JPH10186351A - Liquid crystal display device - Google Patents

Liquid crystal display device

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Publication number
JPH10186351A
JPH10186351A JP8343023A JP34302396A JPH10186351A JP H10186351 A JPH10186351 A JP H10186351A JP 8343023 A JP8343023 A JP 8343023A JP 34302396 A JP34302396 A JP 34302396A JP H10186351 A JPH10186351 A JP H10186351A
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JP
Japan
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liquid crystal
pair
substrates
electrode
electric field
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Application number
JP8343023A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masuyuki Ota
益幸 太田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a wide visual field angle comparable with a cathode-ray tube and a high-speed response capable of coping with moving picture, and to maintain satisfactory picture quality, by providing orientation control films, electrode structures, specific polarizing plates, and modulating the transmissivity of the light beam passing a liquid crystal composition with an electric field. SOLUTION: This liquid crystal display device is provided with one pair of substrates, a liquid crystal composition having positive dielectric constant anisotropy, orientation control films orienting optical axes of liquid crystal molecules being in the liquid crystal composition roughly vertically with respect to the substrates, one pair of electrode structure generating an electric field roughly parallel with surfaces of the one pair of the substrates and one pair of polarizing plates in which the angle between an electric field component parallel with the surfaces of the substrates and the light transmission axis of one side is roughly 45 degrees and the light transmission axis of other side is positioned in crossed Nicols at roughly 90 degrees with the light transmission axis of one side and then the transmissivity of the light transmitting the liquid crystal composition is modulated with the electric field. That is, the transmissivity is controlled by controlling the refractive index anisotropy of the liquid crystal layer with the impressing of a voltage. A double refraction phase difference is not generated at the time of a voltage non-impression. Since optical axes of liquid crystal molecules become parallel with the surfaces of the substrates at the time of a voltage impression, the liquid crystal layer presents the maximum refractive index anisotropy with respect to an incident light.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に関
し、特に動画を表示し高画質の映像が必要なシステムの
表示デバイスに用いる。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly to a liquid crystal display device used for a display device of a system which displays moving images and requires high-quality images.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置は薄い、軽量という特徴か
らノートパソコンに代表される携帯機器の表示装置とし
て広く普及している。特に薄膜トランジスタ素子(TF
T)に代表される能動素子を用いたアクティブマトリク
ス型液晶表示装置は、ブラウン管に匹敵する高画質とい
う点から、最近では、デスクトップパソコンのモニター
およびOA機器等の表示端末として広く普及し始めてい
る。しかしながら、液晶表示装置には、視野角が狭い、
応答速度が遅いという特有の欠点が存在する。これらを
解決す手段として、例えば、視野角を改善する方法とし
て提案されているのが、インプレーンスイッチングモー
ドと呼ばれる表示モードであり、視野角は抜本的に改善
される。また、応答速度を改善させる方法としては、例
えば、オプティカルコンペンセーティドベンディング
(OCB)モード、垂直配向(VA)モードがある。こ
れらに関しては、インプレーンスイッチングモードに関
しては、例えば、「R.Kiefer、 B.Webe
r、 F.Windcheidand G.Baur、
Proceedings of the Twelf
th International Display
Research Conference (Japa
n Display ’92) pp.547〜55
0」、オプティカルコンペンセーティドベンディングモ
ード(OCB)に関しては、例えば、「T.Uchid
a and T.Miyashita、Proceed
ings of The 2nd Internati
onalDisplay Workshops (ID
W ’95) pp.39〜42」、垂直配向モードに
関しては、例えば、「日経マイクロデバイス、1996
年10月号、p147」がある。
2. Description of the Related Art A liquid crystal display device is widely used as a display device of a portable device typified by a notebook computer because of its thinness and light weight. In particular, the thin film transistor element (TF
An active matrix type liquid crystal display device using an active element represented by T) has recently begun to be widely used as a monitor of a desktop personal computer and a display terminal of an OA device or the like because of its high image quality comparable to a cathode ray tube. However, liquid crystal display devices have a narrow viewing angle,
There is a specific disadvantage that the response speed is slow. As means for solving these problems, for example, a display mode called an in-plane switching mode has been proposed as a method for improving a viewing angle, and the viewing angle is drastically improved. As a method of improving the response speed, for example, there are an optically compensated bending (OCB) mode and a vertical alignment (VA) mode. Regarding these, regarding the in-plane switching mode, for example, “R. Kiefer, B. Webe
r, F.R. Windcheidand G. Baur,
Proceedings of the Twelf
the International Display
Research Conference (Japan
n Display '92) pp. 547-55
0 ”and optically compensated bending mode (OCB), for example,“ T.Uchid
a and T.A. Miyashita, Proceed
ings of The 2nd International
onlineDisplay Workshops (ID
W '95) pp. 39-42 "and the vertical alignment mode, for example, see" Nikkei Microdevice, 1996
October issue, p147 ".

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記イ
ンプレーンスイッチングモードを利用する液晶表示装置
では、応答速度が速いものでも100ms弱程度であ
り、動画表示を行うために必要とされる40〜20ms
以下の応答速度には程遠く、動画表示を行った時に動画
の残像が発生し、画像が彗星の様に尾を引いて流れるよ
うに見えるという問題がある。
However, in the liquid crystal display device using the above-described in-plane switching mode, even if the response speed is high, the response time is less than about 100 ms, and the liquid crystal display device requires 40 to 20 ms for displaying a moving image.
The response speed is far below, and there is a problem that when displaying a moving image, an afterimage of the moving image occurs, and the image appears to flow like a comet with a tail.

【0004】一方、オプティカルコンペンセーティドベ
ンディングモードでは、液晶のベンド配向を実現させる
のが、極めて難しく、実用化に至っていない。
On the other hand, in the optical compensated bending mode, it is extremely difficult to realize the bend alignment of the liquid crystal, and it has not been put to practical use.

【0005】また、垂直配向モードでは、上下方向の視
野角が悪く、配向分割技術を使わなげれならず、配向分
割を施すために、液晶分子のプレチルトを2方向にする
ような処理が必要で、垂直配向の状態で、2方向のプレ
チルトの状態を安定に維持することが難しく、長時間輝
度均一性を維持できないという点で、信頼性に問題があ
った。
In the vertical alignment mode, the viewing angle in the vertical direction is poor, so that the alignment division technique cannot be used. In order to perform the alignment division, it is necessary to perform a process of setting the pretilt of the liquid crystal molecules in two directions. In addition, it is difficult to stably maintain a pretilt state in two directions in a state of vertical alignment, and it is not possible to maintain luminance uniformity for a long time.

【0006】本発明は上記の課題を解決するもので、本
発明の目的は、ブラウン管並の広い視野角、かつ、動画
に対応できる高速応答を有し、かつ、良好な画質を長時
間安定的に維持できる高信頼性のアクティブマトリクス
型液晶表示装置を提供することにある。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a wide viewing angle comparable to that of a cathode ray tube, a high-speed response capable of responding to moving images, and stable image quality for a long time. It is an object of the present invention to provide a highly reliable active matrix type liquid crystal display device which can be maintained at a high level.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明では、第1の構成として、一対の基板と、前
記一対の基板に挟持された正の誘電率異方性を有する液
晶組成物と、電圧無印加時に前記液晶組成物層中の液晶
分子の光軸を基板面に略垂直に配向させ得る配向制御膜
と、前記液晶組成物層に前記一対の基板の基板面に略平
行な電界を発生させる一対の電極構造と、前記基板面に
平行な電界成分と一方の光透過軸との間の角度が約45
度で、他方の光透過軸が一方の光透過軸と約90度でク
ロスニコル位置される一対の偏光板とを有し、前記電界
で前記液晶組成物層を透過する光の透過率を変調するこ
とを特徴とする。
In order to achieve the above object, according to the present invention, as a first configuration, a pair of substrates and a liquid crystal having a positive dielectric anisotropy sandwiched between the pair of substrates are provided. A composition, an alignment control film capable of aligning an optical axis of liquid crystal molecules in the liquid crystal composition layer substantially perpendicular to a substrate surface when no voltage is applied, and a liquid crystal composition layer on the substrate surface of the pair of substrates. A pair of electrode structures for generating a parallel electric field, and an angle between the electric field component parallel to the substrate surface and one of the light transmission axes is about 45 °.
And the other light transmission axis has a pair of polarizing plates positioned at a crossed Nicol position at about 90 degrees with the one light transmission axis, and modulates the transmittance of light transmitted through the liquid crystal composition layer by the electric field. It is characterized by doing.

【0008】第2の構成として、第1の構成を含み、多
数の走査配線と、多数の信号配線と、前記多数の走査配
線と前記多数の信号緯線に各々の略交点に形成された能
動素子と、前記一対の基板の基板面に略平行な電界を発
生させ得る一対の電極を有する構成とする。
The second configuration includes the first configuration, and includes a large number of scanning lines, a large number of signal lines, and an active element formed at a substantially intersection of each of the large number of scanning lines and the large number of signal latitude lines. And a pair of electrodes capable of generating an electric field substantially parallel to the substrate surfaces of the pair of substrates.

【0009】第3の構成として、第1の構成を含み、多
数の走査配線と、多数の信号配線と、前記多数の走査配
線と前記多数の信号緯線に各々の略交点に形成された薄
膜トランジスタ素子と、前記一対の基板の基板面に略平
行な電界を発生させ得る一対の電極を有する構成とす
る。
The third structure includes the first structure, and includes a plurality of scanning wirings, a plurality of signal wirings, and a thin film transistor element formed at a substantially intersection of each of the plurality of scanning wirings and the plurality of signal latitude lines. And a pair of electrodes capable of generating an electric field substantially parallel to the substrate surfaces of the pair of substrates.

【0010】第4の構成として、第1の構成を含み、不
要な光漏れ部分を遮光し絶縁性を有するブラックマトリ
クスを有する構成とする。
A fourth configuration includes the first configuration and has a black matrix having an insulating property by shielding unnecessary light leakage portions.

【0011】第5の構成として、第1の構成を含み、前
記一対の基板の前記液晶組成物の挟持面の反対側の基板
面の少なくとも一方の基板面上に透明導電膜を有する構
成とする。
A fifth configuration includes the first configuration, wherein a transparent conductive film is provided on at least one substrate surface of the pair of substrates opposite to the holding surface of the liquid crystal composition. .

【0012】図1、図2に本発明の原理図を示す。FIGS. 1 and 2 show the principle of the present invention.

【0013】図1は本発明の液晶表示装置の1つの画素
の表示部の断面を、基板面に平行な方向から見た図であ
り、図2は基板面に垂直な方向から見た図である。な
お、図1、図2説明の簡略化のために、TFT等の素子
は省略している。
FIG. 1 is a view of a cross section of a display portion of one pixel of a liquid crystal display device of the present invention, as viewed from a direction parallel to a substrate surface, and FIG. 2 is a view as viewed from a direction perpendicular to the substrate surface. is there. Note that elements such as TFTs are omitted for simplification of the description of FIGS.

【0014】図1(a)、図2(a)に示すように、本
発明では、電界無印加時に液晶組成物層の中の殆どの液
晶分子の長軸(光軸)を基板面に垂直な方向に配列する
ように配向制御膜(配向膜)で初期状態を制御する。こ
の初期状態では、入射光に対して複屈折位相差が発生し
ない。
As shown in FIGS. 1 (a) and 2 (a), in the present invention, the major axis (optical axis) of most of the liquid crystal molecules in the liquid crystal composition layer is perpendicular to the substrate surface when no electric field is applied. The initial state is controlled by the orientation control film (orientation film) so that the orientations are arranged in different directions. In this initial state, no birefringent phase difference occurs for the incident light.

【0015】この液晶組成物層に基板に形成された櫛歯
電極により基板面に平行な電界を印加することにより、
図1(b)、図2(b)の様に液晶分子の長軸を基板面
に平行な方向に配列させる。これにより液晶組成物中を
通過する光に対し複屈折位相差が発生し、光が変調され
る。ここで、図3に示す偏光板の配置により、本発明の
液晶表示装置の表示を通過する光の透過率T/Tは、
以下のようになる。
By applying an electric field parallel to the substrate surface to the liquid crystal composition layer by a comb electrode formed on the substrate,
As shown in FIGS. 1B and 2B, the major axes of the liquid crystal molecules are arranged in a direction parallel to the substrate surface. Thereby, a birefringent phase difference is generated with respect to light passing through the liquid crystal composition, and the light is modulated. Here, due to the arrangement of the polarizing plate shown in FIG. 3, the transmittance T / T 0 of light passing through the display of the liquid crystal display device of the present invention is:
It looks like this:

【0016】 T/T=sin(2χ)sin(πΔn・d/λ) …(式1) ここで、Tは出射光強度、Tは入射光強度、χは液晶
分子と光軸(液晶層の実効的光軸)と偏光板の偏光透過
軸とのなす角、Δnは液晶層の屈折率異方性、λは入射
光の波長、dは基板間の間隔(液晶層の実効的厚み)、
πは円周率を表す。
T / T 0 = sin 2 (2χ) sin 2 (πΔn · d / λ) (Equation 1) where T is the output light intensity, T 0 is the incident light intensity, and χ is the liquid crystal molecule and the optical axis. The angle between the (effective optical axis of the liquid crystal layer) and the polarization transmission axis of the polarizing plate, Δn is the refractive index anisotropy of the liquid crystal layer, λ is the wavelength of the incident light, and d is the distance between the substrates (the effective liquid crystal layer). Target thickness),
π represents pi.

【0017】ここで、本発明では、図3に示すように偏
光板と液晶分子と光軸のなす角χは45度でとすると、
式1の第1項が1となるので、第2項により透過率T/
が決定される。
Here, in the present invention, as shown in FIG. 3, when the angle χ between the polarizing plate and the liquid crystal molecules and the optical axis is 45 degrees,
Since the first term of Equation 1 is 1, the transmittance T /
T 0 is determined.

【0018】したがって、本発明では、電圧の印加によ
り液晶層のΔnを制御し、式1の第2項を変化させ、透
過率を制御し、所望の表示を得るものである。図1、図
2に戻って説明すると、電圧無印加時には複屈折位相差
が発生しない、すなわち、屈折率異方性Δnが0であ
り、透過率は0となる。このとき視角方向を変化させて
も、本発明の様に垂直配向した状態では複屈折位相差が
発生しないので、全視角方向で良好な黒レベルを得るこ
とができる。
Therefore, in the present invention, Δn of the liquid crystal layer is controlled by applying a voltage, the second term of the equation (1) is changed, the transmittance is controlled, and a desired display is obtained. Returning to FIGS. 1 and 2, when no voltage is applied, no birefringence phase difference occurs, that is, the refractive index anisotropy Δn is 0, and the transmittance is 0. At this time, even if the viewing angle direction is changed, a birefringent phase difference does not occur in a vertically oriented state as in the present invention, so that a good black level can be obtained in all viewing angle directions.

