JPH1013230A - A/d変換器 - Google Patents

A/d変換器

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JPH1013230A
JPH1013230A JP16776496A JP16776496A JPH1013230A JP H1013230 A JPH1013230 A JP H1013230A JP 16776496 A JP16776496 A JP 16776496A JP 16776496 A JP16776496 A JP 16776496A JP H1013230 A JPH1013230 A JP H1013230A
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孝 ▲桑▼原
Takashi Kuwabara
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NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】A/D変換器の変換処理速度の向上ならびに低
消費電力化を図る。 【解決手段】基準電圧端子8と接地点との間に直列接続
される補助抵抗ストリング1およびアナログ・スイッチ
2と、基準電圧端子8と接地点との間に接続される抵抗
ストリング3と、補助抵抗ストリング1の抵抗接続点の
電圧を制御信号102により選択し、抵抗ストリング3
の抵抗接続点に伝達するアナログ・スイッチ4と、抵抗
ストリング3の抵抗接続点の電圧を、制御信号103に
より選択し比較信号101を出力するアナログ・スイッ
チ5と、比較信号101の電圧レベルとアナログ電圧V
inの電圧レベルとを比較する比較器6と、比較器6から
の比較結果信号104の入力を受けて、アナログ・スイ
ッチ4に対する制御信号102およびアナログ・スイッ
チ5に対する制御信号103を出力するとともに、A/
D変換されたデジタル電圧Vout を出力する制御部7と
を備えて構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はA/D変換器に関
し、特に抵抗ストリング方式によるA/D変換器に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来の抵抗ストリング方式によるA/D
変換器の構成が図4に示される。この従来例は、図4に
示されるように、基準電圧端子20より所定の基準電圧
refを入力し、入力端子21より入力されるアナログ
電圧VinをA/D変換して、出力端子22より8ビット
のデジタル電圧Vout として出力する8ビットのA/D
変換器の1構成例であり、基準電圧端子20と接地点と
の間に直列接続される複数の抵抗より成る抵抗ストリン
グ16と、制御信号106により選択出力される抵抗ス
トリング16の各抵抗の接続点の電圧レベルを、比較信
号105として出力するアナログ・スイッチ17と、ア
ナログ・スイッチ17より出力される比較信号105の
電圧レベルとアナログ電圧Vinの電圧レベルとを比較し
て比較結果信号107を出力する比較器18と、比較器
18より出力される比較結果信号107の入力を受け
て、アナログ・スイッチ17の切替制御を行う制御信号
106を出力するとともに、A/D変換されたデジタル
電圧Vout を、出力端子22を介して外部に出力する制
御部19とを備えて構成される。
【0003】図4において、本従来例においては、入力
端子21に入力されるアナログ電圧Vinは、アナログ・
スイッチ17より出力される比較信号105と比較器1
8においてレベル比較され、その比較結果信号107は
制御部19に入力される。比較結果信号107の入力を
受けて、制御部19より出力される制御信号106によ
り、アナログ・スイッチ17が切替え制御され、これに
より抵抗ストリング16により分圧された電圧が適宜選
択されて、選択された電圧レベルの比較信号105とし
て出力される。D/A変換の開始直後においては、制御
部19より出力される制御信号106により、アナログ
・スイッチ17により選択出力される比較信号105の
