JPH10326736A - 処理液供給装置およびそれを用いた液処理装置 - Google Patents
処理液供給装置およびそれを用いた液処理装置Info
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- JPH10326736A JPH10326736A JP9148477A JP14847797A JPH10326736A JP H10326736 A JPH10326736 A JP H10326736A JP 9148477 A JP9148477 A JP 9148477A JP 14847797 A JP14847797 A JP 14847797A JP H10326736 A JPH10326736 A JP H10326736A
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- processing
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ノズル先端における処理液の温度調節精度を
向上することができる処理液供給装置およびそれを用い
た液処理装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 処理液を通流する処理液管路45,4
8、処理液管路45,48の処理液吐出側に装着された
ノズルブロック42、並びにノズルブロック42から先
端が露出するようにして処理液管路の処理液吐出側の端
部に取り付けられたノズルチップ43,44を有する処
理液供給装置において、ノズルチップ43,44は、少
なくとも処理液と接触する通路部分に設けられた樹脂製
部材43b,44bと、樹脂製部材43b,44bの通
路部分の周囲に設けられた高熱伝導性部材43a,44
aとから構成されている。
向上することができる処理液供給装置およびそれを用い
た液処理装置を提供することを目的とする。 【解決手段】 処理液を通流する処理液管路45,4
8、処理液管路45,48の処理液吐出側に装着された
ノズルブロック42、並びにノズルブロック42から先
端が露出するようにして処理液管路の処理液吐出側の端
部に取り付けられたノズルチップ43,44を有する処
理液供給装置において、ノズルチップ43,44は、少
なくとも処理液と接触する通路部分に設けられた樹脂製
部材43b,44bと、樹脂製部材43b,44bの通
路部分の周囲に設けられた高熱伝導性部材43a,44
aとから構成されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハや液
晶表示装置(LCD)基板の表面上に、例えばレジスト
液や現像液のような処理液を供給する処理液供給装置お
よびそれを用いた液処理装置に関する。
晶表示装置(LCD)基板の表面上に、例えばレジスト
液や現像液のような処理液を供給する処理液供給装置お
よびそれを用いた液処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、半導体デバイスやLCD基板の
製造においては、被処理体である半導体ウエハやLCD
基板にフォトレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技
術を用いて回路パターンをフォトレジストに転写し、こ
れを現像処理することにより回路が形成される。この工
程には、処理液を基板の表面上に供給して液処理を行う
工程が含まれる。
製造においては、被処理体である半導体ウエハやLCD
基板にフォトレジストを塗布し、フォトリソグラフィ技
術を用いて回路パターンをフォトレジストに転写し、こ
れを現像処理することにより回路が形成される。この工
程には、処理液を基板の表面上に供給して液処理を行う
工程が含まれる。
【0003】この液処理工程においては、処理液を収容
する処理液容器から処理液供給管を通って処理液をノズ
ルへ向けて供給し、ノズルから処理液を吐出させて被処
理体表面に供給する。このノズルは、処理液管路の端部
を包含するように設けられたノズルブロックと、実際に
処理液を吐出する部分であるノズルチップとから主に構
成されている。通常、ノズルチップは、ノズルブロック
からその先端が露出するようになっている。
する処理液容器から処理液供給管を通って処理液をノズ
ルへ向けて供給し、ノズルから処理液を吐出させて被処
理体表面に供給する。このノズルは、処理液管路の端部
を包含するように設けられたノズルブロックと、実際に
処理液を吐出する部分であるノズルチップとから主に構
成されている。通常、ノズルチップは、ノズルブロック
からその先端が露出するようになっている。
【0004】ノズルチップは、処理液と直接接触する部
分であるため、金属で構成すると、処理液に金属が溶出
してしまい、液処理に悪影響を及ぼす。したがって、従
来から、ノズルチップは樹脂で構成されている。
分であるため、金属で構成すると、処理液に金属が溶出
してしまい、液処理に悪影響を及ぼす。したがって、従
来から、ノズルチップは樹脂で構成されている。
【0005】一方、液処理においては、処理液の特性、
例えば蒸発速度を制御するために、ノズルブロックに処
理液の温度を調節のための手段、例えば温度調節水を循
環させる管路を設けている。
例えば蒸発速度を制御するために、ノズルブロックに処
理液の温度を調節のための手段、例えば温度調節水を循
環させる管路を設けている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ノズル
チップがノズルブロックから露出するあるいは突出する
構成を採り、しかもノズルチップが熱伝導性の低い樹脂
で構成されているので、ノズルチップまで十分に熱が伝
わらず、処理液の温度調節の精度が悪くなる。このた
め、処理液の特性を精度良く制御することができない。
また、特開平7−320999号公報に開示されている
ように、樹脂製の処理液管路の先端をノズルブロックか
ら突出させている場合もあるが、この場合にも樹脂製の
処理液管路が露出しており、やはり温度調節の精度が悪
い。
チップがノズルブロックから露出するあるいは突出する
構成を採り、しかもノズルチップが熱伝導性の低い樹脂
で構成されているので、ノズルチップまで十分に熱が伝
わらず、処理液の温度調節の精度が悪くなる。このた
め、処理液の特性を精度良く制御することができない。
また、特開平7−320999号公報に開示されている
ように、樹脂製の処理液管路の先端をノズルブロックか
ら突出させている場合もあるが、この場合にも樹脂製の
処理液管路が露出しており、やはり温度調節の精度が悪
い。
【0007】本発明はかかる点に鑑みてなされたもので
あり、ノズル先端における処理液の温度調節精度を向上
することができる処理液供給装置およびそれを用いた液
処理装置を提供することを目的とする。
あり、ノズル先端における処理液の温度調節精度を向上
することができる処理液供給装置およびそれを用いた液
処理装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、第1発明は、処理液の供給を行う処理液供給装置で
あって、処理液を通流する処理液管路と、前記処理液管
路の処理液吐出側に装着されたノズルブロックと、前記
ノズルブロックから先端が露出するようにして前記処理
液管路の処理液吐出側の端部に取り付けられたノズルチ
ップと、を具備し、前記ノズルチップは、少なくとも処
理液と接触する通路部分に配置された樹脂製部材と、前
記樹脂製部材の通路部分の周囲に設けられた高熱伝導性
部材とから構成されていることを特徴とする処理液供給
装置を提供する。
に、第1発明は、処理液の供給を行う処理液供給装置で
あって、処理液を通流する処理液管路と、前記処理液管
路の処理液吐出側に装着されたノズルブロックと、前記
ノズルブロックから先端が露出するようにして前記処理
