JPH10256208A - Substrate treatment device and substrate treatment method - Google Patents

Substrate treatment device and substrate treatment method

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Publication number
JPH10256208A
JPH10256208A JP6311097A JP6311097A JPH10256208A JP H10256208 A JPH10256208 A JP H10256208A JP 6311097 A JP6311097 A JP 6311097A JP 6311097 A JP6311097 A JP 6311097A JP H10256208 A JPH10256208 A JP H10256208A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
processing unit
processing
unit
supporting
Prior art date
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Pending
Application number
JP6311097A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiji Okuno
英治 奥野
Kazuo Kise
一夫 木瀬
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd filed Critical Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority to JP6311097A priority Critical patent/JPH10256208A/en
Publication of JPH10256208A publication Critical patent/JPH10256208A/en
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a standing type substrate treatment device which can shorten a treatment time. SOLUTION: When this device performs a predetermined treatment a substrate 9 in standing state at a treatment part 2 during transportation to the upper, the substrate 9 is located at a transport starting position under the treatment part 2 and is transported to the upper by being held by a first holding part 31. After the substrate 9 passes through the inside of the treatment part 2, the upper part of the substrate 9 is held by a second holding part 32 to transport to the upper. When the second holding part 32 holds the substrate 9, holding of the substrate 9 by the first holding part 21 finished, the first holding part 31 returns immediately to the lower transport starting position and is capable of accepting a next substrate.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、液晶ディスプレ
イやプラズマディスプレイなどの製造に用いるガラス基
板、半導体デバイス製造に用いる半導体基板など(以
下、「基板」と総称する。)に洗浄、塗布、現像などの
様々な処理を施す際に用いられる基板処理装置および基
板処理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to cleaning, coating, and development of a glass substrate used for manufacturing a liquid crystal display, a plasma display, and the like, a semiconductor substrate used for manufacturing a semiconductor device (hereinafter, collectively referred to as "substrate"). The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method used when performing the various processes described above.

【0002】[0002]

【従来の技術】基板に所定の処理を施す基板処理装置で
は、従来より基板の主面の法線がほぼ鉛直方向を向く姿
勢(以下、「水平姿勢」という。)に基板を保持して取
り扱ってきた。これは基板を水平姿勢に取り扱うことに
より基板の支持や搬送を容易に行うことができるからで
ある。
2. Description of the Related Art In a substrate processing apparatus for performing a predetermined process on a substrate, conventionally, the substrate is held and handled in a posture in which a normal line of a main surface of the substrate is substantially vertical (hereinafter, referred to as a "horizontal posture"). Have been. This is because the substrate can be easily supported and transported by handling the substrate in a horizontal position.

【0003】しかし、近年の需要傾向などにより基板が
大型化するにつれ、基板を水平姿勢にて取り扱うことが
逆に問題となりつつある。例えば、大きな基板を取り扱
う場合、基板を水平姿勢にて撓むことなく支持すること
が困難となるという、小さな基板を取り扱う場合には生
じなかった新たな問題が生じている。また、大きな基板
を水平姿勢にて取り扱うと装置自体も水平方向に大きく
なり、装置が占める床面積も増大してしまい、合理的な
装置の維持管理や作業が困難となってしまう。
However, as the size of the substrate increases due to recent demand trends and the like, handling the substrate in a horizontal position is becoming a problem. For example, when handling a large substrate, it is difficult to support the substrate in a horizontal posture without bending. This poses a new problem not encountered when handling a small substrate. Further, when a large substrate is handled in a horizontal posture, the apparatus itself becomes large in the horizontal direction, and the floor area occupied by the apparatus increases, which makes it difficult to maintain and manage the apparatus rationally.

【0004】そこで、基板を縦姿勢で取り扱うことが試
みられており、その中でも特に基板の主面の法線が水平
方向を向く姿勢(以下、「鉛直姿勢」という。)にて基
板を取り扱う基板処理装置の開発が進められている。
Therefore, attempts have been made to handle the substrate in a vertical position, and in particular, the substrate is processed in a position in which the normal to the main surface of the substrate is oriented in the horizontal direction (hereinafter referred to as "vertical position"). Processing equipment is being developed.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】基板を鉛直姿勢または
多少の傾斜を持った縦姿勢にて取り扱う場合、もちろ
ん、基板を水平姿勢にて取り扱う場合には生じなかった
様々な課題が生じる。
When the substrate is handled in a vertical position or a vertical position with a slight inclination, of course, various problems occur when the substrate is handled in a horizontal position.

【0006】これらの課題の一つとして、基板を装置に
投入する際に時間を要してしまうということがある。こ
れは、従来のように基板を水平姿勢にて搬送するのであ
れば、搬送手段である複数のローラ上に基板を載置する
のみで基板の装置への投入の準備は完了するが、鉛直姿
勢の基板を保持するとこのようなローラを用いた簡易な
投入が不可能となるからである。すなわち、鉛直姿勢で
は基板を倒れないように拘束する必要があり、搬送手段
がチャックなどのような保持手段を備えるものとなるこ
とから、この保持手段が搬送を開始する位置に戻るまで
は次の基板の投入動作を開始することができず、迅速な
基板投入が不可能となるのである。その結果、装置全体
の動作において単位時間当たりに処理できる基板数量が
少なくなってしまうという課題が生じることとなる。
One of these problems is that it takes a long time to put a substrate into an apparatus. This means that if the substrate is transported in a horizontal position as in the conventional case, the substrate is ready to be loaded into the apparatus only by placing the substrate on a plurality of rollers as the transport means, This is because if the substrate is held, simple loading using such a roller becomes impossible. That is, it is necessary to restrain the substrate in the vertical posture so as not to fall down, and since the transporting means includes a holding means such as a chuck, the following means until the holding means returns to the position where the transport is started. The substrate loading operation cannot be started, and rapid substrate loading becomes impossible. As a result, there arises a problem that the number of substrates that can be processed per unit time in the operation of the entire apparatus decreases.

【0007】そこで、この発明は、上記課題に鑑みなさ
れたもので、基板を取り扱う基板処理装置および基板処
理方法であって、容易かつ迅速に基板を取り扱うことが
でき、単位時間当たりに処理できる基板数量の増大を図
ることができる基板処理装置および基板処理方法を提供
することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and is directed to a substrate processing apparatus and a substrate processing method for handling a substrate, wherein the substrate can be easily and quickly handled and can be processed per unit time. It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method capable of increasing the quantity.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、基板
を所定方向に搬送して処理部を通過させ、処理部によっ
て所定の処理を施す基板処理装置において、基板が通過
する通過路を有し、通過路を通過する基板に対して所定
の処理を施す処理部と、該処理部外の基板受取位置にて
基板を受け取って支持し、当該基板を処理部へ搬入する
第1搬送手段と、該第1搬送手段が支持して処理部へ搬
入した基板を受け取って、当該基板を処理部外へ搬出す
る第2搬送手段と、前記第2搬送手段による前記第1搬
送手段からの基板の受け取りに応じて前記第1搬送手段
を前記基板受取位置へ移動させる駆動手段とを備える。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for transporting a substrate in a predetermined direction, passing the substrate through a processing unit, and performing predetermined processing by the processing unit. A processing unit for performing a predetermined process on a substrate passing through a passageway, and a first transport unit for receiving and supporting the substrate at a substrate receiving position outside the processing unit, and loading the substrate into the processing unit And a second transport unit for receiving the substrate supported by the first transport unit and carried into the processing unit, and transporting the substrate out of the processing unit; and a substrate from the first transport unit by the second transport unit. Drive means for moving the first transport means to the substrate receiving position in response to the receipt of the first transfer means.

【0009】請求項2の発明は、基板を所定方向に搬送
して処理部を通過させ、処理部によって所定の処理を施
す基板処理装置において、基板が通過する通過路を有
し、通過路を通過する基板に対して所定の処理を施す処
理部と、該処理部外の基板受取位置にて基板を受け取っ
て支持する第1支持手段と、該第1支持手段が支持して
処理部へ搬入した基板を受け取って支持する第2支持手
段と、前記第1支持手段を前記所定方向へ付勢する付勢
手段と、前記付勢手段により付勢された前記第1支持手
段の前記所定方向への移動を規制しつつ前記第1支持手
段と前記第2支持手段とを前記所定方向へ移動させる移
動規制手段と、前記付勢手段の付勢力に逆らって前記第
1支持手段を前記基板受取位置へ移動させる駆動手段と
を備える。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for transporting a substrate in a predetermined direction, passing the substrate through a processing unit, and performing predetermined processing by the processing unit, the substrate processing apparatus having a passage through which the substrate passes. A processing unit for performing a predetermined process on the substrate passing therethrough, a first support unit for receiving and supporting the substrate at a substrate receiving position outside the processing unit, and a first support unit for supporting the substrate and loading the substrate A second support unit for receiving and supporting the substrate, a biasing unit for biasing the first support unit in the predetermined direction, and a biasing unit for biasing the first support unit in the predetermined direction. Movement restricting means for moving the first support means and the second support means in the predetermined direction while restricting the movement of the first support means and the substrate receiving position against the urging force of the urging means. And driving means for moving to

【0010】請求項3の発明は、基板を縦姿勢に支持し
て上下方向に搬送して処理部を通過させ、処理部によっ
て所定の処理を施す基板処理装置において、基板が通過
する通過路を有し、通過路を通過する基板に対して所定
の処理を施す処理部と、該処理部より下方の基板受取位
置にて基板を受け取って支持する第1支持手段と、該第
1支持手段が支持して処理部へ搬入した基板を受け取っ
て支持する第2支持手段と、前記第1支持手段を上方へ
付勢する付勢手段と、前記付勢手段により付勢された前
記第1支持手段の前記上下方向への移動を規制しつつ前
記第1支持手段と前記第2支持手段とを前記上下方向へ
移動させる移動規制手段と、前記付勢手段の付勢力に逆
らって前記第1支持手段を前記基板受取位置へ移動させ
る駆動手段とを備える。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for supporting a substrate in a vertical position, transporting the substrate in a vertical direction, passing the substrate through a processing unit, and performing predetermined processing by the processing unit. A processing unit for performing predetermined processing on the substrate passing through the passage, a first support unit for receiving and supporting the substrate at a substrate receiving position below the processing unit, and a first support unit. Second supporting means for receiving and supporting the substrate which is supported and carried into the processing section, urging means for urging the first supporting means upward, and first supporting means urged by the urging means Movement restricting means for moving the first support means and the second support means in the vertical direction while restricting the movement in the vertical direction, and the first support means against the urging force of the urging means. Driving means for moving the substrate to the substrate receiving position. That.