電圧レベルは、基準電圧Vref の1/2の電圧レベルと
なるように制御される。その際に、制御部19において
は、比較器18より出力される比較結果信号107を参
照することにより、入力端子21より入力されるアナロ
グ電圧Vinが、基準電圧Vref の1/2の電圧レベルよ
りも高レベルであるか、または低レベルであるかが判定
されて、出力端子22より出力されるデジタル電圧V
out の最上位ビットの値が決定される。即ち、前記最上
位ビットの値は、Vin>Vref /2の場合には“1”と
なり、Vin≦Vref /2の場合には“0”となる。
【0004】次に、上記の電圧レベル判定において、ア
ナログ電圧Vinが、基準電圧Vrefの1/2の電圧レベ
ルよりも高レベルである場合(最上位ビットの値が
“1”)には、制御部19より出力される制御信号10
6により制御されて、アナログ・スイッチ17により選
択出力される比較信号105の電圧レベルは3Vref
4に設定され、比較器18に入力される。また、上記の
電圧レベル判定において、アナログ電圧Vinが、基準電
圧Vref の1/2の電圧レベルよりも低レベルの場合
(最上位ビットの値が“0”)には、制御信号106に
より制御されて、アナログ・スイッチ17により選択出
力される比較信号105の電圧レベルはVref/4に設
定されて比較器18に入力される。制御部19において
は、比較器18における比較結果信号107の入力を受
けて、最上位ビットの値が“1”の場合には、アナログ
電圧Vinが基準電圧Vref の3/4の電圧レベルよりも
高レベルであるか、または低レベルであるかが判定さ
れ、また、最上位ビットの値が“0”の場合には、アナ
ログ電圧Vinが基準電圧Vref の1/4の電圧レベルよ
りも高レベルであるか、または低レベルであるかが判定
される。即ち、制御部19においては、アナログ電圧V
inのレベルが、0〜Vref /4、Vref /4〜Vref
2、Vref /2〜3Vref /4、3Vref /4〜Vref
の何れのレベル範囲内にあるかが判定されて、デジタル
電圧Vout の前記最上位ビットの次のビットの値が決定
される。このようにして、デジタル電圧Vout の出力の
最下位ビットに至るまでの値が順次決定される。
【0005】なお、図5は、当該従来例において、A/
D変換開始の時点から変換終了の時点に至るまでの、入
力端子21におけるアナログ電圧Vinおよび比較信号1
05の電圧レベルの変化の具合を示した図であり、目標
電圧は、比較信号105の理想電圧波形を示している。
なお、図5は、説明を簡略化して分かり易くするため
に、4ビット長のA/D変換器における電圧レベル変化
の推移が示されている。A/D変換開始直後において、
最上位ビットを決定するために、アナログ・スイッチ1
7により選択出力される比較信号105の電圧レベル
は、Vref /2の目標電圧に設定される。そして変換開
始から一定時間経過後において、比較信号105の電圧
はA/D変換の必要精度の範囲内の電圧レベルに上昇
し、この状態において、アナログ電圧Vinと比較信号1
05の電圧が比較器18において比較され、最上位ビッ
トの値が決定される(図5のタイミングT1 )。図5に
おいては、アナログ電圧Vinのレベルが比較信号105
の電圧レベルよりも高レベルであるために、最上位ビッ
トの値は“1”となる。このタイミングにおいて、次の
ビットの値を決定するために、目標電圧を変えて、再度
比較信号105の電圧を急速に上昇させる。そして、一
定時間経過後において、比較信号105の電圧が必要精
度の範囲内の電圧レベルに上昇し、この状態において、
アナログ電圧Vinと比較信号105の電圧が比較器18
において比較されて2ビット目のビット値が決定される
(タイミングT2 )。図5においては、アナログ電圧V
inのレベルが比較信号105の比較電圧レベルよりも低
レベルであるために、2ビット目のビット値は“0”と
なる。そして、このタイミングにおいて、次のビットの
値を決定するために目標電圧が変えられる。そして、一
定時間後において、比較回路6において比較信号105
の比較電圧とアナログ電圧Vinの電圧が比較され、次の
3ビット目のビット値が決定される。図5の例において
