JPH10160578A - 消耗型光ファイバ温度計の測定良否判定方法 - Google Patents
消耗型光ファイバ温度計の測定良否判定方法Info
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- JPH10160578A JPH10160578A JP8316827A JP31682796A JPH10160578A JP H10160578 A JPH10160578 A JP H10160578A JP 8316827 A JP8316827 A JP 8316827A JP 31682796 A JP31682796 A JP 31682796A JP H10160578 A JPH10160578 A JP H10160578A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ファイバを検出部とする放射温度計により
高温溶融体の温度を測定する場合に、その測定結果の良
否を自動的且つ定量的に判定する方法。 【解決手段】 放射温度計が測定した所定温度以上の連
続した出力時間（例えば図１の０．４秒）を測定し、こ
の測定時間の検出部挿入設計時間（例えば１秒）に対す
る比率が予め設定された基準値以上であるか否かによっ
て、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の良否を判
定する方法。
高温溶融体の温度を測定する場合に、その測定結果の良
否を自動的且つ定量的に判定する方法。 【解決手段】 放射温度計が測定した所定温度以上の連
続した出力時間（例えば図１の０．４秒）を測定し、こ
の測定時間の検出部挿入設計時間（例えば１秒）に対す
る比率が予め設定された基準値以上であるか否かによっ
て、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の良否を判
定する方法。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ファイバを検
出部とする放射温度計により、溶融金属等の高温溶融体
の温度を測定する場合において、測定状態および測定結
果の良否を判定する方法に関するものである。
出部とする放射温度計により、溶融金属等の高温溶融体
の温度を測定する場合において、測定状態および測定結
果の良否を判定する方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】製鉄産業やその他の精練または鋳造業に
おいて、溶融状態の金属の温度を測定することは、精練
効率の向上、製造コストの低減、品質保証、安定操業な
どの面から必要なことである。従来、溶融金属の温度測
定には、消耗型の熱電対が用いられてきた。しかしこれ
にかわる新しい測定方法として、例えば特開平６−５８
８１６号公報に示された「消耗形光ファイバ温度測定装
置」がある。
おいて、溶融状態の金属の温度を測定することは、精練
効率の向上、製造コストの低減、品質保証、安定操業な
どの面から必要なことである。従来、溶融金属の温度測
定には、消耗型の熱電対が用いられてきた。しかしこれ
にかわる新しい測定方法として、例えば特開平６−５８
８１６号公報に示された「消耗形光ファイバ温度測定装
置」がある。
【０００３】上記特許公報に示された測定方法は、保護
管と断熱材で２重に被覆された光ファイバの先端を検出
部とする放射温度計の検出部を溶融金属内に挿入し溶融
金属の温度を測定するものであり、この測定方法を用い
た装置による実操業での温度測定も実施されている。ま
たこの測定方法で安定した測定を行うために、金属被覆
した光ファイバをガイド管を通してサポートするととも
に、溶融金属表面の保温材等の浮遊物を不活性ガスのパ
ージにより除去し、スムーズに温度検出部を溶鋼中に送
り込む方法も考えられている。
管と断熱材で２重に被覆された光ファイバの先端を検出
部とする放射温度計の検出部を溶融金属内に挿入し溶融
金属の温度を測定するものであり、この測定方法を用い
た装置による実操業での温度測定も実施されている。ま
たこの測定方法で安定した測定を行うために、金属被覆
した光ファイバをガイド管を通してサポートするととも
に、溶融金属表面の保温材等の浮遊物を不活性ガスのパ
ージにより除去し、スムーズに温度検出部を溶鋼中に送
り込む方法も考えられている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような光ファイバの先端を放射温度計の検出部として溶
融金属等の高温溶融体に浸漬させるこの測定方法は、定
常的には安定した高精度の測定が可能であるが、実操業
で使用する場合に以下のような問題がある。 （１）ガイド管の高さ設定や光ファイバの挿入距離設定
など人為的ミスや、さらに光ファイバの挿入・戻しをす
るピンチロール駆動機構の経年劣化によるスリップなど
