JPH10282171A - Tester for protective relay - Google Patents

Tester for protective relay

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JPH10282171A
JPH10282171A JP9083847A JP8384797A JPH10282171A JP H10282171 A JPH10282171 A JP H10282171A JP 9083847 A JP9083847 A JP 9083847A JP 8384797 A JP8384797 A JP 8384797A JP H10282171 A JPH10282171 A JP H10282171A
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JP
Japan
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command
circuit
trip
input
delay time
Prior art date
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JP9083847A
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Japanese (ja)
Inventor
Shinji Tsurumi
伸司 鶴見
Takeo Takada
武雄 高田
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Toshiba Engineering Corp
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Engineering Corp
Toshiba Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To perform a function test accurately and quickly by eliminating the contact part except an operating board thereby simplifying the structure. SOLUTION: Function test of a protective relay is performed by a simulation circuit breaker 12. Since simulation circuit breaker 12 includes an operating panel 18 comprising an operational command input circuit 13, a chattering prevention circuit 14, an operation delay time setting circuit 15, an FF circuit 16, a response output circuit 17 and a personal computer interface, the structure is simplified as compared with a conventional simulation circuit breaker comprising a combination of mechanical contacts and the overall size can be reduced. Various function tests can be carried out by transferring a data from the operating panel 18 and a personal computer 19 thereby setting the operational command input current of the operational command input circuit 13, the operation delay time of the operation delay time setting circuit 15 and the state of the FF circuit 16 appropriately. Furthermore, generation of counter electromotive force due to a reactance and generation of noise due to deterioration of contact can be prevented through the use of an FET element and a Peltier element.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、保護継電装置を機
能試験する模擬しゃ断器を備えた試験装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a test device provided with a simulated circuit breaker for testing the function of a protective relay device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の保護継電装置の試験装置として
は、図6に示すような概略構成のものがある。図6にお
いて、1は保護継電装置、2はこの保護継電装置より
入、切指令を受けると、動作または復帰してその操作応
動を保護継電装置1に入力する模擬しゃ断器である。
2. Description of the Related Art As a conventional test device for a protective relay device, there is one having a schematic configuration as shown in FIG. In FIG. 6, reference numeral 1 denotes a protective relay device, and 2 denotes a simulated circuit breaker that receives an ON / OFF command from the protective relay device, operates or returns, and inputs its operation response to the protective relay device 1.

【0003】この模擬しゃ断器2は、保護継電装置1よ
り入指令を受けるとセットされ、切指令を受けるとリセ
ットされるキープリレーの操作部S,Rと、この操作部
S,Rの励磁によりオン、オフ信号を保護継電装置1に
入力する接点部SWとを備え、模擬しゃ断器2の操作応
動により保護継電装置1の機能試験を実施するものであ
る。
The simulated circuit breaker 2 is set when an ON command is received from the protective relay device 1 and reset when an OFF command is received. The operating parts S and R of the keep relay, and the excitation of the operating parts S and R are performed. And a contact section SW for inputting an ON / OFF signal to the protection relay device 1. The function test of the protection relay device 1 is performed by the operation of the simulated circuit breaker 2.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような構
成の保護継電装置の試験装置では、保護継電装置1から
模擬しゃ断器2に入、又は切指令を受けたときの操作応
動は操作部S,Rの励磁による接点部SWのオン、オフ
信号を保護継電装置1に入力しているため、入、又は切
指令を出してからその応動信号を受けるまでの時間が一
定となり、種々の動作遅延時間を持たせた機能試験を行
うことができない。また、模擬しゃ断器に種々の動作遅
延時間を持たせるには、タイマと接点とを組合せた回路
としなれけばならないため、構成が複雑になると共に大
型化する問題がある。
However, in the test device for a protective relay device having such a configuration, when the protection relay device 1 receives a command to enter or turn off the simulated circuit breaker 2, the operation of the test device is controlled. Since the ON / OFF signal of the contact section SW by the excitation of the sections S and R is input to the protection relay device 1, the time from issuing the ON or OFF command to receiving the corresponding signal becomes constant. It is not possible to perform a function test with an operation delay time. Further, in order to provide the simulated circuit breaker with various operation delay times, a circuit having a combination of a timer and a contact must be used.

