JPH1034528A - 研磨装置と研磨方法 - Google Patents

研磨装置と研磨方法

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Publication number
JPH1034528A
JPH1034528A JP18082096A JP18082096A JPH1034528A JP H1034528 A JPH1034528 A JP H1034528A JP 18082096 A JP18082096 A JP 18082096A JP 18082096 A JP18082096 A JP 18082096A JP H1034528 A JPH1034528 A JP H1034528A
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JP
Japan
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polishing
polishing pad
polished
pad
ring
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Application number
JP18082096A
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English (en)
Inventor
Shuzo Sato
修三 佐藤
Suguru Otorii
英 大鳥居
Yoshiaki Komuro
善昭 小室
Hideaki Hayakawa
秀明 早川
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ウェーハなどのような被研磨対象の表面の平
坦性と、被研磨対象面内での研磨量の均一性とを同時に
満足させることができる研磨装置および研磨方法を提供
すること。 【解決手段】 ウェーハ2を保持するテーブル6と、ウ
ェーハ2の表面に、回転しながら摺接するリング状端面
を持つリング状研磨パッド8とを有する研磨装置。研磨
パッド8の中心と定盤34の回転中心とがオフセットし
て偏心状態となるようにしてある。研磨パッド8を10
00rpm以上の高速で回転し、ウェーハ2を10rp
m以下の低速で回転させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばウェーハ
などの被研磨対象の表面を良好に研磨することができる
研磨方法と研磨装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばLSIの製造プロセスでは、層間
絶縁膜あるいはその他の膜の平坦化が重要である。平坦
化のための技術としては、種々の手段が提案されている
が、近年、シリコンウェーハのミラーポリシング技術を
応用したCMP(Chemical Mechanical Polishing:化学
的機械研磨)法が注目され、これを利用して平坦化を図
る方法が開発されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
CMP法を用いたウェーハの平坦化技術は、ラッピング
技術の延長上にあるものであった。すなわち、ウェーハ
に対して研磨パッドの面積がかなり大きく、研磨パッド
の回転速度が遅い装置構成となっていた。このため、ウ
ェーハの表面の平坦性、ウェーハ面内での研磨量の均一
性および研磨レートの安定性などの精度面において、不
十分であるという問題がある。また、スループットが遅
いという課題も有する。
【0004】これらを改善するために、種々の方法が提
案されているが、ウェーハ表面の平坦性と、ウェーハ面
内での研磨量の均一性とを同時に満足させることができ
る研磨装置および研磨方法は、未だ実用化されていない
のが実状である。本発明は、このような実状に鑑みてな
され、ウェーハなどのような被研磨対象の表面の平坦性
と、被研磨対象面内での研磨量の均一性とを同時に満足
させることができる研磨装置および研磨方法を提供する
ことを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の第1の観点に係る研磨装置は、被研磨対象
を保持する保持手段と、前記保持手段で保持された被研
磨対象の表面に、回転しながら摺接するリング状端面を
持つリング状研磨パッドと、を有する。
【0006】本発明において、リング状研磨パッドの端
面の幅dは、研磨パッドの外径Dに対して、d/Dが、
好ましくは研磨量の均一性の要求値程度以下、即ち、±
5%以下の場合d/D=0.1程度、さらに好ましくは
d/D=0であるが、d=0では研磨が行われないの
で、実際に加工できる範囲で限りなく0に近いほうが望
ましい。
【0007】本発明の第1の観点に係る研磨方法は、被
研磨対象の表面に、回転するリング状研磨パッドの端面
を摺接させて、被研磨対象の表面を研磨することを特徴
とする。本発明では、リング状研磨パッドを用いて研磨
