JPH10170656A - 画像読取装置及びその画像読取方法 - Google Patents
画像読取装置及びその画像読取方法Info
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- JPH10170656A JPH10170656A JP8335401A JP33540196A JPH10170656A JP H10170656 A JPH10170656 A JP H10170656A JP 8335401 A JP8335401 A JP 8335401A JP 33540196 A JP33540196 A JP 33540196A JP H10170656 A JPH10170656 A JP H10170656A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 暗電流によるノイズの影響がなく、ちらつき
のない画像の連続的読み出しを可能にする光電変換装置
を有する画像読取装置を実現する。 【解決手段】 光電変換装置Ｄ１１は、独立に制御でき
る２系統のリフレッシュラインｒｆ１，ｒｆ２と、それ
ぞれのデータを加算、平均する処理装置Ｐ１と、を有す
る。リフレッシュ系統として、１、４列（ｇ１，ｇ４）
を第１系統、２、３列（ｇ２，ｇ３）を第２系統とし、
第１系統のリフレッシュ動作中に、第２系統の信号読取
り動作を行ない、また、その逆も行ない、それぞれのデ
ータを、一画素ごとに加算、平均することで、全体の画
像信号を読取る。
のない画像の連続的読み出しを可能にする光電変換装置
を有する画像読取装置を実現する。 【解決手段】 光電変換装置Ｄ１１は、独立に制御でき
る２系統のリフレッシュラインｒｆ１，ｒｆ２と、それ
ぞれのデータを加算、平均する処理装置Ｐ１と、を有す
る。リフレッシュ系統として、１、４列（ｇ１，ｇ４）
を第１系統、２、３列（ｇ２，ｇ３）を第２系統とし、
第１系統のリフレッシュ動作中に、第２系統の信号読取
り動作を行ない、また、その逆も行ない、それぞれのデ
ータを、一画素ごとに加算、平均することで、全体の画
像信号を読取る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光電変換素子を用
いた画像読取装置及びその画像信号読取方法に関し、例
えば、光電変換装置と蛍光体とを組み合わせたＸ線画像
読取装置などに関するものである。
いた画像読取装置及びその画像信号読取方法に関し、例
えば、光電変換装置と蛍光体とを組み合わせたＸ線画像
読取装置などに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、光電変換素子を用いた画像読取装
置の一例として、光電変換装置と蛍光体とを組み合わせ
たＸ線画像撮影装置が研究されている。
置の一例として、光電変換装置と蛍光体とを組み合わせ
たＸ線画像撮影装置が研究されている。
【０００３】従来、医療診断を目的とする放射線撮影で
ある医療用放射線撮影において、（スポット）撮影に
は、増感紙とＸ線写真フィルムを組み合わせたＸ線写真
法が用いられている。
ある医療用放射線撮影において、（スポット）撮影に
は、増感紙とＸ線写真フィルムを組み合わせたＸ線写真
法が用いられている。
【０００４】この方法によれば、被検体を透過したＸ線
等の放射線が増感紙に入射すると、増感紙に含まれる蛍
光体がこのＸ線エネルギーを吸収し、蛍光を発する。
等の放射線が増感紙に入射すると、増感紙に含まれる蛍
光体がこのＸ線エネルギーを吸収し、蛍光を発する。
【０００５】この発光がＸ線写真フィルムを感光させ、
Ｘ線写真フィルム上には放射線画像が形成される。この
フィルムを現像・定着処理することによってＸ線画像を
可視化することができる。
Ｘ線写真フィルム上には放射線画像が形成される。この
フィルムを現像・定着処理することによってＸ線画像を
可視化することができる。
【０００６】最近では、放射線画像をディジタル的に取
り込む手法が種々開発されている。Ｘ線に感度を持ち、
検出したＸ線をその強度に応じた電気信号に変換・出力
する光電変換素子、あるいはＸ線のエネルギーを吸収
し、それに応じた強度の蛍光を発する蛍光体と、可視光
に感度を持ちその強度に応じた電気信号を出力する光電
変換素子の組み合わせからなるＸ線画像検出手段を用い
て、Ｘ線画像を電気信号に変換し、Ａ／Ｄ変換によって
ディジタル的に取り込む手法等がある。
り込む手法が種々開発されている。Ｘ線に感度を持ち、
検出したＸ線をその強度に応じた電気信号に変換・出力
