JPH10256221A - 半導体256mdram用スピンドライヤー - Google Patents
半導体256mdram用スピンドライヤーInfo
- Publication number
- JPH10256221A JPH10256221A JP30546096A JP30546096A JPH10256221A JP H10256221 A JPH10256221 A JP H10256221A JP 30546096 A JP30546096 A JP 30546096A JP 30546096 A JP30546096 A JP 30546096A JP H10256221 A JPH10256221 A JP H10256221A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- watermark
- wafers
- spin drier
- water
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 256MDRAM用乾燥において、ウォ
ーターマークを100%除去及び、残留カーボンゼロ 【解決手段】 乾燥直前のファイナル洗浄において、
オゾン水を活用し、乾燥工程で超クリーンN2ガス雰囲
気の中でIPA水又は、IPAベーパの化学作用で解決
する。
ーターマークを100%除去及び、残留カーボンゼロ 【解決手段】 乾燥直前のファイナル洗浄において、
オゾン水を活用し、乾燥工程で超クリーンN2ガス雰囲
気の中でIPA水又は、IPAベーパの化学作用で解決
する。
Description
【0001】[発明の属する技術分野]本発明は、25
6MDRAMラインにおいて、デザインルール0.26
ミクロン及び、高アスペクト比において、ウォーターマ
ークを100%除去及び、残留カーボンが残らない装置
である。
6MDRAMラインにおいて、デザインルール0.26
ミクロン及び、高アスペクト比において、ウォーターマ
ークを100%除去及び、残留カーボンが残らない装置
である。
【0002】[従来の技術]クリーンルームのエアーを
吸い込んでローターを回転したり、また、IPAベーパ
乾燥機において、IPAベーパが水と置換する化学作用
を利用して乾燥していた。
吸い込んでローターを回転したり、また、IPAベーパ
乾燥機において、IPAベーパが水と置換する化学作用
を利用して乾燥していた。
【0003】[発明が解決しようとする課題]シリコン
ウエハ面において、ウォーターマークを100%除去及
び、残留カーボンをゼロにする。
ウエハ面において、ウォーターマークを100%除去及
び、残留カーボンをゼロにする。
【0004】[課題を解決するための手段]本発明は、
空気に触れさせずにN2ガス雰囲気の中でIPA水又
は、IPAベーパをウエハ両面に吹き付ける事によっ
て、ウエハ表面のウォーターマークを100%除去する
と同時に、乾燥前のオゾン水(75℃)の化学力で残留
カーボンを除去する。
空気に触れさせずにN2ガス雰囲気の中でIPA水又
は、IPAベーパをウエハ両面に吹き付ける事によっ
て、ウエハ表面のウォーターマークを100%除去する
と同時に、乾燥前のオゾン水(75℃)の化学力で残留
カーボンを除去する。
【0005】[発明の実施の形態]半導体、デバイスメ
ーカーにおいて、256MDRAMラインにおいて、ウ
エハ13枚プラスウエハ13枚、2カセットレス式自動
洗浄装置で実施する。
ーカーにおいて、256MDRAMラインにおいて、ウ
エハ13枚プラスウエハ13枚、2カセットレス式自動
洗浄装置で実施する。
【0006】[実施例]スピンドライヤーのグローブ内
部に超クリーンなN2ガスを充満してN2ガス雰囲気内
でウエハ両面に対して、IPA水をジェットスプレー式
に吹き付けたり、または、IPAベーパを吹き付ける。
部に超クリーンなN2ガスを充満してN2ガス雰囲気内
でウエハ両面に対して、IPA水をジェットスプレー式
に吹き付けたり、または、IPAベーパを吹き付ける。
【0007】[発明の効果]ウォーターマークを100
%除去すると同時に、残留カーボンが残らないため、ウ
エハの歩留アップに対して、良い効果をもたらす。
%除去すると同時に、残留カーボンが残らないため、ウ
エハの歩留アップに対して、良い効果をもたらす。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年3月30日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図面の簡単な説明
【補正方法】変更
【補正内容】
【図面の簡単な説明】
【図1】ウエハ収納治具ツーカセット完了後超クリ
ーンN2ガスがチャンバー内に約1秒間で充満しま
す。超クリーンN2ガス雰囲気の中でモータが作動し
てロータ軸を通してロータが低速回転します。回転
速度は250 R/M〜300 R/Mです。回転時間
は30秒位です。完了後、ウエハ収納治具90度回転
機構が作動します.当然▲10▼ウエハは垂直になりま
す。超クリーンN2ガスの雰囲気の中でIPAベーパを
ウエハ両面に目がけてブローします.約4分位です.完
了後これで乾燥終了です.ウエハ収納治具がスピンドラ
イヤーのチャンバー内に入っている時、内部は超クリ
ーンN2ガス雰囲気の中にあります。
ーンN2ガスがチャンバー内に約1秒間で充満しま
す。超クリーンN2ガス雰囲気の中でモータが作動し
てロータ軸を通してロータが低速回転します。回転
