JPH10340991A - プリント配線板及び半導体チップの実装方法 - Google Patents
プリント配線板及び半導体チップの実装方法Info
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- JPH10340991A JPH10340991A JP9151218A JP15121897A JPH10340991A JP H10340991 A JPH10340991 A JP H10340991A JP 9151218 A JP9151218 A JP 9151218A JP 15121897 A JP15121897 A JP 15121897A JP H10340991 A JPH10340991 A JP H10340991A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、ピン配置及び信号数を一部異にする
複数種の半導体チップを対象に、前記各半導体チップの
入れ替え可能な信号接続部分を操作し信号数の差異を吸
収して、前記複数種の半導体チップに共通の部品実装エ
リアをプリント配線板に形成することを特徴とする。 【解決手段】PWB上の共通部品実装エリアに配置され
る半田パッド10は、16MビットTSOPタイプDRA
M20と、64MビットTSOPタイプDRAM30の双方
を実装対象とすることから50ピンを用意し、半田パッ
ド10に於ける、13・17、14・18、33・36、34・37、35・38 の各ピ
ンにはそれぞれ16Mビット、及び64MビットのTS
OPタイプDRAM20,30で各々該当する制御信号を接
続する。12ピンにはVcc、39ピンにはGNDを接続す
る。19及び20ピンにはA8及びA9信号を接続する。21
〜24ピン及び27〜30ピンにはA0〜A7信号を接続す
る。
複数種の半導体チップを対象に、前記各半導体チップの
入れ替え可能な信号接続部分を操作し信号数の差異を吸
収して、前記複数種の半導体チップに共通の部品実装エ
リアをプリント配線板に形成することを特徴とする。 【解決手段】PWB上の共通部品実装エリアに配置され
る半田パッド10は、16MビットTSOPタイプDRA
M20と、64MビットTSOPタイプDRAM30の双方
を実装対象とすることから50ピンを用意し、半田パッ
ド10に於ける、13・17、14・18、33・36、34・37、35・38 の各ピ
ンにはそれぞれ16Mビット、及び64MビットのTS
OPタイプDRAM20,30で各々該当する制御信号を接
続する。12ピンにはVcc、39ピンにはGNDを接続す
る。19及び20ピンにはA8及びA9信号を接続する。21
〜24ピン及び27〜30ピンにはA0〜A7信号を接続す
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ピン配置を一部異
にする複数種の半導体チップを対象に、任意の半導体チ
ップを実装可能にしたプリント配線板、及びプリント配
線板の半導体チップ実装方法に関する。
にする複数種の半導体チップを対象に、任意の半導体チ
ップを実装可能にしたプリント配線板、及びプリント配
線板の半導体チップ実装方法に関する。
【0002】又、本発明は、例えば16M及び64Mb
itのTSOPタイプDRAM等、ページモードアクセ
スのためのアドレスピン配置を一部異にする複数種の半
導体メモリチップを対象に、任意の半導体メモリチップ
を共通の実装エリアに実装可能にしたプリント配線板及
び半導体メモリチップの実装方法に関する。
itのTSOPタイプDRAM等、ページモードアクセ
スのためのアドレスピン配置を一部異にする複数種の半
導体メモリチップを対象に、任意の半導体メモリチップ
を共通の実装エリアに実装可能にしたプリント配線板及
び半導体メモリチップの実装方法に関する。
【0003】
【従来の技術】パーソナルコンピュータ等の電子機器に
於いては、CPU、メモリ、IO等、各種の半導体チッ
プが専用ボード(プリント配線板)に実装され筐体に内
蔵される。この種の機器に於いては、半導体メモリチッ
プとして、DRAM(DynamicRandom Access Memory)
が広く用いられる。
於いては、CPU、メモリ、IO等、各種の半導体チッ
プが専用ボード(プリント配線板)に実装され筐体に内
蔵される。この種の機器に於いては、半導体メモリチッ
プとして、DRAM(DynamicRandom Access Memory)
が広く用いられる。
【0004】従来、容量が異なるタイプのDRAMに
は、パッケージ互換性、ピン互換性が殆どなく、メモリ
