JPH10284412A - 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置 - Google Patents

外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置

Info

Publication number
JPH10284412A
JPH10284412A JP9108264A JP10826497A JPH10284412A JP H10284412 A JPH10284412 A JP H10284412A JP 9108264 A JP9108264 A JP 9108264A JP 10826497 A JP10826497 A JP 10826497A JP H10284412 A JPH10284412 A JP H10284412A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
light
base
stg
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9108264A
Other languages
English (en)
Inventor
Naoyuki Kobayashi
直行 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP9108264A priority Critical patent/JPH10284412A/ja
Publication of JPH10284412A publication Critical patent/JPH10284412A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光導入部材による基板ステージへの外乱を抑
えたステージ装置を提供する。 【解決手段】 ステージSTGと、ステージSTGの内
部と外部との間で光を授受するライトガイド1、2、3
とを備え、ライトガイドは、ステージSTG内の第1の
部分2、3とステージ外の第2の部分1とを含み、第2
の部分1は前記ステージSTGの基板載置側とは反対の
側に設けられており、かつ第1の部分2、3と第2の部
分1は非機械的に結合されているステージ装置。ステー
ジの内部と外部との光の授受が非機械的に行われるの
で、光の授受が行われる際にステージが外部から機械な
力を受けることがない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、外部と光を授受す
るステージ装置及びそのようなステージ装置を備える投
影露光装置に関し、特に、ICのリソグラフィ工程に使
用する投影露光装置に用いて好適なXYステージ装置及
び投影露光装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】レチクル(マスク)に形成されたパター
ンを、投影光学系を介して感光性基板上に投影露光する
IC(集積回路)のリソグラフィ工程には、いわゆるス
テップアンドリピート型あるいはステップアンドスキャ
ン型といった投影露光装置が主に使用されている。
【0003】これらの装置構成要素の中で、レチクルと
IC基板の位置を整合させるためのアライメントセンサ
や、オートフォーカス系などを較正する際に、基板を載
置する基板ステージ上から光線を発し、投影光学系を透
過させて測定する場合がある。例えば基板ステージに対
するレチクルの相対位置を測定する際に、基板ステージ
上の基準マークを透過照明し投影レンズを介してレチク
ル上に基準マークの像を結像し、レチクル上のアライメ
ントマークと基準マークの投影像との相対位置を測定す
ることでレチクルの位置測定を行う。
【0004】そのために、図5に示されるような装置が
用いられていた。図5に示される装置では、基板ステー
ジSTGの内部に基板ステージSTG上の基準マークF
Mの照明機構を搭載する必要があり、図示されるよう
に、基板ステージSTGの外部から光学的ファイバBF
を使用して、基準マークFMまで光線を導いていた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】以上のような従来の装
置によれば、外部から光ファイバBFを用いて基板ステ
ージSTGに光線を導く場合、光ファイバBFにより基
板ステージSTGと装置本体の間に機械的結合が存在す
るため、光ファイバBFの張力変化や振動が外乱とな
り、基板ステージSTGの位置決めの精度が低下すると
いった問題があった。
【0006】そこで本発明は、光導入部材による基板ス
テージへの外乱を抑えたステージ装置、及びそのような
ステージ装置を備える投影露光装置を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明によるステージ装置は、図1に
示すように、処理対象物Wを載置するステージSTG
と;該ステージSTGの内部と該ステージSTGの外部
との間で光を授受するライトガイド1、2、3とを備
え;前記ライトガイドは、前記ステージSTG内の第1
