JPH1031031A - 検出装置及び検出方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、精度良く面振れ加速度及びトラツク
振れ加速度を検出してデイスクをセクタ単位で評価する
ようにする。 【解決手段】本発明は、デイスクの面振れ又はトラツク
振れによるデイスク変位量と当該デイスク変位量に応じ
て光ピツクアツプの対物レンズをデイスク面に追従させ
るように駆動手段を介してサーボをかけたときのレンズ
変位量との差分に基づいて生成した光ピツクアツプの対
物レンズを駆動させる駆動信号を、光ピツクアツプの対
物レンズがデイスク面を追従する動きの伝達特性とほぼ
等しい特性を有するフイルタを介して通過させることに
より、加速度成分を検出することができ、かくして加速
度成分を精度良く検出してデイスクをセクタ単位で評価
することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。 発明の属する技術分野 従来の技術（図１４〜図１９） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 発明の実施の形態（図１〜図１３） 発明の効果

【０００２】

【発明の属する技術分野】本発明は、検出装置及び検出
方法に関し、例えば光デイスクの面振れ加速度及びトラ
ツク振れ加速度を検出する場合に適用して好適なもので
ある。

【０００３】

【従来の技術】従来、光デイスクにおいては再生専用型
の例えばコンパクトデイスク（ＣＤ）や、記録可能型の
例えば光磁気デイスク（ＭＯ）等があり、これらの光デ
イスクは全てプラスチツク材料あるいはガラス材料から
熱加圧成形法または熱注入成形法によつて形成されてい
る。

【０００４】ところが、上述の熱加圧成形法または熱注
入成形法によつて行われる成形時の熱ひずみによつてデ
イスク自体に反りとうねりが生じ、その結果デイスク表
面に上下の振れが発生すると共に、トラツクの真円度が
うねりによつて損なわれてしまう。また、デイスクの中
心に設けられる中心穴の穴開け加工時には加工精度に応
じた偏心が発生してしまう。

【０００５】このように、デイスクには表面に上下の振
れが発生することにより、デイスク回転時にデイスク面
が上下するいわゆる面振れが発生し、またデイスクの中
心穴の加工時にできた偏心によつてデイスク回転時にト
ラツクが蛇行するいわゆるトラツク振れが発生する。一
般に、デイスクを回転させることにより生じる面振れや
トラツク振れは回転周波数以上の高周波成分（ノイズ）
の原因となるために、デイスクの規格として面振れ加速
度とトラツク振れ加速度とが規定されている。

【０００６】この面振れ加速度は、光ピツクアツプによ
りフオーカスをかける時の外乱ノイズとなる。すなわ
ち、デイスク回転時の上下の面振れに対して光ピツクア
ツプが追従できなくなると、デイスクと光ピツクアツプ
の光束との距離が焦点位置からずれることになり、これ
によりＲＦ信号レベルが変化してノイズとなる。また、
トラツク振れ加速度は光ピツクアツプによりデイスクの
トラツクをなぞるトラツキングサーボをかける時の外乱
ノイズとなる。すなわち、デイスクのトラツクに照射さ
れた光ピツクアツプの光束がトラツク中心から外れるこ
とにより、ＲＦ信号レベルが変化してノイズとなり、エ
ラーレートの悪化を招く。

【０００７】これらのノイズの原因となる面振れ加速度
及びトラツク振れ加速度は、サーボをかけることによつ
て記録、再生及び消去が正しく行える範囲内に抑えられ
ていなければならない。そこで、面振れ加速度及びトラ
ツク振れ加速度は、光ピツクアツプのアクチユエータの
性能とサーボ機構の性能を考慮に入れて周波数帯域が限
られている。

【０００８】例えば、８[inch]のガラス基板で形成され
たデイスクでは周波数帯域のカツトオフ周波数（ノイズ
が問題とならない程度の周波数の上限であり、以下これ
をｆｃと呼ぶ）が1.5[kHz]と規格で定められている。と
ころが、実際の面振れ及びトラツク振れによる加速度成
分のうちの高周波成分は図１４に示すようにｆｃを越え
る高周波帯域にも存在する。このために、サーボによる
フイードバツクをかけてもサーボで抑えられなかつた面
振れ及びトラツク振れの取り残しの加速度成分が存在し
てしまう。

【０００９】一般に、記録可能な光デイスクは、使用す
る前にデイスクに存在する不良セクタを検出し、その不
良セクタの位置をマイクロコンピユータ上の設定エリア
に登録すること（以下、これをサーテイフアイと呼ぶ）
を行つている。このときに、面振れ加速度及びトラツク
振れ加速度も同時に測定して、デイスクの振れによりＲ
Ｆ信号が一定レベル以下になつた場合にそのセクタを不
良セクタとして認識したり、また光ピツクアツプの光束
がトラツクから外れたり、デイスクと光ピツクアツプの
光束との距離が焦点位置からずれたり、さらにシークに
問題が出るような面振れ加速度及びトラツク振れ加速度
が検出された場合にはそのデイスク自体を不良デイスク
と認識して使用しないようにしている。

