JPH10134353A - 光記録装置、光記録媒体及び光記録方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】充分な振幅余裕及び位相余裕を確保して多値記
録したデータを確実に再生することができるようにす
る。 【解決手段】予め種々の組み合わせにより試験用データ
ＤＳを記録して再生結果を得、この再生結果よりレーザ
ービームＬ１を照射する条件を補正する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光記録装置、光記
録媒体及び光記録方法に関し、例えばピットの深さを切
り換えて所望のデータを多値記録する光ディスクと、そ
の関連装置に適用することができる。本発明は、予め種
々の組み合わせにより試験用データを記録して再生結果
を得、この再生結果よりレーザービームを照射する条件
を補正することにより、多値記録したデータを確実に再
生することができるようにする。

【０００２】

【従来の技術】従来、光ディスクにおいては、順次ピッ
トを形成し、このピットの深さを多段階で切り換えるこ
とにより、各ピットにより多値のデータを記録するよう
になされたものが提案されている。この光ディスクによ
れば、単にピットの有無による２値のデータに代えて、
多値のデータを１つのピットに割り当てて記録すること
ができ、その分記録密度を向上することができる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところでこの種の光デ
ィスクにおいては、記録されたデータを確実に再生する
ことが困難な問題がある。

【０００４】すなわちピットの深さを多段階で切り換え
て多値記録する場合、ピットの深さを１００〔ｎｍ〕〜
１０〔ｎｍ〕程度のピッチで切り換える必要がある。と
ころがこのピッチは、再生に供するレーザービームの波
長に比して短いことにより、このような多値記録では、
各深さに対応する再生信号の信号レベルが極めて近接し
た信号レベルになる。このため再生時、隣接ピットから
の符号間干渉の影響を受け、各ピットに割り当てられた
データ値を確実に判定することが困難になる。

【０００５】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、多値記録したデータを確実に再生することができる
光記録装置、光記録媒体及び光記録方法を提案しようと
するものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、多値記録する光記録装置におい
て、種々の組み合わせによりレーザービームの光量を切
り換える試験用データを記録した後、各組み合わせの再
生結果に基づいて、レーザービームの光量を補正する。

【０００７】また光記録媒体において、隣接するピット
の形状に応じて、ピットの形状を補正する。

【０００８】さらに所望のデータを多値記録する光記録
方法において、種々の組み合わせによりレーザービーム
の光量を切り換える試験用データの再生結果に基づい
て、レーザービームの光量を補正する。

【０００９】種々の組み合わせによりレーザービームの
光量を切り換える試験用データを記録した後、各組み合
わせの再生結果に基づいて、レーザービームの光量を補
正すれば、隣接ピットからの符号間干渉等により変化す
る再生信号の信号レベルが最適値になるように、レーザ
ービームの照射条件を設定することができ、これにより
多値記録したデータを確実に再生することができる。

【００１０】また隣接するピットの形状に応じて、ピッ
トの形状を補正すれば、隣接ピットからの符号間干渉に
より変化する再生信号の信号レベルが最適値になるよう
に、ピット形状を補正することができ、これにより多値
記録したデータを確実に再生することができる。

【００１１】

【発明の実施の形態】以下、適宜図面を参照しながら本
発明の実施の形態を詳述する。

【００１２】図１は、本発明の実施の形態に係る光ディ
スク製造工程に適用される光ディスク装置を示すブロッ
ク図である。この光ディスク装置１は、条件出し用のデ
ィスク原盤２を繰り返し製造し、この条件出しのディス
ク原盤２によって設定された露光の条件に従って光ディ
スク製造用のディスク原盤２Ａを製造する。光ディスク
の製造工程では、このディスク原盤２及び２Ａを現像し
た後、電鋳処理してマザーディスクを製造し、このマザ
ーディスクより光ディスクを作成する。このうち条件出
し用のディスク原盤２より作成した光ディスクの再生結
果より、露光の条件を設定する。

【００１３】すなわちこの光ディスク装置１において、
スピンドルモータ４は、ディスク原盤２又は２Ａを線速
度一定の条件により回転駆動する。記録用レーザー５
は、ガスレーザー等により構成され、ディスク装置原盤
露光用のレーザービームＬ１を射出する。ミラー６は、
このレーザービームＬ１の光路を折り曲げてディスク原
盤２又は２Ａに向けて出射する。光変調器７は、電気光
学素子（ＥＯＭ）又は音響光学素子（ＡＯＭ）により構
成され、このレーザービームＬ１を変調して出力する。

