JPH10135699A - Device and method for detecting positional deviation of circuit board at inspecting time - Google Patents

Device and method for detecting positional deviation of circuit board at inspecting time

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JPH10135699A
JPH10135699A JP8305706A JP30570696A JPH10135699A JP H10135699 A JPH10135699 A JP H10135699A JP 8305706 A JP8305706 A JP 8305706A JP 30570696 A JP30570696 A JP 30570696A JP H10135699 A JPH10135699 A JP H10135699A
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JP
Japan
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circuit board
inspected
check
pins
peripheral
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Application number
JP8305706A
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Japanese (ja)
Inventor
Tetsuo Saito
哲郎 斎藤
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Elna Co Ltd
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Elna Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To surely electrically detect the positional deviation including directional duration of an objective circuit board with respect to the inspection machine. SOLUTION: Positional deviation detecting patterns 11 having prescribed areas are formed in a state where the patterns 11 are painted all over in the blank spaces of an objective circuit board 10 and, at the same time, pin groups, each of which is composed of one center check pin 12e which is brought into contact with the central part of each pattern 11 and a plurality of peripheral check pins 12a-12d which are respectively brought into contact with difference points on the periphery of each pattern 11, are provided correspondingly to the patterns 11 on a circuit board inspection machine side. The positional deviation of the circuit board 10 with respect to the inspection machine is detected from the continuity and noncontinuity between the center pin 12e and each peripheral pin 12a-12d.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は回路基板検査時にお
ける位置ずれ検出装置およびその位置ずれ検査方法に関
し、さらに詳しく言えば、配線パターンが高密度に形成
されている回路基板の良否を検査するにあたって、その
被検査回路基板の回路基板検査機に対する位置ずれをそ
のずれ方向を含めて正確に検出し得るようにした技術に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device and a method for detecting a positional deviation in inspecting a circuit substrate. More specifically, the present invention relates to a method for inspecting the quality of a circuit substrate on which wiring patterns are formed at a high density. The present invention relates to a technique capable of accurately detecting a positional shift of a circuit board to be inspected with respect to a circuit board inspecting machine, including a direction of the shift.

【0002】[0002]

【従来の技術】ピンボード式の基板検査装置において
は、例えば検査用治具のアクリル板に被検査プリント基
板の被測定点と対応するプローブピン(導電接触ピン)
を植設したピンボードを用い、その各プローブピンを同
時に被検査プリント基板に接触させるようにしている。
2. Description of the Related Art In a pin board type board inspection apparatus, for example, probe pins (conductive contact pins) corresponding to a point to be measured on a board to be inspected are placed on an acrylic plate of an inspection jig.
Are used, and the respective probe pins are simultaneously brought into contact with the printed circuit board to be inspected.

【0003】このように、ピンボード式においては、被
測定点とプローブピンとが1:1の関係となるが、プロ
ーブピンは所定径のスリーブに保持されているため、そ
のピン間の間隔を狭めるにしても限界がある。したがっ
て、被測定点がきわめて接近している高密度実装基板の
場合には一枚のピンボードでは対応できない。
As described above, in the pin board system, the point to be measured and the probe pin have a 1: 1 relationship. However, since the probe pin is held by a sleeve having a predetermined diameter, the interval between the pins is reduced. But there is a limit. Therefore, a single pin board cannot cope with a high-density mounting board in which measured points are extremely close.

【0004】そこで、プローブピンに代えて微細な導電
性の突起を感圧性導電ゴムを介して被測定点に接触させ
るようにした回路基板検査機が開発され、図10にはそ
の概略的な模式図が示されている。すなわち、この回路
基板検査機1は、被検査回路基板2の例えば表面側に形
成されている配線パターンの検査を受け持つ上治具板3
と、被検査回路基板2の例えば裏面側に形成されている
配線パターンの検査を受け持つ下治具板4とを備えてい
る。これらの各治具板3,4には、例えばセラミック基
板やガラスエポキシ樹脂などの合成樹脂基板からなる両
面配線板または多層配線板が用いられている。
In view of the above, a circuit board inspection machine has been developed in which fine conductive projections are brought into contact with a point to be measured via pressure-sensitive conductive rubber instead of the probe pins. FIG. The figure is shown. That is, the circuit board inspection apparatus 1 is configured to perform inspection of a wiring pattern formed on, for example, the front side of the circuit board 2 to be inspected.
And a lower jig plate 4 for inspecting a wiring pattern formed, for example, on the back surface side of the circuit board 2 to be inspected. For each of the jig plates 3 and 4, a double-sided wiring board or a multilayer wiring board made of, for example, a ceramic substrate or a synthetic resin substrate such as a glass epoxy resin is used.

【0005】図示されていないが、各治具板3,4には
導電体回路が形成されるとともに、被検査回路基板2と
対向する面(表面)には、その被測定点と対応する位置
に微細な導電性の突起からなる導電性接触端子が形成さ
れている。この導電性の突起はプローブピンよりもはる
かに小さく、その相互間を狭ピッチとすることができる
ため、これにより高密度実装基板に対応可能としてい
る。なお、各治具板3,4の導電性の突起を除いた表面
には絶縁性のレジスト膜が形成され、誤って被検査プリ
ント基板2と導通しないようになっている。
Although not shown, a conductor circuit is formed on each of the jig plates 3 and 4, and a surface (front surface) facing the circuit board 2 to be inspected has a position corresponding to the point to be measured. In addition, a conductive contact terminal formed of fine conductive protrusions is formed. The conductive projections are much smaller than the probe pins, and the pitch between them can be made narrower. This makes it possible to support a high-density mounting substrate. An insulating resist film is formed on the surfaces of the jig plates 3 and 4 except for the conductive protrusions, so that the jig plates 3 and 4 are not electrically connected to the printed circuit board 2 by mistake.