【0005】また、保護継電装置1のトリップ機能試験
を行う際に、保護継電装置1よりクローズ指令が入力
し、その後トリップ指令が入力すると接点部SWはオフ
するが、このとき接点部SWはキープリレーの操作部の
励磁により動作するため、模擬しゃ断器2の接点部SW
にチャタリングが生じ、トリップ機能試験を行うことが
できない。
When the trip function test of the protection relay device 1 is performed, when a close command is input from the protection relay device 1 and then a trip command is input, the contact portion SW is turned off. Is operated by the excitation of the operation section of the keep relay, so that the contact section SW of the simulated circuit breaker 2 is operated.
Causes chattering, and the trip function test cannot be performed.

【0006】本発明は上記のような問題点を解消するた
めなされたもので、種々の動作遅延を持たせた機能試験
を誤動作なく正確、且つ迅速に行うことができる構成が
簡単で小型な保護継電装置の試験装置を提供することを
目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and has a simple and small-sized protection that can perform a function test with various operation delays accurately and quickly without malfunction. An object of the present invention is to provide a test device for a relay device.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、次のような手段により保護継電装置の試験
装置を構成するものである。請求項1に対応する発明
は、保護継電装置よりトリップ指令又はクローズ指令が
入力されるとその指令を分圧し絶縁された指令信号とし
て出力する操作指令入力手段と、この操作指令入力手段
より指令信号が入力され、トリップ指令及びクローズ指
令の同時入力によるチャタリングを防止するチャタリン
グ防止手段と、このチャタリング防止手段より入力され
るトリップ又はクローズ操作指令の動作遅延時間を設定
する動作遅延時間設定手段と、この動作遅延時間設定手
段に設定された動作遅延時間だけトリップ又はクローズ
操作指令を保持する記憶手段と、この記憶手段に保持さ
れたトリップ又はクローズ操作指令による応動出力を保
護継電装置に出力する応動出力手段と、前記操作指令入
力手段、前記動作遅延時間設定手段、前記記憶手段及び
前記応動出力手段を各種設定する操作パネルとを備えた
ものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above object, the present invention comprises a test device for a protective relay device by the following means. According to a first aspect of the present invention, when a trip command or a close command is input from a protection relay device, the command is divided by the command and output as an insulated command signal. A signal is input, chattering prevention means for preventing chattering due to simultaneous input of a trip command and a close command, operation delay time setting means for setting an operation delay time of a trip or close operation command input from the chattering prevention means, Storage means for holding a trip or close operation command for the operation delay time set in the operation delay time setting means, and a response for outputting a response output by the trip or close operation command stored in the storage means to the protective relay. Output means, the operation command input means, the operation delay time setting means, And the response output means is obtained by an operation panel for various settings.

【0008】従って、請求項1に対応する発明の保護継
電装置の試験装置にあっては、操作指令入力手段、チャ
タリング防止手段、動作遅延時間設定手段、記憶手段、
応動出力手段及び操作盤により模擬しゃ断器12を構成
しているので、操作盤を除いては接点部がなく、簡単構
成にして全体の小型化を図ることが可能となる。
Therefore, in the test apparatus for a protective relay device according to the present invention, the operation command input means, the chattering prevention means, the operation delay time setting means, the storage means,
Since the simulated circuit breaker 12 is constituted by the response output means and the operation panel, there is no contact portion except for the operation panel, so that the whole structure can be reduced by a simple configuration.

【0009】請求項2に対応する発明は、請求項1に対
応する発明において、操作指令入力手段を電源設定回路
により設定された駆動電流によりゲートオンして操作指
令入力電流を出力するFET素子と、このFET素子に
流れる電流による発熱を吸収して放熱するペルチェ素子
により構成したものである。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, an operation command input means is turned on by a drive current set by a power supply setting circuit to output an operation command input current. The Peltier device absorbs heat generated by the current flowing through the FET device and dissipates heat.

