JPH10325834A - ガスクロマトグラフ装置 - Google Patents
ガスクロマトグラフ装置Info
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- JPH10325834A JPH10325834A JP15039197A JP15039197A JPH10325834A JP H10325834 A JPH10325834 A JP H10325834A JP 15039197 A JP15039197 A JP 15039197A JP 15039197 A JP15039197 A JP 15039197A JP H10325834 A JPH10325834 A JP H10325834A
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- flow rate
- flow path
- carrier gas
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
- G01N30/02—Column chromatography
- G01N30/26—Conditioning of the fluid carrier; Flow patterns
- G01N30/28—Control of physical parameters of the fluid carrier
- G01N30/32—Control of physical parameters of the fluid carrier of pressure or speed
- G01N2030/324—Control of physical parameters of the fluid carrier of pressure or speed speed, flow rate
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 カラム寸法の公称値を用いずにカラム流量を
得る。 【解決手段】 パージ流路１５にも電磁弁２１を設け、
分析に先立って、電磁弁１９、２１を閉鎖してキャリア
ガスの全量をカラム１０に流す。このとき、演算部３１
は、圧力センサ１７及び流量センサ１４２にてカラム入
口圧及びガス流量を検出し、設定してあるガスの粘性係
数を用いてカラム１０の内径ｄ及び長さＬに対応する値
ｄ4／Ｌを算出する。この値をメモリ３１１に格納して
おき、スプリット分析の際に、ｄ4／Ｌ、圧力センサ１
７の検出値及びガス粘性係数よりカラム流量を算出す
る。これにより、高精度のカラム流量が算出できる。
得る。 【解決手段】 パージ流路１５にも電磁弁２１を設け、
分析に先立って、電磁弁１９、２１を閉鎖してキャリア
ガスの全量をカラム１０に流す。このとき、演算部３１
は、圧力センサ１７及び流量センサ１４２にてカラム入
口圧及びガス流量を検出し、設定してあるガスの粘性係
数を用いてカラム１０の内径ｄ及び長さＬに対応する値
ｄ4／Ｌを算出する。この値をメモリ３１１に格納して
おき、スプリット分析の際に、ｄ4／Ｌ、圧力センサ１
７の検出値及びガス粘性係数よりカラム流量を算出す
る。これにより、高精度のカラム流量が算出できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明はガスクロマトグラフ
装置（ＧＣ）に関し、更に詳しくは、ガスクロマトグラ
フ装置の試料導入部に関する。
装置（ＧＣ）に関し、更に詳しくは、ガスクロマトグラ
フ装置の試料導入部に関する。
【０００２】
【従来の技術】図３は、従来のＧＣの試料導入部を中心
とする要部の構成図である。カラム１０の入口に設けら
れた試料気化室１１の頭部にはシリコンゴム製のセプタ
ム１２が取り付けられ、試料気化室１１の側方にはキャ
リアガス（Ｈｅガス等）を導入するためのキャリアガス
流路１３、セプタム１２が発生するガスを排出するため
のパージ流路１５、及び、試料気化室１１に注入された
試料の一部をキャリアガスと共に排出するためのスプリ
ット流路１８が接続されている。
