JPH10170829A - 光学顕微鏡 - Google Patents
光学顕微鏡Info
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- JPH10170829A JPH10170829A JP33233396A JP33233396A JPH10170829A JP H10170829 A JPH10170829 A JP H10170829A JP 33233396 A JP33233396 A JP 33233396A JP 33233396 A JP33233396 A JP 33233396A JP H10170829 A JPH10170829 A JP H10170829A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 集光効率が優れた光学顕微鏡を提供する。
【解決手段】 光源１０から出射された励起光は、ピン
ホール１１、励起フィルタ１２、ダイクロイックミラー
１３および対物レンズ２０Ａを経て、試料５０に照射さ
れる。試料５０から発生した蛍光の一部は、対物レンズ
２０Ａ、ダイクロイックミラー１３、励起光カットフィ
ルタ２１Ａおよびピンホール２２Ａを経て検出器２３Ａ
により検出される。同様に、対物レンズ２０Ｂ乃至２０
Ｄそれぞれに入射した蛍光は、検出器２３Ｂ乃至２３Ｄ
それぞれにより検出される。試料５０は、ガラス棒３１
の一端に載せられて、制御部４０からの指示に基づいて
３次元マニピュレータ３０により走査される。制御部５
０により、試料５０の位置および検出器２３Ａ乃至２３
Ｄそれぞれにより検出された蛍光の強度に基づいて、試
料５０の３次元画像が再構成される。
ホール１１、励起フィルタ１２、ダイクロイックミラー
１３および対物レンズ２０Ａを経て、試料５０に照射さ
れる。試料５０から発生した蛍光の一部は、対物レンズ
２０Ａ、ダイクロイックミラー１３、励起光カットフィ
ルタ２１Ａおよびピンホール２２Ａを経て検出器２３Ａ
により検出される。同様に、対物レンズ２０Ｂ乃至２０
Ｄそれぞれに入射した蛍光は、検出器２３Ｂ乃至２３Ｄ
それぞれにより検出される。試料５０は、ガラス棒３１
の一端に載せられて、制御部４０からの指示に基づいて
３次元マニピュレータ３０により走査される。制御部５
０により、試料５０の位置および検出器２３Ａ乃至２３
Ｄそれぞれにより検出された蛍光の強度に基づいて、試
料５０の３次元画像が再構成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、試料を光学的に観
察することができる光学顕微鏡に関するものである。
察することができる光学顕微鏡に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、光学顕微鏡において、試料か
ら発生した光束（散乱光、透過光、蛍光その他の発光）
を効率よく集光して、集光効率を向上させることで検出
感度を改善する試みがなされている。例えば、観測対象
である試料を囲むように３つの対物レンズが備えられた
光学顕微鏡が知られている（S.Lindek, R.Pick and E.
H.K.Stelzer, Rev. Sci. Instrum., Vol.65, pp.3367-3
372 (1994) ）。図３は、この従来の複数の対物レンズ
を備えた光学顕微鏡における対物レンズの配置の説明図
である。
ら発生した光束（散乱光、透過光、蛍光その他の発光）
を効率よく集光して、集光効率を向上させることで検出
感度を改善する試みがなされている。例えば、観測対象
である試料を囲むように３つの対物レンズが備えられた
光学顕微鏡が知られている（S.Lindek, R.Pick and E.
H.K.Stelzer, Rev. Sci. Instrum., Vol.65, pp.3367-3
372 (1994) ）。図３は、この従来の複数の対物レンズ
を備えた光学顕微鏡における対物レンズの配置の説明図
である。
【０００３】この光学顕微鏡では、３つの対物レンズ２
乃至４それぞれの光軸は、試料１が置かれる測定空間内
の１点を通り且つ一平面上にある。そして、３つの対物
レンズのうちの１つの対物レンズ２により、試料１に対
して励起光を照射するとともに、試料１から発生した蛍
光を３つの対物レンズ２乃至４により同時に入射して検
出器（図示せず）により検出する。このように、試料１
から発生した蛍光を３つの対物レンズ２乃至４により検
出することにより、蛍光の集光効率の向上を図ってい
る。
乃至４それぞれの光軸は、試料１が置かれる測定空間内
の１点を通り且つ一平面上にある。そして、３つの対物
レンズのうちの１つの対物レンズ２により、試料１に対
して励起光を照射するとともに、試料１から発生した蛍
光を３つの対物レンズ２乃至４により同時に入射して検
出器（図示せず）により検出する。このように、試料１
から発生した蛍光を３つの対物レンズ２乃至４により検
出することにより、蛍光の集光効率の向上を図ってい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、集
光効率は、対物レンズを１つ或いは２つ利用した場合と
比較すれば大きい。試算によれば、集光効率の最大値
は、１つの対物レンズを使用した場合は約３０％、２つ
の対物レンズを対向して配置した場合は約６０％が、そ
れぞれ得られる。これに対して、上記従来技術によれ
ば、集光効率の最大は、対物レンズ２および対物レンズ
３それぞれの光軸のなす角度を９０度とし、且つ、対物
レンズ２および対物レンズ４それぞれの光軸のなす角度
を１３５度とした場合に得られ、その値の理論的限界は
７９％である。
光効率は、対物レンズを１つ或いは２つ利用した場合と
比較すれば大きい。試算によれば、集光効率の最大値
は、１つの対物レンズを使用した場合は約３０％、２つ
の対物レンズを対向して配置した場合は約６０％が、そ
れぞれ得られる。これに対して、上記従来技術によれ
ば、集光効率の最大は、対物レンズ２および対物レンズ
３それぞれの光軸のなす角度を９０度とし、且つ、対物
レンズ２および対物レンズ４それぞれの光軸のなす角度
を１３５度とした場合に得られ、その値の理論的限界は
７９％である。
【０００５】しかしながら、上記従来技術では、対物レ
ンズを互いに９０度の配置とすることは物理的に不可能
であり、実際には１００度程度の配置としなければなら
ないため、集光効率は更に低くなり充分とは言えない。
特に、一般的に微弱な蛍光を観察する蛍光顕微鏡や、照
明光および検出光それぞれをピンホールにより絞る共焦
点型顕微鏡においては、集光効率の更なる向上が望まれ
ている。
ンズを互いに９０度の配置とすることは物理的に不可能
であり、実際には１００度程度の配置としなければなら
ないため、集光効率は更に低くなり充分とは言えない。
特に、一般的に微弱な蛍光を観察する蛍光顕微鏡や、照
明光および検出光それぞれをピンホールにより絞る共焦
点型顕微鏡においては、集光効率の更なる向上が望まれ
ている。
【０００６】本発明は、上記問題点を解消する為になさ
れたものであり、集光効率が優れた光学顕微鏡を提供す
ることを目的とする。
れたものであり、集光効率が優れた光学顕微鏡を提供す
ることを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る光学顕微
