JPH10177189A - 液晶表示装置の製造方法および評価方法 - Google Patents
液晶表示装置の製造方法および評価方法Info
- Publication number
- JPH10177189A JPH10177189A JP8354493A JP35449396A JPH10177189A JP H10177189 A JPH10177189 A JP H10177189A JP 8354493 A JP8354493 A JP 8354493A JP 35449396 A JP35449396 A JP 35449396A JP H10177189 A JPH10177189 A JP H10177189A
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- JP
- Japan
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- electrode
- panel
- display device
- crystal display
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- Pending
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- Elimination Of Static Electricity (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 製造作業時に発生する液晶モジュールの内部
に蓄積した帯電電荷を安全かつ速やかに除去できる液晶
表示装置の製造方法および評価方法を提供する。 【解決手段】 液晶モジュールにおける外部への取り出
し電極である対向電極取り出し電極９、画素電極６の各
素子からの取り出し電極１０、および駆動用ＩＣ１２を
介した取り出し電極１１などのすべての取り出し電極を
相互に高抵抗で接続して、パネルの内部に蓄積した電荷
を緩やかに放電することにより、画素電極６におけるＴ
ＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２の静電破壊を防止する。ま
た、パネルが帯電する作業の前に対向電極取り出し電極
９を接地接続してシールド層とし、パネルの外部の静電
界が画素電極６におけるＴＦＴ素子に及ぼす影響を排除
して防護し、安全な作業を可能にする。また、液晶モジ
ュールの内部の帯電状態を、液晶４の光遮断の程度によ
り判断して評価する。
に蓄積した帯電電荷を安全かつ速やかに除去できる液晶
表示装置の製造方法および評価方法を提供する。 【解決手段】 液晶モジュールにおける外部への取り出
し電極である対向電極取り出し電極９、画素電極６の各
素子からの取り出し電極１０、および駆動用ＩＣ１２を
介した取り出し電極１１などのすべての取り出し電極を
相互に高抵抗で接続して、パネルの内部に蓄積した電荷
を緩やかに放電することにより、画素電極６におけるＴ
ＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２の静電破壊を防止する。ま
た、パネルが帯電する作業の前に対向電極取り出し電極
９を接地接続してシールド層とし、パネルの外部の静電
界が画素電極６におけるＴＦＴ素子に及ぼす影響を排除
して防護し、安全な作業を可能にする。また、液晶モジ
ュールの内部の帯電状態を、液晶４の光遮断の程度によ
り判断して評価する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置の製
造方法および評価方法に関する。
造方法および評価方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、液晶表示装置が広く活用される
が、その製造工程において発生する帯電電荷をＴＦＴ素
子や駆動用ＩＣなどが破壊しないように安全かつ完全に
除去することが課題である。
が、その製造工程において発生する帯電電荷をＴＦＴ素
子や駆動用ＩＣなどが破壊しないように安全かつ完全に
除去することが課題である。
【０００３】図１は液晶表示装置の構成を示す断面図で
ある。図において、１は上側偏光板、２は上側ガラス基
板、３は上側ガラス基板２の内面に設けられた対向電
極、４は液晶、５は下側ガラス基板、６は下側ガラス基
板５の内面に設けられたＴＦＴ構造の画素電極、７は下
側偏光板、８は上側ガラス基板２と下側ガラス基板５と
を所定の間隔を保ちながら接着固定するとともに、液晶
４を封入するための空間を形成するためのスペーサおよ
びシール材、９は対向電極取り出し電極、１０は各ＴＦ
Ｔ素子からの取り出し電極、１１は駆動用ＩＣ１２など
を介した取り出し電極である。上側偏光板１、上側ガラ
ス基板２、対向電極３、下側ガラス基板５、および画素
電極６はパネルを構成し、スペーサおよびシール材８で
接着した空間に液晶４を封入して液晶モジュールを構成
している。
ある。図において、１は上側偏光板、２は上側ガラス基
板、３は上側ガラス基板２の内面に設けられた対向電
極、４は液晶、５は下側ガラス基板、６は下側ガラス基
