JPH10206114A - Ｉｃ検査用照明装置 - Google Patents
Ｉｃ検査用照明装置Info
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- JPH10206114A JPH10206114A JP764197A JP764197A JPH10206114A JP H10206114 A JPH10206114 A JP H10206114A JP 764197 A JP764197 A JP 764197A JP 764197 A JP764197 A JP 764197A JP H10206114 A JPH10206114 A JP H10206114A
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- Japan
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- carrier
- illuminating
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＩＣのリード及びマークの画像処理検査を同
一場所で同時に安定して行えるようにする。 【解決手段】 検査すべきＩＣ３を収容するキャリア１
と、ＩＣ３を上方から照明する多段に配置された光源９
と、キャリ１ア内のＩＣ３とＬＥＤ光源９との間に配置
された光拡散筒１２とを設ける。
一場所で同時に安定して行えるようにする。 【解決手段】 検査すべきＩＣ３を収容するキャリア１
と、ＩＣ３を上方から照明する多段に配置された光源９
と、キャリ１ア内のＩＣ３とＬＥＤ光源９との間に配置
された光拡散筒１２とを設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ＩＣ検査用照明装
置、特にＩＣのリード及びマークの画像処理検査を行う
ために用いられるＩＣ検査用照明装置に関する。
置、特にＩＣのリード及びマークの画像処理検査を行う
ために用いられるＩＣ検査用照明装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】完成したＩＣは、パッケージから複数の
リードが引き出されていると共に、パッケージにはマー
クが設けられた外観形状を有している。従って、完成後
のＩＣに対しては、リード及びマークが正常に設けられ
ているか否かを確認するために、外観検査が行われる。
ＩＣはより高機能化の要求、集積度の向上などにつれ
て、パッケージから引き出されるリードのピッチは微細
化されているので、外観検査を目視で行うのは困難であ
る。
リードが引き出されていると共に、パッケージにはマー
クが設けられた外観形状を有している。従って、完成後
のＩＣに対しては、リード及びマークが正常に設けられ
ているか否かを確認するために、外観検査が行われる。
ＩＣはより高機能化の要求、集積度の向上などにつれ
て、パッケージから引き出されるリードのピッチは微細
化されているので、外観検査を目視で行うのは困難であ
る。
【０００３】このため最近では、カメラを通じて検査対
象であるＩＣを拡大画像とし、画像処理検査によって、
リード及びマークを検査することが行われている。ここ
で、画像処理検査を行うにあたっては、一般にＩＣ検査
用照明装置が用いられるが、検査対象であるＩＣの照明
条件が重要になってきている。
象であるＩＣを拡大画像とし、画像処理検査によって、
リード及びマークを検査することが行われている。ここ
で、画像処理検査を行うにあたっては、一般にＩＣ検査
用照明装置が用いられるが、検査対象であるＩＣの照明
条件が重要になってきている。
【０００４】図４及び図５は従来のＩＣ検査用照明装置
を示すもので、図４は概略側面図、図５は概略上面図で
ある。同図において、１はキャリアで、黒色であり、こ
の一部にはポケット２が設けられて、このポケット２内
には検査対象であるＩＣ３が収容される。
を示すもので、図４は概略側面図、図５は概略上面図で
ある。同図において、１はキャリアで、黒色であり、こ
の一部にはポケット２が設けられて、このポケット２内
には検査対象であるＩＣ３が収容される。
【０００５】ＩＣとして、図３に示すように、パッケー
ジ４の周囲の四方向から複数のリード５が引き出された
形状を有する、ＱＦＰ（クワッド・フラット・パッケー