を行うことで、径方向のパッド面(端面)の長さが短く
なり、パッド面内での研磨能力のばらつきを小さくする
ことができる。したがって、研磨量の均一性が向上す
る。なお、従来では、円盤状の研磨パッドであったた
め、径方向のパッド面の長さが長く、パッド面内での研
磨能力のばらつきが生じ易かった。すなわち、円盤状研
磨パッドの場合には、パッド面の全面を均等に被研磨対
象に接触させて加工に寄与させることは非常に困難であ
り、スラリー流量、パッドの回転数、接触圧力、パッド
面形状精度(平面度)などにより、半径方向に研磨能力
のばらつきが生じ、結果として、研磨量のばらつきが生
じるおそれが大きかった。
【0008】また、本発明では、リング状研磨パッドを
用いることで、研磨による平坦性も向上する。従来で
は、円盤状の研磨パッドの内周側と外周側とで、パッド
の周速度差が大きいため、それらの部分で加工される段
差による加振力の周波数差が大きくなっていた。このた
め、たとえば内周側で都合良く段差を加工できる程度の
研磨パッド回転速度であるとすると、外周側では、段差
の加工残りが大きくなるおそれがあった。本発明では、
リング状研磨パッドを用いることで、内外周における周
速度の差を小さくすることができ、研磨能力の均一性が
向上し、結果として得られる平面の平坦性が向上する。
【0009】本発明において、回転する前記リング状研
磨パッドを、前記被研磨対象の表面に沿って、被研磨対
象の半径方向に相対的に往復移動(トラバース)させる
往復移動手段をさらに有することが好ましい。トラバー
スさせることで、被研磨対象の表面の研磨量のばらつき
を、さらに抑制することができ、面内均一性がさらに向
上すると共に、平坦性もさらに向上する。
【0010】本発明において、前記リング状研磨パッド
を保持する定盤の中央部に、研磨液を吐出するノズルが
設けてあり、前記定盤の表面には、前記ノズルからリン
グ状研磨パッドの内周面に向けて研磨液を案内する放射
状溝が形成してあることが好ましい。研磨液としては、
化学機械研磨を実現することができる研磨液を用いるこ
とが好ましい。本発明において、放射状溝を定盤に形成
することで、研磨液が、リング状研磨パッドまで良好に
安定的に供給される。
【0011】本発明の第2の観点に係る研磨装置は、被
研磨対象を保持する保持手段と、前記保持手段で保持さ
れた被研磨対象の表面に、回転しながら摺接する端面を
持つ研磨パッドと、前記研磨パッドに回転力を伝達し、
しかも研磨パッドの中心と定盤の回転中心とがオフセッ
トして偏心状態となるように、前記研磨パッドが取り付
けられる定盤と、を有する。
【0012】本発明の第2の観点に係る研磨方法は、研
磨パッドの中心と定盤の回転中心とがオフセット状態と
なるように前記研磨パッドが取り付けられた定盤を回転
駆動することにより、前記研磨パッドを回転させ、被研
磨対象の表面を研磨する。本発明では、研磨パッドを定
盤に対して偏心して取り付けてあるので、定盤が回転す
ると、研磨パッドは、それと同じ回転速度で回転する。
しかも、中心が偏心してあるので、定盤の回転中心に対
して、研磨パッドは、回転しながらトラバース移動する
ことと等価の動きをすることになる。研磨パッドを回転
しながらトラバース移動させることで、平坦性と研磨量
の均一性とを同時に向上させることができる。たとえ
ば、従来の回転研磨では、被研磨対象のワーク中心が特
異点(オーバー加工または加工不足)になりがちであっ
たが、本発明では、このような特異点をなくすことがで
きる。また、従来では、研磨パッドのエッジ部の影響に
よるオーバー研磨(加工)が生じ易かったが、本発明で
は、このようなオーバー研磨をなくすことができる。
【0013】しかも本発明では、トラバース移動のため
の特別の機構を必要としない。本発明において、前記研
磨パッドは、通常の円盤状でも、リング状でも良いが、
リング状であることが好ましい。上記したリング状研磨
パッドの作用効果が相乗されるからである。
【0014】本発明において、回転する前記研磨パッド
を、前記被研磨対象の表面に沿って、被研磨対象の半径
方向に相対的に往復移動(トラバース)させる往復移動
手段をさらに有することが好ましい。偏心した研磨パッ
ドを、さらにトラバース移動させることで、被研磨対象
の表面の研磨量のばらつきを、さらに抑制することがで
き、面内均一性がさらに向上すると共に、平坦性もさら
に向上する。
【0015】本発明において、前記定盤の中央部に、研
磨液を吐出するノズルが設けてあり、前記定盤の表面に
は、前記ノズルからリング状研磨パッドの内周面に向け
て研磨液を案内する放射状溝が形成してあることが好ま
しい。研磨液としては、化学機械研磨を実現することが
できる研磨液を用いることが好ましい。本発明におい
て、放射状溝を定盤に形成することで、研磨液が、リン
グ状研磨パッドまで良好に安定的に供給される。
【0016】本発明の第3の観点に係る研磨方法は、被
研磨対象の表面に研磨パッドを摺接させ、被研磨対象を
停止または回転させると共に、研磨パッドを回転させ
て、被研磨対象の表面の研磨を行う研磨方法であって、
研磨パッドを含む研磨装置の相対加振力による動コンプ
