JPH10185979A

JPH10185979A - 電子機器の故障診断方法及び装置並びに電池の寿命診断方法及び装置並びに記憶媒体

Info

Publication number: JPH10185979A
Application number: JP8357178A
Authority: JP
Inventors: Hideaki Miyagawa; 秀明宮川; Masaaki Matsushima; 正明松島
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1996-12-26
Filing date: 1996-12-26
Publication date: 1998-07-14

Abstract

(57)【要約】【課題】故障診断精度の向上を図った電子機器の故障
診断方法及び装置を提供する。【解決手段】電子機器を駆動する電池１の内部抵抗２
の値をコントローラ３で測定し、前記電子機器を駆動可
能な劣化電池の内部抵抗値をコントローラ３のメモリに
記憶し、前記測定した内部抵抗２の値が前記メモリから
読み出した内部抵抗値と同じになるようにコントローラ
３で制御し、前記電子機器の予め指定された複数の負荷
（モータ４、ソレノイド６、ディスプレイ８を選択的に
順次ドライバー５，７，９で駆動し、前記各負荷の情報
をセンサー１０で検出し、該検出された情報の分析及び
判断処理をコントローラ３で行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、電池で駆動する全
ての電子機器の故障を診断（検出、予測、予知等を含
む）する電子機器の故障診断方法及び装置並びに電池の
劣化度合いを診断（検出、予測、予知等を含む）する電
池の寿命診断方法及び装置並びにこれらの方法及び装置
に使用する記憶媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般的に電子機器内部には多数の誘導負
荷（例えばモータ、ソレノイド等）が内蔵されている。
従来、これら誘導負荷のノイズ量を検出する検出手段
と、該検出手段により検出されたノイズ量を記憶するメ
モリと、該メモリに記憶された内容を順次読み出して正
常時のノイズ量と比較する比較手段とを具備した電子機
器の故障診断装置が提案されている（特開平１−１２１
８６５号）。この装置を含む従来の電子機器の故障診断
装置は、単に何等かの故障検出センサを配置して故障を
予測（予知）するものである。

【０００３】また、従来、充電電圧を印加した状態で鉛
蓄電池の内部インピーダンスを測定し、該測定したイン
ピーダンスの値が初期の所定倍の大きさになったときに
寿命末期であると診断する電池の寿命診断装置が提案さ
れている（特開平４−１０４４８１号）。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の電子機器の故障診断装置にあっては、電源の状
態をチェックすることなく、単に故障検出センサ等でノ
イズ量の増減を検出して故障の診断（予測）をしている
ため、電源の状態によるノイズ量の変化が大きく、故障
診断（予測）精度は非常に低いという問題点があった。

【０００５】また、上述した従来の電池の寿命診断装置
にあっては、具体的なデータ処理方法の記載がなく且つ
最大の問題点は電池が化学反応であること、即ち温度依
存性の考慮が全くなされていないために、寿命診断（予
測）精度は非常に低いという問題点があった。

【０００６】本発明は上述した従来の技術の有するこの
ような問題点に鑑みてなされたものであり、その第１の
目的とするところは、故障診断精度の向上を図った電子
機器の故障診断方法及び装置を提供しようとするもので
ある。

【０００７】また、本発明の第２の目的とするところ
は、寿命診断精度の向上を図った電池の寿命診断方法及
び装置を提供しようとするものである。

【０００８】また、本発明の第３の目的とするところ
は、電子機器の故障診断装置を円滑に制御することがで
きる記憶媒体を提供しようとするものである。

【０００９】更に、本発明の第４の目的とするところ
は、電池の寿命診断装置を円滑に制御することができる
記憶媒体を提供しようとするものである。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために請求項１記載の電子機器の故障診断方法は、電
子機器を駆動する電池の内部抵抗値を測定する測定工程
と、前記電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値を
メモリに記憶する記憶工程と、前記測定工程により測定
した内部抵抗値が前記メモリから読み出した内部抵抗値
と同じになるように制御する制御工程と、前記電子機器
の予め指定された複数の負荷を選択的に順次駆動する駆
動工程と、前記各負荷の情報を検出する検出工程と、該
検出工程により得られる情報の分析及び判断処理を行う
分析判断処理工程とを有することを特徴とする。

