JPH10156704A - 研磨方法およびその装置 - Google Patents

研磨方法およびその装置

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JPH10156704A
JPH10156704A JP32291696A JP32291696A JPH10156704A JP H10156704 A JPH10156704 A JP H10156704A JP 32291696 A JP32291696 A JP 32291696A JP 32291696 A JP32291696 A JP 32291696A JP H10156704 A JPH10156704 A JP H10156704A
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JP
Japan
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polishing
workpiece
polishing pad
abrasive grains
bond
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JP32291696A
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English (en)
Inventor
Mikiyoshi Miyauchi
内 幹 由 宮
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Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
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Publication date
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  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 研磨と同時に研磨パッドのドレッシングを施
すことにより、研磨効率の向上と平坦度のばらつきを少
なくする。 【解決手段】 被加工物14を研磨する砥粒17と、こ
の砥粒を保持する高分子化合物からなるボンド18との
複合材からなる研磨パッド16を用い、研磨パッド16
のボンド18のみを研磨可能な砥粒を含む研磨剤のスラ
リ20を供給しながら、被加工物14を研磨パッド16
に押圧して研磨する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコンウエハ、
磁気ディスク、ガラス基板等の薄板状の被加工物の表面
を平面研磨するための研磨方法およびその装置に係り、
特に、被加工物の研磨と同時に研磨パッド(研磨布)の
平坦度をも高めることのできる研磨方法およびその装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は、ウエハを平面研磨する研磨装置
の要部を示した図である。1は、研磨に供される被加工
物1であるウエハで、2が研磨ヘッドの保持部である。
この保持部2は、主軸3の先端に取り付けられ、被加工
物1は、保持部2の下面に吸着保持されている。4は定
盤であり、この定盤4の上面には研磨パッド5が取り付
けられている。
【0003】この種の平面研磨では、主軸3および定盤
4を同方向に回転させながら、加工ヘッドの保持部2に
保持した被加工物1を適当な圧力Pで押し付けた状態
で、ノズル6より研磨剤が懸濁したスラリーを研磨パッ
ド5上に供給しながら研磨され、これにより被加工物2
の表面が平坦に研磨される。
【0004】被加工物1の平坦精度は、定盤4あるいは
研磨パッド5の表面(本明細書において、研磨面とい
う)の精度に依存する部分が多く、研磨面が理想的な平
面であれば、被加工物1の表面も完全な平面に創成、研
磨される。
【0005】しかし、研磨面が完全な平面であることは
現実にはあり得ず、研磨パッド5に当初からうねりなど
の形状誤差があったり、研磨中の熱、加圧力による事後
的な変形が存在したり、付着した削除物による研磨パッ
ド5の目詰りがあったりして、平坦度を低下させる要因
となる。
【0006】そこで、この種の平面研磨装置では、研磨
布の平坦性を向上させるとともに、研磨パッド5の目詰
まりを防止するために、研磨装置とは別にドレッシング
装置を用い、砥石7を加圧・回転可能な修正ヘッドで研
磨パッド5に押し付け、研磨直前または数枚研磨する毎
に、ドレッシングを行ない、研磨パッド5の研磨面を修