【００１０】ところが、デイスクの面振れ加速度及びト
ラツク振れ加速度の測定方法としてデイスクの記録面上
の凹凸やトラツクのうねりを直接検出することは困難で
ある。というのもデイスクには記録面の上にポリカーボ
ネート（ＰＣ）膜やガラス基板があり、さらに記録面に
トラツク溝が形成されているので当該トラツク溝に沿つ
て面振れ加速度及びトラツク振れ加速度を検出する必要
があるが、現実的にそのような装置は存在しない。

【００１１】そのため、駆動装置上でサーボをかけて間
接的に測定するという方法がある。つまり、サーボをか
ける周波数帯域において、デイスクの面振れ及びトラツ
ク振れに追従してアクチユエータで駆動される対物レン
ズが動くので当該対物レンズの加速度をデイスクの面振
れ加速度あるいはトラツク振れ加速度と見なすことがで
きる。従つて、対物レンズの加速度を測定することによ
つてデイスクの面振れ加速度及びトラツク振れ加速度を
測定することができる。

【００１２】例えば、図１５に示すように加速度成分を
検出するサーテイフアイ装置１は実際のデイスク変位量
（面振れ変位量あるいはトラツク振れ変位量）とアクチ
ユエータ４のレンズ変位量との差分であるフオーカスエ
ラー信号あるいはトラツキングエラー信号（以下、これ
らを総称してサーボエラー信号と呼ぶ）Ｓ１を減算回路
２によつて算出してフイードバツク制御回路３に入力
し、当該フイードバツク制御回路３はサーボエラー信号
Ｓ１に基づいたレンズ補正量（変位量）をドライブ信号
Ｓ２としてアクチユエータ４に供給して対物レンズの変
位量を制御するようにしている。

【００１３】この場合、よくある測定方法の１つとし
て、対物レンズの変位量すなわち対物レンズの加速度に
相当するドライブ信号Ｓ２を、図１６に示すような急峻
な特性の低域周波数成分通過フイルタ（以下、これをロ
ーパスフイルタと呼ぶ）５に通過させて加速度成分のう
ちの低周波成分を検出し、サーボをかけたときに記録、
再生及び消去が正しく行える範囲内に抑え切れずに取り
残したサーボエラー信号Ｓ１をハイパスフイルタ６を介
して通過させて加速度成分のうちの高周波成分を検出
し、加算回路７で加算することにより加速度成分を検出
するという方法がある。

【００１４】

【発明が解決しようとする課題】ところでかかる構成の
サーテイフアイ装置１においては、急峻な特性のローパ
スフイルタ５を用いており、当該ローパスフイルタ５に
は周波数特性にピークがなく平坦部分が最も多いバター
ワース型や、基準周波数ｆ₀ 付近のしや断特性が最も急
峻なチエビシエフ型等いろいろな種類がある。ところ
が、いずれにしても急峻な特性のローパスフイルタ５の
回路構成はオペアンプを複数組み合わせて形成する等、
構成が複雑でしかも高精度な部品を用いているために微
妙な調整を必要とすると共に、部品の経時劣化に伴う定
期的な交換も必要とし、メンテナンスが煩雑で面倒であ
るという問題があつた。

【００１５】また、加速度成分が低周波数帯域及び高周
波数帯域にまたがつて存在しているような場合、加速度
成分は半分ずつ両方の帯域に分かれてしまうので、図１
７に示すような逆特性の交差型フイルタ（reversed cro
ss-over filter）を用いる。すなわち、サーテイフアイ
装置１ではローパスフイルタ５にＡの特性のフイルタ
を、ハイパスフイルタ６にＢの特性のフイルタを用いて
出力された２つの検出信号を加算して加速度成分を検出
する。ところが、この場合にもサーテイフアイ装置１の
回路規模が大きくなつてしまうので検査専用機には搭載
できても実際の民生用のデイスク記録再生機には搭載で
きないという問題があつた。

【００１６】また、工場出荷時においては規格を満たし
たデイスクでも保管状態や長年の使用によつて規格から
外れてしまうことがある。従つて、そのデイスクが使用
できるか否かを検査する場合、通常のデイスク記録再生
機のフオーマツトモードでエラーレートやＲＦ信号と合
わせて加速度成分を検出して評価を行うが、サーテイフ
アイ装置１の回路規模が大きいためにこの場合も民生用
のデイスク記録再生機には実装が困難で実用化できない
という問題があつた。

【００１７】一方、簡便な方法として図１８に示すサー
テイフアイ装置１０のように、フイードバツク制御回路
１１からアクチユエータ１２に送出するドライブ信号Ｓ
４によつてサーボをかけたときに、対物レンズが面振れ
あるいはトラツク振れに追従しきれずに取り残したサー
ボエラー信号Ｓ３から加速度成分を検出する方法があ
る。