により、温度検出部である光ファイバが正しく溶融金属
内に挿入されず、表層部の低温層やスラグ部の温度を測
定してしまうことがある。 （２）溶融金属表面に極めて厚いまたは高粘性の保温材
やスラグが浮遊していてガスパージ等で十分に除去でき
ない場合において、温度検出部にそれらが付着しそのま
ま溶融金属中に挿入され計測がなされることがある。
ような光ファイバの先端を放射温度計の検出部として溶
融金属等の高温溶融体に浸漬させるこの測定方法は、定
常的には安定した高精度の測定が可能であるが、実操業
で使用する場合に以下のような問題がある。 （１）ガイド管の高さ設定や光ファイバの挿入距離設定
など人為的ミスや、さらに光ファイバの挿入・戻しをす
るピンチロール駆動機構の経年劣化によるスリップなど
により、温度検出部である光ファイバが正しく溶融金属
内に挿入されず、表層部の低温層やスラグ部の温度を測
定してしまうことがある。 （２）溶融金属表面に極めて厚いまたは高粘性の保温材
やスラグが浮遊していてガスパージ等で十分に除去でき
ない場合において、温度検出部にそれらが付着しそのま
ま溶融金属中に挿入され計測がなされることがある。
【０００５】（３）上記（１），（２）によって得られ
る異常測定結果の良否を判定する定量的な方法がなく、
測定作業者の経験や再測定を繰返すことによりこれらの
異常測定結果を排除している。 （４）上記（３）において異常測定結果が排除されず
に、正しい測定値として採用されると、製品の品質異常
や設備の破壊など多大な損害が生じることがある。本発
明は、このような問題点を解決するためになされたもの
で、光ファイバを検出部とし、それを溶融金属に挿入し
て放射温度計で測温する場合において、測定毎にその測
定状態および測定結果の良否を判定する方法を提供する
ことを目的とする。
る異常測定結果の良否を判定する定量的な方法がなく、
測定作業者の経験や再測定を繰返すことによりこれらの
異常測定結果を排除している。 （４）上記（３）において異常測定結果が排除されず
に、正しい測定値として採用されると、製品の品質異常
や設備の破壊など多大な損害が生じることがある。本発
明は、このような問題点を解決するためになされたもの
で、光ファイバを検出部とし、それを溶融金属に挿入し
て放射温度計で測温する場合において、測定毎にその測
定状態および測定結果の良否を判定する方法を提供する
ことを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的は、光ファイバ
の先端を検出部とする放射温度計の前記検出部を所定の
設計時間だけ溶融金属等の高温溶融体中に挿入し、この
高温溶融体の温度を測定する消耗型光ファイバ温度計に
おいて、下記の３つの方法により解決される。 （１）前記放射温度計が測定した所定温度以上の連続し
た出力時間を測定し、この測定時間の前記設計時間に対
する比率が予め設定された第１の基準値以上であるか否
かによって、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の
良否を判定する方法。
の先端を検出部とする放射温度計の前記検出部を所定の
設計時間だけ溶融金属等の高温溶融体中に挿入し、この
高温溶融体の温度を測定する消耗型光ファイバ温度計に
おいて、下記の３つの方法により解決される。 （１）前記放射温度計が測定した所定温度以上の連続し
た出力時間を測定し、この測定時間の前記設計時間に対
する比率が予め設定された第１の基準値以上であるか否
かによって、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の
良否を判定する方法。
【０００７】（２）前記放射温度計が測定した所定温度
以上のピーク値を検出すると共にこのピーク値を含むプ
ラトー（plateau 、平坦部）時間を測定し、この測定時
間の前記設計時間に対する比率が予め設定された第２の
基準値以上であるか否かによって、前記放射温度計の測
定結果の良否を判定する方法。
以上のピーク値を検出すると共にこのピーク値を含むプ
ラトー（plateau 、平坦部）時間を測定し、この測定時
間の前記設計時間に対する比率が予め設定された第２の
基準値以上であるか否かによって、前記放射温度計の測
定結果の良否を判定する方法。
【０００８】（３）前記放射温度計が測定した所定温度
以上の連続した出力時間を測定して第１の測定時間を求
め、また前記放射温度計が測定した所定温度以上のピー
ク値を検出すると共にこのピーク値を含むプラトー時間
を測定して第２の測定時間を求め、前記第１の測定時間
の前記設計時間に対する比率が予め設定された第１の基
準値以上であり且つ前記第２の測定時間の前記設計時間
に対する比率が予め設定された第２の基準値以上である
か否かによって、前記検出したピーク値を測温値として
採用するか否かを決定する方法。
以上の連続した出力時間を測定して第１の測定時間を求
め、また前記放射温度計が測定した所定温度以上のピー