とする要部の構成図である。カラム１０の入口に設けら
れた試料気化室１１の頭部にはシリコンゴム製のセプタ
ム１２が取り付けられ、試料気化室１１の側方にはキャ
リアガス（Ｈｅガス等）を導入するためのキャリアガス
流路１３、セプタム１２が発生するガスを排出するため
のパージ流路１５、及び、試料気化室１１に注入された
試料の一部をキャリアガスと共に排出するためのスプリ
ット流路１８が接続されている。
【０００３】キャリアガス流路１３にはガス流量を調節
するための流量調節器１４が、パージ流路１５には流路
抵抗１６及び圧力センサ１７が、またスプリット流路１
８には排出ガスの流量を調節するための電磁弁１９が設
けられている。流量調節器１４は電磁弁１４１と流量セ
ンサ１４２とから成り、該流量センサ１４２の検出値が
設定された目標流量となるように電磁弁１４１の開度が
制御される。パージ流路１５上の圧力センサ１７と試料
気化室１１との間にはガス抵抗が殆ど無いため、圧力セ
ンサ１７によって検出されるガス圧は試料気化室１１内
のガス圧と同一と看做すことができる。
するための流量調節器１４が、パージ流路１５には流路
抵抗１６及び圧力センサ１７が、またスプリット流路１
８には排出ガスの流量を調節するための電磁弁１９が設
けられている。流量調節器１４は電磁弁１４１と流量セ
ンサ１４２とから成り、該流量センサ１４２の検出値が
設定された目標流量となるように電磁弁１４１の開度が
制御される。パージ流路１５上の圧力センサ１７と試料
気化室１１との間にはガス抵抗が殆ど無いため、圧力セ
ンサ１７によって検出されるガス圧は試料気化室１１内
のガス圧と同一と看做すことができる。
【０００４】制御部３０は、この圧力センサ１７により
検出されるガス圧が所定値となるように、また、スプリ
ット流路１８とカラム１０とに流れるガス流量の比率
（スプリット比）が所定値に維持されるように、流量調
節器１４及び電磁弁１９を制御している。このようにし
てカラム１０に一定流量のキャリアガスが流れている状
態で、シリンジ４０先端のニードル４１をセプタム１２
に突き刺して貫通させ、液体試料を試料気化室１１内に
注入する。試料気化室１１は図示せぬヒータにより所定
温度に加熱されているため、注入された試料は短時間の
間に気化し、ガス流に乗って一部はカラム１０内に運ば
れ、他はスプリット流路１８を通して外部へ排出され
る。カラム１０を通過する間に試料中の各成分は時間的
に分離され、カラム１０の出口に設けられている検出器
２０により検出される。
検出されるガス圧が所定値となるように、また、スプリ
ット流路１８とカラム１０とに流れるガス流量の比率
（スプリット比）が所定値に維持されるように、流量調
節器１４及び電磁弁１９を制御している。このようにし
てカラム１０に一定流量のキャリアガスが流れている状
態で、シリンジ４０先端のニードル４１をセプタム１２
に突き刺して貫通させ、液体試料を試料気化室１１内に
注入する。試料気化室１１は図示せぬヒータにより所定
温度に加熱されているため、注入された試料は短時間の
間に気化し、ガス流に乗って一部はカラム１０内に運ば
れ、他はスプリット流路１８を通して外部へ排出され
る。カラム１０を通過する間に試料中の各成分は時間的
に分離され、カラム１０の出口に設けられている検出器
２０により検出される。
【０００５】演算部３１は、次のように分析時のスプリ
ット比を算出して制御部３０に与える。スプリット比を
計算するためには、カラム１０側に流れるキャリアガス
の流量（以下「カラム流量」と称する）を求める必要が
ある。カラム流量は、カラム１０の入口圧と出口圧、カ
ラム１０の寸法及びキャリアガスの粘性係数に依存して
いる。このうち、カラム１０の入口圧は圧力センサ１７
の検出値であり、また、検出器２０の出口は一般に大気
に開放されているためカラム１０の出口圧は大気圧と看
做すことができる。そこで、分析に先立って、測定者は
入力部３２を操作することにより、カラム１０の寸法
（内径及び長さ）とキャリアガスの粘性係数とを入力設
定しておく。演算部３１は、これら設定された数値と圧
力センサ１７にて検出されるガス圧とを用いてカラム流
量を算出し、更に流量センサ１４２にて検出されるガス
