JPH10241385A - 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置 - Google Patents

中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置

Info

Publication number
JPH10241385A
JPH10241385A JP4417497A JP4417497A JPH10241385A JP H10241385 A JPH10241385 A JP H10241385A JP 4417497 A JP4417497 A JP 4417497A JP 4417497 A JP4417497 A JP 4417497A JP H10241385 A JPH10241385 A JP H10241385A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
intermediate voltage
value
circuit
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4417497A
Other languages
English (en)
Inventor
Hironori Banba
博則 番場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP4417497A priority Critical patent/JPH10241385A/ja
Priority to TW087102277A priority patent/TW404069B/zh
Priority to KR1019980006071A priority patent/KR19980071728A/ko
Publication of JPH10241385A publication Critical patent/JPH10241385A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/10Programming or data input circuits
    • G11C16/12Programming voltage switching circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/32Timing circuits

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 自身が発生させる中間電圧が所望の値になっ
たことを、自身で検知可能な中間電圧発生回路を提供す
ること。 【解決手段】 中間電圧VOUTの値を、設定電圧より
も、さらに低くするトランジスタN55と、中間電圧V
OUTの値を設定電圧に向けて低下させる電圧低下動作
を行うとともに、中間電圧VOUTの値が設定電圧より
も低くなったとき、その中間電圧VOUTの値を設定電
圧に向けて上昇させる電圧上昇動作に切り替える差動増
幅器31と、差動増幅器31の動作が、電圧低下動作か
ら電圧上昇動作に切り替わったことを検知して検知信号
/SVSWLATを出力するフリップフロップ43とを
具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、様々な値の内部
電圧を、回路内部で発生させる中間電圧発生回路を備え
ている半導体集積回路装置、特に不揮発性の半導体記憶
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、フラッシュメモリでは、様々
な値の内部電圧を必要としている。内部電圧の例を、フ
ラッシュメモリのオートプログラムを参照して説明す
る。図10(A)は、フラッシュメモリのオートプログ
ラムのフローチャート、図10(B)は、オートプログ
ラム中のワード線電圧の状態を示す図である。
【0003】オートプログラムのシーケンスは、図10
(A)に示すように、アドレスをセットすることから始
まる。このときのワード線電圧は、同図(B)に示すよ
うに5Vである。アドレスをセットした後、メモリセル
にデータをプログラムする。このとき、ワード線電圧は
10Vにされる。
【0004】プログラムが終了した後、データを正しく
プログラムできたか否かを調べるプログラムベリファイ
を行う。プログラムベリファイを行うためには、まず、
ベリファイ電圧セットアップを行う。ベリファイ電圧セ
ットアップは、ワード線電圧を10Vから、6.5Vに
するモードである。次に、ワード線電圧が6.5Vにな
った後、ベリファイ読み出しを行う。ベリファイ読み出
しでは、通常の読み出し時のワード線電圧5Vよりも高
い、ワード線電圧6.5Vでデータを読み出す。次に、
読み出したデータが、正しいデータであるか否かを判定
する(ベリファイOK)。正しくない場合(“N
o”)、即ち書き込み量が不足しているときには、メモ
リセルにデータを、再度プログラムし直す。このとき、
ワード線電圧は6.5Vから10Vにされ、以下、順
次、上述したのプログラムベリファイを繰り返す。
【0005】プログラムベリファイの繰り返し回数は、
無限ループとならないように、所定回数定められてい
る。プログラムベリファイは、データが正しくプログラ
ムされる、即ち充分な書き込み量が得られるまで、上記
所定回数の範囲のなかで繰り返される。
【0006】上記判定(ベリファイOK)において、充
分な書き込み量が得られ、正しいデータが書き込まれた
場合(“YES”)には、リカバリを行う。リカバリ
は、ワード線電圧を6.5Vから、5Vに戻すモードで
ある。オートプログラムのシーケンスは、ワード線電圧
が5Vになって、終了する。
【0007】このように、フラッシュメモリでは、オー
トプログラムの例に参照されるように、5V、6.5
V、および10Vというように、様々な内部電圧が使用
されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述したオートプログ
ラムに代表されるフラッシュメモリの内部シーケンス
は、チップ内部に設けられたライトステートマシンによ
って制御される。図11は、ライトステートマシンを備
えたフラッシュメモリの概略的なブロック図である。
【0009】図11に示すライトステートマシン101
は、中間電圧コントロール信号VMD(V10MD、V
6.5MD、V5MD)を出力し、オートプログラム中
の各モード毎の中間電圧を制御する。図中、信号V10
MD、V6.5MD、V5MDは、それぞれ中間電圧を
“10V”、“6.5V”、“5V”に設定せよ、とい
う命令信号である。中間電圧発生回路103は、中間電
圧コントロール信号VMDに従って、中間電圧VOUT
を、5V、6.5V、および10Vに切り替えて、ロー
デコーダに出力する。
【0010】従来より、オートプログラム中の各モード
には、それぞれ所定の時間が設定されており、これらの
設定時間は、チップ内部に設けられたタイマー105に
よって計測される。タイマー105は、各設定時間が経
過したことを知らせるタイマー信号TIMEをライトス
テートマシン101に出力する。ライトステートマシン
101は、タイマー信号TIMEを受けることで、次の
モードへ遷移させるタイミングを認識し、各モードに応
じた中間電圧コントロール信号VMDを出力する。
【0011】また、従来のオートプログラムでは、ベリ
ファイ電圧セットアップ、およびリカバリにも時間が設
定されており、ライトステートマシン101は、タイマ
ー105の計測によってベリファイ電圧セットアップ終
了、およびリカバリ終了のタイミングを認識する。これ
らの時間は、充分なマージンをとり、比較的、長めに設
定されることが通常である。その理由を、以下に示す。
【0012】中間電圧の遷移に要する時間は、“温
度”、“電圧”、“プロセスのゆらぎ”などの要因によ
り、ばらつきがある。また、タイマー105自身も上記
の要因によって、その特性がばらつく。
【0013】もし、設定時間が短すぎ、ワード線電圧が
10Vから、6.5Vに充分に低下していない状態で、