ク値を検出すると共にこのピーク値を含むプラトー時間
を測定して第２の測定時間を求め、前記第１の測定時間
の前記設計時間に対する比率が予め設定された第１の基
準値以上であり且つ前記第２の測定時間の前記設計時間
に対する比率が予め設定された第２の基準値以上である
か否かによって、前記検出したピーク値を測温値として
採用するか否かを決定する方法。
【０００９】上記（１）〜（３）の判定方法によって、
放射温度計の測定結果の良否を定量的に評価判定するこ
とができ、またこの判定結果により検出したピーク値を
採用するか、または不採用とするかを自動的に決定する
ことができる。
放射温度計の測定結果の良否を定量的に評価判定するこ
とができ、またこの判定結果により検出したピーク値を
採用するか、または不採用とするかを自動的に決定する
ことができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を説明する前
に、光ファイバの先端を検出部とする放射温度計の前記
検出部を所定の設計時間だけ高温溶融体（この例では溶
融金属とする）中に挿入し、この溶融金属の温度を測定
した場合の放射温度計の出力波形例について説明する。
に、光ファイバの先端を検出部とする放射温度計の前記
検出部を所定の設計時間だけ高温溶融体（この例では溶
融金属とする）中に挿入し、この溶融金属の温度を測定
した場合の放射温度計の出力波形例について説明する。
【００１１】図１は放射温度計の出力波形例１（光ファ
イバの挿入不良のケース）を示す図であり、図の横軸は
時間（１目盛が０．１秒）で、縦軸は温度（単位は℃）
である。図１は例えば、光ファイバの挿入・戻しを行う
ピンチロールのスリップ等によって光ファイバ検出部の
溶融金属中への挿入深さが不十分なため低温（この例で
はピーク値でも１５４５℃程度であり、挿入深さが十分
の場合は図３の例で１５７０℃以上あることが示され
る）の表層部を測定した波形例である。
イバの挿入不良のケース）を示す図であり、図の横軸は
時間（１目盛が０．１秒）で、縦軸は温度（単位は℃）
である。図１は例えば、光ファイバの挿入・戻しを行う
ピンチロールのスリップ等によって光ファイバ検出部の
溶融金属中への挿入深さが不十分なため低温（この例で
はピーク値でも１５４５℃程度であり、挿入深さが十分
の場合は図３の例で１５７０℃以上あることが示され
る）の表層部を測定した波形例である。
【００１２】またこの例においては、検出部を溶融金属
中に挿入する設計時間は１秒であり、この１秒間だけ光
ファイバを挿入し、その後直ちに光ファイバを巻き戻す
制御を行っているが、図１における実際の検出部挿入時
間（例えば１５００℃以上の連続した出力信号が得られ
た時間を検出部挿入時間とする）は約０．４秒であり、
前記設計時間１秒に対する検出部挿入時間０．４秒の比
率は約４０％である。従ってこの比率と予め評価基準に
もとずいて設定された第１の基準値（例えば８０％）と
を比較し、前記比率が第１の基準値以上であるか否かを
判断することによって検出部挿入状態の良否を判定する
ことができる。
中に挿入する設計時間は１秒であり、この１秒間だけ光
ファイバを挿入し、その後直ちに光ファイバを巻き戻す
制御を行っているが、図１における実際の検出部挿入時
間（例えば１５００℃以上の連続した出力信号が得られ
た時間を検出部挿入時間とする）は約０．４秒であり、
前記設計時間１秒に対する検出部挿入時間０．４秒の比
率は約４０％である。従ってこの比率と予め評価基準に
もとずいて設定された第１の基準値（例えば８０％）と
を比較し、前記比率が第１の基準値以上であるか否かを
判断することによって検出部挿入状態の良否を判定する
ことができる。
【００１３】図２は放射温度計の出力波形例２（正常ケ
ース）を示す図であり、図の横軸及び縦軸は図１と同じ
である。検出部の挿入深さが十分（設計通り）で先端部
にスラグ等の付着がない場合には、検出部端で黒体放射
条件が満たされるため、放射温度計の出力波形は図２の
ように頭打ちの台形状の波形となる。図２の例において
も、検出部を溶融金属中に挿入する設計時間は１秒であ
り、実際の検出部挿入時間も約１秒程度得られているか
ら、設計時間に対する検出部挿入時間の比率は約１００
％となる。従って検出部挿入状態は良好であることがわ
かる。
ース）を示す図であり、図の横軸及び縦軸は図１と同じ
である。検出部の挿入深さが十分（設計通り）で先端部
にスラグ等の付着がない場合には、検出部端で黒体放射
条件が満たされるため、放射温度計の出力波形は図２の
ように頭打ちの台形状の波形となる。図２の例において
も、検出部を溶融金属中に挿入する設計時間は１秒であ
り、実際の検出部挿入時間も約１秒程度得られているか
ら、設計時間に対する検出部挿入時間の比率は約１００
％となる。従って検出部挿入状態は良好であることがわ
かる。
【００１４】次に図２において、一定温度以上（例えば
１５６５℃以上）のピーク値（この例では約１５７３
