JPH10328857A - レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置 - Google Patents

レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置

Info

Publication number
JPH10328857A
JPH10328857A JP9146326A JP14632697A JPH10328857A JP H10328857 A JPH10328857 A JP H10328857A JP 9146326 A JP9146326 A JP 9146326A JP 14632697 A JP14632697 A JP 14632697A JP H10328857 A JPH10328857 A JP H10328857A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
pattern
crystal mask
work
laser beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9146326A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Kuwabara
皓二 桑原
Hikari Saruta
光 猿田
Kazuo Mera
和夫 米良
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP9146326A priority Critical patent/JPH10328857A/ja
Publication of JPH10328857A publication Critical patent/JPH10328857A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Liquid Crystal (AREA)
  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】インク紙や炭素含有量の多いプラスチック樹脂
等の刻印に要するエネルギーが小さいワークを対象とす
るレーザマーキングにおいて、鮮明な刻印を実現する。 【解決手段】本発明の液晶式パターン転写装置では、背
景部を構成する電圧が印加される画素と、パターン表示
部を構成する電圧が印加されない画素と、両画素に含ま
れる常時電圧が無電圧部の電極間隙部27,28とを備
え、上記背景部の画素に含まれる電極間隙部を透過した
光を空間領域で除くことにある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は液晶マスクを使用し
たレーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶マスクを使用したパターン刻印装置
の一例として、図9,図10に示す液晶マスク式レーザ
マーカがある。レーザ発振器101からの直線偏光レー
ザ102をビーム拡大器103を経て、パターンが表示
された液晶マスク100に照射する。偏光ビームスプリ
ッタ104によりパターン情報を有するレーザ光105
とそうでないレーザ光とに分離され、レーザ光105が
結像レンズ106を通過しワーク107上に転写され刻
印108が完成する。
【0003】液晶マスク100には、ねじれネマチック
(TN)型液晶が使用され、種々のパターンが表示でき
るようマトリクス形表示駆動方式が採用される。TN型
液晶では液晶の旋光性を利用して、電圧印加の有無によ
り液晶からの出射光の偏光方向が変えられ、出射光の偏
光方向と偏光ビームスプリッタ104の入射平面方向と
の関係(両者が平行な時、光は通過し、直交する時で光
は反射する)によりワーク107上に照射されるレーザ
光が制御される。
【0004】そして、電圧が印加されていない状態の液
晶マスク100(厳密には、電圧が印加されていない状
態の画素−後述)を通過したレーザ光が、ワーク107
上に到達するような表示方法をノーマリーオープンモー
ドによる表示と呼ぶ。一方、電圧が印加された状態の液
晶マスク100を通過したレーザ光が、ワーク107上
に到達するような表示方法をノーマリークローズモード
による表示と呼ぶ。
【0005】ノーマリークローズモードによる表示で
は、刻印に要するエネルギーが少ないこと、鮮明な輪郭
の刻印が得られることから後者が採用されている。本表
示方法によるレーザマーキングついては本発明者らによ
る特開平4−200989号公報にて説明されている。
【0006】図10にノーマリーオープンモードによる
パターンの表示例を示した。本表示モードでは斜線を施
した画素113、114、115に電圧が印加され背景
部となり、電圧の印加されない画素109、110、1
11でパターンを表示する。従って、電極の存在しない