鏡は、(1) 試料が置かれる測定空間内の所定点をそれぞ
れの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの３本の
光軸も一平面上にない第１、第２、第３および第４の対
物レンズと、(2) 試料で発生した光束のうち第１の対物
レンズを通過した第１の光束を検出する第１の検出器
と、(3) 試料で発生した光束のうち第２の対物レンズを
通過した第２の光束を検出する第２の検出器と、(4) 試
料で発生した光束のうち第３の対物レンズを通過した第
３の光束を検出する第３の検出器と、(5) 試料で発生し
た光束のうち第４の対物レンズを通過した第４の光束を
検出する第４の検出器と、を備えることを特徴とする。
鏡は、(1) 試料が置かれる測定空間内の所定点をそれぞ
れの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの３本の
光軸も一平面上にない第１、第２、第３および第４の対
物レンズと、(2) 試料で発生した光束のうち第１の対物
レンズを通過した第１の光束を検出する第１の検出器
と、(3) 試料で発生した光束のうち第２の対物レンズを
通過した第２の光束を検出する第２の検出器と、(4) 試
料で発生した光束のうち第３の対物レンズを通過した第
３の光束を検出する第３の検出器と、(5) 試料で発生し
た光束のうち第４の対物レンズを通過した第４の光束を
検出する第４の検出器と、を備えることを特徴とする。
【０００８】この光学顕微鏡によれば、試料で発生した
光束（散乱光、蛍光その他の発光）は、４つの対物レン
ズ（第１乃至第４の対物レンズ）それぞれに入射し通過
して、その４つの対物レンズそれぞれに対応して設けら
れた４つの検出器（第１乃至第４の検出器）それぞれに
より検出される。この４つの対物レンズは、試料が置か
れる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通り、それ
ぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面上にない
ので、試料で発生した光束は、４つの対物レンズにより
高効率に集光される。
光束（散乱光、蛍光その他の発光）は、４つの対物レン
ズ（第１乃至第４の対物レンズ）それぞれに入射し通過
して、その４つの対物レンズそれぞれに対応して設けら
れた４つの検出器（第１乃至第４の検出器）それぞれに
より検出される。この４つの対物レンズは、試料が置か
れる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通り、それ
ぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面上にない
ので、試料で発生した光束は、４つの対物レンズにより
高効率に集光される。
【０００９】請求項２に係る光学顕微鏡は、請求項１記
載の光学顕微鏡であって、さらに、照明光を出射する光
源を更に備えるとともに、第４の対物レンズは、更に照
明光を入射して試料に照射する、ことを特徴とする。こ
の場合、光源から出射された照明光（励起光を含む）は
第４のレンズにより試料に照射され、その照射に伴い試
料で発生した光束（散乱光、蛍光）が第１乃至第４の対
物レンズそれぞれに入射する。
載の光学顕微鏡であって、さらに、照明光を出射する光
源を更に備えるとともに、第４の対物レンズは、更に照
明光を入射して試料に照射する、ことを特徴とする。こ
の場合、光源から出射された照明光（励起光を含む）は
第４のレンズにより試料に照射され、その照射に伴い試
料で発生した光束（散乱光、蛍光）が第１乃至第４の対
物レンズそれぞれに入射する。
【００１０】請求項３に係る光学顕微鏡は、請求項１記
載の光学顕微鏡であって、さらに、照明光を出射する光
源と、照明光を入射して試料に照射する照明光学系と、
を更に備えることを特徴とする。この場合、光源から出
射された照明光（励起光を含む）は照明光学系により試
料に照射され、その照射に伴い試料で発生した光束（散
乱光、蛍光）が第１乃至第４の対物レンズそれぞれに入
射する。
載の光学顕微鏡であって、さらに、照明光を出射する光
源と、照明光を入射して試料に照射する照明光学系と、
を更に備えることを特徴とする。この場合、光源から出
射された照明光（励起光を含む）は照明光学系により試
料に照射され、その照射に伴い試料で発生した光束（散
乱光、蛍光）が第１乃至第４の対物レンズそれぞれに入
射する。
【００１１】請求項４に係る光学顕微鏡は、(1) 試料が
置かれる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通り、
それぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面上に
ない第１、第２、第３および第４の対物レンズと、(2)
試料で発生した光束のうち第１の対物レンズを通過した
第１の光束を検出する第１の検出器と、(3) 試料で発生
した光束のうち第２の対物レンズを通過した第２の光束
を検出する第２の検出器と、(4) 試料で発生した光束の
うち第３の対物レンズを通過した第３の光束を検出する
第３の検出器と、(5) 照明光を出射する光源と、を備
え、第４の対物レンズは、照明光を入射して試料に照射
する、ことを特徴とする。
置かれる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通り、
それぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面上に
ない第１、第２、第３および第４の対物レンズと、(2)
試料で発生した光束のうち第１の対物レンズを通過した
第１の光束を検出する第１の検出器と、(3) 試料で発生
した光束のうち第２の対物レンズを通過した第２の光束
を検出する第２の検出器と、(4) 試料で発生した光束の
うち第３の対物レンズを通過した第３の光束を検出する
第３の検出器と、(5) 照明光を出射する光源と、を備
え、第４の対物レンズは、照明光を入射して試料に照射
する、ことを特徴とする。
【００１２】この光学顕微鏡によれば、光源から出射さ
れた照明光（励起光を含む）は第４のレンズにより試料
に照射され、この照射に伴い試料で発生した光束（散乱
光、蛍光）は、３つの対物レンズ（第１乃至第３の対物
レンズ）それぞれに入射し通過して、その３つの対物レ
ンズそれぞれに対応して設けられた３つの検出器（第１
乃至第３の検出器）それぞれにより検出される。この４
つの対物レンズは、試料が置かれる測定空間内の所定点
をそれぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れ
の３本の光軸も一平面上にないので、試料で発生した光
束は、３つの対物レンズにより高効率に集光される。
れた照明光（励起光を含む）は第４のレンズにより試料
に照射され、この照射に伴い試料で発生した光束（散乱
光、蛍光）は、３つの対物レンズ（第１乃至第３の対物
レンズ）それぞれに入射し通過して、その３つの対物レ
ンズそれぞれに対応して設けられた３つの検出器（第１
乃至第３の検出器）それぞれにより検出される。この４
つの対物レンズは、試料が置かれる測定空間内の所定点
をそれぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れ