容量が異なるタイプのDRAMの採用を考慮した場合、
容量が異なるDRAM毎に、プリント配線板(PWB)
を個別に用意する手段、部品実装エリアを個別に用意す
る手段、切り替え回路を付加する手段等のいずれかが用
いられていた。
は、パッケージ互換性、ピン互換性が殆どなく、メモリ
容量が異なるタイプのDRAMの採用を考慮した場合、
容量が異なるDRAM毎に、プリント配線板(PWB)
を個別に用意する手段、部品実装エリアを個別に用意す
る手段、切り替え回路を付加する手段等のいずれかが用
いられていた。
【0005】しかしながら上記したいずれの手段に於い
てもそれぞれに問題を有していた。即ち、プリント配線
板(PWB)を個別に用意する手段は、PWBの設計・
製造・管理コスト等が個別に必要となり、かつ開発工程
の増加に繋がる等、経済性及び管理上の問題があった。
又、部品実装エリアを個別に用意する手段は、PWBの
部品実装エリアが増加するため、軽薄短小化の妨げとな
るばかりか、総配線長の増加に伴い、設計及び品質マー
ジンの確保が困難となる等、種々の問題があった。又、
切り替え回路を付加する手段は、コストアップを招くと
ともに、設計及び品質マージンの確保が困難となる等の
問題があった。
てもそれぞれに問題を有していた。即ち、プリント配線
板(PWB)を個別に用意する手段は、PWBの設計・
製造・管理コスト等が個別に必要となり、かつ開発工程
の増加に繋がる等、経済性及び管理上の問題があった。
又、部品実装エリアを個別に用意する手段は、PWBの
部品実装エリアが増加するため、軽薄短小化の妨げとな
るばかりか、総配線長の増加に伴い、設計及び品質マー
ジンの確保が困難となる等、種々の問題があった。又、
切り替え回路を付加する手段は、コストアップを招くと
ともに、設計及び品質マージンの確保が困難となる等の
問題があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、容量
が異なるタイプのDRAMを機種、仕様等によって使い
別けて実装する場合、従来では、容量が異なるDRAM
毎に、プリント配線板(PWB)を個別に用意する手
段、部品実装エリアを個別に用意する手段、切り替え回
路を付加する手段等が用いられていたが、PWBを個別
に用意する手段は、PWBの設計・製造・管理コスト等
が個別に必要となり、かつ開発工程の増加に繋がる等、
経済性及び管理上の問題があり、又、部品実装エリアを
個別に用意する手段は、PWBの部品実装エリアが増加
するため、軽薄短小化の妨げとなるばかりか、総配線長
の増加に伴い、設計及び品質マージンの確保が困難とな
る等の問題があり、又、切り替え回路を付加する手段
は、コストアップを招くとともに、設計及び品質マージ
ンの確保が困難となる等の問題があった。
が異なるタイプのDRAMを機種、仕様等によって使い
別けて実装する場合、従来では、容量が異なるDRAM
毎に、プリント配線板(PWB)を個別に用意する手
段、部品実装エリアを個別に用意する手段、切り替え回
路を付加する手段等が用いられていたが、PWBを個別
に用意する手段は、PWBの設計・製造・管理コスト等
が個別に必要となり、かつ開発工程の増加に繋がる等、
経済性及び管理上の問題があり、又、部品実装エリアを
個別に用意する手段は、PWBの部品実装エリアが増加
するため、軽薄短小化の妨げとなるばかりか、総配線長
の増加に伴い、設計及び品質マージンの確保が困難とな
る等の問題があり、又、切り替え回路を付加する手段
は、コストアップを招くとともに、設計及び品質マージ
ンの確保が困難となる等の問題があった。
【0007】本発明は上記実情に鑑みなされたもので、
ピン配置を一部異にする複数種の半導体チップを対象
に、特定の信号線接続を考慮することにより、部品付加
等を要せずに簡単かつ安価な構成にて、任意の半導体チ
ップを共通の部品実装エリアに実装可能にしたプリント
配線板、及びプリント配線板の半導体チップ実装方法を
提供することを目的とする。
ピン配置を一部異にする複数種の半導体チップを対象
に、特定の信号線接続を考慮することにより、部品付加
等を要せずに簡単かつ安価な構成にて、任意の半導体チ
ップを共通の部品実装エリアに実装可能にしたプリント
配線板、及びプリント配線板の半導体チップ実装方法を
提供することを目的とする。
【0008】又、本発明は、例えば16M及び64Mb
itのTSOPタイプDRAM等、ページモードアクセ
スのためのアドレスピン配置を一部異にする複数種の半
導体メモリチップを対象に、特定のアドレス信号線接続
を考慮することにより、部品付加等を要せずに簡単かつ
