JP2001034902A

JP2001034902A - 磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法

Info

Publication number: JP2001034902A
Application number: JP11203244A
Authority: JP
Inventors: Shoji Tanaka; 彰二田中; Satoshi Tanaka; 聡田中
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1999-07-16
Filing date: 1999-07-16
Publication date: 2001-02-09

Abstract

(57)【要約】【課題】新たな機構を追加することなく、トラックパ
ターンを有する磁気ディスクのエラー検査における信頼
性を向上させる。【解決手段】同心円状のトラックパターンが設けられ
たＰＥＲＭディスクのエラー検査を行うサーティファイ
アにおいて、再生ヘッド２ａのトラック幅ＴwhをＰＥＲ
Ｍディスクのトラックピッチｐ₁とほぼ等しくする。エ
ラー検査を行うときに、再生ヘッド２ａによりデータト
ラックＤＴ上の検査用信号を読み出すと、ＰＥＲＭディ
スク上のトラックの中心とＰＥＲＭディスクの回転中心
との間に偏心が生じていることにより、再生ヘッド２ａ
がデータトラックＤＴ上を横断する。再生ヘッド２ａの
トラック幅Ｔwhのうち、データトラックＤＴから外れた
幅の分だけ隣接するデータトラックＤＴ´に重なるよう
にし、再生ヘッド２ａの再生に寄与する実効的なトラッ
ク幅を常にほぼ一定の大きさに維持する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、トラックパター
ンを有する磁気ディスクのエラー検査を行うサーティフ
ァイアに適用することができる、磁気ディスクの検査装
置および磁気ディスクの検査方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、磁気ディスクの製造ラインにおけ
る最終の出荷検査の方法として、あらかじめ磁気ディス
クドライブの仕様によって決められた、磁気ディスク上
の半径領域に、磁気ヘッドを用いてデータを書き込み、
その再生エラーを検出する方法が用いられている。この
ようなエラー検査を行う検査装置は、一般にサーティフ
ァイアと呼ばれる。なお、このサーティファイアには、
突起検査装置（グライドテスター）などと一体化された
ものもある。

【０００３】また、従来のアルミニウム（Ａｌ）やガラ
スの基板を用いた磁気ディスクにおいても、磁気ヘッド
を検査装置の位置決め精度で所定の位置に保持させて、
その位置に対応したトラックに信号を書き込んだ後、読
み出し、エラー検査を行っている。

【０００４】一般的に、磁気ディスクにおける記録面密
度の向上に関わる要素は、線記録密度の要素とトラック
密度の要素とに分けられる。そして、記録線密度を高め
るために、浮上量を低減させたり、高感度ＧＭＲ(Giant
Magneto Resistive) ヘッドが開発されてきた。

【０００５】また、トラック密度を高めるために、デー
タトラック間のガードバンドを溝にし、ガードバンドノ
イズの低減を図る方法として、ディスクリートトラック
メディアが提案されている。その一例が、プラスチック
の成形技術によって製造されるＰＥＲＭ(Pre-Embossed
Ragid Magnetic) ディスクである。このＰＥＲＭディス
クの一例を図５および図６に示す。

【０００６】図５Ａに示すように、ＰＥＲＭディスク１
０１においては、このＰＥＲＭディスク１０１をディス
クドライブのスピンドルモータ（いずれも図示せず）に
クランプする際に用いる開口（クランプエリア）１０２
が設けられている。

【０００７】また、このＰＥＲＭディスク１０１は、ク
ランプエリア１０２が設けられたプラスチックなどから
なる基板の両表面に、データを記録するためのデータゾ
ーン１０３と、サーボゾーン１０４とがそれぞれ放射状
に形成されている。サーボゾーン１０４はサーボ機構を
制御するための領域であり、１周に等角度間隔に設けら
れている。このサーボゾーン１０４の拡大平面図を図５
Ｂに示す。図５Ｂに示すように、サーボゾーン１０４内
には、所定の信号に対応した長方形のパターン１０５が
形成されている。

【０００８】また、図６に示すように、ＰＥＲＭディス
ク１０１のデータゾーン１０３には、同心円状でデータ
などを記録するためのデータトラックＤＴが凸部になる
ように形成され、隣接するデータトラックＤＴを区分す
るためのガードバンドＧＢが凹部になるように形成され
ている。このデータトラックＤＴおよびガードバンドＧ
Ｂは、成形時に表面に凹凸部が形成されたプラスチック
基板１０６上に、スパッタリング法などにより磁性膜１
０７が形成されたものである。

