JPH10172915A - ウエーハ熱処理装置 - Google Patents
ウエーハ熱処理装置Info
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- JPH10172915A JPH10172915A JP35286896A JP35286896A JPH10172915A JP H10172915 A JPH10172915 A JP H10172915A JP 35286896 A JP35286896 A JP 35286896A JP 35286896 A JP35286896 A JP 35286896A JP H10172915 A JPH10172915 A JP H10172915A
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Abstract
やパーティクルの発生を抑え、高い熱遮断性を維持し、
処理効率が向上する枚葉式のウェーハ熱処理装置の提
供。 【解決手段】 ウエーハ保持部22Aに保持されたウエ
ーハ10の熱処理面側を偏平状の偏平ドーム状に形成
し、前記ウエーハ10の熱処理空間を形成する石英ガラ
ス製外側容器12Aを設け、該外側容器12Aの基部の
開口周囲に断熱体20を配設するとともに、前記外側容
器12Aの内側に前記ウエーハ10を包被してウェーハ
に対向して多数の開口孔16Aaを有した内側容器16
Aを配置して反応容器11Aを構成し、前記外側容器1
2A内面の反応ガスをウェーハに導入するようになした
ことを特徴とする。
Description
拡散処理、酸化処理、減圧CVDなどに使用される半導
体ウェーハ熱処理装置に係わり、特にウェーハを直立状
に収納する枚葉式の半導体ウェーハの熱処理装置に関す
る。
場合、複数枚のウェーハをウェーハボートに積層配設載
置して、反応容器内での一括熱処理するバッチ方式が採
用されている。この方式では、ウェーハとボートとの接
触部分近傍で生じる気流の乱れや、ウェーハを多段積層
することで気流に乱れを起し投入ウェーハを均質に処理
することは困難であった。
前記バッチ処理方式では重量負担に対応するボート及び
支持部の製作が困難であること、また、大口径化に伴う
反応容器の大型化、加熱温度分布やガス分布の均一化、
加熱源の無用の増大化につながり、ウェーハの大口径化
に対応するのには従来のバッチ方式では対処困難な種々
の問題点があった。
積密度化の半導体製造プロセスではサブミクロン単位の
精度が要求され、複数枚のウェーハを一括処理するバッ
チシステムではウェーハの積層位置やガス流の流入側と
排出側とはそれぞれ処理条件にバラツキを生じ、また積
層されたウェーハ相互間で影響を及ぼし合い、またボー
トの接触部位よりパーティクル等が発生し、高品質の加
工は困難であった。
ウェーハ毎に熱処理を行なう枚葉式熱処理装置が注目さ
れ、種々の提案がなされている。例えば特開平5ー29
1154号公報に開示されている熱処理装置において
は、サセプタの下方に設けた加熱源によりサセプタ上に
水平状に載置したウェーハを、低圧反応ガス雰囲気中で
加熱してウェーハ上に成膜するようにしてある。上記水
平状にウェーハを載置する場合は、ウェーハに自重によ
る撓みの発生、反応容器が大型になる、従って加熱源等
の動力源も大きくなる。等の問題点がある。
は、図11に示す提案が開示されている。上記提案は図
に示すように、高温炉(加熱部)120とウェーハ支持
装置130とよりなる。高温炉120は、直方体形状に
形成され、複数に分割された平板状ヒータ121、石英
ガラス製反応管122、均熱管123、断熱材124で
構成され、高温炉120は下部が解放され、ウェーハ1
0が支持装置130の溝131に載せられ高温炉120
への出入を行なうようにしてある。なお、図示してない
ガス供給管により使用目的に応じて所要ガスが上方から
下方へ流れるようにしてある。また、ウェーハ支持装置
130は、パイプ状の支柱133、前記溝131を設け
た支持部132とベース134とよりなり、前記溝13
1は2枚以上のウェーハが載置できるように複数個設け
てある。
いては、ウェーハを直立状に収納する構成であるが、高
温炉は直方体の形状により構成されているため、下記問
題点がある。 1)、高温炉の形状は直方体であるため、内蔵する反応
