JPH10197645A - 放射線測定器 - Google Patents
放射線測定器Info
- Publication number
- JPH10197645A JPH10197645A JP238697A JP238697A JPH10197645A JP H10197645 A JPH10197645 A JP H10197645A JP 238697 A JP238697 A JP 238697A JP 238697 A JP238697 A JP 238697A JP H10197645 A JPH10197645 A JP H10197645A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プローブ交換が容易かつ簡単で、また、その
際に設定ミスなどのおそれのない放射線測定器Ｓを提供
する。 【解決手段】 複数のプローブの１つが選択されて接続
部を介して共通の測定部に接続されて用いられる放射線
測定器であって、プローブと測定部とが接続される接続
部の形状が共通で、かつ、該接続部にどのプローブが接
続されたかを自動的に測定部に通知するプローブ種通知
手段を有する放射線測定器。
際に設定ミスなどのおそれのない放射線測定器Ｓを提供
する。 【解決手段】 複数のプローブの１つが選択されて接続
部を介して共通の測定部に接続されて用いられる放射線
測定器であって、プローブと測定部とが接続される接続
部の形状が共通で、かつ、該接続部にどのプローブが接
続されたかを自動的に測定部に通知するプローブ種通知
手段を有する放射線測定器。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、α線、γ線、β線
などの複数の放射線をそれぞれの放射線に応じたプロー
ブを交換することによって測定する放射線測定器に関す
る。
などの複数の放射線をそれぞれの放射線に応じたプロー
ブを交換することによって測定する放射線測定器に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】α線、β線及びγ線の測定は通常それぞ
れ専門の測定器によって測定されていた。すなわち、こ
れら測定器は既知の放射性物質を取り扱う設備において
汚染検査等の目的で使用される場合が多く、その際には
放出される放射線も既知であるため、多くても２種の測
定器があれば充分であった。しかし、これら測定器は共
通部品も多く、そのため最近、測定部を共通として、測
定目的の放射線に応じたプローブを選択し接続して測定
するタイプの測定器が用いられるようになってきた。図
４にそのような測定器の例を示す。測定部にはプローブ
に応じて接続を変更するための端子、及び接続したプロ
ーブを測定部に通知する切り替えスイッチが設けられて
いる。
れ専門の測定器によって測定されていた。すなわち、こ
れら測定器は既知の放射性物質を取り扱う設備において
汚染検査等の目的で使用される場合が多く、その際には
放出される放射線も既知であるため、多くても２種の測
定器があれば充分であった。しかし、これら測定器は共
通部品も多く、そのため最近、測定部を共通として、測
定目的の放射線に応じたプローブを選択し接続して測定
するタイプの測定器が用いられるようになってきた。図
４にそのような測定器の例を示す。測定部にはプローブ
に応じて接続を変更するための端子、及び接続したプロ
ーブを測定部に通知する切り替えスイッチが設けられて
いる。
【０００３】例えば、α線センサは半導体式、β線セン
サはプラスチックシンチレーション式などが知られてい
るが、これらセンサのバイアス電圧が異なり、安全上の
要求から異なるコネクタが用いられている。このように
プローブを交換するたびに、これら接続やスイッチの切
り替えを行わなければならず、その操作は繁雑であると
共に、接続ミス、切り替えミスによる、測定ミスあるい
は高価な測定器の故障の原因ともなっていた。
サはプラスチックシンチレーション式などが知られてい
るが、これらセンサのバイアス電圧が異なり、安全上の
要求から異なるコネクタが用いられている。このように
プローブを交換するたびに、これら接続やスイッチの切
り替えを行わなければならず、その操作は繁雑であると
共に、接続ミス、切り替えミスによる、測定ミスあるい
は高価な測定器の故障の原因ともなっていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来の