の部分2、3と前記ステージ外の第2の部分1とを含
み、前記第1の部分2、3と第2の部分1は非機械的に
結合されている。
【0008】このように構成すると、ステージの内部と
ステージの外部との光の授受を非機械的に行う第1の部
分と第2の部分を備えるので、光の授受が行われる際に
ステージが外部から機械な力を受けることがない。ここ
で、図1において、ライトガイドとは光ファイバーBF
の光の出射端から基準マークFMに到るまでの光を案内
する部分を意味し、必ずしも光学部材1、2、3だけを
意味するものではない。図1の例においても、リレーレ
ンズ2、3は備えなくてもよく、その場合は、第1の部
分とはリレーレンズ2、3が存在すべきステージSTG
中の穴を意味することになる。
【0009】上記の発明では、請求項2に記載されてい
るように、前記第2の部分1は前記ステージSTGの前
記処理対象物Wが載置されるのとは反対の側に設けられ
ていてもよい。
【0010】このように構成すると、第2の部分が例え
ば図1に示されるようにステージSTGの下面側に設け
られることになるので、装置の小型化と単純化を図るこ
とができる。
【0011】上記の発明では、請求項3に記載されてい
るように、前記ステージ外の、前記処理対象物が載置さ
れるのとは反対の側に、該ステージを滑動可能に載置す
るベースSBを備え;前記第2の部分1が、前記ベース
SB内に設けられていてもよい。
【0012】このように構成すると、ステージSTGは
ベースSB上で自由に滑動し、第1の部分を備えるステ
ージは第2の部分から機械的な力を受けることがない。
【0013】以上の発明では、請求項4に記載のよう
に、前記ステージSTGと前記ベースSBとの間に気体
ベアリングBP、例えばエアベアリングを備えてもよ
い。この場合は、気体ベアリングBPを備えるので、ス
テージSTGとベースSBとの間が、相対的に滑らかに
動く。
【0014】請求項5に記載の発明に係る投影露光装置
は、図3に示されるように、以上のようなステージ装置
と;前記処理対象物Wが感光性基板であり、前記ステー
ジSTGの該感光性基板側に該感光性基板を投影露光す
る投影光学系PLを備える。
【0015】さらに請求項5に記載の投影露光装置で
は、請求項6に記載のように、前記ステージが前記投影
光学系に対する前記ステージのアライメント用の基準マ
ークを含み、前記第2の部分は、前記基準マークに光を
照射するように構成されている。
【0016】ここで図3の例に示されるように、第1の
部分は、ベースSB内の第2の部分から、基板ステージ
STG上の基板W側に設けられた基準マークFMまで光
を導く、基板ステージSTG内の円筒状の穴で構成され
ていてもよい。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。なお、各図において互い
に同一あるいは相当する部材には同一符号を付し、重複
した説明は省略する。
【0018】図1は、本発明による第1の実施の形態を
示す断面図である。図中、基板Wを載置する平坦な表面
11とそれと平行な裏面12とを有するXY基板ステー
ジSTGは、平坦な表面13を有するベースSBの上
に、ステージの裏面12とベースの表面13との間に複
数のエアベアリングパッドBPを介して、滑動可能に搭
載されている。ここで、XY座標はベースSBの表面1
3に平行な平面内にとり、Z軸はXY座標面に垂直な軸
とする。
【0019】ステージSTGは不図示のアクチュエータ
により、ベースSBの表面13上でエアベアリングパッ
ドBPを介して、表面13に平行(XY座標面に平行)
に移動する。即ち、図1では、紙面に対して左右および
垂直方向に移動する。
【0020】ベースSB中には、Z軸に平行な中心軸線
を有する円筒状の穴14が、表面13からベースSBの
裏面に貫通して設けられており、その穴の内部には穴の
中心軸線に沿って光軸を有する送光光学系用のコンデン
サーレンズ1が配置されている。また、穴14の表面1
3側には保護ガラス16が、ガラスの表面がベースの表
面13と同一平面になるようにはめ込まれている。
【0021】ベースSBの穴の保護ガラス16とは反対
の側には、光ファイバーBFの光出射端が、コンデンサ
ーレンズの焦点面に配置されている。
【0022】基板ステージSTG中には、Z軸に平行な
中心軸線を有する円筒状の穴15が、表面11から裏面
12まで貫通して設けられており、その穴の内部には穴
の中心軸線に沿って光軸を有する受光光学系を構成する
第1リレーレンズ2と第2リレーレンズ3が、裏面12
から表面11に向かって配置されている。
【0023】また、基板ステージSTGの表面11側に
は基準マークFMが設けられている。基準マークFM
は、基板Wがステージの表面11上に載置されたときに
その基板Wの表面が来るべき面と一致するように設けら
れている。基準マークFMは、光学ガラス等の透過性の
材料でできた平行平面板の表面に形成されており、受光
光学系によりステージSTGの内側から照明されるよう
に構成されている。
【0024】ここで、穴14の直径、あるいはコンデン
サーレンズ1による照明光がステージSTG方向に向け
て照射する光束がカバーする領域は、基準マークFMが
