JPH10296621A - 研磨装置、研磨方法、研磨パッドおよび研磨パッドの形成方法 - Google Patents

研磨装置、研磨方法、研磨パッドおよび研磨パッドの形成方法

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JPH10296621A
JPH10296621A JP10464897A JP10464897A JPH10296621A JP H10296621 A JPH10296621 A JP H10296621A JP 10464897 A JP10464897 A JP 10464897A JP 10464897 A JP10464897 A JP 10464897A JP H10296621 A JPH10296621 A JP H10296621A
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修三 佐藤
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ウェハなどの被研磨対象の被研磨面内での研磨
量および単位時間当たりの研磨量を安定化させることが
できるとともに、研磨パッドの摩耗を極力抑えることが
可能な研磨装置、研磨方法、および研磨パッドを提供す
る。 【解決手段】研磨パッド8の軸心Oを被研磨対象である
ウェハWの被研磨面に直交する軸に対して所定の角度θ
で傾斜させ、研磨パッド8の傾斜角度θで傾斜する研磨
面8aの一部をウェハWの被研磨面に摺接させる。ウェ
ハWを回転させかつ被研磨面と研磨パッド8の研磨面8
aとの摺接位置を移動させて被研磨面を研磨する。これ
により、研磨パッド8の研磨面8aと被研磨面との摺接
面積を適切に狭小化できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばウェハな
どの被研磨対象の被研磨面を良好に研磨することができ
る研磨装置、および研磨方法、研磨に使用される研磨パ
ッド、およびこの研磨パッドの形成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばLSIの製造プロセスでは、層間
絶縁膜あるいはその他の膜の平坦化が重要である。平坦
化のための技術としては、種々の手段が提案されている
が、近年、シリコンウェハのミラーポリシング技術を応
用したCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学的
機械研磨)法が注目され、これを利用して平坦化を図る
方法が開発されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
CMP法を用いたウェハの平坦化技術は、ラッピング技
術の延長上にあるものであった。すなわち、ウェハに対
して研磨パッドの面積がかなり大きく、研磨パッドの回
転速度が遅い装置構成となっていた。このため、ウェハ
の表面の平坦性、ウェハ面内での研磨量の均一性および
単位時間当たりの研磨量である研磨レートの安定性など
の精度面において、不十分であるという問題がある。ま
た、スループットが遅いという課題も有する。
【0004】すなわち、ウェハに対する研磨パッドの接
触面積がかなり大きいと、研磨パッドの研磨面の実効面
積が変動し、ウェハ表面の凸部の研磨量は多くなり、凹
部は研磨量が少なくなる。また、研磨パッドの外周側と
内周側とでは周速が大きく異なるため、内周側では研磨
量が少なくなり外周側にいくほど研磨量が大きくなる。
さらに、研磨時に研磨パッドとウェハとの間に供給され
るスラリ、研磨材の供給量が研磨パッドの内周側と外周
側とでは異なってくる。したがって、上記のような原因
で、ウェハ面内において研磨量の不均一および研磨レー
トの不安定が存在すると、研磨装置を数値制御化して精
度の高い研磨を行うことが難しい。一方、ウェハに対す
る研磨パッドの接触面積がかなり大きいと、ウェハと研
磨パッドとの摩擦が大きくなり、研磨パッドの摩耗が激
しく、研磨パッドの交換も頻繁に行う必要があり、ま
た、研磨パッドが目詰まりを起こしやすいという不利益
もある。
【0005】本発明は、このような実状に鑑みてなさ
れ、ウェハなどのような被研磨対象の被研磨面内での研
磨量および研磨レートを安定化させることができるとと
もに、研磨パッドの摩耗を極力抑えることが可能な研磨
