JPH10274746A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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Publication number
JPH10274746A
JPH10274746A JP9080188A JP8018897A JPH10274746A JP H10274746 A JPH10274746 A JP H10274746A JP 9080188 A JP9080188 A JP 9080188A JP 8018897 A JP8018897 A JP 8018897A JP H10274746 A JPH10274746 A JP H10274746A
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JP
Japan
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optical
light
mirror
scanning device
light beams
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP9080188A
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English (en)
Inventor
Ichiro Miyagawa
一郎 宮川
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 インナードラム型の光走査装置において、光
偏向器のミラーサイズを小さく設定できるようにする。 【解決手段】 複数の光ビーム10、11を発する光源装置
12、13と、ミラー24および、このミラー24をその反射面
内にほぼ含まれる回転軸Zを中心に回転させる駆動手段
25を備えてなる光偏向器23と、この光偏向器23により反
射偏向された光ビーム10、11により主走査される位置に
おいて記録材料26を湾曲保持するプラテン27と、光ビー
ム10、11を記録材料26上でビームスポットに収束させる
光学系と、プラテン27と光偏向器23とを、ミラー回転軸
Zと平行な方向に相対移動させる副走査手段28、29とか
らなる光走査装置において、光偏向器23に入射する前の
光ビーム10、11を通過させ、それらの少なくとも主走査
方向のビーム幅を絞る開口板50を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は記録材料を光ビーム
で走査する光走査装置に関し、特に詳細には、湾曲保持
した記録材料を、ほぼその湾曲中心を軸に偏向させた光
ビームによって走査する、いわゆるインナードラム型の
光走査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば特開平5−308488号に示さ
れているように、円筒形内面の一部をなすプラテンに湾
曲保持した記録材料を、ほぼその湾曲中心を軸に偏向さ
せた光ビームによって主走査し、またプラテンと光偏向
器とを主走査方向とほぼ直角な方向に相対移動させて副
走査を行なう、いわゆるインナードラム型の光走査装置
が公知となっている。この種の光走査装置は、感光性の
記録材料に画像情報等を記録する装置や、あるいは画像
情報等が記録されている記録材料から記録情報を読み取
る装置を構成するために用いることができる。
【0003】このインナードラム型の光走査装置におい
ては、上記特開平5−308488号にも示されている
通り、記録速度や読取速度を高速化するために、副走査
方向に並べた複数の光ビームで同時に記録材料を走査す
ることも提案されている。
【0004】以上のようなインナードラム型の光走査装
置は、基本的に、1本あるいは複数の光ビームを発する
光源装置と、ミラーおよび、このミラーをその反射面内
にほぼ含まれる回転軸を中心に回転させる駆動手段を備
えてなる光偏向器と、この光偏向器により反射偏向され
た上記光ビームにより主走査される位置において、記録
材料を上記回転軸をほぼ湾曲中心にして湾曲保持するプ
ラテンと、上記光ビームを、上記回転軸に垂直な平面に
対して傾いた角度で上記ミラーに入射させ、該光ビーム
を記録材料上で微小なビームスポットに収束させる光学
系と、上記プラテンと光偏向器とを、上記回転軸と平行
な方向に相対移動させる副走査手段とから構成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記構成を有するイン
ナードラム型の光走査装置においては、光偏向器のミラ
ーに入射する光ビームが射影されるため、偏向走査角の
大きいところでは、上記ミラーで光ビームがけられて集
光スポット径が変動することが懸念される。そのような