“ベリファイ電圧セットアップ”から、“ベリファイ読
み出し”に移行してしまうと、たとえ充分に正しいデー
タが書き込まれていても、“NO”と判定されてしま
う、という不具合が生ずる。ワード線電圧が高すぎるた
めである。例えばこのような不具合が考慮されて、上記
時間には充分なマージンがとられ、比較的、長めに設定
されるのである。
【0014】図12は、タイマー計測に従って制御され
たオートプラグラム時の、代表的な動作波形図である。
図12には、2回のベリファイで、書き込み“OK”と
なった例が示されている。
【0015】図12に示すように、タイマー計測による
オートプログラムでは、ベリファイ電圧セットアップの
終了、およびリカバリの終了が、所定の設定時間が経過
した後に認識されるために、オートプログラム開始から
終了までに要する時間が、比較的、長めになってしま
う。例えば図12に示す2回のベリファイで、書き込み
“OK”となる例を、実際の装置にたとえてみると、1
9μsもの時間を要する。
【0016】このように、オートプログラムに代表され
る内部シーケンスを、タイマー計測によって制御する従
来の方式では、内部シーケンスに要する時間が、比較
的、長めになるという事情があった。
【0017】この発明は上記の事情に鑑みて為されたも
ので、その第1の目的は、オートシーケンスに要する時
間を短縮するために、自身が発生させる中間電圧が所望
の値になったことを、自身で検知できる中間電圧発生回
路を提供することにある。
【0018】また、その第2の目的は、上記中間電圧発
生回路を備え、オートシーケンスに要する時間を短縮で
きる半導体集積回路装置を提供することにある。また、
その第3の目的は、タイマーにより設定時間を計測しな
くても、電源投入後のセットアップ完了を認識できる半
導体集積回路装置を提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、請求項1に係る発明では、中間電圧コントロ
ール信号に従って中間電圧の値を設定して、前記中間電
圧を発生させる中間電圧発生回路であって、前記中間電
圧の値を、第1の所望の電圧から第2の所望の電圧に向
かって遷移させるとき、前記第2の所望の電圧を超える
ように遷移させ、前記中間電圧の値が、前記第2の所望
の電圧を超えたときに内部の動作を切り替え、この内部
の動作の切り替えをトリガとして、前記中間電圧の値
が、前記第1の所望の電圧から前記第2の所望の電圧に
なったことを検知することを特徴とする。
【0020】また、請求項2に係る発明では、請求項1
に係る発明において、前記第2の所望の電圧が、前記第
1の所望の電圧よりも低いとき、前記中間電圧の値を、
前記第2の所望の電圧よりも、さらに低くするトランジ
スタと、前記中間電圧の値が、前記第1の所望の電圧と
前記第2の所望の電圧との間にあるとき、前記中間電圧
の値を、前記第2の所望の電圧に向けて低下させる電圧
低下動作を行い、前記中間電圧の値が、前記第2の所望
の電圧よりも低くなったとき、前記電圧低下動作を、前
記中間電圧の値を、前記第2の所望の電圧に向けて上昇
させる電圧上昇動作に切り替える電圧調節手段と、前記
電圧調節手段の動作が、電圧低下動作から電圧上昇動作
に切り替わったことを検知して、検知信号を出力する検
知信号出力手段とを具備することを特徴とする。
【0021】また、請求項3に係る発明では、請求項1
に係る発明では、前記第2の所望の電圧が、前記第1の
所望の電圧よりも高いとき、前記中間電圧の値を、前記
第2の所望の電圧よりも、さらに高くするトランジスタ
と、前記中間電圧の値が、前記第1の所望の電圧と前記
第2の所望の電圧との間にあるとき、前記中間電圧の値
を、前記第2の所望の電圧に向けて上昇させる電圧上昇
動作を行い、前記中間電圧の値が、前記第2の所望の電
圧よりも高くなったとき、前記電圧上昇動作を、前記中
間電圧の値を、前記第2の所望の電圧に向けて低下させ
る電圧低下動作に切り替える電圧調節手段と、前記電圧
調節手段の動作が、電圧上昇動作から電圧低下動作に切
り替わったことを検知して、検知信号を出力する検知信
号出力手段とを具備することを特徴とする。
【0022】また、上記第2の目的を達成するために、
請求項4に係る発明では、中間電圧コントロール信号に
従って中間電圧の値を、第1の所望の電圧から第2の所
望の電圧に設定するとき、前記中間電圧の値を、前記第
1の所望の電圧より前記第2の所望の電圧を超えるよう
に遷移させ、前記中間電圧の値が、前記第2の所望の電
圧を超えたときに内部の動作を切り替え、この内部の動
作の切り替えをトリガとして、前記中間電圧の値が、前
記第1の所望の電圧から前記第2の所望の電圧になった
ことを検知し、検知信号を出力する中間電圧発生回路
と、前記中間電圧コントロール信号を出力して前記中間
電圧発生回路を制御するとともに、前記検知信号を受け
ることで、装置の内部モードを、次のモードに遷移させ
るタイミングを認識する状態遷移制御装置とを具備する
ことを特徴とする。
【0023】また、請求項5に係る発明は、請求項4に
係る発明において、前記状態遷移制御装置は、前記検知
信号と、タイマーからのタイマー出力との少なくともい
ずれか一方により、前記装置の内部モードを、次のモー
ドに遷移させるタイミングを認識することを特徴とす
る。
【0024】また、請求項6に係る発明は、請求項4に
係る発明において、前記状態遷移制御装置は、前記検知
信号が、タイマーにより計測された時間内に出力されな
かったとき、不良と認識することを特徴とする。
【0025】また、上記第1、第2の目的を達成するた
めに、請求項7に係る発明では、出力側カレントパスの
一端、および入力側カレントパスの一端それぞれに、昇
圧電位を受ける第1のカレントミラー回路と、前記第1
のカレントミラー回路の出力側カレントパスの他端の電
位を抽出する中間電圧出力線と、抵抗成分を含む中間電
圧設定配線、およびこの中間電圧設定配線と前記中間電
圧出力との間に互いに並列に接続され、ゲートに中間電
圧コントロール信号を受けるトランジスタを含み、前記
中間電圧コントロール信号に従って、前記中間電圧出力
線の中間電圧出力ノードの値を設定する中間電圧値設定
回路と、前記中間電圧設定配線と前記回路内低電位との
間に接続された他の抵抗成分を含み、前記昇圧電位と前
記回路内低電位との電位差を、前記中間電圧設定配線の
抵抗成分と前記他の抵抗成分とにより分圧し、分圧値を
出力する分圧回路と、プラス側の入力に基準電圧を受
け、マイナス側の入力に前記分圧値を受ける第1の差動
増幅器と、プラス側の入力に前記分圧値を受け、マイナ
ス側の入力に前記基準電圧を受ける第2の差動増幅器
と、一端に回路内低電位を受け、他端に前記第1の差動
増幅器の出力を受ける入力側カレントパス、および前記
第1のカレントミラー回路の入力側カレントパスの他端
より電流を前記回路内低電位に引き抜く出力側カレント
パスを有する第2のカレントミラー回路と、一端に回路
内低電位を受け、他端に前記第2の差動増幅器の出力を
受ける入力側カレントパス、および前記第1のカレント
ミラー回路の出力側カレントパスの他端より電流を前記
回路内低電位に引き抜く出力側カレントパスを有する第
3のカレントミラー回路と、前記中間電圧コントロール
信号が、前記中間電圧の値を他の値に遷移させるように
変化したとき、セット信号を出力するセット信号出力回
路と、前記セット信号によりセットされ、中間電圧の値
が他の値に遷移している状態を示す検知信号を出力する
フリップフロップと、前記検知信号と、前記第1の差動
増幅器もしくは前記第2の差動増幅器の出力との論理積
を出力し、前記フリップフロップをリセットするゲート
回路と、前記検知信号により制御され、前記中間電圧出
力ノードと前記昇圧電位もしくは前記回路内低電位との
間に直列に接続されるトランジスタとを具備することを
特徴とする。
【0026】また、請求項8に係る発明では、請求項7
に係る発明において、前記検知信号を、半導体集積回路
装置の内部の動作状態を遷移させるか否かの判定に使用
することを特徴とする。
【0027】また、請求項9に係る発明では、請求項8
に係る発明において、半導体集積回路装置の内部の動作
状態を遷移させる状態遷移制御装置を、さらに具備し、
