JPH10303271A - キャリアインターフェース装置 - Google Patents

キャリアインターフェース装置

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JPH10303271A
JPH10303271A JP11302297A JP11302297A JPH10303271A JP H10303271 A JPH10303271 A JP H10303271A JP 11302297 A JP11302297 A JP 11302297A JP 11302297 A JP11302297 A JP 11302297A JP H10303271 A JPH10303271 A JP H10303271A
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JP
Japan
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work
clean space
transfer
assembly
section
Prior art date
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Pending
Application number
JP11302297A
Other languages
English (en)
Inventor
Katsuhiro Tetsuya
克浩 鉄屋
Eiji Taguchi
英治 田口
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Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ワーク集合体からワークの授受を行うポート
の数に拘らず、開蓋処理を行うための装置を必要最小限
にし、構成を簡素化するとともに、コストダウンを達成
する。 【解決手段】 第2ワーク搬送部との間でワークの授受
を行うべくワークを収容し、かつ第1清浄空間部よりも
高い清浄度を有する第2清浄空間部3と、第2清浄空間
部3において、第2ワーク搬送部との間での授受位置と
第1清浄空間部との間での授受位置との間においてワー
クを搬送する第4ワーク搬送部33とを含み、前記ワー
ク集合体6は、第2清浄空間部3との間での授受位置に
おいて開閉可能な蓋61を有し、前記第4ワーク搬送部
33は、ワーク集合体6の蓋61を開閉する機構333
を含んでいる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はキャリアインター
フェース装置に関し、さらに詳細にいえば、大気中での
ワーク搬送を行う第1ワーク搬送部と、真空中でのワー
ク搬送を行う第2ワーク搬送部との間においてワークの
授受を行わせるためのキャリアインターフェース装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来から半導体装置を製造するためのシ
ステムにおいては、エッチング処理装置、CVD処理装
置、スパッタリング処理装置などに対して、真空かつ高
い清浄度を有する空間を通して予め設定された順序で半
導体ウェハーを搬送するためのクラスタツール用の搬送
装置が採用されている。
【0003】また、複数枚の半導体ウェハーを密閉状態
で収容したワーク集合体を採用し、大気中でのワーク集
合体の搬送を行う装置とクラスタツール用の搬送装置と
の間で半導体ウェハーの授受を行わせるための装置(キ
ャリアインターフェース装置)も採用されている(例え
ば、特開平8−279546号公報参照)。この構成を
採用すれば、クラスタツール用の搬送装置の真空、高い
清浄度を損なうことなく、大気中でのワーク集合体の搬
送を行う装置とクラスタツール用の搬送装置との間で半
導体ウェハーの授受を行わせることができると思われ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記の装置に
おいては、ワーク集合体の蓋を開くための装置と、開蓋
状態においてワーク集合体からの半導体ウェハーの取り
出し、ワーク集合体への半導体ウェハーの供給を行うた
めの装置とが互いに独立して設けられているのであるか
ら、構成が複雑化し、コストアップを招いてしまうとい
う不都合がある。特に、半導体装置を製造するための能
率を高めるべくワーク集合体に対する半導体ウェハーの