ことがないように、上記ミラーとして主走査方向の幅が
十分に大きいものを用いることも考えられるが、そうす
ると光偏向器の回転負荷が大きくなって、高速走査が困
難になる。
【0006】そこで本発明は、光偏向器のミラーサイズ
を小さく設定できるインナードラム型の光走査装置を提
供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明による光走査装置
は、前述した通りの光源装置と、光偏向器と、プラテン
と、光学系と、副走査手段とからなる光走査装置におい
て、光偏向器に入射する前の1本あるいは複数の光ビー
ムを通過させ、それらの少なくとも主走査方向のビーム
幅を絞る開口板が設けられたことを特徴とするものであ
る。
【0008】なおこの光走査装置において、光ビームの
主走査方向のビーム径(1/e2 径:光強度がビーム中
心の値の1/e2 となる位置の径)をDb、開口板の主
走査方向の開口幅をDlとしたとき、Db/Dlの値が
0.7〜10、より好ましくは1.0〜5の範囲にある
ことが望ましい。
【0009】本発明による別の光走査装置は、上述のよ
うな開口板の代わりに、光偏向器に入射する前の複数の
光ビームを透過させ、それらの少なくとも主走査方向の
強度分布特性を、ビーム中心から外れるに従って徐々に
低下する特性とするフィルターが設けられたことを特徴
とするものである。
【0010】このようなフィルターを用いる場合は、光
ビームの主走査方向のビーム径(1/e2 径)をDb、
上記フィルターの透過率が最大値からその1/2の値を
とる範囲のフィルター幅をDl’としたとき、Db/D
l’の値が0.7〜10、より好ましくは1.0〜5の
範囲にあることが望ましい。
【0011】なお、本発明の光走査装置が複数の光ビー
ムを走査するように構成されて、画像記録装置等に適用
される場合は、複数の光ビームを変調する変調手段が設
けられることになる。その際には、複数のビームスポッ
トが主走査方向の所定位置を通過する時間間隔を検出す
る同期検出手段が設けられるとともに、上記変調手段
は、この同期検出手段の出力に基いて、各光ビームの変
調開始位置が記録材料上で互いに揃うように各光ビーム
の変調開始タイミングを制御するように構成されるのが
望ましい。
【0012】また、本発明の光走査装置においては、前
記光源装置を、光ビームが有効主走査領域を含む所定の
走査範囲から外れる期間は駆動停止するように制御する
手段が設けられるのが望ましい。
【0013】さらに、本発明の光走査装置においては、
光偏向器に入射する前の複数の光ビームの全体的な進行
方向を制御する手段が設けられるのが望ましい。
【0014】また、複数の光ビームを記録材料上でビー
ムスポットに収束させる光学系は、光偏向器に入射する
前の光ビームの光路に挿入された結像レンズを含んで構
成されるのが望ましい。
【0015】
【発明の効果】本発明の光走査装置において、光偏向器
に入射する前の1本あるいは複数の光ビームを通過さ
せ、それらの少なくとも主走査方向のビーム幅を絞る開
口板が設けられている場合は、光偏向器のミラーの主走
査方向幅を小さくすることができ、それにより、光偏向
器の回転負荷を下げて高速走査を実現できる。
【0016】光ビームの主走査方向のビーム径(1/e
2 径)をDb、記録媒体上のビームスポット径をd、光
波長をλ、光学系の焦点距離をfとしたとき、上記開口
板の主走査方向の開口幅Dlは、次式で与えられる。
【0017】Dl=k(Db/Dl)・λ・f/d ここで、スリット開口を用いたときのkの値は図16に示
すように、Db/Dlの値に応じて変化する。上記のよ
うに光偏向器のミラーの主走査方向幅を小さくするため
には、当然開口幅Dlを小さくする必要があり、そのた
めにはkの値がより小さいほど有利である。
【0018】開口を入れない場合には、主走査中の集光
スポット径が変動しないようにするため、通常は、入射
ビーム径の2倍の幅がけられないように光偏向器のミラ
ーサイズを設定する必要がある。このときのkの値は
2.54となり、ミラーサイズが大きくなる。
【0019】一般的には、kの値が2以下程度であるこ
とが望ましく、Db/Dlの値が0.7のときkの値は
2.07となるので、この0.7の値をDb/Dlの好
ましい最小値とする。また、kの値が上記2.07の8
5%程度以下ならばさらに好ましいので、k=1.65
となるDb/Dlの値1.0を、さらに好ましい最小値
とする。
【0020】他方、上記開口幅Dlを小さくし過ぎる
と、開口板での光透過率が落ちて光利用効率が低下す
る。図17には、Db/Dlの値と、開口板での光透過率
との関係を示す。なお光透過率は、開口板がない場合の
光透過率を1とした相対値で示してある。一般的にこの
光透過率は、上記相対値で0.1程度以上であることが
望ましく、Db/Dlの値が16のとき光透過率は0.