正している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、研磨パ
ッド(研磨布)のドレッシングは、時間のかかる工程で
あり、しかも、被加工物がウエハやガラスである場合、
数枚研磨する毎にこれを行なう必要があるために、研磨
工程全体としての生産効率を大幅に低下させてしまうと
いう問題があった。
【0008】また、ドレッシング後は、研磨面の状態は
一定であることが望ましいけれども、実際問題として
は、ドレッシングの度毎に研磨面の状態が変化してしま
うのが実情で、その結果、研磨により得られる平坦度に
バラツキが生じていた。
【0009】そこで、本発明の目的は、前記従来技術の
有する問題点を解消し、研磨と同時に研磨パッドのドレ
ッシングを施すことにより、研磨効率の向上と平坦度の
ばらつきを少なくすることを可能とする研磨方法および
その装置を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、研磨ヘッドに保持した被加工物を回転
させながら、回転する定盤上の研磨パッドに押し付け、
被加工物の表面を平面研磨する研磨方法であって、前記
被加工物を研磨する砥粒と、この砥粒を保持する高分子
化合物からなるボンドとの複合材からなる研磨パッドを
用い、前記研磨パッドのボンドのみを研磨可能な砥粒を
含む研磨剤のスラリを供給しながら、前記被加工物を前
記研磨パッドに押圧して研磨することを特徴とするもの
である。
【0011】この発明によれば、研磨パッドの上面の研
磨面は、スラリに含まれる浮遊砥粒により研磨される。
すなわち、被加工物の研磨と同時に研磨パッドのボンド
がスラリの砥粒によってドレッシングされる。
【0012】従って、被加工物を数枚研磨する度に、研
磨工程とは別の工程で研磨パッドをドレッシングをする
必要がなく、連続的な研磨が可能なため、大幅に生産性
を向上できる。
【0013】この研磨と同時にされるドレッシングによ
って研磨パッドの目詰りが防止され、また、研磨パッド
の表面は、被加工物に押圧されながらドレッシングされ
る結果、スラリ中の砥粒により被加工物の表面に倣うよ
うにドレッシングされる。これにより、研磨した被加工
物毎に得られる平坦度にバラツキの生じるのを防止で
き、一定の品質で研磨できる。
【0014】前記スラリは、前記研磨パッドのボンドよ
りも硬度の高く、かつ前記被加工物よりも硬度の低い砥
粒を含むことを特徴とする。
【0015】好ましい実施形態によれば、前記研磨パッ
ドは、酸化セリウム粒子からなる砥粒と、アクリルニト
リルからなるボンドからなり、前記スラリ中の砥粒は炭
酸カルシウム粒子からなる。
【0016】本発明による研磨方法は、シリコンウエハ
またはガラス等の平板形状の被加工物の精密な平面研磨
に適している。
【0017】また、このような本発明の研磨方法を実施
する装置は、被加工物を保持して回転する保持部を有す
る研磨ヘッドと、回転可能な定盤と、前記定盤の上面に
取り付けられる研磨パッドとを備え、前記被加工物を回
転する前記定盤上の研磨パッドに押圧し、この被加工物
の表面を平面研磨する研磨装置において、前記被加工物
を研磨する砥粒と、この砥粒を保持する高分子化合物か
らなるボンドとの複合材からなる研磨パッドと、前記研
磨パッドのボンドのみを研磨可能な砥粒と、添加剤その
他の水溶液とを混合したスラリを前記定盤上の研磨パッ
ドに供給するスラリ供給手段とを具備したことを特徴と
するものである。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明による研磨方法およ
びその装置の一実施形態について添付の図面を参照して
説明する。図1は、本発明による研磨方法を実施するた
めの装置を示す。この図1において、10は研磨装置の
研磨ヘッド、11は定盤を表わしている。
【0019】研磨ヘッド10は、図示されない駆動装置
と連結された主軸12の先端に保持部13が取り付けら
れているものである。この保持部13は、真空吸着方式
で被加工物を保持するようになっており、この実施形態
では、その下面の吸着面に被加工物であるウエハ14が
保持されている。
【0020】このような研磨ヘッド10は、ウエハ14
を着脱する待機位置と、図1に示す研磨位置との間を水
平に旋回できるよう、また、上下に昇降できるように旋
回機構および昇降機構(ともに図示せず)に連結されて
いる。
【0021】他方、定盤11は、回転軸15を介して図
示されない回転駆動機構に連結されるとともに、水平に
支持されており、任意の回転数で回転する。この定盤1
1の上面には、同心的に研磨パッド16が接着剤等によ