【０００９】また、ディスクドライブに設けられた磁気
ヘッドの記録ヘッド（いずれも図示せず）を用いて、デ
ータゾーン１０３の部分を所定方向に磁化することによ
り、データを書き込み可能に構成されている。また、デ
ータの読み出しにおいても、磁気ヘッドの再生ヘッド
（図示せず）を用いて、所定方向に磁化されたデータゾ
ーン１０３の部分からデータを読み出し可能に構成され
ている。

【００１０】また、ＰＥＲＭディスク１０１を有する磁
気ディスクドライブにおいては、ＰＥＲＭディスクにお
けるトラック幅Ｔwd、ガードバンド幅Ｔwg，再生ヘッド
のトラック幅Ｔwhおよび記録ヘッドのトラック幅Ｔwrの
間に、Ｔwh＜Ｔwr≦Ｔwd＋Ｔwg（＝ｐ）・・・（１）の関係が成立するように設計される。なお、ｐはＰＥＲ
Ｍディスク１０１のトラックピッチを表す量である。

【００１１】かかるＰＥＲＭディスク１０１などのディ
スクリートトラックメディアを生産する場合において
も、上述したエラー検査を行ってから出荷する必要があ
る。ここで、このＰＥＲＭディスク１０１のエラー検査
について、図面を参照しつつ以下に具体的に説明する。

【００１２】すなわち、通常、エラー検査においてはミ
ッシング(Missing) エラー、エキストラ(Extra) エラ
ー、ポジティブモジュレーション(Positive Modulatio
n、ＰＭＯＤ) エラー、ネガティブモジュレーション(Ne
gative Modulation、ＮＭＯＤ)エラー、およびサーマル
アスペリティ（Thermal Asperity、ＴＡ）エラーなどの
エラー検査を行う。

【００１３】これらのエラーのうち、ＰＥＲＭディスク
などのハードディスクの品質においてもっとも問題とな
るのはミッシングエラーとエキストラエラーである。ミ
ッシングエラーは、書き込んだ信号を読み出したとき
に、一部のビットについての読出信号についての波高値
が所定値以下に低下し、あるいは消失することによりそ
のビットがなくなってしまうものである。エキストラエ
ラーは、所定のトラックに書き込まれたテストデータを
消去した後に、そのトラックからデータを読み出したと
き、存在しないはずのビットが湧きだした状態である。

【００１４】ここで、ミッシングエラー検査において
は、ＰＥＲＭディスク１０１に書き込むエラー検査用の
信号を単純な繰り返し信号とし、この単純な繰り返し信
号を、磁気ヘッドの記録ヘッドを用いてＰＥＲＭディス
ク１０１のデータトラックＤＴに書き込む。その後、磁
気ヘッドの再生ヘッドを用いて、データトラックＤＴか
ら信号を読み出す。エラーが存在していない場合、再生
信号は記録信号と同様に図７Ａに示すように、一定振幅
の単純な繰り返し信号になる。この信号の読み出しの際
に、信号に振幅の低下した部分が存在するか否かを検査
することによって、エラーが存在するか否かを検査す
る。このミッシングエラー検査においては、データトラ
ックＤＴの１周の平均振幅電圧（ＴＡＡ、Track Averag
e Amplitude）の６５％程度にスライスレベルを設定す
る。そして、図７Ｂに示すように、再生ヘッドにより読
み出された信号の振幅電圧Ｖtmが、このスライスレベル
より低い電圧になった部分を信号の振幅低下とし、エラ
ーとして検出する。

【００１５】一方、エキストラエラー検査においては、
まず、記録ヘッドを用いて、ＰＥＲＭディスク１０１の
データトラックＤＴに書き込んだ信号を消去する。その
後、再生ヘッドを用いてトラック上の信号を読み出す。
この信号の読み出しの際に、異常信号が存在するか否か
を検査することによって、エキストラエラーが存在する
か否かを検査する。ここで、このエキストラエラー検査
においては、上述のＴＡＡの３０％を超える値にスライ
スレベルを設定する。そして、図７Ｃに示すように、再
生ヘッドにより読み出された信号の振幅電圧Ｖteが、こ
のスライスレベルより高い電圧になった部分を異常信号
とし、エラーとして検出する。