【0011】請求項4の発明は、請求項2または請求項
3記載の基板処理装置において、前記移動規制手段が、
前記第1支持手段と前記第2支持手段との間隔を一定に
保つ間隔調整部材を含む。
According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of the second or third aspect, the movement restricting means comprises:
An interval adjusting member for maintaining an interval between the first support means and the second support means constant.

【0012】請求項5の発明は、請求項2ないし請求項
4のいずれかに記載の基板処理装置において、前記移動
規制手段が、前記第1支持手段と前記第2支持手段の等
しい速度での移動を実現する等速移動機構を含む。
According to a fifth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to any one of the second to fourth aspects, the movement restricting means is configured to move the first support means and the second support means at the same speed. Includes a constant-velocity moving mechanism that realizes movement.

【0013】請求項6の発明は、基板を所定方向に搬送
して処理部を通過させ、処理部によって所定の処理を施
す基板処理方法において、第1支持手段により処理部外
の基板受取位置にて基板を受け取って支持し、当該基板
を処理部へ搬入する工程と、第1支持手段が支持して処
理部へ搬入した基板を第2支持手段により支持する工程
と、第2支持手段による基板の支持に応じて第1支持手
段による基板の支持を解除する工程と、第2支持手段に
より基板を支持して処理部外へ搬出するとともに前記第
1支持手段を前記基板受取位置へ移動させる工程とを有
する。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a substrate processing method for transporting a substrate in a predetermined direction, passing the substrate through a processing section, and performing predetermined processing by the processing section, wherein the first support means moves the substrate to a substrate receiving position outside the processing section. Receiving and supporting the substrate by carrying the substrate into the processing unit, supporting the substrate supported by the first support unit and carried into the processing unit by the second support unit, and supporting the substrate by the second support unit. Releasing the support of the substrate by the first support means in accordance with the support of the step, and supporting the substrate by the second support means, carrying the substrate out of the processing unit, and moving the first support means to the substrate receiving position. And

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

<1.全体の構成および動作の概要>図1はこの発明に
係る一の実施の形態である基板処理装置1の一部を省略
して示す斜視図であり、図2は装置1の動作を示す側方
断面図であり、図1のY−Z面に平行な平面を用いて装
置中央における断面を示したものである。
<1. Overview of Overall Configuration and Operation> FIG. 1 is a perspective view showing a part of a substrate processing apparatus 1 according to an embodiment of the present invention, with a part thereof being omitted. FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing a cross section at the center of the device using a plane parallel to the YZ plane in FIG. 1.

【0015】この基板処理装置1は基板9をその処理面
の法線が水平方向を向くような、すなわちその処理面が
鉛直線を含む平面となるような姿勢(以下、単に「鉛直
姿勢」といい、ここではそのときの処理面をX−Z面と
定義し、X−Z面内の水平方向をX方向、鉛直方向をZ
方向、X−Z面に垂直な方向をY方向とする)に保持し
つつ鉛直上下方向(Z方向)に下から上へ搬送し、基板
9に洗浄処理を施す装置であり、大きく分けて基板9に
所定の洗浄処理を行う処理部2、基板9を処理部2を通
過するように搬送する搬送部3、および、搬送される基
板9をセットする投入部4から構成される。また、処理
部2の下方には、容器511が設けられる。
The substrate processing apparatus 1 places the substrate 9 in such a posture that the normal line of the processing surface is horizontal, that is, the processing surface is a plane including a vertical line (hereinafter, simply referred to as “vertical posture”). No, here, the processing surface at that time is defined as the XZ plane, the horizontal direction in the XZ plane is the X direction, and the vertical direction is the Z direction.
Direction, a direction perpendicular to the X-Z plane is defined as a Y-direction), and is transported vertically downward (Z-direction) from the bottom to the top to perform a cleaning process on the substrate 9. The processing unit 2 includes a processing unit 2 that performs a predetermined cleaning process, a transport unit 3 that transports the substrate 9 so as to pass through the processing unit 2, and a loading unit 4 that sets the substrate 9 to be transported. Further, a container 511 is provided below the processing unit 2.

【0016】投入部4においては、まず図2(a)に示す
ように、基板9は図示しない搬送装置により矢印Thr1
の方向に投入される(2点鎖線A)。次いで、矢印Rot
1の方向に回転される(2点鎖線B)。そして、基板9
は容器511に矢印Thr2に沿って投入されて2点鎖線
Cにて示す位置に到達する。その後、矢印Rot2に示す
ように回転移動されて実線にて示す基板9の位置(「搬
送開始位置」と称す)に配置されて搬送3へ引き渡され
る。
In the loading section 4, first, as shown in FIG.
(Two-dot chain line A). Then the arrow Rot
1 (two-dot chain line B). And the substrate 9
Is thrown into the container 511 along the arrow Thr2 and reaches the position indicated by the two-dot chain line C. After that, the substrate 9 is rotated and moved as shown by an arrow Rot2, placed at a position of the substrate 9 indicated by a solid line (referred to as a “transfer start position”), and delivered to the transfer 3.

【0017】基板9を搬送する搬送部3は図2に示すよ
うに、基板9を保持する第1保持部31および第2保持
部32を有する。
As shown in FIG. 2, the transfer section 3 for transferring the substrate 9 has a first holding section 31 and a second holding section 32 for holding the substrate 9.

【0018】まず、投入部4により搬送開始位置に配置
された基板9は、第1保持部31により受け取られ、図
2(b)に示すように下から押し上げられ、上方の処理部
2の内部へと搬入される。そして、基板9の上端が処理
部2を通過した時点で第2保持部32が基板9の上部を
吸着してさらに上方へ基板9を引き上げて搬出する(図
2(c)、(d)参照)。すなわち、搬送部3は第1および第
2保持部31、32を用いて基板9を処理部2の内部を
通過するように下方から上方へと搬送する。このとき、
処理部2は通過する基板9に対して洗浄処理を施す。
First, the substrate 9 placed at the transfer start position by the input unit 4 is received by the first holding unit 31 and is pushed up from below as shown in FIG. It is carried to. Then, when the upper end of the substrate 9 passes through the processing unit 2, the second holding unit 32 adsorbs the upper part of the substrate 9, lifts the substrate 9 further upward, and carries it out (see FIGS. 2C and 2D). ). That is, the transport unit 3 transports the substrate 9 from below to above using the first and second holding units 31 and 32 so as to pass through the inside of the processing unit 2. At this time,
The processing unit 2 performs a cleaning process on the passing substrate 9.

【0019】処理部2は基板9が通過する通過路2aを
有し、図示は省略しているが、下方から上方への搬送中
の基板の処理面の両側にそれぞれ沿うように一対ずつ配
置されたブラシ、純水噴射ノズル、超音波洗浄ノズル、
エアナイフなどの洗浄ツールと、基板9を案内するロー
ラ(後述する)とを内蔵しており、基板9が下方から上
方へ向けて処理部2内部を搬送される間に、基板9の両
面に対してブラシ洗浄、純水噴射洗浄、超音波洗浄、お
よび、乾燥処理を施すようになっている。なお、ここで
洗浄用のブラシは、処理部2を下から上へ通過する基板
9の表面を下から上へこするように回転するロールブラ
シである。また、処理部2で使われた洗浄液は、下方の
容器511にて受けられ回収される。
The processing section 2 has a passage 2a through which the substrate 9 passes. Although not shown, a pair of processing sections 2 are arranged along both sides of the processing surface of the substrate being transported from below to above. Brush, pure water injection nozzle, ultrasonic cleaning nozzle,
A cleaning tool such as an air knife and a roller (described later) for guiding the substrate 9 are built in. While the substrate 9 is transported inside the processing unit 2 from below to above, the both sides of the substrate 9 are Brush cleaning, pure water spray cleaning, ultrasonic cleaning, and drying are performed. Here, the cleaning brush is a roll brush that rotates so as to rub the surface of the substrate 9 that passes through the processing unit 2 from below to above. Further, the cleaning liquid used in the processing unit 2 is received and collected in the lower container 511.

【0020】<2.投入部4の構成>投入部4は、この
基板処理装置1で処理しようとする基板9の最初に鉛直
姿勢で受け入れて傾斜姿勢に変換する受入部43(図3
に図示し、図1では図示省略)と、受入部43で受け入
れた基板9を傾斜姿勢のままで受け取って鉛直姿勢に変
換して搬送系3へ引き渡す引渡部42とからなる。
<2. Configuration of Input Unit 4> The input unit 4 receives the substrate 9 to be processed by the substrate processing apparatus 1 in the first vertical position and converts the substrate 9 into the inclined position (FIG. 3).
1 and not shown in FIG. 1), and a transfer unit 42 which receives the substrate 9 received by the receiving unit 43 in an inclined posture, converts the substrate 9 into a vertical posture, and transfers it to the transport system 3.