ジ）タイプのＩＣを例として採った。６はパッケージ４
に凹部の形態で設けられたマーク（インク、レーザなど
による）である。７はキャリア２の上方に設けられてＩ
Ｃ３を上方から照明する光源で、光源としては例えばリ
ング状蛍光灯、ハロゲンファイバー照明、ＬＥＤ等の各
光源が利用されている。８はキャリア２及び光源７の上
方に配置されたカメラレンズである。
ジ４の周囲の四方向から複数のリード５が引き出された
形状を有する、ＱＦＰ（クワッド・フラット・パッケー
ジ）タイプのＩＣを例として採った。６はパッケージ４
に凹部の形態で設けられたマーク（インク、レーザなど
による）である。７はキャリア２の上方に設けられてＩ
Ｃ３を上方から照明する光源で、光源としては例えばリ
ング状蛍光灯、ハロゲンファイバー照明、ＬＥＤ等の各
光源が利用されている。８はキャリア２及び光源７の上
方に配置されたカメラレンズである。
【０００６】以上のような構成のＩＣ検査用照明装置を
用いて、光源７によってキャリア２に収容されたＩＣ３
を上方から照明した状態で、カメラレンズ８を通じてＩ
Ｃ３を拡大画像となして、リード５及びマーク６の画像
処理検査が行われる。この場合、背景（キャリア２）及
びパッケージが黒、リード５、５、・・・及びマーク６
が白として現われる。
用いて、光源７によってキャリア２に収容されたＩＣ３
を上方から照明した状態で、カメラレンズ８を通じてＩ
Ｃ３を拡大画像となして、リード５及びマーク６の画像
処理検査が行われる。この場合、背景（キャリア２）及
びパッケージが黒、リード５、５、・・・及びマーク６
が白として現われる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来のＩＣ
検査用照明装置には、多数のＩＣに対して同時にリード
及びマークの画像処理検査を正確に行うことが困難であ
るという問題があった。即ち、多数のＩＣに対してリー
ド及びマークの画像処理検査を行うった場合、、各々の
ＩＣの位置が異なることに起因してＩＣ毎の照明条件が
異なってくることになり、その為、測定ＩＣの機種毎に
別々の照明条件を設定して検査を行わなければならなか
った。
検査用照明装置には、多数のＩＣに対して同時にリード
及びマークの画像処理検査を正確に行うことが困難であ
るという問題があった。即ち、多数のＩＣに対してリー
ド及びマークの画像処理検査を行うった場合、、各々の
ＩＣの位置が異なることに起因してＩＣ毎の照明条件が
異なってくることになり、その為、測定ＩＣの機種毎に
別々の照明条件を設定して検査を行わなければならなか
った。
【０００８】もしも、そのような事情を考慮せずに、同
時に多数のＩＣに対するリード及びマークの画像処理検
査を行おうとすると、次のような不都合が生じた。
時に多数のＩＣに対するリード及びマークの画像処理検
査を行おうとすると、次のような不都合が生じた。
【０００９】マーク６をはっきりと映し出すために
は、光源７を近づける必要があるが、近づけ過ぎるとリ
ード５による光の反射が強くなる。このために、画像の
膨張、ハレーション、ポケット２の壁への写り込みなど
が生じて、リード５の画像処理検査が正しくできなくな
る。
は、光源７を近づける必要があるが、近づけ過ぎるとリ
ード５による光の反射が強くなる。このために、画像の
膨張、ハレーション、ポケット２の壁への写り込みなど
が生じて、リード５の画像処理検査が正しくできなくな
る。
【００１０】リード５をはっきりと映し出すために
は、ＩＣ３からある程度上方に光源７を離す必要があ
る。しかし、これだとマーク６に対する照明の明るさ不
足が生じ、また上方からの照明のために、マーク６に対
するコントラスト不足が生じて、マーク６の画像処理検
査が確実にできなくなる。
は、ＩＣ３からある程度上方に光源７を離す必要があ
る。しかし、これだとマーク６に対する照明の明るさ不
足が生じ、また上方からの照明のために、マーク６に対
するコントラスト不足が生じて、マーク６の画像処理検
査が確実にできなくなる。
【００１１】リード５の表面状態（メッキハガレ、打
コン、キズ、バリなど）によっては、照明を当てた際に
影や、暗部などが生じて、画像処理検査の障害となる。
特に、指向性の強い照明の場合にははっきりと表れる。
コン、キズ、バリなど）によっては、照明を当てた際に
影や、暗部などが生じて、画像処理検査の障害となる。