【0010】従って、請求項2に対応する発明の保護継
電装置の試験装置にあっては、リアクタンスによる逆起
電圧や、接点劣化により生じるギャップによるノイズの
発生を防止することができる。
Therefore, in the protection relay testing apparatus according to the second aspect of the present invention, it is possible to prevent the back electromotive voltage due to the reactance and the noise due to the gap caused by the deterioration of the contact.

【0011】請求項3に対応する発明は、請求項1に対
応する発明において、チャタリング防止手段はトリップ
指令とクローズ指令が同時に入力したときトリップ指令
を優先させて出力するトリップ指令優先機能を有するも
のである。
The invention corresponding to claim 3 is the invention according to claim 1, wherein the chattering preventing means has a trip command priority function of giving priority to the trip command and outputting the trip command when the trip command and the closing command are input simultaneously. It is.

【0012】従って、請求項3に対応する発明の保護継
電装置の試験装置にあっては、トリップ指令とクローズ
指令が同時に入力されてもトリップ指令が優先され、チ
ャタリングを防止することができる。
Therefore, in the protection relay test apparatus according to the third aspect of the present invention, even if the trip command and the close command are input at the same time, the trip command is given priority and chattering can be prevented.

【0013】請求項4に対応する発明は、請求項1に対
応する発明において、操作パネルはパソコンインターフ
ェィスを有し、このパソコンインターフェィスを通して
外部に設置されたパソコンとの間で情報を転送可能にし
たものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the operation panel has a personal computer interface, and information can be transferred between the personal computer and an externally installed personal computer through the personal computer interface. Things.

【0014】従って、請求項4に対応する発明の保護継
電装置の試験装置にあっては、模擬しゃ断器とパソコン
との間で情報が転送可能となるので、パソコン側からの
各種設定及びクローズ指令及びトリップ指令状態をパソ
コン側で監視、記録することが可能である。
Therefore, in the protection relay tester according to the invention, since information can be transferred between the simulated circuit breaker and the personal computer, various settings and closing from the personal computer can be performed. The command and trip command status can be monitored and recorded on the personal computer side.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面を
参照して説明する。図1は本発明による保護継電装置の
試験装置の実施の形態を示すブロック構成図である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a test device for a protective relay device according to the present invention.

【0016】図1において、11は試験対象となる保護
継電装置、12はこの保護継電装置11を試験するため
の模擬しゃ断器である。この模擬しゃ断器12は、保護
継電装置11よりトリップ指令又はクローズ指令が入力
される操作指令入力回路13、この操作指令入力回路1
3より操作指令入力電流が入力されるチャタリング防止
回路14、このチャタリング防止回路14より入力され
るトリップ又はクローズ操作指令の動作遅延時間を設定
する動作遅延時間設定回路15、この動作遅延時間設定
回路15で設定された動作遅延時間だけトリップ又はク
ローズ操作指令を保持するフリップフロップ回路16、
このフリップフロップ回路16に保持されたトリップ又
はクローズ操作指令による応動出力を保護継電装置11
に出力する応動出力回路17及び、外部に設置されたパ
ソコン19との間で情報を入出力する機能を有し、且つ
前述した操作入力回路13、動作遅延時間設定回路1
5、フリップフロップ回路16及び応動出力回路17に
各種の指令信号を入出力するパソコンインターフェース
を有する操作パネル18を備えている。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a protection relay device to be tested, and reference numeral 12 denotes a simulated circuit breaker for testing the protection relay device 11. The simulated circuit breaker 12 includes an operation command input circuit 13 to which a trip command or a close command is input from the protection relay 11,
3, an operation delay time setting circuit 15 for setting an operation delay time of a trip or close operation command input from the chattering prevention circuit 14, and an operation delay time setting circuit 15. A flip-flop circuit 16 that holds a trip or close operation command for the operation delay time set in
The response output by the trip or close operation command held in the flip-flop circuit 16 is protected by the protection relay device 11.
And a function of inputting / outputting information to / from a personal computer 19 provided outside, and the operation input circuit 13 and the operation delay time setting circuit 1 described above.
5. An operation panel 18 having a personal computer interface for inputting / outputting various command signals to / from the flip-flop circuit 16 and the response output circuit 17 is provided.