℃）を検出すると共にこのピーク値を含むプラトー（実
際には図２のように前記ピーク値間に多少温度の低下す
る切れ目があってもこれを連続するプラトーとみなす）
時間を測定し（この例では約０．７秒）、前記検出部挿
入の設計時間１秒に対するプラトー時間０．７秒の比率
７０％を求める。そしてこの比率と予め評価基準にもと
ずいて設定された第２の基準値（例えば６０％）とを比
較して、前記比率が第２の基準値以上であるか否かを判
断することによって放射温度計の測定結果の良否を判定
することができる。この例においては、前記検出された
ピーク値は、精度良く計測された測温値と考えられる。
１５６５℃以上）のピーク値（この例では約１５７３
℃）を検出すると共にこのピーク値を含むプラトー（実
際には図２のように前記ピーク値間に多少温度の低下す
る切れ目があってもこれを連続するプラトーとみなす）
時間を測定し（この例では約０．７秒）、前記検出部挿
入の設計時間１秒に対するプラトー時間０．７秒の比率
７０％を求める。そしてこの比率と予め評価基準にもと
ずいて設定された第２の基準値（例えば６０％）とを比
較して、前記比率が第２の基準値以上であるか否かを判
断することによって放射温度計の測定結果の良否を判定
することができる。この例においては、前記検出された
ピーク値は、精度良く計測された測温値と考えられる。
【００１５】図３は放射温度計の出力波形例３（スラグ
付のケース）を示す図であり、溶融金属表面に浮遊する
保温材やスラグを十分除去できない状態で測定したケー
スである。図３においては、検出部挿入時間は約０．９
５秒であり、検出部挿入の設計時間１秒に対する比率は
約９５％が得られているが、溶融金属に検出部を挿入す
る際にスラグが付着したため、付着物が取れるまで低い
乱れた出力となり、高精度の測定に必要な安定したプラ
トー時間が得られないことが判かる。
付のケース）を示す図であり、溶融金属表面に浮遊する
保温材やスラグを十分除去できない状態で測定したケー
スである。図３においては、検出部挿入時間は約０．９
５秒であり、検出部挿入の設計時間１秒に対する比率は
約９５％が得られているが、溶融金属に検出部を挿入す
る際にスラグが付着したため、付着物が取れるまで低い
乱れた出力となり、高精度の測定に必要な安定したプラ
トー時間が得られないことが判かる。
【００１６】従ってこのような場合、要求精度に応じて
必要とするプラトー時間を設定し、測定毎に測定波形の
プラトー時間を計測し、この計測したプラトー時間が必
要とされるプラトー時間以上あるか否かによって測定結
果の良否を判定することができる。また前記と同様に測
定したプラトー時間と検出部挿入の設計時間との比率を
求め、この比率と要求精度に応じて設定された第２の基
準値（例えば前記６０％）を比較し、この比率が第２の
基準値以上であるか否かによって測定結果の良否を判定
することもできる。
必要とするプラトー時間を設定し、測定毎に測定波形の
プラトー時間を計測し、この計測したプラトー時間が必
要とされるプラトー時間以上あるか否かによって測定結
果の良否を判定することができる。また前記と同様に測
定したプラトー時間と検出部挿入の設計時間との比率を
求め、この比率と要求精度に応じて設定された第２の基
準値（例えば前記６０％）を比較し、この比率が第２の
基準値以上であるか否かによって測定結果の良否を判定
することもできる。
【００１７】図４は本発明の実施形態を示す消耗型光フ
ァイバ温度計を用いた溶鋼温度測定装置の構成図であ
る。図４において、１は金属管で被覆された光ファイバ
または断熱材で被覆された金属管で更に被覆された光フ
ァイバ、２は放射温度計本体、３は光ファイバ１の先端
部で放射温度計２の検出部、４は検出部３となる光ファ
イバを巻回する光ファイバドラム、５は信号処理部、６
は記録手段、７は表示手段、８はガイド管、９はガイド
管８のＮ２パージ口、１０はピンチロール、１１は矯正
器、１２はルーパ、１３は溶鋼、１４は溶鋼を収納する
タンディッシュ、１５は溶鋼１３の表面に浮遊する保温
材やスラグである。
ァイバ温度計を用いた溶鋼温度測定装置の構成図であ
る。図４において、１は金属管で被覆された光ファイバ
または断熱材で被覆された金属管で更に被覆された光フ
ァイバ、２は放射温度計本体、３は光ファイバ１の先端
部で放射温度計２の検出部、４は検出部３となる光ファ
イバを巻回する光ファイバドラム、５は信号処理部、６
は記録手段、７は表示手段、８はガイド管、９はガイド
管８のＮ２パージ口、１０はピンチロール、１１は矯正
器、１２はルーパ、１３は溶鋼、１４は溶鋼を収納する
タンディッシュ、１５は溶鋼１３の表面に浮遊する保温
材やスラグである。
【００１８】図４の構成において、温度測定時には、光
ファイバ１をタンディッシュ１４の真上の測温位置に移
動させる。検出部３は、ガイド管８の中に収納されてい
る。測定に先立ち、検出部３の先端をガイド管８の先端
