JPH10213521A - 不良箇所検出装置 - Google Patents

不良箇所検出装置

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JPH10213521A
JPH10213521A JP29903197A JP29903197A JPH10213521A JP H10213521 A JPH10213521 A JP H10213521A JP 29903197 A JP29903197 A JP 29903197A JP 29903197 A JP29903197 A JP 29903197A JP H10213521 A JPH10213521 A JP H10213521A
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JP
Japan
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signal
optical
level
output
circuit
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JP29903197A
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English (en)
Inventor
Fumio Ishikawa
文男 石川
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、伝送路の不良箇所を短時間で容易に
検出するようにする。 【解決手段】本発明は、水平同期信号に同期して出力さ
れる送信パルスに基づいて生成した光信号を伝送路を介
して伝送し、当該伝送路の不良箇所によつて反射された
反射光成分を受光し、当該反射光成分のゲインを水平同
期信号に基づいて所定数の水平ラインごとに１ステツプ
ずつ上げて基準の電圧レベルと比較することにより２値
データを得、光信号と反射光成分との時間差に応じた伝
送路の距離を表す横軸及び反射光成分の信号レベルを表
す縦軸と共に２値データを表示するようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【目次】以下の順序で本発明を説明する。
【０００２】発明の属する技術分野 従来の技術 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段 発明の実施の形態 （１）断線箇所検出回路を用いたカメラ−ＣＣＵシステ
ムの全体構成（図１） （２）カメラ−ＣＣＵシステムの伝送部の構成（図２及
び図３） （３）断線箇所検出回路及び電光変換回路の構成（図
４） （３−１）レーザドライバ及びオートマチツクレーザパ
ワーコントロール回路の構成（図５及び図６） （３−２）トランスインピーダンスアンプの構成（図７
及び図８） （３−３）送信パルス抜取回路の構成（図９及び図１
０） （３−４）階段波電圧生成回路の構成（図１１及び図１
２） （３−５）ゲインコントロールアンプ、コンパレータ及
びスクリーンゲート部の構成（図１３及び図１４） （４）動作及び効果 （５）他の実施の形態（図１５〜図１７） 発明の効果
【０００３】
【発明の属する技術分野】本発明は、不良箇所検出装置
に関し、例えば信号の伝送に用いる光フアイバケーブル
の不良箇所を検出する不良箇所検出装置に適用して好適
なものである。
【０００４】
【従来の技術】従来、スタジオ等でビデオカメラを用い
て番組の収録を行う場合、ビデオカメラと、テレビカメ
ラを制御するカメラコントロールユニツト（ＣＣＵ）と
をケーブルで接続することにより形成されたカメラ−Ｃ
ＣＵシステムが用いられている。実際上、カメラ−ＣＣ
Ｕシステムは、ビデオカメラをスタジオに配置すること
に対してＣＣＵをスタジオから離れた場所、例えば副調
整室等に配置するようになされている。ところで、カメ
ラ−ＣＣＵシステムにおいてはビデオカメラをスタジオ
以外の撮影現場に移動して用いたいと同時に、ビデオカ
メラで撮影した映像信号を編集したり、送信する等の信
号処理を行いやすい場所であり、かつ電源の確保しやす
い場所にＣＣＵを配置して用いたいという要求がある。
【０００５】このような要求からビデオカメラを撮影現
場等に移動する場合、カメラ−ＣＣＵシステムではビデ
オカメラとＣＣＵとを接続するケーブルの長さを調整す
るために、コネクタを用いてケーブル同士をつなぎ合わ
せて接続したり、またつなぎ合わせたケーブルをコネク
タから取り外す頻度が高かつた。
【０００６】従つて、カメラ−ＣＣＵシステムにおいて
はケーブルに光フアイバを用いることにより、ケーブル
による信号の損失を低減させて広帯域での信号伝送を行
うと共に、ケーブル自体の軽量化及び小断面積化による
小型化を図るようにしている。すなわち、カメラ−ＣＣ
ＵシステムはビデオカメラとＣＣＵとを光フアイバケー
ブルによつて接続することにより、ケーブルの移動を容
易にすると共に、ケーブル長さの延長による信号損失を
防ぐことができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、かかる構成
のカメラ−ＣＣＵシステムにおいては、ビデオカメラと
ＣＣＵとを接続する光フアイバケーブルの長さが 2000
[m]にまで及ぶ場合がある。従つて、これだけの長さの
光フアイバケーブル内を伝送されるレーザ光が損失なく
伝送されているか否かを検出する必要があつた。このよ
うな場合、一般的にオシロスコープ等の専用の測定器が
用いられている。ところが、実際上、撮影現場等におい
ては、オシロスコープ等の専用の測定器を用いて断線や
接続不良等の不良箇所の検出を行うことは容易ではな
く、現実的に考えても実用性に欠けていた。
【０００８】また、カメラ−ＣＣＵシステムにおいては
ビデオカメラとＣＣＵとを接続する光フアイバケーブル
がコネクタによつて数多く接続されており、断線や接続
不良等を検出するには全てのコネクタ部分における光フ
アイバケーブルの接続状況を確認しなければならず、多
くの時間と労力を要するという問題があつた。
【０００９】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、伝送路の不良箇所を短時間で容易に確認し得る不良
箇所検出装置を提案しようとするものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、レーザ光を光伝送路を介して伝送
する伝送装置に用いる不良箇所検出装置において、水平
同期信号に基づくタイミングで生成された送信パルス信
号に基づいて光信号を出力する光信号出力手段と、光信
号出力手段の近傍に配置され、受光した光信号を光電変
換して受信信号として出力する光電変換手段と、所定数
の水平期間毎に、所定レベルづつ増加又は減少されるゲ
インで、受信信号の信号レベルを可変する信号レベル可
変手段と、当該信号レベル可変手段の出力信号の信号レ
ベルと、閾値とを比較し、比較結果を２値データとして
出力する比較手段と、水平同期信号に基づくタイミング
で、光信号出力手段から光信号が出力されたタイミング
と光電変換手段で光信号を受信するタイミングとの時間
差に基づいて光信号出力手段と光伝送路における光信号
の反射地点との距離を示す第１の軸及び信号レベル可変
手段の出力信号の信号レベルを示す第２の軸とからなる
グラフ軸に重ねて、比較手段の出力信号を表示する表示
手段とを設けるようにする。
【００１１】これにより、光信号が出力されたタイミン
グと反射光成分を含む光信号を受信するタイミングとの
時間差に基づいて光伝送路中における光信号の反射地点
の距離を算出し、当該反射地点の距離を示す第１の軸及
び反射光成分の信号レベルを示す第２の軸とからなるグ
ラフ軸に重ねて反射光成分の信号レベルをアナログ的に
棒グラフとして表示することができるので、反射光成分
の信号レベルに応じて不良箇所の原因を断線、接続不良
あるいは異物の付着によるものかを判断して、問題とな
る箇所を短時間で容易に確認することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施の形態を詳述する。
【００１３】（１）断線箇所検出回路を用いたカメラ−
ＣＣＵシステムの全体構成 図１において１は全体として断線箇所検出回路を用いた
カメラ−ＣＣＵシステムを示し、映像信号を生成する撮
像部２Ａ及び音声信号を生成するマイク２Ｂを有するビ
デオカメラ２と、ビデオカメラ２を制御するＣＣＵ３
と、ビデオカメラ２とＣＣＵ３とを接続する光フアイバ
ケーブル４とから構成されている。
【００１４】また光フアイバケーブル４は、ビデオカメ
ラ２から見て送信用及び受信用でなる２本の光フアイバ
と、電源ライン用のメタルケーブルとを組み合わせた復
合光フアイバケーブルであり、複数のケーブルがコネク
タ５によつて直列に接続されている。さらにＣＣＵ３