する光電変換素子、あるいはＸ線のエネルギーを吸収
し、それに応じた強度の蛍光を発する蛍光体と、可視光
に感度を持ちその強度に応じた電気信号を出力する光電
変換素子の組み合わせからなるＸ線画像検出手段を用い
て、Ｘ線画像を電気信号に変換し、Ａ／Ｄ変換によって
ディジタル的に取り込む手法等がある。
【０００７】この光電変換材料として、アモルファスシ
リコン（ａ−Ｓｉ）を用いた光電変換素子を、我々は、
以前提案した（特願平６−１９６６４２号）。
リコン（ａ−Ｓｉ）を用いた光電変換素子を、我々は、
以前提案した（特願平６−１９６６４２号）。
【０００８】図４は、この光電変換素子を用いた光電変
換装置の全体図であり、Ｓ１１〜Ｓ４４は、光電変換素
子である。Ｖｓは、読み出し電源、Ｖｒは、リフレッシ
ュ電源であり、それぞれスイッチＳＷｓ、ＳＷｒを介し
てＳ１１〜Ｓ４４のドレイン電極に接続されている。Ｓ
Ｗｓは、インバータを介して、ＳＷｒは、直接にリフレ
ッシュ制御回路ＲＦに接続されており、リフレッシュ期
間中は、ＳＷｒがＯＮ、その他の期間は、ＳＷｓがＯＮ
するよう制御されている。１画素は、１個の光電変換素
子と１個のスイッチングＴＦＴとで構成され、行アドレ
ス選択回路ＳＲ１で選択された行の画素の出力信号は、
転送回路ＳＲ２によって順次出力される。
換装置の全体図であり、Ｓ１１〜Ｓ４４は、光電変換素
子である。Ｖｓは、読み出し電源、Ｖｒは、リフレッシ
ュ電源であり、それぞれスイッチＳＷｓ、ＳＷｒを介し
てＳ１１〜Ｓ４４のドレイン電極に接続されている。Ｓ
Ｗｓは、インバータを介して、ＳＷｒは、直接にリフレ
ッシュ制御回路ＲＦに接続されており、リフレッシュ期
間中は、ＳＷｒがＯＮ、その他の期間は、ＳＷｓがＯＮ
するよう制御されている。１画素は、１個の光電変換素
子と１個のスイッチングＴＦＴとで構成され、行アドレ
ス選択回路ＳＲ１で選択された行の画素の出力信号は、
転送回路ＳＲ２によって順次出力される。
【０００９】図５は、この時の画像データの読み出しタ
イミングを表した図である。時間ｔ１でリフレッシュを
行うと、その直後に多大な暗電流が発生し、それが電荷
として光電変換素子に蓄積される。そこで、実際に光電
変換素子から画素データを読み出す場合、本読み（時間
ｔ３）の前に光電変換素子を空読み（時間ｔ２）して、
蓄積された電荷を放出してやる必要がある。
イミングを表した図である。時間ｔ１でリフレッシュを
行うと、その直後に多大な暗電流が発生し、それが電荷
として光電変換素子に蓄積される。そこで、実際に光電
変換素子から画素データを読み出す場合、本読み（時間
ｔ３）の前に光電変換素子を空読み（時間ｔ２）して、
蓄積された電荷を放出してやる必要がある。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】画像データに対するノ
イズは、暗電流によって蓄積された電荷の平方根に比例
することが知られている。そこで、上記空読みの後、一
定時間後に本読みを行うのであるが、空読みから本読み
までの間にも暗電流による電荷は、蓄積されており、こ
の値は、できるだけ少ない方が望ましい。暗電流は、時
間と共に減少するため、上記リフレッシュ動作後、でき
るだけ遅らせて空読みを行うことによって本読みでのノ
イズを減らすことができる。しかしながら、これでは上
記Ｘ線検出装置で低ノイズの画像を連続的に読み出すこ
とが困難であるという解決すべき課題がある。
イズは、暗電流によって蓄積された電荷の平方根に比例
することが知られている。そこで、上記空読みの後、一
定時間後に本読みを行うのであるが、空読みから本読み
までの間にも暗電流による電荷は、蓄積されており、こ
の値は、できるだけ少ない方が望ましい。暗電流は、時
間と共に減少するため、上記リフレッシュ動作後、でき
るだけ遅らせて空読みを行うことによって本読みでのノ
イズを減らすことができる。しかしながら、これでは上
記Ｘ線検出装置で低ノイズの画像を連続的に読み出すこ
とが困難であるという解決すべき課題がある。
【００１１】［発明の目的］本発明は、かかる課題に鑑
み、暗電流によるノイズを低減した画像信号を連続的に
取り込むことができる画像信号読取装置及び読取方法を
提供することを目的とする。
み、暗電流によるノイズを低減した画像信号を連続的に
取り込むことができる画像信号読取装置及び読取方法を
提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するための手段として、マトリクス状に配列され