の３本の光軸も一平面上にないので、試料で発生した光
束は、３つの対物レンズにより高効率に集光される。
【００１３】請求項５に係る光学顕微鏡は、請求項１ま
たは請求項４記載の光学顕微鏡であって、さらに、第１
乃至第３の対物レンズは、互いに略同一性能であり、第
４の対物レンズの光軸の周囲に等角度間隔で配される、
ことを特徴とする。また、請求項６に係る光学顕微鏡
は、請求項１または請求項４記載の光学顕微鏡であっ
て、さらに、第１乃至第４の対物レンズは、互いに略同
一性能であり、所定点を中心とする正四面体の各頂点に
配される、ことを特徴とする。このような配置とするこ
とによって、試料で発生した光束の集光効率は優れたも
のとなる。
たは請求項４記載の光学顕微鏡であって、さらに、第１
乃至第３の対物レンズは、互いに略同一性能であり、第
４の対物レンズの光軸の周囲に等角度間隔で配される、
ことを特徴とする。また、請求項６に係る光学顕微鏡
は、請求項１または請求項４記載の光学顕微鏡であっ
て、さらに、第１乃至第４の対物レンズは、互いに略同
一性能であり、所定点を中心とする正四面体の各頂点に
配される、ことを特徴とする。このような配置とするこ
とによって、試料で発生した光束の集光効率は優れたも
のとなる。
【００１４】請求項７に係る光学顕微鏡は、請求項１記
載の光学顕微鏡であって、さらに、第１乃至第４の検出
器それぞれは、２次元検出器であるとともに、第１乃至
第４の検出器それぞれにより撮像された第１乃至第４の
光束それぞれの像に基づいて試料の３次元画像を再構成
する画像再構成手段を更に備える、ことを特徴とする。
この場合、第１乃至第４の検出器それぞれにより、第１
乃至第４の光束の光像が撮像され、画像再構成手段によ
り、その第１乃至第４の光束それぞれの像に基づいて試
料の３次元画像が再構成され、試料の立体像が得られ
る。
載の光学顕微鏡であって、さらに、第１乃至第４の検出
器それぞれは、２次元検出器であるとともに、第１乃至
第４の検出器それぞれにより撮像された第１乃至第４の
光束それぞれの像に基づいて試料の３次元画像を再構成
する画像再構成手段を更に備える、ことを特徴とする。
この場合、第１乃至第４の検出器それぞれにより、第１
乃至第４の光束の光像が撮像され、画像再構成手段によ
り、その第１乃至第４の光束それぞれの像に基づいて試
料の３次元画像が再構成され、試料の立体像が得られ
る。
【００１５】請求項８に係る光学顕微鏡は、請求項４記
載の光学顕微鏡であって、さらに、第１乃至第３の検出
器それぞれは、２次元検出器であるとともに、第１乃至
第３の検出器それぞれにより撮像された第１乃至第３の
光束それぞれの像に基づいて試料の３次元画像を再構成
する画像再構成手段を更に備える、ことを特徴とする。
この場合、第１乃至第３の検出器それぞれにより、第１
乃至第３の光束の光像が撮像され、画像再構成手段によ
り、その第１乃至第３の光束それぞれの像に基づいて試
料の３次元画像が再構成され、試料の立体像が得られ
る。
載の光学顕微鏡であって、さらに、第１乃至第３の検出
器それぞれは、２次元検出器であるとともに、第１乃至
第３の検出器それぞれにより撮像された第１乃至第３の
光束それぞれの像に基づいて試料の３次元画像を再構成
する画像再構成手段を更に備える、ことを特徴とする。
この場合、第１乃至第３の検出器それぞれにより、第１
乃至第３の光束の光像が撮像され、画像再構成手段によ
り、その第１乃至第３の光束それぞれの像に基づいて試
料の３次元画像が再構成され、試料の立体像が得られ
る。
【００１６】請求項９に係る光学顕微鏡は、請求項２記
載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空間
内で移動させる試料移動手段と、(2) 光源と第４の対物
レンズとの間の光軸上に配された照明用ピンホールと、
(3) 第１の検出器と第１の対物レンズとの間の光軸上に
照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１のピンホ
ールと、(4) 第２の検出器と第２の対物レンズとの間の
光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第２
のピンホールと、(5) 第３の検出器と第３の対物レンズ
との間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配さ
れた第３のピンホールと、(6) 第４の検出器と第４の対
物レンズとの間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位
置に配された第４のピンホールと、(7) 試料移動手段に
より走査された試料の各位置において第１乃至第４の検
出器それぞれにより検出された第１乃至第４の光束に基
づいて試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段
と、を更に備えることを特徴とする。このような構成と
することにより、照明用ピンホールおよび第１乃至第４
のピンホールにより共焦点型の光学顕微鏡が構成され、
また、試料が試料移動手段に走査されるので、画像再構
成手段により、試料移動手段により走査された試料の各
位置において第１乃至第４の検出器それぞれにより検出
された第１乃至第４の光束に基づいて試料の３次元画像
が再構成され、試料の立体像が得られる。
載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空間
内で移動させる試料移動手段と、(2) 光源と第４の対物
レンズとの間の光軸上に配された照明用ピンホールと、
(3) 第１の検出器と第１の対物レンズとの間の光軸上に
照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１のピンホ
ールと、(4) 第２の検出器と第２の対物レンズとの間の
光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第２
のピンホールと、(5) 第３の検出器と第３の対物レンズ
との間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配さ
れた第３のピンホールと、(6) 第４の検出器と第４の対
物レンズとの間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位
置に配された第４のピンホールと、(7) 試料移動手段に
より走査された試料の各位置において第１乃至第４の検
出器それぞれにより検出された第１乃至第４の光束に基
づいて試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段
と、を更に備えることを特徴とする。このような構成と
することにより、照明用ピンホールおよび第１乃至第４
のピンホールにより共焦点型の光学顕微鏡が構成され、
また、試料が試料移動手段に走査されるので、画像再構
成手段により、試料移動手段により走査された試料の各
位置において第１乃至第４の検出器それぞれにより検出
された第１乃至第４の光束に基づいて試料の３次元画像
が再構成され、試料の立体像が得られる。
【００１７】請求項１０に係る光学顕微鏡は、請求項３
記載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空