は、外部からＡＣ 240[V] の電源が供給されており、光
フアイバケーブル４のメタルケーブルを介してビデオカ
メラ２に電源を供給するようになされている。
【００１５】実際上、カメラ−ＣＣＵシステム１は例え
ばビデオカメラ２がスタジオに配置され、ＣＣＵ３が副
調整室に配置されている場合、スタジオと副調整室との
間に配置された光フアイバケーブル４によつてビデオカ
メラ２とＣＣＵ３とが接続される。これにより、カメラ
−ＣＣＵシステム１は、副調整室のＣＣＵ３からメタル
ケーブルを介してスタジオのビデオカメラ２にＡＣ 240
[V] の電源を供給すると共に、各種制御信号（後述す
る）を供給するようになされている。
【００１６】続いて、カメラ−ＣＣＵシステム１は、ス
タジオのビデオカメラ２により撮影を行うと、カメラ映
像及び音声信号ＶＡを光フアイバケーブル４を介して副
調整室のＣＣＵ３に送出する。ＣＣＵ３は、カメラ映像
及び音声信号ＶＡに対して各種の信号処理を施し、編集
装置やスイツチヤ等（図示せず）に当該カメラ映像及び
音声信号ＶＡを出力するようになされている。
【００１７】この場合、ＣＣＵ３は現在オンエアされて
いる映像情報を表す信号としてリターン映像及び音声信
号ＲＶＡを編集装置から受けてビデオカメラ２に送出す
る。これにより、ビデオカメラ２はリターン映像及び音
声信号ＲＶＡを受け取ると、現在オンエアされている映
像情報をビユーフアインダを介して表示することにより
カメラマンにとつて確認できるようになされている。実
際上、カメラマンはビユーフアインダ（図示せず）を介
して撮影を行いながらスイツチを切り換えることによ
り、現在自分が撮影しているカメラ映像をビユーフアイ
ンダを介して確認したり、あるいは現在ＴＶでオンエア
されている映像を確認できるようになされている。
【００１８】（２）カメラ−ＣＣＵシステムの伝送部の
構成 次に、ビデオカメラ２及びＣＣＵ３の伝送部の構成につ
いて図２を用いて説明する。図２に示すように、ＣＣＵ
３は信号処理回路１０がカメラ映像及び音声信号ＶＡ、
リターン映像及び音声信号ＲＶＡ、システム情報信号Ｓ
Ｔ１、並びにインターカム信号ＩＣ１を入力する。ここ
で、システム情報信号ＳＴ１とはビデオカメラ２の撮影
動作及び映像信号処理の制御に関する情報、例えばレン
ズ絞り、カラーフイルタの選択、輪郭補正、各チヤンネ
ルのガンマ補正等である。また、インターカム信号ＩＣ
１とはスタジオ（現場）と副調整室のスタツフとの間の
音声等による連絡信号である。
【００１９】この場合、信号処理回路１０はカメラ映像
及び音声信号ＶＡ、リターン映像及び音声信号ＲＶＡ、
システム情報信号ＳＴ１並びにインターカム信号ＩＣ１
の位相を変えたり、あるいは時分割多重し、多重化信号
Ｓ１として送信回路１１に送出する。送信回路１１は多
重化信号Ｓ１を電光変換可能なレベルに増幅し、主伝送
信号Ｓ２として電光変換回路１２に送出する。電光変換
回路１２は半導体レーザ例えばレーザダイオードを有
し、主伝送信号Ｓ２を光信号Ｓ３（レーザ光）に変換
し、光フアイバケーブル４中を伝送させてビデオカメラ
２側の光電変換回路１３に送出する。
【００２０】光電変換回路１３は受光素子例えばフオト
ダイオードを有し、光信号Ｓ３を受光して電気信号Ｓ４
に変換し、受信回路１４に送出する。受信回路１４は電
気信号Ｓ４を信号処理回路１５で信号処理できるレベル
にまで増幅し、受信信号Ｓ５として信号処理回路１５に
送出する。信号処理回路１５は各信号が多重化されてい
る受信信号Ｓ５を分割処理することにより、ビデオカメ
ラ２側でカメラ映像及び音声信号ＶＡ、リターン映像及
び音声信号ＲＶＡ、システム情報信号ＳＴ１並びにイン
ターカム信号ＩＣ１を出力するようになされている。
【００２１】これにより、ビデオカメラ２はシステム情
報信号ＳＴ１に基づいてビデオカメラ２の撮影動作及び
映像信号処理の制御を行うと共に、インターカム信号Ｉ
Ｃ１に基づいて副調整室のスタツフからの連絡事項をビ
ユーフアインダ内に表示したり、あるいはヘツドフオン
あるいはスピーカからスタツフの音声を出力するように
なされている。
【００２２】次に、ビデオカメラ２は信号処理回路１６
が撮像部２Ａ及びマイク２Ｂからのカメラ映像及び音声
信号ＶＡ、システム情報信号ＳＴ２並びにインターカム
信号ＩＣ２を入力する。信号処理回路１６はカメラ映像
及び音声信号ＶＡに対してホワイトバランス調整及びガ
ンマ補正等の処理を行い、カメラ映像及び音声信号Ｖ
Ａ、システム情報信号ＳＴ２並びにインターカム信号Ｉ
Ｃ２の位相を変えたり、あるいは時分割多重し、多重化
信号Ｓ６として送信回路１７に送出する。送信回路１７
は多重化信号Ｓ６を電光変換可能なレベルに増幅し、主
伝送信号Ｓ７として電光変換回路１８に送出する。
【００２３】電光変換回路１８は主伝送信号Ｓ７を光信
号Ｓ８に変換し、光フアイバケーブル４中を伝送させて
ＣＣＵ３の光電変換回路１９に送出する。光電変換回路
１９は光信号Ｓ８を受光して電気信号Ｓ９に変換し、受
信回路２０に送出する。受信回路２０は電気信号Ｓ９を
信号処理回路２１で信号処理できるレベルにまで増幅
し、受信信号Ｓ１０として信号処理回路２１に送出す
る。信号処理回路２１は各信号が多重化されている受信
信号Ｓ１０を分割処理することにより、ＣＣＵ３側でカ
メラ映像及び音声信号ＶＡ、システム情報信号ＳＴ２並
びにインターカム信号ＩＣ２を出力し得るようになされ
ている。
【００２４】これにより、ＣＣＵ３はカメラ映像及び音
声信号ＶＡを後段の編集装置やスイツチヤ等（図示せ
ず）に送出することにより、当該編集装置やスイツチヤ
等によつてカメラ映像及び音声信号ＶＡを信号処理し得
るようになされている。この後、ＣＣＵ３は編集装置や
スイツチヤ等から送出されてきたカメラ映像及び音声信
号ＶＡと、現在ＴＶでオンエア中のリターン映像及び音
声信号ＲＶＡとをビデオカメラ２に送出すると共に、次
のシステム情報信号ＳＴ１及びインターカム信号ＩＣ１
をビデオカメラ２に送出するようになされている。
【００２５】ところで、ＣＣＵ３側の自己診断回路２２
は上述したカメラ−ＣＣＵシステム１の基本動作が正常
に行われているか否かを検出するようになされている。
ここで、自己診断回路２２はカメラ−ＣＣＵシステム１
の基本動作が正常に行われていない場合にエラー情報を
表示部（図示せず）に表示する。また、自己診断回路２
２はカメラ−ＣＣＵシステム１の基本動作が正常に行わ
れているにも係わらず映像信号等の各種信号の伝送がで
きない場合、光フアイバケーブル４のいずれかの部分で
断線、接続不良あるいは異物の付着等による不良箇所が
存在していると判断して断線箇所検出コマンドＤを断線
箇所検出回路２３に供給する。断線箇所検出回路２３
は、断線箇所検出コマンドＤを受け取ると各種信号（Ｖ
Ａ、ＲＶＡ、ＳＴ１及びＩＣ１）の伝送を停止して断線
箇所の検出を開始するようになされている。
【００２６】断線箇所検出回路２３は、距離測定用の送
信パルスＳＰ１を電光変換回路１２に送出し、電光変換
回路１２により距離測定用の送信パルスＳＰ１に基づい
て変換された光信号Ｓ１１（レーザ光）を光フアイバケ
ーブル４中に伝送させる。このとき、光フアイバケーブ
ル４中を伝送される光信号Ｓ１１はコネクタ部分の断
線、接続不良あるいは異物の付着があると反射され、反
射光成分Ｓ１２が同じ光フアイバケーブル４中を通つて
戻つてくる。このとき電光変換回路１２は受光用のフオ
トダイオードによつて光信号Ｓ１１を受光した後に反射
光成分Ｓ１２を受光し、受光信号Ｓ１３として断線箇所
検出回路２３に供給する。
【００２７】断線箇所検出回路２３は、受光信号Ｓ１３
から光信号Ｓ１１に相当する送信パルスＳＰ１を除去し
て反射光成分Ｓ１２に相当する反射パルスだけを取り出
すと共に、送信パルスＳＰ１を受光してから反射パルス
を受光するまでの時間差Ｔに基づいて不良箇所までの距
離を検出するようになされている。これにより、不良箇
所までの距離と、不良箇所における反射光成分の信号レ
ベルをモニタに表示するようになされている。例えば、
図３に示すように横軸は時間差Ｔに応じて算出された光
フアイバケーブル４の距離を示し、縦軸は反射光成分の
信号レベルを示す。
【００２８】また、ビデオカメラ２の自己診断回路２４
もＣＣＵ３の自己診断回路２２と同様にカメラ−ＣＣＵ
システム１の基本動作が正常に行われているか否かを検
出する。ここで、自己診断回路２４はカメラ−ＣＣＵシ
ステム１の基本動作が正常に行われていない場合にエラ
ー情報を表示部（図示せず）に表示する。また、自己診
断回路２４はカメラ−ＣＣＵシステム１の基本動作が正
常に行われているにも係わらず映像信号等の各種信号の
送信ができない場合、光フアイバケーブル４のいずれか
の部分で不良箇所が存在していると判断して断線箇所検
出コマンドＤを断線箇所検出回路２５に供給する。断線
箇所検出回路２５は、断線箇所検出コマンドＤを受け取
ると各種信号の伝送を停止して断線箇所の検出を開始す