【0021】受入部43について図1及び図3を参照し
て説明する。容器511は上広がりとなるようにY方向
側の側面511aが斜めに形成されており、その容器5
11の上端開口部の側面511a側端部にはX軸方向に
平行に軸J3が回転自在に取り付けられている。軸J3
には、基板9を案内するフレーム431が固定されてい
る。フレーム431は、基板9の外形よりやや大きい略
コ字状の枠部431aと、同じく略コ字状の基板431
bとよりなり、両者が垂直をなすようそれぞれの両端同
士が接合されて構成され、かつその接合部分が軸J3に
取り付けられている。枠部431aの相対向する2辺に
は、それぞれに沿って、基板9を案内する糸巻き型のロ
ーラ432が取り付けられている。また、基部431b
にはシリンダ434が取り付けられ、そのロッド434
aは枠部341aに沿った方向に伸縮するようになって
いる。ロッド434aの端部には、先端がL字状に折曲
されて基板9を支持可能な支持部433aとされたプレ
ート433が取り付けられ、シリンダ434により枠部
431aに沿った方向へ移動可能とされている。さら
に、容器511の外側には、軸J3を回転駆動するモー
タ435が取り付けられ、このモータ435の駆動によ
りフレーム431全体が軸J3を中心として回動可能と
なっている。
The receiving section 43 will be described with reference to FIGS. The side surface 511a of the container 511 on the Y direction side is formed obliquely so as to spread upward.
A shaft J3 is rotatably attached to an end of the upper end opening of the eleventh side on the side surface 511a side in parallel with the X-axis direction. Axis J3
, A frame 431 for guiding the substrate 9 is fixed. The frame 431 includes a substantially U-shaped frame portion 431 a slightly larger than the outer shape of the substrate 9, and a substantially U-shaped substrate 431.
b, both ends of which are joined so that they are perpendicular to each other, and the joined portion is attached to the shaft J3. A thread-wound roller 432 for guiding the substrate 9 is attached to each of two opposing sides of the frame 431a. Also, the base 431b
A cylinder 434 is attached to the
a expands and contracts in a direction along the frame portion 341a. At the end of the rod 434a, a plate 433 whose end is bent into an L-shape to serve as a support portion 433a capable of supporting the substrate 9 is attached, and can be moved by the cylinder 434 in the direction along the frame portion 431a. Have been. Further, a motor 435 for rotating and driving the shaft J3 is attached to the outside of the container 511. By driving the motor 435, the entire frame 431 can be rotated around the shaft J3.

【0022】次に引渡部42について図1及び図4を参
照して説明する。容器511の底部にはX軸方向に平行
に軸J2(形状省略、一点鎖線にて図示)が回転自在に
取り付けられている。軸J2には、基板9を案内するガ
イド枠421が固定されている。ガイド枠421は、基
板9の外形よりやや大きい略ロ字状をなし、かつその一
辺が軸J2に取り付けられている。軸J2に隣接するガ
イド枠421の2辺には、それぞれに沿って、基板9を
案内する糸巻き型のローラ422が取り付けられてい
る。また、軸J2に取り付けられる一辺には、ローラ4
22の取付面側に張り出した支持端面424が形成さ
れ、さらにその一辺の中央部には凹部425が形成され
ている。この凹部425は、基板9の受渡時に、前述し
た受入部43のプレート433の支持部433aと、第
1保持部31の接触保持台316(後述)の逃げとして
働く。さらに、容器511の外側には、軸J2を回転駆
動するモータ423が取り付けられ、このモータ423
の駆動によりガイド枠421全体が軸J2を中心として
回動可能となっている。
Next, the delivery section 42 will be described with reference to FIGS. An axis J2 (shape omitted, shown by a dashed line) is rotatably attached to the bottom of the container 511 in parallel with the X-axis direction. A guide frame 421 for guiding the substrate 9 is fixed to the axis J2. The guide frame 421 has a substantially rectangular shape slightly larger than the outer shape of the substrate 9 and one side thereof is attached to the axis J2. On the two sides of the guide frame 421 adjacent to the axis J2, thread-wound rollers 422 for guiding the substrate 9 are attached along each of the two sides. In addition, a roller 4 is provided on one side attached to the shaft J2.
A support end surface 424 projecting toward the mounting surface side of 22 is formed, and a concave portion 425 is formed at the center of one side thereof. The concave portion 425 acts as a relief for the support portion 433 a of the plate 433 of the receiving portion 43 and the contact holding base 316 (described later) of the first holding portion 31 when the substrate 9 is delivered. Further, a motor 423 for rotating and driving the shaft J2 is attached to the outside of the container 511.
, The entire guide frame 421 is rotatable about the axis J2.

【0023】而して、フレーム431は、枠部431a
が略鉛直方向にある鉛直姿勢と、斜面511aと略平行
な方向にある傾斜姿勢との間で、またガイド枠421
は、ガイド枠421が略鉛直方向にある鉛直姿勢と、斜
面511aと略平行な方向にある傾斜姿勢との間で、そ
れぞれ対応するモータ435,423により駆動され
る。そして、両者が共に傾斜姿勢にあるとき、枠部43
1aのローラ432とガイド枠421のローラ422と
は略同一平面上に位置するように配置されている。
The frame 431 is provided with a frame 431a.
Between a vertical position in which the vertical direction is substantially vertical and an inclined position in a direction substantially parallel to the inclined surface 511a.
Are driven by the corresponding motors 435 and 423 between a vertical position in which the guide frame 421 is in a substantially vertical direction and an inclined position in a direction substantially parallel to the inclined surface 511a. When both are in the inclined posture, the frame 43
The roller 432 of 1a and the roller 422 of the guide frame 421 are disposed so as to be located on substantially the same plane.

【0024】<3.搬送部の構成および動作>次に、こ
の基板処理装置1の搬送部3の構成および動作について
図1,図2及び図5を参照して詳説する。
<3. Configuration and Operation of Transport Unit> Next, the configuration and operation of the transport unit 3 of the substrate processing apparatus 1 will be described in detail with reference to FIGS.

【0025】搬送部3は、駆動部30、第1保持部3
1、および、第2保持部32から構成されており、駆動
部30は第1および第2保持部31、32を移動させる
駆動源である直動アクチュエータ301及びシリンダ3
50、直動アクチュエータ301により直接上下方向に
移動される上下に伸びる棒状の間隔調整部材302、お
よび、第1および第2保持部31、32の移動範囲を制
限するストッパ304、305からなる。なお、図2に
おいて太実線で示される部材、すなわち処理部2、容器
511、ストッパ304,305、および直動アクチュ
エータ301は、装置のフレーム(図示せず)に固定状
態で取り付けられている。
The transport section 3 includes a driving section 30 and a first holding section 3
The drive unit 30 includes a linear actuator 301 and a cylinder 3 which are driving sources for moving the first and second holding units 31 and 32.
50, a vertically extending rod-shaped interval adjusting member 302 which is directly moved in the up-down direction by a linear motion actuator 301, and stoppers 304, 305 which limit the moving range of the first and second holding portions 31, 32. Note that the members indicated by thick solid lines in FIG. 2, that is, the processing unit 2, the container 511, the stoppers 304 and 305, and the linear actuator 301 are fixedly attached to a frame (not shown) of the apparatus.

【0026】第1保持部31は図5に示すように、間隔
調整部材302の下端に接して直動アクチュエータ30
1による間隔調整部材302の縦運動である上下運動を
伝達するプレート311、プレート311の左右両端に
接続された1対のベルト312、1対のベルト312の
それぞれがかけわたされるプーリ313とプーリ314
との組合せを有し、1対のベルト312のそれぞれには
プレート311の取り付け位置と対向する位置にそれぞ
れ重り315が取り付けられている。これにより、プレ
ート311には重り315の自重によりベルト312を
介して上方向に付勢する付勢力が加わり、プレート31
1が間隔調整部材302の下端に接するようになってい
る。なお、直動アクチュエータ301は、例えばボール
ネジとモータ等により間隔調整部材302を駆動するも
のであり、重り315による付勢力が上向きに加わった
としても、間隔調整部材302はその付勢力のみでは上
昇せず、直動アクチュエータ301が間隔調整部材30
2を上向きに駆動することではじめて間隔調整部材30
2のプレート311を使った上昇が実現される。また、
プレート311は図3(c)に示すように、ストッパ30
5により一定の高さ以上には上昇しないようになってい
る。また、重り315の下方には、その重り315を下
方の位置(図2に破線で示す)からそれよりも上方へ重
り315の重さに抗して持ち上げるシリンダ350が設
けられている。
As shown in FIG. 5, the first holding portion 31 contacts the lower end of the gap adjusting member 302 and
1, a pair of belts 312 connected to the left and right ends of the plate 311 and a pulley 313 and a pulley 314 around which the pair of belts 312 are respectively applied.
The weight 315 is attached to each of the pair of belts 312 at a position facing the attachment position of the plate 311. Accordingly, an urging force for urging the plate 311 in the upward direction via the belt 312 by the weight of the weight 315 is applied to the plate 311,
1 is in contact with the lower end of the gap adjusting member 302. The linear actuator 301 drives the gap adjusting member 302 by, for example, a ball screw and a motor. Even if the urging force by the weight 315 is applied upward, the gap adjusting member 302 is raised only by the urging force. The linear motion actuator 301 is
The distance adjusting member 30 is first driven by driving
Lifting using the second plate 311 is realized. Also,
The plate 311 is, as shown in FIG.
5 prevents it from rising above a certain height. Below the weight 315, there is provided a cylinder 350 that lifts the weight 315 upward from a lower position (shown by a broken line in FIG. 2) against the weight of the weight 315.