【００１８】このサーテイフアイ装置１０による検出方
法は、実際の電子機器で問題となるエラーレートのう
ち、加速度成分が影響を与えるフオーカスエラーあるい
はトラツキングエラーだけに基づいて加速度成分を検出
しようとするものであり、一般に多くの電子機器に採用
されている。

【００１９】実際上、この方法によればデイスク変位量
とレンズ変位量との差分であるサーボエラー信号Ｓ３を
減算回路１３によつて算出し、当該サーボエラー信号Ｓ
３を急峻な特性のローパスフイルタ１４を介して通過さ
せることにより加速度成分のうちの低周波成分を検出す
ることができる。ところが、このようにして検出された
加速度成分には高周波成分が含まれていないだけでな
く、デイスク変位量とレンズ変位量との差分であるサー
ボエラー信号Ｓ３に基づいて得られたものであるために
真の加速度成分ではなかつた。

【００２０】また図１９に示すように、サーテイフアイ
装置２０ではフイードバツク制御回路２１がデイスク変
位量に応じて対物レンズを追従させるレンズ変位量を表
すドライブ信号Ｓ６をアクチユエータ２２に供給し、当
該アクチユエータ２２の対物レンズの動きを光学測定装
置（図示せず）で検出し、その検出されたレンズ変位量
信号をフイルタ２３を介して通過させて出力された信号
から加速度成分を検出するという方法もある。この方法
によつて得られた加速度成分は、レンズ変位量信号に基
づいているために実際の加速度成分にかなり近いもので
ある。このようにアクチユエータ２２の対物レンズの動
きから加速度成分を検出する方法はデイスクの製造現場
においては検査専用機等で用いられているが、この場
合、装置が大型かつ高価であるために実際のデイスク記
録再生機には搭載できないという問題があつた。

【００２１】さらに、検査の上でフイードバツク制御回
路２１がアナログ／デイジタル変換器、デイジタル信号
処理器（デイジタルフイルタ）及びデイジタル／アナロ
グ変換器を使つたサンプリングサーボによつて行われた
場合、サンプリングのタイミングによつてはデイスクの
ピンホールと呼ばれる小さな欠陥に敏感に反応してしま
つて生じたノイズ成分が加速度の規格値を越えてしまう
ことがある。

【００２２】ところで、デイジタルフイルタではサンプ
リング周波数の１／２以上の周波数成分は折り返しノイ
ズとなつて現れる固有の特性を有しており、ピンホール
による欠陥はフイードバツク制御回路２１がサンプリン
グによらない連続系であれば検出されないものであり、
当然加速度成分とは区別されるべきものである。尚、ピ
ンホールによるノイズ成分はフイードバツク制御回路２
１によつてフイードバツクしてもアクチユエータ２２が
応答できないほど周波数が高いために対物レンズそのも
のの動きには特別影響されない。

【００２３】従つて、サンプリング周波数の１／２以上
の周波数をカツトしてからアナログ／デイジタル変換器
に送出すれば上述の問題は生じないが、この場合サンプ
リング周波数を余程高くしないとトラツキングサーボの
周波数帯域の位相が遅れてしまい、トラツキングサーボ
の性能を低下させるので実用的ではなかつた。特に、高
密度記録の要求されているデイスク機器ではトラツキン
グサーボの周波数帯域をより広くする必要があり、この
ためにサンプリング周波数の１／２以上の周波数をカツ
トしてからアナログ／デイジタル変換器に送出すること
は困難であつた。

【００２４】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、簡易な構成で精度良く面振れ加速度及びトラツク振
れ加速度を検出してデイスクをセクタ単位で評価する検
出装置及び検出方法を提案しようとするものである。

【００２５】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、デイスクの面振れ又はトラツク振
れによる加速度成分を検出する検出装置において、デイ
スクの面振れ又はトラツク振れによるデイスク変位量に
応じて光ピツクアツプの対物レンズをデイスク面に対し
て垂直方向又は半径方向に追従させるように駆動する駆
動手段と、デイスク変位量と当該デイスク変位量に応じ
て光ピツクアツプの対物レンズをデイスク面に追従させ
るように駆動手段を介してサーボをかけたときのレンズ
変位量との差分に基づいて生成した光ピツクアツプの対
物レンズを駆動させる駆動信号を駆動手段に供給するフ
イードバツク制御手段と、光ピツクアツプの対物レンズ
がデイスク面を追従する動きの伝達特性とほぼ等しい特
性を有するフイルタとを具え、フイードバツク制御手段
からの駆動信号をフイルタを介して通過させることによ
り加速度成分を検出することができ、かくして加速度成
分を精度良く検出することができる。

【００２６】また、加速度成分がセクタ単位で検出さ
れ、当該加速度成分の存在するセクタ位置をマイクロコ
ンピユータに登録することにより、加速度成分が存在す
る不良セクタの位置を認識することができ、かくしてデ
イスクのセクタ単位ごとに良否を評価することができ
る。