流量と該カラム流量とからスプリット比を算出する。
ット比を算出して制御部３０に与える。スプリット比を
計算するためには、カラム１０側に流れるキャリアガス
の流量（以下「カラム流量」と称する）を求める必要が
ある。カラム流量は、カラム１０の入口圧と出口圧、カ
ラム１０の寸法及びキャリアガスの粘性係数に依存して
いる。このうち、カラム１０の入口圧は圧力センサ１７
の検出値であり、また、検出器２０の出口は一般に大気
に開放されているためカラム１０の出口圧は大気圧と看
做すことができる。そこで、分析に先立って、測定者は
入力部３２を操作することにより、カラム１０の寸法
（内径及び長さ）とキャリアガスの粘性係数とを入力設
定しておく。演算部３１は、これら設定された数値と圧
力センサ１７にて検出されるガス圧とを用いてカラム流
量を算出し、更に流量センサ１４２にて検出されるガス
流量と該カラム流量とからスプリット比を算出する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】測定者が、カラム１０
の寸法を入力設定する際には、該カラムの供給元から提
供されている寸法公称値に従って入力するのが一般的で
ある。ところが、与えられている公称値が実際のカラム
寸法に対して比較的大きな誤差を有していることがあ
り、そのような場合にはカラム流量を精度よく算出でき
ない。カラム流量の誤差が大きくなると、例えば、充分
な量の試料がカラム１０に導入されず、成分同定に支障
をきたす恐れもある。
の寸法を入力設定する際には、該カラムの供給元から提
供されている寸法公称値に従って入力するのが一般的で
ある。ところが、与えられている公称値が実際のカラム
寸法に対して比較的大きな誤差を有していることがあ
り、そのような場合にはカラム流量を精度よく算出でき
ない。カラム流量の誤差が大きくなると、例えば、充分
な量の試料がカラム１０に導入されず、成分同定に支障
をきたす恐れもある。
【０００７】本発明は上記課題を解決するために成され
たものであり、その目的とするところは、正確なカラム
流量を算出することができるガスクロマトグラフ装置を
提供することにある。
たものであり、その目的とするところは、正確なカラム
流量を算出することができるガスクロマトグラフ装置を
提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に成された本発明は、カラム入口に設けた試料気化室に
キャリアガス流路、パージ流路及びスプリット流路を接
続し、該スプリット流路を通して試料気化室内のガスの
一部を排出しながらクロマトグラフ分析を行なうガスク
ロマトグラフ装置において、 a)キャリアガス流路のガス流量を検出する流量検出手段
と、 b)試料気化室内のガス圧を検出する圧力検出手段と、 c)パージ流路に設けた第一の弁と、 d)スプリット流路に設けた第二の弁と、 e)分析に先立って、キャリアガス流路から供給されたキ
ャリアガスの全量をカラムに導入するべく前記第一及び
第二の弁を閉鎖する制御手段と、 f)前記第一及び第二の弁を閉鎖した状態で前記流量検出
手段及び圧力検出手段にて検出したガス流量及びガス圧
と、予め設定されたキャリアガスの粘性係数とを用い
て、カラム寸法に対応した指標値を算出して記憶手段に
記憶させておく第一の演算手段と、 g)分析時に、前記圧力検出手段にて検出したガス圧と、
前記粘性係数と、前記記憶手段に記憶されているカラム
寸法に対応した指標値とに基づいてカラムに流れるガス
流量を計算する第二の演算手段と、を備えることを特徴
としている。
に成された本発明は、カラム入口に設けた試料気化室に
キャリアガス流路、パージ流路及びスプリット流路を接
続し、該スプリット流路を通して試料気化室内のガスの
一部を排出しながらクロマトグラフ分析を行なうガスク
ロマトグラフ装置において、 a)キャリアガス流路のガス流量を検出する流量検出手段
と、 b)試料気化室内のガス圧を検出する圧力検出手段と、 c)パージ流路に設けた第一の弁と、 d)スプリット流路に設けた第二の弁と、 e)分析に先立って、キャリアガス流路から供給されたキ