用いられる際にその領域内にあるような大きさに構成さ
れている。したがって、基準マークFMがXY座標内の
一カ所でのみ用いられるならば、穴14は穴15とほぼ
同一な大きさとして、位置をそのように定めればよい
が、一般的には複数箇所で用いられるので、穴14は穴
15よりある程度大きく構成する。あるいは、コンデン
サーレンズ1の直径は、第1リレーレンズ2の直径より
も一般的には大きく構成される。
【0025】図1を参照して、本発明の作用を説明す
る。照明光Lは不図示の光源から、光ファイバBFによ
ってベースSBに送り込まれ、光ファイバーの出射端か
ら出射される。ベースSB中に設置された送光光学系の
コンデンサーレンズ1とステージSTG内の受光光学系
の第1リレーレンズ2によりステージSTGとベースS
Bの間を伝送され、ついで第2リレーレンズ3によりス
テージSTG上の基準マークFMを照明する。
【0026】エアベアリングパッドBPはベースSB上
に浮上している。保護ガラス16の上面がベースSBと
同一平面になるように設置されているので、ステージS
TGはベースSB上を自由に移動することができる。あ
るいは、ベースSB側の光学系がベアリングパッドBP
の移動範囲外に来るようにベアリングパッドBPの位置
を設定すれば、必ずしも保護ガラス16を設けなくても
差し支えなく、あるいは保護ガラス16の表面をベース
SBの表面13と同一平面内にあるように構成しなくて
もよい。本実施の形態では、ベースSB上の送受光手段
の搭載位置はステージSTGのベアリング面12、13
である。
【0027】図2を参照して、本発明の第2の実施の形
態を説明する。本実施の形態では、図1の場合における
XYステージがX方向に移動するXステージXSTG
と、Y方向に移動するYステージYSTGに分離されて
いる。即ちXYステージが、2枚の平行平面板状のステ
ージからなっている。
【0028】XステージXSTGとYステージYSTG
とは、エアベアリングパッドBP1とニードルベアリン
グBPN1とを介して積み重ねられている。図2の例で
は、XステージXSTGの上にYステージYSTGが重
なっている。
【0029】ニードルベアリングBPN1は、Xステー
ジXSTGのYステージYSTG側の表面に切られた、
断面がV字形状の長手方向がY軸と平行な溝17と、Y
ステージYSTGのXステージXSTG側の面に、溝1
7に平行に設けられた、断面がV字形状の長手方向がY
軸と平行なレールとの間に、ニードルを挟み込み、V字
の斜面同士の間でニードルで転がってY軸と平行な方向
に走行できるようにした、いわゆるニードル式のリニア
ベアリングである。このようなニードルベアリングBP
N1が、XステージXSTGとYステージYSTGとの
間に1本設けられている。
【0030】一方、XステージXSTGとYステージY
STGとの間のニードルベアリングBPN1から所定の
距離だけ離れた位置には1又は2以上のエアベアリング
BP1が設けられており、ニードルベアリングBPN1
と協働して、両ステージを滑動可能に結合している。
【0031】さらにXステージXSTGは、不図示のニ
ードルベアリングBPN2と不図示のエアベアリングB
P2を介してベースSB上に積み重ねられている。重ね
方はYステージYSTGがXステージXSTG上に重ね
られているのと同様であるが、ニードルベアリングBP
N2の走行方向は、X軸方向である点が異なる。
【0032】XステージXSTGとYステージYST
G、及びベースSBとXステージXSTGは、不図示の
アクチュエータにより相互に駆動される。その移動方向
は、図2の例では、XステージXSTGは紙面に対して
左右、YステージYSTGは紙面に対し垂直方向であ
る。
【0033】コンデンサーレンズ1は、第1の実施の形
態と同様に、ベースSB内の穴14中に、第1と第2の
リレーレンズ2、3は、YステージYSTG内の穴15
中に設けられている。ベースSBの表面13に対する、
これらの穴の関係は第1の実施の形態の場合と同様であ
る。
【0034】XステージXSTGには、基準マークFM
を照明する際に、照明用光束を遮光しないだけの大きさ
の穴19が明けられている。
【0035】図2を参照して、本発明の第2の実施の形
態の作用を説明する。第1の実施の形態と同様に、照明
光Lは不図示の光源から光ファイバBFにより装置に送
り込まれ、ベースSB中に設置された送光光学系のコン
デンサーレンズ1とYステージYSTG内の受光光学系
の第1のリレーレンズ2によりXステージに空けられた
穴19を通して、YステージYSTGとベースSBの間
を伝送され、ついで照明光学系の第2のリレーレンズ3
によりステージ上の基準マークFMを照明する。この場
合、本発明のライトガイドは、穴14、穴19、穴15
及び光学系1、2、3を含んで構成されていることにな
る。
【0036】ただし第1の実施の形態とは異なり、機械
式ベアリングであるニードルベアリングBPN1,BP
N2による積み重ね型のXYステージの場合は、送受光
装置の上をベアリングが通らない構成に出来るため保護
ガラスは、あってもよいが無くてもよい。
【0037】本実施の形態では、ニードルベアリングを