特に、指向性の強い照明の場合にははっきりと表れる。
【００１２】ＩＣ３の各リード５が均等に写し出され
ない場合があり、リード５の画像処理検査が正しくでき
なくなる。
ない場合があり、リード５の画像処理検査が正しくでき
なくなる。
【００１３】そこで、本願発明者がその原因、即ち、多
数のＩＣに対する画像処理検査を行おうとするとＩＣの
光源に対する場所の違いによりＩＣ毎に照明条件が異な
ることの原因を追究したところ、従来の装置では照明の
指向性が強過ぎ、それが上述した不都合を招くことが判
明した。
数のＩＣに対する画像処理検査を行おうとするとＩＣの
光源に対する場所の違いによりＩＣ毎に照明条件が異な
ることの原因を追究したところ、従来の装置では照明の
指向性が強過ぎ、それが上述した不都合を招くことが判
明した。
【００１４】本発明はこのような問題点を解決すべく為
されたものであり、パッケージにマークが設けられてい
るＩＣの前記リード及びマークの画像処理検査を行うた
めに用いられるＩＣ検査用照明装置において、複数のＩ
Ｃのリード及びマークの画像処理検査を同一場所で同時
に安定して行うことを目的とする。
されたものであり、パッケージにマークが設けられてい
るＩＣの前記リード及びマークの画像処理検査を行うた
めに用いられるＩＣ検査用照明装置において、複数のＩ
Ｃのリード及びマークの画像処理検査を同一場所で同時
に安定して行うことを目的とする。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明ＩＣ検査用照明装
置は、検査すべきＩＣを収容するキャリアと、ＩＣを上
方から照明する多段に配置されたＬＥＤ光源と、キャリ
ア内のＩＣと光源との間に配置された光拡散手段と、を
有することを特徴とする。
置は、検査すべきＩＣを収容するキャリアと、ＩＣを上
方から照明する多段に配置されたＬＥＤ光源と、キャリ
ア内のＩＣと光源との間に配置された光拡散手段と、を
有することを特徴とする。
【００１６】本発明ＩＣ検査用照明装置によれば、ＩＣ
を上方から照明する光源が多段に配置されており、光源
がＩＣ側から視た角度の異なる位置にあるので、光源か
らの光の全体としての点で指向性が弱くなる。
を上方から照明する光源が多段に配置されており、光源
がＩＣ側から視た角度の異なる位置にあるので、光源か
らの光の全体としての点で指向性が弱くなる。
【００１７】また、光拡散手段を有することにより、光
源からの光の拡散性をさらに高めることができるので、
さらに、分布の均一性の高い拡散光線を得ることができ
る。従って、光の指向性をより弱くでき、リード及びマ
ークの画像処理検査を同時に行う多数のＩＣの照明条件
を略同一とすることができる。従って、ＩＣのリード及
びマークの画像処理検査を多数のＩＣに対して同時に安
定して行うことができる。
源からの光の拡散性をさらに高めることができるので、
さらに、分布の均一性の高い拡散光線を得ることができ
る。従って、光の指向性をより弱くでき、リード及びマ
ークの画像処理検査を同時に行う多数のＩＣの照明条件
を略同一とすることができる。従って、ＩＣのリード及
びマークの画像処理検査を多数のＩＣに対して同時に安
定して行うことができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明を図示実施の形態に
従って詳細に説明する。
従って詳細に説明する。
【００１９】図１及び図２は本発明ＩＣ検査用照明装置
の第１の実施の形態を示すもので、図１は概略側面図、
図２は概略上面図である。
の第１の実施の形態を示すもので、図１は概略側面図、
図２は概略上面図である。
【００２０】同図において、１はキャリアで、検査対象
であるＩＣ３を収容するポケット２が設けられている。
ＩＣとして、図３に示すように、パッケージ４の周囲の
四方向から複数のリード５が引き出された形状を有す
る、ＱＦＰ型ＩＣ３を例として採った。説明を簡単にす
るために、各側面から５本のリード５が引き出されてい
る例で示している。また、被測定ＩＣ３は便宜上１個の
み示したが、実際には多数のＩＣが同時に測定される。
Ｃ６はパッケージ４に設けられたマーク（インク、レー
ザなどによる）である。
であるＩＣ３を収容するポケット２が設けられている。
ＩＣとして、図３に示すように、パッケージ４の周囲の