10となるので、この10の値をDb/Dlの好ましい
最大値とする。また、光透過率が上記相対値の0.3以
上ならばさらに好ましいので、光透過率が0.31とな
るDb/Dlの値5を、さらに好ましい最大値とする。
【0021】以上述べたDb/Dlの値の好ましい範囲
は、開口板の代わりに前述のフィルターを用いる場合も
同様である。ただしその場合は、Dlの代わりに、フィ
ルターの透過率が最大値からその1/2の値をとる範囲
のフィルター幅Dl’を用いる。
【0022】なお、前述の開口板を用いる場合は、開口
縁部において光ビームがけられてサイドローブが発生す
ることがあるが、上記のフィルターを用いる場合は、こ
のサイドローブの発生を防止することができる。
【0023】上ではスリット状の開口とフィルターとに
ついて述べたが、例えば楕円状の開口を採用した場合も
主走査側の方向についてほぼ同じ効果があるので、本発
明で用いる開口板の開口は、スリット状の開口に限られ
るものではない。
【0024】また本発明の光走査装置が画像記録装置等
に適用される際に、複数の光ビームを変調する変調手段
と、複数のビームスポットが主走査方向の所定位置を通
過する時間間隔を検出する同期検出手段とが設けられ、
そして上記変調手段が、同期検出手段の出力に基いて、
各光ビームの変調開始位置が記録材料上で互いに揃うよ
うに各光ビームの変調開始タイミングを制御するように
構成された場合は、複数のビームスポットが記録材料上
で主走査方向にまちまちの位置を取っても、各光ビーム
による記録材料上の記録開始位置は互いに一定となる。
そこで、複数のビームスポットのそれぞれの位置が主走
査方向にどのように変動しても、それについて何ら補正
を加える必要がなくなる。
【0025】さらに、本発明の光走査装置において、前
記光源装置を、光ビームが有効主走査領域を含む所定の
走査範囲から外れる期間は駆動停止するように制御する
手段が設けられた場合は、有効主走査領域から外れた光
ビームが光偏向器のミラーによってけられて迷光を生じ
させることが防止される。
【0026】また、本発明の光走査装置において、記録
材料上の光ビーム走査線は本来、光偏向器のミラー回転
軸に垂直な面に全体的に含まれるような軌跡を描くはず
である。しかし、光偏向器のミラー面とミラー回転軸と
の平行度が僅かでも狂うと、記録材料上の光ビーム走査
線が、上記面から一部外れるように湾曲する。この走査
線の湾曲は、一般にボウイングと称されている。
【0027】そこで、前述したように、光偏向器に入射
する前の複数の光ビームの全体的な進行方向を制御する
手段を設けておけば、この光ビームの進行方向を修正す
ることにより、上記ボウイングを解消することも可能に
なる。
【0028】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。図1は、本発明の第1の実
施形態による光走査装置を示すものであり、また図2お
よび3はそれぞれ、この光走査装置の要部の正面形状、
斜視形状を示すものである。
【0029】図示される通りこの光走査装置は、それぞ
れが光ビーム(レーザービーム)10、11を発する光源装
置としての半導体レーザー12、13と、光ビーム10、11を
それぞれ平行光化するコリメーターレンズ14、15と、一
方の光ビーム11の光路に挿入された断面くさび形の光学
素子16と、2本の光ビーム10、11を互いに微小間隔を置
いて並ぶ状態に設定するビームスプリッタ17と、このビ
ームスプリッタ17を経た光ビーム10、11の光路に挿入さ
れたビームエキスパンダー(あるいはビームリデューサ
ー)レンズ18、19と、レンズ19を通過した光ビーム10、
11の光路を折り返すミラー20、21と、これらのミラー2
0、21の間において光ビーム10、11の光路に挿入された
結像レンズ22とを有している。
【0030】ミラー21で反射した光ビーム10、11は斜め
上方に進行する。これらの光ビーム10、11を受ける位置
には、光偏向器23が配されている。この光偏向器23は、
ミラー24および、このミラー24をその反射面内にほぼ含
まれる回転軸Zを中心に回転させる駆動手段25を備えて
なるもので、ミラー24に上記光ビーム10、11が入射する
ように保持部材31に固定されている。ミラー24に入射し
た光ビーム10、11は、回転するこのミラー24により反射