【００２７】また、加速度成分がデイスク単位で検出さ
れ、当該加速度成分の存在するデイスクを不良デイスク
としてマイクロコンピユータに登録することにより、デ
イスク自体が不良デイスクであるか否かを認識すること
ができ、かくしてデイスクごとに良否を評価することが
できる。

【００２８】

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。

【００２９】図１においては、本発明による検出装置と
してのサーテイフアイ装置３０の全体構成を示す。この
サーテイフアイ装置３０においては、面振れによるフオ
ーカス方向（光軸方向）の加速度成分検出も、トラツク
振れによるトラツキング方向の加速度成分検出も検出方
法は同じであり、以下共通に説明する。

【００３０】サーテイフアイ装置３０では、まず面振れ
及びトラツク振れによるデイスク変位量とアクチユエー
タによつて駆動される対物レンズのレンズ変位量（対物
レンズの動き）との差分であるサーボエラー信号Ｓ１１
を減算回路３１によつて算出してフイードバツク制御回
路３２に送出する。フイードバツク制御回路３２は、サ
ーボエラー信号Ｓ１１に基づいて最適なレンズ補正量
（変位量）をドライブ信号Ｓ１２としてアクチユエータ
３３に供給し、対物レンズの動きを制御するようになさ
れている。

【００３１】また、フイードバツク制御回路３２はドラ
イブ信号Ｓ１２を２次のローパスフイルタ３４にも送出
する。この２次のローパスフイルタ３４には、従来のよ
うな急峻な特性のローパスフイルタ（図１６）ではな
く、図２に示すようなｆｃまでがフラツトでそれ以上の
周波数帯域で２次に減衰していく特性を有するものを用
いるようにしたい。ところで、アクチユエータ３３は対
物レンズのメカニカルな動きの伝達特性が数十[Hz]を越
えるあたりから２次に減衰（40[dB/dec]）していくもの
が通常使用される。

【００３２】従つて、２次のローパスフイルタ３４をｆ
ｃから２次に減衰するような特性をもつ２次のローパス
フイルタにすれば実際のアクチユエータ３３に駆動され
る対物レンズの動き（加速度）と一致する。従つて、サ
ーテイフアイ装置３０はドライブ信号Ｓ１２を２次のロ
ーパスフイルタ３４に通過させることにより加速度成分
（及びｆｃ以上の加速度成分を含む）を検出し得るよう
になされている。つまり、ドライブ信号Ｓ１２はレンズ
変位量（加速度成分）そのものと考えられるので、対物
レンズの動きの加速度成分はドライブ信号Ｓ１２を２次
のローパスフイルタに通過させたものと同じになる。

【００３３】このような２次に減衰する特性のローパス
フイルタ３４の構成を図３に示す。ローパスフイルタ３
４は、入力信号を抵抗Ｒ１及びＲ２でなる直列回路を介
してコンデンサＣ１の一端に充放電する。これにより、
コンデンサＣ１の一端に生じた加速度成分をネガテイブ
フイードバツクをかけたオペアンプＡ１及びコンデンサ
Ｃ２を介して抵抗Ｒ１及びＲ２の接続中点にフイードバ
ツクする。かくして、ローパスフイルタ３４はオペアン
プＡ１で設定した任意の利得に加速度成分を増幅して出
力信号として取り出すことができるようになされてい
る。

【００３４】このように、サーテイフアイ装置３０は従
来のような急峻な特性のローパスフイルタ（図１６）で
はなくｆｃから２次に減衰する理想の２次のローパスフ
イルタを用いることにより、オペアンプを複数必要とせ
ずに１個のオペアンプからなる簡素な構成で加速度成分
を検出し得ると共に、サーボエラー信号Ｓ１１に基づい
て加速度成分を検出しなくても直接レンズ変位量を表す
ドライブ信号Ｓ１２から加速度成分を検出し得るように
なされている。

【００３５】ところが、図４に示すようにサーテイフア
イ装置３０では実際上２次のローパスフイルタ３４は周
波数が０からｆｃまでゲイン１の利得をオーバーしない
ようにするとｆｃ付近において利得が 6[dB]下がつてし
まう。この 6[dB]分の誤差が問題となる場合、ｆｃ付近
において極力ゲイン１に近づけるためには周波数が０か
らｆｃまでゲイン１を少しオーバーしてしまう特性のも
のしか実現できない。

【００３６】そのため２次のローパスフイルタ３４は、
図５に示すようなゲイン１の利得を少しオーバーするよ
うな特性のものと、それに図６に示すようなｆｃ付近に
おいてゲイン１を少し下回るような特性の特別補正フイ
ルタ３５とを組み合わせることにより、図７に示すよう
なｆｃ付近までほぼゲイン１の理想に近い２次のローパ
スフイルタを用いたときと同様の効果を得られるように
している。

