JPH10318733A - 2次元配列型共焦点光学装置 - Google Patents

2次元配列型共焦点光学装置

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JPH10318733A
JPH10318733A JP9144559A JP14455997A JPH10318733A JP H10318733 A JPH10318733 A JP H10318733A JP 9144559 A JP9144559 A JP 9144559A JP 14455997 A JP14455997 A JP 14455997A JP H10318733 A JPH10318733 A JP H10318733A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、走査機構を持たずに共焦点画像を
得ることができる全画素同時露光タイプの共焦点撮像系
である2次元配列型共焦点撮像系の共焦点効果をピンホ
ール間隔を広げることなしに向上させることを目的とす
る。 【解決手段】 ピンホールアレイ部7の下に液晶セル2
0を設け、液晶セル20の透明電極パターン配置により
隣り合うピンホールから射出される照明ビームは互いに
偏光方向が直交するようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、主に3次元計測の
目的で共焦点画像を得るための光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】共焦点光学系により画像を得る光学シス
テムを共焦点撮像系と呼び、その共焦点撮像系によって
得られる画像を共焦点画像と呼ぶことにして以下従来技
術について説明する。共焦点撮像系により3次元計測を
行う場合、共焦点撮像系として一般的なレーザー走査方
式やNipkow disk走査方式のような走査機構
をもたず、共焦点ピンホールを2次元に配列して共焦点
画像の各画素を同時露光する2次元配列型共焦点撮像系
がその高速性ゆえに適しており、特開平4−26591
8号公報および特開平7−181023号公報で開示さ
れている。また本発明と同一発明者により特願平8−9
4682として出願されている。また論文H.J.Ti
ziani他著:“Three−dimensiona
l analysis by a microlens
−array confocalarrangemen
t”,Applied Optics,Vol.33,
No.4,pp.567−572(1994)は共焦点
ピンホールを2次元に配列するのではなくマイクロレン
ズを2次元に配列して対物レンズとして用いることで2
次元配列型共焦点撮像系を実現している。これらの従来
技術について以下説明する。
【0003】特開平4−265918号公報による装置
(以下従来技術Aとする)を図12に示す。光源1から
でた光をコリメートレンズ4により平行光として、ピン
ホールアレイ部7に照射する。ここにピンホールアレイ
部7はピンホールを多数同一平面に配列したものであ
る。ピンホールアレイ部7の各ピンホールを通過した光
は個々が点光源とみなされ、点光源が配列されているの
と同等である。ピンホールを通過した光はハーフミラー
121を透過して後、レンズ8aと8bとテレセントリ
ック絞り9とで構成された対物レンズ8により物体Aに
投影される。物体Aから反射してきた光は対物レンズ8
で集光され、ハーフミラー121により光路を偏向させ
られてピンホールアレイ部7の各ピンホールと一対一に
光学的に同一位置に正確に位置あわせされたピンホール
をもつ検出器ピンホールアレイ部122上に到達し検出
器ピンホールアレイ部122の各ピンホールに各検出器
が一対一で結びついた検出器アレイ123で各ピンホー
ルを通過した光量が検出される。以上の構成はちょうど
共焦点光学系を並列に配列したのと同等である。この公
報では、検出器部分に一般的には必要となる検出器ピン
ホールアレイ部を開口率の低い(画素に対する光電変換
素子の比率が小さい)CCDセンサを用いることで不要
としているが、より一般的な上記の構成を従来技術Aと
する。
【0004】次に特開平8−94682による装置(以
下従来技術Bとする)を図13を用いて説明する。光源
1よりでた照明光はピンホール2で点光源となりコリメ
ートレンズ4により平行光となって射出される。光路分
岐光学素子5は偏光ビームスプリッターであり照明光は
直線偏光となって通過する。光路分岐光学素子5を通過
した照明光はマイクロレンズアレイ部6に入射し各マイ
クロレンズの焦点に集光される。マイクロレンズアレイ
部6の焦点位置にはピンホールアレイ部7が設置され、