装置、研磨方法、および研磨パッドを提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明の研磨装置は、被
研磨対象を保持する保持手段と、前記被研磨対象の被研
磨面を研磨する研磨面を有する研磨パッドと、前記研磨
パッドを回転自在に保持し、前記研磨パッドの回転軸を
前記保持手段に保持された前記被研磨対象の保持面に対
して相対的に所定の角度で傾斜させ、前記研磨パッドの
研磨面と前記被研磨対象の被研磨面とを摺接させながら
当該研磨パッドを回転させる回転駆動手段と、前記被研
磨対象の被研磨面と前記研磨パッドの研磨面とを摺接さ
せながら平面的に相対移動させる移動手段とを有する。
【0007】本発明の研磨装置では、回転駆動手段によ
って研磨パッドの研磨面が被研磨対象の被研磨面に傾斜
した状態で回転される。このため、被研磨対象の被研磨
面に研磨パッドの研磨面の狭小な部分が摺接して、被研
磨面の研磨加工を行う。さらに、移動手段によって、回
転する被研磨対象の被研磨面と研磨パッドの研磨面との
摺接部分を移動する。これによって、被研磨面の全面が
研磨加工される。なお、本発明の研磨パッドは、発泡ポ
リウレタンなどの多孔質粘弾性材や不織布等の研磨布か
ら構成される研磨工具、研磨砥石、研磨ホイールや積層
フィルム等の固定砥粒を有する研磨工具を指し、以下こ
れらを研磨パッドと総称する。
【0008】本発明の研磨方法は、被研磨対象の被研磨
面に対面する研磨面を有する研磨パッドを回転させて、
前記研磨パッドの研磨面により前記被研磨対象の被研磨
面を研磨する研磨方法であって、前記研磨パッドの回転
軸を前記被研磨対象の被研磨面に直交する軸に対して所
定の角度傾斜させ、前記研磨パッドの研磨面を前記被研
磨対象の被研磨面に摺接させ、前記被研磨対象を回転さ
せながら前記被研磨面と前記研磨パッドの研磨面との摺
接位置を移動させて当該被研磨面を研磨する。
【0009】本発明の研磨方法では、研磨パッドの研磨
面と被研磨面との摺接面積が狭小化され、被研磨面内に
おける研磨量および研磨レートの安定化を図ることがで
きる。
【0010】本発明の研磨パッドは、被研磨対象の被研
磨面に摺接して前記被研磨面を研磨する研磨面が、回転
軸に直交する面に対して所定の角度で傾斜している。
【0011】本発明の研磨パッドでは、研磨面が回転軸
に直交する面に対して傾斜しているため、回転軸を傾斜
させて研磨パッドを保持し回転することによって、当該
傾斜した研磨面の狭小な一部が被研磨対象の被研磨面に
摺接することになる。
【0012】本発明の研磨パッドの形成方法は、研磨パ
ッドによって研磨される被研磨対象が保持されるべき保
持面に直交する軸に対して回転軸が所定の角度で傾斜し
た状態で研磨パッドを回転させ、前記保持面の所定の位
置に設けられた前記研磨パッドの研磨面を仕上げるフェ
ーシング用工具と前記研磨パッドとを当接させながら、
前記研磨パッドを前記保持面に沿う方向に相対移動させ
て前記研磨パッドの研磨面を形成する。
【0013】本発明の研磨パッドの形成方法では、被研
磨対象の保持面と研磨パッドの回転軸の傾斜する位置関
係が、研磨パッドの研磨面に容易にかつ高精度に転写さ
れることになる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係る研磨装置の全体斜視図であり、図1に示す本実
施形態に係る研磨装置30は、被研磨対象としてのウェ
ハの被研磨面を研磨するための装置である。また、図2
は図1に示す研磨装置の研磨パッドの駆動機構部および
ウェハ保持機構部の概略構成図であり、(a)は上面
図、(b)は正面図、(c)は側面図である。図3は研
磨パッド付近の要部断面図であり、図4は研磨パッドの
底面図である。
【0015】図1に示すように、この研磨装置30の研
磨パッド8を保持する主軸の回転駆動機構部は、研磨パ
ッド8を回転させる主軸スピンドル32と、主軸スピン
ドル32をZ軸方向に移動可能に保持するZ軸スライダ
73と、Z軸スライダ73の上面の2か所に一端が固定
された荷重を検出するためのロードセル81と、ロード
セル81の他端が固定され、Z軸方向に移動可能に支持
されたサブスライド82と、サブスライド82をZ軸方
向に駆動するZ軸駆動モータ74とから主に構成されて
いる。また、研磨装置30のウェハWの保持および移動
を行う移動保持機構部は、X軸テーブル6によって主に
構成されている。