【００１１】また、上記第１の目的を達成するために請
求項２記載の電子機器の故障診断装置は、電子機器を駆
動する電池の内部抵抗値を測定する測定手段と、前記電
子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値をメモリに記
憶する記憶手段と、前記測定手段により測定した内部抵
抗値が前記メモリから読み出した内部抵抗値と同じにな
るように制御する制御手段と、前記電子機器の予め指定
された複数の負荷を選択的に順次駆動する駆動手段と、
前記各負荷の情報を検出する検出手段と、該検出手段に
より得られる情報の分析及び判断処理を行う分析判断処
理手段とを有することを特徴とする。

【００１２】また、上記第２の目的を達成するために請
求項３記載の電池の寿命診断方法は、電池に負荷抵抗を
接続する接続工程と、前記負荷抵抗を増減させる増減工
程と、該増減工程による前記負荷抵抗の増減に対応する
電池の内部抵抗を求めて前記電池の寿命と前記内部抵抗
の相関関係データとを比較演算する比較演算工程とを有
することを特徴とする。

【００１３】また、上記第２の目的を達成するために請
求項４記載の電池の寿命診断方法は、請求項３記載の電
池の寿命診断方法において、前記電池の雰囲気温度を測
定する温度測定工程を有し、前記比較演算工程により、
前記温度測定工程により得られた温度データを含む前記
電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演
算することを特徴とする。

【００１４】また、上記第２の目的を達成するために請
求項５記載の電池の寿命診断方法は、請求項３記載の電
池の寿命診断方法において、前記電池の内部抵抗測定回
路系への切り換えを行う回路切り換え工程と、可変負荷
抵抗及び測定回数の初期設定を行う初期設定工程と、前
記電池の雰囲気温度を測定する温度測定工程と、電池端
子間電圧を測定する電圧測定工程と、可変負荷抵抗を流
れる電流を測定する電流測定工程と、全負荷電流を測定
する全負荷電流測定工程と、前記電圧測定工程、前記電
流測定工程及び前記全負荷電流測定工程によりそれぞれ
測定された測定データを演算して前記電池の内部抵抗値
を算出する内部抵抗値算出工程と、前記可変負荷低抗が
所定値になるまで所定の可変負荷低抗を増加して繰り返
し測定命令を出力する測定命令出力工程と、前記可変負
荷低抗が所定値以上になると測定動作を停止させ且つ前
記可変負荷低抗が所定値以下の場合には測定動作を継続
させるように切り換える測定動作切り換え工程と、前記
電池の寿命と内部抵抗の相関関係データを記憶した電池
データ・バンク・データを持ち該電池データ・バンク・
データと前記内部抵抗値算出工程により算出した電池の
内部抵抗とを比較演算して前記電池の寿命を求める第２
の比較演算工程とを有することを特徴とする。

【００１５】また、上記第２の目的を達成するために請
求項６記載の電池の寿命診断装置は、電池に負荷抵抗を
接続する接続手段と、前記負荷抵抗を増減させる増減手
段と、該増減手段による前記負荷抵抗の増減に対応する
電池の内部抵抗を求めて前記電池の寿命と前記内部抵抗
の相関関係データとを比較演算する比較演算手段とを有
することを特徴とする。

【００１６】また、上記第２の目的を達成するために請
求項７記載の電池の寿命診断装置は、請求項６記載の電
池の寿命診断装置において、前記電池の雰囲気温度を測
定する温度測定手段を有し、前記比較演算手段により、
前記温度測定手段により得られた温度データを含む前記
電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演
算することを特徴とする。