より０〜３０ｍｍ突出した状態にする。その後、ガイド
管８をその先端が溶鋼面から５０〜１３０ｍｍの高さに
なるように送り込み、溶鋼面に垂直に維持して停止させ
る。次にピンチロール１０を正転して検出部３を１００
〜６００ｍｍ／秒の送り込み速度で溶鋼１３内の所定深
さに挿入し、一定の設計時間（この例では１秒間）だけ
浸漬させ、その後直ちに巻き戻しを行う。
ファイバ１をタンディッシュ１４の真上の測温位置に移
動させる。検出部３は、ガイド管８の中に収納されてい
る。測定に先立ち、検出部３の先端をガイド管８の先端
より０〜３０ｍｍ突出した状態にする。その後、ガイド
管８をその先端が溶鋼面から５０〜１３０ｍｍの高さに
なるように送り込み、溶鋼面に垂直に維持して停止させ
る。次にピンチロール１０を正転して検出部３を１００
〜６００ｍｍ／秒の送り込み速度で溶鋼１３内の所定深
さに挿入し、一定の設計時間（この例では１秒間）だけ
浸漬させ、その後直ちに巻き戻しを行う。
【００１９】この検出部３が溶鋼１３内に浸漬されてい
る間、溶鋼１３からの放射信号が検出部３から光ファイ
バ１を介して放射温度計２に入力され、放射温度計２
は、例えば図１〜３に示したような台形状の出力信号を
信号処理部５へ供給する。信号処理部５は放射温度計出
力信号を所定のサンプリング信号でＡ／Ｄ変換し、この
変換後のデジタル信号を内部メモリに一旦記憶する。そ
して信号処理部５は、内部メモリに一旦記憶したデータ
を読出し、次の３つの方法によって測定結果の良否を判
定する。
る間、溶鋼１３からの放射信号が検出部３から光ファイ
バ１を介して放射温度計２に入力され、放射温度計２
は、例えば図１〜３に示したような台形状の出力信号を
信号処理部５へ供給する。信号処理部５は放射温度計出
力信号を所定のサンプリング信号でＡ／Ｄ変換し、この
変換後のデジタル信号を内部メモリに一旦記憶する。そ
して信号処理部５は、内部メモリに一旦記憶したデータ
を読出し、次の３つの方法によって測定結果の良否を判
定する。
【００２０】第１の方法：前記放射温度計２が測定した
所定温度以上の連続した出力時間を測定し、この測定時
間の前記設計時間に対する比率が予め設定された第１の
基準値以上であるか否かによって、前記検出部の高温溶
融体中への挿入状態の良否を判定する方法。上記第１の
方法を図１〜３の場合について説明する。この例におい
ては、検出部挿入の設計時間は１秒、第１の基準値は８
０％としている。また上記所定温度を１５００℃とする
と、図１の場合に、１５００℃以上の連続した出力信号
が得られた時間（実際に検出部が挿入されたと想定され
る時間）を測定すると約０．４秒となる。従って測定時
間０．４秒の設計時間１秒に対する比率は４０％となり
第１の基準値８０％以下である。従って放射温度計出力
が図１のような場合は、検出部の溶鋼中への挿入状態は
不良と判定される。
所定温度以上の連続した出力時間を測定し、この測定時
間の前記設計時間に対する比率が予め設定された第１の
基準値以上であるか否かによって、前記検出部の高温溶
融体中への挿入状態の良否を判定する方法。上記第１の
方法を図１〜３の場合について説明する。この例におい
ては、検出部挿入の設計時間は１秒、第１の基準値は８
０％としている。また上記所定温度を１５００℃とする
と、図１の場合に、１５００℃以上の連続した出力信号
が得られた時間（実際に検出部が挿入されたと想定され
る時間）を測定すると約０．４秒となる。従って測定時
間０．４秒の設計時間１秒に対する比率は４０％となり
第１の基準値８０％以下である。従って放射温度計出力
が図１のような場合は、検出部の溶鋼中への挿入状態は
不良と判定される。
【００２１】図２，３の場合には、１５００℃以上の連
続した出力信号が得られた時間は、それぞれ１秒、０．
９５秒であり、設計時間１秒に対する比率はそれぞれ１
００％、９５％となり、共に第１の基準値８０％以上と
なる。従って図２，３の場合は、検出部の挿入状態は良
と判定される。
続した出力信号が得られた時間は、それぞれ１秒、０．
９５秒であり、設計時間１秒に対する比率はそれぞれ１
００％、９５％となり、共に第１の基準値８０％以上と
なる。従って図２，３の場合は、検出部の挿入状態は良
と判定される。
【００２２】第２の方法：前記放射温度計２が測定した
所定温度以上のピーク値を検出すると共にこのピーク値
を含むプラトー時間を測定し、この測定時間の前記設計
時間に対する比率が予め設定された第２の基準値以上で
あるか否かによって、前記放射温度計の測定結果の良否
を判定する方法。上記第２の方法を図２，３の場合につ
いて説明する。この例において、第２の基準値を６０％
とし、また所定温度を１５６５℃とすると、図２の場合
に、１５６５℃以上のピーク値は約１５７３℃であり、
このピーク値を含むプラトー時間を、サンプルデータの
連続する数により測定すると約０．７秒となる。従って
測定時間０．７秒の設計時間１秒に対する比率は７０％
となり、第２の基準値６０％以上となる。従って図２の