授受を行うポートを複数箇所に設ける場合には、開蓋状
態においてワーク集合体からの半導体ウェハーの取り出
し、ワーク集合体への半導体ウェハーの供給を行うため
の装置を共用することが可能であるが、ポート毎にワー
ク集合体の蓋を開くための装置を設けなければならず、
上記の不都合が顕著になってしまう。
【0005】なお、これらの不都合は、大気中でのワー
クの搬送装置と、真空中でのワーク搬送装置との間でワ
ークの授受を行わせる必要がある装置であれば、半導体
装置を製造するための装置以外のものであっても同様に
発生する。
【0006】
【発明の目的】この発明は上記の問題点に鑑みてなされ
たものであり、ワーク集合体からワークの授受を行うポ
ートの数に拘らず、開蓋処理を行うための装置を必要最
小限にし、構成を簡素化するとともに、コストダウンを
達成することを目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1のキャリアイン
ターフェース装置は、大気中でのワーク搬送を行う第1
ワーク搬送部と、真空中でのワーク搬送を行う第2ワー
ク搬送部との間においてワークの授受を行わせるための
ものであって、第1ワーク搬送部との間で密閉状態のワ
ーク集合体の授受を行うべくワーク集合体を収容する第
1清浄空間部と、第2ワーク搬送部との間でワークの授
受を行うべくワークを収容し、かつ第1清浄空間部より
も高い清浄度を有する第2清浄空間部と、第1清浄空間
部において、第1ワーク搬送部との間での授受位置と第
2清浄空間部との間での授受位置との間においてワーク
集合体を搬送する第3ワーク搬送部と、第2清浄空間部
において、第2ワーク搬送部との間での授受位置と第1
清浄空間部との間での授受位置との間においてワークを
搬送する第4ワーク搬送部とを含み、前記ワーク集合体
は、第2清浄空間部との間での授受位置において開閉可
能な蓋を有し、前記第4ワーク搬送部は、ワーク集合体
の蓋を開閉する機構を含んでいるものである。
【0008】請求項2のキャリアインターフェース装置
は、第2清浄空間部として多角形状に形成されたものを
採用し、第2清浄空間部の少なくとも1つの面を、第2
ワーク搬送部に対して第2ワーク搬送部内の真空を損な
うことなくワークの授受を行わせるための真空予備室に
接続し、残余の面のうち少なくとも1つの面を第1清浄
空間部に接続し、残余の面に対してワークの処理を行わ
せるための装置を接続可能に構成したものである。
【0009】
【作用】請求項1のキャリアインターフェース装置であ
れば、大気中でのワーク搬送を行う第1ワーク搬送部
と、真空中でのワーク搬送を行う第2ワーク搬送部との
間においてワークの授受を行わせるに当って、第1清浄
空間部によって、第1ワーク搬送部との間で密閉状態の
ワーク集合体の授受を行うべくワーク集合体を収容し、
第1清浄空間部よりも高い清浄度を有する第2清浄空間
部によって、第2ワーク搬送部との間でワークの授受を
行うべくワークを収容する。そして、第1清浄空間部に
おいては、第3ワーク搬送部によって、第1ワーク搬送
部との間での授受位置と第2清浄空間部との間での授受
位置との間においてワーク集合体を搬送し、第2清浄空
間部においては、第4ワーク搬送部によって、第2ワー
ク搬送部との間での授受位置と第1清浄空間部との間で
の授受位置との間においてワークを搬送する。また、前
記ワーク集合体は、第2清浄空間部との間での授受位置
において開閉可能な蓋を有し、前記第4ワーク搬送部
は、ワーク集合体の蓋を開閉する機構を含んでいるので
あるから、授受位置の数に拘らず、ワーク集合体の蓋を
開閉する機構を1つだけ第4ワーク搬送部に設けておく
だけで、ワーク集合体の蓋の開閉、およびワークの取り
出し、ワークの供給を行うことができ、この結果、大幅
な構成の簡素化およびコストダウンを達成することがで
きる。
【0010】請求項2のキャリアインターフェース装置
であれば、第2清浄空間部として多角形状に形成された
ものを採用し、第2清浄空間部の少なくとも1つの面
を、第2ワーク搬送部に対して第2ワーク搬送部内の真
空を損なうことなくワークの授受を行わせるための真空
予備室に接続し、残余の面のうち少なくとも1つの面を
第1清浄空間部に接続し、残余の面に対してワークの処
理を行わせるための装置を接続可能に構成したのである
から、第2清浄空間部における多機能化を簡単に達成す
ることができるほか、請求項1と同様の作用を達成する