偏向される。
【0031】なお上記の要素14〜22からなる光学系は、
光ビーム10、11が回転軸Zと平行な方向に互いに間隔を
置いて並んだ状態で、この回転軸Zに垂直な平面に対し
て傾いた角度でミラー24に入射するように配設されてい
る。
【0032】また、光偏向器23により反射偏向された光
ビーム10、11が入射する位置に記録材料26を保持するプ
ラテン27が設けられている。このプラテン27は感光性の
記録材料26を、ミラー回転軸Zを湾曲中心として湾曲保
持する。
【0033】一方プラテン27は、ミラー回転軸Zと平行
な方向に移動自在に保持されている。そしてこのプラテ
ン27には雌ねじブロック28が固定され、この雌ねじブロ
ック28には、該雌ねじブロック28とともに副走査手段を
構成する精密ねじ29が螺合されている。ミラー回転軸Z
と平行な方向に延びるこの精密ねじ29は、図示しない駆
動手段により正逆回転される。このように精密ねじ29が
回転すると雌ねじブロック28が螺進退し、それによりプ
ラテン27がミラー回転軸Zと平行な方向に直線移動す
る。
【0034】光ビーム10、11は結像レンズ22により、そ
れぞれ記録材料26上で小さなビームスポットに収束させ
られる。上述のように保持されている記録材料26は、反
射偏向された光ビーム10、11により、図中破線Qで軌跡
を示すように主走査される。それとともに、プラテン27
が上記のように直線移動して、該プラテン27と光偏向器
23の相対位置が変化することにより、光ビーム10、11の
副走査がなされる。
【0035】以上のようにして記録材料26は、光ビーム
10、11による2次元走査を受けるが、副走査方向に互い
に離れている2本の光ビーム10、11によって同時に走査
されるので、1本の光ビームで走査される場合と比べ
て、高速走査が実現される。なお、3本以上の光ビーム
によって記録材料26を同時走査することも勿論可能であ
り、当然この光ビームの本数が多いほど、より高速の走
査が可能になる。
【0036】本実施形態の光走査装置は、一例として画
像記録装置を構成するものであり、半導体レーザー12、
13は画像信号Sを受ける変調駆動回路30によって変調駆
動される。そこで、光ビーム10、11は画像信号Sに基い
て直接変調され、記録材料26にはこの画像信号Sが担持
する画像が記録される。
【0037】以下、図4を参照して、光ビーム10、11の
走査軌跡について説明する。図示のようにZ軸をミラー
24の回転軸にとり、Y軸をミラー24の法線方向にとり、
そしてY軸に直交したミラー面内にX軸をとる。ミラー
面の法線ベクトルに対して図中斜め下方から入射した入
射光aは、このミラー面で斜め上方に反射して反射光b
となる。
【0038】ここで、入射光aおよび反射光bの光線を
XY平面にそれぞれ射影した線a’、b’を考え、線a
とa’とがなす角度をθa 、線bとb’とがなす角度を
θbとする。また、射影された線a’、b’とY軸とが
なす角度をそれぞれφa 、φb とする。
【0039】ベクトル計算により、上記角度θa
θb 、φa およびφb の間の関係を求めると、θb =−
θa 、φb =φa と表わせる。ここから、ミラー24が回
転(すなわちX、Y軸が回転)しても、角度θa 、θb
はφa によらず一定となることが分かる。したがって、
図1において光ビーム10、11の収束スポットは、ミラー
回転軸Zに垂直な面(図4のXY平面)内で円形の軌跡
を描くように走査することが分かる。
【0040】先に述べたように、この種の光走査装置に
おいては、解像度を変更する場合に、副走査ピッチを変
えたい場合がある。また、記録材料26上における光ビー
ム10、11の副走査方向のビームスポット間隔(図1の
L)が経時変化して、副走査ピッチが変動することがあ
る。
【0041】その際は、前述した断面くさび形の光学素
子16を図1において矢印R方向に揺動させて、光ビーム
10、11に対する傾斜角度を変えると、光偏向器23のミラ
ー24に入射する前のこれら光ビーム10、11が互いになす
角度が変化するので、上記ビームスポット間隔Lを所定
値に設定することができる。それにより、副走査ピッチ
の変化に起因する走査ムラを解消することができる。
【0042】また、上記くさび形の光学素子16を操作す
るとともに、ビームエキスパンダー(あるいはビームリ
