JPH10321367A - Evaluating device and evaluating method of organic el display - Google Patents

Evaluating device and evaluating method of organic el display

Info

Publication number
JPH10321367A
JPH10321367A JP9150106A JP15010697A JPH10321367A JP H10321367 A JPH10321367 A JP H10321367A JP 9150106 A JP9150106 A JP 9150106A JP 15010697 A JP15010697 A JP 15010697A JP H10321367 A JPH10321367 A JP H10321367A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
organic
display
electrodes
voltage
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9150106A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Mitsunari Suzuki
満成 鈴木
Takashi Tanaka
俊 田中
Yoshihiro Saito
義広 斎藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by TDK Corp filed Critical TDK Corp
Priority to JP9150106A priority Critical patent/JPH10321367A/en
Publication of JPH10321367A publication Critical patent/JPH10321367A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an organic EL display evaluating device by which manufacturing time can be shortened and a yield can be improved by applying an inspection voltage generated by a voltage generating means of an organic EL display between two scanning electrodes or data electrodes, and judging the quality from a value of an electric current flowing between the voltage generating means and the organic EL display. SOLUTION: Data electrodes 24 and scanning electrodes 23 sandwich an organic layer between them, and are arranged in a plurality so as to cross each other, and form a matrix. When an electric current is flowed by applying a prescribed voltage between optional electrodes of X, Y coordinates imparted by the data electrodes 24 and the scanning electrodes 23, a specific organic layer emits the light, and constitutes a single picture element. An optional picture element is made to selectively emit the light, and an image is constituted. Inspection voltage of a voltage generating means 3 is particularly desirable to be 0.1 to 2.5 V. An electric current detecting means detects an electric current flowing to an organic EL element, and converts it into a signal, and sends it to a judging means 5, and feeds it back by a display, a voice or the like when it is not proper.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はオーディオ等で使わ
れる情報表示パネル、自動車用の計器パネル、動画・静
止画を表示させるディスプレイ等、家電製品、自動車、
二輪車電装品に使用され、有機化合物を用いて構成され
た有機ELディスプレイの評価方法および評価装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to home appliances, automobiles, information display panels used for audio and the like, instrument panels for automobiles, displays for displaying moving images and still images, and the like.
The present invention relates to an evaluation method and an evaluation device for an organic EL display which is used for a motorcycle electric component and is configured using an organic compound.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、有機EL素子が盛んに研究され、
実用化されつつある。これは、錫ドープ酸化インジウム
(ITO)などの透明電極(ホール注入電極)上にトリ
フェニルジアミン(TPD)などのホール輸送材料を蒸
着により薄膜とし、さらにアルミキノリノール錯体(A
lq3 )などの蛍光物質を発光層として積層し、さらに
Mgなどの仕事関数の小さな金属電極(電子注入電極)
を形成した基本構成を有する素子で、10V 前後の電圧
で数100から数10000cd/m2ときわめて高い輝度
が得られることで、家電製品、自動車、二輪車電装品等
のディスプレイとして注目されている。
2. Description of the Related Art In recent years, organic EL devices have been actively studied,
It is being put to practical use. In this method, a hole transport material such as triphenyldiamine (TPD) is formed into a thin film on a transparent electrode (hole injection electrode) such as tin-doped indium oxide (ITO) by vapor deposition, and then an aluminum quinolinol complex (A
1q3) as a light emitting layer, and a metal electrode such as Mg having a small work function (electron injection electrode)
This element has a basic structure and has a very high luminance of several hundreds to several tens of thousands cd / m 2 at a voltage of about 10 V, and thus has attracted attention as a display for home electric appliances, automobiles, motorcycle electric components and the like.

【0003】このような有機EL素子を用いたディスプ
レイとして、例えば図4に示すような構成の有機ELデ
ィスプレイが知られている。図において、有機ELディ
スプレイ1は、図示しない有機層(発光層等)が、通常
陰電極となる走査(コモンライン)電極23と、通常陽
極(透明電極)となるデータ(セグメントライン)電極
24とで挟まれ、かつ透明(ガラス)基板21,22間
に配置されている。走査電極23とデータ電極24間に
電位差を与えると、有機層に電界が発生し、この電界に
より加速された電子により電子・ホール対が発生し、ま
たは発光中心の電子が励起され、その電子・ホール対の
消失や、励起状態から定常状態に復するときに発光する
ものである。
As a display using such an organic EL element, for example, an organic EL display having a configuration as shown in FIG. 4 is known. In the figure, an organic EL display 1 has a scanning (common line) electrode 23 in which an organic layer (light emitting layer or the like) (not shown) usually serves as a negative electrode, and a data (segment line) electrode 24 usually serving as an anode (transparent electrode). And are disposed between the transparent (glass) substrates 21 and 22. When a potential difference is applied between the scanning electrode 23 and the data electrode 24, an electric field is generated in the organic layer, and electrons accelerated by the electric field generate electron-hole pairs, or electrons at the emission center are excited, and the electrons and electrons are excited. It emits light when the hole pair disappears or when returning from the excited state to the steady state.

【0004】このような有機ELディスプレイを製造す
る場合、製造工程において有機層が不均一に積層された
り、陰電極等の機能性薄膜を積層する際に有機層にダメ
ージを与えたり、逆に陰電極自体に不純物が混入した
り、酸化したりして、いわゆる輝度ムラ、ドット欠陥等
の不良や品質のバラツキを生じる場合がある。また、良
品として市場に供給された後でも、経年変化により、有
機層や電極、あるいはこれらの界面が劣化し、輝度の低
下を生じたりする。
When such an organic EL display is manufactured, an organic layer is unevenly stacked in a manufacturing process, an organic layer is damaged when a functional thin film such as a negative electrode is stacked, or the organic layer is adversely affected. The electrodes themselves may be mixed with impurities or oxidized, which may cause defects such as so-called luminance unevenness and dot defects and variations in quality. Even after being supplied to the market as a non-defective product, the organic layer, the electrode, or their interface is deteriorated due to aging, and the luminance is reduced.

【0005】有機EL素子は陽極から陰極へ順方向に電
流が流れる際に発光し、逆方向へは電流が流れにくい、
いわゆるダイオード特性を有しているが、単純マトリク
ス型においては、このダイオード特性が極めて重要であ
る。すなわち、逆方向への電流(リーク電流)がある
と、クロストロークや、輝度ムラ等の表示品質の低下を
招き、さらには不要な素子の発熱などの発光に寄与しな
いエネルギー消費が起こり、発光効率が低下する。
The organic EL element emits light when current flows from the anode to the cathode in the forward direction, and the current hardly flows in the reverse direction.
Although it has a so-called diode characteristic, in a simple matrix type, this diode characteristic is extremely important. That is, when there is a current (leakage current) in the reverse direction, display quality such as cross-stroke and uneven brightness is deteriorated, and energy consumption that does not contribute to light emission such as unnecessary heat generation of the element occurs. Decrease.