管、均熱管も同一形状の直方体と考えられ、また、上部
は管壁に直角の上底により形成されているため、真空強
度が低い。 2)、ウェーハに対する輻射熱の分布及び反応ガス流の
分布が均一でない。
発明は、均熱性を維持しつつ而も装置の大型化の抑制や
パーティクルの発生を抑え、高い熱遮断性を維持し得る
とともに、処理効率が向上する枚葉式のウェーハ熱処理
装置の提供を目的としたものである。
ハの1又は2枚を直立支持し熱処理を行うウエーハ熱処
理装置において、ウエーハ保持部に保持された前記ウエ
ーハの熱処理面側を偏平状の偏平ドーム状に形成し、前
記ウエーハの熱処理空間を形成する石英ガラス製外側容
器を設け、該外側容器の基部の開口周囲に断熱体を配設
するとともに、前記外側容器の内側に前記ウエーハを包
被してウェーハに対向して多数の開口孔を有した内側容
器を配置して反応容器を構成し、前記外側容器内面の反
応ガスをウェーハに導入するようになしたことを特徴と
する。
は直立タイプであり、外側容器はウェーハの熱処理面に
対し扁平形状とした扁平ドーム状としているので、前記
外側容器は薄肉を図っても真空強度があり、肉薄の為に
軽量化が図れる。また、ウエーハの熱処理面側の外側容
器を偏平化している為に、その分発熱体を接近させるこ
とができ、外側容器の大きさを必要最小限に押さえるこ
とができるため、結果として装置の小型化と加熱源等の
動力源も小さくする事が出来る。
のでウェーハ表面への熱分布を均一とすることができる
とともに、外側容器内側曲面に沿ってガスの流れが良
く、反応ガス流の分布も一様にすることができる。ま
た、内側容器に多数の放出孔によりウェーハに向かって
反応ガスの放出を可能としているので、ウェーハ表面に
効率のよい処理を行うことができる。
る支持容器と該支持容器に被蓋する中蓋容器とで構成さ
れるとともに、ウェーハ収納状態で前記外側容器内の熱
処理位置と容器外のウェーハ交換位置間を昇降可能に構
成することも本発明の有効な手段である。このように構
成することにより、ウェーハ収納状態で前記外側容器外
へ前記内側容器を移動し、ウェーハを交換することがで
きる。
面のほぼ延設方向に反応ガスの排出通路を設けて構成す
ることも本発明の有効な手段である。このように構成し
ているので、内側容器に多数の放出孔によりウェーハに
向かって放出した反応ガスを、ウェーハ表面で処理した
後に、ウェーハ面の延設方向に沿って放出可能であり、
ウェーハ表面に効率のよい処理を行うことができる。
材と石英ガラス発泡体とを交互に積層した多段積層体よ
り構成することも本発明の有効な手段である。このよう
に、外側容器の基部の開口周囲に断熱体を配設し、該断
熱体を不透明石英ガラス板材と石英ガラス発泡体とを交
互に積層した多段積層体より構成することにより、前記
外側容器の加熱処理空間内で加熱処理した高温が、前記
多段積層体で遮断され、処理空間内の熱降下や均熱性の
維持が可能となり、結果として高品質のウエーハ熱処理
が出来る。
支持装置は、前記反応容器外の台座に着脱可能に配置さ
れるように構成することも本発明の有効な手段である。
このように構成することにより、必要に応じて直立支持
装置の交換が可能である。また、直立支持装置の保持手
段を複数有する台座55(図8)を設けることにより4
枚以上のウェーハのマルチ処理が可能である。
適な実施の形態を例示的に詳しく説明する。但し、この
実施の形態に記載されている構成部品の寸法、材質、形
状、その相対的配置等は特に特定的な記載がないかぎり
は、この発明の範囲をそれに限定する趣旨ではなく、単
なる説明例にすぎない。
葉式熱処理装置の概略構成を示す断面図である。同図に
おいて、平板状発熱体3A,3Aにより内部を加熱され
る反応容器11Aは、上部に反応ガスを流入するガス流
入孔13Aを設けた石英ガラスよりなるドーム状のドー
ム外管(外側容器)12Aと、表面に多数のガス放出孔
16Aaを設けたドーム内管(内側容器)16Aとで一
体形成体し、2重構造体を構成し、この2重構造体の下
部を不透明石英ガラスよりなる不透明フランジ14Aを
さらに一体的に溶接接合して構成されている。
る耐熱機能性である、高い熱衝撃耐性の保持を可能とす
るとともに、内臓する直立支持装置21Aに収納支持さ
れたウェーハ10に対して適当圧のもとにガス放出を
し、該ウェーハ10の表面に対して均一なガス分布を形
