JPH10335103A - チップ部品 - Google Patents

チップ部品

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JPH10335103A
JPH10335103A JP9143999A JP14399997A JPH10335103A JP H10335103 A JPH10335103 A JP H10335103A JP 9143999 A JP9143999 A JP 9143999A JP 14399997 A JP14399997 A JP 14399997A JP H10335103 A JPH10335103 A JP H10335103A
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JP
Japan
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film
chip
chip component
conductor film
porcelain
Prior art date
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Pending
Application number
JP9143999A
Other languages
English (en)
Inventor
Sadaaki Kurata
定明 倉田
Shinichi Harada
慎一 原田
Tomio Azuma
富雄 東
Ikuo Kakiuchi
育雄 垣内
Manabu Teraoka
学 寺岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHUKI SEIKI KK
Taiyo Yuden Co Ltd
Original Assignee
CHUKI SEIKI KK
Taiyo Yuden Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 回路用導体膜が剥離することを防止して、
部品品質や特性を安定に維持できるチップ部品を提供す
る。 【解決手段】 磁器素子21と導体膜23との間に、磁
器素子21と導体膜23の両方に対して馴染み(材質面
での相性)が良い連結用膜22、具体的には、卑金属ま
たはその合金、好ましくはNi,Cr,Ni−Cr合金
から成る連結用膜22を介装してあるので、該連結用膜
22によって磁器素子21と導体膜23との結合力を高
めることができる。依って、部品実装課程や部品実装後
のチップ部品に応力が加わっても、導体膜23が剥離す
ることを確実に防止して、部品品質や特性を安定に維持
できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、磁器素子の表面に
回路用導体膜を形成したチップ部品に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】この種従来のチップ部品、例えば、チッ
プインダクタは、フェライト等から成る円柱状または角
柱状の磁器素子の表面に、銀等から成る導体膜を形成し
てこの中央に螺旋状溝を形成した後、導体膜の溝形成部
分を樹脂,ガラス等から成る外装膜で被覆し、且つ外装
膜以外の部分を銀等から成る外部電極膜で被覆した構造
を有している。ちなみに、チップジャンパーやチップ抵
抗器等の他のチップ部でも磁器素子及び導体膜の材料と
導体膜の細部形状を異にする以外は基本的には上記と同
様の構造を有している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来のチップ部品
では、磁器素子の表面に回路用導体膜を直接形成してい
るため、両者の馴染み(材質面での相性)が悪いと、部
品実装課程や部品実装後のチップ部品に僅かな応力が加
わるだけで、回路用導体膜が磁器素子から剥離して部品
品質や特性が変化してしまう恐れがある。
【0004】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、回路用導体膜が剥離する
ことを防止して、部品品質や特性を安定に維持できるチ
ップ部品を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、請求項1に記載のように、磁器素子の表
面の少なくとも一部に回路用導体膜を形成したチップ部
品において、上記磁器素子と上記回路用導体膜との間に
相互連結用の膜を介装した、ことをその主たる特徴とし
ている。
【0006】本発明によれば、磁器素子と回路用導体膜
との間に相互連結用の膜を介装することにより、該相互
連結用膜によって磁器素子と回路用導体膜との結合力を
高めて、回路用導体膜の剥離を防止できる。
【0007】
【発明の実施の形態】図1(a)(b)は本発明を適用
したチップ部品の外観斜視図で、図1(a)に示したチ
ップ部品1は、一対の四角柱部の間にこれよりも横断面
形が小さな円柱部を備えた外観形状を有し、また、図1
(b)に示したチップ部品11は、一対の四角柱部の間
にこれよりも横断面形が小さな四角柱部を備えた外観形
状を有している。
【0008】図2は図1(a)(b)それぞれに示した
チップ部品1,11のA−A線断面図で、両チップ部品
1,11のA−A線断面図はほぼ同じであるため便宜上
1つの図面に各チップ部品1,11に対応した符号を付
してある。
【0009】つまり、符号2〜6はチップ部品1に係る
もので、2は磁器素子、3は相互連結用の膜(以下単に