ャリアガスの全量をカラムに導入するべく前記第一及び
第二の弁を閉鎖する制御手段と、 f)前記第一及び第二の弁を閉鎖した状態で前記流量検出
手段及び圧力検出手段にて検出したガス流量及びガス圧
と、予め設定されたキャリアガスの粘性係数とを用い
て、カラム寸法に対応した指標値を算出して記憶手段に
記憶させておく第一の演算手段と、 g)分析時に、前記圧力検出手段にて検出したガス圧と、
前記粘性係数と、前記記憶手段に記憶されているカラム
寸法に対応した指標値とに基づいてカラムに流れるガス
流量を計算する第二の演算手段と、を備えることを特徴
としている。
【０００９】
【発明の実施の形態】一般に、内径ｄ、長さＬの管路中
を流れる粘性係数μの流体の流量Ｆは、管路の入口圧を
Ｐa、出口圧をＰbとしたとき、 Ｆ＝（６０π／２５６μ）・（ｄ4／Ｌ） ・｛〔（Ｐa＋Ｐb）2−Ｐb2〕／Ｐb｝×１０3 …(1) となる。従って、ガスの粘性係数μ、管路の入口圧Ｐ
a、出口圧Ｐb及び流量Ｆがわかれば、次式(2)によりｄ4
／Ｌを逆算することができる。 ｄ4／Ｌ＝（２５６μ／６０π）・ ・｛Ｐb・Ｆ／〔（Ｐa＋Ｐb）2−Ｐb2〕｝×１０-3 …(2) 本発明では、この流量Ｆ、入口圧Ｐaを実際に測定し、
粘性係数μは予め設定された値を用いることにより、カ
ラムの内径及び長さに対応した指標値を求める。
を流れる粘性係数μの流体の流量Ｆは、管路の入口圧を
Ｐa、出口圧をＰbとしたとき、 Ｆ＝（６０π／２５６μ）・（ｄ4／Ｌ） ・｛〔（Ｐa＋Ｐb）2−Ｐb2〕／Ｐb｝×１０3 …(1) となる。従って、ガスの粘性係数μ、管路の入口圧Ｐ
a、出口圧Ｐb及び流量Ｆがわかれば、次式(2)によりｄ4
／Ｌを逆算することができる。 ｄ4／Ｌ＝（２５６μ／６０π）・ ・｛Ｐb・Ｆ／〔（Ｐa＋Ｐb）2−Ｐb2〕｝×１０-3 …(2) 本発明では、この流量Ｆ、入口圧Ｐaを実際に測定し、
粘性係数μは予め設定された値を用いることにより、カ
ラムの内径及び長さに対応した指標値を求める。
【００１０】本発明のガスクロマトグラフ装置では、制
御手段は、分析に先立って第一及び第二の弁を閉鎖す
る。これにより、キャリアガス流路を通して試料気化室
に供給されるキャリアガスの全量がカラムに流れる。こ
の状態において、第一の演算手段は、圧力検出手段によ
りカラム入口圧（Ｐa）を、流量検出手段によりカラム
に流れるガス流量（Ｆ）を得て、予め設定されているガ
スの粘性係数（μ）を用い、上記(2)式に基づきカラム
のｄ4／Ｌを計算する。なお、カラムの出口側は大気に
開放しているので、出口圧（Ｐb）は大気圧と看做す。
このように算出したカラムのｄ4／Ｌの値を記憶手段に
格納しておき、実際のスプリット分析の際にカラムに流
れるガス流量を算出する際に利用する。すなわち、第二
の演算手段は、圧力検出手段により得たカラム入口圧、
予め設定されているガスの粘性係数、及び、記憶手段に
格納している上記ｄ4／Ｌの値を用い、上記(1)式に基づ
きカラム流量を計算する。
御手段は、分析に先立って第一及び第二の弁を閉鎖す
る。これにより、キャリアガス流路を通して試料気化室
に供給されるキャリアガスの全量がカラムに流れる。こ
の状態において、第一の演算手段は、圧力検出手段によ
りカラム入口圧（Ｐa）を、流量検出手段によりカラム
に流れるガス流量（Ｆ）を得て、予め設定されているガ
スの粘性係数（μ）を用い、上記(2)式に基づきカラム
のｄ4／Ｌを計算する。なお、カラムの出口側は大気に
開放しているので、出口圧（Ｐb）は大気圧と看做す。
このように算出したカラムのｄ4／Ｌの値を記憶手段に
格納しておき、実際のスプリット分析の際にカラムに流
れるガス流量を算出する際に利用する。すなわち、第二
の演算手段は、圧力検出手段により得たカラム入口圧、
予め設定されているガスの粘性係数、及び、記憶手段に
格納している上記ｄ4／Ｌの値を用い、上記(1)式に基づ
きカラム流量を計算する。
【００１１】
【発明の効果】本発明に係るガスクロマトグラフ装置に
よれば、分析前に実際にキャリアガスの全量をカラムに
流すことによりカラムの寸法に応じた指標値が算出さ
れ、この値を用いてスプリット分析時のカラム流量が求