【0017】ここで、上記操作指令入力回路13は、図
2に示すように、しゃ断器操作指令入力電流を設定する
電源設定回路13−1、この電源設定回路13−1で設
定された駆動電流を増幅器13−2及び可変抵抗器13
−3を通してゲートに与えられるFET素子13−4を
有し、これら各FET素子13−4はそのドレイン側を
ペルチェ素子13−5を介してトリップ、クローズ指令
入力端子に共通接続され、またソース側はコモン端子に
共通接続されている。
As shown in FIG. 2, the operation command input circuit 13 includes a power supply setting circuit 13-1 for setting a circuit breaker operation command input current, and a drive current set by the power supply setting circuit 13-1. 13-2 and the variable resistor 13
-3, which are connected to the trip and close command input terminals via the Peltier element 13-5 at the drain side, and connected to the source side. Are commonly connected to a common terminal.

【0018】この場合、ペルチェ素子13−5はFET
素子13−4のオン時に流れる電流による発熱を吸収し
て放熱する機能を有している。また、上記チャタリング
防止回路14は、図3に示すように操作指令入力回路1
3より入力端子ti1にトリップ操作指令が入力される
と、このトリップ操作指令を出力端子to1より動作遅
延時間設定回路15に与えると共に、反転回路14−1
を介してアンド回路14−2の一方の入力端に加え、ま
たこのアンド回路14−2の他方の入力端には入力端子
ti2よりクローズ操作指令が入力され、アンド条件が
満たされたときのみ出力端子to2より動作遅延時間設
定回路15にクローズ操作指令が与えられるように構成
されている。
In this case, the Peltier element 13-5 is an FET
It has a function of absorbing heat generated by a current flowing when the element 13-4 is turned on and dissipating heat. Further, the chattering prevention circuit 14 includes an operation command input circuit 1 as shown in FIG.
When a trip operation command is input to the input terminal ti1 from the input terminal 3, the trip operation command is supplied to the operation delay time setting circuit 15 from the output terminal to1 and the inverting circuit 14-1.
, A closing operation command is input from the input terminal ti2 to the other input terminal of the AND circuit 14-2, and is output only when the AND condition is satisfied. The operation delay time setting circuit 15 is configured to receive a close operation command from the terminal to2.

【0019】さらに、応動出力回路17はここでは図示
しないが、操作指令入力回路13と同様にFET素子を
用いた回路構成となっている。一方、操作パネル18
は、操作スイッチ、表示用LED,トリップ指令遅延時
間設定スイッチ、クローズ指令遅延時間設定スイッチ、
入力モード、遅延時間単位設定スイッチ等を備え、操作
指令入力回路13の操作指令入力電流の設定、動作遅延
時間設定回路15の動作遅延時間の設定及びフロップフ
ロップ回路16の状態設定が手動操作により行うことが
できると共に、パソコン19からの設定情報をもとに設
定可能になっている。
Further, although not shown here, the response output circuit 17 has a circuit configuration using FET elements, like the operation command input circuit 13. On the other hand, the operation panel 18
Is an operation switch, display LED, trip command delay time setting switch, close command delay time setting switch,
An input mode, a delay time unit setting switch, and the like are provided. The setting of the operation command input current of the operation command input circuit 13, the setting of the operation delay time of the operation delay time setting circuit 15, and the setting of the state of the flop-flop circuit 16 are manually performed. And can be set based on the setting information from the personal computer 19.

【0020】また、操作パネル18に有するパソコンイ
ンターフェィスを通してパソコン19にしゃ断器操作指
令入力状態(クローズ信号やトリップ信号等)を転送
し、これらの情報が記録、監視可能になっている。
Further, a breaker operation command input state (close signal, trip signal, etc.) is transferred to a personal computer 19 through a personal computer interface provided on the operation panel 18 so that such information can be recorded and monitored.