間内で移動させる試料移動手段と、(2) 照明光学系の光
軸上に配された照明用ピンホールと、(3) 第１の検出器
と第１の対物レンズとの間の光軸上に照明用ピンホール
の共焦点位置に配された第１のピンホールと、(4) 第２
の検出器と第２の対物レンズとの間の光軸上に照明用ピ
ンホールの共焦点位置に配された第２のピンホールと、
(5) 第３の検出器と第３の対物レンズとの間の光軸上に
照明用ピンホールの共焦点位置に配された第３のピンホ
ールと、(6) 第４の検出器と第４の対物レンズとの間の
光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第４
のピンホールと、(7) 試料移動手段により走査された試
料の各位置において第１乃至第４の検出器それぞれによ
り検出された第１乃至第４の光束に基づいて試料の３次
元画像を再構成する画像再構成手段と、を更に備えるこ
とを特徴とする。このような構成とすることにより、同
様に、照明用ピンホールおよび第１乃至第４のピンホー
ルにより共焦点型の光学顕微鏡が構成され、また、試料
が試料移動手段に走査されるので、画像再構成手段によ
り、試料移動手段により走査された試料の各位置におい
て第１乃至第４の検出器それぞれにより検出された第１
乃至第４の光束に基づいて試料の３次元画像が再構成さ
れ、試料の立体像が得られる。
記載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空
間内で移動させる試料移動手段と、(2) 照明光学系の光
軸上に配された照明用ピンホールと、(3) 第１の検出器
と第１の対物レンズとの間の光軸上に照明用ピンホール
の共焦点位置に配された第１のピンホールと、(4) 第２
の検出器と第２の対物レンズとの間の光軸上に照明用ピ
ンホールの共焦点位置に配された第２のピンホールと、
(5) 第３の検出器と第３の対物レンズとの間の光軸上に
照明用ピンホールの共焦点位置に配された第３のピンホ
ールと、(6) 第４の検出器と第４の対物レンズとの間の
光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第４
のピンホールと、(7) 試料移動手段により走査された試
料の各位置において第１乃至第４の検出器それぞれによ
り検出された第１乃至第４の光束に基づいて試料の３次
元画像を再構成する画像再構成手段と、を更に備えるこ
とを特徴とする。このような構成とすることにより、同
様に、照明用ピンホールおよび第１乃至第４のピンホー
ルにより共焦点型の光学顕微鏡が構成され、また、試料
が試料移動手段に走査されるので、画像再構成手段によ
り、試料移動手段により走査された試料の各位置におい
て第１乃至第４の検出器それぞれにより検出された第１
乃至第４の光束に基づいて試料の３次元画像が再構成さ
れ、試料の立体像が得られる。
【００１８】請求項１１に係る光学顕微鏡は、請求項４
記載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空
間内で移動させる試料移動手段と、(2) 光源と第４の対
物レンズとの間の光軸上に配された照明用ピンホール
と、(3) 第１の検出器と第１の対物レンズとの間の光軸
上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１のピ
ンホールと、(4) 第２の検出器と第２の対物レンズとの
間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された
第２のピンホールと、(5) 第３の検出器と第３の対物レ
ンズとの間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に
配された第３のピンホールと、(6) 試料移動手段により
走査された試料の各位置において第１乃至第３の検出器
それぞれにより検出された第１乃至第３の光束に基づい
て試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段と、を
更に備えることを特徴とする。このような構成とするこ
とにより、同様に、照明用ピンホールおよび第１乃至第
３のピンホールにより共焦点型の光学顕微鏡が構成さ
れ、また、試料が試料移動手段に走査されるので、画像
再構成手段により、試料移動手段により走査された試料
の各位置において第１乃至第３の検出器それぞれにより
検出された第１乃至第３の光束に基づいて試料の３次元
画像が再構成され、試料の立体像が得られる。
記載の光学顕微鏡であって、さらに、(1) 試料を測定空
間内で移動させる試料移動手段と、(2) 光源と第４の対
物レンズとの間の光軸上に配された照明用ピンホール
と、(3) 第１の検出器と第１の対物レンズとの間の光軸
上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１のピ
ンホールと、(4) 第２の検出器と第２の対物レンズとの
間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に配された
第２のピンホールと、(5) 第３の検出器と第３の対物レ
ンズとの間の光軸上に照明用ピンホールの共焦点位置に
配された第３のピンホールと、(6) 試料移動手段により
走査された試料の各位置において第１乃至第３の検出器
それぞれにより検出された第１乃至第３の光束に基づい
て試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段と、を
更に備えることを特徴とする。このような構成とするこ
とにより、同様に、照明用ピンホールおよび第１乃至第
３のピンホールにより共焦点型の光学顕微鏡が構成さ
れ、また、試料が試料移動手段に走査されるので、画像
再構成手段により、試料移動手段により走査された試料
の各位置において第１乃至第３の検出器それぞれにより
検出された第１乃至第３の光束に基づいて試料の３次元
画像が再構成され、試料の立体像が得られる。
【００１９】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して本発明
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。図１は、本発明に係る光学顕微鏡の光学系の構
成図である。この図に示す光学顕微鏡は、４つの対物レ
ンズを備える共焦点型の蛍光顕微鏡である。
の実施の形態を詳細に説明する。尚、図面の説明におい
て同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省
略する。図１は、本発明に係る光学顕微鏡の光学系の構
成図である。この図に示す光学顕微鏡は、４つの対物レ
ンズを備える共焦点型の蛍光顕微鏡である。
【００２０】４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄは、測
定空間に置かれた試料５０を囲んで配されている。これ
らのうち、対物レンズ２０Ａは、試料５０に対して励起
光を集光照射するとともに、試料５０から発生した蛍光
を入射するものであり、対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄ
は、試料５０から発生した蛍光を入射するものである。
これらの配置の詳細については後述する。観察対象であ
る試料５０は、ガラス棒３１の一端に載せられており、
このガラス棒３１を介して３次元マニピュレータ（試料
移動手段）３０により３次的に移動可能である。
定空間に置かれた試料５０を囲んで配されている。これ
らのうち、対物レンズ２０Ａは、試料５０に対して励起
光を集光照射するとともに、試料５０から発生した蛍光
を入射するものであり、対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄ
は、試料５０から発生した蛍光を入射するものである。
これらの配置の詳細については後述する。観察対象であ
る試料５０は、ガラス棒３１の一端に載せられており、
このガラス棒３１を介して３次元マニピュレータ（試料
移動手段）３０により３次的に移動可能である。
【００２１】光源１０は、試料５０に照射すべき励起光
を出射するものである。この光源１０の出射口の前には
ピンホール１１が設けられており、このピンホール１１
の開口を通過した励起光は、励起フィルタ１２により励
起波長成分のみが透過され、ダイクロイックミラー１３
を透過し、対物レンズ２０Ａに入射して、対物レンズ２
０Ａにより試料５０に集光照射される。試料５０に励起
光が照射されると、その試料５０に含まれる蛍光物質か
ら蛍光が発生する。
を出射するものである。この光源１０の出射口の前には
ピンホール１１が設けられており、このピンホール１１
の開口を通過した励起光は、励起フィルタ１２により励
起波長成分のみが透過され、ダイクロイックミラー１３
を透過し、対物レンズ２０Ａに入射して、対物レンズ２
０Ａにより試料５０に集光照射される。試料５０に励起
光が照射されると、その試料５０に含まれる蛍光物質か
ら蛍光が発生する。
【００２２】その蛍光は、あらゆる方向に向かって発散
しており、対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄそれぞれは、そ
の蛍光の一部を入射する。対物レンズ２０Ａに入射した
蛍光は、ダイクロイックミラー１３により反射され、励
起光カットフィルタ２１Ａを透過し、ピンホール２２Ａ
の開口を通過し、検出器２３Ａにより検出される。ま
た、対物レンズ２０Ｂに入射した蛍光は、励起光カット
フィルタ２１Ｂを透過し、ピンホール２２Ｂの開口を通
過し、検出器２３Ｂにより検出され、対物レンズ２０Ｃ
に入射した蛍光は、励起光カットフィルタ２１Ｃを透過
し、ピンホール２２Ｃの開口を通過し、検出器２３Ｃに
より検出され、対物レンズ２０Ｄに入射した蛍光は、励
起光カットフィルタ２１Ｄを透過し、ピンホール２２Ｄ
の開口を通過し、検出器２３Ｄにより検出される。
しており、対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄそれぞれは、そ
の蛍光の一部を入射する。対物レンズ２０Ａに入射した
蛍光は、ダイクロイックミラー１３により反射され、励
起光カットフィルタ２１Ａを透過し、ピンホール２２Ａ
の開口を通過し、検出器２３Ａにより検出される。ま
た、対物レンズ２０Ｂに入射した蛍光は、励起光カット
フィルタ２１Ｂを透過し、ピンホール２２Ｂの開口を通
過し、検出器２３Ｂにより検出され、対物レンズ２０Ｃ
に入射した蛍光は、励起光カットフィルタ２１Ｃを透過
し、ピンホール２２Ｃの開口を通過し、検出器２３Ｃに
より検出され、対物レンズ２０Ｄに入射した蛍光は、励
起光カットフィルタ２１Ｄを透過し、ピンホール２２Ｄ
の開口を通過し、検出器２３Ｄにより検出される。
【００２３】ここで、ダイクロイックミラー１３は、励
起光を透過させ、蛍光を反射させるものであり、励起光
カットフィルタ２１Ａ乃至２１Ｄそれぞれは、蛍光波長
成分を透過し、励起波長成分を遮断するものである。ま
た、ピンホール２２Ａ乃至２２Ｄそれぞれの開口は、ピ
ンホール１１の開口の共焦点位置に配されており、ピン
ホール１１とともに共焦点光学系を構成している。
起光を透過させ、蛍光を反射させるものであり、励起光
カットフィルタ２１Ａ乃至２１Ｄそれぞれは、蛍光波長
成分を透過し、励起波長成分を遮断するものである。ま
た、ピンホール２２Ａ乃至２２Ｄそれぞれの開口は、ピ
ンホール１１の開口の共焦点位置に配されており、ピン
ホール１１とともに共焦点光学系を構成している。
【００２４】そして、検出器２３Ａ乃至２３Ｄそれぞれ
は、検出された蛍光の強度に応じた蛍光強度信号を出力
する。制御部（画像再構成手段）４０は、３次元マニピ
ュレータ３０に指示を与えて試料５０を測定空間内で３
次元走査するとともに、これら検出器２３Ａ乃至２３Ｄ
それぞれから出力された蛍光強度信号を入力して、試料
５０から発生した蛍光の３次元画像を再構成する。
は、検出された蛍光の強度に応じた蛍光強度信号を出力
する。制御部（画像再構成手段）４０は、３次元マニピ
ュレータ３０に指示を与えて試料５０を測定空間内で３
次元走査するとともに、これら検出器２３Ａ乃至２３Ｄ
それぞれから出力された蛍光強度信号を入力して、試料
５０から発生した蛍光の３次元画像を再構成する。
【００２５】次に、４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄ
それぞれの配置について詳細に説明する。図２は、本発
明に係る光学顕微鏡における対物レンズの配置を示す模
式的な斜視図である。
それぞれの配置について詳細に説明する。図２は、本発
明に係る光学顕微鏡における対物レンズの配置を示す模
式的な斜視図である。
【００２６】対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄそれぞれの光
軸は、測定空間内の所定点で交差しており、また、これ
らの内の何れの３つの光軸も１平面上にはない。この図
に示す平面Ｐは、対物レンズ２０Ａの光軸に垂直であっ
て測定空間内の所定点を通る平面であり、他の３つの対
物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄは、平面Ｐについて対物レン
ズ２０Ａとは反対側に配されている。
軸は、測定空間内の所定点で交差しており、また、これ
らの内の何れの３つの光軸も１平面上にはない。この図
に示す平面Ｐは、対物レンズ２０Ａの光軸に垂直であっ
て測定空間内の所定点を通る平面であり、他の３つの対
物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄは、平面Ｐについて対物レン
ズ２０Ａとは反対側に配されている。
【００２７】４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄは、互
いに異なる性能のものであってもよいが、同一性能であ
ってもよい。同一性能の場合には、対物レンズ２０Ａ乃
至２０Ｄは、その所定点を中心とする正四面体の各頂点
に配されるのが、集光効率の観点から好適である。この
ような配置とすることは物理的にも可能であり、理論上
の最大集光効率は８４．４％である。また、４つの対物
レンズのうち３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄが同一
性能のものであって、励起光照射に用いられる対物レン
ズ２０Ａのみが異なる性能のものであってもよい。この