【００１４】ミラー８は、この光変調器７より射出され
るレーザービームＬ１をディスク原盤２又は２Ａと平行
に折り曲げ、ミラー９は、このミラー８により折り曲げ
られたレーザービームＬ１をディスク原盤２又は２Ａに
向けて射出する。対物レンズ１０は、このミラー９で反
射されたレーザービームＬ１をディスク原盤２又は２Ａ
の露光面に集光する。ここで対物レンズ１０は、フォー
カスサーボ回路１１により上下に可動されてフォーカス
制御される。また対物レンズ１０は、ミラー９と共に、
ディスク原盤２又は２Ａの回転に同期して、ディスク原
盤２又は２Ａの内周側より外周側に所定速度で移動する
ようになされている。これにより光ディスク装置１で
は、ディスク原盤２又は２Ａにらせん状にトラックを形
成する。

【００１５】このようにして順次レーザービームＬ１が
照射されるディスク原盤２又は２Ａは、平滑度が管理さ
れたガラス原盤の表面に、例えばスピンコートにより、
膜厚λ／４ｎのフォトレジストが塗布されるようになさ
れている。ここでｎは、最終製品でなる光ディスクの樹
脂材料の屈折率であり、再生時に使用されるレーザービ
ームの波長λにおける屈折率である。

【００１６】さらにディスク原盤２、２Ａは、最内周及
び最外周の所定エリアが補正エリアに割り当てられ、補
正エリア間がユーザーエリアに割り当てられる。条件出
し用のディスク原盤２では、この補正エリアに条件出し
用の試験用データＤＳが記録される。これに対してディ
スク原盤２Ａでは、ユーザーエリアに入力データＤ１が
記録される。

【００１７】変調信号発生器３は、条件出し用のディス
ク原盤２において、試験用データＤＳを受け、この試験
用データＤＳを光ディスクへの記録に適した変調方式に
より変調して変調信号ＳＳを生成する。これに対して光
ディスク製造用のディスク原盤２Ａにおいて、光ディス
クへの記録に供する入力データＤ１を受け、この入力デ
ータＤ１より変調信号Ｓ１を生成する。このとき変調信
号発生器３は、試験用データＤＳ及び入力データＤ１を
変調データに変換した後、この変調データをシリアルデ
ータに変換する。さらにこの変調データを２ビット単位
で区切り、ディユーティー比が５０〔％〕の４値の変調
データ（１ユニット＝２ビット）を生成する。これによ
り変調信号発生器３は、この４値の変調データに応じて
信号レベルが変化する４値の変調信号ＳＳ、Ｓ１を生成
する。

【００１８】このとき変調信号発生器３は、内蔵の変調
信号補正回路１３において、補正値テーブル１３Ａを参
照することにより、この補正値テーブル１３Ａに記録さ
れたエッジのタイミングと、信号レベルとにより変調信
号ＳＳ、Ｓ１を生成する。

【００１９】すなわち変調信号補正回路１３は、入力デ
ータＤ１の記録時においては、連続する４値の変調デー
タを順次設定対象に設定して、この設定対象でなる変調
データのデータ値と、前後の変調データのデータ値とを
組にして、補正値テーブル１３Ａを参照し、この補正値
テーブル１３Ａに記録された対応する組み合わせの信号
レベルと、タイミングとにより設定対象の変調信号Ｓ１
を生成する。

【００２０】これに対して試験用データＤＳの記録時、
３ユニットを単位にして変調データを組み合わせて形成
される試験用データＤＳに対して、各組み合わせの中
央、１ユニットの変調データだけを設定対象の変調デー
タに設定し、補正値テーブル１３Ａの対応する組み合わ
せによりこの設定対象の変調信号ＳＳを生成する。ま
た、設定対象の前後、１ユニットの変調データについて
は、予め設定された信号レベル及びタイミングにより変
調信号ＳＳを生成する。