前記状態遷移制御装置は、前記検知信号により、前記内
部の動作状態を遷移させるタイミングを認識することを
特徴とする。
【0028】また、請求項10に係る発明では、請求項
8に係る発明において、半導体集積回路装置の内部時間
を計測し、タイマー出力を出力するタイマーを、さらに
具備し、前記状態遷移制御装置は、前記検知信号、ある
いは前記タイマー出力の少なくとも一方により、前記内
部の動作状態を遷移させるタイミングを認識することを
特徴とする。
【0029】また、請求項11に係る発明では、請求項
10に係る発明において、前記内部の動作状態には設定
時間が定められ、前記内部設定時間をタイマーにより計
測し、この計測した時間内で前記検知信号が出力されな
かったとき、回路が不良であると判断されることを特徴
とする。
【0030】また、上記第3の目的を達成するために、
請求項12に係る発明では、中間電圧の値を、電源投入
から所望の電圧に向かって遷移させる中間電圧発生回路
であって、前記中間電圧の値を、電源投入から所望の電
圧に向かって遷移させるとき、前記所望の電圧を超える
ように遷移させ、前記中間電圧の値が、前記所望の電圧
を超えたときに内部の動作を切り替え、この内部の動作
の切り替えをトリガとして、前記中間電圧の値が、前記
電源投入から前記所望の電圧になったことを検知し、電
源投入時のセットアップ動作の終了を示す信号を出力す
ることを特徴とする。
【0031】
【発明の実施の形態】以下、この発明を、実施形態によ
り説明する。図1は、この発明の第1の実施形態に係る
ライトステートマシンを備えたフラッシュメモリの概略
的なブロック図である。
【0032】図1に示ように、第1の実施形態に係るフ
ラッシュメモリは、ライトステートマシン1、中間電圧
発生回路3、およびタイマー3を有している。ライトス
テートマシン1は、中間電圧発生回路3に、中間電圧コ
ントロール信号VMD(V10MD、V6.5MD、V
5MD)を出力し、オートプログラム中の各モード毎の
中間電圧を制御する。図中、信号V10MD、V6.5
MD、V5MDは、それぞれ中間電圧を“10V”、
“6.5V”、“5V”に設定せよ、という命令信号で
ある。
【0033】中間電圧発生回路3は、中間電圧コントロ
ール信号VMDに従って、昇圧電位VPPより、中間電
圧VOUTを、5V、6.5V、および10Vに切り替
えて、ローデコーダに出力する。
【0034】さらに、中間電圧発生回路3は、自身が発
生する中間電圧VOUTの値を、所望の値になったか否
かを自身で検知する。中間電圧VOUTが所望の値にな
ったとき、中間電圧発生回路3は、検知信号/SVSWLATを
ライトステートマシン1に出力する。ライトステートマ
シン1は、検知信号/SVSWLATを受けることで、フラッシ
ュメモリの動作状態を、次の動作状態に遷移させる。
【0035】図2は、中間電圧発生回路3の回路図であ
る。図2に示すように、中間電圧発生回路3は、出力端
子21O、入力端子21Iを有した第1のカレントミラ
ー回路21を有している。第1のカレントミラー回路2
1は、Pチャネル型MOSトランジスタP1、P2を含
む。トランジスタP1は、昇圧電位VPPと、出力端子
21Oとの間に直列に接続されている。トランジスタP
2は、昇圧電位VPPと、入力端子21Iとの間に直列
に接続され、そのゲートは、トランジスタP1のゲート
に接続されるととも、入力端子21Iに接続されてい
る。入力端子21Iには、中間電圧発生回路3を活性に
するPチャネル型MOSトランジスタ51が接続されて
いる。トランジスタ51のゲートには、イネーブル信号
ENAHが入力される。イネーブル信号ENAは、中間
電圧発生回路3の活性/非活性を制御する信号であり、
イネーブル信号ENAHは、その“H”レベルをVPP
レベルに変換した信号である。
【0036】出力端21Oは、中間電圧出力線23に接
続されている。この中間電圧出力配線23には、中間電
圧コントロール信号VMD(V10MD、V6.5M
D、V5MD)に従って、中間電圧出力線23の中間電
圧出力ノードの値を設定する中間電圧値設定回路25が
接続されている。
【0037】中間電圧値設定回路25は、抵抗成分r1
〜rnを含む中間電圧設定配線27を有している。中間
電圧設定配線27の各抵抗成分r1〜rnの相互接続点
は、Pチャネル型MOSトランジスタS1〜Snを介し
て、中間電圧出力線23に接続される。トランジスタS
1〜Snは、中間電圧コントロール信号VMD(V10
MD、V6.5MD、V5MD)により開閉制御され、
中間電圧出力線23と中間電圧設定配線27との抵抗分
割比を変化させる。これにより、中間電圧値設定回路2
5は、中間電圧出力線23の電圧を、所望の中間電圧V
OUTに設定する。中間電圧コントロール信号V10M
D、V6.5MD、V5MDは各々、電圧変換回路53
を介して、各対応するトランジスタS1〜Snのゲート
に入力される。
【0038】図3は、電圧変換回路53の回路図であ
る。図3に示すように、電圧変換回路53は、反転中間
電圧コントロール信号/V10MD、/V6.5MD、
/V5MD毎に設けられたレベルシフタ61を有してい
る。電圧変換回路53を、中間電圧コントロール信号/
V10MDに着目して説明すると、信号/V10MDは
Nチャネル型MOSトランジスタN32のゲートに入力
され、その反転信号V10MDは、Nチャネル型MOS
トランジスタN31のゲートに入力される。信号/V1
0MDが“H”レベル(なお、信号V10MDは“L”
レベルである)のとき、トランジスタN32が“オン”
し、Pチャネル型MOSトランジスタP31のゲートが
“L”レベルとなり、中間電圧VOUTにレベル変換さ
れた、信号/V10MDHが出力される。これにより、
ソースを中間電圧出力線23に接続したトランジスタS
nは、充分に“オフ”される。
【0039】図2に示す中間電圧値設定回路25は、こ
のように“H”レベルを、中間電圧VOUTにレベルシ
フトしたコントロール信号/V10MDH、/V6.5
MDH、/V5MDHにより制御される。
【0040】また、抵抗成分r1は、分圧回路29に接
続されている。分圧回路29は、中間電圧設定配線27
と回路内低電位(実施形態では、接地電位)との間に接
続された他の抵抗成分Rを含む。分圧回路29は、中間
電圧設定配線の抵抗成分r1〜rnと他の抵抗成分Rと
により、昇圧電位VPPと回路内低電位との電位差を分
圧した、分圧値VBを出力する。
【0041】分圧値VBは、第1の差動増幅器31のマ
イナス側の入力端子、および第2の差動増幅器35のプ
ラス側の入力端子に入力される。第1の差動増幅器31
のプラス側の入力端子、および第2の差動増幅器35の
マイナス側の入力端子にはそれぞれ、基準電圧VREF
が入力される。
【0042】図4(A)は、第1の差動増幅器の回路
図、図4(B)は、第2の差動増幅器の回路図である。
まず、図4(A)に示すように、第1の差動増幅器31
は、カレントミラー型差動増幅器である。第1の差動増
幅器31は、ソースに、Pチャネル型MOSトランジス
タP21を介して、内部電圧VDDを受けるPチャネル
型MOSトランジスタP11、P12を有する。トラン
ジスタP11のゲートには、分圧値VBが入力され、ト
ランジスタP12のゲートには、基準電圧VREFが入
力される。トランジスタP11のドレインは、Nチャネ
ル型MOSトランジスタN11に接続され、トランジス
タP12のドレインは、Nチャネル型MOSトランジス
タN12に接続されている。トランジスタN11、N1
2は、カレントミラー回路を構成する。トランジスタN
11は、出力端子側トランジスタであり、出力電圧VG
1は、トランジスタN11とP11との相互接続点より
得る。トランジスタN12は、入力側トランジスタであ
る。また、出力端子にドレインを接続したNチャネル型
MOSトランジスタN21のゲートには、イネーブル信
号ENAの反転信号が入力される。また、トランジスタ
P11、P12のソースに、内部電圧VDDを供給する
トランジスタP21のゲートには、イネーブル信号EN
Aが入力される。これら、トランジスタN21、P21
はそれぞれ、差動増幅器31の活性/非活性を制御する