るようになされている。
【００２９】断線箇所検出回路２５は、距離測定用の送
信パルスＳＰ１を電光変換回路１８に供給する。電光変
換回路１８は距離測定用の送信パルスＳＰ１に基づいて
光信号Ｓ１４に変換し、光フアイバケーブル４中を伝送
させる。このとき、光フアイバケーブル４中を伝送され
る光信号Ｓ１４はコネクタ部分の断線や接続不良、ある
いは異物の付着等があると反射され、反射光成分Ｓ１５
として同じ光フアイバケーブル４中を戻つてくる。この
場合電光変換回路１８は、光信号Ｓ１４を送信した後に
反射光成分Ｓ１５を受光し、受光信号Ｓ１６として断線
箇所検出回路２５に供給するようになされている。
【００３０】断線箇所検出回路２５は、受光信号Ｓ１６
から光信号Ｓ１４に相当する送信パルスＳＰ１を抜き取
つて反射光成分Ｓ１５に相当する反射パルスだけを取り
出し、送信パルスＳＰ１を受光してから反射パルスを受
光するまでの時間差Ｔに基づいて不良箇所までの距離を
検出するようになされている。これにより、不良箇所ま
での距離と、不良箇所における反射光成分Ｓ１５の信号
レベルをモニタに表示するようになされている。このよ
うに、カメラ−ＣＣＵシステム１はＣＣＵ３に断線箇所
検出回路２５が設けられ、ビデオカメラ２に断線箇所検
出回路２３が設けられることにより、どちら側からも不
良箇所の検出を行えるようになされている。
【００３１】（３）断線箇所検出回路及び電光変換回路
の構成 次に、不良箇所検出装置としての断線箇所検出回路２３
及び電光変換回路１２の構成を図４を用いて説明する。
ここで、断線箇所検出回路２５及び電光変換回路１８は
同一の回路構成なので省略する。
【００３２】通常、カメラ−ＣＣＵシステム１において
映像信号等を伝送している場合、電光変換回路１２は送
信回路１１から主伝送信号Ｓ２がアンドゲート３１の一
方の入力端に入力されると共に、他方の入力端に断線箇
所検出回路２３から「Ｈ」レベルの信号が入力される。
これにより、アンドゲート３１は開いた状態になつて主
伝送信号Ｓ２をレーザドライバ３２に送出する。
【００３３】レーザドライバ３２は、主伝送信号Ｓ２に
基づいて生成した駆動信号Ｓ２０をレーザダイオード３
３に送出する。レーザダイオード３３は駆動信号Ｓ２０
に応じた光信号Ｓ３（レーザ光）を生成し、光フアイバ
ケーブル４中を伝送させてビデオカメラ２へ伝送するよ
うになされている。また、光パワーデイテクトダイオー
ド３４は光信号Ｓ３の光パワーを検出するためのもので
あり、現在どれだけの光パワーの光信号Ｓ３がレーザダ
イオード３３から出力されているかを検出し、検出した
検出信号Ｓ２１をオートマチツクレーザパワーコントロ
ール回路（ＡＬＰＣ）３５に送出する。
【００３４】オートマチツクレーザパワーコントロール
回路３５は、光信号Ｓ３の出力レベルを常に一定にする
ため、検出信号Ｓ２１に基づいてコントロール信号Ｓ２
２を生成し、レーザドライバ３２に送出する。レーザド
ライバ３２は、コントロール信号Ｓ２２に基づいて常に
一定の光パワーの光信号Ｓ３を出力させるように調節し
て駆動信号Ｓ２０をレーザダイオード３３に送出するよ
うになされている。
【００３５】一方、断線箇所検出回路２３は自己診断回
路２２から「Ｈ」レベルの断線箇所検出コマンドＤがイ
ンバータ３６に入力されると、当該インバータ３６は
「Ｈ」レベルの断線箇所検出コマンドＤを反転させて
「Ｌ」レベルの信号を電光変換回路１２のアンドゲート
３１の他方の入力端に送出する。この場合アンドゲート
３１は開かず、主伝送信号Ｓ２をレーザドライバ３２に
送出しないようになされている。
【００３６】また、断線箇所検出回路２３は自己診断回
路２２から「Ｌ」レベルの断線箇所検出コマンドＤがイ
ンバータ３６に入力されると、当該インバータ３６は
「Ｌ」レベルの断線箇所検出コマンドＤを反転させて
「Ｈ」レベルの信号を電光変換回路１２のアンドゲート
３１に送出する。この場合アンドゲート３１は開いた状
態になつて主伝送信号Ｓ２をレーザドライバ３２に送出
する。
【００３７】すなわち、断線箇所検出回路２３は自己診
断回路２２から「Ｈ」レベルの断線箇所検出コマンドＤ
を入力した場合に主伝送信号Ｓ２の伝送を停止させて断
線箇所検出モードに入り、自己診断回路２２から「Ｌ」
の断線箇所検出コマンドＤを入力した場合に通常モード
となり、主伝送信号Ｓ２を伝送するようになされてい
る。
【００３８】続いて、断線箇所検出モードに入ると、断
線箇所検出回路２３は、パルス幅が約３ [μsec]の水平
同期信号（以下、これをＨＤと呼ぶ）を遅延回路３７に
取り込む。遅延回路３７は、ＨＤを１２ [μsec]遅延さ
せてアンドゲート３８の一方の入力端に供給する。この
遅延回路３７は、ビユーフアインダに表示される起点の
位置を合わせるためのものである。
【００３９】即ち、本実施の形態では、ＨＤのタイミン
グを基にレーザダイオード３３を発光させるが、このＨ
Ｄは水平ブランキング期間に存在している。従つて、Ｈ
Ｄそのもののタイミングでレーザダイオード３３を発光
させると、起点が正しくビユーフアインダに表示されな
くなつてしまう。よつて、この遅延回路３７が設けられ
ている。
【００４０】また、断線箇所検出回路２３は１２ [μse
c]遅延したＨＤをアンドゲート３８の一方の入力端から
取り込むと共に、「Ｈ」レベルの断線箇所検出コマンド
Ｄを他方の入力端から取り込むことにより、アンドゲー
ト３８を開かせて１２ [μsec]遅延したＨＤを抜取パル
ス生成回路３９及び送信パルス生成回路４０に送出する
ようになされている。
【００４１】送信パルス生成回路４０は、１２ [μsec]
遅延したＨＤに基づいてパルス幅が約0.5[μsec]程度の
送信パルスＳＰ１を水平走査同期で順次生成して電光変
換回路１２のレーザドライバ３２に送出する。また、抜
取パルス生成回路３９は１２[μsec]遅延したＨＤに基
づいてパルス幅が約1.5[μsec]程度の抜取パルスＮＰ１
を水平走査同期で順次生成して送信パルス抜取回路４２
に送出するようになされている。
【００４２】レーザドライバ３２は、送信パルスＳＰ１
に基づいて約0.5[μsec]のパルス幅の期間だけレーザダ
イオード３３を発光させるための駆動信号Ｓ２３を生成
し、レーザダイオード３３に送出する。レーザダイオー
ド３３は、駆動信号Ｓ２３に基づいて光信号Ｓ１１（レ
ーザ光）を発生させて光フアイバケーブル４中を伝送さ
せる。光信号Ｓ１１の一部が、光フアイバケーブル４の
断線、接続不良あるいは異物の付着等によつて反射され
ると、その反射光成分Ｓ１２が同じ光フアイバケーブル
４中を通つて戻つて来て、フオトダイオードでなる光パ
ワーデイテクトダイオード３４で受光される。
【００４３】このとき、光パワーデイテクトダイオード
３４はレーザダイオード３３が発した光信号Ｓ１１を直
接受光し、その後光信号Ｓ１１の何千分の１という程の
微弱な反射光成分Ｓ１２を断線等の数に応じた回数だけ
受光する。すなわち、光パワーデイテクトダイオード３
４が受光する反射光成分Ｓ１２は、光フアイバケーブル
４内の反射位置によつて戻つて来るまでの時間がそれぞ
れ異なる（時間差Ｔが生じる）。
【００４４】ここで、反射光成分Ｓ１２の検出された光
フアイバケーブル４内の各反射地点までのケーブル長さ
Ｄi は、光フアイバの屈折率をＮ、光信号Ｓ１１と反射
光成分Ｓ１２との受光の時間差をＴ、光速（３×１０10
[cm/sec]）をＣとすると次式
【００４５】
【数１】
【００４６】で表される。
【００４７】光パワーデイテクトダイオード３４は、こ
のようにして検出した光信号Ｓ１１及び反射光成分Ｓ１
２を受光信号Ｓ１３として断線箇所検出回路２３のトラ
ンスインピーダンスアンプ４１に出力するようになされ
ている。トランスインピーダンスアンプ４１は、出力イ
ンピーダンスを下げると共に受光信号Ｓ１３を信号処理
し得る信号レベルに増幅し、電気信号Ｓ２４として送信
パルス抜取回路４２に送出する。送信パルス抜取回路４
２は、抜取パルス生成回路３９で生成された抜取パルス
ＮＰ１によつて電気信号Ｓ２４のうちの送信パルスＳＰ
１だけを除去し、残つた反射光成分を反射パルスＳ２５
としてゲインコントロールアンプ４３に送出する。
【００４８】ところで、断線箇所検出回路２３は垂直同
期信号（以下、これをＶＤと呼ぶ）を期間検出回路４４
に取り込む。期間検出回路４４は、ＶＤに基づいて水平
走査期間１Ｈ〜１２８Ｈまでをカウントした後、水平走
査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈまでをカウントしている間だ
け「Ｈ」レベルの期間検出信号Ｋ１をアンドゲート４５
の一方の入力端に送出すると共に、走査線検出回路４６
にも送出する。
【００４９】また、走査線検出回路４６は「Ｌ」レベル
の期間検出信号Ｋ１が供給されている間、ＨＤをマスク
して何も出力せず、「Ｈ」レベルの期間検出信号Ｋ１が
供給されている間、ＨＤをそのまま出力し、階段波電圧
生成回路４７に送出する。