速度は250 R/M〜300 R/Mです。回転時間
は30秒位です。完了後、ウエハ収納治具90度回転
機構が作動します.当然▲10▼ウエハは垂直になりま
す。超クリーンN2ガスの雰囲気の中でIPAベーパを
ウエハ両面に目がけてブローします.約4分位です.完
了後これで乾燥終了です.ウエハ収納治具がスピンドラ
イヤーのチャンバー内に入っている時、内部は超クリ
ーンN2ガス雰囲気の中にあります。
【符号の説明】 超クリーンN2ガス IPAベーパ83℃位 モータ ロータ軸 排気及び排水機構 ウエハ収納治具 ウエハ収納治具90度回転機構 ロータ チャンバー ▲10▼ウエハ
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
Claims (1)
- 【請求項1】 オゾン超純水(75℃)で洗浄した後、
ウォーターマークを除去する為、N2ガス雰囲気の中で
IPA水(イソプロピルアルコール40%位、超純水6
0%位)をジェットスプレー式にウエハ両面に吹き付け
る。又は、IPAベーパをウエハ両面に吹き付けなが
ら、スピンドライヤーのローターが回転して100%ウ
ォーターマークを除去すると同時に、残留カーボンを除
去する。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30546096A JPH10256221A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | 半導体256mdram用スピンドライヤー |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30546096A JPH10256221A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | 半導体256mdram用スピンドライヤー |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10256221A true JPH10256221A (ja) | 1998-09-25 |
Family
ID=17945420
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30546096A Pending JPH10256221A (ja) | 1996-10-11 | 1996-10-11 | 半導体256mdram用スピンドライヤー |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10256221A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003511849A (ja) * | 1999-10-06 | 2003-03-25 | セミトゥール・インコーポレイテッド | 蒸気援助回転乾燥方法および装置 |
KR100436900B1 (ko) * | 2001-10-29 | 2004-06-23 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 세정 장치 |
US7364625B2 (en) | 2000-05-30 | 2008-04-29 | Fsi International, Inc. | Rinsing processes and equipment |
US8070884B2 (en) | 2005-04-01 | 2011-12-06 | Fsi International, Inc. | Methods for rinsing microelectronic substrates utilizing cool rinse fluid within a gas enviroment including a drying enhancement substance |
-
1996
- 1996-10-11 JP JP30546096A patent/JPH10256221A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003511849A (ja) * | 1999-10-06 | 2003-03-25 | セミトゥール・インコーポレイテッド | 蒸気援助回転乾燥方法および装置 |
US7364625B2 (en) | 2000-05-30 | 2008-04-29 | Fsi International, Inc. | Rinsing processes and equipment |
KR100436900B1 (ko) * | 2001-10-29 | 2004-06-23 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 세정 장치 |
US8070884B2 (en) | 2005-04-01 | 2011-12-06 | Fsi International, Inc. | Methods for rinsing microelectronic substrates utilizing cool rinse fluid within a gas enviroment including a drying enhancement substance |
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