デューサー)レンズ18、19の倍率を変えて、スポット径
と副走査ピッチを同時に変えてもよいし、あるいは上記
レンズ18、19の倍率のみを変えて副走査ピッチを変えて
もよい。
【0043】なお図2および3に示すように、有効主走
査範囲外にビームスポット間隔計測手段40を設けるとと
もに、上記光学素子16を揺動させる手段を設け、この揺
動手段をビームスポット間隔計測手段40の出力に基いて
駆動させれば、ビームスポット間隔Lを自動的に補正す
ることも可能である。
【0044】以下図5を参照して、ビームスポット間隔
計測手段40の一例について説明する。このビームスポッ
ト間隔計測手段40は、三角形の開口41aを有する開口板
41と、この開口41aを通して光ビーム10のスポット10
s、光ビーム11のスポット11sを検出する光検出器42と
から構成されている。ここで開口41aの縁部は、ナイフ
エッジのように鋭利化されている。またビームスポット
10s、11sは、同時に光検出器42に検出されることがな
いように、主走査方向(図5の左右方向)に十分離され
ている。
【0045】ビームスポット間隔を計測するに当たり、
光ビーム10、11が開口板41上を通過する期間は、該光ビ
ーム10、11の強度が所定の一定値をとるように半導体レ
ーザー12、13の駆動が制御される。このようにしたと
き、光検出器42の出力信号の波形は基本的に、図6に示
すようなものとなる。時間の経過につれて最初に立ち上
がるパルス状波形は、ビームスポット10sを検出したこ
とによるものであり、次に立ち上がるパルス状波形は、
ビームスポット11sを検出したことによるものである。
【0046】このとき、ビームスポット10sとビームス
ポット11sの副走査方向間隔dは、ビームスポット10
s、11sの主走査速度をv、開口41aの斜めの縁部が主
走査方向となす角度をξ、ビームスポット10s、11sが
検出される時間幅をそれぞれΔt1、Δt2とすると、 d={v・(Δt1−Δt2)・tanξ}/2 として求められる。
【0047】なお、光ビームが3本以上用いられる場合
でも、各ビームスポットの副走査方向間隔を上記と同様
にして求めることができる。
【0048】上述のように、ビームスポット10s、11s
が主走査方向に互いに離れるようにした場合は、光ビー
ム10、11の変調開始タイミングを揃えておくと、記録材
料26上での光ビーム10、11による記録始点がずれてしま
うことになる。以下、このような不具合の発生を防止す
る点について説明する。
【0049】図2および3に示されているように、有効
主走査範囲外において、同期検出手段43が設けられてい
る。図7に示す通りこの同期検出手段43は、ビームスポ
ット10s、11sが通過する縁部44aがナイフエッジのよ
うに鋭利化された遮蔽板44と、この遮蔽板44の縁部44a
越しにビームスポット10s、11sを検出する光検出器45
と、この光検出器45の出力信号Syが入力される信号処
理回路46とから構成されている。
【0050】ここで、光ビーム10、11が光検出器45の上
を通過する期間は、該光ビーム10、11の強度が所定の一
定値をとるように半導体レーザー12、13の駆動が制御さ
れる。このようにしたとき、光検出器45の出力信号Sy
の波形は基本的に、図8に示すようなものとなる。時間
の経過につれて最初に立ち上がるパルス状波形は、ビー
ムスポット10sを検出したことによるものであり、次に
立ち上がるパルス状波形は、ビームスポット11sを検出
したことによるものである。
【0051】そこで信号処理回路46により、これらのパ
ルス状波形が立ち上がる時間t1とt2との間隔(t2
−t1)を求め、この時間間隔を示す信号Stを図1に
示すように変調駆動回路30に入力させる。変調駆動回路
30はこの信号Stに基いて、光ビーム11に対する(つま
り半導体レーザー13に対する)変調開始タイミングを、
光ビーム10に対する(つまり半導体レーザー12に対す
る)変調開始から時間(t2−t1)だけ遅らせる。そ
れにより、光ビーム10、11の各々による記録材料26上で
の記録開始位置が互いに揃うようになる。
【0052】このようにしておけば、ビームスポット10
s、11sのそれぞれの位置が主走査方向にどのように変
動しても、それについて何ら補正を加える必要がなくな
る。