り固定されている。研磨加工時には、保持部13に保持
されたウエハ14は、適当な面圧Pをもって研磨パッド
16に押し付けられるようになっている。その際、保持
部13は主軸12と一体で回転してウエハ14に回転運
動を与える。また、研磨パッド16はウエハ14と同方
向に回転する。
【0022】研磨パッド16は、ウエハ14を研磨する
砥粒17と、これを保持する結合剤であるボンド18と
の複合材からなるものである。砥粒17については、被
加工物の種類、その硬度等に応じて適した材料のものが
選択されるが、この実施形態のように、ウエハ14やガ
ラスを研磨する加工では、例えば、酸化セリウム粒子が
好適である。
【0023】一方、ボンド18は、高分子化合物を材質
とし、例えば、アクリルニトリルが好適である。
【0024】しかして、研磨パッド16の上面には、ウ
エハ14を研磨する間、スラリ20が供給される。この
スラリ20は、スラリ供給装置21で調整されて送ら
れ、ノズル22から適量が供給される。
【0025】スラリ供給装置21としては、この種のウ
エハの精密研磨加工で研磨剤として用いるスラリを研磨
装置に供給する公知のスラリ供給装置が用いられる。こ
のスラリ供給装置は、研磨剤原液、純水、各種添加剤等
の薬液のタンクや、これらを混合するタンク、温調用の
ヒータ、撹拌機を備え、自動的に研磨剤原液、各種添加
剤を自動的に調合して必要な量のスラリを安定的に供給
することができる。
【0026】この場合、スラリ供給装置21では、ウエ
ハ14に傷を付けることなく、研磨パッド16を組成す
るボンド18を研磨できる程度の硬さをもった砥粒がス
ラリ20に混合される。
【0027】このスラリ20中に含まれる砥粒として
は、研磨パッド16のボンド18よりも硬く、かつウエ
ハ14よりも硬度の低い材料からなるもの、例えば、炭
酸カルシウム粒子を用いるとよい。
【0028】以上のような研磨装置を使用して、ウエハ
14を研磨する場合、ウエハ14を回転させながら適当
な面圧Pをもって研磨パッド16に押し付け、同時にス
ラリ20を研磨パッド16上に供給する。
【0029】図2は、ウエハ14が研磨されていく状況
を模式的に表わした図である。ウエハ14は、研磨パッ
ド16に固定されている砥粒17により研磨される。こ
れと同時に、研磨パッド16の上面の研磨面は、スラリ
20に含まれる浮遊砥粒23により研磨される。すなわ
ち、ウエハ14の研磨と同時に研磨パッド16のボンド
18が浮遊砥粒23によってドレッシングされる。
【0030】従って、従来のように、ウエハ14を数枚
研磨する度に、研磨工程とは別の工程で研磨パッド16
をドレッシングをする必要がなく、連続的にウエハ14
を研磨することができるため、大幅に生産性を向上でき
る。
【0031】この研磨と同時にされるドレッシングによ
って研磨パッド16の目詰りが防止される。また、研磨
パッド16の表面は、ウエハ14に押圧されながらドレ
ッシングされる結果、スラリ中の砥粒23によりウエハ
14の表面に倣うようにドレッシングされる。これによ
り、研磨パッド16の表面の状態がウエハ14の表面に
倣って一定の状態に保たれるので、研磨したウエハ14
毎に得られた平坦度にバラツキの生じるのを防止でき、
一定の品質で研磨できる。
【0032】以上、本発明をシリコンウエハの研磨につ
いて適用した実施形態について説明したが、本発明は、
平板状のガラスなどの表面の精密研磨にも同じようにし
て実施することができる。
【0033】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、被加工物を研磨する砥粒と、この砥粒を保持
する高分子化合物からなるボンドとの複合材からなる研
磨パッドを用い、前記研磨パッドのボンドのみを研磨可
能な砥粒を含む研磨剤のスラリを供給しながら、前記被
加工物を前記研磨パッドに押圧して研磨するようにして
いるので、従来のように被加工物の研磨と研磨パッドの
ドレッシングとを別々の工程でなく、同時に行なえるた
め生産性の大幅や向上を達成できる。
【0034】しかも、研磨パッドの研磨面を被加工物の
被研磨面に倣わせて一定の状態にドレッシングすること
が可能である、加工後の平坦度にバラツキの生じるの防
止し、一定の高品質で研磨することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による研磨方法を実施する研磨装置の要
部の構成説明図。
【図2】本発明による研磨方法のメカニズムを説明する
模式図。
【図3】従来の研磨装置を示す側面図。
【符号の説明】
10 研磨ヘッド 11 定盤 12 主軸 13 保持部 14 ウエハ(被加工物) 15 回転軸 16 研磨パッド 17 砥粒 18 ボンド 20 スラリ 21 スラリ供給装置 22 ノズル 23 浮遊砥粒