は、アナログ電圧Vinのレベルが比較信号105の比較
電圧レベルよりも高レベルであるために、3ビット目の
ビット値は“1”となる(タイミングT3 )。そして、
タイミングT3 において、次の4ビット目、即ち最下位
ビットの値を決定するために目標電圧が変えられる。そ
して、一定時間後において、比較回路18において比較
信号105の比較電圧とアナログ電圧Vinの電圧が比較
され、最下位ビットのビット値が決定される。図5の例
においては、アナログ電圧Vinのレベルが比較信号10
5の比較電圧レベルよりも低レベルであるために、最下
位ビットのビット値は“0”となる(タイミング
4 )。
【0006】また、特開昭62−31224号公報に提
案されているD/A変換器においては、2本の抵抗スト
リングが使用されており、1回のD/A変換処理を行う
際に、当該変換の前半においては、前記2本の抵抗スト
リングを並列接続して使用することにより高速のD/A
変換処理を実現し、また後半の変換においては、その内
の1本の抵抗ストリングのみを使用し、他の1本の抵抗
ストリングは電源より切離すことによって低消費電力を
実現するという構成がとられている。この種のD/A変
換器の構成をA/D変換器に応用する場合には、A/D
変換における1ビットの値を決定するために、1回のD
/A変換動作が行われることになり、これにより、A/
D変換処理におけるビット数に対応する回数のD/A変
換を行って、全ビットを決定するという構成をとること
になる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のA/D
変換器においては、A/D変換に要する時間を短縮して
変換速度を上げるためには、アナログ・スイッチにより
切替え選択されて、比較器に入力される比較信号の電圧
が、規定電圧±1/2ビットに相当する変換精度に見合
う電圧レベル以内に収まるまでの所要時間を短縮するこ
とが必要となる。この所要時間は、抵抗ストリングの抵
抗値と配線容量の値による影響を受けるために、当該時
間を短縮するためには、抵抗ストリングを構成する抵抗
の抵抗値をより低い値とし、また配線容量を低減するこ
とが求められるが、抵抗ストリングの抵抗値を下げるこ
とにより、当該抵抗ストリングにより多くの電流が流入
し、結果として消費電力が増大するという欠点がある。
【0008】逆に、消費電力の増大を抑制するために、
抵抗ストリングの抵抗値を大きくすると、比較器に対し
て入力される比較結果信号の電圧レベルが、規定電圧±
1/2ビットに相当する電圧レベル以内に到達するまで
の時間が延伸し、A/D変換の変換速度が低下するとい
う欠点がある。
【0009】また、前述の特開昭62−31224号公
報に提案されているD/A変換器の適用については、A
/D変換の前半において、目標電圧の変化が大きい場合
には、1ビットの決定中にアナログ・スイッチを切替え
るタイミングを設定することが必要となるが、このため
には、当該時間制御のための制御回路の構成が複雑化
し、実用に適さないという欠点がある。また、A/D変
換の後半においては、目標電圧の変化が小さい場合に
は、比較信号の電圧が必要精度の範囲内の電圧レベルに
上昇するまでの時間に余裕があるために、この間におい
てアナログ・スイッチを切替えることにより消費電力が
増大し、消費電力低減の改善効果が得られないという欠
点がある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のA/D変換器
は、アナログ電圧を複数ビットのデジタル信号に変換す
るA/D変換器において、直列接続される複数の抵抗に
より形成され、前記複数の抵抗の接続点において所定の
基準電圧の分圧電圧値を生成する第1の抵抗ストリング
と、所定の第1の制御信号により切替え制御されて、前
記第1の抵抗ストリングにおける分圧電圧値を任意に選
択して出力する第1のアナログ・スイッチと、直列接続
される複数の抵抗により形成され、前記複数の抵抗の接
続点において所定の基準電圧の分圧電圧値を生成する第
2の抵抗ストリングと、前記第2の抵抗ストリングの低
電位側の終端と接地点との間に接続され、所定の第2の
制御信号により開閉制御されて、前記第2の抵抗ストリ