【0006】各治具板3,4の突起形成面にはそれぞれ
感圧性導電ゴム板51,52が例えば両面接着テープを
介して添設されている。感圧性導電ゴム板51,52
は、所定の金属粉が混入されたゴム板からなり、無圧状
態では非導通、加圧された部分が導通状態を呈するもの
として知られている。
[0006] Pressure-sensitive conductive rubber plates 51, 52 are respectively attached to the projection forming surfaces of the jig plates 3, 4 via, for example, a double-sided adhesive tape. Pressure-sensitive conductive rubber plates 51, 52
Is made of a rubber plate mixed with a predetermined metal powder, and is known to be non-conductive in a no-pressure state and to have a conductive part in a pressurized state.

【0007】上治具板3は上下動可能な保持フレーム6
に取り付けられ、下治具板4は台板A上にセットされ
る。検査にあたっては、その台板Aに立設されている位
置決めピン7,7をガイドとして、同台板A上に下治具
板4と被検査プリント基板2をセットし、保持フレーム
6を下降させて上治具板3を被検査プリント基板2に押
し付ける。
The upper jig plate 3 has a vertically movable holding frame 6.
The lower jig plate 4 is set on the base plate A. In the inspection, the lower jig plate 4 and the printed circuit board 2 to be inspected are set on the base plate A using the positioning pins 7, 7 erected on the base plate A as a guide, and the holding frame 6 is lowered. The upper jig plate 3 is pressed against the printed circuit board 2 to be inspected.

【0008】これにより、各治具板3,4の突起とそれ
に対応する被検査回路基板2の被測定点とが感圧性導電
ゴム板51,52を介して電気的に導通し、所定の検査
プログラムにしたがって回路チェックが行なわれる。な
お、図示されていないが、各導電性の突起には、例えば
銅箔上にニッケルめっきを下地として施こし、その上に
金めっきを施こすことによってレジスト膜よりも厚い金
属膜などからなる導電接点が形成されており、その導電
接点は各治具板3,4に形成した図示されていない導電
体回路を通じて各治具板3,4の裏面側から同じく図示
されていない例えばリード線などを介して測定機本体に
接続される。
As a result, the projections of the jig plates 3 and 4 and the corresponding points to be measured of the circuit board 2 to be inspected are electrically connected to each other via the pressure-sensitive conductive rubber plates 51 and 52, and a predetermined inspection is performed. A circuit check is performed according to the program. Although not shown, each of the conductive protrusions is formed of, for example, a metal film thicker than a resist film by applying nickel plating as a base on copper foil and applying gold plating thereon. A contact is formed, and the conductive contact is connected to a not-illustrated lead wire or the like from the back side of each jig plate 3, 4 through a not-shown conductor circuit formed on each jig plate 3, 4. Connected to the measuring instrument body via

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】この回路基板検査機1
によれば、その導電性接触端子がプローブピンよりはる
かに小さい微細な突起からなるため、高密度実装基板上
のきわめて近接配置された被測定点に対応することがで
きるが、配線パターンが高密度に形成されているがゆえ
に、基板検査装置1にその被検査回路基板2をセットす
る際の位置合わせには高い精度が要求される。
The circuit board inspection machine 1
According to the method described above, the conductive contact terminals are formed of fine projections much smaller than the probe pins, so that they can correspond to the measured points extremely close to each other on the high-density mounting board. Therefore, high accuracy is required for positioning when setting the circuit substrate 2 to be inspected in the substrate inspection apparatus 1.

【0010】しかしながら、製品基板レベルで見ると各
被検査回路基板2は必ずしも同一寸法ではなく、その個
々に例えばカッティング工程などで生ずる寸法誤差を有
している。したがって、回路基板検査機1の基板載置部
には位置決めピン7,7が設けられてはいるものの、確
実な位置合わせが行なわれるという保証を求め難い。
However, when viewed from the product board level, the circuit boards 2 to be inspected are not necessarily of the same size, and each has a dimensional error caused by, for example, a cutting process. Therefore, although the positioning pins 7 are provided on the board mounting portion of the circuit board inspection machine 1, it is difficult to ask for a guarantee that the accurate positioning is performed.

【0011】そこで、従来ではあらかじめ良品と確認さ
れている良品基板を用意し、その良品基板について当初
の検査結果(良品データ)が得られるまで試行錯誤的に
位置合わせを行ない、かつ、最終的には目視にてその位
置合わせ状態をチェックするようにしている。さらに
は、回路基板個々にも寸法誤差があるため、毎回目視で
その位置合わせ状態をチェックするようにしている。し
たがって、かなりの労力と時間を要し、この点について
の改善が望まれていた。
Therefore, a non-defective substrate which has been previously confirmed as a non-defective product is prepared, and the non-defective substrate is aligned by trial and error until an initial inspection result (non-defective data) is obtained. Is to check the alignment condition visually. Further, since each circuit board has a dimensional error, the alignment state is visually checked every time. Therefore, considerable effort and time are required, and improvement in this regard has been desired.