【0053】上述の方法は、実際に画像記録するときの
偏向走査速度で光を検出する場合のものである。光を検
出する際の偏向走査速度を、画像記録するときの偏向走
査速度のε倍に設定してパルス状波形の間隔を検出する
場合には、検出した間隔(t2−t1)にεを乗じた値
を示すデータを予めメモリーに記憶させておき、この値
を使って記録時の変調開始タイミングを設定するように
してもよい。
【0054】また、図5に示した検出系を用いて、図6
の時間t1とt2とから、主走査方向の記録開始タイミ
ングをとることも可能である。
【0055】そして本実施形態においては、図1に示さ
れている通り、光偏向器23に入射する前の光ビーム10、
11を通過させ、それらの少なくとも主走査方向のビーム
幅を絞る開口板50が設けられている。このような開口板
50を設ければ、光偏向器23のミラー24の主走査方向幅を
小さくすることができ、それにより、光偏向器23の回転
負荷を下げて高速走査を実現できる。この開口板50の主
走査方向の開口幅Dlの好ましい範囲は、先に説明した
通りである。
【0056】また、このような開口板50の代わりに、光
偏向器23に入射する前の光ビーム10、11を透過させ、そ
れらの少なくとも主走査方向の強度分布特性を、ビーム
中心から外れるに従って徐々に低下する特性とするフィ
ルターを用いても、同様の効果を得ることができる。
【0057】また本実施形態においては、図1に示され
ている通り、ミラー20と結像レンズ22との間において光
ビーム10、11の全体的な進行方向を制御するAOD(音
響光学光偏向素子)51が設けられている。インナードラ
ム型の光走査装置においては、前述したボウイングと称
される走査線の湾曲が生じることがあるが、その場合は
走査線の湾曲特性に応じて上記AOD51を駆動して、光
ビーム10、11を高速偏向することにより、このボウイン
グを解消することができる。
【0058】さらに、例えば前述の変調駆動回路30を利
用して、光ビーム10、11が有効主走査領域を含む所定走
査範囲(一例として、同期検出手段43からビームスポッ
ト間隔計測手段40までの間の走査範囲)から外れる期
間、半導体レーザー12、13の駆動を停止させることがで
きる。そのようにすれば、上記所定走査範囲から外れた
光ビーム10、11が光偏向器23のミラー24でけられて迷光
を生じることが防止される。
【0059】次に、本発明の別の実施形態について説明
する。図9は、本発明の第2の実施形態による光走査装
置の一部を示すものであり、また図10はその要部を拡大
して示すものである。なおこれらの図において、図1中
のものと同等の要素には同番号を付してあり、それらに
ついての重複した説明は省略する(以下、同様)。
【0060】この第2の実施形態においては、光偏向器
23を固定した保持部材31に、ミラー回転軸Zに対して傾
斜した反射面を有するミラー60が固定されている。3本
の光ビーム61、62、63は、ミラー回転軸Zとほぼ平行に
進行してから上記ミラー60で反射し、光偏向器23のミラ
ー24に入射する。
【0061】このような構成においては、ミラー60がミ
ラー回転軸Zと平行な方向に移動しても、そこで反射し
た光ビーム61、62、63は、常に光偏向器23に対して一定
の向きで入射する。そこでこの場合は、保持部材31が図
示しない駆動手段によってミラー回転軸Zと平行な方向
に移動され、それにより光ビーム61、62、63の副走査が
なされる。
【0062】次に図11は、本発明の第3の実施形態によ
る光走査装置の一部を示すものである。この第3の実施
形態においては、移動ブロック65に光偏向器23、固定ミ
ラー64および前述の同期検出手段43が保持され、この移
動ブロック65が光偏向器23のミラー24の回転軸と平行な
方向(紙面に垂直な方向)に移動して、光ビーム61、6
2、63の副走査がなされる。
【0063】次に図12は、本発明の第4の実施形態によ
る光走査装置の光学系の一部を示すものである。この第
4の実施形態においては、半導体レーザー12、13から各
々発せられた光ビーム10、11が、ビームスプリッタ17に
より、1本の光ビームに近い状態にまとめられる。そし
て一方の光ビーム11の光路には、図中矢印R方向に揺動
し得る断面くさび状の光学素子70が挿入されている。
【0064】この構成においては、光学素子70を揺動さ
