JPH1027301A

JPH1027301A - 磁気ディスクテスト方法及び装置

Info

Publication number: JPH1027301A
Application number: JP19698196A
Authority: JP
Inventors: Yasufumi Nakagawa; 康文中川
Original assignee: Kao Corp
Current assignee: Kao Corp
Priority date: 1996-07-09
Filing date: 1996-07-09
Publication date: 1998-01-27

Abstract

(57)【要約】【課題】サーティファイテストにおける偽のモジュレ
ーションエラーを真のモジュレーションエラーと弁別
し、テスト精度の向上、生産収率の向上を図ること。【解決手段】磁気ディスクテスト方法において、磁気
ディスク１の表面と裏面に書込んだ同一書込信号に関
し、表テストヘッド２３が読出した再生信号のモジュレ
ーションエラーと、裏テストヘッド２３が読出した再生
信号のモジュレーションエラーとが、同一トラック上の
略同一セクター範囲で正と負の反対称をなすとき、それ
らのモジュレーションエラーを偽のモジュレーションエ
ラーとして除外するもの。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、磁気ディスクテス
ト方法及び装置に係り、特にハードディスクの磁気ディ
スクテスト方法及び装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気ディスク装置（ＨＤＤ）は、磁気デ
ィスク（ハードディスク）をスピンドルに固定するとと
もに、磁気ヘッドを備えたヘッドスライダをキャリッジ
に支持し、スピンドルの駆動による磁気ディスクの回転
と、キャリッジの駆動による磁気ヘッドの移動によっ
て、磁気ヘッドを磁気ディスクの表面に対して相対移動
させる。そして、磁気ディスクに設けてある複数の一様
な幅の磁気トラックのうちの指定されたトラックに、磁
気ヘッドによって電気的にデータを書込み、また、指定
されたトラックから磁気ヘッドによって電気的にデータ
を再生する。

【０００３】然るに、磁気ディスクは、データの書込み
と再生の安定確実を図るため、記録膜の欠損等に起因す
る信号品質の良否をチェックするサーティファイテスト
が実施される。

【０００４】サーティファイテストは磁気ディスクの磁
気記録膜等の欠陥（信号品質）のチェックテストであ
る。従来技術では、サーティファイテスト用磁気ヘッド
をヘッドスライダに設けたテストヘッドを用いて、磁気
ディスク装置のヘッドとディスクの関係を再現させ、デ
ィスクの各１本のトラック毎に、書込信号（ＨＦ信号）
の書込み、再生、消去、再再生等を行ない、ＭＰ（Miss
ing Pulse ）エラー、スパイクエラー、モジュレーショ
ンエラー、ＥＰ（Extra Pulse ）エラーの発生数を検出
することにて、欠陥の存在を検出するものである。

【０００５】このとき、モジュレーションエラーとして
は正のモジュレーションエラーと負のモジュレーション
エラーとがある。正のモジュレーションエラーは、記録
膜に異物の内在があること等に起因し、あるトラックの
一定以上の長いセクターに渡り、テストヘッドの平均再
生電圧に対して一定の上限スライスレベルを上回る再生
信号を生ずるものである。負のモジュレーションエラー
は、記録膜の欠損に起因し、あるトラックの一定以上の
長いセクターに渡り、テストヘッドの平均再生電圧に対
して一定の下限スライスレベルを下回る再生信号を生ず
るものである。これらの正と負のモジュレーションエラ
ーは磁気ディスクの適正な信号処理を不能とするもので
あり、このようなモジュレーションエラーを生じたディ
スクはテスト段階で不良ディスクとして排除される。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】然しながら、最近にお
ける磁気ディスクの高記録密度化と小径化（コンパクト
化）の要請は、ディスクの厚みをより薄くし、且つディ
スクの外周側〜内周側の記録膜の使用範囲をより広くし
ている。このため、磁気ディスクのサーティファイテス
トでも、この薄いディスクをより広い範囲に渡ってテス
トしなければならない。このサーティファイテストにお
いては、薄いディスクをより内周側までテストするに伴
い、ディスクの内径孔をスピンドルに挿入して行なう保
持具による固定、更にはその保持具とディスクとの間に
侵入した異物の存在等に起因する、ディスクの大きな歪
み変形が無視できないものとなる。そして、サーティフ
ァイテストでのディスクの歪み変形は、ディスクの表裏
面とテストヘッドとの間隔を標準間隔に比して異常に拡
大又は縮小し、結果として、テストヘッドの出力信号を
一定以上の長いセクターに渡って異常に強弱せしめ、偽
のモジュレーションエラーを検出せしめるものとなる。