【0019】一方、電圧印加時には、液晶分子の光軸が
基板面に平行になり入射光に対し最大の屈折率異方性を
表す。このとき、液晶の屈折率異方性Δnと液晶層の厚
みdの積(リタデーション)を入射光λの1/2に設定
すれば、透過率は最大となり、白表示を得ることができ
る。
On the other hand, when a voltage is applied, the optical axis of the liquid crystal molecules is parallel to the substrate surface, and exhibits the maximum refractive index anisotropy with respect to incident light. At this time, if the product (retardation) of the refractive index anisotropy Δn of the liquid crystal and the thickness d of the liquid crystal layer is set to の of the incident light λ, the transmittance becomes maximum and a white display can be obtained.

【0020】ここで、本発明が従来の垂直配向モードと
異なる点は、本発明では、液晶組成物層に一対の基板の
基板面に略平行な電界を印加するための電極構成によ
り、電気力線が半円上に湾曲しているため、必然的に液
晶分子の動作が2方向に別れるため、従来の垂直配向
で、白表示の視野角特性を広げるために行っている配向
分割を施すことが不必要であり、それにともなって問題
となっていた配向安定性が向上し、長時間高画質を維持
できる高信頼性を得ることができることである。
Here, the present invention is different from the conventional vertical alignment mode in that, in the present invention, an electric force is applied to the liquid crystal composition layer by an electrode configuration for applying an electric field substantially parallel to the substrate surfaces of the pair of substrates. Since the lines are curved in a semicircle, the operation of the liquid crystal molecules is inevitably divided into two directions. Therefore, the conventional vertical alignment is used to perform the alignment division performed to expand the viewing angle characteristics of white display. Is unnecessary, and the alignment stability, which has been a problem, is improved, and high reliability for maintaining high image quality for a long time can be obtained.

【0021】したがって、高コントラスト比が得られ、
かつ、広視野角特性を得られると同時に、高画質を維持
できる高信頼性を両立できる。
Therefore, a high contrast ratio can be obtained,
In addition, a wide viewing angle characteristic can be obtained, and high reliability for maintaining high image quality can be achieved.

【0022】また、第2の作用として、配向膜と液晶の
界面での、液晶分子を固定する力(アンカリング)が小
さいため、液晶分子が、液晶層内で動き易く、そのた
め、応答速度が極めて速くなる。
The second effect is that since the force (anchoring) for fixing the liquid crystal molecules at the interface between the alignment film and the liquid crystal is small, the liquid crystal molecules easily move in the liquid crystal layer, and the response speed is reduced. Extremely fast.

【0023】さらに、第3の作用として、従来の垂直配
向モードでは、高い透過率状態(白表示)を得るため
に、液晶分子の光軸を基板面に平行な方向に動かすため
に、電界と垂直方向に光軸を揃える性質を有する負の誘
電異方性(Δε<0)の液晶組成物を使う必要がある
が、本発明では、液晶組成物層に一対の基板の基板面に
略平行な電界を印加することにより、高い誘電率異方性
が得られ、低電圧で駆動可能な正の誘電異方性(Δε>
0)を有する液晶組成物(正の誘電異方性を有する液晶
は電界方向と同方向に光軸を揃える)を使用することが
できる。
Further, as a third effect, in the conventional vertical alignment mode, in order to obtain a high transmittance state (white display), the optical axis of the liquid crystal molecules is moved in a direction parallel to the substrate surface. Although it is necessary to use a liquid crystal composition having a negative dielectric anisotropy (Δε <0) having a property of aligning the optical axes in the vertical direction, in the present invention, the liquid crystal composition layer is substantially parallel to the substrate surfaces of the pair of substrates. By applying a strong electric field, a high dielectric anisotropy can be obtained and a positive dielectric anisotropy (Δε>
0) (a liquid crystal having a positive dielectric anisotropy aligns the optical axis in the same direction as the electric field direction).

【0024】また、第4の作用として、印加電界の方向
で、液晶分子の光軸の基板面に平行な面内での方向が決
定されるため、従来の垂直配向モードで行っていたラビ
ング処理等での配向方向制御が不必要である。これによ
り、その配向規制力による液晶分子の動きにくさも改善
でき、さらに応答速度を向上することができる。
As a fourth action, the direction of the applied electric field determines the direction of the optical axis of the liquid crystal molecules in a plane parallel to the substrate surface. Therefore, the rubbing treatment performed in the conventional vertical alignment mode is performed. It is not necessary to control the orientation direction in the above method. Thereby, the movement of the liquid crystal molecules due to the alignment regulating force can be improved, and the response speed can be further improved.

【0025】これらの作用により、インプレーンスイッ
チングモードで実現できない高速応答と、垂直配向モー
ドで実用化できない広視野角と高信頼性の両立を、全て
解決することができ、極めて高画質で、ブラウン管を凌
駕できる理想的な液晶表示装置を実現することができ
る。
By these actions, it is possible to solve both the high-speed response which cannot be realized in the in-plane switching mode and the wide viewing angle and high reliability which cannot be practically used in the vertical alignment mode. It is possible to realize an ideal liquid crystal display device that can surpass.

【0026】[0026]

【発明の実施の形態】本発明、本発明の更に他の目的及
び本発明の更に他の特徴は図面を参照した以下の実施例
の説明から明らかとなるであろう。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The invention, further objects of the invention and further features of the invention will become apparent from the following description of embodiments with reference to the drawings, in which: FIG.

【0027】《アクティブ・マトリクス液晶表示装置》
以下、アクティブ・マトリクス方式のカラー液晶表示装
置に本発明を適用した実施例を説明する。なお、以下説
明する図面で、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
<< Active matrix liquid crystal display device >>
An embodiment in which the present invention is applied to an active matrix type color liquid crystal display device will be described below. In the drawings described below, components having the same function are denoted by the same reference numerals, and repeated description thereof will be omitted.

【0028】《マトリクス部(画素部)の平面構成》図
4は本発明のアクティブ・マトリクス方式カラー液晶表
示装置の一画素とその周辺を示す平面図である。
<< Planar Configuration of Matrix Section (Pixel Section) >> FIG. 4 is a plan view showing one pixel of the active matrix type color liquid crystal display device of the present invention and its periphery.

【0029】図4に示すように、各画素は走査信号線
(ゲート信号線または水平信号線)GLと、対向電圧信
号線(対向電極配線)CLと、隣接する2本の映像信号
線(ドレイン信号線または垂直信号線)DLとの交差領
域内(4本の信号線で囲まれた領域内)に配置されてい
る。各画素は薄膜トランジスタTFT、蓄積容量Cst
g、画素電極PXおよび対向電極CTを含む。走査信号
線GL、対向電圧信号線CLは図では左右方向に延在
し、上下方向に複数本配置されている。映像信号線DL
は上下方向に延在し、左右方向に複数本配置されてい
る。画素電極PXはソース電極SD1を介して薄膜トラ
ンジスタTFTと電気的に接続され、対向電極CTも対
向電圧信号線CLと電気的に接続されている。
As shown in FIG. 4, each pixel has a scanning signal line (gate signal line or horizontal signal line) GL, a counter voltage signal line (counter electrode wiring) CL, and two adjacent video signal lines (drain). The signal line or the vertical signal line) is arranged in an intersecting region with the DL (in a region surrounded by four signal lines). Each pixel is a thin film transistor TFT, a storage capacitor Cst
g, the pixel electrode PX and the counter electrode CT. The scanning signal lines GL and the counter voltage signal lines CL extend in the left-right direction in FIG. Video signal line DL
Extend in the up-down direction and are arranged in a plurality in the left-right direction. The pixel electrode PX is electrically connected to the thin film transistor TFT via the source electrode SD1, and the counter electrode CT is also electrically connected to the counter voltage signal line CL.

【0030】画素電極PXと対向電極CTは互いに対向
し、各画素電極PXと対向電極CTとの間で発生させら
れる基板面に略平行な電界により液晶組成物LCの光学
的な状態を制御し、表示を制御する。画素電極PXと対
向電極CTは櫛歯状に構成され、それぞれ、図の上下方
向に長細い電極となっている。
The pixel electrode PX and the counter electrode CT face each other, and the optical state of the liquid crystal composition LC is controlled by an electric field generated between each pixel electrode PX and the counter electrode CT and substantially parallel to the substrate surface. Control the display. The pixel electrode PX and the counter electrode CT are formed in a comb shape, and each is an electrode that is elongated in the vertical direction in the figure.

【0031】1画素内の対向電極CTの本数O(櫛歯の
本数)は、画素電極PXの本数(櫛歯の本数)PとO=
P+1の関係を持つように構成する(本実施例では、O
=3、P=2)。これは、対向電極CTと画素電極PX
を交互に配置し、かつ、対向電極CTを映像信号線DL
に隣接させるためである。これにより、対向電極CTと
画素電極PXの間の電界が、映像信号線DLから発生す
る電界から影響を受けないように、対向電極CTで映像
信号線DLからの不要な電気力線をシールドすることが
できる。対向電極CTは、画素電極と異なり、後述の対
向電圧信号線CLにより常に外部から電位を供給されて
いるため電位は安定しており、映像信号線DLに隣接し
ても電位が変動がほとんどない。したがって、映像信号
線DLからの不要な電気力線をシールドすることができ
る。また、画素電極PXの映像信号線DLからの幾何学
的な位置が遠くなるので、画素電極PXと映像信号線D
Lの間の寄生容量が大幅に減少し、画素電極電位Vsの
映像信号電圧による変動も抑制できる。これらにより、
上下方向に発生するクロストーク(縦スミアと呼ばれる
画質不良)を抑制することができる。
The number O (number of comb teeth) of the counter electrodes CT in one pixel is equal to the number P (number of comb teeth) of the pixel electrode PX and O =
It is configured to have a relationship of P + 1 (in this embodiment, O
= 3, P = 2). This is because the counter electrode CT and the pixel electrode PX
Are alternately arranged, and the counter electrode CT is connected to the video signal line DL.
In order to be adjacent to. Thereby, unnecessary lines of electric force from the video signal line DL are shielded by the counter electrode CT so that the electric field between the counter electrode CT and the pixel electrode PX is not affected by the electric field generated from the video signal line DL. be able to. The counter electrode CT is different from the pixel electrode in that the potential is constantly supplied from the outside through a counter voltage signal line CL described later, so that the potential is stable, and the potential hardly changes even adjacent to the video signal line DL. . Therefore, unnecessary lines of electric force from the video signal lines DL can be shielded. Further, since the geometric position of the pixel electrode PX from the video signal line DL is far, the pixel electrode PX and the video signal line D
The parasitic capacitance during L is greatly reduced, and the fluctuation of the pixel electrode potential Vs due to the video signal voltage can be suppressed. By these,
Crosstalk (improper image quality called vertical smear) occurring in the vertical direction can be suppressed.

【0032】画素電極PXと対向電極CTの電極幅はそ
れぞれ6μmとする。これは、液晶層の厚み方向に対し
て、液晶層全体に十分な電界を印加するために、後述の
液晶組成物層の厚み3.9μmよりも十分大きく設定す
る。望ましくは、液晶組成物層の1.5倍以上に設定す
る。また、開口率を大きくするためにできるだけ細くす
る。また、映像信号線DLも6μmとする。映像信号線
DLの電極幅は断線を防止するために、画素電極PXと
対向電極CTに比較して若干広しても良い。但し、映像
信号線DLの電極幅が、隣接する対向電極CTの電極幅
の2倍以下になるように設定する。映像信号線DLの電
極幅が歩留りの生産性から決まっている場合には、映像
信号線DLに隣接する対向電極CTの電極幅を映像信号
線DLの電極幅の1/2以上にする。これは、映像信号
線DLから発生する不要な電気力線をそれぞれ両脇の対
向電極CTで吸収するためであり、ある電極幅から発生
する電気力線を吸収するには、それと同一幅以上のの電
極幅を持つ電極が必要である。したがって、映像信号線
DLの電極の半分(4μmずつ)から発生する電気力線
をそれぞれ両脇の対向電極CTが吸収しればよいため、
映像信号線DLに隣接する対向電極CTの電極幅が1/
2以上とする。これにより、映像信号の影響によるクロ
ストークが発生、特に上下方向(縦方向)のクロストー
クを防止する。
The electrode width of each of the pixel electrode PX and the counter electrode CT is 6 μm. In order to apply a sufficient electric field to the entire liquid crystal layer in the thickness direction of the liquid crystal layer, the thickness is set to be sufficiently larger than 3.9 μm of a liquid crystal composition layer described later. Desirably, it is set to 1.5 times or more of the liquid crystal composition layer. In addition, it is made as thin as possible to increase the aperture ratio. The video signal line DL is also 6 μm. The electrode width of the video signal line DL may be slightly wider than the pixel electrode PX and the counter electrode CT in order to prevent disconnection. However, the electrode width of the video signal line DL is set to be equal to or less than twice the electrode width of the adjacent counter electrode CT. When the electrode width of the video signal line DL is determined from the productivity of the yield, the electrode width of the counter electrode CT adjacent to the video signal line DL is set to 1 / or more of the electrode width of the video signal line DL. This is because the unnecessary lines of electric force generated from the video signal line DL are absorbed by the counter electrodes CT on both sides, respectively. In order to absorb the lines of electric force generated from a certain electrode width, the lines of the same width or more must be used. An electrode having an electrode width of is required. Therefore, since the lines of electric force generated from half (4 μm each) of the electrodes of the video signal lines DL need only be absorbed by the counter electrodes CT on both sides, respectively.
The electrode width of the counter electrode CT adjacent to the video signal line DL is 1 /
2 or more. This prevents crosstalk due to the influence of the video signal, and particularly prevents crosstalk in the vertical direction (vertical direction).

【0033】走査信号線GLは末端側の画素(後述の走
査電極端子GTMの反対側)のゲート電極GTに十分に
走査電圧が伝搬されるだけの抵抗値を満足するように電
極幅を設定する。また、対向電圧信号線CLも末端側の
画素(後述の共通バスラインCB1およびCB2から最
も遠い画素すなわちCB1とCB2の中間の画素)の対
向電極CTに十分に対向電圧が印加できるだけの抵抗値
を満足するように電極幅を設定する。
The width of the scanning signal line GL is set so as to satisfy a resistance value enough to transmit a scanning voltage sufficiently to the gate electrode GT of the terminal pixel (opposite to a scanning electrode terminal GTM described later). . Further, the counter voltage signal line CL also has a resistance value that allows a sufficient counter voltage to be applied to the counter electrode CT of the terminal pixel (the pixel farthest from the later-described common bus lines CB1 and CB2, that is, the pixel between CB1 and CB2). Set the electrode width to satisfy.

【0034】一方、画素電極PXと対向電極CTの間の
電極間隔は、用いる液晶材料によって変える。これは、
液晶材料によって最大透過率を達成する電界強度が異な
るため、電極間隔を液晶材料に応じて設定し、用いる映
像信号駆動回路(信号側ドライバ)の耐圧で設定される
信号電圧の最大振幅の範囲で、最大透過率が得られるよ
うにするためである。後述の液晶材料を用いると電極間
隔は、16μmとなる。
On the other hand, the electrode interval between the pixel electrode PX and the counter electrode CT changes depending on the liquid crystal material used. this is,
Since the electric field strength that achieves the maximum transmittance varies depending on the liquid crystal material, the electrode spacing is set according to the liquid crystal material, and within the range of the maximum amplitude of the signal voltage set by the withstand voltage of the video signal driving circuit (signal side driver) used. , So that the maximum transmittance can be obtained. When a liquid crystal material described later is used, the electrode interval is 16 μm.