ライアンス特性から共振点を求め、被研磨対象の表面の
微小段差による相対加振の周波数成分が、前記共振点よ
りも大きくなるように、前記研磨パッドを高速で回転
し、被研磨対象の表面の大きなうねりによる相対加振の
周波数成分が、前記共振点よりも小さくなるように、前
記被研磨対象を停止または低速で回転することを特徴と
する。
【0017】本発明の第3の観点に係る研磨方法では、
いわゆるクリープフィードポリシング(CFP)の考え
方を利用している。たとえば、ウェーハなどの被研磨対
象の表面全体のうねりをTTV(通常約5μm )とし、
1mm以下のピッチで被研磨対象の表面にある微小段差
(突起)をδ(通常約1μm )とする。
【0018】研磨装置のパッドを回転させる主軸の回転
と、被研磨対象を支持するテーブルの回転と、主軸のZ
軸下降移動とにより与えられる相対加振力(加圧力)と
は、TTVおよびδに依存して、各軸の回転数により任
意の周波数成分となって与えられる。すなわちTTVに
依る加振力はテーブル回転数に依存した周波数成分とな
って現れ、δによる加振力は主軸回転数に依存した周波
数成分となって現れる。
【0019】一方、研磨装置の相対加振力による動コン
プライアンス特性は、ある共振点(1次)を持ち、位相
角の急変する周波数がある。この時、共振点よりはるか
に低い周波数成分に対しては、加振に対して位相が変化
することなく追従するが、共振点付近あるいはそれ以上
の周波数成分の加振力に対しては、位相の変化を伴いほ
ぼランダムな相対加振力を与えることになる。
【0020】したがって、たとえば主軸の回転数を20
00rpm、テーブルの回転数を10rpm、共振点1
00Hzの系では、TTV成分は変位に応じた加圧力が
与えられ、TTVのうねりを残したままの加工が進行す
る。他方、δ成分はδの変位とは無関係のランダムな加
圧力が与えられ、δとは無関係の加工、すなわちδの段
差(突起)を除去してしまう加工が進行する。
【0021】さらに、TTVおよびδは初期値は、その
表面の形状であるから、回転数に無関係な振幅一定の加
振力である。この場合、その周波数と加圧力すなわち加
振加速度には、次式のように、たとえば振幅一定の加振
では、周波数が高いほど大きな加振力すなわち除去加工
の速度が早いといえる関係がある。
【0022】
【数1】 変位Xは X=A×sinωt ;t 時間 加速度X”は X”=−Aω2 sinωt したがって、グローバル平坦化の目的から微少段差を除
去し、大きなうねりは無視する(残す)ためには、TT
V成分とδ成分をできるだけきれいに分離し、TTV周
波数を小さく(テーブル回転数を遅く)、δ周波数を大
きく(研磨パッド主軸回転数を速く)することが最も有
効である。
【0023】なお、共振点については、一般に高剛性研
削盤で100〜数百Hz以下、低剛性なラップ盤系では
数Hz〜数十Hz程度以下である。たとえば研磨装置の
動コンプライアンス特性の結果、共振点215Hzであ
る場合には、δ成分を共振点以上とするためには、研磨
パッドの主軸の回転数は、500rpm以上が好まし
く、TTV成分を共振点以下とするため、被研磨対象を
保持するテーブルの回転数は、20rpm以下が好まし
い。実際に、これらの条件で研磨することで、良好な結
果が得られた。
【0024】また、研磨パッドの表面硬度(縦弾性係
数)によっても同一変位量に対する加圧力は変化する。
つまり、表面硬度の高い研磨パッドにすることは、共振
点の高い系と等価である。本発明において用いることが
できる研磨パッドとしては、特に限定されないが、CM
Pで一般的に用いられるIC1000(ロデールニッタ
株製)などが好ましく用いられる。
【0025】本発明の第3の観点に係る研磨方法では、
前記研磨パッドがリング状であることが好ましい。ま
た、研磨パッドが定盤に対して偏心して取り付けてある
ことが好ましい。本発明の第4の観点に係る研磨方法
は、前記CFPの考え方を採用した変形の態様であり、
被研磨対象の表面に研磨パッドを摺接させ、被研磨対象
を停止または回転させると共に、研磨パッドを回転させ
て、被研磨対象の表面の研磨を行う研磨方法であって、
前記研磨パッドを1000rpm以上の高速で回転し、
前記被研磨対象を10rpm以下の低速で回転させるこ
とを特徴とする。
【0026】本発明の方法では、上記のような回転速度
に設定することで、被研磨対象の表面のうねりは吸収
し、微小段差を除去することができる。たとえば被研磨
対象として、ウェーハの表面を考える。ウェーハ面内で
の研磨量の均一性、すなわち、ウェーハ表面の加工量の
むらやばらつきは、おもに、ウェーハ表面の平面度が出
ていないことに起因する。ウェーハチャッキングの誤差
などを除くと、ウェーハの厚さのばらつきなどによるう
ねり(TTV)が大きな要因である。回転式の研磨の場
合、うねりと微小段差とを持つウェーハの表面を研磨す
る際に、その加工量に比例する実効研磨圧力は、相対加
振力により与えられる。相対加振力の周波数は、うねり
による加振力の周波数と、微小段差による加振力の周波