【0016】Z軸スライダ73は、コラム71の側面に
設けられたZ軸ガイド72に沿ってZ軸方向に移動可能
になっている。Z軸スライダ73の移動によって主軸ス
ピンドル32のZ軸方向の移動が行われる。Z軸スライ
ダ73に一端が固定されたロードセル81は、主軸のZ
軸方向に掛かる荷重を検出する。ロードセル81の他端
はサブスライド82に固定されており、ロードセル81
によって保持された状態でZ軸スライダ73とともにZ
軸方向の移動を行う。ロードセル81は、図2に示すよ
うに、Z軸スライダ73に対する作用点Pが主軸中心O
およびZ軸ガイド72と一直線上にあるようにZ軸スラ
イダ73に対して固定される。
【0017】サブスライド82は、図2に示すように、
サブスライドガイド74aに沿ってZ軸方向に移動自在
となっており、このサブスライド82は、Z軸方向にね
じ込まれたボールネジ87にカップリング89を介して
連結されたZ軸駆動モータ74の駆動によってZ軸方向
に駆動される。
【0018】また、Z軸スライダ73の上面の両端部に
は、図1,図2に示すように、2本のワイヤ84の一端
がそれぞれ接続されている。これらのワイヤ84の他端
には、図2に示すように、カウンタウエイト86がそれ
ぞれ連結されており、これらのカウンタウエイト86は
プーリ83を介して吊り下げられている。カウンタウエ
イト86の荷重はZ軸スライダ73の荷重にほぼ等しい
荷重となっており、これによってロードセル81にかか
るZ軸スライダ73の荷重はほぼキャンセルされるよう
になっており、ロードセル81に掛かる荷重が軽減され
ている。
【0019】主軸スピンドル32は、Z軸スライダ73
によって保持されており、Z軸方向の移動が可能となっ
ている。この主軸スピンドル32の軸線Oは、X軸テー
ブル6のウェハ保持面に直交するテーブル軸に対して所
定の角度で傾斜している。主軸スピンドル32の軸線O
を傾斜させるには、例えば、主軸スピンドル32をZ軸
スライダ73に固定する際に、Z軸方向に対して所定の
角度で傾斜するように設置する。傾斜角度は、Z軸スラ
イダ73をZ軸ガイド72に設置する際に調整可能であ
る。例えば、主軸スピンドル32とZ軸スライダ73締
結ボルトの締め付け力を調整することにより、傾斜角度
を調整する。また、傾斜角度のオーダは、例えば、Z軸
方向の100mm当たり、これに直交する方向に数μm
程度傾斜する程度のオーダであり、微小な角度である。
【0020】また、主軸スピンドル32は、図3に示す
ように、主軸36と主軸ハウジング38とを有する。主
軸36の下部には、定盤34が取付固定してある。定盤
34の中心部には、ノズル孔42が形成してあり、この
ノズル孔42に、ノズル管40の下端部が接触しないよ
うに挿入されるようになっている。ノズル管40から
は、研磨液としてのスラリーが吐出するようになってい
る。ノズル管40は、回転せず、定盤34が主軸36に
より回転可能になっている。主軸36は、図示省略して
あるモータにより回転駆動される。ノズル管40から供
給されるスラリーとしては、化学機械研磨を可能とする
研磨スラリーが用いられ、例えば粉状の酸化シリコン(
SiO2 ) と水酸化カリウム( KOH) との水溶液など
が用いられる。図3,図4に示すように、本実施形態で
は、ノズル孔42は、その下部にスラリー分配用端板4
6が残されるように、定盤34に形成してある。しか
も、定盤34の下面には、放射状溝44が形成してあ
り、その放射状溝44の中心部が、ノズル孔42に対し
て連通するようになっている。
【0021】X軸テーブル6は、図示しないレールに沿
ってX軸方向に移動自在に設けられたスライダ上に回転
自在に装着してある。X軸テーブル6は、比較的低速回
転なので、モータ、プーリおよび平ベルトなどにより回
転駆動される。X軸テーブル6の大きさは、特に限定さ
れないが、たとえば、直径約200mmの円盤状をして
いる。X軸テーブル6の上部には、多孔質部材などで構
成されるチャックが装着してある。X軸テーブル6を回
転させる回転軸には、その軸心に沿って真空引き用通路
が形成してある。この通路を通して真空引きすること
で、ウェハWがX軸テーブル6の表面に真空吸着される
ようになっている。
【0022】図3,図4に示すように、定盤34の下面
の外周に、リング状研磨パッド8が接着などで取り付け
てある。このリング状の研磨パッド8の回転中心は、上
記の主軸スピンドル32および主軸36の軸心Oに一致