ングの低電位側の終端と接地点との間の接続を任意に
「接」または「断」とする第2のアナログ・スイッチ
と、前記第2のアナログ・スイッチが「接」の状態にお
いて、前記第2の制御信号により切替え制御されて、前
記第2の抵抗ストリングにおける分圧電圧値を任意に選
択して、前記第1の抵抗ストリングにおける所定の分圧
点に伝達する第3のアナログ・スイッチと、前記アナロ
グ電圧のレベルと、前記第1のアナログ・スイッチより
選択出力される比較信号の比較電圧のレベルとを比較す
る比較器と、前記比較器より出力される比較結果信号の
入力を受けて、前記第1および第2の制御信号を生成し
て出力するとともに、前記アナログ電圧に対応するデジ
タル信号の各ビット値を決定して出力する制御部と、を
少なくとも備えて構成される。なお、前記第1の抵抗ス
トリングは、A/D変換ビット数がxの場合に直列接続
される2x 個の抵抗により形成し、前記第2の抵抗スト
リングは、高速A/D変換ビット数がyの場合に直列接
続される2y 個の抵抗により形成するようにしてもよ
い。
【0011】また、前記制御部は、A/D変換開始時に
最上位ビットのビット値のみが設定されるシフト・レジ
スタと、A/D変換処理過程において逐次変換出力され
るビット値を順次ラッチして格納保持する結果レジスタ
と、前記シフト・レジスタの出力値と前記結果レジスタ
の出力値との論理和をとり、前記第1の制御信号として
出力する第1のOR回路と、前記結果レジスタの出力値
と前記第1のOR回路より出力される第1の制御信号の
値とを入力し、前記比較結果信号のレベル値に依存する
選択制御作用を介して何れか一方の値を選択して、前記
結果レジスタに出力するデータ・セレクタと、前記シフ
ト・レジスタの出力値の論理和をとり、前記第2の制御
信号として出力する第2のOR回路とを備えて構成し、
A/D変換終了時に、前記結果レジスタにラッチされて
いるA/D変換結果のデジタル信号を出力するようにし
てもよく、更に、前記比較結果信号のレベル値が“1”
レベルの場合には、前記データ・セレクタにおいて、前
記第1のOR回路の出力値が選択されて結果レジスタに
ラッチされ、対応するデジタル信号のビット値が“1”
として決定されるともに、前記比較結果信号のレベル値
が“0”レベルの場合には、前記データ・セレクタにお
いて、前記結果レジスタの出力値が選択されて結果レジ
スタにラッチされ、対応するデジタル信号のビット値が
“0”として決定されるようにしてもよい。
【0012】
【発明の実施の形態】次に、本発明について図面を参照
して説明する。
【0013】図1は本発明の1実施形態を示すブロック
図である。図1に示されるように、本実施形態は、基準
電圧端子8より所定の基準電圧Vref を入力し、入力端
子9より入力されるアナログ電圧VinをA/D変換し、
出力端子10より8ビットのデジタル電圧Vout として
出力する8ビットのA/D変換器の1構成例であり、基
準電圧端子8と接地点との間に直列に接続される補助抵
抗ストリング1および制御信号102により開閉制御さ
れるアナログ・スイッチ2と、基準電圧端子8と接地点
との間に接続される抵抗ストリング3と、補助抵抗スト
リング1の各抵抗の接続点の電圧レベルを、制御信号1
02により選択出力して抵抗ストリング3の対応する抵
抗接続点に伝達するアナログ・スイッチ4と、抵抗スト
リング3の各抵抗の接続点の電圧レベルを、制御信号1
03により選択出力して比較信号101として出力する
アナログ・スイッチ5と、アナログ・スイッチ5より出
力される比較信号101の電圧レベルとアナログ電圧V
inの電圧レベルとを比較して比較結果信号104を出力
する比較器6と、比較器6より出力される比較結果信号
104の入力を受けて、アナログ・スイッチ4に対する
制御信号102およびアナログ・スイッチ5に対する制
御信号103を出力するとともに、A/D変換されたデ
ジタル電圧Vout を出力する制御部7とを備えて構成さ
れる。
【0014】また、図2は、制御部7の1実施形態の構
成を示すブロック図であり、比較結果信号104の入力
に対応して、データ・セレクタ11と、結果レジスタ1
2と、シフト・レジスタ13と、OR回路14および1