プローブ交換方式放射線測定器の欠点を解決する、すな
わちプローブ交換が容易かつ簡単で、また、その際に設
定ミスなどのおそれのない放射線測定器を提供すること
を目的とする。
プローブ交換方式放射線測定器の欠点を解決する、すな
わちプローブ交換が容易かつ簡単で、また、その際に設
定ミスなどのおそれのない放射線測定器を提供すること
を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の放射線測定器
は、請求項１に記載のように、複数のプローブの１つが
選択されて接続部を介して共通の測定部に接続されて用
いられる放射線測定器であって、プローブと測定部とが
接続される接続部の形状が共通で、かつ、該接続部にど
のプローブが接続されたかを自動的に測定部に通知する
プローブ種通知手段を有するものである。このような構
成により本発明の放射線測定器はプローブ交換が容易
で、かつ、その際にどのプローブが接続されたかが通知
部に通知されるため、測定ミスや装置の故障などの不測
の事態を予防することができる。なお、本発明におい
て、α線センサ、β線センサ、γ線センサは同種の測定
方法（例えば半導体式の部類に属する測定方法）である
ことが望ましい。
は、請求項１に記載のように、複数のプローブの１つが
選択されて接続部を介して共通の測定部に接続されて用
いられる放射線測定器であって、プローブと測定部とが
接続される接続部の形状が共通で、かつ、該接続部にど
のプローブが接続されたかを自動的に測定部に通知する
プローブ種通知手段を有するものである。このような構
成により本発明の放射線測定器はプローブ交換が容易
で、かつ、その際にどのプローブが接続されたかが通知
部に通知されるため、測定ミスや装置の故障などの不測
の事態を予防することができる。なお、本発明におい
て、α線センサ、β線センサ、γ線センサは同種の測定
方法（例えば半導体式の部類に属する測定方法）である
ことが望ましい。
【０００６】
【発明の実施の形態】本発明において上記プローブ種通
知手段が電気的な信号によるものであると、誤動作が防
止できるため望ましい。ここで、本発明の放射線測定器
の具体例について図を用いて説明する。図１は本発明の
放射線測定器の概念を示すモデル図である。測定値を表
示する表示機構を有する測定部にプラグを有するケーブ
ルが接続されている。このプラグは、α線プローブ、β
線プローブ、及びγ線プローブのそれぞれに設けられた
ジャックに嵌合して電気的な接続を行うものである。な
お、本例で用いたプラグ及びジャックは８芯のものであ
る。測定対象の放射線に応じたプローブを選択してその
ジャックにプラグを嵌合させ測定を行う。
知手段が電気的な信号によるものであると、誤動作が防
止できるため望ましい。ここで、本発明の放射線測定器
の具体例について図を用いて説明する。図１は本発明の
放射線測定器の概念を示すモデル図である。測定値を表
示する表示機構を有する測定部にプラグを有するケーブ
ルが接続されている。このプラグは、α線プローブ、β
線プローブ、及びγ線プローブのそれぞれに設けられた
ジャックに嵌合して電気的な接続を行うものである。な
お、本例で用いたプラグ及びジャックは８芯のものであ
る。測定対象の放射線に応じたプローブを選択してその
ジャックにプラグを嵌合させ測定を行う。
【０００７】図２にこの測定装置の測定部の回路図を示
す。図２（ａ）中符号１はプラグ、符号２はプラグを介
して入力されたデータの処理を行うマイクロプロセッシ
ングユニットＭＰＵ、符号３は表示部である。なお、Ｍ
ＰＵ２はあらかじめ設定されたプログラムにしたがって
制御・演算を行うＣＰＵ２ｃｐ、プログラムや定数値Ｈ
ｉｇｈあるいはＬｏｗを有するＲＯＭ２ｒｏ（図２
（ｂ）参照）、タイマー値などを格納するＲＡＭ２ｒ
ａ、プラグ１からのデータをＭＰＵ２内に取り込むため
の入力ポート２ｉａ〜２ｉｅ及び測定結果を表示部に出
力するための出力ポート２ｏが設けられている。なお、
前述のようにジャック１は８芯であるが、この図ではそ
のジャックとの接続および入力ポートは一部省略してあ
る。
す。図２（ａ）中符号１はプラグ、符号２はプラグを介
して入力されたデータの処理を行うマイクロプロセッシ
ングユニットＭＰＵ、符号３は表示部である。なお、Ｍ
ＰＵ２はあらかじめ設定されたプログラムにしたがって
制御・演算を行うＣＰＵ２ｃｐ、プログラムや定数値Ｈ