各マイクロレンズにより集光された照明光の焦点の位置
に各ピンホールが存在する形となっている。ピンホール
を通過した照明光は対物レンズ8に入射し、対物レンズ
8内部に設けた1/4位相差板10により円偏光となっ
て、ピンホールの像を物体Aに投影する。対物レンズ8
は、内部にテレセントリック絞り9とレンズ8aと8b
とをもつ両側テレセントリックなレンズであり、物体A
あるいは光学系を光軸方向に移動させても倍率変化が発
生しないようになっている。物体Aからの反射光は、再
び対物レンズ8に入射して、1/4位相差板10により
照明光と直交する直線偏光となり、集光されて再びピン
ホールアレイ部7に到達する。ピンホールアレイ部7の
ピンホールを通過した反射光は、マイクロレンズアレイ
部6により平行光束となって射出される。反射光は照明
光とは直交する直線偏光光であるから偏光ビームスプリ
ッターである光路分岐光学素子5により偏向されて結像
光学部16に入射する。結像光学部16に入射した反射
光は、レンズ12aとレンズ12bとにより構成される
結像レンズ12によりマイクロレンズアレイ部6の面を
2次元光電センサ15上に結像させるように集光され、
2次元光電センサ15上に到達するようになっている。
これにより2次元光電センサ15上には共焦点画像が得
られ、2次元光電センサ15により光電変換されて電気
信号として出力される。従来技術Aとの大きな違いは照
明側のピンホールアレイ部と検出器側のピンホールアレ
イ部が分かれておらず、一つのピンホールアレイ部が両
方を兼ねている点である。この意味で特開平7−181
023号公報に開示されている装置もこの従来技術Bに
含まれる。
【0005】次に論文H.J.Tiziani他著:
“Three−dimensionalanalysi
s by a microlens−array co
nfocal arrangement”,Appli
ed Optics,Vol.33,No.4,pp.
567−572(1994)による装置(以下従来技術
Cとする)を図14を用いて説明する。光源1から出た
照明光はピンホール2により点光源となってコリメート
レンズ4により平行光となる。その後ハーフミラー14
1を通過してマイクロレンズアレイ142に照射され
る。マイクロレンズアレイ142の各マイクロレンズは
照明光を集光して物体Aにスポットを投影する。物体A
からの反射光はスポットを形成したマイクロレンズと同
じマイクロレンズにより集光されて平行光となってハー
フミラー141により偏向された後レンズ12aによる
結像作用を受けてレンズ12aの焦点位置に配置された
ピンホール143上でスポットを結ぶ。ピンホール14
3を通過した反射光はレンズ12bにより再び平行光と
なって2次元光電センサ15に入射する。レンズ12
a、12bおよびピンホール143はマイクロレンズア
レイ142の上面から出力される反射光の内、平行光成
分の強度分布をそのまま2次元光電センサ15上に再現
する役目を果たしている。従来技術A,Bとの違いは共
焦点ピンホールが照明側、検出器側ともに1つであって
従来技術A,Bのようにアレイ状になっておらず、代わ
りに対物レンズがアレイ状となっている点である。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これらの従来技術に共
通するのは同時並列的に2次元の露光を行う点である。
同時並列的に物体に2次元配列の多数のスポットを形成
する点であるといってもよい。共焦点撮像系として最も
一般的なレーザー走査の場合と比較してみると、レーザ
ー走査がシングルビームを用いているのに対しマルチビ
ームを用いていると言える。以下ではこのような特徴を
マルチビーム共焦点と呼ぶことにする。
【0007】マルチビーム共焦点の場合、問題となるの
は同時並列的にスポットが形成されるために、あるビー
ムによる結像に他のビームのぼけた結像光束が混じって
しまうことである。シングルビームの場合は、もちろん
他のビームの影響は考えられないがマルチビームの場合
では特に隣接するビームの影響を無視することはできな
い。これらの影響が大きいとピントがあったときに明る
く、ピントがはずれると暗くなるという共焦点効果が得
られない。このため、マルチビーム共焦点の場合は、隣
り合うビームの影響を小さくする工夫が重要である。隣
り合うビームの影響を小さくするためにはスポット径と
スポット間の距離(以下スポットピッチと呼ぶ)との比
を大きくとるのが一般的である。しかしこの比を大きく
とるとビームの数が同じであれば従来技術A,Bの場合
ピンホールアレイ部の大きさが著しく大きくなり、対物
レンズの画角が大きくなって対物レンズの製作が非常に
困難なものとなる。従来技術Cは対物レンズ製作の問題