【0035】《マトリクス部(画素部)の断面構成》図
5は図4の6−6切断線における断面を示す図、図6は
図4の7−7切断線における薄膜トランジスタTFTの
断面図、図7は図4の8−8切断線における蓄積容量C
stgの断面を示す図である。図5〜図7に示すように、
液晶組成物層LCを基準にして下部透明ガラス基板SU
B1側には薄膜トランジスタTFT、蓄積容量Cstgお
よび電極群が形成され、上部透明ガラス基板SUB2側
にはカラーフィルタFIL、遮光用ブラックマトリクス
パターンBMが形成されている。
<< Cross-Sectional Structure of Matrix (Pixel) >> FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line 6-6 in FIG. 4, and FIG. 6 is a cross-sectional view of the thin film transistor TFT taken along the line 7-7 in FIG. 7 is the storage capacitance C at the 8-8 section line in FIG.
It is a figure showing the section of stg. As shown in FIGS.
The lower transparent glass substrate SU based on the liquid crystal composition layer LC
A thin film transistor TFT, a storage capacitor Cstg, and an electrode group are formed on the B1 side, and a color filter FIL and a light shielding black matrix pattern BM are formed on the upper transparent glass substrate SUB2 side.

【0036】また、透明ガラス基板SUB1、SUB2
のそれぞれの内側(液晶LC側)の表面には、液晶の初
期配向を制御する配向膜AF1、AF2が設けられてお
り、透明ガラス基板SUB1、SUB2のそれぞれの外
側の表面には、偏光板が設けられている。
Further, the transparent glass substrates SUB1, SUB2
Alignment films AF1 and AF2 for controlling the initial alignment of the liquid crystal are provided on the inner surface (on the liquid crystal LC side) of each of the above, and a polarizing plate is provided on each outer surface of the transparent glass substrates SUB1 and SUB2. Is provided.

【0037】《TFT基板》まず、下側透明ガラス基板
SUB1側(TFT基板)の構成を詳しく説明する。
<< TFT Substrate >> First, the structure of the lower transparent glass substrate SUB1 (TFT substrate) will be described in detail.

【0038】《薄膜トランジスタTFT》薄膜トランジ
スタTFTは、ゲート電極GTに正のバイアスを印加す
ると、ソース−ドレイン間のチャネル抵抗が小さくな
り、バイアスを零にすると、チャネル抵抗は大きくなる
ように動作する。
<< Thin Film Transistor TFT >> The thin film transistor TFT operates so that the channel resistance between the source and the drain decreases when a positive bias is applied to the gate electrode GT, and the channel resistance increases when the bias is zero.

【0039】薄膜トランジスタTFTは、図6に示すよ
うに、ゲート電極GT、絶縁膜GI、i型(真性、intr
insic、導電型決定不純物がドープされていない)非晶
質シリコン(Si)からなるi型半導体層AS、一対の
ソース電極SD1、ドレイン電極SD2を有す。なお、
ソース、ドレインは本来その間のバイアス極性によって
決まるもので、この液晶表示装置の回路ではその極性は
動作中反転するので、ソース、ドレインは動作中入れ替
わると理解されたい。しかし、以下の説明では、便宜上
一方をソース、他方をドレインと固定して表現する。
As shown in FIG. 6, the thin film transistor TFT has a gate electrode GT, an insulating film GI, an i-type (intrinsic, intr
It has an insic, i-type semiconductor layer AS made of amorphous silicon (Si not doped with a conductivity type determining impurity), a pair of source electrode SD1, and a drain electrode SD2. In addition,
It should be understood that the source and the drain are originally determined by the bias polarity between them, and in the circuit of this liquid crystal display device, the polarity is inverted during the operation, so that the source and the drain are switched during the operation. However, in the following description, one is fixed and the other is fixed as a drain for convenience.

【0040】《ゲート電極GT》ゲート電極GTは走査
信号線GLと連続して形成されており、走査信号線GL
の一部の領域がゲート電極GTとなるように構成されて
いる。ゲート電極GTは薄膜トランジスタTFTの能動
領域を超える部分である。本例では、ゲート電極GT
は、単層の導電膜g3で形成されている。導電膜g3と
しては例えばスパッタで形成されたクロム−モリブデン
合金(Cr−Mo)膜が用いられるがそれに限ったもの
ではない。
<< Gate Electrode GT >> The gate electrode GT is formed continuously with the scanning signal line GL.
Is configured to be a gate electrode GT. The gate electrode GT is a portion beyond the active area of the thin film transistor TFT. In this example, the gate electrode GT
Is formed of a single-layer conductive film g3. As the conductive film g3, for example, a chromium-molybdenum alloy (Cr-Mo) film formed by sputtering is used, but not limited thereto.

【0041】《走査信号線GL》走査信号線GLは導電
膜g3で構成されている。この走査信号線GLの導電膜
g3はゲート電極GTの導電膜g3と同一製造工程で形
成され、かつ一体に構成されている。この走査信号線G
Lにより、外部回路からゲート電圧(走査電圧)Vgを
ゲート電極GTに供給する。本例では、導電膜g3とし
ては例えばスパッタで形成されたクロム−モリブデン合
金(Cr−Mo)膜が用いられる。また、走査信号線G
Lおよびはゲート電極GTは、クロム−モリブデン合金
のみに限られたものではなく、たとえば、低抵抗化のた
めにアルミニウムまたはアルミニウム合金をクロム−モ
リブデンで包み込んだ2層構造としてもよい。
<< Scanning Signal Line GL >> The scanning signal line GL is formed of a conductive film g3. The conductive film g3 of the scanning signal line GL is formed in the same manufacturing process as the conductive film g3 of the gate electrode GT, and is integrally formed. This scanning signal line G
By L, a gate voltage (scanning voltage) Vg is supplied from an external circuit to the gate electrode GT. In this example, as the conductive film g3, for example, a chromium-molybdenum alloy (Cr-Mo) film formed by sputtering is used. Also, the scanning signal line G
The L and the gate electrode GT are not limited to the chromium-molybdenum alloy, but may have a two-layer structure in which aluminum or an aluminum alloy is wrapped with chromium-molybdenum for low resistance.

【0042】さらに、映像信号線DLと交差する部分は
映像信号線DLとの短絡の確率を小さくするため細く
し、また、短絡しても、レーザートリミングで切り離す
ことができるように二股にしても良い。
Further, the portion that intersects with the video signal line DL is made thinner to reduce the probability of short-circuit with the video signal line DL, and is made bifurcated so that even if it is short-circuited, it can be separated by laser trimming. good.

【0043】《対向電圧信号線CL》対向電圧信号線C
Lは導電膜g3で構成されている。この対向電圧信号線
CLの導電膜g3はゲート電極GT、走査信号線GLお
よび対向電極CTの導電膜g3と同一製造工程で形成さ
れ、かつ対向電極CTと電気的に接続できるように構成
されている。この対向電圧信号線CLにより、外部回路
から対向電圧Vcomを対向電極CTに供給する。また、対
向電圧信号線CLは、クロム−モリブデン合金のみに限
られたものではなく、たとえば、低抵抗化のためにアルミ
ニウムまたはアルミニウム合金をクロム−モリブデンで
包み込んだ2層構造としてもよい。さらに、映像信号線
DLと交差する部分は映像信号線DLとの短絡の確率を
小さくするため細くし、また、短絡しても、レーザート
リミングで切り離すことができるように二股にしても良
い。
<< Counter Voltage Signal Line CL >> Counter Voltage Signal Line C
L is composed of a conductive film g3. The conductive film g3 of the counter voltage signal line CL is formed in the same manufacturing process as the conductive film g3 of the gate electrode GT, the scanning signal line GL, and the counter electrode CT, and is configured to be electrically connected to the counter electrode CT. I have. The counter voltage Vcom is supplied from the external circuit to the counter electrode CT through the counter voltage signal line CL. Further, the counter voltage signal line CL is not limited to the chromium-molybdenum alloy, but may have a two-layer structure in which aluminum or an aluminum alloy is wrapped with chromium-molybdenum for lowering the resistance. Further, the portion that intersects with the video signal line DL may be narrowed in order to reduce the probability of a short circuit with the video signal line DL, or may be bifurcated so that even if a short circuit occurs, it can be separated by laser trimming.

【0044】《絶縁膜GI》絶縁膜GIは、薄膜トラン
ジスタTFTにおいて、ゲート電極GTと共に半導体層
ASに電界を与えるためのゲート絶縁膜として使用され
る。絶縁膜GIはゲート電極GTおよび走査信号線GL
の上層に形成されている。絶縁膜GIとしては例えばプ
ラズマCVDで形成された窒化シリコン膜が選ばれ、2
000〜4500Åの厚さに(本実施例では、3500
Å程度)形成される。また、絶縁膜GIは走査信号線G
Lおよび対向電圧信号線CLと映像信号線DLの層間絶
縁膜としても働き、それらの電気的絶縁にも寄与してい
る。
<< Insulating Film GI >> The insulating film GI is used as a gate insulating film for applying an electric field to the semiconductor layer AS together with the gate electrode GT in the thin film transistor TFT. The insulating film GI includes the gate electrode GT and the scanning signal line GL.
Is formed in the upper layer. As the insulating film GI, for example, a silicon nitride film formed by plasma CVD is selected.
000-4500 mm (in this embodiment, 3500
Å) formed. Further, the insulating film GI is provided with the scanning signal line G.
It also functions as an interlayer insulating film between the L and counter voltage signal lines CL and the video signal lines DL, and contributes to their electrical insulation.

【0045】《i型半導体層AS》i型半導体層AS
は、非晶質シリコンで、150〜2500Åの厚さに
(本実施例では、1200Å程度の膜厚)で形成され
る。層d0はオーミックコンタクト用のリン(P)をド
ープしたN(+)型非晶質シリコン半導体層であり、下側
にi型半導体層ASが存在し、上側に導電層d3が存在
するところのみに残されている。
<< i-type semiconductor layer AS >> i-type semiconductor layer AS
Is amorphous silicon and is formed to a thickness of 150 to 2500 ° (about 1200 ° in this embodiment). The layer d0 is an N (+)-type amorphous silicon semiconductor layer doped with phosphorus (P) for ohmic contact, and is provided only in a region where the i-type semiconductor layer AS is present on the lower side and the conductive layer d3 is present on the upper side. Has been left.

【0046】i型半導体層ASおよび層d0は、走査信
号線GLおよび対向電圧信号線CLと映像信号線DLと
の交差部(クロスオーバ部)の両者間にも設けられてい
る。この交差部のi型半導体層ASは交差部における走
査信号線GLおよび対向電圧信号線CLと映像信号線D
Lとの短絡を低減する。
The i-type semiconductor layer AS and the layer d0 are also provided between the scanning signal line GL and the intersection (crossover portion) between the counter voltage signal line CL and the video signal line DL. The i-type semiconductor layer AS at the intersection is provided with the scanning signal line GL, the counter voltage signal line CL, and the video signal line D at the intersection.
Short circuit with L is reduced.

【0047】《ソース電極SD1、ドレイン電極SD
2》ソース電極SD1、ドレイン電極SD2のそれぞれ
は、N(+)型半導体層d0に接触する導電膜d3から構
成されている。
<< Source electrode SD1, Drain electrode SD
2 >> Each of the source electrode SD1 and the drain electrode SD2 is formed of a conductive film d3 which is in contact with the N (+) type semiconductor layer d0.

【0048】導電膜d3はスパッタで形成したクロム−
モリブデン合金(Cr−Mo)膜を用い、500〜30
00Åの厚さに(本実施例では、2500Å程度)で形
成される。Cr−Mo膜は低応力であるので、比較的膜
厚を厚く形成することができ配線の低抵抗化に寄与す
る。また、Cr−Mo膜はN(+)型半導体層d0との接
着性も良好である。導電膜d3として、Cr−Mo膜の
他に高融点金属(Mo、Ti、Ta、W)膜、高融点金
属シリサイド(MoSi2、TiSi2、TaSi2、W
Si2)膜を用いてもよく、また、アルミニウム等との積
層構造にしてもよい。
The conductive film d3 is made of chromium-
Using a molybdenum alloy (Cr-Mo) film,
It is formed to a thickness of 00 ° (about 2500 ° in this embodiment). Since the Cr-Mo film has low stress, it can be formed relatively thick, which contributes to lowering the resistance of the wiring. Further, the Cr—Mo film has good adhesion to the N (+) type semiconductor layer d0. As the conductive film d3, a high melting point metal (Mo, Ti, Ta, W) film, a high melting point metal silicide (MoSi 2 , TiSi 2 , TaSi 2 , W) in addition to the Cr—Mo film.
An Si 2 ) film may be used, or a laminated structure with aluminum or the like may be used.

【0049】《映像信号線DL》映像信号線DLはソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2と同層の導電膜d3
で構成されている。また、映像信号線DLはドレイン電
極SD2と一体に形成されている。本例では、導電膜d
3はスパッタで形成したクロム−モリブデン合金(Cr
−Mo)膜を用い、500〜3000Åの厚さに(本実
施例では、2500Å程度)で形成される。Cr−Mo
膜は低応力であるので、比較的膜厚を厚く形成すること
ができ配線の低抵抗化に寄与する。また、Cr−Mo膜
はN(+)型半導体層d0との接着性も良好である。導電
膜d3として、Cr−Mo膜の他に高融点金属(Mo、
Ti、Ta、W)膜、高融点金属シリサイド(MoSi
2、TiSi2、TaSi2、WSi2)膜を用いてもよ
く、また、アルミニウム等との積層構造にしてもよい。
<< Video Signal Line DL >> The video signal line DL is a conductive film d3 of the same layer as the source electrode SD1 and the drain electrode SD2.
It is composed of The video signal line DL is formed integrally with the drain electrode SD2. In this example, the conductive film d
3 is a chromium-molybdenum alloy (Cr
-Mo) The film is formed to a thickness of 500 to 3000 ° (about 2500 ° in this embodiment) using a film. Cr-Mo
Since the film has low stress, it can be formed relatively thick, which contributes to lowering the resistance of the wiring. Further, the Cr—Mo film has good adhesion to the N (+) type semiconductor layer d0. As the conductive film d3, a refractory metal (Mo,
Ti, Ta, W) film, refractory metal silicide (MoSi)
2 , TiSi 2 , TaSi 2 , WSi 2 ) film or a laminated structure with aluminum or the like.