【００１７】また、上記第２の目的を達成するために請
求項８記載の電池の寿命診断装置は、請求項６記載の電
池の寿命診断装置において、前記電池の内部抵抗測定回
路系への切り換えを行う回路切り換え手段と、可変負荷
抵抗及び測定回数の初期設定を行う初期設定手段と、前
記電池の雰囲気温度を測定する温度測定手段と、電池端
子間電圧を測定する電圧測定手段と、可変負荷抵抗を流
れる電流を測定する電流測定手段と、全負荷電流を測定
する全負荷電流測定手段と、前記電圧測定手段、前記電
流測定手段及び前記全負荷電流測定手段によりそれぞれ
測定された測定データを演算して前記電池の内部抵抗値
を算出する内部抵抗値算出手段と、前記可変負荷低抗が
所定値になるまで所定の可変負荷低抗を増加して繰り返
し測定命令を出力する測定命令出力手段と、前記可変負
荷低抗が所定値以上になると測定動作を停止させ且つ前
記可変負荷低抗が所定値以下の場合には測定動作を継続
させるように切り換える測定動作切り換え手段と、前記
電池の寿命と内部抵抗の相関関係データを記憶した電池
データ・バンク・データを持ち該電池データ・バンク・
データと前記内部抵抗値算出手段により算出した電池の
内部抵抗とを比較演算して前記電池の寿命を求める第２
の比較演算手段とを有することを特徴とする。

【００１８】また、上記第３の目的を達成するため請求
項９記載の記憶媒体は、電子機器の故障診断装置を制御
するプログラムを格納する記憶媒体であって、電子機器
を駆動する電池の内部抵抗値を測定する測定モジュール
と、前記電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値を
メモリに記憶する記憶モジュールと、前記測定モジュー
ル程により測定した内部抵抗値が前記メモリから読み出
した内部抵抗値と同じになるように制御する制御モジュ
ールと、前記電子機器の予め指定された複数の負荷を選
択的に順次駆動する駆動モジュールと、前記各負荷の情
報を検出する検出モジュールと、該検出モジュールによ
り得られる情報の分析及び判断処理を行う分析判断処理
モジュールとを有するプログラムを格納したことを特徴
とする。

【００１９】また、上記第４の目的を達成するため請求
項１０記載の記憶媒体は、電池の寿命診断装置を制御す
るプログラムを格納する記憶媒体であって、電池に負荷
抵抗を接続する接続モジュールと、前記負荷抵抗を増減
させる増減モジュールと、該増減モジュールによる前記
負荷抵抗の増減に対応する電池の内部抵抗を求めて前記
電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演
算する比較演算モジュールとを有するプログラムを格納
したことを特徴とする。

【００２０】また、上記第４の目的を達成するため請求
項１１記載の記憶媒体は、請求項１０記載の記憶媒体に
おいて、前記電池の雰囲気温度を測定する温度測定モジ
ュールを有し、前記比較演算モジュールにより、前記温
度測定モジュールにより得られた温度データを含む前記
電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演
算することを特徴とする。

【００２１】また、上記第４の目的を達成するため請求
項１２記載の記憶媒体は、請求項１０記載の記憶媒体に
おいて、前記電池の内部抵抗測定回路系への切り換えを
行う回路切り換えモジュールと、可変負荷抵抗及び測定
回数の初期設定を行う初期設定モジュールと、前記電池
の雰囲気温度を測定する温度測定モジュールと、電池端
子間電圧を測定する電圧測定モジュールと、可変負荷抵
抗を流れる電流を測定する電流測定モジュールと、全負
荷電流を測定する全負荷電流測定モジュールと、前記電
圧測定モジュール、前記電流測定モジュール及び前記全
負荷電流測定モジュールによりそれぞれ測定された測定
データを演算して前記電池の内部抵抗値を算出する内部
抵抗値算出モジュールと、前記可変負荷低抗が所定値に
なるまで所定の可変負荷低抗を増加して繰り返し測定命
令を出力する測定命令出力モジュールと、前記可変負荷
低抗が所定値以上になると測定動作を停止させ且つ前記
可変負荷低抗が所定値以下の場合には測定動作を継続さ
せるように切り換える測定動作切り換えモジュールと、
前記電池の寿命と内部抵抗の相関関係データを記憶した
電池データ・バンク・データを持ち該電池データ・バン
ク・データと前記内部抵抗値算出工程により算出した電
池の内部抵抗とを比較演算して前記電池の寿命を求める
第２の比較演算モジュールとを有することを特徴とす
る。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の各実施の形態を図
面に基づき説明する。

【００２３】（第１の実施の形態）まず、本発明の第１
の実施の形態を図１及び図２に基づき説明する。図１
は、本発明の第１の実施の形態に係る電子機器の故障診
断装置の構成を示すブロック図、図２は同電子機器の故
障診断装置の動作制御手順を示すフローチャートであ
る。