【０００７】従来の磁気ディスクテスト装置では、偽の
モジュレーションエラーを真のモジュレーションエラー
と弁別する機能を有さず、テスト精度の向上、生産収率
の向上を阻害している。

【０００８】本発明の課題は、サーティファイテストに
おける偽のモジュレーションエラーを真のモジュレーシ
ョンエラーと弁別し、テスト精度の向上、生産収率の向
上を図ることにある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の本発明
は、磁気ディスクのサーティファイテストを行なう磁気
ディスクテスト方法において、表裏のテストヘッドを磁
気ディスクの表面と裏面のそれぞれに対して相対移動
し、表裏のテストヘッドが磁気ディスクに相対している
テスト位置を求め、磁気ディスクの表面と裏面に書き込
んだ同一書込信号に関し、表テストヘッドが読出した再
生信号のモジュレーションエラーと、裏テストヘッドが
読出した再生信号のモジュレーションエラーとが、同一
トラック上の略同一セクター範囲で正と負の反対称をな
すとき、それらのモジュレーションエラーを偽のモジュ
レーションエラーとして除去するようにしたものであ
る。

【００１０】請求項２に記載の本発明は、請求項１に記
載の本発明において更に、表裏のテストヘッドが読出す
平均再生電圧に対し、一定の上限スライスレベルを上回
る再生信号を正のモジュレーションエラーレベルとし、
一定の下限スライスレベルを下回る再生信号を負のモジ
ュレーションエラーレベルとして求めるようにしたもの
である。

【００１１】請求項３に記載の本発明は、請求項１又は
２に記載の本発明において更に、表裏のテストヘッドが
読出したモジュレーションエラーの比較を行なう同一ト
ラック上の略同一セクター範囲を、セクター位置とセク
ター長のそれぞれが一定のずれの中にあるセクター範囲
とするようにしたものである。

【００１２】請求項４に記載の本発明は、磁気ディスク
のサーティファイテストを行なう磁気ディスクテスト装
置において、磁気ディスクを回転させるスピンドルと、
スピンドルを駆動制御するスピンドルコントローラと、
磁気ディスクの表面と裏面のそれぞれに臨む表裏のテス
トヘッドと、表裏のテストヘッドを支持し、それら表裏
のテストヘッドを磁気ディスクの表面と裏面のそれぞれ
に沿って該磁気ディスクの磁気トラックに交差する方向
に移動させるキャリッジと、キャリッジを駆動制御する
キャリッジコントローラと、表裏のテストヘッドが磁気
ディスクに相対しているテスト位置をスピンドルコント
ローラとキャリッジコントローラの制御信号から求める
とともに、磁気ディスクの表面と裏面に書き込んだ同一
書込信号に関し、表テストヘッドが読出した再生信号の
モジュレーションエラーと、裏テストヘッドが読出した
再生信号のモジュレーションエラーとが、同一トラック
上の略同一セクター範囲で正と負の反対称をなすとき、
それらのモジュレーションエラーを偽のモジュレーショ
ンエラーとして除去するテスト回路と、スピンドルコン
トローラとキャリッジコントローラを制御するととも
に、テスト回路を制御する制御部とを有してなるように
したものである。

【００１３】請求項５に記載の本発明は、請求項４に記
載の本発明において更に、テスト回路が、表裏のテスト
ヘッドが読出す平均再生電圧に対し、一定の上限スライ
スレベルを上回る再生信号を正のモジュレーションエラ
ーレベルとし、一定の下限スライスレベルを下回る再生
信号を負のモジュレーションエラーレベルとして求める
ようにしたものである。

【００１４】請求項６に記載の本発明は、請求項４又は
５に記載の本発明において更に、テスト回路が、表裏の
テストヘッドが読出したモジュレーションエラーの比較
を行なう同一トラック上の略同一セクター範囲を、セク
ター位置とセクター長のそれぞれが一定のずれの中にあ
るセクター範囲とするようにしたものである。