【００２１】ここで図２に示すようにこの補正値テーブ
ル１３Ａは、このディスク原盤２Ａに記録する変調デー
タについて、３ユニットを単位にして各組み合わせを形
成し（４×４×４＝６４種類でなる）、各組み合わせ毎
に、後述する処理手順により、変調信号ＳＳ、Ｓ１の信
号レベルの最適値と、タイミングの最適値とを記録して
生成される。光ディスク装置１では、これにより連続す
るピット間で符号間干渉した場合でも、多値記録された
データを確実に再生できるようになされている。なお図
２においては、各変調データのデータ値を数字０〜３に
より、処理対象の変調データに対して、前後の変調デー
タをそれぞれ前データ及び後データとして示す。

【００２２】かくするにつき変調信号発生器３は、この
ようにして生成した変調信号ＳＳ、Ｓ１により光変調器
７を駆動して、ディスク原盤２、２Ａ上にピット列を形
成する。さらに各ピットの深さを戻り光の波長に換算し
てλ／４、λ／６、λ／１２、０の４段階で切り換え、
これにより再生信号の信号レベルが４段階で変化するよ
うに順次ピットを形成して補正用データＤＳ及び入力デ
ータＤ１を多値記録する。

【００２３】ここで図３に示すように、補正値テーブル
１３Ａは、条件出しの開始時、変調データＤＭのタイミ
ングに同期して信号レベルが立ち上がるように変調信号
ＳＳのタイミングを設定する（図３（Ａ）及び
（Ｂ））。これにより光ディスク装置１では、レーザー
ビームＬ１のエネルギー強度分布でなるガウシアン分布
特性（図３（Ｃ））により、変調信号ＳＳを畳み込み積
分してなる積算露光光量によってディスク原盤２を露光
することになる（図３（Ｄ））。ディスク原盤２におい
ては、これにより変調データＤＭに対してレーザービー
ムＬ１の走査方向の大きさ（以下ピットの長さと呼ぶ）
Ｌが拡大して各ピットＰが形成されることになる（図３
（Ｅ））。

【００２４】また図４に示すように、補正値テーブル１
３Ａは、条件出しの開始時、変調データＤＭのデータ値
（図４（Ａ））に対応してレーザービームＬ１の光量を
一定のレベル間隔で４段階で切り換えるように、変調信
号ＳＳを生成する（図４（Ｂ）及び（Ｃ））。これによ
り光ディスク装置１では、同様にガウシアン分布特性に
より畳み込み積分してなる積算露光光量によってディス
ク原盤２を露光することになる（図４（Ｄ））。ディス
ク原盤２においては、これにより変調データＤＭのデー
タ値に対応してピットＰの深さＤが多段階で変化し、ま
たこれに伴ってピットＰの長さＬ、幅Ｗが変化すること
になる（図４（Ｅ））。なおここで符号Ｉｔｏｐ及びＩ
ｂｏｔｔｏｍは、フォトレジストの現像後残留膜厚率が
０〔％〕及び１００〔％〕でなる露光強度のしきい値で
ある。

【００２５】このようにして変調データＤＭに対してピ
ットＰの長さＬが変化すると、このディスク原盤２より
作成した光ディスクの再生信号においては、再生信号を
２値化して得られる２値化信号のタイミングが変調デー
タＤＭのタイミングに対して変化することになり、ジッ
タが発生することになる。これによりこの２値化信号よ
り生成されるクロックを基準にして再生信号をサンプリ
ングして、正しいタイミングで再生信号を再生すること
が困難になる。すなわち再生時における位相余裕が低下
することになる。

【００２６】またピットＰの幅Ｗの変化は、ピットの深
さＤによって決まる再生信号の信号レベルを変化させ、
再生時における振幅余裕を低下させることになる。

【００２７】さらに光ディスクにおいては、これらの他
に隣接ピットからの符号間干渉が発生する。すなわち再
生信号は、再生対象のピットＰ２の前後のピットの符号
間干渉により、この前後のピット形状に応じて信号レベ
ルが変化することになる。これによっても再生時、振幅
余裕が低下する。また位相余裕も低下し、これによって
も再生信号ＲＦを正しく再生することが困難になる。

【００２８】このようにして信号レベル等が変化する再
生信号に対して、補正値テーブル１３Ａは、入力データ
Ｄ１の記録時、振幅余裕及び位相余裕が最大になるよう
に、変調信号Ｓ１の信号レベル及びタイミングを設定
し、この実施の形態では、この信号レベル及びタイミン
グの設定が条件出しにより実行されるようになされてい
る。