ことができる。
【0011】
【発明の実施の態様】以下、添付図面を参照しながらこ
の発明のキャリアインターフェース装置の実施の態様を
詳細に説明する。図1はキャリアインターフェース装置
が組み込まれた半導体装置製造システムの構成を概略的
に示す中央縦断面図、図2は図1のII−II線縦断面
図、図3は図1のIII−III線断面図、図4は図1
のIV−IV線断面図である。
【0012】この半導体装置製造システムは、六角筒状
の第2ワーク搬送部1と、六角筒状の第2清浄空間部
(例えば、クラス1の清浄空間部)3と、第2ワーク搬
送部1と第2清浄空間部3との間に接続された1対の真
空予備室2と、第2清浄空間部3に連続して設けられた
第1清浄空間部(例えば、クラス1000の清浄空間
部)4と、第1清浄空間部4との間でワーク集合体6の
授受を行う第1ワーク搬送部5とを有している。
【0013】前記第2ワーク搬送部1は従来公知のもの
であり、真空予備室2が接続されている側壁部を除く残
余の側壁部にエッチング処理、CVD処理、スパッタリ
ング処理などを行うためのプロセスモジュールPMが接
続されている。なお、プロセスモジュールPMの構成、
プロセスモジュールPMと第2ワーク搬送部1との接続
構造は従来公知であるから説明を省略する。また、第2
ワーク搬送部1には、真空予備室2、プロセスモジュー
ルPM間においてワークとしての半導体ウェハーの搬送
を行わせるためのワーク搬送ロボット(図示せず)が設
けられている。
【0014】前記真空予備室2は、その内部を真空状態
と大気状態とに制御できるように構成されているととも
に、第2ワーク搬送部1、第2清浄空間部3との間を連
通し、または遮断するための従来公知のゲートバルブ機
構(図示せず)を有している。前記第2清浄空間部3
は、真空予備室2が接続されている側壁部と対向する側
壁部にワークを出し入れするための開口部31を有して
いるとともに、各開口部31に近接させてワーク集合体
6を支承する支承部32を有している。また、第2清浄
空間部3の内部には、支承部32に支承されているワー
ク集合体6と真空予備室2との間においてワークを搬送
するための第2ワーク搬送ロボット33を有している。
図5から図8をも参照して詳細に説明すると、前記第2
清浄空間部2には、各開口31の内面側を閉塞する蓋部
材34を有しているとともに、この蓋部材34には、ワ
ーク集合体6の蓋部材61と係合する係合部341が設
けられており、前記第2ワーク搬送ロボット33には、
ワークを把持して搬送するための第1ハンド部331
と、蓋部材34を吸着保持して搬送するための第2ハン
ド部332と、係合部341に対して蓋部材61を開閉
するための駆動力を与える駆動部(ワーク集合体6の蓋
部材61を開閉する機構)333とが設けられている。
なお、支承部32には、従来公知のように、ワーク集合
体6を保持し、かつ開口31に押圧するための保持押圧
機構321が設けられ、ワーク集合体6が開口31に押
圧された状態において第1清浄空間部4から第2清浄空
間部2にパーティクルが侵入することを阻止するシール
部材(例えば、Oリング)311が設けられている。ま
た、第2清浄空間部3の内部には、大気が充填されてい
てもよいが、窒素ガスが充填されていてもよい。さら
に、第2清浄空間部3の内部には、各開口31よりもや
や下方の所定位置に、係合部341と蓋部材61とを一
体的に支持する支持部(図示せず)が設けられている。
【0015】前記ワーク集合体6は、例えば、図9に示
すように、外部ケーシング64の内部に複数枚のワーク
62を取り出し可能に収容している。そして、外部ケー
シング64の開口63を覆う蓋部材61が取り外し可能
に設けられている。この蓋部材61は、例えば、図10
に示すように、カム611によって互いに逆方向に移動
させられる係合軸部材612を有し、前記駆動部333
によりカム611に駆動力が伝達されることにより、係
合軸部材612が進退して、開蓋状態、閉蓋状態が選択
される。なお、図8において、中央に位置する係合部3
41に駆動部333から駆動力が伝達され、この係合部
341から、左右に位置する従動部342に対してベル
トなどの伝達機構343を介して駆動力が伝達され、従
動部342によってカム611が回転させられる。
【0016】前記第1清浄空間部4は、第2清浄空間部
3の上部に設けられており、その内部に、ワーク集合体
6を回転させ、昇降させるための第1ワーク搬送ロボッ