【００１６】エラーとして検出された部分は、そのビッ
ト数がカウントされ、発見されたエラーの数やビット長
によって、このＰＥＲＭディスク１０１が良品であるか
不良品であるかが判断される。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来の検査装置において、ＰＥＲＭディスク１０１のエラ
ー検査を行う場合に、次のような問題があった。

【００１８】すなわち、このＰＥＲＭディスク１０１の
ように、あらかじめトラックパターンが形成されたメデ
ィアにおいて、トラック位置は、検査装置によってでは
なく、ディスクそのもので決定されている。そのため、
通常、ディスクを回転させるスピンドルの回転中心とデ
ィスクの中心とが一致することはなく、ディスクの回転
中心とディスク上のトラックの中心とは一致しない。こ
の状態を図８に示す。

【００１９】図８に示すように、磁気ヘッドを固定し
て、ＰＥＲＭディスク１０１を回転させた場合の磁気ヘ
ッドの軌跡１０８は、その中心がＯの位置になり、ＰＥ
ＲＭディスク１０１はその中心Ｏを軸として回転するこ
とになる。他方、ＰＥＲＭディスク１０１上のトラック
パターン１０３の中心はＯ´の位置である。このような
回転中心位置とトラックの中心位置とのずれは、一般
に、偏心量と呼ばれる。この偏心量ｄにおいては、
（１）式において、ｄ≫ｐ・・・（２）となる可能性が非常に高い。これは、トラックピッチの
高密度化が進んでいることにより、ｐ≒１μｍであるの
に対し、偏心量ｄは機械的な精度によって決定される量
であることにより、ｄ≧数１０μｍとなるからである。
そのため、磁気ヘッドを固定させてＰＥＲＭディスク１
０１を回転させると、通常、ＰＥＲＭディスク１０１を
１周回転させる間に、数１０本のトラックピッチのずれ
が発生する。

【００２０】これによって、ＰＥＲＭディスク１０１を
１周回転させる間に、ＰＥＲＭディスク上のデータトラ
ックＤＴにおいて、磁気ヘッドがデータトラックＤＴに
重なるオントラック部分と、磁気ヘッドが数１０本のデ
ータトラックＤＴを横断するトラック横断部分と、磁気
ヘッドがデータトラックＤＴから外れるオフトラック部
分とが存在することになる。その結果、図９に示すよう
に、再生ヘッドから得られる再生信号に振幅変動が生じ
る。

【００２１】図９に示すように、オントラック部分にお
いては通常の振幅であるが、トラック横断部分において
振幅に変動が生じ、オフトラック部分において振幅が減
少する。再生信号の振幅電圧Ｖtmが減少し、設定された
スライスレベルより小さくなると、ミッシングエラーが
存在していない場合であっても、その部分がミッシング
エラーとして検出される問題があった。

【００２２】そのため、エラー検査を行う際にデータを
正しく読み出すためには、ＰＥＲＭディスク１０１上の
各トラックに対して１本ずつトラッキングを行いながら
書き込みや読み出しを行う必要がある。

【００２３】ところが、このようなトラッキングを行う
ためには、従来のサーティファイアの磁気ヘッドにさら
に回動アームが必要になるとともに、トラッキング機構
やシーク機構なども必要になる。これにより、データト
ラックＤＴのトラッキングを行いつつエラー検査を行う
サーティファイアが実現できたとしても、ヘッド送り、
トラッキングのためのセトリング時間などによって、従
来のサーティファイアと比較して検査時間は増加する。
そのため、ＰＥＲＭディスク１０１の検査時間を従来の
サーティファイアにおけると同等の検査時間に抑えるた
めには、その台数を増加させなければならない。

【００２４】したがって、この発明の目的は、新たな機
構を追加することなく、トラックパターンを有する磁気
ディスクのエラー検査における信頼性を向上させること
ができる磁気ディスクの検査装置および磁気ディスクの
検査方法を提供することにある。

【００２５】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、トラ
ックパターンを有する磁気ディスクのエラー検査を行う
ようにした磁気ディスクの検査装置において、エラー検
査を行う磁気ディスクを回転させる回転手段と、磁気デ
ィスクに対して検査用の信号を記録する記録ヘッドと、
磁気ディスクから検査用信号を読み出す再生ヘッドとを
備え、再生ヘッドのトラック幅がトラックパターンのト
ラックピッチとほぼ等しいことを特徴とするものであ
る。

