JPH1050921A - リードフレーム及び半導体装置 - Google Patents
リードフレーム及び半導体装置Info
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- JPH1050921A JPH1050921A JP20475496A JP20475496A JPH1050921A JP H1050921 A JPH1050921 A JP H1050921A JP 20475496 A JP20475496 A JP 20475496A JP 20475496 A JP20475496 A JP 20475496A JP H1050921 A JPH1050921 A JP H1050921A
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- H01L2224/73201—Location after the connecting process on the same surface
- H01L2224/73215—Layer and wire connectors
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- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】リードフレームに異形条を用いて、ダウンセッ
ト加工を必要とせず、積み重ねてもインナリードの変形
を生じないようにし、これを用いた半導体装置は熱放散
性に優れ、パッケージと配線基板の接続確認が容易にな
るようにする。 【解決手段】リードフレームは、同一断面で異なる板厚
部をもつ異形条からなり、異形条の厚肉部をアウタリー
ド5とし、薄肉部をインナリード4とする。インナリー
ド4の半導体チップ接着領域7に半導体チップ接着用の
テープ8を貼りつける。半導体装置を製造するには、テ
ープ8を介してインナリード4の半導体チップ接着領域
7に半導体チップ10を接着し、半導体チップ10と各
インナリード4とをボンディングワイヤ9で電気的に接
続する。半導体チップ10を樹脂パッケージ11で封止
し、厚肉部からなるアウタリード5の一部をパッケージ
11の底面及び側面に露出させる。
ト加工を必要とせず、積み重ねてもインナリードの変形
を生じないようにし、これを用いた半導体装置は熱放散
性に優れ、パッケージと配線基板の接続確認が容易にな
るようにする。 【解決手段】リードフレームは、同一断面で異なる板厚
部をもつ異形条からなり、異形条の厚肉部をアウタリー
ド5とし、薄肉部をインナリード4とする。インナリー
ド4の半導体チップ接着領域7に半導体チップ接着用の
テープ8を貼りつける。半導体装置を製造するには、テ
ープ8を介してインナリード4の半導体チップ接着領域
7に半導体チップ10を接着し、半導体チップ10と各
インナリード4とをボンディングワイヤ9で電気的に接
続する。半導体チップ10を樹脂パッケージ11で封止
し、厚肉部からなるアウタリード5の一部をパッケージ
11の底面及び側面に露出させる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、同一断面で異なる
板厚部をもつ異形条から形成したリードフレームと、こ
のリードフレームを用いてアウタリードの一部をパッケ
ージの底面に露出させるようにした半導体装置に関す
る。
板厚部をもつ異形条から形成したリードフレームと、こ
のリードフレームを用いてアウタリードの一部をパッケ
ージの底面に露出させるようにした半導体装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】大容量のDRAM(Dynamic Random Acc
ess Memory)では、高密度実装の要求に対応して、比較
的小さなパッケージに大形化した半導体チップを収納で
きるLOC(Lead On Chip)構造が採用されているが、
容量の増加により更にチップサイズレベルにまで小形化
されたパッケージが要求されるようになってきた。ま
た、電子機器用の半導体パッケージも、パソコン、ファ
ックス,携帯電話機、ICカード等のサイズの縮小に伴
って、より小形化することが要求されている。しかも、
この小形化は、単にパッケージの専有する面積にのみ求
められるのではなく、パッケージの厚さ方向にも求めら
れている。
ess Memory)では、高密度実装の要求に対応して、比較
的小さなパッケージに大形化した半導体チップを収納で
きるLOC(Lead On Chip)構造が採用されているが、