数とに分離することができる。うねりの場合には、うね
りの形状を考慮すると、ウェーハの1回転当り1〜2回
の周波数であり、微小段差の場合には、微小段差の形成
ピッチを考慮すると、パッドの1回転当り数百〜数千回
の周波数である。
【0027】ウェーハの表面の研磨量の面内均一性を考
慮すると、ウェーハの大きなうねりに対しては、研磨量
差を作らずに均等に研磨を行うことが好ましい。また、
ウェーハの表面の平坦性を考慮すると、微小段差に対し
ては、その凸部と凹部との研磨量差を大きくして段差を
除去することが好ましい。すなわち、うねりによる実効
研磨圧力は下げて、研磨量差を作らずに均等に研磨を行
い、微小段差による実効研磨圧力は挙げて、段差を除去
するように研磨を行うことが好ましい。
【0028】本発明では、ウェーハなどの被研磨対象の
回転速度を低速(10rpm以下)にすることにより、
うねりによる加振力を下げ、研磨量差を作らずに均等に
研磨を行うことができる。また、研磨パッドの回転数を
高速(1000rpm以上)にすることにより、段差に
よる加振力を大きくし、段差を除去するように研磨を行
うことができる。すなわち、本発明では、平坦性と均一
性とを同時に満足することができる研磨特性を得ること
ができる。
【0029】本発明の方法では、前記研磨パッドがリン
グ状であることが好ましい。研磨パッドをリング状にす
ることで、上記したリング状の研磨パッドの作用効果が
相乗される。本発明の方法では、前記研磨パッドが定盤
に対して偏心して取り付けてあることが好ましい。研磨
パッドを偏心して取り付けることで、上記した偏心研磨
パッドによる作用効果を相乗させることができる。
【0030】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る研磨装置およ
び研磨方法を、図面に示す実施形態に基づき、詳細に説
明する。第1実施形態 図1は本発明の一実施形態に係る研磨装置の全体斜視
図、図2はその要部断面図、図3は図2に示すパッドの
底面図、図4(A)は実施形態のリング状研磨パッドと
ウェーハのうねりおよび微小段差との関係を示す概略
図、同図(B)は研磨加工時の周波数と加振力との関係
を示すグラフ、図5(A),(B)は偏心による効果を
示す概略図、図6(A)〜(C)は偏心による効果を示
す概略図、図7(A),(B)はリング状研磨パッドの
研磨速度分布を示す概略図、図8(A),(B)は従来
の研磨パッドの研磨速度分布を示す概略図、図9
(A),(B)は従来の研磨パッドの研磨速度分布を示
す概略図である。
【0031】図1〜3に示すように、本実施形態に係る
研磨装置30は、被研磨対象としてのウェーハ2の表面
を研磨するための装置である。図1に示すように、この
研磨装置30は、研磨パッド8を回転させる主軸スピン
ドル32と、ウェーハ2を保持する保持手段としてのテ
ーブル6とを有する。
【0032】テーブル6は、レール50に沿ってX軸方
向に移動自在に設けられたスライダ52(往復移動手段
またはトラバース移動手段)の上に回転自在に装着して
ある。テーブル6は、比較的低速回転なので、モータ、
プーリおよび平ベルトなどにより回転駆動される。
【0033】テーブル6の大きさは、特に限定されない
が、たとえば直径約200mmの円盤状をしている。テ
ーブル6の上部には、多孔質部材などで構成されるチャ
ックが装着してある。テーブル6を回転させる回転軸に
は、その軸芯に沿って真空引き用通路が形成してある。
この通路を通して真空引きすることで、ウェーハ2がテ
ーブル6の表面に真空吸着されるようになっている。
【0034】主軸スピンドル32は、図2に示すよう
に、主軸36と主軸ハウジング38とを有する。主軸3
6の下部には、定盤34が取付固定してある。定盤34
の中心部には、ノズル孔42が形成してあり、このノズ
ル孔42に、ノズル管40の下端部が接触しないように
挿入されるようになっている。ノズル管40からは、研
磨液としてのスラリーが吐出するようになっている。ノ
ズル管40は、回転せず、定盤34が主軸36により回
転可能になっている。主軸36は、図示省略してあるモ
ータにより回転駆動される。ノズル管40から供給され
るスラリーとしては、化学機械研磨を可能とする研磨ス
ラリーが用いられ、例えば粉状の酸化シリコン(SiO2
)と水酸化カリウム(KOH) との水溶液などが用いら
れる。
【0035】図2,3に示すように、本実施形態では、
ノズル孔42は、その下部にスラリー分配用端板46が
残されるように、定盤34に形成してある。しかも、定
盤34の下面には、放射状溝44が形成してあり、その
放射状溝44の中心部が、ノズル孔42に対して連通す
るようになっている。
【0036】また、本実施形態では、図3に示すよう
に、定盤34の下面の外周に、リング状研磨パッド8が
接着などで取り付けてある。この研磨パッド8は、発泡
ポリウレタンなどの多孔質粘弾性材で構成される。この
研磨パッド8の外径Dは、ウェーハ2の外径と略同じま
たはそれよりも小さい外径である。
【0037】本実施形態では、この研磨パッド8は、研
磨パッド8の中心と定盤34の回転中心とがオフセット