【００５０】階段波電圧生成回路４７は、水平走査期間
１Ｈ〜１２８Ｈまでの間は出力電圧のレベルを最も低く
し、水平走査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの間では１Ｈ
増えるたびに出力電圧のレベルを１段階ずつ上げた階段
波電圧ＶO を生成してゲインコントロールアンプ４３に
供給するようになされている。
【００５１】ゲインコントロールアンプ４３は、水平走
査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの１２８段階に分けられ
た階段波電圧ＶO に基づいて、水平走査期間１２９Ｈ〜
２５６Ｈまでの間、１Ｈ増えるたびにゲインを１ステツ
プずつ上げていき、ゲイン調整された反射パルスＳ２６
をアンプ４８に送出するようになされている。
【００５２】アンプ４８は、階段波電圧ＶO に基づいて
ゲインの上げられた反射パルスＳ２６を所定のゲインで
さらに増幅し、反射パルスＳ２７としてコンパレータ４
９に送出する。コンパレータ４９は反射パルスＳ２７の
信号レベルを基準電圧Ｖr （閾値）と比較して、当該基
準電圧Ｖr よりも大きいものを「Ｈ」、小さいものを
「Ｌ」とし、２値データＳ２８としてアンドゲート４５
に送出する。アンドゲート４５は、期間検出回路４４か
らの「Ｈ」レベルの期間検出信号Ｋ１とコンパレータ４
９からの２値データＳ２８を共に入力したときに開いた
状態になり、２値データＳ２８をアツテネータ（以下、
これをＡＴＴと呼ぶ）５０に送出するようになされてい
る。
【００５３】ＡＴＴ５０は、アンドゲート４５を介して
取り込んだコンパレータ４９からの２値データＳ２８の
出力レベルを、カメラマンがビユーフアインダ内で確認
するためのＶＦ映像信号の出力レベルである0.7[V
P-P ] 程度に落として加算器５１に送出する。また、
グラフ軸生成手段としてのキヤラクタジエネレータ５２
は反射光成分の信号レベルを縦軸、及び時間差Ｔに基づ
いて算出した光フアイバケーブル４内における反射地点
までの距離を横軸としたグラフを生成し、合成手段とし
ての加算器５１に送出する。加算器５１は、キヤラクタ
ジエネレータ５２によつて生成されたグラフに、光フア
イバケーブル４内の反射地点ごとの反射パルスをアナロ
グ的に合成し、さらにＶＦ映像信号に重ねて出力するよ
うになされている。
【００５４】従つて、水平走査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈ
までの間、走査線Ｈが画面の下方に向かつて走査してい
くに連れ、階段状ゲインＧに基づいてゲインコントロー
ルアンプ４３のゲインが上げられ、反射パルスＳ２７の
信号レベルが基準電圧Ｖr と比較されることにより２値
データＳ２８を得、当該２値データＳ２８を出力するこ
とにより、反射光成分を画面の下側半分の領域に出力す
るようになされている。このように、断線箇所検出回路
２３はビユーフアインダ内の画面の約下半分の領域に反
射光成分の信号レベルを棒グラフとしてアナログ的に表
示し得るようになされている。
【００５５】（３−１）レーザドライバ及びオートマチ
ツクレーザパワーコントロール回路の構成 図５に示すように、レーザドライバ３２は一対のＮＰＮ
型トランジスタＱ1 及びＱ2 でなり、トランジスタＱ1
のベースには通常、主伝送信号Ｓ２が入力されている
が、フアイバ断線箇所検出モードになつたときには送信
パルスＳＰ１が入力される。また、トランジスタＱ1 の
コレクタはダンピング抵抗Ｒ1 、レーザダイオード３３
を介して接地されている。
【００５６】ここで、トランジスタＱ1 のコレクタとレ
ーザダイオード３３とを接続するリード線が長くなる
と、当該リード線がインダクタンスとして働くことによ
り、リード線部分に漂遊容量（ストレイキヤパシテイ）
が入つてしまつてＬＣ共振回路を構成してしまう。これ
により、高インピーダンスになつて周波数特性が不安定
になる。従つて、このような周波数特性の変化を抑える
ためのダンピング抵抗Ｒ1 をトランジスタＱ1 のコレク
タとレーザダイオード３３との間に接続するようになさ
れている。
【００５７】また、トランジスタＱ2 はベースがベース
電源Ｖ1 に接続されていると共に、コレクタがアース接
地されている。さらに、トランジスタＱ1 及びＱ2 は各
エミツタが接続され、接続点が共通の可変電流源６０を
介して−５[V] の負電源ＶDDに接続されている。従つ
て、レーザドライバ３２はトランジスタＱ1 のベースに
「Ｈ」レベルの送信パルスＳＰ１が入力されると（この
場合、本来の主伝送信号Ｓ２は供給されない）、トラン
ジスタＱ2 が「オフ」となつてトランジスタＱ1が「オ
ン」となり、レーザダイオード３３に電流が流れて発光
するようになされている。
【００５８】さらに、レーザドライバ３２はトランジス
タＱ1 のベースに送信パルスＳＰ１が入力されずに
「Ｌ」レベルとなると、トランジスタＱ2 が「オン」に
なると共にトランジスタＱ1 が「オフ」となり、レーザ
ダイオード３３に電流が流れなくなつて発光が止まる。
レーザドライバ３２は、「Ｈ」レベルの送信パルスＳＰ
１が入力されてレーザダイオード３３によつて発光する
ときは高速だが、発光を止めるときはレーザダイオード
３３に溜まつていた電荷を逃がすルートが無いため、図
６（Ａ）に示すように入力パルス波形の立ち下がりが裾
を引いてしまう。
【００５９】この裾を引いた部分の期間は、この期間の
入力パルスのレベルよりもさらにレベルの小さな反射光
成分を検出することはできない。そこで、レーザドライ
バ３２はレーザダイオード３３と並列に２[KΩ] の抵抗
Ｒ2 を設けるようになされている。これにより、図６
（Ｂ）に示すようにレーザドライバ３２はレーザダイオ
ード３３の蓄積電荷を逃がしてパルスの立ち下がりを早
くして、図６（Ｃ）に示すような理想のパルス波形に近
づけるようになされている。
【００６０】また、オートマチツクレーザパワーコント
ロール回路３５はオペアンプＯＰ１でなり、光パワーデ
イテクトダイオード３４で検出した光信号Ｓ３の光パワ
ーを一定にするための負帰還系として用いられている。
すなわち、オペアンプＯＰ１は一方の電源端子がアース
接地されており、他方の電源端子が−５[V] の負電源Ｖ
DDに接続されている。また、オペアンプＯＰ１は光パワ
ーデイテクトダイオード３４で検出した光信号Ｓ３を送
信パルスＳＰ１として反転入力端に取り込むと共に、基
準電源Ｖ2 の電源出力を非反転入力端に取り込み、さら
に出力電流を抵抗Ｒ3 を介してネガテイブフイードバツ
クするようになされている。
【００６１】従つて、オペアンプＯＰ１は反転入力端か
ら入力した送信パルスＳＰ１の電圧を基準電源Ｖ2 の電
圧と比較し、基準電源Ｖ2 の電圧レベルよりも大きい場
合には可変電流源６０に流れる電流量を下げ、基準電源
Ｖ2 の電圧レベルよりも小さい場合には可変電流源６０
に流れる電流量を上げるようになされている。
【００６２】また、断線箇所検出モード時に発生したノ
イズ成分は、光パワーデイテクトダイオード３４のカソ
ードからアノード側の断線箇所検出回路２３に入つてし
まうことによりＳ／Ｎ比が悪化してしまう。そこで、光
パワーデイテクトダイオード３４の一端に抵抗Ｒ4 を接
続すると共に、当該抵抗Ｒ4 の一端にコンデンサＣ1を
接続することによりＣＲフイルタを構成するようになさ
れている。これにより、光パワーデイテクトダイオード
３４のカソードから入るノイズ成分をアノード側の断線
箇所検出回路２３に入る前にＣＲフイルタで除去して、
Ｓ／Ｎ比が悪化することを防止し得るようになされてい
る。
【００６３】（３−２）トランスインピーダンスアンプ
の構成 図７に示すように、トランスインピーダンスアンプ４１
は、一対のＮＰＮ型トランジスタＱ3 及びＱ4 の各エミ
ツタがエミツタ抵抗Ｒ5 ( 1.7 [KΩ])を介してアース接
地されており、当該エミツタ抵抗Ｒ5 はトランジスタＱ
3 及びＱ4 の定電流源として用いられている。また、ト
ランジスタＱ3 及びＱ4 の各コレクタは、ともに抵抗Ｒ
6 ( 2 [KΩ])を介して＋５[V] の直流電源ＶCCに接続さ
れると共に、トランジスタＱ3 のコレクタがトランジス
タＱ5 のベースに接続されている。さらに、トランジス
タＱ4 のベースは2.5[V]のベース電源ＶB を介してアー
ス接地されると共に、当該ベース電源ＶB に並列にコン
デンサＣ2 が接続されている。
【００６４】トランジスタＱ5 は、コレクタが直流電源
ＶCCに接続されると共に、エミツタがエミツタ抵抗Ｒ7
及び抵抗Ｒ8(1.7 [KΩ])を介してアース接地され、エミ
ツタ抵抗Ｒ7 と並列にバイパスコンデンサＣ3 が接続さ
れている。従つて、トランジスタＱ5 のエミツタ出力は
バイパスコンデンサＣ3 によつてゲインが下がることな
く、エミツタ抵抗Ｒ7 及び抵抗Ｒ8 によつて分圧されて
取り出せるようになされている。また、トランスインピ