液管路の処理液吐出側の端部に取り付けられたノズルチ
ップと、を具備し、前記ノズルチップは、少なくとも処
理液と接触する通路部分に配置された樹脂製部材と、前
記樹脂製部材の通路部分の周囲に設けられた高熱伝導性
部材とから構成されていることを特徴とする処理液供給
装置を提供する。
【0009】第2発明は、第1発明において、前記ノズ
ルブロックは、処理液の温度調節を行う温度調節手段を
有することを特徴とする処理液供給装置を提供する。第
3発明は、第1発明または第2発明において、前記ノズ
ルチップの先端の露出部分は、前記樹脂製部材の先端近
傍部分まで高熱伝導性部材で覆われていることを特徴と
する処理液供給装置を提供する。
ルブロックは、処理液の温度調節を行う温度調節手段を
有することを特徴とする処理液供給装置を提供する。第
3発明は、第1発明または第2発明において、前記ノズ
ルチップの先端の露出部分は、前記樹脂製部材の先端近
傍部分まで高熱伝導性部材で覆われていることを特徴と
する処理液供給装置を提供する。
【0010】第4発明は、第1発明ないし第3発明のい
ずれかにおいて、前記ノズルブロックと前記ノズルチッ
プとの境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノ
ズルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具
備することを特徴とする処理液供給装置を提供する。
ずれかにおいて、前記ノズルブロックと前記ノズルチッ
プとの境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノ
ズルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具
備することを特徴とする処理液供給装置を提供する。
【0011】第5発明は、第1発明ないし第4発明のい
ずれかにおいて、前記ノズルチップは、前記樹脂製部材
の基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるように
取り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、その
内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿入
されていることを特徴とする処理液供給装置を提供す
る。
ずれかにおいて、前記ノズルチップは、前記樹脂製部材
の基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるように
取り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、その
内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿入
されていることを特徴とする処理液供給装置を提供す
る。
【0012】第6発明は、被処理体に処理液を供給して
液処理を行う液処理装置であって、被処理体表面に処理
液を供給する処理液供給手段と、処理液供給手段に処理
液を供給する処理液供給系と、前記処理液送出手段と前
記処理液供給手段との間に設けられた処理液管路と、を
具備し、前記処理液供給手段は、前記処理液管路に装着
されたノズルブロックと、前記ノズルブロックから先端
が露出するようにして前記処理液管路の端部に取り付け
られたノズルチップとを備えており、前記ノズルチップ
は、少なくとも処理液と接触する通路部分に配置された
樹脂製部材と、前記樹脂製部材の通路部分の周囲に設け
られた高熱伝導性部材とから構成されていることを特徴
とする液処理装置を提供する。
液処理を行う液処理装置であって、被処理体表面に処理
液を供給する処理液供給手段と、処理液供給手段に処理
液を供給する処理液供給系と、前記処理液送出手段と前
記処理液供給手段との間に設けられた処理液管路と、を
具備し、前記処理液供給手段は、前記処理液管路に装着
されたノズルブロックと、前記ノズルブロックから先端
が露出するようにして前記処理液管路の端部に取り付け
られたノズルチップとを備えており、前記ノズルチップ
は、少なくとも処理液と接触する通路部分に配置された
樹脂製部材と、前記樹脂製部材の通路部分の周囲に設け
られた高熱伝導性部材とから構成されていることを特徴
とする液処理装置を提供する。
【0013】第7発明は、第6発明において、前記ノズ
ルブロックは、処理液の温度調節を行う温度調節手段を
有する液処理装置を提供する。第8発明は、第6発明ま
たは第7発明において、前記ノズルチップの先端の露出
部分は、前記樹脂製部材の先端近傍部分まで高熱伝導性
部で覆われていることを特徴とする液処理装置を提供す
る。
ルブロックは、処理液の温度調節を行う温度調節手段を
有する液処理装置を提供する。第8発明は、第6発明ま
たは第7発明において、前記ノズルチップの先端の露出
部分は、前記樹脂製部材の先端近傍部分まで高熱伝導性
部で覆われていることを特徴とする液処理装置を提供す
る。
【0014】第9発明は、第6発明ないし第8発明のい
ずれかにおいて、前記ノズルブロックと前記ノズルチッ
プとの境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノ
ズルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具
備することを特徴とする液処理装置を提供する。
ずれかにおいて、前記ノズルブロックと前記ノズルチッ
プとの境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノ
ズルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具
備することを特徴とする液処理装置を提供する。
【0015】第10発明は、第6発明ないし第9発明の
いずれかにおいて、前記ノズルチップは、前記樹脂製部
材の基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるよう
に取り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、そ
の内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿
入され、前記処理液管路が前記樹脂製部材に密着される
ことを特徴とする液処理装置を提供する。
いずれかにおいて、前記ノズルチップは、前記樹脂製部
材の基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるよう
に取り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、そ
の内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿
入され、前記処理液管路が前記樹脂製部材に密着される
ことを特徴とする液処理装置を提供する。
【0016】第1発明によれば、ノズルチップが、処理
液と接触する樹脂製部材の通路部分の周囲に、高熱伝導
部材、例えばステンレス鋼やアルミニウム等の金属部材
を設けた構造を有しているので、ノズルブロックからの
熱を効率良く処理液に伝導することができ、ノズルにお
ける処理液の温度調節の精度を向上させることができ
る。このような効果は、特に、供給する処理液量レジス
ト量が少なくする場合に大きい。また、処理液と接触す
る部分に樹脂製部材が配置されているので、処理液への
部材構成材料が溶出することもない。
液と接触する樹脂製部材の通路部分の周囲に、高熱伝導
部材、例えばステンレス鋼やアルミニウム等の金属部材
を設けた構造を有しているので、ノズルブロックからの
熱を効率良く処理液に伝導することができ、ノズルにお
ける処理液の温度調節の精度を向上させることができ