しており、研磨パッド8の研磨面8aは、後述するよう
に、主軸スピンドル32の軸心Oに直交する面に対して
所定の角度で傾斜している。この研磨面8aの傾斜角度
は、主軸スピンドル32の軸心Oの傾斜角度に等しい。
また、この研磨パッド8は、発泡ポリウレタンなどの多
孔質粘弾性材で構成される。この研磨パッド8の外径D
は、ウェハWの外径と略同じまたはそれよりも小さい外
径である。前述した放射状溝44は、研磨パッド8の内
周面まで延びるように形成してある。リング状の研磨パ
ッド8の半径方向幅dは、本実施形態では、20mmで
ある。また、定盤34の外径Dは、200mmである。
【0023】また、図1に示すように、研磨装置30
は、例えば図示しない搬送装置によって運ばれてきたウ
ェハカセット61に収納された未研磨状態のウェハWを
真空吸着によって把持してロードバッファ63まで運ん
で待機し、X軸テーブル6上のウェハWの研磨が完了し
てアンロードされたら、図1の開口部90を通じてロー
ドバッファ63上のウェハWをX軸テーブル6にロード
するローダチャック55と、X軸テーブル6上で研磨が
完了したウェハWを開口部90を通じて真空吸着によっ
て保持し、これをアンロードバッファ65まで運ぶアン
ローダチャック64と、アンロードバッファ65上に載
置されたウェハWの表面を洗浄してウェハカセット67
に収容するウェハ洗浄ブラシ66とを備えている。
【0024】次に、本実施形態に係る研磨装置30の動
作を説明する。まず、上記したウェハカセット61に収
納された未研磨状態のウェハWをローダチャック55に
よってロードバッファ63上に載置する。X軸テーブル
6上のウェハWの研磨が完了してアンローダチャック6
5によってアンロードされると、ローダチャック55は
ロードバッファ63上に載置されたウェハWをX軸テー
ブル6上に運び、ウェハWの被研磨面を図中上にして載
置する。そして、X軸テーブル6の吸引装置が吸引を開
始し、その表面に吸引力が生じ、X軸テーブル6の上に
載置されたウェハWがX軸テーブル6に吸着される。
【0025】次いで、主軸スピンドル32の駆動によっ
て、定盤34を、例えば、回転速度1000〜3000
rpmの高速で回転させる。また、モータの駆動によっ
てX軸テーブル6をウェハWと共に、例えば、回転速度
数十rpmの低速で回転させる。また、ウェハWの上方
に研磨パッド8が位置するように、図示しないレールに
沿ってX軸方向に移動自在に設けられたスライダを当該
レールに沿ってX軸方向に移動する。このとき、図3に
示すノズル管40を介して、スラリー供給装置からのス
ラリーが、ノズル孔42から吐出され、回転による遠心
力で、放射状44を通して、研磨パッド8の内周側に供
給される。
【0026】そして、Z軸駆動モータ74の駆動によっ
て主軸スピンドル32がZ軸方向に所定の位置まで下降
する。これにより、ウェハWの被研磨面に研磨パッド8
の研磨面8aの一部が接触する。この状態で、図示しな
い駆動装置からの駆動力によって、図示しないスライダ
がレールに沿って所定の周期および振幅でX軸テーブル
6の往復運動を行い、ウェハWが研磨パッド8に対して
トラバース運動(回転半径方向に往復移動)を行う。な
お、このトラバース運動の速度は、例えば5〜400
(mm/分)である。このトラバース運動に際して、研
磨パッド8およびウェハWは共に回転する。
【0027】ここで、上記のウェハWの被研磨面に研磨
パッド8の研磨面8aの一部が接触した状態で研磨加工
を行う様子を図5に示す。図5に示すように、研磨パッ
ド8の回転中心である主軸スピンドル32の軸心Oは、
X軸テーブル6のウェハ保持面に直交するテーブル軸T
に対して微小な傾斜角度θで傾斜した状態となってい
る。一方、研磨パッド8の研磨面8aも傾斜角度θと同
じ角度で主軸スピンドル32の軸心Oに直交する面に対
して傾斜している。なお、研磨パッド8の研磨面8aの
フェーシング加工については後述する。傾斜角度θは、
図面上では説明の便宜上大きく示したが、実際には、主
軸36が100mm当たり数μm程度のオーダで傾斜す
る微小な角度である。
【0028】図5において、研磨パッド8は矢印Dの向
きに高速で回転しており、ウェハWは矢印Cの方向に低
速で回転しており、研磨パッド8の研磨面8aとウェハ
Wの被研磨面とは、摺接部Sで摺接する。この摺接部S
においてウェハWの被研磨面の研磨加工が行われること