【００２４】図１中、１は電子機器駆動用の電池、２は
電池１の内部抵抗、３は内部抵抗２を測定するコントロ
ーラ、４はモータ、５はモータ４を駆動するドライバ
ー、６はソレノイド、７はソレノイド６を駆動するドラ
イバー、８はディスプレイ、９はディスプレイ８を駆動
するドライバー、１０は負荷（モータ４、ソレノイド
６、ディスプレイ８）の駆動状態を検出するセンサー、
１１はテスト指令を出す操作指令部、１２は本装置全体
を制御するメインコントローラである。

【００２５】上記構成において、コントローラ３により
電池１の内部抵抗２を測定し、電池１が劣化した状態の
電池内部抵抗にする。その電池劣化状態で負荷であるモ
ータ４、ソレノイド６、ディスプレイ８を駆動してそれ
ぞれに取り付けたセンサー１０により故障箇所を認識す
る。

【００２６】次に上記構成の本実施の形態に係る電子機
器の故障診断装置の動作を、図２のフローチャートに基
づいて説明する。なお、この図２に示す処理は、図示し
ないメモリに格納されている制御プログラムをコントロ
ーラ３が読み出し、該制御プログラムに従ってコントロ
ーラ３が実行するものである。

【００２７】操作指令部１１によりテスト指令を出す
と、コントローラ３が駆動する。そして、まず、ステッ
プＳ２０１で電池１の内部抵抗２を測定し、次のステッ
プＳ２０２で前記ステップＳ２０１において測定した電
池１の内部抵抗２が劣化した状態の電池の内部抵抗と同
じか否かを判別する。そして、電池１の内部抵抗２が劣
化した状態の電池の内部抵抗と同じである場合は、次の
ステップＳ２０３で予め指定された負荷（モータ４、ソ
レノイド６、ディスプレイ８）をそれぞれ対応するドラ
イバー５，７，９により選択的に順次駆動する。次にス
テップＳ２０４で負荷（モータ４、ソレノイド６、ディ
スプレイ８）の駆動状態をセンサー１１により測定す
る。そして、次のステップＳ２０５でコンピュータ処理
して、次のステップＳ２０６で前記負荷の故障箇所の予
測を行った後、前記ステップＳ２０３へ戻る。一方、前
記ステップＳ２０２において、電池１の内部抵抗２が劣
化した状態の電池の内部抵抗と同じでない場合は、ステ
ップＳ２０７で電池１の内部抵抗２が劣化した状態の電
池の内部抵抗と同じになるように抵抗を加減算した後、
前記ステップＳ２０１へ戻り上述の処理を行う。

【００２８】（第２の実施の形態）次に、本発明の第２
の実施の形態を図３及び図４に基づき説明する。図３は
本発明の第２の実施の形態に係る電池の寿命診断装置の
構成を示すブロック図、図４は同電池の寿命診断装置の
動作制御手順を示すフローチャートである。

【００２９】図３中、３０１は電子機器駆動用の電池で
あると共に本装置により寿命が診断される電池でもあ
る。３０２は温度センサーで、電池１の雰囲気温度を測
定するものであって、電池１の近傍に配置されている。
３０３は可変負荷抵抗で、測定切り換えスイッチ３０４
を介して電池１と接続されている。３０４は測定切り換
えスイッチで、図示しないコンピュータから測定指令が
出されると自動的に閉成する常開型スイッチである。３
０５は電子機器の負荷で、可変負荷抵抗３０３と並列に
接続されている。３０６は第１の電流計で、可変負荷抵
抗３０３に流れる電流を測定するものである。３０７は
第２の電流計で、図示例では全電流を測定するように配
置されているが、負荷３０５に流れる電流のみを測定す
るようにしてもよい。３０８は回路網である。

【００３０】上記構成において、図示しないコンピュー
タから測定指令が出されると、測定切り換えスイッチ３
０４が閉成し、また、前記コンピュータから種々の測定
指令が出されると共に、測定データが取り込まれ、更
に、電池３０１の内部抵抗が算出される。また、算出さ
れた電池３０１の内部抵抗と電池３０１の寿命と内部抵
抗間の相関を記憶させている電池データ・バンク・デー
タと比較演算して電池の寿命予測を行う。