ｉｇｈあるいはＬｏｗを有するＲＯＭ２ｒｏ（図２
（ｂ）参照）、タイマー値などを格納するＲＡＭ２ｒ
ａ、プラグ１からのデータをＭＰＵ２内に取り込むため
の入力ポート２ｉａ〜２ｉｅ及び測定結果を表示部に出
力するための出力ポート２ｏが設けられている。なお、
前述のようにジャック１は８芯であるが、この図ではそ
のジャックとの接続および入力ポートは一部省略してあ
る。
【０００８】これら入力ポート２ｉａ〜２ｉｅは主にプ
ローブが検出したデータ等をＭＰＵ２内に取り込むため
にあるが、本例では入力ポート２ｉａ及び入力ポート２
ｉｂがプローブ種通知手段を構成している。すなわち、
表１に示すように入力ポート２ｉａの値Ｉａ及び入力ポ
ート２ｉｂの値ＩｂがＨｉｇｈ及びＬｏｗのいずれかに
変化することによってプローブ種がＭＰＵ２に通知され
る。なお、本例ではＬｏｗは信号なしの状態であって、
プローブが接続されていないときにはこれら値Ｉａ及び
Ｉｂは共にＬｏｗとなる。
ローブが検出したデータ等をＭＰＵ２内に取り込むため
にあるが、本例では入力ポート２ｉａ及び入力ポート２
ｉｂがプローブ種通知手段を構成している。すなわち、
表１に示すように入力ポート２ｉａの値Ｉａ及び入力ポ
ート２ｉｂの値ＩｂがＨｉｇｈ及びＬｏｗのいずれかに
変化することによってプローブ種がＭＰＵ２に通知され
る。なお、本例ではＬｏｗは信号なしの状態であって、
プローブが接続されていないときにはこれら値Ｉａ及び
Ｉｂは共にＬｏｗとなる。
【０００９】
【表１】
【００１０】ここで具体的に測定部のＭＰＵ２の働きを
流れ図を用いて説明する。図３に示すように本放射線測
定器に電源投入されると、ＭＰＵ２のＣＰＵ２cp.の動
作がスタートする。ステップＳ１で入力ポート２ｉａの
値ＩａがＬｏｗであるかどうか判断され、Ｌｏｗのとき
はステップＳ２に進み、Ｈｉｇｈの場合にはステップＳ
４に進む。ステップＳ２でＩｂの値がＬｏｗの場合に
は、プローブが未接続であるとして表示部３に未接続表
示（ＤＩＳＣＯＮＥＣＴ）を行い、ステップＳ１に戻
る。一方ステップＳ２でＩｂの値がＬｏｗでないとき
（Ｈｉｇｈのとき）にはβ線プローブが接続されている
としてステップＳ３に進み、β線センサに適したバイア
ス電圧を印加し、β線を測定し必要により演算して測定
結果を表示部３に示し、ステップＳ１に戻る。
流れ図を用いて説明する。図３に示すように本放射線測
定器に電源投入されると、ＭＰＵ２のＣＰＵ２cp.の動
作がスタートする。ステップＳ１で入力ポート２ｉａの
値ＩａがＬｏｗであるかどうか判断され、Ｌｏｗのとき
はステップＳ２に進み、Ｈｉｇｈの場合にはステップＳ
４に進む。ステップＳ２でＩｂの値がＬｏｗの場合に
は、プローブが未接続であるとして表示部３に未接続表
示（ＤＩＳＣＯＮＥＣＴ）を行い、ステップＳ１に戻
る。一方ステップＳ２でＩｂの値がＬｏｗでないとき
（Ｈｉｇｈのとき）にはβ線プローブが接続されている
としてステップＳ３に進み、β線センサに適したバイア
ス電圧を印加し、β線を測定し必要により演算して測定
結果を表示部３に示し、ステップＳ１に戻る。
【００１１】一方、ステップＳ４でＩｂの値がＬｏｗで
ないとき、γ線プローブが接続されていると判断されて
ステップＳ５に進み、γ線センサに適したバイアス電圧
を印加し、γ線を測定し必要に応じて演算して結果を表
示部３に示し、ステップＳ１に戻る。一方ステップＳ４
でＩｂの値がＬｏｗのとき、α線プローブが接続されて
いると判断されてステップＳ６に進み、α線センサに適
したバイアス電圧を印加し、α線を測定し必要に応じて
演算して結果を表示部３に示した後ステップＳ１に戻
る。本発明の放射線装置はこのような構成により、従来
必要であった切り替え時間が事実上不要となり、未知の
放射線源からの放射線を迅速に測定できる。
ないとき、γ線プローブが接続されていると判断されて
ステップＳ５に進み、γ線センサに適したバイアス電圧
を印加し、γ線を測定し必要に応じて演算して結果を表
示部３に示し、ステップＳ１に戻る。一方ステップＳ４
でＩｂの値がＬｏｗのとき、α線プローブが接続されて
いると判断されてステップＳ６に進み、α線センサに適
したバイアス電圧を印加し、α線を測定し必要に応じて
演算して結果を表示部３に示した後ステップＳ１に戻
る。本発明の放射線装置はこのような構成により、従来
必要であった切り替え時間が事実上不要となり、未知の
放射線源からの放射線を迅速に測定できる。