点はないとしてもできるだけ隣接するビームの影響が少
ない方がより高い共焦点の効果が得られることに違いは
ない。
【0008】そこで本発明は、スポット径とスポットピ
ッチの比を大きくすることなしに隣り合うビームの影響
を低減できる2次元配列型共焦点光学系を提供すること
を目的とするものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】目的達成のために、従来
技術A,Bのようなピンホールアレイ部をもつ2次元配
列型共焦点光学装置に、隣り合うピンホールから射出さ
れる照明光が互いに直交する偏光面を持つように照明光
の偏光面を変化させる照明光変化手段と、物体からの反
射光が隣り合うピンホール間で互いにその偏光面が直交
するように選択透過する選択検光手段とを有するように
2次元配列型共焦点光学装置を構成する。
【0010】上記照明光変化手段は照明光を直線偏光と
する直線偏光手段と、ピンホールアレイ部の各ピンホー
ルに対応した配列の透明電極配列をもつ液晶セルとによ
り構成し、選択検光手段は前記照明光変化手段の液晶セ
ルと共通の液晶セルと、ある方向の直線偏光しか透過し
ない検光手段とにより構成するようにする。
【0011】また、従来技術Cのような対物レンズをマ
イクロレンズアレイとした2次元配列型共焦点光学装置
には、隣り合うマイクロレンズから射出される照明光が
互いに直交する偏光面を持つように照明光の偏光面を変
化させる照明光変化手段と、物体からの反射光が隣り合
うマイクロレンズ間で互いにその偏光面が直交するよう
に選択透過する選択検光手段とを有するように2次元配
列型共焦点光学装置を構成する。
【0012】上記の照明光変化手段は照明光を直線偏光
とする直線偏光手段と、マイクロレンズアレイの各マイ
クロレンズに対応した配列の透明電極配列をもつ液晶セ
ルとにより構成し、選択検光手段は前記照明光変化手段
の液晶セルと共通の液晶セルと、ある方向の直線偏光し
か透過しない検光手段とにより構成するようにする。
【0013】または、照明光変化手段と選択検光手段は
ともに同一の偏光板アレイであり、前記偏光板アレイは
隣り合う偏光板が互いに直交ニコルである構造を有する
ように構成する。
【0014】または、照明光変化手段と選択検光手段は
ともに同一の位相差板アレイであり、前記位相差板アレ
イは隣り合う位相差板が互いに1/2波長異なる位相差
を有するように構成する。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。図1に本発明の実施の形態
の第一の例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系
の基本構造は従来技術Bと同じ物である。重複する説明
は避けて、異なる部分についてのみ説明する。異なるの
はピンホールアレイ部7の下側に設置された液晶セル2
0と液晶セル20に電圧を印加する電源21だけであ
る。光路分岐光学素子5は偏光ビームスプリッターであ
り、液晶セル20と直線偏光手段としての光路分岐光学
素子5は照明光に対しては照明光変化手段として働き、
物体からの反射光に対しては、液晶セル20と検光手段
としての光路分岐光学素子5は選択検光手段として働
く。
【0016】まず、液晶セル20についてその構造を詳
説し、その後に照明変化手段と選択検光手段としての動
きを説明する。液晶セル20の構造を図2に示す。図2
(a)は側面図である。ピンホールアレイ部7の下には
透明電極(ITO膜)201があり、さらに下の透明電
極基板203の透明電極202との間に液晶204が封
入されている。透明電極201は図2(b)に示すよう
に千鳥格子状の形状となっていて、格子の一桝にピンホ
ールアレイ部7のピンホール1つが対応しており、常に
電源21により透明電極201、202間に電圧が印加
されている。透明電極202はパターンのない共通電極
である。
【0017】液晶204は液晶分子が透明電極201、
202間で90度ねじれた配列となったねじれネマティ
ック液晶(以下TN液晶とする)である。透明電極20
1、202のパターンがない部分は電圧が液晶分子にか
からないので液晶分子の長軸方向に偏光した直線偏光光
が入射すると、ねじれ配列の旋光効果によって出力光は
90度偏光面が旋光した直線偏光となる。一方透明電極
201、202により電圧がかかっている液晶部分はね
じれ構造が解消され電極間で液晶分子のねじれがないた
め全く旋光せず、そのままの偏光状態で通過することに
なる。
【0018】この液晶セル20と直線偏光手段としての
光路分岐光学素子5とによる照明変化手段としての動き
を述べる。光路分岐光学素子5で直線偏光となった照明
光はマイクロレンズアレイ部6の各マイクロレンズによ