【0006】従来、有機ELディスプレイの評価ないし
検査方法として、製造ラインにおいては、有機ELディ
スプレイに駆動装置等の周辺部品等を組み付けた後、こ
れを実際に駆動させ、輝度ムラ、ドット欠陥等は画像測
定器等を用い、それぞれラインや測定項目毎に別個の測
定器でそれぞれの測定を行っていた。このため、装置の
誤差やそれを使用する作業者の個人差等により、測定基
準にバラツキが生じたり、測定に時間がかかったりし
て、測定精度を高くしたり、評価効率を高める上での障
害となっていた。また、測定項目が増えればそのための
新しい装置も必要であった。一方、精度良く輝度ムラ等
を発見しようとした場合、人間の目で判定する方法も有
るが、これも担当者の習熟度、体調に結果が左右されや
すく、判定結果にバラツキがあった。
Conventionally, as a method of evaluating or inspecting an organic EL display, in a production line, after assembling peripheral parts such as a driving device to the organic EL display, the parts are actually driven, and luminance unevenness, dot defects, etc. are reduced. Each measurement was performed by a separate measuring device for each line and each measurement item using an image measuring device or the like. For this reason, due to errors in the device and individual differences among workers who use the device, the measurement standards may vary, and the measurement may take time, thereby increasing the measurement accuracy and improving the evaluation efficiency. Was an obstacle. In addition, if the number of measurement items increases, a new device for that is required. On the other hand, when trying to find luminance unevenness or the like with high accuracy, there is also a method of making a determination with human eyes, but this also tends to be affected by the proficiency and physical condition of the person in charge, and the determination results have been uneven.

【0007】また、有機ELディスプレイを評価ないし
検査するためには、製造工程の最終段階近くまで周辺部
品等を組み付け、これを実際に動作させ、発光させるこ
とにより評価していたため、不良品だと評価された場合
には組み付けられた部品やそのための製造時間を無駄に
してしまう。また、評価方法が発光した光によるため、
有機ELディスプレイ内部のどの部分で不良が発生して
いるかを判断することが困難であり、せっかく製造ライ
ンで有機ELディスプレイの評価を行っていても、その
評価結果だけでは不良品の発生を防止するためのフィー
ドバックを行うことが困難であった。
Further, in order to evaluate or inspect an organic EL display, peripheral components and the like are assembled to near the final stage of the manufacturing process, and the components are evaluated by actually operating and emitting light. If evaluated, the assembled parts and the manufacturing time for them are wasted. Also, since the evaluation method is based on the emitted light,
It is difficult to determine which part of the organic EL display has a defect, and even if the organic EL display is evaluated on a production line, the occurrence of a defective product is prevented only by the evaluation result. It was difficult to give feedback for

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、評価
効率が高く、客観的な評価が可能で、評価結果を製造ラ
インにフィードバック可能で、しかも評価時間すなわち
製造時間の短縮や歩留まりの向上が可能な有機ELディ
スプレイの評価装置および評価方法を提供することであ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide high evaluation efficiency, objective evaluation, feedback of evaluation results to a manufacturing line, and reduction of evaluation time, ie, manufacturing time, and improvement of yield. It is an object of the present invention to provide an evaluation device and an evaluation method for an organic EL display capable of performing the following.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前述のように、有機EL
素子は陽極から陰極へ順方向に電流が流れる際に発光
し、逆方向へは電流が流れにくい。単純マトリクス型に
おいては、このダイオード特性が極めて重要であり、逆
方向への電流(リーク電流)があると、クロストローク
や、輝度ムラ等の表示品質の低下を招く。すなわち、例
えば図3に示すように、リーク電流と発光輝度には相関
関係があり、リーク電流が多い程輝度の低下、つまり輝
度の変化が大きい。従って、ある臨界的な輝度に対応す
るリーク電流を求め、その電流以上のリーク電流が生じ
た場合には不良であると判断することで、容易かつ客観
的に輝度ムラやドット欠落等を検出することができる。
As described above, the organic EL device
The device emits light when current flows from the anode to the cathode in the forward direction, and hardly flows in the reverse direction. In a simple matrix type, this diode characteristic is extremely important, and if there is a current in the reverse direction (leakage current), display quality such as cross stroke and uneven brightness is reduced. That is, as shown in FIG. 3, for example, there is a correlation between the leak current and the light emission luminance. Therefore, a leakage current corresponding to a certain critical luminance is obtained, and if a leakage current higher than that current is determined, it is determined to be defective, thereby easily and objectively detecting luminance unevenness and missing dots. be able to.

【0010】この場合、走査電極、あるいはデータ電極
の任意の電極間に発光しない程度の電圧を印加すると、
一方の電極側は順方向でも他方の電極側は逆方向となる
ため電流は流れない。しかし、逆方向の電極側に不良箇
所があるとリーク電流が流れ、その電極の位置に不良個
所があることがわかる。なお、不良個所はその電極のラ
イン上にあることがわかれば十分であるが、さらに位置
を特定する場合には、走査電極で検査した場合にはデー
タ電極に変えて検査し、その逆であれば走査電極で再度
検査すればよい。
In this case, when a voltage that does not emit light is applied between any of the scanning electrodes or any of the data electrodes,
No current flows because one electrode side is in the forward direction and the other electrode side is in the reverse direction. However, if there is a defective portion on the electrode side in the opposite direction, a leak current flows, and it is found that there is a defective portion at the position of the electrode. It is sufficient to know that the defective part is located on the line of the electrode, but when specifying the position further, when the inspection is performed with the scanning electrode, the inspection is performed by changing to the data electrode, and vice versa. For example, the inspection may be performed again using the scanning electrode.