【0027】さらに、第1保持部31は図1に示すよう
に、基板9を下方より接触して保持する接触保持台31
6、接触保持台316の左右両端に接続された1対のベ
ルト317、1対のベルト317のそれぞれがかけわた
されるプーリ318とプーリ319の組合せを有し、1
対のプーリ319のそれぞれは1対のプーリ314の対
応するものに1対の軸J1(形状図示省略)を介して接
続されて連動して回転するようになっている。なお、1
対の軸J1は図1に示すように容器511を貫通してお
り、この貫通位置にて容器511内に受けられる洗浄液
が漏れないように1対の軸シール330が設けられてい
る。
Further, as shown in FIG. 1, the first holding part 31 is a contact holding base 31 for holding the substrate 9 in contact with the lower side.
6. A pair of belts 317 connected to the left and right ends of the contact holding base 316, and a combination of a pulley 318 and a pulley 319 around which each of the pair of belts 317 is wound.
Each of the pair of pulleys 319 is connected to a corresponding one of the pair of pulleys 314 via a pair of shafts J1 (shape not shown), and rotates in conjunction therewith. In addition, 1
The pair of shafts J1 penetrates the container 511 as shown in FIG. 1, and a pair of shaft seals 330 is provided so that the cleaning liquid received in the container 511 at this penetrating position does not leak.

【0028】以上のような第1保持部31の構成によ
り、プレート311が間隔調整部材302の下端に下方
から接している状態において、間隔調整部材302の上
下運動がプレート311とそれぞれが対をなすベルト3
12、プーリ314を介して1対の軸J1の回転運動と
なり、1対の軸J1の回転運動がそれぞれが対をなすプ
ーリ319、ベルト317を介して接触保持台316の
縦運動である上下運動に変換される。
With the configuration of the first holding portion 31 as described above, when the plate 311 is in contact with the lower end of the gap adjusting member 302 from below, the vertical movement of the gap adjusting member 302 is paired with the plate 311. Belt 3
12, a rotational movement of a pair of shafts J1 via a pulley 314, and a rotational movement of the pair of shafts J1 is a vertical movement of a contact holding table 316 via a pair of pulleys 319 and a belt 317, respectively. Is converted to

【0029】なお、この実施の形態では、全てのプーリ
の大きさは同じであり、かつ、プレート311と接触保
持台316とは両者の相対的位置関係が変わることなく
移動するようになっている。また、基板9が前述のガイ
ド枠422に支持されて図2(a)に示すように処理部2
の下方に鉛直姿勢で配置されたときに、接触保持台31
6はガイド枠422の凹部425に収まり、図4に示す
ように基板9を下から押し上げ可能となり、基板9が接
触保持台316に押し上げられることにより、基板9は
ローラ422にガイドされながら上昇するようになって
いる。なお、処理部2内部においても基板9をガイドす
るローラが設けられており、これにより、基板9は安定
して処理部2内部へと搬送されるようになっている。ま
た、直動アクチュエータ301の駆動により間隔調整部
材302が上昇した位置にあり、接触保持台316も上
昇した位置にあるときでも、シリンダ350を作動させ
て重り315を持ち上げることにより、間隔調整部材3
02の位置によらず、接触保持台316を下方の位置へ
引き下げることができる。
In this embodiment, all the pulleys have the same size, and the plate 311 and the contact holder 316 move without changing their relative positional relationship. . Further, the substrate 9 is supported by the above-described guide frame 422, and as shown in FIG.
When the contact holding table 31 is arranged in a vertical posture
6 fits into the concave portion 425 of the guide frame 422, and the substrate 9 can be pushed up from below as shown in FIG. 4, and the substrate 9 is pushed up by the contact holding base 316, so that the substrate 9 rises while being guided by the rollers 422. It has become. A roller for guiding the substrate 9 is also provided inside the processing unit 2, whereby the substrate 9 is stably transported into the processing unit 2. Further, even when the distance adjusting member 302 is at the raised position by driving the linear motion actuator 301 and the contact holding table 316 is also at the raised position, the distance adjusting member 3 is operated by operating the cylinder 350 to lift the weight 315.
Regardless of the position of 02, the contact holding base 316 can be lowered to a lower position.

【0030】第2保持部32は図5に示すように、図示
しないガイドによって案内されて矢印Pulに沿って上下
に移動可能な移動本体部321、基板9を吸着して保持
する吸着部材323が設けられた吸着部322、吸着部
322を移動本体部321と接続する軸324、移動本
体部321の移動の下限を規制するストッパ304およ
びカム機構326を有している。
As shown in FIG. 5, the second holding portion 32 includes a movable body portion 321 which is guided by a guide (not shown) and can move up and down along an arrow Pul, and a suction member 323 which sucks and holds the substrate 9. The suction unit 322 includes a shaft 324 that connects the suction unit 322 to the moving body 321, a stopper 304 that regulates a lower limit of the movement of the moving body 321, and a cam mechanism 326.

【0031】第2保持部32は図2(b)および(c)に示す
ように第1保持部31により処理部2の下方から上方へ
向けて搬送される基板9を受け取って、基板9を処理部
2の上方へ引き上げるものであるが、基板9を受け取る
際に吸着部322を基板9から退避した状態から接触す
る状態に移動させることにより、基板9を吸着部材32
3を用いて吸着保持するようになっている。
As shown in FIGS. 2B and 2C, the second holding section 32 receives the substrate 9 transported from below the processing section 2 by the first holding section 31 to the upper side, and transfers the substrate 9 to the second holding section 32. When the substrate 9 is received, the suction unit 322 is moved from a state in which the suction unit 322 is retracted from the substrate 9 to a state in which the suction unit 322 is brought into contact with the substrate 9.
3 is used to hold by suction.

【0032】この吸着保持動作は図5に示される装置本
体に固定されたカム機構326により実現されている。
なお、図1および図5ではカム機構326を模式的に直
方体にてその位置を示している。
This suction holding operation is realized by a cam mechanism 326 fixed to the apparatus main body shown in FIG.
1 and 5, the position of the cam mechanism 326 is schematically shown by a rectangular parallelepiped.

【0033】図6はこのカム機構326の構成の概略を
示すとともに、吸着部材323の移動の様子を示す図で
ある。この図において移動本体部321の内部は詳細な
形状を省略して示している。図6(a)は第2保持部32
がストッパ304に接して下限位置にある状態を示す図
であり、図6(b)は第2保持部32が間隔調整部材30
2により押し上げられるとともに吸着部材323が基板
9を吸着しようとしている状態を示す図である。
FIG. 6 is a view showing the outline of the configuration of the cam mechanism 326 and the state of movement of the suction member 323. In this figure, the inside of the moving main body 321 is not shown in detail. FIG. 6A shows the second holding unit 32.
FIG. 6B is a view showing a state in which the second holding unit 32 is in a lower limit position in contact with the stopper 304. FIG.
2 is a diagram showing a state in which the substrate 9 is pushed up by the suction member 2 and the suction member 323 is trying to suck the substrate 9.

【0034】カム機構326は装置本体に固定されたカ
ム板327およびローラ形状をしたカム従動子328か
ら構成されており、カム従動子328は軸324に接続
されている。図6(a)の状態では、移動本体部321の
内部に設けられた引張ばね325が軸324を介してカ
ム従動子328を基板9側へ引きつけており、これによ
りカム従動子328がカム板327から離れないように
なっている。ここで、図6(b)に示すように移動本体部
321が矢印F1の方向に上昇すると、カム従動子32
8はカム板327と接しながら矢印F2に示すように移
動する。これにより、軸324を介して吸着部材323
が移動本体部321に対して基板9側へ(矢印F3の方
向へ)移動し、基板9と接する。このとき、図示しない
吸着駆動手段により吸着部材323の先端からエアを吸
い込ませ、吸着部材323が基板9を吸着保持する。そ
の後、移動本体部321はさらに上昇してカム従動子3
28はカム板327から離れ、基板9は処理部2から上
方へ引き抜かれるように搬送される。なお、軸324に
はストッパ(図示省略)が設けられており、図6(b)に
示される位置よりも基板9側へ移動しないようになって
いる。したがって、基板9は大きな振動が与えられるこ
となく吸着され搬送されるようになっている。
The cam mechanism 326 includes a cam plate 327 fixed to the apparatus main body and a cam follower 328 having a roller shape. The cam follower 328 is connected to a shaft 324. In the state shown in FIG. 6A, the tension spring 325 provided inside the moving main body 321 attracts the cam follower 328 to the substrate 9 via the shaft 324, whereby the cam follower 328 327. Here, as shown in FIG. 6B, when the moving main body 321 rises in the direction of arrow F1, the cam follower 32
8 moves in contact with the cam plate 327 as shown by the arrow F2. As a result, the suction member 323 via the shaft 324
Moves toward the substrate 9 (in the direction of arrow F <b> 3) with respect to the moving main body 321, and comes into contact with the substrate 9. At this time, air is sucked from the tip of the suction member 323 by suction driving means (not shown), and the suction member 323 sucks and holds the substrate 9. Thereafter, the moving main body 321 further rises and the cam follower 3
28 is separated from the cam plate 327, and the substrate 9 is transported so as to be pulled upward from the processing unit 2. Note that a stopper (not shown) is provided on the shaft 324 so that it does not move to the substrate 9 side from the position shown in FIG. 6B. Therefore, the substrate 9 is sucked and conveyed without applying large vibration.