成するようにしてある。そして、前記反応容器11Aは
ウェーハ10の熱処理面に対し扁平形状とした扁平ドー
ム状としているので、反応容器11Aの大きさを必要最
小限に押さえることができる。
断熱体20が一体構成され、この積層断熱体20は、石
英ガラス発泡体17と不透明石英ガラス板体18とを交
互に積層一体構成してある。なお、不透明石英ガラスは
見かけ密度0.9g/cm3 以上の多孔質石英ガラスで
構成し、石英ガラス発泡体は見かけ密度0.1〜0.8
g/cm3 で連通気泡率60%以下の多孔質石英ガラス
で構成してある。
の上部に設けた、前記反応容器内の熱の外部への伝達を
防止するために、泡入若しくは他の手段により不透明化
された石英ガラス材よりなる支持治具22Aに保持さ
れ、また、直立支持装置21Aにはベース体8Aが気密
嵌合され、該ベース体8Aは前記反応容器内の熱の外部
への伝達を防止するために、泡入若しくは他の手段によ
り不透明化された石英ガラス材より構成されている。そ
して、前記ベース体8Aはその上面にOリング7を介し
て反応容器11A内を気密密閉している。また、直立支
持装置21Aは、後述する図8の支持台50、もしくは
55に支持される。
ように、前記直立支持装置21Aを下降させウェーハを
交換し、反応容器体11Aの使用時にはOリング7を介
して反応容器内を気密処理可能にしているが、上記した
ように多段断熱層を介在させているため、Oリングの熱
的劣化を十分に防止することができる。
枚葉式熱処理装置の概略構成を示す断面図である。同図
において、平板状発熱体3B,3Bにより内部を加熱さ
れる反応容器11Bは、上部に反応ガスを流入するガス
流入孔13Bを設けた石英ガラスよりなるドーム状のド
ーム外管(外側容器)12Bと、表面に多数のガス放出
孔16Baを設けたドーム内管(内側容器)16Bとで
一体形成体し、2重構造体を構成し、この2重構造体の
下部を不透明石英ガラスよりなる不透明フランジ14B
をさらに一体的に溶接接合して構成されている。
る耐熱機能性である、高い熱衝撃耐性の保持を可能とす
るとともに、内臓する直立支持装置21Bに2枚のウエ
ーハの加熱処理面が外側に位置するように互いに裏面を
背中合わせに収納支持されたウェーハ10、10に対し
て適当圧のもとにガス放出をし、該ウェーハ10、10
の表面に対して均一なガス分布を形成するようにしてあ
る。そして、前記反応容器11Bはウェーハ10、10
の熱処理面に対し扁平形状とした扁平ドーム状としてい
るので、反応容器11Bの大きさを必要最小限に押さえ
ることができる。
した第1実施の形態同じ構成の積層断熱体20が一体構
成されている。
21Bの上部に設けた、前記反応容器内の熱の外部への
伝達を防止するために、泡入若しくは他の手段により不
透明化された石英ガラス材よりなる支持治具22Bに保
持され、また、直立支持装置21Bにはベース体8Bが
気密嵌合され、該ベース体は前記反応容器内の熱の外部
への伝達を防止するために、泡入若しくは他の手段によ
り不透明化された石英ガラス材より構成されている。そ
して、前記ベース体8Bはその上面にOリング7を介し
て反応容器11B内を気密密閉している。また、直立支
持装置21Bは、後述する図8の支持台50、もしくは
55に支持される。
ように、前記直立支持装置21Bを下降させウェーハを
交換し、反応容器体11Bの使用時にはOリング7を介
して反応容器内を気密処理可能にしているが、上記した
ように多段断熱層を介在させているため、Oリングの熱
的劣化を十分に防止することができる。
のウエーハ装填方法について説明する。図3は、第1実
施の形態に係るウェーハ収納方法を示す説明図である。
同図において、前記直立支持装置21Aに1枚のウエー
ハを直立支持させる場合には、前記直立支持装置21A
の基端側に図示しない起伏機構が設けられており、反応
容器11Aの下側開口より前記支持治具22Aを抜出し
た後((1)→(2))、ほぼ水平方向に傾動(伏設)
させ((2)→(3))、加熱処理後の前記1枚のウエ
ーハ10を抜出して処理済ウエーハストッカ62に装填
した後、未処理ウエーハを未処理ウエーハ収納ストッカ
63より引出し、前記支持治具22Aに装填させた後、
起立させ所定の処理を行う。
のウエーハ装填方法についての説明図である。同図にお