【0011】すなわち、上記目的は以下の本発明により
達成される。 (1) 2つ以上のデータ電極と、このデータ電極と交
差する方向に配置された2つ以上の走査電極と、両電極
間に存在する有機EL層とを有し、前記データ電極と、
有機EL層と、走査電極の間に少なくとも1つの回路を
形成する有機ELディスプレイと、前記有機ELディス
プレイの検査電圧を発生する電圧発生手段と、この電圧
発生手段により発生した検査電圧を前記有機ELディス
プレイの少なくとも2つの走査電極またはデータ電極間
に印加する接続手段と、前記電圧発生手段と有機ELデ
ィスプレイ間に流れる電流を検出する電流検出手段と、
この電流検出手段により検出された電流値により前記有
機ELディスプレイの良否を判断する判断手段とを有す
る有機ELディスプレイの評価装置。 (2) 前記検査電圧は有機ELディスプレイの発光電
圧未満である上記(1)の有機ELディスプレイの評価
装置。 (3) 前記検査電圧は0.1〜2.5V である上記
(1)または(2)の有機ELディスプレイの評価装
置。 (4) 2つ以上のデータ電極と、このデータ電極と交
差する方向に配置された2つ以上の走査電極と、両電極
間に存在する有機EL層とを有し、前記データ電極と、
有機EL層と、走査電極の間に少なくとも1つの回路を
形成する有機ELディスプレイの、少なくとも2つの前
記データ電極または走査電極間に前記有機ELディスプ
レイの発光電圧未満の検査電圧を印加し、この検査電圧
により前記電極間に流れる電流を検出し、検出された電
流値から有機ELディスプレイを評価する有機ELディ
スプレイの評価方法。
That is, the above object is achieved by the present invention described below. (1) Two or more data electrodes, two or more scan electrodes arranged in a direction intersecting with the data electrodes, and an organic EL layer existing between the two electrodes;
An organic EL layer, an organic EL display forming at least one circuit between the scanning electrodes, voltage generating means for generating a test voltage for the organic EL display, and a test voltage generated by the voltage generating means for the organic EL display. Connecting means for applying between at least two scanning electrodes or data electrodes of the display; current detecting means for detecting a current flowing between the voltage generating means and the organic EL display;
An evaluation device for an organic EL display, comprising: a judging unit for judging the quality of the organic EL display based on the current value detected by the current detecting unit. (2) The apparatus for evaluating an organic EL display according to the above (1), wherein the inspection voltage is lower than a light emission voltage of the organic EL display. (3) The apparatus for evaluating an organic EL display according to (1) or (2), wherein the inspection voltage is 0.1 to 2.5 V. (4) two or more data electrodes, two or more scan electrodes arranged in a direction intersecting the data electrodes, and an organic EL layer existing between the two electrodes;
Applying a test voltage lower than the light emission voltage of the organic EL display between at least two of the data electrodes or scan electrodes of the organic EL display forming at least one circuit between the organic EL layer and the scan electrodes, A method for evaluating an organic EL display, comprising detecting a current flowing between the electrodes based on a voltage, and evaluating the organic EL display from the detected current value.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】本発明の有機ELディスプレイの
評価装置は、2つ以上のデータ電極と、このデータ電極
と交差する方向に配置された2つ以上の走査電極と、両
電極間に存在する有機EL層とを有し、前記データ電極
と、有機EL層と、走査電極の間に少なくとも1つの回
路を形成する有機ELディスプレイと、前記有機ELデ
ィスプレイの検査電圧を発生する電圧発生手段と、この
電圧発生手段により発生した検査電圧を前記有機ELデ
ィスプレイの少なくとも2つの走査電極またはデータ電
極間に印加する接続手段と、前記電圧発生手段と有機E
Lディスプレイ間に流れる電流を検出する電流検出手段
と、この電流検出手段により検出された電流値により前
記有機ELディスプレイの良否を判断する判断手段とを
有する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The evaluation apparatus for an organic EL display of the present invention has two or more data electrodes, two or more scan electrodes arranged in a direction intersecting the data electrodes, and an electrode between the two electrodes. An organic EL display having at least one circuit formed between the data electrode, the organic EL layer, and the scan electrode; and a voltage generating means for generating a test voltage for the organic EL display. Connecting means for applying an inspection voltage generated by the voltage generating means between at least two scan electrodes or data electrodes of the organic EL display;
It has a current detecting means for detecting a current flowing between the L displays, and a judging means for judging pass / fail of the organic EL display based on a current value detected by the current detecting means.

【0013】本発明に用いられる有機ELディスプレイ
1は、例えば図1,4に示すように、2つ以上、つまり
複数の走査電極23と、この走査電極と交差する方向に
複数のデータ電極24とを有し、この二つの電極間に挟
み込むように発光層等の有機層を有するマトリクスタイ
プのディスプレイである。データ電極24は、通常電流
注入側の電極(陽極)として機能し、走査電極23は通
常電流排出側の電極(陰極)として機能する。これらデ
ータ電極24および走査電極23は、間に有機層を挟み
互いに交差して複数本設けられ、マトリクスを形成して
いる。従って、データ電極24と走査電極23で与えら
れるX、Y座標の任意の電極間に所定の電圧を印加し、
電流を流すことにより特定のデータ電極24と走査電極
23に挟まれた有機層が発光し、1つの画素を構成する
こととなる(以下特に断りのない場合、この明細書では
ディスプレイ内の1つの画素を構成する部分を有機EL
素子という)。このようにして、任意の位置の画素を選
択的に発光させることにより、画面上に任意の画像を構
成することができる。なお、有機ELディスプレイへの
画像表示方法は、従来公知のドットマトリクスタイプの
ディスプレイの駆動方法に準じたものであり、その詳細
については説明を省略する。
The organic EL display 1 used in the present invention has two or more, ie, a plurality of scanning electrodes 23, and a plurality of data electrodes 24 in a direction crossing the scanning electrodes, as shown in FIGS. And a matrix type display having an organic layer such as a light emitting layer sandwiched between the two electrodes. The data electrode 24 normally functions as an electrode (anode) on the current injection side, and the scan electrode 23 functions as an electrode (cathode) on the normal current discharge side. A plurality of data electrodes 24 and scanning electrodes 23 are provided so as to intersect with each other with an organic layer interposed therebetween to form a matrix. Therefore, a predetermined voltage is applied between any electrodes of the X and Y coordinates given by the data electrode 24 and the scanning electrode 23,
When an electric current is passed, the organic layer sandwiched between the specific data electrode 24 and the scanning electrode 23 emits light, and constitutes one pixel (hereinafter, unless otherwise specified, one pixel in the display is used in this specification). Organic EL is used to constitute the pixel
Element). In this manner, an arbitrary image can be formed on a screen by selectively causing pixels at an arbitrary position to emit light. The method of displaying an image on an organic EL display is based on a conventionally known method of driving a dot matrix type display, and a detailed description thereof will be omitted.

【0014】電圧発生手段3は、有機ELディスプレイ
1を検査するために必要な検査電圧を発生する。この検
査電圧は、有機ELディスプレイを破壊しない電圧以下
であればよいが、好ましくは、発光しないときの評価が
可能であり、より安全性が高いことから、発光電圧(発
光するために必要な最低の電圧)より低い電圧であっ
て、有機ELディスプレイ1の評価に必要な電流を流す
ことのできる電圧が好ましい。有機EL素子の発光電圧
としては、使用する有機物質や電極材料等により異なる
が、通常2.6V 程度である。従って、検査電圧として
は、特に好ましくは0.1〜2.5V 、より好ましくは
0.5〜2.5V 、さらに0.8〜1.5V 程度が好ま
しい。このような電圧発生手段3としては、所望の電圧
を安定して供給しうるものであればよく、例えばトラン
ジスタやFET等の半導体素子を用いた定電圧回路や、
電池、レギュレータIC等を用いることで容易に得るこ
とができる。
The voltage generating means 3 generates a test voltage necessary for testing the organic EL display 1. The inspection voltage may be equal to or lower than a voltage that does not destroy the organic EL display. However, it is preferable that the evaluation can be performed when no light is emitted, and the safety voltage is higher. The voltage which is lower than the above voltage and which allows a current required for evaluating the organic EL display 1 to flow is preferable. The light emission voltage of the organic EL element varies depending on the organic substance and electrode material used, but is usually about 2.6 V. Accordingly, the inspection voltage is particularly preferably about 0.1 to 2.5 V, more preferably about 0.5 to 2.5 V, and further preferably about 0.8 to 1.5 V. As such a voltage generating means 3, any means capable of stably supplying a desired voltage may be used. For example, a constant voltage circuit using a semiconductor element such as a transistor or an FET,
It can be easily obtained by using a battery, a regulator IC or the like.