【００２９】図５は、この補正値テーブル１３Ａの設定
処理手順を示すフローチャートであり、図６は、この処
理手順のシステム構成を示す略線図である。この処理手
順では、処理を開始するとステップＳＰ１からステップ
ＳＰ２に移って、試験用データＤＳを光ディスク装置１
に供給し、試験用データＤＳにより変調信号ＳＳを発生
する。さらに続くステップＳＰ３において、この発生し
た変調信号ＳＳをディスク原盤２の補正エリアに記録す
る。

【００３０】ここで図７に示すように、この試験用デー
タＤＳは、補正値テーブル１３Ａに記録する変調データ
ＤＭの組み合わせに対応して、６４種類の変調データの
組み合わせにより構成され、この実施の形態では内周側
補正エリア及び外周側補正エリアにそれぞれ所定回数だ
け繰り返し記録される。これにより光ディスク装置１で
は、内外周における測定誤差を補正し、また繰り返し記
録することにより測定誤差を軽減する。

【００３１】続いてこの処理手順では、このディスク原
盤２を現像してスタンパー２０（図６）を作成し、この
スタンパー２０より光ディスク２１を作成する。さらに
この光ディスク２１を再生装置２２により再生する（ス
テップＳＰ４）。この光ディスク２１の再生において、
処理手順は、ステップＳＰ５に移り、この光ディスク２
１より得られる再生信号ＲＦを理想の信号波形と比較
し、続くステップＳＰ６において比較結果より露光の条
件が最適値に収束したか否か判断する。ここで否定結果
が得られると、この処理手順はステップＳＰ７に移り、
補正値テーブル１３Ａに記録する補正データを算出して
ステップＳＰ２に戻る。

【００３２】ここで理想の信号波形とは、図８に示すよ
うに、この光ディスク２１の記録再生系において、位相
余裕及び振幅余裕が最も大きな再生信号波形を意味する
（図８（Ａ））。このうち位相余裕については、この再
生信号ＲＦよりクロックを生成して、ジッタが最も少な
くなり、かつこのクロックより再生信号ＲＦをサンプリ
ングして、前後のピットより等しい程度で符号間干渉を
受けるタイミングで再生信号ＲＦをサンプリングできる
波形を理想波形とする。

【００３３】すなわちこの理想波形は、２値化信号の生
成に使用するスライスレベルＳＬにより２値化した際
に、異なるデータ値においても、等しいタイミングｔ１
及びｔ２でスライスレベルＳＬを横切り、かつデューテ
ィー比５０〔％〕の２値化信号を生成でき、さらにこの
時点ｔ１及びｔ２の中間の時点ｔｓにより再生信号ＲＦ
をサンプリングして、再生用レーザービームが再生対象
のピットの中央を走査している信号レベルをサンプリン
グできる波形である。またこの関係が前後のピット形状
によっても維持されているものが理想波形である。

【００３４】これに対して振幅余裕については、この理
想のサンプリングのタイミングｔｓによりサンプリング
して、各データ値の再生信号ＲＦを最も確実に判別でき
る波形を理想波形とする。すなわちタイミングｔｓによ
りサンプリングして、各データ値に対応する再生信号Ｒ
Ｆのサンプリング値が等しい信号レベル差Δにより変化
し、またこの信号レベル差Δがこの光ディスク２１に許
容される最も大きなレベル差である場合が理想波形であ
る。またこの関係が前後のピット形状によっても維持さ
れているものが理想波形である。

【００３５】この理想波形との比較処理及び補正データ
の生成処理は、光ディスク２１を再生して得られる再生
信号ＲＦを、ディジタルオシロスコープ２３（図６）に
入力し、この再生信号ＲＦより生成されるクロックに比
して充分に高い周波数によりサンプリングした後、理想
波形による信号レベルと各サンプリング値とをコンピュ
ータ２４により比較して実施される。またステップＳＰ
６における収束の判断は、コンピュータ２４により比較
結果を判定して実行される。