連結用膜という)、4は回路用導体膜(以下単に導体膜
という)、5は外装膜、6は外部電極膜である。また、
符号12〜16はチップ部品11に係るもので、12は
磁器素子、13は連結用膜、14は導体膜、15は外装
膜、16は外部電極膜である。
【0010】磁器素子2,12は、部品種類に応じた磁
器材料(セラミクス)から成り、図3(a)(b)にも
示すように各チップ部品1,11と相似した外観形状を
有している。つまり、チップ部品1の磁器素子2は、図
3(a)に示すように、向き及び大きさが等しい一対の
四角柱部2aと、横断面形が前記四角柱部2aよりも小
さく両側四角柱部2aの間に同軸上に位置する円柱部2
bと、両側四角柱部2aと中央円柱部2bとの間それぞ
れに位置し両者を結ぶ円錐台部分(符号なし)とを一体
に備えている。また、チップ部品11の磁器素子12
は、図3(a)に示すように、向き及び大きさが等しい
一対の四角柱部12aと、横断面形が前記四角柱部12
aよりも小さく両側四角柱部12aの間に同軸上に位置
する四角柱12bと、両側四角柱部12aと中央四角柱
部12bとの間それぞれに位置し両者を結ぶ角錐台部分
(符号なし)とを一体に備えている。
【0011】連結用膜3,13は、部品種類や磁器素子
2,12の材質に拘わらず、卑金属またはその合金、好
ましくはNi,Cr,Ni−Cr合金から成り、スパッ
タリングや電解・無電解メッキ等を利用した薄膜手法に
よって、磁器素子2,12の表面全体に形成されてい
る。この連結用膜3,13の厚みは1μm前後で、材料
コストや部品寸法への影響を考慮して極力薄くすること
が望ましい。
【0012】導体膜4,14は、部品種類に応じた導体
材料から成り、スパッタリングや電解・無電解メッキ等
を利用した薄膜手法によって、連結用膜3,13の表面
全体に形成されている。部品種類にもよるがこの導体膜
3,13の厚みは3μm前後である。
【0013】外装膜5,15は、エポキシ系の樹脂やシ
リコン系のガラス等から成り、ローラ塗布等を利用した
厚膜手法によって、中央四角柱部2b,12b上の導体
膜4,14の表面に形成されている。この外装膜5,1
5の厚みは30〜100μmである。
【0014】外部電極膜6,16は、Ag,Niまたは
これらの合金等から成り、スパッタリングや電解・無電
解メッキ等を利用した薄膜手法によって、連結用膜3,
13の表面全体に形成されている。部品種類にもよるが
この連結用膜3,13の厚みは3μm前後である。この
外部電極膜6,16の表面には必要に応じて半田膜が同
様の手法によって形成される。
【0015】図1(a)(b)に示したチップ部品1,
11の構造によれば、磁器素子2,12と導体膜4,1
4にインダクタに適した材料を採用し、その中央四角柱
部2b,12b上の導体膜4,14に螺旋状溝を形成す
ることによって所定周回のコイルを持つチップインダク
タを構成することができる。以下、その一例を図4を参
照して説明する。
【0016】同図において、21はフェライト等の磁性
材料から成る磁器素子で、図3(a)または(b)に示
したものと同様の外観形状有している。22は磁器素子
21の表面全体に形成された連結用膜で、その材質及び
厚みと形成手法は先に述べた通りである。24は連結用
膜22の表面全体に形成された導体膜で、Cu,Ag,
Pd,Alまたはこれらの合金等から成り、その厚みと
形成手法は先に述べた通りである。24は磁器素子21
の中央円柱部または中央四角柱部上の導体膜23の表面
に形成された外装膜で、その材質及び厚みと形成手法は
先に述べた通りである。25は磁器素子21の両側四角
柱部上の導体膜23の表面に形成された外部電極膜で、
その材質及び厚みと形成手法は先に述べた通りである。
【0017】同図から分かるように、磁器素子21の中
央円柱部または中央四角柱部上の連結用膜22と導体膜
23には、所定周回のコイルを導体膜23に形成するた
めの螺旋状溝22aと23aが形成されている。この螺
旋状溝22a及び23aは、連結用膜22及び導体膜2
3を形成した後の絶縁素子21をその中心線を軸として
回転させながら、導体膜23に向かって赤外領域のレー
ザ光を照射して照射部分を加熱消失させる方法が好まし
く利用できる。また、磁器素子21の螺旋状溝22a及
び23aの下側に当たる部分には、溝幅と同様の窪み2
1aが形成されており、外装膜24の一部は、螺旋状溝
22a及び23aとこの窪み21aに充填されている。
【0018】図4に示したチップインダクタによれば、
磁器素子21と導体膜23との間に、磁器素子21と導
体膜23の両方に対して馴染み(材質面での相性)が良
い連結用膜22、具体的には、卑金属またはその合金、
好ましくはNi,Cr,Ni−Cr合金から成る連結用
膜22を介装してあるので、該連結用膜22によって磁
器素子21と導体膜23との結合力を高めることができ
る。依って、部品実装課程や部品実装後のチップ部品に
応力が加わっても、導体膜23が剥離することを確実に
防止して、部品品質や特性を安定に維持できる利点があ
る。
【0019】また、外装膜24の一部を、導体膜22及
び連結用膜23に形成された螺旋状溝22a及び23a
と絶縁素子22に形成された螺旋状の窪み21aに充填
してあるので、該充填物によって導体膜23の溝形成部
分に加わる応力を効果的に緩和して、応力付加を原因と
した導体膜22の剥離をより一層確実に防止できる利点
がある。
【0020】尚、図1(a)(b)に示したチップ部品
1,11の構造によれば、磁器素子2,12と導体膜
4,14にジャンパに適した材料、例えば、磁器素子