【0015】接続手段2は、電圧発生手段3により発生
した検査電圧を、有機ELディスプレイの少なくとも2
つの走査電極23またはデータ電極24間に印加する。
すなわち、例えば図1に示すように、有機EL素子1の
任意の走査電極23(データ電極24)を2本選択し、
この2つの走査電極23(データ電極24)間に前記検
査電圧が印加されるように電圧発生手段を接続する。接
続される電極は、走査電極23であってもデータ電極2
4であってもよく、同一種類の任意の1組が選択され
る。この1組の電極は、間に同一種類の電極が存在する
ような離れたものでも、片側もしくは両側を複数本選択
したものでもよいが、通常隣接した1組が選択され、好
ましくは、検査の内容にもよるが、同一種類内で全ての
電極間に順次通電されるように接続される。このような
接続手段として、例えば、スイッチやロータリースイッ
チ等の有接点スイッチや、トランジスタ、FET等の半
導体を用いたスイッチング素子あるいはこれを集積化し
たもの等の他、搬送されてきた有機ELディスプレイの
接点に接触するコンタクトや、作業者により接続される
際用いられるプローブ等も含まれる。中でも、半導体を
用いたスイッチング素子は、接続する電極をマイクロ秒
以下のオーダーで高速に切り換えることができ、検査の
高速化を図る上で好ましい。
The connection means 2 connects the test voltage generated by the voltage generation means 3 to at least two of the organic EL displays.
The voltage is applied between two scan electrodes 23 or data electrodes 24.
That is, as shown in FIG. 1, for example, two arbitrary scanning electrodes 23 (data electrodes 24) of the organic EL element 1 are selected,
Voltage generating means is connected between the two scanning electrodes 23 (data electrodes 24) so that the inspection voltage is applied. The electrodes to be connected are the scanning electrodes 23 and the data electrodes 2.
4, and an arbitrary set of the same type is selected. This set of electrodes may be separated such that electrodes of the same type are present between them, or may be a selection of a plurality of electrodes on one side or both sides. Depending on the contents, they are connected so as to be sequentially energized between all the electrodes within the same type. Such connection means include, for example, contact switches such as switches and rotary switches, transistors and switching elements using semiconductors such as FETs, or integrated ones of these. It also includes a contact that contacts the contact, a probe used when connected by an operator, and the like. Among them, a switching element using a semiconductor can switch an electrode to be connected at high speed on the order of microseconds or less, which is preferable in terms of speeding up inspection.

【0016】電流検出手段4は、検査電圧が印加された
ことにより有機ELディスプレイの電極間、つまり有機
EL素子に流れる電流を検出する。検出された電流は所
定の信号に変換され、判断手段5に送られる。有機EL
素子は前述のように、陽極から陰極へ順方向に電流が流
れる際に発光し、逆方向へは電流が流れにくい、いわゆ
るダイオード特性を有している。このため、通常は2つ
の電極間に検査電圧を加えても、流れる電流はゼロない
し極僅かな値である。しかし、クロストロークや、輝度
ムラ等を生じるような不良個所があると、測定条件等に
もよるが数μ〜数10μA 程度、逆方向への電流(リー
ク電流)が流れ、電流検出手段により検出される。電流
検出手段は、数μ〜数10μA 程度の電流を検出しうる
もので有ればよく、直接電流を検出する方法の他、抵抗
その他のインピーダンス素子により生じた電圧を検出し
てもよい。また、電流により生じた磁場をホール素子、
MR素子等により検出するものでもよい。
The current detecting means 4 detects a current flowing between the electrodes of the organic EL display, that is, a current flowing through the organic EL element when the inspection voltage is applied. The detected current is converted into a predetermined signal and sent to the determination means 5. Organic EL
As described above, the element emits light when a current flows from the anode to the cathode in the forward direction, and has a so-called diode characteristic in which the current hardly flows in the reverse direction. For this reason, usually, even if an inspection voltage is applied between two electrodes, the flowing current is zero or a very small value. However, if there is a defective portion that causes a cross stroke or uneven brightness, a current (leakage current) of about several μ to several tens μA flows in the opposite direction depending on the measurement conditions, and is detected by the current detection means. Is done. The current detecting means only needs to be capable of detecting a current of about several μA to several tens μA, and may detect a voltage generated by a resistor or other impedance element in addition to a method of directly detecting a current. In addition, the magnetic field generated by the current is a Hall element,
It may be detected by an MR element or the like.

【0017】判断手段5は、検出された電流値が適切な
範囲か否かを判断し、そうでない場合には表示手段、音
声送出手段等を用いて不良個所がある旨の通知を行う。
この場合、評価レベルは、単に正常値からはずれたもの
であるだけの判断と、検出電流値を何段階かに分け、そ
れぞれの電流値に対応した不良状態を判断し、通知して
もよい。このようにすれば、製造段階のどの場所で生じ
た不良かが判別でき、その製造段階で不良が生じないよ
うな対策を行うなどのフィードバックを行うこともでき
る。判断手段5は、単にあるしきい値レベルに対して検
出電流レベルの高低を判断するだけの場合であれば、コ
ンパレータ、フリップフロップ、ゲート回路の組み合わ
せ等により構成することができ、さらに数段階に分けて
判断したり、得られたデータを解析させる場合にはプロ
セッサを用いてもよい。その場合には、電流検出手段4
を複数設けたり、A/D変換を行ってもよい。プロセッ
サは、専用のものを用いても、ディスプレイ制御用のも
の等と兼用してもよい。
The judging means 5 judges whether or not the detected current value is in an appropriate range, and if not, notifies the presence of a defective portion by using a display means, a voice transmitting means, or the like.
In this case, the evaluation level may be determined to simply deviate from the normal value, or the detected current value may be divided into several stages to determine and notify a defective state corresponding to each current value. In this way, it is possible to determine where in the manufacturing stage a defect has occurred, and it is also possible to provide feedback such as taking measures to prevent a defect from occurring in the manufacturing stage. The determination means 5 can be composed of a combination of a comparator, a flip-flop, a gate circuit, and the like if it is only for determining the level of the detected current level with respect to a certain threshold level. A processor may be used for separate determination and analysis of the obtained data. In that case, the current detecting means 4
May be provided, or A / D conversion may be performed. The processor may be a dedicated processor or may be used as a processor for controlling the display.

【0018】複数段階に分けて判断する場合としては、
例えば、データ線間のリーク、データ線−走査線間のリ
ーク、走査線間のリーク、有機層そのものの不良、ある
いは有機層が劣化して不具合を生じる直前状態等の判断
を行うことが可能である。これらの判断は、不具合の生
じたラインやその不具合内容とリーク電流値との相関関
係を示すデータや、ある不具合が生じた(生じそうな)
ラインと他のラインとの関係等を解析し、これらのデー
タをもとに、電流検出手段により得られたデータをプロ
セッサを用いて高速に処理することにより判断すること
ができる。
In the case where the judgment is made in a plurality of stages,
For example, it is possible to determine a leak between data lines, a leak between a data line and a scan line, a leak between scan lines, a defect in an organic layer itself, or a state immediately before a failure occurs due to deterioration of an organic layer. is there. These determinations are based on data indicating the correlation between the line in which the defect has occurred, the content of the defect, and the leakage current value, or the occurrence of a certain defect (probable).
It is possible to determine the relationship between the line and other lines by analyzing the data and processing the data obtained by the current detecting means at high speed using a processor based on these data.

【0019】表示手段としては、例えばLEDディスプ
レイ、液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、有機
ELディスプレイ等やCRTでもよく、単に不良を通知
するだけの場合には単独の電球やLED等でもよい。音
声送出手段としては音声合成IC、メロディーIC、ミ
ュージックプロセッサ等とスピーカとの組み合わせや、
圧電ブザー等を用いることができる。これらは、使用す
る製造ラインや必要とする判断内容等により適宜選択す
ればよい。
The display means may be, for example, an LED display, a liquid crystal display, a plasma display, an organic EL display, or a CRT, or may be a single light bulb, an LED, or the like if only a defect is to be notified. As a voice transmission means, a combination of a voice synthesis IC, a melody IC, a music processor, etc. and a speaker,
A piezoelectric buzzer or the like can be used. These may be appropriately selected depending on the production line to be used, the necessary judgment contents, and the like.