信号である。
【0043】また、図4(B)に示すように、第2の差
動増幅器35も、第1の差動増幅器31と同様なカレン
トミラー型差動増幅器である。異なる部分は、トランジ
スタP11のゲートに基準電圧VREFを入力し、トラ
ンジスタP12のゲートに分圧値VBを入力したことで
ある。
【0044】第1の差動増幅器31の出力VG1は、第
2のカレントミラー回路33の入力端子33Iに入力さ
れる。第2のカレントミラー回路33は、Nチャネル型
MOSトランジスタN1、N2を含む。トランジスタN
1のドレインは、第2のカレントミラー回路33の出力
端子33Oである。トランジスタN1のドレインは、第
1のカレントミラー回路の入力端子21Iに接続され、
そのソースは、回路内低電位(接地電位)に接続され
る。トランジスタN2のドレインは、第2のカレントミ
ラー回路33の出力端子33Iである。トランジスタN
2のドレインは、第1の差動増幅器31の出力VG1が
供給され、そのソースは回路内低電位(接地電位)に接
続される。出力VG1は、さらにトランジスタN2のゲ
ート、およびトランジスタN1のゲートに供給される。
【0045】また、第2の差動増幅器35の出力VG2
は、第3のカレントミラー回路37の入力端子37Iに
入力される。第3のカレントミラー回路37は、Nチャ
ネル型MOSトランジスタN3、N4を含む。トランジ
スタN3のドレインは、第3のカレントミラー回路37
の出力端子37Oであり、第1のカレントミラー回路の
出力端子21Oに接続され、そのソースは、回路内低電
位(接地電位)に接続される。トランジスタN4のドレ
インは、第3のカレントミラー回路37の出力端子37
Iであり、第2の差動増幅器33の出力VG2が供給さ
れ、そのソースは回路内低電位(接地電位)に接続され
る。出力VG2は、さらにトランジスタN4のゲート、
およびトランジスタN3のゲートに供給される。
【0046】さらに、この発明では、中間電圧コントロ
ール信号V10MD、V6.5MD、V5MDが、中間
電圧VOUTの値を、他の値に遷移させるように変化し
たとき、セット信号SSETを出力するセット信号出力
回路41、このセット信号SSETによりセットされ、
中間電圧VOUTの値が他の値に遷移している状態を示
す検知信号/SVSWLATを出力するRSフリップフ
ロップ43、およびこの検知信号/SVSWLATと、
第1の差動増幅器31、もしくは第2の差動増幅器35
の出力との論理積を出力する論理積ゲート45を有して
いる。論理積ゲート45は、出力SVSWを出力する。
この出力SVSWは、RSフリップフロップ43をリセ
ットする。
【0047】セット信号出力回路41は、遅延回路4
2、論理積ゲート44、および論理和ゲート46とによ
り構成された論理回路である。この第1の実施形態のセ
ット信号出力回路41は、信号V10MDが“H”レベ
ルから“L”レベルに、信号V6.5MDが“L”レベ
ルから“H”レベルに遷移したとき、および信号V6.
5MDが“H”レベルから“L”レベルに、信号V5M
Dが“L”レベルから“H”レベルに遷移したときにそ
れぞれ、“H”パルス信号となる論理を出力する。この
ような論理により、RSフリップフロップ43をセット
する。
【0048】また、中間電圧出力線23にドレインを接
続し、ソースを回路内低電位(接地電位)に接続したN
チャネル型MOSトランジスタN55は、中間電圧出力
線23に現れる中間電圧VOUTを所望の値まで低下さ
せるとき、中間電圧出力線23のディスチャージを制御
するトランジスタである。トランジスタN55は、検知
信号/SVSWLATにより制御される。また、中間電
圧出力線23と回路内低電位(接地電位)との間に接続
された容量Cは、中間電圧VOUTを安定化させるため
の容量である。
【0049】図5は、中間電圧発生回路3の動作波形図
である。図5には、オートプラグラム時の、代表的な動
作波形が示されている。また、図5では、2回のベリフ
ァイで、書き込み“OK”となった例を示す。
【0050】図5を参照して、中間電圧発生回路3が、
プログラムから、ベリファイ電圧セットアップに遷移し
た状態を説明する。図5に示すように、プログラムか
ら、ベリファイ電圧セットアップに遷移するとき、ま
ず、信号V10MDが“H”レベルから“L”レベル
に、信号V6.5MDが“L”レベルから“H”レベル
となる。これにより、中間電圧設定回路25は、中間電
圧VOUTが10Vから6.5Vとなるように、中間電
圧設定配線27の抵抗成分r(r1〜rn)をセットす
る。
【0051】また、信号V10MD、信号V6.5MD
の変化を受けて、セット信号出力回路41は、遅延回路
42で決定される所定の時間だけ、“H”レベルとな
る、セット信号SSETを出力する。“H”レベルのセ
ット信号SSETは、フリップフロップ43をセットす
る。セットされたフリップフロップ43は、“H”レベ
ルの検知信号/SVSWLATを出力する。“H”レベ
ルの検知信号/SVSWLATは、トランジスタN55
のゲートに入力され、トランジスタN55が“オン”す
る。これにより、中間電圧出力線23が回路内低電位
(接地電位)に接続され、中間電圧出力線23の電位、
即ち中間電圧VOUTが10Vから低下しだす。中間電
圧出力線23の電位が10Vから低下することにより、
分圧値VBのレベルが変わり、第1の差動増幅器31の
出力VG1のレベルは、所定値から、ほぼ0Vに向けて
下降する。第1の差動増幅器31が中間電圧出力線23
の電位、即ち中間電圧VOUTを下げようとするためで
ある。このとき、第2の差動増幅器35の出力VG2の
レベルは、所定値から、ほぼ3Vに向けて上昇する。
【0052】中間電圧VOUTの値が6.5Vになって
も、トランジスタN55は“オン”しており、なお、中
間電圧VOUTを下げようとする。トランジスタN55
が“オン”しているために、中間電圧VOUTの値は、
設定電位6.5Vを超えて低下するようになる。中間電
圧VOUTの値が、設定電位6.5Vを超えると、第1
の差動増幅器31は、反対に中間電圧VOUTを6.5
Vに上げるように動作する。これにより、出力VG1の
レベルは、ほぼ0Vから、再び所定値に上昇される。こ
のとき、出力VG2のレベルは、ほぼ3Vから所定値に
低下する。出力VG1の値が上昇したことを受けて、論
理積ゲート45は、“H”レベルの信号SVSWを出力
する。“H”レベルの信号SVSWは、フリップフロッ
プ43をリセットする。リセットされたフリップフロッ
プ43は、検知信号/SVSWLATを“L”レベルに
戻す。検知信号/SVSWLATが“L”レベルとなる
ことにより、トランジスタN55が“オフ”し、中間電
圧出力線23と回路内低電位(接地電位)との接続が断
たれる。これにより、中間電圧出力線23の電位、即ち
中間電圧VOUTは、6.5Vに安定する。
【0053】このように、第1の実施形態に係るフラッ
シュメモリが備える中間電圧発生回路3は、中間電圧V
OUTの値が設定電位になったことを検知する/SVS
WLATを発生させることができる。この検知信号/S
VSWLATは、中間電圧VOUTが設定電位まで遷移
している間、“H”パルスとなるような信号である。こ
のような検知信号/SVSWLATを、図1に示すライ
トステートマシン1に戻すことにより、ライトステート
マシン1は、“ベリファイ電圧セットアップ”が終了し
たことを認識することができる。
【0054】なお、“リカバリ”についても、図5に示
すように、検知信号/SVSWLATが、中間電圧VO
UTが設定電位5Vまで遷移している間、“H”パルス
となるために、“ベリファイ電圧セットアップ”と同
様、“リカバリ”が終了したことを認識することができ
る。
【0055】したがって、図1に示すタイマー5により
計測していたベリファイ電圧セットアップ時間、および
リカバリ時間をそれぞれ、タイマー5を用いることなく
制御できる。これにより、オートプログラムに代表され
るオートシーケンスに要する時間を、従来に比べて短く
することができる。
【0056】例えばこの第1の実施形態では、19μs
もの時間を要した従来のオートプログラムが、14.5
μsまで短縮される(ただし、2回のベリファイで、書