る。このような効果は、特に、供給する処理液量レジス
ト量が少なくする場合に大きい。また、処理液と接触す
る部分に樹脂製部材が配置されているので、処理液への
部材構成材料が溶出することもない。
【0017】第2発明のように、ノズルブロックに処理
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第3発明のよ
うに、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部材で覆われるようにする
ことにより、より高精度の温度調節を行うことができ
る。
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第3発明のよ
うに、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部材で覆われるようにする
ことにより、より高精度の温度調節を行うことができ
る。
【0018】また、第4発明および第9発明のように、
ノズルブロックとノズルチップとの境界部近傍の、処理
液管路とノズルブロックとの間に、シール部材、例えば
弾性部材からなるシールリングを介在させることによ
り、これらを密着させることができ、温調水の漏洩等を
防止することができる。
ノズルブロックとノズルチップとの境界部近傍の、処理
液管路とノズルブロックとの間に、シール部材、例えば
弾性部材からなるシールリングを介在させることによ
り、これらを密着させることができ、温調水の漏洩等を
防止することができる。
【0019】さらに、第5発明および第10発明によれ
ば、樹脂製部材の基端部を処理液管路の先端部の外側と
し、処理液管路の先端部の内側に、その内径よりも大き
い外径の膨出部を有する弾性部材を挿入することによ
り、弾性部材の押圧力によって処理液管路が樹脂製部材
に密着され、さらに樹脂部材が高導電性部材に密着され
ることとなる。したがって、熱伝導性が極めて良好とな
り、温度調節精度をさらに一層高めることができ、処理
液の特性の安定化や液処理の信頼性の向上を図ることが
できる。また、弾性部材により処理液管路を強制的に外
側へ押圧するので、管路の口径の安定化を図ることがで
きるとともに、前記シール部材のシール性を高めること
ができる。
ば、樹脂製部材の基端部を処理液管路の先端部の外側と
し、処理液管路の先端部の内側に、その内径よりも大き
い外径の膨出部を有する弾性部材を挿入することによ
り、弾性部材の押圧力によって処理液管路が樹脂製部材
に密着され、さらに樹脂部材が高導電性部材に密着され
ることとなる。したがって、熱伝導性が極めて良好とな
り、温度調節精度をさらに一層高めることができ、処理
液の特性の安定化や液処理の信頼性の向上を図ることが
できる。また、弾性部材により処理液管路を強制的に外
側へ押圧するので、管路の口径の安定化を図ることがで
きるとともに、前記シール部材のシール性を高めること
ができる。
【0020】第6発明によれば、液処理装置において、
ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通路部
分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有しているの
で、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導す
ることができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精度
を向上させることができる。このため、処理液の特性を
安定化させた状態で安定した液処理を行うことができ
る。
ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通路部
分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有しているの
で、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導す
ることができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精度
を向上させることができる。このため、処理液の特性を
安定化させた状態で安定した液処理を行うことができ
る。
【0021】第7発明のように、ノズルブロックに処理
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第8発明のよ
うに、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部で覆われるようにするこ
とにより、より高精度の温度調節を行うことができ、処
理液の特性をより安定化させることができる。
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第8発明のよ
うに、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部で覆われるようにするこ
とにより、より高精度の温度調節を行うことができ、処
理液の特性をより安定化させることができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、本発
明の実施の形態について詳細に説明する。図1は、本発
明が適用される半導体ウエハの塗布・現像処理システム
を示す斜視図である。
明の実施の形態について詳細に説明する。図1は、本発
明が適用される半導体ウエハの塗布・現像処理システム
を示す斜視図である。
【0023】この塗布・現像処理システムは、複数の半
導体ウエハWを収容するカセットCを載置するカセット
ステーション1と、半導体ウエハWにレジスト塗布及び
現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニット
を備えた処理部2と、カセットステーション1上のカセ
ットCと処理部2との間で半導体ウエハWの搬送を行う
ための搬送機構3とを備えている。そして、カセットス
テーション1においてシステムへのカセットCの搬入お
よびシステムからのカセットCの搬出が行われる。ま
た、搬送機構3はカセットの配列方向に沿って設けられ
た搬送路12上を移動可能な搬送アーム11を備え、こ
の搬送アーム11によりカセットCと処理部2との間で
半導体ウエハWの搬送が行われる。
導体ウエハWを収容するカセットCを載置するカセット
ステーション1と、半導体ウエハWにレジスト塗布及び
現像を含む一連の処理を施すための複数の処理ユニット
を備えた処理部2と、カセットステーション1上のカセ
ットCと処理部2との間で半導体ウエハWの搬送を行う
ための搬送機構3とを備えている。そして、カセットス
テーション1においてシステムへのカセットCの搬入お
よびシステムからのカセットCの搬出が行われる。ま
た、搬送機構3はカセットの配列方向に沿って設けられ
た搬送路12上を移動可能な搬送アーム11を備え、こ
の搬送アーム11によりカセットCと処理部2との間で
半導体ウエハWの搬送が行われる。
【0024】処理部2は、前段部分2aと後段部分2b
とに分かれており、それぞれ中央に通路15、16を有
しており、これら通路の両側に各処理ユニットが配設さ
れている。そして、これらの間には中継部17が設けら
れている。
とに分かれており、それぞれ中央に通路15、16を有
しており、これら通路の両側に各処理ユニットが配設さ
れている。そして、これらの間には中継部17が設けら
れている。
【0025】前段部2aは、通路15に沿って移動可能
なメインアーム18を備えており、通路15の一方側に
は、ブラシ洗浄ユニット21、水洗ユニット22、アド
ヒージョン処理ユニット23、および冷却ユニット24
が、他方側には2つのレジスト塗布ユニット25が配置
されている。一方、後段部2bは、通路16に沿って移