5とを備えて構成される。そして、図3は、本実施形態
の1具体例として、8ビットのA/D変換器の場合に、
A/D変換開始の時点から変換終了の時点に至るまで
の、入力端子9におけるアナログ電圧Vinおよび比較信
号101の電圧レベルの変化の推移を示した図であり、
前述の図5の場合と同様に、目標電圧は、比較信号10
1の理想電圧波形を示している。なお、図1において、
比較信号101は、基準電圧Vref を、補助抵抗ストリ
ング1と抵抗ストリング3により分圧して生成される複
数の電圧出力レベルから、アナログ・スイッチ2、アナ
ログ・スイッチ4およびアナログ・スイッチ5により選
択出力される電圧レベルの信号として出力される。ま
た、抵抗ストリンク3を構成する抵抗の数は2x (xは
変換ビット数)であり、補助抵抗ストリング1を構成す
る抵抗の数は2y (yは高速変換を行うビット数)であ
る。
【0015】次に、図1、図2および図3を参照して、
本実施形態の動作について説明する。A/D変換開始直
後に、図2に示される制御部7においては、最上位ビッ
トを決定するために、シフト・レジスタ13には、最上
位ビットのみがセットされた値が設定され、結果レジス
タ12の値は全てクリアされる。このような状態設定に
おいて、シフト・レジスタ13および結果レジスタ12
の値は、OR回路14において論理和がとられ、その論
理和出力が制御信号103として出力されて、アナログ
・スイッチ5に入力され、また同時に、シフト・レジス
タ13の値が、OR回路15を経由して制御信号102
として出力されて、アナログ・スイッチ2および4に入
力される。この制御信号102による制御作用を介し
て、アナログ・スイッチ2および4は「接」の状態とな
り、またアナログ・スイッチ5は制御信号103により
切替え制御される。この状態において、抵抗ストリング
3およびアナログ・スイッチ5を介して、電圧レベルが
ref /2のレベルに設定されて出力される比較信号1
01は、比較器6の負極入力端子に入力される。比較器
6においては、当該Vref /2のレベルと、入力端子9
を介して入力されるアナログ電圧Vinのレベルが比較さ
れ、Vin>Vref /2の時には比較結果信号104が
“1”レベルにて出力されて制御部7に入力される。図
2に示される制御部7においては、上記の“1”レベル
の比較結果信号104の入力を受けて、データ・セレク
タ11によりOR回路14の出力、即ち制御信号103
が選択され、結果レジスタ12にラッチされて、アナロ
グ電圧VinのA/D変換後の最上位ビットの値は“1”
として決定される。他方において、Vin<Vref /2の
時には比較結果信号104が“0”レベルにて出力され
て制御部7に入力される。この場合には、データ・セレ
クタ11により結果レジスタ12の出力が選択され、当
該結果レジスタ12にラッチされて、アナログ電圧Vin
のA/D変換後の最上位ビットの値は“0”として決定
される。このようにして、アナログ電圧VinのA/D変
換後の最上位ビットの値は“1”または“0”に決定さ
れる。次いで、シフト・レジスタ13は右サイドに1ビ
ットシフトされ、この状態において、アナログ・スイッ
チ5より切替え出力される比較信号101の電圧レベル
は、最上位ビットの値が“1”の時には3Vref /4の
レベルで比較器6に入力され、また最上位ビットの値が
“0”の時にはVref /4のレベルで比較器6に入力さ
れる。この時には、アナログ・スイッチ2および4は
「接」の状態となっており、制御部7に含まれるOR回
路14より出力される制御信号103により制御され
て、アナログ・スイッチ5による回路切替動作は高速に
て行われ、これにより、出力される比較信号101の電
圧レベルは高速にて変化する状態となる。
【0016】次に、比較器6においては、上記の比較信
号101の電圧レベル3Vref /4またはVref /4
と、入力端子9を介して入力されるアナログ電圧Vin
レベルが比較され、Vin>3Vref /4またはVin>V
ref /4の時には、比較結果信号104が“1”レベル
にて出力されて制御部7に入力される。図2に示される
制御部7においては、上記の“1”レベルの比較結果信
号104の入力を受けて、データ・セレクタ11により