して偏心状態となるように、定盤34の下面に取り付け
てある。その偏心量eは、特に限定されないが、本実施
形態では、2.5〜5mmである。前述した放射状溝44
は、リング状研磨パッド8の内周面まで延びるように形
成してある。
【0038】リング状研磨パッド8の半径方向幅dは、
本実施形態では、20mmである。また、定盤34の外径
(D+e)は、200mmである。次に、本実施形態に係
る研磨装置の動作について説明する。先ず、テーブル6
の吸引装置が吸引を開始し、その表面に吸引力が生じ
る。この状態で、図1に示すように、研磨対象面を図中
上にして、テーブル6の上にウェーハ2を載置し、ウェ
ーハ2をテーブル6に吸着させる。
【0039】次に、スピンドルモータなどの駆動によっ
て、定盤34を回転速度約1000〜3000rpmで
回転させる。また、モータの駆動によってテーブル6を
ウェーハ2と共に、回転速度約10rpm以下で回転さ
せる。このように、回転速度に差をつけることは、後述
するようなCFPの概念を利用するためである。
【0040】また、ウェーハ2の上方に研磨パッド8が
位置するように、図1に示すスライダ52をレール50
に沿ってX軸方向に移動する。このとき、図2に示すノ
ズル管40を介して、スラリー供給装置からのスラリー
が、ノズル孔42から吐出され、回転による遠心力で、
放射状44を通して、リング状研磨パッド8の内周側に
供給される。
【0041】そして、図示しない駆動装置により主軸3
6がZ軸方向に下降し、所定の研磨圧力で、ウェーハ2
の研磨対象面にリング状研磨パッド8を押し付ける。本
実施形態では、ウェーハ2の研磨対象面にリング状研磨
パッド8が押し付けられた状態で、図示しない駆動装置
からの駆動力によって、図1に示すスライダ52がレー
ル50に沿って所定の周期および振幅で往復運動を行
い、ウェーハ2が研磨パッド8に対してトラバース運動
(回転半径方向に往復移動)を行う。尚、このトラバー
ス運動の速度は、例えば5〜400(mm/分)であ
る。このトラバース運動に際して、研磨パッド8および
ウェーハ2は共に回転する。
【0042】このような研磨により、ウェーハ2の研磨
対象面は、スラリー中のアルカリ成分による化学的研磨
作用と、直径約0.1μm程度のシリカなどの研磨粒子
による機械的研磨作用と、さらにこれらの相乗研磨作用
により、メカノケミカル研磨(CMP)が良好に行われ
る。
【0043】本実施形態では、研磨パッド8を1000
rpm以上の高速で回転し、ウェーハ2を10rpm以
下の低速で回転させることで、CFPの考え方に基づ
き、ウェーハ2の表面のうねりは吸収し、微小段差を除
去することができる。たとえばウェーハ面内での研磨量
の均一性、すなわち、ウェーハ表面の加工量のむらやば
らつきは、おもに、ウェーハ表面の平面度が出ていない
ことに起因する。ウェーハチャッキングの誤差などを除
くと、図4(A)に示すように、ウェーハ2の厚さのば
らつきなどによるうねり(TTV)が大きな要因であ
る。回転式の研磨の場合、うねりTTVと微小段差Sと
を持つウェーハ2の表面を研磨する際に、その加工量に
比例する実効研磨圧力は、相対加振力により与えられ
る。図4(B)に示すように、相対加振力の周波数は、
うねりTTVによる加振力の周波数と、微小段差Sによ
る加振力の周波数とに分離することができる。図4
(A),(B)に示すように、うねりTTVの場合に
は、うねりTTVの形状を考慮すると、ウェーハ2の1
回転当り1〜2回の周波数であり、微小段差Sの場合に
は、微小段差Sの形成ピッチPを考慮すると、パッド8
の1回転当り数百〜数千回の周波数である。
【0044】ウェーハ2の表面の研磨量の面内均一性を
考慮すると、ウェーハ2の大きなうねりTTVに対して
は、研磨量差を作らずに均等に研磨を行うことが好まし
い。また、ウェーハ2の表面の平坦性を考慮すると、微
小段差Sに対しては、その凸部と凹部との研磨量差を大
きくして段差を除去することが好ましい。すなわち、う
ねりTTVによる実効研磨圧力は下げて、研磨量差を作
らずに均等に研磨を行い、微小段差による実効研磨圧力
は挙げて、段差を除去するように研磨を行うことが好ま
しい。
【0045】本実施形態では、ウェーハ2の回転速度を
低速(10rpm以下)にすることにより、うねりによ
る加振力を下げ、研磨量差を作らずに均等に研磨を行う
ことができる。また、研磨パッド8の回転数を高速(1
000rpm以上)にすることにより、段差による加振
力を大きくし、段差を除去するように研磨を行うことが
できる。すなわち、本実施形態では、平坦性と均一性と
を同時に満足することができる研磨特性を得ることがで
きる。
【0046】また、本実施形態では、研磨パッド8を定
盤34に対して偏心して取り付けてあるので、定盤34
が回転すると、研磨パッド8は、それと同じ回転速度で
回転する。しかも、中心が偏心してあるので、図5
(A),(B)に示すように、定盤の回転中心に対し
て、研磨パッド8は、回転しながら、偏心量eに相当す
る距離でトラバース移動することと等価の動きをするこ