【0035】以上、搬送部3の構成および各構成要素の
動作について説明してきたが、次に、これらの構成要素
による第1保持部31から第2保持部32への基板9の
受渡動作について図2を参照しながら詳説する。
The configuration of the transport unit 3 and the operation of each component have been described above. Next, the transfer operation of the substrate 9 from the first holding unit 31 to the second holding unit 32 by these components will be described. This will be described in detail with reference to FIG.

【0036】図2(a)に示すように第1保持部31の接
触保持台316上に基板9が鉛直姿勢で配置されると、
直動アクチュエータ301によって間隔調整部材302
が上昇させられ、それに伴って重り315が下降してプ
レート311を付勢して上昇させ、プレート311と動
作をともにする接触保持台316が基板9を押し上げ
る。
As shown in FIG. 2A, when the substrate 9 is placed on the contact holder 316 of the first holder 31 in a vertical position,
Distance adjusting member 302 by linear motion actuator 301
Is raised, and the weight 315 is lowered to urge the plate 311 to move up, and the contact holding table 316 operating together with the plate 311 pushes up the substrate 9.

【0037】間隔調整部材302はやがて図2(b)に示
すようにその上端が第2保持部32の移動本体部321
に接触する。これにより、移動本体部321はストッパ
304から離れて上昇を開始する。また、前述のカム機
構326の作用により吸着部材323が基板9に向けて
移動し基板9を吸着する(図2(c))。このとき、移動
本体部321とプレート311との間隔は間隔調整部材
302の上端と下端との距離を保つので、プレート31
1とともに移動する接触保持台316は移動本体部32
1と相対的に一定の間隔,一定の位置関係を保ったま
ま、互いに等しい速度で移動する。したがって、第1保
持部31に押し上げられる基板9と第2保持部32の吸
着部材323との上下方向における相対的位置関係は変
化せず、吸着部材323は基板9に対して擦れることな
くなめらかに吸着することができる。
As shown in FIG. 2B, the gap adjusting member 302 has a movable body 321 of the second holding portion 32 at its upper end.
Contact As a result, the moving main body 321 starts moving upward away from the stopper 304. Further, the suction member 323 moves toward the substrate 9 by the operation of the cam mechanism 326 described above, and sucks the substrate 9 (FIG. 2C). At this time, since the distance between the moving main body 321 and the plate 311 keeps the distance between the upper end and the lower end of the distance adjusting member 302, the plate 31
The contact holding table 316 that moves together with the moving body 1
While moving at a constant interval and a constant positional relationship relative to 1, they move at the same speed. Accordingly, the relative positional relationship between the substrate 9 pushed up by the first holding unit 31 and the suction member 323 of the second holding unit 32 in the vertical direction does not change, and the suction member 323 is smoothly rubbed against the substrate 9. Can be adsorbed.

【0038】さらに、間隔調整部材302が上昇すると
図2(c)に示すようにプレート311および接触保持台
316はストッパ305の作用により上昇が妨げられ
る。プレート311は図5に示すように重り315によ
り上方に持ち上げられて間隔調整部材302の下端に接
触しているにすぎないので、プレート311は間隔調整
部材302から離れて接触保持台316とともに上昇を
停止する。
Further, when the distance adjusting member 302 rises, the plate 311 and the contact holding table 316 are prevented from rising by the action of the stopper 305 as shown in FIG. Since the plate 311 is only lifted upward by the weight 315 and is in contact with the lower end of the gap adjusting member 302 as shown in FIG. 5, the plate 311 separates from the gap adjusting member 302 and rises together with the contact holding base 316. Stop.

【0039】その後、基板9は第2保持部32のみによ
り保持されて搬送され、図2(d)に示すように処理部2
から上方へ引き上げられる。一方、第2保持部32が基
板9を保持するのに応じて、シリンダ350が伸長して
重り315を持ち上げ、接触保持台316は搬送開始位
置まで下降させられ、次の基板を受け取り可能な状態と
される。
Thereafter, the substrate 9 is transported while being held only by the second holding section 32, and is processed by the processing section 2 as shown in FIG.
From above. On the other hand, in response to the second holding unit 32 holding the substrate 9, the cylinder 350 extends to lift the weight 315, and the contact holding table 316 is lowered to the transfer start position, so that the next substrate can be received. It is said.

【0040】以上、基板処理装置1の間隔調整部材30
2を有する搬送部3による基板搬送動作について説明し
てきたが、このように間隔調整部材302を利用して基
板9を搬送することにより、基板9の移動は間隔調整部
材302の移動に従うこととなる。その結果、基板9の
第1および第2保持部31、32による受渡をなめらか
に安定して行うことができる。また、間隔調整部材30
2を直動アクチュエータ301を用いて一定の速度で上
昇させることにより、基板9を一定の速度で搬送するこ
とも可能となる。その結果、基板9は受渡が行われるに
も拘わらず送りむらのない安定した搬送が実現される。
As described above, the interval adjusting member 30 of the substrate processing apparatus 1
The substrate transport operation by the transport unit 3 having the substrate 2 has been described. By transporting the substrate 9 by using the distance adjusting member 302 in this manner, the movement of the substrate 9 follows the movement of the distance adjusting member 302. . As a result, the transfer of the substrate 9 by the first and second holding units 31 and 32 can be performed smoothly and stably. In addition, the interval adjusting member 30
The substrate 9 can be transported at a constant speed by raising 2 at a constant speed by using the linear actuator 301. As a result, the substrate 9 can be stably conveyed without unevenness even though it is delivered.

【0041】また、洗浄される基板9の処理面は、液晶
表示素子の薄膜電極等を形成すべき素子面91と、その
裏面側である裏面92とがあるが、以上のように基板9
の下端面に接触して保持する第1保持部31と、基板9
の裏面92の上端部を吸着して保持する第2保持部32
とで基板9を受け渡すことにより、基板9の保持位置が
変更され、特に、第2保持部32による基板9の吸着位
置を図2(d)に示すように裏面92としているので、特
に清浄に洗浄すべき素子面91の全面を洗浄することが
できるとともに洗浄後に素子面91を汚染することもな
い。
The processing surface of the substrate 9 to be cleaned includes an element surface 91 on which a thin film electrode or the like of a liquid crystal display element is to be formed, and a back surface 92 which is a back surface thereof.
A first holding portion 31 that contacts and holds the lower end surface of the substrate 9;
Holding part 32 that sucks and holds the upper end of the back surface 92 of
2D, the holding position of the substrate 9 is changed. In particular, the suction position of the substrate 9 by the second holding unit 32 is set to the back surface 92 as shown in FIG. The entire element surface 91 to be cleaned can be cleaned, and the element surface 91 is not contaminated after cleaning.

【0042】また、本装置では装置全高を基板9の高さ
L1の2倍と処理部2の高さL2との和程度に抑えるこ
とができる。
In this apparatus, the total height of the apparatus can be suppressed to about twice the height L1 of the substrate 9 and the height L2 of the processing section 2.

【0043】さらに、この装置1では、接触保持台31
6の上下運動は容器411外部からの軸J1の回転運動
を変換することにより実現されているので、容器511
からの処理液の漏れを軸シール330を用いることによ
り容易に防止することができる。
Further, in this device 1, the contact holding table 31
6 is realized by converting the rotational movement of the axis J1 from the outside of the container 411,
The use of the shaft seal 330 can easily prevent the leakage of the processing liquid.

【0044】また、上記実施の形態では、プレート31
1を間隔調整部材302に接触させるために重り315
を用いているが、重り315にかえて、プーリ313や
プーリ314などにトルクモータを用いてトルクを与え
ることにより同様の作用を実現することができる。この
場合、シリンダ350は、何らかの形でプレート311
を下降させる構成とすればよい。
In the above embodiment, the plate 31
1 to make the weight contact the distance adjusting member 302.
However, the same operation can be realized by applying torque to the pulley 313, the pulley 314, or the like using a torque motor instead of the weight 315. In this case, the cylinder 350 is in some way a plate 311
May be lowered.

【0045】また、上記実施の形態では、プレート31
1の上下運動をベルト312、プーリ313、314な
どを用いて回転運動に変換しているが、ラックピニオン
機構などのように直線運動を回転運動に変換できるもの
であればどのようなものであってもよい。
In the above embodiment, the plate 31
Although the up-down motion 1 is converted into rotary motion using the belt 312, pulleys 313, 314, etc., any type of device that can convert linear motion into rotary motion, such as a rack and pinion mechanism, is used. You may.

【0046】また、ストッパの構成も、例えばストッパ
305は、プレート311の上昇範囲を直接規制するも
のに限らず、重り315の移動範囲を規制するものなど
にかえることができる。
The configuration of the stopper is not limited to, for example, the stopper 305 directly restricting the range in which the plate 311 is raised, but may be changed to one that restricts the range in which the weight 315 moves.

【0047】また、上記実施の形態ではカム機構326
として、カム板327、カム従動子328を用いている
が、図示される形態に限定されるものではなく、同様の
吸着部材323の移動が実現されるのであればどのよう
なものであってもよい。
In the above embodiment, the cam mechanism 326 is used.
Although the cam plate 327 and the cam follower 328 are used in the present embodiment, the present invention is not limited to the illustrated embodiment, and any structure may be used as long as the similar movement of the suction member 323 is realized. Good.