【0012】本発明は、このような課題を解決するため
になされたもので、その目的は、回路基板検査機の基板
載置部に対する被検査回路基板の位置ずれを、そのずれ
方向を含めて電気的に確実に検出し得るようにした回路
基板の位置ずれ検出装置およびその位置ずれ検出方法を
提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a problem, and an object of the present invention is to provide a method of detecting a position shift of a circuit board to be inspected with respect to a substrate mounting portion of a circuit board inspecting machine, including a direction of the shift. It is an object of the present invention to provide a circuit board position shift detecting device and a position shift detecting method which can be reliably detected electrically.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の位置ずれ検出装置は、回路基板検査機の基
板載置部に被検査回路基板を配置して、その被検査回路
基板の良否を検査する際、上記基板載置部に対する上記
被検査回路基板の位置ずれの有無を検出する位置ずれ検
出装置において、上記被検査回路基板側に所定の面積を
もってベタ塗り状に形成されている位置ずれ検出パター
ンのほぼ中央部に接触するように配置された1つの中央
チェックピンと、上記位置ずれ検出パターンの周縁の異
なる部位にそれぞれ接触するように配置された複数の周
辺チェックピンと、上記複数の周辺チェックピンを所定
の順序で切り替えながらその1つを上記中央チェックピ
ンに接続するスイッチ回路と、同スイッチ回路の切替え
を制御するとともに、その切替え時における上記周辺チ
ェックピンと上記中央チェックピンとの間の導通、非導
通により上記被検査回路基板の位置ずれの有無を検出す
る制御部とを備えていることを特徴としている。
In order to achieve the above object, a position shift detecting apparatus according to the present invention has a circuit board to be inspected disposed on a substrate mounting portion of a circuit board inspecting machine, and the circuit board to be inspected has When inspecting pass / fail, in a displacement detection device for detecting the presence / absence of displacement of the circuit board to be inspected with respect to the board mounting portion, the circuit board to be inspected is formed in a solid color with a predetermined area on the side of the circuit board to be inspected. One central check pin arranged to contact substantially the center of the misregistration detection pattern, a plurality of peripheral check pins arranged to respectively contact different peripheral portions of the misalignment detection pattern; A switch circuit for connecting one of the peripheral check pins to the central check pin while switching the peripheral check pins in a predetermined order; and controlling switching of the switch circuit. Continuity between said peripheral check pin and the central check pin during the switching, is characterized by comprising a control unit for detecting the presence or absence of the displacement of the circuit board to be inspected by a non-conductive.

【0014】この場合、上記周辺チェックピンは3本以
上であり、その各周辺チェックピンが上記中央チェック
ピンを中心として等角度間隔で配置されていることが検
出精度上好ましい。
In this case, the number of the peripheral check pins is three or more, and it is preferable in terms of detection accuracy that the peripheral check pins are arranged at equal angular intervals around the central check pin.

【0015】また、本発明の位置ずれ検出方法は、所定
の配線パターンが形成されている回路基板(被検査回路
基板)を回路基板検査機の基板載置部に載置してその良
否を検査するにあたって、上記被検査回路基板の余白部
に所定の面積を有する位置ずれ検出パターンをベタ塗り
状に形成するとともに、上記回路基板検査機側に、上記
被検査回路基板が上記基板載置部の適正位置に載置され
ている場合において、上記位置ずれ検出パターンのほぼ
中央部に接触する1つの中央チェックピンと、上記位置
ずれ検出パターンの周縁の異なる部位にそれぞれ接触す
る複数の周辺チェックピンとを設け、上記中央チェック
ピンと上記複数の周辺チェックピンとの間の導通・非導
通により上記被検査回路基板の位置ずれの有無を検出す
るようにしたことを特徴としている。
Further, in the method of detecting a displacement according to the present invention, a circuit board on which a predetermined wiring pattern is formed (a circuit board to be inspected) is placed on a substrate mounting portion of a circuit board inspecting machine, and its quality is inspected. In doing so, a misregistration detection pattern having a predetermined area is formed in a blank area on a blank portion of the circuit board to be inspected, and the circuit board to be inspected is provided on the circuit board inspecting machine side. When being placed at an appropriate position, one central check pin that contacts substantially the center of the misregistration detection pattern and a plurality of peripheral check pins that respectively contact different portions of the periphery of the misregistration detection pattern are provided. Detecting the presence / absence of a displacement of the circuit board to be inspected by conduction / non-conduction between the center check pin and the plurality of peripheral check pins. It is characterized.

【0016】上記位置ずれ検出パターンとしては、所定
の面積を有するベタ塗りパターンであれば円形もしくは
多角形であってよいが、X軸方向およびY軸方向のずれ
を検出する上では、その各軸に沿った辺を有する四角形
状がもっとも簡単で好ましいと言える。
The position shift detection pattern may be circular or polygonal as long as it is a solid pattern having a predetermined area. However, when detecting shifts in the X-axis direction and the Y-axis direction, each of the axes is detected. It can be said that a square shape having a side along is simplest and preferable.

【0017】このように、位置ずれ検出パターンが例え
ばベタ塗りの四角形であるとすると、そのほぼ中央部に
中央チェックピンが位置するとともに、検出パターンの
例えば各周縁に周辺チェックピンが位置することにな
る。したがって、中央チェックピンと各周辺チェックピ
ンとの間の導通、非導通により位置ずれの有無を検査す
ることができる。すなわち、中央チェックピンと各周辺
チェックピンとの相互ですべて導通がとられている場合
には位置ずれ無し、これに対して中央チェックピンとの
間で非導通の周辺チェックピンがある場合には、その方
向にずれが有ると判断される。
As described above, if the misregistration detection pattern is, for example, a solid square, the center check pin is located substantially at the center and the peripheral check pins are located at, for example, each peripheral edge of the detection pattern. Become. Therefore, it is possible to inspect the presence or absence of a position shift due to conduction and non-conduction between the center check pin and each peripheral check pin. That is, there is no displacement when the central check pin and all the peripheral check pins are electrically connected to each other, whereas when there is a non-conductive peripheral check pin between the central check pin and the central check pin, the direction is the same. Is determined to be misaligned.