【００２６】請求項５の発明は、トラックパターンを有
する磁気ディスクのエラー検査を行うようにした磁気デ
ィスクの検査方法において、再生ヘッドのトラック幅を
トラックパターンのトラックピッチとほぼ等しくし、再
生ヘッドにより読み取られた検査用信号に基づいて、エ
ラー検査を行うようにしたことを特徴とするものであ
る。

【００２７】上述のように構成されたこの発明による磁
気ディスクの検査装置および磁気ディスクの検査方法に
よれば、再生ヘッドのトラック幅を、磁気ディスクにお
けるトラックパターンのトラック幅とほぼ等しくしてい
ることにより、磁気ヘッドがトラックパターンからずれ
た場合であっても、磁気ヘッドのトラック幅のうちのず
れた幅の分が、そのまま隣接するトラックパターンに重
なるようになるので、再生に寄与する再生ヘッドのトラ
ック幅を常に一定に維持することができる。

【００２８】

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態によ
る磁気ディスクのサーティファイアについて説明する。
図１に、この一実施形態による磁気ディスクのサーティ
ファイアのブロック図を示す。

【００２９】図１に示すように、この一実施形態による
サーティファイアは、ＰＥＲＭディスク１のエラー検査
を行う検査装置であり、磁気ヘッド２、移動ステージ
３、記録アンプ４、再生アンプ５、ＴＡＡ生成回路６、
サーボゾーン同定回路７、タイミング生成回路８、レベ
ル比較回路９、ＣＰＵ１０、および出力部１１を有して
構成されている。

【００３０】ＰＥＲＭディスク１は、同心円状のトラッ
クパターン１ａと、隣接するトラックパターン１ａ間に
ガードバンドとを有する磁気ディスクであり、トラック
パターン１ａは所定のトラックピッチｐ₁に形成されて
いる。また、このＰＥＲＭディスク１は、中心のクラン
プエリア１ｂにおいて、スピンドルモータ１２にクラン
プされている。スピンドルモータ１２は、ＰＥＲＭディ
スク１を支持するとともに、回転させるためのものであ
る。

【００３１】磁気ヘッド２は、再生ヘッドおよび記録ヘ
ッドを有する。記録ヘッドは、ＰＥＲＭディスク１表面
のトラックパターン１ａへのデータ（検査用信号）の書
き込みを行うためのものである。また、再生ヘッドは、
トラックパターン１ａからのデータ（検査用信号）の読
み出しを行うためのものであり、そのトラック幅Ｔwh
は、ＰＥＲＭディスク１のトラックパターン１ａのトラ
ックピッチｐ₁とほぼ等しくなっている。すなわち、Ｔwh≒ｐ₁・・・（３）になるように形成されている。

【００３２】ところが、ＰＥＲＭディスク１のトラック
ピッチｐ₁と再生ヘッドのトラック幅Ｔwhとを正確に一
致させることは、機械的な精度の観点から容易ではな
い。この場合、ミッシングエラーの検出レベルにマージ
ンを与える必要がある。すなわち、ＴＡＡの５％のマー
ジンを検出レベルに与え、ミッシングエラーのスライス
レベルをＴＡＡの０．６５倍にすると仮定すると、再生
ヘッド２ａのトラック幅Ｔwhに対するマージンは、５％／０．６５＝７．７％となる。したがって、ＰＥＲＭディスク１におけるトラ
ックピッチｐ₁を２μｍとした場合、再生ヘッド２ａの
トラック幅に与えられるマージンは、２μｍ×０．０７７＝０．１５μｍとなり、再生ヘッド２ａにおいて、通常の精度の範囲内
の加工余裕をもたせることが可能となる。

【００３３】また、移動ステージ３は、磁気ヘッド２を
ＰＥＲＭディスク１の径方向に移動させ、トラックジャ
ンプを行うための駆動機構である。また、移動ステージ
３は、ＣＰＵ１０によって制御されており、磁気ヘッド
２をＰＥＲＭディスク１の径方向の任意の位置に移動可
能に構成されている。