安価な構成にて、任意の半導体メモリチップを共通の実
装エリアに実装可能にしたプリント配線板及び半導体メ
モリチップの実装方法を提供することを目的とする。
itのTSOPタイプDRAM等、ページモードアクセ
スのためのアドレスピン配置を一部異にする複数種の半
導体メモリチップを対象に、特定のアドレス信号線接続
を考慮することにより、部品付加等を要せずに簡単かつ
安価な構成にて、任意の半導体メモリチップを共通の実
装エリアに実装可能にしたプリント配線板及び半導体メ
モリチップの実装方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、プリント配線
板に於ける半導体チップの実装方法に於いて、ピン配置
及び信号数を一部異にする複数種の半導体チップを対象
に、前記各半導体チップの入れ替え可能な信号接続部分
を操作し信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体
チップに共通の部品実装エリアをプリント配線板に形成
することを特徴とする。
板に於ける半導体チップの実装方法に於いて、ピン配置
及び信号数を一部異にする複数種の半導体チップを対象
に、前記各半導体チップの入れ替え可能な信号接続部分
を操作し信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体
チップに共通の部品実装エリアをプリント配線板に形成
することを特徴とする。
【0010】又、本発明は、プリント配線板に於ける半
導体チップの実装方法に於いて、ページモードアクセス
のためのアドレス信号のピン配置を一部異にする複数種
の半導体メモリチップを対象に、前記各半導体メモリチ
ップの入れ替え可能なアドレスの信号接続を操作しアド
レス信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体メモ
リチップに共通の部品実装エリアをプリント配線板に形
成することを特徴とする。
導体チップの実装方法に於いて、ページモードアクセス
のためのアドレス信号のピン配置を一部異にする複数種
の半導体メモリチップを対象に、前記各半導体メモリチ
ップの入れ替え可能なアドレスの信号接続を操作しアド
レス信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体メモ
リチップに共通の部品実装エリアをプリント配線板に形
成することを特徴とする。
【0011】又、本発明は、プリント配線板に於ける半
導体チップの実装方法に於いて、16Mビット、及び6
4MビットのTSOPタイプDRAMメモリチップを対
象に、ページモードアクセスのアドレス信号接続を操作
しアドレス信号数の差異を吸収して、前記容量の異なる
各メモリチップに共通の部品実装エリアをプリント配線
板に形成することを特徴とする。
導体チップの実装方法に於いて、16Mビット、及び6
4MビットのTSOPタイプDRAMメモリチップを対
象に、ページモードアクセスのアドレス信号接続を操作
しアドレス信号数の差異を吸収して、前記容量の異なる
各メモリチップに共通の部品実装エリアをプリント配線
板に形成することを特徴とする。
【0012】又、本発明は、ピン配置及び信号数を一部
異にする複数種の半導体チップを対象に、任意の半導体
チップを実装可能にしたプリント配線板であって、前記
全ての半導体チップを対象に全てのピン接続が可能な個
数の半田パッドを設け、当該半田パッドの信号接続につ
いて前記各半導体チップの入れ替え可能な信号接続部分
を操作し信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体
チップに共通の部品実装エリアを設けたことを特徴とす
る。
異にする複数種の半導体チップを対象に、任意の半導体
チップを実装可能にしたプリント配線板であって、前記
全ての半導体チップを対象に全てのピン接続が可能な個
数の半田パッドを設け、当該半田パッドの信号接続につ
いて前記各半導体チップの入れ替え可能な信号接続部分
を操作し信号数の差異を吸収して、前記複数種の半導体
チップに共通の部品実装エリアを設けたことを特徴とす
る。
【0013】又、本発明は、上記プリント配線板に於い
て、ページモードアクセスのためのアドレス信号のピン
配置を一部異にする複数種の半導体メモリチップを対象
に、入れ替え可能なアドレスの信号接続を操作してアド
レス信号数の差異を吸収し、任意の半導体チップを共通
の部品実装エリアに実装可能にしたことを特徴とする。
て、ページモードアクセスのためのアドレス信号のピン
配置を一部異にする複数種の半導体メモリチップを対象