容量の増加により更にチップサイズレベルにまで小形化
されたパッケージが要求されるようになってきた。ま
た、電子機器用の半導体パッケージも、パソコン、ファ
ックス,携帯電話機、ICカード等のサイズの縮小に伴
って、より小形化することが要求されている。しかも、
この小形化は、単にパッケージの専有する面積にのみ求
められるのではなく、パッケージの厚さ方向にも求めら
れている。
【0003】従来、これらの要請に応えるものとして、
リードの一部のみをパッケージの底面に露出させたCS
P(Chip Scale Package)と呼ばれる半導体装置が提案
されている(例えば、特開平6−132453号公
報)。これは図5に示すように、半導体チップ21の配
線面(表面)21aに半導体チップ21と略同一サイズ
のリードフレーム22を表面に接着剤の層を有する絶縁
テープ23で貼り付ける。リードフレーム22のインナ
リード22aと半導体チップ21とをボンディングワイ
ヤ24で接続した後、樹脂で半導体チップ21、ボンデ
ィングワイヤ24、リードフレーム22をパッケージン
グするとき、パッケージ25の底面にアウタリード22
bの一部22cを露出させたものである。このとき、パ
ッケージの側面にもアウタリードの厚み分が露出する。
リードの一部のみをパッケージの底面に露出させたCS
P(Chip Scale Package)と呼ばれる半導体装置が提案
されている(例えば、特開平6−132453号公
報)。これは図5に示すように、半導体チップ21の配
線面(表面)21aに半導体チップ21と略同一サイズ
のリードフレーム22を表面に接着剤の層を有する絶縁
テープ23で貼り付ける。リードフレーム22のインナ
リード22aと半導体チップ21とをボンディングワイ
ヤ24で接続した後、樹脂で半導体チップ21、ボンデ
ィングワイヤ24、リードフレーム22をパッケージン
グするとき、パッケージ25の底面にアウタリード22
bの一部22cを露出させたものである。このとき、パ
ッケージの側面にもアウタリードの厚み分が露出する。
【0004】ここにインナリード22aと半導体チップ
21とを接続するボンディングワイヤ24が、アウタリ
ード22bの一部22cと面一にしたパッケージ25の
底面25aからはみださないように、リードフレーム2
2をダウンセット加工することによって、インナリード
22aをアウタリード22bよりも一段低くしている。
21とを接続するボンディングワイヤ24が、アウタリ
ード22bの一部22cと面一にしたパッケージ25の
底面25aからはみださないように、リードフレーム2
2をダウンセット加工することによって、インナリード
22aをアウタリード22bよりも一段低くしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
従来技術には次のような欠点があった。
従来技術には次のような欠点があった。
【0006】(1) リードフレームをダウンセット加工し
なければならないため、加工工程が増え、しかも高い加
工精度を要求されるため加工性が悪く歩留りが低下す
る。
なければならないため、加工工程が増え、しかも高い加
工精度を要求されるため加工性が悪く歩留りが低下す
る。
【0007】(2) リードフレームは、半導体装置に使用
する前、スペースの有効利用を図るために積み重ねて保
管するが、リードフレームを積み重ねる際に、リードフ
レーム間のインナリード同士が接触するのでインナリー
ドの変形を生じやすく、保管性が悪い。
する前、スペースの有効利用を図るために積み重ねて保
管するが、リードフレームを積み重ねる際に、リードフ
レーム間のインナリード同士が接触するのでインナリー
ドの変形を生じやすく、保管性が悪い。
【0008】(3) 上記リードフレームを用いることによ
り半導体装置を小形化できるが、リードの露出部分がパ
ッケージ底面に露出したアウタリードの一部だけである
ため熱放散性が悪い。
り半導体装置を小形化できるが、リードの露出部分がパ
ッケージ底面に露出したアウタリードの一部だけである
ため熱放散性が悪い。
【0009】(4) パッケージの底面にアウタリードを露
出させるようにしたため、パッケージを配線基板に接続
する際、パッケージ底面の見えない部分で接続が行われ
るので、半田リフローの確認が困難である。なお、パッ
ケージの側面にアウタリードの厚み分が露出している
が、アウタリードの厚さは薄いため、この側面に露出し
た面積程度では半田リフローの確認は不十分である。
出させるようにしたため、パッケージを配線基板に接続