いて、2枚のウエーハ装填方式の場合には、前記支持治
具22Bの起立位置の一側に処理済ウエーハストッカ6
2と未処理ウエーハ収納ストッカ63を配置してなる一
のウエーハ装填部70Aを設け、前記支持治具22Bが
不図示の起伏機構を介してウエーハ装填側に向け伏設且
つ軸を中心として180°回転可能に構成する。
立支持させた支持治具22Bを反応容器11B下側開口
より抜出した後((1)→(2))、一のウエーハ装填
部70A側にほぼ水平方向に傾動(伏設)させ((2)
→(3))、ウェーハ保持スリットに位置する加熱処理
後の上側の第1のウエーハ101を抜出して処理済ウエ
ーハストッカ62に装填した後、未処理ウエーハ収納ス
トッカ63より未処理ウエーハを引出し、前記ウェーハ
保持スリットに装填させる。
せ且つ180°軸中心に回転させた後、前記一のウエー
ハ装填部70B側にほぼ水平方向に傾動(伏設)させ
((3)→(4))、ウェーハ保持スリットに位置する
加熱処理後の第2のウエーハ102を抜出して処理済ウ
エーハストッカ62に装填し、次に未処理ウエーハ収納
ストッカ63より未処理ウエーハを引出し、180°反
転により上側となったウェーハ保持スリットに装填させ
る。前記支持治具22Bに2枚のウエーハを装填させた
後、起立させ、反応容器11B内にウェーハ10、10
を収納((2)→(1))し所定の処理を行う。
側ウエーハが同一方向位置で挿入する事が出来る為に、
加熱処理面を上側に積層配置した一のウエーハストッカ
のみで加熱処理面が夫々外側に向けて装填する事が出
来、結果として装填作業の容易化と自動化が達成し得
る。
理装置の概略構成を示す断面図である。同図において、
平板状発熱体3Cにより内部を加熱される反応容器2C
は、石英ガラスよりなる一体形成体で不透明石英ガラス
よりなる不透明フランジ6Cに一体的に溶接接合形成さ
れ、熱遮断性を前記不透明フランジ6Cにより持たせて
いる。そして、前記反応容器2Cはウェーハ10の熱処
理面に対し扁平形状とした扁平ドーム状としているの
で、反応容器2Cの大きさを必要最小限に押さえること
ができる。
ハ10,10の加熱処理面が外側に位置するように互い
に裏面を背中合わせに直立収納支持する直立収納部30
Cが設けられ、該直立収納部30Cは下部に、前記反応
容器2C内の熱の外部への伝達を防止するために、泡入
若しくは他の手段により不透明化した不透明部位の断熱
部19Cを設けた直立支持装置21Cが延設されてい
る。該直立支持装置21C内には直立収納部30C内の
反応ガスを吸引する通路21Caが設けられている。
反応容器内の熱の外部への伝達を防止するために、泡入
若しくは他の手段により不透明化された石英ガラス材よ
りなるベース体8Cに気密嵌合するとともに、該ベース
体8Cはその上面にOリング7を介して反応容器2Cを
気密密閉している。直立収納部30Cの詳細は後述す
る。
理装置の概略構成を示す断面図である。同図において、
平板状発熱体3Dにより内部を加熱される反応容器2D
は、石英ガラスよりなる一体形成体で不透明石英ガラス
よりなる不透明フランジ6Dに一体的に溶接接合形成さ
れ、熱遮断性を前記不透明フランジ6Dにより持たせて
いる。そして、前記反応容器2Dはウェーハ10の熱処
理面に対し扁平形状とした扁平ドーム状としているの
で、反応容器2Dの大きさを必要最小限に押さえること
ができる。
を直立収納する直立収納部30Dが設けられ、該直立収
納部30Dは下部に、前記反応容器2D内の熱の外部へ
の伝達を防止するために、泡入若しくは他の手段により
不透明化した不透明部位の断熱部19Dを設けた直立支
持装置21Dが延設されている。該直立支持装置21D
内には直立収納部30D内の反応ガスを吸引する通路2
1Daが設けられている。
反応容器内の熱の外部への伝達を防止するために、泡入
若しくは他の手段により不透明化された石英ガラス材よ
りなるベース体8Dに気密嵌合するとともに、該ベース
体8Dはその上面にOリング7を介して反応容器2Dを
気密密閉している。
る直立収納部30(C,D)の構成を説明する。図7
(A)には、中蓋35と支持容器31とで構成したウェ
ーハの直立収納部30の概略の構造を示している。中蓋
35は石英ガラス部材よりなる円筒軸芯方向半割状の容
器で、半円筒形状面には後述する係合凹部31c,31