【0048】<4.装置全体の動作>次に、以上のよう
な構成を有する基板処理装置1の全体動作について図7
〜図10を用いて説明する。これらの図は図1における
基板処理装置1を(−X)方向からX方向を向いて見た
側面図であり、受入部43、容器511、引渡部42、
処理部2、接触保持台316、および、吸着保持部32
2についてのみ示し、駆動系30の詳細は省略してい
る。また、容器511は断面にて示し、処理部2につい
ては内部のローラ241の位置が分かる程度に適宜省略
して示している。また、図7〜図10では連続して処理
される基板が2つ示されるため、先の投入に係る基板に
符号9bを、後の投入に係る基板に符号9aを便宜上分
けて付している。
<4. Operation of Entire Apparatus> Next, the overall operation of the substrate processing apparatus 1 having the above configuration will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. These drawings are side views of the substrate processing apparatus 1 in FIG. 1 as viewed in the X direction from the (−X) direction, and include a receiving unit 43, a container 511, a delivery unit 42,
Processing unit 2, contact holding table 316, and suction holding unit 32
2, only the drive system 30 is omitted. In addition, the container 511 is shown in a cross section, and the processing unit 2 is appropriately omitted so that the position of the internal roller 241 can be understood. 7 to 10, two substrates to be continuously processed are shown. Therefore, the reference numeral 9b is assigned to the substrate relating to the first input, and the numeral 9a is assigned to the substrate relating to the subsequent input for convenience. .

【0049】まず、基板搬入前の基板処理装置1では図
7に示すように受入部43のフレーム431は2列に並
ぶローラ432がZ方向に並ぶように枠部431aが鉛
直姿勢となっており、装置外部から搬送チャック93に
より搬送されてくる基板9aを処理部2の側方にて上下
方向の受入路上を矢印C1に沿って上から下へ動かして
2列のローラ432の間で案内しつつ受け入れる。な
お、このときシリンダ434の軸434aは引き出され
た状態となっている。そして、図8に示すように基板9
aの下端がプレート433の一端の支持部433aと接
触した時点で基板処理装置1への基板搬入動作が完了す
る。
First, in the substrate processing apparatus 1 before carrying in the substrate, as shown in FIG. 7, the frame 431 of the receiving portion 43 has a vertical position such that the rollers 432 arranged in two rows are arranged in the Z direction. The substrate 9a conveyed by the conveyance chuck 93 from the outside of the apparatus is guided from the top to the bottom along the arrow C1 on the receiving path in the side of the processing section 2 and guided between the two rows of rollers 432. While accepting. At this time, the shaft 434a of the cylinder 434 is in an extended state. Then, as shown in FIG.
When the lower end of “a” comes into contact with the support portion 433 a at one end of the plate 433, the operation of loading the substrate into the substrate processing apparatus 1 is completed.

【0050】基板9aがフレーム431にセットされる
と、モータ435の駆動によりフレーム431が軸J3
を中心に矢印C2に沿って回転する。また、このとき処
理部2の下方に配置されたガイド枠421もモータ42
3の駆動により軸J2を中心に矢印C3に沿って回転す
る。これらの回転動作が完了した様子を図9に示す。
When the substrate 9a is set on the frame 431, the frame 431 is driven by the motor 435 to move the axis J3.
Around the arrow C2. At this time, the guide frame 421 disposed below the processing unit 2 is also connected to the motor 42.
By the drive of No. 3, it rotates around the axis J2 along the arrow C3. FIG. 9 shows a state in which these rotation operations are completed.

【0051】図8に示すように、フレーム431および
ガイド枠421がそれぞれ矢印C2およびC3に沿って
回転すると、図9に示すようにフレーム431のローラ
432が基板9aをガイドする延長上にガイド枠421
のローラ422が位置することとなる。この状態で、シ
リンダ434を駆動して軸434aをシリンダ434内
部に引き込むと、プレート433およびこれに接触して
いる基板9aが矢印C4の方向に基板9aの主面に沿っ
て処理部2の下方へと斜めに下降し、図10に示す状態
となる。このときプレート433の支持部433aはガ
イド枠421の凹部425内へ入るので、ガイド枠42
1とぶつかることはない。また、この動作が完了する前
に接触保持台316が矢印C5(図9に図示)に沿って
下降しており(詳しくは後述)、基板9aを受け入れる
位置(処理部2への搬送開始位置)に配置される。
As shown in FIG. 8, when the frame 431 and the guide frame 421 rotate along the arrows C2 and C3, respectively, as shown in FIG. 9, the rollers 432 of the frame 431 extend on the extension for guiding the substrate 9a. 421
Roller 422 is located. In this state, when the cylinder 434 is driven to draw the shaft 434a into the cylinder 434, the plate 433 and the substrate 9a in contact with the plate 433 are moved downward along the main surface of the substrate 9a in the direction of arrow C4. To a state shown in FIG. At this time, the support portion 433a of the plate 433 enters into the concave portion 425 of the guide frame 421.
Never hit one. Before this operation is completed, the contact holding table 316 is lowered along the arrow C5 (shown in FIG. 9) (details will be described later), and a position for receiving the substrate 9a (a position at which the transfer to the processing unit 2 is started). Placed in

【0052】シリンダ434の動作により、基板9aが
ガイド枠421にセットされるとガイド枠421はモー
タ423の駆動により軸J2を中心に矢印C6に沿って
回転し、基板9aが処理部2の下方において接触保持台
316上に鉛直姿勢で位置する状態となる。このとき接
触保持台316はガイド枠421の凹部425内へ入る
ので、ガイド枠421とぶつかることはない。その後、
シリンダ434の動作によりプレート432が矢印C7
に沿って押し上げられ、受入部43が軸J3を中心に矢
印C8に示す方向に回転し、図7に示す状態に戻る。
When the substrate 9a is set on the guide frame 421 by the operation of the cylinder 434, the guide frame 421 is rotated around the axis J2 along the arrow C6 by the drive of the motor 423, and the substrate 9a is moved below the processing unit 2. At a position in a vertical posture on the contact holding base 316. At this time, since the contact holding table 316 enters the recess 425 of the guide frame 421, it does not hit the guide frame 421. afterwards,
The operation of the cylinder 434 causes the plate 432 to move in the direction of the arrow C7.
, The receiving portion 43 rotates about the axis J3 in the direction shown by the arrow C8, and returns to the state shown in FIG.

【0053】図7に示されるように、基板9bが処理部
2の下方において接触保持台316上に鉛直姿勢にて載
置されると、直動アクチュエータ301が間隔保持部材
302を上昇させ、それに伴って重り305の自重で基
板9bにかかる重力よりも強く付勢されていた接触保持
台316が上昇をはじめ、基板9bは図4に示すように
ガイド枠421のローラ422にガイドされながら接触
保持台316に下端を押されるようにして矢印C9の方
向に基板9bの主面に沿って処理部2内部へと搬送され
る。なお、これとほぼ同時に次に処理される基板である
基板9aが受入部43に搬入される。
As shown in FIG. 7, when the substrate 9b is placed in a vertical position on the contact holding table 316 below the processing section 2, the linear motion actuator 301 raises the spacing member 302, and Accordingly, the contact holding table 316 urged by the weight of the weight 305 more strongly than the gravity applied to the substrate 9b starts to rise, and the substrate 9b is contact-held while being guided by the rollers 422 of the guide frame 421 as shown in FIG. The substrate 316 is conveyed into the processing unit 2 along the main surface of the substrate 9b in the direction of arrow C9 so that the lower end is pushed by the table 316. At about the same time, a substrate 9a to be processed next is carried into the receiving unit 43.

【0054】接触保持台316はさらに基板9aを押し
上げ続け、処理部2内部に搬入された基板9bは処理部
2内部においてローラ241にガイドされながらさらに
上昇し、図8に示すように基板9bの上端が処理部2の
上方に露出する。このとき、図2を参照して既述したよ
うに、吸着保持部322が基板9b側へ移動して基板9
bを吸着し、矢印C10に沿ってさらに上方へと基板9
bを搬送される。なお、接触保持台316はストッパ3
05の作用により処理部2の下方にとどまっており、基
板9bは接触保持台316から離れて吸着保持部322
のみにより搬送されることとなる。また、この間、処理
部2は基板9bに対して洗浄処理を施す。
The contact holding table 316 continues to push up the substrate 9a, and the substrate 9b carried into the processing unit 2 further rises while being guided by the rollers 241 inside the processing unit 2, and as shown in FIG. The upper end is exposed above the processing unit 2. At this time, as described above with reference to FIG. 2, the suction holding section 322 moves to the substrate 9b side and the substrate 9
b and adsorb the substrate 9 further upward along the arrow C10.
b is conveyed. Note that the contact holding table 316 is
The substrate 9b is separated from the contact holding base 316 by the action of the holding unit 322 by the action of the processing unit 05.
It will be conveyed only by. During this time, the processing unit 2 performs a cleaning process on the substrate 9b.