【0021】次に上記のように構成された保護継電装置
の試験装置の作用を述べる。いま、保護継電装置を試験
するにあたって、模擬しゃ断器12の操作パネル18よ
り操作指令入力回路13の操作指令入力電流の設定、動
作遅延時間設定回路15の動作遅延時間の設定及びフロ
ップフロップ回路16の状態設定がそれぞれ行われてい
るものとする。
Next, the operation of the test device for the protective relay device configured as described above will be described. Now, in testing the protection relay device, the setting of the operation command input current of the operation command input circuit 13, the setting of the operation delay time of the operation delay time setting circuit 15, and the setting of the flop-flop circuit 16 from the operation panel 18 of the simulated circuit breaker 12. It is assumed that the state setting has been performed.

【0022】このような状態にあるとき、保護継電装置
11より模擬しゃ断器12にトリップ指令又はクローズ
指令が入力すると、まず操作指令入力回路13ではトリ
ップ指令又はクローズ指令を分圧し絶縁した指令信号と
してチャタリング防止回路14に与える。
In such a state, when a trip command or a close command is input from the protective relay device 11 to the simulated circuit breaker 12, first, the operation command input circuit 13 divides the trip command or the close command and insulates the command signal. To the chattering prevention circuit 14.

【0023】この場合、操作指令入力回路13は図2に
示すように操作指令入力電流の設定値、例えば0A〜5
A(0A,1A,3A,5A)に応じてFET素子13
−4がゲートオンし、指令入力端子より入力したトリッ
プ指令又はクローズ指令はコモン端子より出力される。
このときFET素子13−4に流れる電流により熱が発
生するがこの熱はペルチェ素子13−5による放熱効果
により熱による影響は殆ど生じない。
In this case, as shown in FIG. 2, the operation command input circuit 13 sets a set value of the operation command input current, for example, 0A to 5A.
A (0A, 1A, 3A, 5A)
-4 turns on the gate, and the trip command or the close command input from the command input terminal is output from the common terminal.
At this time, heat is generated by the current flowing through the FET element 13-4, but this heat is hardly affected by the heat due to the heat dissipation effect of the Peltier element 13-5.

【0024】また、チャタリング防止回路14は図3に
示すような論理回路により構成されているので、トリッ
プ指令とクローズ指令が同時に出力されることはない。
即ち、図3において、入力端子ti1にトリップ指令が
入力した場合には出力端子to1よりトリップ指令が出
される。また入力端子ti2にクローズ指令が入力した
場合は反転回路14−1の出力が“1”、クローズ指令
が“1”なので、アンド回路14−2のアンド条件が満
たされ、出力端子to2よりクローズ指令が出力され
る。さらに、トリップ指令とクローズ指令が同時に入力
された場合には反転回路14−1の出力は“0”となる
ので、アンド回路14−2のアンド条件は満たされず、
出力端子to1よりトリップ指令のみを出力するトリッ
プ指令優先機能により、チャタリングを防止している。
Since the chattering prevention circuit 14 is constituted by a logic circuit as shown in FIG. 3, the trip command and the close command are not output at the same time.
That is, in FIG. 3, when a trip command is input to the input terminal ti1, a trip command is issued from the output terminal to1. When a close command is input to the input terminal ti2, the output of the inverting circuit 14-1 is "1" and the close command is "1". Therefore, the AND condition of the AND circuit 14-2 is satisfied, and the close command is output from the output terminal to2. Is output. Further, when the trip command and the close command are input at the same time, the output of the inverting circuit 14-1 becomes "0", and the AND condition of the AND circuit 14-2 is not satisfied.
Chattering is prevented by a trip command priority function that outputs only a trip command from the output terminal to1.

【0025】次にチャタリング防止回路14よりトリッ
プ指令又はクローズ指令が動作遅延時間設定回路15に
入力されると、この動作遅延時間設定回路15では予め
操作パネル18側で設定された動作遅延時間だけその出
力を遅延させてフリップフロップ回路16に入力する。
Next, when a trip command or a close command is input from the chattering prevention circuit 14 to the operation delay time setting circuit 15, the operation delay time setting circuit 15 operates by the operation delay time set in advance on the operation panel 18 side. The output is delayed and input to the flip-flop circuit 16.