場合には、放射温度計の測定結果は良と判定される。し
かし図３の場合には、１５６５℃以上のピーク値は約１
５７５℃が得られているが、このピーク値を含むプラト
ー時間は約０．１秒しかない。従ってこの０．１秒の設
計時間１秒に対する比率は１０％で、第２の基準値６０
％未満となるから、図３の場合には、放射温度計の測定
結果は不良と判定される。
所定温度以上のピーク値を検出すると共にこのピーク値
を含むプラトー時間を測定し、この測定時間の前記設計
時間に対する比率が予め設定された第２の基準値以上で
あるか否かによって、前記放射温度計の測定結果の良否
を判定する方法。上記第２の方法を図２，３の場合につ
いて説明する。この例において、第２の基準値を６０％
とし、また所定温度を１５６５℃とすると、図２の場合
に、１５６５℃以上のピーク値は約１５７３℃であり、
このピーク値を含むプラトー時間を、サンプルデータの
連続する数により測定すると約０．７秒となる。従って
測定時間０．７秒の設計時間１秒に対する比率は７０％
となり、第２の基準値６０％以上となる。従って図２の
場合には、放射温度計の測定結果は良と判定される。し
かし図３の場合には、１５６５℃以上のピーク値は約１
５７５℃が得られているが、このピーク値を含むプラト
ー時間は約０．１秒しかない。従ってこの０．１秒の設
計時間１秒に対する比率は１０％で、第２の基準値６０
％未満となるから、図３の場合には、放射温度計の測定
結果は不良と判定される。
【００２３】第３の方法：前記放射温度計２が測定した
所定温度以上の連続した出力時間を測定して第１の測定
時間を求め、また前記放射温度計が測定した所定温度以
上のピーク値を検出すると共にこのピーク値を含むプラ
トー時間を測定して第２の測定時間を求め、前記第１の
測定時間の前記設計時間に対する比率が予め設定された
第１の基準値以上であり且つ前記第２の測定時間の前記
設計時間に対する比率が予め設定された第２の基準値以
上であるか否かによって、前記検出したピーク値を測定
値として採用するか否かを決定する方法。上記第３の方
法は、前記第１の方法の判定結果が良で、且つ第２の方
法の判定結果も良の場合に限り、検出したピーク値を測
温値として採用する方法である。従って放射温度計出力
が、図２のような場合にはこのピーク値が測温値として
採用され、図３のような場合にはこのピーク値は測温値
として採用されない。
所定温度以上の連続した出力時間を測定して第１の測定
時間を求め、また前記放射温度計が測定した所定温度以
上のピーク値を検出すると共にこのピーク値を含むプラ
トー時間を測定して第２の測定時間を求め、前記第１の
測定時間の前記設計時間に対する比率が予め設定された
第１の基準値以上であり且つ前記第２の測定時間の前記
設計時間に対する比率が予め設定された第２の基準値以
上であるか否かによって、前記検出したピーク値を測定
値として採用するか否かを決定する方法。上記第３の方
法は、前記第１の方法の判定結果が良で、且つ第２の方
法の判定結果も良の場合に限り、検出したピーク値を測
温値として採用する方法である。従って放射温度計出力
が、図２のような場合にはこのピーク値が測温値として
採用され、図３のような場合にはこのピーク値は測温値
として採用されない。
【００２４】前記の説明のように、信号処理部５は、光
ファイバの挿入速度やピンチロールの駆動時間等から計
算される挿入設計時間と測温要求精度に応じた必要プラ
トー時間、並びに第１及び第２の基準値等の判定に必要
なデータをあらかじめ設定しておき、放射温度計の出力
から取込んだサンプリングデータに基づき台形状の出力
波形の特徴である出力時間とプラトー時間とを計測し、
温度測定毎に上記第１〜第３の判定方法を実施すること
により測定結果の良否を定量的に評価判定することがで
きる。またこの判定結果により、検出したピーク値を測
温値として採用するかまたは不採用とするかを自動的に
決定することができる。そして信号処理部５は、上記取
込んだ測温結果のデータや不採用の場合の原因となった
判定結果等を記録手段６に記録したり、表示手段７に表
示させたりする。
ファイバの挿入速度やピンチロールの駆動時間等から計
算される挿入設計時間と測温要求精度に応じた必要プラ
トー時間、並びに第１及び第２の基準値等の判定に必要
なデータをあらかじめ設定しておき、放射温度計の出力
から取込んだサンプリングデータに基づき台形状の出力
波形の特徴である出力時間とプラトー時間とを計測し、
温度測定毎に上記第１〜第３の判定方法を実施すること
により測定結果の良否を定量的に評価判定することがで
きる。またこの判定結果により、検出したピーク値を測
温値として採用するかまたは不採用とするかを自動的に
決定することができる。そして信号処理部５は、上記取
込んだ測温結果のデータや不採用の場合の原因となった
判定結果等を記録手段６に記録したり、表示手段７に表
示させたりする。