動可能なメインアーム19を備えており、通路19の一
方側には複数の加熱処理ユニット26および冷却ユニッ
ト27からなる熱系ユニット群28が、他方側には2つ
の現像処理ユニット29が配置されている。熱系ユニッ
ト群28は、ユニットが2段積層されてなる組が通路1
9に沿って3つ並んでおり、上段が加熱処理ユニット2
6であり、下段が冷却ユニット27である。加熱処理ユ
ニット26は、レジストの安定化のためのプリベーク、
露光後のポストエクスポージャーベーク、および現像後
のポストベーク処理を行うものである。なお、後段部2
bの後端には露光装置(図示せず)との間で半導体ウエ
ハWの受け渡しを行うためのインターフェース部30が
設けられている。
なメインアーム18を備えており、通路15の一方側に
は、ブラシ洗浄ユニット21、水洗ユニット22、アド
ヒージョン処理ユニット23、および冷却ユニット24
が、他方側には2つのレジスト塗布ユニット25が配置
されている。一方、後段部2bは、通路16に沿って移
動可能なメインアーム19を備えており、通路19の一
方側には複数の加熱処理ユニット26および冷却ユニッ
ト27からなる熱系ユニット群28が、他方側には2つ
の現像処理ユニット29が配置されている。熱系ユニッ
ト群28は、ユニットが2段積層されてなる組が通路1
9に沿って3つ並んでおり、上段が加熱処理ユニット2
6であり、下段が冷却ユニット27である。加熱処理ユ
ニット26は、レジストの安定化のためのプリベーク、
露光後のポストエクスポージャーベーク、および現像後
のポストベーク処理を行うものである。なお、後段部2
bの後端には露光装置(図示せず)との間で半導体ウエ
ハWの受け渡しを行うためのインターフェース部30が
設けられている。
【0026】上記メインアーム18は、搬送機構3のア
ーム11との間で半導体ウエハWの受け渡しを行うとと
もに、前段部2aの各処理ユニットに対する基板Sの搬
入・搬出、さらには中継部17との間で半導体ウエハW
の受け渡しを行う機能を有している。また、メインアー
ム19は中継部17との間で半導体ウエハWの受け渡し
を行うとともに、後段部2bの各処理ユニットに対する
半導体ウエハWの搬入・搬出、さらにはインターフェー
ス部30との間の半導体ウエハWの受け渡しを行う機能
を有している。このように各処理ユニットを集約して一
体化することにより、省スペース化および処理の効率化
を図ることができる。
ーム11との間で半導体ウエハWの受け渡しを行うとと
もに、前段部2aの各処理ユニットに対する基板Sの搬
入・搬出、さらには中継部17との間で半導体ウエハW
の受け渡しを行う機能を有している。また、メインアー
ム19は中継部17との間で半導体ウエハWの受け渡し
を行うとともに、後段部2bの各処理ユニットに対する
半導体ウエハWの搬入・搬出、さらにはインターフェー
ス部30との間の半導体ウエハWの受け渡しを行う機能
を有している。このように各処理ユニットを集約して一
体化することにより、省スペース化および処理の効率化
を図ることができる。
【0027】このように構成される塗布・現像処理シス
テムにおいては、カセットC内の半導体ウエハWが、処
理部2に搬送され、まず、洗浄ユニット21および水洗
ユニット22により洗浄処理され、レジストの定着性を
高めるためにアドヒージョン処理ユニット23にて疎水
化処理され、冷却ユニット24で冷却後、レジスト塗布
ユニット25でレジストが塗布される。その後、半導体
ウエハWは、加熱処理ユニット26の一つでプリベーク
処理され、冷却ユニット27で冷却された後、インター
フェース部30を介して露光装置に搬送されてそこで所
定のパターンが露光される。そして、再びインターフェ
ース部30を介して搬入され、加熱処理ユニット26の
一つでポストエクスポージャーベーク処理が施される。
その後、冷却ユニット27で冷却された半導体ウエハW
は、現像処理ユニット29で現像処理され、所定の回路
パターンが形成される。現像処理された半導体ウエハW
は、メインアーム19,18および搬送機構3によって
カセットステーション1上の所定のカセットに収容され
る。
テムにおいては、カセットC内の半導体ウエハWが、処
理部2に搬送され、まず、洗浄ユニット21および水洗
ユニット22により洗浄処理され、レジストの定着性を
高めるためにアドヒージョン処理ユニット23にて疎水
化処理され、冷却ユニット24で冷却後、レジスト塗布
ユニット25でレジストが塗布される。その後、半導体
ウエハWは、加熱処理ユニット26の一つでプリベーク
処理され、冷却ユニット27で冷却された後、インター
フェース部30を介して露光装置に搬送されてそこで所
定のパターンが露光される。そして、再びインターフェ
ース部30を介して搬入され、加熱処理ユニット26の
一つでポストエクスポージャーベーク処理が施される。
その後、冷却ユニット27で冷却された半導体ウエハW
は、現像処理ユニット29で現像処理され、所定の回路
パターンが形成される。現像処理された半導体ウエハW
は、メインアーム19,18および搬送機構3によって
カセットステーション1上の所定のカセットに収容され
る。
【0028】本発明の対象である処理液供給装置および
液処理装置は、上述のシステムのうち、レジスト塗布ユ
ニット25および現像ユニット29に適用される。ここ
では、本発明をレジスト塗布ユニット25に適用する場
合について説明する。
液処理装置は、上述のシステムのうち、レジスト塗布ユ
ニット25および現像ユニット29に適用される。ここ
では、本発明をレジスト塗布ユニット25に適用する場
合について説明する。
【0029】図2は、本発明の一実施形態に係る処理液
供給装置である塗布ユニット25のノズル部を示すもの
である。半導体ウエハWを水平状態に真空吸着によって
回転可能に保持するスピンチャック41上方位置には、
ノズルブロック42が移動可能に設けられている。この
ノズルブロック42は、塗布液の溶剤(溶媒)を供給す
る溶剤供給用ノズルチップ43と塗布液であるレジスト
液を供給するレジスト供給用ノズルチップ44とを近接
させて一体に取り付けた構造を有している。
供給装置である塗布ユニット25のノズル部を示すもの
である。半導体ウエハWを水平状態に真空吸着によって
回転可能に保持するスピンチャック41上方位置には、
ノズルブロック42が移動可能に設けられている。この
ノズルブロック42は、塗布液の溶剤(溶媒)を供給す
る溶剤供給用ノズルチップ43と塗布液であるレジスト
液を供給するレジスト供給用ノズルチップ44とを近接
させて一体に取り付けた構造を有している。
【0030】上記溶剤供給用ノズルチップ43は、溶剤
供給管45と開閉バルブ46を介して溶剤タンク47に
接続されており、溶剤タンク47内に窒素(N2)ガス
を供給することによって、その加圧力により溶剤タンク
47内の溶剤が半導体ウエハW上に供給される。この場
合にN2ガスの加圧力を制御することによって溶剤の流
量が制御され、所定時間中、所定量の溶剤が供給され
る。
供給管45と開閉バルブ46を介して溶剤タンク47に
接続されており、溶剤タンク47内に窒素(N2)ガス
を供給することによって、その加圧力により溶剤タンク
47内の溶剤が半導体ウエハW上に供給される。この場
合にN2ガスの加圧力を制御することによって溶剤の流
量が制御され、所定時間中、所定量の溶剤が供給され
る。
【0031】レジスト液供給用ノズルチップ44は、レ
ジスト液供給管48と開閉バルブ49を介してレジスト
液を収容するレジスト液タンク50に連通されている。
このレジスト液供給路48には、図示しないサックバッ
クバルブ、エアーオペレーションバルブ、レジスト液中
の気泡を分離除去するための気泡除去機構、フィルタお
よびベローズポンプが順次設けられている。
ジスト液供給管48と開閉バルブ49を介してレジスト
液を収容するレジスト液タンク50に連通されている。