り集光されてピンホールアレイ部7の対応するピンホー
ルを通過し液晶セル20に入射する。液晶セル20から
射出する照明光は液晶セル20内で透明電極のあるなし
に応じて、90度偏光面が異なる直線偏光光となるよう
に変化させられる。透明電極201のパターンは千鳥格
子状であるから、隣り合うピンホールから射出される照
明光が互いに直交する偏光面を持つことになる(但し、
斜め隣りは隣とはみなさないとする)。
【0019】次に液晶セル20と検光手段としての光路
分岐光学素子5とによる選択検光手段としての動きを述
べる。液晶セル20を射出した照明光は1/4位相差板
10によって円偏光となり、物体Aで反射するときに1
80度の位相飛びが発生して反射光として再び1/4位
相差板10を通過した後は照明光とは90度偏光面が変
化した状態となっている。液晶セル20に再び入射した
反射光は、液晶セル20内で透明電極201のパターン
が無い部分ではそのままの偏光状態でピンホールを通過
し、パターンがあるところでは90度偏光面が旋光して
ピンホールを通過する。どちらにしてもピンホールを通
過した後は光路分岐光学素子5により直線偏光となった
照明光のときとは直交する偏光面となっておりマイクロ
レンズアレイ部6を通過した後は光路分岐光学素子5に
より偏向させられて2次元光電センサ15に到達する。
【0020】一方、ぼけて隣りのピンホールに入射する
光を考えてみると(図3参照)、ピンホール(正確には
液晶セル20)へ入射する前の反射光は隣り合うビーム
どうし互いに直交する偏光状態であるから、ぼけて隣り
から入射してくる反射光は正規に入射した光とは90度
偏光面が異なっている。90度偏光面の異なる反射光が
入射したピンホールから光路分岐光学素子5へ射出され
るときの偏光面も結局正規に入射した光とは90度偏光
面が異なっており、光路分岐光学素子5により偏向せら
れることなく光路分岐光学素子5を透過してしまい、2
次元光電センサ15に到達することはない。
【0021】以上のような動きにより、隣りのピンホー
ルの反射光が混入して共焦点効果を下げることは無くな
る。もちろん斜め隣りや、隣のまた隣りからのぼけた光
が混入することはあるが隣の反射光の影響に比べれば微
々たるものである。
【0022】この例では、従来技術Bを例として用いた
が従来技術Aであっても原理的には大きな違いは無い。
上記の液晶セル20と電源21のセットを2つ用意して
照明側のピンホールアレイ部7と検出器側の検出器ピン
ホールアレイ部122の両方に取り付け、照明側のピン
ホールアレイ部7の上に直線偏光手段である偏光板を設
け、検出器側の検出器ピンホールアレイ部122と検出
器アレイ93間または液晶セル20と検出器側の検出器
ピンホールアレイ部122間に検光手段である偏光板
を、直線偏光手段の偏光板と平行ニコルの配置でおけば
よい。
【0023】また、この例ではマイクロレンズアレイ部
6表面で反射した照明光が2次元光電センサ15の方へ
行かないようにするために、偏光ビームスプリッターで
ある光路分岐光学素子5や1/4位相差板10のような
偏光素子を用いているが、マイクロレンズアレイ部6表
面の反射はコーティングなどで減少させたりマイクロレ
ンズアレイ部6を傾けたりすることで除去することも可
能であるから、この場合は偏光素子は必要ない。このよ
うな場合は図4に示すように液晶セル20とピンホール
アレイ部7の間に偏光板を設けるだけで所望の目的を達
成することができる。このときは光路分岐光学素子5は
無偏光ビームスプリッターでよく、1/4位相差板10
は必要ない。特開平7−181023号公報による装置
に対してもこのようにして同様のことが実現できる。
【0024】液晶セル20の位置や偏光素子の配置は必
ずしもこの例の通りである必要はない。例えば、液晶セ
ル20はマイクロレンズアレイ部6の上にマイクロレン
ズアレイ部6と同じ透明電極配置で、透明電極基板2枚
に液晶を挟み、液晶セル単独の型で配置してもよい。そ
の他にも同様の効果を得ることが可能と考えられる配置
は色々と考えられる。
【0025】また、液晶セル20内の液晶はTN液晶で
あるとしたが、液晶を直線偏光の照明光が通過したとき
に電圧のかかっているところと、かかっていないところ
で互いに直交する偏光面を持つような光となればよいの
で、TN液晶のように液晶の旋光性を利用したもの以外
にも電界制御複屈折効果を利用して常光線と異常光線に
1/2波長の位相差を持たせるようにして偏光面を90
度変化させてもよい。
【0026】また、透明電極201のパターンは千鳥格
子状であるとしたが、隣り合うピンホールどうしでビー
ム偏光面が直交すればよく、必ずしも千鳥格子状である
必要はない。例えば、ストライプ状であっても少なくと