【００３４】記録アンプ４は、検査を行うＰＥＲＭディ
スク１に記録する検査用信号を、増幅するとともに、磁
気ヘッド２の記録ヘッドに供給するためのものである。

【００３５】再生アンプ５は、磁気ヘッド２の再生ヘッ
ドによりＰＥＲＭディスク１上の所定のトラックパター
ンに記録された信号を再生するとともに、その信号の増
幅を行うためのものである。この再生アンプ５からの出
力信号がサーボゾーン同定回路７に供給されるととも
に、ＴＡＡ生成回路６およびレベル比較回路９に供給さ
れる。なお、再生アンプ５とレベル比較回路９との間に
遅延回路を設けることも可能である。

【００３６】ＴＡＡ生成回路６は、ＰＥＲＭディスク１
を１周回転させる間に再生ヘッドにより読み出された信
号の１周分の平均信号振幅（ＴＡＡ）を生成する回路で
ある。このＴＡＡ生成回路６において、ＴＡＡの値が所
定のスライスレベルに変換されレベル比較回路９に供給
される。ここで、スライスレベルはミッシングエラーの
検出を行う場合、ＴＡＡを基準として、このＴＡＡの何
％（例えば６５％）というように設定される。

【００３７】サーボゾーン同定回路７は、磁気ヘッド２
によって読み出された再生信号から、ＰＥＲＭディスク
１上に形成されているサーボゾーンを検出するための回
路である。このサーボゾーン同定回路７からの出力信号
はタイミング生成回路８に供給される。

【００３８】タイミング生成回路８は、サーボゾーン同
定回路７によって取り出されたサーボゾーン検出信号の
タイミングに基づいて、レベル比較回路９、記録アンプ
４および再生アンプ５に制御信号を供給してそれらの動
作を制御する。そして、サーボゾーンが検出された状態
では、タイミング生成回路８からの出力信号に基づいて
記録ヘッドから出力される電圧がホールドされるととも
に、再生ヘッドによる読み出しがオフにされる。また、
サーボゾーンが検出された状態では、タイミング生成回
路８からの制御信号はレベル比較回路９に供給され、そ
の動作がオフにされる。

【００３９】レベル比較回路９は、再生アンプ５から供
給される再生信号の振幅と、ＴＡＡ生成回路６から供給
されるスライスレベルとの比較を行う。そして、レベル
比較回路９における比較の結果、再生アンプから供給さ
れる再生信号の振幅が所定のスライスレベル未満である
か否かに応じた比較出力が発生する。このレベル比較回
路９の比較出力がＣＰＵ１０に供給される。

【００４０】ＣＰＵ１０は、レベル比較回路９からの比
較出力に基づいて、ＰＥＲＭディスク１上の部分に、エ
ラーが存在するか否かの判別を行う。また、ＣＰＵ１０
は、磁気ヘッド２のトラックアクセス動作を制御する。
ＣＰＵ１０からの磁気ヘッド２のトラックアクセス動作
を制御する制御信号が移動ステージ３に供給される。ま
た、このＣＰＵ１０によって得られたエラー検査の結果
が、出力部１１に供給される。

【００４１】出力部１１は、エラー検査の結果を例えば
ＣＲＴなどの表示部（図示せず）に表示したり、ハード
ディスクやフロッピーディスクなどの記録媒体に記録す
る。また、出力部１１には、プリンタやネットワーク回
線を接続可能としてもよい。

【００４２】次に、この一実施形態によるサーティファ
イアを用いてミッシングエラーについてのエラー検査を
行う場合の検査方法について説明する。

【００４３】すなわち、図１に示すように、ＰＥＲＭデ
ィスク１をクランプエリア１ｂの部分でスピンドルモー
タ１２に固定させる。次に、ＣＰＵ１０から移動ステー
ジ３に信号を供給することにより、磁気ヘッド２をＰＥ
ＲＭディスク１上の所定の位置まで移動させ、その位置
で静止させる。

【００４４】次に、検査用信号を、記録アンプ４を介し
て磁気ヘッド２に供給し、記録ヘッドを用いてデータト
ラックＤＴに書き込む。その直後、再生ヘッドを用い
て、書き込んだ検査用信号を読み出す。このとき、上述
したように、再生ヘッドはＰＥＲＭディスク１のデータ
トラックＤＴ上から外れたり、複数のデータトラックＤ
Ｔを横断したりする。この状態を図２に示す。