する際、パッケージ底面の見えない部分で接続が行われ
るので、半田リフローの確認が困難である。なお、パッ
ケージの側面にアウタリードの厚み分が露出している
が、アウタリードの厚さは薄いため、この側面に露出し
た面積程度では半田リフローの確認は不十分である。
【0010】本発明の目的は、リードフレームに異形条
を用いることによって、上述した従来技術の欠点を解消
して、ダウンセット加工を必要とせず、積み重ねてもイ
ンナリードの変形を生じないリードフレームを提供する
ことにある。
を用いることによって、上述した従来技術の欠点を解消
して、ダウンセット加工を必要とせず、積み重ねてもイ
ンナリードの変形を生じないリードフレームを提供する
ことにある。
【0011】また、本発明の目的は、熱放散性に優れ、
パッケージと配線基板との接続確認が容易な半導体装置
を提供することにある。
パッケージと配線基板との接続確認が容易な半導体装置
を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、同一断面で異なる板厚部をもつ異形条からなり、異
形条の厚肉部をアウタリードとし、薄肉部をインナリー
ドとしたリードフレームである。異形条の厚肉部をアウ
タリードとし、薄肉部をインナリードとすると、リード
フレームをダウンセット加工しなくても、ワイヤボンデ
ィングするインナリードと、パッケージ底面に露出させ
るアウタリードとの段差を確保することができる。
は、同一断面で異なる板厚部をもつ異形条からなり、異
形条の厚肉部をアウタリードとし、薄肉部をインナリー
ドとしたリードフレームである。異形条の厚肉部をアウ
タリードとし、薄肉部をインナリードとすると、リード
フレームをダウンセット加工しなくても、ワイヤボンデ
ィングするインナリードと、パッケージ底面に露出させ
るアウタリードとの段差を確保することができる。
【0013】請求項2に記載の発明は、同一断面で中央
の薄肉部の両側に厚肉部をもつ2山異形条から構成さ
れ、互いに対向配列するインナリードを中央の薄肉部で
形成し、対向配列する各インナリードと一体形成される
アウタリードを両側の厚肉部で形成したリードフレーム
である。リードフレームに2山異形条を用いると、板厚
の厚い厚肉部分がスペーサとしての役目も持つので、リ
ードフレームを積み重ねた際に発生しやすいインナリー
ドの変形を有効に防止できる。
の薄肉部の両側に厚肉部をもつ2山異形条から構成さ
れ、互いに対向配列するインナリードを中央の薄肉部で
形成し、対向配列する各インナリードと一体形成される
アウタリードを両側の厚肉部で形成したリードフレーム
である。リードフレームに2山異形条を用いると、板厚
の厚い厚肉部分がスペーサとしての役目も持つので、リ
ードフレームを積み重ねた際に発生しやすいインナリー
ドの変形を有効に防止できる。
【0014】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載のリードフレームにおいて、リードフレームの
半導体チップ接着領域に半導体チップ接着用のテープを
貼りつけたものである。半導体チップ接着領域に半導体
チップ接着用テープを貼り付けて半導体チップを搭載す
ると、リードフレームにアイランドを設けなくても半導
体チップを搭載できるので、リードフレームひいては半
導体装置を半導体チップなみに小形化できる。
2に記載のリードフレームにおいて、リードフレームの
半導体チップ接着領域に半導体チップ接着用のテープを
貼りつけたものである。半導体チップ接着領域に半導体
チップ接着用テープを貼り付けて半導体チップを搭載す
ると、リードフレームにアイランドを設けなくても半導
体チップを搭載できるので、リードフレームひいては半
導体装置を半導体チップなみに小形化できる。
【0015】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
のリードフレームにおいて、半導体チップ接着用テープ
に表面に熱可塑性接着剤の層を有する絶縁テープを用い
たものである。このように熱可塑性接着剤の層を有する
絶縁テープを用いると製造過程で接着剤からのアウタガ
スの発生がなく、信頼性を向上できる。
のリードフレームにおいて、半導体チップ接着用テープ
に表面に熱可塑性接着剤の層を有する絶縁テープを用い
たものである。このように熱可塑性接着剤の層を有する
絶縁テープを用いると製造過程で接着剤からのアウタガ
スの発生がなく、信頼性を向上できる。
【0016】請求項5に記載の発明は、請求項3または
4に記載のリードフレームを用いた半導体装置であっ