【0026】このフリップフロップ回路16では、操作
パネル18側で設定された分周率に応じて入力されるパ
ルスによりトリップ操作信号又はクローズ操作信号を応
動出力回路17に入力する。
In the flip-flop circuit 16, a trip operation signal or a close operation signal is input to the response output circuit 17 by a pulse input according to the frequency division ratio set on the operation panel 18.

【0027】従って、この応動出力回路17はフリップ
フロップ回路16の出力をトリップ操作信号又はクロー
ズ操作信号の応動出力として保護継電装置11に送出す
る。ここで、模擬しゃ断器12の各指令入力と出力の動
作を図4に示すタイムチャートにより説明する。
Accordingly, the response output circuit 17 sends the output of the flip-flop circuit 16 to the protection relay device 11 as a response output of the trip operation signal or the close operation signal. Here, the operation of each command input and output of the simulated circuit breaker 12 will be described with reference to a time chart shown in FIG.

【0028】通常の動作では、t1時点でクローズ指令
がオン入力すると、その出力はクローズ遅延時間後のt
2時点でオン状態となる。その後、トリップ指令がt3
時点でオン入力すると、出力はトリップ遅延時間後のt
4時点でオフするまでオン状態を保持する。但し、クロ
ーズ指令、トリップ指令共に各遅延時間内にオフした場
合は動作しない。
In a normal operation, when a close command is turned on at time t1, the output is changed to t after the close delay time.
It is turned on at two points. Then, the trip command is t3
If the input is turned on at this point, the output will be t after the trip delay time.
The on-state is maintained until it is turned off at four points. However, when both the close command and the trip command are turned off within each delay time, it does not operate.

【0029】次にトリップ優先の動作では、t5時点で
クローズ指令がオン入力すると、その出力はクローズ遅
延時間後のt6時点でオン状態となり、その後トリップ
指令がt7時点でオン入力すると、出力はトリップ遅延
時間後のt8時点でオフする。その後、クローズ指令が
継続的にオン入力していても出力はオン状態にはならな
い。この場合、クローズ指令がオフした後は上記と同様
の動作となる。
Next, in the trip priority operation, when the close command is input at time t5, the output is turned on at time t6 after the close delay time, and thereafter, when the trip command is input at time t7, the output is tripped. It turns off at time t8 after the delay time. Thereafter, even if the close command is continuously input on, the output does not go into the on state. In this case, after the close command is turned off, the same operation as described above is performed.

【0030】ここで、保護継電装置のシーケンス及びし
ゃ断器操作回路の具体例としては図5に示すような回路
構成が挙げられる。図5において、保護継電装置のシー
ケンスとしては短絡距離リレーの接点44と過電流リレ
ーの接点51及び補助リレー52AXを直列に接続する
と共に補助リレー52AXの常開接点52AXaにより
自己保持回路が形成されている。また、しゃ断器操作回
路としては補助リレー52AXに直列にしゃ断器のトリ
ップ回路TCが接続され、このトリップ回路TCと並列
にしゃ断器の応動出力回路CBが接続されている。
Here, as a specific example of the sequence of the protection relay device and the circuit breaker operation circuit, a circuit configuration as shown in FIG. 5 is given. In FIG. 5, as the sequence of the protective relay, the contact 44 of the short-circuit distance relay, the contact 51 of the overcurrent relay, and the auxiliary relay 52AX are connected in series, and a self-holding circuit is formed by the normally open contact 52AXa of the auxiliary relay 52AX. ing. As a circuit breaker operating circuit, a trip circuit TC of the circuit breaker is connected in series with the auxiliary relay 52AX, and a response output circuit CB of the circuit breaker is connected in parallel with the trip circuit TC.

【0031】このような構成の保護継電装置のシーケン
ス及びしゃ断器操作回路において、短絡距離リレーの接
点44と過電流リレーの接点51が共にオンしたときの
しゃ断器操作回路の動作は、保護リレーのシーケンスを
通してしゃ断器の操作入力回路TCにトリップ指令が入
力され、この操作入力回路TCの動作により応動出力回
路CBの応動を監視する。
In the sequence of the protection relay device and the circuit breaker operation circuit having such a configuration, the operation of the circuit breaker operation circuit when both the contact 44 of the short-circuit distance relay and the contact 51 of the overcurrent relay are turned on is determined by the operation of the protection relay. The trip command is input to the operation input circuit TC of the circuit breaker through the sequence of (1), and the operation of the operation output circuit CB is monitored by the operation of the operation input circuit TC.