【0050】《蓄積容量Cstg》導電膜d3は、薄膜ト
ランジスタTFTのソース電極SD2部分において、対
向電圧信号線CLと重なるように形成されている。この
重ね合わせは、図7からも明らかなように、ソース電極
SD2(d3)を一方の電極とし、対向電圧信号CLを
他方の電極とする蓄積容量(静電容量素子)Cstgを構
成する。この蓄積容量Cstgの誘電体膜は、薄膜トラン
ジスタTFTのゲート絶縁膜として使用される絶縁膜G
Iで構成されている。
<< Storage Capacitor Cstg >> The conductive film d3 is formed so as to overlap the counter voltage signal line CL in the source electrode SD2 of the thin film transistor TFT. This superposition constitutes a storage capacitor (capacitance element) Cstg in which the source electrode SD2 (d3) is used as one electrode and the counter voltage signal CL is used as the other electrode, as is clear from FIG. The dielectric film of the storage capacitor Cstg is an insulating film G used as a gate insulating film of the thin film transistor TFT.
I.

【0051】図4に示すように平面的には蓄積容量Cst
gは対向電圧信号線CLの一部分に形成されている。
As shown in FIG. 4, the storage capacitance Cst
g is formed in a part of the counter voltage signal line CL.

【0052】《保護膜PSV1》薄膜トランジスタTF
T上には保護膜PSV1が設けられている。保護膜PS
V1は主に薄膜トランジスタTFTを湿気等から保護す
るために形成されており、透明性が高くしかも耐湿性の
良いものを使用する。保護膜PSV1はたとえばプラズ
マCVD装置で形成した酸化シリコン膜や窒化シリコン
膜で形成されており、0.1〜1μm程度の膜厚で形成
する。
<< Protective Film PSV1 >> Thin Film Transistor TF
On T, a protective film PSV1 is provided. Protective film PS
V1 is formed mainly to protect the thin film transistor TFT from moisture and the like, and uses a material having high transparency and good moisture resistance. The protective film PSV1 is formed of, for example, a silicon oxide film or a silicon nitride film formed by a plasma CVD apparatus, and has a thickness of about 0.1 to 1 μm.

【0053】保護膜PSV1は、外部接続端子DTM、
GTMを露出するよう除去されている。保護膜PSV1
と絶縁膜GIの厚さ関係に関しては、前者は保護効果を
考え厚くされ、後者はトランジスタの相互コンダクタン
スgmを薄くされる。
The protective film PSV1 is connected to an external connection terminal DTM,
Removed to expose GTM. Protective film PSV1
And the thickness of the insulating film GI, the former is made thicker in consideration of the protective effect, and the latter is made thinner in the transconductance gm of the transistor.

【0054】また、画素部では、対向電圧信号線CLと
後述の対向電極CTとの電気的接続、および、ソース電
極SD2と画素電極PXとの電気的接続のために、スル
ーホールTH2およびTH1を設けている。スルーホー
ルTH2では、保護膜PSV1と絶縁膜GIが一括で加
工されるのでg3層までの孔があき、スルーホールTH
1ではd3でブロッキングされるのでd3層までの孔があ
く。
In the pixel portion, through holes TH2 and TH1 are provided for electrical connection between the counter voltage signal line CL and a counter electrode CT described later and for electrical connection between the source electrode SD2 and the pixel electrode PX. Provided. In the through hole TH2, since the protective film PSV1 and the insulating film GI are processed at a time, a hole up to the g3 layer is formed, and the through hole TH2 is formed.
In the case of 1, since blocking is performed at d3, holes are formed up to the d3 layer.

【0055】また、保護膜PSV1は、ポリイミド等の
有機膜を厚く構成したものとの積層構造としても良い。
The protective film PSV1 may have a laminated structure with a thick organic film such as polyimide.

【0056】《画素電極PX》画素電極PXは、透明導
電層i1で形成されている。この透明導電膜i1はスパ
ッタリングで形成された透明導電膜(Indium-Tin-Oxide
ITO:ネサ膜)からなり、100〜2000Åの厚
さに(本実施例では、1400Å程度の膜厚)形成され
る。また、画素電極PXはスルーホールTH1を介し
て、ソース電極SD2に接続されている。
<< Pixel Electrode PX >> The pixel electrode PX is formed of the transparent conductive layer i1. This transparent conductive film i1 is a transparent conductive film (Indium-Tin-Oxide) formed by sputtering.
It is made of ITO (a Nesa film) and is formed to a thickness of 100 to 2000 ((in this embodiment, about 1400 、 1). The pixel electrode PX is connected to the source electrode SD2 via the through hole TH1.

【0057】画素電極が本実施例のように透明になるこ
とにより、その部分の透過光により、白表示を行う時の
最大透過率が向上するため、画素電極が不透明な場合よ
りも、より明るい表示を行うことができる。この時、後
述するように、電圧無印加時には、液晶分子は初期の配
向状態を保ち、その状態で黒表示をするように偏光板の
配置を構成する(ノーマリブラックモードにする)にし
ているので、画素電極を透明にしても、その部分の光を
透過することがなく、良質な黒を表示することができ
る。これにより、最大透過率が向上させ、かつ十分なコ
ントラスト比を達成することができる。
When the pixel electrode is transparent as in the present embodiment, the maximum transmittance in white display is improved by the transmitted light in that portion, so that the pixel electrode is brighter than when the pixel electrode is opaque. Display can be performed. At this time, as described later, when no voltage is applied, the liquid crystal molecules maintain the initial alignment state, and the polarizing plate is arranged so as to perform black display in that state (normally black mode). Therefore, even if the pixel electrode is made transparent, it is possible to display high-quality black without transmitting light in that portion. Thereby, the maximum transmittance can be improved and a sufficient contrast ratio can be achieved.

【0058】《対向電極CT》対向電極CTは透明導電
層i1で形成されている。この透明導電膜i1はスパッ
タリングで形成された透明導電膜(Indium-Tin-Oxide
ITO:ネサ膜)からなり、100〜2000Åの厚さ
に(本実施例では、1400Å程度の膜厚)形成され
る。また、対向電極CTはスルーホールTH2を介し
て、対向電圧信号線CLに接続されている。画素電極P
Xと同様、対向電極を透明にすることにより、白表示を
行う時の最大透過率が向上する。
<< Counter Electrode CT >> The counter electrode CT is formed of the transparent conductive layer i1. This transparent conductive film i1 is a transparent conductive film (Indium-Tin-Oxide) formed by sputtering.
It is made of ITO (a Nesa film) and is formed to a thickness of 100 to 2000 ((in this embodiment, about 1400 、 1). The counter electrode CT is connected to the counter voltage signal line CL via the through hole TH2. Pixel electrode P
Similarly to X, by making the opposing electrode transparent, the maximum transmittance when white display is performed is improved.

【0059】対向電極CTには対向電圧Vcomが印加さ
れるように構成されている。本実施例では、対向電圧V
comは映像信号線DLに印加される最小レベルの駆動電
圧Vdminと最大レベルの駆動電圧Vdmaxとの中間直流
電位から、薄膜トランジスタ素子TFTをオフ状態にす
るときに発生するフィードスルー電圧ΔVs分だけ低い
電位に設定されるが、映像信号駆動回路で使用される集
積回路の電源電圧を約半分に低減したい場合は、交流電
圧を印加すれば良い。
The counter electrode CT is configured to apply a counter voltage Vcom. In this embodiment, the counter voltage V
com is a potential lower than the intermediate DC potential between the minimum level drive voltage Vdmin and the maximum level drive voltage Vdmax applied to the video signal line DL by a feedthrough voltage ΔVs generated when the thin film transistor element TFT is turned off. However, if it is desired to reduce the power supply voltage of the integrated circuit used in the video signal driving circuit to about half, an AC voltage may be applied.

【0060】《カラーフィルタ基板》次に、図4、図5
に戻り、上側透明ガラス基板SUB2側(カラーフィル
タ基板)の構成を詳しく説明する。 《遮光膜BM》上部透明ガラス基板SUB2側には、不
要な間隙部(画素電極PXと対向電極CTの間以外の隙
間)からの透過光が表示面側に出射して、コントラスト
比等を低下させないように遮光膜BM(いわゆるブラッ
クマトリクス)を形成している。遮光膜BMは、外部光
またはバックライト光がi型半導体層ASに入射しない
ようにする役割も果たしている。すなわち、薄膜トラン
ジスタTFTのi型半導体層ASは上下にある遮光膜B
Mおよび大き目のゲート電極GTによってサンドイッチ
にされ、外部の自然光やバックライト光が当たらなくな
る。
<< Color Filter Substrate >> Next, FIGS.
Returning to, the configuration of the upper transparent glass substrate SUB2 side (color filter substrate) will be described in detail. << Light-Shielding Film BM >> On the upper transparent glass substrate SUB2 side, transmitted light from an unnecessary gap (a gap other than between the pixel electrode PX and the counter electrode CT) is emitted to the display surface side to lower the contrast ratio and the like. A light-shielding film BM (a so-called black matrix) is formed so as not to cause the light-blocking. The light-shielding film BM also plays a role of preventing external light or backlight light from entering the i-type semiconductor layer AS. That is, the i-type semiconductor layer AS of the thin film transistor TFT is formed by the upper and lower light shielding films B.
Sandwiched by the M and large gate electrodes GT prevents external natural light and backlight light from shining.

【0061】図4に示す遮光膜BMは、薄膜トランジス
タ素子TFT上部に左右方向に線状に延在した構成であ
る。このパターンは、1例であり、開口部を孔状にあけ
たマトリクス状の様にすることもできる。櫛歯電極端部
等の電界方向が乱れる部分においては、その部分の表示
は、画素内の映像情報に1対1で対応し、かつ、黒の場
合には黒、白の場合には白になるため、表示の一部とし
て利用することが可能である。また、図の上下方向にお
ける対向電極CTと映像信号線DLとの間隙部は、ゲー
ト電極GTと同一工程で形成した第2遮光層SHで遮光
する。これにより左右方向の上下方向の遮光は、TFT
工程のアライメント精度で高精度に遮光できるので、映
像信号線DLに隣接する対向電極CTの電極間に第2遮
光層SHの境界を設定でき、上下基板のあわせ精度に依
存する遮光膜BMによる遮光よりも、より開口部を拡大
することができる。
The light shielding film BM shown in FIG. 4 has a configuration extending linearly in the left-right direction above the thin film transistor element TFT. This pattern is merely an example, and the pattern may be a matrix with openings formed in holes. In a portion where the direction of the electric field is disturbed, such as a comb-teeth electrode end, the display of the portion corresponds to the video information in the pixel on a one-to-one basis, and is black in black and white in white. Therefore, it can be used as a part of the display. In addition, the gap between the counter electrode CT and the video signal line DL in the vertical direction in the drawing is shielded from light by the second light shielding layer SH formed in the same step as the gate electrode GT. As a result, light shielding in the vertical direction in the horizontal direction
Since the light can be shielded with high precision by the alignment accuracy of the process, the boundary of the second light shielding layer SH can be set between the electrodes of the counter electrode CT adjacent to the video signal line DL, and the light is shielded by the light shielding film BM depending on the alignment accuracy of the upper and lower substrates. The opening can be enlarged more than that.

【0062】また、遮光膜BMを薄膜トランジスタ基板
SUB1上に形成することもできる。これにより、第2
遮光層SH同様、上下基板のあわせ精度に依存する基板
SUB2上の遮光膜BMによる遮光よりも、より開口部
を拡大することができる。
Further, the light shielding film BM can be formed on the thin film transistor substrate SUB1. Thereby, the second
Like the light-shielding layer SH, the opening can be further enlarged as compared with the light-shielding by the light-shielding film BM on the substrate SUB2 which depends on the alignment accuracy of the upper and lower substrates.

【0063】但し、遮光膜BMは光に対する遮蔽性を有
し、かつ、画素電極PXと対向電極CTの間の電界に影
響を与えないように絶縁性の高い膜で形成されており、
本実施例では黒色の有機顔料をレジスト材に混入し、
1.2μm程度の厚さで形成している。また、光に対する
遮蔽性を向上させるためにカーボン、チタン酸化物(T
)を、絶縁性が液晶組成物層内の電界に影響を
与えない108Ωcm以上を維持できる範囲で、混入さ
せても良い。また、第2遮光層SHは映像信号線からの
電気力戦を吸収しやすい様に、導電性を有するほうが良
い。
However, the light-shielding film BM has a light-shielding property and is formed of a highly insulating film so as not to affect the electric field between the pixel electrode PX and the counter electrode CT.
In this embodiment, a black organic pigment is mixed into the resist material,
It is formed with a thickness of about 1.2 μm. Further, in order to improve the light shielding property, carbon, titanium oxide (T
The i x O y), insulation within the range that can maintain a more 108Ωcm which does not affect the electric field of the liquid crystal composition layer may be mixed. Further, it is preferable that the second light-shielding layer SH has conductivity so as to easily absorb electric power from the video signal line.

【0064】遮光膜BMは各行の画素に左右方向に線状
に形成され、この線で各行の有効表示領域が仕切られて
いる。従って、各行の画素の輪郭が遮光膜BMによって
はっきりとする。つまり、遮光膜BMは.ブラックマト
リクスとi型半導体層ASに対する遮光との2つの機能
をもつ。
The light-shielding film BM is linearly formed in the pixels in each row in the left-right direction, and the lines partition the effective display area of each row. Therefore, the outline of the pixels in each row is made clear by the light shielding film BM. That is, the light-shielding film BM has two functions of black matrix and light-shielding for the i-type semiconductor layer AS.

【0065】遮光膜BMは周辺部にも額縁状に形成さ
れ、そのパターンは図4に示すマトリクス部のパターン
と連続して形成されている。周辺部の遮光膜BMは、シ
ール部SLの外側に延長され、パソコン等の実装機に起
因する反射光等の漏れ光がマトリクス部に入り込むのを
防いぐと共に、バックライト等の光が表示エリア外に漏
れるのも防いでいる。他方、この遮光膜BMは基板SU
B2の縁よりも約0.3〜1.0mm程内側に留めら
れ、基板SUB2の切断領域を避けて形成されている。
The light-shielding film BM is also formed in a peripheral part in a frame shape, and its pattern is formed continuously with the pattern of the matrix part shown in FIG. The light-shielding film BM at the peripheral portion is extended outside the seal portion SL to prevent leakage light such as reflected light due to a mounting machine such as a personal computer from entering the matrix portion, and light from the backlight or the like to the display area. It also prevents it from leaking outside. On the other hand, this light shielding film BM is
It is held about 0.3 to 1.0 mm inside the edge of B2, and is formed avoiding the cutting area of the substrate SUB2.

【0066】.《カラーフィルタFIL》カラーフィル
タFILは画素に対向する位置に赤、緑、青の繰り返し
でストライプ状に形成される。カラーフィルタFILは
2重遮光膜SHのエッジ部分と重なるように形成されて
いる。
<< Color Filter FIL >> The color filter FIL is formed in a stripe shape by repeating red, green, and blue at a position facing the pixel. The color filter FIL is formed so as to overlap the edge portion of the double light-shielding film SH.