【0018】また、上記位置ずれ検出パターンの少なく
とも一対を上記被検査回路基板の対角線に沿って配置す
るとともに、上記回路基板検査機側にその各位置ずれ検
出パターンごとにそれぞれ中央チェックピンと周辺チェ
ックピンを割り当てることが好ましく、これによれば上
記被検査回路基板の回転方向のずれを含む位置ずれの有
無を検出することができる。
[0018] At least one pair of the displacement detection patterns is arranged along a diagonal line of the circuit board to be inspected, and a center check pin and a peripheral check pin are provided on the circuit board inspection machine side for each displacement detection pattern. It is preferable to assign the following, whereby it is possible to detect the presence / absence of a positional shift including a shift in the rotation direction of the circuit board to be inspected.

【0019】なお、上記位置ずれ検出パターンの少なく
とも一対を上記被検査回路基板の対角線に沿って配置す
るにあたって、その位置ずれ検出パターンが奇数角形で
ある場合には、各位置ずれ検出パターンを180度の回
転対称配置とすることが検出精度上好ましい。
When arranging at least one pair of the positional deviation detection patterns along a diagonal line of the circuit board to be inspected, if the positional deviation detection pattern is an odd-numbered polygon, each of the positional deviation detection patterns is set to 180 degrees. It is preferable from the viewpoint of detection accuracy to adopt a rotationally symmetric arrangement.

【0020】なお、上記の各チェックピンは通常の回路
基板検査機に用いられているプローブピンであってもよ
いが、高密度実装基板に対応させるには、基板検査装置
の治具板面に形成された導電性を有する微細な突起であ
ることが好ましい。
Each of the above check pins may be a probe pin used in an ordinary circuit board inspection machine. However, in order to correspond to a high-density mounting board, it is necessary to use a jig plate surface of the board inspection apparatus. It is preferable that the formed fine protrusions have conductivity.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】次に、本発明の技術的思想をより
よく理解するうえで、図1ないし図9に基づいてその実
施例について説明する。なお、この実施例において回路
基板検査機自体は図示されていないが、先に説明したピ
ンボード式基板検査機もしくは図10に示されている微
細突起を感圧性導電ゴムを介して被検査回路基板の測定
点に接触させる方式の回路基板検査機のいずれでもよ
い。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment will be described with reference to FIGS. 1 to 9 in order to better understand the technical concept of the present invention. In this embodiment, the circuit board inspection machine itself is not shown, but the pin board type board inspection machine described above or the fine projection shown in FIG. Any of the circuit board inspection machines of the type that makes contact with the measurement points described above.

【0022】図1には被検査回路基板としてのプリント
基板10が示されている。なお、図示されていないが、
このプリント基板10のパターン形成領域には所定の配
線パターンが形成されている。
FIG. 1 shows a printed circuit board 10 as a circuit board to be inspected. Although not shown,
A predetermined wiring pattern is formed in a pattern forming area of the printed board 10.

【0023】プリント基板10のパターン形成領域以外
の余白部(捨て板部分であってもよい。)には図2に拡
大して示されているような位置ずれ検出パターン11が
形成されている。この実施例では図1のように、プリン
ト基板10の対向する角部の各々にその対角線に沿って
2つの位置ずれ検出パターン11がそれぞれ設けられて
いる。両パターンは同一形状であるが、分けて説明する
必要がある場合には便宜上その一方を11a、他方を1
1bとする。
A misregistration detection pattern 11 as shown in an enlarged view in FIG. 2 is formed in a blank portion (a discarded plate portion) of the printed circuit board 10 other than the pattern forming area. In this embodiment, as shown in FIG. 1, two misalignment detection patterns 11 are provided on each of the opposed corners of the printed circuit board 10 along the diagonal line. Although both patterns have the same shape, if it is necessary to describe them separately, for convenience, one of them is 11a and the other is 1a.
1b.

【0024】この実施例において、位置ずれ検出パター
ン11は四角形状をなす導電膜のベタ塗りパターンから
なり、その1辺が例えば2mm以上の正四角形とされて
いる。なお、この位置ずれ検出パターン11は、好まし
くは図示しない配線パターンとともに形成されるが、そ
の配線パターン中に同形状のパターンがある場合にはそ
れを代用してもよい。
In this embodiment, the misregistration detection pattern 11 is formed by a solid pattern of a square conductive film, and one side of the pattern is a regular square of, for example, 2 mm or more. Note that this displacement detection pattern 11 is preferably formed together with a wiring pattern (not shown). However, if the wiring pattern has a pattern of the same shape, it may be substituted.

【0025】回路基板検査機側には、この位置ずれ検出
パターン11に対応してチェックピン(導電性接触端
子)が設けられる。チェックピンは感圧性導電ゴムを介
して接触させられる微細突起もしくはプローブピンのい
ずれであってもよく、この実施例ではその図示を省略さ
れているが、図2にはその端子位置が黒丸で示されてお
り、以下の説明ではこれに参照符号を付してチェックピ
ンとする。
On the circuit board inspection machine side, check pins (conductive contact terminals) are provided corresponding to the position shift detection patterns 11. The check pin may be either a fine projection or a probe pin contacted via a pressure-sensitive conductive rubber. Although not shown in this embodiment, the position of the check pin is indicated by a black circle in FIG. In the following description, these are denoted by reference numerals and used as check pins.