cと係合する係合片35c,35c及び縦長スリット3
3を複数設けるとともに、半円状側面には多数の子孔3
4を設けた構成にしてある。
りなり、半円筒形状面には前記中蓋35の係合片35
c,35cと係合する係合凹部31c,31c、複数の
縦長スリット33が設けられるとともに、側面には無数
の小孔34を設け、内部の円筒面には図7(B)に示す
ウェーハ保持用の2本の傾斜溝32aを設けた台座32
を3〜4個設け、2枚のウェーハを幾分傾斜状に並設収
納するようにしてある。尚、この直立収納部30はウェ
ーハ保持用の台座32のウェーハ保持用傾斜溝を1本と
することで図6に示す第4実施の形態に適用可能であ
る。
31の底には開口部31dが開設され、該開口部31d
を介して反応ガスを排出する通路21Ca,21Da
(図5,図6)を設けたベース基部40が設けられ、該
ベース基部40は、不透明石英ガラス、発泡石英ガラス
の単体ないし積層構成した断熱部19(C,D)を有す
る直立支柱である直立支持装置21(C,D)が延出
し、該直立支持装置21の下方にはキー41が設けら
れ、図8に示す支持台50の装着孔50aに着脱可能に
構成されている。
着される装着孔55a〜55dを有し、これら装着孔は
内部に前記キー溝を有し前記直立支柱に連設する支持治
具22A,22B、もしくは直立収納部30が並設でき
る距離離間して設けられ、マルチ枚葉システムを形成す
るようにしてある。
の断熱構造により加熱必要の直立収納部のみの加熱を可
能にし、ウェーハ表面の熱分布の均一性保持を可能にし
ている。また、前記直立収納部とベース基部とはいった
い構成にし高い耐熱衝撃性をもたせて、枚葉熱処理に必
要な高速加熱及び高速冷却に対して十分な機械的対応力
を持たせるようにしてある。
要に応じて第1及び第2実施の形態に用いる多段積層体
20を用いてもよいことは勿論のことである。また、第
3及び第4実施の形態において用いる直立収納部30
は、図7において、円筒を2分割した形状を有している
が、これに限定されるものではなく、表面35a及び3
5b、また、31a及び31bは適宜の極率を有して湾
曲形状に形成してもよい。
ウエーハ装填方法について説明する。図9において、2
枚のウエーハ装填方式の場合には、前記直立支持装置2
1C起立位置の一側に処理済ウエーハストッカ62と未
処理ウエーハ収納ストッカ63を配置してなる一のウエ
ーハ装填部70Aを設け、前記直立支持装置21Cが不
図示の起伏機構を介してウエーハ装填側に向け伏設且つ
軸を中心として180°回転可能に構成する。
立支持させた直立収納部30Cを反応容器2C下側開口
より抜出した後((1)→(2))、中蓋35Cを残し
て支持容器31Cを降下させる((2)→(3)→
(4))。一のウエーハ装填部70A側にほぼ水平方向
に傾動(伏設)させ((4)→(5))、ウェーハ保持
スリットに位置する加熱処理後の上側の第1のウエーハ
101を抜出して処理済ウエーハストッカ62に装填し
た後、未処理ウエーハ収納ストッカ63より未処理ウエ
ーハを引出し、前記ウェーハ保持スリットに装填させ
る。
させ且つ180°軸中心に回転させた後、前記一のウエ
ーハ装填部70B側にほぼ水平方向に傾動(伏設)させ
((4)→(6))、ウェーハ保持スリットに位置する
加熱処理後の第2のウエーハ102を抜出して処理済ウ
エーハストッカ62に装填し、次に未処理ウエーハ収納
ストッカ63より未処理ウエーハを引出し、180°反
転により上側となったウェーハ保持スリットに装填させ
る。前記直立収納部30Cに2枚のウエーハを装填させ
た後、起立させ、反応容器2C内にウェーハ10、10
を収納((2)→(1))し所定の処理を行う。
側ウエーハが同一方向位置で挿入する事が出来る為に、
加熱処理面を上側に積層配置した一のウエーハストッカ
のみで加熱処理面が夫々外側に向けて装填する事が出
来、結果として装填作業の容易化と自動化が達成し得
る。
方法を説明する。図10において、前記直立支持装置2
1Dに1枚のウエーハを直立支持させる場合には、前記
直立支持装置21Dの基端側に図示しない起伏機構が設
けられており、反応容器2Dの下側開口より前記直立収
納部30Dを抜出した後((1)→(2))、中蓋35
Dをのこして支持容器31Dを降下させ((2)→
(3))、ほぼ水平方向に傾動(伏設)させ((3)→