【００３１】次に上記構成の本実施の形態に係る電池の
寿命診断装置の動作を、図４のフローチャートに基づい
て説明する。なお、この図４に示す処理は、図示しない
メモリに格納されている制御プログラムを図示しないコ
ントローラが読み出し、該制御プログラムに従って前記
コントローラが実行するものである。

【００３２】図示しないコンピュータから測定指令が出
されると、ステップＳ４０１で測定切り換えスイッチ３
０４が閉成し、測定回路系に切り換えられる。次にステ
ップＳ４０２でをＲ０、測定回数ｎを１に設定する。次
にステップＳ４０３で可変負荷抵抗３０３の値ＲＲ
（ｎ）がＲｍ以下か否かを判別する。そして、可変負荷
抵抗３０３の値ＲＲ（ｎ）がＲｍ以下の場合は、ステッ
プＳ４０４で温度センサー３０２により電池３０１の雰
囲気温度Ｔ（ｎ）を測定する。次にステップＳ４０５で
電池３０１の端子電圧Ｖ（ｎ）を測定する。次にステッ
プＳ４０６で第１の電流計３０６により可変負荷抵抗３
０３に流れる電流Ｉ（ｎ）を測定する。

【００３３】次にステップＳ４０７で第２の電流計３０
７により全負荷電流ＩＩ（ｎ）を測定する。次にステッ
プＳ４０８で前記ステップＳ４０４〜ステップＳ４０７
においてそれぞれ測定した測定値を演算「ＲＲ（ｎ）＝
（Ｖ（ｎ）−Ｒ×Ｉ（ｎ））／ＩＩ（ｎ）」して、電池
３０１の内部抵抗値ＲＲ（ｎ）を求める。次にステップ
Ｓ４０９で可変負荷抵抗３０３の増加分Ｒ１を可変負荷
抵抗３０３に加え、測定回数ｎに１を加えた後、前記ス
テップＳ４０３へ戻る。

【００３４】一方、前記ステップＳ４０３において可変
負荷抵抗３０３の値ＲＲ（ｎ）がＲｍ以上の場合は、ス
テップＳ４１０で前記ステップＳ４０８において演算し
て求めた内部抵抗値ＲＲ（ｎ）と電池３０１の雰囲気温
度Ｔ（ｎ）を考慮した電池データ・バンク・データとを
比較演算し、次のステップＳ４１１で電池３０１の寿命
を予測する。

【００３５】（第３の実施の形態）次に本発明の記憶媒
体について、図５及び図６に基づき説明する。

【００３６】上述した第１の実施の形態に係る電子機器
の故障診断装置を制御するプログラムを格納する記憶媒
体には、図５に示すように、少なくとも、「測定モジュ
ール」、「記憶モジュール」、「制御モジュール」、
「駆動モジュール」、「検出モジュール」、「分析判断
処理モジュール」の各モジュールのプログラムコードを
格納すればよい。

【００３７】ここで、「測定モジュール」は、電子機器
を駆動する電池の内部抵抗値を測定するためのプログラ
ムモジュールである。また、「記憶モジュール」は、前
記電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値をメモリ
に記憶するためのプログラムモジュールである。また、
「制御モジュール」は、前記測定モジュール程により測
定した内部抵抗値が前記メモリから読み出した内部抵抗
値と同じになるように制御するためのプログラムモジュ
ールである。また、「駆動モジュール」は、前記電子機
器の予め指定された複数の負荷を選択的に順次駆動する
ためのプログラムモジュールである。また、「検出モジ
ュール」は、前記各負荷の情報を検出するためのプログ
ラムモジュールである。また、「分析判断処理モジュー
ル」は、検出モジュールにより得られる情報の分析及び
判断処理を行うためのプログラムモジュールである。

【００３８】また、上述した第２の実施の形態に係る電
池の寿命診断装置を制御するプログラムを格納する記憶
媒体には、図６に示すように、少なくとも、「接続モジ
ュール」、「増減モジュール」、「第１の比較演算モジ
ュール」、「温度測定モジュール」、「回路切り換えモ
ジュール」、「初期設定モジュール」、「電圧測定モジ
ュール」、「電流測定モジュール」、「全負荷電流測定
モジュール」、「内部抵抗値算出モジュール」、「測定
命令出力モジュール」、「測定動作切り換えモジュー
ル」、「第２の比較演算モジュール」の各モジュールの
プログラムコードを格納すればよい。