とになる。研磨パッド8を回転しながらトラバース移動
させることで、平坦性と研磨量の均一性とを同時に向上
させることができる。たとえば、従来の回転研磨では、
図6(A),(B)に示すように、ウェーハ2のワーク
中心が特異点(オーバー加工または加工不足)になりが
ちであったが、本実施形態では、図6(C)に示すよう
に、このような特異点をなくすことができる。また、従
来では、研磨パッドのエッジ部の影響によるオーバー研
磨(加工)が生じ易かったが、本実施形態では、このよ
うなオーバー研磨をなくすことができる。
【0047】さらに、本実施形態では、リング状研磨パ
ッド8を用いて研磨を行うことで、図7(A),(B)
に示すように、径方向のパッド面(端面)の長さが短く
なり、パッド面内での研磨能力のばらつきを小さくする
ことができる。したがって、研磨量の均一性が向上す
る。なお、従来では、図8(A),9(A)に示すよう
に、円盤状の研磨パッド8a,8bであったため、径方
向のパッド面の長さが長く、パッド面内での研磨能力の
ばらつきが生じ易かった。すなわち、円盤状研磨パッド
8a,8bの場合には、パッド面の全面を均等に被研磨
対象に接触させて加工に寄与させることは非常に困難で
あり、スラリー流量、パッドの回転数、接触圧力、パッ
ド面形状精度(平面度)などにより、半径方向に研磨能
力のばらつきが生じ、結果として、研磨量のばらつきが
生じるおそれが大きかった。たとえば図8(B)に示す
ように、パッドの内周側で研磨速度が早い場合や、図9
(B)に示すように、外周側で研磨速度が早くなるなど
のように、研磨量のばらつきが生じるおそれが大きかっ
た。
【0048】本実施形態では、リング状研磨パッド8を
用いるので、図7(B)に示すように、研磨量のばらつ
きが少ない。また、本実施形態では、リング状研磨パッ
ド8を用いることで、研磨による平坦性も向上する。従
来では、円盤状の研磨パッドの内周側と外周側とで、パ
ッドの周速度差が大きいため、それらの部分で加工され
る段差による加振力の周波数差が大きくなっていた。こ
のため、たとえば内周側で都合良く段差を加工できる程
度の研磨パッド回転速度であるとすると、外周側では、
段差の加工残りが大きくなるおそれがあった。本実施形
態では、リング状研磨パッド8を用いることで、内外周
における周速度の差を小さくすることができ、研磨能力
の均一性が向上し、結果として得られる平面の平坦性が
向上する。
【0049】第2実施形態 本実施形態では、前記第1実施形態でも述べたCFPの
考え方に関して、捕捉説明を行う。たとえば、ウェーハ
2の表面全体のうねりをTTV(通常約5μm )とし、
1mm以下のピッチで被研磨対象の表面にある微小段差
(突起)をδ(通常約1μm)とする。
【0050】研磨装置のパッドを回転させる主軸の回転
と、被研磨対象を支持するテーブルの回転と、主軸のZ
軸下降移動とにより与えられる相対加振力(加圧力)と
は、図12(A),(B)に示すように、TTVおよび
δに依存して、各軸の回転数により任意の周波数成分と
なって与えられる。すなわち、TTVに依る加振力はテ
ーブル回転数に依存した周波数成分となって現れ、δに
よる加振力は主軸回転数に依存した周波数成分となって
現れる。
【0051】一方、研磨装置の相対加振力による動コン
プライアンス特性は、図10,11に示すように、ある
共振点(1次)を持ち、位相角の急変する周波数があ
る。この時、共振点よりはるかに低い周波数成分に対し
ては、加振に対して位相が変化することなく追従する
が、共振点付近あるいはそれ以上の周波数成分の加振力
に対しては、位相の変化を伴いほぼランダムな相対加振
力を与えることになる。したがって、たとえば主軸の回
転数を2000rpm、テーブルの回転数を10rp
m、共振点100Hzの系では、TTV成分は変位に応
じた加圧力が与えられ、TTVのうねりを残したままの
加工が進行する。他方、δ成分はδの変位とは無関係の
ランダムな加圧力が与えられ、δとは無関係の加工、す
なわちδの段差(突起)を除去してしまう加工が進行す
る。
【0052】さらに、TTVおよびδは初期値は、その
表面の形状であるから、回転数に無関係な振幅一定の加
振力である。この場合、その周波数と加圧力すなわち加
振加速度には、次式のように、たとえば振幅一定の加振
では、周波数が高いほど大きな加振力すなわち除去加工
の速度が早いといえる関係がある。
【0053】
【数2】 変位Xは X=A×sinωt ;t 時間 加速度X”は X”=−Aω2 sinωt したがって、グローバル平坦化の目的から微少段差を除
去し、大きなうねりは無視する(残す)ためには、図1
2(B)に示すように、TTV成分とδ成分をできるだ
けきれいに分離し、TTV周波数を小さく(テーブル回
転数を遅く)、δ周波数を大きく(研磨パッド主軸回転
数を速く)することが最も有効である。
【0054】なお、共振点については、一般に高剛性研
削盤で100〜数百Hz以下、低剛性なラップ盤系では
数Hz〜数十Hz程度以下である。たとえば研磨装置の
動コンプライアンス特性の結果、共振点215Hzであ