に、入れ替え可能なアドレスの信号接続を操作してアド
レス信号数の差異を吸収し、任意の半導体チップを共通
の部品実装エリアに実装可能にしたことを特徴とする。
【0014】又、本発明は、上記プリント配線板に於い
て、16Mビット、及び64MビットのTSOPタイプ
DRAMメモリチップを対象に、ページモードアクセス
のアドレス信号接続を操作してアドレス信号数の差異を
吸収し、任意の半導体チップを共通の部品実装エリアに
実装可能にしたことを特徴とする。
て、16Mビット、及び64MビットのTSOPタイプ
DRAMメモリチップを対象に、ページモードアクセス
のアドレス信号接続を操作してアドレス信号数の差異を
吸収し、任意の半導体チップを共通の部品実装エリアに
実装可能にしたことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下図面を参照して本発明の一実
施形態を説明する。図1は本発明の一実施形態を説明す
るための、半導体メモリチップのピン配置とその信号接
続例を示す図であり、ここでは、16Mビット(bi
t)、及び64Mビットの各TSOPタイプDRAMを
対象に、任意のDRAMをPWBの同一の部品実装エリ
アに実装するためのPWBに於ける信号接続例を示して
いる。尚、この例で16MビットDRAMは、1M×1
6bit、ロウ(ROW)アドレス0〜11、カラム
(COLUMN)アドレス0〜7の4Kリフレッシュタ
イプとし、64MビットDRAMは、4M×16bi
t、ROWアドレス0〜11、COLUMNアドレス0
〜9の4Kリフレッシュタイプである。
施形態を説明する。図1は本発明の一実施形態を説明す
るための、半導体メモリチップのピン配置とその信号接
続例を示す図であり、ここでは、16Mビット(bi
t)、及び64Mビットの各TSOPタイプDRAMを
対象に、任意のDRAMをPWBの同一の部品実装エリ
アに実装するためのPWBに於ける信号接続例を示して
いる。尚、この例で16MビットDRAMは、1M×1
6bit、ロウ(ROW)アドレス0〜11、カラム
(COLUMN)アドレス0〜7の4Kリフレッシュタ
イプとし、64MビットDRAMは、4M×16bi
t、ROWアドレス0〜11、COLUMNアドレス0
〜9の4Kリフレッシュタイプである。
【0016】図に於いて、10はPWBに設けられる、
64MbitのTSOPタイプDRAMの端子構成に従
う半田パッドであり、ここでは50ピンに対応したパッ
ド(1〜25,26〜50)がPWB上の共通部品実装
エリアに配置される。
64MbitのTSOPタイプDRAMの端子構成に従
う半田パッドであり、ここでは50ピンに対応したパッ
ド(1〜25,26〜50)がPWB上の共通部品実装
エリアに配置される。
【0017】20はPWB上の共通部品実装エリアへの
実装対象となる16MビットのTSOPタイプDRAM
(1M×16bit、ROWアドレス0〜11、COL
UMNアドレス0〜7の4Kリフレッシュタイプ)であ
る。
実装対象となる16MビットのTSOPタイプDRAM
(1M×16bit、ROWアドレス0〜11、COL
UMNアドレス0〜7の4Kリフレッシュタイプ)であ
る。
【0018】21は上記16MビットTSOPタイプD
RAM20の1〜25ピンに接続するピン機能名であ
り、22は同じく16MビットTSOPタイプDRAM
20の26〜50ピンに接続するピン機能名である(い
ずれも空欄及びNCは接続不要)。
RAM20の1〜25ピンに接続するピン機能名であ
り、22は同じく16MビットTSOPタイプDRAM
20の26〜50ピンに接続するピン機能名である(い
ずれも空欄及びNCは接続不要)。
【0019】30は同じく実装対象となる64Mビット
のTSOPタイプDRAM(4M×16bit、ROW
アドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜9の4K
リフレッシュタイプ)である。
のTSOPタイプDRAM(4M×16bit、ROW
アドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜9の4K
リフレッシュタイプ)である。
【0020】31は上記64MビットTSOPタイプD
RAM30の1〜25ピンに接続するピン機能名であ
り、32は同じく64MビットTSOPタイプDRAM
30の26〜50ピンに接続するピン機能名である(い
ずれもNCは接続不要)。
RAM30の1〜25ピンに接続するピン機能名であ
り、32は同じく64MビットTSOPタイプDRAM
30の26〜50ピンに接続するピン機能名である(い