用いたが、直線方向の運動を助けるリニアベアリングで
あればよく、例えば直線状の溝とレールの間にボールを
用いたボール式のリニアベアリングであってもよい。
【0038】以上の実施の形態はベースSB側からステ
ージSTG側に光を送る場合であるが、同じ光学系を使
用してステージSTG側からベースSB側に光を伝送す
ることも可能である。例として、ステージSTG上に光
電センサを置く代わりに外部に光電センサを置き本発明
による光伝送を行えば、ステージSTGと外部の処理系
の間での信号線を省略できるため、信号線の張力変化や
振動によるステージSTGの外乱を削減できるととも
に、ステージSTG上に能動的な電気素子を置く必要が
無いために消費電力を節約できるといった利点が生まれ
る。
【0039】また、以上の実施の形態では、本発明のラ
イトガイドにはコンデンサーレンズ1と第1リレーレン
ズ2、第2リレーレンズ3とが含まれており、本発明の
第2の部分がコンデンサーレンズ1、本発明の第1の部
分が第1リレーレンズ2と第2リレーレンズ3を含んで
いたが、要はライトガイドとは光を導く手段であり、第
1の部分と第2の部分とが非機械的な結合をしていれば
よく、例えば第1の部分の第1リレーレンズ2と第2リ
レーレンズ3を省略し、その穴15をライトガイドの第
1の部分としてもよい。第1の部分と第2の部分とは、
光学的な結合がされているだけである。
【0040】以上のように、本発明により、基板等の処
理対象物を載置するステージと、ステージを可動的に搭
載するベースのような固定部分との間に機械的結合が無
くなるため、例えば光ファイバの張力変動や振動による
外乱が無くなり、ステージの位置決め精度が向上する。
また受光光をステージ下面から行うためステージ上部に
専用の光学系を置く必要が無くなりステージが小型化で
きる。
【0041】また本発明をベースSBからステージST
Gへの送光ではなく、ステージSTGからベースSBへ
の送光に用いてもよいが、そのときは、ステージSTG
上に電気素子を置く必要がなくなり、ステージSTG上
での消費電力を低減ないしは無くすことが可能になる。
【0042】次に図3を参照して、本発明による第3の
実施の形態である投影露光装置を説明する。一般に、投
影露光装置では、レチクルR上に描かれたパターンをウ
エハW上に縮小投影して投影露光するための投影光学系
PLと、ウエハWやレチクルRを搭載し移動させ順番に
露光させるためのXYステージ装置STGおよび、レチ
クルRとウエハWの相対位置合わせを行うためにウエハ
マークを検出するためのアライメントセンサ系50、そ
して光ファイバBFからの光により透過照明された基準
マークFMの投影光学系PLによる像とレチクルマーク
RMを検出する検出系60及び露光装置全体を制御する
ため制御系100等が搭載されている。
【0043】レチクルマークRMの置かれるすべき位置
と検出系60との間には、反射鏡61とリレーレンズ6
2とがこの順で配置されている。反射鏡61はレチクル
マークRMからの光をレチクルの表面に平行あるいは投
影光学系PLの光軸に直角な方向に偏向するように置か
れており、レチクルマークRMと検出系60の受光面と
はリレーレンズ62に関して共役な関係に配置されてい
る。
【0044】図3を参照して、本実施の形態の投影装置
露光装置の構成を説明する。レチクルRを照明する照明
光学系20と、レチクルR、投影光学系PLとが、投影
光学系PLの光軸に沿ってこの順番に配列されている。
さらに投影光学系PLに関してレチクルRと共役な位置
に不図示の基板Wを載置する基板ステージSTGが設け
られている。レチクルR上に描かれた製品の半導体デバ
イス用実パターンは、投影光学系PLにより、基板W上
に投影露光される。
【0045】また基板ステージSTGの基板載置面とは
反対の側には、基板ステージSTGを支えるベースSB
が設けられ、ステージSTGとベースSBとの間には気
体ベアリングパッドBPが両者を平面方向に滑動可能に
組み合わせている。
【0046】基板ステージSTG上の、投影光学系PL
側の面には、第1の実施の形態と同様に基準マークFM
が設けられている。基準マークの裏の基板ステージST
G内には、第1の実施の形態と同様にライトガイドの一
部を構成する円筒状の穴15が明けられており、さらに
ベースSB内の、穴15に対応する位置にはやはりライ
トガイドの一部を構成する円筒状の穴14が明けられて
いる。穴14内にはコンデンサーレンズ1が配置されて
いる。図3には不図示であるが、穴14の表面13側に
は保護ガラスが表面13と同一平面を形成するように設
けられ、穴14の反対側には光ファイバーBFの光出射
端が配置されている。
【0047】この実施の形態では、XYステージは第1
の実施の形態と同様な一体型が用いられているが、第2
の実施の形態のように、XステージとYステージに分離
したものを用いてもよい。また図3では、穴15には、
リレーレンズ等が含まれていないが、勿論第1の実施の
形態、第2の実施の形態と同様に第1のリレーレンズ、
第2のリレーレンズを設けてもよい。要は、ステージの
外部から導かれる光を、ステージに導くための、外部と