【0026】これによると、1つの位置ずれ検出パター
ン11について5つのチェックピン12a〜12eが用
意される。このうち、チェックピン12a〜12dは、
回路基板検査機の基板載置部に対してプリント基板10
に位置ずれがない場合、その検出パターン11の各辺の
ほぼ中央部に接触するようにその設置位置が固定された
周辺チェックピンである。残り1本のチェックピン12
eは、位置ずれ検出パターン11のほぼ中央に接触する
ようにその設置位置が固定された中央チェックピンであ
る。
According to this, five check pins 12a to 12e are prepared for one position shift detection pattern 11. Of these, the check pins 12a to 12d
Printed circuit board 10
In the case where there is no displacement, the peripheral check pins whose installation positions are fixed so as to come into contact with substantially the center of each side of the detection pattern 11. One remaining check pin 12
“e” is a center check pin whose installation position is fixed so as to contact substantially the center of the displacement detection pattern 11.

【0027】中央チェックピン12eと各周辺チェック
ピン12a〜12dは回路基板検査機側において、図3
に例示されているようなスイッチを介して相互に接続可
能となされている。これによると、中央チェックピン1
2eと各周辺チェックピン12a〜12dとの間には、
オンオフスイッチSW1〜SW4がそれぞれ介装されて
いる。
The center check pin 12e and each of the peripheral check pins 12a to 12d are connected to the circuit board inspection machine side as shown in FIG.
Can be connected to each other via a switch as exemplified in FIG. According to this, the center check pin 1
2e and each of the peripheral check pins 12a to 12d,
On / off switches SW1 to SW4 are interposed respectively.

【0028】図4には、この位置ずれ検出装置の概略的
なブロック線図が例示されている。すなわち、同位置ず
れ検出装置は中央チェックピン12eに対して各周辺チ
ェックピン12a〜12dを適宜接続する上記各スイッ
チSW1〜SW4を含むスイッチ回路21と、同スイッ
チ回路21の各スイッチSW1〜SW4を所定の順序で
切り替えるとともに、切り替えごとにその周辺チェック
ピン(12a〜12dのいずれか1つ)と中央チェック
ピン12eとの間の導通・非導通状態により位置ずれの
有無およびそのずれ方向を検出するCPU(中央演算処
理ユニット)22と、その検出結果を表示する液晶表示
セルなどからなる表示器23とを備えている。
FIG. 4 exemplifies a schematic block diagram of the position shift detecting device. That is, the position shift detecting device includes a switch circuit 21 including the switches SW1 to SW4 for appropriately connecting the peripheral check pins 12a to 12d to the center check pin 12e, and switches SW1 to SW4 of the switch circuit 21. Switching is performed in a predetermined order, and each time switching is performed, the presence / absence of a position shift and the direction of the shift are detected based on the conduction / non-conduction state between the peripheral check pin (one of 12a to 12d) and the center check pin 12e. A CPU (Central Processing Unit) 22 and a display 23 including a liquid crystal display cell for displaying the detection result are provided.

【0029】上記の構成において、プリント基板10を
その回路基板検査機の基板載置部にセットし、中央チェ
ックピン12eおよび各周辺チェックピン12a〜12
dをそれに対応する位置ずれ検出パターン11に向けて
接触させる。そして、スイッチ回路21内のスイッチS
W1〜SW4を順次切り替える。いずれもが中央チェッ
クピン12eと導通している場合には、各チェックピン
12a〜12dが適正に位置ずれ検出パターン11に接
触していることによるものであるため、位置ずれ無しと
判定できる。
In the above configuration, the printed board 10 is set on the board mounting portion of the circuit board inspection machine, and the center check pin 12e and the peripheral check pins 12a to 12e are set.
d is brought into contact with the corresponding misregistration detection pattern 11. Then, the switch S in the switch circuit 21
W1 to SW4 are sequentially switched. When all of them are electrically connected to the center check pin 12e, it is determined that there is no displacement because each of the check pins 12a to 12d is properly in contact with the displacement detection pattern 11.

【0030】これに対して、中央チェックピン12eと
周辺チェックピン12d間が非導通の場合には、図5
(a)に示されているようにプリント基板10が同図に
おいて左方向(矢印X方法)にずれていると判定され
る。中央チェックピン12eと周辺チェックピン12b
間が非導通の場合には、プリント基板10が同図におい
て右方向(反矢印X方法)にずれていると判定される。
On the other hand, when there is no conduction between the center check pin 12e and the peripheral check pin 12d, FIG.
As shown in (a), it is determined that the printed circuit board 10 is shifted in the left direction (arrow X method) in FIG. Central check pin 12e and peripheral check pin 12b
If there is no electrical connection, it is determined that the printed circuit board 10 is displaced in the right direction in FIG.

【0031】また、中央チェックピン12eと周辺チェ
ックピン12a間が非導通の場合には、図5(b)に示
されているようにプリント基板10が同図において下方
向(矢印Y方法)にずれていると判定される。中央チェ
ックピン12eと周辺チェックピン12c間が非導通の
場合には、プリント基板10が同図において下方向(反
矢印Y方法)にずれていると判定される。
When the center check pin 12e and the peripheral check pin 12a are non-conductive, the printed circuit board 10 is moved downward (arrow Y method) as shown in FIG. 5B. It is determined that it is shifted. When the center check pin 12e and the peripheral check pin 12c are non-conductive, it is determined that the printed circuit board 10 is displaced in the downward direction in FIG.