き込み“OK”となった場合)。
【0057】次に、この発明の第2の実施形態に係るフ
ラッシュメモリを説明する。図6は、第2の実施形態に
係るフラッシュメモリが備える中間電圧発生回路3’の
回路図である。図6において、図2と同一部分について
は、同一の参照符号を付し、異なる部分のみ説明する。
【0058】第1の実施形態に係るフラッシュメモリが
備える中間電圧発生回路3は、中間電圧VOUTが、高
いレベルから低いレベルへ遷移していることを検知でき
るものであった。この第2の実施形態に係るフラッシュ
メモリが備える中間電圧発生回路3’は、反対に、中間
電圧VOUTが低いレベルから高いレベルへ遷移してい
ることを検知できるようにしたものである。
【0059】図6に示すように、中間電圧発生回路3’
が、中間電圧発生回路3と大きく異なる部分は、中間電
圧出力線23に、中間電圧出力線23のチャージを制御
するためのPチャネル型MOSトランジスタP55を接
続したこと、および論理積ゲート45’が出力VG2と
検知信号/SVSWLATとの論理積を出力するように
したことである。
【0060】また、中間電圧設定回路25’は、中間電
圧VOUTを5Vよりも低い3.5Vに設定するため
に、Pチャネル型MOSトランジスタS0と、抵抗r0
とを、さらに備えている。Pチャネル型MOSトランジ
スタS0は、中間電圧コントロール信号V3.5MDに
より開閉制御される。中間電圧コントロール信号V3.
5MDは、図3に示したようなレベルシフタ61によ
り、“H”レベルを中間電圧VOUTとした信号/V
3.5MDHに変換されて、トランジスタS0のゲート
に入力される。
【0061】セット信号出力回路41’は、遅延回路4
2、論理積ゲート44により構成された論理回路であ
る。この第2の実施形態のセット信号出力回路41’
は、信号V5MDが“H”レベルから“L”レベルに、
信号V3.5MDが“L”レベルから“H”レベルに遷
移したときに、“H”パルス信号となる論理を出力す
る。このような論理により、RSフリップフロップ43
をセットする。
【0062】また、トランジスタP55を制御するた
め、RSフリップフロップ43から出力される/SVS
WLATは、インバータにより反転された後、電圧変換
回路47に入力される。
【0063】図7は、電圧変換回路47の回路図であ
る。図7に示すように、電圧変換回路47は、レベルシ
フタである。反転検知信号SVSWLATはNチャネル
型MOSトランジスタN42のゲートに入力され、その
反転信号/SVSWLATは、Nチャネル型MOSトラ
ンジスタN41のゲートに入力される。反転検知信号S
VSWLATが“H”レベル(なお、信号/SVSWL
ATは“L”レベルである)のとき、トランジスタN4
2が“オン”し、Pチャネル型MOSトランジスタP4
1のゲートが“L”レベルとなり、昇圧電圧VPPにレ
ベル変換された、信号SVSWLATHが出力される。
これにより、ドレインを中間電圧出力線23に接続した
トランジスタP55は、充分に“オフ”される。
【0064】図8は、中間電圧発生回路3’の動作波形
図である。図8を参照して、中間電圧発生回路3’が発
生する中間電圧VOUTの値が3.5Vから、5Vに遷
移した状態を説明する。
【0065】図8に示すように、中間電圧VOUTの値
が3.5Vから、5Vに遷移させるときには、まず、信
号V3.5MDが“H”レベルから“L”レベルに、信
号V5MDが“L”レベルから“H”レベルとなる。こ
れにより、中間電圧設定回路25’は、中間電圧VOU
Tが3.5Vから5Vとなるように、中間電圧設定配線
27の抵抗成分r(r0〜rn)をセットする。
【0066】また、信号V3.5MD、信号V5MDの
変化を受けて、セット信号出力回路41’は、遅延回路
42で決定される所定の時間だけ、“H”レベルとな
る、セット信号SSETを出力する。“H”レベルのセ
ット信号SSETは、フリップフロップ43をセットす
る。セットされたフリップフロップ43は、“H”レベ
ルの検知信号/SVSWLATを出力する。“H”レベ
ルの検知信号/SVSWLATは、反転された後、電圧
変換回路47を介してトランジスタP55のゲートに入
力される。“L”レベルの検知信号SVSWLATHを
受けたトランジスタP55は“オン”する。これによ
り、中間電圧出力線23が昇圧電位VPPに接続され、
中間電圧出力線23の電位、即ち中間電圧VOUTが
3.5Vから上昇しだす。中間電圧出力線23の電位が
3.5Vから低下することにより、分圧値VBのレベル
が変わり、第2の差動増幅器35の出力VG2のレベル
は、所定値から、ほぼ0Vに向けて下降する。第2の差
動増幅器35が中間電圧出力線23の電位、即ち中間電
圧VOUTを上げようとするためである。このとき、第
1の差動増幅器35の出力VG2のレベルは、所定値か
ら、ほぼ3Vに向けて上昇する。
【0067】中間電圧VOUTの値が5Vになっても、
トランジスタP55は“オン”しており、なお、中間電
圧VOUTを上げようとする。トランジスタP55が
“オン”しているために、中間電圧VOUTの値は、設
定電位5Vを超えて上昇するようになる。中間電圧VO
UTの値が、設定電位5Vを超えると、第2の差動増幅
器35は、反対に中間電圧VOUTを5Vに下げるよう
に動作する。これにより、出力VG2のレベルは、ほぼ
0Vから、再び所定値に上昇される。このとき、出力V
G1のレベルは、ほぼ3Vから所定値に低下する。出力
VG2の値が上昇したことを受けて、論理積ゲート4
5’は、“H”レベルの信号SVSWを出力する。
“H”レベルの信号SVSWは、フリップフロップ43
をリセットする。リセットされたフリップフロップ43
は、検知信号/SVSWLATを“L”レベルに戻す。
検知信号/SVSWLATが“L”レベルとなることに
より、反転された後、昇圧電位VPPにレベル変換され
ている検知信号SVSWLATHは、“H”レベルとな
り、トランジスタP55を“オフ”させる。そして、中
間電圧出力線23と昇圧電位VPPとの接続が断たれ、
中間電圧出力線23の電位、即ち中間電圧VOUTは、
5Vに安定する。
【0068】このように、第2の実施形態に係るフラッ
シュメモリが備える中間電圧発生回路3’は、中間電圧
発生回路3と同様に、第1の中間電圧VOUTの値が設
定電位になったことを検知する/SVSWLATを発生
させることができる。この検知信号/SVSWLAT
は、中間電圧VOUTが設定電位まで遷移している間、
“H”パルスとなるような信号である。このような検知
信号/SVSWLATを、図1に示すライトステートマ
シン1に戻すことにより、ライトステートマシン1は、
“中間電圧VOUTの設定電圧への上昇”が終了したこ
とを認識することができる。
【0069】なお、中間電圧VOUTを3.5Vから5
Vへ上昇させる具体的なシーケンスは、例えばイレーズ
ベリファイレベル3.5Vから、5Vにリカバリする場
合にみることができる。
【0070】次に、この発明の第3の実施形態を説明す
る。第1、第2の実施形態において、もし、検知信号/
SVSWLATが正常に発生されなかった場合、ライト
ステートマシン1は、装置の動作を、次の動作に遷移さ
せることができない。検知信号/SVSWLATが正常
に発生されない場合の具体的な例は、例えば酸化膜破
壊、リーク、もしくはショートなどにより、装置が不良
になっている場合である。この場合には、中間電圧VO
UTが、所望の値にならず、したがって、正常な検知信
号/SVSWLATは発生せず、ライトステートマシン
1は、無限ループに入った状態である。
【0071】そこで、ライトステートマシン1が無限ル
ープに入ることを抑制するために、図1に示すタイマー
5を利用する。つまり、ベリファイ電圧セットアップ、
リカバリなどに、従来と同じよう時間を設定し、タイマ
ー5による計測と、検知信号/SVSWLATとを併用
して、ライトステートマシン1を制御する。ライトステ
ートマシン1は、検知信号/SVSWLAT、およびタ
イマー5の経過時間を知らせるタイマー信号TIMEの
いずれかが入力されたとき、装置の動作を、次の状態に
遷移させる。
【0072】このようにライトステートマシン1を、中