ーダンスアンプ４１は出力側のトランジスタＱ5 及びエ
ミツタ抵抗Ｒ7 によつて形成するエミツタホロワによ
り、出力インピーダンスを下げるようになされている。
【００６５】ところで、ベース抵抗Ｒ7 及び抵抗Ｒ8 の
接続点には帰還抵抗Ｒ9 の一端が接続されると共に、当
該帰還抵抗Ｒ9 の他端がトランジスタＱ3 のベースに接
続されている。これにより、トランジスタＱ5 のエミツ
タ出力が帰還抵抗Ｒ9 を介してトランジスタＱ3 のベー
スにネガテイブフイードバツクするようになされてい
る。ここで、トランスインピーダンスアンプ４１の出力
電圧（振幅レベル）は帰還抵抗値×光電流で表されるの
で、帰還抵抗Ｒ9 の帰還抵抗値を大きく設定すれば出力
電圧をその分大きく取り出せる。
【００６６】従つて、トランスインピーダンスアンプ４
１は帰還抵抗Ｒ9 の帰還抵抗値( 20[KΩ])を大きな値に
設定することにより、受光信号Ｓ１３（光信号Ｓ１１と
反射光成分Ｓ１２）をＳ／Ｎ比の良い状態で増幅し得る
ようになされている。実際上、トランスインピーダンス
アンプ４１はトランジスタＱ3 及びＱ4 がリニアに動作
しているときにはそれぞれのベース電位が等しくなるよ
うになされているので、帰還抵抗Ｒ9 の帰還抵抗値が２
倍になれば出力電圧も２倍になり、同時に出力ノイズは
√２倍になる。これによりＳ／Ｎ比は、１／√２倍とな
る。
【００６７】ただし、この場合トランスインピーダンス
アンプ４１は受光信号Ｓ１３のうち光信号Ｓ１１のよう
な大きな光成分を光パワーデイテクトダイオード３４が
受光すると、直流電源ＶCCから流れる光電流が矢印Ａに
示す方向（図７）に多量に流れ出してしまつてトランジ
スタＱ3 のベース電位が下がる。
【００６８】その結果トランジスタＱ3 が「オフ」にな
ると共に、トランジスタＱ4 が「オン」になることによ
り、当該トランジスタＱ4 が飽和してしまつてリニアな
増幅動作ができなくなつてしまう。そこで、図８に示す
ように、トランスインピーダンスアンプ４１では帰還抵
抗Ｒ9 に並列にシヨツトキーダイオードＤ1 及びＤ2を
設けるようにしても良い。これにより、帰還抵抗Ｒ9 の
両端に生じる電位差がある電圧値を越えるとシヨツトキ
ーダイオードＤ1 が導通して、帰還抵抗Ｒ9 をバイパス
して帰還電流を強制的にフイードバツクするようになさ
れている。
【００６９】この場合、出力電圧はシヨツトキーダイオ
ードＤ1 の抵抗値×光電流となり、シヨツトキーダイオ
ードＤ1 の抵抗値が低抵抗であることから、出力電圧の
振幅レベルは上がらなくなつて殆ど変化しなくなる。す
なわち、出力電圧の振幅レベルが上がらないということ
は、トランジスタＱ5 のベース電位が下がる、つまりト
ランジスタＱ3 のコレクタ電流が流れることになつてト
ランジスタＱ3 及びトランジスタＱ4 がバランスするよ
うになる。
【００７０】従つて、トランジスタＱ3 及びトランジス
タＱ4 は飽和しなくなり、かくしてリニアに増幅動作で
きるようになる。但し、このように帰還抵抗Ｒ9 の帰還
抵抗値を大きく設定し、当該帰還抵抗Ｒ9 に並列にシヨ
ツトキーダイオードＤ1 及びＤ2 を設けるようにしただ
けでは、光電流が流れないときすなわち受光信号Ｓ１３
の入力がないときにでも帰還抵抗Ｒ9 の両端に生じる電
位差が大きいために、シヨツトキーダイオードＤ1 のバ
リアを越えて導通してしまつてトランジスタＱ3 のベー
スにバイアス電流が与えられてしまう。
【００７１】このようなことを避けるために、別系統か
らトランジスタＱ3 及びＱ4 の各ベースに特定電位のバ
イアス電流を供給するようにする。すなわち、2.5[V]の
ベース電源ＶB からベース抵抗Ｒ10(5.1[KΩ])をそれぞ
れ介してトランジスタＱ3 及びＱ4 の各ベースにバイア
ス電流を供給すると共に、トランジスタＱ5 のエミツタ
抵抗Ｒ7 の抵抗値を(0.1[KΩ])に選定することにより、
帰還抵抗Ｒ9 の両端に電位差を生じさせないようにす
る。
【００７２】これにより、トランスインピーダンスアン
プ４１は受光信号Ｓ１３の入力がないとき（光電流が流
れないとき）においてもシヨツトキーダイオードＤ1 を
導通させずに済むようになされている。ところで、シヨ
ツトキーダイオードＤ2 は、シヨツトキーダイオードＤ
1 と逆向きに接続され、大きなパルス成分や、逆方向の
パルス成分を受光した場合においても飽和しないように
安全を考慮して設けられている。
【００７３】ここで、トランスインピーダンスアンプ４
１はベース電源ＶB と、各ベース抵抗Ｒ10を結ぶ接続点
とを抵抗Ｒ11(0.1[KΩ])で接続すると共に、当該抵抗Ｒ
11と並列にコンデンサＣ4 を付加するようになされてい
る。これにより、抵抗Ｒ11とコンデンサＣ4 とがＣＲフ
イルタを形成することになり、ベース電源ＶB から発生
したノイズ成分を除去し得るようになされている。ま
た、ベース抵抗Ｒ10と並列に付加されたコンデンサＣ5
も同様にＣＲフイルタを形成しており、ベース抵抗Ｒ10
によるノイズ成分を除去し得るようになされている。
【００７４】このように、トランスインピーダンスアン
プ４１は入力される受光信号Ｓ１３を信号処理できる振
幅レベルに負帰還アンプを介して増幅すると共に、低イ
ンピーダンスの電気信号Ｓ２４として出力するようにな
されている。
【００７５】（３−３）送信パルス抜取回路の構成 図９に示すように、除去手段としての送信パルス抜取回
路４２においては、一対のＮＰＮ形トランジスタＱ6 及
びＱ7 の各エミツタの接続点がトランジスタＱ8 のコレ
クタに接続されており、トランジスタＱ6 のベースがベ
ース電源ＶB1を介してアース接地されると共に、トラン
ジスタＱ7 のベースが抜取パルスＮＰ１の入力端となつ
ている。
【００７６】トランジスタＱ8 はベースがベース電源Ｖ
B2を介してアース接地されると共に、エミツタがエミツ
タ抵抗Ｒ12を介してアース接地されている。この場合、
トランジスタＱ8 はトランジスタＱ6 及びＱ7 にベース
電流を流すための定電流源である。また、トランジスタ
Ｑ6 及びＱ7 においてはトランジスタＱ7 のベースに入
力される抜取パルスＮＰ１の振幅レベルが基準のベース
電源ＶB1の振幅レベルよりも大きいときにトランジスタ
Ｑ7 を「オン」にしてトランジスタＱ6 を「オフ」に
し、小さいときにトランジスタＱ7 を「オフ」にしてト
ランジスタＱ6 を「オン」にする、いわゆるスイツチと
して機能する。
【００７７】また、トランジスタＱ6 はコレクタがトラ
ンジスタＱ9 及びＱ10の各エミツタの接続点に接続さ
れ、トランジスタＱ7 はコレクタがトランジスタＱ11及
びＱ12の各エミツタの接続点に接続されている。トラン
ジスタＱ9 及びＱ11は、各コレクタが抵抗Ｒ13を介して
５[V] の直流電源ＶCCに接続されている。また、トラン
ジスタＱ10及びＱ12は、各コレクタが抵抗Ｒ14を介して
直流電源ＶCCに接続されている。
【００７８】ところで、トランジスタＱ10及びＱ11は、
各ベースの接続点がベース電源ＶB3を介してアース接地
されると共に、トランジスタＱ12のベースも同様にベー
ス電源ＶB3を介してアース接地され、またトランジスタ
Ｑ9 はベースが電気信号Ｓ２４の入力端となつている。
【００７９】さらに、トランジスタＱ12はコレクタがト
ランジスタＱ13のベースに接続され、当該トランジスタ
Ｑ13はコレクタが直流電源ＶCCに接続されると共に、エ
ミツタがエミツタ抵抗Ｒ15を介してアース接地され、当
該エミツタ抵抗Ｒ15の抵抗値の大きさに応じたゲインで
反射パルスＳ２５が増幅されて出力されるようになされ
ている。
【００８０】実際上、図１０（Ａ）に示すように電気信
号Ｓ２４は送信パルスＳＰ１と反射光成分とでなり、電
気信号Ｓ２４のうちの送信パルスＳＰ１がトランジスタ
Ｑ9のベースに入力されたときに、トランジスタＱ7 の
ベースに「Ｈ」レベルの抜取パルスＮＰ１が入力され
る。この場合、トランジスタＱ7 、Ｑ11及びＱ12が「オ
ン」状態となつて、トランジスタＱ6 、Ｑ9 及びＱ10が
「オフ」状態となる。
【００８１】このとき、トランジスタＱ6 、Ｑ9 及びＱ
10は「オフ」状態となつているので、電気信号Ｓ２４の
うちの反射光成分の入力は受け付けない状態となつてい
る。従つて、ベース電源ＶB3の直流電圧分だけがトラン
ジスタＱ11、Ｑ12及びＱ13によつて所定のレベルに増幅
されて出力される。
【００８２】ところで、送信パルスＳＰ１によつて発光
したレーザ光は、当該送信パルスＳＰ１の立ち下がりが
急峻でなく裾を引いてしまうと、同様に裾を引いた波形
になつてしまう可能性がある。このような現象が生じて
も問題無く送信パルスＳＰ１によつて発光したレーザ光
を除去するために、送信パルス抜取回路４２において
は、図１０（Ｂ）に示すように抜取パルスＮＰ１のパル
ス幅が送信パルスＳＰ１のパルス幅よりも十分大きく設
定されている。