【００３７】すなわち、サーテイフアイ装置３０はドラ
イブ信号Ｓ１２を２次のローパスフイルタ３４及び特別
補正フイルタ３５を介して通過させることによつて理想
のローパスフイルタを通過させたことと同じになる。次
に、サンプリングノイズ除去フイルタ３６は、フイード
バツク制御回路３２がアナログ／デイジタル変換器、デ
イジタル信号処理器及びデイジダル／アナログ変換器を
用いてサンプリングサーボで行つた際、デイスクのピン
ホールと呼ばれる小さな欠陥に反応して拾つてしまつた
ノイズ成分を除去するためのものであり、ｆｃに対して
十分高い周波数特性のローパスフイルタである。このサ
ンプリングノイズ除去フイルタ３６と２次のローパスフ
イルタ３４とを合成した特性を図８に示す。

【００３８】図８によれば、この特性はｆｃを越えて２
次に減衰した後にｆｃ２以降急峻に減衰してｆｃ２以降
の高周波成分を通過させないような特性である。これに
より、サーテイフアイ装置３０はサンプリングノイズ除
去フイルタ３６を入れたことによつてピンホールによる
ノイズ成分を除去し得るようになされている。ところ
が、ピンホールによるノイズ成分はピークが非常に高い
ためにサンプリングノイズ除去フイルタ３６で除去し切
れなかつたノイズ成分が次のコンパレータ３７以降に加
速度成分による信号に比べて時間の短いパルスとなつて
現れてしまうことがある。

【００３９】次に、コンパレータ３７は各フイルタ３４
〜３６を通過した後の信号に含まれる加速度成分と所定
の基準レベルとを比較して加速度成分が基準レベル以上
であるか否かの信号（「Ｈ」又は「Ｌ」）を出力する。
続いて、サンプリングノイズ除去回路３８はコンパレー
タ３７以降に現れる時間の短いパルス（除去し切れなか
つたノイズ成分）と加速度成分とを区別してノイズ成分
だけを除去するためのものであり、その構成を図９に示
す。

【００４０】図９に示すように、サンプリングノイズ除
去回路３８はコンパレータ３７からのコンパレータ出力
をモノステーブルマルチバイブレータ４１とＤ−フリツ
プフロツプ４２とに入力し、Ｄ−フリツプフロツプ出力
をマイクロコンピユータ４０のＩポートに入力させるよ
うになされている。また図１０に示すように、モノステ
ーブルマルチバイブレータ４１は、ピンホールによるノ
イズ成分を表すコンパレータ出力Ｐ１よりも時間幅が広
く、基準レベルよりもオーバーした加速度成分を表すコ
ンパレータ出力Ｐ２よりも時間幅が狭い、所定の時間幅
のパルスでなるモノマルチ出力Ｐ３を生成する。

【００４１】Ｄ−フリツプフロツプ４２は、入力される
セクタパルスのタイミングに基づいてコンパレータ出力
Ｐ１やコンパレータ出力Ｐ２がモノマルチ出力Ｐ３のパ
ルス幅よりも広い場合には「Ｈ」の信号を、狭い場合に
は「Ｌ」の信号をＤ−フリツプフロツプ出力として出力
するようになされている。従つて、Ｄ−フリツプフロツ
プ４２はコンパレータ出力Ｐ２のときにＤ−フリツプフ
ロツプ出力が「Ｈ」となる。

【００４２】このサンプリングノイズ除去回路出力（Ｄ
−フリツプフロツプ出力）をマイクロコンピユータ４０
に伝達するためには、その結果をセクタホールド回路３
９で一旦ホールドしなければならない。サンプリングノ
イズ除去回路３８によつて検出した結果基準レベルを越
える加速度成分が、あるセクタで検出された場合にデイ
スク自体を不良として加速度成分の検出を中止するとき
には単に検出結果をホールドするだけでよい。ところ
が、検出した結果の場所を欠陥セクタあるいはトラツク
としてマイクロコンピユータ４０の設定エリアに欠陥登
録するときにはセクタあるいはトラツクごとに検出でき
なければならない。

【００４３】そのため、図１１に示すようにセクタパル
ス１においてコンパレータ出力が「Ｈ」で、このときの
コンパレータ出力がピンホールによるノイズ成分ではな
く加速度成分によるものであつた場合にサンプリングノ
イズ除去回路出力が「Ｈ」になり、このときに矢印に示
すマイクロコンピユータ４０のサンプリングタイミング
でラツチすることにより、セクタホールド回路出力が
「Ｈ」となるようになされており、当該セクタホールド
回路出力「Ｈ」をマイクロコンピユータ４０のＩポート
に入力するようになされている。

【００４４】この場合、セクタパルス１において検出さ
れた加速度成分が２セクタ目のセクタホールド回路出力
となつているが、セクタホールド回路出力の１つ前のセ
クタにおけるデータであることを予めマイクロコンピユ
ータ４０に認識させておくようになされている。また、
マイクロコンピユータ４０のサンプリングタイミング
（矢印）は、１セクタ内であればどこであつてもよい。
このようにして、サーテイフアイ装置３０は基準レベル
以上の加速度成分をノイズ成分と明確に区別して、加速
度成分の検出されたセクタ位置をマイクロコンピユータ
４０の設定エリアに登録するようになされている。