【0020】以上、主に製造段階での評価装置について
説明したが、有機ELディスプレイの駆動中、あるいは
駆動後に本発明の装置を適用することも可能である。す
なわち、経時変化によりディスプレイに不良個所が生じ
た場合にはこれを検出し、そのような不良があること
や、その不良個所をそのディスプレイ自体に表示した
り、アラーム音を発生したりして使用者に知らせること
も可能である。
Although the evaluation apparatus has mainly been described above in the manufacturing stage, the apparatus of the present invention can be applied during or after driving the organic EL display. In other words, if a defect has occurred on the display due to aging, this is detected, and the presence of such a defect, the defect is displayed on the display itself, or an alarm sound is generated. It is also possible to inform the person.

【0021】その際、例えば有機ELディスプレイ駆動
用の電源と、検査電圧を発生する電源とを用意し、駆動
の前後や休止時に素子駆動用電源から検査電圧の電源に
切り換え、かつスイッチング素子を用いた接続手段を高
速に動作させ、ディスプレイ内の有機EL素子を高速に
検査することも可能である。このような、ディスプレイ
使用前後の検査により、早期に不良個所の発見ができ、
表示内容に特に重要な意味を有する自動車、列車、飛行
機等のメータ類に使用した場合にも、高い信頼性を有す
ることができる。
At this time, for example, a power supply for driving the organic EL display and a power supply for generating a test voltage are prepared, and before and after driving or at rest, the power supply for driving the element is switched to a power supply for the test voltage, and the switching element is used. It is also possible to operate the connecting means at high speed and inspect the organic EL element in the display at high speed. Such inspections before and after using the display enable early detection of defective parts,
High reliability can be obtained even when used for meters, such as automobiles, trains, and airplanes, which have a particularly important meaning in the display contents.

【0022】次に、本発明に使用される有機ELディス
プレイの有機層について説明する。
Next, the organic layer of the organic EL display used in the present invention will be described.

【0023】本発明に使用される有機ELディスプレイ
は、図4に示すように、一方の基板上22に、ホール注
入電極(陽極)24、ホール注入・輸送層、発光および
電子注入輸送層、電子注入電極(陰極)23、必要によ
り保護層が積層され、これを反転して他方の基板21と
の間に有機層を挟み込んだ構成を有する。
As shown in FIG. 4, the organic EL display used in the present invention has a hole injection electrode (anode) 24, a hole injection / transport layer, a light emission and electron injection / transport layer, The injection electrode (cathode) 23 has a configuration in which a protective layer is laminated, if necessary, and the organic layer is interposed between the injection electrode 23 and the other substrate 21.

【0024】本発明の有機ELディスプレイは、上記の
構成例に限らず、種々の構成とすることができ、例えば
発光層を単独で設け、この発光層と電子注入電極との間
に電子注入輸送層を介在させた構造とすることもでき
る。また、必要に応じ、ホール注入・輸送層と発光層と
を混合しても良い。
The organic EL display of the present invention is not limited to the above-mentioned configuration examples, but may be of various configurations. For example, a light-emitting layer is provided alone, and electron injection and transport are performed between the light-emitting layer and the electron injection electrode. A structure in which layers are interposed can also be used. If necessary, the hole injecting / transporting layer and the light emitting layer may be mixed.

【0025】電子注入電極はスパッタ法や真空蒸着等に
より成膜し、発光層等の有機物層は真空蒸着等により、
ホール注入電極は蒸着やスパッタ等により成膜すること
ができるが、これらの膜のそれぞれは、必要に応じてマ
スク蒸着または膜形成後にエッチングなどの方法によっ
てパターニングされ、これによって、所望の発光パター
ンを得ることができる。電極成膜後に、SiOX 等の無
機材料、テフロン等の有機材料等を用いた保護膜を形成
してもよい。保護膜は透明でも不透明であってもよく、
保護膜の厚さは50〜1200nm程度とする。保護膜は
スパッタ法、蒸着法等により形成すればよい。
The electron injection electrode is formed by sputtering or vacuum evaporation, and the organic layer such as the light emitting layer is formed by vacuum evaporation or the like.
The hole injection electrode can be formed by vapor deposition, sputtering, or the like.Each of these films is patterned by a method such as etching after mask vapor deposition or film formation as necessary, thereby forming a desired light emitting pattern. Obtainable. After forming the electrode, a protective film using an inorganic material such as SiO X or an organic material such as Teflon may be formed. The protective film may be transparent or opaque,
The thickness of the protective film is about 50 to 1200 nm. The protective film may be formed by a sputtering method, an evaporation method, or the like.

【0026】さらに、素子の有機層や電極の酸化を防ぐ
ために素子上に封止層を形成することが好ましい。封止
層は、湿気の侵入を防ぐために市販の低吸湿性の光硬化
性接着剤、エポキシ系接着剤、シリコーン系接着剤、架
橋エチレン−酢酸ビニル共重合体接着剤シート等の接着
性樹脂層を用いて、ガラス板等の封止板を接着し密封す
る。ガラス板以外にも金属板、プラスチック板等を用い
ることもできる。
Furthermore, it is preferable to form a sealing layer on the device in order to prevent oxidation of the organic layers and electrodes of the device. The sealing layer is made of an adhesive resin layer such as a commercially available low-moisture-absorbing light-curing adhesive, an epoxy-based adhesive, a silicone-based adhesive, and a cross-linked ethylene-vinyl acetate copolymer adhesive sheet to prevent moisture from entering. Is used to adhere and seal a sealing plate such as a glass plate. Besides a glass plate, a metal plate, a plastic plate or the like can be used.

【0027】発光層は、ホール(正孔)および電子の注
入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再結合によ
り励起子を生成させる機能を有する。発光層には比較的
電子的にニュートラルな化合物を用いることが好まし
い。
The light emitting layer has a function of injecting holes (holes) and electrons, a function of transporting them, and a function of generating excitons by recombination of holes and electrons. It is preferable to use a relatively electronically neutral compound for the light emitting layer.

【0028】ホール注入輸送層は、陽電極からのホール
の注入を容易にする機能、ホールを安定に輸送する機能
および電子を妨げる機能を有し、電子注入輸送層は、陰
電極からの電子の注入を容易にする機能、電子を安定に
輸送する機能およびホールを妨げる機能を有するもので
あり、これらの層は、発光層に注入されるホールや電子
を増大・閉じこめさせ、再結合領域を最適化させ、発光
効率を改善する。
The hole injecting and transporting layer has a function of facilitating the injection of holes from the positive electrode, a function of stably transporting holes, and a function of preventing electrons. The electron injecting and transporting layer has a function of transporting electrons from the negative electrode. It has the function of facilitating injection, the function of transporting electrons stably, and the function of blocking holes. These layers increase and confine holes and electrons injected into the light-emitting layer, and optimize the recombination region. To improve luminous efficiency.