場合には、対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄそれぞれは、対
物レンズ２０Ａの光軸の周囲に等角度間隔で配されるの
が、やはり集光効率の観点から好適である。
いに異なる性能のものであってもよいが、同一性能であ
ってもよい。同一性能の場合には、対物レンズ２０Ａ乃
至２０Ｄは、その所定点を中心とする正四面体の各頂点
に配されるのが、集光効率の観点から好適である。この
ような配置とすることは物理的にも可能であり、理論上
の最大集光効率は８４．４％である。また、４つの対物
レンズのうち３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄが同一
性能のものであって、励起光照射に用いられる対物レン
ズ２０Ａのみが異なる性能のものであってもよい。この
場合には、対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄそれぞれは、対
物レンズ２０Ａの光軸の周囲に等角度間隔で配されるの
が、やはり集光効率の観点から好適である。
【００２８】このように図１および図２に示すような構
成としたことにより優れた集光効率が得られる。このこ
とは、特に、励起光がピンホール１１により絞られ、ま
た、一般的に強度が弱い蛍光が更にピンホール２２Ａ乃
至２２Ｄにより絞られる共焦点型蛍光顕微鏡において
は、極めて有効なものとなる。
成としたことにより優れた集光効率が得られる。このこ
とは、特に、励起光がピンホール１１により絞られ、ま
た、一般的に強度が弱い蛍光が更にピンホール２２Ａ乃
至２２Ｄにより絞られる共焦点型蛍光顕微鏡において
は、極めて有効なものとなる。
【００２９】本発明は、上記実施形態に限定されるもの
ではなく種々の変形が可能である。例えば、上記実施形
態では、対物レンズ２０Ａは、励起光照射とともに蛍光
検出にも用いられたが、励起光照射のみに使用されても
よい。この場合には、４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０
Ｄそれぞれの光軸が互いに異なるため、蛍光検出に用い
られる３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄに励起光が直
接に入射することはなく、Ｓ／Ｂ比の優れた蛍光検出が
可能である。なお、この場合には、対物レンズ２０Ａ
は、他の３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄと比較して
小型のものを使用することが可能であり、したがって、
これら４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄを、より集光
効率が優れた配置とすることができる。
ではなく種々の変形が可能である。例えば、上記実施形
態では、対物レンズ２０Ａは、励起光照射とともに蛍光
検出にも用いられたが、励起光照射のみに使用されても
よい。この場合には、４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０
Ｄそれぞれの光軸が互いに異なるため、蛍光検出に用い
られる３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄに励起光が直
接に入射することはなく、Ｓ／Ｂ比の優れた蛍光検出が
可能である。なお、この場合には、対物レンズ２０Ａ
は、他の３つの対物レンズ２０Ｂ乃至２０Ｄと比較して
小型のものを使用することが可能であり、したがって、
これら４つの対物レンズ２０Ａ乃至２０Ｄを、より集光
効率が優れた配置とすることができる。
【００３０】また、対物レンズ２０Ａを蛍光検出のみに
使用してもよい。この場合には、他のレンズ等からなる
照明光学系を更に設け、この照明光学系の光軸上に照明
用ピンホールを設けて、これにより光源から出射された
励起光を試料に照明して、共焦点光学系を構成する。同
様に、Ｓ／Ｂ比の優れた蛍光検出が可能である。
使用してもよい。この場合には、他のレンズ等からなる
照明光学系を更に設け、この照明光学系の光軸上に照明
用ピンホールを設けて、これにより光源から出射された
励起光を試料に照明して、共焦点光学系を構成する。同
様に、Ｓ／Ｂ比の優れた蛍光検出が可能である。
【００３１】また、本発明の適用は、蛍光顕微鏡に限ら
れるものではなく、また、共焦点型顕微鏡に限られるも
のではない。例えば、散乱光を観察する通常の光学顕微
鏡にも適用が可能である。この場合、それぞれの検出器
を、光束の２次元像を撮像することができる２次元検出
器とし、画像再構成手段により、それぞれの検出器によ
り撮像された光束の像に基づいて試料の３次元画像を再
構成するようにしてもよく、このようにすることにより
試料を立体的に観察することができる。また、試料が自
ら発光（生物発光、化学発光）するものである場合に
は、光源は不要である。
れるものではなく、また、共焦点型顕微鏡に限られるも
のではない。例えば、散乱光を観察する通常の光学顕微
鏡にも適用が可能である。この場合、それぞれの検出器
を、光束の２次元像を撮像することができる２次元検出
器とし、画像再構成手段により、それぞれの検出器によ
り撮像された光束の像に基づいて試料の３次元画像を再
構成するようにしてもよく、このようにすることにより
試料を立体的に観察することができる。また、試料が自
ら発光（生物発光、化学発光）するものである場合に
は、光源は不要である。
【００３２】
【発明の効果】以上、詳細に説明したとおり本発明によ
れば、試料で発生した光束（散乱光、蛍光その他の発
光）は、４つの対物レンズ（第１乃至第４の対物レン
ズ）それぞれに入射し通過して、その４つの対物レンズ
それぞれに対応して設けられた４つの検出器（第１乃至
第４の検出器）それぞれにより検出される。ここで、試
料に照射すべき照明光（励起光を含む）を出射する光源
を備えて、４つの対物レンズのうちの１つである第４の
対物レンズによりその照明光を試料に照射してもよい
し、別に備えられた照明光学系によりその照明光を試料
に照射してもよい。ここで、４つの対物レンズは、試料
が置かれる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通
り、それぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面
上にないように配置したので、試料で発生した光束は、
４つの対物レンズにより高効率に集光される。
れば、試料で発生した光束（散乱光、蛍光その他の発
光）は、４つの対物レンズ（第１乃至第４の対物レン
ズ）それぞれに入射し通過して、その４つの対物レンズ
それぞれに対応して設けられた４つの検出器（第１乃至
第４の検出器）それぞれにより検出される。ここで、試
料に照射すべき照明光（励起光を含む）を出射する光源
を備えて、４つの対物レンズのうちの１つである第４の
対物レンズによりその照明光を試料に照射してもよい
し、別に備えられた照明光学系によりその照明光を試料
に照射してもよい。ここで、４つの対物レンズは、試料
が置かれる測定空間内の所定点をそれぞれの光軸が通
り、それぞれの光軸のうちの何れの３本の光軸も一平面
上にないように配置したので、試料で発生した光束は、
４つの対物レンズにより高効率に集光される。
【００３３】また、４つの対物レンズのうちの１つであ