められる。このため、公称値よりも正確なカラム寸法が
得られるので、精度の高いカラム流量が算出できる。こ
れにより、カラムに導入する試料の量の精度を高めるこ
とができ、分析精度が向上する。また、測定者がカラム
の寸法を入力設定するという面倒な作業が不要になると
共に、入力設定のミスによる分析結果の誤りも防止する
ことができる。
よれば、分析前に実際にキャリアガスの全量をカラムに
流すことによりカラムの寸法に応じた指標値が算出さ
れ、この値を用いてスプリット分析時のカラム流量が求
められる。このため、公称値よりも正確なカラム寸法が
得られるので、精度の高いカラム流量が算出できる。こ
れにより、カラムに導入する試料の量の精度を高めるこ
とができ、分析精度が向上する。また、測定者がカラム
の寸法を入力設定するという面倒な作業が不要になると
共に、入力設定のミスによる分析結果の誤りも防止する
ことができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明のガスクロマトグラフ装置の一
実施例を図を参照しつつ説明する。図１は、本実施例の
ＧＣの試料導入部を中心とする要部の構成図である。本
実施例のＧＣでは、パージ流路１５にも電磁弁２１を備
えており、制御部３０は流量調節器１４、電磁弁１９に
加えて、該電磁弁２１の開閉も制御している。また、演
算部３１は、流量センサ１４２及び圧力センサ１７にて
検出されるガス流量Ｆ及びガス圧Ｐを受け取り、入力部
３２により設定されるガスの粘性係数μの値を用いて後
記のような演算処理を実行する。
実施例を図を参照しつつ説明する。図１は、本実施例の
ＧＣの試料導入部を中心とする要部の構成図である。本
実施例のＧＣでは、パージ流路１５にも電磁弁２１を備
えており、制御部３０は流量調節器１４、電磁弁１９に
加えて、該電磁弁２１の開閉も制御している。また、演
算部３１は、流量センサ１４２及び圧力センサ１７にて
検出されるガス流量Ｆ及びガス圧Ｐを受け取り、入力部
３２により設定されるガスの粘性係数μの値を用いて後
記のような演算処理を実行する。
【００１３】上記構成の装置の動作を以下に説明する。
まず、測定者は、使用するキャリアガスの粘性係数μを
入力部３２より入力設定する。粘性係数μは数値で入力
するようにしてもよいし、或いは、Ｈｅ、Ｎ2等の複数
のキャリアガスの中から利用するガスの種類を選択する
ことにより該ガスの粘性係数が選択されるようにしても
よい。
まず、測定者は、使用するキャリアガスの粘性係数μを
入力部３２より入力設定する。粘性係数μは数値で入力
するようにしてもよいし、或いは、Ｈｅ、Ｎ2等の複数
のキャリアガスの中から利用するガスの種類を選択する
ことにより該ガスの粘性係数が選択されるようにしても
よい。
【００１４】実際の分析に先立って、測定者が入力部３
２で所定の操作を行なうと、制御部３０及び演算部３１
はカラム寸法の検出処理を実行する。すなわち、制御部
３０は、電磁弁１９、２１を閉鎖すると共に流量調節器
１４に対し所定の目標流量を指示する。これにより、パ
ージ流路１５及びスプリット流路１８は閉鎖されるの
で、キャリアガス流路１３を通して試料気化室１１に流
れ込んだキャリアガスはその全量がカラム１０に送り込
まれる。このときのガス流路の状態の模式図を図２
（ａ）に示す。両電磁弁１９、２１を閉鎖した状態で後
記のスプリット分析時と同様にキャリアガスを供給する
と、試料気化室１１内部のガス圧が高くなり過ぎる恐れ
があるため、上記目標流量はスプリット分析時よりも低
くしておくほうがよい。
２で所定の操作を行なうと、制御部３０及び演算部３１
はカラム寸法の検出処理を実行する。すなわち、制御部
３０は、電磁弁１９、２１を閉鎖すると共に流量調節器
１４に対し所定の目標流量を指示する。これにより、パ
ージ流路１５及びスプリット流路１８は閉鎖されるの
で、キャリアガス流路１３を通して試料気化室１１に流
れ込んだキャリアガスはその全量がカラム１０に送り込
まれる。このときのガス流路の状態の模式図を図２
（ａ）に示す。両電磁弁１９、２１を閉鎖した状態で後
記のスプリット分析時と同様にキャリアガスを供給する