【００３９】ここで、「接続モジュール」は、電池に負
荷抵抗を接続するためのプログラムモジュールである。
また、「増減モジュール」は、負荷抵抗を増減させるた
めのプログラムモジュールである。また、「第１の比較
演算モジュール」は、前記増減モジュールによる前記負
荷抵抗の増減に対応する電池の内部抵抗を求めて前記電
池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演算
するためのプログラムモジュールである。また、「温度
測定モジュール」は、前記電池の雰囲気温度を測定する
ためのプログラムモジュールである。また、前記第１の
「比較演算モジュール」は、前記温度測定モジュールに
より得られた温度データを含む前記電池の寿命と前記内
部抵抗の相関関係データとを比較演算する。また、「回
路切り換えモジュール」は、前記電池の内部抵抗測定回
路系への切り換えを行うためのプログラムモジュールで
ある。また、「初期設定モジュール」は、可変負荷抵抗
及び測定回数の初期設定を行うためのプログラムモジュ
ールである。また、「電圧測定モジュール」は、電池端
子間電圧を測定するためのプログラムモジュールであ
る。また、「電流測定モジュール」は、可変負荷抵抗を
流れる電流を測定するためのプログラムモジュールであ
る。また、「全負荷電流測定モジュール」は、全負荷電
流を測定するためのプログラムモジュールである。ま
た、「内部抵抗値算出モジュール」は、前記電圧測定モ
ジュール、前記電流測定モジュール及び前記全負荷電流
測定モジュールによりそれぞれ測定された測定データを
演算して前記電池の内部抵抗値を算出するためのプログ
ラムモジュールである。また、「測定命令出力モジュー
ル」は、前記可変負荷低抗が所定値になるまで所定の可
変負荷低抗を増加して繰り返し測定命令を出力するため
のプログラムモジュールである。また、「測定動作切り
換えモジュール」は、前記可変負荷低抗が所定値以上に
なると測定動作を停止させ且つ前記可変負荷低抗が所定
値以下の場合には測定動作を継続させるように切り換え
るためのプログラムモジュールである。また、「第２の
比較演算モジュール」は、前記電池の寿命と内部抵抗の
相関関係データを記憶した電池データ・バンク・データ
を持ち該電池データ・バンク・データと前記内部抵抗値
算出工程により算出した電池の内部抵抗とを比較演算し
て前記電池の寿命を求めるためのプログラムモジュール
である。

【００４０】

【発明の効果】以上詳述したように本発明の請求項１及
び２記載の電子機器の故障診断方法及び装置によれば、
現在の電池の内部抵抗を測定して、電池が劣化した状態
の内部抵抗になるように疑似抵抗を付加した状態でモー
タ、ソレノイド等の負荷のノイズを測定することで、電
池の状態（良否）や温度の影響を受けないで且つ電子機
器を駆動させる最小限に近い状態でいつも同一条件下で
評価するために非常に正確に故障診断を行うことができ
るという効果を奏する。

【００４１】また、本発明の請求項３〜５及び請求項６
〜８の電池の寿命診断方法及び装置によれば、電池に負
荷抵抗を接続し、該負荷抵抗を増減させ、その増減に対
応する電池の内部抵抗を求め、電池の寿命と内部抵抗の
相関関係データと比較演算することにより、電池の寿命
（劣化状態）を診断するので、電池自体に特別な改造を
行うことなく、使用状態のまま迅速に、しかも簡単且つ
正確に寿命診断を行うことができるという効果を奏す
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係る電子機器の故
障診断装置の構成を示すブロック図である。

【図２】同電子機器の故障診断装置の動作制御手順を示
すフローチャートである。

【図３】本発明の第２の実施の形態に係る電池の寿命診
断装置の構成を示すブロック図である。

【図４】同電池の寿命診断装置の動作制御手順を示すフ
ローチャートである。

【図５】本発明の電子機器の故障診断装置に使用する記
憶媒体に格納されるプログラムの各プログラムモジュー
ルを示す図である。

【図６】本発明の電池の寿命診断装置に使用する記憶媒
体に格納されるプログラムの各プログラムモジュールを
示す図である。

【符号の説明】

１電池２内部抵抗３コントローラ４モータ５ドライバー６ソレノイド７ドライバー８ディスプレイ９ドライバー１０センサー１１操作指令部１２メインコントローラ３０１電池３０２温度センサー３０３可変負荷抵抗３０４回路切り換えスイッチ３０５負荷３０６第１の電流計３０７第２の電流計３０８回路網