(4))、加熱処理後の前記1枚のウエーハ10を抜出
して処理済ウエーハストッカ62に装填した後、未処理
ウエーハを未処理ウエーハ収納ストッカ63より引出
し、前記支持容器31Dに装填させた後、起立させ
((4)→(3))、反応容器2Dにウェーハ10を収
納して((2)→(1))、所定の処理を行う。
下部に開口部を設け、ウエーハ支持治具を配置してウェ
ーハを起立して熱処理を行っているが、反応容器の上部
に開口部を有し、ウエーハ支持治具を前記上部の開口部
に配置するとともにウェーハを吊り下げ保持してもよい
ことは勿論である。
と、反応容器内のウェーハの収納姿勢は、重力方向にウ
ェーハ面が直立するタイプであり、ウェーハに自重によ
る撓みの発生を極力防止でき、ウェーハ表面への熱分布
を均一と反応ガスの淀みない流れを可能とし、熱処理に
よる半導体特性のバラツキを極力防止できるとともに、
ウェーハを水平載置した場合の撓みによるウェーハ保持
機構に余裕をとり反応容器が大型化することもなく、収
納ウェーハ面に対し扁平曲面を持つ扁平ドーム状とし、
前記外側容器は薄肉を図っても真空強度があり、肉薄の
為に軽量化が図れ、反応容器の大きさを必要最小限に押
さえる構成とし、ウェーハの大口径化に対応し、次世代
の64M、1G等の高集積密度化に対処することができ
る。
偏平化している為に、その分発熱体を接近させることが
でき、外側容器の大きさを必要最小限に押さえることが
できるため、結果として装置の小型化と加熱源等の動力
源も小さくする事が出来る。また、外側容器を扁平ドー
ム状としているのでウェーハ表面への熱分布を均一とす
ることができるとともに、外側容器の内側曲面に沿って
ガスの流れが良く、反応ガス流の分布も一様にすること
ができる。また、内側容器に多数の放出孔によりウェー
ハに向かって反応ガスの放出を可能としているので、ウ
ェーハ表面に効率のよい処理を行うことができる。
る支持容器と該支持容器に被蓋する中蓋容器とで構成さ
れるとともに、ウェーハ収納状態で前記外側容器内の熱
処理位置と容器外のウェーハ交換位置間を昇降可能に構
成した場合は、ウェーハ収納状態で前記外側容器外へ前
記内側容器を移動し、ウェーハを交換することができ
る。
面のほぼ延設方向に反応ガスの排出通路を設けて構成し
ているので、内側容器に多数の放出孔によりウェーハに
向かって放出した反応ガスを、ウェーハ表面で処理した
後に、ウェーハ面の延設方向に沿って放出可能であり、
ウェーハ表面に効率のよい処理を行うことができる。
材と石英ガラス発泡体とを交互に積層した多段積層体よ
り構成しているので、外側容器の基部の開口周囲に断熱
体を配設し、該断熱体を不透明石英ガラス板材と石英ガ
ラス発泡体とを交互に積層した多段積層体より構成する
ことにより、前記外側容器の加熱処理空間内で加熱処理
した高温が、前記多段積層体で遮断され、処理空間内の
熱降下や均熱性の維持が可能となり、結果として高品質
のウエーハ熱処理が出来る。
支持装置は、前記反応容器外の台座に着脱可能に配置さ
れるように構成しているので、必要に応じて直立支持装
置の交換が可能である。また、直立支持装置の保持手段
を複数有する台座55を設けることにより4枚以上のウ
ェーハのマルチ処理が可能である。
非透明石英ガラス材で形成され延出部位の一部として機
能するように構成しているので、これによりフランジの
シール部分に高温が伝搬する恐れがなく、前記支持治具
の不透明部位とあいまって支持治具基端側にウェーハ交
換用の昇降治具を配した場合その部分にも熱伝搬が生じ
る恐れがなく、これらを耐熱治具で構成する必要がなく
なる。
維持しつつ而も装置の大型化の抑制やパーティクルの発
生を抑え、高い熱遮断性を維持し得る枚葉式熱処理装置
を提供することができる。
置の概略構成を示す断面図である。
理装置の概略構成を示す断面図である。
説明図である。
説明図である。
置の概略構成を示す断面図である。
置の概略構成を示す断面図である。
手段を説明する構成図である。
る。
説明図である。
す説明図である。
図である。
1C,1D) 2 反応容器(2C,2D) 3 平板状発熱体(3A,3B,3
C,3D) 8 ベース体(8A,8B,8C,8