も一方向の隣り合うビームの偏光面は直交するから、千
鳥格子ほどの効果はないにしてもなにがしかの効果は得
られる。またマイクロレンズアレイ部6の配列が六角形
配列であるような場合もパターン形状はそれに合わせる
必要がある。
【0027】次に、図5に本発明の実施の形態の第二の
例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系の基本構
造は従来技術Cと同じ物である。この場合はピンホール
アレイ部がないために第一の例と同様とするわけにはい
かないために説明するが、基本的な原理としては第一の
例と全く同じである。図5に示すようにマイクロレンズ
アレイ142の下に(上でもよいが)液晶セル20を配
置する。透明電極201の格子パターンの一桝がマイク
ロレンズアレイ142のマイクロレンズ1つに対応する
ように位置決めすればよい。直線偏光手段と検光手段と
を兼ねて偏光板51を液晶セル20の上方に配置する。
このようにすれば第一の例と同じ効果が得られる。電源
21も当然のことながら必要である。
【0028】次に、図6に本発明の実施の形態の第三の
例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系の基本構
造は従来技術Bと同じ物である。第一の例と異なる点は
光路分岐光学素子5が無偏光ビームスプリッターであ
り、1/4位相差板が無く、マイクロレンズアレイ部6
の表面の反射が無視できる場合である点と、液晶セル2
0の代わりに偏光板アレイ61がピンホールアレイ部7
の下に設置されている点である。
【0029】偏光板アレイ61は図7に示すように互い
に直交ニコルの偏光方向の偏光板を千鳥格子状に配列し
たものである。この一つ一つ偏光板が一つ一つのピンホ
ールに対応するように配置されている。無偏光の(少な
くとも直交する2方向偏光成分を持つ)照明光がピンホ
ールアレイ部7から射出してこの偏光板アレイ61に入
射すると偏光板アレイ61から射出される照明光は偏光
板アレイ61の一つ一つの偏光板の方向に従って直線偏
光となる。結果的に偏光板アレイ61から射出される照
明光は隣り合うビームどうしが互いに直交する偏光方向
を持つことになる。
【0030】選択検光手段としても偏光板アレイ61が
働いて、反射してくる隣りのビームのぼけた光が混入し
ないようにしている。つまり隣りのビームは偏光方向が
異なっているから混入してきたとしても偏光板と直交ニ
コルとなってピンホールを通過できないことになる。第
一の例と同じようにこの例もベースの2次元配列型共焦
点撮像系が従来技術Aであっても偏光板アレイ61を2
ヶ用意するだけの話であり全く同じである。
【0031】次に、図8に本発明の実施の形態の第四の
例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系の基本構
造は従来技術Cと同じ物であるが、第二の例との違いは
液晶セル20の代わりに偏光板アレイ61がマイクロレ
ンズアレイ142の下に設置されている点である。
【0032】偏光板アレイ61は第三の例と同じもので
あり、第三の例と同様の原理で隣り合うマイクロレンズ
アレイ142のマイクロレンズに反射光が混入しないよ
うになっている。
【0033】次に、図9に本発明の実施の形態の第五の
例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系の基本構
造は従来技術Bと同じ物である。第一の例と異なる点は
液晶セル20の代わりに位相差板アレイ91がピンホー
ルアレイ部7の下に設置されている点である。第三の例
と異なり光路分岐光学素子5は偏光ビームスプリッター
であり、1/4位相差板も設置されている。
【0034】位相差板アレイ91は図10に示すように
穴(位相差0)と1/2位相差板を千鳥格子状に配列し
たものである。この一つ一つの升が一つ一つのピンホー
ルに対応するように配置されている。位相差板アレイ9
1内の1/2位相差板の光学軸方向に対して45度傾い
た直線偏光の光を照明光として用いると、位相差板アレ
イ91から射出される照明光は穴の部分では位相差0で
偏光方向は変化せず、1/2位相差板の部分では偏光方
向が照明光と90度変化する。結果的に位相差板アレイ
91から射出される照明光は隣り合うビームどうしが互
いに直交する偏光方向を持つことになる。
【0035】選択検光手段としても位相差板アレイ91
が働いて、反射してくる隣りのビームのぼけた光が混入
しないようにしている。この原理は第一の例と同じであ
る。図9を用いて説明する。90度偏光方向が異なるビ
ームが位相差板アレイ91から射出され、1/4位相差
板10によって円偏光となって物体Aに照射され、物体