【００３６】すなわち図８に示すように、コンピュータ
２４は、この比較処理において、理想波形がしきい値Ｓ
Ｌを横切るタイミングを基準にして、各データ値の再生
信号ＲＦ毎に、誤差ｄ１１、ｄ２１、ｄ３１、ｄ１２、
ｄ２２、ｄ３２を検出する。（図８（Ｂ））さらに対応
するデータ値の変調信号Ｓ１について、検出した誤差ｄ
１１、ｄ２１、ｄ３１、ｄ１２、ｄ２２、ｄ３２により
立ち上がりエッジ及び立ち下がりエッジのタイミングを
それぞれ補正する補正データを生成する（図８
（Ｃ））。このとき各補正値Ｄ１１、Ｄ２１、Ｄ３１、
Ｄ１２、Ｄ２２、Ｄ３２は、それぞれ対応する誤差ｄ１
１、ｄ２１、ｄ３１、ｄ１２、ｄ２２、ｄ３２に対し
て、Ｄ＜α×ｄの関係に保持される。ここでαは、１よ
り小さい値とする。これによりこの実施の形態では、タ
イミングを補正して試験用データの記録再生を繰り返
し、各エッジのタイミングを最適なタイミングに収束さ
せるようになされている。

【００３７】また図９に示すように、コンピュータ２４
は、この比較処理において、対応するデータ値毎に、理
想波形に対する再生信号ＲＦの信号レベル差ｄ１３、ｄ
２３、ｄ３３を検出する（図９（Ａ）及び（Ｂ））。さ
らに変調信号Ｓ１の対応する信号レベルを、検出した信
号レベル差ｄ１３、ｄ２３、ｄ３３でそれぞれ補正する
ように、補正データを生成する（図９（Ｃ））。このと
き各補正値Ｄ１３、Ｄ２３、Ｄ３３は、それぞれ対応す
る信号レベル差ｄ１３、ｄ２３、ｄ３３に対して、Ｄ＜
ｄの関係に保持される。これによりこの実施の形態で
は、信号レベルを補正して試験用データの記録再生を繰
り返し、各信号レベルを最適値に収束させるようになさ
れている。

【００３８】コンピュータ２４は、変調データの組み合
わせ毎に補正データを生成する。また繰り返し記録した
同一の組み合わせ間で、さらに内周側及び外周側の補正
エリアに記録した同一の組み合わせ間で、平均値を算出
して補正データを生成する。これによりこの実施の形態
では、隣接ピットからの符号間干渉によっても、位相余
裕及び振幅余裕を充分に確保できるように、補正データ
を生成する。

【００３９】このようにして補正値テーブル１３Ａに記
録する補正データを生成すると、コンピュータ２４は、
計算した補正データをＲＯＭライター２５によりリード
オンリメモリに記録する（図６）。これによりこの実施
の形態では、補正値テーブル１３Ａが作成され、この補
正値テーブル１３Ａが光ディスク装置１にセットされ
て、改めて試験用データＤＳがディスク原盤２に記録さ
れる。

【００４０】これによりこの処理手順においては、順次
補正値テーブル１３Ａの内容を更新し、理想波形と再生
信号ＲＦとの間の誤差ｄ１１、ｄ２１、ｄ３１、ｄ１
２、ｄ２２、ｄ３２及び信号レベル差ｄ１３、ｄ２３、
ｄ３３が所定値以下になると、コンピュータ２４により
収束したと判断され、ステップＳＰ８に移って条件出し
の処理手順を終了する。

【００４１】かくしてこの実施の形態では、このように
して設定された補正値テーブル１３Ａに従って、順次変
調データのデータ値に対応するように、変調信号Ｓ１が
形成され、ディスク原盤２Ａに入力データＳ１が記録さ
れることになる。

【００４２】以上の構成において、このディスク製造工
程では、始めに条件出しの処理が実行され（図６）、こ
の条件出しの処理において、３ユニットを単位にした４
値の変調データの組み合わせでなる試験用データＤＳが
ディスク原盤２に記録される（図１）。この記録の際
に、この試験用データＤＳを形成する各３ユニットの変
調データのうち、中央の１ユニットの変調データに対し
て、補正値テーブル１３Ａ（図７）に記録された対応す
る組み合わせの信号レベル及びタイミングにより変調信
号ＳＳが生成される。これに対して前後１ユニットの変
調データに対しては、各変調データのデータ値に対応す
る所定の信号レベル及びタイミングにより変調信号ＳＳ
が生成される。