【0055】基板9bが接触保持部316から離れて吸
着保持部322のみにより搬送される間に、既述のよう
にシリンダ350が作動して重り315を押し上げるこ
とにより、図9中の矢印C5に示すように接触保持台3
16は基板搬送前の搬送開始位置へと戻り、受入部43
に搬入された次の基板は図10に示すように直ちに接触
保持台316上に位置させられ、次の基板の搬送を行う
準備が直ちに整うことになる。そして、吸着保持部32
2による基板の搬送が完了し、洗浄処理ずみの基板が吸
着式の搬出アーム99によって吸着保持部322から受
け取られると、直ちに直動アクチュエータ301の駆動
により間隔保持部材302が下降し、プレート311の
上側に接触する。そしてそれとほぼ同時にシリンダ35
0が収縮し、重り315の持ち上げを解除する。そし
て、直ちに接触保持台316による次の基板の搬送動作
が開始されることとなる。なお、吸着保持部322によ
る基板9bの搬送が完了し、図10及び図2(d)に示す
状態から間隔保持部材302が下降すると、図示しない
ガイドにより案内された吸着保持部322は図2(a)に
示すようにストッパ304に接触するまで図7中の矢印
C11に示すように自重により下降する。
While the substrate 9b is separated from the contact holding section 316 and is conveyed only by the suction holding section 322, the cylinder 350 is actuated to push up the weight 315 as described above, whereby the arrow C5 in FIG. Contact holder 3 as shown
16 returns to the transfer start position before the substrate transfer, and
The next substrate carried in is immediately positioned on the contact holding base 316 as shown in FIG. 10, and the preparation for carrying the next substrate is immediately prepared. Then, the suction holding unit 32
When the transfer of the substrate by the cleaning unit 2 is completed and the substrate having been subjected to the cleaning process is received from the suction holding unit 322 by the suction type unloading arm 99, the interval holding member 302 is immediately lowered by the driving of the linear motion actuator 301, and the plate 311 Touch the upper side. And almost at the same time cylinder 35
0 contracts, releasing the weight 315 from lifting. Then, the transfer operation of the next substrate by the contact holding table 316 is started immediately. When the transfer of the substrate 9b by the suction holding unit 322 is completed and the spacing member 302 is lowered from the state shown in FIGS. 10 and 2D, the suction holding unit 322 guided by a guide (not shown) is moved to the position shown in FIG. Until the stopper 304 comes into contact with the stopper 304 as shown in a), it descends by its own weight as shown by an arrow C11 in FIG.

【0056】なお、以上において、各モータ、シリン
ダ、アクチュエータ等の動作は図示しないマイクロコン
ピュータよりなる制御部により、上述の如く動作制御さ
れる。
In the above, the operations of the motors, cylinders, actuators and the like are controlled as described above by a control unit comprising a microcomputer (not shown).

【0057】以上、基板処理装置1の構成および動作に
ついて説明してきたが、この基板処理装置1では装置外
部から基板を投入する投入部4を設けることにより基板
9が処理部2内部を通過中に次の基板を装置外部から受
け取って搬送開始位置にセットする準備を行うことがで
き、容易かつ迅速な基板の処理が実現されている。特
に、この実施の形態のように第1の保持部31の接触保
持台316と第2の保持部32の吸着保持部322との
受渡により基板9を処理部2を通過するように搬送する
場合、接触保持台316による搬送が完了し、吸着保持
部322が基板の搬送を行っている間に、次の基板を接
触保持台316が搬送する準備ができ、基板の搬出入に
要する時間を大幅に削減することができ、単位時間あた
りに処理できる基板量を増大させることができる。特
に、処理部2通過後の基板9をそのまま搬出アーム99
で搬出しているので、処理部2へ基板9を次々と連続し
て投入でき、単位時間当りの処理量をさらに増大でき
る。また、処理部2内では基板9は一方向のみに進むの
で、処理部2におけるブラシの回転や、エアナイフ,洗
浄液ノズルの動作を基板9の通過向きが変わるたびごと
に変えるといったわずらわしさがなくなり、安定した連
続運転処理ができる。
The structure and operation of the substrate processing apparatus 1 have been described above. However, the substrate processing apparatus 1 is provided with the input section 4 for inputting a substrate from outside the apparatus. Preparations for receiving the next substrate from outside the apparatus and setting it at the transfer start position can be made, and easy and quick processing of the substrate is realized. Particularly, when the substrate 9 is transported so as to pass through the processing unit 2 by passing between the contact holding table 316 of the first holding unit 31 and the suction holding unit 322 of the second holding unit 32 as in this embodiment. When the transfer by the contact holding table 316 is completed and the suction holding section 322 is transferring the substrate, the contact holding table 316 is ready to transfer the next substrate, greatly reducing the time required for loading and unloading the substrate. And the amount of substrates that can be processed per unit time can be increased. In particular, the substrate 9 after passing through the processing unit 2 is directly carried out by the unload arm 99.
, The substrates 9 can be successively put into the processing section 2 one after another, and the processing amount per unit time can be further increased. In addition, since the substrate 9 advances in only one direction in the processing unit 2, the trouble of rotating the brush in the processing unit 2 and changing the operation of the air knife and the cleaning liquid nozzle each time the passing direction of the substrate 9 changes is eliminated. Stable continuous operation processing is possible.

【0058】また、この基板処理装置1では図4中に示
される装置外部の搬送チャック93は投入部4の上方ま
で移動するだけであり、処理部2の下方まで基板9を搬
送する必要がないので、容易に基板を搬入することがで
きる。特に、この実施の形態のような洗浄装置の場合で
も、搬送チャック93が処理部2から落下する洗浄液に
さらされることもない。
Further, in the substrate processing apparatus 1, the transport chuck 93 outside the apparatus shown in FIG. 4 simply moves to a position above the loading section 4, and there is no need to transport the substrate 9 to a position below the processing section 2. Therefore, the substrate can be easily carried in. In particular, even in the case of the cleaning apparatus of this embodiment, the transport chuck 93 is not exposed to the cleaning liquid falling from the processing unit 2.

【0059】さらに、この基板処理装置1では基板9を
鉛直姿勢にて受入部43へ搬入するので、装置外部にお
ける基板の取扱が容易であり、また、引渡部42および
受入部43からなる投入部4により、基板9を傾けて搬
送開始位置に移動し、搬送開始位置にて鉛直姿勢とする
ことが容易に実現されている。しかも、このとき基板9
はその基板面の方向にそって移動するのでほとんど空気
抵抗を受けることなく移動でき、搬送が容易である。
Further, in the substrate processing apparatus 1, the substrate 9 is carried into the receiving section 43 in a vertical posture, so that the substrate can be easily handled outside the apparatus, and the input section including the transfer section 42 and the receiving section 43. By 4, it is easy to move the substrate 9 to the transfer start position by tilting the substrate 9 and set the substrate 9 to the vertical posture at the transfer start position. Moreover, at this time, the substrate 9
Moves along the direction of the substrate surface, so that it can move with little air resistance, and is easy to transport.

【0060】<5.変形例>以上、この発明に係る一の
実施の形態である基板処理装置1について説明してきた
が、この発明は上記実施の形態に限定されるものではな
い。
<5. Modifications> Although the substrate processing apparatus 1 according to one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.

【0061】例えば、上記実施の形態では、処理部2は
基板9に対して洗浄処理を行っているが、洗浄処理以外
の現像処理や塗布処理などであってもよい。
For example, in the above-described embodiment, the processing unit 2 performs the cleaning process on the substrate 9, but may perform a developing process or a coating process other than the cleaning process.

【0062】また、上記実施の形態では投入部4が処理
部2の下方にて基板9を搬送部3に渡しているが、投入
部4が処理部2の上方から基板9を搬送部3に渡すよう
にしても処理時間の短縮を図ることができる。
In the above-described embodiment, the loading section 4 transfers the substrate 9 to the transport section 3 below the processing section 2, but the loading section 4 transfers the substrate 9 from above the processing section 2 to the transport section 3. The processing time can be shortened even if it is passed.

【0063】また、上記実施の形態では、投入部4から
搬送部3に基板9を渡しているが、全く逆の動作を行っ
て、吸着保持部322側から基板9を搬入し、投入部4
側から基板9を搬出するようにしても同様の効果が得ら
れる。
In the above-described embodiment, the substrate 9 is transferred from the loading section 4 to the transport section 3. However, the operation is performed in exactly the reverse manner, and the substrate 9 is loaded from the suction holding section 322 side.
The same effect can be obtained even if the substrate 9 is carried out from the side.

【0064】また、上記実施の形態では、処理ずみの基
板が吸着保持部322から取り去られて間隔保持部材3
02が下降した後でなければ、接触保持台316による
次の基板の搬送を開始することはできなかったが、それ
ぞれに別の駆動源を設ければ、接触保持台316による
次の基板をより早く開始することもでき、単位時間当た
りに処理できる基板量をより増大させることができる。
In the above-described embodiment, the processed substrate is removed from the suction holding section 322 and the space holding member 3 is removed.
Unless the second substrate 02 was lowered, the transfer of the next substrate by the contact holder 316 could not be started. However, if another drive source was provided for each, the next substrate by the contact holder 316 could be more easily transferred. It can be started earlier, and the amount of substrates that can be processed per unit time can be further increased.

【0065】また、上記実施の形態では、受入部43よ
り引渡部42への基板9の移載はシリンダ434を用い
ているが、基板の重みのみを用いて基板9を引渡部42
へと下方へ移動させるようにしてもよい。
In the above embodiment, the transfer of the substrate 9 from the receiving section 43 to the transfer section 42 is performed by using the cylinder 434, but the transfer of the substrate 9 using only the weight of the substrate is performed.
May be moved downward.

【0066】また、上記実施の形態では、受入部43が
軸J3を中心に回転することにより基板9を引渡部42
へ渡すようにしているが、基板9を傾ける方法はこの方
法には限定されない。例えば、鉛直姿勢にて受入部43
に受け入れられた基板9が下降するにつれ徐々に傾斜
し、引渡部42へと導かれるようにしてもよい。また、
受入部43や引渡部42で基板を回転させるための軸は
基板の移動方向と交差する方向に設けられるが、これら
は必ずしも同一平面で交差していなくてもよく、立体的
に交差するものであってもよい。
In the above-described embodiment, the receiving portion 43 rotates around the axis J3 to transfer the substrate 9 to the delivery portion 42.
However, the method of tilting the substrate 9 is not limited to this method. For example, the receiving unit 43 is placed in a vertical posture.
May be gradually inclined as the substrate 9 received is lowered, and guided to the transfer unit 42. Also,
The axis for rotating the substrate in the receiving portion 43 or the transfer portion 42 is provided in a direction intersecting with the moving direction of the substrate, but these need not necessarily intersect on the same plane, but intersect three-dimensionally. There may be.