になる。
【0029】さらに、研磨パッド8は、ウェハWの被研
磨面に対して加工圧力Lで押しつけられている。研磨パ
ッド8のウェハWの被研磨面に対する加工圧力Lは、上
記したZ軸駆動モータ74を駆動することによって調整
することができる。すなわち、Z軸駆動モータ74を駆
動すると、研磨パッド8のウェハWの被研磨面に対する
加工圧力Lに応じた力がロードセル81によって検出さ
れる。ロードセル81の検出信号に基づいてZ軸駆動モ
ータ74を駆動制御することにより、加工圧力Lの調整
が可能となる。
【0030】図5における研磨パッド8の研磨面8a
は、図6に示すように、主軸36の軸心Oのテーブル軸
Tに対する傾斜角度θと同じ角度に形成されている。こ
のため、図5に示した摺接部Sの形状は、加工圧力Lの
大きさを変更することによって例えば図7に示すように
変化する。加工圧力Lが小さい時は、図7(a)に示す
ように、摺接部Sは研磨面8aの全体に比べて非常に微
小な面積を有する接線形状となる。加工圧力Lを大きく
していくと、図7(b)に示すように、摺接部Sは扇状
に拡大する。これは、加工圧力Lによって研磨パッド8
の研磨面8aに弾性変形が生じるためである。
【0031】さらに、加工圧力Lを大きくしていくと、
図7(c)に示すように、扇状の摺接部Sはさらに拡大
していく。すなわち、加工圧力Lを大きくしていくと、
リング状の研磨パッド8の軸心Oがテーブル軸Tに対し
て傾斜しておらず、研磨面8aもウェハWの被研磨面に
対して平行な場合の摺接と同様な状態に近づいていくの
がわかる。したがって、本実施形態では、加工圧力Lを
調整することにより、研磨面8aとウェハWの被研磨面
との摺接部Sの面積を適切な範囲に狭小化することがで
きる。
【0032】また、研磨パッド8の研磨面8aによるウ
ェハWの被研磨面の研磨量は、摺接部Sの面積に応じた
量となる。すなわち、摺接部Sの面積が小さいと研磨量
は少なく、摺接部Sの面積が大きいと研磨量は多い。こ
のことから、加工圧力Lを調整して摺接部Sの面積を調
整することによって、研磨量の調整が可能となる。
【0033】摺接部Sの面積は、加工圧力Lの調整によ
る方法以外に、主軸36の傾斜角度θおよび研磨パッド
8の研磨面8aの傾斜角度θを調整することによっても
変更することができる。すなわち、一定の加工圧力Lの
下では、主軸36および研磨パッド8の研磨面8aの傾
斜角度θを大きくするほど摺接部Sの形状は接線状とな
り、傾斜角度θを小さくするほど摺接部Sの形状は扇状
になる。したがって、研磨装置30のZ軸スライダ73
をZ軸ガイド72に設置する際に、予め傾斜角度θを調
整することによって研磨量の調整が可能となる。なお、
Z軸スライダ73の傾斜角度をリアルタイムに変更可能
な傾斜機構を研磨装置30に装備することも可能であ
る。この場合には、摺接部Sの面積をリアルタイムに変
更することができる。
【0034】上記のように、主軸36の軸心Oおよび研
磨パッド8の研磨面8aを傾斜させ、研磨面8aのごく
一部のみをウェハWの被研磨面に摺接させて研磨するこ
とにより、ウェハWの被研磨面は、ノズル管40から供
給されたスラリー中のアルカリ成分による化学的研磨作
用と、直径約0.1μm程度のシリカなどの研磨粒子に
よる機械的研磨作用と、さらにこれらの相乗研磨作用に
より、メカノケミカル研磨(CMP)が良好に行われ
る。
【0035】このとき、摺接部Sを微小な面積とするこ
とができるため、ウェハWの被研磨面の凹凸の影響を受
けにくくなる。このため、研磨加工中に摺接部Sの面積
を安定させることができ、研磨量の均一性を大幅に向上
させることができる。また、摺接部Sを微小な面積とす
ることができるため、スラリーの分布が摺接部S内にお
いては安定することになる。このため、単位時間あたり
の研磨量である研磨レートの変動が非常に少なくなる。
このため、研磨レートの均一性を大幅に向上させること
ができる。また、リング状の研磨パッド8を用いて研磨
を行うことで、研磨面8aの径方向の長さが短くなり、
摺接部S内での周速差はほとんどなく、研磨量のばらつ
きが最小限に抑制される。さらに、摺接部Sは微小な面
積であるため、加工圧力Lの絶対値は非常に小さな値で
も十分な面圧が得られる。
【0036】研磨装置30による研磨加工が完了する
と、ウェハWは、図1に示す開口部30からアンローダ
チャック64によってアンロードバッファ65まで運ば