【0029】発光層の厚さ、ホール注入輸送層の厚さお
よび電子注入輸送層の厚さは特に限定されず、形成方法
によっても異なるが、通常、5〜500nm程度、特に1
0〜300nmとすることが好ましい。
The thickness of the light emitting layer, the thickness of the hole injecting and transporting layer, and the thickness of the electron injecting and transporting layer are not particularly limited, and vary depending on the forming method.
The thickness is preferably from 0 to 300 nm.

【0030】ホール注入輸送層の厚さおよび電子注入輸
送層の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光
層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程度とすれ
ばよい。ホールもしくは電子の、各々の注入層と輸送層
を分ける場合は、注入層は1nm以上、輸送層は20nm以
上とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層の厚
さの上限は、通常、注入層で500nm程度、輸送層で5
00nm程度である。このような膜厚については注入輸送
層を2層設けるときも同じである。
The thickness of the hole injecting and transporting layer and the thickness of the electron injecting and transporting layer depend on the design of the recombination and light emitting region, but may be about the same as the thickness of the light emitting layer or about 1/10 to 10 times. When the injection layer and the transport layer for holes or electrons are separated from each other, the injection layer is preferably 1 nm or more, and the transport layer is preferably 20 nm or more. At this time, the upper limit of the thickness of the injection layer and the transport layer is usually about 500 nm for the injection layer and 5 for the transport layer.
It is about 00 nm. Such a film thickness is the same when two injection / transport layers are provided.

【0031】発光層には発光機能を有する化合物である
蛍光性物質を含有させる。このような蛍光性物質として
は、例えば、特開昭63−264692号公報に開示さ
れているような化合物、例えばキナクリドン、ルブレ
ン、スチリル系色素等の化合物から選択される少なくと
も1種が挙げられる。また、トリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等の8−キノリノールないしその誘導
体を配位子とする金属錯体色素などのキノリン誘導体、
テトラフェニルブタジエン、アントラセン、ペリレン、
コロネン、12−フタロペリノン誘導体等が挙げられ
る。さらには、特願平6−110569号のフェニルア
ントラセン誘導体、特願平6−114456号のテトラ
アリールエテン誘導体等を用いることができる。
The light emitting layer contains a fluorescent substance which is a compound having a light emitting function. Examples of such a fluorescent substance include compounds disclosed in JP-A-63-264892, for example, at least one selected from compounds such as quinacridone, rubrene, and styryl dyes. A quinoline derivative such as a metal complex dye having 8-quinolinol or a derivative thereof as a ligand, such as tris (8-quinolinolato) aluminum;
Tetraphenylbutadiene, anthracene, perylene,
Coronene, 12-phthaloperinone derivatives, and the like. Further, a phenylanthracene derivative disclosed in Japanese Patent Application No. 6-110569 and a tetraarylethene derivative disclosed in Japanese Patent Application No. 6-114456 can be used.

【0032】また、それ自体で発光が可能なホスト物質
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
Further, it is preferable to use in combination with a host substance capable of emitting light by itself, and it is preferable to use it as a dopant. In such a case, the content of the compound in the light emitting layer is 0.01 to 10% by weight, and more preferably 0.1 to 10% by weight.
It is preferably 1 to 5% by weight. When used in combination with a host substance, the emission wavelength characteristics of the host substance can be changed, light emission shifted to a longer wavelength becomes possible, and the luminous efficiency and stability of the device are improved.

【0033】基板材料としては、ガラスや石英、樹脂等
の透明ないし半透明材料を用いる。また、基板に色フィ
ルター膜や蛍光性物質を含む色変換膜、あるいは誘電体
反射膜を用いて発光色をコントロールしてもよい。
As a substrate material, a transparent or translucent material such as glass, quartz, resin, etc. is used. Further, the emission color may be controlled by using a color filter film, a color conversion film containing a fluorescent substance, or a dielectric reflection film on the substrate.

【0034】色フィルター膜には、液晶ディスプレイ等
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機ELの発光する光に合わせてカラーフィルターの特
性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すればよ
い。
As the color filter film, a color filter used in a liquid crystal display or the like may be used.
The characteristics of the color filter may be adjusted in accordance with the light emitted from the organic EL to optimize the extraction efficiency and the color purity.

【0035】また、EL素子材料や蛍光変換層が光吸収
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
If a color filter capable of cutting off short-wavelength external light that is absorbed by the EL element material or the fluorescence conversion layer is used, the light resistance of the element and the display contrast are improved.

【0036】また、誘電体多層膜のような光学薄膜を用
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
An optical thin film such as a dielectric multilayer film may be used in place of the color filter.

【0037】色変換膜は、EL発光の光を吸収し、色変
換膜中の蛍光体から光を放出させることで、発光色の色
変換を行うものであるが、組成としては、バインダー、
蛍光材料、光吸収材料の三つから形成される。
The color conversion film absorbs EL light and emits light from the phosphor in the color conversion film to convert the color of the emitted light.
It is formed from a fluorescent material and a light absorbing material.

【0038】有機ELディスプレイは、直流駆動型や、
交流駆動またはパルス駆動として用いられる。駆動させ
るための印加電圧は、通常、2(特に2.5前後)〜2
0V程度とされる。
The organic EL display is a direct current drive type,
Used as AC drive or pulse drive. The applied voltage for driving is usually 2 (especially around 2.5) to 2
It is about 0V.

【0039】[0039]

【実施例】次に実施例を示し、本発明をより具体的に説
明する。
EXAMPLES Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples.

【0040】図2は本発明の有機ELディスプレイの評
価装置のより具体的な実施例を示した回路図である。図
において、本発明の有機ELディスプレイの評価装置
は、電圧発生手段3と、電流検出手段4と、判断手段5
とを有し、電圧発生手段3は検査用電圧を発生する電源
Vcc1である。この例では接続手段は省略されている
が、図1に示すように、ノードN1,N2に有機ELデ
ィスプレイが接続されるような選択手段とすればよい。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a more specific embodiment of the organic EL display evaluation apparatus of the present invention. In the figure, an evaluation device for an organic EL display according to the present invention comprises a voltage generating means 3, a current detecting means 4, a determining means 5
And the voltage generating means 3 is a power supply Vcc1 for generating a test voltage. Although the connecting means is omitted in this example, as shown in FIG. 1, a selecting means may be used such that the organic EL display is connected to the nodes N1 and N2.

【0041】電流検出手段4は、検査電圧により流れる
リーク電流等を検出し電圧に変換する抵抗R1とこの抵
抗R1により生じた微少電圧を所定のレベルの電圧にま
で増幅する抵抗R2,R3,R4とオペアンプIC1で
構成される増幅器とにより構成されている。なお、増幅
器はこのような構成に限定されるものではなく、微少電
圧を増幅するための種々の構成とすることができる。
The current detecting means 4 detects a leak current or the like flowing by the inspection voltage and converts it into a voltage, and resistors R2, R3 and R4 for amplifying a minute voltage generated by the resistor R1 to a voltage of a predetermined level. And an amplifier composed of an operational amplifier IC1. Note that the amplifier is not limited to such a configuration, and may have various configurations for amplifying a minute voltage.