間電圧発生回路3,3’からの検知信号/SVSWLA
T、およびタイマー5からのタイマー信号TIMEの双
方を使用して、制御することにより、ライトステートマ
シン1が無限ループに入ることを抑制することができ
る。
【0073】次に、この発明の第4の実施形態を説明す
る。第4の実施形態に係る装置は、第3の実施形態に係
る装置と同様に、中間電圧発生回路3,3’を、タイマ
ー5と併用する例である。
【0074】第4の実施形態は、図1に示すタイマー信
号TIMEが出力されているにも関わらず、検知信号/
SVSWLATが出力されないとき、ライトステートマ
シン1が、その動作を不良と判断し、装置の動作を停止
させることである。
【0075】このようにタイマー信号TIMEが出力さ
れているにも関わらず、検知信号/SVSWLATが出
力されないとき、ライトステートマシン1が、動作を停
止させることにより、不良なまま、次の動作に遷移する
ことを抑制できる。
【0076】次に、この発明の第5の実施形態を説明す
る。図9は、この発明の第5の実施形態に係るフラッシ
ュメモリの主要部を示すブロック図である。
【0077】この第5の実施形態は、電源投入時に、内
部で昇圧を始め、その昇圧された電位が所望の電圧にな
ったことを検知して、検知信号を出力し、その検知信号
で、電源投入時のセットアップ動作が終了したことを認
識するものである。
【0078】図9に示すように、電源が投入されると、
パワーオンリセット信号PONRSTがレファレンス電
圧発生回路201、リングオシレータ203、フリップ
フロップ143に入力される。
【0079】レファレンス電圧発生回路201は、信号
PONRSTを受けて、基準電圧VREFを発生させ
る。リングオシレータ203は、信号PONRSTを受
けて、発振信号φPを発振する。発振信号φPは、チャ
ージポンプ回路205を駆動する駆動パルスである。チ
ャージポンプ回路205は、発振信号φPを受けて、電
源電圧VDD(例えば3V)を、昇圧内部電圧VDDR
(例えば5V)に昇圧する。昇圧内部電位VDDRは、
図示せぬ他の回路に、電源電圧として供給される。
【0080】フリップフロップ143は、信号PONR
STを受けてセットされる。セットされたフリップフロ
ップ143は、検知信号/SVDDRLATを出力す
る。検知信号/SVDDRLATを反転させ、かつその
“H”レベルをVPPレベルに変換した信号SVDDR
LATHは、Pチャネル型MOSトランジスタP155
のゲートに入力される。トランジスタP155は、それ
がオンしているとき、昇圧電位VDDRのノードに、昇
圧電位VPPを供給する。昇圧電位VPPは、昇圧電位
VDDRよりも高い電位である。
【0081】また、昇圧内部電位VDDRが、所望の値
になったか否かを検知するために、昇圧内部電位VDD
Rと回路内低電位(接地電位)とを分圧する分圧回路1
25が設けられている。分圧回路125は、昇圧内部電
位VDDRと回路内低電位(接地電位)との間に直列に
接続された抵抗成分rとRとを含み、これの相互接続点
から、分圧値VBを出力する。
【0082】差動増幅器135のマイナス側の入力端子
には、基準電圧VREFが入力され、プラス側の入力端
子には、分圧値VBが入力される。そして、差動増幅器
135は、昇圧内部電位VDDRが、設定された昇圧内
部電位の値を超えたとき、充分に所望の値になったと検
知する検知信号SVDDRを出力する。
【0083】また、検知信号SVDDRは、論理積ゲー
ト回路145の第1の入力に入力される。この論理積ゲ
ート回路145の第2の入力には、検知信号/SVDD
RLATが入力されている。論理積ゲート回路145
は、昇圧内部電位VDDRが、充分に所望の値になった
と検知する信号SVDDRと、検知信号/SVDDRL
ATとの論理積を出力して、フリップフロップ143を
リセットする。
【0084】このように第5の実施形態では、パワーオ
ンリセット信号によりセットされ、信号SVDDRによ
りリセットされるフリップフロップ143を有すること
により、第1〜第4の実施形態と同様に、昇圧内部電位
VDDRが、所望の値になったことを検知する検知信号
/SVDDRLATを出力できる。この検知信号/SV
DDRLATを、図示せぬ他の内部回路に出力すること
により、検知信号/SVDDRLATを受けた他の内部
回路は、例えばタイマーにより設定時間を計測しなくて
も、電源投入後のセットアップ動作が終了したことを認
識できる。
【0085】
【発明の効果】以上、説明したように、この発明によれ
ば、自身が発生させる中間電圧が所望の値になったこと
を、自身で検知可能な中間電圧発生回路と、この中間電
圧発生回路を備えてオートシーケンスに要する時間を短
縮できる半導体集積回路装置と、タイマーにより設定時
間を計測しなくても、電源投入後のセットアップ完了を
認識できる半導体集積回路装置とを提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の第1の実施の形態に係るフラ
ッシュメモリのブロック図。
【図2】図2はこの発明の第1の実施の形態に係る中間
電圧発生回路3の回路図。
【図3】図3は電圧変換回路53の回路図。
【図4】図4(A)は第1の差動増幅器31の回路図、
図4(B)は第2の差動増幅器35の回路図。
【図5】図5は中間電圧発生回路3の動作波形図。
【図6】図6はこの発明の第2の実施の形態に係る中間
電圧発生回路3’の回路図。
【図7】図7は電圧変換回路47の回路図。
【図8】図8は中間電圧発生回路3’の動作波形図。
【図9】図9はこの発明の第5の実施形態に係るフラッ
シュメモリの主要部を示すブロック図。
【図10】図10(A)はフラッシュメモリのオートプ
ログラムのフローチャート、図10(B)はオートプロ
グラム中のワード線電圧の状態を示す図。
【図11】図11は従来のフラッシュメモリの概略的な
ブロック図。
【図12】図12は従来の中間電圧発生回路の動作波形
図。
【符号の説明】
1…ライトステートマシン、 3,3’…中間電圧発生回路、 5…タイマー、 21…第1のカレントミラー回路、 23…中間電圧出力線、 25,25’…中間電圧設定回路、 27…中間電圧設定配線、 29,129…分圧回路、 31,131…第1の差動増幅器、 33…第2のカレントミラー回路、 35…第2の差動増幅器、 37…第3のカレントミラー回路、 41,41’…セット信号出力回路、 43,143…フリップフロップ、 45,45’,145…論理積ゲート回路、 47…電圧変換回路、 51…Pチャネル型MOSトランジスタ、 53,53’…電圧変換回路、 N55…Nチャネル型MOSトランジスタ、 P55…Pチャネル型MOSトランジスタ、 201…レファレンス電圧発生回路、 203…リングオシレータ、 205…チャージポンプ回路。

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 中間電圧コントロール信号に従って中間
    電圧の値を設定して、前記中間電圧を発生させる中間電
    圧発生回路であって、 前記中間電圧の値を、第1の所望の電圧から第2の所望
    の電圧に向かって遷移させるとき、前記第2の所望の電
    圧を超えるように遷移させ、前記中間電圧の値が、前記
    第2の所望の電圧を超えたときに内部の動作を切り替
    え、この内部の動作の切り替えをトリガとして、前記中
    間電圧の値が、前記第1の所望の電圧から前記第2の所
    望の電圧になったことを検知することを特徴とする中間
    電圧発生回路。
  2. 【請求項2】 前記第2の所望の電圧が、前記第1の所
    望の電圧よりも低いとき、 前記中間電圧の値を、前記第2の所望の電圧よりも、さ
    らに低くするトランジスタと、 前記中間電圧の値が、前記第1の所望の電圧と前記第2
    の所望の電圧との間にあるとき、前記中間電圧の値を、
    前記第2の所望の電圧に向けて低下させる電圧低下動作
    を行い、 前記中間電圧の値が、前記第2の所望の電圧よりも低く
    なったとき、前記電圧低下動作を、前記中間電圧の値
    を、前記第2の所望の電圧に向けて上昇させる電圧上昇