【００１５】請求項１〜６に記載の本発明によれば下記
、の作用がある。サーティファイテスト装置での磁気ディスクの固定保
持による該ディスクの歪み変形は、該ディスクの表裏で
一方が凸、他方が凹の如くの反対称状に生ずる。そし
て、この磁気ディスクの表裏対応位置では、凸状変形に
相対するテストヘッドの出力信号を異常に強くして偽の
正のモジュレーションエラーを呈し、凹状変形に相対す
るテストヘッドの出力信号を異常に弱くして偽の負のモ
ジュレーションエラーを呈する如くに、正と負のモジュ
レーションエラーが互いに反対称をなす（図４）。

【００１６】尚、モジュレーションエラー発生位置は、
磁気ディスクの変形に依るものである為、上下において
若干異なる場合もある。

【００１７】また、磁気ディスクの表裏いずれかの任意
位置における記録膜への異物の内在、記録膜の欠損に起
因する真のモジュレーションエラーは、表裏間で無関係
に生ずるものであり、正と負のモジュレーションエラー
が表裏の対応位置で反対称をなす如くにならない（図
５）。

【００１８】本発明では、磁気ディスクの表面と裏面
に書込んだ同一書込信号に関し、表テストヘッドが読出
した再生信号のモジュレーションエラーと、裏テストヘ
ッドが読出した再生信号のモジュレーションエラーとを
同一のトラック上の、一定以上の長さ範囲に渡る略同一
セクター範囲で比較するものとした。そして、この比較
結果が正と負の反対称をなすものであれば、上記の偽
発生原理に基づき、それらのモジュレーションエラーを
偽のモジュレーションエラーとして除外するものであ
る。

【００１９】

【発明の実施の形態】図１は磁気ディスクテスト装置の
一例を示す制御回路図、図２は磁気ディスクテスト装置
を示す模式図、図３はテストヘッドの一例を示す模式
図、図４は偽のモジュレーションエラーを示す模式図、
図５は真のモジュレーションエラーを示す模式図であ
る。

【００２０】磁気ディスクテスト装置１０は、磁気ディ
スク（ハードディスク）１のサーティファイテストを行
なう。

【００２１】磁気ディスクテスト装置１０は、図２に示
す如く、定盤１０Ａの上に設けたサーボモータ１１の出
力軸にスピンドル１２を連結し、サーボモータ１１をス
ピンドルコントローラ１３により駆動制御している。制
御部３０は、スピンドル１２が所定の回転数となるよう
にスピンドルコントローラ１３を制御する。

【００２２】磁気ディスクテスト装置１０は、定盤１０
Ａの上に設けたキャリッジガイド１４にキャリッジ１５
をスライド可能に支持するともに、パルスモータ１６の
出力軸に連結した送りねじ１７によりキャリッジ１５を
移動可能としている。キャリッジ１５はキャリッジコン
トローラ１８により駆動制御される。キャリッジ１５は
上下のヘッドブロック２１、２１を支持し、上下の各ヘ
ッドブロック２１、２１のそれぞれにはサスペンション
（ばね）２２、２２の基端部が結合され、サスペンショ
ン２２、２２の先端部には表裏のテストヘッド２３、２
３が設けられている。制御部３０は、テストヘッド２
３、２３が磁気ディスク１の表面と裏面のそれぞれに沿
って磁気ディスク１の磁気トラックに交差する方向（本
実施例では磁気ディスク１の直径方向）の所定位置に移
動するようにキャリッジコントローラ１８を制御する。

【００２３】表裏の各テストヘッド２３は、そのヘッド
スライダ２５の基端側の端面に接合された、薄膜素子
（磁気コア、コイル）からなる電磁誘導型磁気ヘッドに
て構成される。尚、テストヘッド２３は、電磁誘導型磁
気ヘッドに加え、再生専用のＭＲヘッドを備えるもので
あっても良い。

【００２４】磁気ディスクテスト装置１０は、図１に示
す如く、制御部３０、サーティファイテスト回路３１、
表示部３３を有している。

【００２５】サーティファイテスト回路３１は、テスト
ヘッド２３が磁気ディスク１に相対しているテスト位置
を、スピンドルコントローラ１３の制御信号（周方向角
度位置信号）とキャリッジコントローラ１８の制御信号
（半径位置信号）から求めるとともに、表裏のテストヘ
ッド２３、２３の出力をアンプ３５、３５から得て、磁
気ディスク１の表裏面のそれぞれで、各１本のトラック
毎に書込んだ書込信号のテストヘッド２３、２３による
再生信号出力から上記テスト位置でのサーティファイテ
ストデータを求める。

【００２６】制御部３０は、スピンドルコントローラ１
３とキャリッジコントローラ１８を前述した如くに制御
するとともに、サーティファイテスト回路３１とを制御
する。