る場合には、δ成分を共振点以上とするためには、研磨
パッドの主軸の回転数は、500rpm以上が好まし
く、TTV成分を共振点以下とするため、被研磨対象を
保持するテーブルの回転数は、20rpm以下が好まし
い。実際に、これらの条件で研磨することで、良好な結
果が得られた。
【0055】また、研磨パッドの表面硬度(縦弾性係
数)によっても同一変位量に対する加圧力は変化する。
つまり、表面硬度の高い研磨パッドにすることは、共振
点の高い系と等価である。本実施形態において用いるこ
とができる研磨パッドとしては、特に限定されないが、
CMPで一般的に用いられるIC1000(ロデールニ
ッタ株製)などが好ましく用いられる。
【0056】しかも、本実施形態では、前記実施形態と
同様に、リング状の研磨パッド8を用いている。なお、
本発明は、上述した実施形態に限定されるものではな
く、本発明の範囲内で種々に改変することができる。
【0057】たとえば、上記実施形態では、往復移動手
段として、図1に示すスライダ52を用い、このスライ
ダ52をX方向に移動させることで、ウェーハ2を研磨
パッド8に対して往復移動させたが、研磨パッド8を保
持する主軸スピンドル32をウェーハに対して往復移動
させても良い。ただし、スピンドル32の方が高速回転
なので、テーブル6を往復移動させる方が、回転安定性
の観点からは好ましい。
【0058】また、本実施形態では、リンク状研磨パッ
ド8が定盤34に対して偏心して取り付けてあり、トラ
バース移動(往復移動)と同じ動きを実現することがで
きるので、必ずしもテーブル6を往復移動させる必要も
ない。ただし、テーブル6を往復移動させた方が、研磨
による平坦性および面内均一性は向上する。
【0059】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、リング状研磨パッドを用いて研磨を行うことで、径
方向のパッド面(端面)の長さが短くなり、パッド面内
での研磨能力のばらつきを小さくすることができる。し
たがって、研磨量の均一性が向上する。
【0060】また、本発明では、リング状研磨パッドを
用いることで、研磨による平坦性も向上する。従来で
は、円盤状の研磨パッドの内周側と外周側とで、パッド
の周速度差が大きいため、それらの部分で加工される段
差による加振力の周波数差が大きくなっていた。このた
め、たとえば内周側で都合良く段差を加工できる程度の
研磨パッド回転速度であるとすると、外周側では、段差
の加工残りが大きくなるおそれがあった。本発明では、
リング状研磨パッドを用いることで、内外周における周
速度の差を小さくすることができ、研磨能力の均一性が
向上し、結果として得られる平面の平坦性が向上する。
【0061】本発明では、研磨パッドを定盤に対して偏
心して取り付けることで、定盤の回転中心に対して、研
磨パッドは、回転しながらトラバース移動することと等
価の動きをすることになる。研磨パッドを回転しながら
トラバース移動させることで、平坦性と研磨量の均一性
とを同時に向上させることができる。たとえば、従来の
回転研磨では、被研磨対象のワーク中心が特異点(オー
バー加工または加工不足)になりがちであったが、本発
明では、このような特異点をなくすことができる。ま
た、従来では、研磨パッドのエッジ部の影響によるオー
バー研磨(加工)が生じ易かったが、本発明では、この
ようなオーバー研磨をなくすことができる。
【0062】しかも本発明では、トラバース移動のため
の特別の機構を必要としない。本発明では、ウェーハな
どの被研磨対象の回転速度を低速(20rpm以下、好
ましくは10rpm以下)にすることにより、うねりに
よる加振力を下げ、研磨量差を作らずに均等に研磨を行
うことができる。また、研磨パッドの回転数を高速(5
00rpm以上、好ましくは1000rpm以上)にす
ることにより、段差による加振力を大きくし、段差を除
去するように研磨を行うことができる。すなわち、本発
明では、平坦性と均一性とを同時に満足することができ
る研磨特性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は本発明の一実施形態に係る研磨装置の全
体斜視図である。
【図2】図2はその要部断面図である。
【図3】図3は図2に示すパッドの底面図である。
【図4】図4(A)は実施形態のリング状研磨パッドと
ウェーハのうねりおよび微小段差との関係を示す概略
図、同図(B)は研磨加工時の周波数と加振力との関係
を示すグラフである。
【図5】図5(A),(B)は偏心による効果を示す概
略図である。
【図6】図6(A)〜(C)は偏心による効果を示す概
略図である。
【図7】図7(A),(B)はリング状研磨パッドの研
磨速度分布を示す概略図である。
【図8】図8(A),(B)は従来の研磨パッドの研磨
速度分布を示す概略図である。
【図9】図9(A),(B)は従来の研磨パッドの研磨
速度分布を示す概略図である。
【図10】図10は本発明の一実施形態に係る研磨装置
の動コンプライアンスモデルを示す概略図である。
【図11】図11は相対加振による動コンプライアンス