て、半導体チップ接着用テープを介してリードフレーム
の半導体チップ接着領域に半導体チップを接着し、半導
体チップ接着領域に接着した半導体チップと各インナリ
ードとをボンディングワイヤで電気的に接続し、半導体
チップ、ボンディングワイヤ、インナリード及びアウタ
リードの一部を樹脂パッケージで被覆し、アウタリード
の他部をパッケージの底面及び側面に露出させたもので
ある。パッケージの底面のみならず側面にもアウタリー
ドが露出していると、アウタリードの側面は厚肉部が露
出することになるので、その露出面積が大きく熱放散性
に優れる。また、パッケージ側面に露出しているアウタ
リードの面積が大きいと、側面での半田リフローを確認
することで、パッケージと配線基板との接続確認が容易
になる。
4に記載のリードフレームを用いた半導体装置であっ
て、半導体チップ接着用テープを介してリードフレーム
の半導体チップ接着領域に半導体チップを接着し、半導
体チップ接着領域に接着した半導体チップと各インナリ
ードとをボンディングワイヤで電気的に接続し、半導体
チップ、ボンディングワイヤ、インナリード及びアウタ
リードの一部を樹脂パッケージで被覆し、アウタリード
の他部をパッケージの底面及び側面に露出させたもので
ある。パッケージの底面のみならず側面にもアウタリー
ドが露出していると、アウタリードの側面は厚肉部が露
出することになるので、その露出面積が大きく熱放散性
に優れる。また、パッケージ側面に露出しているアウタ
リードの面積が大きいと、側面での半田リフローを確認
することで、パッケージと配線基板との接続確認が容易
になる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下に本発明のリードフレーム及
び半導体装置の実施の形態を図面を用いて説明する。図
1は半導体装置の断面図、図2は半導体装置の裏面側か
ら見た斜視図、図3はリードフレームの平面図及び側断
面図、図4は異形条の断面図である。
び半導体装置の実施の形態を図面を用いて説明する。図
1は半導体装置の断面図、図2は半導体装置の裏面側か
ら見た斜視図、図3はリードフレームの平面図及び側断
面図、図4は異形条の断面図である。
【0018】リードフレーム用材料には図4に示すよう
な同一断面で中央の薄肉部2の両側に厚肉部3をもつπ
形異形条ないし2山異形条1を用いる。この2山異形条
1は、例えば溝付きロールと平ロールとを用いること
で、両側に厚板部を残しながら中央及び両端を圧延する
ことによって形成することができる。材料には無酸素銅
や銅合金などを使用し、特に無酸素銅にZrを添加した
Cu−Zr銅合金は熱放散性に優れる。
な同一断面で中央の薄肉部2の両側に厚肉部3をもつπ
形異形条ないし2山異形条1を用いる。この2山異形条
1は、例えば溝付きロールと平ロールとを用いること
で、両側に厚板部を残しながら中央及び両端を圧延する
ことによって形成することができる。材料には無酸素銅
や銅合金などを使用し、特に無酸素銅にZrを添加した
Cu−Zr銅合金は熱放散性に優れる。
【0019】この2山異形条1をスタンピングまたはエ
ッチングして、図3に示すようなリードパターンをも
ち、異形条の厚肉部をアウタリード5とし薄肉部をイン
ナリード4として、インナリード4よりもアウタリード
5の板厚を厚くしたリードフレーム6を形成する。すな
わち、互いに対向配列する多数のインナリード4を中央
の薄肉部から形成し、対向配列する各インナリード4と
一体形成されるアウタリード5を両側の厚肉部から形成
する。
ッチングして、図3に示すようなリードパターンをも
ち、異形条の厚肉部をアウタリード5とし薄肉部をイン
ナリード4として、インナリード4よりもアウタリード
5の板厚を厚くしたリードフレーム6を形成する。すな
わち、互いに対向配列する多数のインナリード4を中央
の薄肉部から形成し、対向配列する各インナリード4と
一体形成されるアウタリード5を両側の厚肉部から形成
する。
【0020】このリードフレーム6の板厚が盛り上がっ
て厚くなっている方を裏面とすると、表面側の互いに対
向配列するリードパターンのインナリード4の各半導体
チップ接着領域7に半導体チップ接着用のテープ8をそ
れぞれ貼りつける。テープ8には表面に熱可塑性接着剤
の層を有する絶縁テープを用い、このようなテープとし
て例えば、ポリイミド基材の両面に熱可塑性の接着剤と
してポリエーテルアミドイミドを設けたものがよい。こ
のように異形条より形成したリードフレームにアイラン
ドを必要としないLOC技術を応用することにより、パ
ッケージサイズを半導体チップと同等のサイズとするこ