【００２７】制御部３０は、サーティファイテスト回路
３１から取り込んだデータ、サーティファイテスト結果
等を表示部３３に表示する。

【００２８】このとき、サーティファイテスト回路３１
は、磁気ディスク１の各１本のトラック毎に、下記(A)
〜(D) のＭＰエラー、スパイクエラー、モジュレーショ
ンエラー、ＥＰエラーの検出を行なう。尚、下記(A) 〜
(D) で定めてある各スライスレベルは設定器３１Ａによ
り設定される。

【００２９】(A) ＭＰエラー磁気ディスク１の書込信号をテストヘッド２３により再
生し、トラック平均再生電圧（ＴＡＡ）を算出する。そ
して、上記ＴＡＡに対する一定のスライスレベル（例え
ば60％）を下回る再生信号をＭＰ（Missing Pulse ）エ
ラーとする。

【００３０】(B) スパイクエラーＴＡＡに対する一定のスライスレベル（例えば140 ％）
を上回る再生信号をスパイクエラーとする。

【００３１】(C) モジュレーションエラーＴＡＡに対し、一定の上限スライスレベル（例えば140
％）を上回る再生信号が一定のセクター長（例えば120
ビット）に渡るとき、これを正のモジュレーションエラ
ーとする。また、ＴＡＡに対し、一定の下限スライスレ
ベル（例えば40％）を下回る再生信号が一定のセクター
長（例えば120 ビット）に渡るとき、これを負のモジュ
レーションエラーとする。

【００３２】(D) ＥＰエラー磁気ディスク１の書込信号のイレーズ（消去）後にテス
トヘッド２３により再び再生したとき、ＴＡＡに対する
一定のスライスレベル（例えば15％）を上回る消残り信
号をＥＰ（Extra Pulse ）エラーとする。

【００３３】然るに、サーティファイテスト回路３１
は、上記(C) のモジュレーションエラーについて、真の
モジュレーションエラーと偽のモジュレーションエラー
とを弁別するための、エラー弁別回路３２を備えてい
る。エラー弁別回路３２は、上記(C) においてモジュレ
ーションエラーと認められる再生信号のうち、下記、
の偽弁別条件に従うものを、偽のモジュレーションエ
ラーと弁別してこれをエラーから除外する。

【００３４】磁気ディスク１の表面と裏面に書込んだ
同一書込信号に関し、表テストヘッド２３が読出した再
生信号のモジュレーションエラーと、裏テストヘッド２
３が読出した再生信号のモジュレーションエラーとが、
同一トラック上の略同一セクター範囲で正と負の反対称
をなすとき、それらのモジュラーションエラーを偽のモ
ジュレーションエラーとする。

【００３５】上記で、表裏のテストヘッド２３、２
３が読出したモジュレーションエラーの比較を行なう同
一トラック上の略同一セクター範囲を、セクター位置と
セクター長のそれぞれが一定のずれの中にあるセクター
範囲とする。即ち、セクター位置については、表裏一方
の正のモジュレーションエラーのトラック上での始点位
置と、表裏他方の負のモジュレーションエラーのトラッ
ク上での始点位置の位置の差が一定ずれ以下にあり、セ
クター長については、表裏一方の正のモジュレーション
エラーの長さと、表裏他方の負のモジュレーションエラ
ーの長さの差が一定ずれ以下にあることである。尚、許
容される一定のずれ量は現象に応じて調整できる。概ね
±15セクター程度である。

【００３６】以下、磁気ディスクテスト装置１０による
テスト手順の一例について説明する。 (1) 磁気ディスク１をスピンドル１２に取付ける。そし
て、スピンドルコントローラ１３により所定のスピンド
ル回転数でスピンドル１２を駆動する。

【００３７】(2) キャリッジコントローラ１８によりテ
ストヘッド２３を磁気ディスク１上のロード位置（テス
ト開始位置）（例えば最外周トラック位置）に位置付
け、不図示のヘッドロード／アンロード機構によりテス
トヘッド２３を磁気ディスク１上で浮上させ、サーティ
ファイテストを行なう。サーティファイテストは、例え
ば下記〜により、磁気ディスク１の全記録エリアの
全トラック（例えば1.8インチφディスクで3000TPI
（トラック密度））について行なう。