Aでの反射時に180度位相の飛びが発生して、反射光
として再び1/4位相差板10を通過した後は照明光時
とは偏光方向がそれぞれのビーム毎に90度異なってお
り、位相差板アレイ91を通過するとき穴の部分ではそ
のまま通過し、1/2位相差板の部分では90度偏光方
向が変化させられ、結局穴の部分を通過した光も1/2
位相差板を通過した光も同じ偏光方向(照明光とは直交
する)となって光路分岐光学素子5によって偏向させら
れて2次元光電センサ15に到達することになる。隣り
のビームの反射光がピンホールに入射した場合は偏向方
向が異なるため光路分岐光学素子5によっては偏向させ
られることがなく2次元光電センサ15には到達できな
い。第一の例と同じようにこの例もベースの2次元配列
型共焦点撮像系が従来技術Aであっても位相差板アレイ
91を2ヶ用意するだけの話であり全く同じである。
【0036】次に、図11に本発明の実施の形態の第六
の例を示す。この例の2次元配列型共焦点撮像系の基本
構造は従来技術Cと同じ物であるが、第二の例との違い
は液晶セル20の代わりに位相差板アレイ91がマイク
ロレンズアレイ142の下に設置されている点である。
【0037】位相差板アレイ91は第五の例と同じもの
であり、第五の例と同様の原理で隣り合うマイクロレン
ズアレイ142のマイクロレンズに反射光が混入しない
ようになっている。
【0038】本発明の第五の例、第六の例の位相差板ア
レイは位相差0の穴と位相差1/2波長の位相差板との
配列であるが、2種類の位相差板の間に1/2波長の差
があればよいので例えば1波長の位相差板と1/2波長
の位相差板の組み合わせでも同様の効果を得ることがで
きる。
【0039】
【発明の効果】本発明の2次元配列型共焦点光学装置
は、マルチビーム共焦点で必ず発生する隣のピンホール
からのぼけた光の混入を妨ぎ、共焦点効果を向上させる
ことができる。または、同じ共焦点効果であればピンホ
ールピッチを小さくすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態の第一の例を示した図であ
る。
【図2】(a)は本発明の液晶セル近傍の側面図であ
る。(b)は本発明の液晶セルの透明電極パターンを説
明するための図である。
【図3】本発明の液晶セル近傍で、隣のピンホールへ反
射光が混入するのを説明するための図である。
【図4】本発明の液晶セル近傍の側面図である。
【図5】本発明の実施の形態の第二の例を示した図であ
る。
【図6】本発明の実施の形態の第三の例を示した図であ
る。
【図7】本発明の偏光板アレイを説明するための図であ
る。
【図8】本発明の実施の形態の第四の例を示した図であ
る。
【図9】本発明の実施の形態の第五の例を示した図であ
る。
【図10】本発明の位相差板アレイを説明するための図
である。
【図11】本発明の実施の形態の第六の例を示した図で
ある。
【図12】従来技術Aを説明するための図である。
【図13】従来技術Bを説明するための図である。
【図14】従来技術Cを説明するための図である。
【符号の説明】
1 光源 2 ピンホール 4 コリメートレンズ 5 光路分岐光学素子 6 マイクロレンズアレイ部 7 ピンホールアレイ部 8a レンズ 8b レンズ 9 テレセントリック絞り 10 1/4位相差板 12a レンズ 12b レンズ 15 2次元光電センサー 20 液晶セル 21 電源 61 偏光板アレイ 91 位相差板アレイ

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 多数の共焦点ピンホールを同一平面にな
    らべて並列同時露光を行い共焦点画像を得ることが可能
    な共焦点光学系において、隣り合うピンホールから射出
    される照明光が互いに直交する偏光面を持つように照明
    光の偏光面を変化させる照明光変化手段と、物体からの
    反射光が隣り合うピンホール間で互いにその偏光面が直
    交するように選択透過する選択検光手段とを有すること
    を特徴とする2次元配列型共焦点光学装置。
  2. 【請求項2】 照明光変化手段は照明光を直線偏光とす
    る直線偏光手段と、ピンホールアレイ部の各ピンホール
    に対応した配列の透明電極配列をもつ液晶セルとにより
    構成され、選択検光手段は前記照明光変化手段の液晶セ
    ルと共通の液晶セルと、ある方向の直線偏光しか透過し
    ない検光手段とにより構成されることを特徴とする請求
    項1記載の2次元配列型共焦点光学装置。
  3. 【請求項3】 マイクロレンズアレイを対物レンズとし
    て並列同時露光を行い共焦点画像を得ることが可能な共