ト(第3ワーク搬送部)41が設けられている。そし
て、第1清浄空間部4の上部は他の部分と比較して著し
く大径に形成されている。そして、この大径部に、ワー
ク集合体6を一時的に保持するストック部42を有して
いる。また、前記他の部分(中間部)は、ワーク集合体
6を昇降させるために必要な最小限の内径に形成されて
いる。さらに、最も下部には、ワーク集合体6を前記支
承部32に供給し、または支承部32から取り出すため
に、開口部が形成されている。なお、44は第1ワーク
搬送ロボット41を昇降させるための軸である。したが
って、円形のストック部42と六角筒状の第2清浄空間
部3との間におけるワーク集合体6の搬送を行うための
機構を簡素化することができる。
【0017】前記第1ワーク搬送部5は、例えば、オー
バーヘッドトランスポーテーションと称されるモノレー
ルであり、第1清浄空間室4よりも上方位置においてワ
ーク集合体6を吊り下げ状態で搬送する。そして、ワー
ク集合体6を第1清浄空間部4の直上位置まで搬送した
後、下降させることにより、ストック部42に対して所
定の相対位置関係で配置された授受部45に供給する。
もちろん、逆の動作を行うことにより、ワーク集合体6
を搬出することができる。
【0018】上記の構成の半導体装置製造システムの作
用は次のとおりである。第1ワーク搬送部5によりワー
ク集合体6が授受部45に供給された場合には、第1ワ
ーク搬送ロボット41によりワーク集合体6をストック
部42に供給し、一時的に保持する。したがって、工程
内搬送の搬送スケジュールに余裕を持たせることができ
る。
【0019】そして、保持されているワーク集合体6の
処理が必要になった場合には、第1ワーク搬送ロボット
41によりワーク集合体6をストック部42から取り出
し、軸44に近接する位置まで移動させ、そのまま下降
させ、次いで、軸44から離れるように移動させ、支承
部32に供給する。支承部32にワーク集合体6が支承
された場合には、保持押圧機構321によりワーク集合
体6を開口31に押圧し、シール部材311によりパー
ティクルの侵入を阻止する。
【0020】その後は、第2ワーク搬送ロボット33の
第2ハンド部332によりワーク集合体6のロックを解
除し、蓋部材34と蓋部材61とを一体化したままの状
態で、蓋部材34を固定していた空圧機器などによる簡
便なクランプを解除し、支持部に供給する(図1参
照)。次いで、第2ワーク搬送ロボット33の第1ハン
ド部331によりワーク集合体6からワークを取り出
す。ここで、ワークの取り出しは、1枚づつであっても
よいが、全てのワークを一括して取り出してもよい。こ
のようにして取り出されたワークは一方の真空予備室2
に供給され、このワークは、ワーク搬送ロボットにより
1枚づつクラスタツール用の搬送装置1に取り込まれ、
プロセスモジュールPMに供給することにより半導体装
置の製造を行うことができる。
【0021】半導体装置の製造が行われた後は、上記と
逆の動作を行ってワークの取り出しを達成することがで
きる。以上の説明から明らかなように、各開口31に
は、蓋部材34が設けられているだけであり、蓋部材3
4を動作させるための機構は全く設けられていないの
で、全体として構成を簡素化できるとともに、コストダ
ウンを達成することができる。
【0022】以上の説明において、蓋部材34と蓋部材
61とを一体化したままの状態で支持部に供給するの
は、ワーク集合体6の蓋部材61の外表面に付着したパ
ーティクルが第2清浄空間室3に侵入することを確実に
阻止するためである。したがって、多少のパーティクル
の侵入を許容できる場合には、蓋部材34を省略するこ
とができ、構成を一層簡素化できるとともに、一層のコ
ストダウンを達成することができる。
【0023】また、以上の半導体装置製造システムにお
いて、第2清浄空間室3の残余の側壁部にアライナ装
置、バッファ装置などを接続しておくことが可能であ
り、この場合には、第2清浄空間室3においてアライナ
処理などを達成することができ、CTコア1における処
理からアライナ処理などを排除することができ、CTコ
ア1における処理を簡素化し、全体として処理所要時間
を短縮することができる。
【0024】
【発明の効果】請求項1の発明は、授受位置の数に拘ら
ず、ワーク集合体の蓋を開閉する機構を1つだけ第4ワ
ーク搬送部に設けておくだけで、ワーク集合体の蓋の開
閉、およびワークの取り出し、ワークの供給を行うこと