このレジスト液供給路48には、図示しないサックバッ
クバルブ、エアーオペレーションバルブ、レジスト液中
の気泡を分離除去するための気泡除去機構、フィルタお
よびベローズポンプが順次設けられている。
【0032】溶剤供給路45およびレジスト液供給路4
8には、それぞれ温度調節手段である温度調節水循環ユ
ニット51が取り付けられている。この温度調節水循環
ユニット51は、その循環路の一部がノズルブロック4
2内に直接形成されている。温度調節水循環ユニット5
1は、溶剤供給路45およびレジスト液供給路48の外
周をそれぞれ包囲するように設けられた温度調節水供給
路52と、温度調節水供給路52に設けられた循環ポン
プ53と、温度調節水の一定温度に維持するサーモモジ
ュール54とから構成されている。
8には、それぞれ温度調節手段である温度調節水循環ユ
ニット51が取り付けられている。この温度調節水循環
ユニット51は、その循環路の一部がノズルブロック4
2内に直接形成されている。温度調節水循環ユニット5
1は、溶剤供給路45およびレジスト液供給路48の外
周をそれぞれ包囲するように設けられた温度調節水供給
路52と、温度調節水供給路52に設けられた循環ポン
プ53と、温度調節水の一定温度に維持するサーモモジ
ュール54とから構成されている。
【0033】ノズルブロック42の底部には、溶剤供給
用ノズルチップ43およびレジスト液供給用ノズルチッ
プ44を装着するための凹部が設けられており、これら
ノズルチップ43および44はこれら凹部内に設けられ
る。
用ノズルチップ43およびレジスト液供給用ノズルチッ
プ44を装着するための凹部が設けられており、これら
ノズルチップ43および44はこれら凹部内に設けられ
る。
【0034】レジスト供給用ノズルチップ43は、ノズ
ルブロック42から先端が露出するように設けられ、比
較的高い熱伝導性を有する例えばステンレス鋼やアルミ
ニウム等からなる高熱伝導性部材43aと、その内側に
設けられた管状の樹脂製部材43bとを有している。高
熱伝導性部材43aには、溶剤供給路45が内挿可能な
貫通穴が形成されており、樹脂製部材43bは、その貫
通穴の内壁面に配置されている。この樹脂製部材43b
は、溶剤供給管45に連結されており、溶剤と接触する
部分に配置されている。そして樹脂製部材43bの外側
を覆うように高熱伝導性部材43aが配置されている。
したがって、溶剤供給用ノズルチップ43においては、
溶剤は溶剤供給管45から高熱伝導性部材43aに接触
することなく、樹脂製部材43bを介して半導体ウエハ
Wに吐出される。溶剤供給用ノズルチップ43の先端の
露出部分は、樹脂製部材43bの先端近傍部分まで高熱
伝導性部材部43aで覆われている。
ルブロック42から先端が露出するように設けられ、比
較的高い熱伝導性を有する例えばステンレス鋼やアルミ
ニウム等からなる高熱伝導性部材43aと、その内側に
設けられた管状の樹脂製部材43bとを有している。高
熱伝導性部材43aには、溶剤供給路45が内挿可能な
貫通穴が形成されており、樹脂製部材43bは、その貫
通穴の内壁面に配置されている。この樹脂製部材43b
は、溶剤供給管45に連結されており、溶剤と接触する
部分に配置されている。そして樹脂製部材43bの外側
を覆うように高熱伝導性部材43aが配置されている。
したがって、溶剤供給用ノズルチップ43においては、
溶剤は溶剤供給管45から高熱伝導性部材43aに接触
することなく、樹脂製部材43bを介して半導体ウエハ
Wに吐出される。溶剤供給用ノズルチップ43の先端の
露出部分は、樹脂製部材43bの先端近傍部分まで高熱
伝導性部材部43aで覆われている。
【0035】また、ノズルブロック42と溶剤供給用ノ
ズルチップ43との境界部近傍において、溶剤供給管4
5とノズルブロック42との間にゴム等の弾性部材から
なるOリング(シール部材)43cが設けられている。
このOリング43cにより、ノズルブロック42と溶剤
供給管45とを密着させることができ、温調水の漏洩等
を防止することができる。
ズルチップ43との境界部近傍において、溶剤供給管4
5とノズルブロック42との間にゴム等の弾性部材から
なるOリング(シール部材)43cが設けられている。
このOリング43cにより、ノズルブロック42と溶剤
供給管45とを密着させることができ、温調水の漏洩等
を防止することができる。
【0036】一方、レジスト液供給ノズルチップ44も
上記と同様の構成を有している。すなわち、レジスト液
供給ノズルチップ44は、ノズルブロック42から先端
が露出するように設けられ、比較的高い熱伝導性を有す
る例えばステンレス鋼やアルミニウム等からなる高熱伝
導性部材44aと、その内側に設けられた管状の樹脂製
部材44bとを有している。高熱伝導性部材44aに
は、溶剤供給路45が内挿可能な貫通穴が形成されてお
り、樹脂製部材44bは、その貫通穴の内壁面に配置さ
れている。この樹脂製部材44bは、レジスト液供給管
48に連結されており、溶剤と接触する部分に配置され
ている。そして樹脂製部材44bの外側を覆うように高
熱伝導性部材44aが配置されている。したがって、レ
ジスト液供給用ノズルチップ44においても、レジスト
液はレジスト液供給管48から高熱伝導性部材44aに
接触することなく、樹脂製部材44bを介して半導体ウ
エハWに吐出される。そして、レジスト液供給用ノズル
チップ44の先端の露出部分は、樹脂製部材44bの先
端近傍部分まで高熱伝導性部材部44aで覆われてい
る。
上記と同様の構成を有している。すなわち、レジスト液
供給ノズルチップ44は、ノズルブロック42から先端
が露出するように設けられ、比較的高い熱伝導性を有す
る例えばステンレス鋼やアルミニウム等からなる高熱伝
導性部材44aと、その内側に設けられた管状の樹脂製
部材44bとを有している。高熱伝導性部材44aに
は、溶剤供給路45が内挿可能な貫通穴が形成されてお
り、樹脂製部材44bは、その貫通穴の内壁面に配置さ
れている。この樹脂製部材44bは、レジスト液供給管
48に連結されており、溶剤と接触する部分に配置され
ている。そして樹脂製部材44bの外側を覆うように高
熱伝導性部材44aが配置されている。したがって、レ
ジスト液供給用ノズルチップ44においても、レジスト
液はレジスト液供給管48から高熱伝導性部材44aに
接触することなく、樹脂製部材44bを介して半導体ウ
エハWに吐出される。そして、レジスト液供給用ノズル
チップ44の先端の露出部分は、樹脂製部材44bの先
端近傍部分まで高熱伝導性部材部44aで覆われてい
る。
【0037】また、ノズルブロック42とレジスト液供
給用ノズルチップ44との境界部近傍において、レジス
ト液供給管48とノズルブロック42との間にゴム等の
弾性部材からなるOリング(シール部材)44cが設け
られている。このOリング44cにより、ノズルブロッ
ク42とレジスト液供給管48とのを密着させることが
でき、温調水の漏洩等を防止することができる。
給用ノズルチップ44との境界部近傍において、レジス
ト液供給管48とノズルブロック42との間にゴム等の
弾性部材からなるOリング(シール部材)44cが設け
られている。このOリング44cにより、ノズルブロッ
ク42とレジスト液供給管48とのを密着させることが
でき、温調水の漏洩等を防止することができる。
【0038】なお、これら溶剤供給用ノズルチップ43
およびレジスト液供給用ノズルチップ44をノズルブロ
ックの凹部に取り付ける際には、これらの高熱伝導性部
材43a,44aをノズルブロック42に螺合する。
およびレジスト液供給用ノズルチップ44をノズルブロ
ックの凹部に取り付ける際には、これらの高熱伝導性部
材43a,44aをノズルブロック42に螺合する。
【0039】次に、上記構成の装置において、半導体ウ
エハW表面にレジスト液を塗布する方法について説明す
る。まず、半導体ウエハWが図示しない搬送アームによ
って静止したスピンチャック41上に搬送され、半導体