四方向から複数のリード５が引き出された形状を有す
る、ＱＦＰ型ＩＣ３を例として採った。説明を簡単にす
るために、各側面から５本のリード５が引き出されてい
る例で示している。また、被測定ＩＣ３は便宜上１個の
み示したが、実際には多数のＩＣが同時に測定される。
Ｃ６はパッケージ４に設けられたマーク（インク、レー
ザなどによる）である。
【００２１】９はキャリア２の上方に設けられてＩＣ３
を上方から照明するＬＥＤ光源で、このＬＥＤ光源９
は、キャリア２の表面に対して高さ方向に多段に配置さ
れて、上部に配置されたリード照明用光源１０と、下部
に配置されたマーク照明用光源１１とから構成されてい
る。これによって、ＬＥＤ光源９は立体的に配置される
ようになっている。リード照明用光源１０はリード５を
照明するのに適した明るさに調整され、マーク照明用光
源１１はマーク６を照明するのに適した明るさに調整さ
れる。ＬＥＤ光源９を立体的に配置したことにより、こ
のように照明対象に応じて独立して明るさの調整ができ
るようになる。また、光源のＩＣ３に向う光の角度の分
布の均一性が高くなる。即ち、照明用光線の指向性が弱
くなる。
を上方から照明するＬＥＤ光源で、このＬＥＤ光源９
は、キャリア２の表面に対して高さ方向に多段に配置さ
れて、上部に配置されたリード照明用光源１０と、下部
に配置されたマーク照明用光源１１とから構成されてい
る。これによって、ＬＥＤ光源９は立体的に配置される
ようになっている。リード照明用光源１０はリード５を
照明するのに適した明るさに調整され、マーク照明用光
源１１はマーク６を照明するのに適した明るさに調整さ
れる。ＬＥＤ光源９を立体的に配置したことにより、こ
のように照明対象に応じて独立して明るさの調整ができ
るようになる。また、光源のＩＣ３に向う光の角度の分
布の均一性が高くなる。即ち、照明用光線の指向性が弱
くなる。
【００２２】１２はキャリア２内のＩＣ３とＬＥＤ光源
９との間に配置された、例えばアクリル板からなる光拡
散筒で、例えば内面に凹凸を有する。従って、この光拡
散筒１２は光拡散手段として働く。一例として、光拡散
筒１２は、高さ寸法７０ｍｍ、内径寸法３０ｍｍに設け
られている。
９との間に配置された、例えばアクリル板からなる光拡
散筒で、例えば内面に凹凸を有する。従って、この光拡
散筒１２は光拡散手段として働く。一例として、光拡散
筒１２は、高さ寸法７０ｍｍ、内径寸法３０ｍｍに設け
られている。
【００２３】図１及び図２から明らかなように、光拡散
筒１２は、多段に配置されたＬＥＤ光源９の内側に配置
され、かつＩＣ３を被うように配置されている。８はキ
ャリア２及びＬＥＤ光源９の上方に配置されたカメラレ
ンズである。
筒１２は、多段に配置されたＬＥＤ光源９の内側に配置
され、かつＩＣ３を被うように配置されている。８はキ
ャリア２及びＬＥＤ光源９の上方に配置されたカメラレ
ンズである。
【００２４】以上のような構成のＩＣ検査用照明装置を
用いて、ＬＥＤ光源９によってキャリア２に収容された
ＩＣ３を上方から照明した状態で、カメラレンズ８を通
じてＩＣ３を拡大画像となして撮像し、リード５及びマ
ーク６の画像処理検査を行う。
用いて、ＬＥＤ光源９によってキャリア２に収容された
ＩＣ３を上方から照明した状態で、カメラレンズ８を通
じてＩＣ３を拡大画像となして撮像し、リード５及びマ
ーク６の画像処理検査を行う。
【００２５】この場合、本実施形態のＩＣ検査用照明装
置によれば、ＩＣ３を照明するＬＥＤ光源９を、リード
照明用光源１０とマーク照明用光源１１とを多段に配置
することにより立体的に配置するようにしたので、各光
源１０、１１をリード５及びマーク６を照明するのに適
した明るさに調整することができる。この結果、均一な
拡散光源が得られるようになり、凹凸部分や穴部分の内
部まで鮮明に映し出すことができるようになる。特に、
キャリア１のポケット２に収容されたＩＣ３を照明する
場合、上方からの自然配光に近いものが得られるように
なり、画像処理検査において悪影響となる影や、暗部を
自然に消すことができるようになる。これにより、リー
ド５及びマーク６の画像処理検査を行うに際して、リー
ド５の形状やマーク６の種類に合わせた最適な照明条件
が得られるようになる。
置によれば、ＩＣ３を照明するＬＥＤ光源９を、リード
照明用光源１０とマーク照明用光源１１とを多段に配置
することにより立体的に配置するようにしたので、各光