【００４３】さらにこの生成した変調信号ＳＳにより光
変調器７が駆動され、記録用レーザー５より射出された
レーザービームＬ１の光量が略４段階で切り換えられ
（図１）、このレーザービームＬ１がディスク原盤２の
内周側補正エリア及び外周側補正エリアに照射される。
これによりこの内周側補正エリア及び外周側補正エリア
に、３ユニットを単位にした、光ディスクに記録する変
調データの各組み合わせが、それぞれ深さＤを切り換え
てなるピット列により記録される。

【００４４】このようにしてディスク原盤２を露光する
と、この工程では、このディスク原盤２より光ディスク
２１が作成される（図６）。さらにこの光ディスク２１
が再生されて、試験用データＤＳの再生信号ＲＦがディ
ジタルオシロスコープ２３によりモニタされる。ここで
この再生信号ＲＦの立ち上がり及び立ち下がりが、各組
み合わせ毎に、理想波形と比較され、理想波形に近づい
て位相余裕が増大するように各組み合わせ毎に補正デー
タが生成される。また各データ値の信号レベルが理想波
形に近づいて振幅余裕が増大するように、各組み合わせ
毎に補正データが作成される。また繰り返し記録した各
組み合わせ間、内周側補正エリア及び外周側補正エリア
の各組み合わせ間で、平均値化されて、各組み合わせ毎
に補正データが作成される。

【００４５】このようにして作成された補正データは、
リードオンリメモリに記録され、これにより補正値テー
ブル１３Ａが作成され、この補正値テーブル１３Ａがそ
れまでの補正値テーブル１３Ａに代えて光ディスク装置
１に配置される。

【００４６】これによりこの理想波形に近づくように設
定された補正値テーブル１３Ａにより、改めて試験用デ
ータＤＳがディスク原盤２に記録されて光ディスク２１
が作成された後、この光ディスク２１が再生されて理想
波形と比較される。この比較において、理想波形に或る
程度似通った波形により再生信号ＲＦが得られるように
なると、補正値テーブル１３Ａの内容は、一定程度収束
したと判断されることにより、コンピュータ２４におけ
る判定により条件出しの処理が終了する。

【００４７】これにより光ディスク装置１（図１）に、
実際の記録に供する入力データＤ１が入力され、この入
力データＤ１が２ビットの変調データに変換される。さ
らにこの順次連続する変調データに対して、前後の変調
データとの組み合わせに対応する補正データが補正値テ
ーブル１３Ａより検索され、この検索された補正データ
による信号レベル及びタイミングにより変調信号Ｓ１が
生成される。これにより入力データＤ１は、前後のピッ
ト形状との関連でピット形状が補正されてディスク原盤
２に記録され、隣接ピットからの符号間干渉によって
も、理想波形に近い再生信号波形により再生されること
になる。

【００４８】すなわちこの変調信号Ｓ１によりディスク
原盤２Ａのユーザーエリアが露光され、このディスク原
盤２より光ディスク２１が製造される（図６）。

【００４９】以上の構成によれば、３ユニットを単位に
して、変調データの組み合わせ毎に再生結果を得、この
再生結果が理想波形に近づくように補正値テーブル１３
Ａを作成して変調信号のタイミング及び信号レベルを補
正したことにより、光量を切り換えてピットの長さ、幅
が変化しても、また隣接ピットの符号間干渉によって
も、理想波形に近い信号波形により再生信号を得ること
ができ、これにより充分な振幅余裕及び位相余裕を確保
して光ディスクに多値記録したデータを確実に再生する
ことができる。

【００５０】なお上述の実施の形態においては、ピット
間間隔に比して記録用レーザービームのビーム径が充分
に小さい場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、記録媒体に対して有効なレーザービームのビーム径
が、ピット間間隔に比して大きな場合にも広く適用する
ことができる。

【００５１】すなわち光ディスク装置においては、一般
に、ピット間隔が、記録媒体に対して有効なレーザービ
ームのビーム系より大きくなるように設定される。ここ
で有効なビーム系とは、記録媒体の記録露光強度しきい
値と対物レンズの回折限界のビーム径で決定される大き
さであり、１．２２λ／ＮＡを上限とするものである。

【００５２】図１０に示すように、記録媒体に対して有
効なレーザービームのビーム径ＳＰが、変調信号のエッ
ジ間隔に比して大きい場合（図１０（Ａ））、積算露光
量（図１０（Ｂ））においては、この両エッジで照射さ
れるレーザービームが重なり合い、いわゆる干渉部分が
発生する。従ってこの場合、記録時に隣接ピット間で符
号間干渉が発生することになり、再生信号においては、
ピットの長さが長くなった場合と同様にエッジ間隔が短
くなって観察されることになる。