    動作に切り替える電圧調節手段と、 前記電圧調節手段の動作が、電圧低下動作から電圧上昇
    動作に切り替わったことを検知して、検知信号を出力す
    る検知信号出力手段とを具備することを特徴とする請求
    項1に記載の中間電圧発生回路。
  3. 【請求項3】 前記第2の所望の電圧が、前記第1の所
    望の電圧よりも高いとき、 前記中間電圧の値を、前記第2の所望の電圧よりも、さ
    らに高くするトランジスタと、 前記中間電圧の値が、前記第1の所望の電圧と前記第2
    の所望の電圧との間にあるとき、前記中間電圧の値を、
    前記第2の所望の電圧に向けて上昇させる電圧上昇動作
    を行い、 前記中間電圧の値が、前記第2の所望の電圧よりも高く
    なったとき、前記電圧上昇動作を、前記中間電圧の値
    を、前記第2の所望の電圧に向けて低下させる電圧低下
    動作に切り替える電圧調節手段と、 前記電圧調節手段の動作が、電圧上昇動作から電圧低下
    動作に切り替わったことを検知して、検知信号を出力す
    る検知信号出力手段とを具備することを特徴とする請求
    項1に記載の中間電圧発生回路。
  4. 【請求項4】 中間電圧コントロール信号に従って中間
    電圧の値を、第1の所望の電圧から第2の所望の電圧に
    設定するとき、前記中間電圧の値を、前記第1の所望の
    電圧より前記第2の所望の電圧を超えるように遷移さ
    せ、前記中間電圧の値が、前記第2の所望の電圧を超え
    たときに内部の動作を切り替え、この内部の動作の切り
    替えをトリガとして、前記中間電圧の値が、前記第1の
    所望の電圧から前記第2の所望の電圧になったことを検
    知し、検知信号を出力する中間電圧発生回路と、 前記中間電圧コントロール信号を出力して前記中間電圧
    発生回路を制御するとともに、前記検知信号を受けるこ
    とで、装置の内部モードを、次のモードに遷移させるタ
    イミングを認識する状態遷移制御装置とを具備すること
    を特徴とする半導体集積回路装置。
  5. 【請求項5】 前記状態遷移制御装置は、前記検知信号
    と、タイマーからのタイマー出力との少なくともいずれ
    か一方により、前記装置の内部モードを、次のモードに
    遷移させるタイミングを認識することを特徴とする請求
    項4に記載の半導体集積回路装置。
  6. 【請求項6】 前記状態遷移制御装置は、前記検知信号
    が、タイマーにより計測された時間内に出力されなかっ
    たとき、不良と認識することを特徴とする請求項4に記
    載の半導体集積回路装置。
  7. 【請求項7】 出力側カレントパスの一端、および入力
    側カレントパスの一端それぞれに、昇圧電位を受ける第
    1のカレントミラー回路と、 前記第1のカレントミラー回路の出力側カレントパスの
    他端の電位を抽出する中間電圧出力線と、 抵抗成分を含む中間電圧設定配線、およびこの中間電圧
    設定配線と前記中間電圧出力との間に互いに並列に接続
    され、ゲートに中間電圧コントロール信号を受けるトラ
    ンジスタを含み、前記中間電圧コントロール信号に従っ
    て、前記中間電圧出力線の中間電圧出力ノードの値を設
    定する中間電圧値設定回路と、 前記中間電圧設定配線と前記回路内低電位との間に接続
    された他の抵抗成分を含み、前記昇圧電位と前記回路内
    低電位との電位差を、前記中間電圧設定配線の抵抗成分
    と前記他の抵抗成分とにより分圧し、分圧値を出力する
    分圧回路と、 プラス側の入力に基準電圧を受け、マイナス側の入力に
    前記分圧値を受ける第1の差動増幅器と、 プラス側の入力に前記分圧値を受け、マイナス側の入力
    に前記基準電圧を受ける第2の差動増幅器と、 一端に回路内低電位を受け、他端に前記第1の差動増幅
    器の出力を受ける入力側カレントパス、および前記第1
    のカレントミラー回路の入力側カレントパスの他端より
    電流を前記回路内低電位に引き抜く出力側カレントパス
    を有する第2のカレントミラー回路と、 一端に回路内低電位を受け、他端に前記第2の差動増幅
    器の出力を受ける入力側カレントパス、および前記第1
    のカレントミラー回路の出力側カレントパスの他端より
    電流を前記回路内低電位に引き抜く出力側カレントパス
    を有する第3のカレントミラー回路と、 前記中間電圧コントロール信号が、前記中間電圧の値を
    他の値に遷移させるように変化したとき、セット信号を
    出力するセット信号出力回路と、 前記セット信号によりセットされ、中間電圧の値が他の
    値に遷移している状態を示す検知信号を出力するフリッ
    プフロップと、 前記検知信号と、前記第1の差動増幅器もしくは前記第
    2の差動増幅器の出力との論理積を出力し、前記フリッ
    プフロップをリセットするゲート回路と、 前記検知信号により制御され、前記中間電圧出力ノード
    と前記昇圧電位もしくは前記回路内低電位との間に直列
    に接続されるトランジスタとを具備することを特徴とす
    る半導体集積回路装置。
  8. 【請求項8】 前記検知信号を、半導体集積回路装置の
    内部の動作状態を遷移させるか否かの判定に使用するこ
    とを特徴とする請求項7に記載の半導体集積回路装置。
  9. 【請求項9】 半導体集積回路装置の内部の動作状態を
    遷移させる状態遷移制御装置を、さらに具備し、 前記状態遷移制御装置は、前記検知信号により、前記内
    部の動作状態を遷移させるタイミングを認識することを
    特徴とする請求項8に記載の半導体集積回路装置。
  10. 【請求項10】 半導体集積回路装置の内部時間を計測
    し、タイマー出力を出力するタイマーを、さらに具備
    し、 前記状態遷移制御装置は、前記検知信号、あるいは前記
    タイマー出力の少なくとも一方により、前記内部の動作
    状態を遷移させるタイミングを認識することを特徴とす
    る請求項8に記載の半導体集積回路装置。
  11. 【請求項11】 前記内部の動作状態には設定時間が定
    められ、 前記内部設定時間をタイマーにより計測し、この計測し
    た時間内で前記検知信号が出力されなかったとき、回路
    が不良であると判断されることを特徴とする請求項10
    に記載の半導体集積回路装置。
  12. 【請求項12】 中間電圧の値を、電源投入から所望の
    電圧に向かって遷移させる中間電圧発生回路であって、 前記中間電圧の値を、電源投入から所望の電圧に向かっ
    て遷移させるとき、前記所望の電圧を超えるように遷移
    させ、前記中間電圧の値が、前記所望の電圧を超えたと
    きに内部の動作を切り替え、この内部の動作の切り替え
    をトリガとして、前記中間電圧の値が、前記電源投入か
    ら前記所望の電圧になったことを検知し、電源投入時の
    セットアップ動作の終了を示す信号を出力することを特
    徴とする中間電圧発生回路。
JP4417497A 1997-02-27 1997-02-27 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置 Pending JPH10241385A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4417497A JPH10241385A (ja) 1997-02-27 1997-02-27 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置
TW087102277A TW404069B (en) 1997-02-27 1998-02-18 Intermediate voltage generator and semiconductor integrated circuit including the same