ができ、この結果、大幅な構成の簡素化およびコストダ
ウンを達成することができるという特有の効果を奏す
る。
【0025】請求項2の発明は、第2清浄空間部におけ
る多機能化を簡単に達成することができるほか、請求項
1と同様の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】キャリアインターフェース装置が組み込まれた
半導体装置製造システムの構成を概略的に示す中央縦断
面図である。
【図2】図1のII−II線縦断面図である。
【図3】図1のIII−III線断面図である。
【図4】図1のIV−IV線断面図である。
【図5】第2ワーク搬送ロボットとワーク集合体との関
係を示す概略縦断面図である。
【図6】図8のVI−VI線断面図である。
【図7】図5のVII矢視図である。
【図8】図5のVIII矢視図である。
【図9】ワーク集合体に複数のワークが収容された状態
を示す縦断面図である。
【図10】ワーク集合体の蓋部材のロック機構を概略的
に示す斜視図である。
【符号の説明】
1 第2ワーク搬送部 2 真空予備室 3 第2清浄空間部 4 第1清浄空間部 5 第1ワーク搬送部 6 ワーク集合体 33 第2ワーク搬送ロボット 41 第1ワーク搬
送ロボット 61 蓋部材 333 駆動部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 大気中でのワーク搬送を行う第1ワーク
    搬送部(5)と、真空中でのワーク搬送を行う第2ワー
    ク搬送部(1)との間においてワークの授受を行わせる
    ためのキャリアインターフェース装置であって、 第1ワーク搬送部(5)との間で密閉状態のワーク集合
    体(6)の授受を行うべくワーク集合体(6)を収容す
    る第1清浄空間部(4)と、 第2ワーク搬送部(1)との間でワークの授受を行うべ
    くワークを収容し、かつ第1清浄空間部(4)よりも高
    い清浄度を有する第2清浄空間部(3)と、 第1清浄空間部(4)において、第1ワーク搬送部
    (5)との間での授受位置と第2清浄空間部(3)との
    間での授受位置との間においてワーク集合体(6)を搬
    送する第3ワーク搬送部(41)と、 第2清浄空間部(3)において、第2ワーク搬送部
    (1)との間での授受位置と第1清浄空間部(4)との
    間での授受位置との間においてワークを搬送する第4ワ
    ーク搬送部(33)とを含み、 前記ワーク集合体(6)は、第2清浄空間部(3)との
    間での授受位置において開閉可能な蓋(61)を有し、
    前記第4ワーク搬送部(33)は、ワーク集合体(6)
    の蓋(61)を開閉する機構(333)を含んでいるこ
    とを特徴とするキャリアインターフェース装置。
  2. 【請求項2】 第2清浄空間部(3)は多角形状に形成
    されてあり、第2清浄空間部(3)の少なくとも1つの
    面を、第2ワーク搬送部(1)に対して第2ワーク搬送
    部(1)内の真空を損なうことなくワークの授受を行わ
    せるための真空予備室(2)に接続し、残余の面のうち
    少なくとも1つの面を第1清浄空間部(4)に接続し、
    残余の面に対してワークの処理を行わせるための装置を
    接続可能に構成してある請求項1に記載のキャリアイン
    ターフェース装置。
JP11302297A 1997-04-30 1997-04-30 キャリアインターフェース装置 Pending JPH10303271A (ja)

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JP (1) JPH10303271A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7887276B2 (en) 2006-08-28 2011-02-15 Shinko Electric Co., Ltd. Load port device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7887276B2 (en) 2006-08-28 2011-02-15 Shinko Electric Co., Ltd. Load port device

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