る第４の対物レンズが、試料に照明光（励起光を含む）
を照射するためのみに用いられる場合には、光源から出
射された照明光は第４のレンズにより試料に照射され、
この照射に伴い試料で発生した光束（散乱光、蛍光）
は、３つの対物レンズ（第１乃至第３の対物レンズ）そ
れぞれに入射し通過して、その３つの対物レンズそれぞ
れに対応して設けられた３つの検出器（第１乃至第３の
検出器）それぞれにより検出される。この場合も、４つ
の対物レンズは、試料が置かれる測定空間内の所定点を
それぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの
３本の光軸も一平面上にないように配置したので、試料
で発生した光束は、３つの対物レンズにより高効率に集
光される。
る第４の対物レンズが、試料に照明光（励起光を含む）
を照射するためのみに用いられる場合には、光源から出
射された照明光は第４のレンズにより試料に照射され、
この照射に伴い試料で発生した光束（散乱光、蛍光）
は、３つの対物レンズ（第１乃至第３の対物レンズ）そ
れぞれに入射し通過して、その３つの対物レンズそれぞ
れに対応して設けられた３つの検出器（第１乃至第３の
検出器）それぞれにより検出される。この場合も、４つ
の対物レンズは、試料が置かれる測定空間内の所定点を
それぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの
３本の光軸も一平面上にないように配置したので、試料
で発生した光束は、３つの対物レンズにより高効率に集
光される。
【００３４】ここで、試料への照明光照射に用いられる
第４の対物レンズ以外の第１乃至第３の対物レンズは、
互いに略同一性能とし、第４の対物レンズの光軸の周囲
に等角度間隔で配されることとしてもよく、また、第１
乃至第４の対物レンズは、互いに略同一性能とし、所定
点を中心とする正四面体の各頂点に配されることとして
もよい。このような配置とすることによって、試料で発
生した光束の集光効率は優れたものとなる。特に後者の
配置とした場合には、４つの対物レンズによる集光効率
は８４．４％が達成される。
第４の対物レンズ以外の第１乃至第３の対物レンズは、
互いに略同一性能とし、第４の対物レンズの光軸の周囲
に等角度間隔で配されることとしてもよく、また、第１
乃至第４の対物レンズは、互いに略同一性能とし、所定
点を中心とする正四面体の各頂点に配されることとして
もよい。このような配置とすることによって、試料で発
生した光束の集光効率は優れたものとなる。特に後者の
配置とした場合には、４つの対物レンズによる集光効率
は８４．４％が達成される。
【００３５】また、更に、ピンホールを共焦点位置に備
えて共焦点型の光学顕微鏡とし、試料移動手段により試
料を測定空間内で移動させるとともに、画像再構成手段
により、試料移動手段により走査された試料の各位置に
おいて第１乃至第４の検出器それぞれにより検出された
光束に基づいて試料の３次元画像が再構成することで、
試料の立体像が高効率に得られる。
えて共焦点型の光学顕微鏡とし、試料移動手段により試
料を測定空間内で移動させるとともに、画像再構成手段
により、試料移動手段により走査された試料の各位置に
おいて第１乃至第４の検出器それぞれにより検出された
光束に基づいて試料の３次元画像が再構成することで、
試料の立体像が高効率に得られる。
【図１】本発明に係る光学顕微鏡の光学系の構成図であ
る。
る。
【図２】本発明に係る光学顕微鏡における対物レンズの
配置を示す模式的な斜視図である。
配置を示す模式的な斜視図である。
【図３】従来の複数の対物レンズを備えた光学顕微鏡に
おける対物レンズの配置の説明図である。
おける対物レンズの配置の説明図である。
１０…光源、１１…ピンホール、１２…励起フィルタ、
１３…ダイクロイックミラー、２０Ａ，２０Ｂ，２０
Ｃ，２０Ｄ…対物レンズ、２１Ａ，２１Ｂ，２１Ｃ，２
１Ｄ…励起光カットフィルタ、２２Ａ，２２Ｂ，２２
Ｃ，２２Ｄ…ピンホール、２３Ａ，２３Ｂ，２３Ｃ，２
３Ｄ…検出器、３０…３次元マニピュレータ、３１…ガ
ラス棒、４０…制御部、５０…試料。
１３…ダイクロイックミラー、２０Ａ，２０Ｂ，２０
Ｃ，２０Ｄ…対物レンズ、２１Ａ，２１Ｂ，２１Ｃ，２
１Ｄ…励起光カットフィルタ、２２Ａ，２２Ｂ，２２
Ｃ，２２Ｄ…ピンホール、２３Ａ，２３Ｂ，２３Ｃ，２
３Ｄ…検出器、３０…３次元マニピュレータ、３１…ガ
ラス棒、４０…制御部、５０…試料。
Claims (11)
- 【請求項１】 試料が置かれる測定空間内の所定点をそ
れぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの３
本の光軸も一平面上にない第１、第２、第３および第４
の対物レンズと、 前記試料で発生した光束のうち前記第１の対物レンズを
通過した第１の光束を検出する第１の検出器と、 前記試料で発生した光束のうち前記第２の対物レンズを
通過した第２の光束を検出する第２の検出器と、 前記試料で発生した光束のうち前記第３の対物レンズを
通過した第３の光束を検出する第３の検出器と、 前記試料で発生した光束のうち前記第４の対物レンズを
通過した第４の光束を検出する第４の検出器と、 を備えることを特徴とする光学顕微鏡。 - 【請求項２】 照明光を出射する光源を更に備えるとと
もに、 前記第４の対物レンズは、更に前記照明光を入射して前
記試料に照射する、 ことを特徴とする請求項１記載の光学顕微鏡。 - 【請求項３】 照明光を出射する光源と、 前記照明光を入射して前記試料に照射する照明光学系
と、 を更に備えることを特徴とする請求項１記載の光学顕微
鏡。 - 【請求項４】 試料が置かれる測定空間内の所定点をそ
れぞれの光軸が通り、それぞれの光軸のうちの何れの３
本の光軸も一平面上にない第１、第２、第３および第４
の対物レンズと、 前記試料で発生した光束のうち前記第１の対物レンズを
通過した第１の光束を検出する第１の検出器と、 前記試料で発生した光束のうち前記第２の対物レンズを
通過した第２の光束を検出する第２の検出器と、 前記試料で発生した光束のうち前記第３の対物レンズを
通過した第３の光束を検出する第３の検出器と、 照明光を出射する光源と、 を備え、前記第４の対物レンズは、前記照明光を入射し
て前記試料に照射する、 ことを特徴とする光学顕微鏡。 - 【請求項５】 前記第１乃至前記第３の対物レンズは、
互いに略同一性能であり、前記第４の対物レンズの光軸
の周囲に等角度間隔で配される、ことを特徴とする請求
項１または請求項４記載の光学顕微鏡。 - 【請求項６】 前記第１乃至前記第４の対物レンズは、
互いに略同一性能であり、前記所定点を中心とする正四
面体の各頂点に配される、ことを特徴とする請求項１ま
たは請求項４記載の光学顕微鏡。 - 【請求項７】 前記第１乃至前記第４の検出器それぞれ
は、２次元検出器であるとともに、 前記第１乃至前記第４の検出器それぞれにより撮像され
た前記第１乃至前記第４の光束それぞれの像に基づいて
前記試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段を更
に備える、 ことを特徴とする請求項１記載の光学顕微鏡。 - 【請求項８】 前記第１乃至前記第３の検出器それぞれ
は、２次元検出器であるとともに、 前記第１乃至前記第３の検出器それぞれにより撮像され