せると、光偏向器に入射する前の光ビーム10、11が互い
になす角度が変化する。それにより、これらの光ビーム
10、11のスポットが記録材料上で、副走査方向の間隔を
変えるようになる。
【0065】次に図13は、本発明の第5の実施形態によ
る光走査装置の光学系の一部を示すものである。この第
5の実施形態においては、半導体レーザー12、13から各
々発せられた光ビーム10、11が、それぞれコリメーター
レンズ14、15を通過したとき若干発散あるいは収束する
状態とされ、その後ビームスプリッタ17により、1本の
光ビームに近い状態にまとめられる。そして一方の光ビ
ーム11の光路には、図中矢印R方向に揺動し得る平行平
板71が挿入されている。
【0066】この構成において、光ビーム11が若干収束
する状態となっている場合は、平行平板71を揺動させる
と、光偏向器に入射する前の光ビーム11の実像位置が図
14にM1、M2で示すように、光軸に直角な方向に移動
する。それにより、これらの光ビーム10、11のスポット
が記録材料上で、副走査方向の間隔を変えるようにな
る。
【0067】この構成において、光ビーム11が若干収束
する状態となっている場合は、平行平板71を揺動させる
と、光偏向器に入射する前の光ビーム11の虚像位置が図
15にN1、N2で示すように、光軸に直角な方向に移動
する。それにより、これらの光ビーム10、11のスポット
が記録材料上で、副走査方向の間隔を変えるようにな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態による光走査装置の概
略斜視図
【図2】図1の光走査装置の要部を示す正面図
【図3】図1の光走査装置の要部を示す斜視図
【図4】図1の光走査装置における光ビームの走査軌跡
を説明する説明図
【図5】図1の光走査装置に用いられたビームスポット
間隔計測手段を示す平面図
【図6】図5のビームスポット間隔計測手段の出力信号
波形を示す波形図
【図7】図1の光走査装置に用いられた同期検出手段を
示す平面図
【図8】図7の同期検出手段の出力信号波形を示す波形
【図9】本発明の第2の実施形態による光走査装置の一
部を示す概略斜視図
【図10】図9の光走査装置の要部を示す斜視図
【図11】本発明の第3の実施形態による光走査装置の
一部を示す正面図
【図12】本発明の第4の実施形態による光走査装置の
光学系を示す側面図
【図13】本発明の第5の実施形態による光走査装置の
光学系を示す側面図
【図14】図13の装置におけるビームスポットの副走
査方向移動を説明する概略図
【図15】図13の装置におけるビームスポットの副走
査方向移動を説明する概略図
【図16】本発明に用いられ得る開口板の主走査方向開
口幅Dlを決めるk値と、光ビームの主走査方向ビーム
径Dbの開口幅Dlに対する比(Db/Dl)との関係
を示すグラフ
【図17】開口板の光透過率と上記比(Db/Dl)と
の関係を示すグラフ
【符号の説明】
10、11、10A、10B 光ビーム 12、13 半導体レーザー 14、15 コリメーターレンズ 16 断面くさび形の光学素子 17 ビームスプリッタ 18、19 レンズ 20、21 ミラー 22 結像レンズ 23 光偏向器 24 光偏向器のミラー 25 光偏向器の駆動手段 26 記録材料 27 プラテン 28 雌ねじブロック 29 精密ねじ 30 変調駆動回路 40 ビームスポット間隔計測手段 43 同期検出手段 50 開口板 51 AOD 60 固定ミラー 61、62、63 光ビーム 64 固定ミラー 65 移動ブロック 70 断面くさび状の光学素子 71 平行平板
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年3月24日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0020
【補正方法】変更
【補正内容】
【0020】他方、上記開口幅Dlを小さくし過ぎる
と、開口板での光透過率が落ちて光利用効率が低下す
る。図17には、Db/Dlの値と、開口板での光透過率
との関係を示す。なお光透過率は、開口板がない場合の
光透過率を1とした相対値で示してある。一般的にこの
光透過率は、上記相対値で0.1程度以上であることが
望ましく、Db/Dlの値が16のとき光透過率は0.