OR回路14より出力される制御信号103が選択さ
れ、結果レジスタ12にラッチされて、アナログ電圧V
inのA/D変換後の2ビット目のビット値は“1”とし
て決定される。また、Vin<3Vref /4またはVin
ref /4の時には、比較結果信号104が“0”レベ
ルにて出力されて制御部7に入力される。この場合に
は、データ・セレクタ11により結果レジスタ12の出
力が選択され、当該結果レジスタ12にラッチされて、
アナログ電圧VinのA/D変換後の2ビット目のビット
値は“0”として決定される。こうして、アナログ電圧
inのA/D変換後の2ビット目のビット値は“1”ま
たは“0”に決定される。このようにして、順次、アナ
ログ電圧VinのA/D変換後の最下位ビットの値まで決
定されてA/D変換処理が終了する。
【0017】なお、制御部7におけるOR回路15にお
いては、シフト・レジスタ13より出力される信号の入
力を受けて論理和がとられ、A/D変換されて出力され
る8ビットのデータを決定する際に、当該8ビットのデ
ータの前半の5ビットの値が決定される間においては制
御信号102が“1”レベルで出力され、また後半の3
ビットが決定される間においては制御信号102が
“0”レベルで出力されている。この制御信号102に
より、アナログ・スイッチ2および4は、8ビットのデ
ータの前半の5ビットの値が決定される間においては
「接」の状態となり、また、後半の3ビットが決定され
る間においては「断」の状態となる。即ち、本発明にお
いては、A/D変換処理過程において、適宜抵抗ストリ
ングの切替選択を行うことが可能となり、これにより、
A/D変換処理の高速化を図ることができるとともに、
抵抗ストリングに消費される電流を抑制することが可能
となり、消費電力を低減することができる。
【0018】次に、図3のアナログ電圧Vinおよび比較
信号101の比較電圧のレベル変化の推移を示す図を参
照して、本実施形態の動作について敷延して説明する。
なお、図3は、説明を簡略化して分かり易くするため
に、本実施形態の1具体例として、4ビット長のA/D
変換器における電圧レベル変化の推移が示されている。
まず、A/D変換開始直後において、最上位ビットを決
定するために、目標電圧がVref /2に設定される。こ
の時、アナログ・スイッチ2および4を「接」として、
アナログ・スイッチ5より出力される比較信号101の
レベルを急速に上昇させる。そして変換開始から一定時
間経過後において、比較信号101の電圧はA/D変換
の必要精度の範囲内の電圧レベルに上昇し、この状態に
おいて、アナログ電圧Vinと比較信号101の電圧が比
較器6において比較されて最上位ビットの値が決定され
る(タイミングT1 )。図3においては、アナログ電圧
inのレベルが比較信号101の電圧レベルよりも高レ
ベルであるために、最上位ビットの値は“1”となる。
このタイミングにおいて、次のビットの値を決定するた
めに、目標電圧を変えて、再度比較信号101の電圧を
急速に上昇させる。そして、一定時間経過後において、
比較信号101の電圧が必要精度の範囲内の電圧レベル
に上昇し、この状態において、アナログ電圧Vinと比較
信号101の電圧が比較器6において比較されて2ビッ
ト目のビット値が決定される(タイミングT2 )。図3
において、アナログ電圧Vinのレベルが比較信号101
の比較電圧レベルよりも低レベルであるために、2ビッ
ト目のビット値は“0”となる。そして、このタイミン
グにおいて、次のビットの値を決定するために目標電圧
が変えられる。図3の例においては、この時点におい
て、現在の目標電圧の値と変更後における目標電圧の値
との差異が小さいために、一定時間後に比較電圧を必要
精度の範囲内に入れるために、アナログ・スイッチ2お
よビ4を「接」の状態にしておくことは不要であり、こ
れにより、このタイミングにおいては、アナログ・スイ
ッチ2および4は「断」の状態に設定される。このこと
により、従来のA/D変換器においては、抵抗ストリン
グ16(図4参照)の抵抗値を変更する手段がないため
に、比較信号105(図3において、細い線にて示され
る)の比較電圧が急激に下降しているのに対比して、本