【００４５】図２に示すように、再生ヘッド２ａのトラ
ック幅ＴwhがＰＥＲＭディスク１のトラックピッチｐ₁
とほぼ等しい幅であることによって、偏心によって再生
ヘッド２ａがデータトラックＤＴから外れた場合であっ
ても、再生ヘッド２ａの反対側は、外れた量だけ隣接し
たデータトラックＤＴ´に重なる。これにより、再生ヘ
ッド２ａによる読み出しの際には、トラックパターンに
おける再生に寄与する幅は常にほぼ一定になる。

【００４６】そして、ＰＥＲＭディスク１を少なくとも
１回転させた段階において、ＴＡＡ生成回路６において
その再生信号のＴＡＡを計算し、例えばＴＡＡの６５％
程度にスライスレベルを設定する。このＴＡＡはエラー
検出の際の基準とする。

【００４７】その後、ＰＥＲＭディスク１を回転させつ
つ、再生ヘッド２ａにより信号を読み出し、基準となっ
たＴＡＡと、再生ヘッド２ａにより読み出された信号の
振幅電圧Ｖtmとをレベル比較回路９において比較する。
ここで、この再生ヘッド２ａにより読み出された信号波
形を図３に示す。

【００４８】図３に示すように、レベル比較回路の比較
出力が、再生ヘッド２ａにより読み出された信号の振幅
電圧Ｖtmがスライスレベル以上であることを示すときに
は、ＣＰＵ１０によりミッシングエラーが存在しないと
判断される。他方、この振幅電圧Ｖtmがスライスレベル
以下になった場合に、ＣＰＵ１０によりその部分にミッ
シングエラーが存在すると判断される。ミッシングエラ
ーが存在すると判断された場合には、エラーのビット数
をカウントする。

【００４９】ところで、ＰＥＲＭディスク１上のサーボ
ゾーンには、ヘッダパターン、アドレスコードパターン
あるいはファインパターンなどが不連続に設けられてい
る。そのため、サーボゾーン上に信号を書き込んでしま
うと、異常信号となって検出されるという問題が生じ
る。そこで、この一実施形態においては、サーボゾーン
同定回路７において、パターンマッチングの方法を用
い、本来データとして現れない特異なビットパターンの
サーボヘッダー信号を検出することによってサーボゾー
ンのマスクを行う。

【００５０】すなわち、サーボゾーン内に図４Ａに示す
ディスクパターンが存在した場合、再生ヘッド２ａによ
って読み出される信号の再生波形は図４Ｂに示すように
なる。そして、この図４Ｂに示す再生波形を、その振幅
最大の部分でパルス列とし、図４Ｃに示すようなパルス
信号に整形する。その後、このパルス信号のパターンを
あらかじめ設定されたパターンと比較し、一致するか否
かを判断する。再生ヘッド２ａにより読み出された再生
信号に基づくパルス信号のパターンと、あらかじめ設定
された再生信号のパターンとが一致した場合、図４Ｄに
示すようにパターン検出回路から検出信号が出力され
る。この検出信号はタイミング生成回路８を介して再生
アンプ５およびレベル比較回路９に供給される。検出信
号が供給されている間、再生アンプ５のレベルをホール
ドし、レベル比較回路９の動作をオフにする。これによ
って、サーボゾーンで発生する再生信号をエラー検査の
対象から除外する。

【００５１】ＰＥＲＭディスク１における１周のエラー
検査を終了した後、このＣＰＵ１０から移動ステージ３
に制御信号を供給し磁気ヘッド２をトラックジャンプさ
せる。その後、上述と同様にしてエラー検査を繰り返し
行い、エラーが生じた部分のビット数をカウントし、そ
のエラーの数およびビット長に基づいて、良品、不良品
の判定を行う。すなわち、エラーの数が許容範囲を超え
た段階で、そのＰＥＲＭディスク１を不良品と判断して
廃棄し、許容されるエラーの数に達しないＰＥＲＭディ
スク１を良品とする。

【００５２】以上、この発明の一実施形態について具体
的に説明したが、この発明は、上述の一実施形態に限定
されるものではなく、この発明の技術的思想に基づく各
種の変形が可能である。