【００８３】次に、トランジスタＱ7 のベースに入力さ
れる抜取パルスＮＰ１が「Ｌ」レベルになるとトランジ
スタＱ7 、Ｑ11及びＱ12が「オフ」状態となつて、トラ
ンジスタＱ6 、Ｑ9 及びＱ10が「オン」状態となる。従
つて、トランジスタＱ9 のベースに入力される電気信号
Ｓ２４のうちの反射光成分だけが増幅されて反射パルス
Ｓ２５として出力される。
【００８４】ここで、送信パルス抜取回路４２はベース
電源ＶB3の電圧レベルを電気信号Ｓ２４の「Ｌ」レベル
に設定し、当該ベース電源ＶB3の電圧レベルを反射光成
分と同じように増幅することにより、図１０（Ｃ）に示
すように「Ｈ」レベルの抜取パルスＮＰ１がトランジス
タＱ7 のベースに入力されている間は送信パルスＳＰ１
が波形として表れないようにすることができる。これに
より、送信パルス抜取回路４２は入力された電気信号Ｓ
２４のうちの送信パルスＳＰ１を除去した状態で反射パ
ルスＳ２５を出力し得るようになされている。
【００８５】（３−４）階段波電圧生成回路の構成 階段波電圧生成回路４７はＣＭＯＳ(Complementary-MO
S) ＩＣのように「Ｈ」及び「Ｌ」レベルの出力が共に
低インピーダンスになる回路であり、図１１に示すよう
に、カウンタの各出力にそれぞれ抵抗Ｒa 〜Ｒg を設
け、基準の抵抗値をＲX とすれば抵抗Ｒa 〜Ｒg の抵抗
値は次式
【００８６】
【数２】
【００８７】で表される。
【００８８】この場合、基準の抵抗値ＲX は固定値であ
ることから階段波電圧生成回路４７から出力される階段
波電圧ＶO は、電源電圧ＶCCをビツト数で割つた電圧ス
テツプとなり、１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの水平走査期間
では、各水平走査期間に応じた階段波電圧ＶO を生成す
るようになされている。すなわち、階段波電圧生成回路
４７においては、ｎを入力されたＨＤのパルス数とすれ
ば、階段波電圧ＶO は次式
【００８９】
【数３】
【００９０】で表すことができる。
【００９１】ここで、分母は各カウンタのビツト数の総
和（＝１２７）になつている。従つて、階段波電圧生成
回路４７は、１２９Ｈ〜２５６Ｈの水平走査期間に応じ
たＨＤが入力されたときに１２８段階に分けられた階段
波電圧ＶO を出力し得るようになされている。
【００９２】実際上、図１２に示すように、階段波電圧
生成回路４７は、各垂直走査期間において水平走査期間
０〜１２８Ｈの間はＨＤが入力されず、１２９Ｈで初め
てＨＤが入力される。１２９Ｈにおいて、１回目のＨＤ
が入力されるとｎ＝１となつて（３）式に基づいて算出
される階段波電圧ＶO は最も低い電圧値となる。
【００９３】図１１に示す階段波電圧生成回路４７にお
いては、図１２の階段波電圧ＶO に示すように、１２９
Ｈにおいて、２0 の出力のみがＨｉｇｈになる。次に、
階段波電圧生成回路４７は、１３０Ｈにおいて２1 の出
力のみがＨｉｇｈになる。このようにして、階段波電圧
生成回路４７は、１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの各水平走査
期間におけるＨＤに基づいて、階段波電圧ＶO を生成
し、ゲインコントロールアンプ４３に供給する。ゲイン
コントロールアンプ４３は、階段波電圧ＶO と比例する
ゲインで、反射パルスＳ２５を増幅する。そして１２９
ＨまでカウントするとＶＤに基づくタイミングの制御信
号（図示せず）によつてカウント値がリセツトされる。
そして、これらの動作を次の垂直走査期間においても繰
り返す。
【００９４】従つて、階段波電圧生成回路４７は水平走
査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの各ＨＤに基づいて階段
波電圧ＶO を生成し、ゲインコントロールアンプ４３に
供給することにより、当該ゲインコントロールアンプ４
３のゲインを水平走査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの
間、１Ｈごとに上げるようになされている。
【００９５】（３−５）ゲインコントロールアンプ、コ
ンパレータ及びスクリーンゲート部の構成 図１３に示すように、送信パルス抜取回路４２から出力
された反射パルスＳ２５はゲインコントロールアンプ４
３に入力される。ゲインコントロールアンプ４３は階段
波電圧ＶO によつて水平走査期間１２９Ｈ〜２５６Ｈま
での間、１Ｈ毎に１ステツプずつ上げたゲインで増幅さ
れた反射パルスＳ２６をアンプ４８に送出する。アンプ
４８は１ステツプずつ上げられたゲインで増幅された反
射パルスＳ２６をさらに増幅して反射パルスＳ２７とし
てコンパレータ４９の非反転入力端に送出する。
【００９６】コンパレータ４９は、直流電源ＶCCの出力
電圧を抵抗Ｒ15及びＲ16によつて分圧し、コンデンサＣ
6 によつて平滑することにより、高周波成分を除去した
基準電圧Ｖr を生成すると共に、基準電圧Ｖr と反射パ
ルスＳ２７とを比較することにより２値データＳ２８と
してスクリーンゲート４５に送出するようになされてい
る。
【００９７】スクリーンゲート４５は、走査タイミング
が１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの水平走査期間に入つたこと
を表す「Ｈ」レベルの期間検出信号Ｋ１を期間検出回路
４４から入力すると共に、２値データＳ２８をコンパレ
ータ４９から入力した場合に、２値データＳ２８をＡＴ
Ｔ５０に送出するようになされている。
【００９８】ＡＴＴ５０は、２値データＳ２８の振幅レ
ベルを抵抗Ｒ17及びＲ18によつて分圧して0.7[V P-P ]
程度に落としてから出力するようになされている。実際
上、図１４に示すように、ゲインコントロールアンプ４
３は画面の約下半分（水平走査期間１２９Ｈ〜２５６
Ｈ）の領域に反射パルスＳ２５の信号レベルを棒グラフ
として表示するために、１Ｈ〜１２８Ｈまでの水平走査
期間はゲインを最小レベルに設定し、次の１２９Ｈで階
段波電圧ＶO に応じて始めてゲインを１ステツプ上げ
る。この場合、コンパレータ４９はＴ1 [sec] 後の反射
光成分だけが基準電圧Ｖr よりも大きいので、この反射
光成分だけをハイレベルとしてアンドゲート４５に送出
する。
【００９９】次に、ゲインコントロールアンプ４３は１
３０Ｈの水平走査期間になると階段波電圧ＶO も１ステ
ツプ上がるので、ゲインがさらに１ステツプ上がる。こ
の場合、コンパレータ４９はＴ1 [sec] 後の反射光成分
とＴ2 [sec] 後の反射光成分が基準電圧Ｖr よりも大き
くなるので、この２つの反射光成分をハイレベルとして
アンドゲート４５に送出する。
【０１００】続いて、ゲインコントロールアンプ４３は
１３１Ｈの水平走査期間になると階段波電圧ＶO もさら
に１ステツプ上がるので、ゲインもさらに１ステツプ上
がる。この場合、コンパレータ４９はＴ1 [sec] 後、Ｔ
2 [sec] 後及びＴ3 [sec] 後の反射光成分が基準電圧Ｖ
r よりも大きくなつて、３つの反射光成分すべてをハイ
レベルとしてアンドゲート４５に送出する。このように
して、ゲインコントロールアンプ４３は走査線が画面の
下方向に進むにつれてゲインを順次上げていくことによ
り、反射光成分の信号レベルを棒グラフ状に表示し得る
ようになされている。
【０１０１】（４）動作及び効果 断線箇所検出回路２３及び２５を用いたカメラ−ＣＣＵ
システム１は、電光変換回路１２によつてカメラ映像及
び音声信号ＶＡ等の主伝送信号Ｓ２を光信号Ｓ３に変換
し、当該光信号Ｓ３を光フアイバケーブル４によつて伝
送するときに、光フアイバケーブル４の断線、接続不良
あるいは異物の付着等の不良箇所があると光信号Ｓ３の
光路が遮られる場合がある。
【０１０２】このような場合に、カメラ−ＣＣＵシステ
ム１は自己診断回路２２によつて断線箇所検出回路２３
を起動させて、断線箇所検出モードに切り換える。この
とき、「Ｈ」レベルの断線箇所検出コマンドＤが断線箇
所検出回路２３に送出される（図４）。断線箇所検出回
路２３では、遅延回路３７によつて１２ [μsec]遅延さ
れたＨＤに基づいてパルス幅約0.5[μsec]程度の送信パ
ルスＳＰ１が１水平走査期間毎に順次生成される。これ
により、モニタの左端部分に設定されるグラフの縦軸
（距離＝０[Km]）の頂点を送信パルスＳＰ１の起点とす
ることができる。
【０１０３】送信パルスＳＰ１は、レーザドライバ３２
によつてパルス幅の期間分だけ発光させる駆動信号Ｓ２
３に変換してレーザダイオード３３に送出される。レー
ザダイオード３３は、駆動信号Ｓ２３に応じた光信号Ｓ
１１を発光し、当該光信号Ｓ１１が光フアイバケーブル
４によつて伝送される。
【０１０４】このとき、光パワーデイテクトダイオード
３４はまずレーザダイオード３３によつて発光した光信
号Ｓ１１を直接受光し、その後、光フアイバケーブル４
の断線、接続不良あるいは異物の付着等によつて反射し