実施形態においては、比較信号105の電圧よりもに緩
やかに下降する。そして、一定時間後において、比較回
路6において比較信号101の比較電圧とアナログ電圧
inの電圧が比較され、次ぎの3ビット目のビット値が
決定される。図3の例においては、アナログ電圧Vin
レベルが比較信号101の比較電圧レベルよりも高レベ
ルであるために、3ビット目のビット値は“1”となる
(図3のタイミングT3 )。そして、このタイミングT
3 において、次の4ビット目、即ち最下位ビットの値を
決定するために目標電圧を変える。この場合、アナログ
・スイッチ2および4が「断」の状態に設定されている
ために、比較信号101の比較電圧は、前述のタイミン
グT3以降の場合と同様の理由により、従来のA/D変
換器における比較信号105(図3において、細い線に
て示される)の比較電圧よりも緩やかに上昇する。そし
て、一定時間後において、比較回路6において比較信号
101の比較電圧とアナログ電圧Vinの電圧が比較さ
れ、最下位ビットのビット値が決定される。図3の例に
おいては、アナログ電圧Vinのレベルが比較信号101
の比較電圧レベルよりも低レベルであるために、最下位
ビットのビット値は“0”となる(図3のタイミングT
4 )。
【0019】以上のようにして、1回目のA/D変換処
理が行われる。なお、上記の説明において参照している
図3は、前述のように、説明の簡略化のために4ビット
長のA/D変換器の場合の動作例が示されているが、云
うまでもなく、他のビット長のA/D変換器の場合にお
いても、この場合と同様にA/D変換動作が行われる。
また、回路構成によっても変化はあるが、抵抗ストリン
グ3および補助抵抗ストリング1を使用してA/D変換
を行う際のビット数yと、抵抗ストリング3のみを使用
してA/D変換を行う際のビット数zとの比が1:1乃
至2:1で、抵抗ストリング3の抵抗値と補助抵抗スト
リングの抵抗値との比が1:1乃至1:2の場合が、消
費電力および変換速度の双方の点において有利である。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、主たる
抵抗ストリングに加えて補助的な抵抗ストリングを設け
ることにより、A/D変換処理の動作途中過程において
前記補助抵抗ストリングを適宜切替えることにより、変
換処理の開始直後においては、振幅レベルの大きい内部
信号に対応して抵抗ストリングの抵抗値を下げ、変換処
理の進行に伴ない振幅レベルが小さくなってゆく内部信
号に対応して抵抗ストリングの抵抗値を上げることによ
り、無為の消費電力を抑制して消費電力の低減を図るこ
とができる効果がある。
【0021】また、同一の消費電力を条件とする場合に
は、抵抗ストリングの動作抵抗値を小さい値に選択する
ことができるために、A/D変換処理速度が向上される
という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施形態を示すブロック図である。
【図2】前記実施形態における制御部の1実施形態を示
すブロック図である。
【図3】前記実施形態におけるA/D変換過程の電圧推
移を示す図である。
【図4】従来例を示すブロック図である。
【図5】前記従来例におけるA/D変換過程の電圧推移
を示す図である。
【符号の説明】
1 補助抵抗ストリング 2、4、5、17 アナログ・スイッチ 3、16 抵抗ストリング 6、18 比較器 7、19 制御部 8、20 基準電圧端子 9、21 入力端子 10、22 出力端子 11、23 データ・セレクタ 12、24 結果レジスタ 13、25 シフト・レジスタ 14、15、26 OR回路 101、105 比較信号 102、103、106 制御信号 104、107 比較結果信号 Vref 基準電圧 Vin アナログ電圧 Vout デジタル電圧

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 アナログ電圧を複数ビットのデジタル信
    号に変換するA/D変換器において、 直列接続される複数の抵抗により形成され、前記複数の
    抵抗の接続点において所定の基準電圧の分圧電圧値を生