【００１２】
【発明の効果】本発明の放射線測定装置は、プローブ交
換が容易かつ簡単で、また、その際に設定ミスなどのお
それがないため、それぞれのセンサに適したバイアス電
圧を印加する事ができるため、故障や事故発生のおそれ
がなく、また未知の資料などで、α線、β線及びγ線の
２種以上乃至すべてを測定する際にも迅速に対応できる
優れたものである。
換が容易かつ簡単で、また、その際に設定ミスなどのお
それがないため、それぞれのセンサに適したバイアス電
圧を印加する事ができるため、故障や事故発生のおそれ
がなく、また未知の資料などで、α線、β線及びγ線の
２種以上乃至すべてを測定する際にも迅速に対応できる
優れたものである。
【図１】本発明に係る放射線測定器の例を示す図であ
る。
る。
【図２】本発明に係る放射線測定器の測定部の回路の概
念を示す図である。
念を示す図である。
【図３】図２におけるＭＰＵの働きを示す流れ図であ
る。
る。
【図４】従来のプローブ交換式の放射線測定器を示す図
である。
である。
１ プラグ ２ ＭＰＵ ３ 表示部
Claims (2)
- 【請求項１】 複数のプローブの１つが選択されて接続
部を介して共通の測定部に接続されて用いられる放射線
測定器であって、プローブと測定部とが接続される接続
部の形状が共通で、かつ、該接続部にどのプローブが接
続されたかを自動的に測定部に通知するプローブ種通知
手段を有することを特徴とする放射線測定器。 - 【請求項２】 上記プローブ種通知手段が電気的な信号
によりどのプローブが接続されたかを測定部に通知する
ことを特徴とする請求項１に記載の放射線測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP238697A JPH10197645A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | 放射線測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP238697A JPH10197645A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | 放射線測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10197645A true JPH10197645A (ja) | 1998-07-31 |
Family
ID=11527802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP238697A Withdrawn JPH10197645A (ja) | 1997-01-09 | 1997-01-09 | 放射線測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10197645A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195320A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 放射線測定装置及びその測定方法 |
| WO2017158903A1 (ja) * | 2016-03-17 | 2017-09-21 | 株式会社日立製作所 | 放射線測定用プローブ |
-
1997
- 1997-01-09 JP JP238697A patent/JPH10197645A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013195320A (ja) * | 2012-03-22 | 2013-09-30 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 放射線測定装置及びその測定方法 |
| WO2017158903A1 (ja) * | 2016-03-17 | 2017-09-21 | 株式会社日立製作所 | 放射線測定用プローブ |
| JPWO2017158903A1 (ja) * | 2016-03-17 | 2018-10-04 | 株式会社日立製作所 | 放射線測定用プローブ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20040406 |