【0032】本試験装置では、このような保護継電装置
によるシーケンスについての機能試験を前述した模擬し
ゃ断器により実施するものである。このように本実施の
形態では、操作指令入力回路13、チャタリング防止回
路14、動作遅延時間設定回路15、フリップフロップ
回路16、応動出力回路17及びパソコンインターフェ
ィスを有する操作パネル18により模擬しゃ断器12を
構成しているので、従来のように機械的な接点の組合せ
による模擬しゃ断器に比べて構成が簡単で全体の小型化
を図ることができる。
In this test apparatus, the function test for the sequence by such a protective relay is performed by the above-described simulated circuit breaker. As described above, in the present embodiment, the simulated circuit breaker 12 is controlled by the operation command input circuit 13, the chattering prevention circuit 14, the operation delay time setting circuit 15, the flip-flop circuit 16, the response output circuit 17, and the operation panel 18 having the personal computer interface. With this configuration, the configuration is simpler and the overall size can be reduced as compared to a conventional simulated circuit breaker using a combination of mechanical contacts.

【0033】また、操作パネル18又はパソコン19か
らのデータの転送により操作指令入力回路13の操作指
令入力電流の設定、動作遅延時間設定回路15の動作遅
延時間の設定及びフロップフロップ回路16の状態設定
を適宜行なうことにより、種々の機能試験が実施ができ
る。
The setting of the operation command input current of the operation command input circuit 13, the setting of the operation delay time of the operation delay time setting circuit 15, and the setting of the state of the flop-flop circuit 16 by transferring data from the operation panel 18 or the personal computer 19. , Various functional tests can be performed.

【0034】さらに、操作指令入力回路13及び応動出
力回路17はFET素子により構成されているので、リ
アクタンスによる逆起電圧や、従来のように接点劣化に
より生じるギャップによるノイズの発生を防止すること
ができる。
Further, since the operation command input circuit 13 and the responsive output circuit 17 are constituted by FET elements, it is possible to prevent the generation of noise due to a back electromotive voltage due to reactance and a gap caused by deterioration of the contact as in the prior art. it can.

【0035】また、チャタリング防止回路14はトリッ
プ指令とクローズ指令が同時入力されてもトリップ指令
が優先されるような論理回路が構成されているので、チ
ャタリングを防止することができる。
Further, the chattering prevention circuit 14 is configured with a logic circuit in which the trip command is given priority even when the trip command and the close command are input simultaneously, so that chattering can be prevented.

【0036】一方、操作パネル18はパソコンインター
フェィスを有し、パソコン19との間で情報の転送が可
能になってるので、パソコン19から模擬しゃ断器12
の各回路に対する設定が可能となると共に、模擬しゃ断
器12の動作状態をパソコン19側に転送して監視、記
録することができる。
On the other hand, the operation panel 18 has a personal computer interface so that information can be transferred to and from the personal computer 19.
Can be set for each circuit, and the operating state of the simulated circuit breaker 12 can be transferred to the personal computer 19 for monitoring and recording.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、種々
の動作遅延を持たせた機能試験を誤動作なく正確、且つ
迅速に行うことができる構成が簡単で小型な保護継電装
置の試験装置を提供できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to perform a functional test with various operation delays accurately and promptly without malfunction, thereby testing a simple and compact protective relay device. Equipment can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による保護継電装置の試験装置の実施の
形態を示すブロック図。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a test device for a protective relay device according to the present invention.

【図2】図1の操作指令入力回路の構成例を示す回路
図。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of an operation command input circuit of FIG. 1;

【図3】図1のチャタリング防止回路の構成例を示す回
路図。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration example of a chattering prevention circuit in FIG. 1;

【図4】同実施の形態の模擬しゃ断器の動作を示すタイ
ムチャート。
FIG. 4 is a time chart showing the operation of the simulated circuit breaker of the embodiment.