    焦点光学系において、隣り合うマイクロレンズから射出
    される照明光が互いに直交する偏光面を持つように照明
    光の偏光面を変化させる照明光変化手段と、物体からの
    反射光が隣り合うマイクロレンズ間で互いにその偏光面
    が直交するように選択透過する選択検光手段とを有する
    ことを特徴とする2次元配列型共焦点光学装置。
  4. 【請求項4】 照明光変化手段は照明光を直線偏光とす
    る直線偏光手段と、マイクロレンズアレイの各マイクロ
    レンズに対応した配列の透明電極配列をもつ液晶セルと
    により構成され、選択検光手段は前記照明光変化手段の
    液晶セルと共通の液晶セルと、ある方向の直線偏光しか
    透過しない検光手段とにより構成されることを特徴とす
    る請求項2記載の2次元配列型共焦点光学装置。
  5. 【請求項5】 照明光変化手段と選択検光手段はともに
    同一の偏光板アレイであり、前記偏光板アレイは隣り合
    う偏光板が互いに直交ニコルである構造を有することを
    特徴とする請求項1又は請求項3記載の2次元配列型共
    焦点光学装置。
  6. 【請求項6】 照明光変化手段と選択検光手段はともに
    同一の位相差板アレイであり、前記位相差板アレイは隣
    り合う位相差板が互いに1/2波長異なる位相差を有す
    ることを特徴とする請求項1又は請求項3記載の2次元
    配列型共焦点光学装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001083098A (ja) * 1999-09-16 2001-03-30 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置
EP1243893A1 (en) * 2001-03-20 2002-09-25 Ford Global Technologies, Inc. A crystal based fringe generator system
JP2002543378A (ja) * 1999-04-27 2002-12-17 カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー 物体アレイを光学的に評価する装置
WO2004036284A1 (ja) * 2002-09-30 2004-04-29 Japan Science And Technology Agency 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡を用いた蛍光測定方法及び偏光測定方法
JP2008514958A (ja) * 2004-09-28 2008-05-08 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド テレセントリック光学素子を有するサイトメータ
US8686376B2 (en) 2008-06-24 2014-04-01 Koninklijke Philips N.V. Microarray characterization system and method
CN111457836A (zh) * 2020-04-09 2020-07-28 中山易美杰智能科技有限公司 一种即时表面三维相机的构造

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102235642B1 (ko) * 2019-05-17 2021-04-02 서울대학교산학협력단 공간 광 변조기를 이용한 광학계 및 이를 이용한 물성 측정 방법

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5998543U (ja) * 1982-12-22 1984-07-04 オムロン株式会社 光電スイツチ
JPH04265918A (ja) * 1990-11-10 1992-09-22 Carl Zeiss:Fa 被検査体を3次元検査するための同焦点光路を有する光学式装置
JPH0694641A (ja) * 1992-04-21 1994-04-08 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 共焦点画像形成システム、ならびに物体の検査及び/又は画像形成の方法
JPH08233544A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Komatsu Ltd 共焦点光学装置
JPH09127420A (ja) * 1995-11-02 1997-05-16 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 共焦点走査顕微鏡の走査装置