て戻つてくる微弱な反射光成分Ｓ１２を受光する。ここ
で、光信号Ｓ１１と反射光成分Ｓ１２とは時間差Ｔを生
じることになり、当該時間差Ｔに応じた光フアイバケー
ブル４の反射地点までのケーブル長さＤi を表した横軸
上に反射光成分Ｓ１２の信号レベルが棒グラフ状に表示
されることになる。
【０１０５】このようにして受光された光信号Ｓ１１及
び反射光成分Ｓ１２は、光パワーデイテクトダイオード
３４によつて受光信号Ｓ１３に変換され、断線箇所検出
回路２３のトランスインピーダンスアンプ４１に送出さ
れる。受光信号Ｓ１３は、トランスインピーダンスアン
プ４１によつて所定のゲインで増幅され、低インピーダ
ンスの電気信号Ｓ２４として送信パルス抜取回路４２に
送出される。
【０１０６】電気信号Ｓ２４は、送信パルス抜取回路４
２によつて送信パルスＳＰ１が除去され、反射光成分だ
けが増幅された反射パルスＳ２５としてゲインコントロ
ールアンプ４３に送出される。反射パルスＳ２５は、ゲ
インコントロールアンプ４３によつて１２９Ｈ〜２５６
Ｈの水平走査期間１Ｈごとにゲインが１ステツプずつ上
げられて反射パルスＳ２６としてアンプ４８に送出され
る。
【０１０７】反射パルスＳ２６は、アンプ４８によつて
さらに増幅されて反射パルスＳ２７としてコンパレータ
４９に送出され、当該コンパレータ４９によつて反射パ
ルスＳ２７の振幅レベルが基準電圧Ｖr と比較され、そ
の結果２値データＳ２８としてアンドゲート４５の一方
の入力端に送出される。２値データＳ２８は、期間検出
回路４４から１２９Ｈ〜２５６Ｈの水平走査期間に入つ
たことを表す「Ｈ」レベルの期間検出信号Ｋ１がアンド
ゲート４５の他方の入力端に入るとＡＴＴ５０に送出さ
れる。
【０１０８】２値データＳ２８の信号レベルは、ＡＴＴ
５０によつてＶＦ映像信号と同じ出力レベルである0.7
[V P-P ] 程度に落とされて加算器５１に送出される。
またモニタに映し出される縦軸、及び時間差Ｔに応じた
距離の目盛りが記された横軸は、キヤラクタジエネレー
タ５２によつて生成されて加算器５１に送出される。こ
れにより断線箇所検出回路２３は、加算器５１がＶＦ映
像信号、２値データＳ２８、縦軸、及び横軸を合成する
ことにより、ビユーフアインダ内に反射光成分の信号レ
ベルを表す棒グラフをＶＦ映像信号に重ねた状態で映し
出すことができる。
【０１０９】この場合、ビユーフアインダ内に映し出さ
れたグラフは画面の１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの水平走査
期間だけを用いて表示されることになる。すなわち、０
〜１２８Ｈまでの間はＶＦ映像信号のみが映し出され、
１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの間はＶＦ映像信号と重ねられ
た状態で白い棒グラフが表示されることになる。
【０１１０】このように、断線箇所検出回路２３は１２
[μsec]分遅延されたＨＤに同期して生成された送信パ
ルス基づいて光信号Ｓ１１を発生し、当該光信号Ｓ１１
を光フアイバケーブル４によつて伝送したときに当該光
フアイバケーブル４中の不良箇所によつて反射された反
射光成分Ｓ１２を受光する。
【０１１１】そして、断線箇所検出回路２３は反射光成
分Ｓ１２のゲインをＨＤに基づいて１水平走査期間ごと
に１ステツプずつ上げてゆき、ゲインが１Ｈ毎に上げら
れた反射パルスＳ２７を基準電圧Ｖr と比較することに
より２値データＳ２８を得る。
【０１１２】続いて、断線箇所検出回路２３はキヤラク
タジエネレータ５２によつて生成された光フアイバケー
ブル４中の反射位置までの距離を表す横軸及び反射光成
分Ｓ１２の信号レベルを表す縦軸を表示すると共に２値
データＳ２８を表示することにより、光フアイバケーブ
ル４中の不良箇所を示す距離位置に反射光成分Ｓ１２の
信号レベルを棒グラフ状に表示することができる。
【０１１３】これにより、ビデオカメラ側のカメラマ
ン、あるいは副調整室側のスタツフがモニタに映し出さ
れたグラフ（図３）を確認することにより、どこの位置
（距離）のコネクタ５部分において反射光成分の信号レ
ベルが高いかを認識することができる。実際上、反射光
成分の信号レベルが高いものに関しては断線の可能性が
高いと考えられるが、反射光成分の信号レベルが極端に
低いものに関してはほとんど問題にならない程度のゴミ
等によるものであると認識することができる。
【０１１４】従つて、断線箇所検出回路２３において
は、予め断線あるいは接続不良等のレーザ光を伝送でき
ないほど高い程度のレベルをしきいレベルとして設定し
ておいて、グラフ中にしきいレベルのラインＸ（図３）
を記しておく。これにより、カメラ−ＣＣＵシステム１
は反射光成分がしきいレベルのラインＸを越える位置だ
けを現場でチエツクするようにすれば済む。すなわち、
しきいレベルのラインＸを越えない反射光成分に関して
は問題にならない程度の原因によるものと考えてチエツ
クしないで済ませることができる。なお、反射地点まで
の距離が遠い程、信号レベルが減衰するので、図３に示
すように距離が遠くなるほど閾レベルを低くすることが
好ましい。
【０１１５】かくして、断線箇所検出回路２３を用いた
カメラ−ＣＣＵシステム１においては、レーザ光を伝送
できない等のトラブルが生じた場合、断線箇所検出モー
ドに切り換えるだけでビユーフアインダ内に断線箇所及
び接続不良箇所あるいは異物の付着した箇所の反射光成
分の信号レベルを棒グラフ状に表示することにより、現
場ですぐに対応して処理することができる。
【０１１６】以上の構成によれば、カメラ−ＣＣＵシス
テム１においては、断線箇所検出回路２３によつて送信
パルスＳＰ１に応じた光信号Ｓ１１をレーザダイオード
３３によつて発生して光フアイバケーブル４中を伝送さ
せ、光信号Ｓ１１が断線、接続不良あるいは異物の付着
等の不良箇所によつて反射されて時間差Ｔをもつて戻つ
てきた反射光成分Ｓ１２を受光信号Ｓ１３として受光す
る。
【０１１７】また、断線箇所検出回路２３は水平走査期
間ごとにレベルの上げられた階段波電圧に基づいて受光
信号Ｓ１３のゲインを１ステツプずつ上げていき、基準
の電圧Ｖr と比較することにより２値データＳ２８を得
る。さらに、断線箇所検出回路２３は時間差Ｔに基づい
て算出された光フアイバケーブル４の反射地点を距離と
して表す横軸及び反射光成分Ｓ１２の信号レベルを表す
縦軸をビユーフアインダに映し出すと共に、２値データ
Ｓ２８を表する。
【０１１８】これにより、断線箇所検出回路２３は光フ
アイバケーブル４中で反射が生じる全ての反射地点を検
出し、その反射光成分の信号レベルをモニタに棒グラフ
状に表示することにより、しきいレベルのラインＸを越
えるような信号レベルの高い反射光成分が検出された位
置だけを断線や接続不良等の問題がある箇所として認識
することができる。これにより、カメラ−ＣＣＵシステ
ム１はしきいレベルのラインＸを越える光フアイバケー
ブル４の位置だけを現場でチエツクすればよく、問題が
ある箇所を容易に検出して速やかに対処することができ
る。
【０１１９】（５）他の実施の形態 なお上述の実施の形態においては、図８に示すような構
成のトランスインピーダンスアンプ４１を用いるように
した場合について述べたが、本発明はこれに限らず、図
１５に示すトランスインピーダンスアンプ６０のよう
に、トランジスタＱ4 のコレクタを介してトランジスタ
Ｑ6 及びエミツタ抵抗Ｒ8 からなるエミツタホロワ回路
を設け、帰還抵抗Ｒ20を介してネガテイブフイードバツ
クするようにしても良い。これにより、トランスインピ
ーダンスアンプ６０はトランジスタＱ3 及びＱ4 の負荷
特性を互いに等しくしてアンプ自体の温度特性の改善を
図ることができる。
【０１２０】また上述の実施の形態においては、自己診
断回路２２によつて各種信号の伝送ができない場合に断
線箇所検出コマンドＤを断線箇所検出回路２３に供給し
て不良箇所の検出を開始するようにした場合について述
べたが、本発明はこれに限らず、カメラ−ＣＣＵシステ
ム１が正常に動作している場合においても作業者がスイ
ツチ（図示せず）を切り換えることにより各種信号の送
信を中止して断線箇所検出回路２３を起動させて不良箇
所の検出を開始するようにしても良い。
【０１２１】さらに上述の実施の形態においては、階段
波電圧生成回路４７において１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの
１水平走査期間ごとにステツプ状に電圧値の変わる階段
波電圧Ｖ0 を生成するようにした場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、２Ｈごとのステツプでなる
階段波電圧や４Ｈごとのステツプでなる階段波電圧を生
成するようにしても良い。
【０１２２】例えば図１６に示すように、階段波電圧生
成回路６１においては２Ｈごとのステツプでなる階段波