ずれもNCは接続不要)。
【0021】41はPWB上の共通部品実装エリアに配
置されるDRAM半田パッド10の1〜25ピンに接続
するピン機能名であり、42は同じくPWB上の共通部
品実装エリアに配置されるDRAM半田パッド10の2
6〜50ピンに接続するピン機能名である(いずれも空
欄は接続不要)。
置されるDRAM半田パッド10の1〜25ピンに接続
するピン機能名であり、42は同じくPWB上の共通部
品実装エリアに配置されるDRAM半田パッド10の2
6〜50ピンに接続するピン機能名である(いずれも空
欄は接続不要)。
【0022】上記PWB上の共通部品実装エリアに配置
される半田パッド10は、16MビットTSOPタイプ
DRAM20と、64MビットTSOPタイプDRAM
30の双方を実装対象とする都合上、50ピン(1〜2
5,26〜50)分を用意する。
される半田パッド10は、16MビットTSOPタイプ
DRAM20と、64MビットTSOPタイプDRAM
30の双方を実装対象とする都合上、50ピン(1〜2
5,26〜50)分を用意する。
【0023】上記半田パッド10に於ける、1〜11,
15,16,25,26,40〜50の各ピンについて
は、機能的な接続互換性が確保されており、特別な工夫
は不要である。
15,16,25,26,40〜50の各ピンについて
は、機能的な接続互換性が確保されており、特別な工夫
は不要である。
【0024】又、上記半田パッド10に於ける、12ピ
ンにはVcc、39ピンにはGNDを接続する。又、上
記半田パッド10に於ける、13及び17の各ピン(W
E)、14及び18の各ピン(RAS)、33及び36
の各ピン(OE)、34及び37の各ピン(UCA
S)、35及び38の各ピン(LCAS)にはそれぞ
れ、16MビットTSOPタイプDRAM20、及び6
4MビットTSOPタイプDRAM30で各々該当する
制御信号を接続(ワイヤードオア接続)する。
ンにはVcc、39ピンにはGNDを接続する。又、上
記半田パッド10に於ける、13及び17の各ピン(W
E)、14及び18の各ピン(RAS)、33及び36
の各ピン(OE)、34及び37の各ピン(UCA
S)、35及び38の各ピン(LCAS)にはそれぞ
れ、16MビットTSOPタイプDRAM20、及び6
4MビットTSOPタイプDRAM30で各々該当する
制御信号を接続(ワイヤードオア接続)する。
【0025】13及び17の各ピン(WE)の場合を例
にとると、WE制御信号をPWBの半田パッド10に於
ける、13ピンと17ピンにそれぞれ接続する必要があ
る、という意味である。例えば64MビットTSOPタ
イプDRAM30を実装部品として選択し、実装した場
合、WE制御信号は13ピンで意味を持ち、17ピンは
NCピンであるため、機能面では不要な接続といえる。
但し、NCピンは最大2pF程度の入力負荷容量を持っ
ているため、遅延時間の点等で若干の注意が必要とな
る。
にとると、WE制御信号をPWBの半田パッド10に於
ける、13ピンと17ピンにそれぞれ接続する必要があ
る、という意味である。例えば64MビットTSOPタ
イプDRAM30を実装部品として選択し、実装した場
合、WE制御信号は13ピンで意味を持ち、17ピンは
NCピンであるため、機能面では不要な接続といえる。
但し、NCピンは最大2pF程度の入力負荷容量を持っ
ているため、遅延時間の点等で若干の注意が必要とな
る。
【0026】最も問題となる点は、一般的にページ・モ
ードと呼ばれるアクセス時に於けるアドレス信号の対応
を考慮する必要があることである。即ち、16Mビット
TSOPタイプDRAM20ではA0〜A7信号までが
COLUMNアドレスとして使用され、64MビットT
SOPタイプDRAM30ではA0〜A9信号までがC
OLUMNアドレスとして使用される(尚、ROWアド
レスについては、16MビットTSOPタイプDRAM
20、64MビットTSOPタイプDRAM30のそれ
ぞれについてA0〜A11信号までがROWアドレス使
用される)。
ードと呼ばれるアクセス時に於けるアドレス信号の対応
を考慮する必要があることである。即ち、16Mビット
TSOPタイプDRAM20ではA0〜A7信号までが
COLUMNアドレスとして使用され、64MビットT
SOPタイプDRAM30ではA0〜A9信号までがC
OLUMNアドレスとして使用される(尚、ROWアド
レスについては、16MビットTSOPタイプDRAM
20、64MビットTSOPタイプDRAM30のそれ
ぞれについてA0〜A11信号までがROWアドレス使
用される)。
【0027】このため、PWBの半田パッド10に於け