部分115、116、117、118には電圧が印加さ
れないので、常時パターンの一部を形成することにな
る。電極の存在しない部分115、116、117、1
18の内、パターン内に存在する115、116は均一
な深さの刻印を得るために有用であるが、背景部内に存
在する117、118ではワークの温度上昇の原因とな
る。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、液晶
マスクの表示方法として、ノーマリーオープンモード表
示を採用したレーザマーカでは、背景部でワークの温度
上昇を伴う。刻印に要するエネルギーが大きいワークで
は、レーザエネルギーの拡散により温度上昇が抑制され
るので痕跡を発生しないが、インク紙や炭素含有量の多
いプラスチック樹脂等の刻印に要するエネルギーが小さ
いワークでは痕跡を発生し、刻印品質を低下させる場合
があった。
【0008】本発明の目的は、インク紙や炭素含有量の
多い部材を使用しても、ワークに痕跡を発生し無い品質
を向上した液晶式パターン転写装置を提供することにあ
る。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶式パターン
転写装置は、複数の電極よりなる画素と画素にパターン
表示部及び背景部とを表示する液晶マスク、液晶マスク
に光を照射し、液晶マスクを透過したパターン表示を有
する光を加工物に照射し、パターンを加工物に転写する
装置に於いて、背景部を構成する電圧が印加される画素
と、パターン表示部を構成する電圧が印加されない画素
と、両画素に含まれる常時電圧が無電圧部の電極間隙部
とを備え、上記背景部の画素に含まれる電極間隙部を透
過した光を空間領域で除くことにある。
【0010】
【発明の実施の形態】本発明者らの検討によれば、電極
の存在しない部分115、116、117、118を通
過したレーザ光のうち、背景部に含まれる117、11
8を通過した光は回折作用により拡がり角が大きくな
り、パターン部に含まれる115、116を通過した光
は回折作用を受けず直進する現象の存在が明らかになっ
た。そこで、これまでマーキング品質の低下の原因であ
った前者の光を空間フィルタにより除去するようにし
た。以下、本発明の1実施例を図1〜図4により説明す
る。図1において、1はパルス発振のNd:YAGレー
ザであり、直線偏光のレーザビーム2を出射する。レー
ザビーム2は拡大光学系3を経て刻印すべきパターンが
表示された液晶マスク4に照射される。偏光ビームスプ
リッタ6によりパターン情報を含むレーザビーム5とそ
うでないレーザビームの不要光12とに分離された後、
レーザビーム5が結像レンズ7を経てワーク8上に照射
され、パターン9が刻印される。
【0011】液晶マスク4にはパターン情報が制御装置
10から液晶マスクコントローラ11を経て送られる。
不要光12は吸収板13で吸収される。14は空間フィ
ルタで例えば銅板の中心部に小径の孔15が明けられて
おり、結像レンズ7の焦点近傍に配置され、拡がり角の
大きいレーザ光がワーク8上に照射されるのを防止す
る。
【0012】図2はマトリクス形表示駆動による液晶マ
スク4の電極配置の一例を示すもので、信号電極16〜
19と走査電極20〜23は互いに直交するように配置
され、両者の間に液晶が充填されている。なお、図2で
は説明を容易にするためガラス板等の構成部品は省略し
てある。信号電極16〜19と走査電極20〜23の重
なった正方形の部分24、25、26は画素と呼ばれ、
両電極への電圧の印加により、この部分の液晶の状態が
変化する。各電極間に形成された背景部Bの電極間隙部
27とパターン表示部Hの電極間隙部28とは電圧が印
加されず、この部分の液晶の状態は変化しない。以下の
説明では、この部分を無電圧部と呼ぶ。
【0013】図3はノーマリーオープンモードで表示さ
れたパターン(英字のH)の例を示すものである。斜線の
施された電圧が印加された画素29、30、31と無電
圧の電極間隙部27とで背景部Bを構成し、電圧の印加
されない画素32、33、34と無電圧の電極間隙部2
8とでパターン表示部Hを構成している。
【0014】図4は図3のa−a’面を通過するレーザ
光の進行状況を模式的に示したものである。パターン表
示部Hを通過するレーザ光35及びパターン部に含まれ
る無電圧の電極間隙部28を通過するレーザ光37は直
進する。しかし、背景部Bを通過するレーザ光の内、無
電圧の電極間隙部27を通過するレーザ光39は、回折
作用により拡がりを持つレーザ光40となる。それは電
圧を印加した背景部Bの屈折率の方が電圧を印加しない
パターン表示部Hの屈折率より大きいからである。又電
極間隙部27,28の屈折率はパターン表示部Hの屈折
率と同じである。このため、背景部Bと電極間隙部27
との間の屈折率差は、パターン表示部Hと電極間隙部2