【００５３】これにより上述の実施の形態の場合と同様
に、理想とされる再生信号波形を基準にして変調信号の
タイミングを補正して、再生信号において必要とする短
いエッジ間隔を確保することができる。かくするにつき
再生信号におけるエッジの最小間隔に対して、記録媒体
に対して有効なレーザービームのビーム径が大きい場合
に適用して、所望のデータを確実に多値記録することが
できる。

【００５４】また上述の実施の形態においては、３ユニ
ットの変調データを単位にして、光ディスクに記録され
る可能性のある全ての組み合わせについて、試験用デー
タを記録する場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、例えば変調方式に対応して発生頻度の高い代表的
な組み合わせにより試験用データを生成してもよい。

【００５５】さらに上述の実施の形態においては、試験
用データの記録時、前後の変調データについては、所定
の信号レベル及びタイミングにより記録する場合につい
て述べたが、本発明はこれに限らず、この前後の変調デ
ータについても、中央の変調データと共に、順次補正し
てもよい。なおこの場合、中央の変調データに対応する
信号レベル及びタイミングの再生結果より、各データ値
毎に平均値の信号レベル及びタイミングを検出して前後
の変調データに対応する変調信号を設定する場合、さら
には各データ値の発生確率より最も適切な信号レベル及
びタイミングを検出して前後の変調データに対応する変
調信号を設定する場合等が考えられる。

【００５６】また上述の実施の形態においては、各変調
データの組み合わせに対して、補正値テーブル１３Ａに
より特定される１種類の変調信号を記録して再生する場
合について述べたが、本発明はこれに限らず、各変調デ
ータの組み合わせに対して、タイミング及び信号レベル
を切り換えた複数種類の変調信号を記録し、各種類、各
組み合わせの再生結果より露光の条件を設定してもよ
い。

【００５７】さらに上述の実施の形態においては、光デ
ィスクの円周方向に連続する３つのピットについて、符
号間干渉の影響を取り除く場合について述べたが、本発
明はこれに限らず、これに代えて、又はこれに加えて、
光ディスクの半径方向に連続する３つのピットについ
て、符号間干渉の影響を取り除く場合にも広く適用する
ことができる。なおこの場合、例えばディスク状の光記
録媒体については、角速度一定の条件により駆動した状
態で、各組み合わせにより試験用データを記録すること
になる。

【００５８】また上述の実施の形態においては、光量を
多段階で切り換えて変化するピットの幅については、何
ら制御しない場合について述べたが、本発明はこれに限
らず、例えばビームスポット径を制御することにより、
ピットの幅を一定値に保持してピットの深さだけで所望
のデータを多値記録する場合、またこれとは逆に積極的
にビームスポット径を制御することにより、ピットの深
さと幅とにより所望のデータを多値記録する場合に広く
適用することができる。

【００５９】さらに上述の実施の形態においては、ピッ
トの深さを多段階で切り換えて所望のデータを多値記録
する場合について述べたが、本発明はこれに限らず、ピ
ットの長さ（すなわちエッジのタイミングでなる）と深
さとを組み合わせて所望のデータを多値記録する場合に
も広く適用することができる。

【００６０】また上述の実施の形態においては、所望の
データをピットにより記録する場合について述べたが、
本発明はこれに限らず、熱磁気記録による光ディスク装
置に適用してマークにより所望のデータを記録する場合
にも広く適用することができる。

【００６１】さらに上述の実施の形態においては、ディ
スク原盤を露光して所望のデータを多値記録する場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず、相変化型の光
ディスク装置等、種々の光ディスク装置に広く適用する
ことができる。また光ディスク装置に限らず、種々の光
記録装置、光記録媒体に広く適用することができる。

【００６２】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、予め種々
の組み合わせにより試験用データを記録して再生結果を
得、この再生結果よりレーザービームを照射する条件を
補正することにより、光量を切り換えてピットの長さ、
幅が変化しても、また隣接ピットの符号間干渉によって
も、理想波形に近い信号波形により再生信号を得ること
ができる。これにより充分な振幅余裕及び位相余裕を確
保して多値記録したデータを確実に再生することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る光ディスク装置を示
すブロック図である。