と、試料気化室１１内部のガス圧が高くなり過ぎる恐れ
があるため、上記目標流量はスプリット分析時よりも低
くしておくほうがよい。
【００１５】演算部３１は、図２（ａ）に示すようにキ
ャリアガスの全量がカラム１０に流れている状態のとき
に、流量センサ１４２の検出値Ｆ1及び圧力センサ１７
の検出値Ｐ1を得て、次式(3)に基づきカラム１０の内径
ｄc及び長さＬcに応じた値を計算する。 ｄc4／Ｌc＝（２５６μ／６０π） ・｛Ｐ0・Ｆ1／〔（Ｐ1＋Ｐ0）2−Ｐ02〕｝×１０-3 …(3) ここで、Ｐ0はカラム１０の出口側の圧力であり、カラ
ム１０出口に設けられた検出器２０の出口は大気に開放
されているのでＰ0は大気圧と看做すことができる。演
算部３１は、算出した上記ｄc4／Ｌcの値をメモリ３１
１に記憶しておく。
ャリアガスの全量がカラム１０に流れている状態のとき
に、流量センサ１４２の検出値Ｆ1及び圧力センサ１７
の検出値Ｐ1を得て、次式(3)に基づきカラム１０の内径
ｄc及び長さＬcに応じた値を計算する。 ｄc4／Ｌc＝（２５６μ／６０π） ・｛Ｐ0・Ｆ1／〔（Ｐ1＋Ｐ0）2−Ｐ02〕｝×１０-3 …(3) ここで、Ｐ0はカラム１０の出口側の圧力であり、カラ
ム１０出口に設けられた検出器２０の出口は大気に開放
されているのでＰ0は大気圧と看做すことができる。演
算部３１は、算出した上記ｄc4／Ｌcの値をメモリ３１
１に記憶しておく。
【００１６】次に、実際のスプリット分析の際には、制
御部３０は電磁弁２１を開放し、パージ流路１５を通し
てセプタム１２から発生する不所望のガスを排出させ
る。また、入力部３２に入力設定されたスプリット比等
の分析条件に従って、電磁弁１９の開度を適正に制御す
る。このときのガス流路の状態の模式図を図２（ｂ）に
示す。演算部３１は、圧力センサ１７の検出値Ｐ2を受
け、メモリ３１１に記憶しているｄc4／Ｌcの値とガス
の粘性係数μとを用いて、次式(4)に基づきカラム１０
に流れるガス流量Ｆ2を算出する。 Ｆ2＝（６０π／２５６μ）・（ｄc4／Ｌc） ・｛〔（Ｐ2＋Ｐ0）2−Ｐ02〕／Ｐ0｝×１０3 …(4) そして、流量センサ１４２によりキャリアガスの総流量
Ｆ3を得て、該流量Ｆ3と上記計算により得たカラム流量
Ｆ2とにより実際のスプリット比を計算する。
御部３０は電磁弁２１を開放し、パージ流路１５を通し
てセプタム１２から発生する不所望のガスを排出させ
る。また、入力部３２に入力設定されたスプリット比等
の分析条件に従って、電磁弁１９の開度を適正に制御す
る。このときのガス流路の状態の模式図を図２（ｂ）に
示す。演算部３１は、圧力センサ１７の検出値Ｐ2を受
け、メモリ３１１に記憶しているｄc4／Ｌcの値とガス
の粘性係数μとを用いて、次式(4)に基づきカラム１０
に流れるガス流量Ｆ2を算出する。 Ｆ2＝（６０π／２５６μ）・（ｄc4／Ｌc） ・｛〔（Ｐ2＋Ｐ0）2−Ｐ02〕／Ｐ0｝×１０3 …(4) そして、流量センサ１４２によりキャリアガスの総流量
Ｆ3を得て、該流量Ｆ3と上記計算により得たカラム流量
Ｆ2とにより実際のスプリット比を計算する。
【００１７】なお、上記実施例において、制御部３０
は、試料気化室１１内のガス圧が所定値になるようにキ
ャリアガス流路に設けた電磁弁の開閉を直接制御する構
成とすることもできる。
は、試料気化室１１内のガス圧が所定値になるようにキ
ャリアガス流路に設けた電磁弁の開閉を直接制御する構
成とすることもできる。
【００１８】また、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨に沿って適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
の趣旨に沿って適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
【図１】 本発明のガスクロマトグラフ装置の一実施例
の構成図。
の構成図。
【図２】 図１のガスクロマトグラフ装置における簡略
的なガス流路の模式図。
的なガス流路の模式図。
【図３】 従来のガスクロマトグラフ装置の構成図。
１０…カラム １１…試料気化