【0042】判断手段5は電圧検出手段から送られた信
号を入力し、これと基準レベルrefとを比較し、入力し
た信号が基準レベルref より小さいときはHレベルを、
大きいときにはLレベルを出力するオペアンプIC2
(コンパレータ)と、電源電圧基準レベルref を得る抵
抗R5とツェナーダイオードZDと、オペアンプICの
出力をプラス電源側Vcc2にプルアップする抵抗R6
とを有する。このようにして、有機ELディスプレイに
リーク電流等を生じ、あるレベル以上の電流が流れると
判断手段から不良であることを知らせるLレベルが出力
される。なお、オペアンプIC2の出力は必要に応じて
警報装置、警告灯制御装置、ディスプレイコントロー
ラ、その他の制御装置等に送られ、その使用態様により
適切な処理がなされる。
The judging means 5 receives the signal sent from the voltage detecting means, compares the signal with the reference level ref, and when the input signal is smaller than the reference level ref, changes the H level.
Operational amplifier IC2 that outputs L level when large
(Comparator), a resistor R5 for obtaining a power supply voltage reference level ref, a Zener diode ZD, and a resistor R6 for pulling up the output of the operational amplifier IC to the positive power supply side Vcc2.
And In this way, a leak current or the like is generated in the organic EL display, and when a current of a certain level or more flows, the L level indicating that there is a defect is output from the determination means. Note that the output of the operational amplifier IC2 is sent to an alarm device, a warning light control device, a display controller, another control device, or the like as necessary, and an appropriate process is performed depending on the usage mode.

【0043】図示の例では、判断手段5は検出された電
流が、所定の基準レベルref に対して高いか低いかの2
値的な判断のみを行っているが、このような構成に限定
されるものではなく、例えば、オペアンプIC1の出力
をA/D変換し、その値をプロセッサで読み取るような
構成としてもよい。また、その判断内容としては上記に
示したものと同様のものである。
In the example shown, the judging means 5 determines whether the detected current is higher or lower than a predetermined reference level ref.
Although only the value determination is performed, the present invention is not limited to such a configuration. For example, the output of the operational amplifier IC1 may be A / D converted and the value may be read by a processor. The contents of the judgment are the same as those described above.

【0044】[0044]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、評価効率
が高く、客観的な評価が可能で、評価結果を製造ライン
にフィードバック可能で、しかも製造時間の短縮や歩留
まりの向上が可能な有機ELディスプレイの評価装置お
よび評価方法を提供できる。
As described above, according to the present invention, the evaluation efficiency is high, objective evaluation is possible, the evaluation result can be fed back to the production line, and the production time can be reduced and the yield can be improved. An evaluation device and an evaluation method for an organic EL display can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の有機ELディスプレイの評価装置の基
本構成を示したブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a basic configuration of an evaluation device for an organic EL display of the present invention.

【図2】本発明の一実施例である、有機ELディスプレ
イの評価装置の回路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram of an evaluation device for an organic EL display, which is one embodiment of the present invention.

【図3】リーク電流と相対輝度の関係を示したグラフで
ある。
FIG. 3 is a graph showing a relationship between a leak current and a relative luminance.

【図4】有機ELディスプレイの構成を示した外観斜視
図である。
FIG. 4 is an external perspective view showing a configuration of an organic EL display.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 有機ELディスプレイ 2 接続手段 3 電圧発生手段 4 電流検出手段 5 判断手段 21 基板 22 基板 23 走査電極 24 データ電極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Organic EL display 2 Connecting means 3 Voltage generating means 4 Current detecting means 5 Judging means 21 Substrate 22 Substrate 23 Scanning electrode 24 Data electrode

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 2つ以上のデータ電極と、このデータ電
極と交差する方向に配置された2つ以上の走査電極と、
両電極間に存在する有機EL層とを有し、 前記データ電極と、有機EL層と、走査電極の間に少な
くとも1つの回路を形成する有機ELディスプレイと、 前記有機ELディスプレイの検査電圧を発生する電圧発
生手段と、 この電圧発生手段により発生した検査電圧を前記有機E
Lディスプレイの少なくとも2つの走査電極またはデー
タ電極間に印加する接続手段と、 前記電圧発生手段と有機ELディスプレイ間に流れる電
流を検出する電流検出手段と、 この電流検出手段により検出された電流値により前記有
機ELディスプレイの良否を判断する判断手段とを有す
る有機ELディスプレイの評価装置。
A plurality of data electrodes; a plurality of scan electrodes arranged in a direction intersecting the data electrodes;
An organic EL display having an organic EL layer existing between both electrodes, forming an at least one circuit between the data electrode, the organic EL layer, and the scanning electrode; and generating a test voltage for the organic EL display. A voltage generating means for generating the inspection voltage generated by the voltage generating means.
Connecting means for applying between at least two scanning electrodes or data electrodes of the L display; current detecting means for detecting a current flowing between the voltage generating means and the organic EL display; and a current value detected by the current detecting means. An evaluation device for an organic EL display, comprising: a determination unit for determining whether the organic EL display is good or bad.
【請求項2】 前記検査電圧は有機ELディスプレイの
発光電圧未満である請求項1の有機ELディスプレイの
評価装置。
2. The organic EL display evaluation apparatus according to claim 1, wherein the inspection voltage is lower than an emission voltage of the organic EL display.
【請求項3】 前記検査電圧は0.1〜2.5V である
請求項1または2の有機ELディスプレイの評価装置。
3. The evaluation device for an organic EL display according to claim 1, wherein the inspection voltage is 0.1 to 2.5 V.
【請求項4】 2つ以上のデータ電極と、このデータ電
極と交差する方向に配置された2つ以上の走査電極と、
両電極間に存在する有機EL層とを有し、 前記データ電極と、有機EL層と、走査電極の間に少な
くとも1つの回路を形成する有機ELディスプレイの、 少なくとも2つの前記データ電極または走査電極間に前
記有機ELディスプレイの発光電圧未満の検査電圧を印
加し、 この検査電圧により前記電極間に流れる電流を検出し、 検出された電流値から有機ELディスプレイを評価する
有機ELディスプレイの評価方法。
4. Two or more data electrodes, two or more scan electrodes arranged in a direction crossing the data electrodes,
At least two of the data electrodes or the scan electrodes of an organic EL display having an organic EL layer present between both electrodes, wherein at least one circuit is formed between the data electrodes, the organic EL layer, and the scan electrodes A method for evaluating an organic EL display, comprising: applying a test voltage lower than the light emission voltage of the organic EL display during the test, detecting a current flowing between the electrodes based on the test voltage, and evaluating the organic EL display based on the detected current value.
JP9150106A 1997-05-23 1997-05-23 Evaluating device and evaluating method of organic el display Pending JPH10321367A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9150106A JPH10321367A (en) 1997-05-23 1997-05-23 Evaluating device and evaluating method of organic el display

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9150106A JPH10321367A (en) 1997-05-23 1997-05-23 Evaluating device and evaluating method of organic el display

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10321367A true JPH10321367A (en) 1998-12-04

Family

ID=15489640

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9150106A Pending JPH10321367A (en) 1997-05-23 1997-05-23 Evaluating device and evaluating method of organic el display

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10321367A (en)