【0067】カラーフィルタFILは次のように形成す
ることができる。まず、上部透明ガラス基板SUB2の
表面にアクリル系樹脂等の染色基材を形成し、フォトリ
ソグラフィ技術で赤色フィルタ形成領域以外の染色基材
を除去する。この後、染色基材を赤色顔料で染め、固着
処理を施し、赤色フィルタRを形成する。つぎに、同様
な工程を施すことによって、緑色フィルタG、青色フィ
ルタBを順次形成する。なお、染色には染料を用いても
よい。
The color filter FIL can be formed as follows. First, a dye base such as an acrylic resin is formed on the surface of the upper transparent glass substrate SUB2, and the dye base other than the red filter formation region is removed by photolithography. Thereafter, the dyed base material is dyed with a red pigment and subjected to a fixing treatment to form a red filter R. Next, a green filter G and a blue filter B are sequentially formed by performing a similar process. Note that a dye may be used for dyeing.

【0068】《オーバーコート膜OC》オーバーコート
膜OCはカラーフィルタFILの染料の液晶組成物層L
Cへの漏洩の防止、および、カラーフィルタFIL、遮
光膜BMによる段差の平坦化のために設けられている。
オーバーコート膜OCはたとえばアクリル樹脂、エポキ
シ樹脂等の透明樹脂材料で形成されている。また、オー
バーコート膜オCとして、流動性の良いポリイミド等の
有機膜を使用しても良い。
<< Overcoat Film OC >> The overcoat film OC is a liquid crystal composition layer L of a dye of a color filter FIL.
C is provided to prevent leakage to C and to flatten a step due to the color filter FIL and the light shielding film BM.
The overcoat film OC is formed of a transparent resin material such as an acrylic resin and an epoxy resin. Further, as the overcoat film C, an organic film such as polyimide having good fluidity may be used.

【0069】《液晶層および偏向板》次に、液晶層、配
向膜、偏光板等について説明する。
<< Liquid Crystal Layer and Polarizing Plate >> Next, the liquid crystal layer, the alignment film, the polarizing plate and the like will be described.

【0070】《液晶層》液晶組成物LCとしては、誘電
率異方性Δεが正でその値が13.2、屈折率異方性Δ
nが0.081(589nm、20℃)のネマティック
液晶を用いる。液晶組成物層の厚み(ギャップ)は、
3.8μmとし、リタデーションΔn・dは0.31μ
mとする。このリタデーションΔn・dの値は、0.2
5μm以上から0.35μmの間、好ましくは、0.2
8μm以上から0.32μmの間に設定し、後述の偏光
板と組み合わせにより、液晶分子の光軸が電界方向に配
列したとき最大透過率を得ることができ、可視光の範囲
ないで波長依存性がほとんどない透過光を得ることがで
きるようにする。
<< Liquid Crystal Layer >> The liquid crystal composition LC has a positive dielectric anisotropy Δε of 13.2 and a refractive index anisotropy Δε of 13.2.
A nematic liquid crystal in which n is 0.081 (589 nm, 20 ° C.) is used. The thickness (gap) of the liquid crystal composition layer is
3.8 μm, retardation Δn · d is 0.31 μm
m. The value of the retardation Δn · d is 0.2
Between 5 μm or more and 0.35 μm, preferably 0.2
When set between 8 μm or more and 0.32 μm, the maximum transmittance can be obtained when the optical axes of the liquid crystal molecules are arranged in the direction of the electric field by combining with a polarizing plate described later. So that it is possible to obtain transmitted light with almost no light.

【0071】また、液晶組成物層の厚み(ギャップ)
は、垂直配向処理を施したポリマビーズで制御してい
る。これにより、黒表示時のビーズ周辺の液晶分子の配
向を安定化し、良好な黒レベルを得、コントラスト比を
向上している。
The thickness (gap) of the liquid crystal composition layer
Is controlled by polymer beads subjected to a vertical alignment treatment. This stabilizes the alignment of liquid crystal molecules around the beads during black display, obtains a good black level, and improves the contrast ratio.

【0072】なお、液晶材料LCは、特に限定したもの
ではなく、誘電率異方性Δεは、その値が大きいほう
が、駆動電圧が低減でき、屈折率異方性Δnは小さいほ
うが、液晶層の厚み(ギャップ)を厚くでき、液晶の封
入時間が短縮され、かつギャップばらつきを少なくする
ことができる。
The liquid crystal material LC is not particularly limited. The larger the value of the dielectric anisotropy Δε, the lower the driving voltage can be. The smaller the dielectric anisotropy Δn, the smaller the dielectric anisotropy Δn. The thickness (gap) can be increased, the liquid crystal sealing time can be shortened, and the gap variation can be reduced.

【0073】また、液晶組成物の比抵抗としては、10
Ωcm以上10 Ωcm以下、好ましくは10
Ωcm以上10 Ωcm以下のものを用いる。本方式
では、液晶組成物の抵抗が低くても、画素電極と対向電
極間に充電された電圧を十分保持することができ、その
下限は10Ωcm、好ましくは10 Ωcmであ
る。これは、画素電極と対向電極を、同一基板上に構成
していることによる。また、抵抗が高すぎると、製造工
程上に入った静電気を緩和しにくいため、10 Ωc
m以下、好ましくは10 Ωcm以下が良い。
The specific resistance of the liquid crystal composition is 10
9 [Omega] cm or more 10 1 4 [Omega] cm or less, preferably 10 1 1
[Omega] cm or more 10 1 3 [Omega] cm using the following things. In this method, even at low resistance of the liquid crystal composition, the voltage charged between the pixel electrode and the counter electrode can be sufficiently held, the lower limit of 10 9 [Omega] cm, preferably 10 1 1 [Omega] cm. This is because the pixel electrode and the counter electrode are formed on the same substrate. Further, when the resistance is too high, the hard alleviate static electricity entering the production process, 10 1 4 .omega.c
m or less, preferably 10 1 3 [Omega] cm or less.

【0074】《配向膜》配向膜AFとしては、日本合成
ゴム(株)製ポリイミド(JALS203)を用いる。こ
の配向膜は表面に疎水基(例えばCH3)が存在し、液
晶分子の長軸(光軸)が基板面に垂直方向に配列させる
ものである。これにより、電界無印加時に後述の偏光板
との組み合わせにより、良好な黒レベルを表示する。ま
た、本発明では、ラビング処理は施さない。このため、
ラビング処理に関わるラビングされない部分ができるこ
とによる表示不良領域の発生によるコントラスト比の低
下や、ラビング角度のばらつきによるむらの発生等の不
良をなくすことができる。
<< Orientation Film >> As the orientation film AF, polyimide (JALS203) manufactured by Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. is used. This alignment film has a hydrophobic group (for example, CH3) on the surface, and the major axis (optical axis) of the liquid crystal molecules is arranged in a direction perpendicular to the substrate surface. Thereby, a good black level is displayed by a combination with a polarizing plate described later when no electric field is applied. In the present invention, no rubbing treatment is performed. For this reason,
It is possible to eliminate defects such as a decrease in contrast ratio due to the occurrence of a defective display area due to the formation of a non-rubbed portion related to the rubbing process, and the occurrence of unevenness due to a variation in the rubbing angle.

【0075】《偏光板》偏光板POLとしては、導電性
を有する偏光板を用い、下側の偏光板POL1の偏光透
過軸MAX1を電界印加方向(櫛歯電極の長手方向と直
交する方向)に対して約45度の角度に設定し、上側の
偏向板POL2の偏光透過軸MAX2を、それに直交さ
せる。図3にその関係を示している。これにより、作用
に示した様な表示を行うことができ、印加される電圧
(画素電極PXと対向電極CTの間の電圧)を増加させ
るに伴い、透過率が上昇するノーマリクローズ特性を得
ることができる。
<< Polarizing Plate >> A polarizing plate having conductivity is used as the polarizing plate POL, and the polarization transmission axis MAX1 of the lower polarizing plate POL1 is set in the electric field application direction (the direction orthogonal to the longitudinal direction of the comb electrode). The angle is set to about 45 degrees, and the polarization transmission axis MAX2 of the upper deflecting plate POL2 is perpendicular to it. FIG. 3 shows the relationship. As a result, a display as shown in the operation can be performed, and a normally closed characteristic in which the transmittance increases as the applied voltage (the voltage between the pixel electrode PX and the counter electrode CT) increases is obtained. be able to.

【0076】なお、本実施例では、偏光板に導電性を持
たせることにより、外部からの静電気による表示不良お
よびEMI対策を施している。導電性に関しては、静電
気による影響を対策するためだけであれば、シート抵抗
が10Ω/ロ以下、EMIに対しても対策するのであ
れば、10Ω/ロ以下とするのが望ましい。また、ガ
ラス基板の液晶組成物の挟持面の裏面(偏光板を粘着さ
せる面)に導電層を設けてもよい。
In the present embodiment, by providing the polarizing plate with conductivity, measures against display failure and EMI due to external static electricity are taken. Regarding the conductivity, the sheet resistance is desirably set to 10 8 Ω / b or less if only to take measures against the influence of static electricity, and is set to 10 4 Ω / b or less if EMI is also taken. Further, a conductive layer may be provided on the back surface (the surface on which the polarizing plate is adhered) of the sandwiching surface of the liquid crystal composition of the glass substrate.

【0077】《マトリクス周辺の構成》図8は上下のガ
ラス基板SUB1、SUB2を含む表示パネルPNLの
マトリクス(AR)周辺の要部平面を示す図である。ま
た、図9は、左側に走査回路が接続されるべき外部接続
端子GTM付近の断面を、右側に外部接続端子が無いと
ころのシール部付近の断面を示す図である。
<< Structure around the Matrix >> FIG. 8 is a diagram showing a main part plane around the matrix (AR) of the display panel PNL including the upper and lower glass substrates SUB1 and SUB2. FIG. 9 is a diagram showing a cross section near the external connection terminal GTM to which the scanning circuit is to be connected on the left side, and a cross section near the seal portion where there is no external connection terminal on the right side.

【0078】このパネルの製造では、小さいサイズであ
ればスループット向上のため1枚のガラス基板で複数個
分のデバイスを同時に加工してから分割し、大きいサイ
ズであれば製造設備の共用のためどの品種でも標準化さ
れた大きさのガラス基板を加工してから各品種に合った
サイズに小さくし、いずれの場合も一通りの工程を経て
からガラスを切断する。図8、図9は後者の例を示すも
ので、図8、図9の両図とも上下基板SUB1、SUB
2の切断後を表しており、LNは両基板の切断前の縁を
示す。いずれの場合も、完成状態では外部接続端子群T
g、Tdおよび端子COT(添字略)が存在する(図で
上辺と左辺の)部分はそれらを露出するように上側基板
SUB2の大きさが下側基板SUB1よりも内側に制限
されている。端子群Tg、Tdはそれぞれ後述する走査
回路接続用端子GTM、映像信号回路接続用端子DTM
とそれらの引出配線部を集積回路チップCHIが搭載さ
れたテープキャリアパッケージTCP(図19、図2
0)の単位に複数本まとめて名付けたものである。各群
のマトリクス部から外部接続端子部に至るまでの引出配
線は、両端に近づくにつれ傾斜している。これは、パッ
ケージTCPの配列ピッチ及び各パッケージTCPにお
ける接続端子ピッチに表示パネルPNLの端子DTM、
GTMを合わせるためである。また、対向電極端子CO
Tは、対向電極CTに対向電圧を外部回路から与えるた
めの端子である。マトリクス部の対向電圧信号線CL
は、走査回路用端子GTMの反対側(図では右側)に引
き出し、各対向電圧信号線を共通バスラインCBで一纏
めにして、対向電極端子COTに接続している。
[0078] Any For this panel In the manufacture of, if small size divided from simultaneously processing a plurality fraction of the device in one glass substrate for increased throughput, manufacturing facilities if large size shared A glass substrate of a standardized size is processed even in a variety, and the size is reduced to a size suitable for each type. In each case, the glass is cut after passing through one process. 8 and 9 show an example of the latter. Both FIGS. 8 and 9 show the upper and lower substrates SUB1 and SUB.
2 shows the state after cutting, and LN indicates the edge of both substrates before cutting. In any case, in the completed state, the external connection terminal group T
The size of the upper substrate SUB2 is limited to the inside of the lower substrate SUB1 so that g, Td, and the terminal COT (subscripts omitted) (the upper side and the left side in the figure) are exposed so that they are exposed. The terminal groups Tg and Td are respectively a scanning circuit connection terminal GTM and a video signal circuit connection terminal DTM described later.
A tape carrier package TCP on which an integrated circuit chip CHI is mounted (see FIGS. 19 and 2)
A plurality of units are collectively named in the unit of 0). The lead wiring from the matrix section of each group to the external connection terminal section is inclined as approaching both ends. This is because the terminals DTM of the display panel PNL are arranged at the arrangement pitch of the package TCP and the connection terminal pitch of each package TCP.
This is for matching GTM. Also, the counter electrode terminal CO
T is a terminal for applying a counter voltage to the counter electrode CT from an external circuit. Counter voltage signal line CL in matrix section
Are drawn out on the opposite side (right side in the figure) of the scanning circuit terminal GTM, and the common voltage signal lines are grouped together by a common bus line CB and connected to the common electrode terminal COT.

【0079】透明ガラス基板SUB1、SUB2の間に
はその縁に沿って、液晶封入口INJを除き、液晶LC
を.封止するようにシールパターンSLが形成される。
シール材は例えばエポキシ樹脂から成る。
Along the edge between the transparent glass substrates SUB1 and SUB2, except for the liquid crystal filling opening INJ, the liquid crystal LC
The seal pattern SL is formed so as to seal.
The sealing material is made of, for example, an epoxy resin.

【0080】配向膜ORI1、ORI2の層は、シール
パターンSLの内側に形成される。偏光板POL1、P
OL2はそれぞれ下部透明ガラス基板SUB1、上部透
明ガラス基板SUB2の外側の表面に構成されている。
液晶LCは液晶分子の向きを設定する下部配向膜ORI
1と上部配向膜ORI2との間でシールパターンSLで
仕切られた領域に封入されている。下部配向膜ORI1
は下部透明ガラス基板SUB1側の保護膜PSV1の上
部に形成される。
The layers of the alignment films ORI1 and ORI2 are formed inside the seal pattern SL. Polarizing plates POL1, P
OL2 is formed on the outer surfaces of the lower transparent glass substrate SUB1 and the upper transparent glass substrate SUB2, respectively.
The liquid crystal LC is a lower alignment film ORI for setting the direction of liquid crystal molecules.
1 and the upper alignment film ORI2 are sealed in a region partitioned by a seal pattern SL. Lower alignment film ORI1
Is formed on the protective film PSV1 on the lower transparent glass substrate SUB1 side.