D) 10 半導体ウェーハ 11 反応容器(11A,11B) 12A,12B 外側ドーム(外側容器) 14 不透明フランジ 16A,16B 内側ドーム(内側容器) 17 石英ガラス発泡体 18 不透明石英ガラス体 19 断熱部(19C,19D) 20 積層断熱体 21 直立支持装置(21A,21B,
21C,21D) 22 支持治具(22A,22B) 30 直立収納部 31 支持容器 32 ウェーハ支持台(32C,32
D) 33 スリット 34 小孔 35 中蓋 40 ベース基部 41 キー 50、55 支持台
Claims (5)
- 【請求項1】 半導体ウェーハの1又は2枚を直立支持
し熱処理を行うウエーハ熱処理装置において、 ウエーハ保持部に保持された前記ウエーハの熱処理面側
を偏平状の偏平ドーム状に形成し、前記ウエーハの熱処
理空間を形成する石英ガラス製外側容器を設け、該外側
容器の基部の開口周囲に断熱体を配設するとともに、 前記外側容器の内側に前記ウエーハを包被してウェーハ
に対向して多数の開口孔を有した内側容器を配置して反
応容器を構成し、前記外側容器内面の反応ガスをウェー
ハに導入するようになしたことを特徴とするウエーハ熱
処理装置。 - 【請求項2】 前記内側容器は、ウェーハを保持する支
持容器と該支持容器に被蓋する中蓋容器とで構成される
とともに、ウェーハ収納状態で前記外側容器内の熱処理
位置と容器外のウェーハ交換位置間を昇降可能に構成し
たことを特徴とする請求項1記載のウェーハ熱処理装
置。 - 【請求項3】 前記内側容器は、包被するウェーハ面の
ほぼ延設方向に反応ガスの排出通路を設けて構成したこ
とを特徴とする請求項1及び2記載のウェーハ熱処理装
置。 - 【請求項4】 前記断熱体は、不透明石英ガラス板材と
石英ガラス発泡体とを交互に積層した多段積層体よりな
ることを特徴とする請求項1記載のウェーハ熱処理装
置。 - 【請求項5】 前記ウェーハ保持部を支持する直立支持
装置は、前記反応容器外の台座に着脱可能に配置される
ことを特徴とする請求項1記載のウェーハ熱処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35286896A JP4071313B2 (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | ウエーハ熱処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP35286896A JP4071313B2 (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | ウエーハ熱処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10172915A true JPH10172915A (ja) | 1998-06-26 |
JP4071313B2 JP4071313B2 (ja) | 2008-04-02 |
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ID=18427002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP35286896A Expired - Fee Related JP4071313B2 (ja) | 1996-12-13 | 1996-12-13 | ウエーハ熱処理装置 |
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Country | Link |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006505947A (ja) * | 2002-11-05 | 2006-02-16 | ウェーハマスターズ・インコーポレイテッド | 強制対流利用型の急速加熱炉 |
-
1996
- 1996-12-13 JP JP35286896A patent/JP4071313B2/ja not_active Expired - Fee Related
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A977 | Report on retrieval |
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