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002093186A1 (en) * 2001-05-15 2002-11-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Display device comprising a plurality of leds
JP2003510763A (en) * 1999-09-22 2003-03-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Organic electroluminescent device
KR20030044661A (en) * 2001-11-30 2003-06-09 오리온전기 주식회사 Unit for measuring current and voltage of color organic electroluminescent device
US6633135B2 (en) 2000-07-28 2003-10-14 Wintest Corporation Apparatus and method for evaluating organic EL display
US6815975B2 (en) 2002-05-21 2004-11-09 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for active matrix substrate, inspection program used therefor, and information storage medium
JP2005309230A (en) * 2004-04-23 2005-11-04 Tohoku Pioneer Corp Self-luminous display module, electronic equipment equipped with the same, and method of verifying defective state in the module
JP2005338532A (en) * 2004-05-28 2005-12-08 Tohoku Pioneer Corp Active drive type light emission display device and electronic equipment mounted with same display device
JP2006505816A (en) * 2002-11-06 2006-02-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Inspection method and apparatus for LED matrix display
KR100601368B1 (en) * 2003-09-08 2006-07-13 삼성에스디아이 주식회사 Characteristic valuation means for electro luminescence display
JP2006267029A (en) * 2005-03-25 2006-10-05 Aitesu:Kk Inspection apparatus displaying simultaneously a plurality of associated test results and the like on same screen
KR100653366B1 (en) 2004-07-07 2006-12-04 엘지전자 주식회사 Panel for detecting defect of an pixel in an organic electroluminescence device
US7157928B2 (en) * 2004-05-21 2007-01-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Determining leakage in matrix-structured electronic devices
US7199602B2 (en) 2003-09-19 2007-04-03 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for display device and active matrix substrate used for display device
JP2007171728A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Tohoku Pioneer Corp Display device and inspecting method for the same
KR100822195B1 (en) * 2002-01-22 2008-04-16 삼성에스디아이 주식회사 Method of aging Electro-Luminescence display panel utilizing scan operation
JP2009277528A (en) * 2008-05-15 2009-11-26 Panasonic Corp Organic el element inspection repairing method and device
JP2012138369A (en) * 2000-12-28 2012-07-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of manufacturing light-emitting device
JP2012527074A (en) * 2009-05-12 2012-11-01 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Driver for analyzing the state of the organic light emitting diode element and for supplying a recovery voltage to the organic light emitting diode element
US9472761B2 (en) 2013-08-30 2016-10-18 Japan Display Inc. Organic electroluminescence display device
JP2017162718A (en) * 2016-03-10 2017-09-14 住友化学株式会社 Manufacturing method of organic el element

Cited By (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003510763A (en) * 1999-09-22 2003-03-18 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Organic electroluminescent device
JP2012074380A (en) * 1999-09-22 2012-04-12 Koninkl Philips Electronics Nv Organic electroluminescent device
US6633135B2 (en) 2000-07-28 2003-10-14 Wintest Corporation Apparatus and method for evaluating organic EL display
US8980660B2 (en) 2000-12-28 2015-03-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing a light emitting device and thin film forming apparatus
US9412948B2 (en) 2000-12-28 2016-08-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method of manufacturing a light emitting device and thin film forming apparatus
JP2014044959A (en) * 2000-12-28 2014-03-13 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of manufacturing light emitting device
JP2012138369A (en) * 2000-12-28 2012-07-19 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Method of manufacturing light-emitting device
WO2002093186A1 (en) * 2001-05-15 2002-11-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Display device comprising a plurality of leds
KR20030044661A (en) * 2001-11-30 2003-06-09 오리온전기 주식회사 Unit for measuring current and voltage of color organic electroluminescent device
KR100822195B1 (en) * 2002-01-22 2008-04-16 삼성에스디아이 주식회사 Method of aging Electro-Luminescence display panel utilizing scan operation
US6815975B2 (en) 2002-05-21 2004-11-09 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for active matrix substrate, inspection program used therefor, and information storage medium
JP2006505816A (en) * 2002-11-06 2006-02-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Inspection method and apparatus for LED matrix display
KR100601368B1 (en) * 2003-09-08 2006-07-13 삼성에스디아이 주식회사 Characteristic valuation means for electro luminescence display
US7199602B2 (en) 2003-09-19 2007-04-03 Wintest Corporation Inspection method and inspection device for display device and active matrix substrate used for display device
KR100993507B1 (en) 2003-09-19 2010-11-10 윈테스트 가부시키가이샤 Inspection method and inspection device for display device and active matrix substrate used for display device
JP2005309230A (en) * 2004-04-23 2005-11-04 Tohoku Pioneer Corp Self-luminous display module, electronic equipment equipped with the same, and method of verifying defective state in the module
US7710365B2 (en) 2004-05-21 2010-05-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Determining leakage in matrix-structured electronic devices
US7157928B2 (en) * 2004-05-21 2007-01-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Determining leakage in matrix-structured electronic devices
JP2005338532A (en) * 2004-05-28 2005-12-08 Tohoku Pioneer Corp Active drive type light emission display device and electronic equipment mounted with same display device
KR100653366B1 (en) 2004-07-07 2006-12-04 엘지전자 주식회사 Panel for detecting defect of an pixel in an organic electroluminescence device
JP2006267029A (en) * 2005-03-25 2006-10-05 Aitesu:Kk Inspection apparatus displaying simultaneously a plurality of associated test results and the like on same screen
JP2007171728A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Tohoku Pioneer Corp Display device and inspecting method for the same
JP2009277528A (en) * 2008-05-15 2009-11-26 Panasonic Corp Organic el element inspection repairing method and device
JP2012527074A (en) * 2009-05-12 2012-11-01 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Driver for analyzing the state of the organic light emitting diode element and for supplying a recovery voltage to the organic light emitting diode element
US9472761B2 (en) 2013-08-30 2016-10-18 Japan Display Inc. Organic electroluminescence display device
US9865666B2 (en) 2013-08-30 2018-01-09 Japan Display Inc. Organic electroluminescence display device
JP2017162718A (en) * 2016-03-10 2017-09-14 住友化学株式会社 Manufacturing method of organic el element

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH10321367A (en) Evaluating device and evaluating method of organic el display
JP3665274B2 (en) Inspection method and inspection apparatus for organic LED array
US6633135B2 (en) Apparatus and method for evaluating organic EL display
US7317400B2 (en) Self light emitting type display module, electronic appliance loaded with the same module and verification method of faults in the same module
JP4151263B2 (en) Display device
EP2257122B1 (en) Light emitting device
JPH10319910A (en) Driving device for organic display device
JP2000348861A (en) Evaluation device of organic electroluminescent display
JP2003330383A (en) Organic el display device
JP4645540B2 (en) Organic material evaluation apparatus and evaluation method
US6208083B1 (en) System and method for driving organic EL devices
KR100496468B1 (en) Organic electroluminescence device tester
JPWO2010137452A1 (en) Organic EL panel inspection method, organic EL panel inspection apparatus, and organic EL panel
JPH1173159A (en) Device and method for driving organic el display
KR100591165B1 (en) A galvanometer for analyzing a quality of oled panel
JP2003234187A (en) Passive matrix organic thin film light emitting display and its restoration method
JP2001176661A (en) Brightness restoration method of organic el element and organic el element
JP2001237082A (en) Organic thin film light emission display and its restoring method
KR100804557B1 (en) Apparatus and method for evaluating organic el display
JP2004192925A (en) Organic el display panel and its inspection method
KR100503602B1 (en) Plat display device and fabrication method thereof
KR100612119B1 (en) Panel for detecting defect of an luminescence pixel
KR20050025513A (en) Characteristic valuation means for electro luminescence display
KR20080010782A (en) Organic light emitting display
KR20060132361A (en) Apparatus and method for aging of organic electro luminescence display device

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20040512

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20040601

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060808

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070123