ウエハWが真空吸着によってスピンチャック41に保持
される。この状態で、ノズルブロック42を移動させな
がら、溶剤供給用ノズルチップ44から溶剤を吐出して
半導体ウエハW上に溶剤を供給する。また、それと共に
レジスト液供給用ノズルチップ44からレジスト液を吐
出して半導体ウエハW上にレジスト液を供給する。
エハW表面にレジスト液を塗布する方法について説明す
る。まず、半導体ウエハWが図示しない搬送アームによ
って静止したスピンチャック41上に搬送され、半導体
ウエハWが真空吸着によってスピンチャック41に保持
される。この状態で、ノズルブロック42を移動させな
がら、溶剤供給用ノズルチップ44から溶剤を吐出して
半導体ウエハW上に溶剤を供給する。また、それと共に
レジスト液供給用ノズルチップ44からレジスト液を吐
出して半導体ウエハW上にレジスト液を供給する。
【0040】一方、溶剤供給管45およびレジスト液供
給管48においては、その外周に設けられた温度調節水
供給路52内をサーモモジュール54で一定温度に維持
された温度調節水が循環ポンプ53の作動により循環し
ている。したがって、溶剤供給管45およびレジスト液
供給管48を通流する溶剤およびレジスト液は、温度調
節水の伝熱により、一定温度に維持されている。
給管48においては、その外周に設けられた温度調節水
供給路52内をサーモモジュール54で一定温度に維持
された温度調節水が循環ポンプ53の作動により循環し
ている。したがって、溶剤供給管45およびレジスト液
供給管48を通流する溶剤およびレジスト液は、温度調
節水の伝熱により、一定温度に維持されている。
【0041】また、温度調節水供給路52内の温度調節
水の熱は、熱伝導性が良好な例えばステンレス鋼で構成
されたノズルブロック42を介してステンレス鋼または
アルミニウム等からなる高熱伝導性部材43a,44a
に伝わる。図2に示されているように、高熱伝導性部材
43a,44aは、樹脂製部材43b,44bの外側を
覆うように配置されているので、ノズルブロック42か
ら露出、突出した樹脂製部材43b,44bの先端部に
も温度調節水の熱が伝わることになる。その結果、半導
体ウエハWに供給される溶剤やレジスト液は、タンクか
ら送出され、供給路を通流し、吐出する寸前まで温度調
節される。特に、ノズルチップ43,44の先端の露出
部分において、樹脂製部材43b、44bの先端近傍部
分まで高熱伝導性部材43a,44aで覆われているの
で、その温度調節精度は極めて高い。したがって、溶剤
やレジスト液の特性、例えば粘度が一定となり、レジス
ト処理が安定化し、処理の信頼性が向上することにな
る。なお、レジスト液や溶剤は高熱伝導性部材43a,
44aとは接触しないので、レジスト液や溶剤へ部材構
成材料が溶出することがない。
水の熱は、熱伝導性が良好な例えばステンレス鋼で構成
されたノズルブロック42を介してステンレス鋼または
アルミニウム等からなる高熱伝導性部材43a,44a
に伝わる。図2に示されているように、高熱伝導性部材
43a,44aは、樹脂製部材43b,44bの外側を
覆うように配置されているので、ノズルブロック42か
ら露出、突出した樹脂製部材43b,44bの先端部に
も温度調節水の熱が伝わることになる。その結果、半導
体ウエハWに供給される溶剤やレジスト液は、タンクか
ら送出され、供給路を通流し、吐出する寸前まで温度調
節される。特に、ノズルチップ43,44の先端の露出
部分において、樹脂製部材43b、44bの先端近傍部
分まで高熱伝導性部材43a,44aで覆われているの
で、その温度調節精度は極めて高い。したがって、溶剤
やレジスト液の特性、例えば粘度が一定となり、レジス
ト処理が安定化し、処理の信頼性が向上することにな
る。なお、レジスト液や溶剤は高熱伝導性部材43a,
44aとは接触しないので、レジスト液や溶剤へ部材構
成材料が溶出することがない。
【0042】次に、図3を参照しながら本発明の処理液
供給装置のさらに好ましい実施形態について説明する。
図3に示すように、樹脂製部材43b、44bの基端部
は、それぞれ溶剤供給管45、レジスト液供給管48の
先端部の外側に配置されているが、この状態で、溶剤供
給管45、レジスト液供給管48の先端部の内側に、そ
の内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材55
を挿入する。
供給装置のさらに好ましい実施形態について説明する。
図3に示すように、樹脂製部材43b、44bの基端部
は、それぞれ溶剤供給管45、レジスト液供給管48の
先端部の外側に配置されているが、この状態で、溶剤供
給管45、レジスト液供給管48の先端部の内側に、そ
の内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材55
を挿入する。
【0043】この弾性部材55は、いわゆるスーパーフ
ィッテイング樹脂と呼ばれるもので、このような弾性部
材55を挿入することにより、弾性部材の弾性力に起因
する押圧力によって溶剤供給管45およびレジスト液供
給管48がそれぞれ樹脂製部材43bおよび44bに密
着され、さらにこれら樹脂部材43bおよび44bがそ
れぞれ高導電性部材43aおよび44aに密着されるこ
ととなる。したがって、熱伝導性が極めて良好となり、
温度調節精度をさらに一層高めることができ、レジスト
液や溶剤の特性の安定化や塗布処理の信頼性の向上を図
ることができる。
ィッテイング樹脂と呼ばれるもので、このような弾性部
材55を挿入することにより、弾性部材の弾性力に起因
する押圧力によって溶剤供給管45およびレジスト液供
給管48がそれぞれ樹脂製部材43bおよび44bに密
着され、さらにこれら樹脂部材43bおよび44bがそ
れぞれ高導電性部材43aおよび44aに密着されるこ
ととなる。したがって、熱伝導性が極めて良好となり、
温度調節精度をさらに一層高めることができ、レジスト
液や溶剤の特性の安定化や塗布処理の信頼性の向上を図
ることができる。
【0044】また、弾性部材55により溶剤供給管45
およびレジスト液供給管48を強制的に外側へ押圧する
ので、これらの管路の口径の安定化を図ることができる
とともに、Oリング43cおよび44cのシール性を高
めることができる。
およびレジスト液供給管48を強制的に外側へ押圧する
ので、これらの管路の口径の安定化を図ることができる
とともに、Oリング43cおよび44cのシール性を高
めることができる。
【0045】なお、本発明は上記実施の形態に限定され
ず種々変形可能である。例えば、図4に示すように、溶
剤供給管45とレジスト液供給管48とが二重管構造、
例えば溶剤供給管45の中に溶剤供給管45よりも外径
が小さいレジスト液供給管48が挿入された構造で配置
されたものにも適用することができる。もちろんこの構
成の場合においては、レジスト供給管48中に溶剤供給
管45が挿入された二重管構造であっても良い。また、
図5に示すように、溶剤供給路45とレジスト液供給路
48が併設され、吐出口が共通であるものにも適用する
ことができる。
ず種々変形可能である。例えば、図4に示すように、溶
剤供給管45とレジスト液供給管48とが二重管構造、
例えば溶剤供給管45の中に溶剤供給管45よりも外径
が小さいレジスト液供給管48が挿入された構造で配置
されたものにも適用することができる。もちろんこの構
成の場合においては、レジスト供給管48中に溶剤供給
管45が挿入された二重管構造であっても良い。また、
図5に示すように、溶剤供給路45とレジスト液供給路
48が併設され、吐出口が共通であるものにも適用する
ことができる。
【0046】さらに、上記実施形態においては、溶剤供
給路45またはレジスト液供給路48と樹脂製部材とを
連結し、その外側に高熱伝導性部材を配置した構成につ
いて説明しているが、溶剤供給路45またはレジスト液
供給路48が処理液への溶出を防止する樹脂で構成され