【００４５】以上の構成において、サーテイフアイ装置
３０においてはフイードバツク制御回路３２からのドラ
イブ信号Ｓ１２を２次のローパスフイルタ３４及び特別
補正フイルタ３５を介して通過させる。このドライブ信
号Ｓ１２は対物レンズの動きの伝達特性とほぼ同じ特性
を持つているために、ほぼ同じ特性になる２次のローパ
スフイルタ３４及び特別補正フイルタ３５にドライブ信
号Ｓ１２を通すことにより、真の加速度成分をドライブ
信号Ｓ１２だけから検出することができる。

【００４６】この後、サーテイフアイ装置３０ではピン
ホールによるノイズ成分をサンプリングノイズ除去フイ
ルタ３６で除去し、コンパレータ３７により加速度成分
が基準レベル以上であるか否かを比較する。そして、サ
ーテイフアイ装置３０では比較した結果、基準レベル以
上の加速度成分が存在することがわかると、サンプリン
グノイズ除去フイルタ３６で除去し切れずに残つたノイ
ズ成分と加速度成分とをサンプリングノイズ除去回路３
８によつて区別してノイズ成分だけを除去する。その
後、サーテイフアイ装置３０ではセクタホールド回路３
９が加速度成分が存在するセクタ位置をセクターパルス
のタイミングに基づいてホールドしてマイクロコンピユ
ータ４０の設定エリアに登録する。

【００４７】これにより、サーテイフアイ装置３０はピ
ンホールによるノイズ成分と基準レベル以上の加速度成
分とを明確に区別し、加速度成分の存在する不良セクタ
の位置をそれぞれ認識してマイクロコンピユータ４０の
設定エリアに順次登録し、セクタごとの良否を評価する
ことができる。かくして、サーテイフアイ装置３０はア
クチユエータ３３によつて駆動される対物レンズの動き
を制御するドライブ信号Ｓ１２だけから加速度成分を検
出することができるので、従来の検出装置１に比べてサ
ーボエラー信号Ｓ１１から加速度成分を検出する必要が
無くなり、真の加速度成分を検出してデイスクをセクタ
単位で評価することができる。

【００４８】また、サーテイフアイ装置３０は従来のよ
うな急峻な特性のローパスフイルタを用いる代わりにア
クチユエータ３３によつて駆動される対物レンズのメカ
ニカルな動きの伝達特性と同じようなｆｃから２次に減
衰していく特性のローパスフイルタを、２次のローパス
フイルタ３４と特別補正フイルタ３５によつて形成する
ようにしたことにより、急峻な特性のローパスフイルタ
のようにオペアンプを複数必要とせずに１個のオペアン
プからなる簡素な構成のローパスフイルタにすることが
でき、かくしてメンテナンスを容易にすることができ
る。

【００４９】また、サーテイフアイ装置３０は２次のロ
ーパスフイルタ３４と特別補正フイルタ３５とにより簡
素な回路構成としたことにより、サーテイフアイ装置３
０自体を小型でかつ簡素化でき、かくして民生用のデイ
スク記録再生機に搭載して実用化を図ることができる。

【００５０】さらに、サーテイフアイ装置３０はサンプ
リングノイズ除去フイルタ３６及びサンプリングノイズ
除去回路３８によつてデイスクのピンホールによるノイ
ズ成分を完全に除去することができるので、サンプリン
グ周波数を高くしなくて済み、デイジタルによるサーボ
の特性を損なうことなく加速度成分の検出を行うことが
できる。

【００５１】以上の構成によれば、サーテイフアイ装置
３０はアクチユエータ３３によつて駆動される対物レン
ズのメカニカルな動きの伝達特性と同じような２次に減
衰していく特性のローパスフイルタを、２次のローパス
フイルタ３４と特別補正フイルタ３５によつて形成する
ようにし、対物レンズの動きを制御するドライブ信号Ｓ
１２をローパスフイルタ３４と特別補正フイルタ３５と
を介して通過させることにより真の加速度成分を検出す
ることができ、かくして簡易な構成で精度良く面振れ加
速度及びトラツク振れ加速度を検出してデイスクをセク
タ単位で評価することができる。

【００５２】なお上述の実施例においては、加速度成分
の検出をセクタ単位に行つてマイクロコンピユータ４０
の設定エリアに登録するようにした場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、加速度成分をトラツク単位
に検出したり、また加速度成分を検出する度ごとにマイ
クロコンピユータ４０に割り込みをかけて登録するよう
にしても良い。この場合にも上述の実施例と同様の効果
を得ることができる。