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】電子機器を駆動する電池の内部抵抗値を
測定する測定工程と、前記電子機器を駆動可能な劣化電
池の内部抵抗値をメモリに記憶する記憶工程と、前記測
定工程により測定した内部抵抗値が前記メモリから読み
出した内部抵抗値と同じになるように制御する制御工程
と、前記電子機器の予め指定された複数の負荷を選択的
に順次駆動する駆動工程と、前記各負荷の情報を検出す
る検出工程と、該検出工程により得られる情報の分析及
び判断処理を行う分析判断処理工程とを有することを特
徴とする電子機器の故障診断方法。
【請求項２】電子機器を駆動する電池の内部抵抗値を
測定する測定手段と、前記電子機器を駆動可能な劣化電
池の内部抵抗値をメモリに記憶する記憶手段と、前記測
定手段により測定した内部抵抗値が前記メモリから読み
出した内部抵抗値と同じになるように制御する制御手段
と、前記電子機器の予め指定された複数の負荷を選択的
に順次駆動する駆動手段と、前記各負荷の情報を検出す
る検出手段と、該検出手段により得られる情報の分析及
び判断処理を行う分析判断処理手段とを有することを特
徴とする電子機器の故障診断装置。
【請求項３】電池に負荷抵抗を接続する接続工程と、
前記負荷抵抗を増減させる増減工程と、該増減工程によ
る前記負荷抵抗の増減に対応する電池の内部抵抗を求め
て前記電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを
比較演算する比較演算工程とを有することを特徴とする
電池の寿命診断方法。
【請求項４】前記電池の雰囲気温度を測定する温度測
定工程を有し、前記比較演算工程により、前記温度測定
工程により得られた温度データを含む前記電池の寿命と
前記内部抵抗の相関関係データとを比較演算することを
特徴とする請求項３記載の電池の寿命診断方法。
【請求項５】前記電池の内部抵抗測定回路系への切り
換えを行う回路切り換え工程と、可変負荷抵抗及び測定
回数の初期設定を行う初期設定工程と、前記電池の雰囲
気温度を測定する温度測定工程と、電池端子間電圧を測
定する電圧測定工程と、可変負荷抵抗を流れる電流を測
定する電流測定工程と、全負荷電流を測定する全負荷電
流測定工程と、前記電圧測定工程、前記電流測定工程及
び前記全負荷電流測定工程によりそれぞれ測定された測
定データを演算して前記電池の内部抵抗値を算出する内
部抵抗値算出工程と、前記可変負荷低抗が所定値になる
まで所定の可変負荷低抗を増加して繰り返し測定命令を
出力する測定命令出力工程と、前記可変負荷低抗が所定
値以上になると測定動作を停止させ且つ前記可変負荷低
抗が所定値以下の場合には測定動作を継続させるように
切り換える測定動作切り換え工程と、前記電池の寿命と
内部抵抗の相関関係データを記憶した電池データ・バン
ク・データを持ち該電池データ・バンク・データと前記
内部抵抗値算出工程により算出した電池の内部抵抗とを
比較演算して前記電池の寿命を求める第２の比較演算工
程とを有することを特徴とする請求項３記載の電池の寿
命診断方法。
【請求項６】電池に負荷抵抗を接続する接続手段と、
前記負荷抵抗を増減させる増減手段と、該増減手段によ
る前記負荷抵抗の増減に対応する電池の内部抵抗を求め
て前記電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データとを
比較演算する比較演算手段とを有することを特徴とする
電池の寿命診断装置。
【請求項７】前記電池の雰囲気温度を測定する温度測
定手段を有し、前記比較演算手段により、前記温度測定
手段により得られた温度データを含む前記電池の寿命と
前記内部抵抗の相関関係データとを比較演算することを
特徴とする請求項６記載の電池の寿命診断装置。
【請求項８】前記電池の内部抵抗測定回路系への切り