る、21〜24ピン、及び27〜30ピンにはA0〜A
7信号が接続(順不同)されている必要があり、19及
び20ピンにはA8及びA9信号が接続(順不同)され
ている必要がある。
る、21〜24ピン、及び27〜30ピンにはA0〜A
7信号が接続(順不同)されている必要があり、19及
び20ピンにはA8及びA9信号が接続(順不同)され
ている必要がある。
【0028】又、残る31及び32ピンにはA10及び
A11信号が接続(順不同)されることになる。但し、
PWB上の制御回路に於けるA0〜A11信号と上記し
たA0〜A11信号は記述した番号通りの信号であり、
使用される上での意味も同様であるものとする。
A11信号が接続(順不同)されることになる。但し、
PWB上の制御回路に於けるA0〜A11信号と上記し
たA0〜A11信号は記述した番号通りの信号であり、
使用される上での意味も同様であるものとする。
【0029】上記した接続仕様により、16MビットT
SOPタイプDRAM20と、64MビットTSOPタ
イプDRAM30とを対象に、PWBの共通化が可能と
なる。
SOPタイプDRAM20と、64MビットTSOPタ
イプDRAM30とを対象に、PWBの共通化が可能と
なる。
【0030】即ち、上述したように、機能的な接続互換
性が確保されているピンは問題とはならない。また、V
CC及びGNDピンも64MビットTSOPタイプDR
AM30を満足するように接続されれば問題とはならな
い。
性が確保されているピンは問題とはならない。また、V
CC及びGNDピンも64MビットTSOPタイプDR
AM30を満足するように接続されれば問題とはならな
い。
【0031】WE、RAS、OE、UCAS、LCAS
の各制御ピンも16MビットTSOPタイプDRAM2
0、及び64MビットTSOPタイプDRAM30の双
方を満足するように、図示した例に従い接続すればよ
い。
の各制御ピンも16MビットTSOPタイプDRAM2
0、及び64MビットTSOPタイプDRAM30の双
方を満足するように、図示した例に従い接続すればよ
い。
【0032】最も動作上問題となるのは、ページモード
アクセス時に必要とされている、COLUMNアドレス
信号であり、図示しないPWB上の制御回路から供給さ
れるA0〜A9信号である(但し、PWBのA0〜A1
1信号と、16MビットTSOPタイプDRAM20及
び64MビットTSOPタイプDRAM30のA0〜A
11信号は、記述した番号通りの信号であり、使用され
る上での意味も同様であるものとする)。
アクセス時に必要とされている、COLUMNアドレス
信号であり、図示しないPWB上の制御回路から供給さ
れるA0〜A9信号である(但し、PWBのA0〜A1
1信号と、16MビットTSOPタイプDRAM20及
び64MビットTSOPタイプDRAM30のA0〜A
11信号は、記述した番号通りの信号であり、使用され
る上での意味も同様であるものとする)。
【0033】64MビットTSOPタイプDRAM30
で必要とされるA0〜A9信号のうち、A0〜A7信号
を16MビットTSOPタイプDRAM20で必要とさ
れるA0〜A7信号ピンに接続(順不同)し、残るA8
及びA9信号を64MビットTSOPタイプDRAM3
0のA0及びA1信号のピンに接続(順不同)すること
により、各々のページモードアクセス時に於ける整合性
が確保される。
で必要とされるA0〜A9信号のうち、A0〜A7信号
を16MビットTSOPタイプDRAM20で必要とさ
れるA0〜A7信号ピンに接続(順不同)し、残るA8
及びA9信号を64MビットTSOPタイプDRAM3
0のA0及びA1信号のピンに接続(順不同)すること
により、各々のページモードアクセス時に於ける整合性
が確保される。
【0034】上記した実施形態によれば、16Mビット
TSOPタイプDRAM20、及び64MビットTSO
PタイプDRAM30の各信号接続の差異を吸収して、
PWBを共通化することにより、設計及び品質マージン
の減少を最小限に留めた上で、開発工程及び開発ボリュ
ームを増加させることなく、メモリ構成の選択肢を容易
に拡大し、コストを抑えることが可能となる。
TSOPタイプDRAM20、及び64MビットTSO
PタイプDRAM30の各信号接続の差異を吸収して、
PWBを共通化することにより、設計及び品質マージン
の減少を最小限に留めた上で、開発工程及び開発ボリュ
ームを増加させることなく、メモリ構成の選択肢を容易
に拡大し、コストを抑えることが可能となる。
【0035】尚、上記した実施形態に於いては、16M
ビットTSOPタイプDRAMと、64MビットTSO