ている場合には、溶剤供給路45またはレジスト液供給
路48の外側に直接高熱伝導性部材を配置したノズルチ
ップであってもよい。
給路45またはレジスト液供給路48と樹脂製部材とを
連結し、その外側に高熱伝導性部材を配置した構成につ
いて説明しているが、溶剤供給路45またはレジスト液
供給路48が処理液への溶出を防止する樹脂で構成され
ている場合には、溶剤供給路45またはレジスト液供給
路48の外側に直接高熱伝導性部材を配置したノズルチ
ップであってもよい。
【0047】さらにまた、上記実施形態においては、高
熱伝導性部材の材質としてステンレス鋼やアルミニウム
を用いた場合について説明しているが、本発明では高熱
伝導性部材の材質として樹脂よりも熱伝導性が高いもの
を用いることにより一定の効果を奏することができる。
熱伝導性部材の材質としてステンレス鋼やアルミニウム
を用いた場合について説明しているが、本発明では高熱
伝導性部材の材質として樹脂よりも熱伝導性が高いもの
を用いることにより一定の効果を奏することができる。
【0048】さらにまた、上記実施の形態では、本発明
をレジスト塗布ユニット25に適用した例について説明
しているが、本発明を現像ユニット29に適用しても上
記と同様の効果が得られるし、上記のようなレジスト塗
布・現像システムに限らず他の液処理装置に適用するこ
ともできる。また、上記実施の形態では、被処理体とし
て半導体ウエハを用いた場合について示したが、これに
限らずLCD基板等他の被処理体の処理の場合にも適用
することができる。
をレジスト塗布ユニット25に適用した例について説明
しているが、本発明を現像ユニット29に適用しても上
記と同様の効果が得られるし、上記のようなレジスト塗
布・現像システムに限らず他の液処理装置に適用するこ
ともできる。また、上記実施の形態では、被処理体とし
て半導体ウエハを用いた場合について示したが、これに
限らずLCD基板等他の被処理体の処理の場合にも適用
することができる。
【0049】
【発明の効果】以上説明したように、第1発明によれ
ば、ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通
路部分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有している
ので、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導
することができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精
度を向上させることができる。
ば、ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通
路部分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有している
ので、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導
することができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精
度を向上させることができる。
【0050】第2発明によれば、ノズルブロックに処理
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第3発明によ
れば、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部材で覆われているので、
より高精度の温度調節を行うことができる。
液の温度調節を行う温度調節手段を設けることにより、
特に上記効果が大きいものとなる。また、第3発明によ
れば、ノズルチップの先端の露出部分が、樹脂製部材の
先端近傍部分まで高熱伝導性部材で覆われているので、
より高精度の温度調節を行うことができる。
【0051】また、第4発明および第9発明によれば、
ノズルブロックとノズルチップとの境界部近傍の、処理
液管路とノズルブロックとの間に、シール部材を介在さ
せるので、これらを密着させることができ、温調水の漏
洩等を防止することができる。
ノズルブロックとノズルチップとの境界部近傍の、処理
液管路とノズルブロックとの間に、シール部材を介在さ
せるので、これらを密着させることができ、温調水の漏
洩等を防止することができる。
【0052】さらに、第5発明および第10発明によれ
ば、樹脂製部材の基端部を処理液管路の先端部の外側と
し、処理液管路の先端部の内側に、その内径よりも大き
い外径の膨出部を有する弾性部材を挿入するので、弾性
部材の押圧力によって処理液管路が樹脂製部材に密着さ
れ、さらに樹脂部材が高導電性部材に密着されることと
なり、熱伝導性が極めて良好となり、温度調節精度をさ
らに一層高めることができ、処理液の特性の安定化や液
処理の信頼性の向上を図ることができる。また、弾性部
材により処理液管路を強制的に外側へ押圧するので、管
路の口径の安定化を図ることができるとともに、前記シ
ール部材のシール性を高めることができる。
ば、樹脂製部材の基端部を処理液管路の先端部の外側と
し、処理液管路の先端部の内側に、その内径よりも大き
い外径の膨出部を有する弾性部材を挿入するので、弾性
部材の押圧力によって処理液管路が樹脂製部材に密着さ
れ、さらに樹脂部材が高導電性部材に密着されることと
なり、熱伝導性が極めて良好となり、温度調節精度をさ
らに一層高めることができ、処理液の特性の安定化や液
処理の信頼性の向上を図ることができる。また、弾性部
材により処理液管路を強制的に外側へ押圧するので、管
路の口径の安定化を図ることができるとともに、前記シ
ール部材のシール性を高めることができる。
【0053】第6発明によれば、液処理装置において、
ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通路部
分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有しているの
で、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導す
ることができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精度
を向上させることができる。このため、処理液の特性を
安定化させた状態で安定した液処理を行うことができ
る。
ノズルチップが、処理液と接触する樹脂製部材の通路部
分の周囲に高熱伝導部材を設けた構造を有しているの
で、ノズルブロックからの熱を効率良く処理液に伝導す
ることができ、ノズルにおける処理液の温度調節の精度
を向上させることができる。このため、処理液の特性を
安定化させた状態で安定した液処理を行うことができ
る。
【0054】第7発明によれば、ノズルブロックに処理
液の温度調節を行う温度調節手段を設けたので、特に上
記効果が大きいものとなり、より安定した液処理を行う
ことができる。また、第8発明によれば、ノズルチップ
の先端の露出部分が、樹脂製部材の先端近傍部分まで高
熱伝導性部で覆われているので、より高精度の温度調節
を行うことができ、処理液の特性をより安定化させて、
安定した液処理を行うことができる。
液の温度調節を行う温度調節手段を設けたので、特に上
記効果が大きいものとなり、より安定した液処理を行う
ことができる。また、第8発明によれば、ノズルチップ
の先端の露出部分が、樹脂製部材の先端近傍部分まで高
熱伝導性部で覆われているので、より高精度の温度調節
を行うことができ、処理液の特性をより安定化させて、
安定した液処理を行うことができる。
【図1】本発明の対象となる処理液供給装置および液処
理装置が適用されるレジスト塗布・現像システムを示す
斜視図。
理装置が適用されるレジスト塗布・現像システムを示す
斜視図。
【図2】本発明の処理液供給装置の構成を示す図。