【００２５】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、光ファイ
バの先端を検出部とする放射温度計の前記検出部を所定
の設計時間だけ高温溶融体中に挿入し、この高温溶融体
の温度を測定する消耗型光ファイバ温度計において、前
記放射温度計が測定した所定温度以上の連続した出力時
間を測定し、この測定時間の前記設計時間に対する比率
が予め設定された第１の基準値以上であるか否かによっ
て、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の良否を判
定することができる。
バの先端を検出部とする放射温度計の前記検出部を所定
の設計時間だけ高温溶融体中に挿入し、この高温溶融体
の温度を測定する消耗型光ファイバ温度計において、前
記放射温度計が測定した所定温度以上の連続した出力時
間を測定し、この測定時間の前記設計時間に対する比率
が予め設定された第１の基準値以上であるか否かによっ
て、前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の良否を判
定することができる。
【００２６】また本発明によれば、前記放射温度計が測
定した所定温度以上のピーク値を検出すると共にこのピ
ーク値を含むプラトー時間を測定し、この測定時間の前
記設計時間に対する比率が予め設定された第２の基準値
以上であるか否かによって、前記放射温度計の測定結果
の良否を判定することができる。
定した所定温度以上のピーク値を検出すると共にこのピ
ーク値を含むプラトー時間を測定し、この測定時間の前
記設計時間に対する比率が予め設定された第２の基準値
以上であるか否かによって、前記放射温度計の測定結果
の良否を判定することができる。
【００２７】また本発明によれば、前記２つの判定方法
によっては、検出部の高温溶融体中の挿入状態が良で且
つ放射温度計の測定結果も良と判定された場合には前記
検出したピーク値を測温値として採用し、そうでない場
合には前記ピーク値は測温値として採用しないようにし
たので、放射温度計の測温結果の良否を定量的に判定で
きると共に、採用された測温値の自動的な記録や表示を
行うこともできる。
によっては、検出部の高温溶融体中の挿入状態が良で且
つ放射温度計の測定結果も良と判定された場合には前記
検出したピーク値を測温値として採用し、そうでない場
合には前記ピーク値は測温値として採用しないようにし
たので、放射温度計の測温結果の良否を定量的に判定で
きると共に、採用された測温値の自動的な記録や表示を
行うこともできる。
【図１】光ファイバ温度計出力波形例１（光ファイバの
挿入不良ケース）を示す図である。
挿入不良ケース）を示す図である。
【図２】光ファイバ温度計出力波形例２（正常ケース）
を示す図である。
を示す図である。
【図３】光ファイバ温度計出力波形例３（スラグ付ケー
ス）を示す図である。
ス）を示す図である。
【図４】本発明の実施形態を示す消耗型光ファイバ温度
計を用いた溶鋼温度測定装置の構成図である。
計を用いた溶鋼温度測定装置の構成図である。
１ 光ファイバ ２ 放射温度計 ３ 検出部 ４ 光ファイバドラム ５ 信号処理部 ６ 記録手段 ７ 表示手段 ８ ガイド管 ９ Ｎ２パージ口 １０ ピンチロール １１ 矯正器 １２ ルーパ １３ 溶鋼 １４ タンディッシュ １５ 保温材
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山中 善吉 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 光ファイバの先端を検出部とする放射温
度計の前記検出部を所定の設計時間だけ高温溶融体中に
挿入し、この高温溶融体の温度を測定する消耗型光ファ
イバ温度計において、 前記放射温度計が測定した所定温度以上の連続した出力
時間を測定し、この測定時間の前記設計時間に対する比
率が予め設定された基準値以上であるか否かによって、
前記検出部の高温溶融体中への挿入状態の良否を判定す
ることを特徴とする消耗型光ファイバ温度計の測定良否
判定方法。 - 【請求項２】 光ファイバの先端を検出部とする放射温
度計の前記検出部を所定の設計時間だけ高温溶融体中に
挿入し、この高温溶融体の温度を測定する消耗型光ファ
イバ温度計において、 前記放射温度計が測定した所定温度以上のピーク値を検
出すると共にこのピーク値を含むプラトー時間を測定
し、この測定時間の前記設計時間に対する比率が予め設
定された基準値以上であるか否かによって、前記放射温
度計の測定結果の良否を判定することを特徴とする消耗
型光ファイバ温度計の測定良否判定方法。 - 【請求項３】 光ファイバの先端を検出部とする放射温
度計の前記検出部を所定の設計時間だけ高温溶融体中に
挿入し、この高温溶融体の温度を測定する消耗型光ファ
イバ温度計において、 前記放射温度計が測定した所定温度以上の連続した出力
時間を測定して第１の測定時間を求め、また前記放射温