ステージとの間に非機械的な結合部を有するライトガイ
ドであればよい。
【0048】以上のような構成において、不図示の光源
から光ファイバーBFの出射端に導かれた光は、その出
射端からコンデンサーレンズ1により集光され、穴14
から穴15に伝達され、基準マークFMを照明する。照
明された基準マークFMからの光は投影光学系を介して
レチクルRの方向に進む。そして、検出系60で基準マ
ークFMの像とレチクルマークRMとの相対位置ずれを
検出する。この位置ずれはレチクルパターンの投影中心
とアライメントセンサ系50の検出中心との間隔、いわ
ゆるベースラインの計測に用いられる。このようなベー
スライン計測の詳細は、例えば特開平6−97031や
特開平7−176468に開示されている。
【0049】また、ステージの外部から光を導く構成を
特開平4−348019に開示されているような投影光
学系のベストフォーカス位置を求める検出系、即ちステ
ージ上のフォーカスマークをステージ側から照明し、そ
のフォーカスマークからの光を投影光学系を介してレチ
クルに照射させ、そこからの反射光を再び投影光学系を
介してフォーカスマークに入射させ、フォーカスマーク
を透過した光を受光する検出系に適用してもよい。。
【0050】図4を参照して、本発明の第4の実施の形
態を説明する。本実施の形態では、XYステージの中に
ライトガイドの第1の部分が組み込まれている点は、図
1に示される第1の実施の形態と同様であるが、ライト
ガイドの第2の部分がXYステージの基板を載置するの
と反対側、即ち図4中XYステージSTGの上側のベー
スSB2に組み込まれている。ベースSB2はXYステ
ージSTGとは直接的な機械的結合がなく、例えばベー
スSBと一体あるいはそれに固定されている。
【0051】XYステージSTGとベースSBとは、エ
アベアリングパッドBPを介して滑動自在に結合されて
いる点は図1の場合と同様である。
【0052】コンデンサーレンズ1は、ベースSB2内
に明けられた円形断面を有する穴21中に設けられてい
る。円形断面穴21は、その円形断面穴の中心軸がXY
ステージSTGの基板載置面と垂直であり、XYステー
ジ側に開口を有し、反対側が閉じている。穴21の閉じ
た側には、光ファイバBFの光射出端部が露出してい
る。
【0053】第1のリレーレンズ2は、ベース穴21に
対向するようにステージSTG内に明けられた円形断面
を有する穴22中に設けられている。円形断面穴22
は、その円形断面穴の中心軸がXYステージSTGの基
板載置面と垂直であり、ベースSB2側に開口を有し、
反対側には、穴22の中心軸に45度の角度をなす反射
面5が配置されている。第1のリレーレンズ2の光軸は
穴23の中心軸と一致している。
【0054】第2のリレーレンズ3は、ステージSTG
内に明けられた円形断面を有する穴24中に設けられて
いる。円形断面穴24は、その円形断面穴の中心軸がX
YステージSTGの基板載置面と垂直であり、ベースS
B2側に開口を有し、反対側には、穴24の中心軸に4
5度の角度をなす反射面6が配置されている。穴24の
開口側にはXYステージSTGの基板載置面に設けられ
た基準マークFMがある。第2のリレーレンズ3の光軸
は穴24の中心軸と一致している。
【0055】反射面5と反射面6との間は、ステージS
TG内に明けられた円形断面を有する穴23が明けられ
ている。穴23中には、第3のリレーレンズ4が光軸が
穴23の中心軸と一致するように設けられている。リレ
ーレンズ2の光軸とリレーレンズ4の光軸とは、反射面
5上で交差し、リレーレンズ4の光軸とリレーレンズ3
の光軸とは、反射面6上で交差している。それぞれ反射
面の光軸との交点は、リレーレンズ4に関して共役関係
にある。
【0056】図4を参照して、本発明の第4の実施の形
態の作用を説明する。第1の実施の形態と同様に、照明
光は不図示の光源から光ファイバBFにより装置に送り
込まれ、ベースSB2中に設置された送光光学系のコン
デンサーレンズ1と受光光学系の第1のリレーレンズ2
によりステージSTGに空けられた穴22を通して、ベ
ースSB2とXYステージSTGとの間を伝送され、反
射面5で反射され、第3のリレーレンズ4を介して、反
射面6で反射され、ついで第2のリレーレンズ3により
ステージSTG上の基準マークFMを照明する。この場
合、本発明のライトガイドは、穴21、穴22、穴2
3、穴24及び光学系1、2、4、3を含んで構成され
ていることになる。
【0057】穴22の大きさは、コンデンサーレンズ1
を介した照明光により、基準マークFMを照明する際
に、穴21からの照明用光束を遮光しないだけの大きさ
とする。
【0058】さらに、ステージSTGの外部に設けられ
た光ガイドを受光系として用いてもよい。即ち、特開平
4−324923に開示されているように、レチクルマ
ークをレチクルの上から照明し、投影光学系によるレチ
クルマークの像とステージ上の基準マークFMの像とを
ステージの外部に設けられた光ガイドを介して検出する
ことで、2つのマークの相対位置ずれを検出し、ベース
ライン計測に用いるようにしてもよい。また、ステージ
上のフォーカスマークを介したレチクルマークの像をス