【0081】この液晶表示装置は、下部透明ガラス基板
SUB1側、上部透明ガラス基板SUB2側で別個に種
々の層を積み重ね、シールパターンSLを基板SUB2
側に形成し、下部透明ガラス基板SUB1と上部透明ガ
ラス基板SUB2とを重ね合わせ、シール材SLの開口
部INJから液晶LCを注入し、注入口INJをエポキ
シ樹脂などで封止し、上下基板を切断することによって
組み立てられる。
In this liquid crystal display device, various layers are separately stacked on the lower transparent glass substrate SUB1 side and the upper transparent glass substrate SUB2 side, and the seal pattern SL is formed on the substrate SUB2.
Side, the lower transparent glass substrate SUB1 and the upper transparent glass substrate SUB2 are overlapped, liquid crystal LC is injected from the opening INJ of the sealing material SL, the injection port INJ is sealed with epoxy resin or the like, and the upper and lower substrates are sealed. Assembled by cutting.

【0082】《ゲート端子部》図10は表示マトリクス
の走査信号線GLからその外部接続端子GTMまでの接
続構造を示す図であり、(A)は平面であり(B)は
(A)のB−B切断線における断面を示している。な
お、同図は図8下方付近に対応し、斜め配線の部分は便
宜状一直線状で表した。
<< Gate Terminal Portion >> FIGS. 10A and 10B are diagrams showing a connection structure from the scanning signal line GL of the display matrix to the external connection terminal GTM, where FIG. 10A is a plane view and FIG. 10B is a view B of FIG. 4 shows a cross section taken along section line -B. This figure corresponds to the vicinity of the lower part of FIG. 8, and the diagonal wiring portion is represented by a straight line for convenience.

【0083】図中Cr−Mo層g3は、判り易くするた
めハッチを施してある。
In the figure, the Cr—Mo layer g3 is hatched for easy understanding.

【0084】ゲート端子GTMはCr−Mo層g3と、
更にその表面を保護し、かつ、TCP(Tape Ca
rrier Packege)との接続の信頼性を向上
させるための透明導電層i1とで構成されている。この
透明導電層i1は画素電極PXと同一工程で形成された
透明導電膜ITOを用いている。
The gate terminal GTM includes a Cr—Mo layer g3,
Further, the surface is protected and TCP (Tape Ca
(rear package) and a transparent conductive layer i1 for improving the reliability of connection. This transparent conductive layer i1 uses a transparent conductive film ITO formed in the same step as the pixel electrode PX.

【0085】平面図において、絶縁膜GIおよび保護膜
PSV1はその境界線よりも右側に形成されており、左
端に位置する端子部GTMはそれらから露出し外部回路
との電気的接触ができるようになっている。図では、ゲ
ート線GLとゲート端子の一つの対のみが示されている
が、実際はこのような対が図8に示すように上下に複数
本並べられ端子群Tg(図8)が構成され、ゲート端子
の左端は、製造過程では、基板の切断領域を越えて延長
され配線SHg(図示せず)によって短絡される。製造
過程における配向膜ORI1のラビング時等の静電破壊
防止に役立つ。
In the plan view, the insulating film GI and the protective film PSV1 are formed on the right side of the boundary line, and the terminal portion GTM located on the left end is exposed therefrom so that electrical contact with an external circuit can be made. Has become. In the figure, only one pair of the gate line GL and the gate terminal is shown. However, in practice, a plurality of such pairs are arranged vertically as shown in FIG. 8 to form a terminal group Tg (FIG. 8). In the manufacturing process, the left end of the gate terminal extends beyond the cutting region of the substrate and is short-circuited by a wiring SHg (not shown). This is useful for preventing electrostatic breakdown at the time of rubbing of the alignment film ORI1 in the manufacturing process.

【0086】《ドレイン端子DTM》図11は映像信号
線DLからその外部接続端子DTMまでの接続を示す図
であり、(A)はその平面を示し、(B)は(A)のB
−B切断線における断面を示す。なお、同図は図8右上
付近に対応し、図面の向きは便宜上変えてあるが右端方
向が基板SUB1の上端部に該当する。
<< Drain Terminal DTM >> FIGS. 11A and 11B are diagrams showing the connection from the video signal line DL to the external connection terminal DTM. FIG. 11A shows the plane, and FIG.
4 shows a cross section taken along section line -B. 8 corresponds to the vicinity of the upper right of FIG. 8 and the direction of the drawing is changed for convenience, but the right end direction corresponds to the upper end of the substrate SUB1.

【0087】TSTdは検査端子でありここには外部回
路は接続されないが、プローブ針等を接触できるよう配
線部より幅が広げられている。同様に、ドレイン端子D
TMも外部回路との接続ができるよう配線部より幅が広
げられている。外部接続ドレイン端子DTMは上下方向
にに配列され、ドレイン端子DTMは、図5に示すよう
に端子群Td(添字省略)を構成し基板SUB1の切断
線を越えて更に延長され、製造過程中は静電破壊防止の
ためその全てが互いに配線SHd(図示せず)によって
短絡される。検査端子TSTdは図11に示すように一
本置きの映像信号線DLに形成される。
TSTd is an inspection terminal to which an external circuit is not connected, but is wider than a wiring portion so that a probe needle or the like can be contacted. Similarly, the drain terminal D
The TM is also wider than the wiring part so that it can be connected to an external circuit. The external connection drain terminals DTM are arranged in the vertical direction, and the drain terminals DTM constitute a terminal group Td (subscript omitted) as shown in FIG. 5 and are further extended beyond the cutting line of the substrate SUB1. All of them are short-circuited to each other by a wiring SHd (not shown) to prevent electrostatic breakdown. The inspection terminal TSTd is formed on every other video signal line DL as shown in FIG.

【0088】ドレイン接続端子DTMは透明導電層i1
で形成されており、保護膜PSV1を除去した部分で映
像信号線DLと接続されている。この透明導電膜i1は
ゲート端子GTMの時と同様に画素電極PXと同一工程
で形成された透明導電膜ITOを用いている。
The drain connection terminal DTM is connected to the transparent conductive layer i1.
The portion where the protective film PSV1 is removed is connected to the video signal line DL. This transparent conductive film i1 uses a transparent conductive film ITO formed in the same step as the pixel electrode PX, as in the case of the gate terminal GTM.

【0089】マトリクス部からドレイン端子部DTMま
での引出配線は、映像信号線DLと同じレベルの層d3
が構成されている。
The lead wiring from the matrix part to the drain terminal part DTM is connected to the layer d3 of the same level as the video signal line DL.
Is configured.

【0090】《対向電極端子CTM》図12は対向電圧
信号線CLからその外部接続端子CTMまでの接続を示
す図であり、(A)はその平面を示し、(B)は(A)
のB−B切断線における断面を示す。なお、同図は図8
左上付近に対応する。
<< Counter Electrode Terminal CTM >> FIGS. 12A and 12B are diagrams showing the connection from the counter voltage signal line CL to the external connection terminal CTM. FIG. 12A shows the plane, and FIG. 12B shows the plane.
2 shows a cross section taken along line BB of FIG. FIG. 8 shows FIG.
Corresponds to near the upper left.

【0091】各対向電圧信号線CLは共通バスラインC
B1で一纏めして対向電極端子CTMに引き出されてい
る。共通バスラインCBは導電層g3の上に導電層3を
積層し、透明導電層i1でそれらを電気的に接続した構
造となっている。これは、共通バスラインCBの抵抗を
低減し、対向電圧が外部回路から各対向電圧信号線CL
に十分に供給されるようにするためである。本構造で
は、特に新たに導電層を負荷することなく、共通バスラ
インの抵抗を下げられるのが特徴である。
Each counter voltage signal line CL is connected to a common bus line C
B1 collectively leads to the counter electrode terminal CTM. The common bus line CB has a structure in which the conductive layer 3 is stacked on the conductive layer g3, and they are electrically connected by the transparent conductive layer i1. This reduces the resistance of the common bus line CB, and the opposing voltage is supplied from an external circuit to each opposing voltage signal line CL.
In order to be supplied sufficiently. This structure is characterized in that the resistance of the common bus line can be reduced without particularly adding a new conductive layer.

【0092】対向電極端子CTMは、導電層g3の上に
透明導電層i1が積層された構造になっている。この透
明導電膜i1は他の端子の時と同様に画素電極PXと同
一工程で形成された透明導電膜ITOを用いている。透
明導電層i1により、その表面を保護し、電食等を防ぐ
ために耐久性のよい透明導電層i1で、導電層g3を覆
っている。また透明導電層i1と導電層g3および導電
層d3との接続は保護膜PSV1および絶縁膜GIにう
スルーホールを形成し導通を取っている。
The counter electrode terminal CTM has a structure in which a transparent conductive layer i1 is laminated on a conductive layer g3. This transparent conductive film i1 uses a transparent conductive film ITO formed in the same step as the pixel electrode PX, as in the case of the other terminals. The conductive layer g3 is covered with the transparent conductive layer i1 having good durability in order to protect the surface with the transparent conductive layer i1 and prevent electrolytic corrosion and the like. The connection between the transparent conductive layer i1 and the conductive layers g3 and d3 is made conductive by forming through holes in the protective film PSV1 and the insulating film GI.

【0093】一方、図13は対向電圧信号線CLのもう
一方の端からその外部接続端子CTM2までの接続を示
す図であり、(A)はその平面を示し、(B)は(A)
のB−B切断線における断面を示す。なお、同図は図5
右上付近に対応する。ここで、共通バスラインCB2で
は各対向電圧信号線CLのもう一方の端(ゲート端子G
TM側)をで一纏めして対向電極端子CTM2に引き出
されている。共通バスラインCB1と異なる点は、走査
信号線GLとは絶縁されるように、導電層d3と透明導
電層i1で形成していることである。また、走査信号線
GLとの絶縁は絶縁膜GIで行っている。
On the other hand, FIG. 13 is a diagram showing the connection from the other end of the counter voltage signal line CL to its external connection terminal CTM2, (A) showing its plane, and (B) showing (A).
2 shows a cross section taken along line BB of FIG. Note that FIG.
Corresponds to near the upper right. Here, in the common bus line CB2, the other end of each counter voltage signal line CL (gate terminal G)
(TM side) are led together to the counter electrode terminal CTM2. The difference from the common bus line CB1 is that the common bus line CB1 is formed of a conductive layer d3 and a transparent conductive layer i1 so as to be insulated from the scanning signal line GL. Further, insulation with the scanning signal line GL is performed by the insulating film GI.

【0094】《表示装置全体等価回路》表示マトリクス
部の等価回路とその周辺回路の結線図を図14に示す。
同図は回路図ではあるが、実際の幾何学的配置に対応し
て描かれている。ARは複数の画素を二次元状に配列し
たマトリクス・アレイである。
<< Equivalent Circuit of Entire Display Device >> FIG. 14 shows a connection diagram of an equivalent circuit of the display matrix portion and its peripheral circuits.
Although the figure is a circuit diagram, it is drawn corresponding to an actual geometric arrangement. AR is a matrix array in which a plurality of pixels are two-dimensionally arranged.

【0095】図中、Xは映像信号線DLを意味し、添字
G、BおよびRがそれぞれ緑、青および赤画素に対応し
て付加されている。Yは走査信号線GLを意味し、添字
1、2、3、…、endは走査タイミングの順序に従って
付加されている。
In the figure, X indicates a video signal line DL, and suffixes G, B and R are added corresponding to green, blue and red pixels, respectively. Y means the scanning signal line GL, and the suffixes 1, 2, 3,..., End are added according to the order of the scanning timing.

【0096】走査信号線Y(添字省略)は垂直走査回路
Vに接続されており、映像信号線X(添字省略)は映像
信号駆動回路Hに接続されている。
The scanning signal line Y (subscript omitted) is connected to the vertical scanning circuit V, and the video signal line X (subscript omitted) is connected to the video signal driving circuit H.

【0097】SUPは1つの電圧源から複数の分圧した
安定化された電圧源を得るための電源回路やホスト(上
位演算処理装置)からのCRT(陰極線管)用の情報を
TFT液晶表示装置用の情報に交換する回路を含む回路
である。
The SUP uses a TFT liquid crystal display device to output information for a CRT (cathode ray tube) from a power supply circuit or a host (upper processing unit) for obtaining a plurality of divided and stabilized voltage sources from one voltage source. This is a circuit that includes a circuit that exchanges information for use.

【0098】《駆動方法》図15に本実施例の液晶表示
装置の駆動波形を示す。対向電圧Vcは一定電圧とす
る。走査信号Vgは1走査期間ごとに、オンレベルをと
り、その他はオフレベルをとる。映像信号電圧は、液晶
層に印加したい電圧の2倍の振幅で正極と負極を1フレ
ーム毎に反転して1つの画素に伝えるように印加する。
ここで、映像信号電圧Vdは1列毎に極性を反転し、2
行毎にも極性を反転する。これにより、極性が反転した
画素が上下左右にとなりあう構成となり、フリッカ、ク
ロストーク(スミア)を発生しにくくすることができ
る。また、対向電圧Vcは映像信号電圧の極性反転のセ
ンター電圧から、一定量さげた電圧に設定する。これ
は、薄膜トランジスタ素子がオンからオフに変わるとき
に発生するフィードスルー電圧を補正するものであり、
液晶に直流成分の少ない交流電圧を印加するために行
う。液晶は直流が印加されると、残像、劣化等が激しく
なる。
<< Driving Method >> FIG. 15 shows a driving waveform of the liquid crystal display device of this embodiment. The counter voltage Vc is a constant voltage. The scanning signal Vg takes the on level every scanning period, and takes the off level in the others. The video signal voltage is applied so that the positive and negative polarities are inverted every frame and transmitted to one pixel with twice the amplitude of the voltage to be applied to the liquid crystal layer.
Here, the polarity of the video signal voltage Vd is inverted for each column,
The polarity is also inverted for each row. As a result, pixels having inverted polarities are arranged vertically and horizontally, so that flicker and crosstalk (smear) can be suppressed. In addition, the counter voltage Vc is set to a voltage that is reduced by a fixed amount from the center voltage of the polarity inversion of the video signal voltage. This is to correct the feedthrough voltage generated when the thin film transistor element changes from on to off,
This is performed to apply an AC voltage having a small DC component to the liquid crystal. When a direct current is applied to the liquid crystal, afterimages, deterioration, and the like become severe.

【0099】また、この他に、対向電圧は交流化するこ
とで映像信号電圧の最大振幅を低減でき、映像信号駆動
回路(信号側ドライバ)に耐圧の低いものを用いること
も可能である。
Besides, the maximum amplitude of the video signal voltage can be reduced by converting the counter voltage into an alternating current, and a video signal driving circuit (signal side driver) having a low withstand voltage can be used.

【0100】《蓄積容量Cstgの働き》蓄積容量Cstg
は、画素に書き込まれた(薄膜トランジスタTFTがオ
フした後の)映像情報を、長く蓄積するために設ける。
本発明で用いている電界を基板面と平行に印加する方式
では、電界を基板面に垂直に印加する方式と異なり、画
素電極と対向電極で構成される容量(いわゆる液晶容
量)がほとんど無いため、蓄積容量Cstgが映像情報を
画素に蓄積することができない。したがって、電界を基
板面と平行に印加する方式では、蓄積容量Cstgは必須
の構成要素である。
<< Function of Storage Capacitance Cstg >> Storage Capacitance Cstg
Is provided in order to accumulate video information (after the thin film transistor TFT is turned off) written in the pixel for a long time.
In the method of applying an electric field parallel to the substrate surface used in the present invention, unlike the method of applying the electric field perpendicular to the substrate surface, there is almost no capacitance (so-called liquid crystal capacitance) formed by the pixel electrode and the counter electrode. However, the storage capacity Cstg cannot store video information in the pixel. Therefore, in a system in which an electric field is applied in parallel with the substrate surface, the storage capacitor Cstg is an essential component.