【００３８】指定されたトラックに書込信号（ＨＦ信
号）を書込む。

【００３９】上記の書込信号をテストヘッド２３に
より再生し、トラック平均再生電圧（ＴＡＡ）を算出す
る。

【００４０】上記の再生信号について、上記のＴ
ＡＡに対するスライスレベル（例えば60％）を下回るパ
ルス信号をＭＰ（Missing Pulse)エラーとする。そし
て、例えばディスクの１トラックのビット数（例えば20
万ビット）に対し上記ＭＰエラーの数が一定比率を越え
るディスクを不良ディスクとする。

【００４１】上記の再生信号について、上記のＴ
ＡＡに対するスライスレベル（例えば90％）を上回るパ
ルス信号をスパイクエラーとする。そして、例えばディ
スクの１トラックのビット数（例えば20万ビット）に対
し上記スパイクエラーの数が一定比率を越えるディスク
を不良ディスクとする。

【００４２】上記の再生信号について、上記のＴ
ＡＡに対する上限スライスレベル（例えば140 ％）を上
回るパルス信号が一定のセクター長（例えば120 ビッ
ト）に渡って連続するとき、これを正のモジュレーショ
ンエラーとする。また、上記のＴＡＡに対する下限ス
ライスレベル（例えば40％）を下回るパルス信号が一定
のセクター長（例えば120 ビット）に渡って連続すると
き、これを負のモジュレーションエラーとする。そし
て、これらのモジュレーションエラーが生じたディスク
を不良ディスクとする。

【００４３】上記のモジュレーションエラーの判定に
際しては、前述のエラー弁別回路３２によるモジュレー
ションエラーの真偽弁別機能により、偽のモジュレーシ
ョンエラーを前述の如くにより弁別してこれをエラーか
ら除外する。

【００４４】上記の書込信号をイレーズ（消去）す
る。

【００４５】上記のイレーズ後にテストヘッド２３
により再読出しを行なう。そして、上記のＴＡＡに対
するスライスレベル（例えば15％）を越える消残りパル
ス信号をＥＰ（Extra Pulse ）エラーとする。そして、
例えばディスクの１トラックのビット数（例えば20万ビ
ット）に対し上記ＥＰエラーの数が一定比率を越えるデ
ィスクを不良ディスクとする。

【００４６】(3) テストヘッド２３が磁気ディスク１上
のアンロード位置（テスト終了位置）（例えば最内周ト
ラック位置）に到達して、その位置での上記〜を終
了したら、不図示のヘッドロード／アンロード機構によ
りテストヘッド２３を磁気ディスク１から強制的に離
し、テスト終了とする。

【００４７】以下、本実施形態の作用について説明す
る。サーティファイテスト装置１０での磁気ディスク１の
固定保持による該ディスク１の歪み変形は、該ディスク
１の表裏で一方が凸、他方が凹の如くの反対称状に生ず
る。そして、この磁気ディスク１の表裏対応位置では、
凸状変形に相対するテストヘッド２３の出力信号を異常
に強くして偽の正のモジュレーションエラーを呈し、凹
状変形に相対するテストヘッドの出力信号を異常に弱く
して偽の負のモジュレーションエラーを呈する如くに、
正と負のモジュレーションエラーが互いに反対称をなす
（図４）。

【００４８】尚、磁気ディスクの表裏いずれかの任意位
置における記録膜への異物の内在、記録膜の欠損に起因
する真のモジュレーションエラーは、表裏間で無関係に
生ずるものであり、正と負のモジュレーションエラーが
表裏の対応位置で反対称をなす如くにならない（図
５）。

【００４９】本発明では、磁気ディスク１の表面と裏
面に書込んだ同一書込信号に関し、表テストヘッド２３
が読出した再生信号のモジュレーションエラーと、裏テ
ストヘッド２３が読出した再生信号のモジュレーション
エラーとを同一のトラック上の、一定以上の長さ範囲に
渡る略同一セクター範囲で比較するものとした。そし
て、この比較結果が正と負の反対称をなすものであれ
ば、上記の偽発生原理に基づき、それらのモジュレー
ションエラーを偽のモジュレーションエラーとして除外
するものである。

【００５０】以上、本発明の実施形態を図面により詳述
したが、本発明の具体的な構成はこの実施形態に限られ
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計
の変更等があっても本発明に含まれる。例えば、磁気デ
ィスクテスト装置の形態は、上記実施形態のものに限ら
ない。従って、キャリッジは、テストヘッドをディスク
のトラックに交差する方向に移動させるものであれば良
く、ディスクの直径上を直線動するものに限らず、スイ
ングするものであっても良い。