2,12にアルミナ等の絶縁材料を、導体膜4,14に
Cu,Ag,Pd,Alまたはこれらの合金等を採用す
ることによってチップジャンパを構成することができ、
この場合も図4のチップインダクタと同様の作用効果を
得ることができる。
【0021】また、図1(a)(b)に示したチップ部
品1,11の構造によれば、磁器素子2,12と導体膜
4,14に抵抗器に適した材料、例えば、磁器素子2,
12にアルミナ等の絶縁材料を、導体膜4,14に酸化
ルテニウム等の抵抗材料を採用し、必要に応じてトリミ
ング溝を図4の螺旋状溝と同様の手法によって導体膜に
形成することによってチップ抵抗器を構成することもで
き、この場合も図4のチップインダクタと同様の作用効
果を得ることができる。
【0022】勿論、上述のチップインダクタ,チップジ
ャンパ及びチップ抵抗器以外のチップ部品でも、磁器素
子の表面に回路用導体膜を形成したチップ部品であれば
本発明を適用して同様の作用効果を得ることができる。
【0023】さらに、上述の実施形態では、磁器素子と
回路用導体膜との間に単層構成の相互連結用膜を介装し
たものを例示したが、単層構成の相互連結用膜だけでは
所望の結合力を得ることが難しいような場合には、相互
連結用膜を複層構成とし、磁器素子側の層に該磁器素子
と馴染みの良い材料を採用し、回路用導体膜側の層に該
回路用導体膜と馴染みの良い材料を採用すれば、磁器素
子と導体膜とに所望の結合力を確保することができる。
或いは、回路用導体膜を複層構成とし、相互連結用膜側
の層に該相互連結用膜と馴染みの良い材料を採用しても
同様の作用が期待できる。
【0024】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
磁器素子と回路用導体膜との間に、磁器素子と回路用導
体膜の両方に対して馴染み(材質面での相性)が良い相
互連結用の膜を介装してあるので、該相互連結用膜によ
って磁器素子と回路用導体膜との結合力を高めることが
できる。依って、部品実装課程や部品実装後のチップ部
品に応力が加わっても、導体膜が剥離することを確実に
防止して、部品品質や特性を安定に維持できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したチップ部品の外観斜視図
【図2】図1に示したチップ部品のA−A線断面図
【図3】図1に示したチップ部品に用いられる磁器素子
の外観斜視図
【図4】図1に示したチップ部品の構造によってチップ
インダクタの構成した例を示す一部破断側面図
【符号の説明】
1,11…チップ部品、2,12…磁器素子、3,13
…相互連結用の膜、4,14…回路用導体膜、5,15
…外装膜、6,16…外部電極膜、21…磁器素子、2
2…相互連結用の膜、23…回路用導体膜、24…外装
膜、25…外部電極膜。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 東 富雄 和歌山県日高郡印南町島田1197番地 中紀 精機株式会社内 (72)発明者 垣内 育雄 和歌山県日高郡印南町島田1197番地 中紀 精機株式会社内 (72)発明者 寺岡 学 和歌山県日高郡印南町島田1197番地 中紀 精機株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁器素子の表面の少なくとも一部に回路
    用導体膜を形成したチップ部品において、 上記磁器素子と上記回路用導体膜との間に相互連結用の
    膜を介装した、 ことを特徴とするチップ部品。
  2. 【請求項2】 相互連結用の膜が卑金属またはその合金
    から成る、 ことを特徴とする請求項1記載のチップ部品。
  3. 【請求項3】 回路用導体膜の一部が外装膜によって覆
    われ、他部が外部電極膜によって覆われている、 ことを特徴とする請求項1または2記載のチップ部品。
JP9143999A 1997-06-02 1997-06-02 チップ部品 Pending JPH10335103A (ja)

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JP9143999A JPH10335103A (ja) 1997-06-02 1997-06-02 チップ部品

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004100187A1 (ja) 2003-05-08 2004-11-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電子部品及びその製造方法

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WO2004100187A1 (ja) 2003-05-08 2004-11-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 電子部品及びその製造方法
EP1622174A1 (en) * 2003-05-08 2006-02-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component and method for manufacturing same
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Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030304