JPH10220963A - 穀粒乾燥機の平均水分算出装置 - Google Patents

穀粒乾燥機の平均水分算出装置

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JPH10220963A
JPH10220963A JP2474997A JP2474997A JPH10220963A JP H10220963 A JPH10220963 A JP H10220963A JP 2474997 A JP2474997 A JP 2474997A JP 2474997 A JP2474997 A JP 2474997A JP H10220963 A JPH10220963 A JP H10220963A
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JP
Japan
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grain
moisture
grains
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moisture value
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JP2474997A
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Inventor
Takashi Nagai
永井  隆
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Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Iseki and Co Ltd
Iseki Agricultural Machinery Mfg Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】粃粒、及び未熟粒(青米)の混入が多い穀粒の
水分測定であっても、正確な水分検出をさせようとする
ものである。 【解決手段】水分センサで一粒づつ所定粒数検出した検
出穀粒水分値と粒数とによって穀粒の平均水分値を算出
するときは、検出した全粒数内の低水分側と高水分側の
所定粒数を制御装置でカット処理して、残り粒数の検出
穀粒水分値で平均水分値を算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、穀粒乾燥機で乾
燥中の乾燥水分を水分センサで一粒づつ所定粒数検出
し、この検出穀粒水分値の平均水分算出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】穀粒は、穀粒乾燥機の穀粒乾燥室で乾燥
されながら、この乾燥中の穀粒は、水分センサで一粒づ
つ所定粒数の穀粒水分値が検出され、この検出水分値と
粒数とにより、水分分布を求めて、この水分分布から穀
粒平均水分値が算出され、この算出された穀粒平均水分
値は、例えば、一回の検出水分値として表示する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】一粒づつ所定粒数検出
された、全ての検出穀粒水分値で平均水分値が算出され
ることにより、粃粒、及び未熟粒(青米)が多く混入し
た穀粒のときには、これら粃粒、及び未熟粒の影響によ
り、正確な穀粒水分値が検出されないことがあったが、
この発明により、これを解消しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】このために、この発明
は、穀粒を乾燥する穀粒乾燥室8と、乾燥中の穀粒水分
を検出する水分センサ2を設けた穀粒乾燥機において、
該水分センサ2で一粒づつ所定粒数検出した検出穀粒水
分値と粒数とによって穀粒の平均水分値を算出すると
き、検出した全粒数内の低水分側の所定粒数と高水分値
の所定粒数とをカット処理した残り粒数の検出穀粒水分
値で平均水分値を算出する制御装置41を設けたことを
特徴とする穀粒乾燥機の平均水分算出装置の構成とす
る。
【0005】
【発明の作用】穀粒は、穀粒乾燥機の穀粒乾燥室8で乾
燥されながら、この乾燥中の穀粒は、水分センサ2で一
粒づつ所定粒数の穀粒水分値が検出され、この検出穀粒