た前記第１乃至前記第３の光束それぞれの像に基づいて
前記試料の３次元画像を再構成する画像再構成手段を更
に備える、 ことを特徴とする請求項４記載の光学顕微鏡。 - 【請求項９】 前記試料を前記測定空間内で移動させる
試料移動手段と、 前記光源と前記第４の対物レンズとの間の光軸上に配さ
れた照明用ピンホールと、 前記第１の検出器と前記第１の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１
のピンホールと、 前記第２の検出器と前記第２の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第２
のピンホールと、 前記第３の検出器と前記第３の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第３
のピンホールと、 前記第４の検出器と前記第４の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第４
のピンホールと、 前記試料移動手段により走査された前記試料の各位置に
おいて前記第１乃至前記第４の検出器それぞれにより検
出された前記第１乃至前記第４の光束に基づいて前記試
料の３次元画像を再構成する画像再構成手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項２記載の光学顕微
鏡。 - 【請求項１０】 前記試料を前記測定空間内で移動させ
る試料移動手段と、 前記照明光学系の光軸上に配された照明用ピンホール
と、 前記第１の検出器と前記第１の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１
のピンホールと、 前記第２の検出器と前記第２の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第２
のピンホールと、 前記第３の検出器と前記第３の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第３
のピンホールと、 前記第４の検出器と前記第４の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第４
のピンホールと、 前記試料移動手段により走査された前記試料の各位置に
おいて前記第１乃至前記第４の検出器それぞれにより検
出された前記第１乃至前記第４の光束に基づいて前記試
料の３次元画像を再構成する画像再構成手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項３記載の光学顕微
鏡。 - 【請求項１１】 前記試料を前記測定空間内で移動させ
る試料移動手段と、 前記光源と前記第４の対物レンズとの間の光軸上に配さ
れた照明用ピンホールと、 前記第１の検出器と前記第１の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第１
のピンホールと、 前記第２の検出器と前記第２の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第２
のピンホールと、 前記第３の検出器と前記第３の対物レンズとの間の光軸
上に前記照明用ピンホールの共焦点位置に配された第３
のピンホールと、 前記試料移動手段により走査された前記試料の各位置に
おいて前記第１乃至前記第３の検出器それぞれにより検
出された前記第１乃至前記第３の光束に基づいて前記試
料の３次元画像を再構成する画像再構成手段と、 を更に備えることを特徴とする請求項４記載の光学顕微
鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33233396A JPH10170829A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 光学顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33233396A JPH10170829A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 光学顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10170829A true JPH10170829A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18253797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33233396A Pending JPH10170829A (ja) | 1996-12-12 | 1996-12-12 | 光学顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10170829A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010585A1 (fr) * | 2001-06-26 | 2003-02-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope confocal |
| JP2017500603A (ja) * | 2013-11-25 | 2017-01-05 | ヨーロピアン モレキュラー バイオロジー ラボラトリーＥｕｒｏｐｅａｎ Ｍｏｌｅｃｕｌａｒ Ｂｉｏｌｏｇｙ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ | サンプルを画像化するための光学構成 |
-
1996
- 1996-12-12 JP JP33233396A patent/JPH10170829A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003010585A1 (fr) * | 2001-06-26 | 2003-02-06 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope confocal |
| JP2017500603A (ja) * | 2013-11-25 | 2017-01-05 | ヨーロピアン モレキュラー バイオロジー ラボラトリーＥｕｒｏｐｅａｎ Ｍｏｌｅｃｕｌａｒ Ｂｉｏｌｏｇｙ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ | サンプルを画像化するための光学構成 |
| US10983320B2 (en) | 2013-11-25 | 2021-04-20 | European Molecular Biology Laboratory | Optical arrangement for imaging a sample |
| JP2021107926A (ja) * | 2013-11-25 | 2021-07-29 | ヨーロピアン モレキュラー バイオロジー ラボラトリーＥｕｒｏｐｅａｎ Ｍｏｌｅｃｕｌａｒ Ｂｉｏｌｏｇｙ Ｌａｂｏｒａｔｏｒｙ | サンプルを画像化するための光学構成 |
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