の一次共振点を示すグラフである。
【図12】図12(A)は相対加振力を時間との関係で
示すグラフ、同図(B)は相対加振のパワースペクトル
を示すグラフである。
【符号の説明】
2… ウェーハ、 6… テーブル、 8… リング状
研磨パッド、30… 研磨装置、 32… 主軸スピン
ドル、 34… 定盤、40… ノズル管、 42…
ノズル孔、 44… 放射状溝。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 早川 秀明 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被研磨対象を保持する保持手段と、 前記保持手段で保持された被研磨対象の表面に、回転し
    ながら摺接するリング状端面を持つリング状研磨パッド
    と、 を有する研磨装置。
  2. 【請求項2】 回転する前記リング状研磨パッドを、前
    記被研磨対象の表面に沿って、被研磨対象の半径方向に
    相対的に往復移動させる往復移動手段をさらに有する請
    求項1に記載の研磨装置。
  3. 【請求項3】 前記リング状研磨パッドを保持する定盤
    の中央部に、研磨液を吐出するノズルが設けてあり、前
    記定盤の表面には、前記ノズルからリング状研磨パッド
    の内周面に向けて研磨液を案内する放射状溝が形成して
    ある請求項1に記載の研磨装置。
  4. 【請求項4】 被研磨対象を保持する保持手段と、 前記保持手段で保持された被研磨対象の表面に、回転し
    ながら摺接する端面を持つ研磨パッドと、 前記研磨パッドに回転力を伝達し、しかも研磨パッドの
    中心と定盤の回転中心とがオフセットして偏心状態とな
    るように、前記研磨パッドが取り付けられる定盤と、 を有する研磨装置。
  5. 【請求項5】 前記研磨パッドがリング状である請求項
    4に記載の研磨装置。
  6. 【請求項6】 回転する前記研磨パッドを、前記被研磨
    対象の表面に沿って、被研磨対象の半径方向に相対的に
    往復移動させる往復移動手段をさらに有する請求項5に
    記載の研磨装置。
  7. 【請求項7】 前記定盤の中央部に、研磨液を吐出する
    ノズルが設けてあり、前記定盤の表面には、前記ノズル
    からリング状研磨パッドの内周面に向けて研磨液を案内
    する放射状溝が形成してある請求項5に記載の研磨装
    置。
  8. 【請求項8】 被研磨対象の表面に、回転するリング状
    研磨パッドの端面を摺接させて、被研磨対象の表面を研
    磨する研磨方法。
  9. 【請求項9】 前記研磨パッドと被研磨対象との間に、
    化学機械研磨を生じさせる研磨液を供給しながら研磨を
    行う請求項8に記載の研磨方法。
  10. 【請求項10】 前記リング状研磨パッドの中心と定盤
    の回転中心とがオフセット状態となるように前記研磨パ
    ッドが取り付けられた定盤を回転駆動することにより、
    前記研磨パッドを回転させる請求項8に記載の研磨方
    法。
  11. 【請求項11】 被研磨対象の表面に研磨パッドを摺接
    させ、被研磨対象を停止または回転させると共に、研磨
    パッドを回転させて、被研磨対象の表面の研磨を行う研
    磨方法であって、 研磨パッドを含む研磨装置の相対加振力による動コンプ
    ライアンス特性から共振点を求め、 被研磨対象の表面の微小段差による相対加振の周波数成
    分が、前記共振点よりも大きくなるように、前記研磨パ
    ッドを高速で回転し、 被研磨対象の表面の大きなうねりによる相対加振の周波
    数成分が、前記共振点よりも小さくなるように、前記被
    研磨対象を停止または低速で回転することを特徴とする
    研磨方法。
  12. 【請求項12】 前記研磨パッドがリング状である請求
    項11に記載の研磨方法。
  13. 【請求項13】 前記研磨パッドが定盤に対して偏心し
    て取り付けてある請求項11に記載の研磨方法。
  14. 【請求項14】 前記研磨パッドを500rpm以上の
    高速で回転し、前記被研磨対象を20rpm以下の低速
    で回転させることを特徴とする請求項11に記載の研磨
    方法。
  15. 【請求項15】 被研磨対象の表面に研磨パッドを摺接
    させ、被研磨対象を停止または回転させると共に、研磨
    パッドを回転させて、被研磨対象の表面の研磨を行う研
    磨方法であって、 前記研磨パッドを1000rpm以上の高速で回転し、
    前記被研磨対象を10rpm以下の低速で回転させるこ
    とを特徴とする研磨方法。
  16. 【請求項16】 前記研磨パッドがリング状である請求
    項15に記載の研磨方法。
  17. 【請求項17】 前記研磨パッドが定盤に対して偏心し
    て取り付けてある請求項16に記載の研磨方法。
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