KR1019980006071A KR19980071728A (ko) 1997-02-27 1998-02-26 중간 전압 발생 회로 및 이것을 갖는 반도체 집적 회로 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4417497A JPH10241385A (ja) 1997-02-27 1997-02-27 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10241385A true JPH10241385A (ja) 1998-09-11

Family

ID=12684227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4417497A Pending JPH10241385A (ja) 1997-02-27 1997-02-27 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPH10241385A (ja)
KR (1) KR19980071728A (ja)
TW (1) TW404069B (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001338493A (ja) * 2000-05-25 2001-12-07 Toshiba Corp 半導体装置
WO2007043095A1 (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Spansion Llc 記憶装置、および記憶装置の制御方法
JP2008251096A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置と、制御信号発生回路およびそれを用いた半導体装置
CN112420099A (zh) * 2019-08-20 2021-02-26 美光科技公司 用于模拟行存取跟踪的设备和方法
US11984148B2 (en) 2019-05-31 2024-05-14 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for tracking victim rows

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001338493A (ja) * 2000-05-25 2001-12-07 Toshiba Corp 半導体装置
WO2007043095A1 (ja) * 2005-09-30 2007-04-19 Spansion Llc 記憶装置、および記憶装置の制御方法
JPWO2007043095A1 (ja) * 2005-09-30 2009-04-16 スパンション エルエルシー 記憶装置、および記憶装置の制御方法
US7881142B2 (en) 2005-09-30 2011-02-01 Spansion Llc Storage device and control method thereof
TWI395227B (zh) * 2005-09-30 2013-05-01 Spansion Llc 儲存裝置以及其控制方法
JP2008251096A (ja) * 2007-03-30 2008-10-16 Renesas Technology Corp 不揮発性半導体記憶装置と、制御信号発生回路およびそれを用いた半導体装置
US11984148B2 (en) 2019-05-31 2024-05-14 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for tracking victim rows
CN112420099A (zh) * 2019-08-20 2021-02-26 美光科技公司 用于模拟行存取跟踪的设备和方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR19980071728A (ko) 1998-10-26
TW404069B (en) 2000-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7180796B2 (en) Boosted voltage generating circuit and semiconductor memory device having the same
US11250919B2 (en) Voltage generation circuit which is capable of executing high-speed boost operation
US6901012B2 (en) Semiconductor memory device having a power-on reset circuit
US6226224B1 (en) Semiconductor integrated circuit device and storage device
US20080036528A1 (en) Charge pump circuit
US6801466B2 (en) Circuit for controlling a reference node in a sense amplifier
US6324112B1 (en) Reading device and method for integrated circuit memory
US8098528B2 (en) Voltage generation circuit and nonvolatile memory device including the same
JP4178205B2 (ja) メモリ装置のワード線信号をブーストするブーストシステムおよびブースト方法
US7619924B2 (en) Device and method for reading out memory information
JPH10241385A (ja) 中間電圧発生回路およびこれを有する半導体集積回路装置
US8085086B1 (en) Non-volatile memory device and charge pump circuit for the same
US6906966B2 (en) Fast discharge for program and verification
US5742558A (en) Semiconductor memory device for plurality of ranges of power supply voltage
US7548482B2 (en) Memory device for early stabilizing power level after deep power down mode exit
US6960951B2 (en) Circuit for detecting a logic transition with improved stability of the length of a detection signal pulse
JP4159570B2 (ja) オシレータ回路、該オシレータ回路を備えた半導体装置、及び該オシレータ回路を備えた半導体記憶装置
JP2001160295A (ja) 半導体集積回路
US9275749B1 (en) Internal power voltage generating circuit, semiconductor memory device and semiconductor device
EP0915476A1 (en) Method and circuit for regulating the length of an ATD pulse signal
US7710793B2 (en) Write voltage generating circuit and method
JP2003196993A (ja) 半導体記憶装置
JPH11260083A (ja) 電子メモリデバイス用行復号回路および行復号段階を制御する方法
KR100335780B1 (ko) 네가티브 부스팅 회로
JP2000306393A (ja) メモリ回路