【００５３】また上述の実施例においては、サーテイフ
アイ装置３０が１つの基準レベル以上の加速度成分を検
出するようにした場合について述べたが、本発明はこれ
に限らず、１つの基準レベル以上の加速度成分が検出さ
れるとセクタの欠陥登録、また他の基準レベル以上の加
速度成分が検出されるとデイスクの欠陥登録を行うとい
う２段階の加速度成分を検出するような場合、２次のロ
ーパスフイルタ３４〜マイクロコンピユータ４０までの
回路系統を２系統有するようにすれば良い。

【００５４】さらに上述の実施例においては、加速度成
分はデイスク回転数の整数倍でなる周波数成分しか存在
しないはずであるため、デイスク回転数以下の周波数成
分は全てノイズであると考えられる。従つて、デイスク
回転数以下の周波数成分を全て除去するようなハイパス
フイルタをコンパレータ３７の前に設けるようにしても
良い。これにより、デイスク回転数以下の不要なノイズ
成分を全て除去することができ、より精度の高い加速度
成分の検出を行うことができる。

【００５５】さらに上述の実施例においては、サーテイ
フアイ装置３０ではフイードバツク制御回路３２による
閉ループ特性が図１２に示すように必ずしもｆｃまでフ
ラツトではなくゲイン１を越えてしまうことがあり、こ
れはサーボエラー信号Ｓ１１に対してアクチユエータ３
３がオーバーシユートしていることを意味する。つま
り、真のサーボエラー信号Ｓ１１に対して弱冠大きめに
加速度成分が検出されることを意味している。 そのた
め図１３に示すように、サーテイフアイ装置３０では閉
ループ特性とは逆の特性のフイルタを用いるようにして
も良い。これにより、サーテイフアイ装置３０はｆｃま
でゲイン１を越えることなくより精度の高い加速度成分
の検出を行うことができる。

【００５６】さらに上述の実施例においては、本発明の
サーテイフアイ装置３０をデイスク記録再生器に搭載し
て使用するようにした場合について述べたが、本発明は
これに限らず、工場におけるデイスクの欠陥検査装置に
搭載して使用するようにしても良い。これにより、欠陥
検査装置はコストの大幅な低減を図ることができる。

【００５７】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、デイスク
の面振れ又はトラツク振れによる加速度成分を検出する
検出装置において、デイスクの面振れ又はトラツク振れ
によるデイスク変位量に応じて光ピツクアツプの対物レ
ンズをデイスク面に対して垂直方向又は半径方向に追従
させるように駆動する駆動手段と、デイスク変位量と当
該デイスク変位量に応じて光ピツクアツプの対物レンズ
をデイスク面に追従させるように駆動手段を介してサー
ボをかけたときのレンズ変位量との差分に基づいて生成
した光ピツクアツプの対物レンズを駆動させる駆動信号
を駆動手段に供給するフイードバツク制御手段と、光ピ
ツクアツプの対物レンズがデイスク面を追従する動きの
伝達特性とほぼ等しい特性を有するフイルタとを具え、
フイードバツク制御手段からの駆動信号をフイルタを介
して通過させることにより加速度成分を検出することが
でき、かくして精度良く面振れ加速度及びトラツク振れ
加速度を検出してデイスクをセクタ単位で評価し得る検
出装置及び検出方法を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例によるサーテイフアイ装置の
構成を示すブロツク図である。