【0101】また、蓄積容量Cstgは、薄膜トランジス
タTFTがスイッチングするとき、画素電極電位Vsに
対するゲート電位変化ΔVgの影響を低減するようにも
働く。この様子を式で表すと、次のようになる。
The storage capacitor Cstg also works to reduce the effect of the gate potential change ΔVg on the pixel electrode potential Vs when the thin film transistor TFT switches. This situation is represented by the following equation.

【0102】 ΔVs={Cgs/(Cgs+Cstg+Cpix)}×ΔVg ここで、Cgsは薄膜トランジスタTFTのゲート電極G
Tとソース電極SD1との間に形成される寄生容量、C
pixは画素電極PXと対向電極CTとの間に形成される
容量、ΔVsはΔVgによる画素電極電位の変化分いわゆ
るフィードスルー電圧を表わす。この変化分ΔVsは液
晶LCに加わる直流成分の原因となるが、保持容量Cst
gを大きくすればする程、その値を小さくすることがで
きる。液晶LCに印加される直流成分の低減は、液晶L
Cの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え時に前の画
像が残るいわゆる焼き付きを低減することができる。
ΔVs = {Cgs / (Cgs + Cstg + Cpix)} × ΔVg where Cgs is the gate electrode G of the thin film transistor TFT.
Parasitic capacitance formed between T and the source electrode SD1, C
pix represents a capacitance formed between the pixel electrode PX and the counter electrode CT, and ΔVs represents a so-called feed-through voltage corresponding to a change in pixel electrode potential due to ΔVg. This change ΔVs causes a DC component applied to the liquid crystal LC, but the storage capacitance Cst
The larger the value of g, the smaller the value. The reduction of the DC component applied to the liquid crystal LC
The life of C can be improved, and so-called burn-in in which the previous image remains when the liquid crystal display screen is switched can be reduced.

【0103】前述したように、ゲート電極GTはi型半
導体層ASを完全に覆うよう大きくされている分、ソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面
積が増え、従って寄生容量Cgsが大きくなり、画素電極
電位Vsはゲート(走査)信号Vgの影響を受け易くなる
という逆効果が生じる。しかし、蓄積容量Cstgを設け
ることによりこのデメリットも解消することができる。
As described above, since the gate electrode GT is made large so as to completely cover the i-type semiconductor layer AS, the overlap area with the source electrode SD1 and the drain electrode SD2 increases, and therefore the parasitic capacitance Cgs increases. The pixel electrode potential Vs is susceptible to the gate (scanning) signal Vg. However, this disadvantage can be eliminated by providing the storage capacitor Cstg.

【0104】《製造方法》つぎに、上述した液晶表示装
置の基板SUB1側の製造方法について図16〜図18
を参照して説明する。なお同図において、中央の文字は
工程名の略称であり、左側は図27に示す薄膜トランジ
スタTFT部分、右側は図10に示すゲート端子付近の
断面形状でみた加工の流れを示す。工程B、工程Dを除
き工程A〜工程Iは各写真処理に対応して区分けしたも
ので、各工程のいずれの断面図も写真処理後の加工が終
わりフォトレジストを除去した段階を示している。な
お、写真処理とは本説明ではフォトレジストの塗布から
マスクを使用した選択露光を経てそれを現像するまでの
一連の作業を示すものとし、繰返しの説明は避ける。以
下区分けした工程に従って、説明する。
<< Manufacturing Method >> Next, a method of manufacturing the liquid crystal display device on the substrate SUB1 side will be described with reference to FIGS.
This will be described with reference to FIG. In the same figure, the letters at the center are abbreviations of the process names, and the left side shows the processing flow as viewed from the cross-sectional shape near the gate terminal shown in FIG. Except for Step B and Step D, Step A to Step I are classified according to each photographic process, and any cross-sectional view of each process shows a stage where the processing after the photographic process is completed and the photoresist is removed. . In the present description, photographic processing refers to a series of operations from application of a photoresist to selective exposure using a mask to development thereof, and a repeated description will be omitted. A description will be given below according to the divided steps.

【0105】工程A、図16 AN635ガラス(商品名)からなる下部透明ガラス基
板SUB1上に膜厚が2000ÅのCr−Mo等からな
る導電膜g3をスパッタリングにより設ける。写真処理
後、硝酸第2セリウムアンモンで導電膜g3を選択的に
エッチングする。それによって、ゲート電極GT、走査
信号線GL、対向電圧信号線CL、ゲート端子GTM、
共通バスラインCB1の第1導電層、対向電極端子CT
M1の第1導電層、ゲート端子GTMを接続するバスラ
インSHg(図示せず)を形成する。
Step A, FIG. 16 On a lower transparent glass substrate SUB1 made of AN635 glass (trade name), a conductive film g3 made of Cr—Mo or the like having a thickness of 2000 ° is provided by sputtering. After the photographic processing, the conductive film g3 is selectively etched with ceric ammonium nitrate. Thereby, the gate electrode GT, the scanning signal line GL, the counter voltage signal line CL, the gate terminal GTM,
First conductive layer of common bus line CB1, counter electrode terminal CT
A bus line SHg (not shown) connecting the first conductive layer of M1 and the gate terminal GTM is formed.

【0106】工程B、図16 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が3500Åの窒化Si膜を設
け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガスを導入
して、膜厚が1200Åのi型非晶質Si膜を設けたの
ち、プラズマCVD装置に水素ガス、ホスフィンガスを
導入して、膜厚が300ÅのN(+)型非晶質Si膜を設
ける。
Step B, FIG. 16 An ammonia gas, a silane gas, and a nitrogen gas are introduced into a plasma CVD apparatus to provide a Si nitride film having a thickness of 3500 °, and a silane gas and a hydrogen gas are introduced into the plasma CVD apparatus. After providing an i-type amorphous Si film having a thickness of 1200 °, a hydrogen gas and a phosphine gas are introduced into a plasma CVD apparatus to form an N (+)-type amorphous Si film having a thickness of 300 °.

【0107】工程C、図16 写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6、CC
l4を使用してN(+)型非晶質Si膜、i型非晶質Si
膜を選択的にエッチングすることにより、i型半導体層
ASの島を形成する。
Step C, FIG. 16 After photographic processing, SF6 and CC were used as dry etching gases.
N @ + type amorphous Si film using i @ 4, i type amorphous Si
By selectively etching the film, islands of the i-type semiconductor layer AS are formed.

【0108】工程D、図17 膜厚が300ÅのCrからなる導電膜d3をスパッタリ
ングにより設ける。写真処理後、導電膜d3を工程Aと
同様な液でエッチングし、映像信号線DL、ソース電極
SD1、ドレイン電極SD2、共通バスラインCB2の
第1導電層,およびドレイン端子DTMを短絡するバス
ラインSHd(図示せず)を形成する。つぎに、ドライ
エッチング装置にCCl4、SF6を導入して、N(+)型
非晶質Si膜をエッチングすることにより、ソースとド
レイン間のN(+)型半導体層d0を選択的に除去する。
導電膜d3をマスクパターンでパターニングした後、導
電膜d3をマスクとして、N(+)型半導体層d0が除去
される。つまり、i型半導体層AS上に残っていたN
(+)型半導体層d0は導電膜d1、導電膜d2以外の部
分がセルフアラインで除去される。このとき、N(+)型
半導体層d0はその厚さ分は全て除去されるようエッチ
ングされるので、i型半導体層ASも若干その表面部分
がエッチングされるが、その程度はエッチング時間で制
御すればよい。
Step D, FIG. 17 A conductive film d3 made of Cr having a thickness of 300 ° is provided by sputtering. After the photographic processing, the conductive film d3 is etched with the same liquid as in step A, and the video signal line DL, the source electrode SD1, the drain electrode SD2, the first conductive layer of the common bus line CB2, and the bus line for short-circuiting the drain terminal DTM. SHd (not shown) is formed. Next, the N (+) type semiconductor layer d0 between the source and the drain is selectively removed by introducing CCl4 and SF6 into the dry etching apparatus and etching the N (+) type amorphous Si film. .
After patterning the conductive film d3 with a mask pattern, the N (+) type semiconductor layer d0 is removed using the conductive film d3 as a mask. That is, the N remaining on the i-type semiconductor layer AS
In the (+) type semiconductor layer d0, portions other than the conductive films d1 and d2 are removed by self-alignment. At this time, since the N (+)-type semiconductor layer d0 is etched so as to entirely remove the thickness thereof, the surface of the i-type semiconductor layer AS is also slightly etched, but the degree is controlled by the etching time. do it.

【0109】工程E、図17 プラズマCVD装置にアンモニアガス、シランガス、窒
素ガスを導入して、膜厚が0.4μmの窒化Si膜を設
ける。写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6
を使用して窒化Si膜を選択的にエッチングすることに
よって、保護膜PSV1および絶縁膜GIをパターニン
グする。ここで、保護膜PSV1と絶縁膜GIは同一ホ
トマスクでパターニングされ、一括で加工される。
Step E, FIG. 17 An ammonia gas, a silane gas, and a nitrogen gas are introduced into the plasma CVD apparatus to form a 0.4 μm-thick Si nitride film. After photo processing, SF6 is used as dry etching gas.
Then, the protective film PSV1 and the insulating film GI are patterned by selectively etching the Si nitride film using the method described above. Here, the protective film PSV1 and the insulating film GI are patterned with the same photomask and are processed collectively.

【0110】工程F、図18 膜厚が1400ÅのITO膜からなる透明導電膜i1を
スパッタリングにより設ける。写真処理後、エッチング
液として塩酸と硝酸との混酸液で透明導電膜i1を選択
的にエッチングすることにより、ゲート端子GTMの最
上層、ドレイン端子DTMおよび対向電極端子CTM1
およびCTM2の第2導電層を形成する。
Step F, FIG. 18 A transparent conductive film i1 made of an ITO film having a thickness of 1400 ° is provided by sputtering. After the photographic processing, the transparent conductive film i1 is selectively etched with a mixed acid solution of hydrochloric acid and nitric acid as an etchant, thereby forming the uppermost layer of the gate terminal GTM, the drain terminal DTM, and the counter electrode terminal CTM1.
And a second conductive layer of CTM2 is formed.

【0111】《表示パネルPNLと駆動回路基板PCB
1》図19は、図8等に示した表示パネルPNLに映像
信号駆動回路Hと垂直走査回路Vを接続した状態を示す
上面図である。
<< Display Panel PNL and Drive Circuit Board PCB
1 >> FIG. 19 is a top view showing a state where the video signal driving circuit H and the vertical scanning circuit V are connected to the display panel PNL shown in FIG. 8 and the like.

【0112】CHIは表示パネルPNLを駆動させる駆
動ICチップ(下側の5個は垂直走査回路側の駆動IC
チップ、左の10個ずつは映像信号駆動回路側の駆動I
Cチップ)である。TCPは図16、図17で後述する
ように駆動用ICチップCHIがテープ・オートメイテ
ィド・ボンディング法(TAB)により実装されたテー
プキャリアパッケージ、PCB1は上記TCPやコンデ
ンサ等が実装された駆動回路基板で、映像信号駆動回路
用と走査信号駆動回路用の2つに分割されている。FG
Pはフレームグランドパッドであり、シールドケースS
HDに切り込んで設けられたバネ状の破片が半田付けさ
れる。FCは下側の駆動回路基板PCB1と左側の駆動
回路基板PCB1を電気的に接続するフラットケーブル
である。フラットケーブルFCとしては図に示すよう
に、複数のリード線(りん青銅の素材にSn鍍金を施し
たもの)をストライプ状のポリエチレン層とポリビニル
アルコール層とでサンドイッチして支持したものを使用
する。
CHI is a driving IC chip for driving the display panel PNL (the lower five are driving ICs on the vertical scanning circuit side)
The left and right chips are the driving I on the video signal driving circuit side.
C chip). TCP is a tape carrier package in which a driving IC chip CHI is mounted by a tape automated bonding method (TAB), as will be described later with reference to FIGS. 16 and 17, and PCB1 is a driving circuit in which the above-described TCP, capacitors and the like are mounted. The substrate is divided into two, one for a video signal drive circuit and one for a scan signal drive circuit. FG
P is a frame ground pad, and a shield case S
A spring-shaped fragment provided by cutting into the HD is soldered. FC is a flat cable that electrically connects the lower drive circuit board PCB1 and the left drive circuit board PCB1. As shown in the drawing, a flat cable FC is used in which a plurality of lead wires (phosphor bronze material plated with Sn) are sandwiched and supported by a striped polyethylene layer and a polyvinyl alcohol layer.

【0113】《TCPの接続構造》図20は走査信号駆
動回路Vや映像信号駆動回路Hを構成する、集積回路チ
ップCHIがフレキシブル配線基板に搭載されたテープ
キャリアパッケージTCPの断面構造を示す図であり、
図21はそれを液晶表示パネルの、本例では走査信号回
路用端子GTMに接続した状態を示す要部断面図であ
る。
<< Connection Structure of TCP >> FIG. 20 is a diagram showing a cross-sectional structure of a tape carrier package TCP constituting the scanning signal drive circuit V and the video signal drive circuit H and having the integrated circuit chip CHI mounted on a flexible wiring board. Yes,
FIG. 21 is a cross-sectional view of a main part of the liquid crystal display panel, showing a state where it is connected to a scanning signal circuit terminal GTM in this example.

【0114】同図において、TTBは集積回路CHIの
入力端子・配線部であり、TTMは集積回路CHIの出
力端子・配線部であり、例えばCuから成り、それぞれ
の内側の先端部(通称インナーリード)には集積回路C
HIのボンディングパッドPADがいわゆるフェースダ
ウンボンディング法により接続される。端子TTB、T
TMの外側の先端部(通称アウターリード)はそれぞれ
半導体集積回路チップCHIの入力及び出力に対応し、
半田付け等によりCRT/TFT変換回路・電源回路S
UPに、異方性導電膜ACFによって液晶表示パネルP
NLに接続される。パッケージTCPは、その先端部が
パネルPNL側の接続端子GTMを露出した保護膜PS
V1を覆うようにパネルに接続されており、従って、外
部接続端子GTM(DTM)は保護膜PSV1かパッケー
ジTCPの少なくとも一方で覆われるので電触に対して
強くなる。
In the figure, TTB is an input terminal / wiring portion of the integrated circuit CHI, and TTM is an output terminal / wiring portion of the integrated circuit CHI, which is made of, for example, Cu. ) Is the integrated circuit C
The HI bonding pads PAD are connected by a so-called face-down bonding method. Terminal TTB, T
The outer ends (commonly called outer leads) of the TM correspond to the input and output of the semiconductor integrated circuit chip CHI, respectively.
CRT / TFT conversion circuit / power supply circuit S by soldering
A liquid crystal display panel P is formed on the UP by using an anisotropic conductive film ACF.
NL. The package TCP has a protective film PS whose leading end exposes the connection terminal GTM on the panel PNL side.
Since the external connection terminal GTM (DTM) is covered with at least one of the protection film PSV1 and the package TCP, the external connection terminal GTM (DTM) is covered with the panel so as to cover V1.