水分値と粒数とにより、穀粒平均水分値を算出するとき
は、検出した全粒数内の低水分側の所定粒数の検出水分
値と、高水分側の所定粒数の検出水分値との両者は、制
御装置41によってカット処理され、該制御装置41で
残り粒数の検出穀粒水分値で平均水分値が算出され、こ
の算出された穀粒平均水分値は、一回の検出水分値とし
て、例えば、表示する。
【0006】
【発明の効果】一粒づつ所定粒数検出した、全粒数内の
低水分側、及び高水分側の所定粒数の検出穀粒水分値が
カット処理されて、残り粒数の検出水分値で平均水分値
が算出されることにより、粃粒、及び未熟粒の検出水分
値は、カット処理されたことになり、このために、正確
な穀粒水分値が検出できる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図例は、穀粒を乾燥する循環型の穀粒乾燥機1
に穀粒の水分を検出する水分センサ2、及び熱風が発生
するバーナ3等を装着した状態を示すものである。前記
乾燥機1は、前後方向に長い長方形状で機壁4上部に
は、移送螺旋を回転自在に内装した移送樋5、及び天井
板6を設け、この天井板6下側には、穀粒を貯留する穀
粒貯留室7形成している。
【0008】穀粒乾燥室8,8は、貯留室7下側におい
て、左右両側の排風室9,9と中央の送風室10との間
に設け、これら乾燥室8,8下部には、穀粒を繰出し流
下させる繰出バルブ11を夫々回転自在に軸支してい
る。集穀樋12は、移送螺旋を回転自在に軸支し、各乾
燥室8,8下側に設けて連通させている。
【0009】前記バーナ3は、バーナケース13に内装
して設け、このバーナケース13は、前側機壁4正面側
において、送風室10入口側に対応すべくこの前側機壁
4外側面に着脱自在に設け、又、乾燥機1、水分センサ
2、及び該バーナ3を張込、乾燥、及び排出の各作業別
に始動、及び停止操作する操作装置14は、該前側機壁
4外側面に着脱自在に設けている。
【0010】排風機15は、後側機壁4で、左右の排風
室9,9に連通すべく設けた排風路室16中央後部側排
風胴17に設け、又、この後側機壁4には、この排風機
15を回転駆動する排風機モータ18を設けた構成とし
ている。バルブモータ19は、繰出バルブ11,11を
減速機構を介して回転駆動させている。
【0011】燃料ポンプ20は、燃料バルブを有して、
バーナケース13下板外側に設け、この燃料バルブの開
閉により、この燃料ポンプ20で燃料タンク21内の燃
料を吸入して、バーナ3へ供給させている。送風機22
は、上板外側に設け、変速用の送風機モータ23で変速
回転駆動させ、供給燃料量に見合った燃焼用空気を該バ
ーナ3へこの送風機22で送風させている。
【0012】拡散盤24は、移送樋5底板の前後方向中
央部で、移送穀粒を貯留室7へ供給する供給口の下側に
設け、該貯留室7へ穀粒を均等に拡散還元させている。
昇穀機25は、前側機壁4外側部に設けられ、内部には
バケットコンベア26付ベルトを張設してなり、上端部
は、移送樋5始端部との間において投出筒27を設けて
連通させ、下端部は、集穀樋12終端部との間において
供給樋28を設けて連通させている。
【0013】昇穀機モータ29は、バケットコンベア2
6付ベルト、移送樋5内の移送螺旋、拡散盤24、及び
集穀樋12内の移送螺旋等を回転駆動させている。前記
水分センサ2は、昇穀機25の上下方向ほぼ中央部に設
けられている。この水分センサ2は、操作装置14から
の所定の長時間、及び所定の短時間間隔の電気的測定信
号の発信により、水分モータ30が回転し、この水分セ
ンサ2の繰込ローラ31、及び検出ロール32,32等
が回転駆動され、バケットコンベア26で上部へ搬送中
に落下する穀粒を案内板33と該繰込ロール31とで受
け、この繰込ロール31の移送溝34と該案内板33と
で一粒づつ繰込み移送して、下側の該検出ロール32,
32間へ一粒づつ供給され、この検出ロール32,32
で一粒づつ供給された穀粒を、例えば100粒挾圧粉砕
して、この100粒の粉砕穀粒の水分が各々検出される
構成としている。
【0014】前記水分センサ2で一粒づつ検出したこの
検出穀粒水分値mnと粒数との関係を表わす水分度数分
布が、図1で示す如く求められて、平均水分値MSNを
算出するときは、操作装置14内の制御装置41によ
り、図1で示す如く全粒数内の低水分側の各ブロックの