換えを行う回路切り換え手段と、可変負荷抵抗及び測定
回数の初期設定を行う初期設定手段と、前記電池の雰囲
気温度を測定する温度測定手段と、電池端子間電圧を測
定する電圧測定手段と、可変負荷抵抗を流れる電流を測
定する電流測定手段と、全負荷電流を測定する全負荷電
流測定手段と、前記電圧測定手段、前記電流測定手段及
び前記全負荷電流測定手段によりそれぞれ測定された測
定データを演算して前記電池の内部抵抗値を算出する内
部抵抗値算出手段と、前記可変負荷低抗が所定値になる
まで所定の可変負荷低抗を増加して繰り返し測定命令を
出力する測定命令出力手段と、前記可変負荷低抗が所定
値以上になると測定動作を停止させ且つ前記可変負荷低
抗が所定値以下の場合には測定動作を継続させるように
切り換える測定動作切り換え手段と、前記電池の寿命と
内部抵抗の相関関係データを記憶した電池データ・バン
ク・データを持ち該電池データ・バンク・データと前記
内部抵抗値算出手段により算出した電池の内部抵抗とを
比較演算して前記電池の寿命を求める第２の比較演算手
段とを有することを特徴とする請求項６記載の電池の寿
命診断装置。
【請求項９】電子機器の故障診断装置を制御するプロ
グラムを格納する記憶媒体であって、電子機器を駆動す
る電池の内部抵抗値を測定する測定モジュールと、前記
電子機器を駆動可能な劣化電池の内部抵抗値をメモリに
記憶する記憶モジュールと、前記測定モジュール程によ
り測定した内部抵抗値が前記メモリから読み出した内部
抵抗値と同じになるように制御する制御モジュールと、
前記電子機器の予め指定された複数の負荷を選択的に順
次駆動する駆動モジュールと、前記各負荷の情報を検出
する検出モジュールと、該検出モジュールにより得られ
る情報の分析及び判断処理を行う分析判断処理モジュー
ルとを有するプログラムを格納したことを特徴とする記
憶媒体。
【請求項１０】電池の寿命診断装置を制御するプログ
ラムを格納する記憶媒体であって、電池に負荷抵抗を接
続する接続モジュールと、前記負荷抵抗を増減させる増
減モジュールと、該増減モジュールによる前記負荷抵抗
の増減に対応する電池の内部抵抗を求めて前記電池の寿
命と前記内部抵抗の相関関係データとを比較演算する比
較演算モジュールとを有するプログラムを格納したこと
を特徴とする記憶媒体。
【請求項１１】前記電池の雰囲気温度を測定する温度
測定モジュールを有し、前記比較演算モジュールによ
り、前記温度測定モジュールにより得られた温度データ
を含む前記電池の寿命と前記内部抵抗の相関関係データ
とを比較演算することを特徴とする請求項１０記載の記
憶媒体。
【請求項１２】前記電池の内部抵抗測定回路系への切
り換えを行う回路切り換えモジュールと、可変負荷抵抗
及び測定回数の初期設定を行う初期設定モジュールと、
前記電池の雰囲気温度を測定する温度測定モジュール
と、電池端子間電圧を測定する電圧測定モジュールと、
可変負荷抵抗を流れる電流を測定する電流測定モジュー
ルと、全負荷電流を測定する全負荷電流測定モジュール
と、前記電圧測定モジュール、前記電流測定モジュール
及び前記全負荷電流測定モジュールによりそれぞれ測定
された測定データを演算して前記電池の内部抵抗値を算
出する内部抵抗値算出モジュールと、前記可変負荷低抗
が所定値になるまで所定の可変負荷低抗を増加して繰り
返し測定命令を出力する測定命令出力モジュールと、前
記可変負荷低抗が所定値以上になると測定動作を停止さ
せ且つ前記可変負荷低抗が所定値以下の場合には測定動
作を継続させるように切り換える測定動作切り換えモジ
ュールと、前記電池の寿命と内部抵抗の相関関係データ
を記憶した電池データ・バンク・データを持ち該電池デ
ータ・バンク・データと前記内部抵抗値算出工程により
算出した電池の内部抵抗とを比較演算して前記電池の寿
命を求める第２の比較演算モジュールとを有することを
特徴とする請求項１０記載の記憶媒体。