【0032】さらに、中央チェックピン12eに対して
周辺チェックピン12a,12dが非導通の場合には、
図5(c)に示されているように同図においてプリント
基板10のずれ方向がX−Y軸の原点を基準として斜め
左下方向ということになる。中央チェックピン12eに
対して周辺チェックピン12b,12cが非導通の場合
には、同図においてプリント基板10のずれ方向がX−
Y軸の原点を基準として斜め右上方向ということにな
る。
Further, when the peripheral check pins 12a and 12d are non-conductive with respect to the central check pin 12e,
As shown in FIG. 5C, the direction of displacement of the printed circuit board 10 in FIG. 5C is a diagonally lower left direction with respect to the origin of the XY axis. When the peripheral check pins 12b and 12c are non-conductive with respect to the center check pin 12e, the shift direction of the printed circuit board 10 in FIG.
That is, the direction is obliquely upper right with respect to the origin of the Y axis.

【0033】同様に、中央チェックピン12eに対して
周辺チェックピン12a,12bが非導通の場合には、
プリント基板10のずれ方向が斜め右下方向と判断され
る。中央チェックピン12eに対して周辺チェックピン
12c,12dが非導通の場合には、プリント基板10
のずれ方向が斜め左上方向と判断される。
Similarly, when the peripheral check pins 12a and 12b are non-conductive with respect to the central check pin 12e,
The shift direction of the printed circuit board 10 is determined to be obliquely lower right. When the peripheral check pins 12c and 12d are non-conductive with respect to the central check pin 12e, the printed circuit board 10
Is determined to be a diagonally upper left direction.

【0034】この斜め方向のずれ検出時、上記チェック
ピン間の導通、非導通状態が2つの位置ずれ検出パター
ン11a,11bについて同じであれば回路基板検査機
に対してプリント基板10が平行移動的にずれていると
判断されるが、図6に例示されているように、一方の位
置ずれ検出パターン11aについては中央チェックピン
12eに対して周辺チェックピン12b,12cが導
通、周辺チェックピン12a,12dが非導通であるの
に対して、他方の位置ずれ検出パターン11bについて
は中央チェックピン12eに対して周辺チェックピン1
2a,12dが導通、周辺チェックピン12b,12c
が非導通である場合には、回路基板検査機に対してプリ
ント基板10が反時計方向に角度θ分回転ずれしている
と判定される。
At the time of detecting the displacement in the oblique direction, if the conduction and non-conduction states between the check pins are the same for the two displacement detection patterns 11a and 11b, the printed circuit board 10 moves parallel to the circuit board inspection machine. However, as illustrated in FIG. 6, the peripheral check pins 12b and 12c are electrically connected to the central check pin 12e and the peripheral check pins 12a and 12d is non-conducting, while the other misregistration detection pattern 11b has a center check pin 12e and a peripheral check pin 1e.
2a, 12d are conductive, peripheral check pins 12b, 12c
Is non-conducting, it is determined that the printed circuit board 10 is rotated counterclockwise by an angle θ with respect to the circuit board inspection machine.

【0035】なお、一方の位置ずれ検出パターン11a
については中央チェックピン12eに対して周辺チェッ
クピン12a,12dが導通、周辺チェックピン12
b,12cが非導通であるのに対して、他方の位置ずれ
検出パターン11bについては中央チェックピン12e
に対して周辺チェックピン12b,12cが導通、周辺
チェックピン12a,12dが非導通である場合には、
プリント基板10の回転によるずれ方向は時計方向と言
うことになる。
It should be noted that one of the displacement detection patterns 11a
With respect to the central check pin 12e, the peripheral check pins 12a and 12d conduct,
b and 12c are non-conducting, while the other misregistration detection pattern 11b is the center check pin 12e.
When the peripheral check pins 12b and 12c are conductive and the peripheral check pins 12a and 12d are nonconductive,
The direction of the displacement due to the rotation of the printed circuit board 10 will be referred to as clockwise.

【0036】上記実施例では、位置ずれ検出パターン1
1を正四角形としているが、位置ずれ検出パターン11
を図7(a)のように平行四辺形、同図(b)のような
十文字形、同図(c)のような八角形、さらには同図
(b)のように円形としてもよい。
In the above embodiment, the position shift detection pattern 1
1 is a square, but the misalignment detection pattern 11
May be a parallelogram as shown in FIG. 7 (a), a cross shape as shown in FIG. 7 (b), an octagon as shown in FIG. 7 (c), or a circle as shown in FIG. 7 (b).

【0037】また、上記実施例では中央チェックピン1
2eに対して4本の周辺チェックピン12a〜12dを
配置しているが、図8に示されているように、周辺チェ
ックピンを12a〜12cの3本としてもよい。この場
合、位置ずれ検出パターン11が正四角形であるとする
と、図8(a)には周辺チェックピン12aをその一辺
のほぼ中央部に配置し、他の周辺チェックピン12b,
12cを対向辺の両角部に配置した例が示され、同図
(b)には同図(a)に対して各周辺チェックピン12
a〜12cを180度回転対称配置とした状態が例示さ
れている。
In the above embodiment, the central check pin 1
Although four peripheral check pins 12a to 12d are arranged for 2e, three peripheral check pins 12a to 12c may be provided as shown in FIG. In this case, assuming that the misregistration detection pattern 11 is a regular square, the peripheral check pin 12a is arranged substantially at the center of one side in FIG.
FIG. 12B shows an example in which the peripheral check pins 12c are arranged at both corners of the opposite side.
A state in which a to 12c are arranged 180 degrees rotationally symmetric is illustrated.