PタイプDRAMとを対象に、共通の部品実装エリアを
プリント配線板に形成する場合を例に採って示したが、
これに限らず、パッケージ上の互換性がほぼ確保されて
おり、一部ピンの互換性に差異があるDRAM等を使用
する場合に於いても本発明が適用できる。
ビットTSOPタイプDRAMと、64MビットTSO
PタイプDRAMとを対象に、共通の部品実装エリアを
プリント配線板に形成する場合を例に採って示したが、
これに限らず、パッケージ上の互換性がほぼ確保されて
おり、一部ピンの互換性に差異があるDRAM等を使用
する場合に於いても本発明が適用できる。
【0036】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、ピ
ン配置を一部異にする複数種の半導体チップを対象に、
特定の信号線接続を考慮することにより、部品付加等を
要せずに簡単かつ安価な構成にて、任意の半導体チップ
を共通の部品実装エリアに実装可能にしたプリント配線
板、及びプリント配線板の半導体チップ実装方法が提供
できる。
ン配置を一部異にする複数種の半導体チップを対象に、
特定の信号線接続を考慮することにより、部品付加等を
要せずに簡単かつ安価な構成にて、任意の半導体チップ
を共通の部品実装エリアに実装可能にしたプリント配線
板、及びプリント配線板の半導体チップ実装方法が提供
できる。
【0037】又、本発明によれば、例えば16M及び6
4MbitのTSOPタイプDRAM等、ページモード
アクセスのためのアドレスピン配置を一部異にする複数
種の半導体メモリチップを対象に、特定のアドレス信号
線接続を考慮することにより、部品付加等を要せずに簡
単かつ安価な構成にて、任意の半導体メモリチップを共
通の実装エリアに実装可能にしたプリント配線板及び半
導体メモリチップの実装方法が提供できる。
4MbitのTSOPタイプDRAM等、ページモード
アクセスのためのアドレスピン配置を一部異にする複数
種の半導体メモリチップを対象に、特定のアドレス信号
線接続を考慮することにより、部品付加等を要せずに簡
単かつ安価な構成にて、任意の半導体メモリチップを共
通の実装エリアに実装可能にしたプリント配線板及び半
導体メモリチップの実装方法が提供できる。
【図1】本発明の一実施形態を説明するための、半導体
メモリチップのピン配置とその信号接続例を示す図。
メモリチップのピン配置とその信号接続例を示す図。
10…PWB上の共通部品実装エリアに配置される半田
パッド、 20…共通部品実装エリアへの実装対象となる16Mビ
ットTSOPタイプDRAM(1M×16bit、RO
Wアドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜7の4
Kリフレッシュタイプ)、 21…16MビットTSOPタイプDRAM20の1〜
25ピンに接続するピン機能名、 22…16MビットTSOPタイプDRAM20の26
〜50ピンに接続するピン機能名、 30…共通部品実装エリアへの実装対象となる64Mビ
ットTSOPタイプDRAM(4M×16bit、RO
Wアドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜9の4
Kリフレッシュタイプ)、 31…64MビットTSOPタイプDRAM30の1〜
25ピンに接続するピン機能名、 32…64MビットTSOPタイプDRAM30の26
〜50ピンに接続するピン機能名、 41…PWB上の共通部品実装エリアに配置されるDR
AM半田パッド10の1〜25ピンに接続するピン機能
名、 42…PWB上の共通部品実装エリアに配置されるDR
AM半田パッド10の26〜50ピンに接続するピン機
能名。
パッド、 20…共通部品実装エリアへの実装対象となる16Mビ
ットTSOPタイプDRAM(1M×16bit、RO
Wアドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜7の4
Kリフレッシュタイプ)、 21…16MビットTSOPタイプDRAM20の1〜
25ピンに接続するピン機能名、 22…16MビットTSOPタイプDRAM20の26
〜50ピンに接続するピン機能名、 30…共通部品実装エリアへの実装対象となる64Mビ
ットTSOPタイプDRAM(4M×16bit、RO
Wアドレス0〜11、COLUMNアドレス0〜9の4
Kリフレッシュタイプ)、 31…64MビットTSOPタイプDRAM30の1〜
25ピンに接続するピン機能名、 32…64MビットTSOPタイプDRAM30の26