10となるので、この16の値をDb/Dlの好ましい
最大値とする。また、光透過率が上記相対値の0.3以
上ならばさらに好ましいので、光透過率が0.31とな
るDb/Dlの値5を、さらに好ましい最大値とする。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1本あるいは複数の光ビームを発する光
    源装置と、 ミラーおよび、このミラーをその反射面内にほぼ含まれ
    る回転軸を中心に回転させる駆動手段を備えてなる光偏
    向器と、 この光偏向器により反射偏向された前記光ビームにより
    主走査される位置において、記録材料を前記回転軸をほ
    ぼ湾曲中心にして湾曲保持するプラテンと、 前記光ビームを、前記回転軸に垂直な平面に対して傾い
    た角度で前記ミラーに入射させ、該光ビームを前記記録
    材料上で微小なビームスポットに収束させる光学系と、 前記プラテンと前記光偏向器とを、前記回転軸と平行な
    方向に相対移動させる副走査手段とからなる光走査装置
    において、 前記光偏向器に入射する前の1本あるいは複数の光ビー
    ムを通過させ、その少なくとも主走査方向のビーム幅を
    絞る開口板が設けられたことを特徴とする光走査装置。
  2. 【請求項2】 前記光ビームの主走査方向のビーム径
    (1/e2 径)をDb、前記開口板の主走査方向の開口
    幅をDlとしたとき、Db/Dlの値が0.7〜16の
    範囲にあることを特徴とする請求項1記載の光走査装
    置。
  3. 【請求項3】 前記Db/Dlの値が1.0〜5の範囲
    にあることを特徴とする請求項2記載の光走査装置。
  4. 【請求項4】 1本あるいは複数の光ビームを発する光
    源装置と、 ミラーおよび、このミラーをその反射面内にほぼ含まれ
    る回転軸を中心に回転させる駆動手段を備えてなる光偏
    向器と、 この光偏向器により反射偏向された前記光ビームにより
    主走査される位置において、記録材料を前記回転軸をほ
    ぼ湾曲中心にして湾曲保持するプラテンと、 前記光ビームを、前記回転軸に垂直な平面に対して傾い
    た角度で前記ミラーに入射させ、該光ビームを前記記録
    材料上で微小なビームスポットに収束させる光学系と、 前記プラテンと前記光偏向器とを、前記回転軸と平行な
    方向に相対移動させる副走査手段とからなる光走査装置
    において、 前記光偏向器に入射する前の1本あるいは複数の光ビー
    ムを透過させ、その少なくとも主走査方向の強度分布特
    性を、ビーム中心から外れるに従って徐々に低下する特
    性とするフィルターが設けられたことを特徴とする光走
    査装置。
  5. 【請求項5】 前記光ビームの主走査方向のビーム径
    (1/e2 径)をDb、前記フィルターの透過率が最大
    値からその1/2の値をとる範囲のフィルター幅をD
    l’としたとき、Db/Dl’の値が0.7〜16の範
    囲にあることを特徴とする請求項4記載の光走査装置。
  6. 【請求項6】 前記Db/Dl’の値が1.0〜5の範
    囲にあることを特徴とする請求項5記載の光走査装置。
  7. 【請求項7】 前記複数のビームスポットが主走査方向
    の所定位置を通過する時間間隔を検出する同期検出手段
    と、 この同期検出手段の出力に基いて、各光ビームの変調開
    始位置が前記記録材料上で互いに揃うように各光ビーム
    の変調開始タイミングを制御しつつ、該光ビームを変調
    する変調手段とが設けられたことを特徴とする請求項1
    から6いずれか1項記載の光走査装置。
  8. 【請求項8】 前記光源装置を、前記光ビームが有効主
    走査領域を含む所定の走査範囲から外れる期間は駆動停
    止するように制御する手段が設けられたことを特徴とす
    る請求項1から7いずれか1項記載の光走査装置。
  9. 【請求項9】 前記光偏向器に入射する前の複数の光ビ
    ームの全体的な進行方向を制御する手段が設けられたこ
    とを特徴とする請求項1から8いずれか1項記載の光走
    査装置。
  10. 【請求項10】 前記複数の光ビームを前記記録材料上
    でビームスポットに収束させる光学系が、前記光偏向器
    に入射する前の光ビームの光路に挿入された結像レンズ
    を含んで構成されていることを特徴とする請求項1から
    9いずれか1項記載の光走査装置。
JP9080188A 1997-03-31 1997-03-31 光走査装置 Withdrawn JPH10274746A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007111308A1 (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 Fujifilm Corporation インナードラム露光系
US7715063B2 (en) 2005-03-31 2010-05-11 Xerox Corporation CVT integrated illuminator
US8018630B2 (en) 2005-03-31 2011-09-13 Xerox Corporation Compound curved concentrator based illuminator

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