電圧Ｖ1 を生成する場合、２0 の出力を削除する。この
場合反射光成分の信号レベルを表すグラフは、画面上に
おける縦軸のレベル表示の変化が大きくなつて見やすく
なる。
【０１２３】さらに、図１７に示すように、階段波電圧
生成回路６２においては４Ｈごとのステツプでなる階段
波電圧Ｖ2 を生成する場合、２0 及び２1 の出力を削除
すれば良い。この場合も反射光成分のレベルを表すグラ
フは縦軸のレベル表示の変化が大きくなつて見やすくな
る。
【０１２４】さらに上述の実施の形態においては、キヤ
ラクタジエネレータ５２によつて生成したグラフの縦軸
を加算器５１で合成するようにした場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、モニタの左端を起点とする
ように位相調整したＨＤに基づいて送信パルスＳＰ１が
生成されているので、当該送信パルスＳＰ１を２値デー
タＳ２８と同時に出力することにより縦軸を表示するよ
うにしても良い。実際上、１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの期
間に入つていることを検出した「Ｈ」レベルの期間検出
信号Ｋ１をアンドゲート４５が入力している間に、２値
データＳ２８と送信パルスＳＰ１を同時にアンドゲート
４５に送出するようにすれば良い。
【０１２５】さらに上述の実施の形態においては、イン
ターレース方式で１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの水平走査期
間に反射光成分の信号レベルを表すグラフを表示するよ
うにした場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、画面の上半分の０Ｈ〜１２８Ｈまでの水平走査期間
にグラフを表示したり、画面上の他の範囲にグラフを表
示するようにしても良い。
【０１２６】さらに上述の実施の形態においては、不良
箇所検出装置としての断線箇所検出回路２３及び電光変
換回路１２が、光信号出力手段としてのレーザドライバ
３２及びレーザダイオード３３、光電変換手段としての
光パワーデイテクトダイオード、信号レベル可変手段と
してのゲインコントロールアンプ４３、比較手段として
のコンパレータ４９、表示手段としてのビユーフアイン
ダとから構成されるようにした場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、他の種々の回路からなる光信号
出力手段、光電変換手段、信号レベル可変手段、比較手
段及び表示手段によつて構成されるようにしても良い。
【０１２７】
【発明の効果】上述のように本発明によれば、光信号が
出力されたタイミングと反射光成分を含む光信号を受信
するタイミングとの時間差に基づいて光伝送路中におけ
る光信号の反射地点までの距離を算出し、当該反射地点
までの距離を示す第１の軸及び反射光成分の信号レベル
を示す第２の軸とからなるグラフ軸に重ねて反射光成分
の信号レベルをアナログ的に棒グラフとして表示するこ
とにより、反射光成分の信号レベルに応じて不良箇所の
原因を、断線、接続不良あるいは異物の付着によるもの
かを判断することができ、かくして伝送路中の不良箇所
を短時間で容易に確認し得る不良箇所検出装置を実現で
きる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施例による断線箇所検出回路を用い
たカメラ−ＣＣＵシステムの構成を示す略線図である。
【図２】カメラ−ＣＣＵシステムの伝送部の構成を示す
ブロツク図である。
【図３】光フアイバケーブル上の各位置における反射光
成分のレベルを示すモニタ図である。
【図４】断線箇所検出回路及び光電変換回路の構成を示
すブロツク図である。
【図５】レーザドライバ及びオートマチツクレーザパワ
ーコントロール回路の構成を示す回路図である。
【図６】入力パルスの波形を示す略線図である。
【図７】トランスインピーダンスアンプの構成（１）を
示す回路図である。
【図８】トランスインピーダンスアンプの構成（２）を
示す回路図である。
【図９】送信パルス抜取回路の構成を示す回路図であ
る。
【図１０】入力信号と出力信号との関係を表す波形図で
ある。
【図１１】階段波電圧生成回路の構成を示す略線図であ
る。
【図１２】１２９Ｈ〜２５６Ｈまでの階段波電圧を示す
略線図である。
【図１３】ゲインコントロールアンプ、コンパレータ及
びスクリーンゲート部の構成を示すブロツク図である。
【図１４】反射光成分と基準電圧Ｖr との関係を表す波
形図である。
【図１５】他の実施例によるトランスインピーダンスア
ンプの構成を示す回路図である。
【図１６】他の実施例による階段波電圧生成回路の構成
（１）を示す略線図である。
【図１７】他の実施例による階段波電圧生成回路の構成
（２）を示す略線図である。
【符号の説明】
１……カメラ−ＣＣＵシステム、２……ビデオカメラ、
３……ＣＣＵ、４……光フアイバケーブル、５……コネ
クタ、１２、１８……電光変換回路、１３、１９……光
電変換回路、２２、２４……自己診断回路、２３、２５
……断線箇所検出回路、３２……レーザドライバ、３３
……レーザダイオード、３４……光パワーデイテクトダ
イオード、３７……遅延回路、３９……抜取パルス生成
回路、４０……送信パルス生成回路、４１……トランス
インピーダンスアンプ、４２……送信パルス抜取回路、
４３……ゲインコントロールアンプ、４７……階段波電
圧生成回路、５０……ＡＴＴ、５２……キヤラクタジエ
ネレータ。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 ＦＩ Ｈ０４Ｂ 10/14 Ｇ０２Ｂ 6/00 Ａ 10/135 Ｈ０４Ｂ 9/00 Ｋ 10/13 Ｑ 10/12 17/00

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】レーザ光を光伝送路を介して伝送する伝送
    装置に用いる不良箇所検出装置において、 水平同期信号に基づくタイミングで生成された送信パル
    ス信号に基づいて光信号を出力する光信号出力手段と、 上記光信号出力手段の近傍に配置され、受光した光信号
    を光電変換して受信信号として出力する光電変換手段
    と、 所定数の水平走査期間毎に、所定レベルづつ増加又は減
    少されるゲインで、上記受信信号の信号レベルを可変す
    る信号レベル可変手段と、 上記信号レベル可変手段の出力信号の信号レベルと、閾
    値とを比較し、比較結果を２値データとして出力する比
    較手段と、 上記水平同期信号に基づくタイミングで、上記光信号出
    力手段から光信号が出力されたタイミングと上記光電変
    換手段で光信号を受信するタイミングとの時間差に基づ
    いて上記光信号出力手段と上記光伝送路における光信号
    の反射地点との距離を示す第１の軸及び上記信号レベル
    可変手段の出力信号の信号レベルを示す第２の軸とから
    なるグラフ軸に重ねて、上記比較手段の出力信号を表示
    する表示手段とを具えることを特徴とする不良箇所検出
    装置。
  2. 【請求項２】上記光信号出力手段は、上記水平同期信号
    に基づくタイミングで、水平走査期間毎に上記光信号を
    出力することを特徴とする請求項１に記載の不良箇所検
    出装置。
  3. 【請求項３】上記グラフ軸を生成するグラフ軸生成手段
    と、 上記グラフ軸と上記比較手段の出力信号を合成する合成
    手段とを具えることを特徴とする請求項１に記載の不良
    箇所検出装置。
  4. 【請求項４】上記信号レベル可変手段は、垂直同期信号
    のタイミングから所定数の水平走査期間は上記ゲインを
    最も低いものとすることを特徴とする請求項１に記載の
    不良箇所検出装置。
  5. 【請求項５】上記送信パルス信号に基づくタイミングで
    動作し、上記光信号出力手段から出力され上記光電変換
    手段に直接入力された光信号に基づく不要成分を除去す
    る除去手段を具えることを特徴とする請求項１に記載の
    不良箇所検出装置。
  6. 【請求項６】上記除去手段は、上記送信パルス信号のパ
    ルス幅よりも長いパルス幅の信号に基づいては上記不要
    成分を除去することを特徴とする請求項５に記載の不良
    箇所検出装置。
  7. 【請求項７】上記信号レベル可変手段は、１水平走査期
    間毎に所定レベルづつ増加されるゲインで、上記受信信
    号の信号レベルを可変することを特徴とする請求項１に
    記載の不良箇所検出装置。
  8. 【請求項８】上記光伝送路は、光フアイバであることを
    特徴とする請求項１に記載の不良箇所検出装置。
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