【００５３】例えば上述の一実施形態においては、磁気
ディスクのサーティファイアによるエラー検査として、
ミッシングエラー検査を行う場合について説明したが、
このサーティファイアを、その他のエラー検査に用いて
もよく、例えば、読み出されたトラック中にビット単位
で振幅電圧が上昇するスパイクパルスエラーや、ビット
単位よりも大きい単位で信号が欠落したり過剰になるモ
ジュレーションエラーや、エキストラエラーなどのエラ
ー検査に用いることも可能である。このエキストラエラ
ーなどのエラー検査を行う場合には、スライスレベルを
ＴＡＡの３０％に設定し、このスライスレベルを超えた
場合に、エキストラエラーとしてエラー検出を行うよう
にしてもよい。また、上述のそれぞれのエラーを検出す
る検出回路をそれぞれ設けてエラー検出ユニットとし、
例えばミッシングエラー検査およびモジュレーションエ
ラー（ネガティブモジュレーションエラー、ポジティブ
モジュレーションエラー）検査を同時に行うようにする
ことも可能である。

【００５４】

【発明の効果】以上説明したように、この発明による磁
気ディスクの検査装置および検査方法によれば、磁気ヘ
ッドのトラック幅が磁気ディスクのトラックパターンの
トラックピッチとほぼ等しい幅であることにより、磁気
ヘッドが磁気ディスクのトラックパターンからずれた場
合にも、磁気ヘッドは、このずれた分だけ隣接するトラ
ックパターンに重なるので、トラックパターンと磁気ヘ
ッドとは、常に、一定のほぼトラックパターンの幅程度
の重なりを持つ。したがって、新しい機構を用いること
なく、トラックパターンを有する磁気ディスクのエラー
検査を行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施形態によるサーティファイア
を示すブロック図である。

【図２】この発明の一実施形態によるトラックパターン
と再生ヘッドとの関係を示す略線図である。

【図３】この発明の一実施形態によるサーティファイア
の再生ヘッドにより読み出された信号のエンベロープ波
形を示す略線図である。

【図４】この発明の一実施形態によるサーボゾーンの検
出方法を説明するための略線図である。

【図５】ＰＥＲＭディスクおよびサーボゾーンを示す平
面図である。

【図６】ＰＥＲＭディスクの構造を示す斜視断面図であ
る。

【図７】ミッシングエラーおよびエキストラエラーの定
義を説明するための略線図である。

【図８】偏心量の定義を説明するための略線図である。

【図９】従来のサーティファイアの再生ヘッドにより読
み出された信号のエンベロープ波形を示す略線図であ
る。

【符号の説明】

１・・・ＰＥＲＭディスク、１ａ・・・トラックパター
ン、１ｂ・・・クランプエリア、２・・・磁気ヘッド、
２ａ・・・再生ヘッド、３・・・移動ステージ、４・・
・記録アンプ、５・・・再生アンプ、６・・・ＴＡＡ生
成回路、７・・・サーボゾーン同定回路、８・・・タイ
ミング生成回路、９・・・レベル比較回路、１０・・・
ＣＰＵ、１２・・・スピンドルモータ、ＤＴ・・・デー
タトラック

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】トラックパターンを有する磁気ディスク
のエラー検査を行うようにした磁気ディスクの検査装置
において、エラー検査を行う磁気ディスクを回転させる回転手段
と、上記磁気ディスクに対して検査用の信号を記録する記録
ヘッドと、上記磁気ディスクから検査用信号を読み出す再生ヘッド
とを備え、上記再生ヘッドのトラック幅がトラックパターンのトラ
ックピッチとほぼ等しいことを特徴とする磁気ディスク
の検査装置。
【請求項２】請求項１において、上記再生ヘッドを静止させて、上記エラー検査を行うよ
うに構成されていることを特徴とする磁気ディスクの検
査装置。
【請求項３】請求項１において、上記磁気ディスク上のサーボゾーンを検出するサーボゾ
ーン検出手段を有し、検出された上記サーボゾーンにお
いて読み出された信号に対して、マスクを行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査装置。
【請求項４】請求項１において、上記磁気ディスクの基板材料がプラスチックであること
を特徴とする磁気ディスクの検査装置。
【請求項５】トラックパターンを有する磁気ディスク
のエラー検査を行うようにした磁気ディスクの検査方法
において、再生ヘッドのトラック幅をトラックパターンのトラック
ピッチとほぼ等しくし、上記再生ヘッドにより読み取ら
れた検査用信号に基づいて、エラー検査を行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査方法。
【請求項６】請求項５において、上記再生ヘッドを静止させてエラー検査を行うようにし
たことを特徴とする磁気ディスクの検査方法。