れ、ウェハ洗浄ブラシ66によって洗浄された後、ウェ
ハカセット67に収納される。
【0037】以上のように、本実施形態では、摺接部S
における研磨量および研磨レートが安定しており、ま
た、加工圧力Lの絶対値が非常に小さくてもよいことか
ら、研磨量を制御することが非常に容易となる。すなわ
ち、例えば、加工圧力Lまたは主軸36の軸心Oの傾斜
角度θを調整して摺接部Sの面積を調整することによっ
てウェハWの被研磨面内の研磨量を制御したり、ウェハ
Wを保持するX軸テーブルの送り速度を調整することに
よって研磨量を制御したりする際に、摺接部Sにおける
研磨量および研磨レートのバラツキや変動がほとんどな
いため、加工圧力Lや軸心Oの傾斜角度θやX軸テーブ
ルの送り速度を数値制御化しても所望の所望の研磨精度
を容易に得ることができる。
【0038】また、本実施形態では、研磨パッド8の研
磨面8aの極一部がウェハWの被研磨面に摺接すること
から、研磨パッド8の摩耗は非常に少なく、研磨パッド
8の長寿命化を図ることができる。さらに、研磨パッド
8の研磨面8aの極一部がウェハWの被研磨面に摺接す
ることから、研磨パッド8の研磨面8aの目づまりする
割合も大幅に減少する。
【0039】また、本実施形態の研磨パッド8は、図8
(a)に示すように、基本的には、研磨パッド8の回転
軸がウェハWの被研磨面に略直交しており、ウェハWの
被研磨面に対面する研磨面8aによってウェハWの被研
磨面の研磨加工を行う研磨方式である。研磨面8aのウ
ェハWの被研磨面との摺接部は、円弧形状(扇形状)で
あるため、研磨面8aに凹凸が存在しても、ウェハWの
被研磨面には凹凸がランダムに形成されることになる。
このため、本実施形態では研磨加工後のウェハWの被研
磨面の平面性が良好となる。一方、図8(b)に示すよ
うに、研磨パッド101の回転軸がウェハWの被研磨面
に対して平行で、研磨パッド101の外周面である研磨
面101aによってウェハWの被研磨面を研磨加工する
研磨方式の場合には、研磨面101aの凹凸がウェハW
の被研磨面にそのまま転写されるため、研磨加工後のウ
ェハWの被研磨面の表面性が悪い。
【0040】また、本実施形態では、リング状の研磨パ
ッド8を用いることで、研磨による平坦性も向上する。
従来では、円盤状の研磨パッドの内周側と外周側とで、
パッドの周速度差が大きいため、それらの部分で加工さ
れる段差による加振力の周波数差が大きくなっていた。
このため、たとえば内周側で都合良く段差を加工できる
程度の研磨パッド回転速度であるとすると、外周側で
は、段差の加工残りが大きくなるおそれがあった。本実
施形態では、リング状の研磨パッド8を用いることで、
内外周における周速度の差を小さくすることができ、研
磨能力の均一性が向上し、結果として得られる被研磨面
の平坦性が向上する。
【0041】ここで、上記した研磨パッド8の研磨面8
aの形成方法について説明する。まず、研磨パッド8を
上記の研磨装置30の主軸36の定盤34に装着する。
これにより、研磨パッド8の軸心Oは、図9(a)に示
すように、X軸テーブル6のテーブル軸Tに対して傾斜
角度θで傾斜した状態となる。
【0042】次いで、図9(b)に示すように、X軸テ
ーブル6の所定の位置にフェーシング用工具Bを固定す
る。フェーシング用工具Bは例えば、ダイアモンドバイ
ト等のフェーシング用工具を使用することができる。そ
して、図9(c)に示すように、X軸テーブル6をX軸
方向に移動させて、研磨パッド8の端面部分をフェーシ
ング用工具Bに当接させ、研磨パッド8をセルフカット
する。これにより、研磨パッド8の軸心Oに直交する面
に対して傾斜角度θで傾斜した研磨面8aが形成され
る。
【0043】研磨パッド8を実際に研磨加工を行う研磨
装置30に装着し、フェーシング用工具Bを用いて研磨
面8aを形成することにより、軸心Oのテーブル軸Tに
対する傾斜角度θを研磨パッド8の研磨面8aに正確に
転写することができる。上記の方法によって形成された
研磨パッド8によって、研磨加工を行うことによって、
摺接部Sにおける研磨量および研磨レートの均一性をさ
らに向上させることができる。また、上記の方法によれ
ば、本実施形態に係る研磨パッド8の研磨面8aを容易
にかつ高精度に形成することができる。
【0044】なお、本発明は、上述した実施形態に限定
されるものではなく、本発明の範囲内で種々に改変する
ことができる。例えば、上記実施形態では、主軸36を