    成する第1の抵抗ストリングと、 所定の第1の制御信号により切替え制御されて、前記第
    1の抵抗ストリングにおける分圧電圧値を任意に選択し
    て出力する第1のアナログ・スイッチと、 直列接続される複数の抵抗により形成され、前記複数の
    抵抗の接続点において所定の基準電圧の分圧電圧値を生
    成する第2の抵抗ストリングと、 前記第2の抵抗ストリングの低電位側の終端と接地点と
    の間に接続され、所定の第2の制御信号により開閉制御
    されて、前記第2の抵抗ストリングの低電位側の終端と
    接地点との間の接続を任意に「接」または「断」とする
    第2のアナログ・スイッチと、 前記第2のアナログ・スイッチが「接」の状態におい
    て、前記第2の制御信号により切替え制御されて、前記
    第2の抵抗ストリングにおける分圧電圧値を任意に選択
    して、前記第1の抵抗ストリングにおける所定の分圧点
    に伝達する第3のアナログ・スイッチと、 前記アナログ電圧のレベルと、前記第1のアナログ・ス
    イッチより選択出力される比較信号の比較電圧のレベル
    とを比較する比較器と、 前記比較器より出力される比較結果信号の入力を受け
    て、前記第1および第2の制御信号を生成して出力する
    とともに、前記アナログ電圧に対応するデジタル信号の
    各ビット値を決定して出力する制御部と、 を少なくとも備えて構成されることを特徴とするA/D
    変換器。
  2. 【請求項2】 前記第1の抵抗ストリングが、A/D変
    換ビット数がxの場合に直列接続される2x 個の抵抗に
    より形成され、前記第2の抵抗ストリングが、高速A/
    D変換ビット数がyの場合に直列接続される2y 個の抵
    抗により形成される請求項1記載のA/D変換器。
  3. 【請求項3】 前記制御部が、A/D変換開始時に最上
    位ビットのビット値のみが設定されるシフト・レジスタ
    と、 A/D変換処理過程において逐次変換出力されるビット
    値を順次ラッチして格納保持する結果レジスタと、 前記シフト・レジスタの出力値と前記結果レジスタの出
    力値との論理和をとり、前記第1の制御信号として出力
    する第1のOR回路と、 前記結果レジスタの出力値と前記第1のOR回路より出
    力される第1の制御信号の値とを入力し、前記比較結果
    信号のレベル値に依存する選択制御作用を介して何れか
    一方の値を選択して、前記結果レジスタに出力するデー
    タ・セレクタと、 前記シフト・レジスタの出力値の論理和をとり、前記第
    2の制御信号として出力する第2のOR回路と、 を備えて構成され、A/D変換終了時に、前記結果レジ
    スタにラッチされているA/D変換結果のデジタル信号
    を出力することを特徴とする請求項1または請求項2記
    載のA/D変換器。
  4. 【請求項4】 前記比較結果信号のレベル値が“1”レ
    ベルの場合には、前記データ・セレクタにおいて、前記
    第1のOR回路の出力値が選択されて結果レジスタにラ
    ッチされ、対応するデジタル信号のビット値が“1”と
    して決定されるとともに、前記比較結果信号のレベル値
    が“0”レベルの場合には、前記データ・セレクタにお
    いて、前記結果レジスタの出力値が選択されて結果レジ
    スタにラッチされ、対応するデジタル信号のビット値が
    “0”として決定される請求項3記載のA/D変革器。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004319613A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Semiconductor Energy Lab Co Ltd D/a変換回路及びそれを内蔵した半導体装置並びにそれらの製造方法
CN114696832A (zh) * 2020-12-29 2022-07-01 圣邦微电子(北京)股份有限公司 模数转换器及模数转换方法

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