〜50ピンに接続するピン機能名、 41…PWB上の共通部品実装エリアに配置されるDR
AM半田パッド10の1〜25ピンに接続するピン機能
名、 42…PWB上の共通部品実装エリアに配置されるDR
AM半田パッド10の26〜50ピンに接続するピン機
能名。
Claims (6)
- 【請求項1】 ピン配置及び信号数を一部異にする複数
種の半導体チップを対象に、前記各半導体チップの入れ
替え可能な信号接続部分を操作し信号数の差異を吸収し
て、前記複数種の半導体チップに共通の部品実装エリア
をプリント配線板に形成することを特徴とするプリント
配線板の半導体チップ実装方法。 - 【請求項2】 ページモードアクセスのためのアドレス
信号のピン配置を一部異にする複数種の半導体メモリチ
ップを対象に、前記各半導体メモリチップの入れ替え可
能なアドレスの信号接続を操作しアドレス信号数の差異
を吸収して、前記複数種の半導体メモリチップに共通の
部品実装エリアをプリント配線板に形成することを特徴
とするプリント配線板の半導体チップ実装方法。 - 【請求項3】 16Mビット、及び64MビットのTS
OPタイプDRAMメモリチップを対象に、ページモー
ドアクセスのアドレス信号接続を操作しアドレス信号数
の差異を吸収して、前記容量の異なる各メモリチップに
共通の部品実装エリアをプリント配線板に形成すること
を特徴とするプリント配線板の半導体チップ実装方法。 - 【請求項4】 ピン配置及び信号数を一部異にする複数
種の半導体チップを対象に、任意の半導体チップを実装
可能にしたプリント配線板であって、前記全ての半導体
チップを対象に全てのピン接続が可能な個数の半田パッ
ドを設け、当該半田パッドの信号接続について前記各半
導体チップの入れ替え可能な信号接続部分を操作し信号
数の差異を吸収して、前記複数種の半導体チップに共通
の部品実装エリアを設けたことを特徴とするプリント配
線板。 - 【請求項5】 ページモードアクセスのためのアドレス
信号のピン配置を一部異にする複数種の半導体メモリチ
ップを対象に、入れ替え可能なアドレスの信号接続を操
作してアドレス信号数の差異を吸収した請求項4記載の
プリント配線板。 - 【請求項6】 16Mビット、及び64MビットのTS
OPタイプDRAMメモリチップを対象に、ページモー
ドアクセスのアドレス信号接続を操作してアドレス信号
数の差異を吸収した請求項4記載のプリント配線板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9151218A JPH10340991A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | プリント配線板及び半導体チップの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9151218A JPH10340991A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | プリント配線板及び半導体チップの実装方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10340991A true JPH10340991A (ja) | 1998-12-22 |
Family
ID=15513837
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9151218A Pending JPH10340991A (ja) | 1997-06-09 | 1997-06-09 | プリント配線板及び半導体チップの実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10340991A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100340060B1 (ko) * | 1998-06-02 | 2002-07-18 | 박종섭 | 티에스오피와호환성이있는씨에스피핀배치방법및그에의한핀배치구조 |
-
1997
- 1997-06-09 JP JP9151218A patent/JPH10340991A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100340060B1 (ko) * | 1998-06-02 | 2002-07-18 | 박종섭 | 티에스오피와호환성이있는씨에스피핀배치방법및그에의한핀배치구조 |
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