JPH09318879A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Komatsu Ltd 共焦点光学装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5998543U (ja) * 1982-12-22 1984-07-04 オムロン株式会社 光電スイツチ
JPH04265918A (ja) * 1990-11-10 1992-09-22 Carl Zeiss:Fa 被検査体を3次元検査するための同焦点光路を有する光学式装置
JPH0694641A (ja) * 1992-04-21 1994-04-08 Internatl Business Mach Corp <Ibm> 共焦点画像形成システム、ならびに物体の検査及び/又は画像形成の方法
JPH08233544A (ja) * 1995-02-28 1996-09-13 Komatsu Ltd 共焦点光学装置
JPH09127420A (ja) * 1995-11-02 1997-05-16 Takaoka Electric Mfg Co Ltd 共焦点走査顕微鏡の走査装置
JPH09318879A (ja) * 1996-05-29 1997-12-12 Komatsu Ltd 共焦点光学装置

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002543378A (ja) * 1999-04-27 2002-12-17 カール ツァイス イェナ ゲーエムベーハー 物体アレイを光学的に評価する装置
JP2001083098A (ja) * 1999-09-16 2001-03-30 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置
EP1243893A1 (en) * 2001-03-20 2002-09-25 Ford Global Technologies, Inc. A crystal based fringe generator system
WO2004036284A1 (ja) * 2002-09-30 2004-04-29 Japan Science And Technology Agency 共焦点顕微鏡、共焦点顕微鏡を用いた蛍光測定方法及び偏光測定方法
EP1548481A1 (en) * 2002-09-30 2005-06-29 Japan Science and Technology Agency Cofocal microscope, fluorescence measuring method and polarized light measuring metod using cofocal microscope
EP1548481A4 (en) * 2002-09-30 2006-11-22 Japan Science & Tech Agency CONFOCAL MICROSCOPE, FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD, AND POLARIZED LIGHT MEASURING METHOD USING A CONFOCAL MICROSCOPE
KR100721414B1 (ko) 2002-09-30 2007-05-23 도꾸리쯔교세이호징 가가꾸 기쥬쯔 신꼬 기꼬 공초점 현미경, 공초점 현미경을 사용한 형광 측정 방법 및편광 측정 방법
JP2008514958A (ja) * 2004-09-28 2008-05-08 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド テレセントリック光学素子を有するサイトメータ
JP4733136B2 (ja) * 2004-09-28 2011-07-27 ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド テレセントリック光学素子を有するサイトメータ
US8686376B2 (en) 2008-06-24 2014-04-01 Koninklijke Philips N.V. Microarray characterization system and method
CN111457836A (zh) * 2020-04-09 2020-07-28 中山易美杰智能科技有限公司 一种即时表面三维相机的构造

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