テージの外部に設けられた光ガイドで受光して、ベスト
フォーカス位置やレチクルマークの位置を検出すること
に応用してもよい。
【0059】なお図1、図2、図4には、投影光学系P
Lは不図示であるが、図3と同様に投影光学系PLを備
えて、投影露光装置として構成することができる。
【0060】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ステージ
と固定部分の間に機械的結合が無くなるため、光をステ
ージに導く例えば光ファイバ等の張力変動や振動による
外乱が無くなり、ステージの位置決め精度が向上され
る。また送受光を処理対象物が載置されるのとは反対の
側から行うので、ステージの処理対象物側に専用の光学
系を置く必要が無くなりステージの小型軽量化が可能に
なり制御性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態を説明する側面部分
断面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態である、XYステー
ジがXステージとYステージに分離された場合を説明す
る側面部分断面図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態である投影露光装置
を示す側面断面図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態である投影露光装置
のステージ装置部分を示す側面断面図である。
【図5】従来のステージ装置を示す側面部分断面図であ
る。
【符号の説明】
1 コンデンサーレンズ 2 第1リレーレンズ 3 第2リレーレンズ 11 基板ステージの表面 12 基板ステージの裏面 13 ベースの表面 14 ベース内の穴 15 基板ステージ内の穴 16 保護ガラス 17 V字形溝 18 V字形レール 19 Xステージ内の穴 20 照明光学系 R レチクル PL 投影光学系 STG 基板(XY)ステージ SB ベース BF 光ファイバー FM 基準マーク BP、BP1 気体ベアリングパッド BPN1 ニードルベアリング

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 処理対象物を載置するステージと;該ス
    テージの内部と該ステージの外部との間で光を授受する
    ライトガイドとを備え;前記ライトガイドは、前記ステ
    ージ内の第1の部分と前記ステージ外の第2の部分とを
    含み、前記第1の部分と第2の部分は非機械的に結合さ
    れていることを特徴とする;ステージ装置。
  2. 【請求項2】 前記第2の部分は前記ステージの前記処
    理対象物が載置されるのとは反対の側に設けられている
    ことを特徴とする;請求項1に記載のステージ装置。
  3. 【請求項3】 前記ステージ外の、前記処理対象物が載
    置されるのとは反対の側に、該ステージを滑動可能に載
    置するベースを備え;前記第2の部分が、前記ベース内
    に設けられていることを特徴とする;請求項2に記載の
    ステージ装置。
  4. 【請求項4】 前記ステージと前記ベースとの間に気体
    ベアリングを備えることを特徴とする、請求項2または
    請求項3に記載のステージ装置。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至請求項4に記載のステージ
    装置と;前記処理対象物が感光性基板であり、前記ステ
    ージの該感光性基板側に該感光性基板を投影露光する投
    影光学系を備える;投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記ステージが前記投影光学系に対する
    前記ステージのアライメント用の基準マークを含み、前
    記第2の部分は、前記基準マークに光を照射するように
    構成されていることを特徴とする;請求項5に記載の、
    投影露光装置。
JP9108264A 1997-04-10 1997-04-10 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置 Pending JPH10284412A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9108264A JPH10284412A (ja) 1997-04-10 1997-04-10 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9108264A JPH10284412A (ja) 1997-04-10 1997-04-10 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10284412A true JPH10284412A (ja) 1998-10-23

Family

ID=14480254