所定粒数nLの各ブロックの検出穀粒水分値MLと、高
水分側の各ブロックの所定粒数nHの各ブロックの検出
穀粒水分値MHとの両者をカット処理して、残りの各ブ
ロックの所定粒数Rnで残った各ブロックの検出穀粒水
分値Mnから穀粒の平均水分値MSNが下記式によって
算出しながら、穀粒乾燥作業を継続する構成としてい
る。
【0015】 穀粒平均水分値MSN=Σ(Mn×Rn)/ΣRn この算出された穀粒の平均水分値MSNは、一回の検出
穀粒水分値として、例えば、25.8%であったとする
と、この25.8%とそれ以外に図1で示す表示項目
(イ)、(ロ)は、操作装置14の後述する表示手段3
5へ表示する構成としている。
【0016】前記操作装置14は、箱形状でこの箱体の
表面板には、各種項目を、例えば、液晶形式などによっ
て表示する表示手段35、この表示手段35下側には、
乾燥機1の張込、乾燥、排出、通風の各作業開始のとき
に操作する各種機能を設定する複数個の押ボタン方式で
ON−OFFスイッチの機能設定手段36,37,3
8,39、及び停止操作する停止手段40を設け、これ
ら機能設定手段36,37,38,39の操作で設定す
る各種機能は、該表示手段35へ表示する。
【0017】張込、乾燥、排出、及び通風の各作業開始
前のこれら機能設定手段36,37,38,39の機能
表示は、図5で示す如く張込、乾燥、排出、及び通風と
表示手段35へ表示させている。又、穀物種類、及び乾
燥モード等を設定するときのこれら機能設定手段36,
37,38,39の機能表示は、図6で示す如く穀物、
モード、変更、及び戻りと該表示手段35へ表示する。
【0018】前記制御装置41は、操作装置14内に設
け、籾流れセンサ42の検出入力、デジタル情報の入
力、各機能設定手段36,37,38,39、及び停止
手段40の操作が入力されるデジタル入力回路43、ア
ナログセンサ情報の入力、水分センサ2、及び熱風温セ
ンサ44が検出する検出値が入力されるアナログ入力回
路45、A−D変換回路46、シリアルデータ受信回路
47、メモリクリア48が入力されるデジタル入力回路
49、これら各入力回路43,45,46,47,49
からの入力を算術論理演算、及び比較演算等を行う制御
用マイコン50、及びメモリ51、この制御用マイコン
50からの指令で出力回路52を経て排風機モータ18
を始動、及び停止制御し、出力回路53を経てバルブモ
ータ19、及び昇穀機モータ29を始動、及び停止制御
し、出力回路54を経て燃料バルブ、及び燃料ポンプ2
0を始動、停止、及び調節制御し、出力回路55を経て
送風機モータ23を始動、停止、及び調節制御し、出力
回路56を経て水分モータ30を始動、及び停止制御
し、表示回路57を経て表示手段35へ各種項目を表示
制御し、シリアルデータ送信回路58、及び不揮発メモ
リ59等よりなる構成としている。
【0019】図8〜図10は、検出穀粒水分の平均水分
値の算出を示す。前記検出ロール32,32間で一粒づ
つ供給された穀粒を、例えば、100粒挾圧粉砕し、こ
の粉砕穀粒の水分は、図8で示す如く検出され、この検
出された一粒の水分値mnと検出した粒数nとにより、
穀粒の単純平均水分値msnを下記式によって算出する
構成であり、例えば、25.8%と算出される構成であ
る。
【0020】単純平均水分値msn=Σmn/n 上記で検出した一粒の水分値mnは、各水分ブロック別
に粒数nをカウントし、図9で示す如く水分度数分布を
作成し、この水分度数分布より、各ブロックの検出穀粒
水分値Mnと、各ブロックの粒数Rnとにより、穀粒の
偏差(水分ばらつき)σNを図9で示す計算式によって
算出する構成であり、例えば、2.25%と算出される
構成である。
【0021】上記で算出した穀粒の偏差σNが所定値K
以下のときには、全粒数内の低水分側、及び高水分側の
検出穀粒水分値ML,MHのカット処理は行わずに、検
出した全粒数の一粒の水分値mnで平均水分値MSNを
算出する構成であり、例えば、24.5%と算出される
構成である。図10で示すフローチャートに沿って作用
を説明すると、穀粒の乾燥作業がスタートされS−10
1、S−102へ進み、S−102〜S−108は、図
示の如く制御され、偏差σNは、所定値Kと同じか、又
は以下か検出されS−109、NOと検出されると低水
分側、及び高水分側の各ブロックの所定粒数nL,nH