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】研磨ヘッドに保持した被加工物を回転させ
    ながら、回転する定盤上の研磨パッドに押し付け、被加
    工物の表面を平面研磨する研磨方法であって、 前記被加工物を研磨する砥粒と、この砥粒を保持する高
    分子化合物からなるボンドとの複合材からなる研磨パッ
    ドを用い、 前記研磨パッドのボンドのみを研磨可能な砥粒を含む研
    磨剤のスラリを供給しながら、前記被加工物を前記研磨
    パッドに押圧して研磨することを特徴とする研磨方法。
  2. 【請求項2】前記スラリは、前記研磨パッドのボンドよ
    りも硬度の高く、かつ前記被加工物よりも硬度の低い砥
    粒を含むことを特徴とする請求項1に記載の研磨方法。
  3. 【請求項3】前記研磨パッドは、酸化セリウム粒子から
    なる砥粒と、アクリルニトリルからなるボンドからな
    り、前記スラリ中の砥粒は炭酸カルシウム粒子からなる
    ことを特徴とする請求項1に記載の研磨方法。
  4. 【請求項4】前記被加工物は、ウエハまたはガラスであ
    ることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかの項に記
    載の研磨方法。
  5. 【請求項5】被加工物を保持して回転する保持部を有す
    る研磨ヘッドと、回転可能な定盤と、前記定盤の上面に
    取り付けられる研磨パッドとを備え、前記被加工物を回
    転する前記定盤上の研磨パッドに押圧し、この被加工物
    の表面を平面研磨する研磨装置において、 前記被加工物を研磨する砥粒と、この砥粒を保持する高
    分子化合物からなるボンドとの複合材からなる研磨パッ
    ドと、 前記研磨パッドのボンドのみを研磨可能な砥粒と、添加
    剤その他の水溶液とを混合したスラリを前記定盤上の研
    磨パッドに供給するスラリ供給手段とを具備したことを
    特徴とする研磨装置。
JP32291696A 1996-12-03 1996-12-03 研磨方法およびその装置 Pending JPH10156704A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998045089A1 (fr) * 1997-04-09 1998-10-15 Hitachi, Ltd. Procede de fabrication, procede de polissage, et dispositif de polissage pour dispositifs semi-conducteurs
JP2007512966A (ja) * 2003-11-12 2007-05-24 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド 低圧力化学機械平坦化のための材料及び方法
JP2009502532A (ja) * 2005-07-28 2009-01-29 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 研磨材粒塊で研磨する方法
JP2009502533A (ja) * 2005-07-28 2009-01-29 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 自蔵型コンディショニング研磨物品

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WO1998045089A1 (fr) * 1997-04-09 1998-10-15 Hitachi, Ltd. Procede de fabrication, procede de polissage, et dispositif de polissage pour dispositifs semi-conducteurs
JP2007512966A (ja) * 2003-11-12 2007-05-24 ダウ グローバル テクノロジーズ インコーポレイティド 低圧力化学機械平坦化のための材料及び方法
JP2009502532A (ja) * 2005-07-28 2009-01-29 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 研磨材粒塊で研磨する方法
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