【図3】本発明の処理液供給装置の他の実施形態を示す
図。
図。
【図4】本発明の処理液供給装置の他の実施形態を示す
図。
図。
【図5】本発明の処理液供給装置の他の実施形態を示す
図。
図。
41…スピンチャック 42…ノズルブロック 43…溶剤供給用ノズルチップ 43a,44a…高熱伝導性部材 43b,44b,55…樹脂製部材 43c,44c…シール部材 43d,44d…Oリング 44…レジスト液供給用ノズルチップ 45…溶剤供給路 46,49…開閉バルブ 47…溶剤タンク 48…レジスト液供給路 50…レジスト液タンク 51…温度調節水循環ユニット 52…温度調節水供給路 53…循環ポンプ 54…サーモモジュール 55a…膨出部 W…半導体ウエハ
Claims (10)
- 【請求項1】 処理液の供給を行う処理液供給装置であ
って、 処理液を通流する処理液管路と、 前記処理液管路の処理液吐出側に装着されたノズルブロ
ックと、 前記ノズルブロックから先端が露出するようにして前記
処理液管路の処理液吐出側の端部に取り付けられたノズ
ルチップと、 を具備し、 前記ノズルチップは、少なくとも処理液と接触する通路
部分に配置された樹脂製部材と、前記樹脂製部材の通路
部分の周囲に設けられた高熱伝導性部材とから構成され
ていることを特徴とする処理液供給装置。 - 【請求項2】 前記ノズルブロックは、処理液の温度調
節を行う温度調節手段を有することを特徴とする請求項
1に記載の処理液供給装置。 - 【請求項3】 前記ノズルチップの先端の露出部分は、
前記樹脂製部材の先端近傍部分まで高熱伝導性部材で覆
われていることを特徴とする請求項1または請求項2に
記載の処理液供給装置。 - 【請求項4】 前記ノズルブロックと前記ノズルチップ
との境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノズ
ルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具備
することを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれ
か1項に記載の処理液供給装置。 - 【請求項5】 前記ノズルチップは、前記樹脂製部材の
基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるように取
り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、その内
径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿入さ
れていることを特徴とする請求項1ないし請求項4のい
ずれか1項に記載の処理液供給装置。 - 【請求項6】 被処理体に処理液を供給して液処理を行
う液処理装置であって、 被処理体表面に処理液を供給する処理液供給手段と、 処理液供給手段に処理液を供給する処理液供給系と、 前記処理液送出手段と前記処理液供給手段との間に設け
られた処理液管路と、を具備し、 前記処理液供給手段は、前記処理液管路に装着されたノ
ズルブロックと、前記ノズルブロックから先端が露出す
るようにして前記処理液管路の端部に取り付けられたノ
ズルチップとを備えており、前記ノズルチップは、少な
くとも処理液と接触する通路部分に配置された樹脂製部
材と、前記樹脂製部材の通路部分の周囲に設けられた高
熱伝導性部材とから構成されていることを特徴とする液
処理装置。 - 【請求項7】 前記ノズルブロックは、処理液の温度調
節を行う温度調節手段を有する請求項6に記載の液処理
装置。 - 【請求項8】 前記ノズルチップの先端の露出部分は、
前記樹脂製部材の先端近傍部分まで高熱伝導性部で覆わ
れていることを特徴とする請求項6または請求項7に記
載の液処理装置。 - 【請求項9】 前記ノズルブロックと前記ノズルチップ
との境界部近傍に設けられ、前記処理液管路と前記ノズ
ルブロックとの間に介在されたシール部材をさらに具備
することを特徴とする請求項6ないし請求項8のいずれ
か1項に記載の液処理装置。 - 【請求項10】 前記ノズルチップは、前記樹脂製部材
の基端部が前記処理液管路の先端部の外側になるように
取り付けられ、前記処理液管路の先端部の内側に、その
内径よりも大きい外径の膨出部を有する弾性部材が挿入
され、前記処理液管路が前記樹脂製部材に密着されるこ
とを特徴とする請求項6ないし請求項9のいずれか1項
に記載の液処理装置。
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JP14847797A JP3356964B2 (ja) | 1997-05-23 | 1997-05-23 | 処理液供給装置およびそれを用いた液処理装置 |
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JPH10326736A true JPH10326736A (ja) | 1998-12-08 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013058533A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Hoya Corp | レジスト現像装置およびモールド製造方法 |
CN103792790A (zh) * | 2012-10-30 | 2014-05-14 | 沈阳芯源微电子设备有限公司 | 光刻胶与显影液的恒温控制系统 |
CN108074837A (zh) * | 2016-11-15 | 2018-05-25 | 沈阳芯源微电子设备有限公司 | 一种半导体工艺水保温系统 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0195728U (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-26 | ||
JPH02258082A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-10-18 | Tokyo Electron Ltd | 塗布装置及び塗布方法 |
JPH04265145A (ja) * | 1991-02-19 | 1992-09-21 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置 |
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- 1997-05-23 JP JP14847797A patent/JP3356964B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0195728U (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-26 | ||
JPH02258082A (ja) * | 1988-12-20 | 1990-10-18 | Tokyo Electron Ltd | 塗布装置及び塗布方法 |
JPH04265145A (ja) * | 1991-02-19 | 1992-09-21 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013058533A (ja) * | 2011-09-07 | 2013-03-28 | Hoya Corp | レジスト現像装置およびモールド製造方法 |
CN103792790A (zh) * | 2012-10-30 | 2014-05-14 | 沈阳芯源微电子设备有限公司 | 光刻胶与显影液的恒温控制系统 |
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