このようにして得られたシリコンウエハ
ー上のパターンの露光直後及び露光2時間後に加熱処理
した場合のプロファイル、感度、解像力を各々下記のよ
うに評価し、比較した。その結果を表2に示す。
【0165】〔プロファイル〕このようにして得られた
シリコンウエハー上のパターンを走査型電子顕微鏡で観
察し、レジストのプロファイルを評価した。 〔感度〕感度は0.50μmのマスクパターンを再現す
る露光量をもって定義した。 〔解像力〕解像力は0.50μmのマスクパターンを再
現する露光量における限界解像力を表す。
【0166】
【表2】
【0167】表2の結果から本発明のレジストは、露光
後から加熱処理までの経時による酸の拡散及びレジスト
表面部の酸の失活の防止が可能であり、且つ溶解阻止化
合物の溶解阻止効果が維持され、良好なプロファイルと
高感度、高解像力を有するポジ型感光性組成物であるこ
とがわかる。一方、比較例1〜3は、表2が示すよう
に、他の成分との相溶性、経時による解像力、プロファ
イルが、本発明に比べて不良であることが判る。
【0168】
【発明の効果】本発明の化学増幅型のポジ型感光性組成
物により、露光後から加熱処理までの経時による酸の拡
散及びレジスト表面部の酸の失活の防止が容易且つ適切
にでき、且つ溶解阻止化合物の溶解阻止効果が維持さ
れ、良好なプロファイルと高感度、高解像力を有するポ
ジ型感光性組成物を提供することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 上西 一也 静岡県榛原郡吉田町川尻4000番地 富士写 真フイルム株式会社内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (a)水不溶でアルカリ水溶液に可溶な
    樹脂、(b)活性光線または放射線の照射により酸を発
    生する化合物、及び(c)1個以上のフェノール性OH
    基、及び1個以上のベンゼン環を有するフェノール化合
    物のOH基がアセタール基又はケタール基で保護された
    化合物であって、254nmの紫外線を用いて測定した
    高速液体クロマトグラフィーにおいて、該化合物の全て
    のOH基がアセタール基又はケタール基で保護されてい
    る化合物成分のパターン面積が全パターン面積の80%
    〜98%であり、且つ該化合物の一部のOH基がアセタ
    ール基又はケタール基で保護されている化合物成分のパ
    ターン面積が全パターン面積の2%〜20%であるよう
    な混合物を含有することを特徴とするポジ型感光性組成
    物。
  2. 【請求項2】 OH基の全量に対して15〜35モル%
    のOH基がアセタール基又はケタール基で保護されてい
    るフェノール樹脂を含有することを特徴とする請求項1
    に記載のポジ型感光性組成物。
  3. 【請求項3】 (c)の化合物が、254nmの紫外線
    を用いて測定した高速液体クロマトグラフィーにおい
    て、下記一般式(1)で示される化合物においてnが0
    である化合物成分のパターン面積が全パターン面積の8
    0〜98%であり、nが0以外の化合物成分のパターン
    面積が全パターン面積の2〜20%であるような混合物
    であることを特徴とする請求項1又は2に記載のポジ型
    感光性組成物。 一般式(1) 【化1】 式(1)中、Phはベンゼン環を1個以上有する化合物
    骨格を表し、Rはアルキル基、アリル基、アラルキル基
    又はシクロアルキル基を表し、R1 、R2 は同じでも異
    なってもよく、水素原子、アルキル基、アリル基、アラ
    ルキル基又はシクロアルキル基を表す。また、Rと、R
    1 又はR2 とが、炭素原子とともに5〜10員環あるい
    は−O−、−S−、−SO2 −又は−NR3 −(ここで
    3 はアルキル基、アリル基、アラルキル基を表す)と
    ともに複素環を形成してもよい。nはm>n≧1あるい
    はn=0を表し、mはm≧2である。
  4. 【請求項4】 フェノール性化合物又はフェノール性樹
    脂を酸触媒存在下でエノールエーテルによって置換反応
    を行う際に、その反応系中に脱水剤を共存させることを
    特徴とする、アセタール又はケタール保護基を有するフ
    ェノール性化合物又はフェノール性樹脂の製造方法。
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JP2002099088A (ja) * 2000-09-26 2002-04-05 Yasuhiko Shirota 感放射線性組成物
JP2004002753A (ja) * 2002-03-28 2004-01-08 Toray Ind Inc 樹脂組成物及びそれよりなる絶縁膜、半導体装置、及び有機電界発光素子

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