板５の内面に設けられたＴＦＴ構造の画素電極、７は下
側偏光板、８は上側ガラス基板２と下側ガラス基板５と
を所定の間隔を保ちながら接着固定するとともに、液晶
４を封入するための空間を形成するためのスペーサおよ
びシール材、９は対向電極取り出し電極、１０は各ＴＦ
Ｔ素子からの取り出し電極、１１は駆動用ＩＣ１２など
を介した取り出し電極である。上側偏光板１、上側ガラ
ス基板２、対向電極３、下側ガラス基板５、および画素
電極６はパネルを構成し、スペーサおよびシール材８で
接着した空間に液晶４を封入して液晶モジュールを構成
している。
【０００４】従来、ＴＣＰ、ＣＯＧ実装や液晶モジュー
ル組立時に発生する摩擦帯電や剥離帯電を防止するた
め、除電装置を用いてパネルの表面や作業面を除電して
いた。
ル組立時に発生する摩擦帯電や剥離帯電を防止するた
め、除電装置を用いてパネルの表面や作業面を除電して
いた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の液晶
表示装置の製造方法では、除電装置によりパネルの表面
の電荷を除去することができたが、パネルの内部に蓄積
された電荷については安全に除去することができなかっ
た。そのため、他との電気的な接続や作業時のハンドリ
ングによって液晶モジュールの外部取り出し電極１１な
どに接触した瞬間に内部の電荷が急激に放電し、その放
電経路にあるＴＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２などを破壊に
至らしめていた。
表示装置の製造方法では、除電装置によりパネルの表面
の電荷を除去することができたが、パネルの内部に蓄積
された電荷については安全に除去することができなかっ
た。そのため、他との電気的な接続や作業時のハンドリ
ングによって液晶モジュールの外部取り出し電極１１な
どに接触した瞬間に内部の電荷が急激に放電し、その放
電経路にあるＴＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２などを破壊に
至らしめていた。
【０００６】本発明は上記の課題を解決するもので、除
電装置では除去できなかったパネルの内部の残留電荷を
安全かつ速やかに放電して、静電気に敏感なＴＦＴ素子
や駆動用ＩＣなどの破壊を防止できる液晶表示装置の製
造方法と、帯電の状態を判断できる評価方法とを提供す
ることを目的とする。
電装置では除去できなかったパネルの内部の残留電荷を
安全かつ速やかに放電して、静電気に敏感なＴＦＴ素子
や駆動用ＩＣなどの破壊を防止できる液晶表示装置の製
造方法と、帯電の状態を判断できる評価方法とを提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に係わる本発明
は、液晶モジュールのすべての外部取り出し電極を高抵
抗を介して相互に接続することにより、各取り出し電極
間の電位差をなくするとともに、パネルの内部に残留す
る電荷を安全かつ完全に放電させるようにした液晶表示
装置の製造方法である。
は、液晶モジュールのすべての外部取り出し電極を高抵
抗を介して相互に接続することにより、各取り出し電極
間の電位差をなくするとともに、パネルの内部に残留す
る電荷を安全かつ完全に放電させるようにした液晶表示
装置の製造方法である。
【０００８】これにより他との接続による低インピーダ
ンス回路への急激な放電を抑制し、その放電経路にある
ＴＦＴ素子や駆動用ＩＣの静電破壊を防止することがで
きる。
ンス回路への急激な放電を抑制し、その放電経路にある
ＴＦＴ素子や駆動用ＩＣの静電破壊を防止することがで
きる。
【０００９】請求項２に係わる本発明は、パネルの対向
電極を接地することにり外部の静電界とのシールド層を
形成するようにした液晶表示装置の製造方法である。
電極を接地することにり外部の静電界とのシールド層を
形成するようにした液晶表示装置の製造方法である。
【００１０】これにより、外部の静電界によるＴＦＴ素
子への影響を完全に遮断した状態で組立作業などを実行
することができる。
子への影響を完全に遮断した状態で組立作業などを実行
することができる。
【００１１】請求項３に係わる本発明は、液晶モジュー
ルにおける液晶の光の遮断性の程度によって、液晶モジ
ュールの内部に蓄積された残留電荷の程度を判断するよ
うにした液晶表示装置の評価方法である。
ルにおける液晶の光の遮断性の程度によって、液晶モジ
ュールの内部に蓄積された残留電荷の程度を判断するよ
うにした液晶表示装置の評価方法である。
【００１２】これにより、液晶モジュールの内部の残留
電荷の程度を判断して評価することができる。
電荷の程度を判断して評価することができる。
【００１３】
【発明の実施の形態】請求項１に係わる本発明におい
て、すべての取り出し電極を相互に高抵抗で接続する手
段としては、たとえば、あらかじめ各取り出し電極の位
置に対応して設けた接触片を相互に高抵抗で接続した治
具を用意し、その治具の接触片を取り出し電極に接触さ
せることにより取り出し電極を高抵抗を介して相互に接
続することができる。
て、すべての取り出し電極を相互に高抵抗で接続する手