【図２】図１の光ディスク装置の補正値テーブルを示す
図表である。

【図３】記録時における変調信号とピット形状との関係
の説明に供するタイムチャートである。

【図４】光量の切り換えとピット形状との関係の説明に
供する略線図である。

【図５】図１の光ディスク装置における条件出しの処理
手順を示すフローチャートである。

【図６】図５の処理手順による工程を示す略線図であ
る。

【図７】図５の処理手順による試験用データの記録の説
明に供する略線図である。

【図８】変調信号のタイミングの補正の説明に供する信
号波形図である。

【図９】変調信号の信号レベルの補正の説明に供する信
号波形図である。

【図１０】記録時の符号間干渉の説明に供する略線図で
ある。

【符号の説明】

１……光ディスク装置、２、２Ａ……ディスク原盤、３
……変調信号発生器、７……光変調器、１３……変調信
号補正回路、１３Ａ……補正値テーブル

Claims (14)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録に供するデータに応じて、レーザー
   ビームの光量を多段階で切り換えて光記録媒体に照射
   し、前記データを多値記録する光記録装置において、 種々の組み合わせにより前記レーザービームの光量を切
   り換える所定の試験用データを記録した後、各組み合わ
   せの再生結果を得、 対応する組み合わせの前記再生結果に基づいて、前記レ
   ーザービームの光量を補正することを特徴とする光記録
   装置。
2. 【請求項２】 前記補正による光量は、符号間干渉が最
   小になる光量でなることを特徴とする請求項１に記載の
   光記録装置。
3. 【請求項３】 前記試験用データは、前記記録媒体に記
   録されるデータであり、かつ所定の距離間で前記記録媒
   体に記録されるデータの全組み合わせを含むことを特徴
   とする請求項１に記載の光記録装置。
4. 【請求項４】 前記再生結果に基づいて、併せて前記レ
   ーザービームの光量を切り換えるタイミングを補正した
   ことを特徴とする請求項１に記載の光記録装置。
5. 【請求項５】 前記記録媒体に対して有効な前記レーザ
   ービームのビーム径が、前記再生信号におけるエッジの
   最小間隔に対応する前記記録媒体上の長さに比して、長
   くなるように設定されたことを特徴とする請求項１に記
   載の光記録装置。
6. 【請求項６】 記録に供するデータに対応して再生信号
   の信号レベルが多段階で変化するように、ピットの形状
   を変化させて所望のデータを多値記録した光記録媒体に
   おいて、 隣接するピットの形状に応じて、前記ピットの形状を補
   正したことを特徴とする光記録媒体。
7. 【請求項７】 前記ピットの形状は、符号間干渉が最小
   になる形状でなることを特徴とする請求項６に記載の光
   記録媒体。
8. 【請求項８】 前記ピットの深さが多段階で切り換えら
   れて、１の前記ピットに多値のデータを割り当て、 前記ピット形状の補正は、 前記各ピットの深さの補正でなることを特徴とする請求
   項６に記載の光記録媒体。
9. 【請求項９】 前記ピットのエッジ位置を併せて補正し
   たことを特徴とする請求項８に記載の光記録媒体。
10. 【請求項１０】 記録に供するデータに応じて、レーザ
    ービームの光量を多段階で切り換えて光記録媒体に照射
    し、前記データを多値記録する光記録方法において、 種々の組み合わせにより前記レーザービームの光量を切
    り換える試験用データを記録した後、前記試験用データ
    の再生結果に基づいて、前記レーザービームの光量を補
    正することを特徴とする光記録方法。
11. 【請求項１１】 前記補正による光量は、符号間干渉が
    最小になる光量でなることを特徴とする請求項１０に記
    載の光記録方法。
12. 【請求項１２】 前記試験用データは、前記記録媒体に
    記録されるデータであり、かつ所定の距離間で前記記録
    媒体に記録されるデータの全組み合わせを含むことを特
    徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
13. 【請求項１３】 前記再生結果に基づいて、併せて前記
    レーザービームの光量を切り換えるタイミングを補正す
    ることを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
14. 【請求項１４】 前記記録媒体に対して有効な前記レー
    ザービームのビーム径が、前記再生信号におけるエッジ
    の最小間隔に対応する前記記録媒体上の長さに比して、
    長くなるように設定することを特徴とする請求項１０に
    記載の光記録方法。