た光電変換素子を持ち、１回のリフレッシュ動作で少な
くとも１回以上のデータ読み出しが可能であり、リフレ
ッシュ後、一定期間の読み出し不能期間を伴うＸ線検知
装置において、独立に駆動可能な２系統のリフレッシュ
信号ラインと、それを制御する信号発生装置と、取り込
んだデータの平均を一画素ごとに算出する処理装置と、
を有することを特徴とする画像読取装置を提供するもの
である。
を解決するための手段として、マトリクス状に配列され
た光電変換素子を持ち、１回のリフレッシュ動作で少な
くとも１回以上のデータ読み出しが可能であり、リフレ
ッシュ後、一定期間の読み出し不能期間を伴うＸ線検知
装置において、独立に駆動可能な２系統のリフレッシュ
信号ラインと、それを制御する信号発生装置と、取り込
んだデータの平均を一画素ごとに算出する処理装置と、
を有することを特徴とする画像読取装置を提供するもの
である。
【００１３】また、第１の系統がリフレッシュ動作を行
っている間は、第２の系統からデータを読み出し、第２
の系統がリフレッシュ動作を行っている間は、第１の系
統からデータを読み出すべく制御する、画像読取方法
を、上記課題を解決するための手段とするものである。
っている間は、第２の系統からデータを読み出し、第２
の系統がリフレッシュ動作を行っている間は、第１の系
統からデータを読み出すべく制御する、画像読取方法
を、上記課題を解決するための手段とするものである。
【００１４】［作用］本発明の画像読取装置による作用
を、Ｘ線検出装置を例にとって説明する。
を、Ｘ線検出装置を例にとって説明する。
【００１５】Ｘ線照射装置から照射されたＸ線は、被写
体を透過して、シンチレータ（蛍光体）によって光に変
換され、２次元マトリクス状に配列された光電変換素子
に入射する。
体を透過して、シンチレータ（蛍光体）によって光に変
換され、２次元マトリクス状に配列された光電変換素子
に入射する。
【００１６】この時、光電変換素子により電気信号に変
換された画像データを得るために、まず、第１の系統の
１＋４ｎ、４＋４ｎ列を選択して、リフレッシュが必要
になるまでの時間は、連続して第１の系統の１＋４ｎ、
４＋４ｎ列から画像を取り込む。このとき１＋４ｎ、４
＋４ｎ列のデータは、処理装置によって一画素ごとに平
均され、それが画素データとして取り込まれる。
換された画像データを得るために、まず、第１の系統の
１＋４ｎ、４＋４ｎ列を選択して、リフレッシュが必要
になるまでの時間は、連続して第１の系統の１＋４ｎ、
４＋４ｎ列から画像を取り込む。このとき１＋４ｎ、４
＋４ｎ列のデータは、処理装置によって一画素ごとに平
均され、それが画素データとして取り込まれる。
【００１７】そして、第１の系統がリフレッシュ動作を
行っている間は、第２の系統の２＋４ｎ、３＋４ｎ列か
ら同様にしてデータを読み出す。このとき２＋４ｎ、３
＋４ｎ列のデータは、処理装置によって一画素ごとに平
均され、それが画素データとして取り込まれる。
行っている間は、第２の系統の２＋４ｎ、３＋４ｎ列か
ら同様にしてデータを読み出す。このとき２＋４ｎ、３
＋４ｎ列のデータは、処理装置によって一画素ごとに平
均され、それが画素データとして取り込まれる。
【００１８】この動作を繰り返すことによって、第１系
統のラインの画像と第２系統のラインの画像が交代で更
新され、低ノイズの画像を連続的に読み出し、平均をと
ることで画像の重心が一定になり、画像のちらつきを押
さえることが可能となる。
統のラインの画像と第２系統のラインの画像が交代で更
新され、低ノイズの画像を連続的に読み出し、平均をと
ることで画像の重心が一定になり、画像のちらつきを押
さえることが可能となる。
【００１９】
［実施形態１］図１は、本発明の実施形態のＸ線画像検
出装置を表す図である。
出装置を表す図である。
【００２０】図１において、１は、Ｘ線発生装置、２
は、被写体、３は、シンチレータ、４は、光電変換装
置、５は、画像処理装置を表す。Ｘ線発生装置１から照
射されたＸ線は、被写体２を通過してシンチレータ３に
よって入射したＸ線量に比例した光に変換される。この
光は、光電変換装置４によって電気信号に変換され、画
像処理装置５に転送される。
は、被写体、３は、シンチレータ、４は、光電変換装
置、５は、画像処理装置を表す。Ｘ線発生装置１から照
射されたＸ線は、被写体２を通過してシンチレータ３に
よって入射したＸ線量に比例した光に変換される。この
光は、光電変換装置４によって電気信号に変換され、画
像処理装置５に転送される。
【００２１】図２は、図１の光電変換装置４の内容の内
の１出力画素Ｄ１１を表した図である。
の１出力画素Ｄ１１を表した図である。
【００２２】図２において、Ｓ１１〜Ｓ４４は、光電変
換素子であり、上側の電極をゲート、下側をドレインと
している。Ｔ１１〜Ｔ４４は、スイッチングＴＦＴであ
る。Ｖｓは、読み出し電源、Ｖｒは、リフレッシュ電源
であり、それぞれスイッチＳＷｓ１、ＳＷｒ１を介して
Ｓ１１〜Ｓ１４及びＳ３１〜Ｓ３４のドレイン電極に接
続され、スイッチＳＷｓ２、ＳＷｒ２を介してＳ２１〜
Ｓ２４及びＳ４１〜Ｓ４４のドレイン電極に接続されて
いる。
換素子であり、上側の電極をゲート、下側をドレインと
している。Ｔ１１〜Ｔ４４は、スイッチングＴＦＴであ
る。Ｖｓは、読み出し電源、Ｖｒは、リフレッシュ電源
であり、それぞれスイッチＳＷｓ１、ＳＷｒ１を介して
Ｓ１１〜Ｓ１４及びＳ３１〜Ｓ３４のドレイン電極に接
続され、スイッチＳＷｓ２、ＳＷｒ２を介してＳ２１〜
Ｓ２４及びＳ４１〜Ｓ４４のドレイン電極に接続されて
いる。
【００２３】ＳＷｓ１、ＳＷｓ２は、インバータを介し
て、ＳＷｒ１、ＳＷｒ２は、直接にリフレッシュ制御回
路ＲＦに接続されており、リフレッシュ期間中は、ＳＷ
ｒ１もしくはＳＷｒ２がＯＮ、その他の期間は、ＳＷｓ
１もしくはＳＷｓ２がＯＮするよう制御されている。
て、ＳＷｒ１、ＳＷｒ２は、直接にリフレッシュ制御回
路ＲＦに接続されており、リフレッシュ期間中は、ＳＷ
ｒ１もしくはＳＷｒ２がＯＮ、その他の期間は、ＳＷｓ
１もしくはＳＷｓ２がＯＮするよう制御されている。
【００２４】１画素は、１個の光電変換素子と１個のス
イッチングＴＦＴとで構成され、行アドレス選択回路Ｓ
Ｒ１で選択された行の画素の出力信号は、転送回路ＳＲ
２によって順次出力される。
イッチングＴＦＴとで構成され、行アドレス選択回路Ｓ
Ｒ１で選択された行の画素の出力信号は、転送回路ＳＲ
２によって順次出力される。
【００２５】図３は、本発明を実施するためのＸ線照
射、画像読み出し、リフレッシュのタイミングを表した
ものである。
射、画像読み出し、リフレッシュのタイミングを表した
ものである。
【００２６】これらの図を使用して、本実施形態につい
て、以下にその動作を説明する。
て、以下にその動作を説明する。
【００２７】まず、図３の時間Ｔｒｆ１において、図２
中のＳＲ１によって制御配線ｇ１、ｇ４は、Ｈレベルに
され、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出力可能に
なると同時にＲＦがＳＷｒ１にＨレベルを出し、ＳＷｒ
１は、ＯＮになり、第１系統の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ
１４、Ｓ４１〜Ｓ４４のドレイン電極は、Ｖｒによって
正電位になる。すると第１系統の光電変換素子は、リフ
レッシュモードになり、リフレッシュされる。
中のＳＲ１によって制御配線ｇ１、ｇ４は、Ｈレベルに
され、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出力可能に
なると同時にＲＦがＳＷｒ１にＨレベルを出し、ＳＷｒ
１は、ＯＮになり、第１系統の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ
１４、Ｓ４１〜Ｓ４４のドレイン電極は、Ｖｒによって
正電位になる。すると第１系統の光電変換素子は、リフ
レッシュモードになり、リフレッシュされる。
【００２８】次ぎに、ＳＲ１によってｇ２、ｇ３は、Ｌ
レベルにされ、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出
力不能になると、同時にＲＦは、ＳＷｓ１にＨレベルを
出し、ＳＷｓ１は、ＯＮになり、第１系統の光電変換素
子Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４のドレイン電極は、
Ｖｓによって正電位になり、光電変換モードになる。
レベルにされ、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出
力不能になると、同時にＲＦは、ＳＷｓ１にＨレベルを
出し、ＳＷｓ１は、ＯＮになり、第１系統の光電変換素
子Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４のドレイン電極は、
Ｖｓによって正電位になり、光電変換モードになる。
【００２９】ここで、Ｘ線を、図３のＸ−ｒａｙに示す
ように、パルス的に出射し、人体を通過させ、シンチレ
ータでＸ線量に比例した光として光電変換素子に入射さ
せる。この光によって生じた電荷は、光電変換素子内に
蓄積される。
ように、パルス的に出射し、人体を通過させ、シンチレ
ータでＸ線量に比例した光として光電変換素子に入射さ
せる。この光によって生じた電荷は、光電変換素子内に
蓄積される。
【００３０】そして、ＳＲ１によってｇ１、ｇ４をＨレ
ベルにし、ＳＲ２によってｏ１〜ｏ４を出力可能状態に
することで、Ｓ１１、Ｓ４１に蓄積された電荷の合計、
Ｓ１２、Ｓ４２に蓄積された電荷の合計、Ｓ１３、Ｓ４
３に蓄積された電荷の合計、Ｓ１４、Ｓ４４に蓄積され
た電荷の合計による信号が、Ｔ１１〜Ｔ１４、Ｔ４１〜
Ｔ４４、ＳＲ２を介して順次出力される。
ベルにし、ＳＲ２によってｏ１〜ｏ４を出力可能状態に
することで、Ｓ１１、Ｓ４１に蓄積された電荷の合計、
Ｓ１２、Ｓ４２に蓄積された電荷の合計、Ｓ１３、Ｓ４
３に蓄積された電荷の合計、Ｓ１４、Ｓ４４に蓄積され
た電荷の合計による信号が、Ｔ１１〜Ｔ１４、Ｔ４１〜
Ｔ４４、ＳＲ２を介して順次出力される。
【００３１】これらの信号は、処理装置ＰＲＯＣＥＳＳ
ＯＲによって合計、平均される。これは、具体的には、
以下のように計算する。
ＯＲによって合計、平均される。これは、具体的には、
以下のように計算する。
【００３２】すなわち、順次Ａ／Ｄ変換して加算してい
き、８個分のデータが加算された時点で８で割って、こ
の平均値を、４×４を１画素とした場合の画素値とす
る。
き、８個分のデータが加算された時点で８で割って、こ
の平均値を、４×４を１画素とした場合の画素値とす
る。
【００３３】また、総和をとるだけでも良く、この場合
は、平均の場合と同様に、Ａ／Ｄ変換し、加算して、そ
の総和を、４×４を１画素とした場合の画素値とする。
は、平均の場合と同様に、Ａ／Ｄ変換し、加算して、そ
の総和を、４×４を１画素とした場合の画素値とする。
【００３４】Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４に蓄積さ
れた画像データは、図６に示すような１フレームの内の
出力画素Ｄ１１として扱われ、以上のことが、Ｄ１２〜
Ｄ４４についても行われる。そして、図１の画像処理装
置５内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示する。
れた画像データは、図６に示すような１フレームの内の
出力画素Ｄ１１として扱われ、以上のことが、Ｄ１２〜
Ｄ４４についても行われる。そして、図１の画像処理装
置５内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示する。
【００３５】これをリフレッシュ後のＸ線画像の読み取
りを再度リフレッシュが必要になるまでの適当な回数繰
り返す。
りを再度リフレッシュが必要になるまでの適当な回数繰
り返す。
【００３６】第１系統の光電変換素子Ｓ１１〜Ｓ１４、
Ｓ４１〜Ｓ４４での画像読み取りが行われている間に、
ある時間Ｔｒｆ２において、図２中のＳＲ１によって制
御配線ｇ２、ｇ３は、Ｈレベルにされ、ＳＲ２によって
出力配線ｏ１〜ｏ４が出力可能になると同時にＲＦがＳ
Ｗｒ２にＨレベルを出し、ＳＷｒ２は、ＯＮになり、第
２系統の光電変換素子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４
のドレイン電極は、Ｖｒによって正電位になる。すると
第２系統の光電変換素子は、リフレッシュモードにな
り、リフレッシュされる。
Ｓ４１〜Ｓ４４での画像読み取りが行われている間に、
ある時間Ｔｒｆ２において、図２中のＳＲ１によって制
御配線ｇ２、ｇ３は、Ｈレベルにされ、ＳＲ２によって
出力配線ｏ１〜ｏ４が出力可能になると同時にＲＦがＳ
Ｗｒ２にＨレベルを出し、ＳＷｒ２は、ＯＮになり、第
２系統の光電変換素子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４
のドレイン電極は、Ｖｒによって正電位になる。すると
第２系統の光電変換素子は、リフレッシュモードにな
り、リフレッシュされる。
【００３７】次ぎに、ＳＲ１によってｇ２、ｇ３は、Ｌ
レベルにされ、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出
力不能になると、同時にＲＦは、ＳＷｓ２にＨレベルを
出し、ＳＷｓ２は、ＯＮになり、第２系統の光電変換素
子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４のドレイン電極は、
Ｖｓによって正電位になり、光電変換モードになる。
レベルにされ、ＳＲ２によって出力配線ｏ１〜ｏ４が出
力不能になると、同時にＲＦは、ＳＷｓ２にＨレベルを
出し、ＳＷｓ２は、ＯＮになり、第２系統の光電変換素
子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４のドレイン電極は、
Ｖｓによって正電位になり、光電変換モードになる。
【００３８】この後、第１系統での画像読み取りが終了
する次のＸ線パルスから、ＳＲ１によって、ｇ２、ｇ３
をＨレベルにし、ＳＲ２によってｏ１〜ｏ４を出力可能
状態にすることで、Ｓ２１、Ｓ３１に蓄積された電荷の
合計、Ｓ２２、Ｓ３２に蓄積された電荷の合計、Ｓ２
３、Ｓ３３に蓄積された電荷の合計、Ｓ２４、Ｓ３４に
蓄積された電荷の合計による信号が、Ｔ２１〜Ｔ２４、
Ｔ３１〜Ｔ３４、ＳＲ２を介して順次出力される。
する次のＸ線パルスから、ＳＲ１によって、ｇ２、ｇ３
をＨレベルにし、ＳＲ２によってｏ１〜ｏ４を出力可能
状態にすることで、Ｓ２１、Ｓ３１に蓄積された電荷の
合計、Ｓ２２、Ｓ３２に蓄積された電荷の合計、Ｓ２
３、Ｓ３３に蓄積された電荷の合計、Ｓ２４、Ｓ３４に
蓄積された電荷の合計による信号が、Ｔ２１〜Ｔ２４、
Ｔ３１〜Ｔ３４、ＳＲ２を介して順次出力される。
【００３９】これらの信号は、処理装置ＰＲＯＣＥＳＳ
ＯＲによって合計、平均される。
ＯＲによって合計、平均される。
【００４０】Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４に蓄積さ
れた画像データは、図６の様な１フレームの内の１出力
画素Ｄ１１として扱われ、以上のことが、Ｄ１２〜Ｄ４
４についても行われる。そして、図１の画像処理装置５
内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示する。
れた画像データは、図６の様な１フレームの内の１出力
画素Ｄ１１として扱われ、以上のことが、Ｄ１２〜Ｄ４
４についても行われる。そして、図１の画像処理装置５
内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示する。
【００４１】以上のようにして、第１系統の光電変換素
子Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４と、第２系統の光電
変換素子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４での画像読み
出しを繰り返し行い、それぞれのデータを平均すること
によって、リフレッシュ後の画像の抜けを防ぎ、画像の
重心移動がないため、ちらつきの無い画像を実現するこ
とが可能となる。
子Ｓ１１〜Ｓ１４、Ｓ４１〜Ｓ４４と、第２系統の光電
変換素子Ｓ２１〜Ｓ２４、Ｓ３１〜Ｓ３４での画像読み
出しを繰り返し行い、それぞれのデータを平均すること
によって、リフレッシュ後の画像の抜けを防ぎ、画像の
重心移動がないため、ちらつきの無い画像を実現するこ
とが可能となる。
【００４２】なお本実施形態では、処理装置ＰＲＯＣＥ
ＳＳＯＲによって合計、平均を求め、図１の画像処理装
置５内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示すると
したが、画像処理装置５によって合計、平均を求めても
良い。
ＳＳＯＲによって合計、平均を求め、図１の画像処理装
置５内の記憶手段に記憶し、ディスプレイに表示すると
したが、画像処理装置５によって合計、平均を求めても
良い。
【００４３】また、上記実施形態では、列単位での説明
を行ったが、複数画素で構成した１出力画素単位毎に、
加算、平均の制御を行うことも可能である。
を行ったが、複数画素で構成した１出力画素単位毎に、
加算、平均の制御を行うことも可能である。
【００４４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光電変換装置のリフレッシュ信号ラインを２系統設け、
得られたデータを平均することによって、ちらつきの無
い画像を連続的に読み取ることができるという効果が得
られる。
光電変換装置のリフレッシュ信号ラインを２系統設け、
得られたデータを平均することによって、ちらつきの無
い画像を連続的に読み取ることができるという効果が得
られる。
【００４５】すなわち、本発明によれば、第１系統のラ
インの画像と第２系統のラインの画像が交代で更新さ
れ、低ノイズの画像を連続的に読み出し、平均をとるこ
とで画像の重心が一定になり、画像のちらつきを押さえ
ることが可能となる。
インの画像と第２系統のラインの画像が交代で更新さ
れ、低ノイズの画像を連続的に読み出し、平均をとるこ
とで画像の重心が一定になり、画像のちらつきを押さえ
ることが可能となる。
【００４６】また、本発明によれば、暗電流によるノイ
ズを低減した画像信号を連続的に取り込むことができる
画像読取装置を得ることができる。
ズを低減した画像信号を連続的に取り込むことができる
画像読取装置を得ることができる。
【図１】本発明の実施形態を示す全体構成図。
【図２】本発明で使用する光電変換装置の１画素の構成
図。
図。
【図３】本発明でのＸ線撮影タイミング図。
【図４】以前提案した光電変換装置の構成図。
【図５】暗電流のノイズの相関図。
【図６】本発明で使用する光電変換装置の構成図。
【符号の説明】 １ Ｘ線発生装置 ２ 被写体 ３ シンチレータ ４ 光電変換装置 ５ 処理装置 ＳＲ１ 行アドレス選択回路 ＳＲ２ 転送回路 ＲＦ リフレッシュ信号制御回路 Ｓ１１〜Ｓ４４ 光電変換素子 Ｔ１１〜Ｔ４４ ＴＦＴ ＳＷｒ、ＳＷｓ スイッチ ＳＷｒ１、ＳＷｓ１ ＳＷｒ２、ＳＷｓ２ Ｖｒ リフレッシュ用電源 Ｖｓ 読み出し用電源 ｇ１〜ｇ１６ アドレス信号ライン ｏ１〜ｏ１６ 出力信号ライン Ｄ１１〜Ｄ１６ ４×４で構成された１出力画素 ｒｆ、ｒｆ１、ｒｆ２ リフレッシュ信号ライン Ｔｒｆ１〜Ｔｒｆ３ リフレッシュタイミング ｔ１ リフレッシュタイミング ｔ２ 空読みタイミング ｔ３ 本読みタイミング
Claims (7)
- 【請求項１】 リフレッシュ動作を必要とする光電変換
素子を含む複数の画素をマトリクス状に配列した画像読
取装置において、 前記複数画素を複数の画素群に分けてリフレッシュ動作
させる手段と、 一部の前記画素群のリフレッシュ動作中に、他の画素群
の信号読取動作を行なう手段と、 前記読取った一画素単位の信号の平均を出力する手段
と、を有することを特徴とする画像読取装置。 - 【請求項２】 マトリクス状に配列された光電変換素子
を含む複数の画素を有し、１回のリフレッシュ動作で少
なくとも１回以上のデータ読み出しが可能であり、リフ
レッシュ後、一定期間の読み出し不能期間を伴う画像読
取装置において、 独立に駆動可能な２系統のリフレッシュ信号ラインに接
続される画素群と、 第１の前記系統の画素群がリフレッシュ動作を行ってい
る間は、第２の前記系統の画素群からデータを読み出
し、 前記第２の系統の画素群がリフレッシュ動作を行ってい
る間は、前記第１の系統の画素群からデータを読み出す
べく制御する、制御信号発生装置と、 前記画素群ごとに取り込んだデータの一画素ごとの平均
を算出する処理装置と、を有することを特徴とする画像
読取装置。 - 【請求項３】 マトリクス状に配列された光電変換素子
を含む複数の画素を有し、１回のリフレッシュ動作で少
なくとも１回以上のデータ読み出しが可能であり、リフ
レッシュ後、一定期間の読み出し不能期間を伴う画像読
取装置において、 独立に駆動可能な複数系統のリフレッシュ信号ラインに
接続される画素群と、 特定の前記画素群がリフレッシュ動作を行っている間
は、他の前記画素群からデータを読み出し、 他の前記画素群がリフレッシュ動作を行っている間は、
前記特定の画素群からデータを読み出すべく制御する、
制御信号発生装置と、 前記画素群ごとに取り込んだデータの一画素ごとの平均
を算出する処理装置と、を有することを特徴とする画像
読取装置。 - 【請求項４】 複数の画素または画素列について、前記
中心線に対称な画素または画素列を特定する手段と、 前記特定手段によって読み出された前記出力画素単位の
出力信号値を、前記特定された画素数または画素列数あ
たりの画素出力として処理する信号処理手段と、を備え
たことを特徴とする画像読取装置。 - 【請求項５】 複数の画素によって１つの出力画素単位
を構成し、前記出力画素単位を複数備える画像読取装置
の読出方法において、 前記１出力画素単位の仮想中心を通る少なくとも１本の
仮想中心線に対して、対称位置にある特定画素の出力の
総和をとり、前記出力画素単位の出力信号として読み出
すことを特徴とする画像読取方法。 - 【請求項６】 上記出力画素単位として、複数の画素で
構成された画素列をその配列方向に平行な複数本の画素
列によって構成し、 前記１出力画素単位の中心を通り、前記画素列に平行な
仮想中心線に対して、対称位置にある特定画素列の出力
総和をとり、前記出力画素単位の出力信号として読み出
すことを特徴とする請求項５記載の画像読取方法。 - 【請求項７】 前記対称位置にある特定画素出力の総
和、または特定画素列出力の総和を読み取り、信号処理
系に転送後、別の対称位置にある特定画素または特定画
素列について読み取り、前記出力画素単位の出力信号と
して読み出し、前記信号処理系に転送することを順次繰
り返すことを特徴とする請求項５又は６記載の画像読取
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8335401A JPH10170656A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8335401A JPH10170656A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10170656A true JPH10170656A (ja) | 1998-06-26 |
Family
ID=18288137
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8335401A Pending JPH10170656A (ja) | 1996-12-16 | 1996-12-16 | 画像読取装置及びその画像読取方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10170656A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000189411A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-11 | General Electric Co <Ge> | ディジタル放射線撮影画像作成方法 |
| JP2001212122A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-08-07 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線画像診断装置 |
| US6453008B1 (en) * | 1999-07-29 | 2002-09-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector noise reduction method and radiation detector |
| JP2011062530A (ja) * | 2010-10-15 | 2011-03-31 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びシステム |
-
1996
- 1996-12-16 JP JP8335401A patent/JPH10170656A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000189411A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-11 | General Electric Co <Ge> | ディジタル放射線撮影画像作成方法 |
| JP4630412B2 (ja) * | 1998-12-22 | 2011-02-09 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | ディジタル放射線撮影画像作成方法 |
| US6453008B1 (en) * | 1999-07-29 | 2002-09-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Radiation detector noise reduction method and radiation detector |
| JP2001212122A (ja) * | 2000-02-01 | 2001-08-07 | Hitachi Medical Corp | Ｘ線画像診断装置 |
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| JP2011062530A (ja) * | 2010-10-15 | 2011-03-31 | Canon Inc | 放射線撮像装置及びシステム |
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