段としては、たとえば、あらかじめ各取り出し電極の位
置に対応して設けた接触片を相互に高抵抗で接続した治
具を用意し、その治具の接触片を取り出し電極に接触さ
せることにより取り出し電極を高抵抗を介して相互に接
続することができる。
【００１４】請求項２に係わる本発明において、対向電
極を接地する手段は、たとえば対向電極取り出し電極を
接地電位に接続したクリップなどで挟んで接地すること
ができる。
極を接地する手段は、たとえば対向電極取り出し電極を
接地電位に接続したクリップなどで挟んで接地すること
ができる。
【００１５】請求項３に係わる本発明において、光の遮
断の程度を検出する手段は、たとえば液晶モジュールの
一面から光を照射し、他の面から出る透過光量を測定す
ることで実現することができる。
断の程度を検出する手段は、たとえば液晶モジュールの
一面から光を照射し、他の面から出る透過光量を測定す
ることで実現することができる。
【００１６】
【実施例】以下、本発明の液晶表示装置の製造方法およ
び評価方法の一実施例について説明する。なお、液晶表
示装置の構成は図１に示した構成と同じである。
び評価方法の一実施例について説明する。なお、液晶表
示装置の構成は図１に示した構成と同じである。
【００１７】液晶表示装置の組立が完了した時点では、
組立作業における摩擦や剥離などにより液晶４を囲むパ
ネルである上側ガラス基板２および下側ガラス基板５が
帯電し、これにより液晶４および画素電極６などが帯電
している。このとき、対向電極取り出し電極９、各素子
からの取り出し電極１０、および駆動用ＩＣ１２などの
取り出し電極のすべてを互いに高抵抗を介して接続し、
各端子を同一電位とするとともに、帯電電荷を高抵抗を
介して放電する。この放電は高抵抗を介して放電するの
で急激な放電ではなく、したがって、その放電経路にあ
るＴＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２を破壊することがない。
なお、高抵抗を各取り出し電極に接続するには、たとえ
ば、各取り出し電極に接触可能な接触片を備えた治具に
高抵抗を接続し、その治具を液晶モジュールに当てがう
ことにより高抵抗を接続することができる。また、高抵
抗の値は実状に合わせて決定することができるが、作業
性から放電時間が短い方が好ましいことは言うまでもな
い。
組立作業における摩擦や剥離などにより液晶４を囲むパ
ネルである上側ガラス基板２および下側ガラス基板５が
帯電し、これにより液晶４および画素電極６などが帯電
している。このとき、対向電極取り出し電極９、各素子
からの取り出し電極１０、および駆動用ＩＣ１２などの
取り出し電極のすべてを互いに高抵抗を介して接続し、
各端子を同一電位とするとともに、帯電電荷を高抵抗を
介して放電する。この放電は高抵抗を介して放電するの
で急激な放電ではなく、したがって、その放電経路にあ
るＴＦＴ素子や駆動用ＩＣ１２を破壊することがない。
なお、高抵抗を各取り出し電極に接続するには、たとえ
ば、各取り出し電極に接触可能な接触片を備えた治具に
高抵抗を接続し、その治具を液晶モジュールに当てがう
ことにより高抵抗を接続することができる。また、高抵
抗の値は実状に合わせて決定することができるが、作業
性から放電時間が短い方が好ましいことは言うまでもな
い。
【００１８】また、対向電極取り出し電極９をパネルが
帯電する前に接地し、表面静電界から画素電極６におけ
るＴＦＴ素子をシールドする。したがって、組立時に発
生する静電界はＴＦＴ素子に影響を与えず、各ＴＦＴ素
子を破壊から防護することができる。
帯電する前に接地し、表面静電界から画素電極６におけ
るＴＦＴ素子をシールドする。したがって、組立時に発
生する静電界はＴＦＴ素子に影響を与えず、各ＴＦＴ素
子を破壊から防護することができる。
【００１９】また、パネルの内部に蓄積された残留電荷
による帯電状態を、液晶モジュールの一面から他面に至
る光の遮断の程度により判断し、評価することができ
る。また、上側偏光板１、下側偏光板７を故意に剥離し
て表面に帯電させ、液晶モジュールの静電耐圧を評価す
ることもできる。
による帯電状態を、液晶モジュールの一面から他面に至
る光の遮断の程度により判断し、評価することができ
る。また、上側偏光板１、下側偏光板７を故意に剥離し
て表面に帯電させ、液晶モジュールの静電耐圧を評価す
ることもできる。
【００２０】
【発明の効果】請求項１に係わる本発明は、液晶モジュ
ールのすべての取り出し電極を高抵抗を介して相互に接
続するようにした液晶表示装置の製造方法とすることに
より、各取り出し電極間の電位差をなくするとともに、
パネルの内部に残留する電荷を安全かつ完全に放電し
て、他との接続時にＴＦＴ素子や駆動用ＩＣが静電破壊
する事態を防止することができる。
ールのすべての取り出し電極を高抵抗を介して相互に接
続するようにした液晶表示装置の製造方法とすることに
より、各取り出し電極間の電位差をなくするとともに、
パネルの内部に残留する電荷を安全かつ完全に放電し
て、他との接続時にＴＦＴ素子や駆動用ＩＣが静電破壊
する事態を防止することができる。
【００２１】請求項２に係わる本発明は、対向電極取り