とができる。また、板厚の厚いアウタリード5がスペー
サとしての役目を持つので、リードフレーム6を積み重
ねた際に発生しやすいインナリード4などの変形を有効
に防止できる。
て厚くなっている方を裏面とすると、表面側の互いに対
向配列するリードパターンのインナリード4の各半導体
チップ接着領域7に半導体チップ接着用のテープ8をそ
れぞれ貼りつける。テープ8には表面に熱可塑性接着剤
の層を有する絶縁テープを用い、このようなテープとし
て例えば、ポリイミド基材の両面に熱可塑性の接着剤と
してポリエーテルアミドイミドを設けたものがよい。こ
のように異形条より形成したリードフレームにアイラン
ドを必要としないLOC技術を応用することにより、パ
ッケージサイズを半導体チップと同等のサイズとするこ
とができる。また、板厚の厚いアウタリード5がスペー
サとしての役目を持つので、リードフレーム6を積み重
ねた際に発生しやすいインナリード4などの変形を有効
に防止できる。
【0021】上述した半導体チップ接着用テープ8を貼
り付けたリードフレーム6から半導体装置を製造するに
は、図1に示すように、半導体チップ接着用テープ8を
介して半導体チップ接着領域7に、半導体チップ10を
その回路面をインナリード4側に向けて接着する。この
半導体チップ接着領域7に接着した半導体チップ10の
ボンディングパッドと各インナリード4とをボンディン
グワイヤ9で電気的に接続する。このときアウタリード
5よりもインナリード4の板厚が薄いため、インナリー
ド4と半導体チップ10間を接続するボンディングワイ
ヤ9のループの頂点は、アウタリード5の裏面よりも低
い場所に来ることになる。
り付けたリードフレーム6から半導体装置を製造するに
は、図1に示すように、半導体チップ接着用テープ8を
介して半導体チップ接着領域7に、半導体チップ10を
その回路面をインナリード4側に向けて接着する。この
半導体チップ接着領域7に接着した半導体チップ10の
ボンディングパッドと各インナリード4とをボンディン
グワイヤ9で電気的に接続する。このときアウタリード
5よりもインナリード4の板厚が薄いため、インナリー
ド4と半導体チップ10間を接続するボンディングワイ
ヤ9のループの頂点は、アウタリード5の裏面よりも低
い場所に来ることになる。
【0022】次いで、トランスファモールドによって半
導体チップ10、ボンディングワイヤ9、リードフレー
ム6を樹脂パッケージ11で封止する。このとき厚肉部
からなるアウタリード5の一部5aをパッケージ11の
底面及び側面に露出させるようにする。ここでアウタリ
ード5の一部5aとはアウタリード5の裏面及びインナ
リード側に形成される段差部と反対側に位置する端面で
あり、ともに配線基板に接続される部分となる。
導体チップ10、ボンディングワイヤ9、リードフレー
ム6を樹脂パッケージ11で封止する。このとき厚肉部
からなるアウタリード5の一部5aをパッケージ11の
底面及び側面に露出させるようにする。ここでアウタリ
ード5の一部5aとはアウタリード5の裏面及びインナ
リード側に形成される段差部と反対側に位置する端面で
あり、ともに配線基板に接続される部分となる。
【0023】このようにアウタリード5はパッケージ1
1の底面に配置されるため、パッケージ11の厚さ方向
の中央にアウタリード5が配置する従来のリードフレー
ムのように、アウタリード5間のダムバーをパンチで個
別に打抜く必要がなく、ダムバーを繋げた状態で一括し
て打抜くことができる。このため打抜きパンチ形状を簡
単にすることができ、メンテナンス性に優れる。また、
生産性も向上するため、リードフレーム製造のコストの
低減にもつながる。
1の底面に配置されるため、パッケージ11の厚さ方向
の中央にアウタリード5が配置する従来のリードフレー
ムのように、アウタリード5間のダムバーをパンチで個
別に打抜く必要がなく、ダムバーを繋げた状態で一括し
て打抜くことができる。このため打抜きパンチ形状を簡
単にすることができ、メンテナンス性に優れる。また、
生産性も向上するため、リードフレーム製造のコストの
低減にもつながる。
【0024】配線基板との接続用アウタリードの一部5
aを除いて、樹脂パッケージ11で封止された半導体装
置の裏面から見た様子は図2のようになる。パッケージ
11の底面は面一であり、また底面のみならず側面にも
アウタリード5の一部5aが露出しており、その側面の
露出面積は異形条の厚肉部の端面がそのまま露出してい
るため、薄肉部に比して表面積が大きい。このため底面
のみにアウタリードが露出してるものよりも、半導体チ
ップから発生した熱の放散性に優れる。また、実装時に
おいて、パッケージの側面に露出しているアウタリード
部の半田リフローを確認することにより、パッケージと
配線基板との接続確認が容易になる。また、アウタリー
ドがパッケージの側部から底面に回り込んでいるSOJ
(SmallOutline J-lead Package)パッケージと比較し
て、ワイヤボンディング部とアウタリード間の距離が短
いため電気的特性も向上する。
aを除いて、樹脂パッケージ11で封止された半導体装
置の裏面から見た様子は図2のようになる。パッケージ
11の底面は面一であり、また底面のみならず側面にも
アウタリード5の一部5aが露出しており、その側面の
露出面積は異形条の厚肉部の端面がそのまま露出してい
るため、薄肉部に比して表面積が大きい。このため底面
のみにアウタリードが露出してるものよりも、半導体チ
ップから発生した熱の放散性に優れる。また、実装時に
おいて、パッケージの側面に露出しているアウタリード
部の半田リフローを確認することにより、パッケージと
配線基板との接続確認が容易になる。また、アウタリー
ドがパッケージの側部から底面に回り込んでいるSOJ
(SmallOutline J-lead Package)パッケージと比較し
て、ワイヤボンディング部とアウタリード間の距離が短
いため電気的特性も向上する。
【0025】なお、上述した実施の形態では、半導体チ
ップ全体をパッケージに納めるようにしたが、パッケー
ジの厚さをより薄くするために、半導体チップの裏面を
パッケージの上面に露出させるようにしてもよい。
ップ全体をパッケージに納めるようにしたが、パッケー
ジの厚さをより薄くするために、半導体チップの裏面を
パッケージの上面に露出させるようにしてもよい。
【0026】
【発明の効果】本発明のリードフレームによれば、リー
ドフレームに異形条を用いたので、ダウンセット加工を
必要とせず加工性がいい。また積み重ねてもインナリー
ドの変形が生じないので保管性がいい。
ドフレームに異形条を用いたので、ダウンセット加工を
必要とせず加工性がいい。また積み重ねてもインナリー
ドの変形が生じないので保管性がいい。
【0027】また、本発明の半導体装置によれば、パッ
ケージからのアウタリードの露出面積を増大できるの
で、熱放散性に優れ信頼性を向上することができる。ま
たパッケージ側面におけるアウタリードの露出面積を増
大できるので、パッケージと配線基板との接続確認が容
易となり配線基板への接続作業性が向上する。
ケージからのアウタリードの露出面積を増大できるの
で、熱放散性に優れ信頼性を向上することができる。ま
たパッケージ側面におけるアウタリードの露出面積を増
大できるので、パッケージと配線基板との接続確認が容
易となり配線基板への接続作業性が向上する。
【図1】本発明の実施の形態による半導体装置の断面図
である。
である。
【図2】本発明の実施の形態による裏面を上にして見た
ときの半導体装置の斜視図である。
ときの半導体装置の斜視図である。
【図3】本発明の実施の形態によるリードフレームの図
であって、(a)は平面図、(b)はA−A断面図であ
る。
であって、(a)は平面図、(b)はA−A断面図であ
る。
【図4】本発明のリードフレームに用いる異形条の断面
図である。
図である。
【図5】従来例による半導体装置の断面図である。
4 インナリード 5 アウタリード 6 リードフレーム 7 半導体チップ接着領域 8 半導体チップ接着用テープ 9 ボンディングワイヤ 10 半導体チップ 11 樹脂パッケージ
Claims (5)
- 【請求項1】同一断面で異なる板厚部をもつ異形条から
なり、異形条の厚肉部をアウタリードとし、薄肉部をイ
ンナリードとしたリードフレーム。 - 【請求項2】同一断面で中央の薄肉部の両側に厚肉部を
もつ2山異形条から構成され、互いに対向配列するイン
ナリードを中央の薄肉部で形成し、対向配列する各イン
ナリードと一体形成されるアウタリードを両側の厚肉部
で形成したリードフレーム。 - 【請求項3】リードフレームの半導体チップ接着領域に
半導体チップ接着用のテープを貼りつけた請求項1また
は2に記載のリードフレーム。 - 【請求項4】上記半導体チップ接着用テープに表面に熱
可塑性接着剤の層を有する絶縁テープを用いる請求項3
に記載のリードフレーム。 - 【請求項5】請求項3または4に記載のリードフレーム
を用いた半導体装置であって、上記半導体チップ接着用
テープを介してリードフレームの半導体チップ接着領域
に半導体チップを接着し、半導体チップ接着領域に接着
した半導体チップと各インナリードとをボンディングワ
イヤで電気的に接続し、上記半導体チップ、ボンディン
グワイヤ、リードフレームを樹脂パッケージで封止し、
上記厚肉部からなるアウタリードの一部を上記パッケー
ジの底面及び側面に露出させた半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20475496A JPH1050921A (ja) | 1996-08-02 | 1996-08-02 | リードフレーム及び半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20475496A JPH1050921A (ja) | 1996-08-02 | 1996-08-02 | リードフレーム及び半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1050921A true JPH1050921A (ja) | 1998-02-20 |
Family
ID=16495797
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20475496A Pending JPH1050921A (ja) | 1996-08-02 | 1996-08-02 | リードフレーム及び半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1050921A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6876087B2 (en) * | 2002-08-23 | 2005-04-05 | Via Technologies, Inc. | Chip scale package with heat dissipating part |
DE102005006730B4 (de) * | 2004-02-04 | 2007-02-22 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Halbleiterchippackung und zugehöriges Herstellungsverfahren |
JP2008141222A (ja) * | 2008-02-04 | 2008-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リードフレームとそれを用いた半導体装置及びその生産方法 |
-
1996
- 1996-08-02 JP JP20475496A patent/JPH1050921A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6876087B2 (en) * | 2002-08-23 | 2005-04-05 | Via Technologies, Inc. | Chip scale package with heat dissipating part |
DE102005006730B4 (de) * | 2004-02-04 | 2007-02-22 | Samsung Electronics Co., Ltd., Suwon | Halbleiterchippackung und zugehöriges Herstellungsverfahren |
US7436049B2 (en) | 2004-02-04 | 2008-10-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Lead frame, semiconductor chip package using the lead frame, and method of manufacturing the semiconductor chip package |
JP2008141222A (ja) * | 2008-02-04 | 2008-06-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | リードフレームとそれを用いた半導体装置及びその生産方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040323 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040413 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040817 |