の各ブロックの検出穀粒水分ML,MHの両者がカット
処理されS−110、残った各ブロックの所定粒数Rn
で残ったブロックの検出穀粒水分値Mnで平均水分値M
SNが算出されS−111、S−109でYESと検出
されると検出した一粒の穀粒水分値mnの全粒数で平均
水分値MSNが算出されS−112、S−111、及び
S−112はS−113へ進み、S−113〜S115
は図示の如く制御され、リターンされるS−116。
【0022】これにより、穀粒水分の偏差σNが小さい
ときは、未熟粒の影響が少く、検出した全粒数で平均水
分値MSNを算出することにより、その検出時の水分値
を確実に求めることができる。図11は、検出穀粒水分
の平均水分値の算出を示す。図1で示す如く全粒数内の
低水分側の各ブロックの所定粒数nLの各ブロックの検
出穀粒水分値MLと、高水分側の各ブロックの所定粒数
nHの各ブロックの検出穀粒水分値MHとの両者をカッ
ト処理して、残り各ブロックの所定粒数Rnで残った各
ブロックの検出穀粒水分値Mnから穀粒の平均水分値M
SNを算出しながら穀粒乾燥作業を継続する構成として
いる。
【0023】この乾燥作業中に穀粒の乾燥が進み、図1
1で示す如く最大粒数の水分ブロックの検出穀粒水分値
Mnが所定水分以下になったときは、低水分側の各ブロ
ックの所定粒数nLの各ブロックの検出穀粒水分MLは
カット処理せず、高水分側の各ブロックの所定粒数nH
の各ブロックの検出穀粒水分MHはカット処理され、残
り各ブロックの所定粒数Rnで残った各ブロックの検出
穀粒水分Mnから穀粒の平均水分MSNが算出される構
成としている。
【0024】この算出された穀粒の平均水分値MSN
は、一回の検出穀粒水分値として、例えば、22.5%
であったとすると、この22.5%とそれ以外に図1、
及び図11で示す表示項目(イ)、(ロ)は、操作装置
14の表示手段35へ表示する構成としている。これに
より、検水した穀粒の平均水分値MSNが低水分とな
り、測定範囲(仕上目標水分)下限に近づいてくると、
水分度数分布の低水分側が測定限界(仕上目標水分)領
域となり、この状態で低水分側をカット処理すると、平
均水分値MSN算出に必要なデータまでカット処理され
ることがあるが、この発明により、これを防止すること
ができる。
【0025】図12は、検出穀粒水分の平均水分値算出
の作用を示す。図1で示す如く、低水分側の各ブロッ
ク、及び高水分側の各ブロックをカット処理して、残り
の各ブロックで平均水分値MSNを算出しながら、穀粒
乾燥作業を継続する構成としている。上記のカット処理
は、穀粒の水分測定時間間隔が長時間のときには、カッ
ト処理せずに平均水分値MSNを算出しながら、穀粒乾
燥作業を継続する構成としている。
【0026】測定時間間隔は、例えば、乾燥作業開始の
ときに検出した穀粒の平均水分値MSNと停止設定水分
値(仕上目標水分)MLSとの水分差MSにより、下記
の如く設定した構成としている。 水分差MS=平均水分値MSN−停止設定水分値MLS 水分差MS>3%……30分間隔で水分測定 水分差MS≦3%……5分間隔で水分測定 図12で示すフローチャートに沿って作用を説明する
と、穀粒の乾燥作業がスタートされ、S−201、S−
202へ進み、S−202〜S−209は図示の如く制
御され、長時間間隔か検出されS−210、YESと検
出されると検出された穀粒の全粒数で平均水分値MSN
が算出されS−211、S−210でNOと検出される
と低水分側、及び高水分側の各ブロックの所定粒数n
L,nHの各ブロック検出穀粒水分ML,MHの両者が
カット処理されS−212、残った各ブロックの所定粒
数Rnで残った各ブロックの検出穀粒水分値Mnから平
均水分値MSNが算出されS−213,S−211、及
びS−213はS−214へ進み、S−214〜S−2
16は図示の如く制御され、リターンされるS−21
7。
【0027】これにより、乾燥初期で穀粒の水分値が高
水分値のときは、検出した水分値は目安であり、測定時
間間隔を長時間としているが、このときは水分値のばら
つきも大きく無理にカット処理を行うと、逆に実際の水
分値との差が大きくなることがあったが、この発明によ
り、これを防止することができる。図13は、検出穀粒
水分の未熟粒の算出を示す。
【0028】図13で示す如く検出した全粒数内の低水
分側と高水分側との両者で未熟粒を検出して、これら両