【００５１】

【発明の効果】以上のように本発明によれば、サーティ
ファイテストにおける偽のモジュレーションエラーを真
のモジュレーションエラーと弁別し、テスト精度の向
上、生産収率の向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は磁気ディスクテスト装置の一例を示す制
御回路図である。

【図２】図２は磁気ディスクテスト装置を示す模式図で
ある。

【図３】図３はテストヘッドの一例を示す模式図であ
る。

【図４】図４は偽のモジュレーションエラーを示す模式
図である。

【図５】図５は真のモジュレーションエラーを示す模式
図である。

【符号の説明】

１磁気ディスク１０磁気ディスクテスト装置１２スピンドル１３スピンドルコントローラ１５キャリッジ１８キャリッジコントローラ２３テストヘッド３０制御部３１サーティファイテスト回路３２エラー弁別回路

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁶ 識別記号庁内整理番号ＦＩ技術表示箇所Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２Ｆ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】磁気ディスクのサーティファイテストを
行なう磁気ディスクテスト方法において、表裏のテストヘッドを磁気ディスクの表面と裏面のそれ
ぞれに対して相対移動し、表裏のテストヘッドが磁気ディスクに相対しているテス
ト位置を求め、磁気ディスクの表面と裏面に書き込んだ同一書込信号に
関し、表テストヘッドが読出した再生信号のモジュレー
ションエラーと、裏テストヘッドが読出した再生信号の
モジュレーションエラーとが、同一トラック上の略同一
セクター範囲で正と負の反対称をなすとき、それらのモ
ジュレーションエラーを偽のモジュレーションエラーと
して除去することを特徴とする磁気ディスクテスト方
法。
【請求項２】表裏のテストヘッドが読出す平均再生電
圧に対し、一定の上限スライスレベルを上回る再生信号
を正のモジュレーションエラーレベルとし、一定の下限
スライスレベルを下回る再生信号を負のモジュレーショ
ンエラーレベルとして求める請求項１記載の磁気ディス
クテスト方法。
【請求項３】表裏のテストヘッドが読出したモジュレ
ーションエラーの比較を行なう同一トラック上の略同一
セクター範囲を、セクター位置とセクター長のそれぞれ
が一定のずれの中にあるセクター範囲とする請求項１又
は２記載の磁気ディスク方法。
【請求項４】磁気ディスクのサーティファイテストを
行なう磁気ディスクテスト装置において、磁気ディスクを回転させるスピンドルと、スピンドルを駆動制御するスピンドルコントローラと、磁気ディスクの表面と裏面のそれぞれに臨む表裏のテス
トヘッドと、表裏のテストヘッドを支持し、それら表裏のテストヘッ
ドを磁気ディスクの表面と裏面のそれぞれに沿って該磁
気ディスクの磁気トラックに交差する方向に移動させる
キャリッジと、キャリッジを駆動制御するキャリッジコントローラと、表裏のテストヘッドが磁気ディスクに相対しているテス
ト位置をスピンドルコントローラとキャリッジコントロ
ーラの制御信号から求めるとともに、磁気ディスクの表面と裏面に書き込んだ同一書込信号に
関し、表テストヘッドが読出した再生信号のモジュレー
ションエラーと、裏テストヘッドが読出した再生信号の
モジュレーションエラーとが、同一トラック上の略同一
セクター範囲で正と負の反対称をなすとき、それらのモ
ジュレーションエラーを偽のモジュレーションエラーと
して除去するテスト回路と、スピンドルコントローラとキャリッジコントローラを制
御するとともに、テスト回路を制御する制御部とを有し
てなることを特徴とする磁気ディスクテスト装置。
【請求項５】上述のテスト回路が、表裏のテストヘッ
ドが読出す平均再生電圧に対し、一定の上限スライスレ
ベルを上回る再生信号を正のモジュレーションエラーレ
ベルとし、一定の下限スライスレベルを下回る再生信号
を負のモジュレーションエラーレベルとして求める請求
項４記載の磁気ディスクテスト装置。
【請求項６】テスト回路が、表裏のテストヘッドが読
出したモジュレーションエラーの比較を行なう同一トラ
ック上の略同一セクター範囲を、セクター位置とセクタ
ー長のそれぞれが一定のずれの中にあるセクター範囲と
する請求項４又は５記載の磁気ディスクテスト装置。