8との間の屈折率差より大きくなり、レーザ光40の拡
がり角が大きくなる。
【0015】この拡がりレーザ光40は光路に配置され
た空間フィルタ14で遮蔽され、パターン情報を有する
レーザ光35が孔15を通過して、インク紙や炭素含有
量の多いプラスチック樹脂等の刻印に要するエネルギー
が小さいワーク8にパターン表示部Hを転写、刻印等を
するが、本発明では拡がりレーザ光40は光路に配置さ
れた空間フィルタ14で遮蔽されており、ワーク8には
拡がりレーザ光40により痕跡を発生することなく、ワ
ーク8への転写、刻印等の品質を低下することなく、空
間フィルタ14を使用しない従来に比べて、本発明を使
用した転写、刻印等の製品は著しく歩留まりを向上する
ことが出来るようになった。
【0016】更に、レーザ光40の拡がり角が大きくな
る理由について図3、4にて説明する。通常、電極の幅
t1と電極ギャップ幅t2の比は大きく、本発明者らの液晶
マスクでは、t1=265μm、t2=25μmである。と
ころで、液晶分子は電圧の印加により方向が変化するた
め、透過光に対する屈折率は変化し、電圧が印加される
背景部の屈折率n1、電圧の印加されないパターン表示
部Hの屈折率n2、無電圧部である電極間隙部27の屈折
率n3の関係はn1≠n2≒n3となる。なお、パターン表示部
Hにはクロストークにより電圧が印加されるので、n2=
n3とはならない。そして、パターン表示部Hの例えば画
素31に隣接する無電圧の電極間隙部28においては、
隣接する画素との屈折率の差が少ないので、レーザ光3
7は影響を受けず直進する。
【0017】一方、背景部Bに含まれる無電圧の電極間
隙部27は、電圧の印加された隣接する背景部Bの画素
例えば33との屈折率の差が大きく、しかも幅が25μ
mと狭い部分を通過することにより、通過後は回折作用
を受けて大きな拡がり角をもつレーザ光40になるもの
と推定している。直進するレーザ光37と拡がり角の大
きいレーザ光40は空間フィルタ14により分離可能で
あり、本実施例では、空間フィルタ14と結像レンズ7
とで構成している。
【0018】なお、液晶マスクに表示されるパターンは
長方形状のものが多いので、空間フィルタ14の穴は長
方形状とするのが良い。また、空間フィルタ14の挿入
位置であるが、結像レンズ7の焦点に配置するのが最も
効果的であるが、焦点距離280mmの結像レンズを使用
した実験では、空間フィルタ14を結像レンズから18
0mmの位置に配置しても効果が認められており、必ずし
も焦点近傍にこだわる必要はない。
【0019】以上述べたように、本実施例によれば空間
フィルタ14の設置によって、背景部Bの無電圧部を通
過したレーザ光40のみ遮蔽するよう構成したので、ワ
ーク材質によらず鮮明な刻印を実現できる。又、パター
ン表示部Hの無電圧部である電極間隙部28を通過する
レーザ光37はフィルタにより遮蔽されることはないの
で、均一な深さの刻印を得ることができる。
【0020】ところで、液晶マスクとして動的散乱型液
晶を使用する場合には、背景部を通過した光は散乱され
るので、液晶マスクとワークの間にシュリーレンストッ
プを挿入してコントラストを高める方法があり、『液晶
(岡野光治.小林駿介)応用編:培風館.1985,4
5頁』示されている。
【0021】しかし、本発明が対象とするTN型液晶に
おいて、空間フィルタを挿入する構成は新規な方式であ
る。それは、TN型液晶では、電圧印加による液晶の状
態変化に伴う通過光の偏光状態の変化を偏光フィルタ、
あるいは偏光ビームスプリッタで分離することにより、
パターンを表示する方式であるため、空間フィルタの挿
入は無意味と考えられていたことによる。これに対し
て、本発明では背景部に含まれる無電圧である電極間隙
部27を通過した光のみが回折作用により拡がることを
見いだし、これを除去するために空間フィルタ14を挿
入する簡単な構成を提案するもので、全く新規な構成と
考える。
【0022】図5は本発明の他の実施例を示すもので、
図1と異なるのは、レーザ発振器43からのレーザ光4
4が紫外域の波長を有すること、液晶マスク45が紫外
域の光で動作することである。そして、ワーク46の表
面には感光性樹脂47が塗布されている。この構成では
ワーク上に照射されたレーザ光によりパターンに対応し
た個所48が感光される。その後、現像、エッチングの
作業を経て刻印が完成する。感光個所48の感度は高い
ので、パターン部で均一な照射が実現できるノーマリー
オープンモード表示は最適な表示方法である。
【0023】本実施例によれば、背景部の無電圧部であ
る電極間隙部を通過したレーザ光は空間フィルタ14に
よって遮蔽されるので、ワーク46を露光することはな
く、鮮明な刻印を得ることができる。なお、本実施例の
変形例に、光源として水銀ランプを使用し、偏光フィル
タにより直線偏光とした光を液晶マスク45に照射する
方法もある。
【0024】図6は本発明の他の実施例で、光源ランプ