室 １３…キャリアガス流路 １４…流量調節
器 １４１、１９、２１…電磁弁 １４２…流量セ
ンサ １５…パージ流路 １７…圧力セン
サ １８…スプリット流路 ３０…制御部 ３１…演算部 ３１１…メモリ ３２…入力部
室 １３…キャリアガス流路 １４…流量調節
器 １４１、１９、２１…電磁弁 １４２…流量セ
ンサ １５…パージ流路 １７…圧力セン
サ １８…スプリット流路 ３０…制御部 ３１…演算部 ３１１…メモリ ３２…入力部
Claims (1)
- 【請求項１】 カラム入口に設けた試料気化室にキャリ
アガス流路、パージ流路及びスプリット流路を接続し、
該スプリット流路を通して試料気化室内のガスの一部を
排出しながらクロマトグラフ分析を行なうガスクロマト
グラフ装置において、 a)キャリアガス流路のガス流量を検出する流量検出手段
と、 b)試料気化室内のガス圧を検出する圧力検出手段と、 c)パージ流路に設けた第一の弁と、 d)スプリット流路に設けた第二の弁と、 e)分析に先立って、キャリアガス流路から供給されたキ
ャリアガスの全量をカラムに導入するべく前記第一及び
第二の弁を閉鎖する制御手段と、 f)前記第一及び第二の弁を閉鎖した状態で前記流量検出
手段及び圧力検出手段にて検出したガス流量及びガス圧
と、予め設定されたキャリアガスの粘性係数とを用い
て、カラム寸法に対応した指標値を算出して記憶手段に
記憶させておく第一の演算手段と、 g)分析時に、前記圧力検出手段にて検出したガス圧と、
前記粘性係数と、前記記憶手段に記憶されているカラム
寸法に対応した指標値とに基づいてカラムに流れるガス
流量を計算する第二の演算手段と、 を備えることを特徴とするガスクロマトグラフ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15039197A JPH10325834A (ja) | 1997-05-22 | 1997-05-22 | ガスクロマトグラフ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15039197A JPH10325834A (ja) | 1997-05-22 | 1997-05-22 | ガスクロマトグラフ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10325834A true JPH10325834A (ja) | 1998-12-08 |
Family
ID=15495975
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15039197A Pending JPH10325834A (ja) | 1997-05-22 | 1997-05-22 | ガスクロマトグラフ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10325834A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014215195A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ |
| EP3367091A1 (en) * | 2017-02-22 | 2018-08-29 | Shimadzu Corporation | Gas chromatograph |
-
1997
- 1997-05-22 JP JP15039197A patent/JPH10325834A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014215195A (ja) * | 2013-04-26 | 2014-11-17 | 株式会社島津製作所 | ガスクロマトグラフ |
| EP3367091A1 (en) * | 2017-02-22 | 2018-08-29 | Shimadzu Corporation | Gas chromatograph |
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