出し電極をパネルが帯電する前に接地してパネルの表面
の静電界からＴＦＴ素子をシールドするようにした液晶
表示装置の製造方法とすることにより、外部の静電界の
ＴＦＴ素子への影響を完全に遮断した状態で作業するこ
とができ、作業中におけるＴＦＴ素子の静電破壊を防止
することができる。
出し電極をパネルが帯電する前に接地してパネルの表面
の静電界からＴＦＴ素子をシールドするようにした液晶
表示装置の製造方法とすることにより、外部の静電界の
ＴＦＴ素子への影響を完全に遮断した状態で作業するこ
とができ、作業中におけるＴＦＴ素子の静電破壊を防止
することができる。
【００２２】請求項３に係わる本発明は、液晶モジュー
ルの光の遮断の程度によりパネルの内部に残留する帯電
の程度を判断するようにした液晶表示装置の評価方法と
することにより、液晶モジュールの電荷が除去されたか
否かを判断することができる。
ルの光の遮断の程度によりパネルの内部に残留する帯電
の程度を判断するようにした液晶表示装置の評価方法と
することにより、液晶モジュールの電荷が除去されたか
否かを判断することができる。
【図１】本発明が係わる液晶表示装置の構成を示す断面
図
図
１ 上側偏光板 ２ 上側ガラス基板 ３ 対向電極 ４ 液晶 ５ 下側ガラス基板 ６ ＴＦＴ構造の画素電極 ７ 下側偏光板 ８ スペーサおよびシール材 ９ 対向電極取り出し電極 １０ 各素子からの取り出し電極 １１ 駆動用ＩＣなどを介した取り出し電極 １２ 駆動用ＩＣ
Claims (3)
- 【請求項１】 液晶モジュールのすべての外部取り出し
電極を高抵抗を介して相互に接続し、パネルの内部に蓄
積された残留電荷を安全かつ完全に放電させるようにし
た液晶表示装置の製造方法。 - 【請求項２】 液晶モジュールのパネルに設けた対向電
極を接地して外部の静電界をシールドし、画素電極にお
けるＴＦＴ素子への影響を排除するようにした液晶表示
装置の製造方法。 - 【請求項３】 液晶モジュールのパネルの内部に蓄積さ
れた残留電荷による液晶の光の遮断の程度によって、液
晶モジュールの帯電の程度を判断するようにした液晶表
示装置の評価方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8354493A JPH10177189A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 液晶表示装置の製造方法および評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8354493A JPH10177189A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 液晶表示装置の製造方法および評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10177189A true JPH10177189A (ja) | 1998-06-30 |
Family
ID=18437943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8354493A Pending JPH10177189A (ja) | 1996-12-18 | 1996-12-18 | 液晶表示装置の製造方法および評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10177189A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005003986A (ja) * | 2003-06-12 | 2005-01-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器、電気光学装置の製造方法、電気光学装置の検査装置及び電子部品の実装装置 |
| JP2014143168A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Takasago Thermal Eng Co Ltd | 電子部品の除電方法および除電装置 |
-
1996
- 1996-12-18 JP JP8354493A patent/JPH10177189A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005003986A (ja) * | 2003-06-12 | 2005-01-06 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電子機器、電気光学装置の製造方法、電気光学装置の検査装置及び電子部品の実装装置 |
| JP2014143168A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-08-07 | Takasago Thermal Eng Co Ltd | 電子部品の除電方法および除電装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |