JPH10170394A - 光線路監視システムの試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光線路監視システム自体の異常を確実に検出
できる試験方法が求められていた。 【解決手段】 波長の異なる２種類の試験光の一方のみ
を反射しかつ他方を通過させるフィルタ部２５と、該フ
ィルタ部２５を通過した試験光の反射を防止する反射防
止手段２６とを備えてなる試験ポート２３を光スイッチ
６に確保し、試験ポート２３に試験光線路８を接続する
第１の工程と、フィルタ部２５を通過する試験光を試験
光線路８に入射して光パルス試験器２０で反射光を観測
する第２の工程と、フィルタ部２５で反射する試験光を
光パルス試験器２０から試験光線路８に入射して光パル
ス試験器２０で反射光を観測する第３の工程とを備えて
なり、第２、第３の工程のいずれか一方を先行して実施
した後、他方を実施する試験方法により、試験光線路の
異常を確実に検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光線路監視システ
ムの試験方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】図４は、光線路監視システムを示す。図
４中符号１は光試験装置（ＯＰＴ部）、２は心線選択装
置、３は光源、４は光パワーメータ（ＯＰＭ）、５は光
パルス試験器（ＯＴＤＲ：Optical Time Domain Ref
lectometer）、６は光スイッチ、７は光部品収納ケー
ス、８は試験光線路、９は通信光線路である。光線路監
視システムは、光試験装置１と、心線選択装置２とを備
えて構成される。光試験装置１と心線選択装置２との間
は試験光配線８によって光接続され、心線選択装置２は
内蔵した光部品収納ケース７にて通信光線路９と接続さ
れる。光試験装置１は光源３と、光パワーメータ４と、
光パルス試験器５とを装備し、これら光源３、光パワー
メータ４、光パルス試験器５を２本の試験光配線８、８
と接続している。なお、通信光線路９は、光ファイバ等
から構成された光配線である。

【０００３】心線選択装置２は光スイッチ６と光部品収
納ケース７とを備えている。光スイッチ６は、１あるい
は複数の光部品収納ケース７に対応し、例えば２０００
本の単心の光ファイバ１１に対して、試験光配線８、８
を選択的に接続する。具体的には、光スイッチ６はメカ
ニカル方式のファイバ突き合わせ型スイッチであり、２
本の試験光配線８、８のそれぞれの端末に設けた単心光
ファイバを可動ヘッド１２に搭載し、該可動ヘッド１２
を図示しないパルスモータで駆動して目的位置に正確に
位置決めすることで、光ファイバ配列台６ａ上に配列さ
せた目的の光ファイバ１１、１１とそれぞれ接続する。
なお、可動ヘッド１２、１２の制御は光スイッチ６内蔵
のＣＰＵによりなされる。光部品収納ケース７は、光ス
イッチ６から引き出された単心あるいは多心の光ファイ
バ１１ａと、この光ファイバ１１ａの途中に介在させた
光合分波器１０（光カプラ）とを収納し、光ファイバ１
１ａと通信光線路９とを光コネクタ１３を介して接続す
る。また、光部品収納ケース７は、図示していない伝送
装置側の光線路が接続される接続用ポート１４を有し、
この接続用ポート１４を介して通信光線路９や光ファイ
バ１１ａを伝送装置側の光線路と接続する。なお、試験
光配線８と光ファイバ１１、１１ａとは、光試験装置１
と心線選択装置２内の他の光部品とともに試験光線路を
構成する。

【０００４】この光線路監視システムでは、光スイッチ
６にて目的の光ファイバ８、１１同士を接続すること
で、目的の通信光線路９と光試験装置１とが接続され
る。そして、光源３から試験光配線８に入射した試験光
を、光スイッチ６、光部品収納ケース７を介して通信光
線路９へ入射し、この逆順で光試験装置１に帰還した反
射光を光パルス試験器５で観測することで、周知の光パ
ルス試験を行う。試験光波長としては、通信光波長であ
る１．３１μｍ、あるいは通信光とは異なる波長として
は例えば１．５５μｍや１．６５μｍを用いることが一
般的である。

【０００５】ところで、光線路監視システム自体の光線
路に異常があると通信光線路の光パルス試験が無意味に
なってしまうため、近年では、光線路監視システムの試
験方法が提案されている。この試験方法の一例として
は、まず、図４中符号１５の測定ポートと、１６の確認
ポートの２個のポートを光スイッチ６に確保し、これら
測定ポート１５と確認ポート１６とをループバック用光
ファイバ１７で接続する。そして、光スイッチ６を駆動
させて測定ポート１５と確認ポート１６とに試験光配線
８、８をそれぞれ接続した後、光源６から試験光配線８
に入射した試験光をループバック用光ファイバ１７を介
して光パルス試験器５へ帰還させることで、光試験装置
１から光スイッチ６までの試験光配線８、８の確認と、
光スイッチ６まわりの配線確認、光スイッチ６の動作確
認を行う。すなわち、光パワーメータ４で帰還した試験
光の強度を基準値と比較し、光パルス試験器５で試験光
の入射から帰還までの時間（距離）から試験光配線８お
よび通信光線路９の異常を観測し、両観測データを照合
することで異常の有無を確認している。なお、この試験
方法では、２本の試験光配線８とループバック用光ファ
イバ１７とを通って入射試験光が光試験装置１に帰還さ
れるようにすれば良いので、ループバック用光ファイバ
１７の取り付け位置は自由であり、例えば、光部品収納
ケース７にて光ファイバ１１ａに取り付けることも可能
である。この場合、測定ポートと確認ポートとを光部品
収納ケース７に設置する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、前記のよう
な光線路監視システムの試験方法の場合、光パワーメー
タ４が高価であるため、光線路監視システムのコストが
上昇するといった問題があった。なお、光パワーメータ
４は、この試験においてループバックされた試験光強度
を基準値と比較することだけに機能し、通信光線路９の
パルス試験等の他の試験には利用されないため、ループ
バック光用の光パワーメータ４を設置しないで安価で実
施できる試験方法の開発が求められていた。また、前記
光線路監視システムでは、１心の通信光線路９に対して
２心の試験光線路が必要となることに鑑みて、光スイッ
チ６や光部品収納ケース７に２ポートを確保する必要が
あり、これにより、例えば、光スイッチ６の対応心数の
増加やコンパクト化の妨げになるといった問題が生じて
いた。伝送装置側の光パルス試験が不要である場合に
は、光部品収納ケース７では伝送装置側の光線路の試験
用ポートを省略できるはずであるが、このポートをルー
プバック用に残しておく必要があるため、光部品収納ケ
ース７を小型化できないといった不満があった。

【０００７】本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
ので、（１）光スイッチや光部品収納ケースに確保すべ
き試験ポートの数が減少するため、光スイッチの対応心
数の増大やコンパクト化が可能になる、（２）ループバ
ックした試験光用の光パワーメータが不要となるため、
コンパクト化、低コスト化できる（３）試験部品が簡便
であるので、試験を低コスト化できる（４）試験部品の
光線路への取り付けが容易であり、光パルス試験装置か
ら目的の範囲の試験光線路を簡便に試験することができ
る、（５）通信光線路の試験にも利用することができる
光線路監視システムの試験方法を提供することを目的と
するものである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は、前記課題を解
決するため、波長の異なる少なくとも２種類の試験光を
試験光線路に入射して該試験光線路と接続した通信光線
路に入射し、該試験光が試験光線路あるいは通信光線路
で反射した反射光を観測して試験光線路および通信光線
路の異常を検出する光パルス試験器と、複数の通信用光
線路に対して前記試験光線路を選択的に切替可能に接続
する光スイッチとを備えた光線路監視システムの試験方
法であって、前記光パルス試験器から試験光線路に入射
される一方の波長の試験光のみを反射しかつ他方の波長
の試験光を通過させるフィルタ部と、該フィルタ部を通
過した試験光の反射を防止する反射防止手段とを備えて
なる試験ポートを光スイッチに確保し、該試験ポートに
試験光線路を接続する第１の工程と、第１の工程の完了
後、前記フィルタ部を通過する波長の試験光を光パルス
試験器から試験光線路に入射して光パルス試験器で反射
光を観測する第２の工程と、第１の工程の完了後、前記
フィルタ部で反射する波長の試験光を光パルス試験器か
ら試験光線路に入射して光パルス試験器で反射光を観測
する第３の工程を備えてなり、第２、第３の工程のいず
れか一方を先行して実施した後、他方を実施することを
特徴とする光線路監視システムの試験方法を前記課題の
解決手段とした。

【０００９】フィルタ部および反射防止手段は、例えば
光コネクタでコアレス光ファイバを突き合わせ接続可能
に成端して形成した試験部品を利用して試験ポートに設
けることが好ましい。すなわち、この場合、光コネクタ
として、例えばＪＩＳ Ｃ５９７３に制定されるいわゆ
るＳＣ形光コネクタを採用し、このＳＣ形光コネクタフ
ェルールに光フィルタを組み込んだものをフィルタ部と
する。また、このフィルタ部でコアレス光ファイバを成
端して無反射端を形成したものを反射防止手段として利
用する。これにより、フィルタ部を試験ポートに接続す
るだけで、試験部品を試験ポートに簡便に取り付けるこ
とができ、フィルタ部および反射防止手段を試験ポート
に設置することができる。フィルタ部は、光コネクタに
組み込んだ光フィルタに限定されない。また、反射防止
手段としては、コアレス光ファイバ以外、全吸収膜等
や、フィルタ部を通過する試験光波長帯域のみ反射を防
止する光アイソレータ等の各種構成の採用が可能であ
る。なお、光コネクタとしては、例えばＪＩＳ Ｃ ５
９８１に制定されるプラスチック製多心光コネクタ（い
わゆるＭＴ形光コネクタ：Mechanically Transferabl
e）等の各種光コネクタの採用が可能である。

【００１０】第２、第３の工程は、試験ポートにフィル
タ部と反射防止手段とを設置したまま、連続して行うこ
とができる。したがって、光スイッチに確保する試験ポ
ートは一つのみで済み、光スイッチの対応心数の増加や
コンパクト化が可能になる。また、本発明の光線路監視
システムの試験方法によれば、試験光をループバックさ
せること無く試験光線路の異常を検出できるので、ルー
プバック光を受光するための光パワーメータが不要にな
る。

【００１１】試験光波長としては、例えば１．３１μｍ
と、１．５５μｍ等を採用する。この場合、第１の工程
では光パルス試験器が試験光線路に入射する波長の異な
る２種類の試験光の内、一方の波長の試験光が反射し、
かつ他方の波長の試験光が通過するフィルタ部を試験ポ
ートに設ける。そして、第２の工程を一方の波長の試験
光で実施し、第３の工程を他方の波長の試験光で実施す
る。第２、第３の工程の実施順は、どちらが先でも良
い。

【００１２】

【発明の実施の形態】以下本発明の光線路監視システム
の実施の形態を、図１から図３を参照して説明する。図
１は、本発明に係る光線路監視システムの試験方法を適
用する光線路監視システムを示す。なお、図中図４と同
一の構成部分には同一の符号を付し、その説明を簡略化
する。図１において、本発明に係る光線路監視システム
は、光パルス試験器２０（ＯＴＤＲ）と、心線選択装置
２１とを備えて構成されている。光パルス試験器２０
は、試験光線路８に試験光を入射する光源を内蔵してい
る。この光パルス試験器２０には試験光線路８を一本接
続し、心線選択装置２１の光スイッチ２２にて、光部品
収納ケース７で通信光線路９と接続された多数本の光フ
ァイバ１１に対して前記試験光配線８を選択的に接続す
ることで、目的の通信光線路９に光パルス試験器２０が
接続されて、該通信光線路９の試験が光パルス試験器２
０によりなされる。心線選択装置２１の他の部分の構成
は、図４に示す心線選択装置２と同様である。

【００１３】図１中符号２３は試験ポートであり、光ス
イッチ２２に一つのみ設置される。この試験ポート２３
には、試験部品２４が着脱可能に接続される。この試験
部品２４は、ＪＩＳ Ｃ ５９７３に制定されるいわゆ
るＳＣ形光コネクタの図示しないフェルールにフィルタ
を組み込んでなるフィルタ部２５と、該フィルタ部２５
により別の光ファイバと突き合わせ接続可能に成端され
た反射防止手段２６（コアレス光ファイバ）とからな
る。

【００１４】次に、本実施の形態の光線路監視システム
の試験方法を説明する。 ［第１の工程］まず、試験部品２４を組み立て、試験ポ
ート２３に接続する。本実施の形態では、フィルタ部２
５は、波長１．５５μｍの試験光を通過させかつ波長
１．３１μｍの試験光を反射する構成とする。反射防止
手段２６は無反射端を形成し、試験ポート２３に接続さ
れた試験光線路８から入射されてフィルタ部２５を通過
した試験光の反射を防止する。試験ポート２３が完成し
たら、光スイッチ２２を駆動して試験光線路８を試験ポ
ート２３に接続する。 ［第２の工程］第１の工程の完了後、波長１．５５μｍ
の試験光を光源から試験光線路８を介して試験部品２４
に入射し、光パルス試験器２０で反射光を観測する。 ［第３の工程］第２の工程の完了後、試験光線路８を試
験ポート２３に接続したまま、波長１．３１μｍの試験
光を光源から試験光線路８を介して試験部品２４に入射
し、光パルス試験器２０で反射光を観測する。

【００１５】以下、この光線路監視システムの試験方法
の作用および効果を説明する。この光線路監視システム
の試験方法では、第２の工程にて光パルス試験器２０で
フレネル反射が観測される（図２参照）と、試験光線路
８のどこかに断線があることが判る。試験光線路８の断
線は、試験光線路８を構成する光ファイバの切断や、コ
ネクタ接続部や融着接続部の接続部の接続不良等であ
る。一方、フレネル反射が観測されない場合（図３参
照）では、試験光線路８が正常であることを断定はでき
ず、異常の有無を判定するには、第３の工程の結果を待
つ必要がある。すなわち、第２の工程でフレネル反射が
観測されないことは、試験光線路８が正常である場合の
他、例えば試験光線路８を構成する光ファイバの潰れ等
によって試験光が全吸収されて無反射状態になっている
場合等を含むためである。

【００１６】次に、第２の工程で異常が検出されなかっ
た試験光線路８について第３の工程を実施し、ここで、
フレネル反射が観測できた（図２参照）場合には試験光
線路８が正常であることが判明し、フレネル反射が観測
できない（図３参照）場合には、前述の潰れ等の異常が
試験光線路８にあることが判る。これにより、試験光線
路８の異常箇所の有無を確実に判断することができる。

【００１７】この光線路監視システムの試験方法では、
第２、第３の工程を逆の順で実施した場合にも、同様
に、試験光線路８の異常を確実に検出することができ
る。すなわち、第３の工程で異常が検出されない（フレ
ネル反射が観測された）ことは、波長１．３１μｍの試
験光をフィルタ部２５が反射した場合の他、試験光線路
８が途中で断線している場合も含むため、続けて第２の
工程を行って波長の１．５５μｍの試験光についてフレ
ネル反射の有無を調べることで、異常箇所の有無を判断
することができる。

【００１８】この光線路監視システムの試験方法によれ
ば、第１の工程の後、第２、第３の工程を連続して実施
することで、試験光線路８の異常箇所を確実に検出する
ことができ、光線路監視システムの信頼性を向上するこ
とができる。また、光スイッチ２２に確保する試験ポー
ト２３が一つで済むので、光スイッチ２２の対応心数の
増加や、コンパクト化が可能になる。また、伝送装置側
の光線路の試験を省略する場合には、光部品収納ケース
７に設ける試験光線路用のポートも一つで済むため、光
部品収納ケース７の小型化、低コスト化が可能になる
（図１参照）。また、試験光をループバックさせる必要
が無く、ループバック光用の光パワーメータを使用する
こと無く試験を行うことができるので、試験を低コスト
化することができ、光線路監視システム自体の小型化、
低コスト化も可能になる。

【００１９】なお、試験部品２４は、試験光線路８の何
処にでも接続することが可能であり、これにより、試験
光線路８全線にわたって試験を実施することができる。
また、試験部品２４は、通信光線路９に接続することも
可能であり、通信光線路９の試験に利用することも可能
である。また、本発明の光線路監視システムの試験方法
は、光パルス試験器２０に複数本の試験光線路８を接続
した場合にも適用可能であり、それぞれの試験光線路８
を順に試験ポート２３に接続して第２、第３の工程を実
施することで、全ての試験光線路８を試験することがで
きる。

【００２０】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の光
線路監視システムの試験方法によれば、以下のような優
れた効果を奏する。 フィルタ部と、該フィルタ部を通過した試験光の反射
を防止する反射防止手段とを備えた試験ポートを光スイ
ッチに一つだけ確保すれば良いので、光スイッチの対応
心数の増加や、コンパクト化が可能になる。 試験光をループバックさせる必要が無く、ループバッ
ク光用の光パワーメータを使用すること無く試験を行う
ことができるので、試験を低コスト化することができ、
光線路監視システム自体の小型化、低コスト化も可能に
なる。 フィルタ部を通過する波長の試験光を光源から試験光
線路に入射して光パルス試験器で反射光を観測する第２
の工程と、フィルタ部で反射する波長の試験光を光源か
ら試験光線路に入射して光パルス試験器で反射光を観測
する第３の工程とを備え、これら第２、第３の工程のい
ずれか一方を先行して実施した後、他方を実施すること
で、試験光線路の断線以外の各種異常をも確実に検出す
ることができるので、試験の信頼性が向上する。 の結果、光線路監視システムによる通信光線路の試
験の信頼性が向上する。 フィルタ部と、該フィルタ部を通過した試験光の反射
を防止する反射防止手段とを備えた試験ポートを通信光
線路に設置すると、通信光線路の試験にも利用すること
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の光線路監視システムの試験方法を適
用する光線路監視システムの一例を示す平面図である。

【図２】 光パルス試験器で観測される時間（距離）と
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、フレネル反射を示す。

【図３】 光パルス試験器で観測される時間（距離）と
試験光の光損失量（受光強度）との関係を示す図であっ
て、フレネル反射が観測されない状態を示す。

【図４】 従来例の光線路監視システムの試験方法に係
る光線路監視システムを示す平面図である。

【符号の説明】

８…試験光線路、９…通信光線路、２０…光パルス試験
器（ＯＴＤＲ）、２２…光スイッチ、２３…試験ポー
ト、２５…フィルタ部、２６…反射防止手段（コアレス
光ファイバ）。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 青山 好則 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内 (72)発明者 野村 義和 千葉県佐倉市六崎1440番地 株式会社フジ クラ佐倉工場内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 波長の異なる少なくとも２種類の試験光
   を試験光線路（８）に入射して該試験光線路と接続した
   通信光線路（９）に入射し、該試験光が試験光線路ある
   いは通信光線路で反射した反射光を観測して試験光線路
   および通信光線路の異常を検出する光パルス試験器（２
   ０）と、複数の通信用光線路に対して前記試験光線路を
   選択的に切替可能に接続する光スイッチ（２２）とを備
   えた光線路監視システムの試験方法であって、 前記光パルス試験器から試験光線路に入射される一方の
   波長の試験光のみを反射しかつ他方の波長の試験光を通
   過させるフィルタ部（２５）と、該フィルタ部を通過し
   た試験光の反射を防止する反射防止手段（２６）とを備
   えてなる試験ポート（２３）を光スイッチに確保し、該
   試験ポートに試験光線路を接続する第１の工程と、 第１の工程の完了後、前記フィルタ部を通過する波長の
   試験光を光パルス試験器から試験光線路に入射して光パ
   ルス試験器で反射光を観測する第２の工程と、 第１の工程の完了後、前記フィルタ部で反射する波長の
   試験光を光パルス試験器から試験光線路に入射して光パ
   ルス試験器で反射光を観測する第３の工程とを備えてな
   り、 第２、第３の工程のいずれか一方を先行して実施した
   後、他方を実施することを特徴とする光線路監視システ
   ムの試験方法。