49からの光50はリフレクタ51により文字、絵等か
ら成るパターンが表示された液晶マスク52に照射され
る。液晶マスク52の前後には偏光フィルタ53、54
が配置される。パターン情報を含む光55は結像レンズ
56、空間フィルタ14を経てスクリーン58に照射さ
れる。
【0025】本実施例によれば、背景部の無電圧部であ
る電極間隙部を通過した光は空間フィルタ14によって
遮蔽されるので、コントラストの高い画像をスクリーン
58上に形成することが可能となる。なお、上述の実施
例では、マトリクス形表示駆動方式のTN液晶を液晶マ
スクとして使用した例を説明したが、TFT駆動方式のTN
液晶でも空間フィルタの設置により同様の効果を得るこ
とができる。またスーパーツィスツテッド液晶(ST
N)を使用することが出来る。
【0026】図7は液晶マスク100としてTET(T
hi Film Transistor)型液晶(TFT
で駆動される液晶)200を使用した場合の表示部の部
分拡大図を示す。TET型液晶では信号線203から供
給される各画素の表示信号をゲート線に供給する走査信
号でサンプリングして各画素電極202に取り込む。こ
の時の表示信号レベルに応じて各画素の液晶が駆動され
る。TET型液晶ではTET201部分は光を通過しな
いので、光の利用率は低下するが、コントラストが高
く、応答速度が早いので、投影装置に最適である。
【0027】図8は液晶マスク100としてSTN(S
uper Twisted Nematic)型液晶30
0を使用したレーザマーカの1実施例を示す。液晶分子
のねじれ角がTN型液晶では90度であるのに対し、S
TN型液晶では180〜360度に設定されている。T
N型液晶は応答が早いが、走査電極の数を増すとコント
ラストを高くできないので、表示パターンに制限がある
という問題がある。これに対して、STN型液晶では走
査電極数128〜256本でも刻印に必要なコントラス
トを確保できるので、表示パターンを自由に表現できる
という特徴がある。尚、図8において、図1と同様な部
品については同一番号を付け、説明を省略する。
【0028】
【発明の効果】本発明によれば、空間フィルタの設置に
よって背景部の無電圧部である電極間隙部を通過したレ
ーザ光のみ遮蔽するよう構成したので、ワーク材質によ
らず鮮明な刻印、転写等を実現できる。同時に、パター
ン部の無電圧部である電極間隙部を通過するレーザ光
は、フィルタにより遮蔽されることはないので、均一な
深さの刻印を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例である液晶レーザマーカの説明
図。
【図2】図1に使用した液晶マスクの構成図。
【図3】図1に使用した液晶マスク液晶の構成図。
【図4】図3のa−a線から断面した説明図。
【図5】本発明の他の実施例によるパターン転写装置の
説明図。
【図6】本発明の他の実施例によるパターン投影装置の
説明図。
【図7】本発明のTFT型液晶を用いたパターン投影装
置の説明図。
【図8】本発明のSTN型液晶を用いたパターン投影装
置の説明図。
【図9】従来のレーザマーカの説明図。
【図10】図9に使用した液晶マスク液晶の構成図。
【符号の説明】
1…Nd:YAGレーザ、4…液晶マスク、8…ワーク、14
…空間フィルタ、27,28…電極間隙部、29〜31
…画素、32〜34…画素、H…パターン表示部、B…
背景部。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パターン表示されたTN型液晶マスクに
    レーザ光を照射し、前記TN型液晶マスクを通過したレ
    ーザ光により、ワーク上に前記パターンを刻印するレー
    ザマーカに於いて、前記パターンをノーマリーオープン
    モードで表示すると共に、前記TN型液晶マスクと前記
    ワークの間に空間フィルタを配置したことを特徴とする
    レーザマーカ。
  2. 【請求項2】 上記空間フィルタを結像レンズと金属板
    に長方形状の穴を穿孔した絞りで構成した特徴とする請
    求項1記載のレーザマーカ。
  3. 【請求項3】 パターン表示されたTN型液晶マスクに
    光を照射し、前記TN型液晶マスクを通過した光によ
    り、感光性樹脂上に潜像を形成する露光式マーカに於い
    て、前記パターンをノーマリーオープンモードで表示す
    ると共に、前記TN型液晶マスクと前記ワークの間に空
    間フィルタを配置したことを特徴とする露光式マーカ。
  4. 【請求項4】 上記空間フィルタを結像レンズと金属板
    に長方形状の穴を穿孔した絞りで構成した特徴とする請
    求項3記載の露光式マーカ。
  5. 【請求項5】 パターン表示されたTN型液晶マスクに
    光を照射し、前記TN型液晶マスクを通過した光によ
    り、スクリーン上に画像を形成する投影装置に於いて、