方の未熟粒を加算して全体の未熟粒含有率とする構成と
している。検出した一粒の穀粒水分値mnの全粒数で単
純平均水分値msnを算出すると共に、検出穀粒水分値
mnと粒数との関係を表わす水分度数分布が、図13で
示す如く求められ、平均水分値MSNを算出するとき
は、全粒数内の低水分側、及び高水分側の各ブロックの
検出穀粒水分値ML,MHとの両者は、後記する未熟粒
としてカット処理され、残り各ブロックの所定粒数Rn
で残った各ブロックの検出水分値Mnから穀粒の平均水
分値MSNを算出しながら、穀粒乾燥作業を継続する構
成であり、又、図13で示す水分度数分布から偏差σN
が算出される構成としている。水分度数分布と偏差σN
とにより、低水分側の未熟粒判定しきいブロックMT
L、及び高水分側の未熟粒判定しきいブロックMTH
は、単純平均水分値msnを低水分側と高水分側とに分
割して、下記式で算出する構成としている。
【0029】 低水分側未熟粒判定しきいブロックMTL=単純平均水
分値msn−定数K4×偏差σN 高水分側未熟粒判定しきいブロックMTH=単純平均水
分値msn+定数K3×偏差σN 上記の低水分側のブロックMTL以下のブロックの粒数
nLと高水分側のブロックMTH以上のブロックの粒数
nH、及び測定全粒数mnとによって未熟粒含有率MJ
は、下記式で算出する構成としている。
【0030】未熟粒含有率MJ=低水分側のブロックM
TL以下のブロックの粒数nL+高水分側のブロックM
TH以下のブロックの粒数nH/測定全粒数mn×10
0 上記で算出される未熟粒含有率MJの内の低水分側のブ
ロックの粒数nLは、粃粒が多半であり、又、高水分側
のブロックの粒数nHは、青米が多半である。図13で
示す表示項目(イ),(ロ)は、操作装置14の表示手
段35へ表示される構成としている。
【0031】これにより、低水分側の粃粒等の未熟粒、
及び高水分側の青米の未熟粒の両者を加算して、全体の
未熟粒を求めることにより、正確な穀粒の平均水分値M
SNを検出することができる。図1,図9,図11、及
び図13で示す表示項目(イ)の表示は、穀粒の水分度
数分布のみが表示される構成としている。
【図面の簡単な説明】
【図1】穀粒の水分度数分布図。
【図2】水分センサの一部の拡大斜視図。
【図3】穀粒乾燥機の一部断面せる全体側面図。
【図4】図3のA−A拡大断面図。
【図5】操作装置の一部断面せる拡大正面図。
【図6】操作装置の一部断面せる作用拡大正面図。
【図7】ブロック図。
【図8】他の実施例を示す図で、穀粒の水分分布図。
【図9】他の実施例を示す図で、穀粒の水分度数分布
図。
【図10】他の実施例を示す図で、フローチャート図。
【図11】他の実施例を示す図で、穀粒の水分度数分布
図。
【図12】他の実施例を示す図で、フローチャート図。
【図13】他の実施例を示す図で、穀粒の水分度数分布
図。
【符号の説明】
2 水分センサ 8 穀粒乾燥室 41 制御装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 穀粒を乾燥する穀粒乾燥室8と、乾燥中
    の穀粒水分を検出する水分センサ2を設けた穀粒乾燥機
    において、該水分センサ2で一粒づつ所定粒数検出した
    検出穀粒水分値と粒数とによって穀粒の平均水分値を算
    出するとき、検出した全粒数内の低水分側の所定粒数と
    高水分値の所定粒数とをカット処理した残り粒数の検出
    穀粒水分値で平均水分値を算出する制御装置41を設け
    たことを特徴とする穀粒乾燥機の平均水分算出装置。
JP2474997A 1997-02-07 1997-02-07 穀粒乾燥機の平均水分算出装置 Pending JPH10220963A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009047349A (ja) * 2007-08-20 2009-03-05 Yamamoto Co Ltd 穀物乾燥装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009047349A (ja) * 2007-08-20 2009-03-05 Yamamoto Co Ltd 穀物乾燥装置

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