X軸テーブル6のテーブル軸Tに対して傾斜角度θで傾
斜させるものとしたが、主軸36を傾斜させるのではな
くX軸テーブル6のウェハ保持面を傾斜角度θで傾斜さ
せることも可能である。また、X軸テーブル6によって
ウェハWをX方向に移動させることで、ウェーハWを研
磨パッド8に対して移動させたが、研磨パッド8を保持
する主軸スピンドル32をウェーハに対して往復移動さ
せても良い。ただし、スピンドル32の方が高速回転な
ので、テーブル6を往復移動させる方が、回転安定性の
観点からは好ましい。
【0045】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、研磨パ
ッドを傾斜させて研磨面の一部を被研磨対象の被研磨面
に摺接させて研磨するため、摺接部を微小な面積とする
ことができ、被研磨対象の被研磨面の有する凹凸の影響
を受けにくくなる。このため、研磨加工中に摺接部の実
効面積を安定させることができ、研磨量の均一性を大幅
に向上させることができる。また、摺接部を微小な面積
とすることができるため、スラリー等の研磨材の分布が
摺接部内においては安定することになる。このため、単
位時間あたりの研磨レートの変動が非常に少なくなる。
このため、研磨レートの均一性を大幅に向上させること
ができる。また、リング状の研磨パッドを用いて研磨を
行うことで、研磨面の径方向の長さが短くなり、摺接部
内での周速差はほとんどなく、研磨量のばらつきを最小
限に抑制することができるさらに、摺接部は微小な面積
であるため、加工圧力の絶対値は非常に小さな値でも十
分な面圧が得られる。
【0046】この結果、被研磨対象の被研磨面内におけ
る研磨量の制御が非常に容易となり、数値制御化された
研磨を容易にかつ高精度に行うことができ、任意の曲面
の研磨加工や高精度な研磨加工の自動化が可能となる。
【0047】また、本発明によれば、研磨パッドの研磨
面の極一部が被研磨対象の被研磨面に摺接することか
ら、研磨パッドの摩耗は非常に少なく、研磨パッドの研
磨面の目づまりする割合も大幅に減少し、研磨パッドの
長寿命化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る研磨装置の全体斜視
図である。
【図2】図1に示す研磨装置の研磨パッドの回転駆動機
構部およびウェハの移動保持機構部の概略構成図であ
り、(a)は上面図、(b)は正面図、(c)は側面図
である。
【図3】研磨パッド付近の要部断面図である。
【図4】研磨パッドの底面図である。
【図5】ウェハの被研磨面に研磨パッドの研磨面の一部
が接触した状態で研磨加工を行う様子を示す斜視図であ
る。
【図6】図5に示すウェハと研磨パッドとの位置関係を
示す断面図である。
【図7】加工圧力の大きさを変更することによる摺接部
Sの形状の形状の変化を示す説明図であって、(a)は
加工圧力が小さい場合、(b)は加工圧力を増加させた
場合、(c)は加工圧力をさらに増加させた場合であ
る。
【図8】(a)は本発明の基本的な研磨方式を示す説明
図であり、(b)は他の研磨方式を示す説明図である。
【図9】本発明に係る研磨パッドの研磨面の形成方法を
説明するための説明図であって、(a)は主軸に研磨パ
ッドを装着した状態を示す図であり、(b)はX軸テー
ブルにフェーシング用工具を固定した状態を示す図であ
り、(c)はX軸テーブルを移動させてフェーシング用
工具によって研磨面を形成する様子を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
6…X軸テーブル,8…研磨パッド,8a…研磨面,3
0…研磨装置,32…主軸スピンドル,72…Z軸ガイ
ド,73…Z軸スライド,74…Z軸駆動モータ,81
…ロードセル,82…サブスライド。

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】被研磨対象を保持する保持手段と、 前記被研磨対象の被研磨面を研磨する研磨面を有する研
    磨パッドと、 前記研磨パッドを回転自在に保持し、前記研磨パッドの
    回転軸を前記保持手段に保持された前記被研磨対象の保
    持面に対して相対的に所定の角度で傾斜させ、前記研磨
    パッドの研磨面と前記被研磨対象の被研磨面とを摺接さ
    せながら当該研磨パッドを回転させる回転駆動手段と、 前記被研磨対象の被研磨面と前記研磨パッドの研磨面と