源１０、１１をリード５及びマーク６を照明するのに適
した明るさに調整することができる。この結果、均一な
拡散光源が得られるようになり、凹凸部分や穴部分の内
部まで鮮明に映し出すことができるようになる。特に、
キャリア１のポケット２に収容されたＩＣ３を照明する
場合、上方からの自然配光に近いものが得られるように
なり、画像処理検査において悪影響となる影や、暗部を
自然に消すことができるようになる。これにより、リー
ド５及びマーク６の画像処理検査を行うに際して、リー
ド５の形状やマーク６の種類に合わせた最適な照明条件
が得られるようになる。
【００２６】さらに、本実施形態のＩＣ検査用照明装置
によれば、光拡散手段として働く光拡散筒１２を設けた
ことにより、この拡散筒１２は外周面のＬＥＤ光源９か
らの光を受けて面照明を行うように作用するので、さら
に拡散性の強い光線が得られるようになる。
によれば、光拡散手段として働く光拡散筒１２を設けた
ことにより、この拡散筒１２は外周面のＬＥＤ光源９か
らの光を受けて面照明を行うように作用するので、さら
に拡散性の強い光線が得られるようになる。
【００２７】この結果、次のような具体的な効果を得る
ことができる。
ことができる。
【００２８】（１）例えばＬＥＤからなる単一の種類の
照明用光源を用いるだけで、キャリアのポケット内に収
容したＩＣのリード及びマークの画像処理検査を行うこ
とができる。
照明用光源を用いるだけで、キャリアのポケット内に収
容したＩＣのリード及びマークの画像処理検査を行うこ
とができる。
【００２９】（２）照明条件の幅を広くとることができ
るので、照明の対象が変化しても調整を少なく済ませる
ことができる。
るので、照明の対象が変化しても調整を少なく済ませる
ことができる。
【００３０】（３）比較的光強度分布の均一な照明がで
きるので、画像処理検査におけるプログラムでの前処理
などを不要に、または少なくすることができる。
きるので、画像処理検査におけるプログラムでの前処理
などを不要に、または少なくすることができる。
【００３１】尚、本文中の説明では、光源としてＬＥＤ
を用いたが、必ずしもそれに限定されず、リング状蛍光
灯、ハロゲンランプ等他の光源を用いるようにしても良
い。また、光拡散手段としては光拡散筒を用いた例で説
明したが、これに限らず検査対象の形状、配置などの状
況に応じて、その形状、寸法などは任意に変更可能であ
る。また、光拡散筒の材料としても、アクリルを用いた
例で説明したが、これに限らずガラス、プラスチックな
どの他の材料を用いることができる。さらに、検査対象
であるＩＣのパッケージ形状としてはＱＦＰ型ＩＣを例
にあげたが、これに限らずＤＩＰなどの他の形状のパッ
ケージを有するＩＣに対しても同様に適用することがで
きる。
を用いたが、必ずしもそれに限定されず、リング状蛍光
灯、ハロゲンランプ等他の光源を用いるようにしても良
い。また、光拡散手段としては光拡散筒を用いた例で説
明したが、これに限らず検査対象の形状、配置などの状
況に応じて、その形状、寸法などは任意に変更可能であ
る。また、光拡散筒の材料としても、アクリルを用いた
例で説明したが、これに限らずガラス、プラスチックな
どの他の材料を用いることができる。さらに、検査対象
であるＩＣのパッケージ形状としてはＱＦＰ型ＩＣを例
にあげたが、これに限らずＤＩＰなどの他の形状のパッ
ケージを有するＩＣに対しても同様に適用することがで
きる。
【００３２】
【発明の効果】以上述べたように、本発明ＩＣ検査用照
明装置によれば、ＩＣを上方から照明する光源が多段に
配置されており、光源がＩＣ側から視た角度の異なる位
置にあるので、光源からの光の全体としての点で指向性
が弱くなる。
明装置によれば、ＩＣを上方から照明する光源が多段に
配置されており、光源がＩＣ側から視た角度の異なる位
置にあるので、光源からの光の全体としての点で指向性
が弱くなる。
【００３３】また、光拡散手段を有することにより、光
源からの光の拡散性をさらに高めることができるので、
さらに、分布の均一性の高い拡散光線を得ることができ
る。従って、光の指向性をより弱くでき、リード及びマ
ークの画像処理検査を同時に行う多数のＩＣの照明条件
を略同一とすることができる。従って、ＩＣのリード及
びマークの画像処理検査を多数のＩＣに対して同時に安
定して行うことができる。