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9108264A Pending JPH10284412A (ja) 1997-04-10 1997-04-10 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10284412A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002008962A (ja) * 2000-06-19 2002-01-11 Canon Inc 基準プレート、露光装置、デバイス製造システム、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法
EP2226682A2 (en) 2004-08-03 2010-09-08 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
JP2011023434A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Ushio Inc 露光装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002008962A (ja) * 2000-06-19 2002-01-11 Canon Inc 基準プレート、露光装置、デバイス製造システム、デバイス製造方法、半導体製造工場および露光装置の保守方法
EP2226682A2 (en) 2004-08-03 2010-09-08 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
EP3048485A1 (en) 2004-08-03 2016-07-27 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
EP3258318A1 (en) 2004-08-03 2017-12-20 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
EP3267257A1 (en) 2004-08-03 2018-01-10 Nikon Corporation Exposure apparatus, exposure method, and method for producing device
JP2011023434A (ja) * 2009-07-14 2011-02-03 Ushio Inc 露光装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8693006B2 (en) Reflector, optical element, interferometer system, stage device, exposure apparatus, and device fabricating method
JP2009252851A (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
JPH11251226A (ja) X線投影露光装置
US20010023918A1 (en) Alignment apparatus, alignment method, exposure apparatus and exposure method
US6034780A (en) Surface position detection apparatus and method
KR20100097692A (ko) 면 위치 검출 장치, 면 위치 검출 방법, 노광 장치, 및 디바이스 제조 방법
JPH10284412A (ja) 外部と光を授受するステージ装置及び投影露光装置
JP2002184665A (ja) アライメント装置及びアライメント方法、露光装置
JP2012084713A (ja) 露光装置
JP2005085991A (ja) 露光装置及び該装置を用いたデバイス製造方法
JPS62160722A (ja) 露光方法
JP2004273828A (ja) 面位置検出方法、面位置検出装置、合焦装置、露光装置及びデバイスの製造方法
JP2000299276A (ja) 露光装置
JP6428839B2 (ja) 露光方法、露光装置及びデバイス製造方法
JP2005005444A (ja) アライメント装置、露光装置、アライメント方法、露光方法及び位置情報検出方法
JP6729663B2 (ja) 露光方法及び露光装置
JPH08288205A (ja) 照明光学系および該照明光学系を備えた投影露光装置
JP2004111473A (ja) 位置検出方法及び装置、露光方法及び装置
JP3211246B2 (ja) 投影露光装置及び素子製造方法
JPS6352767B2 (ja)
JPH0936029A (ja) 投影露光装置
JPH11304422A (ja) 位置検出装置及び位置検出方法並びに露光装置
JP2001057326A (ja) 位置計測方法、位置計測装置および露光装置並びに露光方法
JPH1137713A (ja) 位置検出装置
JPH09293677A (ja) 投影露光装置