【0038】図9には周辺チェックピンを12a〜12
cの3本にするとともに、位置ずれ検出パターン11を
正三角形とした変形例が示されている。この場合、各周
辺チェックピン12a〜12cはそれぞれ位置ずれ検出
パターン11の各辺のほぼ中央部に配置されるが、同図
(a)と(b)とではその位置ずれ検出パターン11と
ともに、各周辺チェックピンの配置も180度回転対称
とされている。
FIG. 9 shows peripheral check pins 12a to 12a.
3 shows a modified example in which the position shift detection pattern 11 is an equilateral triangle in addition to the three lines c. In this case, each of the peripheral check pins 12a to 12c is disposed at a substantially central portion of each side of the position shift detection pattern 11, but in FIGS. The arrangement of the peripheral check pins is also symmetrical by 180 degrees.

【0039】すなわち、位置ずれ検出パターン11の少
なくとも一対を被検査回路基板10の対角線に沿って配
置する場合、その一方を図8(a),図9(a)の配置
とするならば、その他方を図8(b),図9(b)の配
置とすることが検出精度上好ましい。
That is, when at least one pair of the displacement detection patterns 11 is arranged along the diagonal line of the circuit board 10 to be inspected, if one of them is arranged as shown in FIGS. 8B and FIG. 9B are preferable in terms of detection accuracy.

【0040】[0040]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査回路基板の余白部に所定の面積を有する位置ずれ
検出パターンをベタ塗り状に形成するとともに、回路基
板検査機側に、位置ずれ検出パターンのほぼ中央部に接
触する1つの中央チェックピンと、位置ずれ検出パター
ンの周縁の異なる部位にそれぞれ接触する複数の周辺チ
ェックピンとを設け、中央チェックピンと各周辺チェッ
クピンとの間の導通・非導通を見ることにより、回路基
板検査機に対する被検査回路基板の位置ずれの有無をき
わめて簡単かつ確実に検出することができる。
As described above, according to the present invention,
Forming a misregistration detection pattern having a predetermined area in a blank portion of the circuit board to be inspected in a solid color form, and, on the circuit board inspection machine side, one center check pin contacting substantially the center of the misregistration detection pattern; Providing a plurality of peripheral check pins that respectively contact different parts of the periphery of the misregistration detection pattern, and checking conduction / non-continuity between the center check pin and each peripheral check pin to thereby check the circuit board to be inspected with respect to the circuit board inspection machine. The presence / absence of displacement can be detected very easily and reliably.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明における被検査回路基板としてのプリン
ト基板の一例を示した平面図。
FIG. 1 is a plan view showing an example of a printed circuit board as a circuit board to be inspected in the present invention.

【図2】上記プリント基板上の位置ずれ検出パターンと
回路基板検査機側に設けられる中央チェックピンおよび
周辺チェックピンとの対応関係を示した模式図。
FIG. 2 is a schematic diagram showing a correspondence relationship between a misregistration detection pattern on the printed board and a center check pin and a peripheral check pin provided on the circuit board inspection machine side.

【図3】中央チェックピンと各周辺チェックピンと間の
電気的な接続関係を示した模式図。
FIG. 3 is a schematic diagram showing an electrical connection relationship between a central check pin and each peripheral check pin.

【図4】本発明によるずれ検出装置の概略的なブロック
線図。
FIG. 4 is a schematic block diagram of a displacement detection device according to the present invention.

【図5】本発明によりずれ方向を検出する場合の動作説
明図。
FIG. 5 is an explanatory diagram of an operation when detecting a shift direction according to the present invention.

【図6】本発明により回転方向のずれを検出する際の動
作説明図。
FIG. 6 is a diagram illustrating an operation when detecting a shift in a rotation direction according to the present invention.

【図7】位置ずれ検出パターンの変形例を示した平面
図。
FIG. 7 is a plan view showing a modified example of the displacement detection pattern.

【図8】各周辺チェックピンを3本とした場合の変形例
についての説明図。
FIG. 8 is an explanatory view of a modified example in which each peripheral check pin has three pins.

【図9】各周辺チェックピンを3本とし、また、位置ず
れ検出パターンを三角形とした場合の変形例についての
説明図。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a modified example in which three peripheral check pins are used and a misregistration detection pattern is a triangle.

【図10】可路基板検査機の一例を模式的に示した側面
図。
FIG. 10 is a side view schematically showing an example of a circuit board inspection device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 プリント基板 11,11a,11b 位置ずれ検出パターン 12a〜12d 周辺チェックピン 12e 中央チェックピン SW1〜SW4 スイッチ 21 スイッチ回路 22 CPU 23 表示器 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Printed circuit board 11, 11a, 11b Position shift detection pattern 12a-12d Peripheral check pin 12e Central check pin SW1-SW4 Switch 21 Switch circuit 22 CPU 23 Display