度計が測定した所定温度以上のピーク値を検出すると共
にこのピーク値を含むプラトー時間を測定して第２の測
定時間を求め、前記第１の測定時間の前記設計時間に対
する比率が予め設定された第１の基準値以上であり且つ
前記第２の測定時間の前記設計時間に対する比率が予め
設定された第２の基準値以上であるか否かによって、前
記検出したピーク値を測温値として採用するか否かを決
定することを特徴とする消耗型光ファイバ温度計の測定
良否判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8316827A JPH10160578A (ja) | 1996-11-28 | 1996-11-28 | 消耗型光ファイバ温度計の測定良否判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8316827A JPH10160578A (ja) | 1996-11-28 | 1996-11-28 | 消耗型光ファイバ温度計の測定良否判定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10160578A true JPH10160578A (ja) | 1998-06-19 |
Family
ID=18081369
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8316827A Pending JPH10160578A (ja) | 1996-11-28 | 1996-11-28 | 消耗型光ファイバ温度計の測定良否判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10160578A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3290881A1 (en) * | 2016-09-01 | 2018-03-07 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Optical cored wire immersion nozzle |
-
1996
- 1996-11-28 JP JP8316827A patent/JPH10160578A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3290881A1 (en) * | 2016-09-01 | 2018-03-07 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Optical cored wire immersion nozzle |
| WO2018041721A1 (en) * | 2016-09-01 | 2018-03-08 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Optical cored wire immersion nozzle |
| CN109642825A (zh) * | 2016-09-01 | 2019-04-16 | 贺利氏电测骑士国际有限公司 | 光学包芯线浸入式管嘴 |
| JP2019532269A (ja) * | 2016-09-01 | 2019-11-07 | ヘレーウス エレクトロ−ナイト インターナシヨナル エヌ ヴイＨｅｒａｅｕｓ Ｅｌｅｃｔｒｏ−ＮｉｔｅＩｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｎ．Ｖ． | 光学コアワイヤの浸漬ノズル |
| RU2721019C1 (ru) * | 2016-09-01 | 2020-05-15 | Хераеус Электро-Ните Интернациональ Н.В. | Погружное сопло для кабеля с волоконно-оптической сердцевиной |
| CN109642825B (zh) * | 2016-09-01 | 2021-02-19 | 贺利氏电测骑士国际有限公司 | 光学包芯线浸入式管嘴 |
| US11440081B2 (en) | 2016-09-01 | 2022-09-13 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Optical cored wire immersion nozzle |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040811 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040817 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20041214 |