【0067】さらに、基板9の搬送方向も鉛直方向には
限定されず傾斜していてもよいし、基板の姿勢も鉛直姿
勢に限らず、若干傾いた縦姿勢としてもよい。さらにそ
の他処理部2、搬送部3、投入部4などについても様々
な変更が可能である。
Further, the transport direction of the substrate 9 is not limited to the vertical direction, but may be inclined. The posture of the substrate is not limited to the vertical posture, and may be a slightly inclined vertical posture. Further, various changes can be made to the processing section 2, the transport section 3, the input section 4, and the like.

【0068】[0068]

【発明の効果】以上説明したように、請求項1ないし請
求項6記載の発明では、基板を搬送している間に搬送開
始位置にて別の基板の搬送の準備を行うことができ、こ
れにより、単位時間当たりに処理できる基板数量の増大
を図ることができる。
As described above, according to the first to sixth aspects of the present invention, it is possible to prepare for the transfer of another substrate at the transfer start position while transferring the substrate. Thereby, the number of substrates that can be processed per unit time can be increased.

【0069】請求項4または5記載の発明では、第1支
持手段から第2支持手段への基板の受け渡しを円滑に行
うことができ、特に請求項5記載の発明では、搬送の際
に基板に施す処理の均一性も確保することができる。
According to the invention as set forth in claim 4 or 5, the transfer of the substrate from the first support means to the second support means can be carried out smoothly. The uniformity of the applied process can be ensured.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明に係る一の実施の形態である基板処理
装置の構成の概要を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an outline of a configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す基板処理装置の搬送動作を示す図で
ある。
FIG. 2 is a view showing a transport operation of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図3】図1に示される基板処理装置の受入部の構成を
示す斜視図である。
FIG. 3 is a perspective view showing a configuration of a receiving unit of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図4】ガイド枠を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a guide frame.

【図5】図1に示す基板処理装置の搬送部を示す斜視図
である。
FIG. 5 is a perspective view showing a transport unit of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図6】移動本体部及びカム機構の構成および動作を示
す図である。
FIG. 6 is a view showing the configuration and operation of a moving main body and a cam mechanism.

【図7】図1に示される基板処理装置の動作を説明する
側面図である。
FIG. 7 is a side view for explaining the operation of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図8】図1に示される基板処理装置の動作を説明する
側面図である。
FIG. 8 is a side view for explaining the operation of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図9】図1に示される基板処理装置の動作を説明する
側面図である。
FIG. 9 is a side view for explaining the operation of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【図10】図1に示される基板処理装置の動作を説明す
る側面図である。
FIG. 10 is a side view for explaining the operation of the substrate processing apparatus shown in FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 基板処理装置 2 処理部 3 搬送部 4 投入部 9、9a、9b 基板 31 第1保持部 32 第2保持部 42 引渡部 43 受入部 93 搬送チャック 350 シリンダ 423 モータ 432 プレート 434 シリンダ 435 モータ C1〜C11 矢印 J2、J3 軸 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate processing apparatus 2 Processing part 3 Conveying part 4 Input part 9, 9a, 9b Substrate 31 First holding part 32 Second holding part 42 Transfer part 43 Receiving part 93 Transfer chuck 350 Cylinder 423 Motor 432 Plate 434 Cylinder 435 Motor C1 C11 Arrow J2, J3 axis

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板を所定方向に搬送して処理部を通過
させ、処理部によって所定の処理を施す基板処理装置に
おいて、 基板が通過する通過路を有し、通過路を通過する基板に
対して所定の処理を施す処理部と、 該処理部外の基板受取位置にて基板を受け取って支持
し、当該基板を処理部へ搬入する第1搬送手段と、 該第1搬送手段が支持して処理部へ搬入した基板を受け
取って、当該基板を処理部外へ搬出する第2搬送手段
と、 前記第2搬送手段による前記第1搬送手段からの基板の
受け取りに応じて前記第1搬送手段を前記基板受取位置
へ移動させる駆動手段と、を備えることを特徴とする基
板処理装置。
1. A substrate processing apparatus for transporting a substrate in a predetermined direction, passing the substrate through a processing unit, and performing predetermined processing by the processing unit. A processing unit for performing a predetermined process, a substrate receiving and supporting the substrate at a substrate receiving position outside the processing unit, and a first transporting unit for loading the substrate into the processing unit; A second transport unit that receives the substrate loaded into the processing unit and unloads the substrate out of the processing unit; and controls the first transport unit in response to receiving the substrate from the first transport unit by the second transport unit. And a driving means for moving the substrate to the substrate receiving position.
【請求項2】 基板を所定方向に搬送して処理部を通過
させ、処理部によって所定の処理を施す基板処理装置に
おいて、 基板が通過する通過路を有し、通過路を通過する基板に
対して所定の処理を施す処理部と、 該処理部外の基板受取位置にて基板を受け取って支持す
る第1支持手段と、 該第1支持手段が支持して処理部へ搬入した基板を受け
取って支持する第2支持手段と、 前記第1支持手段を前記所定方向へ付勢する付勢手段
と、 前記付勢手段により付勢された前記第1支持手段の前記
所定方向への移動を規制しつつ前記第1支持手段と前記
第2支持手段とを前記所定方向へ移動させる移動規制手
段と、 前記付勢手段の付勢力に逆らって前記第1支持手段を前
記基板受取位置へ移動させる駆動手段と、を備えること
を特徴とする基板処理装置。
2. A substrate processing apparatus for transporting a substrate in a predetermined direction, passing the substrate through a processing section, and performing predetermined processing by the processing section, comprising: a passage through which the substrate passes; A first processing unit for receiving and supporting a substrate at a substrate receiving position outside the processing unit, and a substrate supported by the first support unit and carried into the processing unit. Second supporting means for supporting; urging means for urging the first supporting means in the predetermined direction; regulating movement of the first supporting means urged by the urging means in the predetermined direction. A movement restricting means for moving the first supporting means and the second supporting means in the predetermined direction, and a driving means for moving the first supporting means to the substrate receiving position against the urging force of the urging means. Substrate processing, comprising: Equipment.
【請求項3】 基板を縦姿勢に支持して上下方向に搬送
して処理部を通過させ、処理部によって所定の処理を施
す基板処理装置において、 基板が通過する通過路を有し、通過路を通過する基板に
対して所定の処理を施す処理部と、 該処理部より下方の基板受取位置にて基板を受け取って
支持する第1支持手段と、 該第1支持手段が支持して処理部へ搬入した基板を受け
取って支持する第2支持手段と、 前記第1支持手段を上方へ付勢する付勢手段と、 前記付勢手段により付勢された前記第1支持手段の前記
上下方向への移動を規制しつつ前記第1支持手段と前記
第2支持手段とを前記上下方向へ移動させる移動規制手
段と、 前記付勢手段の付勢力に逆らって前記第1支持手段を前
記基板受取位置へ移動させる駆動手段と、を備えること
を特徴とする基板処理装置。
3. A substrate processing apparatus for supporting a substrate in a vertical position, vertically transporting the substrate, passing the substrate through a processing unit, and performing predetermined processing by the processing unit. A processing unit for performing a predetermined process on a substrate passing therethrough; first support means for receiving and supporting a substrate at a substrate receiving position below the processing unit; and a processing unit supported by the first support means. Second support means for receiving and supporting the substrate carried into the first support means, urging means for urging the first support means upward, and the vertical direction of the first support means urged by the urging means Movement restricting means for moving the first support means and the second support means in the vertical direction while restricting the movement of the first support means and the substrate receiving position against the urging force of the urging means. And driving means for moving the Substrate processing equipment.
【請求項4】 前記移動規制手段が、 前記第1支持手段と前記第2支持手段との間隔を一定に
保つ間隔調整部材を含むことを特徴とする請求項2また
は請求項3に記載の基板処理装置。
4. The substrate according to claim 2, wherein said movement restricting means includes an interval adjusting member for keeping an interval between said first support means and said second support means constant. Processing equipment.
【請求項5】 前記移動規制手段が、 前記第1支持手段と前記第2支持手段の等しい速度での
移動を実現する等速移動機構を含むことを特徴とする請
求項2ないし請求項4のいずれかに記載の基板処理装
置。
5. The apparatus according to claim 2, wherein said movement restricting means includes a constant speed moving mechanism for realizing movement of said first support means and said second support means at the same speed. The substrate processing apparatus according to any one of the above.
【請求項6】 基板を所定方向に搬送して処理部を通過
させ、処理部によって所定の処理を施す基板処理方法に
おいて、 第1支持手段により処理部外の基板受取位置にて基板を
受け取って支持し、当該基板を処理部へ搬入する工程
と、 第1支持手段が支持して処理部へ搬入した基板を第2支
持手段により支持する工程と、 第2支持手段による基板の支持に応じて第1支持手段に
よる基板の支持を解除する工程と、 第2支持手段により基板を支持して処理部外へ搬出する
とともに前記第1支持手段を前記基板受取位置へ移動さ
せる工程と、を有することを特徴とする基板処理方法。
6. A substrate processing method in which a substrate is transported in a predetermined direction, passed through a processing unit, and subjected to predetermined processing by the processing unit, wherein the substrate is received at a substrate receiving position outside the processing unit by the first support means. Supporting and carrying the substrate into the processing unit; supporting the substrate supported by the first support unit and carried into the processing unit by the second support unit; and supporting the substrate by the second support unit. A step of releasing the support of the substrate by the first support means, and a step of supporting the substrate by the second support means and carrying the substrate out of the processing unit, and moving the first support means to the substrate receiving position. A substrate processing method characterized by the above-mentioned.
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