【0115】BF1はポリイミド等からなるベースフィ
ルムであり、SRSは半田付けの際半田が余計なところ
へつかないようにマスクするためのソルダレジスト膜で
ある。シールパターンSLの外側の上下ガラス基板の隙
間は洗浄後エポキシ樹脂EPX等により保護され、パッ
ケージTCPと上側基板SUB2の間には更にシリコー
ン樹脂SILが充填され保護が多重化されている。
Reference numeral BF1 denotes a base film made of polyimide or the like, and SRS denotes a solder resist film for masking so that solder does not stick to unnecessary portions during soldering. The gap between the upper and lower glass substrates outside the seal pattern SL is washed and protected by an epoxy resin EPX or the like, and the space between the package TCP and the upper substrate SUB2 is further filled with a silicone resin SIL to multiplex protection.

【0116】《駆動回路基板PCB2》駆動回路基板P
CB2は、IC、コンデンサ、抵抗等の電子部品が搭載
されている。この駆動回路基板PCB2には、1つの電
圧源から複数の分圧した安定化された電圧源を得るため
の電源回路や、ホスト(上位演算処理装置)からのCR
T(陰極線管)用の情報をTFT液晶表示装置用の情報
に変換する回路を含む回路SUPが搭載されている。C
Jは外部と接続される図示しないコネクタが接続される
コネクタ接続部である。
<< Drive Circuit Board PCB2 >> Drive Circuit Board P
The CB2 has electronic components such as an IC, a capacitor, and a resistor mounted thereon. The drive circuit board PCB2 includes a power supply circuit for obtaining a plurality of divided and stabilized voltage sources from one voltage source, and a CR (Crystal Control Unit) from a host (upper processing unit).
A circuit SUP including a circuit for converting information for T (cathode ray tube) into information for a TFT liquid crystal display device is mounted. C
J is a connector connection portion to which a connector (not shown) connected to the outside is connected.

【0117】駆動回路基板PCB1と駆動回路基板PC
B2とはフラットケーブルFCにより電気的に接続され
ている。
Driving circuit board PCB1 and driving circuit board PC
B2 is electrically connected by a flat cable FC.

【0118】《液晶表示モジュールの全体構成》図22
は、液晶表示モジュールMDLの各構成部品を示す分解
斜視図である。
<< Overall Configuration of Liquid Crystal Display Module >> FIG.
FIG. 3 is an exploded perspective view showing each component of the liquid crystal display module MDL.

【0119】SHDは金属板から成る枠状のシールドケ
ース(メタルフレーム)、LCWその表示窓、PNLは
液晶表示パネル、SPBは光拡散板、LCBは導光体、
RMは反射板、BLはバックライト蛍光管、LCAはバ
ックライトケースであり、図に示すような上下の配置関
係で各部材が積み重ねられてモジュールMDLが組み立
てられる。
SHD is a frame-shaped shield case (metal frame) made of a metal plate, LCW and its display window, PNL is a liquid crystal display panel, SPB is a light diffusion plate, LCB is a light guide,
RM is a reflection plate, BL is a backlight fluorescent tube, LCA is a backlight case, and the respective members are stacked in a vertical arrangement as shown in the figure to assemble a module MDL.

【0120】モジュールMDLは、シールドケースSH
Dに設けられた爪とフックによって全体が固定されるよ
うになっている。
The module MDL is a shield case SH
The entirety is fixed by claws and hooks provided on D.

【0121】バックライトケースLCAはバックライト
蛍光管BL、光拡散板SPB光拡散板、導光体LCB、
反射板RMを収納する形状になっており、導光体LCB
の側面に配置されたバックライト蛍光管BLの光を、導
光体LCB、反射板RM、光拡散板SPBにより表示面
で一様なバックライトにし、液晶表示パネルPNL側に
出射する。
The backlight case LCA includes a backlight fluorescent tube BL, a light diffusion plate SPB, a light diffusion plate, a light guide LCB,
The light guide LCB has a shape to accommodate the reflection plate RM.
The light of the backlight fluorescent tube BL arranged on the side surface is made uniform on the display surface by the light guide LCB, the reflection plate RM, and the light diffusion plate SPB, and emitted to the liquid crystal display panel PNL side.

【0122】バックライト蛍光管BLにはインバータ回
路基板PCB3が接続されており、バックライト蛍光管
BLの電源となっている。
An inverter circuit board PCB3 is connected to the backlight fluorescent tube BL, and serves as a power supply for the backlight fluorescent tube BL.

【0123】[0123]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
高コントラスト比、かつ、広視野角特性を得られると同
時に、高画質を維持できる高信頼性を両立した液晶表示
装置を得ることができる。
As described in detail above, according to the present invention,
It is possible to obtain a liquid crystal display device that achieves a high contrast ratio, a wide viewing angle characteristic, and a high reliability that can maintain high image quality.

【0124】また、同時に、応答速度が極めて速く、低
電圧で駆動可能な液晶表示装置も得ることができる。
At the same time, it is possible to obtain a liquid crystal display device which has a very high response speed and can be driven at a low voltage.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の原理を示す断面図である。FIG. 1 is a sectional view showing the principle of the present invention.

【図2】本発明の原理を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing the principle of the present invention.

【図3】本発明の印加電界方向、偏光板透過軸の関係を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing the relationship between the direction of an applied electric field and the transmission axis of a polarizing plate according to the present invention.

【図4】本発明の実施例のアクティブ・マトリックス型
カラー液晶表示装置の液晶表示部の一画素とその周辺を
示す要部平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a principal part showing one pixel of a liquid crystal display unit and its periphery in an active matrix type color liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

【図5】図4の6−6切断線における画素の断面図であ
る。
FIG. 5 is a sectional view of a pixel taken along section line 6-6 in FIG. 4;

【図6】図4の7−7切断線における薄膜トランジスタ
素子TFTの断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of the thin film transistor element TFT taken along section line 7-7 in FIG.

【図7】図4の8−8切断線における蓄積容量Cstgの
断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view of the storage capacitor Cstg taken along section line 8-8 in FIG. 4;

【図8】表示パネルのマトリクス周辺部の構成を説明す
るための平面図である。
FIG. 8 is a plan view for explaining a configuration of a matrix peripheral portion of the display panel.

【図9】左側に走査信号端子、右側に外部接続端子の無
いパネル縁部分を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view showing a scanning signal terminal on the left side and a panel edge portion without an external connection terminal on the right side.

【図10】ゲート端子GTMとゲート配線GLの接続部
近辺を示す平面と断面の図である。
FIG. 10 is a plan view and a cross-sectional view showing the vicinity of a connection portion between a gate terminal GTM and a gate wiring GL.

【図11】ドレイン端子DTMと映像信号線DLとの接
続部付近を示す平面と断面の図である。
FIG. 11 is a plan view and a sectional view showing the vicinity of a connection portion between a drain terminal DTM and a video signal line DL.

【図12】共通電極端子CTM1、共通バスラインCB
1および共通電圧信号線CLの接続部付近を示す平面と
断面の図である。
FIG. 12 shows a common electrode terminal CTM1 and a common bus line CB.
FIG. 2 is a plan view and a cross-sectional view showing the vicinity of a connection portion between the first and common voltage signal lines CL.

【図13】共通電極端子CTM2、共通バスラインCB
2および共通電圧信号線CLの接続部付近を示す平面と
断面の図である。
FIG. 13 shows a common electrode terminal CTM2 and a common bus line CB.
2A and 2B are a plan view and a cross-sectional view showing the vicinity of a connection portion between the second and common voltage signal lines CL.

【図14】本発明のアクティブ・マトリックス型カラー
液晶表示装置のマトリクス部とその周辺を含む回路図で
ある。
FIG. 14 is a circuit diagram including a matrix portion and its periphery of the active matrix type color liquid crystal display device of the present invention.

【図15】本発明のアクティブ・マトリックス型カラー
液晶表示装置の駆動波形を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing driving waveforms of the active matrix type color liquid crystal display device of the present invention.

【図16】基板SUB1側の工程A〜Cの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
FIG. 16 is a flowchart of a cross-sectional view of a pixel portion and a gate terminal portion showing a manufacturing process of processes A to C on the substrate SUB1 side.

【図17】基板SUB1側の工程D〜Fの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
FIG. 17 is a flowchart of a cross-sectional view of a pixel portion and a gate terminal portion showing manufacturing processes of processes D to F on the substrate SUB1 side.

【図18】基板SUB1側の工程G〜Hの製造工程を示
す画素部とゲート端子部の断面図のフローチャートであ
る。
FIG. 18 is a flowchart of a cross-sectional view of a pixel portion and a gate terminal portion showing manufacturing processes of processes G to H on the substrate SUB1 side.

【図19】液晶表示パネルに周辺の駆動回路を実装した
状態を示す上面図である。
FIG. 19 is a top view showing a state where peripheral driving circuits are mounted on a liquid crystal display panel.

【図20】駆動回路を構成する集積回路チップCHIが
フレキシブル配線基板に搭載されたテープキャリアパッ
ケージTCPの断面構造を示す図である。
FIG. 20 is a diagram showing a cross-sectional structure of a tape carrier package TCP in which an integrated circuit chip CHI constituting a drive circuit is mounted on a flexible wiring board.

【図21】テープキャリアパッケージTCPを液晶表示
パネルPNLの走査信号回路用端子GTMに接続した状
態を示す要部断面図である。
FIG. 21 is a cross-sectional view of a main part showing a state where the tape carrier package TCP is connected to a scanning signal circuit terminal GTM of the liquid crystal display panel PNL.

【図22】液晶表示モジュールの分解斜視図である。FIG. 22 is an exploded perspective view of the liquid crystal display module.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

SUB…透明ガラス基板、GL…走査信号線、DL…映
像信号線、CL…対向電圧信号線、PX…画素電極、C
T…対向電極、GI…絶縁膜、GT…ゲート電極、AS
…i型半導体層、SD…ソース電極またはドレイン電
極、PSV…保護膜、BM…遮光膜、LC…液晶、TF
T…薄膜トランジスタ、PH…スルーホール、g、d…
導電膜、Cstg…蓄積容量、AOF…陽極酸化膜、AO
…陽極酸化マスク、GTM…ゲート端子、DTM…ドレ
イン端子、CB…共通バスライン、DTM…共通電極端
子、SHD…シールドケース、PNL…液晶表示パネ
ル、SPB…光拡散板、LCB…導光体、BL…バック
ライト蛍光管、LCA…バックライトケース、RM…反
射板、(以上添字省略)。
SUB: transparent glass substrate, GL: scanning signal line, DL: video signal line, CL: counter voltage signal line, PX: pixel electrode, C
T: counter electrode, GI: insulating film, GT: gate electrode, AS
... i-type semiconductor layer, SD: source or drain electrode, PSV: protective film, BM: light shielding film, LC: liquid crystal, TF
T: thin film transistor, PH: through hole, g, d ...
Conductive film, Cstg: storage capacitance, AOF: anodic oxide film, AO
... anodization mask, GTM ... gate terminal, DTM ... drain terminal, CB ... common bus line, DTM ... common electrode terminal, SHD ... shield case, PNL ... liquid crystal display panel, SPB ... light diffusion plate, LCB ... light guide, BL: Backlight fluorescent tube; LCA: Backlight case; RM: Reflector (abbreviated above).

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】一対の基板と、前記一対の基板に挟持され
た正の誘電率異方性を有する液晶組成物と、電圧無印加
時に前記液晶組成物層中の液晶分子の光軸を基板面に略
垂直に配向させ得る配向制御膜と、前記液晶組成物層に
前記一対の基板の基板面に略平行な電界を発生させる一
対の電極構造と、前記基板面に平行な電界成分と一方の
光透過軸との間の角度が約45度で、他方の光透過軸が
一方の光透過軸と約90度でクロスニコル位置される一
対の偏光板とを有し、前記電界で前記液晶組成物層を透
過する光の透過率を変調することを特徴とする液晶表示
装置。
1. A pair of substrates, a liquid crystal composition having a positive dielectric anisotropy sandwiched between the pair of substrates, and an optical axis of liquid crystal molecules in the liquid crystal composition layer when no voltage is applied. An alignment control film that can be oriented substantially perpendicular to the surface, a pair of electrode structures that generate an electric field in the liquid crystal composition layer that is substantially parallel to the substrate surfaces of the pair of substrates, and one of an electric field component parallel to the substrate surface. And a pair of polarizers, the angle of which is about 45 degrees with respect to the light transmission axis, and the other light transmission axis is crossed at about 90 degrees with one of the light transmission axes. A liquid crystal display device which modulates the transmittance of light transmitted through a composition layer.
【請求項2】多数の走査配線と、多数の信号配線と、前
記多数の走査配線と前記多数の信号緯線に各々の略交点
に形成された能動素子と、前記一対の基板の基板面に略
平行な電界を発生させ得る一対の電極を有することを特
徴とする請求項1記載の液晶表示装置。
A plurality of scanning lines, a plurality of signal lines, an active element formed at a substantially intersection of each of the plurality of scanning lines and the plurality of signal latitude lines, and a plurality of active lines formed on a substrate surface of the pair of substrates. 2. The liquid crystal display device according to claim 1, comprising a pair of electrodes capable of generating a parallel electric field.
【請求項3】多数の走査配線と、多数の信号配線と、前
記多数の走査配線と前記多数の信号緯線に各々の略交点
に形成された薄膜トランジスタ素子と、前記一対の基板
の基板面に略平行な電界を発生させ得る一対の電極を有
することを特徴とする請求項1記載の液晶表示装置。
3. A plurality of scanning wirings, a plurality of signal wirings, a thin film transistor element formed at a substantially intersection of each of the plurality of scanning wirings and the plurality of signal latitude lines, and a plurality of thin film transistors formed substantially on the substrate surfaces of the pair of substrates. 2. The liquid crystal display device according to claim 1, comprising a pair of electrodes capable of generating a parallel electric field.
【請求項4】不要な光漏れ部分を遮光し絶縁性を有する
ブラックマトリクスを有することを特徴とする請求項1
記載の液晶表示装置。
4. A black matrix having an insulating property by shielding unnecessary light leakage portions.
The liquid crystal display device as described in the above.
【請求項5】前記一対の基板の前記液晶組成物の挟持面
の反対側の基板面の少なくとも一方の基板面上に透明導
電膜を有することを特徴とする請求項1記載の液晶表示
装置。
5. The liquid crystal display device according to claim 1, wherein a transparent conductive film is provided on at least one substrate surface of the pair of substrates opposite to the holding surface of the liquid crystal composition.
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