【図２】本発明の一実施例による理想の２次のローパス
フイルタの特性を示す特性曲線図である。

【図３】本発明の一実施例による２次のローパスフイル
タの構成を示す回路図である。

【図４】本発明の一実施例による実際の２次のローパス
フイルタの特性（１）を示す特性曲線図である。

【図５】本発明の一実施例による実際の２次のローパス
フイルタの特性（２）を示す特性曲線図である。

【図６】本発明の一実施例による特別補正フイルタの特
性を示す特性曲線図である。

【図７】本発明の一実施例による２次のローパスフイル
タと特別補正フイルタとを合成した特性を示す特性曲線
図である。

【図８】本発明の一実施例によるサンプリングノイズ除
去フイルタを入れた特性を示す特性曲線図である。

【図９】本発明の一実施例によるサンプリングノイズ除
去回路の構成を示すブロツク図である。

【図１０】本発明の一実施例によるサンプリングノイズ
除去回路におけるタイミングチヤートを示す図表であ
る。

【図１１】本発明の一実施例によるセクタ単位で加速度
成分を検出するタイミングチヤートを示す図表である。

【図１２】本発明の一実施例によるフイードバツク制御
回路の閉ループ特性を示す特性曲線図である。

【図１３】本発明の一実施例によるフイードバツク制御
回路の閉ループ特性と逆の特性を示す特性曲線図であ
る。

【図１４】加速度成分の分布を表すグラフである。

【図１５】従来のサーテイフアイ装置（１）の構成を示
すブロツク図である。

【図１６】従来の急峻な特性のローパスフイルタを表す
特性曲線図である。

【図１７】従来の逆特性の交差型フイルタを表す特性曲
線図である。

【図１８】従来のサーテイフアイ装置（２）の構成を示
すブロツク図である。

【図１９】従来のサーテイフアイ装置（３）の構成を示
すブロツク図である。

【符号の説明】

１、１０、２０、３０……検出装置、２、１３、３１…
…減算回路、３、１１、２１、３２……フイードバツク
制御回路、４、１２、２２、３３……アクチユエータ、
５、１４……ローパスフイルタ、６……ハイパスフイル
タ、７……加算回路、３４……２次のローパスフイル
タ、３５……特別補正フイルタ、３６……サンプリング
ノイズ除去フイルタ、３７……コンパレータ、３８……
サンプリングノイズ除去回路、３９……セクタホールド
回路、４０……マイクロコンンピユータ、４１……モノ
ステーブルマルチバイブレータ、４２……Ｄ−フリツプ
フロツプ。

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】デイスクの面振れ又はトラツク振れによる
   加速度成分を検出する検出装置において、 上記デイスクの面振れ又はトラツク振れによるデイスク
   変位量に応じて光ピツクアツプの対物レンズを上記デイ
   スク面に対して垂直方向又は半径方向に追従させるよう
   に駆動する駆動手段と、 上記デイスク変位量と、当該デイスク変位量に応じて上
   記光ピツクアツプの対物レンズを上記デイスク面に追従
   させるように上記駆動手段を介してサーボをかけたとき
   のレンズ変位量との差分に基づいて生成した上記光ピツ
   クアツプの対物レンズを駆動させる駆動信号を上記駆動
   手段に供給するフイードバツク制御手段と、 上記光ピツクアツプの対物レンズが上記デイスク面を追
   従する動きの伝達特性とほぼ等しい特性を有するフイル
   タとを具え、 上記フイードバツク制御手段からの上記駆動信号を上記
   フイルタを介して通過させることにより加速度成分を検
   出することを特徴とする検出装置。
2. 【請求項２】上記加速度成分は、セクタ単位で検出され
   当該加速度成分の存在するセクタ位置をマイクロコンピ
   ユータに登録することを特徴とする請求項１に記載の検
   出装置。
3. 【請求項３】上記加速度成分は、デイスク単位で検出さ
   れ当該加速度成分の存在するデイスクを不良デイスクと
   してマイクロコンピユータに登録することを特徴とする
   請求項１に記載の検出装置。
4. 【請求項４】上記サーボが所定時間ごとのサンプリング
   データに基づいてかけられていた場合、上記デイスク面
   上のピンホールをサンプリングしてしまうことにより生
   じたノイズ成分を除去するサンプリングサーボノイズ除
   去フイルタを具えることを特徴とする請求項１に記載の
   検出装置。
5. 【請求項５】上記デイスクの面振れ又はトラツク振れに
   よる加速度成分のレベルを所定の基準レベルと比較する
   比較手段を設け、当該比較手段による比較結果に基づい
   て上記サンプリングサーボノイズ除去フイルタによつて
   除去し切れずに残つた上記ノイズ成分を除去するサンプ
   リングサーボノイズ除去回路を具えることを特徴とする
   請求項４に記載の検出装置。
6. 【請求項６】デイスクの面振れ又はトラツク振れによる
   加速度成分を検出する検出方法において、 上記デイスクの面振れ又はトラツク振れによるデイスク
   変位量と、当該デイスク変位量に応じて上記光ピツクア
   ツプの対物レンズを上記デイスク面に追従させるように
   サーボをかけたときのレンズ変位量との差分に基づいて
   生成した上記光ピツクアツプの対物レンズを駆動させる
   駆動信号を、当該光ピツクアツプの対物レンズが上記デ
   イスク面を追従する動きの伝達特性とほぼ等しい特性を
   有するフイルタに通過させることにより加速度成分を検
   出することを特徴とする検出方法。
7. 【請求項７】上記加速度成分は、セクタ単位で検出され
   当該加速度成分の存在するセクタ位置をマイクロコンピ
   ユータに登録することを特徴とする請求項６に記載の検
   出方法。
8. 【請求項８】上記加速度成分は、デイスク単位で検出さ
   れ当該加速度成分の存在するデイスクを不良デイスクと
   してマイクロコンピユータに登録することを特徴とする
   請求項６に記載の検出方法。
9. 【請求項９】上記サーボが所定時間ごとのサンプリング
   データに基づいてかけられていた場合、上記デイスク面
   上のピンホールをサンプリングしてしまうことにより生
   じたノイズ成分を除去する第１のノイズ成分除去ステツ
   プを具えることを特徴とする請求項６に記載の検出方
   法。
10. 【請求項１０】上記デイスクの面振れ又はトラツク振れ
    による加速度成分のレベルを所定の基準レベルと比較
    し、当該比較結果に基づいて上記第１のノイズ成分除去
    ステツプで除去し切れずに残つたノイズ成分を除去する
    第２のノイズ成分除去ステツプを具えることを特徴とす
    る請求項９に記載の検出方法。