    を摺接させながら平面的に相対移動させる移動手段とを
    有する研磨装置。
  2. 【請求項2】前記研磨パッドの前記被研磨対象と摺接す
    る研磨面は、当該研磨パッドの回転軸に直交する面に対
    して前記所定の角度で傾斜している請求項1に記載の研
    磨装置。
  3. 【請求項3】前記回転駆動手段は、前記研磨パッドの回
    転軸の前記保持手段の保持面に対する傾斜角度を任意に
    調整可能である請求項1に記載の研磨装置。
  4. 【請求項4】前記研磨パッドの研磨面の前記被研磨面に
    対する加工圧力を調整する圧力調整手段をさらに有する
    請求項1に記載の研磨装置。
  5. 【請求項5】前記研磨パッドと被研磨対象との間に、化
    学的機械研磨を生じさせる研磨液を供給する研磨液供給
    手段をさらに有する請求項1に記載の研磨装置。
  6. 【請求項6】前記研磨パッドの研磨面がリング状である
    請求項1に記載の研磨装置。
  7. 【請求項7】被研磨対象の被研磨面に対面する研磨面を
    有する研磨パッドを回転させて、前記研磨パッドの研磨
    面により前記被研磨対象の被研磨面を研磨する研磨方法
    であって、 前記研磨パッドの回転軸を前記被研磨対象の被研磨面に
    直交する軸に対して所定の角度傾斜させ、 前記研磨パッドの研磨面を前記被研磨対象の被研磨面に
    摺接させ、前記被研磨対象を回転させながら前記被研磨
    面と前記研磨パッドの研磨面との摺接位置を移動させて
    当該被研磨面を研磨する研磨方法。
  8. 【請求項8】前記被研磨対象の研磨に先立って、前記研
    磨パッドの回転軸に直交する面に対して所定の角度で傾
    斜するように前記研磨パッドの研磨面を予めフェーシン
    グし、 その後に、フェーシングされた研磨面によって前記被研
    磨対象の被研磨面を研磨する請求項7に記載の研磨方
    法。
  9. 【請求項9】前記研磨パッドの研磨面のフェーシング
    は、 前記回転軸が前記被研磨対象の被研磨面に直交する軸に
    対して所定角度で傾斜した状態で回転する前記研磨パッ
    ドの研磨面を当該研磨面を仕上げるフェーシング用工具
    に当接させ、 前記研磨パッドを前記被研磨対象の被研磨面に沿う方向
    に相対移動させて前記所定の角度で傾斜する研磨面を形
    成する請求項8に記載の研磨方法。
  10. 【請求項10】前記被研磨対象の被研磨面に対する前記
    研磨パッドの回転軸の傾斜角度を調整して、前記被研磨
    対象の被研磨面と研磨面との摺接面積を調整する請求項
    7に記載の研磨方法。
  11. 【請求項11】前記研磨パッドの研磨面の前記被研磨対
    象の被研磨面に対する加工圧力を調整して、前記被研磨
    対象の被研磨面と研磨面との摺接面積を調整する請求項
    7に記載の研磨方法。
  12. 【請求項12】前記研磨パッドの研磨面がリング状であ
    って、当該研磨面は前記回転軸に直交する面に対して所
    定の角度で傾斜しており、 前記研磨パッドの傾斜する研磨面を前記被研磨対象の被
    研磨面に接線状に摺接させて当該被研磨面を研磨する請
    求項7に記載の研磨方法。
  13. 【請求項13】前記研磨パッドと被研磨対象との間に、
    化学的機械研磨を生じさせる研磨液を供給しながら研磨
    を行う請求項7に記載の研磨方法。
  14. 【請求項14】被研磨対象の被研磨面に摺接して前記被
    研磨面を研磨する研磨面が、回転軸に直交する面に対し
    て所定の角度で傾斜している研磨パッド。
  15. 【請求項15】前記研磨面がリング状である請求項14
    に記載の研磨パッド。
  16. 【請求項16】研磨パッドによって研磨される被研磨対
    象が保持されるべき保持面に直交する軸に対して回転軸
    が所定の角度で傾斜した状態で研磨パッドを回転させ、 前記保持面の所定の位置に設けられた前記研磨パッドの
    研磨面を仕上げるフェーシング用工具と前記研磨パッド
    とを当接させながら、前記研磨パッドを前記保持面に沿
    う方向に相対移動させて前記研磨パッドの研磨面を形成
    する研磨パッドの形成方法。
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