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路基板検査機の基板載置部に被検査回
路基板を配置して、その被検査回路基板の良否を検査す
る際、上記基板載置部に対する上記被検査回路基板の位
置ずれの有無を検出する位置ずれ検出装置において、上
記被検査回路基板側に所定の面積をもってベタ塗り状に
形成されている位置ずれ検出パターンのほぼ中央部に接
触するように配置された1つの中央チェックピンと、上
記位置ずれ検出パターンの周縁の異なる部位にそれぞれ
接触するように配置された複数の周辺チェックピンと、
上記複数の周辺チェックピンを所定の順序で切り替えな
がらその1つを上記中央チェックピンに接続するスイッ
チ回路と、同スイッチ回路の切替えを制御するととも
に、その切替え時における上記周辺チェックピンと上記
中央チェックピンとの間の導通、非導通により上記被検
査回路基板の位置ずれの有無を検出する制御部とを備え
ていることを特徴とする回路基板検査時における位置ず
れ検出装置。
When a circuit board to be inspected is placed on a board mounting portion of a circuit board inspecting machine and the quality of the circuit board to be inspected is inspected, the position of the circuit board to be inspected is shifted with respect to the board mounting portion. In the position shift detecting device for detecting the presence or absence of the one, a central check arranged so as to contact substantially the center of the position shift detection pattern formed in a solid color with a predetermined area on the circuit board to be inspected side. A plurality of peripheral check pins arranged so as to be in contact with the pins and different portions on the periphery of the misregistration detection pattern,
A switch circuit for connecting one of the plurality of peripheral check pins to the central check pin while switching the plurality of peripheral check pins in a predetermined order; controlling the switching of the switch circuit; A control unit for detecting the presence / absence of a position shift of the circuit board to be inspected due to conduction or non-conduction between the circuit boards.
【請求項2】 上記周辺チェックピンは3本以上であ
り、その各周辺チェックピンが上記中央チェックピンを
中心として等角度間隔で配置されていることを特徴とす
る請求項1に記載の回路基板検査時における位置ずれ検
出装置。
2. The circuit board according to claim 1, wherein the number of the peripheral check pins is three or more, and the peripheral check pins are arranged at equal angular intervals around the central check pin. A device for detecting displacement during inspection.
【請求項3】 所定の配線パターンが形成されている回
路基板(被検査回路基板)を回路基板検査機の基板載置
部に載置してその良否を検査するにあたって、上記被検
査回路基板の余白部に所定の面積を有する位置ずれ検出
パターンをベタ塗り状に形成するとともに、上記回路基
板検査機側に、上記被検査回路基板が上記基板載置部の
適正位置に載置されている場合において、上記位置ずれ
検出パターンのほぼ中央部に接触する1つの中央チェッ
クピンと、上記位置ずれ検出パターンの周縁の異なる部
位にそれぞれ接触する複数の周辺チェックピンとを設
け、上記中央チェックピンと上記複数の周辺チェックピ
ンとの間の導通・非導通により上記被検査回路基板の位
置ずれの有無を検出するようにしたことを特徴とする回
路基板検査時における位置ずれ検出方法。
3. A circuit board on which a predetermined wiring pattern is formed (a circuit board to be inspected) is placed on a substrate mounting portion of a circuit board inspecting machine, and the quality of the circuit board is inspected. When a misregistration detection pattern having a predetermined area is formed in a blank area in a solid color, and the circuit board to be inspected is placed at an appropriate position of the board placing section on the circuit board inspecting machine side. Wherein one central check pin contacting a substantially central portion of the misregistration detection pattern and a plurality of peripheral check pins respectively contacting different portions of the periphery of the misregistration detection pattern are provided. In the circuit board inspection, the presence / absence of the displacement of the circuit board to be inspected is detected by conducting / non-conducting with a check pin. Position shift detection method.
【請求項4】 上記位置ずれ検出パターンが円形もしく
は多角形であり、上記周辺チェックピンが3本以上であ
ることを特徴とする請求項3に記載の回路基板検査時に
おける位置ずれ検出方法。
4. The method according to claim 3, wherein the misregistration detection pattern is circular or polygonal, and the number of the peripheral check pins is three or more.
【請求項5】 上記位置ずれ検出パターンの少なくとも
一対を上記被検査回路基板の対角線に沿って配置すると
ともに、上記回路基板検査機側にその各位置ずれ検出パ
ターンごとにそれぞれ上記中央チェックピンおよび上記
複数の周辺チェックピンを割り当て、それらの中央チェ
ックピンと周辺チェックピン間の導通、非導通により、
上記基板載置部に対する上記被検査回路基板の回転方向
のずれを含む位置ずれの有無を検出可能としたことを特
徴とする請求項3または4に記載の回路基板検査時にお
ける位置ずれ検出方法。
5. At least one pair of the misregistration detection patterns is arranged along a diagonal line of the circuit board to be inspected, and the central check pin and the central check pin are arranged on the circuit board inspection machine side for each misregistration detection pattern. Multiple peripheral check pins are assigned, and conduction and non-conduction between those central check pins and peripheral check pins
5. The method according to claim 3, wherein the presence / absence of a positional displacement of the circuit board to be inspected with respect to the substrate mounting portion is detected.
【請求項6】 上記位置ずれ検出パターンの少なくとも
一対を上記被検査回路基板の対角線に沿って配置するに
あたって、その位置ずれ検出パターンが奇数角形である
場合、各位置ずれ検出パターンは180度の回転対称配
置とされることを特徴とする請求項5に記載の回路基板
検査時における位置ずれ検出方法。
6. When arranging at least one pair of the displacement detection patterns along a diagonal line of the circuit board to be inspected, if the displacement detection pattern is an odd-numbered polygon, each of the displacement detection patterns is rotated by 180 degrees. 6. The method according to claim 5, wherein the positions are symmetrically arranged.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN111693548A (en) * 2019-03-12 2020-09-22 株式会社斯库林集团 Inspection apparatus and inspection method
CN111693548B (en) * 2019-03-12 2023-11-14 株式会社斯库林集团 Inspection device and inspection method

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