源からの光の拡散性をさらに高めることができるので、
さらに、分布の均一性の高い拡散光線を得ることができ
る。従って、光の指向性をより弱くでき、リード及びマ
ークの画像処理検査を同時に行う多数のＩＣの照明条件
を略同一とすることができる。従って、ＩＣのリード及
びマークの画像処理検査を多数のＩＣに対して同時に安
定して行うことができる。
【図１】本発明ＩＣ検査用照明装置の第１の実施の形態
を示す概略側面図である。
を示す概略側面図である。
【図２】本発明ＩＣ検査用照明装置の第１の実施の形態
を示す概略上面図である。
を示す概略上面図である。
【図３】本発明ＩＣ検査用照明装置により検査されるＩ
Ｃの一例を示す上面図である。
Ｃの一例を示す上面図である。
【図４】従来例のＩＣ検査用照明装置を示す概略側面図
である。
である。
【図５】従来例のＩＣ検査用照明装置を示す概略上面図
である。
である。
１・・・キャリア、３・・・ＩＣ、５・・・リード、６
・・・マーク、９・・・ＬＥＤ光源、１０・・・リード
照明用光源、１１・・・マーク照明用光源、１２・・・
光拡散筒。
・・・マーク、９・・・ＬＥＤ光源、１０・・・リード
照明用光源、１１・・・マーク照明用光源、１２・・・
光拡散筒。
Claims (3)
- 【請求項１】 パッケージから複数のリードが引き出さ
れ、パッケージにマークが設けられているＩＣの前記リ
ード及びマークの画像処理検査を行うために用いられる
ＩＣ検査用照明装置であって、 検査すべきＩＣを収容するキャリアと、 前記ＩＣを上方から照明する多段に配置された光源と、 前記キャリア内のＩＣと光源との間に配置された光拡散
手段とを有することを特徴とするＩＣ検査用照明装置。 - 【請求項２】 多段に配置された光源が、上部に配置さ
れたリード照明用光源と、下部に配置されたマーク照明
用光源とから構成されていることを特徴とする請求項１
記載のＩＣ検査用照明装置。 - 【請求項３】 光拡散手段が、多段に配置された光源の
内側に配置され、且つＩＣを被う光拡散筒から構成され
ていることを特徴とする請求項１又は２記載のＩＣ検査
用照明装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764197A JPH10206114A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Ｉｃ検査用照明装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP764197A JPH10206114A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Ｉｃ検査用照明装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10206114A true JPH10206114A (ja) | 1998-08-07 |
Family
ID=11671464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP764197A Pending JPH10206114A (ja) | 1997-01-20 | 1997-01-20 | Ｉｃ検査用照明装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10206114A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2005001552A1 (ja) * | 2003-06-27 | 2006-07-27 | セイコーエプソン株式会社 | 眼鏡レンズの製造方法、マーキング装置、マーキングシステム、眼鏡レンズ |
-
1997
- 1997-01-20 JP JP764197A patent/JPH10206114A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2005001552A1 (ja) * | 2003-06-27 | 2006-07-27 | セイコーエプソン株式会社 | 眼鏡レンズの製造方法、マーキング装置、マーキングシステム、眼鏡レンズ |
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