【図5】保護継電装置のシーケンス及びしゃ断器操作回
路の具体例を示す回路図。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a specific example of a sequence of the protection relay device and a circuit breaker operation circuit.

【図6】従来の模擬しゃ断器による保護継電装置の試験
装置を示すブロック図。
FIG. 6 is a block diagram showing a conventional test apparatus for a protective relay device using a simulated circuit breaker.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11……保護継電装置 12……模擬しゃ断器 13……操作指令入力回路 14……チャタリング防止回路 15……動作遅延時間設定回路 16……フリップフロップ回路 17……応動出力回路 18……パソコンインターフェィスを有する操作パネル 19……パソコン 11 Protective relay device 12 Simulated circuit breaker 13 Operation command input circuit 14 Anti-chattering circuit 15 Operation delay time setting circuit 16 Flip-flop circuit 17 Response output circuit 18 Personal computer Operation panel with interface 19 PC

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 保護継電装置よりトリップ指令又はクロ
ーズ指令が入力されるとその指令を分圧し絶縁された指
令信号として出力する操作指令入力手段と、この操作指
令入力手段より指令信号が入力され、トリップ指令及び
クローズ指令の同時入力によるチャタリングを防止する
チャタリング防止手段と、このチャタリング防止手段よ
り入力されるトリップ又はクローズ操作指令の動作遅延
時間を設定する動作遅延時間設定手段と、この動作遅延
時間設定手段に設定された動作遅延時間だけトリップ又
はクローズ操作指令を保持する記憶手段と、この記憶手
段に保持されたトリップ又はクローズ操作指令による応
動出力を保護継電装置に出力する応動出力手段と、前記
操作指令入力手段、前記動作遅延時間設定手段、前記記
憶手段及び前記応動出力手段を各種設定する操作パネル
とを備えたことを特徴とする保護継電装置の試験装置。
When a trip command or a close command is input from a protection relay, an operation command input means for dividing the command and outputting the divided command as an insulated command signal, and a command signal input from the operation command input means. , Chattering prevention means for preventing chattering due to simultaneous input of a trip command and a close command, operation delay time setting means for setting an operation delay time of a trip or close operation command input from the chattering prevention means, and an operation delay time Storage means for holding a trip or close operation command for the operation delay time set in the setting means, response output means for outputting a response output by the trip or close operation command held in the storage means to the protection relay, The operation command input unit, the operation delay time setting unit, the storage unit, and the response A test device for a protective relay device, comprising: an operation panel for setting various output means.
【請求項2】 請求項1記載の保護継電装置の試験装置
において、操作指令入力手段は電源設定回路により設定
された駆動電流によりゲートオンして操作指令入力電流
を出力するFET素子と、このFET素子に流れる電流
による発熱を吸収して放熱するペルチェ素子とを備えた
ことを特徴とする保護継電装置の試験装置。
2. A test device for a protective relay device according to claim 1, wherein the operation command input means gates on with a drive current set by a power supply setting circuit and outputs an operation command input current; A test device for a protective relay device, comprising: a Peltier device that absorbs heat generated by current flowing through the device and radiates heat.
【請求項3】 請求項1記載の保護継電装置の試験装置
において、チャタリング防止手段はトリップ指令とクロ
ーズ指令が同時に入力したときトリップ指令を優先させ
て出力するトリップ指令優先機能を有することを特徴と
する保護継電装置の試験装置。
3. The protection relay test apparatus according to claim 1, wherein the chattering prevention means has a trip command priority function of giving priority to the trip command and outputting the trip command when the trip command and the close command are input simultaneously. Test equipment for protection relay device.
【請求項4】 請求項1記載の保護継電装置の試験装置
において、操作パネルはパソコンインターフェィスを有
し、このパソコンインターフェィスを通して外部に設置
されたパソコンとの間で情報を転送可能にしたことを特
徴とする保護継電装置の試験装置。
4. The test apparatus for a protective relay device according to claim 1, wherein the operation panel has a personal computer interface, and information can be transferred between the personal computer and the externally installed personal computer through the personal computer interface. Test equipment for protective relays.
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