    前記パターンをノーマリーオープンモードで表示すると
    共に、前記TN型液晶マスクと前記ワークの間に空間フ
    ィルタを配置したことを特徴とする投影装置。
  6. 【請求項6】 上記空間フィルタを結像レンズと金属板
    に長方形状の穴を穿孔した絞りで構成した特徴とする請
    求項3記載の投影装置。
JP9146326A 1997-06-04 1997-06-04 レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置 Pending JPH10328857A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9146326A JPH10328857A (ja) 1997-06-04 1997-06-04 レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9146326A JPH10328857A (ja) 1997-06-04 1997-06-04 レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10328857A true JPH10328857A (ja) 1998-12-15

Family

ID=15405152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9146326A Pending JPH10328857A (ja) 1997-06-04 1997-06-04 レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10328857A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100357056C (zh) * 2005-03-04 2007-12-26 江苏大学 激光冲击波三维高防伪无损标识的方法和装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100357056C (zh) * 2005-03-04 2007-12-26 江苏大学 激光冲击波三维高防伪无损标识的方法和装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4757308B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法及び配向処理用露光装置
JP4493697B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法及び液晶表示装置
JP2002127500A (ja) 感光媒体上に多数画像を同時印刷する方法および装置
JPH0461141A (ja) 画像縮小拡大投影装置
JPH10328857A (ja) レーザマーカ、露光式マーカ及び投影装置
US4561727A (en) Two-dimensional acousto-optic deflection arrangement
JP2584906B2 (ja) 液晶表示装置および液晶表示装置の欠陥修正方法
JPS62218923A (ja) グレ−スケ−ル記録用装置および方法
KR970700563A (ko) 액정마스크마커의 구동방법(method of driving liquid crystal mask marker)
US5416561A (en) Image exposure apparatus and image exposure method
JPH11119439A (ja) 液晶マスク式露光マーキング装置
JP4396979B2 (ja) レーザ露光装置
JPH0712717B2 (ja) 網点画像形成方法
JPH11242298A (ja) 印写装置
JP2000241897A (ja) 写真焼付装置
JPS63285516A (ja) 光変調装置
JPH03264178A (ja) レーザマーカ用マスク
JP4239640B2 (ja) 露光装置およびこの露光装置を用いた液晶素子製造方法
JPH104040A (ja) 半導体材料表面への刻印方法及び同方法により刻印された物品
JP2006261163A (ja) 露光装置及び電気光学装置
JPH06258728A (ja) 画像露光装置及び画像露光方法
JP2545286B2 (ja) 液晶シャッターマトリクスパネルを用いたプリンティング装置
JPH06304775A (ja) レーザマーキングシステム
EP0477443A1 (en) A method for forming plate characters in a half-tone gravure platemaking process
JPH04200989A (ja) レーザマーキング装置